KR20190019753A - Method and apparatus for determining factors of fault in satelite - Google Patents

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KR20190019753A
KR20190019753A KR1020170105083A KR20170105083A KR20190019753A KR 20190019753 A KR20190019753 A KR 20190019753A KR 1020170105083 A KR1020170105083 A KR 1020170105083A KR 20170105083 A KR20170105083 A KR 20170105083A KR 20190019753 A KR20190019753 A KR 20190019753A
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Abstract

Disclosed is a method for determining a cause of a failure in a satellite. The method comprises the following steps: selecting a satellite to be tested; selecting two surrounding satellites included in a surrounding satellite group for detecting whether a satellite to be tested has a failure; determining whether the satellite to be tested has the failure using information of the satellite to be tested and information of two surrounding satellites; analyzing changing trend of test statistic calculated from the information of the satellite to be tested and information of the surrounding satellite group If it is determined that the satellite to be tested has the failure; and determining the cause of the failure of the satellite to be tested based on an analysis result.

Description

위성의 고장 원인을 결정하는 장치 및 방법 {METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING FACTORS OF FAULT IN SATELITE}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a method and apparatus for determining a cause of a failure of a satellite,

본 개시는 위성의 고장 원인을 결정하는 장치 및 방법을 제공한다.The present disclosure provides an apparatus and method for determining the cause of failure of a satellite.

위성항법시스템은 4개 이상의 위성과 사용자의 위치를 알고 그 사이의 거리를 이용해 삼변측량법을 통해 사용자의 위치를 계산하는 기능을 하는 시스템이다. 위성의 위치나 거리 측정치에 오차가 크거나 문제가 발생할 경우 사용자의 위치를 정확하게 계산할 수 없다. 따라서 위성항법시스템에는 위성의 위치나 거리 측정치를 감시하기 위한 기법들이 적용된다.A satellite navigation system is a system that calculates the position of a user through trilateration using the knowledge of the position of four or more satellites and users and the distance between them. The position of the user can not be calculated accurately if there is a large error or a problem in the satellite position or distance measurement. Therefore, satellite navigation system is applied to monitor satellite position and distance measurement.

일반적으로 위성 궤도 및 위성 시계의 상태감시를 위해 다수의 지상 기준국을 이용한다. 위성항법시스템에서 주로 이용하는 기하학적 개념인 DOP(Dilution of Precision)를 고려하였을 때 지상 기준국의 분포가 멀어 질수록 위성의 위치를 측정하는데 유리하므로, 지상 기준국의 배치 범위가 중요하다. 그러나 지구 크기의 한계로 인하여 지상 기준국들이 충분히 넓게 분포될 수 없고, 나아가 지상 기준국은 지면에 설치되어야 하므로 지구상에서 설치될 수 있는 지역이 제한적이다. 따라서, 지상 기준국에서 획득한 지상 기준국에서 위성까지의 거리에 대한 측정치는 부정확하다.In general, a number of terrestrial reference stations are used to monitor the status of satellite orbits and satellite clocks. Considering the geometric concept of DOP (Dilution of Precision), which is mainly used in the satellite navigation system, the range of the ground reference station is important because it is advantageous to measure the position of the satellite as the distribution of the ground reference station becomes farther away. However, due to the limitations of the size of the earth, land - based stations can not be distributed widely enough. Furthermore, ground - based stations are required to be installed on the ground, Therefore, the measurement of the distance from the ground reference station to the satellite obtained from the ground reference station is inaccurate.

또한, 위성항법시스템에서는 방송궤도력으로 계산된 위성 궤도와 실제 위성이 위치하는 위치간의 차이로 인해 오차가 발생하므로 위성 궤도에 대한 상태감시를 수행한다. 또한, 위성항법시스템에서는 위성의 시각으로 원자시계를 이용하는데 다양한 요인에 의해 원자시계의 비정상상태가 발생할 수 있으므로 위성 시계에 대한 상태감시를 수행한다. 한편, 일반적인 위성 궤도 및 위성 시계의 상태감시는 지상 기준국에서부터 위성까지의 거리를 측정하여 수행된다. 이와 같이 측정된 거리 값에는 다양한 요인으로 오차가 발생하게 되는데, 대표적으로는 전리층 지연, 대류층 지연, 앙각에 따른 오차가 발생할 수 있다. 따라서 위성 궤도 및 위성 시계의 상태감시를 위해서는 위 오차들을 제거해 주어야 한다. 오차를 제거할 때는 이중주파수를 이용한 방법, 오차 모델을 이용한 방법들이 주로 사용되기는 하나, 이와 같은 방법으로는 위 오차들을 모두 제거할 수는 없다. 특히 저앙각 위성으로부터의 측정치는 잡음이 크므로 거리 측정치가 부정확하다.Also, in the satellite navigation system, an error occurs due to the difference between the satellite orbit calculated by the broadcasting ephemeris and the position where the actual satellite is located, so that the status of the satellite orbit is monitored. In addition, in the satellite navigation system, the atomic clock is used as the satellite 's view, and the abnormal state of the atomic clock may occur due to various factors. On the other hand, general satellite orbit and satellite watch status monitoring is performed by measuring the distance from the ground reference station to the satellite. In this case, the measured distance value may have errors due to various factors, such as ionospheric delay, convective layer delay, elevation angle error. Therefore, it is necessary to remove the above errors in order to monitor the status of satellite orbit and satellite clock. When eliminating the error, the methods using the dual frequency method and the error model are mainly used, but the above methods can not eliminate all of the above errors. In particular, measurements from low elevation satellites are inaccurate because the noise is large.

따라서, 위성의 고장을 검출하기 위해서는 보다 정확한 방법으로 위성의 위치를 파악해야 한다. 또한, 위성의 고장 원인에 따른 해결 방법이 상이하므로, 위성의 고장 원인을 정확히 파악하는 것이 중요하다.Therefore, in order to detect the failure of the satellite, the position of the satellite must be determined in a more accurate manner. In addition, since the resolution method of the cause of the failure of the satellite is different, it is important to accurately grasp the cause of the failure of the satellite.

위성의 고장 원인을 결정하는 장치 및 방법을 제공하는데 있다. 본 실시예가 이루고자 하는 기술적 과제는 상기된 바와 같은 기술적 과제들로 한정되지 않으며, 이하의 실시예들로부터 또 다른 기술적 과제들이 유추될 수 있다.And an apparatus and method for determining the cause of the failure of the satellite. The technical problem to be solved by this embodiment is not limited to the above-mentioned technical problems, and other technical problems can be deduced from the following embodiments.

상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 기술적 수단으로서, 본 개시의 제1 측면은, 검사대상 위성을 선정하는 단계; 상기 검사대상 위성의 고장 여부를 검출하기 위한 주변 위성군에 포함된 2개의 주변 위성들을 선정하는 단계; 상기 검사대상 위성의 정보 및 상기 2개의 주변 위성들의 정보를 이용하여 상기 검사대상 위성의 고장여부를 결정하는 단계; 상기 검사대상 위성이 고장난 것으로 결정된 경우, 상기 검사대상 위성의 정보 및 상기 주변 위성군의 정보로부터 산출된 검정통계량의 변화 추세를 분석하는 단계; 상기 분석 결과에 기초하여 상기 검사대상 위성의 고장 원인을 결정하는 단계;를 포함하는, 위성의 고장 원인을 결정하는 방법을 제공할 수 있다.As a technical means for achieving the above technical object, a first aspect of the present disclosure provides a method for controlling a satellite, comprising: selecting a satellite to be inspected; Selecting two surrounding satellites included in a peripheral satellite group for detecting the failure of the satellite to be inspected; Determining whether the satellite to be inspected is faulty using information of the satellite to be inspected and information of the two surrounding satellites; Analyzing a change trend of a test statistic calculated from information of the satellite to be surveyed and information of the peripheral satellite group when it is determined that the satellite to be tested is broken; And determining a cause of the failure of the satellite to be inspected based on the analysis result.

