KR20170132952A - Electronic device and manufacturing device of the same, and method of manufacturing electronic device - Google Patents

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KR20170132952A
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양수경
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Abstract

Provided is an electronic device including a conductive pattern with improved bending properties. A manufacturing device of the electronic device comprises: a stage for supporting a substrate; a target rotor arranged on the substrate, extended along one direction, and supplying different first and second deposition materials to the substrate; and a chamber for receiving the stage and the target rotor. The target rotor includes: a first target unit positioned in a first area extended along the one direction of the target rotor, and supplying the first deposition material; and a second target unit connected to the first target unit, positioned in a second area adjacent to the first area of the target rotor, and supplying the second deposition material.

Description

전자 장치 및 이의 제조 장치, 및 전자 장치의 제조 방법{ELECTRONIC DEVICE AND MANUFACTURING DEVICE OF THE SAME, AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTRONIC DEVICE}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic device and a manufacturing method thereof, and a manufacturing method of the electronic device.

본 발명은 전자 장치 및 이의 제조 장치, 및 전자 장치의 제조 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic device and its manufacturing apparatus, and a manufacturing method of the electronic apparatus.

최근, 이동성을 기반으로 하는 전자 장치가 폭넓게 사용되고 있다. 이동용 전자 장치로는 모바일 폰과 같은 소형 전자기기 이외에도 최근 들어 태블릿 PC가 널리 사용되고 있다. In recent years, electronic devices based on mobility have been widely used. In addition to small electronic devices such as mobile phones, tablet PCs are widely used as portable electronic devices.

이와 같은 이동형 전자 장치는 다양한 기능을 지원하기 위하여, 이미지 또는 영상과 같은 시각 정보를 사용자에게 제공하기 위하여 표시 장치를 포함한다. 표시 장치를 구동하기 위한 기타 부품들이 소형화됨에 따라, 표시 장치가 전자 장치에서 차지하는 비중이 점차 증가하고 있는 추세이다. 특히, 근래에는 전자 장치의 디자인이 다양해짐에 따라 플렉서블한 표시 장치 및 이를 제조하기 위한 장치들의 필요성이 증대되고 있다. Such a mobile electronic device includes a display device for providing a user with visual information such as an image or an image in order to support various functions. As other parts for driving the display device are miniaturized, the proportion of the display device in the electronic device is gradually increasing. Particularly, in recent years, as the design of electronic devices becomes more diverse, there is an increasing need for flexible display devices and devices for manufacturing the same.

본 발명의 목적은 벤딩 특성이 향상된 도전 패턴을 포함하는 전자 장치를 제공하는 것이다. It is an object of the present invention to provide an electronic device including a conductive pattern with improved bending characteristics.

본 발명의 또 다른 목적은 하나의 챔버 내에서 하나의 타겟 회전체를 이용하여 서로 다른 증착 물질을 포함하는 복수의 층을 갖는 도전 패턴을 형성하는 전자 장치의 제조 장치를 제공하는 것이다. It is still another object of the present invention to provide an apparatus for manufacturing an electronic device that forms a conductive pattern having a plurality of layers including different evaporation materials using one target rotating body in one chamber.

본 발명의 또 다른 목적은 전자 장치의 제조 장치를 이용하여 벤딩 특성이 향상된 도전 패턴을 포함하는 전자 장치의 제조 방법을 제공하는 것이다.It is still another object of the present invention to provide a method of manufacturing an electronic device including a conductive pattern having improved bending characteristics by using an apparatus for manufacturing an electronic device.

본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 제조 장치는 기판을 지지하는 스테이지, 상기 기판 상에 배치된 타겟 회전체, 및 상기 스테이지 및 상기 타겟 회전체를 수용하는 챔버를 포함할 수 있다. An apparatus for manufacturing an electronic device according to an embodiment of the present invention may include a stage for supporting a substrate, a target rotating body disposed on the substrate, and a chamber for receiving the stage and the target rotating body.

상기 타겟 회전체는 제1 타겟부 및 제2 타겟부를 포함할 수 있다. 제1 타겟부는 상기 타겟 회전체의 상기 일 방향을 따라 연장된 제1 영역에 위치하며, 상기 제1 증착 물질을 공급할 수 있다. 상기 제2 타겟부는 상기 제1 타겟부에 연결되며, 상기 타겟 회전체의 상기 제1 영역에 인접한 제2 영역에 위치하고, 상기 제2 증착 물질을 공급할 수 있다. The target rotating body may include a first target portion and a second target portion. The first target portion may be located in a first region extending along the one direction of the target rotating body and may supply the first deposition material. The second target portion may be connected to the first target portion and may be located in a second region adjacent to the first region of the target rotating body to supply the second deposition material.

상기 제1 증착 물질 및 상기 제2 증착 물질은 상기 타겟 회전체가 상기 일 방향을 따라 연장된 회전축을 중심으로 회전함에 따라 정의되는 복수의 모드들에서 공급될 수 있다.The first deposition material and the second deposition material may be supplied in a plurality of modes in which the target rotating body is defined as rotating about an axis of rotation extending along the one direction.

상기 복수의 모드들은, 상기 제1 타겟부가 상기 기판에 마주하고 상기 제1 증착 물질이 상기 기판에 공급되는 제1 모드 및 상기 제2 타겟부가 상기 기판에 마주하고 상기 제2 증착 물질이 상기 기판에 공급되는 제2 모드를 포함할 수 있다. Wherein the plurality of modes comprises a first mode in which the first target portion is facing the substrate and the first deposition material is supplied to the substrate and a second mode in which the second target portion is facing the substrate, And a second mode to be supplied.

상기 복수의 모드들은, 상기 제1 타겟부의 일 부분과 상기 제2 타겟부의 일 부분이 동시에 상기 기판과 마주하는 제3 모드를 더 포함할 수 있다. 상기 제3 모드에서, 상기 제1 타겟부의 일 부분은 상기 제1 증착 물질을 상기 기판 상에 제공하며, 상기 제2 타겟부의 일 부분은 상기 제2 증착 물질을 상기 기판 상에 제공할 수 있다. The plurality of modes may further include a third mode in which a portion of the first target portion and a portion of the second target portion simultaneously face the substrate. In the third mode, a portion of the first target portion provides the first deposition material on the substrate, and a portion of the second target portion may provide the second deposition material on the substrate.

상기 1 모드에서의 상기 타겟 회전체의 회전 속도와 상기 제2 모드에서의 상기 타겟 회전체의 회전 속도는 서로 상이하거나, 서로 동일할 수 있다. The rotation speed of the target rotating body in the one mode and the rotation speed of the target rotating body in the second mode may be different from or identical to each other.

상기 타겟 회전체는 외측면 및 내측면을 갖는 실린더 형상으로 제공될 수 있다.  The target rotating body may be provided in a cylindrical shape having an outer side surface and an inner side surface.

상기 전자 장치의 제조 장치는 상기 타겟 회전체의 상기 내측면에 의해 정의된 내부 공간에 수용된 자석을 포함할 수 있다. 상기 자석은 상기 타겟 회전체에 의해 둘러싸여 배치될 수 있다. 상기 자석은 상기 타겟 회전체의 상기 내측면 중 상기 기판과 인접한 영역에 위치할 수 있다. 상기 자석은 상기 회전축을 중심으로 상기 타겟 회전체의 상기 내측면을 따라 회전 가능하다.The apparatus for manufacturing an electronic device may include a magnet received in an inner space defined by the inner surface of the target rotating body. The magnet may be disposed surrounded by the target rotating body. The magnet may be located in an area of the inner surface of the target rotating body that is adjacent to the substrate. The magnet is rotatable along the inner surface of the target rotating body about the rotation axis.

상기 전자 장치의 제조 장치는 회전 구동부 및 고정부를 더 포함할 수 있다. 상기 회전 구동부는 상기 회전축을 중심으로 상기 타겟 회전체를 회전시킬 수 있다. 상기 고정부는 상기 회전 구동부와 상기 챔버 사이에 배치되며, 상기 회전 구동부 및 상기 타겟 회전체를 상기 챔버에 고정시킬 수 있다. 상기 회전 구동부는 상기 타겟 회전체의 상기 외측면과 상기 내측면을 연결하는 일 측부 및 상기 일 측부에 대향하는 타 측부에 각각 연결될 수 있다. The apparatus for manufacturing an electronic device may further include a rotation driving unit and a fixing unit. The rotation driving unit may rotate the target rotating body about the rotation axis. The fixing portion may be disposed between the rotation driving portion and the chamber, and may fix the rotation driving portion and the target rotating body to the chamber. The rotation driving unit may be connected to one side portion connecting the outer side surface and the inner side surface of the target rotating body and the other side portion opposing the one side portion, respectively.

상기 타겟 회전체는 제3 타겟부를 더 포함할 수 있으며, 상기 제3 타겟부는 상기 제1 타겟부 및 상기 제2 타겟부 사이에 위치하며, 상기 타겟 회전체의 상기 제1 영역 및 상기 제2 영역에 인접한 제3 영역에 대응되고, 제3 증착 물질을 공급할 수 있다. The target rotating body may further include a third target portion, wherein the third target portion is located between the first target portion and the second target portion, the first region of the target rotating body and the second region And the third deposition material can be supplied.

상기 타겟 회전체는 복수 개로 제공될 수 있으며, 상기 타겟 회전체들은 일정 간격 이격되어 평행하게 배열될 수 있다.The target rotating bodies may be provided in a plurality of, and the target rotating bodies may be arranged in parallel at a predetermined interval.

본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치는 벤딩부를 포함하는 플렉서블 기판 및 적어도 일부가 상기 벤딩부 상에 제공 도전 패턴을 포함할 수 있다. An electronic device according to an embodiment of the present invention may include a flexible substrate including a bending portion and a conductive pattern provided on at least a portion of the bending portion.

상기 도전 패턴은, 제1 증착 물질을 포함하는 제1 도전 패턴층, 상기 제1 도전 패턴층 상에 제공되며 상기 제1 증착 물질과 상이한 상기 제2 증착 물질을 포함하는 제2 도전 패턴층, 및 상기 제1 도전 패턴층 및 상기 제2 도전 패턴층 사이에 제공되며 상기 제1 증착 물질 및 상기 제2 증착 물질을 포함하는 혼합층을 포함할 수 있다. The conductive pattern may include a first conductive pattern layer including a first deposition material, a second conductive pattern layer provided on the first conductive pattern layer and including the second deposition material different from the first deposition material, And a mixed layer provided between the first conductive pattern layer and the second conductive pattern layer and including the first deposition material and the second deposition material.

상기 도전 패턴의 두께 대비 상기 혼합층의 두께 비는 0 초과 내지 0.05 이하일 수 있다. The thickness ratio of the mixed layer to the thickness of the conductive pattern may be more than 0 and less than 0.05.

상기 도전 패턴은 서로 일정 간격 이격되어 배치된 제1 감지 전극들 및 제2 감지 전극들을 포함하는 감지전극을 포함할 수 있다.The conductive pattern may include a sensing electrode including first sensing electrodes and second sensing electrodes spaced apart from each other by a predetermined distance.

상기 플렉서블 기판은 박막 소자층, 표시 소자층, 및 박막 봉지층을 포함하며, 상기 도전 패턴은 상기 박막 봉지층 상에 배치될 수 있다.The flexible substrate includes a thin film element layer, a display element layer, and a thin film sealing layer, and the conductive pattern may be disposed on the thin film sealing layer.

본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 제조 방법은, 스테이지 상에 기판을 제공하는 단계, 상기 기판 상에 제1 증착 물질을 공급하는 제1 타겟부 및 제2 증착 물질을 공급하는 제2 타겟부를 포함하며, 일 방향으로 연장된 타겟 회전체를 위치시키는 단계, 상기 일 방향을 따라 연장된 회전축을 중심으로 상기 타겟 회전체를 회전시키는 단계, 상기 제1 타겟부가 상기 기판에 마주하는 동안 상기 기판 상에 상기 제1 증착 물질을 공급하여 제1 도전 패턴층을 형성하는 단계, 상기 제1 타겟부의 일부분과 상기 제2 타겟부의 일부분이 상기 기판에 마주하는 동안 상기 기판 상에 상기 제1 증착 물질 및 상기 제2 증착 물질을 공급하여 혼합층을 형성하는 단계, 및 상기 제2 타겟부가 상기 기판에 마주하는 동안 상기 혼합층 상에 상기 제2 증착 물질을 공급하여 제2 도전 패턴층을 형성하는 단계를 포함할 수 있다. A method of manufacturing an electronic device according to an embodiment of the present invention includes the steps of providing a substrate on a stage, a first target portion supplying a first deposition material on the substrate, and a second target portion supplying a second deposition material Positioning a target rotating body extending in one direction, rotating the target rotating body about a rotational axis extending along the one direction, rotating the target rotating body about a rotational axis extending along the one direction, Forming a first conductive pattern layer by supplying the first deposition material on the substrate while the first deposition material and a portion of the second target portion face the substrate; Supplying the second deposition material onto the mixed layer while the second target portion is opposed to the substrate to form a mixed layer by supplying the second deposition material, And forming a conductive pattern layer.

