KR20180114552A - Correction of shapes produced in laminate manufacturing - Google Patents

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KR20180114552A
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마유 펠리시아 야마무라
제이슨 가르체웅 풍
다니엘 레드필드
라지브 바자즈
호우 티. 응
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어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드
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Abstract

적층 제조 시스템을 사용하여 연마 패드를 제조하는 방법은, 액적 토출에 의해 제조될 연마 패드의 원하는 형상을 나타내는 데이터를 수신하는 단계를 포함한다. 원하는 형상은, 연마 패드 상의 하나 이상의 홈들 및 연마 표면을 포함하는 윤곽을 한정한다. 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 윤곽의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하기 위해, 공급 재료를 분배하는 수정된 패턴을 나타내는 데이터가 발생되고, 공급 재료의 복수의 층들은 수정된 패턴에 따른 액적 토출에 의해 분배된다.A method of manufacturing a polishing pad using a laminate manufacturing system includes receiving data indicative of a desired shape of a polishing pad to be produced by droplet discharge. The desired shape defines an outline that includes one or more grooves on the polishing pad and the polishing surface. In order to at least partially compensate for the contour distortions caused by the laminate manufacturing system, data representing a modified pattern for dispensing the feed material is generated, and the plurality of layers of feed material are ejected by droplet ejection in accordance with the modified pattern Lt; / RTI >

Description

적층 제조에서 제조된 형상들의 보정Correction of shapes produced in laminate manufacturing

본 명세서는 적층 제조에 관한 것이다.This specification relates to laminate manufacturing.

집적 회로는 전형적으로, 실리콘 웨이퍼 상에 전도성, 반전도성 또는 절연성 층들의 순차적 퇴적에 의해 기판 상에 형성된다. 다양한 제조 프로세스들은 기판 상의 층의 평탄화를 요구한다. 특정 응용들, 예를 들어, 패터닝된 층의 트렌치들에 비아들, 플러그들 및 라인들을 형성하기 위한 금속 층의 연마의 경우에, 패터닝된 층의 최상부 표면이 노출될 때까지, 위에 놓인 층이 평탄화된다. 다른 응용들, 예를 들어, 포토리소그래피를 위한 유전체 층의 평탄화에서, 아래에 놓인 층 위에 원하는 두께가 남을 때까지, 위에 놓인 층이 연마된다.Integrated circuits are typically formed on a substrate by sequential deposition of conductive, semi-conductive or insulating layers on a silicon wafer. Various fabrication processes require planarization of the layers on the substrate. In the case of polishing a metal layer to form vias, plugs, and lines in certain applications, for example, trenches of the patterned layer, the overlying layer may be patterned until the top surface of the patterned layer is exposed Flattened. In other applications, for example planarization of the dielectric layer for photolithography, the overlying layer is polished until the desired thickness remains on the underlying layer.

화학적 기계적 연마(CMP)는 하나의 용인된 평탄화 방법이다. 이 평탄화 방법은 전형적으로, 기판이 캐리어 헤드 상에 장착될 것을 요구한다. 기판의 노출된 표면은 전형적으로, 회전식 연마 패드에 대해 배치된다. 캐리어 헤드는, 연마 패드에 대해 기판을 누르기 위해, 제어 가능한 부하를 기판 상에 제공한다. 연마 입자들을 갖는 슬러리와 같은 연마액은 전형적으로, 연마 패드의 표면에 공급된다.Chemical mechanical polishing (CMP) is one accepted planarization method. This planarization method typically requires that the substrate be mounted on a carrier head. The exposed surface of the substrate is typically positioned relative to the rotating polishing pad. The carrier head provides a controllable load on the substrate for pressing the substrate against the polishing pad. A polishing liquid, such as a slurry with abrasive particles, is typically supplied to the surface of the polishing pad.

화학적 기계적 연마 프로세스의 하나의 목적은 연마 균일성이다. 기판 상의 상이한 영역들이 상이한 속도들로 연마된다면, 기판의 일부 영역들에서 너무 많은 재료가 제거("과잉 연마")되거나 너무 적은 재료가 제거("과소 연마")되는 것이 가능하다. 평탄화에 부가하여, 연마 패드들은 버핑과 같은 마감 작동들을 위해 사용될 수 있다.One purpose of the chemical mechanical polishing process is polishing uniformity. If different regions on the substrate are polished at different speeds, it is possible that too much material is removed ("over-polished") or too little material is removed ("under-polished") in some regions of the substrate. In addition to planarization, the polishing pads can be used for finishing operations such as buffing.

연마 패드들은 전형적으로, 폴리우레탄 재료들을 성형, 주조 또는 소결함으로써 제조된다. 성형의 경우에, 연마 패드들은, 예를 들어, 사출 성형에 의해 한번에 하나씩 제조될 수 있다. 주조의 경우에, 액체 전구체가 주조되어 케이크로 경화되는데, 이 케이크는 후속하여 개별 패드 조각들로 슬라이싱된다. 그 다음, 이러한 패드 조각들은 최종 두께로 기계가공될 수 있다. 홈들은 사출 성형 프로세스의 일부로서 형성되거나, 연마 표면 내로 기계가공될 수 있다.Abrasive pads are typically made by molding, casting or sintering polyurethane materials. In the case of molding, the polishing pads can be made one at a time, for example, by injection molding. In the case of casting, a liquid precursor is cast and cured into a cake, which is subsequently sliced into individual pad pieces. These pad pieces can then be machined to final thickness. The grooves may be formed as part of the injection molding process or machined into the polishing surface.

일 양상에서, 적층 제조 시스템을 사용하여 연마 패드를 제조하는 방법은, 액적 토출(droplet ejection)에 의해 제조될 연마 패드의 원하는 형상을 나타내는 데이터를 수신하는 단계를 포함한다. 원하는 형상은, 연마 패드 상의 하나 이상의 홈들 및 연마 표면을 포함하는 윤곽을 한정한다. 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 윤곽의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하기 위해, 공급 재료를 분배하는 수정된 패턴을 나타내는 데이터가 발생되고, 공급 재료의 복수의 층들은 수정된 패턴에 따른 액적 토출에 의해 분배된다.In an aspect, a method of manufacturing a polishing pad using a laminate manufacturing system includes receiving data representative of a desired shape of a polishing pad to be produced by droplet ejection. The desired shape defines an outline that includes one or more grooves on the polishing pad and the polishing surface. In order to at least partially compensate for the contour distortions caused by the laminate manufacturing system, data representing a modified pattern for dispensing the feed material is generated, and the plurality of layers of feed material are ejected by droplet ejection in accordance with the modified pattern Lt; / RTI >

다른 양상에서, 적층 제조 시스템을 사용하여 대상물을 제조하는 방법은, 액적 토출에 의해 제조될 대상물의 원하는 형상을 나타내는 데이터를 수신하는 단계를 포함한다. 원하는 형상은, 하나 이상의 홈들 및 최상부 표면을 포함하는 윤곽을 한정한다. 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 윤곽의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하기 위해, 공급 재료를 분배하는 수정된 패턴을 나타내는 데이터가 발생되고, 공급 재료의 복수의 층들은 수정된 패턴에 따른 액적 토출에 의해 분배된다.In another aspect, a method of manufacturing an object using a laminate manufacturing system includes receiving data representing a desired shape of an object to be produced by a droplet discharge. The desired shape defines an outline that includes one or more grooves and a top surface. In order to at least partially compensate for the contour distortions caused by the laminate manufacturing system, data representing a modified pattern for dispensing the feed material is generated, and the plurality of layers of feed material are ejected by droplet ejection in accordance with the modified pattern Lt; / RTI >

또 다른 양상에서, 컴퓨터 판독 가능 매체에 유형적으로 구체화된 컴퓨터 프로그램 제품은, 프로세서로 하여금 적층 제조 시스템에서 액적 토출에 의해 제조될 연마 패드의 원하는 형상을 나타내는 데이터를 수신하게 하는 명령들을 포함한다. 원하는 형상은, 연마 패드 상의 하나 이상의 홈들 및 연마 표면을 포함하는 윤곽을 한정한다. 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 윤곽의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하기 위해, 공급 재료를 분배하는 수정된 패턴을 나타내는 데이터가 발생되고, 적층 제조 시스템은, 수정된 패턴에 따른 액적 토출에 의해 공급 재료의 복수의 층들을 분배하게 된다.In another aspect, a computer program product tangibly embodied in a computer-readable medium includes instructions for causing a processor to receive data indicative of a desired shape of a polishing pad to be produced by droplet dispensing in a laminate manufacturing system. The desired shape defines an outline that includes one or more grooves on the polishing pad and the polishing surface. In order to at least partially compensate for the contour distortions caused by the laminate manufacturing system, data representing a modified pattern for dispensing the feed material is generated, and the laminate manufacturing system is configured to dispense the feed material To distribute the plurality of layers.

또 다른 양상에서, 컴퓨터 판독 가능 매체에 유형적으로 구체화된 컴퓨터 프로그램 제품은, 프로세서로 하여금 적층 제조 시스템에서 액적 토출에 의해 제조될 대상물의 원하는 형상을 나타내는 데이터를 수신하게 하는 명령들을 포함한다. 원하는 형상은, 하나 이상의 홈들 및 최상부 표면을 포함하는 윤곽을 한정한다. 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 윤곽의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하기 위해, 공급 재료를 분배하는 수정된 패턴을 나타내는 데이터가 발생되고, 적층 제조 시스템은, 수정된 패턴에 따른 액적 토출에 의해 공급 재료의 복수의 층들을 분배하게 된다.In yet another aspect, a computer program product tangibly embodied in a computer-readable medium includes instructions for causing a processor to receive data indicative of a desired shape of an object to be produced by droplet dispensing in a laminate manufacturing system. The desired shape defines an outline that includes one or more grooves and a top surface. In order to at least partially compensate for the contour distortions caused by the laminate manufacturing system, data representing a modified pattern for dispensing the feed material is generated, and the laminate manufacturing system is configured to dispense the feed material To distribute the plurality of layers.

또 다른 양상에서, 적층 제조 시스템은, 제조되고 있는 연마 패드를 유지하기 위한 플랫폼, 플랫폼 상에 또는 연마 패드의 이전에 퇴적된 층 상에 액적들을 토출함으로써 복수의 층을 형성하기 위한 프린트헤드, 및 연마 패드의 원하는 형상 ― 원하는 형상은 연마 패드 상의 하나 이상의 홈들 및 연마 표면을 포함하는 윤곽을 한정함 ― 을 나타내는 데이터를 수신하고, 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 윤곽의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하기 위해, 공급 재료를 분배하는 수정된 패턴을 나타내는 데이터를 발생시키고, 프린트헤드가, 수정된 패턴에 따른 액적 토출에 의해 공급 재료의 복수의 층들을 분배하게 하도록 구성된 제어기를 포함한다.In yet another aspect, a laminate manufacturing system includes a platform for holding a polishing pad being manufactured, a printhead for forming a plurality of layers on a platform or on a previously deposited layer of a polishing pad by ejecting droplets, Receiving the data indicative of the desired shape of the polishing pad-the desired shape defining one or more grooves on the polishing pad and the contour comprising the polishing surface, and at least partially compensating for the contour distortions caused by the laminate manufacturing system And a controller configured to cause the printhead to distribute the plurality of layers of feed material by droplet ejection in accordance with the modified pattern.

또 다른 양상에서, 적층 제조 시스템은, 제조되고 있는 연마 패드를 유지하기 위한 플랫폼, 플랫폼 상에 또는 연마 패드의 이전에 퇴적된 층 상에 액적들을 토출함으로써 복수의 층을 형성하기 위한 프린트헤드, 및 연마 패드의 원하는 형상 ― 원하는 형상은 연마 패드 상의 하나 이상의 홈들 및 연마 표면을 포함하는 윤곽을 한정함 ― 을 나타내는 데이터를 수신하고, 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 윤곽의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하기 위해, 공급 재료를 분배하는 수정된 패턴을 나타내는 데이터를 발생시키고, 프린트헤드가, 수정된 패턴에 따른 액적 토출에 의해 공급 재료의 복수의 층들을 분배하게 하도록 구성된 제어기를 포함한다.In yet another aspect, a laminate manufacturing system includes a platform for holding a polishing pad being manufactured, a printhead for forming a plurality of layers on a platform or on a previously deposited layer of a polishing pad by ejecting droplets, Receiving the data indicative of the desired shape of the polishing pad-the desired shape defining one or more grooves on the polishing pad and the contour comprising the polishing surface, and at least partially compensating for the contour distortions caused by the laminate manufacturing system And a controller configured to cause the printhead to distribute the plurality of layers of feed material by droplet ejection in accordance with the modified pattern.

구현들은 다음의 특징들 중 하나 이상을 포함할 수 있다.Implementations may include one or more of the following features.

연마 패드 상의 하나 이상의 홈들은, 복수의 층들에 실질적으로 수직인 측벽에 의해 한정될 수 있다. 하나 이상의 홈들의 왜곡들은 연마 표면에 대한 측벽의 수직의 왜곡들을 포함할 수 있다.One or more grooves on the polishing pad may be defined by side walls that are substantially perpendicular to the plurality of layers. The distortions of the one or more grooves may include vertical distortions of the sidewall relative to the polishing surface.

연마 표면은 복수의 층들에 실질적으로 평행할 수 있다. 수정된 패턴은, 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 연마 패드의 연마 표면의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하도록 구성될 수 있다. 연마 패드의 연마 표면의 왜곡들은 연마 표면의 평탄도의 왜곡들을 포함할 수 있다.The polishing surface may be substantially parallel to the plurality of layers. The modified pattern can be configured to at least partially compensate for distortions in the polishing surface of the polishing pad caused by the laminate manufacturing system. Distortions on the polishing surface of the polishing pad may include distortions in the flatness of the polishing surface.

연마 패드의 원하는 형상을 나타내는 데이터는, 공급 재료의 복수의 층들을 분배하는 패턴을 나타내는 데이터를 포함할 수 있고, 패턴을 나타내는 데이터는 평탄한 최상부 표면을 표현하는 데이터를 포함한다. 수정된 패턴을 나타내는 데이터는, 평탄한 최상부 표면을 표현하는 데이터에 기초하여 발생된, 오목한 최상부 표면을 표현하는 데이터를 포함할 수 있다. 오목한 최상부 표면을 표현하는 데이터는, 패턴을 나타내는 데이터를 사용하여 형성된 연마 패드의 연마 표면의 평탄도의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하도록 발생될 수 있다.Data representing a desired shape of the polishing pad may include data representing a pattern for dispensing a plurality of layers of a supply material and the data representing the pattern comprises data representing a flat top surface. Data representing the modified pattern may include data representing a concave top surface generated based on data representing a flat top surface. The data representing the concave top surface can be generated to at least partially compensate for the flatness distortions of the polishing surface of the polishing pad formed using data representing the pattern.

수정된 패턴을 나타내는 데이터를 발생시키는 것은, 연마 패드의 원하는 형상을 형성하기 위해, 원래의 패턴을 나타내는 데이터를 수정하는 것을 포함할 수 있다. 원래의 패턴을 나타내는 데이터는 원래의 패턴에 대한 보정 윤곽에 기초하여 수정될 수 있다. 보정 윤곽은 원래의 패턴의 폭 너머로 연장되는 부분을 포함할 수 있다. 보정 윤곽은 원래의 형상 ― 원래의 형상은 적어도 부분적으로 왜곡들에 의해 한정됨 ― 과 원하는 형상 사이의 차이를 식별함으로써 결정될 수 있다. 원래의 패턴을 나타내는 데이터를 수정하는 것은, 복셀당 퇴적되는 공급 재료의 양을 수정하는 것을 포함할 수 있다.Generating data representing the modified pattern may include modifying data representing the original pattern to form a desired shape of the polishing pad. Data representing the original pattern can be corrected based on the correction contour for the original pattern. The correction contour may include portions extending beyond the width of the original pattern. The correction contour can be determined by identifying the original shape - the original shape is at least partially defined by distortions - and the difference between the desired shape. Modifying the data representing the original pattern may include modifying the amount of feed material deposited per voxel.

연마 표면은 적어도 2개의 홈들을 분리시키는 구획을 포함할 수 있고, 원래의 패턴을 나타내는 데이터를 수정하는 것은, 홈에 인접한 구획의 에지 부분에 근접하여 분배되는 재료의 제1 부피를 결정하는 것, 구획의 중앙 부분에 분배되는 재료의 제2 부피를 결정하는 것, 및 제2 부피가 제1 부피보다 더 크도록, 제1 부피 및 제2 부피에 기초하여 공급 재료의 부피의 분배를 수정하는 것을 포함할 수 있다.The polishing surface may include a compartment separating at least two grooves and modifying the data representing the original pattern may include determining a first volume of material dispensed close to an edge portion of the compartment adjacent the groove, Determining a second volume of material dispensed in a central portion of the compartment and modifying the distribution of the volume of feed material based on the first volume and the second volume such that the second volume is greater than the first volume .

적층 제조 장치에 의해 야기되는, 윤곽의 왜곡들은, 제조되고 있는 피처들 상의 토출된 액적들의 유동에 의해 야기되는 왜곡들을 포함할 수 있다. 윤곽의 왜곡들은 하나 이상의 홈들의 높이의 왜곡들을 포함할 수 있다. 연마 패드의 원하는 형상은, 연마 표면을 한정하는 평탄한 표면을 포함하고, 수정된 패턴은, 평탄한 표면에 대응하는 평탄하지 않은 부분을 포함할 수 있다. 평탄하지 않은 부분은, 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 연마 표면의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하도록 구성될 수 있다.Distortion distortions caused by the stack manufacturing apparatus may include distortions caused by the flow of ejected droplets on the features being fabricated. Distortions in the contour may include distortions in the height of one or more grooves. The desired shape of the polishing pad includes a flat surface defining a polishing surface, and the modified pattern may include a non-planar portion corresponding to a flat surface. The non-planar portion can be configured to at least partially compensate for the distortions of the abrasive surface caused by the laminate manufacturing system.

전술한 내용의 장점들은 다음 내용을 포함할 수 있지만, 이에 한정되지는 않는다. 연마 패드의 기하형상은 더 정밀하게 제어될 수 있고, 이로써, 연마 패드의 연마 효율을 개선한다. 게다가, 보정 윤곽은, 물품, 예를 들어, 연마 패드가 초기에 형성된 이후에 재료를 제거하기 보다는, 물품을 형성하기 위해 적층 제조 장치가 사용하는 데이터를 조정함으로써, 잠재적인 왜곡들을 보상할 수 있다. 적층 제조 장치에 의해 물품이 형성된 이후 물품의 사후-처리의 양을 감소시킬 수 있다. 결과적으로, 공급 재료 낭비의 양을 감소시킬 수 있고, 수율 및 처리량을 증가시킬 수 있다.Advantages of the foregoing may include, but are not limited to, the following. The geometry of the polishing pad can be controlled more precisely, thereby improving the polishing efficiency of the polishing pad. In addition, the correction contour can compensate for potential distortions by adjusting the data used by the laminate manufacturing apparatus to form the article, rather than removing the article, e.g., after the polishing pad is initially formed . It is possible to reduce the amount of post-treatment of the article after the article is formed by the laminate manufacturing apparatus. As a result, it is possible to reduce the amount of supply material waste, and increase the yield and throughput.

본 명세서에 설명된 청구 대상의 하나 이상의 구현들의 세부 사항들이 첨부 도면들 및 아래의 설명에서 제시된다. 다른 잠재적 특징들, 양상들 및 장점들은 설명, 도면들 및 청구항들로부터 자명해질 것이다.The details of one or more implementations of the claimed subject matter described herein are set forth in the accompanying drawings and the description below. Other potential features, aspects and advantages will become apparent from the description, drawings, and claims.

도 1은 연마 시스템의 개략적인 측면도이다.
도 2는 적층 제조 장치의 개략적인 측면도이다.
도 3a는 연마 패드의 예의 상면도이다.
도 3b는 도 3a의 연마 패드의 측면도이다.
도 4는 물품을 형성하기 위한 프로세스의 흐름도이다.
도 5는 원하는 형상에 기초하여 형성된 실제 형상의 예를 예시한다.
도 6은 도 5의 원하는 형상의 수정에 기초하여 형성된 실제 형상을 예시한다.
도 7은 원하는 형상에 기초하여 형성된 실제 형상의 다른 예를 예시한다.
도 8a-8c는 분배될 공급 재료의 패턴들의 비트맵 표현들이다.
도 9는 도 8a-8c의 비트맵 표현들을 사용하여 형성된 결과적인 형상들을 예시한다.
도 10은 수정된 형상을 나타내는 데이터를 발생시키는 프로세스를 도시한다.
도 11은, 분배될 공급 재료의 층들의 순서가 조정된, 분배될 공급 재료의 패턴의 비트맵 표현의 예이다.
도 12는, 비트맵 표현의 일부가, 형성될 원하는 형상의 원래의 폭 너머로 연장되는, 분배될 공급 재료의 패턴의 비트맵 표현의 예이다.
다양한 도면들에서의 유사한 참조 번호들 및 명칭들은 유사한 요소들을 나타낸다.
1 is a schematic side view of a polishing system.
2 is a schematic side view of a laminate manufacturing apparatus.
Figure 3a is a top view of an example of a polishing pad.
Figure 3B is a side view of the polishing pad of Figure 3A.
4 is a flow diagram of a process for forming an article.
5 illustrates an example of an actual shape formed based on a desired shape.
Figure 6 illustrates the actual shape formed based on the modification of the desired shape of Figure 5;
Fig. 7 illustrates another example of an actual shape formed based on a desired shape.
8A-8C are bitmap representations of patterns of feed material to be dispensed.
Figure 9 illustrates the resulting shapes formed using the bitmap representations of Figures 8A-8C.
Figure 10 shows a process for generating data representing a modified shape.
11 is an example of a bitmap representation of a pattern of feed material to be dispensed, the order of which layers of feed material to be dispensed is adjusted.
Figure 12 is an example of a bitmap representation of a pattern of feed material to be dispensed, in which a portion of the bitmap representation extends beyond the original width of the desired shape to be formed.
Like numbers and names in the various figures indicate like elements.

적층 제조 장치는 연마 패드를 형성하는 데에 사용될 수 있다. 적층 제조 장치에는, 공급 재료를 분배하기 위한 초기 패턴이 제공될 수 있다. 초기 패턴은 형성될 연마 패드의 원하는 형상에 대응한다. 연마 패드가 초기 패턴을 사용하여 적층 제조 장치에 의해 형성될 때, 연마 패드의 실제 형상은 연마 패드의 원하는 형상에 대해 왜곡들을 포함할 수 있다. 본원에서 설명되는 바와 같이, 적층 제조 장치에 제공되는 초기 패턴은 이러한 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하기 위해 수정된 패턴을 발생시키도록 보정 윤곽에 의해 수정될 수 있다. 따라서, 수정된 패턴을 사용하여 형성된 결과적인 형상은 연마 패드의 원하는 형상에 더 밀접하게 일치될 수 있다.A laminate manufacturing apparatus can be used to form the polishing pad. In the laminate manufacturing apparatus, an initial pattern for distributing the supply material may be provided. The initial pattern corresponds to the desired shape of the polishing pad to be formed. When the polishing pad is formed by a laminate manufacturing apparatus using an initial pattern, the actual shape of the polishing pad may include distortions for the desired shape of the polishing pad. As described herein, an initial pattern provided in a laminate manufacturing apparatus may be modified by a correction contour to generate a modified pattern to at least partially compensate for such distortions. Thus, the resulting shape formed using the modified pattern can be more closely matched to the desired shape of the polishing pad.

이제 도 1을 참조하면, 연마 시스템(100)은 하나 이상의 기판들(104)을 연마하는 데에 사용될 수 있는 연마 패드(102)를 포함한다. 적합한 연마 장치의 설명은 미국 특허 제5,738,574호에서 발견할 수 있고, 상기 특허의 전체 개시내용은 인용에 의해 본원에 포함된다. 연마 시스템(100)은 연마 패드(102)가 상부에 배치되는 회전 가능한 플래튼(106)을 포함할 수 있다. 연마 단계 동안, 연마액(108), 예를 들어, 연마 슬러리가 슬러리 공급 포트 또는 복합 슬러리/헹굼 암(110)에 의해 연마 패드(102)의 연마 표면(103)에 공급될 수 있다. 연마액(108)은 연마 입자들, pH 조절제, 또는 화학적으로 활성인 성분들을 포함할 수 있다.Referring now to FIG. 1, a polishing system 100 includes a polishing pad 102 that may be used to polish one or more substrates 104. A description of suitable polishing apparatus can be found in U.S. Patent No. 5,738,574, the entire disclosure of which is incorporated herein by reference. The polishing system 100 may include a rotatable platen 106 on which the polishing pad 102 is disposed. The abrasive slurry may be supplied to the abrasive surface 103 of the polishing pad 102 by a slurry feed port or a composite slurry / The abrasive liquid 108 may comprise abrasive particles, pH adjusting agents, or chemically active components.

기판(104)은 캐리어 헤드(112)에 의해 연마 패드(102)에 대해 유지된다. 캐리어 헤드(112)는 지지 구조, 예컨대, 캐러셀에 현수되고, 캐리어 헤드가 축(116)을 중심으로 회전할 수 있도록, 캐리어 구동 샤프트(114)에 의해 캐리어 헤드 회전 모터에 연결된다. 연마액(108)의 존재 하에 기판(104)과 연마 패드(102)의 상대 운동은 기판(104)의 연마를 초래한다.The substrate 104 is held against the polishing pad 102 by a carrier head 112. The carrier head 112 is suspended in a support structure, such as a carousel, and is connected to the carrier head rotating motor by a carrier drive shaft 114 so that the carrier head can rotate about an axis 116. The relative movement of the substrate 104 and the polishing pad 102 in the presence of the polishing liquid 108 results in polishing of the substrate 104.

도 2를 참조하면, 일부 예들에서, 공급 재료의 연속 층들을 분배하는 적층 제조 장치(120)를 연마 패드(102)를 형성하는 데에 사용할 수 있다. 도 1 및 2를 참조하면, 적층 제조 장치(120)는 연마 패드(102)의 적어도 연마 층(122)을 형성하도록 작동한다. 제조 프로세스에서, 공급 재료의 얇은 층들은 점진적으로 분배되고 경화된다. 예를 들어, 공급 재료, 이를 테면 연마 패드 전구체 재료의 액적들(124)은, 공급 재료의 층(130)을 형성하기 위해, 분배기(128), 이를 테면 액적 토출기 프린터의 노즐(126)로부터 토출될 수 있다. 분배기(128)는 잉크젯 프린터와 유사하지만, 연마 패드(102)를 형성하기 위해 잉크 대신에 공급 재료를 사용한다.Referring to Figure 2, in some instances, a laminate manufacturing apparatus 120 that dispenses successive layers of feed material may be used to form the polishing pad 102. Referring to FIGS. 1 and 2, a laminate manufacturing apparatus 120 operates to form at least an abrasive layer 122 of a polishing pad 102. In the manufacturing process, thin layers of feed material are progressively dispensed and cured. For example, droplets 124 of a feed material, such as a polishing pad precursor material, may be dispensed from a dispenser 128, such as a nozzle 126 of a droplet dispenser printer, to form a layer 130 of a feed material. Can be discharged. The dispenser 128 is similar to an inkjet printer, but uses a feedstock instead of ink to form the polishing pad 102.

제어기(129)는 분배기(128)의 분배 작동들을 제어하도록, 그리고 적용 가능하다면, 램프 또는 레이저와 같은 에너지 공급원(131)을 사용하는 경화 작동들을 제어하도록 작동 가능하다. 노즐(126)은, 지지부(134) 상의 축적 영역의 임의의 부분에서 공급 재료를 분배하기 위해, 지지부(134)에 걸쳐서 병진운동한다(화살표(A)로 도시됨).The controller 129 is operable to control the dispensing operations of the dispenser 128 and, if applicable, curing operations using an energy source 131 such as a lamp or a laser. The nozzle 126 translates (as indicated by arrow A) across the support 134 to distribute the feed material at any portion of the accumulation region on the support 134.

일부 구현들에서, 에너지 공급원(131)은, 노즐(126)이 지지부(134)에 걸쳐서 병진운동할 때 노즐(126)을 뒤에서 따라가며, 이에 의해, 노즐(126)을 통해 분배된 공급 재료가 즉시 경화될 수 있다. 일부 구현들에서, 에너지 공급원(131)은, 노즐(126)이 공급 재료를 분배하면서 제1 스캐닝 방향으로 지지부(134)에 걸쳐서 병진운동할 때 노즐(126)을 앞에서 이끈다. 예를 들어, 제1 스캐닝 방향과 반대인 제2 스캐닝 방향으로 에너지 공급원(131)이 지지부(134)에 걸쳐서 스캐닝될 때 에너지 공급원(131)은 이러한 분배된 공급 재료를 경화시킬 수 있고, 이에 의해, 에너지 공급원(131)의 방사선에 노출되기 이전에 안정 상태에 도달하기 위한 공급 재료 부가 시간을 제공한다. 일부 구현들에서, 에너지 공급원(131)은, 노즐(126)이 제1 스캐닝 방향으로 지지부(134)에 걸쳐서 병진운동할 때 노즐(126)을 앞에서 이끌고, 에너지 공급원(131)은, 에너지 공급원이 제1 스캐닝 방향으로 스캐닝될 때, 분배된 공급 재료를 경화시키는 데에 사용된다. 따라서, 공급 재료의 이전에 분배된 층은, 노즐(126)을 통해 다른 층이 분배되기 전에 거의 즉시 경화될 수 있다. 일부 구현들에서, 에너지 공급원(131)이 노즐(126)을 뒤에서 따라가고 에너지 공급원(131)이 노즐(126)을 앞에서 이끄는 다수의 에너지 공급원들이 존재한다.In some implementations, the energy source 131 follows the nozzle 126 when the nozzle 126 is translationally moving over the support 134, whereby the dispensed feed material through the nozzle 126 Can be cured immediately. In some implementations, the energy source 131 leads the nozzle 126 forward as the nozzle 126 translates across the support 134 in the first scanning direction while dispensing the feed material. For example, when the energy source 131 is scanned over the support portion 134 in a second scanning direction opposite to the first scanning direction, the energy source 131 may cure such dispensed feed material, And provides a supply material addition time to reach a steady state before being exposed to the radiation of the energy source 131. [ In some implementations, the energy source 131 leads the nozzle 126 ahead when the nozzle 126 is translationally moved over the support 134 in the first scanning direction, and the energy source 131, When scanned in the first scanning direction, it is used to cure the dispensed feed material. Thus, the previously dispensed layer of feed material can be hardened almost immediately prior to dispensing the other layer through the nozzle 126. In some implementations, there are multiple energy sources from which the energy source 131 follows the nozzle 126 and the energy source 131 drives the nozzle 126 forward.

퇴적된 제1 층(130a)의 경우, 노즐(126)은 공급 재료를 지지부(134) 상에 토출할 수 있다. 후속하여 퇴적된 층들(130b)의 경우, 노즐(126)은 이미 응고된 공급 재료(132) 상에 토출할 수 있다. 각각의 층(130)이 응고된 이후에, 그 다음, 완전한 3차원 연마 층(122)이 제조될 때까지, 이전에 퇴적된 층 위에 새로운 층이 퇴적된다. 각각의 층은, 컴퓨터(60) 상에서 실행되는 3D 도면 컴퓨터 프로그램에 저장된 패턴으로 노즐(126)에 의해 도포된다. 각각의 층(130)은 연마 층(122)의 총 두께의 50% 미만, 예를 들어, 10% 미만, 예를 들어, 5% 미만, 예를 들어, 1% 미만이다.In the case of the deposited first layer 130a, the nozzle 126 may discharge the feed material onto the support 134. [ In the case of the subsequently deposited layers 130b, the nozzles 126 may be ejected onto the already coagulated feedstock 132. After each layer 130 has solidified, a new layer is then deposited over the previously deposited layer, until a complete three-dimensional polishing layer 122 is fabricated. Each layer is applied by a nozzle 126 in a pattern stored in a 3D drawing computer program running on the computer 60. Each layer 130 is less than 50%, for example less than 10%, for example less than 5%, for example less than 1%, of the total thickness of the abrasive layer 122.

연마 층(122)은 지지부(134) 상에 형성될 수 있다. 일부 예들에서, 지지부(134)는 강성 베이스를 포함하거나, 가요성 막, 예를 들어, 폴리테트라플루오로에틸렌(PTFE)의 층을 포함한다. 지지부(134)가 가요성 막을 포함한다면, 지지부(134)는 연마 패드(102)의 일부를 형성한다. 예를 들어, 지지부(134)는 연마 패드(102)의 후면 층(136)(도 1에 도시됨) 또는 후면 층과 연마 층(122) 사이의 층을 포함할 수 있다. 지지부(134)는 연마 패드(102)의 후면 층(136)을 포함하고, 연마 패드(102)의 제조가 완료된 이후에 지지부(134)는 연마 패드(102)로부터 제거되지 않는다. 도 1을 참조하면, 연마 패드(102)는, 후면 층(136)(예를 들어, 지지부(134))이 회전 가능한 플래튼(106)과 대면하는 상태로 연마 시스템(100)에 장착된다. 대안적으로, 지지부(134)가 연마 패드(102)의 후면 층(136)을 포함하지 않는다면, 연마 패드(102)의 제조가 완료된 이후에 연마 층(122)은 지지부(134)로부터 제거될 수 있다.The abrasive layer 122 may be formed on the support 134. In some instances, the support 134 includes a rigid base or a flexible membrane, e.g., a layer of polytetrafluoroethylene (PTFE). If the support 134 comprises a flexible membrane, the support 134 forms a portion of the polishing pad 102. For example, support portion 134 may include a back layer 136 (shown in FIG. 1) or a layer between back layer and polishing layer 122 of polishing pad 102. The support portion 134 includes the back layer 136 of the polishing pad 102 and the support portion 134 is not removed from the polishing pad 102 after fabrication of the polishing pad 102 is completed. Referring to FIG. 1, a polishing pad 102 is mounted to the polishing system 100 with a backing layer 136 (e.g., a support 134) facing the rotatable platen 106. Alternatively, the polishing layer 122 may be removed from the support 134 after the fabrication of the polishing pad 102 is completed, if the support 134 does not include the backside layer 136 of the polishing pad 102. [ have.

공급 재료의 층들(130)의 응고는 중합에 의해 달성될 수 있다. 예를 들어, 공급 재료의 층(130)은 단량체일 수 있고, 단량체는 자외선(UV) 경화에 의해 인-시튜 중합될 수 있다. 공급 재료는 퇴적 시 효과적으로 즉시 경화될 수 있거나, 패드 전구체 재료의 전체 층(130)이 퇴적될 수 있고 그 다음 전체 층(130)이 동시에 경화될 수 있다. 대안적으로, 액적들(124)은, 냉각 시 응고되는 중합체 용융물일 수 있다. 추가적인 구현들에서, 장치(120)는, 분말의 층을 확산시키고 결합제 재료의 액적들을 분말의 층 상에 토출함으로써 연마 층(122)을 생성한다. 이 경우에, 분말은 첨가제들, 예를 들어, 연마 입자들을 포함할 수 있다.The solidification of the layers 130 of the feed material can be achieved by polymerization. For example, the layer of feed material 130 may be a monomer, and the monomer may be in-situ polymerized by ultraviolet (UV) curing. The feed material can be effectively cured immediately upon deposition, or the entire layer 130 of the pad precursor material can be deposited and then the entire layer 130 can be cured simultaneously. Alternatively, the droplets 124 may be a polymer melt that solidifies upon cooling. In further implementations, the apparatus 120 creates an abrasive layer 122 by diffusing a layer of powder and ejecting droplets of binder material onto the layer of powder. In this case, the powder may contain additives, for example abrasive particles.

일부 구현들에서, 후면 층(136)은 또한, 3D 프린팅 프로세스에 의해 제조될 수 있다. 예를 들어, 후면 층(136) 및 연마 층(122)은 장치(120)에 의한 연속 작동으로 제조될 수 있다. 상이한 양의 경화, 예를 들어, 상이한 세기의 UV 방사선을 사용함으로써, 또는 상이한 재료를 사용함으로써, 연마 층(122)과 상이한 경도를 후면 층(136)에 제공할 수 있다. 다른 구현들에서, 후면 층(136)은 종래의 프로세스에 의해 제조되고 그 다음 연마 층(122)에 고정된다. 예를 들어, 연마 층(122)은, 예를 들어, 얇은 접착제 층, 이를 테면, 감압성 접착제에 의해 후면 층(136)에 고정될 수 있다.In some implementations, the backside layer 136 may also be fabricated by a 3D printing process. For example, the backside layer 136 and the abrasive layer 122 may be fabricated by continuous operation by the device 120. Different hardness can be provided to the backside layer 136, for example, by using UV radiation of different intensities, or by using different materials, different from the polishing layer 122. In other implementations, the backside layer 136 is made by a conventional process and then secured to the abrasive layer 122. For example, the abrasive layer 122 may be secured to the backing layer 136 by, for example, a thin adhesive layer, such as a pressure sensitive adhesive.

일부 구현들에서, 도 2, 3a, 및 3b를 참조하면, 연마 층(122)이 형성될 때, 장치(120)는, 연마 층(122)에 홈들(138)을 형성하기 위해, 공급 재료의 부분들을 선택적으로 분배하고/하거나 선택적으로 경화시킬 수 있다. 홈들(138)은 연마액(108)(도 1에 도시됨)을 담지할 수 있다. 홈들(138)은 거의 모든 패턴, 예컨대, 동심원들, 직선들, 교차무늬, 나선형들 등일 수 있다. 홈들이 존재한다고 가정하면, 홈들(138) 사이의 구획들(140)이 연마 표면(103)을 한정한다. 예를 들어, 홈들(138) 사이에 구획들(140)을 포함하는 연마 표면(103)은 연마 패드(102)의 총 수평 표면적의 약 25-90%, 예를 들어, 70-90%일 수 있다. 따라서, 홈들(138)은 연마 패드(102)의 총 수평 표면적의 10-75%, 예를 들어, 10-30%를 점유할 수 있다. 홈들(138) 사이의 구획들은 약 0.1 내지 2.5 mm의 측방향 폭을 가질 수 있다.2, 3a, and 3b, when the abrasive layer 122 is formed, the apparatus 120 may be configured to form grooves 138 in the abrasive layer 122, The portions can be selectively distributed and / or selectively cured. The grooves 138 may carry the polishing liquid 108 (shown in Fig. 1). The grooves 138 can be almost any pattern, such as concentric circles, straight lines, crossed patterns, spirals, and the like. Assuming that the grooves are present, the sections 140 between the grooves 138 define the polishing surface 103. For example, the polishing surface 103 including the segments 140 between the grooves 138 can be about 25-90%, for example, 70-90% of the total horizontal surface area of the polishing pad 102 have. Thus, the grooves 138 may occupy 10-75%, for example, 10-30% of the total horizontal surface area of the polishing pad 102. The spaces between the grooves 138 may have a lateral width of about 0.1 to 2.5 mm.

도 3a 및 3b에 예시된 예들을 참조하면, 일부 구현들에서, 홈들(138)은 동심원 홈들을 포함한다. 이 홈들(138)은 피치(P)로 균일하게 이격될 수 있다. 피치(P)는 인접한 홈들(138) 사이의 방사상 거리이다. 홈들(138) 사이의 구획들(140)은 폭(Wp)을 갖는다. 각각의 홈(138)은, 홈(138)의 바닥 표면(144)으로부터 연장되어 연마 표면(103)에서, 예를 들어, 구획(140)에서 종단되는 측벽들(142)에 의해 한정된다. 각각의 홈(138)은 깊이(Dg) 및 폭(Wg)을 가질 수 있다.Referring to the examples illustrated in FIGS. 3A and 3B, in some implementations, the grooves 138 include concentric grooves. The grooves 138 can be uniformly spaced at a pitch P. [ The pitch P is the radial distance between adjacent grooves 138. The spaces 140 between the grooves 138 have a width W p . Each groove 138 is defined by sidewalls 142 that extend from the bottom surface 144 of the groove 138 and terminate at the polishing surface 103, e.g., in the partition 140. Each groove 138 may have a depth D g and a width W g .

측벽들(142)은 연마 표면(103)으로부터 하방으로 연장될 수 있고, 연마 표면에 일반적으로 수직일 수 있다. 이와 관련하여, 측벽들은 지지부(134) 상에 분배된 공급 재료의 층들(130)에 실질적으로 수직이다. 부가적으로, 구획들(140)은 지지부(134) 상에 분배된 공급 재료의 층들(130)에 실질적으로 평행하게 연장된다.The sidewalls 142 may extend downward from the polishing surface 103 and may be generally perpendicular to the polishing surface. In this regard, the sidewalls are substantially perpendicular to the layers 130 of feed material dispensed on the support 134. Additionally, the sections 140 extend substantially parallel to the layers of feed material 130 dispensed on the supports 134.

각각의 연마 주기는, 연마 표면(103)이 마모될 때 연마 패드(102)의 일반적으로 박형화의 형태인, 연마 패드(102)의 마모를 초래한다. 실질적으로 수직인 측벽들(142)을 갖는 홈의 폭(Wg)은, 연마 패드가 마모됨에 따라 변하지 않는다. 따라서, 일반적으로 수직인 측벽들(142)은, 연마 패드(102)의 작동 수명에 걸쳐 연마 패드가 실질적으로 균일한 표면적을 갖는 것을 보장한다. 본원에서 설명되는 바와 같이, 연마 패드(102)를 형성하기 위한 제조 프로세스는, 연마 표면(103)이 평탄하지 않게 되는 것을 방지하기 위한, 예를 들어, 연마 표면(103)의 평탄도 또는 편평도를 보장하기 위한, 그리고 측벽들(142)이 연마 표면(103)에 수직이도록 제조하기 위한 보상 작동들을 포함할 수 있다.Each polishing cycle results in wear of the polishing pad 102, which is generally a thinning form of the polishing pad 102 when the polishing surface 103 is worn. Substantially in the width (W g) of the groove having the vertical side walls 142, and does not change as the polishing pad is worn. Thus, generally vertical sidewalls 142 ensure that the polishing pad has a substantially uniform surface area over the operating lifetime of the polishing pad 102. As described herein, the fabrication process for forming the polishing pad 102 may be performed in any suitable manner, for example, to prevent the polishing surface 103 from becoming uneven, And compensating operations for making the sidewalls 142 perpendicular to the polishing surface 103.

홈들(138)은 약 0.34 mm의 최소 폭(Wg)을 가질 수 있다. 각각의 홈(138)은 0.34 mm 내지 2.71 mm, 예를 들어, 약 0.38 mm 내지 1.02 mm의 폭(Wg)을 가질 수 있다. 특히, 홈들(138)은 대략 0.51 mm 또는 0.68 mm의 폭(Wg)을 가질 수 있다. 홈들(138) 사이의 피치(P)는 약 0.68 mm 내지 6.10 mm, 예를 들어, 약 2.29 mm 내지 5.40 mm일 수 있다. 특히, 피치는 대략 2.03 또는 3.05 mm일 수 있다. 홈들(138) 사이의 각각의 구획(140)은 적어도 0.34 mm의 폭(Wp)을 가질 수 있다. 홈의 폭(Wg) 대 구획의 폭(Wp)의 비율은 약 0.10 내지 0.4이도록 선택될 수 있다. 비율은 대략 0.2 또는 0.3일 수 있다.The grooves 138 may have a minimum width (W g) of about 0.34 mm. Each of the grooves 138 is, for 0.34 mm to 2.71 mm, for example, may have a width (W g) of about 0.38 mm to about 1.02 mm. In particular, the grooves 138 may have a width (W g) of about 0.51 mm or 0.68 mm. The pitch P between the grooves 138 may be between about 0.68 mm and 6.10 mm, for example, between about 2.29 mm and 5.40 mm. In particular, the pitch can be approximately 2.03 or 3.05 mm. Each of the sections 140 between the grooves 138 may have a width W p of at least 0.34 mm. Width (W g) the ratio of the width (W p) of the large compartments of the grooves may be selected to be about 0.10 to 0.4. The ratio can be about 0.2 or 0.3.

일부 구현들에서, 연마 패드(102)가 후면 층(136)을 포함한다면, 홈들(138)은 연마 층(122)을 완전히 통해 연장될 수 있다. 일부 구현들에서, 홈들(138)은 연마 층(122)의 두께의 약 20-80%, 예를 들어, 40%를 통해 연장될 수 있다. 홈들(138)의 깊이(Dg)는 0.25 내지 1 mm일 수 있다. 연마 층(122)은 약 1 mm 내지 3 mm의 두께(T)를 가질 수 있다. 두께(T)는, 홈(138)의 바닥 표면(144)과 후면 층(136) 사이의 거리(Dp)가 약 0.5 mm 내지 4 mm이도록 선택되어야 한다. 특히, 거리(Dp)는 약 1 또는 2 mm일 수 있다.In some implementations, if the polishing pad 102 comprises a backside layer 136, the grooves 138 can extend completely through the polishing layer 122. [ In some implementations, the grooves 138 may extend through about 20-80%, e.g., 40%, of the thickness of the abrasive layer 122. [ The depth (D g ) of the grooves 138 may be 0.25 to 1 mm. The abrasive layer 122 may have a thickness T of about 1 mm to 3 mm. The thickness T should be chosen such that the distance D p between the bottom surface 144 of the groove 138 and the backside layer 136 is between about 0.5 mm and 4 mm. In particular, the distance D p may be about 1 or 2 mm.

도 4를 참조하면, 연마 패드(102)를 형성하기 위한 제조 프로세스(200)가 예시된다. 예를 들어, 제어기(129)를 포함하는 적층 제조 장치(120)는 제조 프로세스(200)의 작동들을 수행할 수 있다.Referring to FIG. 4, a manufacturing process 200 for forming a polishing pad 102 is illustrated. For example, the laminate manufacturing apparatus 120 including the controller 129 may perform the operations of the manufacturing process 200.

작동(202)에서, 제조될 연마 패드(102)의 원하는 형상을 나타내는 데이터를 수신한다. 원하는 형상을 나타내는 데이터를 포함해서 형상들을 나타내는 데이터는 2차원 또는 3차원 비트맵에 의해 정의될 수 있다. 일부 구현들에서, 형상 데이터는 컴퓨터 지원 설계(CAD) 모델을 표현하는 데이터를 포함한다. 예를 들어, 형상 데이터가, 원하는 형상을 나타내는 데이터에 대응한다면, CAD 모델은 제조될 연마 패드(102)를 표현한다.At act 202, data indicative of the desired shape of the polishing pad 102 to be manufactured is received. Data representing shapes including data representing a desired shape can be defined by a two-dimensional or three-dimensional bitmap. In some implementations, the shape data includes data representing a computer aided design (CAD) model. For example, if the shape data corresponds to data representing a desired shape, then the CAD model represents the polishing pad 102 to be manufactured.

일부 예들에서, 도 5를 참조하면, 원하는 형상은 원하는 피처(300)를 포함한다. 원하는 형상을 나타내는 데이터의 추가적인 조작 없이, 적층 제조 장치(120)가, 원하는 형상을 형성할 때, 예를 들어, 공급 재료를 분배하고 공급 재료를 경화시키거나 공급 재료가 경화되어 원하는 형상을 형성하는 것을 허용할 때, 실제 피처(310)는 원하는 피처(300)를 포함하는 원하는 형상을 나타내는 데이터에 기초하여 형성될 수 있다. 예를 들어, 직사각형의 원하는 피처(300)를 형성하기 위해, 분배기(128)는 공급 재료의 평행한 층들(130)을 분배하도록 제어된다. 각각의 층에 대해, 직사각형의 원하는 피처(300)의 폭에 대응하는 균일한 폭을 갖는, 공급 재료의 선택된 부분이 경화된다.In some examples, referring to FIG. 5, the desired shape includes the desired features 300. Without further manipulation of the data representing the desired shape, the laminate manufacturing apparatus 120 can be used to form a desired shape, for example, by dispensing the feed material and curing the feed material or by curing the feed material to form the desired shape The actual feature 310 may be formed based on data representing the desired shape, including the desired features 300. For example, For example, to form a rectangular desired feature 300, the distributor 128 is controlled to distribute the parallel layers 130 of feed material. For each layer, a selected portion of the feed material is cured, with a uniform width corresponding to the width of the desired rectangular feature 300.

이러한 분배 및 경화 프로세스 동안, 적층 제조 장치(120)의 해상도 및 재료 특성들이, 실제 피처(310)의 에지들이 바람직하지 않게 둥글게 되거나 경사지게 되는 것을 야기할 수 있다. 특히, 공급 재료의 층들(130)이, 원하는 형상을 나타내는 데이터에 기초하여 결정된 원래의 패턴에 따라 분배된다면, 결과적인 형상은, 실제 피처(310)에 대해 도시된 바와 같이, 둥글게 됨 또는 경사짐을 포함한다. 도 5에 도시된 바와 같이, 원하는 피처(300)의 최상부 표면(302)은 평탄하지만, 실제 피처(310)의 대응하는 최상부 표면(312)은 평탄하지 않다. 최상부 표면(312)에 대한 경사짐 효과 때문에, 원하는 피처(300)의 측방향 에지들(304a, 304b)은 적층 제조 장치(120)에 의해 형성된 실제 피처의 실제 측방향 에지들(314a, 314b)보다 더 긴 길이를 갖는다. 원하는 피처(300)는 홈들(138) 사이의 구획들(140)(도 3a 및 3b에 도시됨)에 대응할 수 있다. 이와 관련하여, 최상부 표면(312)에 대한 둥글게 됨 또는 경사짐 효과는, 구획들(140)에 의해 한정된 연마 표면(103)이 평탄하지 않게 되게 할 수 있다. 임의의 특정 이론에 제한되지 않고, 이전에 퇴적된 층 상에 토출되는 공급 재료, 예를 들어, 액체 패드 전구체 재료의 액체 액적들은 확산될 수 있고, 예를 들어, 습윤 때문에 피처(300)의 측들에 흘러내릴 수 있어서, 둥글게 됨을 초래한다.During such dispensing and curing processes, the resolution and material properties of the laminate manufacturing apparatus 120 may cause the edges of the actual features 310 to undesirably become rounded or beveled. In particular, if the layers 130 of the feed material are distributed according to the original pattern determined based on the data representing the desired shape, then the resulting shape may be rounded or tilted, as shown for the actual feature 310 . As shown in FIG. 5, the top surface 302 of the desired feature 300 is flat, but the corresponding top surface 312 of the actual feature 310 is not planar. The lateral edges 304a and 304b of the desired features 300 are substantially parallel to the actual lateral edges 314a and 314b of the actual features formed by the layered manufacturing apparatus 120, Lt; / RTI > The desired features 300 may correspond to the spaces 140 between the grooves 138 (shown in Figures 3A and 3B). In this regard, the rounding or tilting effect with respect to the top surface 312 may cause the polishing surface 103 defined by the sections 140 to be uneven. Without being limited to any particular theory, it is believed that the liquid droplets of the feed material, e.g., liquid pad precursor material, being ejected onto the previously deposited layer can be diffused and, for example, , Which results in rounding.

둥글게 됨 또는 경사짐 효과를 감소시키기 위해, 원하는 형상을 나타내는 데이터를 수정할 수 있다. 이와 관련하여, 다시 도 4를 참조하면, 작동(204)에서, 연마 패드 왜곡들을 보상하기 위해, 공급 재료를 분배하는 수정된 패턴을 나타내는 데이터가 발생되거나 수신된다. 왜곡들은 연마 패드(102)의 연마 표면(103)의 왜곡들을 포함한다. 이러한 왜곡들은, 일부 경우들에서, 본원에서 설명된 바와 같이, 적층 제조 장치(120)에 의해 야기된다. 수정된 패턴은, 수정된 패턴이, 원하는 피처에 대해 실제 피처(310)에서의 왜곡들을 다룬다는 점에서, 공급 재료를 분배하는 원래의 패턴과 상이하다. 이와 관련하여, 일부 구현들에서, 수정된 패턴을 나타내는 데이터는 실제 피처(310)와 원하는 피처(300) 사이의 상대적인 차이들에 기초하여 결정된다.To reduce rounding or tilting effects, data representing the desired shape may be modified. In this regard, referring back to FIG. 4, at operation 204, data is generated or received that represents a modified pattern for dispensing the feed material to compensate for polishing pad distortions. The distortions include distortions of the polishing surface 103 of the polishing pad 102. These distortions, in some cases, are caused by the laminate manufacturing apparatus 120, as described herein. The modified pattern differs from the original pattern that dispenses the feed material in that the modified pattern deals with distortions in the actual feature 310 for the desired feature. In this regard, in some implementations, the data representing the modified pattern is determined based on the relative differences between the actual feature 310 and the desired feature 300.

예를 들어, 도 6에 도시된 바와 같이, 수정된 형상을 나타내는 데이터는 수정된 피처(320)를 나타내는 데이터를 포함한다. 원하는 피처(300)의 최상부 표면(302)이 평탄할지라도, 수정된 피처(320)의 최상부 표면(322)은, 원래의 패턴으로 형성된 실제 피처(310)의 최상부 표면(312)의 왜곡들을 보상하기 위해, 평탄하지 않다. 수정된 피처(320)는 실제 피처(310)와 원하는 피처(300) 사이의 상대적인 차이들에 기초하여 결정된다. 수정된 피처(320)의 최상부 표면(322)은, 실제 피처(310)의 최상부 표면(312)의 볼록도를 보상하기 위해, 오목하다. 이와 관련하여, 수정된 형상을 나타내는 데이터는, 원래의 패턴을 사용하여 형성된 실제 형상을 나타내는 데이터와 원하는 형상을 나타내는 데이터의 조합에 기초하여 결정된다.For example, as shown in FIG. 6, the data representing the modified shape includes data representing the modified feature 320. The top surface 322 of the modified feature 320 may compensate for distortions in the top surface 312 of the actual feature 310 formed in the original pattern, even though the top surface 302 of the desired feature 300 is flat. , It is not flat. The modified feature 320 is determined based on the relative differences between the actual feature 310 and the desired feature 300. The top surface 322 of the modified feature 320 is concave to compensate for the convexity of the top surface 312 of the actual feature 310. In this regard, data representing the modified shape is determined based on a combination of data representing the actual shape formed using the original pattern and data representing the desired shape.

다시 도 4를 참조하면, 작동(206)에서, 공급 재료의 층들(130)은 수정된 패턴에 따른 액적 토출에 의해 분배된다. 결과적인 실제 피처(330)는 공급 재료를 분배하기 위한 수정된 패턴을 나타내는 데이터에 기초하여 형성되는데, 수정된 패턴은 수정된 형상을 나타내는 데이터에 기초하여 결정된다.Referring again to FIG. 4, at act 206, the layers of feed material 130 are dispensed by droplet discharge in accordance with the modified pattern. The resulting actual features 330 are formed based on data representing a modified pattern for dispensing the feed material, wherein the modified pattern is determined based on data representing the modified shape.

수정된 패턴을 나타내는 데이터에 따라 분배기(128)가 공급 재료의 층들(130)을 분배하도록 제어될 때, 경화되는, 공급 재료의 층들(130)의 선택된 부분의 크기 및 형상은 피처의 높이를 통해 변할 수 있다. 이는, 원하는 피처(300)의 폭이 층마다 일관되기 때문에, 경화된 공급 재료의 선택된 부분이 층마다 일관되는, 실제 피처(310)를 형성하는 프로세스와 대조적이다. 수정된 피처(320)는, 층마다 변하는 폭을 갖는 오목한 부분(326)을 포함한다. 오목한 부분(326)을 형성하도록 공급 재료를 분배하기 위한 수정된 패턴은, 수정된 패턴에 대한 공급 재료의 층들(130)의 선택된 경화된 부분들이, 변하는 폭들 및 형상들을 갖는다는 점에서, 원하는 피처(300)의 최상부 부분을 형성하기 위한 원래의 패턴의 대응하는 부분과 상이하다. 이러한 변하는 폭들 및 형상들은, 수정된 패턴을 사용하여 형성된 결과적인 실제 피처(330)가, 원래의 패턴을 사용하여 형성된 실제 피처(310)와 비교하여, 감소된 볼록도를 갖도록, 실제 피처(310)에 존재하는 왜곡들을 보상한다. 예를 들어, 실제 피처(330)의 최상부 표면(332)은, 실제 피처(310)의 최상부 표면(312)과 비교하여, 증가된 평탄도 및 편평도를 갖는다. 어디에 공급 재료가 분배되고 경화되는지를 의도적으로 제어함으로써, 수정된 패턴에 의해 정의되는 이러한 보정은 결과적인 연마 패드(102)의 형상을 연마 패드(102)에 대한 원래의 원하는 형상에 더 양호하게 일치시킬 수 있다.When the distributor 128 is controlled to dispense the layers 130 of feed material according to the data representing the modified pattern, the size and shape of the selected portions of the layers 130 of feed material, which are cured, Can change. This is in contrast to the process of forming the actual features 310, where the selected portion of the cured supply material is layer-by-layer, as the width of the desired features 300 is consistent from layer to layer. The modified features 320 include concave portions 326 having varying widths from layer to layer. The modified pattern for dispensing the feed material to form the concave portion 326 is such that the selected hardened portions of the layers 130 of feed material for the modified pattern have varying widths and shapes, Differs from the corresponding portion of the original pattern for forming the top portion of the substrate 300. These varying widths and shapes are determined by the actual features 310 that are formed using the modified pattern so that the resulting actual features 330 have reduced convexity compared to the actual features 310 formed using the original pattern. ≪ / RTI > For example, the top surface 332 of the actual feature 330 has increased flatness and flatness compared to the top surface 312 of the actual feature 310. By intentionally controlling where the feed material is dispensed and cured, this correction, defined by the modified pattern, results in a better match of the shape of the resulting polishing pad 102 to the original desired shape for the polishing pad 102 .

예를 들어, 제어기(129)는 초기 또는 의도된 비트맵을 명시하는 데이터 객체, 예를 들어, 컴퓨터 지원 설계(CAD) 호환 가능 파일을 수신할 수 있다. 데이터 객체는 비일시적 컴퓨터 판독 가능 매체에 저장될 수 있다. 제어기(129)는, 원하는 비트맵에 기초하여, 둥글게 됨 및 경사짐을 감소시키기 위한 피처를 포함하는 수정된 비트맵을 발생시키도록 프로그래밍될 수 있다. 따라서, 연마 패드(102)가, 수정된 비트맵을 사용하여 제조되면, 이는 원하는 설계에 더 밀접하게 일치된다.For example, the controller 129 may receive a data object, e.g., a computer-aided design (CAD) compatible file, specifying an initial or intended bitmap. The data object may be stored in a non-volatile computer readable medium. The controller 129 can be programmed to generate a modified bitmap that includes features for rounding and reducing tilting based on the desired bitmap. Thus, if the polishing pad 102 is manufactured using a modified bitmap, it is more closely matched to the desired design.

도 7은, 원하는 피처(400), 및 원하는 피처(400)를 나타내는 데이터에 따라 결정된 분배 및 경화 패턴들에 기초하여 형성된 실제 피처(410)의 다른 예를 예시한다. 이러한 특정 예에서, 구현된 프로세스에서 다른 치수들이 적절하지만, 원하는 피처(400)는 680 ㎛의 폭 및 500 ㎛의 높이를 가졌다. 예시된 바와 같이, 실제 피처(410)는 평탄하지 않은 최상부 표면 및 기울어진 측벽들을 가졌다.FIG. 7 illustrates another example of an actual feature 410 that is formed based on distribution and cure patterns determined according to the desired feature 400 and the data representing the desired feature 400. In this particular example, while the other dimensions in the implemented process were adequate, the desired features 400 had a width of 680 mu m and a height of 500 mu m. As illustrated, actual features 410 have uneven top surfaces and tilted sidewalls.

원하는 피처(400)는, 일정한 폭의 피처, 예를 들어, 연마 패드(102)의 홈들(138)을 분리시키는 구획(140)이다. 구획들(140)의 일정한 폭은 웨이퍼간 연마 균일성을 개선할 수 있다. 게다가, 연마 패드(102)의 연마 효율은 연마 표면(103)의 평탄도에 의존할 수 있다. 수정된 패턴을 사용해 형성된 결과적인 실제 피처가, 원하는 피처(400)와 더 밀접하게 일치하도록, 본원에서 설명되는 프로세스들을 사용하여, 수정된 패턴을 나타내는 데이터가 발생될 수 있다. 특히, 수정된 패턴은, 본원에서 설명되는 프로세스들을 사용하여 결정된 부가적인 보정 윤곽을 갖고 원래의 패턴에 대응한다. 부가적인 보정 윤곽은 원래의 패턴을 사용하여 형성된 실제 피처(410)의 왜곡들을 보상한다.The desired feature 400 is a section 140 that separates features of a given width, e.g., the grooves 138 of the polishing pad 102. A constant width of the sections 140 can improve wafer-to-wafer polishing uniformity. In addition, the polishing efficiency of the polishing pad 102 may depend on the flatness of the polishing surface 103. [ Data representing the modified pattern may be generated using the processes described herein so that the resulting actual feature formed using the modified pattern is more closely matched to the desired feature 400. In particular, the modified pattern corresponds to the original pattern with an additional correction contour determined using the processes described herein. The additional correction contours compensate for distortions in the actual feature 410 that were created using the original pattern.

도 8a-8c의 예들은, 공급 재료를 분배하고 경화시키기 위해 적층 제조 장치(120)에 의해 사용되는 형상들을 나타내는 데이터를 표현한다. 일부 구현들에서, 본원에서 설명되는 형상들을 나타내는 데이터는, 형성될 형상들 또는 형성된 형상들의 비트맵 표현들을 포함한다. 비트맵의 각각의 비트는 형성될 연마 패드(102)의 피처의 복셀에 대응할 수 있다. 예를 들어, 도 8a는, 원하는 피처(400)에 기초하여 발생된 비트맵 표현(500)을 예시한다. 도 8b 및 도 8c는, 실제 피처(410)의 왜곡들을 보상하기 위해 발생된 비트맵 표현들(502, 504)을 예시한다. 따라서, 비트맵 표현들(502, 504)은 원하는 피처(400) 및 실제 피처(410)에 기초하여 발생된 수정된 피처들을 표현한다. 비트맵 표현들(502, 504)은, 실제 피처(410)의 볼록도를 보상하는, 수정된 피처들의 오목도들에 근사화하기 위한 계단식 부분들(506, 508)을 포함한다. 계단식 부분들(506)에 의해 근사화된 오목도는 계단식 부분들(508)에 의해 근사화된 오목도 미만이다.8A-8C represent data representing shapes used by the laminate manufacturing apparatus 120 to dispense and cure the feed material. In some implementations, the data representing the shapes described herein include bitmap representations of shapes to be formed or formed shapes. Each bit of the bitmap may correspond to a voxel of a feature of the polishing pad 102 to be formed. For example, FIG. 8A illustrates a bitmap representation 500 generated based on a desired feature 400. FIGS. 8B and 8C illustrate bitmap representations 502 and 504 generated to compensate for distortions in the actual feature 410. FIG. Thus, the bitmap representations 502 and 504 represent modified features generated based on the desired feature 400 and the actual feature 410. The bitmap representations 502 and 504 include stepped portions 506 and 508 for approximating the concavities of the modified features to compensate for the convexity of the actual feature 410. The concavities that are approximated by the stepped portions 506 are less than the concavities that are approximated by the stepped portions 508.

도 9는, 각각, 비트맵 표현들(500, 502, 504)에 일반적으로 대응하는 수정된 패턴들을 사용하여 형성된 결과적인 실제 피처들(510, 512, 514)을 예시한다. 실제 피처들(510, 512, 514)은 각각 가변 폭 부분들(516, 518, 520)을 포함하는데, 실제 피처(510)의 가변 폭 부분이, 가장 높은 높이를 갖는다. 가변 폭 부분(518)은 가변 폭 부분(520)보다 더 높은 높이를 갖는다. 따라서, 비트맵 표현(500)을 사용하여 형성된 실제 피처(510)의 왜곡들을 보상하는 일정하지 않은 폭의 패턴들을 포함하는 비트맵 표현들(502, 504)을 통해 일정한 폭이 더 쉽게 달성될 수 있다.9 illustrates the resulting actual features 510, 512, 514 formed using modified patterns that generally correspond to the bitmap representations 500, 502, 504, respectively. The actual features 510, 512, 514 each include variable width portions 516, 518, 520, wherein the variable width portion of the actual feature 510 has the highest height. The variable width portion 518 has a height that is higher than the variable width portion 520. Thus, a constant width may be more easily achieved through bitmap representations 502, 504 that include non-uniform width patterns that compensate for distortions in the actual feature 510 formed using the bitmap representation 500 have.

도 10은, 수정된 피처를 결정하고, 따라서, 원하는 피처에 더 잘 일치하는 피처를 형성하도록 공급 재료를 분배하기 위한 수정된 패턴을 결정하는 예시적인 프로세스를 예시한다. 실제 형상은 원하는 형상(600)을 표현하는 데이터에 기초하여, 예를 들어, 본원에서 설명되는 바와 같은 적층 제조 장치(120)를 사용하여 형성되고, 그 다음 실제 형상의 측정된 형상(602)을 표현하는 데이터가 결정된다. 측정된 형상(602)을 표현하는 데이터는, 예를 들어, 실제 형상의 높이 윤곽을 측정하기 위해 공초점 레이저 현미경을 사용하여 결정될 수 있다. 그 다음, 측정된 형상(602)과 원하는 형상(600) 사이의 차이(604)를 표현하는 데이터가 결정된다. 차이(604)는 원하는 형상(600)에 대한 측정된 형상(602)의 왜곡 및/또는 원하는 형상(600)에 대한 실제 형상의 왜곡을 나타낼 수 있다. 차이(604)는, 원하는 형상(600)으로부터 감산되는 측정된 형상(602)에 대응할 수 있다. 차이(604)를 표현하는 데이터는, 예를 들어, 원하는 형상(600)과 일치하지 않는, 측정된 형상(602)의 부분을 표현한다.10 illustrates an exemplary process for determining a modified feature and thus a modified pattern for dispensing a feed material to form a feature that better matches the desired feature. The actual shape is formed using, for example, the laminate manufacturing apparatus 120 as described herein, based on the data representing the desired shape 600, and then the measured shape 602 of the actual shape The data to be represented is determined. Data representing the measured shape 602 may be determined, for example, using a confocal laser microscope to measure the height contour of the actual shape. The data representing the difference 604 between the measured shape 602 and the desired shape 600 is then determined. The difference 604 may indicate a distortion of the measured shape 602 with respect to the desired shape 600 and / or a distortion of the actual shape with respect to the desired shape 600. [ The difference 604 may correspond to the measured shape 602 subtracted from the desired shape 600. The data representing the difference 604 represents, for example, a portion of the measured shape 602 that does not match the desired shape 600. [

역전된 차이(606)를 표현하는 데이터는 차이(604)를 표현하는 데이터에 기초하여 결정된다. 역전된 차이(606)를 표현하는 데이터는 차이(604)에 상보적이고, 이에 의해, 측정된 형상(602)의 왜곡을 보상한다. 일부 구현들에서, 역전된 차이는, 역전된 차이(606)를 표현하는 데이터를 형성하기 위해, 1 내지 3배 내에서 임의의 배수로 스케일링될 수 있다. 역전된 차이(606)는 원래의 원하는 형상(600)을 수정하는 데에 사용되는 보정 윤곽에 대응한다. 이와 관련하여, 역전된 차이(606)를 표현하는 데이터는, 수정된 형상(608)을 표현하는 데이터를 형성하기 위해, 원하는 형상(600)을 표현하는 데이터에 가산된다. 이 예에서 설명되는 데이터는, 본원에서 설명되는 바와 같이, 비트맵들에 대응할 수 있다.The data representing the inverted difference 606 is determined based on the data representing the difference 604. The data representing the inverted difference 606 is complementary to the difference 604, thereby compensating for the distortion of the measured shape 602. [ In some implementations, the inverted difference may be scaled to any multiple within one to three times to form data representing the inverted difference 606. [ The inverted difference 606 corresponds to the correction contour used to modify the original desired shape 600. [ In this regard, the data representing the inverted difference 606 is added to the data representing the desired shape 600 to form data representing the modified shape 608. The data described in this example may correspond to bitmaps, as described herein.

제어기, 예를 들어, 제어기(129)는 디지털 전자 회로로 구현될 수 있거나, 컴퓨터 소프트웨어, 펌웨어, 또는 하드웨어, 또는 이들의 조합들로 구현될 수 있다. 제어기는 하나 이상의 컴퓨터 프로그램 제품들, 즉, 데이터 처리 장치, 예를 들어, 프로그래밍 가능한 프로세서, 컴퓨터, 또는 다수의 프로세서들 또는 컴퓨터들에 의한 실행을 위해 또는 그의 작동을 제어하기 위해, 정보 캐리어에, 예를 들어, 비일시적 기계 판독 가능 저장 매체에, 또는 전파되는 신호에 유형적으로 구체화된 하나 이상의 컴퓨터 프로그램들을 포함할 수 있다. (프로그램, 소프트웨어, 소프트웨어 애플리케이션, 또는 코드로도 알려진) 컴퓨터 프로그램은 컴파일된 또는 해석된 언어들을 포함하는 임의의 형태의 프로그래밍 언어로 작성될 수 있고, 이는 독립형 프로그램으로서 또는 모듈, 컴포넌트, 서브루틴, 또는 컴퓨팅 환경에서의 사용에 적합한 다른 유닛으로서 배포되는 것을 포함하여 임의의 형태로 배포될 수 있다. 컴퓨터 프로그램은 하나의 컴퓨터 상에서, 또는 한 장소에 있거나 다수의 장소들에 걸쳐 분산되어 통신 네트워크에 의해 상호연결되는 다수의 컴퓨터들 상에서 실행되도록 배포될 수 있다.The controller, for example, the controller 129, may be embodied as digital electronic circuitry, or may be implemented as computer software, firmware, or hardware, or combinations thereof. A controller may be coupled to an information carrier for execution by, or control of, one or more computer program products, e.g., a data processing apparatus, e.g., a programmable processor, computer, or multiple processors or computers, For example, non-volatile machine-readable storage media, or one or more computer programs tangibly embodied in the propagated signal. A computer program (also known as a program, software, software application, or code) may be written in any form of programming language, including compiled or interpreted languages, Or distributed as other units suitable for use in a computing environment. A computer program may be distributed on one computer, or distributed on a plurality of computers that are distributed in one place or across multiple locations and interconnected by a communications network.

본 명세서에 설명되는 프로세스들 및 논리 흐름들은 입력 데이터를 운용하고 출력을 발생시키는 것에 의해 기능들을 수행하는 하나 이상의 컴퓨터 프로그램들을 실행하는 하나 이상의 프로그래밍 가능한 프로세서들에 의해 수행될 수 있다. 프로세스들 및 논리 흐름들은 또한, 특수 목적 논리 회로, 예를 들어, FPGA(field programmable gate array) 또는 ASIC(application specific integrated circuit)에 의해 수행될 수 있으며, 장치가 또한, 이러한 특수 목적 논리 회로로서 구현될 수 있다.The processes and logic flows described herein may be performed by one or more programmable processors executing one or more computer programs that perform functions by operating input data and generating an output. Processes and logic flows may also be performed by special purpose logic circuitry, e.g., a field programmable gate array (FPGA) or an application specific integrated circuit (ASIC), and the device may also be implemented as such special purpose logic circuitry .

설명된 시스템들의 제어기(129) 및 다른 컴퓨팅 디바이스들 부분은, 공급 재료가 각각의 층에 대해 형성되어야 하는 패턴을 식별하는 데이터 객체, 예를 들어, 컴퓨터 지원 설계(CAD) 호환 가능 파일을 저장하기 위한 비일시적 컴퓨터 판독 가능 매체를 포함할 수 있다. 예를 들어, 데이터 객체는 STL 포맷 파일, 3D 제조 포맷(3MF) 파일, 또는 적층 제조 파일 포맷(AMF) 파일일 수 있다. 예를 들어, 제어기는 원격 컴퓨터로부터 데이터 객체를 수신할 수 있다. 예를 들어, 펌웨어 또는 소프트웨어에 의해 제어되는 바와 같은, 제어기(129)의 프로세서는, 원하는 패턴으로 각각의 층을 퇴적시키고/시키거나 경화시키기 위해 적층 제조 장치(120)의 구성요소들을 제어하는 데에 필요한 신호들의 세트를 발생시키기 위해, 컴퓨터로부터 수신된 데이터 객체를 해석할 수 있다.The controller 129 and other computing devices portion of the described systems may be configured to store a data object, e.g., a computer-aided design (CAD) compatible file that identifies a pattern in which the feedstock is to be formed for each layer Non-volatile computer readable media. For example, the data object may be an STL format file, a 3D Manufacturing Format (3MF) file, or a Laminated Manufacturing File Format (AMF) file. For example, the controller may receive a data object from a remote computer. The processor of the controller 129, for example, as controlled by firmware or software, controls the components of the stack manufacturing apparatus 120 to deposit and / or cure each layer in a desired pattern To interpret the data object received from the computer to generate a set of signals necessary for the computer.

다수의 구현들이 설명되었다. 그럼에도 불구하고, 다양한 수정들이 이루어질 수 있음을 이해할 것이다.A number of implementations have been described. Nevertheless, it will be understood that various modifications may be made.

일부 구현들에서, 도 12를 참조하면, 보정 윤곽은 원래 원하는 피처의 폭 너머로 연장되는 부분을 포함한다. 수정된 비트맵 표현(800)은 원하는 피처의 비트맵 표현(500)의 폭 너머로 연장되는 돌출 부분(802)을 포함한다. 돌출 부분(802)은, 예를 들어, 공급 재료의 최상층들로 분배된다. 공급 재료의 최상층들 아래에 놓인, 공급 재료의 층들은, 분배 동안 재료 롤 오프 때문에 확장을 경험할 수 있다. 결과적으로, 간략하게 도 7을 참조하면, 공급 재료의 아래에 놓인 층들은, 원하는 피처의 폭보다 더 넓은 폭을 갖는 확장된 부분(402)을 한정한다. 돌출 부분(802)은, 확장된 부분(402)의 가변 폭을 보상하고 확장된 부분(402)에서의 피처의 폭의 일관성을 개선하기 위해, 확장된 부분(402)의 최상부 상에 분배될 공급 재료에 대응할 수 있다.In some implementations, referring to FIG. 12, the correction contour comprises a portion that extends beyond the width of the original desired feature. The modified bitmap representation 800 includes a protruding portion 802 that extends beyond the width of the bitmap representation 500 of the desired feature. The protruding portions 802 are distributed, for example, to the top layers of the feed material. Layers of the feed material underlying the top layers of feed material may experience expansion due to material roll-off during distribution. Consequently, briefly referring to FIG. 7, the layers underlying the feed material define an expanded portion 402 that is wider than the width of the desired feature. The protruding portion 802 may be a portion of the expanded portion 402 that is to be dispensed on top of the expanded portion 402 to compensate for the varying width of the expanded portion 402 and to improve the consistency of the width of the feature in the expanded portion 402. [ It can cope with the material.

도 8b 및 8c에 도시된 접근법은, 원하는 것 미만인 피처의 높이를 보상하기 위해, 공급 재료의 하나 이상의 부가적인 층들을 퇴적시키는 것이다. 예를 들어, 공급 재료의 하나 이상의 부가적인 층들은 둥글게 됨 또는 경사짐이 일어나는 영역들에 퇴적될 수 있다. 그러나, 대안적으로 또는 부가적으로, 원하는 것 미만인 피처의 높이를 보상하기 위해, 소정의 양의 공급 재료가 층에 퇴적될 수 있다. 예를 들어, 토출된 액적들의 개수 또는 액적들의 크기는, 피처의 높이가, 원하는 것 미만인, 예를 들어, 둥글게 됨 또는 경사짐이 일어나는 영역들에 위치된 복셀들에 대해 증가될 수 있다.The approach shown in Figures 8B and 8C is to deposit one or more additional layers of feed material to compensate for the height of the features below the desired. For example, one or more additional layers of the feedstock may be deposited in areas that are rounded or tilted. However, alternatively or additionally, to compensate for the height of the features less than desired, a predetermined amount of feed material may be deposited in the layer. For example, the number of droplets ejected or the size of droplets can be increased for voxels located in regions where the height of the feature is less than desired, e.g., rounded or tilted.

일부 구현들에서, 공급 재료의 부피의 분배는 액적들(124)이 분배될 위치에 따라 수정된다. 공급 재료의 액적들(124)의 부피는 분배 작동 동안 변화된다. 예를 들어, 다시 도 6을 참조하면, 피처의 에지들(322a, 322b)을 형성하기 위한 액적들(124)의 부피는 피처의 내부 부분(322c)을 형성하기 위한 액적들(124)의 부피 미만일 수 있다. 제어기(129)는 공급 재료의 재료 특성들에 기초하여 에지들(322a, 322b)을 형성하기 위한 적절한 무게 및 내부 부분(322c)을 형성하기 위한 무게를 결정한다. 분배기(128)는 공급 재료의 롤 오프를 최소화하기 위해 더 적은 공급 재료를 분배할 수 있다. 분배기(128)가 피처의 내부 부분(322c)을 형성하기 위해 이동함에 따라, 액적들의 부피가 증가된다. 일부 구현들에서, 액적들(124)의 부피는 피처의 에지들(322a, 322b)로부터 중앙까지의 구배를 정의한다. 공급 재료의 습윤 효과에 따라, 이러한 유형의 부피 제어는, 에너지 공급원(131)이 존재하는 경우에, 에너지 공급원이 작동될 때 경화되는 공급 재료의 양을 조정하는 데에 사용될 수 있다. 예를 들어, 분배된 공급 재료의 상이한 부분들을 경화시키기 위해 에너지 공급원(131)이 지지부(134)에 걸쳐 스캐닝되는 경우, 낙하 부피 제어는, 본원에서 설명되는 경사짐 효과를 감소시키기 위해 피처의 에지들(322a, 322b)에 더 많은 공급 재료를 주입하면서 에너지 공급원(131)의 각각의 통과 동안 더 적은 공급 재료가 롤 오프하는 것을 허용할 수 있다.In some implementations, the distribution of the volume of feed material is modified depending on where the droplets 124 are to be dispensed. The volume of droplets 124 of the feed material is varied during the dispensing operation. 6, the volume of droplets 124 for forming the edges of the feature 322a, 322b is greater than the volume of droplets 124 for forming the interior portion 322c of the feature ≪ / RTI > The controller 129 determines the appropriate weight for forming the edges 322a and 322b and the weight for forming the inner portion 322c based on the material properties of the feed material. The distributor 128 may dispense less of the feed material to minimize the roll-off of the feed material. As the dispenser 128 moves to form the interior portion 322c of the feature, the volume of droplets is increased. In some implementations, the volume of droplets 124 defines a gradient from the edges of the features 322a, 322b to the center. Depending on the wetting effect of the feedstock, this type of volumetric control can be used to adjust the amount of feedstock that is cured when the energy source is operated, in the presence of the energy source 131. For example, when the energy source 131 is scanned over the support 134 to cure different parts of the dispensed feed, the drop volume control may be controlled by the edge of the feature to reduce the tilting effect described herein. May allow for less feed material to roll off during each pass of the energy source 131 while injecting more feed material into the openings 322a, 322b.

일부 구현들에서, 다수의 유형들의 공급 재료가 분배된다. 적층 제조 장치(120)는, 예를 들어, 2개 이상의 분배기들을 포함하고, 각각의 분배기는 상이한 유형의 공급 재료를 분배한다. 일부 경우들에서, 단일 분배기, 예를 들어, 분배기(128)가 다수의 유형들의 공급 재료를 수용하고 이러한 다수의 유형들의 공급 재료의 혼합물을 분배한다. 제1 유형의 공급 재료의 특성들이 제2 유형의 공급 재료의 특성들과 다를 수 있기 때문에, 제1 유형의 공급 재료를 분배하기 위한 원래의 패턴에 대한 수정은, 제2 유형의 공급 재료를 분배하기 위한 원래의 패턴에 대한 수정보다 더 많거나 더 적은 양의 스케일링을 포함할 수 있다. 대안적으로, 액적 무게가 제어되는 경우, 제1 유형의 공급 재료의 액적들의 무게들은 제2 유형의 공급 재료의 액적들의 무게들보다 더 무겁거나 더 가볍도록 제어될 수 있다. 일부 경우들에서, 제1 유형의 공급 재료의 액적들의 크기는 제2 유형의 공급 재료의 액적들의 크기들보다 더 크거나 더 작도록 제어될 수 있다.In some implementations, multiple types of feed material are dispensed. The stack manufacturing apparatus 120 includes, for example, two or more distributors, each distributing a different type of feed material. In some cases, a single distributor, for example, a distributor 128, accommodates multiple types of feed material and distributes a mixture of these multiple types of feed material. Modifications to the original pattern for dispensing the first type of feed material may be performed by dispensing a second type of feed material, as the characteristics of the first type of feed material may differ from those of the second type of feed material Lt; RTI ID = 0.0 > or less < / RTI > Alternatively, when the droplet weight is controlled, the weights of the droplets of the first type of feed material may be controlled to be heavier or lighter than the weights of the droplets of the second type of feed material. In some cases, the size of the droplets of the first type of feed material can be controlled to be larger or smaller than the sizes of the droplets of the second type of feed material.

일부 구현들에서, 예를 들어, 연마 층(122) 및 후면 층(136)을 형성하기 위해, 또는 연마 층(122)의 상이한 부분들을 형성하기 위해, 예를 들어, 연마 표면에 걸쳐 측방향으로 변하는 연마 특성들을 갖는 연마 층을 제공하기 위해, 다수의 유형들의 공급 재료가 연마 패드(102)의 상이한 부분들을 형성한다. 제2 유형의 공급 재료는, 제1 유형의 공급 재료에 대해 제2 유형의 공급 재료의 특성들을 변경시키는 첨가제를 갖는 제1 유형의 공급 재료를 포함할 수 있다. 첨가제는, 예를 들어, 경화되지 않은 공급 재료의 특성들, 예를 들어, 제타 전위, 친수성 등을 조정할 수 있는 계면활성제를 포함한다.In some implementations, for example, to form the abrasive layer 122 and the backside layer 136, or to form different portions of the abrasive layer 122, for example, Many types of feed material form different parts of the polishing pad 102 to provide an abrasive layer with varying abrasive properties. The second type of feed material may comprise a first type of feed material having an additive that alters the characteristics of the feed material of the second type relative to the feed material of the first type. The additive includes, for example, a surfactant capable of adjusting the properties of uncured feed materials, such as zeta potential, hydrophilicity, and the like.

공급 재료의 층들의 각각의 층의 두께 및 복셀들의 각각의 복셀의 크기는 구현마다 변할 수 있다. 일부 구현들에서, 지지부(134) 상에 분배될 때, 각각의 복셀은, 예를 들어, 10 ㎛ 내지 50 ㎛ (예를 들어, 10 ㎛ 내지 30 ㎛, 20 ㎛ 내지 40 ㎛, 30 ㎛ 내지 50 ㎛, 대략 20 ㎛, 대략 30 ㎛, 또는 대략 50 ㎛)의 폭을 가질 수 있다. 각각의 층은 미리 결정된 두께를 가질 수 있다. 두께는, 예를 들어, 1 내지 80 ㎛, 예를 들어, 2 내지 40 ㎛ (예를 들어, 2 ㎛ 내지 4 ㎛, 5 ㎛ 내지 7 ㎛, 10 ㎛ 내지 20 ㎛, 25 ㎛ 내지 40 ㎛)일 수 있다.The thickness of each layer of layers of feed material and the size of each voxel of the voxels may vary from implementation to implementation. In some implementations, when distributed on the support portion 134, each voxel may include, for example, 10 microns to 50 microns (e.g., 10 microns to 30 microns, 20 microns to 40 microns, 30 microns to 50 microns Mu m, about 20 mu m, about 30 mu m, or about 50 mu m). Each layer may have a predetermined thickness. The thickness may be, for example, 1 to 80 占 퐉, for example, 2 to 40 占 퐉 (e.g., 2 占 퐉 to 4 占 퐉, 5 占 퐉 to 7 占 퐉, 10 占 퐉 to 20 占 퐉, 25 占 퐉 to 40 占 퐉) .

방법 및 장치가 연마 패드의 제조의 맥락에서 설명되었지만, 이러한 방법 및 장치는 적층 제조에 의한 다른 물품들의 제조에 적응될 수 있다. 이 경우, 연마 표면 대신에, 간단히, 제조될 대상물의 최상부 표면일 것이고, 이 최상부 표면에 오목부들이 있을 것이다. 수정된 패턴은, 적층 제조 시스템에 의해 야기되는 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상할 수 있다.Although the method and apparatus have been described in the context of the manufacture of a polishing pad, such methods and apparatus can be adapted to the manufacture of other articles by laminate manufacture. In this case, instead of the polishing surface, it will simply be the top surface of the object to be produced, with the top surface having recesses. The modified pattern can at least partially compensate for distortions caused by the laminate manufacturing system.

부가적으로, 방법 및 장치가 액적 토출에 의한 제조의 맥락으로 설명되었지만, 이러한 방법 및 장치는 다른 적층 제조 기법들, 예를 들어, 소결이 후속되는 선택적 분말 분배에 의한 제조에 적응될 수 있다.Additionally, although the method and apparatus are described in the context of manufacturing by droplet discharge, such methods and apparatus may be adapted to manufacture by other lamination fabrication techniques, such as selective powder distribution followed by sintering.

이에 따라, 다른 구현들이 청구항들의 범위 내에 있다.Accordingly, other implementations are within the scope of the claims.

Claims (15)

적층 제조 시스템을 사용하여 연마 패드를 제조하는 방법으로서,
액적 토출(droplet ejection)에 의해 제조될 상기 연마 패드의 원하는 형상을 나타내는 데이터를 수신하는 단계 ― 상기 원하는 형상은, 상기 연마 패드 상의 하나 이상의 홈들 및 연마 표면을 포함하는 윤곽을 한정함 ―;
상기 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 상기 윤곽의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하기 위해, 공급 재료를 분배하는 수정된 패턴을 나타내는 데이터를 발생시키는 단계; 및
상기 수정된 패턴에 따른 액적 토출에 의해 상기 공급 재료의 복수의 층들을 분배하는 단계를 포함하는, 연마 패드를 제조하는 방법.
A method of manufacturing a polishing pad using a laminate manufacturing system,
Receiving data representative of a desired shape of the polishing pad to be produced by droplet ejection, the desired shape defining an outline comprising one or more grooves on the polishing pad and a polishing surface;
Generating data representative of a modified pattern for dispensing a feed material to at least partially compensate for distortions in the contour caused by the laminate manufacturing system; And
And dispensing the plurality of layers of the feed material by droplet ejection in accordance with the modified pattern.
제1항에 있어서,
상기 연마 패드 상의 상기 하나 이상의 홈들은 상기 복수의 층들에 실질적으로 수직인 측벽에 의해 한정되고, 상기 하나 이상의 홈들의 왜곡들은 상기 연마 표면에 대한 상기 측벽의 수직의 왜곡들을 포함하는, 연마 패드를 제조하는 방법.
The method according to claim 1,
Wherein the one or more grooves on the polishing pad are defined by sidewalls substantially perpendicular to the plurality of layers and wherein the distortions of the one or more grooves include vertical distortions of the sidewalls relative to the polishing surface. How to.
제1항에 있어서,
상기 연마 표면은 상기 복수의 층들에 실질적으로 평행하고, 상기 연마 패드의 상기 연마 표면의 왜곡들은 상기 연마 표면의 평탄도의 왜곡들을 포함하는, 연마 패드를 제조하는 방법.
The method according to claim 1,
Wherein the polishing surface is substantially parallel to the plurality of layers and the distortions of the polishing surface of the polishing pad comprise distortions of the flatness of the polishing surface.
제1항에 있어서,
상기 적층 제조 장치에 의해 야기되는, 상기 윤곽의 왜곡들은, 제조되고 있는 피처들 상의 토출된 액적들의 유동에 의해 야기되는 왜곡들을 포함하는, 연마 패드를 제조하는 방법.
The method according to claim 1,
Wherein the contour distortions caused by the stack manufacturing apparatus include distortions caused by the flow of ejected droplets on the features being fabricated.
제1항에 있어서,
상기 연마 패드의 상기 원하는 형상은, 상기 연마 표면을 한정하는 평탄한 표면을 포함하고, 상기 수정된 패턴은, 상기 평탄한 표면에 대응하는 평탄하지 않은 부분을 포함하고, 상기 평탄하지 않은 부분은 상기 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 상기 연마 표면의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하도록 구성되는, 연마 패드를 제조하는 방법.
The method according to claim 1,
Wherein the desired shape of the polishing pad includes a flat surface defining the polishing surface and the modified pattern includes a non-planar portion corresponding to the planar surface, wherein the non- Wherein the polishing pad is configured to at least partially compensate for distortions in the polishing surface caused by the system.
비일시적 컴퓨터 판독 가능 매체에 유형적으로 구체화된 컴퓨터 프로그램 제품으로서,
프로세서가:
적층 제조 시스템에서 액적 토출에 의해 제조될 연마 패드의 원하는 형상을 나타내는 데이터를 수신하게 하는 명령들 ― 상기 원하는 형상은, 상기 연마 패드 상의 하나 이상의 홈들 및 연마 표면을 포함하는 윤곽을 한정함 ―;
상기 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 상기 윤곽의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하기 위해, 공급 재료를 분배하는 수정된 패턴을 나타내는 데이터를 발생시키게 하는 명령들; 및
상기 적층 제조 시스템이, 상기 수정된 패턴에 따른 액적 토출에 의해 상기 공급 재료의 복수의 층들을 분배하게 하는 명령들을 포함하는, 컴퓨터 프로그램 제품.
A computer program product tangibly embodied in a non-transitory computer readable medium,
Processor:
Instructions for receiving data indicative of a desired shape of a polishing pad to be produced by droplet dispensing in a laminate manufacturing system, the desired shape defining an outline comprising one or more grooves on the polishing pad and a polishing surface;
Instructions for causing data generated by the laminate manufacturing system to generate data indicative of a modified pattern for dispensing a feed material to at least partially compensate for distortions in the contour; And
Wherein the laminate manufacturing system includes instructions to cause a plurality of layers of the feed material to be dispensed by droplet dispensing according to the modified pattern.
제6항에 있어서,
상기 연마 패드의 상기 원하는 형상을 나타내는 데이터는, 공급 재료의 복수의 층들을 분배하는 패턴을 나타내는 데이터를 포함하고, 상기 패턴을 나타내는 데이터는 평탄한 최상부 표면을 표현하는 데이터를 포함하며,
상기 수정된 패턴을 나타내는 데이터는, 상기 평탄한 최상부 표면을 표현하는 데이터에 기초하여 발생된, 오목한 최상부 표면을 표현하는 데이터를 포함하는, 컴퓨터 프로그램 제품.
The method according to claim 6,
Wherein the data representing the desired shape of the polishing pad comprises data representing a pattern of distributing a plurality of layers of a supply material and wherein the data representing the pattern comprises data representing a flat top surface,
Wherein the data representing the modified pattern comprises data representing a concave top surface generated based on data representing the flat top surface.
제7항에 있어서,
상기 오목한 최상부 표면을 표현하는 데이터는, 상기 패턴을 나타내는 데이터를 사용하여 형성된 상기 연마 패드의 연마 표면의 평탄도의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하도록 발생되는, 컴퓨터 프로그램 제품.
8. The method of claim 7,
Wherein the data representing the concave top surface is generated to at least partially compensate for distortions in the flatness of the polishing surface of the polishing pad formed using data representing the pattern.
제6항에 있어서,
상기 수정된 패턴을 나타내는 데이터를 발생시키기 위한 상기 명령들은, 상기 연마 패드의 원하는 형상을 형성하기 위해, 원래의 패턴을 나타내는 데이터를 수정하기 위한 명령들을 포함하는, 컴퓨터 프로그램 제품.
The method according to claim 6,
Wherein the instructions for generating data representing the modified pattern comprise instructions for modifying data representing an original pattern to form a desired shape of the polishing pad.
제9항에 있어서,
상기 원래의 패턴을 나타내는 데이터는 상기 원래의 패턴에 대한 보정 윤곽에 기초하여 수정되는, 컴퓨터 프로그램 제품.
10. The method of claim 9,
Wherein the data representing the original pattern is modified based on a correction contour for the original pattern.
제10항에 있어서,
상기 보정 윤곽은 상기 원래의 패턴의 폭 너머로 연장되는 부분을 포함하는, 컴퓨터 프로그램 제품.
11. The method of claim 10,
Wherein the correction contour comprises a portion extending beyond the width of the original pattern.
제10항에 있어서,
상기 보정 윤곽은 원래의 형상 ― 상기 원래의 형상은 적어도 부분적으로 왜곡들에 의해 한정됨 ― 과 상기 원하는 형상 사이의 차이를 식별함으로써 결정되는, 컴퓨터 프로그램 제품.
11. The method of claim 10,
Wherein said correction contour is determined by identifying a difference between said original shape and said desired shape, said original shape being at least partially defined by distortions.
제9항에 있어서,
상기 원래의 패턴을 나타내는 데이터를 수정하기 위한 상기 명령들은, 복셀당 퇴적되는 공급 재료의 양을 수정하기 위한 명령들을 포함하는, 컴퓨터 프로그램 제품.
10. The method of claim 9,
Wherein the instructions for modifying data representing the original pattern comprise instructions for modifying an amount of feed material deposited per voxel.
제9항에 있어서,
상기 원래의 패턴은, 적어도 2개의 홈들을 분리시키는 구획을 포함하는 연마 표면을 표현하는 데이터를 포함하고, 상기 원래의 패턴을 나타내는 데이터를 수정하기 위한 상기 명령들은:
상기 홈에 인접한 상기 구획의 에지 부분에 근접하여 분배되는 재료의 제1 부피를 결정하기 위한 명령들,
상기 구획의 중앙 부분에 분배되는 재료의 제2 부피를 결정하기 위한 명령들, 및
상기 제2 부피가 상기 제1 부피보다 더 크도록, 상기 제1 부피 및 상기 제2 부피에 기초하여 공급 재료의 부피의 분배를 수정하기 위한 명령들을 포함하는, 컴퓨터 프로그램 제품.
10. The method of claim 9,
Wherein the original pattern includes data representing a polishing surface comprising a section separating at least two grooves, the instructions for modifying data representing the original pattern comprise:
Instructions for determining a first volume of material dispensed proximate to an edge portion of the compartment adjacent the groove,
Instructions for determining a second volume of material dispensed to a central portion of the compartment, and
Instructions for modifying the distribution of the volume of feed material based on the first volume and the second volume such that the second volume is greater than the first volume.
적층 제조 시스템으로서,
제조될 연마 패드를 유지하기 위한 플랫폼;
상기 플랫폼 상에 또는 상기 연마 패드의 이전에 퇴적된 층 상에 액적들을 토출함으로써 복수의 층을 형성하기 위한 프린트헤드; 및
제어기 ― 상기 제어기는,
상기 연마 패드의 원하는 형상을 나타내는 데이터를 수신하도록 ― 상기 원하는 형상은, 상기 연마 패드 상의 하나 이상의 홈들 및 연마 표면을 포함하는 윤곽을 한정함 ―;
상기 적층 제조 시스템에 의해 야기되는, 상기 윤곽의 왜곡들을 적어도 부분적으로 보상하기 위해, 공급 재료를 분배하는 수정된 패턴을 나타내는 데이터를 발생시키도록; 그리고
상기 프린트헤드가, 상기 수정된 패턴에 따른 액적 토출에 의해 상기 공급 재료의 복수의 층들을 분배하게 하도록 구성됨 ― 를 포함하는, 적층 제조 시스템.
As a laminate manufacturing system,
A platform for holding a polishing pad to be manufactured;
A printhead for forming a plurality of layers by ejecting droplets on the platform or on a layer previously deposited on the polishing pad; And
A controller,
Receiving data representative of a desired shape of the polishing pad, the desired shape defining an outline comprising one or more grooves on the polishing pad and a polishing surface;
To generate data representative of a modified pattern for dispensing the feed material to at least partially compensate for distortions in the contour caused by the laminate manufacturing system; And
Wherein the print head is configured to dispense a plurality of layers of the feed material by droplet ejection in accordance with the modified pattern.
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