KR20180114552A - Correction of shapes produced in laminate manufacturing - Google Patents
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- H01L21/3212—Planarisation by chemical mechanical polishing [CMP]
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Abstract
적층 제조 시스템을 사용하여 연마 패드를 제조하는 방법은, 액적 토출에 의해 제조될 연마 패드의 원하는 형상을 나타내는 데이터를 수신하는 단계를 포함한다. 원하는 형상은, 연마 패드 상의 하나 이상의 홈들 및 연마 표면을 포함하는 윤곽을 한정한다. 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 윤곽의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하기 위해, 공급 재료를 분배하는 수정된 패턴을 나타내는 데이터가 발생되고, 공급 재료의 복수의 층들은 수정된 패턴에 따른 액적 토출에 의해 분배된다.A method of manufacturing a polishing pad using a laminate manufacturing system includes receiving data indicative of a desired shape of a polishing pad to be produced by droplet discharge. The desired shape defines an outline that includes one or more grooves on the polishing pad and the polishing surface. In order to at least partially compensate for the contour distortions caused by the laminate manufacturing system, data representing a modified pattern for dispensing the feed material is generated, and the plurality of layers of feed material are ejected by droplet ejection in accordance with the modified pattern Lt; / RTI >
Description
본 명세서는 적층 제조에 관한 것이다.This specification relates to laminate manufacturing.
집적 회로는 전형적으로, 실리콘 웨이퍼 상에 전도성, 반전도성 또는 절연성 층들의 순차적 퇴적에 의해 기판 상에 형성된다. 다양한 제조 프로세스들은 기판 상의 층의 평탄화를 요구한다. 특정 응용들, 예를 들어, 패터닝된 층의 트렌치들에 비아들, 플러그들 및 라인들을 형성하기 위한 금속 층의 연마의 경우에, 패터닝된 층의 최상부 표면이 노출될 때까지, 위에 놓인 층이 평탄화된다. 다른 응용들, 예를 들어, 포토리소그래피를 위한 유전체 층의 평탄화에서, 아래에 놓인 층 위에 원하는 두께가 남을 때까지, 위에 놓인 층이 연마된다.Integrated circuits are typically formed on a substrate by sequential deposition of conductive, semi-conductive or insulating layers on a silicon wafer. Various fabrication processes require planarization of the layers on the substrate. In the case of polishing a metal layer to form vias, plugs, and lines in certain applications, for example, trenches of the patterned layer, the overlying layer may be patterned until the top surface of the patterned layer is exposed Flattened. In other applications, for example planarization of the dielectric layer for photolithography, the overlying layer is polished until the desired thickness remains on the underlying layer.
화학적 기계적 연마(CMP)는 하나의 용인된 평탄화 방법이다. 이 평탄화 방법은 전형적으로, 기판이 캐리어 헤드 상에 장착될 것을 요구한다. 기판의 노출된 표면은 전형적으로, 회전식 연마 패드에 대해 배치된다. 캐리어 헤드는, 연마 패드에 대해 기판을 누르기 위해, 제어 가능한 부하를 기판 상에 제공한다. 연마 입자들을 갖는 슬러리와 같은 연마액은 전형적으로, 연마 패드의 표면에 공급된다.Chemical mechanical polishing (CMP) is one accepted planarization method. This planarization method typically requires that the substrate be mounted on a carrier head. The exposed surface of the substrate is typically positioned relative to the rotating polishing pad. The carrier head provides a controllable load on the substrate for pressing the substrate against the polishing pad. A polishing liquid, such as a slurry with abrasive particles, is typically supplied to the surface of the polishing pad.
화학적 기계적 연마 프로세스의 하나의 목적은 연마 균일성이다. 기판 상의 상이한 영역들이 상이한 속도들로 연마된다면, 기판의 일부 영역들에서 너무 많은 재료가 제거("과잉 연마")되거나 너무 적은 재료가 제거("과소 연마")되는 것이 가능하다. 평탄화에 부가하여, 연마 패드들은 버핑과 같은 마감 작동들을 위해 사용될 수 있다.One purpose of the chemical mechanical polishing process is polishing uniformity. If different regions on the substrate are polished at different speeds, it is possible that too much material is removed ("over-polished") or too little material is removed ("under-polished") in some regions of the substrate. In addition to planarization, the polishing pads can be used for finishing operations such as buffing.
연마 패드들은 전형적으로, 폴리우레탄 재료들을 성형, 주조 또는 소결함으로써 제조된다. 성형의 경우에, 연마 패드들은, 예를 들어, 사출 성형에 의해 한번에 하나씩 제조될 수 있다. 주조의 경우에, 액체 전구체가 주조되어 케이크로 경화되는데, 이 케이크는 후속하여 개별 패드 조각들로 슬라이싱된다. 그 다음, 이러한 패드 조각들은 최종 두께로 기계가공될 수 있다. 홈들은 사출 성형 프로세스의 일부로서 형성되거나, 연마 표면 내로 기계가공될 수 있다.Abrasive pads are typically made by molding, casting or sintering polyurethane materials. In the case of molding, the polishing pads can be made one at a time, for example, by injection molding. In the case of casting, a liquid precursor is cast and cured into a cake, which is subsequently sliced into individual pad pieces. These pad pieces can then be machined to final thickness. The grooves may be formed as part of the injection molding process or machined into the polishing surface.
일 양상에서, 적층 제조 시스템을 사용하여 연마 패드를 제조하는 방법은, 액적 토출(droplet ejection)에 의해 제조될 연마 패드의 원하는 형상을 나타내는 데이터를 수신하는 단계를 포함한다. 원하는 형상은, 연마 패드 상의 하나 이상의 홈들 및 연마 표면을 포함하는 윤곽을 한정한다. 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 윤곽의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하기 위해, 공급 재료를 분배하는 수정된 패턴을 나타내는 데이터가 발생되고, 공급 재료의 복수의 층들은 수정된 패턴에 따른 액적 토출에 의해 분배된다.In an aspect, a method of manufacturing a polishing pad using a laminate manufacturing system includes receiving data representative of a desired shape of a polishing pad to be produced by droplet ejection. The desired shape defines an outline that includes one or more grooves on the polishing pad and the polishing surface. In order to at least partially compensate for the contour distortions caused by the laminate manufacturing system, data representing a modified pattern for dispensing the feed material is generated, and the plurality of layers of feed material are ejected by droplet ejection in accordance with the modified pattern Lt; / RTI >
다른 양상에서, 적층 제조 시스템을 사용하여 대상물을 제조하는 방법은, 액적 토출에 의해 제조될 대상물의 원하는 형상을 나타내는 데이터를 수신하는 단계를 포함한다. 원하는 형상은, 하나 이상의 홈들 및 최상부 표면을 포함하는 윤곽을 한정한다. 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 윤곽의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하기 위해, 공급 재료를 분배하는 수정된 패턴을 나타내는 데이터가 발생되고, 공급 재료의 복수의 층들은 수정된 패턴에 따른 액적 토출에 의해 분배된다.In another aspect, a method of manufacturing an object using a laminate manufacturing system includes receiving data representing a desired shape of an object to be produced by a droplet discharge. The desired shape defines an outline that includes one or more grooves and a top surface. In order to at least partially compensate for the contour distortions caused by the laminate manufacturing system, data representing a modified pattern for dispensing the feed material is generated, and the plurality of layers of feed material are ejected by droplet ejection in accordance with the modified pattern Lt; / RTI >
또 다른 양상에서, 컴퓨터 판독 가능 매체에 유형적으로 구체화된 컴퓨터 프로그램 제품은, 프로세서로 하여금 적층 제조 시스템에서 액적 토출에 의해 제조될 연마 패드의 원하는 형상을 나타내는 데이터를 수신하게 하는 명령들을 포함한다. 원하는 형상은, 연마 패드 상의 하나 이상의 홈들 및 연마 표면을 포함하는 윤곽을 한정한다. 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 윤곽의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하기 위해, 공급 재료를 분배하는 수정된 패턴을 나타내는 데이터가 발생되고, 적층 제조 시스템은, 수정된 패턴에 따른 액적 토출에 의해 공급 재료의 복수의 층들을 분배하게 된다.In another aspect, a computer program product tangibly embodied in a computer-readable medium includes instructions for causing a processor to receive data indicative of a desired shape of a polishing pad to be produced by droplet dispensing in a laminate manufacturing system. The desired shape defines an outline that includes one or more grooves on the polishing pad and the polishing surface. In order to at least partially compensate for the contour distortions caused by the laminate manufacturing system, data representing a modified pattern for dispensing the feed material is generated, and the laminate manufacturing system is configured to dispense the feed material To distribute the plurality of layers.
또 다른 양상에서, 컴퓨터 판독 가능 매체에 유형적으로 구체화된 컴퓨터 프로그램 제품은, 프로세서로 하여금 적층 제조 시스템에서 액적 토출에 의해 제조될 대상물의 원하는 형상을 나타내는 데이터를 수신하게 하는 명령들을 포함한다. 원하는 형상은, 하나 이상의 홈들 및 최상부 표면을 포함하는 윤곽을 한정한다. 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 윤곽의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하기 위해, 공급 재료를 분배하는 수정된 패턴을 나타내는 데이터가 발생되고, 적층 제조 시스템은, 수정된 패턴에 따른 액적 토출에 의해 공급 재료의 복수의 층들을 분배하게 된다.In yet another aspect, a computer program product tangibly embodied in a computer-readable medium includes instructions for causing a processor to receive data indicative of a desired shape of an object to be produced by droplet dispensing in a laminate manufacturing system. The desired shape defines an outline that includes one or more grooves and a top surface. In order to at least partially compensate for the contour distortions caused by the laminate manufacturing system, data representing a modified pattern for dispensing the feed material is generated, and the laminate manufacturing system is configured to dispense the feed material To distribute the plurality of layers.
