KR20180008276A - 안테나 구동 기반의 테스트 시스템 - Google Patents

안테나 구동 기반의 테스트 시스템 Download PDF

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KR20180008276A
KR20180008276A KR1020170071534A KR20170071534A KR20180008276A KR 20180008276 A KR20180008276 A KR 20180008276A KR 1020170071534 A KR1020170071534 A KR 1020170071534A KR 20170071534 A KR20170071534 A KR 20170071534A KR 20180008276 A KR20180008276 A KR 20180008276A
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Abstract

안테나 구동 기반의 테스트 시스템이 개시된다. 일 실시예에 따른 테스트 시스템은 테스트 기기로부터 테스트 신호를 수신하는 안테나, 상기 안테나의 위치 및 상기 안테나의 각도 중 적어도 하나를 조절하는 구동기, 및 상기 안테나의 위치 및 상기 안테나의 각도 중 적어도 하나를 최적화하기 위한 최적화 파라미터에 기초한 제어 신호에 응답하여 상기 구동기를 제어하는 컨트롤러를 포함하는 쉴드 박스와, 상기 최적화 파라미터를 획득하고, 상기 최적화 파라미터에 기초하여 상기 제어 신호를 생성하는 제어 장치를 포함한다.

Description

안테나 구동 기반의 테스트 시스템{TEST SYSTEM BASED ON ACTUATING ANTENNA}
아래 실시예들은 안테나 구동 기반의 테스트 시스템에 관한 것이다.
쉴드 박스는 쉴드 박스 내부와 외부 사이에 전파를 차폐하여, 쉴드 박스 내부에서 무선 기기의 통신 성능을 테스트할 수 있는 환경을 제공할 수 있다. 무선 기기들 마다 방사 패턴이 다를 수 있고 테스트되는 주파수 마다 편파(polarization)가 다를 수 있기 때문에, 고정된 위치의 안테나를 사용하는 쉴드 박스는 테스트 기기 혹은 테스트 주파수에 따라 안테나와 테스트 기기 간의 매칭이 이루어지지 않는 경우가 발생할 수 있다.
쉴드 박스의 측정 주파수가 넓게 설정된 경우 하나의 안테나로 테스트를 진행하기에 한계가 있을 수 있고, 여러 안테나를 사용할 경우 박스 내부에서 발생하는 반사 현상으로 인해 측정 편차가 발생할 수 있다. 또한, 고정된 안테나의 경우 박스 내부에서 다중경로(multipath) 신호에 의한 측정 오류가 발생하거나, 이러한 오류에 대응하기에 어려움이 있다. 여러 안테나를 사용하면 안테나 구조 자체가 측정에 영향을 미치며 상황에 능동적으로 대처하기 어렵다. 이러한 환경에 의하면 박스 간에 편차가 발생할 수 있고, 특정 주파수에서는 다중경로 페이딩(multipath fading)으로 인한 수신 불량이 발생할 수 있다.
관련 선행기술로는 휴대폰 테스트용 쉴드 박스를 개시하는 한국 공개특허 제10-2003-0054049호가 있다.
아래 실시예들은 테스트 기기의 방사 패턴 및 테스트 신호의 주파수에 따라 안테나를 조절할 수 있는 쉴드 박스를 제공하는데 그 목적이 있다.
일 측에 따르면, 테스트 시스템은 테스트 기기로부터 테스트 신호를 수신하는 안테나, 상기 안테나의 위치 및 상기 안테나의 각도 중 적어도 하나를 조절하는 구동기, 및 상기 안테나의 위치 및 상기 안테나의 각도 중 적어도 하나를 최적화하기 위한 최적화 파라미터에 기초한 제어 신호에 응답하여 상기 구동기를 제어하는 컨트롤러를 포함하는 쉴드 박스; 및 상기 최적화 파라미터를 획득하고, 상기 최적화 파라미터에 기초하여 상기 제어 신호를 생성하는 제어 장치를 포함한다.
상기 제어 장치는 상기 구동기를 제어하면서 상기 테스트 신호의 품질을 측정하고, 상기 측정된 품질에 기초하여 상기 최적화 파라미터를 획득할 수 있다.
상기 제어 장치는 상기 테스트 신호의 주파수를 이용하여 상기 테스트 기기에 관해 미리 결정된 최적화 테이블을 참조함으로써 상기 최적화 파라미터를 획득할 수 있고, 상기 최적화 테이블은 상기 테스트 기기에 의해 사용되는 주파수 별로 상기 테스트 기기의 테스트 신호를 측정하여 결정된 최적화 파라미터들을 포함할 수 있다.
상기 테스트 기기가 제1 환경에서 제1 그룹의 주파수들을 사용하고, 상기 테스트 신호의 주파수가 상기 제1 그룹의 주파수들에 포함되는 경우, 상기 최적화 파라미터는 상기 제1 그룹의 주파수들에 대응하여 미리 결정된 통합 위치 파라미터 및 상기 테스트 신호의 주파수에 대응하여 미리 결정된 개별 각도 파라미터를 포함할 수 있다.
상기 구동기의 현재 세팅에서 다중경로 페이딩이 발생할 경우, 상기 컨트롤러는 다중경로 페이딩의 영향이 감소하는 방향으로 상기 구동기를 추가로 제어할 수 있다.
상기 구동기는 상기 컨트롤러로부터 수신된 제어 신호에 기초하여 상기 안테나를 미리 정해진 루트 상에서 이동시키는 이동부를 포함할 수 있다.
상기 이동부는 상기 안테나의 이동에 따라 상기 안테나의 이동에 대응하는 펄스 신호를 출력할 수 있고, 상기 컨트롤러는 상기 펄스 신호의 펄스를 카운트하여 상기 안테나의 위치를 검출할 수 있다.
상기 구동기는 상기 컨트롤러로부터 수신된 제어 신호에 기초하여 상기 안테나를 회전시킴으로써 상기 안테나의 각도를 조절하는 회전부를 포함할 수 있다.