또한, 상기 검사대상 위성을 하나의 꼭지점으로 하고 상기 주변 위성군에 포함된 서로 인접한 2개의 주변 위성들을 나머지 꼭지점으로 하는 복수개의 삼각형들을 형성하는 단계; 상기 복수개의 삼각형들 각각을 구성하는 2개의 주변 위성들 간의 거리에 대한 측정치를 획득하고, 추정치를 산출하는 단계; 상기 획득된 측정치 및 상기 산출된 추정치의 차이를 이용하여, 상기 복수개의 삼각형들 각각을 구성하는 2개의 주변 위성들 간의 거리에 대한 검정통계량을 산출하는 단계; 및 상기 복수개의 삼각형들 각각에 대해 산출된 검정통계량들의 변화 추세를 분석하는 단계;를 포함하는 방법을 제공할 수 있다.Forming a plurality of triangles having one vertex of the satellite to be inspected and the remaining vertices of two neighboring satellites included in the neighboring satellite group as the remaining vertices; Obtaining a measurement of a distance between two surrounding satellites constituting each of the plurality of triangles, and calculating an estimate; Calculating a test statistic for a distance between two adjacent satellites constituting each of the plurality of triangles by using the difference between the obtained measured value and the calculated estimated value; And analyzing a change trend of the calculated test statistic for each of the plurality of triangles.

또한, 상기 복수개의 삼각형들 각각에 대한 상기 검정통계량의 변화 추세의 방향이 모두 동일한 경우, 상기 검사대상 위성의 고장 원인을 위성 시계 고장으로 결정하고, 상기 복수개의 삼각형들 각각에 대한 상기 검정통계량의 변화 추세의 방향이 일부만 동일한 경우, 상기 검사대상 위성의 고장 원인을 위성 궤도 고장으로 결정할 수 있다.If the trends of the change of the test statistic for each of the plurality of triangles are all the same, the cause of the failure of the test target satellite is determined as a satellite clock failure, and the test statistic for each of the plurality of triangles When the direction of the change trend is only partially the same, the cause of the failure of the satellite to be inspected can be determined as a satellite orbit failure.

또한, 상기 검사대상 위성을 하나의 꼭지점으로 하고 상기 주변 위성군에 포함된 서로 인접한 2개의 주변 위성들을 나머지 꼭지점으로 하는 삼각형을 형성하는 단계; 상기 삼각형을 구성하는 상기 2개의 주변 위성들 간의 거리에 대한 측정치를 획득하고, 추정치를 산출하는 단계; 상기 획득된 측정치 및 산출된 추정치의 차이를 이용하여 상기 2개의 주변 위성들 간의 거리에 대한 검정통계량을 산출하는 단계; 및 상기 산출된 검정통계량과 임계값을 비교함으로써, 상기 검사대상 위성의 고장여부를 결정하는 단계;를 포함하는 방법을 제공할 수 있다.Forming a triangle having one vertex of the satellite to be inspected and the other vertices of the two surrounding satellites included in the peripheral satellite group as the remaining vertices; Obtaining a measurement of the distance between the two surrounding satellites constituting the triangle, and calculating an estimate; Calculating a test statistic for the distance between the two nearby satellites using the obtained measurements and the difference of the calculated estimates; And comparing the calculated test statistic with a threshold value to determine whether or not the test target satellite is faulty.

또한, 상기 임계값은, 수학식

Figure pat00001
(여기서,
Figure pat00002
는 검정통계량의 평균,
Figure pat00003
는 임계값의 조정변수,
Figure pat00004
는 검정통계량의 표준편차를 나타낸다)에 의해 산출되는 것일 수 있다.Further, the threshold value may be expressed by Equation
Figure pat00001
(here,
Figure pat00002
Is the mean of the test statistic,
Figure pat00003
Is the adjustment variable of the threshold value,
Figure pat00004
Is the standard deviation of the test statistic).

또한, 상기 검정통계량의 성능을 나타내는 민감도는, 수학식

Figure pat00005
(여기서,
Figure pat00006
Figure pat00007
는 주변 위성들에 대한 검사대상 위성의 방위각을 나타낸다)을 이용하여 결정되는 것일 수 있다.The sensitivity, which indicates the performance of the test statistic,
Figure pat00005
(here,
Figure pat00006
And
Figure pat00007
Represents the azimuth angle of the target satellite with respect to the surrounding satellites).

또한, 상기 추정치는, 상기 2개의 주변 위성에 의해 결정되는 상기 검사대상 위성의 끼인각을 산출하고, 상기 끼인각을 삼각함수 법칙에 적용함으로써 산출되는 것일 수 있다.The estimation value may be calculated by calculating the subtended angle of the inspection target satellite determined by the two surrounding satellites and applying the subtended angle to the trigonometric law.

본 개시의 제 2 측면은, 검사대상 위성을 선정하고, 상기 검사대상 위성의 고장 여부를 검출하기 위한 주변 위성군을 선정하는고, 상기 검사대상 위성의 정보 및 상기 주변 위성군의 정보를 이용하여 상기 검사대상 위성의 고장여부를 결정하고, 상기 검사대상 위성이 고장난 것으로 결정된 경우, 상기 검사대상 위성의 정보 및 상기 주변 위성군의 정보로부터 산출된 검정통계량의 변화 추세를 분석하고, 상기 분석 결과에 기초하여 상기 검사대상 위성의 고장 원인을 결정하는 제어부;를 포함하는, 위성의 고장 원인을 결정하는 디바이스를 제공할 수 있다.According to a second aspect of the present disclosure, there is provided a satellite-to-be-monitored system for selecting a satellite to be inspected, selecting a group of surrounding satellites for detecting the failure of the satellite to be inspected, Wherein the control unit determines whether or not the satellite to be inspected is faulty and analyzes the change trend of the test statistic calculated from the information of the satellite to be surveyed and the information of the surrounding satellite group when the satellite to be tested is determined to be broken, And a controller for determining a cause of the failure of the satellite to be inspected based on the determination result.

본 개시의 제 3 측면은, 제 1 측면의 방법을 컴퓨터에서 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체를 제공할 수 있다.The third aspect of the present disclosure can provide a computer-readable recording medium on which a program for causing a computer to execute the method of the first aspect is recorded.

도 1a 및 도 1b는 일 실시예에 따른 복수의 위성들이 이루는 삼각형 기하 및 물리변수의 예시를 설명하는 도면이다.
도 2는 일 실시예에 따른 검정통계량의 히스토그램 및 표준정규분포의 예시를 설명하는 도면이다.
도 3a 및 도 3b는 일 실시예에 따른 검정통계량의 민감도를 산출하는데 이용되는 물리변수의 예시를 설명하는 도면이다.
도 4a 내지 4c는 일 실시예에 따른 민감도 측정 결과를 설명하는 도면이다.
도 5는 일 실시예에 따른 위성의 고장을 검출할 수 있는 범위를 설명하는 도면이다.
도 5는 일 실시예에 따른 중앙 처리 디바이스 및 사용자 디바이스에서 보정정보를 처리하는 예시를 설명하는 도면이다.
도 6은 일 실시예에 따른 검사대상 위성의 고장 원인을 결정하는 방법의 흐름도이다.
도 7은 일 실시예에 따른 검정통계량의 변화 추세를 분석하는 방법의 흐름도이다.
도 8a 및 도 8b는 일 실시예에 따른 위성 고장 원인의 예시를 설명하는 도면이다.
도 9는 일 실시예에 따른 위성 고장 원인에 따른 검정통계량 변화 추세의 예시를 설명하는 도면이다.
도 10은 일 실시예에 따른 위성 고장 원인 결정 디바이스의 블록도이다.
FIGS. 1A and 1B are diagrams illustrating exemplary triangular geometric and physical parameters of a plurality of satellites according to an embodiment.
2 is a diagram illustrating an example of a histogram and a standard normal distribution of a test statistic according to an embodiment.
3A and 3B are diagrams illustrating an example of the physical parameters used to calculate the sensitivity of a test statistic according to one embodiment.
4A to 4C are views for explaining a sensitivity measurement result according to an embodiment.
5 is a diagram for explaining a range in which a failure of a satellite can be detected according to an embodiment.
5 is a diagram illustrating an example of processing correction information in a central processing device and a user device according to one embodiment.
6 is a flowchart of a method for determining a cause of a failure of an inspection target satellite according to an embodiment.
7 is a flowchart of a method for analyzing a change trend of a test statistic according to an embodiment.
8A and 8B are diagrams illustrating an example of a satellite failure cause according to an embodiment.
FIG. 9 is a diagram for explaining an example of a change in a test statistic according to a cause of a satellite failure according to an embodiment.
10 is a block diagram of a satellite fault cause determination device according to one embodiment.