여기서, 상기 제1 타겟부는 상기 타겟 회전체의 상기 일 방향으로 연장된 제1 영역에 위치하며, 상기 제2 타겟부는 상기 제1 타겟부에 연결되며, 상기 제1 영역에 인접한 제2 영역에 위치할 수 있다.Wherein the first target portion is located in a first region extending in the one direction of the target rotating body and the second target portion is connected to the first target portion and is located in a second region adjacent to the first region, can do.

본 발명의 일 실시예에 따른 벤딩 특성이 향상된 전자 장치를 제공할 수 있다.It is possible to provide an electronic device with improved bending characteristics according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 제조 장치는 공정 시간을 단축시킬 수 있다. An apparatus for manufacturing an electronic device according to an embodiment of the present invention can shorten the processing time.

본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 제조 방법은 전자 장치의 제조 장치를 이용하여 벤딩 특성이 향상된 도전 패턴을 포함하는 전자 장치를 용이하게 제조할 수 있다. The method of manufacturing an electronic device according to an embodiment of the present invention can easily manufacture an electronic device including a conductive pattern having improved bending characteristics by using an apparatus for manufacturing an electronic device.

도 1a, 도 1b, 및 도 1c는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 개략적인 사시도이다.
도 2a는 도 1b의 I-I'선에 대응하는 개략적인 도전 패턴의 일 단면도이다.
도 2b는 도 2a의 AA'를 확대 도시한 도전 패턴의 일 단면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 개략적인 사시도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치에 포함되는 일 화소의 단면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치에 포함되는 터치 스크린 패널을 개략적으로 나타낸 평면도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 제조 장치의 개략도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 타겟 회전체의 사시도이다.
도 8a 및 도 8b는 타겟 회전체의 개략적인 단면도이다.
도 9a 및 도 9b는 본 발명의 일 실시예에 따른 타겟 회전체의 단면도이다.
도 10a 내지 도 10d는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 제조 장치의 개략적인 일 단면도이다.
도 11은 본 발명의 다른 실시예에 따른 타겟 회전체의 단면도이다.
도 12는 본 발명의 다른 실시예에 따른 전자 장치의 제조 장치의 개략적인 일 단면도이다.
1A, 1B, and 1C are schematic perspective views of an electronic device according to an embodiment of the invention.
2A is a cross-sectional view of a schematic conductive pattern corresponding to line I-I 'in FIG. 1B.
2B is a cross-sectional view of a conductive pattern AA 'of FIG.
3 is a schematic perspective view of an electronic device according to an embodiment of the present invention.
4 is a cross-sectional view of one pixel included in an electronic device according to an embodiment of the present invention.
5 is a plan view schematically illustrating a touch screen panel included in an electronic device according to an embodiment of the present invention.
6 is a schematic view of an apparatus for manufacturing an electronic device according to an embodiment of the present invention.
7 is a perspective view of a target rotating body according to an embodiment of the present invention.
8A and 8B are schematic sectional views of a target rotating body.
9A and 9B are sectional views of a target rotating body according to an embodiment of the present invention.
10A to 10D are schematic cross-sectional side views of an apparatus for manufacturing an electronic device according to an embodiment of the present invention.
11 is a sectional view of a target rotating body according to another embodiment of the present invention.
12 is a schematic cross-sectional side view of an apparatus for manufacturing an electronic device according to another embodiment of the present invention.

본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예를 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.While the invention is susceptible to various modifications and alternative forms, specific embodiments thereof are shown by way of example in the drawings and are herein described in detail. It should be understood, however, that the invention is not intended to be limited to the particular forms disclosed, but includes all modifications, equivalents, and alternatives falling within the spirit and scope of the invention.

본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다. 또한, 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 있다고 할 경우, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "아래에" 있다고 할 경우, 이는 다른 부분 "바로 아래에" 있는 경우뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다.In the present application, the terms "comprises" or "having" and the like are used to specify that there is a feature, a number, a step, an operation, an element, a component or a combination thereof described in the specification, But do not preclude the presence or addition of one or more other features, integers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof. Also, where a section such as a layer, a film, an area, a plate, or the like is referred to as being "on" another section, it includes not only the case where it is "directly on" another part but also the case where there is another part in between. On the contrary, where a section such as a layer, a film, an area, a plate, etc. is referred to as being "under" another section, this includes not only the case where the section is "directly underneath"

각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다. 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 구성요소들은 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 다수의 표현을 포함한다.Like reference numerals are used for like elements in describing each drawing. In the accompanying drawings, the dimensions of the structures are shown enlarged from the actual for the sake of clarity of the present invention. The terms first, second, etc. may be used to describe various elements, but the elements should not be limited by terms. Terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, without departing from the scope of the present invention, the first component may be referred to as a second component, and similarly, the second component may also be referred to as a first component. The singular forms "a," "an," and "the" include plural referents unless the context clearly dictates otherwise.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예를 보다 상세히 설명하고자 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1a, 도 1b, 및 도 1c는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 개략적인 사시도이다.1A, 1B, and 1C are schematic perspective views of an electronic device according to an embodiment of the invention.

도 1a, 도 1b 및 도 1c를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치(10)는 플렉서블(flexible) 기판(FB) 및 도전 패턴(CP)을 포함할 수 있다. 도전 패턴(CP)은 플렉서블 기판(FB) 상에 제1 방향(DR1)으로 적층될 수 있다. 1A, 1B and 1C, an electronic device 10 according to an embodiment of the present invention may include a flexible substrate FB and a conductive pattern CP. The conductive pattern CP may be stacked on the flexible substrate FB in the first direction DR1.

플렉서블 기판(FB)은 통상적으로 사용하는 것이라면 특별히 한정하지 않으나, 플라스틱, 유기 고분자 등을 포함할 수 있다. 플렉서블 기판(FB)을 이루는 유기 고분자로는 PET(Polyethylene terephthalate), PEN(Polyethylene naphthalate), 폴리이미드(Polyimide), 폴리에테르술폰 등을 들 수 있다. The flexible substrate FB is not particularly limited as long as it can be used normally, but may include plastic, organic polymer, and the like. Examples of the organic polymer constituting the flexible substrate FB include polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate (PEN), polyimide, and polyether sulfone.

본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치(10)는 제1 모드 또는 제2 모드로 동작할 수 있다. 플렉서블 기판(FB)은 제2 방향(DR2)으로 연장된 벤딩부(BF) 및 비벤딩부(NBF)를 포함할 수 있다. 벤딩부(BF)는 제2 모드에서 제2 방향(DR2)으로 연장되는 벤딩축(BX)을 기준으로 구부러지고, 제1 모드에서 펼쳐질 수 있다. The electronic device 10 according to an embodiment of the present invention may operate in a first mode or a second mode. The flexible substrate FB may include a bending portion BF and a non-bending portion NBF extending in the second direction DR2. The bending portion BF is bent on the bending axis BX extending in the second direction DR2 in the second mode and can be unfolded in the first mode.

벤딩부(NBF)는 비벤딩부(NBF)와 연결된다. 비벤딩부(NBF)는 제1 모드 및 제2 모드 각각에서 벤딩이 발생하지 않는다. 도전 패턴(CP)은 제2 방향(DR2)에 교차하는 제3 방향(DR3)으로 연장된다. 도전 패턴(CP)의 적어도 일부는 벤딩부(BF) 상에 제공된다. 벤딩이란 외력에 의해 플렉서블 기판(FB) 등이 특정 형태로 휜 것을 의미하는 것일 수 있다.The bending portion NBF is connected to the non-bending portion NBF. The unbending portion NBF does not cause bending in each of the first mode and the second mode. The conductive pattern CP extends in the third direction DR3 which intersects the second direction DR2. At least a part of the conductive pattern CP is provided on the bending portion BF. Bending may mean that the flexible substrate FB or the like is bent into a specific shape by an external force.

도 1a를 참조하면, 제1 모드에서 전자 장치(10)의 벤딩부(BF)가 펼쳐질 수 있다. 도 1b를 참조하면, 제2 모드에서 플렉서블 기판(FB) 및 도전 패턴(CP)의 적어도 일부가 벤딩(bending)될 수 있다.Referring to FIG. 1A, the bending portion BF of the electronic device 10 can be unfolded in the first mode. Referring to FIG. 1B, in the second mode, at least a part of the flexible substrate FB and the conductive pattern CP may be bended.

제2 모드는 제1 벤딩 모드 및 제2 벤딩 모드를 포함한다. 도 1b를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치(10)는 제1 벤딩 모드에서, 벤딩축(BX)을 기준으로 어느 한 방향으로 벤딩될 수 있다. 전자 장치(10)는 제1 벤딩 모드에서 내측 벤딩된 것일 수 있다. 이하, 벤딩축(BX)을 기준으로 전자 장치(10)가 벤딩되었을 때, 벤딩되어 서로 마주보는 도전 패턴(CP) 사이의 거리가 벤딩되어 서로 마주보는 플렉서블 기판(FB) 사이의 거리보다 짧은 경우를 내측 벤딩(inner bending)이라 정의한다. 내측 벤딩시에, 벤딩부(BF)는 제1 곡률 반경(R1)을 가질 수 있다. The second mode includes a first bending mode and a second bending mode. Referring to FIG. 1B, the electronic device 10 according to an embodiment of the present invention may be bent in either direction with respect to the bending axis BX in the first bending mode. The electronic device 10 may be an inner bend in the first bending mode. Hereinafter, when the electronic device 10 is bent with respect to the bending axis BX and the bending distance between the opposing conductive patterns CP is shorter than the distance between the flexible boards FB facing each other, Is defined as inner bending. In the inner bending, the bending portion BF may have a first radius of curvature R1.

도 1c를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치(10)는 제2 벤딩 모드에서, 벤딩축(BX)을 기준으로 도 1b에서 벤딩된 방향과 반대 방향으로 벤딩될 수 있다. 전자 장치(10)는 제2 벤딩 모드에서 외측 벤딩된 것일 수 있다. 이하, 벤딩축(BX)을 기준으로 전자 장치(10)가 벤딩되었을 때, 벤딩되어 서로 마주보는 플렉서블 기판(FB) 사이의 거리가 벤딩되어 서로 마주보는 도전 패턴(CP) 사이의 거리보다 짧은 경우를 외측 벤딩(outer bending)이라 정의한다. 외측 벤딩시에, 벤딩부(BF)는 제2 곡률 반경(R2)을 가질 수 있다. 제2 곡률 반경(R2)은 제1 곡률 반경(R1)과 동일할 수도 있고, 상이할 수도 있다. Referring to FIG. 1C, the electronic device 10 according to an embodiment of the present invention may be bent in a direction opposite to the direction bending in FIG. 1B with respect to the bending axis BX in the second bending mode. The electronic device 10 may be outwardly bent in the second bending mode. Hereinafter, when the electronic device 10 is bent with respect to the bending axis BX and the distance between the bending flexible substrates FB facing each other is shorter than the distance between the opposing conductive patterns CP Is defined as outer bending. At the time of outer bending, the bending portion BF may have a second radius of curvature R2. The second radius of curvature R2 may be equal to or different from the first radius of curvature R1.

도 1b 및 도 1c에서는 벤딩축(BX)을 기준으로 전자 장치(10)가 벤딩되었을 때, 벤딩되어 서로 마주보는 플렉서블 기판(FB) 사이의 거리가 일정한 것을 예를 들어 도시하였으나, 이에 한정하는 것은 아니고, 벤딩되어 서로 마주보는 플렉서블 기판(FB) 사이의 거리는 일정하지 않을 수도 있다. 또한, 도 1b 및 도 1c에서는 벤딩축(BX)을 기준으로 전자 장치(10)가 벤딩되었을 때, 벤딩되어 서로 마주보는 플렉서블 기판(FB)의 면적이 서로 동일한 것을 예를 들어 도시하였으나, 이에 한정하는 것은 아니고, 벤딩되어 서로 마주보는 플렉서블 기판(FB)의 면적은 서로 상이할 수도 있다.In FIGS. 1B and 1C, when the electronic device 10 is bent with respect to the bending axis BX, the distance between the bending flexible substrates FB and the flexible substrates FB is constant. However, , But the distance between the flexible substrates FB that are bent and facing each other may not be constant. In FIGS. 1B and 1C, when the electronic device 10 is bent with respect to the bending axis BX, the areas of the bending flexible substrates FB are opposite to each other. However, However, the areas of the flexible boards FB that are bent and facing each other may be different from each other.

도 2a는 도 1b의 I-I'선에 대응하는 개략적인 도전 패턴의 일 단면도이고, 도 2b는 도 2a의 AA'를 확대 도시한 도전 패턴의 일 단면도이다.FIG. 2A is a cross-sectional view of a schematic conductive pattern corresponding to line I-I 'of FIG. 1B, and FIG. 2B is a cross-sectional view of a conductive pattern AA' of FIG.