또 다른 양상에서, 적층 제조 시스템은, 제조되고 있는 연마 패드를 유지하기 위한 플랫폼, 플랫폼 상에 또는 연마 패드의 이전에 퇴적된 층 상에 액적들을 토출함으로써 복수의 층을 형성하기 위한 프린트헤드, 및 연마 패드의 원하는 형상 ― 원하는 형상은 연마 패드 상의 하나 이상의 홈들 및 연마 표면을 포함하는 윤곽을 한정함 ― 을 나타내는 데이터를 수신하고, 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 윤곽의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하기 위해, 공급 재료를 분배하는 수정된 패턴을 나타내는 데이터를 발생시키고, 프린트헤드가, 수정된 패턴에 따른 액적 토출에 의해 공급 재료의 복수의 층들을 분배하게 하도록 구성된 제어기를 포함한다.In yet another aspect, a laminate manufacturing system includes a platform for holding a polishing pad being manufactured, a printhead for forming a plurality of layers on a platform or on a previously deposited layer of a polishing pad by ejecting droplets, Receiving the data indicative of the desired shape of the polishing pad-the desired shape defining one or more grooves on the polishing pad and the contour comprising the polishing surface, and at least partially compensating for the contour distortions caused by the laminate manufacturing system And a controller configured to cause the printhead to distribute the plurality of layers of feed material by droplet ejection in accordance with the modified pattern.
또 다른 양상에서, 적층 제조 시스템은, 제조되고 있는 연마 패드를 유지하기 위한 플랫폼, 플랫폼 상에 또는 연마 패드의 이전에 퇴적된 층 상에 액적들을 토출함으로써 복수의 층을 형성하기 위한 프린트헤드, 및 연마 패드의 원하는 형상 ― 원하는 형상은 연마 패드 상의 하나 이상의 홈들 및 연마 표면을 포함하는 윤곽을 한정함 ― 을 나타내는 데이터를 수신하고, 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 윤곽의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하기 위해, 공급 재료를 분배하는 수정된 패턴을 나타내는 데이터를 발생시키고, 프린트헤드가, 수정된 패턴에 따른 액적 토출에 의해 공급 재료의 복수의 층들을 분배하게 하도록 구성된 제어기를 포함한다.In yet another aspect, a laminate manufacturing system includes a platform for holding a polishing pad being manufactured, a printhead for forming a plurality of layers on a platform or on a previously deposited layer of a polishing pad by ejecting droplets, Receiving the data indicative of the desired shape of the polishing pad-the desired shape defining one or more grooves on the polishing pad and the contour comprising the polishing surface, and at least partially compensating for the contour distortions caused by the laminate manufacturing system And a controller configured to cause the printhead to distribute the plurality of layers of feed material by droplet ejection in accordance with the modified pattern.
구현들은 다음의 특징들 중 하나 이상을 포함할 수 있다.Implementations may include one or more of the following features.
연마 패드 상의 하나 이상의 홈들은, 복수의 층들에 실질적으로 수직인 측벽에 의해 한정될 수 있다. 하나 이상의 홈들의 왜곡들은 연마 표면에 대한 측벽의 수직의 왜곡들을 포함할 수 있다.One or more grooves on the polishing pad may be defined by side walls that are substantially perpendicular to the plurality of layers. The distortions of the one or more grooves may include vertical distortions of the sidewall relative to the polishing surface.
연마 표면은 복수의 층들에 실질적으로 평행할 수 있다. 수정된 패턴은, 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 연마 패드의 연마 표면의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하도록 구성될 수 있다. 연마 패드의 연마 표면의 왜곡들은 연마 표면의 평탄도의 왜곡들을 포함할 수 있다.The polishing surface may be substantially parallel to the plurality of layers. The modified pattern can be configured to at least partially compensate for distortions in the polishing surface of the polishing pad caused by the laminate manufacturing system. Distortions on the polishing surface of the polishing pad may include distortions in the flatness of the polishing surface.
연마 패드의 원하는 형상을 나타내는 데이터는, 공급 재료의 복수의 층들을 분배하는 패턴을 나타내는 데이터를 포함할 수 있고, 패턴을 나타내는 데이터는 평탄한 최상부 표면을 표현하는 데이터를 포함한다. 수정된 패턴을 나타내는 데이터는, 평탄한 최상부 표면을 표현하는 데이터에 기초하여 발생된, 오목한 최상부 표면을 표현하는 데이터를 포함할 수 있다. 오목한 최상부 표면을 표현하는 데이터는, 패턴을 나타내는 데이터를 사용하여 형성된 연마 패드의 연마 표면의 평탄도의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하도록 발생될 수 있다.Data representing a desired shape of the polishing pad may include data representing a pattern for dispensing a plurality of layers of a supply material and the data representing the pattern comprises data representing a flat top surface. Data representing the modified pattern may include data representing a concave top surface generated based on data representing a flat top surface. The data representing the concave top surface can be generated to at least partially compensate for the flatness distortions of the polishing surface of the polishing pad formed using data representing the pattern.
수정된 패턴을 나타내는 데이터를 발생시키는 것은, 연마 패드의 원하는 형상을 형성하기 위해, 원래의 패턴을 나타내는 데이터를 수정하는 것을 포함할 수 있다. 원래의 패턴을 나타내는 데이터는 원래의 패턴에 대한 보정 윤곽에 기초하여 수정될 수 있다. 보정 윤곽은 원래의 패턴의 폭 너머로 연장되는 부분을 포함할 수 있다. 보정 윤곽은 원래의 형상 ― 원래의 형상은 적어도 부분적으로 왜곡들에 의해 한정됨 ― 과 원하는 형상 사이의 차이를 식별함으로써 결정될 수 있다. 원래의 패턴을 나타내는 데이터를 수정하는 것은, 복셀당 퇴적되는 공급 재료의 양을 수정하는 것을 포함할 수 있다.Generating data representing the modified pattern may include modifying data representing the original pattern to form a desired shape of the polishing pad. Data representing the original pattern can be corrected based on the correction contour for the original pattern. The correction contour may include portions extending beyond the width of the original pattern. The correction contour can be determined by identifying the original shape - the original shape is at least partially defined by distortions - and the difference between the desired shape. Modifying the data representing the original pattern may include modifying the amount of feed material deposited per voxel.
연마 표면은 적어도 2개의 홈들을 분리시키는 구획을 포함할 수 있고, 원래의 패턴을 나타내는 데이터를 수정하는 것은, 홈에 인접한 구획의 에지 부분에 근접하여 분배되는 재료의 제1 부피를 결정하는 것, 구획의 중앙 부분에 분배되는 재료의 제2 부피를 결정하는 것, 및 제2 부피가 제1 부피보다 더 크도록, 제1 부피 및 제2 부피에 기초하여 공급 재료의 부피의 분배를 수정하는 것을 포함할 수 있다.The polishing surface may include a compartment separating at least two grooves and modifying the data representing the original pattern may include determining a first volume of material dispensed close to an edge portion of the compartment adjacent the groove, Determining a second volume of material dispensed in a central portion of the compartment and modifying the distribution of the volume of feed material based on the first volume and the second volume such that the second volume is greater than the first volume .
적층 제조 장치에 의해 야기되는, 윤곽의 왜곡들은, 제조되고 있는 피처들 상의 토출된 액적들의 유동에 의해 야기되는 왜곡들을 포함할 수 있다. 윤곽의 왜곡들은 하나 이상의 홈들의 높이의 왜곡들을 포함할 수 있다. 연마 패드의 원하는 형상은, 연마 표면을 한정하는 평탄한 표면을 포함하고, 수정된 패턴은, 평탄한 표면에 대응하는 평탄하지 않은 부분을 포함할 수 있다. 평탄하지 않은 부분은, 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 연마 표면의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하도록 구성될 수 있다.Distortion distortions caused by the stack manufacturing apparatus may include distortions caused by the flow of ejected droplets on the features being fabricated. Distortions in the contour may include distortions in the height of one or more grooves. The desired shape of the polishing pad includes a flat surface defining a polishing surface, and the modified pattern may include a non-planar portion corresponding to a flat surface. The non-planar portion can be configured to at least partially compensate for the distortions of the abrasive surface caused by the laminate manufacturing system.
전술한 내용의 장점들은 다음 내용을 포함할 수 있지만, 이에 한정되지는 않는다. 연마 패드의 기하형상은 더 정밀하게 제어될 수 있고, 이로써, 연마 패드의 연마 효율을 개선한다. 게다가, 보정 윤곽은, 물품, 예를 들어, 연마 패드가 초기에 형성된 이후에 재료를 제거하기 보다는, 물품을 형성하기 위해 적층 제조 장치가 사용하는 데이터를 조정함으로써, 잠재적인 왜곡들을 보상할 수 있다. 적층 제조 장치에 의해 물품이 형성된 이후 물품의 사후-처리의 양을 감소시킬 수 있다. 결과적으로, 공급 재료 낭비의 양을 감소시킬 수 있고, 수율 및 처리량을 증가시킬 수 있다.Advantages of the foregoing may include, but are not limited to, the following. The geometry of the polishing pad can be controlled more precisely, thereby improving the polishing efficiency of the polishing pad. In addition, the correction contour can compensate for potential distortions by adjusting the data used by the laminate manufacturing apparatus to form the article, rather than removing the article, e.g., after the polishing pad is initially formed . It is possible to reduce the amount of post-treatment of the article after the article is formed by the laminate manufacturing apparatus. As a result, it is possible to reduce the amount of supply material waste, and increase the yield and throughput.
본 명세서에 설명된 청구 대상의 하나 이상의 구현들의 세부 사항들이 첨부 도면들 및 아래의 설명에서 제시된다. 다른 잠재적 특징들, 양상들 및 장점들은 설명, 도면들 및 청구항들로부터 자명해질 것이다.The details of one or more implementations of the claimed subject matter described herein are set forth in the accompanying drawings and the description below. Other potential features, aspects and advantages will become apparent from the description, drawings, and claims.
도 1은 연마 시스템의 개략적인 측면도이다.
도 2는 적층 제조 장치의 개략적인 측면도이다.