본 명세서에서 다양한 곳에 등장하는 "일부 실시예에서" 또는 "일 실시예에서" 등의 어구는 반드시 모두 동일한 실시예를 가리키는 것은 아니다.The phrases " in some embodiments " or " in one embodiment " appearing in various places in this specification are not necessarily all referring to the same embodiment.

본 개시의 일부 실시예는 기능적인 블록 구성들 및 다양한 처리 단계들로 나타내어질 수 있다. 이러한 기능 블록들의 일부 또는 전부는, 특정 기능들을 실행하는 다양한 개수의 하드웨어 및/또는 소프트웨어 구성들로 구현될 수 있다. 예를 들어, 본 개시의 기능 블록들은 하나 이상의 마이크로프로세서들에 의해 구현되거나, 소정의 기능을 위한 회로 구성들에 의해 구현될 수 있다. 또한, 예를 들어, 본 개시의 기능 블록들은 다양한 프로그래밍 또는 스크립팅 언어로 구현될 수 있다. 기능 블록들은 하나 이상의 프로세서들에서 실행되는 알고리즘으로 구현될 수 있다. 또한, 본 개시는 전자적인 환경 설정, 신호 처리, 및/또는 데이터 처리 등을 위하여 종래 기술을 채용할 수 있다. “매커니즘”, “요소”, “수단” 및 “구성”등과 같은 용어는 넓게 사용될 수 있으며, 기계적이고 물리적인 구성들로서 한정되는 것은 아니다. 또한, 명세서에 기재된 “…부”, “…모듈” 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어 또는 소프트웨어로 구현되거나 하드웨어와 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다.Some embodiments of the present disclosure may be represented by functional block configurations and various processing steps. Some or all of these functional blocks may be implemented with various numbers of hardware and / or software configurations that perform particular functions. For example, the functional blocks of the present disclosure may be implemented by one or more microprocessors, or by circuit configurations for a given function. Also, for example, the functional blocks of the present disclosure may be implemented in various programming or scripting languages. The functional blocks may be implemented with algorithms running on one or more processors. In addition, the present disclosure may employ conventional techniques for electronic configuration, signal processing, and / or data processing, and the like. Terms such as " mechanism, " " element, " " means, " and " configuration " and the like are widely used and are not limited to mechanical and physical configurations. In addition, the term " "... Module " or the like means a unit for processing at least one function or operation, which may be implemented in hardware or software, or a combination of hardware and software.

또한, 도면에 도시된 구성 요소들 간의 연결 선 또는 연결 부재들은 기능적인 연결 및/또는 물리적 또는 회로적 연결들을 예시적으로 나타낸 것일 뿐이다. 실제 장치에서는 대체 가능하거나 추가된 다양한 기능적인 연결, 물리적인 연결, 또는 회로 연결들에 의해 구성 요소들 간의 연결이 나타내어질 수 있다. Also, the connection lines or connection members between the components shown in the figures are merely illustrative of functional connections and / or physical or circuit connections. In practical devices, connections between components can be represented by various functional connections, physical connections, or circuit connections that can be replaced or added.

이하 첨부된 도면을 참고하여 본 개시를 상세히 설명하기로 한다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1a 및 도 1b는 일 실시예에 따른 복수의 위성들이 이루는 삼각형 기하 및 물리변수의 예시를 설명하는 도면이다.FIGS. 1A and 1B are diagrams illustrating exemplary triangular geometric and physical parameters of a plurality of satellites according to an embodiment.

도 1a 및 도 1b를 참조하면, 삼각형 각 변의 길이

Figure pat00008
는 ISL(inter-satellite links)을 이용하여 산출되는 값이며, ISL을 이용하여 산출된 값은 우주공간상에서 신호의 송수신이 이뤄지므로 이온층, 대류층, 다중 경로에는 영향을 받지 않는다. Referring to Figs. 1A and 1B,
Figure pat00008
Is calculated using inter-satellite links (ISL), and the values calculated using ISL are not affected by ionosphere, convection, and multipath because signals are transmitted and received in space.

또한,

Figure pat00009
는 방송궤도력 정보를 이용하여 산출되는 값이다. 또한, 삼각형 각 꼭지점의 각도
Figure pat00010
는, 방송궤도력 정보를 이용한 위성 좌표(
Figure pat00011
)를 내적하여 산출될 수 있다.Also,
Figure pat00009
Is a value calculated using broadcast ephemeris information. Further, the angle of each triangle corner point
Figure pat00010
Satellite coordinates using the broadcasting ephemeris information (
Figure pat00011
) Can be calculated internally.

도 1a의 삼각형을 이루는 검사대상 위성(10) 및 두 주변 위성(20, 30) 모두 정상상태이므로, ISL을 이용하여 획득된 두 주변 위성(20, 30) 간의 거리에 대한 측정치인

Figure pat00012
와, 아래 수학식 1 또는 수학식 2를 통해 산출된 두 주변 위성(20, 30) 간의 거리에 대한 추정치인
Figure pat00013
의 차이가 매우 작다.Since both the satellite 10 to be inspected and the two surrounding satellites 20 and 30 constituting the triangle in FIG. 1A are in a normal state, a measurement value of the distance between two adjacent satellites 20 and 30 obtained using the ISL
Figure pat00012
And an estimated value of the distance between two adjacent satellites 20 and 30 calculated by the following equation (1) or (2)
Figure pat00013
Is very small.

Figure pat00014
Figure pat00014

Figure pat00015
Figure pat00015

반면, 도 1b의 삼각형을 이루는 검사대상 위성에 고장이 발생한 경우의 예시를 설명하는 도면이다. 검사대상 위성이 정상상태인 경우의 위치(11a)와 고장이 발생한 경우의 위치(11b)가 상이할 수 있다. On the other hand, FIG. 1B is a view for explaining an example of a case where a failure occurs in a satellite to be inspected constituting a triangle in FIG. 1B. The position 11a in the case where the satellite to be inspected is in the normal state and the position 11b in the case where the failure occurs may be different.

일 실시예에서, 검사대상 위성을 하나의 꼭지점으로 하고 상기 주변 위성군에 포함된 서로 인접한 2개의 주변 위성들을 나머지 꼭지점으로 하는 삼각형을 형성할 수 있다. 또한, 삼각형을 구성하는 검사대상 위성과 상기 2개의 주변 위성들(21, 31) 간의 거리에 대한 측정치를 획득하고, 추정치를 산출할 수 있다.In one embodiment, a triangle may be formed with one vertex of the satellite to be inspected and the remaining vertices of two adjacent satellites included in the neighboring satellite group. Further, it is also possible to obtain the measured values of the distances between the target satellites constituting the triangle and the two surrounding satellites 21 and 31, and to calculate the estimated value.

예를 들어, 검사대상 위성에 고장이 발생함으로써, ISL을 이용하여 획득된 두 주변 위성(20, 30) 간의 거리에 대한 측정치인

Figure pat00016
와, 위 수학식 1 또는 수학식 2를 통해 산출된 두 주변 위성(21, 31) 간의 거리에 대한 추정치
Figure pat00017
의 차이가 발생할 수 있다.For example, when a failure occurs in the satellite to be inspected, a measurement of the distance between two adjacent satellites 20 and 30 obtained using the ISL
Figure pat00016
And an estimated value of the distance between two adjacent satellites 21 and 31 calculated through the above equation (1) or (2)
Figure pat00017
May occur.

한편, 측정치

Figure pat00018
와 추정치
Figure pat00019
의 차이를 이용하여 검정통계량을 산출할 수 있으며, 산출된 검정통계량과 임계값을 비교함으로써 검사대상 위성의 고장여부를 결정할 수 있다. 이에 대해서는 도 2에서 자세히 설명하기로 한다.On the other hand,
Figure pat00018
And estimate
Figure pat00019
The test statistic can be calculated using the difference between the test statistic and the threshold, and the failure of the test target satellite can be determined by comparing the calculated test statistic with the threshold value. This will be described in detail with reference to FIG.

도 2는 일 실시예에 따른 검정통계량의 히스토그램 및 표준정규분포의 예시를 설명하는 도면이다.2 is a diagram illustrating an example of a histogram and a standard normal distribution of a test statistic according to an embodiment.

도 1에서 상술하였듯이, 두 주변 위성간 거리에 대한 측정치

Figure pat00020
와 추정치
Figure pat00021
의 차이를 이용하여 검정통계량을 산출할 수 있다. 검정통계량
Figure pat00022
는 아래 수학식 3으로 표현될 수 있다.As described above with reference to FIG. 1, a measurement of the distance between two adjacent satellites
Figure pat00020
And estimate
Figure pat00021
Can be used to calculate the test statistic. Test statistic
Figure pat00022
Can be expressed by the following equation (3).

