KR20170143358A - 스폿 용접기의 전극팁 검사 방법 및 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 스폿 용접기의 전극팁 검사 방법 및 장치에 관한 것으로, 본 발명의 일 실시예에 따른 방법은 스폿 용접을 수행하기 위한 전극팁의 단면을 촬영하는 단계, 촬영된 전극팁 단면 영상에서 에지를 기준으로 구해지는 측정 가이드 선에 대응하는 전극팁 선단면 영역을 구하는 단계, 전극팁 선단면 영역의 중심을 기준으로 전극팁 선단면 영역을 복수 개로 분할하는 단계, 분할된 전극팁 선단면 영역에서 미리 설정된 크기를 가지는 중심 영역을 구하는 단계, 복수의 중심 영역에 대해서 RGB 각각의 평균값을 구하는 단계, 그리고 구해진 RGB 각각의 평균값을 기초로 전극팁의 상태를 판정하는 단계를 포함한다. 본 발명에 의하면, 전극팁 단면 영상을 분석하여 구해지는 전극팁의 선단면 영역에 대한 RGB 각각의 평균값을 이용하여 전극팁의 상태를 보다 정확하게 판정할 수 있다.

Description

스폿 용접기의 전극팁 검사 방법 및 장치{Electrode Tip Inspection Method and Apparatus for Spot Welding Machine}
본 발명은 스폿 용접기의 전극팁 검사 방법 및 장치에 관한 것으로, 보다 자세하게는 스폿 용접기에 구비된 전극팁의 연마 상태를 판정할 수 있는 스폿 용접기의 전극팁 검사 방법 및 장치에 관한 것이다.
최근 산업 현장에서는 다양한 종류의 산업용 로봇이 사용되고 있으며, 이 중에는 철판 등의 각종 재료를 용접하는 용접용 로봇도 있다. 이러한 용접용 로봇은 차체 생산 라인 등과 같이 도어를 제작하거나 각종 패널을 용접하는 라인에서 스폿 용접 등을 수행할 수 있다.
스폿 용접은 한 쌍으로 이루어진 전극팁 사이에 금속 패널을 위치시킨 후 전류를 통전시켜 저항에 의한 주울(Joule) 열을 이용하여 접합하는 방식으로, 저항점 용접이라고도 한다. 이러한 전극팁은 보통 끝이 둥근 형태로 구성되어 2장 혹은 그 이상의 패널을 서로 겹쳐서 용접하게 되는데, 금속 성분을 함유하고 있기 때문에 용접의 횟수에 따라 선단면이 마모되거나 산화막에 의한 오염물이 부착되어 용접의 품질을 저하시킬 수 있다. 이에 따라, 오염된 전극팁은 팁 드레싱 장치를 이용하여 적절하게 연마하여 사용하여야 한다.
이와 같이, 전극팁의 연마 상태가 용접의 품질을 결정하는 중요한 요소가 되므로 종래에는 전극팁의 연마 상태를 판단하기 위하여 광 센서를 이용하여 반사광을 측정하는 방식을 사용하였다.
하지만, 광 센서를 이용하여 전극팁의 연마 상태를 판단하는 방식은 전극팁의 선단면 전체를 검사하는 것이 아니라 한 점만을 측정하여 검사하기 때문에 오류가 발생할 빈도 수가 높은 문제점이 있었다.
그리고 광 센서에 이물질이 많이 부착되어 오동작이 자주 발생할 수 있는 문제점이 있었다.
이와 더불어, 퍼스널 컴퓨터(Personal Computer)를 기반으로 하여 전극팁의 연마 상태를 판단하기 때문에 열악한 스폿 용접 환경에 적용하기 어려운 문제점이 있었다.
한국공개특허 제2012-0096391호 (공개일 2012. 08. 30.)
따라서 본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 전극팁 단면 영상을 분석하여 구해지는 전극팁의 선단면 영역에 대한 RGB 평균값을 이용하여 전극팁의 상태를 보다 정확하게 판정할 수 있는 스폿 용접기의 전극팁 검사 방법 및 장치를 제공하는 것이다.