도 1a 내지 도 1c, 도 2a 및 도 2b를 참조하면, 도전 패턴(CP)은 적어도 일부가 벤딩부(BF) 상에 제공될 수 있다. 도전 패턴(CP)은 복수의 그레인(grain)들을 갖는다. 그레인(GR)은 성분 원자 등이 규칙적으로 배열되서 만들어진 결정립으로 정의될 수 있다. 그레인들(GR)은 약 10 나노미터(nm) 내지 약 100 나노미터(nm)의 그레인 사이즈(grain size)를 가질 수 있다.Referring to Figs. 1A to 1C, 2A and 2B, at least a part of the conductive pattern CP may be provided on the bending portion BF. The conductive pattern CP has a plurality of grains. The grain (GR) can be defined as a grain formed by regularly arranging component atoms and the like. The grains GR may have a grain size of about 10 nanometers (nm) to about 100 nanometers (nm).

도전 패턴(CP)은 통상적으로 사용하는 것이라면 특별히 한정하지 않으나, 예를 들어, 금속, 금속의 합금, 및 투명 전도성 산화물(Transparent conducting oxide) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 그레인들(GR)은 금속의 그레인들, 합금의 그레인들 및 투명 전도성 산화물의 그레인들 중 적어도 하나인 것일 수 있다.The conductive pattern CP may be at least one of a metal, an alloy of a metal, and a transparent conducting oxide, although the conductive pattern CP is not particularly limited as long as it is commonly used. The grains GR may be at least one of grains of a metal, grains of an alloy, and grains of a transparent conductive oxide.

금속은 통상적으로 사용하는 것이라면 특별히 한정하지 않으나, 예를 들어, Al, Cu, Ti, Mo, Ag, Mg, Pt, Pd, Au, Ni, Nd, Ir 및 Cr 중 적어도 하나를 포함하는 것일 수 있다.The metal may be at least one of Al, Cu, Ti, Mo, Ag, Mg, Pt, Pd, Au, Ni, Nd, Ir and Cr, .

투명 전도성 산화물은 통상적으로 사용하는 것이라면 특별히 한정하지 않으나, 예를 들어, ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide), ZnO(zinc oxide) 및 ITZO(indium tin zinc oxide) 중 적어도 하나를 포함하는 것일 수 있다.The transparent conductive oxide may be at least one selected from the group consisting of ITO (indium tin oxide), IZO (indium zinc oxide), ZnO (zinc oxide), and ITZO (indium tin zinc oxide) .

도전 패턴(CP)은 제1 방향(DR1)으로 적층된 복수의 도전 패턴층들(CPL)을 포함할 수 있다. 도전 패턴(CP)은 예를 들어, 2개 이상의 도전 패턴층들(CPL)을 포함할 수도 있다. The conductive pattern CP may include a plurality of conductive pattern layers CPL stacked in a first direction DR1. The conductive pattern CP may include, for example, two or more conductive pattern layers (CPL).

본 발명의 일 실시예에서, 도전 패턴(CP)은 제1 도전 패턴층(CPL1) 및 제2 도전 패턴층(CPL2)을 포함할 수 있다. 제2 도전 패턴층(CPL2)은 제1 도전 패턴층(CPL1) 상에 제공될 수 있다. In one embodiment of the present invention, the conductive pattern CP may include a first conductive pattern layer CPL1 and a second conductive pattern layer CPL2. The second conductive pattern layer CPL2 may be provided on the first conductive pattern layer CPL1.

제1 도전 패턴층(CPL1) 및 제2 도전 패턴층(CPL2) 각각은 서로 상이한 물질로 구성될 수 있다. 제1 도전 패턴층(CPL1) 및 제2 도전 패턴층(CPL2) 각각의 두께는 서로 동일할 수도 있고, 상이할 수도 있다. 예를 들어, 제1 도전 패턴층(CPL1)은 Al을 포함하고, 제2 도전 패턴층(CPL2)은 Ti를 포함할 수 있다. The first conductive pattern layer CPL1 and the second conductive pattern layer CPL2 may be formed of materials different from each other. The thicknesses of the first conductive pattern layer CPL1 and the second conductive pattern layer CPL2 may be the same or different from each other. For example, the first conductive pattern layer CPL1 may include Al, and the second conductive pattern layer CPL2 may include Ti.

제1 도전 패턴층(CPL1) 및 제2 도전 패턴층(CPL2) 각각에 포함된 제1 그레인(GR1)과 제2 그레인(GR2)은 서로 연결되지 않는다. 즉, 제1 그레인(GR1)과 제2 그레인(GR2)은 제1 도전 패턴층(CPL1) 및 제2 도전 패턴층(CPL2) 사이의 경계에서 서로 혼합되어 위치할 수 있다. 이하, 제1 도전 패턴층(CPL1) 및 제2 도전 패턴층(CPL2) 사이의 경계에서 제1 그레인(GR1)과 제2 그레인(GR2)이 혼합되어 있는 층을 혼합층(CPLM)으로 정의한다. The first and second grains GR1 and GR2 included in the first conductive pattern layer CPL1 and the second conductive pattern layer CPL2 are not connected to each other. That is, the first grains GR1 and the second grains GR2 may be mixed with each other at a boundary between the first conductive pattern layer CPL1 and the second conductive pattern layer CPL2. Hereinafter, a layer in which the first grains GR1 and the second grains GR2 are mixed at the boundary between the first conductive pattern layer CPL1 and the second conductive pattern layer CPL2 is defined as a mixed layer CPLM.

혼합층(CPLM)은 제1 도전 패턴층(CPL1) 상에 제2 도전 패턴층(CPL2)이 연속적으로 형성되는 과정에서 제1 그레인(GR1)과 제2 그레인(GR2)이 일부 혼합된 층이다. 혼합층(CPLM)의 두께는 도전 패턴(CP)의 두께 대비 약 0 초과 내지 약 0.05 이하의 비율로 제공될 수 있다.The mixed layer CPLM is a layer in which the first grains GR1 and the second grains GR2 are partially mixed in the process of continuously forming the second conductive pattern layer CPL2 on the first conductive pattern layer CPL1. The thickness of the mixed layer CPLM may be provided in a ratio of more than about 0 to about 0.05 with respect to the thickness of the conductive pattern CP.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 개략적인 사시도이다.3 is a schematic perspective view of an electronic device according to an embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치(100)는 터치 스크린 패널(TSP) 및 플렉서블 표시 패널(DP)을 포함할 수 있다. 터치 스크린 패널(TSP)은 플렉서블 표시 패널(DP) 상에 제1 방향(DR1)으로 적층될 수 있다. 앞서 언급한 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치(100)는 제1 모드 또는 제2 모드로 동작할 수 있다.Referring to FIG. 3, an electronic device 100 according to an embodiment of the present invention may include a touch screen panel (TSP) and a flexible display panel (DP). The touch screen panel TSP may be stacked in the first direction DR1 on the flexible display panel DP. As mentioned above, the electronic device 100 according to an embodiment of the present invention can operate in the first mode or the second mode.

플렉서블 표시 패널(DP) 및 상기 터치 스크린 패널(TSP) 중 적어도 하나는 도전 패턴(CP)을 포함할 수 있다. 도전 패턴(CP)은 복수의 도전 패턴층들을 포함할 수 있다.At least one of the flexible display panel DP and the touch screen panel TSP may include a conductive pattern CP. The conductive pattern CP may include a plurality of conductive pattern layers.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치에 포함되는 일 화소의 단면도이다.4 is a cross-sectional view of one pixel included in an electronic device according to an embodiment of the present invention.

이하에서는 플렉서블 표시 패널(DP)이 유기 발광 표시 패널인 것을 예를 들어 설명하나, 이에 한정하는 것은 아니고, 플렉서블 표시 패널은 액정 표시 패널(liquid crystal display panel), 플라즈마 표시 패널(plasma display panel), 전기영동 표시 패널(electrophoretic display panel), MEMS 표시 패널(microelectromechanical system display panel) 및 일렉트로웨팅 표시 패널(electrowetting display panel) 등일 수도 있다.Hereinafter, the flexible display panel DP will be described as an organic light-emitting display panel, but the present invention is not limited thereto. The flexible display panel may be a liquid crystal display panel, a plasma display panel, An electrophoretic display panel, a microelectromechanical system display panel, and an electrowetting display panel.

도 1a 내지 도 1c, 도 4를 참조하면, 플렉서블 표시 패널(DP)은 플렉서블 기판(FB1) 및 플렉서블 기판(FB1) 상에 제공되는 도전 패턴(CP)을 포함할 수 있다.Referring to FIGS. 1A to 1C and 4, the flexible display panel DP may include a conductive pattern CP provided on a flexible substrate FB1 and a flexible substrate FB1.

도 4를 참조하면, 플렉서블 표시 패널(DP)의 일 화소는 유기 발광 소자(OEL)를 구동하기 위한 박막 트랜지스터(TFT)를 포함할 수 있다. 본 발명의 일 실시예에서는 일 화소에 포함된 하나의 박막 트랜지스터(TFT)를 도시하여 설명하였으나, 이에 한정되지 않으며, 일 화소에 복수의 박막 트랜지스터들이 포함될 수 있다.Referring to FIG. 4, one pixel of the flexible display panel DP may include a thin film transistor (TFT) for driving the organic light emitting element OEL. In an embodiment of the present invention, a single thin film transistor (TFT) included in one pixel has been described, but the present invention is not limited thereto, and a plurality of thin film transistors may be included in one pixel.

박막 트랜지스터(TFT)는 제어신호를 입력 받는 제어 전극(CE), 데이터 신호를 입력 받는 입력 전극(IE), 제어신호에 응답하여 데이터 신호를 출력 전극(OE)에 전달하는 반도체 패턴(SM), 및 데이터 신호를 출력하는 출력 전극(OE)을 포함한다.The thin film transistor TFT includes a control electrode CE receiving a control signal, an input electrode IE receiving a data signal, a semiconductor pattern SM transmitting a data signal to the output electrode OE in response to a control signal, And an output electrode OE for outputting a data signal.

제1 전극(EL1)은 박막 트랜지스터(TFT)의 출력 전극(OE)과 연결된다. 제2 전극(EL2)에는 공통 전압이 인가되며, 유기 발광 소자(OEL)의 발광층(EML)은 박막 트랜지스터(TFT)의 출력 신호에 따라 광을 출사함으로써 영상을 제공할 수 있다. 제1 전극(EL1) 및 제2 전극(EL2)에 대해서는 보다 구체적으로 후술한다.The first electrode EL1 is connected to the output electrode OE of the thin film transistor TFT. A common voltage is applied to the second electrode EL2 and the light emitting layer EML of the organic light emitting element OEL can emit light according to an output signal of the thin film transistor TFT to provide an image. The first electrode EL1 and the second electrode EL2 will be described later in more detail.

플렉서블 표시 패널(DP)은 박막 트랜지스터(TFT)를 포함하는 박막 소자층(TEL), 박막 소자층(TEL) 상에 제공되며 유기 발광 소자(OEL)을 포함하는 표시 소자층(DEL), 및 표시 소자층(DEL) 상에 제공되는 봉지층(SL)을 포함할 수 있다. The flexible display panel DP includes a thin film element layer TEL including a thin film transistor TFT, a display element layer DEL provided on the thin film element layer TEL and including an organic light emitting element OEL, And an encapsulation layer SL provided on the device layer DEL.

플렉서블 기판(FB1) 상에는 반도체 패턴(SM)이 제공될 수 있다. 반도체 패턴(SM)은 반도체 소재로 형성되며, 박막 트랜지스터(TFT)의 활성층으로 동작할 수 있다. 반도체 패턴(SM)은 입력 영역(IA), 출력 영역(OA), 및 입력 영역(IA)과 출력 영역(OA) 사이에 제공된 채널부(CA)를 포함한다. 반도체 패턴(SM)은 무기 반도체 또는 유기 반도체로부터 선택되어 형성될 수 있다. 입력 영역(IA) 및 출력 영역(OA)은 반도체 소재에 n형 불순물 또는 p형 불순물이 도핑되어 형성될 수 있다.A semiconductor pattern SM may be provided on the flexible substrate FB1. The semiconductor pattern SM is formed of a semiconductor material and can operate as an active layer of a thin film transistor (TFT). The semiconductor pattern SM includes an input area IA, an output area OA and a channel part CA provided between the input area IA and the output area OA. The semiconductor pattern SM may be formed of an inorganic semiconductor or an organic semiconductor. The input region IA and the output region OA may be formed by doping an n-type impurity or a p-type impurity into a semiconductor material.

반도체 패턴(SM) 상에는 제1 절연층(IL1)이 제공된다. 제1 절연층(IL1)은 반도체 패턴(SM)을 커버할 수 있다. 제1 절연층(IL1)은 유기 절연물 또는 무기 절연물로 이루어질 수 있다.A first insulating layer IL1 is provided on the semiconductor pattern SM. The first insulating layer IL1 may cover the semiconductor pattern SM. The first insulating layer IL1 may be formed of an organic insulating material or an inorganic insulating material.