도 3a는 연마 패드의 예의 상면도이다.
도 3b는 도 3a의 연마 패드의 측면도이다.
도 4는 물품을 형성하기 위한 프로세스의 흐름도이다.
도 5는 원하는 형상에 기초하여 형성된 실제 형상의 예를 예시한다.
도 6은 도 5의 원하는 형상의 수정에 기초하여 형성된 실제 형상을 예시한다.
도 7은 원하는 형상에 기초하여 형성된 실제 형상의 다른 예를 예시한다.
도 8a-8c는 분배될 공급 재료의 패턴들의 비트맵 표현들이다.
도 9는 도 8a-8c의 비트맵 표현들을 사용하여 형성된 결과적인 형상들을 예시한다.
도 10은 수정된 형상을 나타내는 데이터를 발생시키는 프로세스를 도시한다.
도 11은, 분배될 공급 재료의 층들의 순서가 조정된, 분배될 공급 재료의 패턴의 비트맵 표현의 예이다.
도 12는, 비트맵 표현의 일부가, 형성될 원하는 형상의 원래의 폭 너머로 연장되는, 분배될 공급 재료의 패턴의 비트맵 표현의 예이다.
다양한 도면들에서의 유사한 참조 번호들 및 명칭들은 유사한 요소들을 나타낸다.1 is a schematic side view of a polishing system.
2 is a schematic side view of a laminate manufacturing apparatus.
Figure 3a is a top view of an example of a polishing pad.
Figure 3B is a side view of the polishing pad of Figure 3A.
4 is a flow diagram of a process for forming an article.
5 illustrates an example of an actual shape formed based on a desired shape.
Figure 6 illustrates the actual shape formed based on the modification of the desired shape of Figure 5;
Fig. 7 illustrates another example of an actual shape formed based on a desired shape.
8A-8C are bitmap representations of patterns of feed material to be dispensed.
Figure 9 illustrates the resulting shapes formed using the bitmap representations of Figures 8A-8C.
Figure 10 shows a process for generating data representing a modified shape.
11 is an example of a bitmap representation of a pattern of feed material to be dispensed, the order of which layers of feed material to be dispensed is adjusted.
Figure 12 is an example of a bitmap representation of a pattern of feed material to be dispensed, in which a portion of the bitmap representation extends beyond the original width of the desired shape to be formed.
Like numbers and names in the various figures indicate like elements.
적층 제조 장치는 연마 패드를 형성하는 데에 사용될 수 있다. 적층 제조 장치에는, 공급 재료를 분배하기 위한 초기 패턴이 제공될 수 있다. 초기 패턴은 형성될 연마 패드의 원하는 형상에 대응한다. 연마 패드가 초기 패턴을 사용하여 적층 제조 장치에 의해 형성될 때, 연마 패드의 실제 형상은 연마 패드의 원하는 형상에 대해 왜곡들을 포함할 수 있다. 본원에서 설명되는 바와 같이, 적층 제조 장치에 제공되는 초기 패턴은 이러한 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하기 위해 수정된 패턴을 발생시키도록 보정 윤곽에 의해 수정될 수 있다. 따라서, 수정된 패턴을 사용하여 형성된 결과적인 형상은 연마 패드의 원하는 형상에 더 밀접하게 일치될 수 있다.A laminate manufacturing apparatus can be used to form the polishing pad. In the laminate manufacturing apparatus, an initial pattern for distributing the supply material may be provided. The initial pattern corresponds to the desired shape of the polishing pad to be formed. When the polishing pad is formed by a laminate manufacturing apparatus using an initial pattern, the actual shape of the polishing pad may include distortions for the desired shape of the polishing pad. As described herein, an initial pattern provided in a laminate manufacturing apparatus may be modified by a correction contour to generate a modified pattern to at least partially compensate for such distortions. Thus, the resulting shape formed using the modified pattern can be more closely matched to the desired shape of the polishing pad.
이제 도 1을 참조하면, 연마 시스템(100)은 하나 이상의 기판들(104)을 연마하는 데에 사용될 수 있는 연마 패드(102)를 포함한다. 적합한 연마 장치의 설명은 미국 특허 제5,738,574호에서 발견할 수 있고, 상기 특허의 전체 개시내용은 인용에 의해 본원에 포함된다. 연마 시스템(100)은 연마 패드(102)가 상부에 배치되는 회전 가능한 플래튼(106)을 포함할 수 있다. 연마 단계 동안, 연마액(108), 예를 들어, 연마 슬러리가 슬러리 공급 포트 또는 복합 슬러리/헹굼 암(110)에 의해 연마 패드(102)의 연마 표면(103)에 공급될 수 있다. 연마액(108)은 연마 입자들, pH 조절제, 또는 화학적으로 활성인 성분들을 포함할 수 있다.Referring now to FIG. 1, a
기판(104)은 캐리어 헤드(112)에 의해 연마 패드(102)에 대해 유지된다. 캐리어 헤드(112)는 지지 구조, 예컨대, 캐러셀에 현수되고, 캐리어 헤드가 축(116)을 중심으로 회전할 수 있도록, 캐리어 구동 샤프트(114)에 의해 캐리어 헤드 회전 모터에 연결된다. 연마액(108)의 존재 하에 기판(104)과 연마 패드(102)의 상대 운동은 기판(104)의 연마를 초래한다.The
도 2를 참조하면, 일부 예들에서, 공급 재료의 연속 층들을 분배하는 적층 제조 장치(120)를 연마 패드(102)를 형성하는 데에 사용할 수 있다. 도 1 및 2를 참조하면, 적층 제조 장치(120)는 연마 패드(102)의 적어도 연마 층(122)을 형성하도록 작동한다. 제조 프로세스에서, 공급 재료의 얇은 층들은 점진적으로 분배되고 경화된다. 예를 들어, 공급 재료, 이를 테면 연마 패드 전구체 재료의 액적들(124)은, 공급 재료의 층(130)을 형성하기 위해, 분배기(128), 이를 테면 액적 토출기 프린터의 노즐(126)로부터 토출될 수 있다. 분배기(128)는 잉크젯 프린터와 유사하지만, 연마 패드(102)를 형성하기 위해 잉크 대신에 공급 재료를 사용한다.Referring to Figure 2, in some instances, a
제어기(129)는 분배기(128)의 분배 작동들을 제어하도록, 그리고 적용 가능하다면, 램프 또는 레이저와 같은 에너지 공급원(131)을 사용하는 경화 작동들을 제어하도록 작동 가능하다. 노즐(126)은, 지지부(134) 상의 축적 영역의 임의의 부분에서 공급 재료를 분배하기 위해, 지지부(134)에 걸쳐서 병진운동한다(화살표(A)로 도시됨).The
일부 구현들에서, 에너지 공급원(131)은, 노즐(126)이 지지부(134)에 걸쳐서 병진운동할 때 노즐(126)을 뒤에서 따라가며, 이에 의해, 노즐(126)을 통해 분배된 공급 재료가 즉시 경화될 수 있다. 일부 구현들에서, 에너지 공급원(131)은, 노즐(126)이 공급 재료를 분배하면서 제1 스캐닝 방향으로 지지부(134)에 걸쳐서 병진운동할 때 노즐(126)을 앞에서 이끈다. 예를 들어, 제1 스캐닝 방향과 반대인 제2 스캐닝 방향으로 에너지 공급원(131)이 지지부(134)에 걸쳐서 스캐닝될 때 에너지 공급원(131)은 이러한 분배된 공급 재료를 경화시킬 수 있고, 이에 의해, 에너지 공급원(131)의 방사선에 노출되기 이전에 안정 상태에 도달하기 위한 공급 재료 부가 시간을 제공한다. 일부 구현들에서, 에너지 공급원(131)은, 노즐(126)이 제1 스캐닝 방향으로 지지부(134)에 걸쳐서 병진운동할 때 노즐(126)을 앞에서 이끌고, 에너지 공급원(131)은, 에너지 공급원이 제1 스캐닝 방향으로 스캐닝될 때, 분배된 공급 재료를 경화시키는 데에 사용된다. 따라서, 공급 재료의 이전에 분배된 층은, 노즐(126)을 통해 다른 층이 분배되기 전에 거의 즉시 경화될 수 있다. 일부 구현들에서, 에너지 공급원(131)이 노즐(126)을 뒤에서 따라가고 에너지 공급원(131)이 노즐(126)을 앞에서 이끄는 다수의 에너지 공급원들이 존재한다.In some implementations, the