Figure pat00023
Figure pat00023

검사대상 위성이 정상상태일 때에 비해 검사대상 위성이 고장난 경우, 검정통계량의 크기는 커질 수 있다.The size of the test statistic can be large if the satellite to be tested is out of order compared to when the satellite under test is in a normal state.

수학식 3을 통해 산출된 검정통계량과 임계값을 비교함으로써 검사대상 위성의 고장여부를 결정할 수 있다.The failure of the target satellite can be determined by comparing the test statistic calculated through Equation (3) with the threshold value.

도 2를 참조하면, 검정통계량(210)과 표준정규분포(220)가 도시된다. 검정통계량(210)이 표준정규분포(220)를 따르지 못하고 양 꼬리 쪽 부분이 표준정규분포(220)에서 벗어날 수 있다. 이와 같은 현상을 Sigma Inflation 현상이라 하는데, Sigma Inflation 현상이 발생하는 것을 보완하여 오버바운딩(Overbounding)된 분포를 이용하여 임계값을 산출할 수 있다.Referring to FIG. 2, a test statistic 210 and a standard normal distribution 220 are shown. The test statistic 210 may not follow the standard normal distribution 220 and both tail sides may deviate from the standard normal distribution 220. This phenomenon is referred to as Sigma Inflation phenomenon. It can compensate for the occurrence of Sigma Inflation phenomenon and can calculate the threshold value by using the overbidden distribution.

수학식 3의 검정통계량

Figure pat00024
을 임계값과 비교하여 검사대상 위성의 고장여부를 결정할 수 있다. 일 실시예에서 정상상태일 때의 검정통계량
Figure pat00025
는 아래 수학식 4와 같이 영평균, 가우시안 분포를 갖는다.The test statistic of equation (3)
Figure pat00024
Is compared with the threshold value, it is possible to determine whether the satellite to be inspected is faulty or not. In one embodiment, the test statistic at steady state
Figure pat00025
Has a zero mean and Gaussian distribution as shown in Equation (4) below.

Figure pat00026
Figure pat00026

최종적으로 임계값은 아래 수학식 5로 표현될 수 있다. 수학식 5에서

Figure pat00027
는 검정통계량의 평균,
Figure pat00028
는 검정통계량의 표준편차이며,
Figure pat00029
는 임계값의 조정변수로서 3-sigma를 기준으로 산출된 값이다.Finally, the threshold value can be expressed by the following equation (5). In Equation (5)
Figure pat00027
Is the mean of the test statistic,
Figure pat00028
Is the standard deviation of the test statistic,
Figure pat00029
Is a value calculated based on 3-sigma as an adjustment parameter of the threshold value.

Figure pat00030
Figure pat00030

일 실시예에서, 검정통계량

Figure pat00031
가 임계값
Figure pat00032
보다 큰 경우 검사대상 위성이 고장난 것으로 결정할 수 있다.In one embodiment, the test statistic
Figure pat00031
Lt; / RTI >
Figure pat00032
It can be determined that the satellite to be inspected has failed.

한편, 임계값 산출에 이용된 통계적 분석을 위한 정상상태 데이터는 2011년 2월 13일부터 19일까지 일주일치 데이터일 수 있다. 데이터는 국토지리정보원에서 제공해주는 RINEX파일을 이용하였고 이용한 기준국은 수원 기준국일 수 있다. 또한 분석에는 GPS를 이용할 수 있다. 한편, ISL 측정치는 IGS에서 제공해 주는 Final Product를 위성의 실제 위치로 생각하고 이 위치를 기준으로 거리 값을 ISL 측정치로 이용될 수 있다. IGS는 15분 기준으로 제공되기 때문에 이 주기에 맞추어 방송궤도력을 이용해 위성 좌표를 계산할 수 있다. 또한 IGS는 위성의 실제 위치 값으로도 이용될 수 있다. 많은 샘플을 이용하기 위해 각 시점에서 수원 기준국에서 가시 되는 모든 위성을 이용할 수 있다. 가시 되는 위성으로 구성할 수 있는 삼각형을 모두 이용하고 한 삼각형에서도 한 위성씩 고장위성으로 두는 3가지 경우에 대해 상술한 과정을 수행할 수 있다.On the other hand, the steady-state data for the statistical analysis used in the threshold calculation may be the weekly matching data from February 13th to 19th, 2011. The data used in the RINEX file provided by the Geographical Information Service can be used as the reference country. GPS can also be used for analysis. On the other hand, the ISL measurement can be used as the ISL measurement, considering the final product provided by the IGS as the actual position of the satellite and the distance value based on this position. Since the IGS is provided on a 15-minute basis, satellite coordinates can be calculated using broadcast ephemeris to match this period. The IGS can also be used as the actual position value of the satellite. To use many samples, all satellites visible at the source station at each time point are available. The above procedure can be performed for all three triangles that can be configured as visible satellites, and one satellite for each satellite in a triangle.

도 3a 및 도 3b는 일 실시예에 따른 검정통계량의 민감도를 산출하는데 이용되는 물리변수의 예시를 설명하는 도면이다.3A and 3B are diagrams illustrating an example of the physical parameters used to calculate the sensitivity of a test statistic according to one embodiment.

도 3a 및 도 3b를 참조하면, 검사대상 위성(310) 및 두 주변 위성들(320, 330)이 도시된다.Referring to FIGS. 3A and 3B, a target satellite 310 and two surrounding satellites 320 and 330 are shown.

한편, 검사대상 위성(310)의 궤도력 고장에 의해 단위 벡터 차이(

Figure pat00033
)가 발생한다. 단위 벡터 차이(
Figure pat00034
)는 아래 수학식 6으로 표현될 수 있다.On the other hand, due to the orbital force failure of the satellite 310 to be inspected,
Figure pat00033
). Unit vector difference (
Figure pat00034
Can be expressed by Equation (6) below.

Figure pat00035
Figure pat00035

또한, 도 3a에 도시된 단위 벡터들은 아래 수학식 7로 표현될 수 있다.In addition, the unit vectors shown in FIG. 3A can be expressed by Equation (7) below.

Figure pat00036
Figure pat00036

수학식 6 및 수학식 7을 이용해 검정통계량을 유도하면 아래 수학식 8과 같은 결과를 도출할 수 있다.If the test statistic is derived using Equations (6) and (7), the following Equation (8) can be derived.

Figure pat00037
Figure pat00037

한편, 도 3b에서와 같이 지역좌표계를 설정할 시 수학식 8의

Figure pat00038
를 제외한 나머지는 고정 값이다. 검정통계량은 에 의해 결정될 수 있다.On the other hand, when the local coordinate system is set as shown in FIG. 3B,
Figure pat00038
The rest are fixed values. The test statistic is Lt; / RTI >

도 3b를 참조하면, 단위 벡터는 아래 수학식 9로 표현될 수 있다. 수학식 9에서

Figure pat00040
Figure pat00041
는 주변 위성들(320, 330) 각각에 대한 검사대상 위성(310)의 방위각일 수 있다.Referring to FIG. 3B, the unit vector can be expressed by Equation (9) below. In Equation (9)
Figure pat00040
And
Figure pat00041
May be an azimuth angle of the target satellite 310 with respect to each of the nearby satellites 320 and 330.

Figure pat00042
Figure pat00042

또한, 좌표계 설정에 따라

Figure pat00043
는 최종적으로 아래 수학식 10과 같이 표현될 수 있다.Also, depending on the coordinate system setting
Figure pat00043
Can be finally expressed as the following Equation (10).

수학식 10을 이용하여 검정통계량의 민감도를 결정할 수 있다. 검정통계량의 민감도는 검정대상 위성(310) 및 두 주변 위성들(320, 330)의 배치에 따라 다른 민감도를 가질 수 있다.The sensitivity of the test statistic can be determined using Equation (10). The sensitivity of the test statistic may have different sensitivities depending on the arrangement of the test target satellite 310 and the two nearby satellites 320 and 330.

도 4a 내지 4c는 일 실시예에 따른 민감도 측정 결과를 설명하는 도면이다.4A to 4C are views for explaining a sensitivity measurement result according to an embodiment.