또한, 본 발명은 명시적으로 언급된 목적 이외에도, 후술하는 본 발명의 구성으로부터 달성될 수 있는 다른 목적도 포함한다.
상기한 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 스폿 용접기의 전극팁 검사 방법은 스폿 용접을 수행하기 위한 전극팁의 단면을 촬영하는 단계, 상기 촬영된 전극팁 단면 영상에서 에지를 기준으로 구해지는 측정 가이드 선에 대응하는 전극팁 선단면 영역을 구하는 단계, 상기 전극팁 선단면 영역의 중심을 기준으로 상기 전극팁 선단면 영역을 복수 개로 분할하는 단계, 상기 분할된 전극팁 선단면 영역에서 미리 설정된 크기를 가지는 중심 영역을 구하는 단계, 상기 복수의 중심 영역에 대해서 RGB 각각의 평균값을 구하는 단계, 그리고 상기 구해진 RGB 각각의 평균값을 기초로 전극팁의 상태를 판정하는 단계를 포함한다.
상기 분할된 영역에서 미리 설정된 크기를 가지는 중심 영역을 구하는 단계는 상기 전극팁 선단면 영역의 중심을 기준으로 생성되는 분할 가이드 선에 대응하는 삼각 영역에서 중심으로 상기 미리 설정된 크기를 가지는 원 형태의 중심 영역을 구할 수 있다.
상기 분할되는 전극팁 선단면 영역의 수는 상기 전극팁 선단면 영역의 크기에 비례할 수 있다.
한편, 본 발명의 실시예에 따른 스폿 용접기의 전극팁 검사 장치는 스폿 용접을 수행하기 위한 전극팁의 단면을 촬영하는 촬영부, 그리고 상기 촬영된 전극팁 단면 영상에서 에지를 기준으로 구해지는 측정 가이드 선에 대응하는 전극팁 선단면 영역을 구하는 제1 연산부, 상기 전극팁 선단면 영역의 중심을 기준으로 상기 전극팁 선단면 영역을 복수 개로 분할하는 분할부, 상기 분할된 전극팁 선단면 영역에서 미리 설정된 크기를 가지는 중심 영역을 구하는 제2 연산부, 상기 복수의 중심 영역에 대해서 RGB 각각의 평균값을 구하는 제3 연산부, 그리고 상기 구해진 RGB 각각의 평균값을 기초로 전극팁의 상태를 판정하는 판정부를 구비하는 제어부를 포함한다.
상기 제2 연산부는 상기 전극팁 선단면 영역의 중심을 기준으로 생성되는 분할 가이드 선에 대응하는 삼각 영역에서 상기 미리 설정된 크기를 가지는 원 형태의 중심 영역을 구할 수 있다.
상기 분할되는 전극팁 선단면 영역의 수는 상기 전극팁 선단면 영역의 크기에 비례할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 컴퓨터로 읽을 수 있는 매체는 상기한 방법 중 어느 하나를 컴퓨터에 실행시키기 위한 프로그램을 기록한다.
이와 같이 본 발명의 실시예에 따른 스폿 용접기의 전극팁 검사 방법 및 장치에 따르면, 전극팁 단면 영상을 분석하여 구해지는 전극팁의 선단면 영역에 대한 RGB 각각의 평균값을 이용하여 전극팁의 상태를 보다 정확하게 판정할 수 있는 장점이 있다.
그리고 스폿 용접기에 장착된 전극팁의 상태를 실시간으로 검사하며 전극팁의 상태가 불량인 경우를 보다 효과적으로 검출하여 제품의 신뢰성과 생산성을 크게 향상시킬 수 있다.
이와 더불어, 전극팁 단면 영상의 분석 방식은 퍼스널 컴퓨터보다 느린 CPU를 가지고 있는 임베디드 시스템으로 구현되더라도 빠른 연산 결과를 도출할 수 있다.