퇴적된 제1 층(130a)의 경우, 노즐(126)은 공급 재료를 지지부(134) 상에 토출할 수 있다. 후속하여 퇴적된 층들(130b)의 경우, 노즐(126)은 이미 응고된 공급 재료(132) 상에 토출할 수 있다. 각각의 층(130)이 응고된 이후에, 그 다음, 완전한 3차원 연마 층(122)이 제조될 때까지, 이전에 퇴적된 층 위에 새로운 층이 퇴적된다. 각각의 층은, 컴퓨터(60) 상에서 실행되는 3D 도면 컴퓨터 프로그램에 저장된 패턴으로 노즐(126)에 의해 도포된다. 각각의 층(130)은 연마 층(122)의 총 두께의 50% 미만, 예를 들어, 10% 미만, 예를 들어, 5% 미만, 예를 들어, 1% 미만이다.In the case of the deposited
연마 층(122)은 지지부(134) 상에 형성될 수 있다. 일부 예들에서, 지지부(134)는 강성 베이스를 포함하거나, 가요성 막, 예를 들어, 폴리테트라플루오로에틸렌(PTFE)의 층을 포함한다. 지지부(134)가 가요성 막을 포함한다면, 지지부(134)는 연마 패드(102)의 일부를 형성한다. 예를 들어, 지지부(134)는 연마 패드(102)의 후면 층(136)(도 1에 도시됨) 또는 후면 층과 연마 층(122) 사이의 층을 포함할 수 있다. 지지부(134)는 연마 패드(102)의 후면 층(136)을 포함하고, 연마 패드(102)의 제조가 완료된 이후에 지지부(134)는 연마 패드(102)로부터 제거되지 않는다. 도 1을 참조하면, 연마 패드(102)는, 후면 층(136)(예를 들어, 지지부(134))이 회전 가능한 플래튼(106)과 대면하는 상태로 연마 시스템(100)에 장착된다. 대안적으로, 지지부(134)가 연마 패드(102)의 후면 층(136)을 포함하지 않는다면, 연마 패드(102)의 제조가 완료된 이후에 연마 층(122)은 지지부(134)로부터 제거될 수 있다.The
공급 재료의 층들(130)의 응고는 중합에 의해 달성될 수 있다. 예를 들어, 공급 재료의 층(130)은 단량체일 수 있고, 단량체는 자외선(UV) 경화에 의해 인-시튜 중합될 수 있다. 공급 재료는 퇴적 시 효과적으로 즉시 경화될 수 있거나, 패드 전구체 재료의 전체 층(130)이 퇴적될 수 있고 그 다음 전체 층(130)이 동시에 경화될 수 있다. 대안적으로, 액적들(124)은, 냉각 시 응고되는 중합체 용융물일 수 있다. 추가적인 구현들에서, 장치(120)는, 분말의 층을 확산시키고 결합제 재료의 액적들을 분말의 층 상에 토출함으로써 연마 층(122)을 생성한다. 이 경우에, 분말은 첨가제들, 예를 들어, 연마 입자들을 포함할 수 있다.The solidification of the
일부 구현들에서, 후면 층(136)은 또한, 3D 프린팅 프로세스에 의해 제조될 수 있다. 예를 들어, 후면 층(136) 및 연마 층(122)은 장치(120)에 의한 연속 작동으로 제조될 수 있다. 상이한 양의 경화, 예를 들어, 상이한 세기의 UV 방사선을 사용함으로써, 또는 상이한 재료를 사용함으로써, 연마 층(122)과 상이한 경도를 후면 층(136)에 제공할 수 있다. 다른 구현들에서, 후면 층(136)은 종래의 프로세스에 의해 제조되고 그 다음 연마 층(122)에 고정된다. 예를 들어, 연마 층(122)은, 예를 들어, 얇은 접착제 층, 이를 테면, 감압성 접착제에 의해 후면 층(136)에 고정될 수 있다.In some implementations, the
일부 구현들에서, 도 2, 3a, 및 3b를 참조하면, 연마 층(122)이 형성될 때, 장치(120)는, 연마 층(122)에 홈들(138)을 형성하기 위해, 공급 재료의 부분들을 선택적으로 분배하고/하거나 선택적으로 경화시킬 수 있다. 홈들(138)은 연마액(108)(도 1에 도시됨)을 담지할 수 있다. 홈들(138)은 거의 모든 패턴, 예컨대, 동심원들, 직선들, 교차무늬, 나선형들 등일 수 있다. 홈들이 존재한다고 가정하면, 홈들(138) 사이의 구획들(140)이 연마 표면(103)을 한정한다. 예를 들어, 홈들(138) 사이에 구획들(140)을 포함하는 연마 표면(103)은 연마 패드(102)의 총 수평 표면적의 약 25-90%, 예를 들어, 70-90%일 수 있다. 따라서, 홈들(138)은 연마 패드(102)의 총 수평 표면적의 10-75%, 예를 들어, 10-30%를 점유할 수 있다. 홈들(138) 사이의 구획들은 약 0.1 내지 2.5 mm의 측방향 폭을 가질 수 있다.2, 3a, and 3b, when the
도 3a 및 3b에 예시된 예들을 참조하면, 일부 구현들에서, 홈들(138)은 동심원 홈들을 포함한다. 이 홈들(138)은 피치(P)로 균일하게 이격될 수 있다. 피치(P)는 인접한 홈들(138) 사이의 방사상 거리이다. 홈들(138) 사이의 구획들(140)은 폭(Wp)을 갖는다. 각각의 홈(138)은, 홈(138)의 바닥 표면(144)으로부터 연장되어 연마 표면(103)에서, 예를 들어, 구획(140)에서 종단되는 측벽들(142)에 의해 한정된다. 각각의 홈(138)은 깊이(Dg) 및 폭(Wg)을 가질 수 있다.Referring to the examples illustrated in FIGS. 3A and 3B, in some implementations, the
측벽들(142)은 연마 표면(103)으로부터 하방으로 연장될 수 있고, 연마 표면에 일반적으로 수직일 수 있다. 이와 관련하여, 측벽들은 지지부(134) 상에 분배된 공급 재료의 층들(130)에 실질적으로 수직이다. 부가적으로, 구획들(140)은 지지부(134) 상에 분배된 공급 재료의 층들(130)에 실질적으로 평행하게 연장된다.The
각각의 연마 주기는, 연마 표면(103)이 마모될 때 연마 패드(102)의 일반적으로 박형화의 형태인, 연마 패드(102)의 마모를 초래한다. 실질적으로 수직인 측벽들(142)을 갖는 홈의 폭(Wg)은, 연마 패드가 마모됨에 따라 변하지 않는다. 따라서, 일반적으로 수직인 측벽들(142)은, 연마 패드(102)의 작동 수명에 걸쳐 연마 패드가 실질적으로 균일한 표면적을 갖는 것을 보장한다. 본원에서 설명되는 바와 같이, 연마 패드(102)를 형성하기 위한 제조 프로세스는, 연마 표면(103)이 평탄하지 않게 되는 것을 방지하기 위한, 예를 들어, 연마 표면(103)의 평탄도 또는 편평도를 보장하기 위한, 그리고 측벽들(142)이 연마 표면(103)에 수직이도록 제조하기 위한 보상 작동들을 포함할 수 있다.Each polishing cycle results in wear of the
홈들(138)은 약 0.34 mm의 최소 폭(Wg)을 가질 수 있다. 각각의 홈(138)은 0.34 mm 내지 2.71 mm, 예를 들어, 약 0.38 mm 내지 1.02 mm의 폭(Wg)을 가질 수 있다. 특히, 홈들(138)은 대략 0.51 mm 또는 0.68 mm의 폭(Wg)을 가질 수 있다. 홈들(138) 사이의 피치(P)는 약 0.68 mm 내지 6.10 mm, 예를 들어, 약 2.29 mm 내지 5.40 mm일 수 있다. 특히, 피치는 대략 2.03 또는 3.05 mm일 수 있다. 홈들(138) 사이의 각각의 구획(140)은 적어도 0.34 mm의 폭(Wp)을 가질 수 있다. 홈의 폭(Wg) 대 구획의 폭(Wp)의 비율은 약 0.10 내지 0.4이도록 선택될 수 있다. 비율은 대략 0.2 또는 0.3일 수 있다.The
일부 구현들에서, 연마 패드(102)가 후면 층(136)을 포함한다면, 홈들(138)은 연마 층(122)을 완전히 통해 연장될 수 있다. 일부 구현들에서, 홈들(138)은 연마 층(122)의 두께의 약 20-80%, 예를 들어, 40%를 통해 연장될 수 있다. 홈들(138)의 깊이(Dg)는 0.25 내지 1 mm일 수 있다. 연마 층(122)은 약 1 mm 내지 3 mm의 두께(T)를 가질 수 있다. 두께(T)는, 홈(138)의 바닥 표면(144)과 후면 층(136) 사이의 거리(Dp)가 약 0.5 mm 내지 4 mm이도록 선택되어야 한다. 특히, 거리(Dp)는 약 1 또는 2 mm일 수 있다.In some implementations, if the
도 4를 참조하면, 연마 패드(102)를 형성하기 위한 제조 프로세스(200)가 예시된다. 예를 들어, 제어기(129)를 포함하는 적층 제조 장치(120)는 제조 프로세스(200)의 작동들을 수행할 수 있다.Referring to FIG. 4, a
작동(202)에서, 제조될 연마 패드(102)의 원하는 형상을 나타내는 데이터를 수신한다. 원하는 형상을 나타내는 데이터를 포함해서 형상들을 나타내는 데이터는 2차원 또는 3차원 비트맵에 의해 정의될 수 있다. 일부 구현들에서, 형상 데이터는 컴퓨터 지원 설계(CAD) 모델을 표현하는 데이터를 포함한다. 예를 들어, 형상 데이터가, 원하는 형상을 나타내는 데이터에 대응한다면, CAD 모델은 제조될 연마 패드(102)를 표현한다.At
일부 예들에서, 도 5를 참조하면, 원하는 형상은 원하는 피처(300)를 포함한다. 원하는 형상을 나타내는 데이터의 추가적인 조작 없이, 적층 제조 장치(120)가, 원하는 형상을 형성할 때, 예를 들어, 공급 재료를 분배하고 공급 재료를 경화시키거나 공급 재료가 경화되어 원하는 형상을 형성하는 것을 허용할 때, 실제 피처(310)는 원하는 피처(300)를 포함하는 원하는 형상을 나타내는 데이터에 기초하여 형성될 수 있다. 예를 들어, 직사각형의 원하는 피처(300)를 형성하기 위해, 분배기(128)는 공급 재료의 평행한 층들(130)을 분배하도록 제어된다. 각각의 층에 대해, 직사각형의 원하는 피처(300)의 폭에 대응하는 균일한 폭을 갖는, 공급 재료의 선택된 부분이 경화된다.In some examples, referring to FIG. 5, the desired shape includes the desired features 300. Without further manipulation of the data representing the desired shape, the