도 4a를 참조하면, 지상 기반 보정 시스템(Ground-Based Augmentation System, GBAS)에서 이용되는 기법으로 지상 측정치를 이용해 두 안테나 사이의 기저선을 이용한 방법의 민감도 측정 결과가 도시된다. Referring to FIG. 4A, there is shown a sensitivity measurement result of a method using a ground-based augmentation system (GBAS) and a method using a ground measurement between two antennas.

도 4b를 참조하면, 도 1에서 상술한 삼각형 방법에서 두 주변위성 대신 지상의 두 기준국을 이용한 방법의 민감도 측정 결과가 도시된다.Referring to FIG. 4B, the sensitivity measurement result of the method using two reference stations on the ground instead of the two surrounding satellites in the triangle method described in FIG. 1 is shown.

도 4c를 참조하면, 도 1 내지 3의 방법에 따른 민감도 측정 결과가 도시된다.Referring to FIG. 4C, the results of the sensitivity measurement according to the method of FIGS. 1 to 3 are shown.

도 4a 내지 도 4c를 참조하면, 도 4c의 민감도 측정 결과가 가장 큰 것을 확인할 수 있다. 민감도가 클수록 고장 검출 기법의 성능 중 하나인 최소검출가능오차의 크기가 작아질 수 있다. 따라서 도 1 내지 도 3에 따른 방법이 다른 방법들에 비하여 더 우수한 고장 검출 성능을 가질 수 있다.Referring to FIGS. 4A to 4C, it can be seen that the sensitivity measurement result of FIG. 4C is the largest. The larger the sensitivity, the smaller the detectable error, one of the performances of the fault detection technique, can be. Thus, the method according to Figs. 1 to 3 can have better fault detection performance than other methods.

도 5는 일 실시예에 따른 위성의 고장을 검출할 수 있는 범위를 설명하는 도면이다.5 is a diagram for explaining a range in which a failure of a satellite can be detected according to an embodiment.

도 5를 참조하면, 위성의 고장을 검출할 수 있는 범위를 시뮬레이션 하기 위해 검사대상 위성이 고장난 위치를 각 좌표축 별로 5m로 설정하였다. 시뮬레이션 결과 지상의 두 기준국을 이용한 방법으로 검사대상 위성의 고장을 검출할 경우 약 수km 수준의 고장을 검출할 수 있는 반면, 도 1 내지 도 3에 따른 방법으로 검사대상 위성의 고장을 검출할 경우 수 m의 고장을 검출할 수 있다.Referring to FIG. 5, in order to simulate a range in which a failure of a satellite can be detected, a failure location of the satellite to be tested is set to 5 m for each coordinate axis. As a result of the simulation, when the failure of the target satellite is detected by using the two reference stations on the ground, it is possible to detect a failure of about several km, while the failure of the target satellite can be detected by the method of FIGS. A fault of several meters can be detected.

도 6은 일 실시예에 따른 검사대상 위성의 고장 원인을 결정하는 방법의 흐름도이다.6 is a flowchart of a method for determining a cause of a failure of an inspection target satellite according to an embodiment.

도 6을 참조하면, 단계 610에서 검사대상 위성을 선정할 수 있다. 또한, 단계 620에서 검사대상 위성의 고장 여부를 검출하기 위한 주변 위성군에 포함된 2개의 주변 위성들을 선정할 수 있다.Referring to FIG. 6, in step 610, a target satellite can be selected. In addition, in step 620, two nearby satellites included in the peripheral satellite group for detecting the failure of the target satellite can be selected.

단계 630에서 검사대상 위성이 고장여부를 결정할 수 있다. 일 실시예에서, 단계 610에서 선정된 검사대상 위성의 정보 및 단계 620에서 선정된 2개의 주변 위성들의 이용하여 검사대상 위성의 고장여부를 결정할 수 있다.In step 630, it is possible to determine whether the satellite to be inspected is faulty. In one embodiment, the information of the selected satellite to be inspected in step 610 and the failure of the target satellite can be determined using the two nearby satellites selected in step 620.

일 실시예에서, 검사대상 위성의 정보 및 주변 위성군의 정보는 타원궤도의 장축길이, 이심률, 근일점 방향, 근일점 통과시각, 궤도경사 및 승교점 경도를 포함할 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.In one embodiment, the information of the satellite to be inspected and the information of the surrounding satellite group may include, but are not limited to, the major axis length of the elliptical orbits, the eccentricity, the direction of the perihelion, the passing point of the perihelion, the orbit inclination,

일 실시예에서, 검사대상 위성의 고장여부는, 도 1의 방법에 검사대상 위성의 정보 및 2개의 주변 위성들의 정보를 적용하여 결정할 수 있다. 검사대상 위성의 고장 여부를 결정하기 위해, 검사대상 위성을 하나의 꼭지점으로 하고 주변 위성군에 포함된 서로 인접한 2개의 주변 위성들을 나머지 꼭지점으로 하는 삼각형을 형성할 수 있다. 또한, 삼각형을 구성하는 2개의 주변 위성들 간의 거리에 대한 측정치를 획득하고, 추정치를 산출할 수 있다. 또한, 획득된 측정치 및 산출된 추정치의 차이를 이용하여 2개의 주변 위성들 간의 거리에 대한 검정통계량을 산출할 수 있다. 또한, 산출된 검정통계량과 임계값을 비교함으로써, 검사대상 위성의 고장여부를 결정할 수 있다.In one embodiment, the failure of the satellite to be inspected can be determined by applying the information of the satellite to be inspected and the information of the two surrounding satellites to the method of FIG. In order to determine whether the satellite to be inspected is faulty, a triangle may be formed in which one satellite is a vertex and the other two surrounding satellites included in the satellite are the remaining vertices. It is also possible to obtain a measure of the distance between two nearby satellites constituting the triangle and to calculate an estimate. In addition, a test statistic for the distance between two nearby satellites can be calculated using the obtained measurement value and the difference between the calculated estimates. Also, by comparing the calculated test statistic with the threshold value, it is possible to determine whether the satellite to be tested is faulty or not.

일 실시예에서, 위성들 간의 거리에 대한 측정치는 ISL(inter-satellite links)로부터 획득될 수 있다. 또한, 위성들 간의 거리에 대한 추정치는 방송궤도력을 이용하여 산출될 수 있다. 예를 들어, 위성들 간의 거리에 대한 추정치는 2개의 주변 위성에 의해 결정되는 검사대상 위성의 끼인각을 산출하고, 산출된 끼인각을 삼각함수 법칙에 적용함으로써 산출될 수 있다.In one embodiment, measurements of the distance between satellites can be obtained from inter-satellite links (ISL). In addition, an estimate of the distance between satellites can be calculated using broadcast ephemerides. For example, the estimated value of the distance between satellites can be calculated by calculating the subtended angle of the target satellite determined by the two surrounding satellites, and applying the calculated subtracted angle to the trigonometric law.

단계 630에서 검사대상 위성이 고장나지 않은 것으로 결정된 경우, 지속적으로 검사대상 위성의 상태를 모니터링할 수 있다. 한편, 단계 630에서 검사대상 위성이 고장난 것으로 결정된 경우, 단계 640으로 진행한다.If it is determined in step 630 that the target satellite does not fail, the status of the target satellite can be continuously monitored. On the other hand, if it is determined in step 630 that the satellite to be tested has failed, the process proceeds to step 640.

단계 640에서 검사대상 위성이 고장난 것으로 결정된 경우, 검사대상 위성의 정보 및 주변 위성군의 정보로부터 산출된 검정통계량의 변화 추세를 분석할 수 있다. If it is determined in step 640 that the satellite to be tested has failed, the change trend of the test statistic calculated from the information of the satellite to be tested and the information of the surrounding satellite group can be analyzed.

위성항법시스템에서 위성의 정보는 다양한 방법을 통해 제공될 수 있다. 예를 들어, Almanac과 Ephemeris 방법으로 위성의 정보가 제공될 수 있으며, 두 방법 모두 케플러 6 Parameters로 위성의 정보를 제공한다.In satellite navigation systems, satellite information can be provided in a variety of ways. For example, satellite information can be provided by the Almanac and Ephemeris methods, and both methods provide satellite information with the Kepler 6 parameters.

검사대상 위성의 정보 및 주변 위성군의 정보로부터 산출된 검정통계량의 변화 추세를 분석하는 구체적인 내용은 도 7에서 후술하기로 한다.The details of analyzing the change trend of the test statistic calculated from the information of the satellite to be tested and the information of the surrounding satellite group will be described later with reference to FIG.

단계 650에서 분석 결과에 기초하여 검사대상 위성의 고장 원인을 결정할 수 있다. 위성의 고장 원인은 위성 시계 고장, 위성 궤도 고장 등이 있을 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.In step 650, the cause of the failure of the satellite to be inspected can be determined based on the analysis result. The cause of the satellite failure may include, but is not limited to, a satellite clock failure, a satellite orbital failure, and the like.

검사대상 위성의 고장 원인을 결정하는 구체적인 내용은 도 8 및 9에서 후술하기로 한다.Details of determining the cause of the failure of the satellite to be inspected will be described later with reference to FIGS. 8 and 9. FIG.

도 7은 일 실시예에 따른 검정통계량의 변화 추세를 분석하는 방법의 흐름도이다.7 is a flowchart of a method for analyzing a change trend of a test statistic according to an embodiment.

도 7을 참조하면, 단계 710에서 검사대상 위성을 하나의 꼭지점으로 하고 주변 위성군에 포함된 서로 인접한 2개의 주변 위성들을 나머지 꼭지점으로 하는 복수개의 삼각형들을 형성할 수 있다. 일 실시예에서 주변 위성군은 검사대상 위성 주위에 분포하는 위성들을 포함할 수 있으나, 주변 위성군의 분포는 이에 제한되지 않는다.Referring to FIG. 7, in step 710, a plurality of triangles may be formed with one satellite as a vertex and the other two surrounding satellites included in the satellite as a remaining vertex. In one embodiment, the peripheral satellite group may include satellites distributed around the target satellite, but the distribution of the peripheral satellite group is not limited thereto.

단계 720에서 복수개의 삼각형들 각각을 구성하는 2개의 주변 위성들 간의 거리에 대한 측정치를 획득하고, 추정치를 산출할 수 있다. 일 실시예에서 도 1의 방법을 이용하여 측정치를 획득하고 추정치를 산출할 수 있다.In step 720, a measure of the distance between two nearby satellites constituting each of the plurality of triangles may be obtained and an estimate may be calculated. In one embodiment, the method of FIG. 1 may be used to obtain measurements and calculate an estimate.

단계 730에서 획득된 측정치 및 산출된 추정치의 차이를 이용하여 복수개의 삼각형들 각각을 구성하는 2개의 주변 위성들 간의 거리에 대한 검정통계량을 산출할 수 있다. 일 실시예에서 도 1의 방법을 이용하여 위성들 간의 거리에 대한 검정통계량을 산출할 수 있다The test statistic for the distance between two adjacent satellites constituting each of the plurality of triangles can be calculated using the difference between the measured value and the calculated estimated value obtained in step 730. In one embodiment, the method of Figure 1 may be used to calculate a test statistic for the distances between the satellites

단계 740에서 복수개의 삼각형들 각각에 대해 산출된 검정통계량들의 변화 추세를 분석할 수 있다. 일 실시예에서 검사대상 위성의 고장 원인에 따라 산출된 검정통계량들의 변화 추세가 동일하거나 상이할 수 있다. In step 740, a change trend of the test statistic calculated for each of the plurality of triangles may be analyzed. In one embodiment, the change trends of the test statistic calculated according to the cause of the failure of the target satellite may be the same or different.

예를 들어, 위성들 간의 거리는 전파 전송시간에 대한 위성의 시각과 수신기의 시각의 차이를 이용해 계산될 수 있다. 위성의 시각은 원자시계를 이용하는데, 원자시계는 안정적이지만 다양한 요인에 의해 비정상상태가 발생할 수 있고 이는 위치 계산에 오차를 발생시킬 수 있다. 검사대상 위성의 고장 원인이 위성 시계 고장인 경우 단계 740에서 산출된 검정통계량들에는 동일한 추세의 변화가 검출될 수 있다. 예를 들어, 산출된 검정통계량들이 모두 증가하거나 감소할 수 있다.For example, the distance between satellites can be calculated using the difference between the time of the satellite with respect to the radio transmission time and the time of the receiver. The time of the satellite uses an atomic clock. Although the atomic clock is stable, an abnormal state may occur due to various factors, which may cause an error in the position calculation. If the cause of the failure of the satellite to be tested is a satellite clock failure, the same trend change can be detected in the test statistic calculated in step 740. For example, the calculated test statistics may all increase or decrease.

또한, 검사대상 위성의 고장 원인이 위성 궤도 고장인 경우 단계 740에서 산출된 검정통계량들에는 각기 다른 방향의 변화가 발생할 수 있다. 지상 기준국에서 위성의 궤도를 추정하고 추정된 위성의 궤도에 대한 정보를 위성으로 전송하고 위성에서는 이 정보를 사용자에게 방송할 수 있다. 방송궤도력으로 계산된 위성 궤도와 실제 위성이 위치하는 위치 간의 차이로 인해 오차가 발생할 수 있다. 검사대상 위성의 고장 원인이 위성 궤도 고장인 경우 단계 740에서 산출된 검정통계량들에는 서로 상이한 추세의 변화가 검출될 수 있다. 예를 들어, 산출된 검정통계량들 중 일부는 증가하고, 나머지 일부는 감소할 수 있다.In addition, if the cause of the failure of the target satellite is a satellite orbital failure, the test statistic calculated in step 740 may change in different directions. The terrestrial reference station estimates the orbit of the satellite and transmits information about the estimated orbit of the satellite to the satellite and the satellite can broadcast this information to the user. An error may occur due to the difference between the satellite orbit calculated by the broadcasting ephemeris and the position where the actual satellite is located. If the cause of the failure of the satellite to be surveyed is a satellite orbit failure, a change in the trends different from each other can be detected in the test statistic calculated in step 740. For example, some of the calculated test statistic may be increased and some of the test statistic may be decreased.

도 8a 및 도 8b는 일 실시예에 따른 위성 고장 원인의 예시를 설명하는 도면이다.8A and 8B are diagrams illustrating an example of a satellite failure cause according to an embodiment.

검사대상 위성(810, 820)이 고장난 경우, 검사대상 위성(810, 820)의 정보 및 상기 주변 위성들(811 내지 815, 821 내지 825)의 정보로부터 산출된 검정통계량의 변화 추세를 분석하여, 검사대상 위성(810, 820)의 고장 원인을 결정할 수 있다. The change trend of the test statistic calculated from the information of the satellites 810 and 820 and the information of the surrounding satellites 811 to 815 and 821 to 825 when the satellites 810 and 820 to be inspected are broken, It is possible to determine the cause of failure of the satellites 810 and 820 to be inspected.

도 8a를 참조하면, 위성 궤도 고장에 따른 위성들의 분포를 도시한다. 검사대상 위성(810)의 궤도에 고장이 발생한 경우, 주변 위성들(811 내지 815)의 분포에 따라 ISL 측정치의 변화는 측정치마다 상이하게 나타나므로, 산출된 검정통계량들 중 일부는 증가하고, 나머지 일부는 감소할 수 있다.Referring to FIG. 8A, the distribution of satellites according to satellite orbital failure is shown. When a failure occurs in the trajectory of the satellite 810 to be inspected, the variation of the ISL measurement values varies according to the distribution of the nearby satellites 811 to 815, so that some of the calculated test statistic values are increased, Some can be reduced.

도 8b를 참조하면, 위성 시계 고장에 따른 위성들의 분포를 도시한다. 검사대상 위성(820)의 주변 위성들(821 내지 825)의 분포에 상관 없이 ISL 측정치의 변화는 모두 동일하게 감소하거나 증가하므로, 산출된 검정통계량들이 모두 감소하거나 증가할 수 있다.Referring to FIG. 8B, a distribution of satellites according to a satellite clock failure is shown. Regardless of the distribution of the surrounding satellites 821 to 825 of the satellite 820 to be inspected, the variation of the ISL measurement values all decrease or increase equally, so that the calculated test statistic values may all decrease or increase.

도 9는 일 실시예에 따른 위성 고장 원인에 따른 검정통계량 변화 추세의 예시를 설명하는 도면이다.FIG. 9 is a diagram for explaining an example of a change in a test statistic according to a cause of a satellite failure according to an embodiment.

도 9를 참조하면, 위성 궤도 고장의 경우 검정통계량의 변화 추세에 일정한 방향성이 존재하지 않을 수 있다. 일 실시예에서 검정통계량들 중 일부는 증가하고, 나머지 일부는 감소할 수 있다. Referring to FIG. 9, in the case of satellite orbital failure, there may be no directionality in the trend of change of the test statistic. In one embodiment, some of the test statistics may increase and some of the test statistics may decrease.

한편, 위성 시계 고장의 경우 검정통계량의 변화 추세에 일정한 방향성이 존재할 수 있다. 일 실시예에서 검정통계량들 모두 감소하거나 증가할 수 있다.On the other hand, in the case of satellite clock failure, there may be a certain direction in the change trend of the test statistic. In one embodiment, all of the test statistics can be reduced or increased.

위성이 고장난 경우, 이에 대한 적절한 조치를 취하기 위해서는 위성의 고장원인을 결정하여야 하는데, 도 9와 같은 검정통계량 변화 추세 결과를 기초로 위성의 고장 원인을 쉽고, 빠르게 결정할 수 있다.If the satellite fails, the cause of the failure of the satellite must be determined in order to take appropriate measures. The cause of the failure of the satellite can be determined easily and quickly based on the result of the test statistic change as shown in FIG.

도 10은 일 실시예에 따른 위성 고장 원인 결정 디바이스의 블록도이다.10 is a block diagram of a satellite fault cause determination device according to one embodiment.

도 10을 참조하면, 위성 고장 원인 결정 디바이스(100)는 제어부(110), 통신부(120) 및 메모리(130)를 포함할 수 있다. 도 10에 도시된 디바이스(100)에는 실시예와 관련된 구성요소들만이 도시되어 있다. 따라서, 도 10에 도시된 구성요소들 외에 다른 범용적인 구성요소들이 더 포함될 수 있음을 당해 기술분야의 통상의 기술자라면 이해할 수 있다.Referring to FIG. 10, the satellite failure determination device 100 may include a control unit 110, a communication unit 120, and a memory 130. Only the components associated with the embodiment are shown in the device 100 shown in Fig. Therefore, it will be understood by those of ordinary skill in the art that other general-purpose components other than the components shown in FIG. 10 may be further included.

제어부(110)는 도 1 내지 도 9에서 상술한 위성의 고장 여부를 검출하고, 위성의 고장 원인을 결정하는 일련의 프로세스를 제어할 수 있다.The control unit 110 can detect a failure of the satellite described in Figs. 1 to 9 and control a series of processes for determining the cause of failure of the satellite.

일 실시예에서 제어부(110) 검사대상 위성의 고장 여부를 검출하기 위한 주변 위성군을 선정할 수 있다. 또한, 제어부(110)는 검사대상 위성의 정보 및 주변 위성군의 정보를 이용하여 검사대상 위성의 고장여부를 판단할 수 있다. 또한 제어부(110)는 검사대상 위성이 고장난 것으로 결정된 경우, 검사대상 위성의 정보 및 주변 위성군의 정보로부터 산출된 검정통계량의 변화 추세를 분석할 수 있다. 또한, 제어부(110)는 분석 결과에 기초하여 검사대상 위성의 고장 원인을 결정할 수 있다.In one embodiment, a peripheral satellite group for detecting the failure of the satellite to be inspected by the controller 110 can be selected. In addition, the controller 110 can determine whether the target satellite is in failure by using the information of the satellite to be inspected and the information of the surrounding satellite group. Also, when it is determined that the satellite to be tested has failed, the controller 110 can analyze the change trend of the test statistic calculated from the information of the satellite to be tested and the information of the surrounding satellite group. Also, the controller 110 can determine the cause of the failure of the target satellite based on the analysis result.

일 실시예에서 통신부(120)는 검사대상 위성 및 주변 위성군의 정보를 수신할 수 있다. 예를 들어, 위성정보 수신부는 Almanac과 Ephemeris 방법으로 생성된 위성정보를 수신할 수 있다.In one embodiment, the communication unit 120 may receive information of the satellite to be inspected and the surrounding satellite group. For example, satellite information receiver can receive satellite information generated by Almanac and Ephemeris method.

일 실시예에서 메모리(130)는 위성 고장 검출 방법 및 위성 고장 원인 결정 방법이 저장할 수 있다.In one embodiment, the memory 130 may store a satellite fault detection method and a satellite fault cause determination method.

한편, 위성 고장 원인 결정 디바이스(100)의 제어부(110)는 적어도 하나의 하드웨어 칩 형태로 제작되어 위성 고장 원인 결정 디바이스(100)에 탑재될 수 있다. 예를 들어, 제어부(110)는 위성의 고장 여부를 검출하고, 위성의 고장 원인을 결정을 위한 전용 하드웨어 칩 형태로 제작될 수도 있고, 또는 기존의 범용 프로세서(예: CPU 또는 application processor) 또는 그래픽 전용 프로세서(예: GPU)의 일부로 제작되어 전술한 중앙 처리 디바이스(10)에 탑재될 수도 있다.On the other hand, the control unit 110 of the satellite failure determining device 100 may be manufactured in at least one hardware chip form and mounted on the determination device 100 as a satellite failure cause. For example, the control unit 110 may detect the failure of the satellite and may be fabricated in the form of a dedicated hardware chip for determining the cause of the failure of the satellite, or a conventional general purpose processor (e.g., a CPU or an application processor) May be fabricated as part of a dedicated processor (e.g., a GPU) and loaded into the central processing device 10 described above.

본 실시예들은 컴퓨터에 의해 실행되는 프로그램 모듈과 같은 컴퓨터에 의해 실행 가능한 명령어를 포함하는 기록 매체의 형태로도 구현될 수 있다. 컴퓨터 판독 가능 매체는 컴퓨터에 의해 액세스될 수 있는 임의의 가용 매체일 수 있고, 휘발성 및 비휘발성 매체, 분리형 및 비분리형 매체를 모두 포함한다. 또한, 컴퓨터 판독가능 매체는 컴퓨터 저장 매체 및 통신 매체를 모두 포함할 수 있다. 컴퓨터 저장 매체는 컴퓨터 판독가능 명령어, 데이터 구조, 프로그램 모듈 또는 기타 데이터와 같은 정보의 저장을 위한 임의의 방법 또는 기술로 구현된 휘발성 및 비휘발성, 분리형 및 비분리형 매체를 모두 포함한다. 통신 매체는 전형적으로 컴퓨터 판독가능 명령어, 데이터 구조, 프로그램 모듈과 같은 변조된 데이터 신호의 기타 데이터, 또는 기타 전송 메커니즘을 포함하며, 임의의 정보 전달 매체를 포함한다.The embodiments may also be embodied in the form of a recording medium including instructions executable by a computer, such as program modules, being executed by a computer. Computer readable media can be any available media that can be accessed by a computer and includes both volatile and nonvolatile media, removable and non-removable media. In addition, the computer-readable medium may include both computer storage media and communication media. Computer storage media includes both volatile and nonvolatile, removable and non-removable media implemented in any method or technology for storage of information such as computer readable instructions, data structures, program modules or other data. Communication media typically comprise any information delivery media, including computer readable instructions, data structures, other data of a modulated data signal such as program modules, or other transport mechanisms.

또한, 본 명세서에서, “부”는 프로세서 또는 회로와 같은 하드웨어 구성(hardware component), 및/또는 프로세서와 같은 하드웨어 구성에 의해 실행되는 소프트웨어 구성(software component)일 수 있다.Also, in this specification, the term " part " may be a hardware component such as a processor or a circuit, and / or a software component executed by a hardware component such as a processor.

전술한 본 명세서의 설명은 예시를 위한 것이며, 본 명세서의 내용이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형이 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 예를 들어, 단일형으로 설명되어 있는 각 구성 요소는 분산되어 실시될 수도 있으며, 마찬가지로 분산된 것으로 설명되어 있는 구성 요소들도 결합된 형태로 실시될 수 있다.It will be understood by those skilled in the art that the foregoing description of the specification is for illustrative purposes only and that those skilled in the art will readily understand that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention. It will be possible. It is therefore to be understood that the above-described embodiments are illustrative in all aspects and not restrictive. For example, each component described as a single entity may be distributed and implemented, and components described as being distributed may also be implemented in a combined form.

본 실시예의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 포함되는 것으로 해석되어야 한다.The scope of the present invention is defined by the appended claims rather than the foregoing detailed description, and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalents should be interpreted as including the claims.

Claims (10)

위성의 고장 원인을 결정하는 방법에 있어서,
검사대상 위성을 선정하는 단계;
상기 검사대상 위성의 고장 여부를 검출하기 위한 주변 위성군에 포함된 2개의 주변 위성들을 선정하는 단계;
상기 선정된 검사대상 위성의 정보 및 상기 선정된 2개의 주변 위성들의 정보를 이용하여 상기 검사대상 위성의 고장여부를 결정하는 단계;
상기 검사대상 위성이 고장난 것으로 결정된 경우, 상기 검사대상 위성의 정보 및 상기 주변 위성군의 정보로부터 산출된 검정통계량의 변화 추세를 분석하는 단계;
상기 분석 결과에 기초하여 상기 검사대상 위성의 고장 원인을 결정하는 단계;
를 포함하는, 방법.
A method for determining a cause of a failure of a satellite,
Selecting a satellite to be inspected;
Selecting two surrounding satellites included in a peripheral satellite group for detecting the failure of the satellite to be inspected;
Determining whether the satellite to be tested is faulty using the information of the selected satellite to be inspected and the information of the two selected nearby satellites;
Analyzing a change trend of a test statistic calculated from information of the satellite to be surveyed and information of the peripheral satellite group when it is determined that the satellite to be tested is broken;
Determining a cause of the failure of the target satellite based on the analysis result;
/ RTI >
제 1항에 있어서,
상기 검정통계량의 변화 추세를 분석하는 단계는,
상기 검사대상 위성을 하나의 꼭지점으로 하고 상기 주변 위성군에 포함된 서로 인접한 2개의 주변 위성들을 나머지 꼭지점으로 하는 복수개의 삼각형들을 형성하는 단계;
상기 복수개의 삼각형들 각각을 구성하는 2개의 주변 위성들 간의 거리에 대한 측정치를 획득하고, 추정치를 산출하는 단계;
상기 획득된 측정치 및 상기 산출된 추정치의 차이를 이용하여, 상기 복수개의 삼각형들 각각을 구성하는 2개의 주변 위성들 간의 거리에 대한 검정통계량을 산출하는 단계; 및
상기 복수개의 삼각형들 각각에 대해 산출된 검정통계량들의 변화 추세를 분석하는 단계;
를 포함하는, 방법.
The method according to claim 1,
The step of analyzing the change trend of the test statistic may include:
Forming a plurality of triangles having the vertex of the inspection target satellite as one vertex and the vertices of the two surrounding nearby satellites included in the peripheral satellite group as the rest vertices;
Obtaining a measurement of a distance between two surrounding satellites constituting each of the plurality of triangles, and calculating an estimate;
Calculating a test statistic for a distance between two adjacent satellites constituting each of the plurality of triangles by using the difference between the obtained measured value and the calculated estimated value; And
Analyzing a change trend of the calculated test statistic for each of the plurality of triangles;
/ RTI >
제 2항에 있어서,
상기 검사대상 위성의 고장 원인을 결정하는 단계는,
상기 복수개의 삼각형들 각각에 대한 상기 검정통계량의 변화 추세의 방향이 모두 동일한 경우, 상기 검사대상 위성의 고장 원인을 위성 시계 고장으로 결정하고,
상기 복수개의 삼각형들 각각에 대한 상기 검정통계량의 변화 추세의 방향이 일부만 동일한 경우, 상기 검사대상 위성의 고장 원인을 위성 궤도 고장으로 결정하는 것인, 방법.
3. The method of claim 2,
Wherein the step of determining the cause of the failure of the target satellite comprises:
Determining a cause of the failure of the satellite to be tested as a satellite clock failure when the trends of the change of the test statistic for each of the plurality of triangles are all the same,
Wherein if the directions of change in the test statistic for each of the plurality of triangles are only partially identical, the cause of the failure of the target satellite is determined as a satellite orbit failure.
제 1항에 있어서,
상기 검사대상 위성의 고장여부를 결정하는 단계는,
상기 검사대상 위성을 하나의 꼭지점으로 하고 상기 2개의 주변 위성들을 나머지 꼭지점으로 하는 삼각형을 형성하는 단계;
상기 삼각형을 구성하는 상기 2개의 주변 위성들 간의 거리에 대한 측정치를 획득하고, 추정치를 산출하는 단계;
상기 획득된 측정치 및 산출된 추정치의 차이를 이용하여 상기 2개의 주변 위성들 간의 거리에 대한 검정통계량을 산출하는 단계; 및
상기 산출된 검정통계량과 임계값을 비교함으로써, 상기 검사대상 위성의 고장여부를 결정하는 단계;
를 포함하는 방법.
The method according to claim 1,
Wherein the step of determining whether the satellite to be inspected is faulty comprises:
Forming a triangle having one vertex of the satellite to be inspected and the other vertices of the two surrounding satellites;
Obtaining a measurement of the distance between the two surrounding satellites constituting the triangle, and calculating an estimate;
Calculating a test statistic for the distance between the two nearby satellites using the obtained measurements and the difference of the calculated estimates; And
Determining whether the satellite to be tested is faulty by comparing the calculated test statistic with a threshold value;
≪ / RTI >
제 2항에 있어서,
상기 측정치는 ISL(inter-satellite links)로부터 획득되며, 상기 추정치는 방송궤도력을 이용하여 산출되는 것인, 방법.
3. The method of claim 2,
Wherein the measurements are obtained from inter-satellite links (ISL), and the estimates are calculated using broadcast ephemeris.
제 4항에 있어서,
상기 임계값은, 수학식
Figure pat00045
(여기서,
Figure pat00046
는 검정통계량의 평균,
Figure pat00047
는 임계값의 조정변수,
Figure pat00048
는 검정통계량의 표준편차를 나타낸다)에 의해 산출되는 것인, 방법.
5. The method of claim 4,
The threshold value may be expressed by Equation
Figure pat00045
(here,
Figure pat00046
Is the mean of the test statistic,
Figure pat00047
Is the adjustment variable of the threshold value,
Figure pat00048
Is the standard deviation of the test statistic).
제 1항에 있어서,
상기 검정통계량의 성능을 나타내는 민감도는, 수학식
Figure pat00049
(여기서,
Figure pat00050
Figure pat00051
는 주변 위성들에 대한 검사대상 위성의 방위각을 나타낸다)을 이용하여 결정되는 것인, 방법.
The method according to claim 1,
The sensitivity, which indicates the performance of the test statistic,
Figure pat00049
(here,
Figure pat00050
And
Figure pat00051
Is an azimuth angle of the satellite to be inspected relative to nearby satellites.
제 5항에 있어서,
상기 추정치는,
상기 2개의 주변 위성에 의해 결정되는 상기 검사대상 위성의 끼인각을 산출하고, 상기 끼인각을 삼각함수 법칙에 적용함으로써 산출되는 것인, 방법.
6. The method of claim 5,
The estimator may further comprise:
Calculating a subtended angle of the satellite to be inspected determined by the two surrounding satellites, and applying the subtended angle to the trigonometric law.
위성의 고장 원인을 결정하는 디바이스에 있어서,
검사대상 위성을 선정하고,
상기 검사대상 위성의 고장 여부를 검출하기 위한 주변 위성군을 선정하는고,
상기 검사대상 위성의 정보 및 상기 주변 위성군의 정보를 이용하여 상기 검사대상 위성의 고장여부를 결정하고,
상기 검사대상 위성이 고장난 것으로 결정된 경우, 상기 검사대상 위성의 정보 및 상기 주변 위성군의 정보로부터 산출된 검정통계량의 변화 추세를 분석하고,
상기 분석 결과에 기초하여 상기 검사대상 위성의 고장 원인을 결정하는 제어부;
를 포함하는, 디바이스.
A device for determining a cause of a fault in a satellite,
The target satellite is selected,
A group of nearby satellites for detecting the failure of the target satellite,
Determining whether the satellite to be inspected is faulty using the information of the satellite to be inspected and the information of the surrounding satellite group,
Analyzing the change trend of the test statistic calculated from the information of the satellite to be surveyed and the information of the peripheral satellite group when it is determined that the test target satellite has failed,
A controller for determining a cause of the failure of the target satellite based on the analysis result;
.
제 1항 내지 8항 중에 적어도 어느 한 항의 방법을 컴퓨터에서 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체.A computer-readable recording medium having recorded thereon a program for causing a computer to execute the method according to any one of claims 1 to 8.
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