상기 쉴드 박스는 상기 테스트 기기를 지지하는 지지부; 상기 안테나, 상기 구동기 및 상기 지지부를 내부에 포함하는 금속 재질의 박스; 및 상기 구동기의 표면 중에 상기 박스의 내부에 노출된 부분 및 상기 박스의 내부 표면에 결합된 전파 흡수체를 더 포함할 수 있고, 상기 안테나는 상기 박스 내부의 상단 및 하단 중 적어도 한 곳에 설치될 수 있다.
일 측에 따르면, 테스트 시스템의 동작 방법은 안테나의 위치 및 상기 안테나의 각도 중 적어도 하나를 최적화하기 위한 최적화 파라미터를 획득하는 단계; 상기 최적화 파라미터에 기초하여 상기 안테나의 위치 및 상기 안테나의 각도 중 적어도 하나를 조절하는 단계; 및 테스트 기기에 의해 전송된 테스트 신호를 상기 안테나를 통해 수신하는 단계를 포함한다.
아래 실시예들에 따르면, 테스트 기기의 방사 패턴 및 테스트 신호의 주파수에 따라 안테나를 조절할 수 있는 쉴드 박스가 제공될 수 있다. 따라서, 테스트 기기의 방사 패턴 및 테스트 신호에 주파수에 유연하게 최적의 테스트 환경이 제공될 수 있다.
도 1은 일 실시예에 따른 쉴드 박스를 포함하는 테스트 시스템을 나타낸 도면.
도 2는 일 실시예에 따른 쉴드 박스의 구조를 나타낸 도면.
도 3은 일 실시예에 따른 최적화 파라미터를 나타낸 도면.
도 4는 일 실시예에 따른 테스트 신호의 위치에 대한 S 파라미터를 주파수 별로 나타낸 그래프.
도 5는 일 실시예에 따른 테스트 신호의 주파수에 대한 S 파라미터를 각도 별로 나타낸 그래프.
도 6은 일 실시예에 따른 멀티패스 페이딩에 대응한 위치 조절 과정을 나타낸 도면.
도 7은 일 실시예에 따른 컨트롤러, 회전부 및 이동부를 나타낸 블록도.
도 8은 일 실시예에 따른 회전부의 구조를 나타낸 도면.
도 9는 일 실시예에 따른 이동부의 구조를 나타낸 도면.
도 10은 일 실시예에 따른 안테나 배치를 나타낸 도면.
도 11은 일 실시예에 따른 쉴드 박스 및 제어 장치를 나타낸 도면.
도 12는 일 실시예에 따른 테스트 시스템의 동작 방법을 나타낸 도면.
본 명세서에 개시되어 있는 본 발명의 개념에 따른 실시예들에 대해서 특정한 구조적 또는 기능적 설명들은 단지 본 발명의 개념에 따른 실시예들을 설명하기 위한 목적으로 예시된 것으로서, 본 발명의 개념에 따른 실시예들은 다양한 형태로 실시될 수 있으며 본 명세서에 설명된 실시예들에 한정되지 않는다.
본 발명의 개념에 따른 실시예들은 다양한 변경들을 가할 수 있고 여러 가지 형태들을 가질 수 있으므로 실시예들을 도면에 예시하고 본 명세서에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명의 개념에 따른 실시예들을 특정한 개시형태들에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 변경, 균등물, 또는 대체물을 포함한다.
제1 또는 제2 등의 용어를 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만, 예를 들어 본 발명의 개념에 따른 권리 범위로부터 이탈되지 않은 채, 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소는 제1 구성요소로도 명명될 수 있다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 “연결되어” 있다거나 “접속되어” 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 “직접 연결되어” 있다거나 “직접 접속되어” 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. 구성요소들 간의 관계를 설명하는 표현들, 예를 들어 “~사이에”와 “바로~사이에” 또는 “~에 직접 이웃하는” 등도 마찬가지로 해석되어야 한다.
본 명세서에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예들을 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 명세서에서, “포함하다” 또는 “가지다” 등의 용어는 설시된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함으로 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가진다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미를 갖는 것으로 해석되어야 하며, 본 명세서에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
이하, 실시예들을 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 그러나, 특허출원의 범위가 이러한 실시예들에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 각 도면에 제시된 동일한 참조 부호는 동일한 부재를 나타낸다.
도 1은 일 실시예에 따른 쉴드 박스를 포함하는 테스트 시스템을 나타낸 도면이다. 도 1을 참조하면, 테스트 시스템은 쉴드 박스(100) 및 제어 장치(160)를 포함하고, 쉴드 박스(100)는 컨트롤러(110), 구동기(120), 안테나(130) 및 박스(140)를 포함할 수 있다.
박스(140)는 알루미늄과 같음 금속 재질일 수 있다. 박스(140)는 전자파가 차폐된 환경을 제공할 수 있다. 따라서, 쉴드 박스(100)를 통해 박스(140) 외부의 전자파에 의한 영향을 제거하고, 박스(140) 내부에서 발생하는 전자파와 관련된 테스트를 수행할 수 있다. 박스(140)의 내부 표면에는 전자파의 반사를 억제하기 위한 전파 흡수체(미도시)가 결합될 수 있다. 전파 흡수체(미도시)에 의해 전자파의 반사로 인한 다중경로 페이딩(multipath padding)이 억제될 수 있다.
테스트 기기(150)는 안테나(130)로 테스트 신호를 전송할 수 있다. 도 1에서 테스트 기기(150)는 쉴드 박스(100)의 내부에 위치하게 도시되어 있는데, 이는 쉴드 박스(100)와 테스트 기기(150)의 관계를 나타내기 위한 것일 뿐, 테스트 기기(150)는 쉴드 박스(100)의 구성이 아니다. 테스트 기기(150)는 스마트 폰, 스마트 워치, 태블릿 컴퓨터 및 노트북 등의 무선 통신을 지원하는 휴대용 단말일 수 있다. 테스트 기기(150)는 다양한 주파수를 지원할 수 있다. 예를 들어, 테스트 기기(150)는 모바일 환경에서 800MHz, 1.7GHz 및 1.9GHz 등의 주파수를 지원할 수 있고, 무선랜 환경에서 2.4GHz, 5.2GHz 및 5.8GHz 등의 주파수를 지원할 수 있다. 이러한 주파수는 단순한 예시에 해당할 뿐 테스트 기기(150)의 동작 범위를 제한하는 것은 아니다.
테스트 기기(150)가 성능 테스트를 위해 쉴드 박스(100) 내부에서 전송하는 신호는 테스트 신호로 지칭될 수 있다. 예를 들어, 800MHz에서 테스트 기기(150)의 성능을 테스트하고자 하는 경우, 테스트 기기(150)는 800MHz의 테스트 신호를 전송하도록 설정될 수 있고, 이러한 테스트 신호는 안테나(130)를 통해 수신될 수 있다.
무선 기기들은 그 종류나 유형 등에 따라 다양한 방사 패턴을 가질 수 있다. 예를 들어, 무선 기기의 안테나 유형, 안테나의 사이즈 등에 따라 방사 패턴이 달라질 수 있다. 또한, 무선 기기들은 다양한 주파수를 지원할 수 있고, 무선 기기의 종류나 유형 등에 따라 지원되는 주파수가 달라질 수 있다. 무선 기기들 마다 상이한 방사 패턴, 그리고 테스트되는 주파수 마다 상이한 편파(polarization)로 인해 종전 쉴드 박스 내 안테나와 무선 기기 간의 매칭이 이루어지지 않는 경우가 발생할 수 있다.
실시예에 따르면, 구동기(120)는 테스트 기기(150)와 안테나(130)가 매칭될 수 있도록 안테나(130)의 위치 및 안테나(130)의 각도 중 적어도 하나를 조절할 수 있다. 따라서, 테스트 기기(150)의 방사 패턴 및 테스트 신호의 주파수 변화에 따라 안테나(130)를 적응적으로 조절함으로써 테스트 성능을 높이고 테스트 간의 편차를 경감시킬 수 있다.
안테나(130)는 구동기(120)를 통해 조절될 수 있다. 구동기(120)는 이동부(121) 및 회전부(123)를 포함할 수 있다. 이동부(121)는 안테나(130)의 위치를 조절할 수 있고, 회전부(123)는 안테나(130)의 각도를 조절할 수 있다. 예를 들어, 이동부(121)는 안테나(130)를 미리 정해진 루트 상에서 이동시킬 수 있다. 미리 정해진 루트는 일정한 선형 루트일 수 있다. 아래에서는 미리 정해진 루트가 선형 루트인 경우를 예로 설명하겠으나 미리 정해진 루트가 이에 한정되는 것은 아니다.
회전부(123)는 안테나(130)를 회전시킴으로써 안테나(130)의 각도를 조절할 수 있다. 회전부(123)는 안테나(130)와 이동부(121) 사이에 위치할 수 있고, 이동부(121)는 안테나(130)와 회전부(123)가 함께 이동시킬 수 있다. 따라서, 이동부(121) 및 회전부(123)를 제어하여 안테나(130)의 위치 및 안테나(130)의 각도를 적절하게 조절할 수 있다.
컨트롤러(110)는 제어 신호를 통해 구동기(120)를 제어할 수 있다. 컨트롤러(110)의 제어 신호는 제어 장치(160)의 명령 혹은 제어 장치(160)의 제어 신호에 기반하여 생성될 수 있다. 테스트 기기(150)의 방사 패턴 및 테스트 신호의 주파수에 따라 안테나(130)의 최적 위치 및 안테나(130)의 최적 각도가 존재할 수 있다. 예를 들어, 안테나(130)가 특정한 위치 및 특정한 각도를 가질 경우, 테스트 신호의 품질이 최대화될 수 있다. 테스트 신호의 품질은 테스트 신호의 수신률이나 다중경로 페이딩의 유무 등을 통해 결정될 수 있다. 테스트 신호의 수신률은 S 파라미터와 같은 일정한 척도를 통해 측정될 수 있고, 다중경로 페이딩은 수신된 테스트 신호의 주파수 특성 통해 측정될 수 있다.
제어 장치(160)는 안테나(130)의 위치 및 안테나(130)의 각도 중 적어도 하나를 최적화하기 위한 최적화 파라미터를 획득하고, 최적화 파라미터에 기초하여 제어 신호를 생성할 수 있다. 컨트롤러(110)는 제어 장치(160)의 제어 신호에 기초하여 구동기(120)를 제어할 수 있다. 아래에서는 제어 장치(160)가 최적화 파라미터를 획득하기 위한 연산 등을 수행하고, 컨트롤러(110)는 제어 장치(160)의 명령에 따라 동작하는 것을 설명하겠으나, 실시예에 따라서는 제어 장치(160)와 컨트롤러(110)가 반드시 구분되지 않을 수 있고, 예를 들어 컨트롤러(110)가 제어 장치(160)의 동작을 대신 수행할 수도 있다.
일 실시예에 따르면, 제어 장치(160)는 컨트롤러(110)를 통해 구동기(120)를 제어하면서 테스트 신호의 품질을 측정하고, 측정된 품질에 기초하여 최적화 파라미터를 획득할 수 있다. 예를 들어, 제어 장치(160)는 안테나(130)의 각도가 제1 각도로 유지된 채로 선형 루트를 이동하도록 구동기(120)를 제어하면서 테스트 신호의 품질을 측정할 수 있다. 그 이후에, 제어 장치(160)는 안테나(130)의 각도가 제2 각도로 유지된 채로 선형 루트를 이동하도록 구동기(120)를 제어하면서 테스트 신호의 품질을 측정할 수 있다. 이와 같이, 제어 장치(160)는 안테나(130)의 각도를 순차적으로 변경하면서 테스트 신호의 품질을 측정함으로써, 안테나(130)의 모든 위치 및 모든 각도에 관한 테스트 신호의 품질을 측정할 수 있다.
혹은, 제어 장치(160)는 제1 위치에서 안테나(130)의 모든 각도에 대해 테스트 신호의 품질을 측정하고, 그 이후에 제2 위치에서 안테나(130)의 모든 각도에 대해 테스트 신호의 품질을 측정할 수 있다. 이와 같이 제어 장치(160)는 안테나(130)의 위치를 순차적으로 변경하면서 테스트 신호의 품질을 측정함으로써, 안테나(130)의 모든 위치 및 모든 각도에 관한 테스트 신호의 품질을 측정할 수 있다. 제어 장치(160)는 여러 위치 및 각도에서 측정된 테스트 신호의 품질에 기초하여, 테스트 신호의 품질이 가장 높은 안테나(130)의 위치 및 안테나(130)의 각도 중 적어도 하나에 따라 최적화 파라미터를 결정할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 미리 결정된 최적화 테이블이 이용될 수 있다. 최적화 테이블은 테스트 기기(150)에 의해 사용되는 주파수 별로 테스트 신호를 측정하여 결정된 최적화 파라미터들을 포함할 수 있다. 무선 기기들마다 방사 패턴이나 지원 주파수가 다르므로, 최적화 테이블은 테스트에 이용되는 기기 별로 마련될 수 있다. 여기서, 최적화 파라미터들은 전술된 내용에 따라 결정될 수 있다. 제어 장치(160)는 테스트 신호의 주파수를 이용하여 테스트 기기(150)에 관해 미리 결정된 최적화 테이블을 참조함으로써 최적화 파라미터를 획득할 수 있다. 표 1은 최적화 테이블의 예시를 나타낸다. 표 1에서 L은 선형 루트 상에서 안테나의 1차원 위치(linear position)를 나타내고, R은 안테나의 회전 각도를 나타낸다.
주파수 L R
모바일 환경 800MHz lm1 rm1
1.7GHz lm2 rm2
1.9GHz lm3 rm3
무선랜 환경 2.4GHz lw1 rw1
5.2GHz lw2 rw2
5.8GHz lw3 rw3
예를 들어, 현재 800MHz의 테스트 신호에 관한 테스트가 진행되는 경우, 제어 장치(160)는 800MHz의 주파수를 가지고 표 1의 최적화 테이블에 접근하여 최적화 파라미터 L=lm1, R=rm1을 획득할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 최적화 파라미터는 주파수 그룹 별로 결정될 수 있다. 예를 들어, 테스트 기기(150)는 모바일 환경에서 800MHz, 1.7GHz 및 1.9GHz 등의 주파수를 지원할 수 있고, 무선랜 환경에서 2.4GHz, 5.2GHz 및 5.8GHz 등의 주파수를 지원할 수 있다. 이에 따라, 테스트 기기(150)는 제1 환경(예를 들어, 모바일 환경)에서 제1 그룹의 주파수들(예를 들어, 800MHz, 1.7GHz, 1.9GHz)을 사용하는 것으로 이해될 수 있고, 제2 환경(예를 들어, 무선랜 환경)에서 제2 그룹의 주파수들(예를 들어, 2.4GHz, 5.2GHz, 5.8GHz)을 사용하는 것으로 이해될 수 있다.
만약 제1 환경에서 제1 그룹의 주파수들에 관해 테스트가 진행되고, 개별 주파수들에 관해 최적화 파라미터가 설정되어 있다면, 각 주파수 별로 안테나(130)의 위치 이동이 요구된다. 이 경우, 위치 이동에 따른 테스트 시간이 증가할 수 있다. 제어 장치(160)는 테스트 시간을 감소시키기 위해 주파수 그룹 별로 최적화된 고정 위치를 이용하되 각도만 변경하여 안테나(130)를 최적화시킬 수 있다.
특정 그룹의 주파수들을 위해 최적화된 단일 위치는 통합 위치 파라미터에 의해 특정될 수 있고, 특정 그룹의 각 주파수를 위해 최적화된 각도들은 개별 각도 파라미터에 의해 특정될 수 있다. 제어 장치(160)는 주파수 그룹 별로 통합 위치 파라미터들을 미리 결정할 수 있고, 각 주파수 그룹의 주파수들 별로 개별 각도 파라미터들을 미리 결정할 수 있다. 통합 위치 파라미터 및 개별 각도 파라미터는 최적화 파라미터에 포함될 수 있다.
도 1에는 컨트롤러(110)가 박스(140)의 내부에 도시되어 있으나, 컨트롤러(110)는 박스(140)의 내부 및 박스(140)의 외부 중 어느 한 곳에 위치할 수 있다. 실시예에 따라, 전술된 제어 장치(160)의 동작 중 적어도 일부는 컨트롤러(110)에 의해 수행될 수 있다. 제어 장치(160)는 컴퓨팅 장치 및 네트워크 분석기 등을 포함할 수 있다. 예를 들어, 컴퓨팅 장치는 전술된 제어 신호를 생성하여 컨트롤러(110)로 전달하거나, 최적화 파라미터와 관련된 동작을 위한 신호를 컨트롤러(110)에 전달할 수 있다. 네트워크 분석기는 오실레이터 등을 포함할 수 있다. 네트워크 분석기는 안테나(130)에 의해 수신된 신호를 안테나(130)로부터 전달 받거나, 컨트롤러(110)를 통해 전달받을 수 있다. 컴퓨팅 장치는 네트워크 분석기를 통해 테스트 신호의 특성을 파악하고, 테스트 신호의 품질을 측정할 수 있다.
도 2는 일 실시예에 따른 쉴드 박스의 구조를 나타낸 도면이다. 도 2를 참조하면, 쉴드 박스(200)는 박스(210), 전파 흡수체(220), 전파 흡수체(230), 안테나(240) 및 테스트 기기(250)를 포함한다. 박스(210)는 알루미늄과 같음 금속 재질일 수 있다. 박스(210) 내부에서 발생할 수 있는 전자파의 반사를 억제하기 위해, 박스(210)의 내부 표면에는 전파 흡수체(220)가 결합될 수 있고, 구동기의 표면 중에 박스(210)의 내부에 노출된 부분에는 전파 흡수체(230)가 결합될 수 있다. 안테나(240)는 박스(210) 내부의 상단 및 하단 중 적어도 하나에 설치될 수 있다. 테스트 기기(250)는 지지부를 통해 지지될 수 있고, 안테나(240)와 적정 거리를 두고 박스(210)의 중심 부근에 위치할 수 있다.
도 3은 일 실시예에 따른 최적화 파라미터를 나타낸 도면이다. 도 3(a)는 모바일 환경에 관한 최적화 파라미터들을 나타내고, 도 3(b)는 무선랜 환경에 관한 최적화 파라미터들을 나타낸다. 각 화살표는 안테나의 위치와 각도를 도식적으로 표현한다. L은 선형 루트 상에서 안테나의 1차원 위치(linear position)를 나타내고, R은 안테나의 회전 각도를 나타낸다. 선형 위치는 0mm 내지 150mm의 범위를 가질 수 있고, 회전 각도는 0도 내지 180도의 범위를 가질 수 있다.
제어 장치는 구동기를 통해 안테나의 위치와 각도를 제어하여 최적화 파라미터를 획득할 수 있다. 예를 들어, 모바일 환경에서, 800MHz의 주파수에 관한 최적화 파라미터는 L=40, R=70이고, 1.7GHz의 주파수에 관한 최적화 파라미터는 L=140, R=170이고, 1.9GHz의 주파수에 관한 최적화 파라미터는 L=150, R=0이다. 또한, 무선랜 환경에서 2.4GHz의 주파수에 관한 최적화 파라미터는 L=80, R=20이고, 5.2GHz의 주파수에 관한 최적화 파라미터는 L=80, R=20이고, 5.8GHz의 주파수에 관한 최적화 파라미터는 L=140, R=70이다. 전술된 것처럼, 제어 장치는 테스트 시마다 최적화 파라미터를 획득하여 테스트를 진행하거나, 테스트 전에 최적화 파라미터를 산출하여 최적화 테이블을 구성하고 최적화 테이블을 통해 테스트를 진행할 수 있다.
도 4는 일 실시예에 따른 테스트 신호의 위치에 대한 S 파라미터를 주파수 별로 나타낸 그래프이고, 도 5는 일 실시예에 따른 테스트 신호의 주파수에 대한 S 파라미터를 각도 별로 나타낸 그래프이다. 도 4 및 도 5를 통해 주파수 그룹에 관한 최적화 파라미터를 설명한다.
전술된 것처럼, 안테나의 이동에 따른 시간을 감축하기 위해 통합 위치 파라미터 및 개별 각도 파라미터가 이용될 수 있다. 예를 들어, 도 4에는 무선랜 환경에서 이용되는 주파수 그룹의 주파수들(2400M, 2500M, 5800M)에 관한 그래프가 도시되어 있다. 제어 장치는 각 주파수에 관해 S 파라미터의 최대 값에 대응하는 최적 위치를 결정하고, 최적 위치에서의 S 파라미터와 차이가 최소가 되는 단일 위치를 통합 최적 위치로 결정할 수 있다. 예를 들어, 표 2는 최적 위치에서의 S 파라미터, 통합 최적 위치(L=100)에서의 S 파라미터 및 최적 위치에서의 S 파라미터와 통합 최적 위치에서의 S 파라미터 사이의 차이를 나타낸다.
최적 위치 통합 최적 위치 차이
2400M -27.185 -27.737 -0.552
5200M -29.011 -30.601 -1.59
5800M -28.505 -29.168 -0.663
제n 주파수에서 최적 위치의 S 파라미터가 Sn이고, 통합 최적 위치의 S 파라미터가 SSn이라고 가정할 수 있다. 이 경우, 통합 최적 위치는 Σ(SSn-Sn)이 최소가 되는 지점으로 결정될 수 있다. 예를 들어, 주파수가 3개인 경우, (SS1-S1) + (SS2-S2) + (SS3-S3)이 최소가 되는 지점이 통합 최적 위치로 결정될 수 있다. 통합 위치 파라미터는 통합 최적 위치에 대응하도록 결정될 수 있다.
통합 최적 위치가 결정되면, 통합 최적 위치에서의 최적 각도가 결정될 수 있다. 앞선 예시에서, 제어 장치는 2400M, 5200M 및 5800M의 주파수 각각에 관해, 안테나의 위치를 L=100으로 고정하고, 안테나의 각도를 0도 내지 180도로 조절하면서 최적 각도를 획득할 수 있다. 예를 들어, 도 5에서 1750MHz에서 R=80인 경우에 비해 R=160인 경우에 S 파라미터가 높게 측정된다. 이와 같이, 제어 장치는 안테나의 위치를 통합 최적 위치로 고정한 상태에서 모든 회전 각도에 관해 S 파라미터를 측정하면서 최적 각도를 획득할 수 있다. 개별 각도 파라미터는 최적 각도에 대응하도록 결정될 수 있다.
도 6은 일 실시예에 따른 멀티패스 페이딩에 대응한 위치 조절 과정을 나타낸 도면이다. 도 6을 참조하면, 테스트 기기(610)에서 출력된 신호는 안테나로 직접 전송되는 직접 신호이거나, 반사 표면에 반사되어 전달되는 간접 신호일 수 있다. 컨트롤러는 구동기의 현재 세팅에서 다중경로 페이딩이 발생할 경우, 제어 장치의 명령에 기초하여 다중경로 페이딩의 영향이 감소하는 방향으로 안테나의 위치 및 안테나의 각도 중 적어도 하나를 추가로 제어할 수 있다. 예를 들어, 컨트롤러는 안테나를 위치(620)에서 위치(625)로 조절할 수 있다. 다중경로 페이딩은 수신된 테스트 신호의 주파수 특성 통해 측정될 수 있다.
도 7은 일 실시예에 따른 컨트롤러, 회전부 및 이동부를 나타낸 블록도이다. 도 7을 참조하면, 컨트롤러(700)는 프로세서(701), 드라이버(703) 및 인코더 카운터(705)를 포함한다. 회전부(710)는 모터(711), 인코더(713) 및 드라이버(715)를 포함하고, 이동부(720)는 모터(721) 및 인코더(723)를 포함한다.
프로세서(701)는 MCU(micro controller unit)일 수 있다. 프로세서(701)는 드라이버(703)를 통해 모터(721)로 제어 신호를 전달할 수 있다. 여기서, 제어 신호는 이동 방향 및 이동 속도에 관한 정보를 포함할 수 있다. 모터(721)가 제어 신호에 대응하는 이동 방향 및 이동 속도로 회전함에 따라, 안테나가 이동될 수 있다. 인코더(723)는 안테나의 이동에 대응하는 펄스 신호를 출력할 수 있다. 인코더 카운터(705)는 인코더(723)에 의해 출력된 펄스 신호의 펄스를 카운트할 수 있고, 프로세서(701)는 카운트 값에 기초하여 안테나의 위치를 검출할 수 있다. 프로세서(701)는 드라이버(715)를 통해 모터(711)로 제어 신호를 전달할 수 있고, 모터(711)는 제어 신호에 따라 안테나를 회전시킬 수 있다. 인코더(713)는 안테나의 회전에 관한 정보를 프로세서(701) 측으로 전달할 수 있다. 상술된 것처럼, 컨트롤러(700)는 제어 장치(750)와 연결될 수 있다. 컨트롤러(700)는 제어 장치(750)와 구동기의 제어에 관한 정보나 안테나에 의해 수신된 신호에 관한 정보를 교환할 수 있다.
도 8은 일 실시예에 따른 회전부의 구조를 나타낸 도면이고, 도 9는 일 실시예에 따른 이동부의 구조를 나타낸 도면이다.
도 8(a)는 회전부의 평면도를 나타내고, 도 8(b)는 회전부의 측면도를 나타낸다. 회전부는 체결부(810)를 통해 안테나와 체결될 수 있고, 모터를 통해 체결부(810)를 회전시킬 수 있다. 또한, 회전부는 지지부(820)를 통해 이동부에 지지될 수 있다.
도 9(a)는 이동부의 측면도를 나타내고, 도 9(b)는 이동부의 평면도를 나타낸다. 이동부는 체결부(910)를 통해 회전부와 체결될 수 있고, 선형 루트(920)를 통해 안테나를 이동시킬 수 있다. 이동부의 상면은 차폐 박스의 내부에 노출될 수 있으므로, 이동부로 인한 전자파의 반사를 억제할 필요가 있다. 따라서, 이동부의 상면에는 전파 흡수체(950)가 결합될 수 있다.
도 10은 일 실시예에 따른 안테나 배치를 나타낸 도면이다. 안테나 및 구동기는 박스 내 적어도 일부 위치에 설치될 수 있다. 구동기는 이동부 및 회전부 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 도 10(a)는 세 쌍의 안테나들과 구동기들이 박스 하단에 설치된 예시를 나타낸다. 이 경우, 구동기는 회전부만을 포함할 수 있다. 도 10(b)는 두 쌍의 안테나들과 구동기들이 박스 상단 및 박스 하단에 설치된 예시를 나타내고, 도 10(c)는 한 쌍의 안테나와 구동기가 박스 하단에 설치된 예시를 나타낸다. 이 경우, 구동기는 이동부와 회전부를 모두 포함할 수 있다. 도 10의 예시들은 안테나 배치의 예시를 나타낼 뿐이며, 안테나들은 도 10의 예시 이외에도 다양한 방식으로 배치될 수 있다.
도 11은 일 실시예에 따른 쉴드 박스 및 제어 장치를 나타낸 도면이다. 도 11을 참조하면, 쉴드 박스(1110)는 컴퓨팅 장치(1120)와 제1 제어 신호 및 제2 제어 신호를 교환한다. 컴퓨팅 장치(1120)와 네트워크 분석기(1130)는 전술된 제어 장치에 대응할 수 있다. 쉴드 박스(1110)의 컨트롤러는 구동기를 제어하기 위한 신호들을 직접 생성하거나 혹은 제어 장치의 지원 하에 생성할 수 있다. 제1 제어 신호는 구동기의 제어에 관한 정보를 포함할 수 있고, 제2 제어 신호는 테스트 기기의 제어에 관한 정보를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 제어 신호는 이동부의 이동에 관한 명령이나 회전부의 회전에 관한 명령을 포함할 수 있고, 제2 제어 신호는 테스트 기기의 주파수 변경에 관한 명령이나 테스트 신호 전송에 관한 명령을 포함할 수 있다.
도 11의 안테나 신호는 쉴드 박스(1110) 내 안테나에서 수신된 신호를 나타낸다. 실시예에 따라 안테나 신호는 쉴드 박스(1110)의 컨트롤러를 통해 네트워크 분석기(1130)로 전달되거나, 쉴드 박스(1110) 내 안테나에서 네트워크 분석기(1130)로 직접 전달될 수 있다. 컴퓨팅 장치(1120)와 네트워크 분석기(1130)는 필요한 데이터를 교환할 수 있다. 예를 들어, 네트워크 분석기(1130)는 컴퓨팅 장치(1120)로 안테나 신호에 관한 정보를 전송할 수 있고, 컴퓨팅 장치(1120)는 안테나 신호에 관한 정보에 기초하여 테스트 신호의 품질을 판단하거나, 다중경로 페이딩의 유무를 판단할 수 있다.