이러한 분배 및 경화 프로세스 동안, 적층 제조 장치(120)의 해상도 및 재료 특성들이, 실제 피처(310)의 에지들이 바람직하지 않게 둥글게 되거나 경사지게 되는 것을 야기할 수 있다. 특히, 공급 재료의 층들(130)이, 원하는 형상을 나타내는 데이터에 기초하여 결정된 원래의 패턴에 따라 분배된다면, 결과적인 형상은, 실제 피처(310)에 대해 도시된 바와 같이, 둥글게 됨 또는 경사짐을 포함한다. 도 5에 도시된 바와 같이, 원하는 피처(300)의 최상부 표면(302)은 평탄하지만, 실제 피처(310)의 대응하는 최상부 표면(312)은 평탄하지 않다. 최상부 표면(312)에 대한 경사짐 효과 때문에, 원하는 피처(300)의 측방향 에지들(304a, 304b)은 적층 제조 장치(120)에 의해 형성된 실제 피처의 실제 측방향 에지들(314a, 314b)보다 더 긴 길이를 갖는다. 원하는 피처(300)는 홈들(138) 사이의 구획들(140)(도 3a 및 3b에 도시됨)에 대응할 수 있다. 이와 관련하여, 최상부 표면(312)에 대한 둥글게 됨 또는 경사짐 효과는, 구획들(140)에 의해 한정된 연마 표면(103)이 평탄하지 않게 되게 할 수 있다. 임의의 특정 이론에 제한되지 않고, 이전에 퇴적된 층 상에 토출되는 공급 재료, 예를 들어, 액체 패드 전구체 재료의 액체 액적들은 확산될 수 있고, 예를 들어, 습윤 때문에 피처(300)의 측들에 흘러내릴 수 있어서, 둥글게 됨을 초래한다.During such dispensing and curing processes, the resolution and material properties of the
둥글게 됨 또는 경사짐 효과를 감소시키기 위해, 원하는 형상을 나타내는 데이터를 수정할 수 있다. 이와 관련하여, 다시 도 4를 참조하면, 작동(204)에서, 연마 패드 왜곡들을 보상하기 위해, 공급 재료를 분배하는 수정된 패턴을 나타내는 데이터가 발생되거나 수신된다. 왜곡들은 연마 패드(102)의 연마 표면(103)의 왜곡들을 포함한다. 이러한 왜곡들은, 일부 경우들에서, 본원에서 설명된 바와 같이, 적층 제조 장치(120)에 의해 야기된다. 수정된 패턴은, 수정된 패턴이, 원하는 피처에 대해 실제 피처(310)에서의 왜곡들을 다룬다는 점에서, 공급 재료를 분배하는 원래의 패턴과 상이하다. 이와 관련하여, 일부 구현들에서, 수정된 패턴을 나타내는 데이터는 실제 피처(310)와 원하는 피처(300) 사이의 상대적인 차이들에 기초하여 결정된다.To reduce rounding or tilting effects, data representing the desired shape may be modified. In this regard, referring back to FIG. 4, at
예를 들어, 도 6에 도시된 바와 같이, 수정된 형상을 나타내는 데이터는 수정된 피처(320)를 나타내는 데이터를 포함한다. 원하는 피처(300)의 최상부 표면(302)이 평탄할지라도, 수정된 피처(320)의 최상부 표면(322)은, 원래의 패턴으로 형성된 실제 피처(310)의 최상부 표면(312)의 왜곡들을 보상하기 위해, 평탄하지 않다. 수정된 피처(320)는 실제 피처(310)와 원하는 피처(300) 사이의 상대적인 차이들에 기초하여 결정된다. 수정된 피처(320)의 최상부 표면(322)은, 실제 피처(310)의 최상부 표면(312)의 볼록도를 보상하기 위해, 오목하다. 이와 관련하여, 수정된 형상을 나타내는 데이터는, 원래의 패턴을 사용하여 형성된 실제 형상을 나타내는 데이터와 원하는 형상을 나타내는 데이터의 조합에 기초하여 결정된다.For example, as shown in FIG. 6, the data representing the modified shape includes data representing the modified
다시 도 4를 참조하면, 작동(206)에서, 공급 재료의 층들(130)은 수정된 패턴에 따른 액적 토출에 의해 분배된다. 결과적인 실제 피처(330)는 공급 재료를 분배하기 위한 수정된 패턴을 나타내는 데이터에 기초하여 형성되는데, 수정된 패턴은 수정된 형상을 나타내는 데이터에 기초하여 결정된다.Referring again to FIG. 4, at
수정된 패턴을 나타내는 데이터에 따라 분배기(128)가 공급 재료의 층들(130)을 분배하도록 제어될 때, 경화되는, 공급 재료의 층들(130)의 선택된 부분의 크기 및 형상은 피처의 높이를 통해 변할 수 있다. 이는, 원하는 피처(300)의 폭이 층마다 일관되기 때문에, 경화된 공급 재료의 선택된 부분이 층마다 일관되는, 실제 피처(310)를 형성하는 프로세스와 대조적이다. 수정된 피처(320)는, 층마다 변하는 폭을 갖는 오목한 부분(326)을 포함한다. 오목한 부분(326)을 형성하도록 공급 재료를 분배하기 위한 수정된 패턴은, 수정된 패턴에 대한 공급 재료의 층들(130)의 선택된 경화된 부분들이, 변하는 폭들 및 형상들을 갖는다는 점에서, 원하는 피처(300)의 최상부 부분을 형성하기 위한 원래의 패턴의 대응하는 부분과 상이하다. 이러한 변하는 폭들 및 형상들은, 수정된 패턴을 사용하여 형성된 결과적인 실제 피처(330)가, 원래의 패턴을 사용하여 형성된 실제 피처(310)와 비교하여, 감소된 볼록도를 갖도록, 실제 피처(310)에 존재하는 왜곡들을 보상한다. 예를 들어, 실제 피처(330)의 최상부 표면(332)은, 실제 피처(310)의 최상부 표면(312)과 비교하여, 증가된 평탄도 및 편평도를 갖는다. 어디에 공급 재료가 분배되고 경화되는지를 의도적으로 제어함으로써, 수정된 패턴에 의해 정의되는 이러한 보정은 결과적인 연마 패드(102)의 형상을 연마 패드(102)에 대한 원래의 원하는 형상에 더 양호하게 일치시킬 수 있다.When the
예를 들어, 제어기(129)는 초기 또는 의도된 비트맵을 명시하는 데이터 객체, 예를 들어, 컴퓨터 지원 설계(CAD) 호환 가능 파일을 수신할 수 있다. 데이터 객체는 비일시적 컴퓨터 판독 가능 매체에 저장될 수 있다. 제어기(129)는, 원하는 비트맵에 기초하여, 둥글게 됨 및 경사짐을 감소시키기 위한 피처를 포함하는 수정된 비트맵을 발생시키도록 프로그래밍될 수 있다. 따라서, 연마 패드(102)가, 수정된 비트맵을 사용하여 제조되면, 이는 원하는 설계에 더 밀접하게 일치된다.For example, the
도 7은, 원하는 피처(400), 및 원하는 피처(400)를 나타내는 데이터에 따라 결정된 분배 및 경화 패턴들에 기초하여 형성된 실제 피처(410)의 다른 예를 예시한다. 이러한 특정 예에서, 구현된 프로세스에서 다른 치수들이 적절하지만, 원하는 피처(400)는 680 ㎛의 폭 및 500 ㎛의 높이를 가졌다. 예시된 바와 같이, 실제 피처(410)는 평탄하지 않은 최상부 표면 및 기울어진 측벽들을 가졌다.FIG. 7 illustrates another example of an
원하는 피처(400)는, 일정한 폭의 피처, 예를 들어, 연마 패드(102)의 홈들(138)을 분리시키는 구획(140)이다. 구획들(140)의 일정한 폭은 웨이퍼간 연마 균일성을 개선할 수 있다. 게다가, 연마 패드(102)의 연마 효율은 연마 표면(103)의 평탄도에 의존할 수 있다. 수정된 패턴을 사용해 형성된 결과적인 실제 피처가, 원하는 피처(400)와 더 밀접하게 일치하도록, 본원에서 설명되는 프로세스들을 사용하여, 수정된 패턴을 나타내는 데이터가 발생될 수 있다. 특히, 수정된 패턴은, 본원에서 설명되는 프로세스들을 사용하여 결정된 부가적인 보정 윤곽을 갖고 원래의 패턴에 대응한다. 부가적인 보정 윤곽은 원래의 패턴을 사용하여 형성된 실제 피처(410)의 왜곡들을 보상한다.The desired
도 8a-8c의 예들은, 공급 재료를 분배하고 경화시키기 위해 적층 제조 장치(120)에 의해 사용되는 형상들을 나타내는 데이터를 표현한다. 일부 구현들에서, 본원에서 설명되는 형상들을 나타내는 데이터는, 형성될 형상들 또는 형성된 형상들의 비트맵 표현들을 포함한다. 비트맵의 각각의 비트는 형성될 연마 패드(102)의 피처의 복셀에 대응할 수 있다. 예를 들어, 도 8a는, 원하는 피처(400)에 기초하여 발생된 비트맵 표현(500)을 예시한다. 도 8b 및 도 8c는, 실제 피처(410)의 왜곡들을 보상하기 위해 발생된 비트맵 표현들(502, 504)을 예시한다. 따라서, 비트맵 표현들(502, 504)은 원하는 피처(400) 및 실제 피처(410)에 기초하여 발생된 수정된 피처들을 표현한다. 비트맵 표현들(502, 504)은, 실제 피처(410)의 볼록도를 보상하는, 수정된 피처들의 오목도들에 근사화하기 위한 계단식 부분들(506, 508)을 포함한다. 계단식 부분들(506)에 의해 근사화된 오목도는 계단식 부분들(508)에 의해 근사화된 오목도 미만이다.8A-8C represent data representing shapes used by the
도 9는, 각각, 비트맵 표현들(500, 502, 504)에 일반적으로 대응하는 수정된 패턴들을 사용하여 형성된 결과적인 실제 피처들(510, 512, 514)을 예시한다. 실제 피처들(510, 512, 514)은 각각 가변 폭 부분들(516, 518, 520)을 포함하는데, 실제 피처(510)의 가변 폭 부분이, 가장 높은 높이를 갖는다. 가변 폭 부분(518)은 가변 폭 부분(520)보다 더 높은 높이를 갖는다. 따라서, 비트맵 표현(500)을 사용하여 형성된 실제 피처(510)의 왜곡들을 보상하는 일정하지 않은 폭의 패턴들을 포함하는 비트맵 표현들(502, 504)을 통해 일정한 폭이 더 쉽게 달성될 수 있다.9 illustrates the resulting