제1 절연층(IL1) 상에는 제어 전극(CE)이 제공된다. 제어 전극(CE)은 반도체 패턴(SM)의 채널부(CA)에 대응되는 영역을 커버하도록 형성될 수 있다. 제어 전극(CE)은 복수의 층들을 포함할 수 있다.A control electrode CE is provided on the first insulating layer IL1. The control electrode CE may be formed to cover an area corresponding to the channel portion CA of the semiconductor pattern SM. The control electrode CE may comprise a plurality of layers.

제어 전극(CE) 및 제1 절연층(IL1) 상에는 제2 절연층(IL2)이 제공될 수 있다. 제2 절연층(IL2)은 제어 전극(CE)을 커버한다. 제2 절연층(IL2)은 유기 절연물 또는 무기 절연물로 이루어질 수 있다.A second insulating layer IL2 may be provided on the control electrode CE and the first insulating layer IL1. The second insulating layer IL2 covers the control electrode CE. The second insulating layer IL2 may be formed of an organic insulating material or an inorganic insulating material.

제2 절연층(IL2) 상에는 입력 전극(IE)과 출력 전극(OE)이 제공될 수 있다. 출력 전극(OE)은 제1 절연층(IL1) 및 제2 절연층(IL2)에 형성된 제1 콘택홀(CH1)에 의해 반도체 패턴(SM)의 출력 영역(OA)과 접촉하고, 입력 전극(IE)은 제1 절연층(IL1) 및 제2 절연층(IL2)에 형성된 제2 콘택홀(CH2)에 의해 반도체 패턴(SM)의 입력 영역(IA)과 접촉할 수 있다. 입력 전극(IE)과 출력 전극(OE)은 복수의 층들을 포함할 수 있다.An input electrode IE and an output electrode OE may be provided on the second insulating layer IL2. The output electrode OE is in contact with the output area OA of the semiconductor pattern SM by the first contact hole CH1 formed in the first insulating layer IL1 and the second insulating layer IL2, IE can contact the input region IA of the semiconductor pattern SM by the first contact hole CH2 formed in the first insulating layer IL1 and the second insulating layer IL2. The input electrode IE and the output electrode OE may comprise a plurality of layers.

입력 전극(IE)과 출력 전극(OE) 상에는 패시베이션층(PL)이 제공된다. 패시베이션층(PL)은 박막 트랜지스터(TFT)를 보호하는 보호막의 역할을 할 수 있고, 그 상면을 평탄화시키는 평탄화막의 역할을 할 수도 있다.A passivation layer PL is provided on the input electrode IE and the output electrode OE. The passivation layer PL may serve as a protective film for protecting the thin film transistor (TFT), and may serve as a planarization film for planarizing the upper surface thereof.

패시베이션층(PL) 상에는 제1 전극(EL1)이 제공된다. 제1 전극(EL1)은 예를 들어 양극일 수 있다. 제1 전극(EL1)은 패시베이션층(PL)에 형성되는 제3 콘택홀(CH3)을 통해 박막 트랜지스터(TFT)의 출력 전극(DE)에 연결된다. A first electrode EL1 is provided on the passivation layer PL. The first electrode EL1 may be, for example, a cathode. The first electrode EL1 is connected to the output electrode DE of the thin film transistor TFT through the third contact hole CH3 formed in the passivation layer PL.

패시베이션층(PL) 상에는 발광층(EML)을 구획하는 화소 정의막(PDL)이 제공된다. 화소 정의막(PDL)은 제1 전극(EL1)의 상면을 노출시킨다. 화소 정의막(PDL)에 의해 둘러싸인 영역에는 유기 발광 소자(OEL)가 제공된다. 유기 발광 소자(OEL)는 제1 전극(EL1), 정공 수송 영역(HTR), 발광층(EML), 전자 수송 영역(ETR) 및 제2 전극(EL2)을 포함한다.On the passivation layer PL, a pixel defining layer (PDL) for partitioning the light emitting layer (EML) is provided. The pixel defining layer PDL exposes the top surface of the first electrode EL1. An organic light emitting element OEL is provided in a region surrounded by the pixel defining layer PDL. The organic light emitting diode OEL includes a first electrode EL1, a hole transporting region HTR, a light emitting layer EML, an electron transporting region ETR and a second electrode EL2.

제1 전극(EL1)은 도전성을 갖는다. 제1 전극(EL1)은 화소 전극 또는 양극일 수 있다. 제1 전극(EL1)은 복수의 층들을 포함할 수 있다. 제1 전극(EL1)은 투과형 전극, 반투과형 전극 또는 반사형 전극일 수 있다.The first electrode EL1 has conductivity. The first electrode EL1 may be a pixel electrode or an anode. The first electrode EL1 may include a plurality of layers. The first electrode EL1 may be a transmissive electrode, a transflective electrode, or a reflective electrode.

제1 전극(EL1) 상에는 유기층이 배치될 수 있다. 유기층은 발광층(EML)을 포함한다. 유기층은 정공 수송 영역(HTR) 및 전자 수송 영역(ETR)을 더 포함할 수 있다.An organic layer may be disposed on the first electrode EL1. The organic layer includes a light emitting layer (EML). The organic layer may further include a hole transporting region (HTR) and an electron transporting region (ETR).

정공 수송 영역(HTR)은 제1 전극(EL1) 상에 제공된다. 정공 수송 영역(HTR)은, 정공 주입층, 정공 수송층, 버퍼층 및 전자 저지층 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The hole transporting region HTR is provided on the first electrode EL1. The hole transporting region HTR may include at least one of a hole injecting layer, a hole transporting layer, a buffer layer, and an electron blocking layer.

정공 수송 영역(HTR)은 단일 물질로 이루어진 단일층, 복수의 서로 다른 물질로 이루어진 단일층 또는 복수의 서로 다른 물질로 이루어진 복수의 층을 갖는 다층 구조를 가질 수 있다.The hole transporting region (HTR) may have a single layer of a single material, a single layer of a plurality of different materials, or a multi-layer structure having a plurality of layers of a plurality of different materials.

발광층(EML)은 정공 수송 영역(HTR) 상에 제공된다. 발광층(EML)은 단일 물질로 이루어진 단일층, 복수의 서로 다른 물질로 이루어진 단일층 또는 복수의 서로 다른 물질로 이루어진 복수의 층을 갖는 다층 구조를 가질 수 있다.The light emitting layer (EML) is provided on the hole transporting region (HTR). The light emitting layer (EML) may have a single layer made of a single material, a single layer made of a plurality of different materials, or a multi-layered structure having a plurality of layers made of a plurality of different materials.

발광층(EML)은 통상적으로 사용하는 물질이라면 특별히 한정되지 않으나, 예를 들어, 적색, 녹색 및 청색을 발광하는 물질로 이루어질 수 있으며, 형광 물질 또는 인광물질을 포함할 수 있다. 또한, 발광층(EML)은 호스트 및 도펀트를 포함할 수 있다.The light emitting layer (EML) is not particularly limited as long as it is a commonly used material. For example, the light emitting layer (EML) may be made of a material emitting red, green and blue light and may include a fluorescent material or a phosphorescent material. Further, the light emitting layer (EML) may include a host and a dopant.

전자 수송 영역(ETR)은 발광층(EML) 상에 제공된다. 전자 수송 영역(ETR)은, 정공 저지층, 전자 수송층 및 전자 주입층 중 적어도 하나를 포함할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.An electron transporting region (ETR) is provided on the light-emitting layer (EML). The electron transport region (ETR) may include, but is not limited to, at least one of a hole blocking layer, an electron transporting layer, and an electron injection layer.

제2 전극(EL2)은 전자 수송 영역(ETR) 상에 제공된다. 제2 전극(EL2)은 공통 전극 또는 음극일 수 있다. 제2 전극(EL2)은 복수의 층들을 포함할 수 있다. 제2 전극(EL2)은 투과형 전극, 반투과형 전극 또는 반사형 전극일 수 있다.And the second electrode EL2 is provided on the electron transporting region ETR. The second electrode EL2 may be a common electrode or a cathode. The second electrode EL2 may include a plurality of layers. The second electrode EL2 may be a transmissive electrode, a transflective electrode, or a reflective electrode.

유기 발광 소자(OEL)가 전면 발광형일 경우, 제1 전극(EL1)은 반사형 전극이고, 제2 전극(EL2)은 투과형 전극 또는 반투과형 전극일 수 있다. 유기 발광 소자(OEL)가 배면 발광형일 경우, 제1 전극(EL1)은 투과형 전극 또는 반투과형 전극이고, 제2 전극(EL2)은 반사형 전극일 수 있다.When the organic light emitting diode OEL is of the top emission type, the first electrode EL1 may be a reflective electrode and the second electrode EL2 may be a transmissive electrode or a transflective electrode. When the organic light emitting diode OEL is of a bottom emission type, the first electrode EL1 may be a transmissive electrode or a transflective electrode, and the second electrode EL2 may be a reflective electrode.

유기 발광 소자(OEL)에서, 제1 전극(EL1)과 제2 전극(EL2)에 각각 전압이 인가됨에 따라 제1 전극(EL1)으로부터 주입된 정공(hole)은 정공 수송 영역(HTR)을 거쳐 발광층(EML)으로 이동되고, 제2 전극(EL2)으로부터 주입된 전자가 전자 수송 영역(ETR)을 거쳐 발광층(EML)으로 이동된다. 전자와 정공은 발광층(EML)에서 재결합하여 여기자(exciton)을 생성하며, 여기자가 여기 상태에서 바닥 상태로 떨어지면서 발광하게 된다.As a voltage is applied to the first electrode EL1 and the second electrode EL2 in the organic light emitting diode OEL, the holes injected from the first electrode EL1 pass through the hole transport region HTR The electrons injected from the second electrode EL2 are transferred to the light emitting layer EML via the electron transporting region ETR. Electrons and holes are recombined in the light emitting layer (EML) to generate an exciton, and the excitons emit as they fall from the excited state to the ground state.

제2 전극(EL2) 상에는 봉지층(SL)이 제공된다. 봉지층(SL)은 제2 전극(EL2)을 커버한다. 봉지층(SL)은 유기층 및 무기층 중 적어도 하나의 층을 포함할 수 있다. 봉지층(SL)은 예를 들어 박막 봉지층일 수 있다. 봉지층(SL)은 유기 발광 소자(OEL)를 보호한다.An encapsulation layer SL is provided on the second electrode EL2. The sealing layer SL covers the second electrode EL2. The sealing layer SL may comprise at least one layer of an organic layer and an inorganic layer. The sealing layer SL may be, for example, a thin sealing layer. The sealing layer SL protects the organic light emitting element OEL.

본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치(100)에 있어서, 제어 전극(CE), 입력 전극(IE), 출력 전극(OE), 제1 전극(EL1), 제2 전극(EL2) 중 적어도 어느 하나는 도 2a에 도시된 도전 패턴(CP)일 수 있다. 즉, 제어 전극(CE), 입력 전극(IE), 출력 전극(OE), 제1 전극(EL1), 제2 전극(EL2) 중 적어도 어느 하나는 복수의 제1 그레인들을 포함하는 제1 도전 패턴층 및 복수의 제2 그레인들을 포함하는 제2 도전 패턴층을 포함할 수 있다.At least one of the control electrode CE, the input electrode IE, the output electrode OE, the first electrode EL1, and the second electrode EL2 in the electronic device 100 according to the embodiment of the present invention. One may be the conductive pattern (CP) shown in FIG. 2A. That is, at least one of the control electrode CE, the input electrode IE, the output electrode OE, the first electrode EL1, and the second electrode EL2 may include a first conductive pattern including a plurality of first grains, And a second conductive pattern layer including a plurality of second grains.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치에 포함되는 터치 스크린 패널을 개략적으로 나타낸 평면도이다.5 is a plan view schematically illustrating a touch screen panel included in an electronic device according to an embodiment of the present invention.

도 1a 내지 도 1c, 도 3 내지 도 5를 참조하면, 터치 스크린 패널(TSP)은 플렉서블 표시 패널(DP) 상에 제공된다. 터치 스크린 패널(TSP)은 봉지층(도 4의 SL) 상에 제공될 수 있다. 터치 스크린 패널(TSP)은 사용자의 직접 터치, 사용자의 간접 터치, 물체의 직접 터치 또는 물체의 간접 터치를 인식할 수 있다.Referring to Figs. 1A to 1C and Figs. 3 to 5, a touch screen panel TSP is provided on a flexible display panel DP. The touch screen panel TSP may be provided on the sealing layer (SL in Fig. 4). The touch screen panel (TSP) can recognize a user's direct touch, indirect touch of a user, direct touch of an object, or indirect touch of an object.

직접 터치 또는 간접 터치가 발생되면, 예를 들어 감지 전극(TE)에 포함되는 제1 감지 전극들(Tx) 및 제2 감지 전극들(Rx) 사이에 정전 용량의 변화가 발생된다. 정전 용량의 변화에 따라 제1 감지 전극들(Tx)에 인가되는 감지 신호는 딜레이되어 제2 감지 전극들(Rx)에 제공될 수 있다. 터치 스크린 패널(TSP)은 감지 신호의 딜레이 값으로부터 터치 좌표를 센싱할 수 있다.When a direct touch or an indirect touch is generated, for example, a capacitance change occurs between the first sensing electrodes Tx and the second sensing electrodes Rx included in the sensing electrode TE. The sensing signal applied to the first sensing electrodes Tx may be delayed and provided to the second sensing electrodes Rx according to the change of the capacitance. The touch screen panel (TSP) can sense the touch coordinates from the delay value of the sensing signal.

본 발멸의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널(TSP)은 정전 용량 방식으로 구동되는 것을 예를 들어 설명하였으나, 이에 한정하는 것은 아니고, 터치 스크린 패널(TSP)은 저항막 방식으로 구동될 수도 있다. 또한, 터치 스크린 패널(TSP)은 셀프 캡(Self cap) 방식 또는 뮤츄얼 캡(Mutual cap) 방식 중 어느 하나의 방식으로 구동될 수 있다.Although the touch screen panel TSP according to one embodiment of the present invention has been described as being driven in an electrostatic capacity mode, the present invention is not limited thereto. The touch screen panel TSP may be driven in a resistive manner. In addition, the touch screen panel TSP may be driven by any one of a self cap method and a mutual cap method.

터치 스크린 패널(TSP)은 플렉서블 표시 패널(DP) 상에 제공되는 도전 패턴(CP)을 포함할 수 있다. 도전 패턴(CP)은 후술하는 감지 전극(TE), 제1 브릿지(BD1), 제2 브릿지(BD2), 제1 연결 배선(TL1), 제2 연결 배선(TL2), 제1 팬아웃 배선(PO1), 및 제2 팬아웃 배선(PO2)을 포함할 수 있다.The touch screen panel TSP may include a conductive pattern CP provided on the flexible display panel DP. The conductive pattern CP is electrically connected to the sensing electrode TE, the first bridge BD1, the second bridge BD2, the first connection wiring TL1, the second connection wiring TL2, the first fan- PO1), and a second fan-out wiring PO2.

감지 전극(TE)은 봉지층(SL) 상에 제공된다. 도시하지는 않았으나, 감지 전극(TE) 및 봉지층(SL) 사이에는 별도의 플렉서블 기판이 제공될 수도 있다. 감지 전극(TE)은 복수의 층들을 포함할 수 있다.The sensing electrode TE is provided on the sealing layer SL. Although not shown, a separate flexible substrate may be provided between the sensing electrode TE and the sealing layer SL. The sensing electrode TE may comprise a plurality of layers.

감지 전극(TE)은 제1 감지 전극들(Tx) 및 제2 감지 전극들(Rx)을 포함한다. 제1 감지 전극들(Tx) 및 제2 감지 전극들(Rx) 각각은 서로 전기적으로 절연된다. 제1 감지 전극들(Tx) 및 제2 감지 전극들(Rx) 각각은 대략적으로 마름모, 정사각형, 직사각형, 원 또는 정형화되지 않은 모양(예를 들면, 덴드라이트(dendrite) 구조와 같이 나뭇가지들이 얽혀 있는 모양) 등의 다양한 형상을 가질 수 있다. 제1 감지 전극들(Tx) 및 제2 감지 전극들(Rx) 각각은 메쉬 형상을 갖는 것일 수도 있다. The sensing electrode TE includes first sensing electrodes Tx and second sensing electrodes Rx. The first sensing electrodes Tx and the second sensing electrodes Rx are electrically insulated from each other. Each of the first sensing electrodes Tx and the second sensing electrodes Rx may be formed in a substantially rhombic, square, rectangular, circular or unformed shape (e.g., a dendrite structure, Shape), and the like. Each of the first sensing electrodes Tx and the second sensing electrodes Rx may have a mesh shape.

도 5를 참조하면, 제1 감지 전극들(Tx) 및 제2 감지 전극들(Rx)은 서로 동일한 층 상에 제공될 수 있다. 제1 감지 전극들(Tx) 및 제2 감지 전극들(Rx) 각각은 봉지층(SL) 상에 제공될 수 있다. 제1 감지 전극들(Tx)은 제2 방향(DR2)으로 및 제3 방향(DR3)으로 이격되어 제공될 수 있다. 제2 방향(DR2)으로 이격된 제1 감지 전극들(Tx)은 제1 브릿지(BD1)에 의해 연결될 수 있다. 제1 브릿지(BD1)은 복수의 층으로 구성될 수 있다.Referring to FIG. 5, the first sensing electrodes Tx and the second sensing electrodes Rx may be provided on the same layer. Each of the first sensing electrodes Tx and the second sensing electrodes Rx may be provided on the sealing layer SL. The first sensing electrodes Tx may be provided in a second direction DR2 and in a third direction DR3. The first sensing electrodes Tx spaced in the second direction DR2 may be connected by the first bridge BD1. The first bridge BD1 may be composed of a plurality of layers.

제2 감지 전극들(Rx)은 제2 방향(DR2) 및 제3 방향(DR3)으로 이격되어 제공될 수 있다. 제3 방향(DR3)으로 이격된 제2 감지 전극들(Rx)은 제2 브릿지(BD2)에 의해 연결될 수 있다. 제2 브릿지(BD2)는 제1 브릿지(BD1) 상에 제공될 수 있다. 제2 브릿지(BD2)는 복수의 층으로 구성될 수 있다. 도시하지는 않았으나, 제2 브릿지(BD2) 및 제1 브릿지(BD1) 사이에는 절연층이 제공될 수 있다.The second sensing electrodes Rx may be provided in a second direction DR2 and a third direction DR3. The second sensing electrodes Rx spaced in the third direction DR3 may be connected by the second bridge BD2. The second bridge BD2 may be provided on the first bridge BD1. The second bridge BD2 may be composed of a plurality of layers. Although not shown, an insulating layer may be provided between the second bridge BD2 and the first bridge BD1.

연결 배선(TL1, TL2)은 감지 전극(TE)과 전기적으로 연결된다. 연결 배선(TL1, TL2)은 복수의 층들로 구성될 수 있다.The connection wirings TL1 and TL2 are electrically connected to the sensing electrode TE. The connection wirings TL1 and TL2 may be composed of a plurality of layers.

연결 배선(TL1, TL2)은 제1 연결 배선들(TL1) 및 제2 연결 배선들(TL2)을 포함한다. 제1 연결 배선들(TL1)은 제1 감지 전극들(Tx) 및 제1 팬아웃 배선들(PO1)과 연결될 수 있다. 제2 연결 배선들(TL2)은 제2 감지 전극들(Rx) 및 제2 팬아웃 배선들(PO2)과 연결될 수 있다.The connection wirings TL1 and TL2 include first connection wirings TL1 and second connection wirings TL2. The first connection wirings TL1 may be connected to the first sensing electrodes Tx and the first fan-out wirings PO1. The second connection wirings TL2 may be connected to the second sensing electrodes Rx and the second fan-out wirings PO2.

팬아웃 배선(PO1, PO2)은 연결 배선(TL1, TL2) 및 패드부(PD1, PD2)와 연결된다. 팬아웃 배선(PO1, PO2)은 복수의 층으로 구성될 수 있다. 팬아웃 배선(PO1, PO2)은 제1 팬아웃 배선들(PO1) 및 제2 팬아웃 배선들(PO2)을 포함한다. 제1 팬아웃 배선들(PO1)은 제1 연결 배선들(TL1) 및 제1 패드부(PD1)와 연결된다. 제2 팬아웃 배선들(PO2)은 제2 연결 배선들(TL2) 및 제2 패드부(PD2)와 연결된다.The fan-out wirings PO1 and PO2 are connected to the connection wirings TL1 and TL2 and the pad portions PD1 and PD2. The fan-out wirings PO1 and PO2 may be composed of a plurality of layers. The fan-out wirings PO1 and PO2 include first fan-out wirings PO1 and second fan-out wirings PO2. The first fan-out lines PO1 are connected to the first connection lines TL1 and the first pad portion PD1. The second fan-out wirings PO2 are connected to the second connection wirings TL2 and the second pad portion PD2.

패드부(PD1, PD2)는 감지 전극(TE)과 전기적으로 연결된다. 패드부(PD1, PD2)는 복수의 층으로 구성될 수 있다. 패드부(PD1, PD2)는 제1 패드부(PD1) 및 제2 패드부(PD2)를 포함한다. 제1 패드부(PD1)는 제1 팬아웃 배선들(PO1)과 연결된다. 제1 패드부(PD1)는 제1 감지 전극들(Tx)과 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 패드부(PD2)는 제2 팬아웃 배선들(PO2)과 연결된다. 제2 패드부(PD2)는 제2 감지 전극들(Rx)과 전기적으로 연결될 수 있다.The pad portions PD1 and PD2 are electrically connected to the sensing electrode TE. The pad portions PD1 and PD2 may be formed of a plurality of layers. The pad portions PD1 and PD2 include a first pad portion PD1 and a second pad portion PD2. The first pad portion PD1 is connected to the first fan-out lines PO1. The first pad unit PD1 may be electrically connected to the first sensing electrodes Tx. And the second pad portion PD2 is connected to the second fan-out lines PO2. The second pad portion PD2 may be electrically connected to the second sensing electrodes Rx.

본 발명의 일 실시예에서, 제1 감지 전극들(Tx) 및 제2 감지 전극들(Rx)이 서로 동일한 층 상에 제공되는 것을 도시하여 설명하였으나, 이에 한정되지 않으며, 제1 감지 전극들(Tx) 및 제2 감지 전극들(Rx)은 서로 상이한 층 상에 제공될 수도 있다. 예를 들어, 제1 감지 전극들(Tx)은 봉지층(SL) 상에 제공되고, 제1 감지 전극들(Tx) 상에는 절연층이 제공될 수 있다. 제2 감지 전극들(Rx)은 절연층 상에 제공될 수 있다.In the embodiment of the present invention, the first sensing electrodes Tx and the second sensing electrodes Rx are provided on the same layer. However, the present invention is not limited thereto, and the first sensing electrodes Tx and the second sensing electrodes Rx may be provided on different layers from each other. For example, the first sensing electrodes Tx may be provided on the sealing layer SL, and an insulating layer may be provided on the first sensing electrodes Tx. And the second sensing electrodes Rx may be provided on the insulating layer.

이하, 도면들을 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치(10)를 제조하는 전자 장치의 제조 장치에 대해 설명한다. 이하, 설명의 편의를 위해, 앞서 설명된 구성 요소들에 대해서는 도면 부호를 병기하고, 상기 구성 요소들에 대한 중복된 설명은 생략한다. Hereinafter, with reference to the drawings, an apparatus for manufacturing an electronic device for manufacturing an electronic device 10 according to an embodiment of the present invention will be described. Hereinafter, for convenience of explanation, the components described above are denoted by the same reference numerals, and redundant description of the components is omitted.

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 제조 장치의 개략도이고, 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 타겟 회전체의 사시도이다.FIG. 6 is a schematic view of an apparatus for manufacturing an electronic device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a perspective view of a target rotating body according to an embodiment of the present invention.

도 1a 내지 도 1c, 도 6 및 도 7을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 제조 장치는 챔버(1000), 스테이지(ST), 타겟 회전체(RT), 회전 구동부(RP), 및 고정부(FP)를 포함할 수 있다. 1A to 1C, 6 and 7, an apparatus for manufacturing an electronic device according to an embodiment of the present invention includes a chamber 1000, a stage ST, a target rotating body RT, a rotation driving unit RP ), And a fixing portion (FP).

본 발명의 일 실시예에서는 챔버(1000) 내에서 플렉서블 기판(FB) 상에 도전 패턴(CP)을 형성하기 위한 증착 공정이 진행된다. 챔버(1000)는 스테이지(ST), 타겟 회전체(RT), 회전 구동부(RP), 고정부(FP)를 수용한다. In an embodiment of the present invention, a deposition process for forming a conductive pattern CP on the flexible substrate FB in the chamber 1000 is performed. The chamber 1000 accommodates a stage ST, a target rotating body RT, a rotation driving unit RP, and a fixing unit FP.

플렉서블 기판(FB)은 스테이지(ST) 상에 제공될 수 있다. 스테이지(ST)는 플렉서블 기판(FB)을 고정 및 지지할 수 있다. The flexible substrate FB may be provided on the stage ST. The stage ST can fix and support the flexible substrate FB.

타겟 회전체(RT)는 플렉서블 기판(FB)이 배치된 스테이지(ST) 상에 배치된다. 타겟 회전체(RT)는 플렉서블 기판(FB)으로부터 일정간격 이격되어 배치될 수 있다. 타겟 회전체(RT)는 플렉서블 기판(FB)에 증착 물질을 공급할 수 있다. The target rotating body RT is disposed on the stage ST on which the flexible substrate FB is disposed. The target rotating body RT may be spaced apart from the flexible substrate FB by a predetermined distance. The target rotating body RT can supply the evaporation material to the flexible substrate FB.

도 7을 참조하면, 타겟 회전체(RT)는 제3 방향(DR3)을 따라 연장된 원기둥 형상을 가질 수 있다. 타겟 회전체(RT)는 제3 방향(DR3)으로 연장된 회전축(RX)을 중심으로 회전될 수 있다. Referring to FIG. 7, the target rotating body RT may have a cylindrical shape extending along the third direction DR3. The target rotating body RT may be rotated about the rotation axis RX extending in the third direction DR3.

타겟 회전체(RT)는 제3 방향(DR3)으로 연장된 몸체부(BP) 및 제3 방향(DR3)에 수직하며 몸체부(BP)에 연결된 측부들(SP)을 포함할 수 있다. 타겟 회전체(RT)의 측부들(SP)은 제3 방향(DR3)으로 연장된 몸체부(BP)의 길이만큼 이격되어 서로 마주본다. The target rotating body RT may include a body portion BP extending in the third direction DR3 and side portions SP perpendicular to the third direction DR3 and connected to the body portion BP. The side portions SP of the target rotating body RT are spaced apart from each other by the length of the body portion BP extending in the third direction DR3.

몸체부(BP)의 외부면은 제3 방향(DR3)을 따라 연장된 제1 영역(AR1) 및 제1 영역(AR1)에 인접한 제2 영역(AR2)으로 구분될 수 있다. 타겟 회전체(RT)의 제1 영역(AR1) 및 제2 영역(AR2)으로부터 서로 다른 증착 물질이 제공된다. 즉, 타겟 회전체(RT)의 몸체부(BP)는 제1 영역(AR1)에 대응되며 제1 증착 물질이 제공되는 제1 타겟부(T1) 및 제2 영역(AR2)에 대응되며 제1 증착 물질(M1)과 상이한 제2 증착 물질(M2)이 제공되는 제2 타겟부(T2)를 포함할 수 있다. 본 실시예에서, 제2 영역(AR2)의 면적이 제1 영역(AR1)의 면적보다 큰 것을 도시하였으나, 이에 한정되지 않으며, 제1 영역(AR1)과 제2 영역(AR2)의 면적 비율은 필요에 따라 달라질 수 있다. The outer surface of the body part BP may be divided into a first area AR1 extending along the third direction DR3 and a second area AR2 adjacent to the first area AR1. Different deposition materials are provided from the first region AR1 and the second region AR2 of the target rotating body RT. That is, the body portion BP of the target rotating body RT corresponds to the first target portion T1 and the second region AR2 corresponding to the first region AR1 and provided with the first deposition material, And a second target portion T2 to which a second deposition material M2 different from the deposition material M1 is provided. Although the area of the second area AR2 is larger than that of the first area AR1 in the present embodiment, the area ratio of the first area AR1 and the second area AR2 is not limited thereto, It can be changed as needed.

회전 구동부(RP)는 타겟 회전체(RT)의 측부들(SP) 각각에 연결되어 회전축(RX)을 중심으로 타겟 회전체(RT)를 회전시킬 수 있다. 회전 구동부(RP)는 타겟 회전체(RT)의 회전 속도를 조절할 수 있다. The rotation drive unit RP may be connected to each of the side portions SP of the target rotating body RT to rotate the target rotating body RT around the rotation axis RX. The rotation driving unit RP can adjust the rotation speed of the target rotating body RT.

고정부(FP)는 회전 구동부(RP)와 챔버(1000) 사이에 배치되며, 회전 구동부(RP) 및 타겟 회전체(RT)를 챔버(1000)에 고정시킬 수 있다. The fixing part FP is disposed between the rotation driving part RP and the chamber 1000 and can fix the rotation driving part RP and the target rotating body RT to the chamber 1000. [

도 8a 및 도 8b는 타겟 회전체의 개략적인 단면도이다.8A and 8B are schematic sectional views of a target rotating body.

도 7, 도 8a 및 도 8b를 참조하면, 타겟 회전체(RT)는 일정 내부 공간을 갖는 실린더 형상으로 제공될 수도 있다. 타겟 회전체(RT)의 몸체부(BP)는 외부로 노출되는 외측면(OS) 및 외측면(OS)에 대향하며 일정 내부 공간을 정의하는 내측면(IS)을 가질 수 있다. 7, 8A and 8B, the target rotating body RT may be provided in a cylindrical shape having a certain inner space. The body part BP of the target rotating body RT may have an inner side IS which opposes the outer side OS and the outer side OS exposed to the outside and defines a certain inner space.

제1 타겟부(T1)의 외측면(OS)에는 제1 증착 물질(M1)이 위치할 수 있고, 제2 타겟부(T2)의 외측면(OS)에는 제2 증착 물질(M2)이 위치할 수 있다. 도시되지 않았으나, 제1 증착 물질(M1)은 일정 내부 공간으로부터 제1 타겟부(T1)에 주입될 수 있으며, 제2 증착 물질(M2)은 일정 내부 공간으로부터 제2 타겟부(T2)에 주입될 수도 있다. The first deposition material M1 may be positioned on the outer side OS of the first target portion T1 and the second deposition material M2 may be positioned on the outer side OS of the second target portion T2. can do. Although not shown, the first deposition material M1 may be injected into the first target portion T1 from a certain inner space, and the second deposition material M2 may be injected from the certain inner space into the second target portion T2. .

본 발명의 일 실시예에서, 일정 내부 공간에는 자석들(MG)이 제공될 수 있다. 자석들(MG) 각각은 제3 방향(DR3)으로 연장될 수 있다. In one embodiment of the present invention, magnets MG may be provided in certain interior spaces. Each of the magnets MG may extend in the third direction DR3.

제1 방향(DR1) 및 제2 방향(DR2)에 의해 정의되는 평면에 평행한 타겟 회전체(RT)의 단면을 볼 때, 자석들(MG)은 타겟 회전체(RT)의 회전축(RX)이 지나는 중심에서 벗어나, 내측면(IS)의 일부분 상에 치우쳐 배치될 수 있다. The magnets MG are arranged on the rotation axis RX of the target rotating body RT so that the magnets MG can be seen from the side of the target rotating body RT parallel to the plane defined by the first direction DR1 and the second direction DR2. And may be offset from a center of the inner surface IS.

자석들(MG) 중 일부는 서로 다른 극성을 가질 수 있다. 도 8a 및 도 8b에서, 서로 동일한 극성을 갖는 2개의 자석들(MG1)과 2개의 자석들 사이에 배치되며 2개의 자석들과 다른 극성을 갖는 1개의 자석(MG2)이 배치된 것을 예로써 도시하였으나, 자석들의 개수는 이에 한정되지 않으며 2개 이상 제공될 수 있다. 또한, 적어도 하나의 자석이 나머지 자석들 중 어느 하나의 자석과 다른 극성을 가질 수 있다. Some of the magnets MG may have different polarities. 8A and 8B, two magnets MG1 having the same polarity to each other and one magnet MG2 disposed between the two magnets and having a polarity different from that of the two magnets are arranged as an example However, the number of magnets is not limited to this, and two or more magnets may be provided. Further, at least one magnet may have a polarity different from that of any one of the remaining magnets.

챔버(1000) 내에 주입된 플라즈마 가스에 의해 생성된 이온이 타겟 회전체(RT)에 인가된 전압에 의해 가속되어 증착 물질을 스퍼터링 시킨다. 증착 물질로부터 스퍼터링된 전하입자들(M1-P)은 자석들(MG)로 인해 형성된 자력선(MF)을 따라 포획될 수 있다. 이에, 플렉서블 기판(FB)의 특정 부분에 집중적으로 증착 공정을 수행하는 것이 가능하다. The ions generated by the plasma gas injected into the chamber 1000 are accelerated by the voltage applied to the target rotating body RT to sputter the deposition material. The charge particles (M1-P) sputtered from the deposition material can be captured along the magnetic force lines MF formed by the magnets MG. Thus, it is possible to perform the deposition process intensively on a specific portion of the flexible substrate FB.

도 9a 및 도 9b는 본 발명의 일 실시예에 따른 타겟 회전체의 단면도이다.9A and 9B are sectional views of a target rotating body according to an embodiment of the present invention.

도 9a를 참조하면, 타겟 회전체(RT)가 회전축(RX, 도 7참조)을 중심으로 시계방향 또는 반시계방향으로 회전됨에 따라, 제1 타겟부(T1)와 제2 타겟부(T2)의 위치가 변경될 수 있다. 이때, 자석(MG)의 위치는 변경되지 않고 고정되어 있을 수 있다. 9A, as the target rotating body RT is rotated clockwise or counterclockwise about the rotation axis RX (see FIG. 7), the first target portion T1 and the second target portion T2 are rotated in the clockwise or counterclockwise direction, Can be changed. At this time, the position of the magnet MG may be fixed without being changed.

도 9b를 참고하면, 타겟 회전체(RT)의 위치는 고정되어 있고, 자석(MG)이 이동하여 그 위치를 달리할 수 있다. 자석(MG)은 회전축(RX)을 중심으로 타겟 회전체(RT)의 내측면(IS)을 따라 시계방향 또는 반시계방향으로 회전할 수 있다. 이때, 자석(MG)이 이동함에 따라, 증착 물질이 제공되는 방향을 조절하는 것이 가능하다. 그러나, 이에 한정되지 않으며, 자석(MG)은 타겟 회전체(RT)가 이동하는 동안 그 위치를 달리할 수도 있다.Referring to FIG. 9B, the position of the target rotating body RT is fixed, and the magnet MG can move and change its position. The magnet MG can rotate clockwise or counterclockwise along the inner surface IS of the target rotating body RT about the rotation axis RX. At this time, as the magnet MG moves, it is possible to adjust the direction in which the deposition material is provided. However, the present invention is not limited to this, and the magnet MG may be positioned at different positions while the target rotating body RT moves.

도 10a 내지 도 10d는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 제조 장치의 개략적인 일 단면도로써, 플렉서블 기판(FB) 상에 도전 패턴(CP)을 형성하는 방법을 개략적으로 도시한 것이다. 10A to 10D are schematic cross-sectional views of an apparatus for manufacturing an electronic device according to an embodiment of the present invention, schematically showing a method of forming a conductive pattern CP on a flexible substrate FB.

도 10a 내지 도 10d에는 타겟 회전체(RT)로부터 증착 물질이 공급되는 공급 영역(SR) 및 공급 영역(SR)으로부터 공급된 증착 물질들이 증착되는 플렉서블 기판(FB)의 증착 영역(ER)을 예시적으로 도시하였다. 타겟 회전체(RT)로부터 공급되는 증착 물질들이 방사형으로 플렉서블 기판(FB)에 제공된다고 할 때, 공급 영역(SR)은 타겟 회전체(RT) 중 플렉서블 기판(FB)과 마주하는 일 부분에 정의될 수 있다. 증착 영역(ER)은 공급 영역(SR)의 면적에 따라 결정될 수 있으며, 증착 영역(ER)은 플렉서블 기판(FB)의 일 부분이거나, 플렉서블 기판(FB)의 전면일 수 있다.10A to 10D illustrate a deposition region ER of a flexible substrate FB on which deposition materials supplied from a supply region SR and a supply region SR from which a deposition material is supplied from a target rotating body RT are deposited . When the deposition material supplied from the target rotating body RT is radially provided to the flexible substrate FB, the supply region SR is defined in a part of the target rotating body RT opposite to the flexible substrate FB . The deposition area ER can be determined according to the area of the supply area SR and the deposition area ER can be a part of the flexible substrate FB or the front surface of the flexible substrate FB.

제1 증착 물질(M1) 및 제2 증착 물질(M2)은 타겟 회전체(RT)가 회전축(RX)을 중심으로 회전함에 따라 정의되는 복수의 모드들에서 공급될 수 있다. 도 10a는 제1 타겟부(T1)가 플렉서블 기판(FB)에 마주하고 제1 증착 물질(M1)이 플렉서블 기판(FB)에 공급되는 제1 모드를 도시한 것이며, 도 10c는 제2 타겟부(T2)가 플렉서블 기판(FB)에 마주하고 제2 증착 물질(M2)이 플렉서블 기판(FB)에 공급되는 제2 모드를 도시한 것이다. 도 10b는 제1 타겟부(T1)의 일 부분과 제2 타겟부(T2)의 일 부분이 동시에 플렉서블 기판(FB)과 마주하고 제1 증착 물질(M1) 및 제2 증착 물질(M2)이 플렉서블 기판(FB)에 공급되는 제3 모드를 도시한 것이다. 이하, 도 10a 내지 10c에서는 시간에 따라 제1 모드, 제3 모드, 및 제2 모드 순서로 모드가 변화되는 실시예를 예시적으로 설명한다.The first deposition material M1 and the second deposition material M2 may be supplied in a plurality of modes defined as the target rotating body RT rotates about the rotation axis RX. 10A shows a first mode in which the first target portion T1 faces the flexible substrate FB and the first deposition material M1 is supplied to the flexible substrate FB, And the second deposition material M2 is supplied to the flexible substrate FB while the second deposition material T2 faces the flexible substrate FB. 10B shows a state in which a portion of the first target portion T1 and a portion of the second target portion T2 face the flexible substrate FB at the same time and the first deposition material M1 and the second deposition material M2 And is supplied to the flexible substrate FB. Hereinafter, Figs. 10A to 10C illustrate examples in which modes are changed in the order of the first mode, the third mode, and the second mode according to time.

제1 모드, 제2 모드, 및 제3 모드에서, 타겟 회전체(RT)의 회전 속도는 서로 상이할 수 있다. 그러나, 이에 한정되지 않으며, 제1 모드, 제2 모드, 및 제3 모드에서 타겟 회전체(RT)의 회전 속도는 서로 동일하거나, 제1 모드, 제2 모드, 및 제3 모드 중 어느 하나의 모드에서만 상이할 수도 있다. In the first mode, the second mode, and the third mode, the rotational speeds of the target rotating body RT may be different from each other. However, the present invention is not limited to this. The rotation speeds of the target rotating body RT in the first mode, the second mode, and the third mode may be the same or may be different from each other in any one of the first mode, the second mode, Mode.

도 10a를 참조하면, 제1 모드에서, 제1 타겟부(T1)는 제1 증착 물질(M1)을 플렉서블 기판(FB) 상에 제공할 수 있다. 그 결과, 도 10b에 도시된 바와 같이, 플렉서블 기판(FB) 상에는 제1 증착 물질(M1)을 포함하는 제1 도전 패턴층(CPL1)이 형성된다. Referring to FIG. 10A, in the first mode, the first target portion T1 may provide the first deposition material M1 on the flexible substrate FB. As a result, as shown in FIG. 10B, a first conductive pattern layer CPL1 including a first deposition material M1 is formed on the flexible substrate FB.

제1 도전 패턴층(CPL1)이 형성된 후, 제1 모드에서 제3 모드로 타겟 회전체(RT)가 시계방향 또는 반시계방향으로 회전한다. After the first conductive pattern layer CPL1 is formed, the target rotating body RT is rotated clockwise or counterclockwise in the first mode to the third mode.

이때, 제1 타겟부(T1)의 일 부분과 제2 타겟부(T2)의 일 부분이 공급 영역(SR)이 된다. 제1 타겟부(T1)의 일 부분으로부터 제1 증착 물질(M1)이 공급되고, 제2 타겟부(T2)의 일 부분으로부터 제2 증착 물질(M2)이 공급됨에 따라, 제1 도전 패턴층(CPL1) 상에는 제1 증착 물질(M1)과 제2 증착 물질(M2)이 동시에 증착될 수 있다. 그 결과, 도 10c에 도시된 바와 같이, 제1 도전 패턴층(CPL1) 상에는 제1 증착 물질(M1)과 제2 증착 물질(M2)이 혼합된 혼합층(CPLM)이 형성된다. 혼합층(CPLM)은 타겟 회전체(RT)가 회전하는 동안에 한정하여 형성될 수 있다. At this time, a part of the first target portion T1 and a portion of the second target portion T2 become the supply region SR. The first deposition material M1 is supplied from one portion of the first target portion T1 and the second deposition material M2 is supplied from a portion of the second target portion T2, The first deposition material M1 and the second deposition material M2 may be simultaneously deposited on the first substrate CPL1. As a result, as shown in FIG. 10C, a mixed layer (CPLM) in which the first deposition material M1 and the second deposition material M2 are mixed is formed on the first conductive pattern layer CPL1. The mixed layer CPLM may be formed while the target rotating body RT is rotating.

도 10c를 참조하면, 제3 모드에서 제2 모드로 타겟 회전체(RT)가 회전할 수 있다. 제2 타겟부(T2)는 제2 증착 물질(M2)을 혼합층(CPLM) 상에 제공할 수 있다. 그 결과, 도 10d에 도시된 바와 같이, 혼합층(CPLM) 상에는 제2 증착 물질(M2)을 포함하는 제2 도전 패턴층(CPL2)이 형성된다. Referring to FIG. 10C, the target rotating body RT may be rotated from the third mode to the second mode. The second target portion T2 may provide the second deposition material M2 on the mixed layer CPLM. As a result, as shown in FIG. 10D, a second conductive pattern layer CPL2 including a second deposition material M2 is formed on the mixed layer CPLM.

도전 패턴(CP)에서 혼합층(CPLM)의 두께는 도전 패턴(CP)의 전체 두께 대비 약 0 초과 내지 약 0.05 이하의 비율로 제공될 수 있다.The thickness of the mixed layer CPLM in the conductive pattern CP may be provided in a ratio of more than about 0 and about 0.05 or less of the total thickness of the conductive pattern CP.

본 실시예에서는 제2 타겟부(T2)의 표면적이 제1 타겟부(T1)의 표면적보다 크게 제공됨에 따라, 제2 도전 패턴층(CPL2)가 제1 도전 패턴층(CPL1) 보다 두껍게 형성된 것을 도시하여 설명하였다. 그러나, 이에 한정되지 않으며, 제1 도전 패턴층(CPL1) 및 제2 도전 패턴층(CPL2)의 두께는 필요에 따라 제1 타겟부(T1) 및 제2 타겟부(T2)의 표면적 비율을 달리하여 조절할 수 있다. The surface area of the second target portion T2 is larger than the surface area of the first target portion T1 so that the second conductive pattern CPL2 is thicker than the first conductive pattern CPL1 Respectively. The thickness of the first conductive pattern layer CPL1 and the thickness of the second conductive pattern layer CPL2 may be different from each other in the ratio of the surface area of the first target portion T1 to the thickness of the second target portion T2 .

한편, 타겟 회전체(RT)는 각 모드들에서 다양한 방식으로 구동될 수 있다. 예를 들어, 타겟 회전체(RT)는 각 모드들에서 연속적으로 회전하거나, 일시적으로 정지한 후 회전할 수도 있다. 또한, 타겟 회전체(RT)의 각 모드들에서의 회전 속도는 일정하거나 시간에 따라 가변할 수도 있다. 또한, 타겟 회전체(RT)의 각 모드들에서의 회전 방향은 다를 수 있으며, 일 방향이거나 양방향일 수도 있다.Meanwhile, the target rotating body RT may be driven in various modes in each mode. For example, the target rotating body RT may continuously rotate in each mode, or temporarily stop and then rotate. Further, the rotational speed in each mode of the target rotating body RT may be constant or may vary with time. Further, the rotational directions in the respective modes of the target rotating body RT may be different, and may be unidirectional or bidirectional.

또한, 제1 모드, 제2 모드, 및 제3 모드에서 타겟 회전체(RT)의 회전 속도를 달리함에 따라, 제1 도전 패턴층(CPL1), 혼합층(CPLM), 및 제2 도전 패턴층(CPL2)의 두께를 달리 형성하는 것이 가능하다.In addition, the first conductive pattern layer CPL1, the mixed layer CPLM, and the second conductive pattern layer (second conductive pattern layer) may be formed by varying the rotational speed of the target rotating body RT in the first mode, the second mode, It is possible to form the thickness of the CPL2 differently.

본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 제조 장치는 하나의 챔버(1000) 내에서 하나의 타겟 회전체(RT)를 이용하여 서로 다른 증착 물질을 포함하는 복수의 층을 갖는 도전 패턴(CP)을 형성할 수 있음에 따라, 챔버(1000) 간의 이동 시간을 줄여 공정 시간을 단축시킬 수 있다. 또한, 하나의 챔버(1000) 내에서 복수의 층을 갖는 도전 패턴(CP)이 형성됨에 따라, 복수의 층들 사이에 금속 산화물이 형성되는 것을 방지할 수 있다. 이에, 복수의 층들 간의 접착력이 우수해지며, 복수의 층들 간의 면저항 특성이 향상될 수 있다. 그 결과, 벤딩 특성이 향상된 도전 패턴(CP)을 포함하는 전자 장치(10, 100)를 제공할 수 있다. An apparatus for manufacturing an electronic device according to an embodiment of the present invention includes a conductive pattern CP having a plurality of layers including different deposition materials using one target rotating body RT in one chamber 1000, The movement time between the chambers 1000 can be shortened and the processing time can be shortened. Further, as the conductive pattern CP having a plurality of layers is formed in one chamber 1000, metal oxide can be prevented from being formed between the plurality of layers. Thus, the adhesion between the plurality of layers is improved, and the sheet resistance characteristics between the plurality of layers can be improved. As a result, it is possible to provide the electronic device (10, 100) including the conductive pattern (CP) with improved bending characteristics.

도 11은 본 발명의 다른 실시예에 따른 타겟 회전체의 단면도이다.11 is a sectional view of a target rotating body according to another embodiment of the present invention.

도 11을 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 타겟 회전체(RT-1)의 몸체부(BP)는 제1 영역(AR1)에 대응되며 제1 증착 물질(M1)이 제공되는 제1 타겟부(T1), 제2 영역(AR2)에 대응되며 제2 증착 물질(M2)이 제공되는 제2 타겟부(T2), 제3 영역(AR3)에 대응되며 제3 증착 물질(M3)이 제공되는 제3 타겟부(T3)를 포함할 수 있다. 제3 타겟부(T3)는 제1 타겟부(T1)와 제2 타겟부(T2) 사이에 위치할 수 있다. 제3 증착 물질(M3)은 제1 증착 물질(M1) 및 제2 증착 물질(M2)과 상이하거나, 제1 증착 물질(M1) 또는 제2 증착 물질(M2)과 동일할 수 있다. 본 실시예에서, 제1 타겟부(T1), 제2 타겟부(T2), 및 제3 타겟부(T3)의 면적이 서로 동일한 것을 도시하였으나, 이에 한정되지 않으며, 제1 타겟부(T1), 제2 타겟부(T2), 및 제3 타겟부(T3)의 면적 비율은 필요에 따라 달라질 수 있다. 11, the body portion BP of the target rotating body RT-1 according to another embodiment of the present invention includes a first portion AR1 corresponding to the first region AR1, A second target portion T2 corresponding to the target portion T1 and the second region AR2 and provided with the second deposition material M2 and a third deposition material M3 corresponding to the third region AR3, And a third target portion T3 provided. The third target portion T3 may be positioned between the first target portion T1 and the second target portion T2. The third deposition material M3 may be different from the first deposition material M1 and the second deposition material M2 or may be the same as the first deposition material M1 or the second deposition material M2. In the present embodiment, the areas of the first target portion T1, the second target portion T2, and the third target portion T3 are the same, but the present invention is not limited thereto. The first target portion T1, The second target portion T2, and the third target portion T3 may vary as needed.

타겟 회전체(RT-1)로부터 제1 내지 제3 증착 물질들(M1, M2, M3)이 제공됨에 따라, 하나의 챔버(1000) 내에서 하니의 타겟 회전체(RT-1)를 이용하여 플렉서블 기판(FB) 상에 복수의 층들로 구성된 도전 패턴(CP)을 용이하게 제작할 수 있다. As the first to third deposition materials M1, M2 and M3 are provided from the target rotating body RT-1, the target rotating body RT-1 of the honeycomb is used in one chamber 1000 A conductive pattern CP composed of a plurality of layers can be easily fabricated on the flexible substrate FB.

도 12는 본 발명의 다른 실시예에 따른 전자 장치의 제조 장치의 개략적인 일 단면도이다.12 is a schematic cross-sectional side view of an apparatus for manufacturing an electronic device according to another embodiment of the present invention.

도 12를 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 전자 장치의 제조 장치는 복수의 타겟 회전체들을 포함할 수 있다. 도 12에서, 플렉서블 기판(FB) 상에 제1 타겟 회전체(RT1) 및 제2 타겟 회전체(RT2)가 서로 일정간격 이격되어 배치된 것을 도시하였으나, 이에 한정되지 않으며, 플렉서블 기판(FB)의 크기에 따라, 타겟 회전체들의 개수는 달라질 수 있다. Referring to FIG. 12, an apparatus for manufacturing an electronic device according to another embodiment of the present invention may include a plurality of target rotating bodies. 12, the first target rotating body RT1 and the second target rotating body RT2 are disposed on the flexible substrate FB at a predetermined distance from each other. However, the present invention is not limited to this, The number of target rotators may vary.

제1 타겟 회전체(RT1)로부터 증착 물질이 공급되는 제1 공급 영역(SR1)은 플렉서블 기판(FB)에 증착 물질이 증착되는 제1 증착 영역(ER1)에 대응하며, 제2 타겟 회전체(RT2)로부터 증착 물질이 공급되는 제2 공급 영역(SR2)은 플렉서블 기판(FB)에 증착 물질이 증착되는 제2 증착 영역(ER2)에 대응한다. 제1 증착 영역(ER1) 및 제2 증착 영역(ER2)은 플렉서블 기판(FB)의 전체 증착 영역(ER)에 해당할 수 있으며, 그 면적 비율은 서로 다를 수 있다. The first supply region SR1 from which the deposition material is supplied from the first target rotating body RT1 corresponds to the first deposition region ER1 in which the evaporation material is deposited on the flexible substrate FB, The second supply region SR2 to which the deposition material is supplied from the second substrate region RT2 corresponds to the second deposition region ER2 in which the deposition material is deposited on the flexible substrate FB. The first deposition region ER1 and the second deposition region ER2 may correspond to the entire deposition region ER of the flexible substrate FB and the area ratios thereof may be different from each other.

이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 기준하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술 분야에 통상의 지식을 갖는 자라면, 후술될 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be the most practical and preferred embodiment, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, is intended to cover various modifications and equivalent arrangements included within the spirit and scope of the appended claims. It will be understood that various modifications and changes may be made thereto without departing from the scope of the present invention.

따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허청구범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification, but should be defined by the claims.

FB: 플렉서블 기판 CP: 도전 패턴
TSP: 터치 스크린 패널 DP: 플렉서블 표시 패널
1000: 챔버 RT: 타겟 회전체
T1: 제1 타겟부 T2: 제2 타겟부
M1: 제1 증착 물질 M2: 제2 증착 물질
SR: 공급 영역 DE: 증착 영역
FB: Flexible substrate CP: Conductive pattern
TSP: Touch screen panel DP: Flexible display panel
1000: chamber RT: target rotating body
T1: first target portion T2: second target portion
M1: first deposition material M2: second deposition material
SR: supply area DE: deposition area

Claims (17)

기판을 지지하는 스테이지;
상기 기판 상에 배치되며, 일 방향을 따라 연장되고, 상기 기판에 서로 상이한 제1 증착 물질 및 제2 증착 물질을 공급하는 타겟 회전체; 및
상기 스테이지 및 상기 타겟 회전체를 수용하는 챔버를 포함하며,
상기 타겟 회전체는,
상기 타겟 회전체의 상기 일 방향을 따라 연장된 제1 영역에 위치하며, 상기 제1 증착 물질을 공급하는 제1 타겟부; 및
상기 제1 타겟부에 연결되며, 상기 타겟 회전체의 상기 제1 영역에 인접한 제2 영역에 위치하고, 상기 제2 증착 물질을 공급하는 제2 타겟부를 포함하는 전자 장치의 제조 장치.
A stage for supporting a substrate;
A target rotating body disposed on the substrate and extending along one direction, the target rotating body supplying a first deposition material and a second deposition material different from each other to the substrate; And
And a chamber for receiving the stage and the target rotating body,
The target rotating body may include:
A first target portion located in a first region extending along the one direction of the target rotating body, the first target portion supplying the first deposition material; And
And a second target portion connected to the first target portion and located in a second region adjacent to the first region of the target rotating body for supplying the second deposition material.
제1 항에 있어서,
상기 제1 증착 물질 및 상기 제2 증착 물질은 상기 타겟 회전체가 상기 일 방향을 따라 연장된 회전축을 중심으로 회전함에 따라 정의되는 복수의 모드들에서 공급되고, 상기 복수의 모드들은,
상기 제1 타겟부가 상기 기판에 마주하고 상기 제1 증착 물질이 상기 기판에 공급되는 제1 모드; 및
상기 제2 타겟부가 상기 기판에 마주하고, 상기 제2 증착 물질이 상기 기판에 공급되는 제2 모드를 포함하는 전자 장치의 제조 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the first deposition material and the second deposition material are supplied in a plurality of modes defined as the target rotating body rotates about an axis of rotation extending along the one direction,
A first mode in which the first target portion faces the substrate and the first deposition material is supplied to the substrate; And
And a second mode in which the second target portion faces the substrate and the second deposition material is supplied to the substrate.
제2 항에 있어서,
상기 복수의 모드들은, 상기 제1 타겟부의 일 부분과 상기 제2 타겟부의 일 부분이 동시에 상기 기판과 마주하는 제3 모드를 더 포함하며,
상기 제3 모드에서, 상기 제1 타겟부의 일 부분은 상기 제1 증착 물질을 상기 기판 상에 제공하며, 상기 제2 타겟부의 일 부분은 상기 제2 증착 물질을 상기 기판 상에 제공하는 전자 장치의 제조 장치.
3. The method of claim 2,
Wherein the plurality of modes further comprise a third mode in which a portion of the first target portion and a portion of the second target portion simultaneously face the substrate,
In the third mode, a portion of the first target portion provides the first deposition material on the substrate, and a portion of the second target portion provides the second deposition material on the substrate. Manufacturing apparatus.
제2 항에 있어서,
상기 1 모드에서의 상기 타겟 회전체의 회전 속도와 상기 제2 모드에서의 상기 타겟 회전체의 회전 속도는 서로 상이하거나, 서로 동일한 전자 장치의 제조 장치.
3. The method of claim 2,
Wherein the rotation speed of the target rotating body in the first mode and the rotation speed of the target rotating body in the second mode are different from or different from each other.
제2 항에 있어서,
상기 타겟 회전체는 외측면 및 내측면을 갖는 실린더 형상으로 제공되는 전자 장치의 제조 장치.
3. The method of claim 2,
Wherein the target rotating body is provided in a cylindrical shape having an outer side surface and an inner side surface.
제5 항에 있어서,
상기 타겟 회전체의 상기 내측면에 의해 정의된 내부 공간에 수용된 자석을 포함하며, 상기 자석은 상기 타겟 회전체에 의해 둘러싸인 전자 장치의 제조 장치.
6. The method of claim 5,
And a magnet housed in an inner space defined by the inner surface of the target rotating body, wherein the magnet is surrounded by the target rotating body.
제6 항에 있어서,
상기 자석은 상기 타겟 회전체의 상기 내측면 중 상기 기판과 인접한 영역에 위치하는 전자 장치의 제조 장치.
The method according to claim 6,
Wherein the magnet is located in an area of the inner surface of the target rotating body that is adjacent to the substrate.
제7 항에 있어서,
상기 자석은 상기 회전축을 중심으로 상기 타겟 회전체의 상기 내측면을 따라 회전 가능한 전자 장치의 제조 장치.
8. The method of claim 7,
Wherein the magnet is rotatable along the inner surface of the target rotating body about the rotation axis.
제5 항에 있어서,
상기 회전축을 중심으로 상기 타겟 회전체를 회전시키는 회전 구동부; 및
상기 회전 구동부와 상기 챔버 사이에 배치되며, 상기 회전 구동부 및 상기 타겟 회전체를 상기 챔버에 고정시키는 고정부를 더 포함하며,
상기 회전 구동부는 상기 타겟 회전체의 상기 외측면과 상기 내측면을 연결하는 일 측부 및 상기 일 측부에 대향하는 타 측부에 각각 연결되는 전자 장치의 제조 장치.
6. The method of claim 5,
A rotation driving unit for rotating the target rotating body about the rotation axis; And
And a fixing unit disposed between the rotation driving unit and the chamber and fixing the rotation driving unit and the target rotating body to the chamber,
Wherein the rotation driving portion is connected to one side portion connecting the outer side surface and the inner side surface of the target rotating body and the other side portion opposing the one side portion.
제1 항에 있어서,
상기 타겟 회전체는, 상기 제1 타겟부 및 상기 제2 타겟부 사이에 위치하며, 상기 타겟 회전체의 상기 제1 영역 및 상기 제2 영역에 인접한 제3 영역에 대응되고, 제3 증착 물질을 공급하는 제3 타겟부를 더 포함하는 전자 장치의 제조 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the target rotating body is positioned between the first target portion and the second target portion and corresponds to a third region adjacent to the first region and the second region of the target rotating body, And a third target portion for supplying the third target portion.
제1 항에 있어서,
상기 타겟 회전체는 복수 개로 제공될 수 있으며, 상기 타겟 회전체들은 일정 간격 이격되어 평행하게 배열되는 전자 장치의 제조 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the target rotating bodies may be provided in a plurality of locations, and the target rotating bodies are arranged in parallel spaced apart from each other by a predetermined distance.
벤딩부를 포함하는 플렉서블 기판; 및
적어도 일부가 상기 벤딩부 상에 제공 도전 패턴을 포함하고,
상기 도전 패턴은
제1 증착 물질을 포함하는 제1 도전 패턴층;
상기 제1 도전 패턴층 상에 제공되며, 상기 제1 증착 물질과 상이한 상기 제2 증착 물질을 포함하는 제2 도전 패턴층; 및
상기 제1 도전 패턴층 및 상기 제2 도전 패턴층 사이에 제공되며, 상기 제1 증착 물질 및 상기 제2 증착 물질을 포함하는 혼합층을 포함하는 전자 장치.
A flexible substrate including a bending portion; And
At least a portion of which comprises a conductive pattern provided on the bending portion,
The conductive pattern
A first conductive pattern layer including a first deposition material;
A second conductive pattern layer provided on the first conductive pattern layer and including the second deposition material different from the first deposition material; And
And a mixed layer provided between the first conductive pattern layer and the second conductive pattern layer and including the first deposition material and the second deposition material.
제12 항에 있어서,
상기 도전 패턴의 두께 대비 상기 혼합층의 두께 비는 0 초과 내지 0.05 이하인 전자 장치.
13. The method of claim 12,
Wherein a thickness ratio of the mixed layer to a thickness of the conductive pattern is more than 0 and not more than 0.05.
제12 항에 있어서,
상기 도전 패턴은 서로 일정 간격 이격되어 배치된 제1 감지 전극들 및 제2 감지 전극들을 포함하는 감지전극을 포함하는 전자 장치.
13. The method of claim 12,
Wherein the conductive pattern includes a sensing electrode including first sensing electrodes and second sensing electrodes spaced apart from each other by a predetermined distance.
제12 항에 있어서,
상기 플렉서블 기판은 박막 소자층, 표시 소자층, 및 박막 봉지층을 포함하며, 상기 도전 패턴은 상기 박막 봉지층 상에 배치되는 전자 장치.
13. The method of claim 12,
Wherein the flexible substrate includes a thin film element layer, a display element layer, and a thin film sealing layer, and the conductive pattern is disposed on the thin film sealing layer.
스테이지 상에 기판을 제공하는 단계;
제1 증착 물질을 공급하는 제1 타겟부 및 제2 증착 물질을 공급하는 제2 타겟부를 포함하며, 일 방향으로 연장된 타겟 회전체를 상기 기판 상에 위치시키는 단계; 및
상기 일 방향을 따라 연장된 회전축을 중심으로 상기 타겟 회전체를 회전시키며 상기 제1 증착 물질 및 상기 제2 증착 물질을 증착하는 단계를 포함하고,
상기 제1 증착 물질 및 상기 제2 증착 물질을 증착하는 단계는,
상기 제1 타겟부가 상기 기판에 마주하는 동안 상기 기판 상에 상기 제1 증착 물질을 공급하여 제1 도전 패턴층을 형성하는 단계;
상기 제1 타겟부의 일부분과 상기 제2 타겟부의 일부분이 상기 기판에 마주하는 동안 상기 기판 상에 상기 제1 증착 물질 및 상기 제2 증착 물질을 공급하여 혼합층을 형성하는 단계; 및
상기 제2 타겟부가 상기 기판에 마주하는 동안 상기 혼합층 상에 상기 제2 증착 물질을 공급하여 제2 도전 패턴층을 형성하는 단계를 포함하는 전자 장치의 제조 방법.
Providing a substrate on a stage;
Positioning a target rotating body extending in one direction on the substrate, the target rotating body including a first target portion supplying a first deposition material and a second target portion supplying a second deposition material; And
And rotating the target rotating body around a rotation axis extending along the one direction to deposit the first deposition material and the second deposition material,
Wherein depositing the first deposition material and the second deposition material comprises:
Forming a first conductive pattern layer by supplying the first deposition material onto the substrate while the first target portion faces the substrate;
Forming a mixed layer by supplying the first deposition material and the second deposition material onto the substrate while a portion of the first target portion and a portion of the second target portion face the substrate; And
And supplying the second deposition material onto the mixed layer while the second target portion faces the substrate to form a second conductive pattern layer.
제16항에 있어서,
상기 제1 타겟부는 상기 타겟 회전체의 상기 일 방향으로 연장된 제1 영역에 위치하며, 상기 제2 타겟부는 상기 제1 타겟부에 연결되며, 상기 제1 영역에 인접한 제2 영역에 위치하는 전자 장치의 제조 방법.
17. The method of claim 16,
Wherein the first target portion is located in a first region of the target rotating body extending in the one direction and the second target portion is connected to the first target portion, ≪ / RTI >
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