도 12는 일 실시예에 따른 테스트 시스템의 동작 방법을 나타낸 도면이다. 도 12를 참조하면, 단계(1210)에서 테스트 시스템은 안테나의 위치 및 안테나의 각도 중 적어도 하나를 최적화하기 위한 최적화 파라미터를 획득한다. 단계(1220)에서 테스트 시스템은 최적화 파라미터에 기초하여 안테나의 위치 및 안테나의 각도 중 적어도 하나를 조절한다. 단계(1230)에서 테스트 시스템은 테스트 기기에 의해 전송된 테스트 신호를 안테나를 통해 수신한다. 그 밖에, 테스트 시스템의 동작에 관해서는 전술된 내용이 적용될 수 있으며, 보다 상세한 설명은 생략한다.
이상에서 설명된 장치는 하드웨어 구성요소, 소프트웨어 구성요소, 및/또는 하드웨어 구성요소 및 소프트웨어 구성요소의 조합으로 구현될 수 있다. 예를 들어, 실시예들에서 설명된 장치 및 구성요소는, 예를 들어, 프로세서, 콘트롤러, ALU(Arithmetic Logic Unit), 디지털 신호 프로세서(digital signal processor), 마이크로컴퓨터, FPGA(Field Programmable Gate Array), PLU(Programmable Logic Unit), 마이크로프로세서, 또는 명령(instruction)을 실행하고 응답할 수 있는 다른 어떠한 장치와 같이, 하나 이상의 범용 컴퓨터 또는 특수 목적 컴퓨터를 이용하여 구현될 수 있다. 처리 장치는 운영 체제(OS) 및 상기 운영 체제 상에서 수행되는 하나 이상의 소프트웨어 애플리케이션을 수행할 수 있다. 또한, 처리 장치는 소프트웨어의 실행에 응답하여, 데이터를 접근, 저장, 조작, 처리 및 생성할 수도 있다. 이해의 편의를 위하여, 처리 장치는 하나가 사용되는 것으로 설명된 경우도 있지만, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는, 처리 장치가 복수 개의 처리 요소(processing element) 및/또는 복수 유형의 처리 요소를 포함할 수 있음을 알 수 있다. 예를 들어, 처리 장치는 복수 개의 프로세서 또는 하나의 프로세서 및 하나의 콘트롤러를 포함할 수 있다. 또한, 병렬 프로세서(parallel processor)와 같은, 다른 처리 구성(processing configuration)도 가능하다.
소프트웨어는 컴퓨터 프로그램(computer program), 코드(code), 명령(instruction), 또는 이들 중 하나 이상의 조합을 포함할 수 있으며, 원하는 대로 동작하도록 처리 장치를 구성하거나 독립적으로 또는 결합적으로(collectively) 처리 장치를 명령할 수 있다. 소프트웨어 및/또는 데이터는, 처리 장치에 의하여 해석되거나 처리 장치에 명령 또는 데이터를 제공하기 위하여, 어떤 유형의 기계, 구성요소(component), 물리적 장치, 가상 장치(virtual equipment), 컴퓨터 저장 매체 또는 장치, 또는 전송되는 신호 파(signal wave)에 영구적으로, 또는 일시적으로 구체화(embody)될 수 있다. 소프트웨어는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템 상에 분산되어서, 분산된 방법으로 저장되거나 실행될 수도 있다. 소프트웨어 및 데이터는 하나 이상의 컴퓨터 판독 가능 기록 매체에 저장될 수 있다.
실시예에 따른 방법은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체에 기록되는 프로그램 명령은 실시예를 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 실시예의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.
이상과 같이 실시예들이 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기의 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 예를 들어, 설명된 기술들이 설명된 방법과 다른 순서로 수행되거나, 및/또는 설명된 시스템, 구조, 장치, 회로 등의 구성요소들이 설명된 방법과 다른 형태로 결합 또는 조합되거나, 다른 구성요소 또는 균등물에 의하여 대치되거나 치환되더라도 적절한 결과가 달성될 수 있다.
그러므로, 다른 구현들, 다른 실시예들 및 특허청구범위와 균등한 것들도 후술하는 특허청구범위의 범위에 속한다.

Claims (14)

  1. 테스트 기기로부터 테스트 신호를 수신하는 안테나, 상기 안테나의 위치 및 상기 안테나의 각도 중 적어도 하나를 조절하는 구동기, 및 상기 안테나의 위치 및 상기 안테나의 각도 중 적어도 하나를 최적화하기 위한 최적화 파라미터에 기초한 제어 신호에 응답하여 상기 구동기를 제어하는 컨트롤러를 포함하는 쉴드 박스; 및
    상기 최적화 파라미터를 획득하고, 상기 최적화 파라미터에 기초하여 상기 제어 신호를 생성하는 제어 장치
    를 포함하는 테스트 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제어 장치는
    상기 구동기를 제어하면서 상기 테스트 신호의 품질을 측정하고, 상기 측정된 품질에 기초하여 상기 최적화 파라미터를 획득하는, 테스트 시스템.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 제어 장치는 상기 테스트 신호의 주파수를 이용하여 상기 테스트 기기에 관해 미리 결정된 최적화 테이블을 참조함으로써 상기 최적화 파라미터를 획득하고,
    상기 최적화 테이블은 상기 테스트 기기에 의해 사용되는 주파수 별로 상기 테스트 기기의 테스트 신호를 측정하여 결정된 최적화 파라미터들을 포함하는, 테스트 시스템.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 테스트 기기가 제1 환경에서 제1 그룹의 주파수들을 사용하고, 상기 테스트 신호의 주파수가 상기 제1 그룹의 주파수들에 포함되는 경우, 상기 최적화 파라미터는 상기 제1 그룹의 주파수들에 대응하여 미리 결정된 통합 위치 파라미터 및 상기 테스트 신호의 주파수에 대응하여 미리 결정된 개별 각도 파라미터를 포함하는, 테스트 시스템.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 구동기의 현재 세팅에서 다중경로 페이딩이 발생할 경우, 상기 컨트롤러는 다중경로 페이딩의 영향이 감소하는 방향으로 상기 구동기를 추가로 제어하는, 테스트 시스템.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 구동기는
    상기 컨트롤러로부터 수신된 제어 신호에 기초하여 상기 안테나를 미리 정해진 루트 상에서 이동시키는 이동부를 포함하는, 테스트 시스템.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 이동부는 상기 안테나의 이동에 따라 상기 안테나의 이동에 대응하는 펄스 신호를 출력하고,
    상기 제어 장치는 상기 펄스 신호의 펄스를 카운트하여 상기 안테나의 위치를 검출하는, 테스트 시스템.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 구동기는
    상기 컨트롤러로부터 수신된 제어 신호에 기초하여 상기 안테나를 회전시킴으로써 상기 안테나의 각도를 조절하는 회전부를 포함하는, 테스트 시스템.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 쉴드 박스는
    상기 테스트 기기를 지지하는 지지부;
    상기 안테나, 상기 구동기 및 상기 지지부를 내부에 포함하는 금속 재질의 박스; 및
    상기 구동기의 표면 중에 상기 박스의 내부에 노출된 부분 및 상기 박스의 내부 표면에 결합된 전파 흡수체
    를 더 포함하고,
    상기 안테나는 상기 박스 내부의 상단 및 하단 중 적어도 한 곳에 설치되는, 테스트 시스템.
  10. 안테나의 위치 및 상기 안테나의 각도 중 적어도 하나를 최적화하기 위한 최적화 파라미터를 획득하는 단계;
    상기 최적화 파라미터에 기초하여 상기 안테나의 위치 및 상기 안테나의 각도 중 적어도 하나를 조절하는 단계; 및
    테스트 기기에 의해 전송된 테스트 신호를 상기 안테나를 통해 수신하는 단계
    를 포함하는 테스트 시스템의 동작 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 최적화 파라미터를 획득하는 단계는
    상기 안테나의 위치 및 상기 안테나의 각도 중 적어도 하나를 조절하는 구동기를 제어하면서 상기 테스트 신호의 품질을 측정하는 단계; 및
    상기 측정된 품질에 기초하여 상기 최적화 파라미터를 획득하는 단계
    를 포함하는, 테스트 시스템의 동작 방법.
  12. 제10항에 있어서,
    상기 최적화 파라미터를 획득하는 단계는 상기 테스트 신호의 주파수를 이용하여 상기 테스트 기기에 관해 미리 결정된 최적화 테이블을 참조함으로써 상기 최적화 파라미터를 획득하는 단계를 포함하고,
    상기 최적화 테이블은 상기 테스트 기기에 의해 사용되는 주파수 별로 상기 테스트 기기의 테스트 신호를 측정하여 결정된 최적화 파라미터들을 포함하는, 테스트 시스템의 동작 방법.
  13. 제10항에 있어서,
    상기 테스트 기기가 제1 환경에서 제1 그룹의 주파수들을 사용하고, 상기 테스트 신호의 주파수가 상기 제1 그룹의 주파수들에 포함되는 경우, 상기 최적화 파라미터는 상기 제1 그룹의 주파수들에 대응하여 미리 결정된 통합 위치 파라미터 및 상기 테스트 신호의 주파수에 대응하여 미리 결정된 개별 각도 파라미터를 포함하는, 테스트 시스템의 동작 방법.
  14. 제10항에 있어서,
    상기 안테나의 위치 및 상기 안테나의 각도 중 적어도 하나를 조절하는 단계는
    상기 안테나의 위치 및 상기 안테나의 각도 중 적어도 하나를 조절하는 구동기의 현재 세팅에서 다중경로 페이딩이 발생할 경우, 다중경로 페이딩의 영향이 감소하는 방향으로 상기 안테나의 위치 및 상기 안테나의 각도 중 적어도 하나를 추가로 제어하는 단계를 포함하는, 테스트 시스템의 동작 방법.
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CN108712753A (zh) * 2018-05-15 2018-10-26 四川斐讯信息技术有限公司 一种天线可调的路由器测试管理方法及系统
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CN114221715A (zh) * 2021-12-09 2022-03-22 深圳市通用测试系统有限公司 一种测试系统和测试方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102512781B1 (ko) 2020-06-30 2023-03-22 주식회사 아모센스 안테나 성능시험 시스템
KR102682724B1 (ko) 2021-07-27 2024-07-08 주식회사 아모센스 Ｕｗｂ 안테나 및 ｂｌｅ 안테나 성능 시험 시스템

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001324524A (ja) * 2000-05-12 2001-11-22 Nec Corp 不要輻射の自動測定方法および装置
JP2007271317A (ja) * 2006-03-30 2007-10-18 Murata Mfg Co Ltd Ｅｍｉ測定装置及びｅｍｉ測定方法
JP2009025059A (ja) * 2007-07-18 2009-02-05 Fujitsu Ltd Ｅｍｉ測定システム及びｅｍｉ測定方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001324524A (ja) * 2000-05-12 2001-11-22 Nec Corp 不要輻射の自動測定方法および装置
JP2007271317A (ja) * 2006-03-30 2007-10-18 Murata Mfg Co Ltd Ｅｍｉ測定装置及びｅｍｉ測定方法
JP2009025059A (ja) * 2007-07-18 2009-02-05 Fujitsu Ltd Ｅｍｉ測定システム及びｅｍｉ測定方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108712753A (zh) * 2018-05-15 2018-10-26 四川斐讯信息技术有限公司 一种天线可调的路由器测试管理方法及系统
CN110470910A (zh) * 2019-08-13 2019-11-19 东莞华贝电子科技有限公司 自动屏蔽箱、耦合自动测试系统及其测试方法
CN114221715A (zh) * 2021-12-09 2022-03-22 深圳市通用测试系统有限公司 一种测试系统和测试方法
CN114221715B (zh) * 2021-12-09 2023-09-12 深圳市通用测试系统有限公司 一种测试系统和测试方法

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