도 10은, 수정된 피처를 결정하고, 따라서, 원하는 피처에 더 잘 일치하는 피처를 형성하도록 공급 재료를 분배하기 위한 수정된 패턴을 결정하는 예시적인 프로세스를 예시한다. 실제 형상은 원하는 형상(600)을 표현하는 데이터에 기초하여, 예를 들어, 본원에서 설명되는 바와 같은 적층 제조 장치(120)를 사용하여 형성되고, 그 다음 실제 형상의 측정된 형상(602)을 표현하는 데이터가 결정된다. 측정된 형상(602)을 표현하는 데이터는, 예를 들어, 실제 형상의 높이 윤곽을 측정하기 위해 공초점 레이저 현미경을 사용하여 결정될 수 있다. 그 다음, 측정된 형상(602)과 원하는 형상(600) 사이의 차이(604)를 표현하는 데이터가 결정된다. 차이(604)는 원하는 형상(600)에 대한 측정된 형상(602)의 왜곡 및/또는 원하는 형상(600)에 대한 실제 형상의 왜곡을 나타낼 수 있다. 차이(604)는, 원하는 형상(600)으로부터 감산되는 측정된 형상(602)에 대응할 수 있다. 차이(604)를 표현하는 데이터는, 예를 들어, 원하는 형상(600)과 일치하지 않는, 측정된 형상(602)의 부분을 표현한다.10 illustrates an exemplary process for determining a modified feature and thus a modified pattern for dispensing a feed material to form a feature that better matches the desired feature. The actual shape is formed using, for example, the
역전된 차이(606)를 표현하는 데이터는 차이(604)를 표현하는 데이터에 기초하여 결정된다. 역전된 차이(606)를 표현하는 데이터는 차이(604)에 상보적이고, 이에 의해, 측정된 형상(602)의 왜곡을 보상한다. 일부 구현들에서, 역전된 차이는, 역전된 차이(606)를 표현하는 데이터를 형성하기 위해, 1 내지 3배 내에서 임의의 배수로 스케일링될 수 있다. 역전된 차이(606)는 원래의 원하는 형상(600)을 수정하는 데에 사용되는 보정 윤곽에 대응한다. 이와 관련하여, 역전된 차이(606)를 표현하는 데이터는, 수정된 형상(608)을 표현하는 데이터를 형성하기 위해, 원하는 형상(600)을 표현하는 데이터에 가산된다. 이 예에서 설명되는 데이터는, 본원에서 설명되는 바와 같이, 비트맵들에 대응할 수 있다.The data representing the
제어기, 예를 들어, 제어기(129)는 디지털 전자 회로로 구현될 수 있거나, 컴퓨터 소프트웨어, 펌웨어, 또는 하드웨어, 또는 이들의 조합들로 구현될 수 있다. 제어기는 하나 이상의 컴퓨터 프로그램 제품들, 즉, 데이터 처리 장치, 예를 들어, 프로그래밍 가능한 프로세서, 컴퓨터, 또는 다수의 프로세서들 또는 컴퓨터들에 의한 실행을 위해 또는 그의 작동을 제어하기 위해, 정보 캐리어에, 예를 들어, 비일시적 기계 판독 가능 저장 매체에, 또는 전파되는 신호에 유형적으로 구체화된 하나 이상의 컴퓨터 프로그램들을 포함할 수 있다. (프로그램, 소프트웨어, 소프트웨어 애플리케이션, 또는 코드로도 알려진) 컴퓨터 프로그램은 컴파일된 또는 해석된 언어들을 포함하는 임의의 형태의 프로그래밍 언어로 작성될 수 있고, 이는 독립형 프로그램으로서 또는 모듈, 컴포넌트, 서브루틴, 또는 컴퓨팅 환경에서의 사용에 적합한 다른 유닛으로서 배포되는 것을 포함하여 임의의 형태로 배포될 수 있다. 컴퓨터 프로그램은 하나의 컴퓨터 상에서, 또는 한 장소에 있거나 다수의 장소들에 걸쳐 분산되어 통신 네트워크에 의해 상호연결되는 다수의 컴퓨터들 상에서 실행되도록 배포될 수 있다.The controller, for example, the
본 명세서에 설명되는 프로세스들 및 논리 흐름들은 입력 데이터를 운용하고 출력을 발생시키는 것에 의해 기능들을 수행하는 하나 이상의 컴퓨터 프로그램들을 실행하는 하나 이상의 프로그래밍 가능한 프로세서들에 의해 수행될 수 있다. 프로세스들 및 논리 흐름들은 또한, 특수 목적 논리 회로, 예를 들어, FPGA(field programmable gate array) 또는 ASIC(application specific integrated circuit)에 의해 수행될 수 있으며, 장치가 또한, 이러한 특수 목적 논리 회로로서 구현될 수 있다.The processes and logic flows described herein may be performed by one or more programmable processors executing one or more computer programs that perform functions by operating input data and generating an output. Processes and logic flows may also be performed by special purpose logic circuitry, e.g., a field programmable gate array (FPGA) or an application specific integrated circuit (ASIC), and the device may also be implemented as such special purpose logic circuitry .
설명된 시스템들의 제어기(129) 및 다른 컴퓨팅 디바이스들 부분은, 공급 재료가 각각의 층에 대해 형성되어야 하는 패턴을 식별하는 데이터 객체, 예를 들어, 컴퓨터 지원 설계(CAD) 호환 가능 파일을 저장하기 위한 비일시적 컴퓨터 판독 가능 매체를 포함할 수 있다. 예를 들어, 데이터 객체는 STL 포맷 파일, 3D 제조 포맷(3MF) 파일, 또는 적층 제조 파일 포맷(AMF) 파일일 수 있다. 예를 들어, 제어기는 원격 컴퓨터로부터 데이터 객체를 수신할 수 있다. 예를 들어, 펌웨어 또는 소프트웨어에 의해 제어되는 바와 같은, 제어기(129)의 프로세서는, 원하는 패턴으로 각각의 층을 퇴적시키고/시키거나 경화시키기 위해 적층 제조 장치(120)의 구성요소들을 제어하는 데에 필요한 신호들의 세트를 발생시키기 위해, 컴퓨터로부터 수신된 데이터 객체를 해석할 수 있다.The
다수의 구현들이 설명되었다. 그럼에도 불구하고, 다양한 수정들이 이루어질 수 있음을 이해할 것이다.A number of implementations have been described. Nevertheless, it will be understood that various modifications may be made.
일부 구현들에서, 도 12를 참조하면, 보정 윤곽은 원래 원하는 피처의 폭 너머로 연장되는 부분을 포함한다. 수정된 비트맵 표현(800)은 원하는 피처의 비트맵 표현(500)의 폭 너머로 연장되는 돌출 부분(802)을 포함한다. 돌출 부분(802)은, 예를 들어, 공급 재료의 최상층들로 분배된다. 공급 재료의 최상층들 아래에 놓인, 공급 재료의 층들은, 분배 동안 재료 롤 오프 때문에 확장을 경험할 수 있다. 결과적으로, 간략하게 도 7을 참조하면, 공급 재료의 아래에 놓인 층들은, 원하는 피처의 폭보다 더 넓은 폭을 갖는 확장된 부분(402)을 한정한다. 돌출 부분(802)은, 확장된 부분(402)의 가변 폭을 보상하고 확장된 부분(402)에서의 피처의 폭의 일관성을 개선하기 위해, 확장된 부분(402)의 최상부 상에 분배될 공급 재료에 대응할 수 있다.In some implementations, referring to FIG. 12, the correction contour comprises a portion that extends beyond the width of the original desired feature. The modified
도 8b 및 8c에 도시된 접근법은, 원하는 것 미만인 피처의 높이를 보상하기 위해, 공급 재료의 하나 이상의 부가적인 층들을 퇴적시키는 것이다. 예를 들어, 공급 재료의 하나 이상의 부가적인 층들은 둥글게 됨 또는 경사짐이 일어나는 영역들에 퇴적될 수 있다. 그러나, 대안적으로 또는 부가적으로, 원하는 것 미만인 피처의 높이를 보상하기 위해, 소정의 양의 공급 재료가 층에 퇴적될 수 있다. 예를 들어, 토출된 액적들의 개수 또는 액적들의 크기는, 피처의 높이가, 원하는 것 미만인, 예를 들어, 둥글게 됨 또는 경사짐이 일어나는 영역들에 위치된 복셀들에 대해 증가될 수 있다.The approach shown in Figures 8B and 8C is to deposit one or more additional layers of feed material to compensate for the height of the features below the desired. For example, one or more additional layers of the feedstock may be deposited in areas that are rounded or tilted. However, alternatively or additionally, to compensate for the height of the features less than desired, a predetermined amount of feed material may be deposited in the layer. For example, the number of droplets ejected or the size of droplets can be increased for voxels located in regions where the height of the feature is less than desired, e.g., rounded or tilted.