한편, 본 발명의 효과는 상술된 것에 국한되지 않고 후술하는 본 발명의 구성으로부터 도출될 수 있는 다른 효과도 본 발명의 효과에 포함된다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 스폿 용접기의 전극팁 검사 장치의 구성도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전극팁 선단면 영역을 보여주는 예이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 분할 가이드 선을 보여주는 예이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 중심 영역을 보여주는 예이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 스폿 용접기의 전극팁 검사 과정을 보여주는 동작 흐름도이다.
그러면 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 스폿 용접기의 전극팁 검사 장치의 구성도를 나타낸다.
도 1에 도시한 바와 같이, 스폿 용접기의 전극팁 검사 장치(1)는 촬영부(100) 및 제어부(200)를 포함하여 구성된다.
스폿 용접기의 전극팁 검사 장치(1)는 차체 생산 라인 등에서 스폿 용접기에 의해 패널을 용접할 시 사용하는 한 쌍의 전극팁의 상태를 검사하기 위한 장치로 이루어질 수 있다. 스폿 용접기를 이루고 있는 장치적인 구성은 이미 활용되고 있는 주지의 기술이므로 구체적인 설명은 생략하기로 한다.
촬영부(100)는 스폿 용접을 수행하기 위한 전극팁의 단면을 촬영할 수 있다. 촬영부(100)는 전극팁의 단면을 정면에서 촬영할 수 있도록 스폿 용접기의 본체에 설치될 수 있으며, CCD(Charge Coupled Device) 카메라 또는 CMOS(Complementary Metal-Oxide Semiconductor) 컬러 이미지 센서 등으로 이루어질 수 있다.
그리고 촬영부(100)에서 보다 선명한 영상을 촬영할 수 있도록 촬영부(100)의 주변에는 LED 빛을 발광하는 광원부(미도시)가 더 설치될 수 있음은 물론이다.
제어부(200)는 촬영부(100)에서 촬영된 전극팁 단면 영상을 분석하여 전극팁의 상태를 판정할 수 있다. 제어부(200)는 촬영부(100)와 연결되어 촬영부(100)에서 전달 받은 전극팁 단면 영상을 기초로 전극팁의 연마 상태를 검사하고, 검사 결과에 기초하여 스폿 용접기 또는 차체 생산 라인 등을 제어할 수 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전극팁 선단면 영역을 보여주는 예, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 분할 가이드 선을 보여주는 예 및 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 중심 영역을 보여주는 예를 나타낸다.
보다 자세하게는, 제어부(200)는 제1 연산부(210), 분할부(220), 제2 연산부(230), 제3 연산부(240) 및 판정부(250)를 포함할 수 있다.
도 2를 참조하면, 제1 연산부(210)는 전극팁 단면 영상에서 에지를 기준으로 구해지는 측정 가이드 선(L1)에 대응하는 전극팁 선단면 영역(A)을 구할 수 있다. 제1 연산부(210)는 에지 추출 알고리즘을 이용하여 전극팁 단면 영상에서 윤곽선으로 이루어진 측정 가이드 선(L1)을 추출하고, 측정 가이드 선(L1)을 경계로 하는 전극팁 선단면 영역(A)을 구할 수 있다. 여기서, 에지 추출 알고리즘은 픽셀의 밝기가 급격하게 변하는 불연속점인 윤곽선(에지)을 추출할 수 있는 영상 처리 알고리즘으로 이루어질 수 있으며, 전극팁 선단면 영역(A)은 스폿 용접 시 패널과 접하는 제일 상단부의 접촉면으로 구성될 수 있다.
분할부(220)는 전극팁 선단면 영역의 중심을 기준으로 전극팁 선단면 영역을 복수 개(N)로 분할할 수 있다. 분할부(220)는 도 3과 같이, 전극팁 선단면 영역의 중심(P)을 기준으로 전극팁 선단면 영역(A)을 원주 방향에 따라 동일하게 N 등분할 수 있다. 이때 전극팁 선단면 영역(A)을 동일한 크기로 N 등분하기 위하여 전극팁 선단면 영역(A)에는 N개의 분할 가이드 선(L2)이 생성될 수 있다.
그리고 분할되는 전극팁 선단면 영역의 수는 전극팁 선단면 영역의 크기에 비례할 수 있다. 예컨대, 분할부(220)는 전극팁 선단면 영역의 크기가 작은 경우 전극팁 선단면 영역을 4 등분할 수 있으며, 전극팁 선단면 영역의 크기가 큰 경우 전극팁 선단면 영역을 12 등분할 수 있다.
이와 같이, 분할부(220)는 전극팁 선단면 영역의 크기에 비례하여 전극팁 선단면 영역의 크기가 클수록 분할되는 전극팁 선단면 영역의 수를 증가시킬 수 있다.
제2 연산부(230)는 도 4와 같이, 분할된 전극팁 선단면 영역에서 미리 설정된 크기를 가지는 중심 영역(C)을 구할 수 있다.
보다 자세하게는, 제2 연산부(230)는 분할된 전극팁 선단면 영역의 중심(P)을 기준으로 생성되는 분할 가이드 선(L2)에 대응하는 삼각 영역(T)에서 미리 설정된 크기를 가지는 원 형태의 중심 영역(C)을 복수 개 구할 수 있다. 이때 삼각 영역(T)은 전극팁 선면단 영역(A)이 분할 가이드 선(L2)과 접하는 점을 직선으로 연결하여 구해질 수 있고, 중심 영역(C)은 삼각 영역(T)의 중심을 기준으로 미리 정해진 크기를 가지는 원 영역으로 이루어질 수 있다.
제3 연산부(240)는 복수의 중심 영역에 대해서 RGB 각각의 평균값을 구할 수 있다. 제3 연산부(240)는 각 중심 영역에 대하여 R 평균값, G 평균값, B 평균값을 구하여 복수의 중심 영역에 대한 RGB 평균 색상을 알 수 있게 한다.
그리고, 복수의 중심 영역에 대한 복수의 R 평균값, 복수의 G 평균값, 복수의 B 평균값은 전극팁 선단면 영상에 대한 컬러 이미지 값으로 볼 수 있다.
판정부(250)는 구해진 RGB 각각의 평균값을 기초로 전극팁의 상태를 판정할 수 있다. 판정부(250)는 구해진 복수의 중심 영역에 대한 RGB 각각의 평균값과 미리 설정된 RGB 각각의 기준값을 비교하여 전극팁의 상태가 양호 또는 불량인지를 판정할 수 있다. 즉, 판정부(250)는 전극팁 선단면 영상에 대한 컬러 이미지 값과 기본값을 비교하여 오프셋 범위 내에 있는 컬러 이미지 값을 가지는 전극팁을 양호로 판정할 수 있다.
그리고, 스폿 용접기의 전극팁 검사 장치는 퍼스널 컴퓨터뿐만 아니라 퍼스널 컴퓨터보다 느린 CPU를 갖고 있는 임베디드 시스템에서도 구현 가능한데, 임베디드 시스템에서의 보다 빠른 처리를 위하여 촬영된 영상에서 전극팁 단면 영상을 분석하는 방식을 사용할 수 있다.
이하에서는 본 발명의 일 실시예에 따른 스폿 용접기의 전극팁 검사 방법에 대하여 설명하도록 한다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 스폿 용접기의 전극팁 검사 과정을 보여주는 동작 흐름도를 나타낸다.
도 5에 도시한 바와 같이, 스폿 용접을 수행하기 위한 전극팁의 단면을 촬영할 수 있다(S500). 촬영부는 전극팁의 단면을 정면에서 촬영할 수 있도록 스폿 용접기의 본체에 설치될 수 있으며, CCD(Charge Coupled Device) 카메라 또는 CMOS(Complementary Metal-Oxide Semiconductor) 컬러 이미지 센서 등으로 이루어질 수 있다.
그리고 촬영부에서 보다 선명한 영상을 촬영할 수 있도록 촬영부의 주변에는 LED 빛을 발광하는 광원부가 더 설치될 수 있음은 물론이다.
그리고 촬영된 전극팁 단면 영상에서 에지를 기준으로 구해지는 측정 가이드 선에 대응하는 전극팁 선단면 영역을 구할 수 있다(S510).
도 2와 같이, 제1 연산부는 에지 추출 알고리즘을 이용하여 전극팁 단면 영상에서 윤곽선으로 이루어진 측정 가이드 선(L1)을 추출하고, 측정 가이드 선(L1)을 경계로 하는 전극팁 선단면 영역(A)을 구할 수 있다. 여기서, 에지 추출 알고리즘은 픽셀의 밝기가 급격하게 변하는 불연속점인 윤곽선(에지)을 추출할 수 있는 영상 처리 알고리즘으로 이루어질 수 있으며, 전극팁 선단면 영역(A)은 스폿 용접 시 패널과 접하는 제일 상단부의 접촉면으로 구성될 수 있다.
그 후, 전극팁 선단면 영역의 중심을 기준으로 전극팁 선단면 영역을 복수 개로 분할할 수 있다(S520).
분할부는 도 3과 같이, 전극팁 선단면 영역의 중심(P)을 기준으로 전극팁 선단면 영역(A)을 원주 방향에 따라 동일하게 N 등분할 수 있다. 이때 전극팁 선단면 영역(A)을 동일한 크기로 N 등분하기 위하여 전극팁 선단면 영역(A)에는 N개의 분할 가이드 선(L2)이 생성될 수 있다.
그리고 분할되는 전극팁 선단면 영역의 수는 전극팁 선단면 영역의 크기에 비례할 수 있다. 예컨대, 분할부는 전극팁 선단면 영역의 크기가 작은 경우 전극팁 선단면 영역을 4 등분할 수 있으며, 전극팁 선단면 영역의 크기가 큰 경우 전극팁 선단면 영역을 12 등분할 수 있다.
이와 같이, 분할부는 전극팁 선단면 영역의 크기에 비례하여 전극팁 선단면 영역의 크기가 클수록 분할되는 전극팁 선단면 영역의 수를 증가시킬 수 있다.
다음으로, 분할된 전극팁 선단면 영역에서 미리 설정된 크기를 가지는 중심 영역을 구할 수 있다(S530).
보다 자세하게는, 제2 연산부는 분할된 전극팁 선단면 영역의 중심(P)을 기준으로 생성되는 분할 가이드 선(L2)에 대응하는 삼각 영역(T)에서 미리 설정된 크기를 가지는 원 형태의 중심 영역(C)을 복수 개 구할 수 있다. 이때 삼각 영역(T)은 전극팁 선면단 영역(A)이 분할 가이드 선(L2)과 접하는 점을 직선으로 연결하여 구해질 수 있고, 중심 영역(C)은 삼각 영역(T)의 중심을 기준으로 미리 정해진 크기를 가지는 원 영역으로 이루어질 수 있다.
그 후, 복수의 중심 영역에 대해서 RGB 각각의 평균값을 구할 수 있다(S540).
보다 자세하게는, 제3 연산부는 각 중심 영역에 대하여 R 평균값, G 평균값, B 평균값을 구하여 복수의 중심 영역에 대한 RGB 평균 색상을 알 수 있게 한다.
이때, 복수의 중심 영역에 대한 복수의 R 평균값, 복수의 G 평균값, 복수의 B 평균값은 전극팁 선단면 영상에 대한 컬러 이미지 값으로 볼 수 있다.
다음으로, 구해진 RGB 각각의 평균값을 기초로 전극팁의 상태를 판정할 수 있다(S550).
보다 자세하게는, 판정부는 구해진 복수의 중심 영역에 대한 RGB 각각의 평균값과 미리 설정된 RGB 각각의 기준값을 비교하여 전극팁의 상태가 양호 또는 불량인지를 판정할 수 있다. 즉, 판정부는 전극팁 선단면 영상에 대한 컬러 이미지 값과 기본값을 비교하여 오프셋 범위 내에 있는 컬러 이미지 값을 가지는 전극팁을 양호로 판정할 수 있다.
본 발명의 실시예는 다양한 컴퓨터로 구현되는 동작을 수행하기 위한 프로그램 명령을 포함하는 컴퓨터로 읽을 수 있는 매체를 포함한다. 이 매체는 앞서 설명한 스폿 용접기의 전극팁 검사 방법을 실행시키기 위한 프로그램을 기록한다. 이 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 이러한 매체의 예에는 하드디스크, 플로피디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체, CD 및 DVD와 같은 광기록 매체, 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 자기-광 매체, 롬, 램, 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 구성된 하드웨어 장치 등이 있다. 또는 이러한 매체는 프로그램 명령, 데이터 구조 등을 지정하는 신호를 전송하는 반송파를 포함하는 광 또는 금속선, 도파관 등의 전송 매체일 수 있다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.
1: 스폿 용접기의 전극팁 검사 장치
100: 촬영부
200: 제어부
210: 제1 연산부
220: 분할부
230: 제2 연산부
240: 제3 연산부
250: 판정부

Claims (7)

  1. 스폿 용접을 수행하기 위한 전극팁의 단면을 촬영하는 단계,
    상기 촬영된 전극팁 단면 영상에서 에지를 기준으로 구해지는 측정 가이드 선에 대응하는 전극팁 선단면 영역을 구하는 단계,
    상기 전극팁 선단면 영역의 중심을 기준으로 상기 전극팁 선단면 영역을 복수 개로 분할하는 단계,
    상기 분할된 전극팁 선단면 영역에서 미리 설정된 크기를 가지는 중심 영역을 구하는 단계,
    상기 복수의 중심 영역에 대해서 RGB 각각의 평균값을 구하는 단계, 그리고
    상기 구해진 RGB 각각의 평균값을 기초로 전극팁의 상태를 판정하는 단계
    를 포함하는 스폿 용접기의 전극팁 검사 방법.
  2. 제 1 항에서,
    상기 분할된 영역에서 미리 설정된 크기를 가지는 중심 영역을 구하는 단계는,
    상기 전극팁 선단면 영역의 중심을 기준으로 생성되는 분할 가이드 선에 대응하는 삼각 영역에서 상기 미리 설정된 크기를 가지는 원 형태의 중심 영역을 구하는 스폿 용접기의 전극팁 검사 방법.
  3. 제 1 항에서,
    상기 분할되는 전극팁 선단면 영역의 수는,
    상기 전극팁 선단면 영역의 크기에 비례하는 스폿 용접기의 전극팁 검사 방법.
  4. 스폿 용접을 수행하기 위한 전극팁의 단면을 촬영하는 촬영부, 그리고
    상기 촬영된 전극팁 단면 영상에서 에지를 기준으로 구해지는 측정 가이드 선에 대응하는 전극팁 선단면 영역을 구하는 제1 연산부, 상기 전극팁 선단면 영역의 중심을 기준으로 상기 전극팁 선단면 영역을 복수 개로 분할하는 분할부, 상기 분할된 전극팁 선단면 영역에서 미리 설정된 크기를 가지는 중심 영역을 구하는 제2 연산부, 상기 복수의 중심 영역에 대해서 RGB 각각의 평균값을 구하는 제3 연산부, 그리고 상기 구해진 RGB 각각의 평균값을 기초로 전극팁의 상태를 판정하는 판정부를 구비하는 제어부
    를 포함하는 스폿 용접기의 전극팁 검사 장치.
  5. 제 4 항에서,
    상기 제2 연산부는,
    상기 전극팁 선단면 영역의 중심을 기준으로 생성되는 분할 가이드 선에 대응하는 삼각 영역에서 상기 미리 설정된 크기를 가지는 원 형태의 중심 영역을 구하는 스폿 용접기의 전극팁 검사 장치.
  6. 제 4 항에서,
    상기 분할되는 전극팁 선단면 영역의 수는,
    상기 전극팁 선단면 영역의 크기에 비례하는 스폿 용접기의 전극팁 검사 장치.
  7. 컴퓨터에 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항의 방법을 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체.
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