일부 구현들에서, 공급 재료의 부피의 분배는 액적들(124)이 분배될 위치에 따라 수정된다. 공급 재료의 액적들(124)의 부피는 분배 작동 동안 변화된다. 예를 들어, 다시 도 6을 참조하면, 피처의 에지들(322a, 322b)을 형성하기 위한 액적들(124)의 부피는 피처의 내부 부분(322c)을 형성하기 위한 액적들(124)의 부피 미만일 수 있다. 제어기(129)는 공급 재료의 재료 특성들에 기초하여 에지들(322a, 322b)을 형성하기 위한 적절한 무게 및 내부 부분(322c)을 형성하기 위한 무게를 결정한다. 분배기(128)는 공급 재료의 롤 오프를 최소화하기 위해 더 적은 공급 재료를 분배할 수 있다. 분배기(128)가 피처의 내부 부분(322c)을 형성하기 위해 이동함에 따라, 액적들의 부피가 증가된다. 일부 구현들에서, 액적들(124)의 부피는 피처의 에지들(322a, 322b)로부터 중앙까지의 구배를 정의한다. 공급 재료의 습윤 효과에 따라, 이러한 유형의 부피 제어는, 에너지 공급원(131)이 존재하는 경우에, 에너지 공급원이 작동될 때 경화되는 공급 재료의 양을 조정하는 데에 사용될 수 있다. 예를 들어, 분배된 공급 재료의 상이한 부분들을 경화시키기 위해 에너지 공급원(131)이 지지부(134)에 걸쳐 스캐닝되는 경우, 낙하 부피 제어는, 본원에서 설명되는 경사짐 효과를 감소시키기 위해 피처의 에지들(322a, 322b)에 더 많은 공급 재료를 주입하면서 에너지 공급원(131)의 각각의 통과 동안 더 적은 공급 재료가 롤 오프하는 것을 허용할 수 있다.In some implementations, the distribution of the volume of feed material is modified depending on where the
일부 구현들에서, 다수의 유형들의 공급 재료가 분배된다. 적층 제조 장치(120)는, 예를 들어, 2개 이상의 분배기들을 포함하고, 각각의 분배기는 상이한 유형의 공급 재료를 분배한다. 일부 경우들에서, 단일 분배기, 예를 들어, 분배기(128)가 다수의 유형들의 공급 재료를 수용하고 이러한 다수의 유형들의 공급 재료의 혼합물을 분배한다. 제1 유형의 공급 재료의 특성들이 제2 유형의 공급 재료의 특성들과 다를 수 있기 때문에, 제1 유형의 공급 재료를 분배하기 위한 원래의 패턴에 대한 수정은, 제2 유형의 공급 재료를 분배하기 위한 원래의 패턴에 대한 수정보다 더 많거나 더 적은 양의 스케일링을 포함할 수 있다. 대안적으로, 액적 무게가 제어되는 경우, 제1 유형의 공급 재료의 액적들의 무게들은 제2 유형의 공급 재료의 액적들의 무게들보다 더 무겁거나 더 가볍도록 제어될 수 있다. 일부 경우들에서, 제1 유형의 공급 재료의 액적들의 크기는 제2 유형의 공급 재료의 액적들의 크기들보다 더 크거나 더 작도록 제어될 수 있다.In some implementations, multiple types of feed material are dispensed. The
일부 구현들에서, 예를 들어, 연마 층(122) 및 후면 층(136)을 형성하기 위해, 또는 연마 층(122)의 상이한 부분들을 형성하기 위해, 예를 들어, 연마 표면에 걸쳐 측방향으로 변하는 연마 특성들을 갖는 연마 층을 제공하기 위해, 다수의 유형들의 공급 재료가 연마 패드(102)의 상이한 부분들을 형성한다. 제2 유형의 공급 재료는, 제1 유형의 공급 재료에 대해 제2 유형의 공급 재료의 특성들을 변경시키는 첨가제를 갖는 제1 유형의 공급 재료를 포함할 수 있다. 첨가제는, 예를 들어, 경화되지 않은 공급 재료의 특성들, 예를 들어, 제타 전위, 친수성 등을 조정할 수 있는 계면활성제를 포함한다.In some implementations, for example, to form the
공급 재료의 층들의 각각의 층의 두께 및 복셀들의 각각의 복셀의 크기는 구현마다 변할 수 있다. 일부 구현들에서, 지지부(134) 상에 분배될 때, 각각의 복셀은, 예를 들어, 10 ㎛ 내지 50 ㎛ (예를 들어, 10 ㎛ 내지 30 ㎛, 20 ㎛ 내지 40 ㎛, 30 ㎛ 내지 50 ㎛, 대략 20 ㎛, 대략 30 ㎛, 또는 대략 50 ㎛)의 폭을 가질 수 있다. 각각의 층은 미리 결정된 두께를 가질 수 있다. 두께는, 예를 들어, 1 내지 80 ㎛, 예를 들어, 2 내지 40 ㎛ (예를 들어, 2 ㎛ 내지 4 ㎛, 5 ㎛ 내지 7 ㎛, 10 ㎛ 내지 20 ㎛, 25 ㎛ 내지 40 ㎛)일 수 있다.The thickness of each layer of layers of feed material and the size of each voxel of the voxels may vary from implementation to implementation. In some implementations, when distributed on the
방법 및 장치가 연마 패드의 제조의 맥락에서 설명되었지만, 이러한 방법 및 장치는 적층 제조에 의한 다른 물품들의 제조에 적응될 수 있다. 이 경우, 연마 표면 대신에, 간단히, 제조될 대상물의 최상부 표면일 것이고, 이 최상부 표면에 오목부들이 있을 것이다. 수정된 패턴은, 적층 제조 시스템에 의해 야기되는 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상할 수 있다.Although the method and apparatus have been described in the context of the manufacture of a polishing pad, such methods and apparatus can be adapted to the manufacture of other articles by laminate manufacture. In this case, instead of the polishing surface, it will simply be the top surface of the object to be produced, with the top surface having recesses. The modified pattern can at least partially compensate for distortions caused by the laminate manufacturing system.
부가적으로, 방법 및 장치가 액적 토출에 의한 제조의 맥락으로 설명되었지만, 이러한 방법 및 장치는 다른 적층 제조 기법들, 예를 들어, 소결이 후속되는 선택적 분말 분배에 의한 제조에 적응될 수 있다.Additionally, although the method and apparatus are described in the context of manufacturing by droplet discharge, such methods and apparatus may be adapted to manufacture by other lamination fabrication techniques, such as selective powder distribution followed by sintering.
이에 따라, 다른 구현들이 청구항들의 범위 내에 있다.Accordingly, other implementations are within the scope of the claims.
Claims (15)
액적 토출(droplet ejection)에 의해 제조될 상기 연마 패드의 원하는 형상을 나타내는 데이터를 수신하는 단계 ― 상기 원하는 형상은, 상기 연마 패드 상의 하나 이상의 홈들 및 연마 표면을 포함하는 윤곽을 한정함 ―;
상기 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 상기 윤곽의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하기 위해, 공급 재료를 분배하는 수정된 패턴을 나타내는 데이터를 발생시키는 단계; 및
상기 수정된 패턴에 따른 액적 토출에 의해 상기 공급 재료의 복수의 층들을 분배하는 단계를 포함하는, 연마 패드를 제조하는 방법.A method of manufacturing a polishing pad using a laminate manufacturing system,
Receiving data representative of a desired shape of the polishing pad to be produced by droplet ejection, the desired shape defining an outline comprising one or more grooves on the polishing pad and a polishing surface;
Generating data representative of a modified pattern for dispensing a feed material to at least partially compensate for distortions in the contour caused by the laminate manufacturing system; And
And dispensing the plurality of layers of the feed material by droplet ejection in accordance with the modified pattern.
상기 연마 패드 상의 상기 하나 이상의 홈들은 상기 복수의 층들에 실질적으로 수직인 측벽에 의해 한정되고, 상기 하나 이상의 홈들의 왜곡들은 상기 연마 표면에 대한 상기 측벽의 수직의 왜곡들을 포함하는, 연마 패드를 제조하는 방법.The method according to claim 1,
Wherein the one or more grooves on the polishing pad are defined by sidewalls substantially perpendicular to the plurality of layers and wherein the distortions of the one or more grooves include vertical distortions of the sidewalls relative to the polishing surface. How to.
상기 연마 표면은 상기 복수의 층들에 실질적으로 평행하고, 상기 연마 패드의 상기 연마 표면의 왜곡들은 상기 연마 표면의 평탄도의 왜곡들을 포함하는, 연마 패드를 제조하는 방법.The method according to claim 1,
Wherein the polishing surface is substantially parallel to the plurality of layers and the distortions of the polishing surface of the polishing pad comprise distortions of the flatness of the polishing surface.
상기 적층 제조 장치에 의해 야기되는, 상기 윤곽의 왜곡들은, 제조되고 있는 피처들 상의 토출된 액적들의 유동에 의해 야기되는 왜곡들을 포함하는, 연마 패드를 제조하는 방법.The method according to claim 1,
Wherein the contour distortions caused by the stack manufacturing apparatus include distortions caused by the flow of ejected droplets on the features being fabricated.
상기 연마 패드의 상기 원하는 형상은, 상기 연마 표면을 한정하는 평탄한 표면을 포함하고, 상기 수정된 패턴은, 상기 평탄한 표면에 대응하는 평탄하지 않은 부분을 포함하고, 상기 평탄하지 않은 부분은 상기 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 상기 연마 표면의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하도록 구성되는, 연마 패드를 제조하는 방법.The method according to claim 1,
Wherein the desired shape of the polishing pad includes a flat surface defining the polishing surface and the modified pattern includes a non-planar portion corresponding to the planar surface, wherein the non- Wherein the polishing pad is configured to at least partially compensate for distortions in the polishing surface caused by the system.
프로세서가:
적층 제조 시스템에서 액적 토출에 의해 제조될 연마 패드의 원하는 형상을 나타내는 데이터를 수신하게 하는 명령들 ― 상기 원하는 형상은, 상기 연마 패드 상의 하나 이상의 홈들 및 연마 표면을 포함하는 윤곽을 한정함 ―;
상기 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 상기 윤곽의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하기 위해, 공급 재료를 분배하는 수정된 패턴을 나타내는 데이터를 발생시키게 하는 명령들; 및
상기 적층 제조 시스템이, 상기 수정된 패턴에 따른 액적 토출에 의해 상기 공급 재료의 복수의 층들을 분배하게 하는 명령들을 포함하는, 컴퓨터 프로그램 제품.A computer program product tangibly embodied in a non-transitory computer readable medium,
Processor:
Instructions for receiving data indicative of a desired shape of a polishing pad to be produced by droplet dispensing in a laminate manufacturing system, the desired shape defining an outline comprising one or more grooves on the polishing pad and a polishing surface;
Instructions for causing data generated by the laminate manufacturing system to generate data indicative of a modified pattern for dispensing a feed material to at least partially compensate for distortions in the contour; And
Wherein the laminate manufacturing system includes instructions to cause a plurality of layers of the feed material to be dispensed by droplet dispensing according to the modified pattern.
상기 연마 패드의 상기 원하는 형상을 나타내는 데이터는, 공급 재료의 복수의 층들을 분배하는 패턴을 나타내는 데이터를 포함하고, 상기 패턴을 나타내는 데이터는 평탄한 최상부 표면을 표현하는 데이터를 포함하며,
상기 수정된 패턴을 나타내는 데이터는, 상기 평탄한 최상부 표면을 표현하는 데이터에 기초하여 발생된, 오목한 최상부 표면을 표현하는 데이터를 포함하는, 컴퓨터 프로그램 제품.The method according to claim 6,
Wherein the data representing the desired shape of the polishing pad comprises data representing a pattern of distributing a plurality of layers of a supply material and wherein the data representing the pattern comprises data representing a flat top surface,
Wherein the data representing the modified pattern comprises data representing a concave top surface generated based on data representing the flat top surface.
상기 오목한 최상부 표면을 표현하는 데이터는, 상기 패턴을 나타내는 데이터를 사용하여 형성된 상기 연마 패드의 연마 표면의 평탄도의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하도록 발생되는, 컴퓨터 프로그램 제품.8. The method of claim 7,
Wherein the data representing the concave top surface is generated to at least partially compensate for distortions in the flatness of the polishing surface of the polishing pad formed using data representing the pattern.
상기 수정된 패턴을 나타내는 데이터를 발생시키기 위한 상기 명령들은, 상기 연마 패드의 원하는 형상을 형성하기 위해, 원래의 패턴을 나타내는 데이터를 수정하기 위한 명령들을 포함하는, 컴퓨터 프로그램 제품.The method according to claim 6,
Wherein the instructions for generating data representing the modified pattern comprise instructions for modifying data representing an original pattern to form a desired shape of the polishing pad.
상기 원래의 패턴을 나타내는 데이터는 상기 원래의 패턴에 대한 보정 윤곽에 기초하여 수정되는, 컴퓨터 프로그램 제품.10. The method of claim 9,
Wherein the data representing the original pattern is modified based on a correction contour for the original pattern.
상기 보정 윤곽은 상기 원래의 패턴의 폭 너머로 연장되는 부분을 포함하는, 컴퓨터 프로그램 제품.11. The method of claim 10,
Wherein the correction contour comprises a portion extending beyond the width of the original pattern.
상기 보정 윤곽은 원래의 형상 ― 상기 원래의 형상은 적어도 부분적으로 왜곡들에 의해 한정됨 ― 과 상기 원하는 형상 사이의 차이를 식별함으로써 결정되는, 컴퓨터 프로그램 제품.11. The method of claim 10,
Wherein said correction contour is determined by identifying a difference between said original shape and said desired shape, said original shape being at least partially defined by distortions.
상기 원래의 패턴을 나타내는 데이터를 수정하기 위한 상기 명령들은, 복셀당 퇴적되는 공급 재료의 양을 수정하기 위한 명령들을 포함하는, 컴퓨터 프로그램 제품.10. The method of claim 9,
Wherein the instructions for modifying data representing the original pattern comprise instructions for modifying an amount of feed material deposited per voxel.
상기 원래의 패턴은, 적어도 2개의 홈들을 분리시키는 구획을 포함하는 연마 표면을 표현하는 데이터를 포함하고, 상기 원래의 패턴을 나타내는 데이터를 수정하기 위한 상기 명령들은:
상기 홈에 인접한 상기 구획의 에지 부분에 근접하여 분배되는 재료의 제1 부피를 결정하기 위한 명령들,
상기 구획의 중앙 부분에 분배되는 재료의 제2 부피를 결정하기 위한 명령들, 및
상기 제2 부피가 상기 제1 부피보다 더 크도록, 상기 제1 부피 및 상기 제2 부피에 기초하여 공급 재료의 부피의 분배를 수정하기 위한 명령들을 포함하는, 컴퓨터 프로그램 제품.10. The method of claim 9,
Wherein the original pattern includes data representing a polishing surface comprising a section separating at least two grooves, the instructions for modifying data representing the original pattern comprise:
Instructions for determining a first volume of material dispensed proximate to an edge portion of the compartment adjacent the groove,
Instructions for determining a second volume of material dispensed to a central portion of the compartment, and
Instructions for modifying the distribution of the volume of feed material based on the first volume and the second volume such that the second volume is greater than the first volume.
제조될 연마 패드를 유지하기 위한 플랫폼;
상기 플랫폼 상에 또는 상기 연마 패드의 이전에 퇴적된 층 상에 액적들을 토출함으로써 복수의 층을 형성하기 위한 프린트헤드; 및
제어기 ― 상기 제어기는,
상기 연마 패드의 원하는 형상을 나타내는 데이터를 수신하도록 ― 상기 원하는 형상은, 상기 연마 패드 상의 하나 이상의 홈들 및 연마 표면을 포함하는 윤곽을 한정함 ―;
상기 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 상기 윤곽의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하기 위해, 공급 재료를 분배하는 수정된 패턴을 나타내는 데이터를 발생시키도록; 그리고
상기 프린트헤드가, 상기 수정된 패턴에 따른 액적 토출에 의해 상기 공급 재료의 복수의 층들을 분배하게 하도록 구성됨 ― 를 포함하는, 적층 제조 시스템.As a laminate manufacturing system,
A platform for holding a polishing pad to be manufactured;
A printhead for forming a plurality of layers by ejecting droplets on the platform or on a layer previously deposited on the polishing pad; And
A controller,
Receiving data representative of a desired shape of the polishing pad, the desired shape defining an outline comprising one or more grooves on the polishing pad and a polishing surface;
To generate data representative of a modified pattern for dispensing the feed material to at least partially compensate for distortions in the contour caused by the laminate manufacturing system; And
Wherein the print head is configured to dispense a plurality of layers of the feed material by droplet ejection in accordance with the modified pattern.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020217039216A KR102377436B1 (en) | 2016-03-09 | 2017-03-09 | Correction of fabricated shapes in additive manufacturing |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201662305973P | 2016-03-09 | 2016-03-09 | |
US62/305,973 | 2016-03-09 | ||
PCT/US2017/021686 WO2017156342A1 (en) | 2016-03-09 | 2017-03-09 | Correction of fabricated shapes in additive manufacturing |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020217039216A Division KR102377436B1 (en) | 2016-03-09 | 2017-03-09 | Correction of fabricated shapes in additive manufacturing |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20180114552A true KR20180114552A (en) | 2018-10-18 |
KR102334828B1 KR102334828B1 (en) | 2021-12-06 |
Family
ID=59787721
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020187025981A KR102334828B1 (en) | 2016-03-09 | 2017-03-09 | Correction of Shapes Made in Additive Manufacturing |
KR1020217039216A KR102377436B1 (en) | 2016-03-09 | 2017-03-09 | Correction of fabricated shapes in additive manufacturing |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020217039216A KR102377436B1 (en) | 2016-03-09 | 2017-03-09 | Correction of fabricated shapes in additive manufacturing |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US10537973B2 (en) |
EP (2) | EP3869538A1 (en) |
JP (1) | JP6941618B2 (en) |
KR (2) | KR102334828B1 (en) |
CN (1) | CN108701610B (en) |
SG (1) | SG11201806820UA (en) |
TW (2) | TWI727011B (en) |
WO (1) | WO2017156342A1 (en) |
Families Citing this family (20)
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2017
- 2017-03-09 EP EP21166615.1A patent/EP3869538A1/en active Pending
- 2017-03-09 CN CN201780016067.6A patent/CN108701610B/en active Active
- 2017-03-09 KR KR1020187025981A patent/KR102334828B1/en active IP Right Grant
- 2017-03-09 EP EP17764154.5A patent/EP3427288B1/en active Active
- 2017-03-09 TW TW106107697A patent/TWI727011B/en active
- 2017-03-09 JP JP2018546662A patent/JP6941618B2/en active Active
- 2017-03-09 SG SG11201806820UA patent/SG11201806820UA/en unknown
- 2017-03-09 TW TW110113026A patent/TWI765655B/en active
- 2017-03-09 KR KR1020217039216A patent/KR102377436B1/en active IP Right Grant
- 2017-03-09 WO PCT/US2017/021686 patent/WO2017156342A1/en active Application Filing
- 2017-03-09 US US15/455,072 patent/US10537973B2/en active Active
-
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---|---|
US10537973B2 (en) | 2020-01-21 |
CN108701610A (en) | 2018-10-23 |
KR102334828B1 (en) | 2021-12-06 |
WO2017156342A1 (en) | 2017-09-14 |
SG11201806820UA (en) | 2018-09-27 |
EP3869538A1 (en) | 2021-08-25 |
US11154961B2 (en) | 2021-10-26 |
US11597054B2 (en) | 2023-03-07 |
TW201731635A (en) | 2017-09-16 |
JP6941618B2 (en) | 2021-09-29 |
TWI765655B (en) | 2022-05-21 |
TWI727011B (en) | 2021-05-11 |
JP2019510648A (en) | 2019-04-18 |
US20220001507A1 (en) | 2022-01-06 |
KR20210151238A (en) | 2021-12-13 |
US20200139507A1 (en) | 2020-05-07 |
US20170259396A1 (en) | 2017-09-14 |
EP3427288A4 (en) | 2019-11-20 |
TW202128358A (en) | 2021-08-01 |
CN108701610B (en) | 2023-06-02 |
EP3427288A1 (en) | 2019-01-16 |
EP3427288B1 (en) | 2021-04-28 |
KR102377436B1 (en) | 2022-03-23 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |