KR20170127659A - Probe for Measuring Radiation Characteristicof Antenna - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a probe for measuring radiative characteristics of an antenna. The probe has a front end formed to protrude in such a manner that a length of a signal electrode member disposed between a first ground electrode member and a second ground electrode member is longer than lengths of the first ground electrode member and the second ground electrode member, thereby measuring efficiency and a pattern as far-field radiative performance of a terahertz band on-chip antenna, which is difficult to be measured, in a relatively convenient and accurate manner. It is possible to manufacture a standard detector, which can be used in a probe station environment, differently from a typical detector required to be customized depending on experimental environment. Moreover, it takes a short time to obtain characteristics of a frequency in an antenna measurement setup. Specifically, the probe is combined with a network analyzer such that radiative characteristics of all frequency bands, which can be measured by a setup, can be measured at one time.

Description

안테나의 방사특성 측정용 프로브{Probe for Measuring Radiation Characteristicof Antenna}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a probe for measuring radiation characteristics of an antenna,

본 발명은 안테나의 방사특성 측정용 프로브에 관한 것으로 더 상세하게는 테라헤르츠 대역의 온-칩 안테나의 방사특성을 효율적으로 측정할 수 있는 안테나의 방사특성 측정용 프로브에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a probe for measuring radiation characteristics of an antenna, and more particularly, to a probe for measuring radiation characteristics of an antenna that can efficiently measure radiation characteristics of an on-chip antenna in a terahertz band.

일반적으로 무선 통신 시스템에서는 주파수를 이용하여 데이터 또는 시그널을 송/수신한다.Generally, a wireless communication system transmits / receives data or signals using a frequency.

무선 통신 시스템에서는 신호를 송신 및 수신하기 위해서 안테나가 구비되며, 안테나는 데이터 또는 시그널을 송/수신를 효율적으로 송신 또는 수신하기 위해서 성능 향상을 위한 연구와 개발이 활발하게 이루어지고 있는 실정이다.2. Description of the Related Art [0002] In a wireless communication system, an antenna is provided to transmit and receive a signal. An antenna is actively studied and developed to improve performance in order to efficiently transmit or receive data or signals.

안테나는 소재와 형태 등에 따라 다양한 성능을 가지게 되고, 각 용도에 맞는 특성을 가지는 것이 중요하므로 제조 시 안테나의 성능 즉, 방사특성을 정확하게 측정하는 것이 중요하다.It is important that the antenna has various performances according to the material and the shape, and it is important to have the characteristic suitable for each application, so it is important to accurately measure the performance of the antenna, that is, the radiation characteristic at the time of manufacture.

통상 안테나의 방사특성을 측정하는 far-field 방사특성 측정용 프로브는 규격화된 것이 존재하지 않아 해당 안테나의 far-field 방사특성 측정을 위해 별도로 주문생산되고 있다. Generally, there is no standardized far-field radiation characteristic measuring probe for measuring the radiation characteristic of an antenna, and thus, a separately manufactured probe for measuring the far-field radiation characteristic of the corresponding antenna is produced.

도 1은 회로에 직접 접촉되어 회로의 특성을 추출하는 접촉식 회로특성 측정용 프로브를 도시한 개략도로써, 도 1을 참고하면 접촉식 회로특성 측정용 프로브는 도파관(1a)이 구비된 프로브 몸체(1)의 선단부에 두개의 그라운드 전극(2)과 상기 그라운드 전극(2) 사이에 배치되는 시그널 전극(3)을 구비한다.FIG. 1 is a schematic view showing a contact type circuit characteristic measuring probe which directly contacts a circuit to extract the characteristics of a circuit. Referring to FIG. 1, the probe for measuring a contact type circuit characteristic includes a probe body 1), and a signal electrode (3) disposed between the ground electrode (2).

상기 두개의 그라운드 전극(2)과 두개의 상기 그라운드 전극(2) 사이에 배치되는 시그널 전극(3)은 측정 대상 안테나로부터 신호를 전달받아 상기 도파관(1a)으로 전이한다.A signal electrode 3 disposed between the two ground electrodes 2 and the two ground electrodes 2 receives a signal from the antenna to be measured and transitions to the waveguide 1a.

종래 접촉식 회로특성 측정용 프로브는 동축포트(4)에 연결된 두개의 그라운드 전극(2)과 시그널 전극(3)을 구비하며, 상기 시그널 전극(3)은 상기 그라운드 전극(2) 사이에 배치되고 있다.A conventional contact type circuit property measuring probe has two ground electrodes 2 and a signal electrode 3 connected to a coaxial port 4 and the signal electrode 3 is disposed between the ground electrodes 2 have.

도 2는 종래 접촉식 회로특성 측정용 프로브에서 탐지용 전극을 시뮬레이션으로 관찰하기 위한 도시한 개략도로써, 도 2를 참고하면 종래 접촉식 회로특성 측정용 프로브는 상기 두개의 그라운드 전극(2)과 상기 시그널 전극(3)은 길이가 동일하여 상기 프로브 몸체(1)의 선단부에 돌출되는 단부가 모두 동일한 선상에 배치되는 구조를 가진다.FIG. 2 is a schematic view for observing a detection electrode by a simulation in a conventional contact type circuit characteristic measuring probe. Referring to FIG. 2, the conventional contact type circuit characteristic measuring probe includes the two ground electrodes 2, The signal electrodes 3 have the same length so that the protruding ends of the probe body 1 are arranged on the same line.

도 2에서 도시된 동축포트(4)는 접촉식 회로특성 측정용 프로브를 시뮬레이션하기 위한 구성임을 밝혀둔다. It is noted that the coaxial port 4 shown in Fig. 2 is a configuration for simulating a contact type circuit characteristic measuring probe.

즉, 종래 접촉식 회로특성 측정용 프로브는 상기 두개의 그라운드 전극(2)의 일단부와 상기 시그널 전극(3)의 일단부는 각각 동축포트(4)에 연결되어 지지되고, 상기 두개의 그라운드 전극(2)의 일단부와 상기 시그널 전극(3)의 타단부는 상기 프로브 몸체(1)의 선단부에 일부가 돌출되는데 돌출되는 일부가 모두 일치되게 배치되는 구조를 가지는 것이다. That is, in the conventional contact type circuit characteristic measuring probe, one end of the two ground electrodes 2 and one end of the signal electrode 3 are connected to the coaxial port 4, 2 and the other end of the signal electrode 3 are partially protruded from the distal end of the probe body 1 so that the protruding portions are partially aligned.

그러나, 종래 접촉식 회로특성 측정용 프로브는 테라헤르츠 대역 즉, 300 GHz ~ 1 THz 범위의 주파수 대역에서 안테나 방사특성 측정에 어려움이 있는 문제점이 있었다.However, the probe of the conventional contact type circuit characteristic has a problem in that it is difficult to measure the antenna radiation characteristic in the frequency band of THz, that is, in the range of 300 GHz to 1 THz.

테라헤르츠 대역은 300 GHz ~ 1 THz 범위의 주파수 대역이며 높은 주파수 특성상 자유공간 경로손실이 크기 때문에 온-칩 안테나 방사 특성 측정에 많은 어려움이 있는 것이다.The terahertz band is a frequency band in the range of 300 GHz to 1 THz, and because of the high frequency characteristics, free space path loss is large, so there is a great difficulty in measuring the on-chip antenna radiation characteristic.

따라서, 온-칩 안테나 방사 특성을 측정하기 위해서는 매우 큰 전원 (source)과 민감도(sensitivity) 성능이 뛰어난 탐지기를 사용하거나 방사 측정만을 위해 특수 제작한 수신 장비를 통해 수 mm 단위 근접 거리에서의 측정하는 방법이 있다. 그러나 성능이 뛰어난 테라헤르츠 전원과 탐지기는 개발되지 않은 경우가 대부분이기 때문에 사용이 어려우며, 근접 거리에서 측정을 수행하고자 하는 경우 표준 장비를 구매하여 사용하기보다는 실험자가 상황에 맞추어 주문 제작을 해야 하는 어려운 점이 있다.Therefore, in order to measure the on-chip antenna radiation characteristic, it is necessary to use a detector with a very high power source and sensitivity, There is a way. However, it is difficult to use terahertz power supply and detector with high performance because most of them are not developed. When it is necessary to perform measurement at close range, it is difficult to make customized order according to the situation There is a dot.

본 발명의 목적은 측정이 어려운 테라헤르츠 대역 온-칩 안테나의 far-field 방사 성능인 효율과 패턴을 상대적으로 간편하고 정밀하게 측정할 수 있는 안테나의 방사특성 측정용 프로브를 제공하는 데 있다. SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a probe for measuring the radiation characteristics of an antenna which can relatively easily and precisely measure the efficiency and the pattern of the far-field radiation performance of a terahertz band on-chip antenna which is difficult to measure.

본 발명의 다른 목적은 종래의 접촉식 회로 측정용 프로브를 개조하여 안테나의 방사특성 측정용 브로브를 간단하게 제조할 수 있도록 한 안테나의 방사특성 측정용 프로브를 제공하는 데 있다.It is another object of the present invention to provide a probe for measuring the radiation property of an antenna, which can easily manufacture a probe for measurement of radiation characteristics of an antenna by modifying a conventional contact-type circuit measuring probe.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 의한 안테나의 방사특성 측정용 프로브는 외측면에 돌출된 도파관부를 구비하는 프로브 본체, 상기 프로브 본체의 일측에서 배치되며 선단부가 상기 프로브 본체의 선단부 측으로 일부분 돌출되는 제1그라운드 전극부재, 상기 제1그라운드 전극부재와 이격되게 상기 프로브 본체의 타측에 배치되고 선단부가 상기 프로브 본체의 선단부 측으로 일부분 돌출되는 제2그라운드 전극부재 및 상기 제1그라운드 전극부재와 상기 제2그라운드 전극부재의 사이에 배치되고, 선단부가 상기 프로브 본체의 선단부 측으로 일부분 돌출되는 시그널 전극부재를 포함하며, 상기 시그널 전극부재의 길이는 상기 제1그라운드 전극부재의 길이와 상기 제2그라운드 전극부재의 길이보다 더 긴 길이를 가져 선단부가 상기 제1그라운드 전극부재의 선단부와 상기 제2그라운드 전극부재의 선단부보다 더 돌출되게 배치되는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a probe for measuring radiation characteristics of an antenna, comprising: a probe body having a waveguide portion protruding from an outer surface; a probe body disposed at one side of the probe body, A second ground electrode member disposed on the other side of the probe main body so as to be spaced apart from the first ground electrode member and having a distal end portion protruding partly toward the distal end side of the probe main body, And a signal electrode member disposed between the second ground electrode member and having a distal end portion protruding partially toward the distal end side of the probe main body, wherein the length of the signal electrode member is longer than the length of the first ground electrode member, The length of the electrode member is longer than the length of the electrode member, 1 is characterized in that the front end of the ground electrode member and said second protrusion being arranged further than the front end portion of the ground electrode strip.

본 발명에서 상기 시그널 전극부재는 상기 제1그라운드 전극부재와 상기 제2그라운드 전극부재의 선단부로부터 측정대상 안테나의 주파수에서 λ/4 의 길이만큼 더 길게 형성될 수 있다.In the present invention, the signal electrode member may be formed longer than the first antenna electrode and the second ground electrode member by a length of? / 4 at the frequency of the antenna to be measured.

본 발명에서 상기 시그널 전극부재는 상기 도파관부 측으로 연결되는 제1시그널 전극체, 상기 제1시그널 전극체의 단부에 연결되는 제2시그널 전극체를 포함할 수 있다.In the present invention, the signal electrode member may include a first signal electrode body connected to the waveguide unit side, and a second signal electrode body connected to an end of the first signal electrode body.

본 발명에서 상기 제1시그널 전극체는 상기 제1그라운드 전극부재, 상기 제2그라운드 전극부재와 동일한 길이로 형성될 수 있다.In the present invention, the first signal electrode unit may have the same length as the first ground electrode member and the second ground electrode member.

본 발명에서 상기 제1그라운드 전극부재의 선단부에는 측정대상 안테나를 향하는 면에 제1그라운드 탐침부가 돌출되고, 상기 제2그라운드 전극부재의 선단부에는 측정대상 안테나를 향하는 면에 제2그라운드 탐침부가 돌출되고, 상기 제1시그널 전극체의 선단부에는 측정대상 안테나를 향하는 면에 시그널 탐침부가 돌출되며, 상기 제2시그널 전극체는 상기 시그널 탐침부에 연결되어 고정될 수 있다.In the present invention, a first ground probe portion protrudes from a surface of the first ground electrode member facing the antenna to be measured, and a second ground probe portion protrudes from a surface of the second ground electrode member toward a measurement target antenna A signal probe portion is protruded on a surface of the first signal electrode body facing the antenna to be measured, and the second signal electrode body is connected to the signal probe portion.

본 발명에서 상기 제2시그널 전극체는 전극 와이어로 양단부가 각각 상기 제1시그널 전극체의 양 측에 고정된 형태를 가질 수 있다.In the present invention, the second signal electrode body may have a shape in which both ends of the electrode are fixed to both sides of the first signal electrode body.

본 발명에서 상기 제2시그널 전극체는 상기 제1시그널 전극체에 분리 가능하게 결합될 수 있다.In the present invention, the second signal electrode unit may be detachably coupled to the first signal electrode unit.

본 발명에서 상기 제1시그널 전극체와 상기 제2시그널 전극체는 전극 플레이트 형상으로 형성되고, 상기 제2시그널 전극체는 상기 제1시그널 전극체에 볼트로 체결되어 결합될 수 있다.In the present invention, the first signal electrode unit and the second signal electrode unit may be formed in the shape of an electrode plate, and the second signal electrode unit may be coupled to the first signal electrode unit by bolts.

본 발명에서 상기 제2시그널 전극체는 전극 와이어로 형성되고, 상기 제1시그널 전극체의 양측에는 상기 전극 와이어의 양 단부가 각각 끼워져 결합되는 와이어 끼움홈부가 구비되어 상기 전극 와이어의 양 단부를 상기 와이어 끼움홈부에 각각 끼워 결합시킬 수 있다.In the present invention, the second signal electrode body is formed of an electrode wire, and both ends of the first signal electrode body are provided with a wire fitting groove in which both ends of the electrode wire are inserted and joined, Fit into the wire fitting groove portions.

본 발명에서 상기 시그널 전극부재는 하나의 일치된 형상을 가지는 하나의 몸체로 형성될 수 있다. In the present invention, the signal electrode member may be formed as a single body having one matching shape.

본 발명은 측정이 어려운 테라헤르츠 대역 온-칩 안테나의 far-field 방사 성능인 효율과 패턴을 상대적으로 간편하고 정밀하게 측정할 수 있는 효과가 있다.The present invention has the effect of relatively easily and precisely measuring the efficiency and pattern of the far-field radiation performance of the terahertz band on-chip antenna, which is difficult to measure.

본 발명은 실험 환경별로 주문 제작이 필요한 일반적인 탐지기와 달리 프로브스테이션 환경에서 사용 가능한 표준 탐지기 제작이 가능한 효과가 있다.The present invention is capable of producing a standard detector that can be used in a probe station environment as opposed to a general detector that requires customization for each experimental environment.

또한 본 발명은 안테나 측정 셋업에서 주파수에 대한 특성을 얻는데 짧은 시간이 소요되며, 특히 네트워크 분석기(network analyzer)와 결합하여 셋업으로 측정 가능한 전 주파수 대역의 방사 특성 측정이 한 번에 가능한 효과가 있다.In addition, the present invention takes a short time to obtain the characteristics for the frequency in the antenna measurement setup, and in particular, it is possible to measure the radiation characteristics of the entire frequency band which can be measured by the setup in combination with a network analyzer.

도 1은 종래의 접촉식 회로특성 측정용 프로브를 도시한 개략도.
도 2는 종래 접촉식 회로특성 측정용 프로브에서 탐지용 전극을 도시한 개략도.
도 3은 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브의 일 실시예를 도시한 도면.
도 4는 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브에서 탐지용 전극의 일 실시 예를 도시한 개략도.
도 5는 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브에서 탐지용 전극의 다른 실시 예를 도시한 개략도.
도 6 및 도 7은 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브에서 탐지용 전극의 또 다른 실시 예를 도시한 개략도.
도 8은 시뮬레이션 툴을 통해 모델링한 종래 회로특성 측정용 프로브와 air-open 반사파(S11) 성능 그래프를 포함한 도면.
도 9는 모델링한 종래 회로특성 측정용 프로브를 검증하기 위해 전송선 측정 상황을 시뮬레이션 한 그래프를 포함한 도면.
도 10은 탐지능력 분석 과정에서 사용될 임의의 300 GHz 온-칩 안테나를 도시한 도면
도 11은 종래 회로특성 측정용 프로브를 탐지기로 활용했을 때 측정되는 유사-방사 효율 그래프를 포함한 도면.
도 12는 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브와 air-open 반사파(S11) 성능 그래프를 포함한 도면.
도 13은 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브로 측정되는 유사-방사 효율 그래프를 포함한 도면.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 is a schematic view showing a probe for measuring a conventional contact type circuit characteristic. Fig.
2 is a schematic view showing a detection electrode in a probe for measuring a conventional contact type circuit characteristic.
3 is a view showing an embodiment of a probe for measuring radiation characteristics of an antenna according to the present invention.
4 is a schematic view showing one embodiment of a detection electrode in a probe for measuring radiation characteristics of an antenna according to the present invention.
5 is a schematic view showing another embodiment of a detection electrode in a probe for measuring radiation characteristics of an antenna according to the present invention.
6 and 7 are schematic views showing another embodiment of a detection electrode in a probe for measuring radiation characteristics of an antenna according to the present invention.
8 is a view showing a conventional circuit characteristic measurement probe modeled through a simulation tool and an air-open reflected wave (S11) performance graph.
Fig. 9 is a diagram including a graph simulating a transmission line measurement situation to verify a modeled conventional circuit characteristic measurement probe. Fig.
Figure 10 shows an example of any 300 GHz on-chip antenna to be used in the detection capability analysis process.
11 is a view showing a quasi-radiation efficiency graph measured when a conventional circuit characteristic measuring probe is used as a detector.
12 is a view showing a performance graph of a radiation characteristic measurement probe and an air-open reflected wave (S11) performance of an antenna according to the present invention.
13 is a graph showing a pseudo-radiation efficiency graph measured with a radiation property measurement probe of an antenna according to the present invention.

본 발명을 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다. 여기서, 반복되는 설명, 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 공지 기능, 및 구성에 대한 상세한 설명은 생략한다. 본 발명의 실시형태는 당 업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다. 따라서, 도면에서의 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있다.The present invention will now be described in detail with reference to the accompanying drawings. Hereinafter, a repeated description, a known function that may obscure the gist of the present invention, and a detailed description of the configuration will be omitted. Embodiments of the present invention are provided to more fully describe the present invention to those skilled in the art. Accordingly, the shapes and sizes of the elements in the drawings and the like can be exaggerated for clarity.

도 3은 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브의 일 실시예를 도시한 도면이며, 도 4는 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브에서 탐지용 전극의 일 실시 예를 도시한 개략도로써 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브를 시뮬레이션하기 위한 구성을 도시한 것이고, 시뮬레이션을 위해 동축포트(12)에 제1그라운드 전극부재(20), 제2그라운드 전극부재(30), 시그널 전극부재(40)의 단부가 각각 고정되게 도시되었음을 밝혀둔다. FIG. 3 is a view showing an embodiment of a probe for measuring radiation characteristics of an antenna according to the present invention, FIG. 4 is a schematic view showing an embodiment of a detection electrode in a probe for measuring radiation characteristics of an antenna according to the present invention, A second ground electrode member 30, a second ground electrode member 30, a second ground electrode member 30, a second ground electrode member 30, a second ground electrode member 30, And the end portions of the electrode member 40 are shown to be fixed, respectively.

도 3 및 도 4를 참고하여 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브의 일 실시 예를 하기에서 상세히 설명한다.3 and 4, an embodiment of a probe for measuring radiation characteristics of an antenna according to the present invention will be described in detail below.

본 발명의 일 실시예에 의한 안테나의 방사특성 측정용 프로브는 외측면에 돌출된 도파관부(11)를 구비하는 프로브 본체(10)를 포함한다.
The probe for measuring radiation characteristics of an antenna according to an embodiment of the present invention includes a probe main body 10 having a waveguide part 11 protruding from its outer surface.

상기 프로브 본체(10)에는 안테나의 방사특성을 측정하기 위한 탐지용 전극이 구비되며, 상기 탐지용 전극은 서로 이격된 제1그라운드 전극부재(20)와 제2그라운드 전극부재(30) 및 상기 제1그라운드 전극부재(20)와 상기 제2그라운드 전극부재(30) 사이에 배치되는 시그널 전극부재(40)를 포함한다.The probe body 10 is provided with a detection electrode for measuring the radiation characteristic of the antenna. The detection electrode includes a first ground electrode member 20, a second ground electrode member 30, And a signal electrode member (40) disposed between the first ground electrode member (20) and the second ground electrode member (30).

상기 제1그라운드 전극부재(20)는 상기 프로브 본체(10)의 일측에서 후단부가 상기 동축포트부(12)에 연결되고, 선단부가 상기 프로브 본체(10)의 선단부 측으로 일부분 돌출되게 배치된다.The first ground electrode member 20 has a rear end connected to the coaxial port portion 12 at one side of the probe main body 10 and a distal end portion protruding from the distal end side of the probe main body 10.

상기 동축포트부(12)는 본 발명의 일 실시예에 의한 안테나의 방사특성 측정용 프로브를 시뮬레이션하기 위해 포함되는 것이며, 실제 본 발명의 일 실시예에 의한 안테나의 방사특성 측정용 프로브는 상기 제1그라운드 전극부재(20), 상기 제2그라운드 전극부재(30), 상기 시그널 전극부재(40)에서 탐지된 신호를 바로 상기 도파관부(11)로 전환하며, 상기 제1그라운드 전극부재(20), 상기 제2그라운드 전극부재(30), 상기 시그널 전극부재(40)과 상기 도파관부(11)의 사이에는 도시하지는 않았지만 신호전환구조체가 포함될 수 있고, 이러한 신호전환구조체는 공지의 구성인 바 더 상세한 설명은 생략함을 밝혀둔다. The coaxial port part 12 is included to simulate a probe for measuring the radiation property of the antenna according to an embodiment of the present invention. Actually, the probe for measuring the radiation property of the antenna according to an embodiment of the present invention includes the above- The first ground electrode member 20 switches the signal detected by the first ground electrode member 20, the second ground electrode member 30 and the signal electrode member 40 directly to the waveguide unit 11, (Not shown) may be included between the second ground electrode member 30, the signal electrode member 40, and the waveguide unit 11. The signal switching structure may include a signal conversion structure, The detailed description is omitted.

또한, 상기 제2그라운드 전극부재(30)는 상기 프로브 본체(10)의 타측에서 후단부가 상기 동축포트부(12)에 연결되고, 선단부가 상기 프로브 본체(10)의 선단부 측으로 일부분 돌출되게 배치된다.The second ground electrode member 30 has a rear end connected to the coaxial port portion 12 at the other side of the probe main body 10 and a distal end portion of the second ground electrode member 30 partially protruding toward the distal end side of the probe main body 10 .

또한, 상기 시그널 전극부재(40)는 상기 제1그라운드 전극부재(20)와 상기 제2그라운드 전극부재(30)의 사이 중앙에 배치되며 후단부가 상기 동축포트부(12)에 연결되고, 선단부가 상기 프로브 본체(10)의 선단부 측으로 일부분 돌출되게 배치된다.The signal electrode member 40 is disposed at the center between the first ground electrode member 20 and the second ground electrode member 30 and has a rear end connected to the coaxial port portion 12, And is disposed so as to partially protrude toward the distal end side of the probe main body 10.

즉, 상기 제1그라운드 전극부재(20), 상기 제2그라운드 전극부재(30), 상기 시그널 전극부재(40)의 후단부는 각각 상기 동축포트부(12)에 맞닿아 전기적으로 연결된 형태가 되며, 상기 제1그라운드 전극부재(20), 상기 제2그라운드 전극부재(30), 상기 시그널 전극부재(40)의 선단부는 각각 상기 프로브 본체(10)의 선단부 측으로 각각 노출되어 안테나의 방사특성을 측정할 수 있도록 시뮬레이션한다.That is, the rear end portions of the first ground electrode member 20, the second ground electrode member 30, and the signal electrode member 40 are respectively in contact with the coaxial port portion 12 to be electrically connected, The tip portions of the first ground electrode member 20, the second ground electrode member 30 and the signal electrode member 40 are respectively exposed toward the distal end side of the probe main body 10 to measure radiation characteristics of the antenna .

더 상세하게 실제 상기 제1그라운드 전극부재(20), 상기 제2그라운드 전극부재(30), 상기 시그널 전극부재(40)의 후단부는 상기 도파관부(11) 측으로 연결되도록 배치되고, 상기 도파관부(11)의 사이에 신호전환구조체에 연결될 수 있음을 밝혀둔다. More specifically, the rear ends of the first ground electrode member 20, the second ground electrode member 30, and the signal electrode member 40 are connected to the waveguide unit 11 side, and the waveguide unit 11 can be connected to the signal switching structure.

한편, 상기 제1그라운드 전극부재(20)와 상기 제2그라운드 전극부재(30)는 상기 동축포트부(12)를 기준으로 상기 동축포트부(12)로부터의 길이가 동일하게 형성되는 것을 일 예로 한다. 즉, 상기 제1그라운드 전극부재(20)와 상기 제2그라운드 전극부재(30)는 기준점으로부터 동일한 길이를 가지도록 형성된다. The first ground electrode member 20 and the second ground electrode member 30 are formed to have the same length from the coaxial port portion 12 with respect to the coaxial port portion 12 as an example do. That is, the first ground electrode member 20 and the second ground electrode member 30 are formed to have the same length from the reference point.

상기 시그널 전극부재(40)는 상기 동축포트부(12)를 기준으로 상기 동축포트부(12)로부터의 길이가 상기 제1그라운드 전극부재(20)와 상기 제2그라운드 전극부재(30)보다 더 긴 길이를 가지도록 형성된다.The signal electrode member 40 has a length from the coaxial port portion 12 with respect to the coaxial port portion 12 to be longer than the length of the first ground electrode member 20 and the second ground electrode member 30. [ And is formed to have a long length.

즉, 상기 시그널 전극부재(40)는 기준점으로부터 상기 제1그라운드 전극부재(20)의 길이와 상기 제2그라운드 전극부재(30)의 길이보다 더 긴 길이를 가져 선단부가 상기 제1그라운드 전극부재(20)의 선단부와 상기 제2그라운드 전극부재(30)의 선단부보다 더 돌출되게 배치되는 것을 특징으로 한다.
That is, the signal electrode member 40 has a length longer than the length of the first ground electrode member 20 and the length of the second ground electrode member 30 from the reference point, 20) and the tip portion of the second ground electrode member (30).

상기 시그널 전극부재(40)는 기준점을 기준으로 측정대상 안테나의 주파수에서 λ/4 의 길이만큼 상기 제1그라운드 전극부재(20)와 상기 제2그라운드 전극부재(30)보다 더 길게 형성되는 것이 바람직하며, 일 예로 주파수 300 GHz 에서 λ/4 의 길이를 만큼 상기 제1그라운드 전극부재(20)와 상기 제2그라운드 전극부재(30)보다 더 길게 형성될 수 있다.It is preferable that the signal electrode member 40 is formed to be longer than the first ground electrode member 20 and the second ground electrode member 30 by a length of? / 4 at the frequency of the measurement target antenna with reference to the reference point For example, the length of the first ground electrode member 20 and the length of the second ground electrode member 30 may be longer than the first ground electrode member 20 and the second ground electrode member 30 by a length of? / 4 at a frequency of 300 GHz.

즉, 상기 시그널 전극부재(40)의 선단부는 상기 제1그라운드 전극부재(20)와 상기 제2그라운드 전극부재(30)의 선단부보다 측정대상 안테나의 주파수에서 λ/4 의 길이만큼 더 길게 돌출되는 것이다. That is, the distal end of the signal electrode member 40 protrudes longer than the distal end of the first ground electrode member 20 and the second ground electrode member 30 by a length of? / 4 at the frequency of the measurement target antenna will be.

상기 시그널 전극부재(40)는 상기 동축포트부(12)에 고정되어 연결되는 제1시그널 전극체(41), 상기 제1시그널 전극체(41)의 단부에 연결되는 제2시그널 전극체(42)를 포함하여 상기 동축포트부(12)로부터의 길이가 상기 제1그라운드 전극부재(20)와 상기 제2그라운드 전극부재(30)보다 더 긴 길이를 가지도록 형성될 수 있다.The signal electrode unit 40 includes a first signal electrode unit 41 fixedly connected to the coaxial port unit 12 and a second signal electrode unit 42 connected to an end of the first signal electrode unit 41 And the length from the coaxial port portion 12 may be longer than the length of the first ground electrode member 20 and the second ground electrode member 30.

그리고, 상기 제1시그널 전극체(41)는 상기 제1그라운드 전극부재(20), 상기 제2그라운드 전극부재(30)와 동일한 길이로 형성될 수 있다.The first signal electrode unit 41 may have the same length as the first ground electrode member 20 and the second ground electrode member 30.

또한, 상기 제1그라운드 전극부재(20)의 선단부에는 측정대상 안테나를 향하는 면에 제1그라운드 탐침부(20a)가 돌출될 수 있고, 상기 제2그라운드 전극부재(30)의 선단부에는 측정대상 안테나를 향하는 면에 제2그라운드 탐침부(20b)가 돌출될 수 있고, 상기 제1시그널 전극체(41)의 선단부에는 측정대상 안테나를 향하는 면에 시그널 탐침부(40a)가 돌출될 수 있다.A first ground probe unit 20a may protrude from a surface of the first ground electrode member 20 facing the antenna to be measured and a tip end of the second ground electrode member 30 A signal probe 40a may protrude from a surface of the first signal electrode unit 41 facing the measurement target antenna.

상기 제1그라운드 탐침부(20a), 상기 제2그라운드 탐침부(20b), 상기 시그널 탐침부(40a)는 각각 단부가 뾰족하게 형성되는 것을 일 예로 한다. The first ground probe portion 20a, the second ground probe portion 20b, and the signal probe portion 40a each have a pointed end.

상기 제2시그널 전극체(42)는 상기 시그널 탐침부(40a)에 연결되어 고정되는 것을 일 예로 한다.And the second signal electrode unit 42 is connected to and fixed to the signal probe unit 40a.

상기 제2시그널 전극체(42)는 상기 제1시그널 전극체(41)와 대응되는 전극 플레이트 형상으로 형성될 수도 있다.The second signal electrode unit 42 may be formed in an electrode plate shape corresponding to the first signal electrode unit 41.

상기 제1시그널 전극체(41)와 상기 제2시그널 전극체(42)는 동일한 폭을 가지는 전극 플레이트 형상으로 형성되고, 상기 제1시그널 전극체(41)의 단부 측에 돌출된 상기 시그널 탐침부(40a)의 단부에 고정되어 연결될 수 있다. The first signal electrode unit (41) and the second signal electrode unit (42) are formed in the shape of an electrode plate having the same width, and the signal probe unit And may be fixedly connected to the end of the second housing 40a.

도 4는 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브에서 탐지용 전극의 일 실시 예를 도시한 개략도로써 상기 제2시그널 전극체(42)는 전극 와이어인 것을 일 예로 한다. FIG. 4 is a schematic view showing an embodiment of a detection electrode in a probe for measuring radiation characteristics of an antenna according to the present invention, wherein the second signal electrode unit 42 is an electrode wire.

상기 전극 와이어는 양단부가 각각 상기 제1시그널 전극체(41)의 양 측에 고정된 형태를 가지는 것을 일 예로 한다. The electrode wire has a shape in which both ends are fixed to both sides of the first signal electrode body 41.

도 5는 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브에서 탐지용 전극의 다른 실시 예를 도시한 개략도로써, 도 5를 참고하면 상기 시그널 전극부재(40)는 하나의 몸체로 상기 동축포트부(12)를 기준으로 한 길이가 상기 동축포트부(12)를 기준으로 한 상기 제1그라운드 전극부재(20)와 상기 제2그라운드 전극부재(30)의 길이보다 더 긴 길이를 가지도록 형성될 수 있다.5 is a schematic view showing another embodiment of a detection electrode in a probe for measuring radiation characteristics of an antenna according to the present invention. Referring to FIG. 5, the signal electrode member 40 includes a coaxial port portion 12 may have a length that is longer than the length of the first ground electrode member 20 and the second ground electrode member 30 with respect to the coaxial port portion 12 have.

도 5(a)는 상기 시그널 전극부재(40)가 전극 플레이트 형상으로 형성되어 상기 동축포트부(12)로부터의 길이가 상기 제1그라운드 전극부재(20)와 상기 제2그라운드 전극부재(30)보다 더 긴 길이를 가지도록 형성된 것을 도시하고 있다.5A is a sectional view of the signal electrode member 40. The signal electrode member 40 is formed in an electrode plate shape so that the length from the coaxial port portion 12 is longer than the length of the first ground electrode member 20 and the second ground electrode member 30. [ As shown in Fig.

즉, 상기 시그널 전극부재(40)는 하나의 일치된 형상을 가지는 하나의 몸체로 형성되어 상기 동축포트부(12)를 기준으로 한 길이가 상기 동축포트부(12)를 기준으로 한 상기 제1그라운드 전극부재(20)와 상기 제2그라운드 전극부재(30)의 길이보다 더 긴 길이를 가지도록 형성될 수 있다.That is, the signal electrode member 40 is formed of one body having one coinciding shape, and the length of the signal electrode member 40 with respect to the coaxial port part 12 is longer than the length of the first coaxial port part 12, May be formed to have a longer length than the length of the ground electrode member 20 and the second ground electrode member 30.

도 5(b)는 상기 시그널 전극부재(40)가 전극 와이어 형상으로 형성되어 양단부가 각각 상기 동축포트부(12)에 고정되어 연결되며 상기 동축포트부(12)로부터의 길이가 상기 제1그라운드 전극부재(20)와 상기 제2그라운드 전극부재(30)보다 더 긴 길이를 가지도록 형성된 것을 도시하고 있다.5 (b), the signal electrode member 40 is formed in the shape of an electrode wire, and both ends thereof are fixedly connected to the coaxial port portion 12, and the length from the coaxial port portion 12 is longer than the length The electrode member 20 and the second ground electrode member 30 are formed to have a longer length than the electrode member 20 and the second ground electrode member 30.

도 5(c)는 상기 시그널 전극부재(40)가 전극 플레이트 형상의 제1시그널 전극체(41)와 양 단부가 상기 시그널 전극체의 양 측에 각각 고정되어 일체로 형성되는 전극 와이어 형상의 제2시그널 전극체(42)가 하나의 몸체로 일체화되어 형성된 것을 도시하고 있다.5 (c) is a cross-sectional view of the signal electrode member 40 in which the first signal electrode member 41 having an electrode plate shape and the electrode wire-shaped member 41 having both ends fixed to both sides of the signal electrode member, And the two signal electrode members 42 are integrally formed as a single body.

이외에도 상기 시그널 전극부재(40)는 상기 동축포트부(12)로부터의 길이가 상기 제1그라운드 전극부재(20)와 상기 제2그라운드 전극부재(30)보다 더 긴 길이를 가지도록 형성됨에 있어 다양한 형상으로 변형 실시할 수 있음을 밝혀둔다. In addition, the signal electrode member 40 is formed so that the length from the coaxial port portion 12 is longer than the lengths of the first ground electrode member 20 and the second ground electrode member 30, It will be understood that the present invention can be modified into a shape.

도 6 및 도 7은 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브에서 탐지용 전극의 또 다른 실시 예를 도시한 개략도이고, 도 6 및 도 7을 참고하면 상기 시그널 전극부재(40)의 상기 동축포트부(12)에 고정되어 연결되는 제1시그널 전극체(41), 상기 제2시그널 전극체(42)의 단부에 연결되는 제2시그널 전극체(42)를 포함하고, 상기 제2시그널 전극체(42)는 상기 제1시그널 전극체(41)에 분리 가능하게 결합될 수 있다. 6 and 7 are schematic views showing another embodiment of the detection electrode in the radiation property measuring probe of the antenna according to the present invention. Referring to FIGS. 6 and 7, A first signal electrode body 41 fixed to and connected to the port portion 12 and a second signal electrode body 42 connected to an end of the second signal electrode body 42, The body 42 may be detachably coupled to the first signal electrode unit 41.

상기 제2시그널 전극체(42)는 상기 제1시그널 전극체(41)에 분리되어 교체될 수 있어 상기 시그널전극부재의 전체 길이를 조절할 수 있다. The second signal electrode unit 42 can be separately replaced with the first signal electrode unit 41 so that the entire length of the signal electrode unit can be adjusted.

즉, 측정대상 안테나의 주파수에 따라 상기 제2시그널 전극체(42)를 교체하여 상기 측정대상 안테나의 주파수에서 λ/4 의 길이만큼 상기 제1그라운드 전극부재(20)와 상기 제2그라운드 전극부재(30)보다 더 길게 상기 시그널 전극부재(40)의 전체 길이를 조절할 수 있는 것이다.That is, the second signal electrode unit 42 is replaced according to the frequency of the antenna to be measured, so that the first ground electrode member 20 and the second ground electrode member 40, The entire length of the signal electrode member 40 can be adjusted longer than the length of the signal electrode member 30.

상기 제1시그널 전극체(41)와 상기 제2시그널 전극체(42)는 전극 플레이트 형상으로 형성되고, 상기 제2시그널 전극체(42)는 상기 제1시그널 전극체(41)에 볼트(43)로 체결되어 결합되는 것을 일 예로 한다.The first signal electrode unit 41 and the second signal electrode unit 42 are formed in the shape of an electrode plate and the second signal electrode unit 42 is fixed to the first signal electrode unit 41 with bolts 43 As shown in Fig.

즉, 상기 제1시그널 전극체(41)의 단부 측과 상기 제2시그널 전극체(42)의 단부 측에 각각 볼트관통공(41a, 42a)이 형성되고, 상기 제1시그널 전극체(41)의 단부 측 일부분과 상기 제2시그널 전극체(42)의 단부 측 일부분이 서로 겹쳐진 상태에서 볼트(43)가 상기 볼트관통공(41a, 42a)을 관통한 후 너트(44)에 체결됨으로써 상기 제1시그널 전극체(41)와 상기 제2시그널 전극체(42)를 분리 가능하게 결합할 수 있다.That is, bolt through holes 41a and 42a are formed on the end of the first signal electrode body 41 and the end of the second signal electrode body 42, respectively, and the first signal electrode body 41, A bolt 43 penetrates through the bolt through holes 41a and 42a and is fastened to the nut 44 in a state where a part of the end side of the second signal electrode body 42 overlaps with a part of the end of the second signal electrode body 42, The first signal electrode unit 41 and the second signal electrode unit 42 can be detachably coupled.

또한, 상기 제2시그널 전극체(42)는 전극 와이어로 형성되고, 상기 제1시그널 전극체(41)의 양측에는 상기 전극 와이어의 양 단부가 각각 끼워져 결합되는 와이어 끼움홈부(40b)가 구비되어 상기 전극 와이어의 양 단부를 상기 와이어 끼움홈부(40b)에 각각 끼워 결합시킴으로써 상기 제1시그널 전극체(41)와 상기 제2시그널 전극체(42)를 분리 가능하게 결합할 수 있다.The second signal electrode assembly 42 is formed of an electrode wire, and wire-fitting grooves 40b are formed on both sides of the first signal electrode assembly 41, The first signal electrode unit 41 and the second signal electrode unit 42 can be detachably coupled by fitting both end portions of the electrode wire into the wire fitting groove portion 40b.

더 상세하게 상기 제1시그널 전극체(41)의 선단부에는 측정대상 안테나를 향하는 면에 시그널 탐침부(40a)가 돌출되고, 상기 시그널 탐침부(40a)의 양 측에 상기 와이어 끼움홈부(40b)가 형성되어 상기 제2시그널 전극체(42)가 상기 시그널 탐침부(40a)에 분리 가능하게 결합될 수 있다.
More specifically, a signal probe 40a protrudes from a surface of the first signal electrode body 41 facing the antenna to be measured, and the wire fitting groove 40b is formed on both sides of the signal probe 40a. So that the second signal electrode unit 42 can be detachably coupled to the signal probe unit 40a.

도 8은 시뮬레이션 툴을 통해 모델링한 종래 접촉식 회로특성 측정용 프로브(100)와 air-open 반사파(S11) 성능 그래프를 포함한 도면으로 도 8을 참고하면 종래 접촉식 회로특성 측정용 프로브(100)를 두개의 그라운드 전극(2)과 시그널 전극(3)이 상기 동축포트(4)에서 돌출되는 길이 즉, 동축포트(4)로부터의 길이가 동일하여 단부가 모두 동일한 선상에 배치되는 구조를 가지도록 모델링한다. 8 is a view showing a conventional contact type circuit characteristic measurement probe 100 modeled through a simulation tool and an air-open reflected wave S11 performance graph. Referring to FIG. 8, So that the two ground electrodes 2 and the signal electrodes 3 protrude from the coaxial port 4, that is, the same length from the coaxial port 4, Model.

종래 접촉식 회로특성 측정용 프로브(100)는 상기 두개의 그라운드 전극과 상기 시그널 전극이 동일한 길이를 가져 측정 대상 안테나와 비접촉 상태로 공중에 있을 때(air-open)에는 전반사(full reflection)가 발생하여 필드 탐지에 적합하지 않음을 확인할 수 있다. The conventional contact type circuit characteristic measurement probe 100 has a problem that full reflection occurs when the two ground electrodes and the signal electrode have the same length and are air-opened in a non-contact state with the measurement object antenna It can be confirmed that it is not suitable for field detection.

도 9는 모델링한 종래 접촉식 회로특성 측정용 프로브(100)를 검증하기 위해 전송선 측정 상황을 시뮬레이션 한 그래프를 포함한 도면으로 도 9를 참고하면 종래 접촉식 회로특성 측정용 프로브(100)를 50-Ω 전송선에 접촉하여 성능 추출 가능여부를 관찰한 결과, 전송선 고유의 성능이 큰 변형 없이 도출됨으로서 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브의 모델에 대한 적절성을 확인할 수 있었다. 9 is a graph showing a simulation of a transmission line measurement condition in order to verify a modeled probe 100 for measuring a conventional contact type circuit. Referring to FIG. 9, It was confirmed that the performance of the probe for measuring the radiation property of the antenna according to the present invention was appropriate for the antenna according to the present invention.

도 10은 탐지능력 분석 과정에서 사용될 임의의 300 GHz 온-칩 안테나를 도시한 도면으로 임의로 설계한 300 GHz 온-칩 안테나와 반사파가 포함된 방사 효율 성능을 나타내고 있으며 분석 과정에서 탐지기를 통해 해당 안테나의 성능을 추출하고자 한다.FIG. 10 illustrates a 300 GHz on-chip antenna to be used in the detection capability analysis process. FIG. 10 illustrates a 300 GHz on-chip antenna and a radiation efficiency including a reflected wave, which are arbitrarily designed. We want to extract the performance of

도 11은 종래 접촉식 회로특성 측정용 프로브(100)를 탐지기로 활용하여 도 10의 300 GHz 온-칩 안테나의 방사 때 측정되는 유사-방사 효율 그래프를 포함한 도면으로 도 11을 참고하면 종래 접촉식 회로특성 측정용 프로브(100)를 탐지기로 활용하여 도 10의 300 GHz 온-칩 안테나로부터 종래 접촉식 회로특성 측정용 프로브(100)로 전달되는 안테나의 파워(S21)를 확인하였다.FIG. 11 is a graph showing a pseudo-radiation efficiency graph measured when the 300-GHz on-chip antenna of FIG. 10 is irradiated using the conventional contact type circuit characteristic measuring probe 100 as a detector. Referring to FIG. 11, The power S21 of the antenna transmitted from the 300 GHz on-chip antenna of FIG. 10 to the probe 100 for measuring a conventional contact type circuit characteristic was confirmed using the circuit property measuring probe 100 as a detector.

종래 접촉식 회로특성 측정용 프로브(100)로 측정된 안테나의 파워(S21)의 크기는 자유공간 경로 손실, 안테나 이득 등을 고려하여 복원하면 방사 효율 성능으로 전환할 수 있기 때문에 유사(quasi)-방사 효율로 취급할 수 있다. 시험대상의 온-칩 안테나와 종래 접촉식 회로특성 측정용 프로브(100) 사이의 거리는 1 mm 로 300 GHz far-field 기준 거리인 d= 2D2/λ= 125 um 의 8배의 거리에 해당된다. 종래 접촉식 회로특성 측정용 프로브(100)로 측정된 유사 효율(S21)의 크기는 최대 -40 dB 까지 측정됨을 확인할 수 있었다. 안테나 면적(A)를 무시하고 종래 접촉식 회로특성 측정용 프로브(100)에 도달한 모든 파워를 흡수한다고 가정했을 때 경로손실 및 안테나 이득을 고려하면 탐지기가 측정할 수 있는 최대 유사-효율의 크기는 1 mm 거리에서 약 -12 dB 로서 일반 RF 프로브 탐지기로 측정한 유사-효율 값은 이에 크게 미치지 못함을 확인할 수 있었다. 게다가 실제 실험에서는 종래 접촉식 회로특성 측정용 프로브(100)에 의해 주파수 200 GHz 대역에서 측정되고 있는 -80 dB에 가까운 효율 값은 잡음 현상과 구분하기 어려울 가능성이 커서 정확한 주파수에 대한 효율 형태를 얻어내지 못하는 문제점이 있다. 이러한 사실은 종래 접촉식 회로특성 측정용 프로브(100)의 반사파(S11) 성능이 전반사를 일으켜 수신이 어려움을 확인한 단계에서 이미 예측할 수 있는 결과인 것이다.Since the size of the power S21 of the antenna measured by the probe 100 for measuring a contact type circuit characteristic can be converted to the radiation efficiency performance by restoring the free space path loss and the antenna gain in consideration of the quasi- It can be treated as radiation efficiency. The distance between the on-chip antenna of the test subject and the probe 100 for measuring a conventional contact type circuit characteristic corresponds to a distance of 8 times of the 300 GHz far-field reference distance d = 2D 2 /? = 125 μm at 1 mm. It can be confirmed that the magnitude of the similarity efficiency S21 measured by the conventional contact type circuit property measuring probe 100 is measured up to -40 dB. Assuming that the antenna area A is neglected and all the power reaching the probe 100 for measuring a conventional contact type circuit characteristic is absorbed, considering the path loss and the antenna gain, the magnitude of the maximum pseudo-efficiency Is about -12dB at a distance of 1 mm, and the pseudo-efficiency value measured by a general RF probe detector is not much larger than this. In addition, in the actual experiment, the efficiency value close to -80 dB measured in the frequency 200 GHz band by the probe 100 for measurement of the conventional contact type circuit characteristic is likely to be difficult to distinguish from the noise phenomenon, There is a problem that it can not. This fact is a result that can be predicted at the stage where the performance of the reflected wave S11 of the probe 100 for measuring a contact type circuit of the related art caused total internal reflection and it was confirmed that reception was difficult.

도 12는 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브(200)와 air-open 반사파(S11) 성능 그래프를 포함한 도면이고, 도 13은 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브(200)로 측정되는 유사-방사 효율 그래프를 포함한 도면이다.FIG. 12 is a graph showing a performance characteristic of a radiation characteristic measuring probe 200 and an air-open reflected wave S11 according to an embodiment of the present invention. FIG. 13 is a graph showing a radiation characteristic measuring probe 200 according to the present invention. And a graph showing the similarity-radiation efficiency measured.

도 12 및 도 13은 도 4에 도시된 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브(200)를 이용하여 도 10의 300 GHz 온-칩 안테나의 방사의 방사특성을 측정하였을 때 air-open 반사파(S11) 성능 그래프와 유사-방사 효율 그래프를 각각 도시하고 있다.Figs. 12 and 13 are diagrams for explaining the radiation characteristics of the radiation of the 300 GHz on-chip antenna of Fig. 10 using the probe 200 for measuring the radiation property of the antenna according to the present invention shown in Fig. 4, (S11) performance graph and a similar-radiation efficiency graph, respectively.

도 4의 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브(200)는 제1시그널 전극체(41)와 제2시그널 전극체(42)가 전극 플레이트 형상으로 형성되고, 동일한 폭을 가지는 전극 플레이트 형상으로 형성되고, 상기 제1시그널 전극체(41)의 단부 측에 돌출된 상기 시그널 탐침부(40a)의 단부에 상기 제2시그널 전극체(42)가 고정되어 연결된 실시 예이며, 제1시그널 전극체(41)와 제2시그널 전극체(42)를 포함하는 상기 시그널 전극부재(40)의 전체 길이가 상기 제1그라운드 전극부재(20)와 상기 제2그라운드 전극부재(30)보다 주파수 300 GHz에서 λ/4 의 길이만큼 더 길게 형성된 예이다. The probe 200 for measuring the radiation characteristic of the antenna according to the present invention as shown in FIG. 4 includes a first signal electrode body 41 and a second signal electrode body 42 formed in an electrode plate shape, And the second signal electrode unit 42 is fixedly connected to the end of the signal probe unit 40a protruding from the end of the first signal electrode unit 41. In this embodiment, The entire length of the signal electrode member 40 including the first signal electrode member 41 and the second signal electrode member 42 is greater than that of the first ground electrode member 20 and the second ground electrode member 30 at a frequency of 300 GHz Lt; RTI ID = 0.0 > lambda / 4 < / RTI >

도 12를 참고하면 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브(200)는 반사파 성능으로 보아 탐지용 수신 안테나로서 매우 뛰어난 성능을 보유하게 되었음을 알 수 있다. 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브(200)를 활용하여 온-칩 안테나의 방사 특성을 측정할 경우 도 13과 같이 유사-효율의 크기가 최대 -14 dB 로 이상적인 경우에 도달하였으며 종래 접촉식 회로특성 측정용 프로브(100)에 의한 측정치에 비해 매우 향상됐음을 확인할 수 있었다. 본 내용에서는 시뮬레이션 편의상 방사 특성 중 유사 효율만 다루었지만, 실제로는 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브(200)를 통해 방사 패턴 역시 측정이 가능하다. 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브(200)를 측정하고자 하는 온-칩 안테나로부터 far-field 기준 이상의 거리를 확보하고 프로브스테이션을 통해 지면과 평행한 평면상에서 이동하면서 측정하면 매우 높은 정밀도로 E-plane 및 H- plane 방사패턴 측정이 가능하다. 또한 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브(200)는 도파관 Twist 부품등을 활용하여 평면상에서 90도 회전한 상태로 탐지기가 부착될 경우 cross pole 특성 측정도 가능한 것이다. Referring to FIG. 12, it can be seen that the probe 200 for measuring the radiation characteristics of the antenna according to the present invention has excellent performance as a receiving antenna for detection as seen from the reflected wave performance. When the radiation characteristic of the on-chip antenna is measured by using the probe 200 for measuring the radiation property of the antenna according to the present invention, it has been found that the pseudo-efficiency is as ideal as -14 dB as shown in FIG. It is confirmed that the measured value is significantly improved compared with the measurement value by the probe 100 for measuring the circuit characteristic. In the present embodiment, only the similar efficiency among the radiation characteristics is dealt with for convenience of simulation, but actually, the radiation pattern can also be measured through the probe 200 for measuring the radiation characteristics of the antenna according to the present invention. When the probe 200 for measuring the radiation characteristics of the antenna according to the present invention has a distance of at least far-field reference from the on-chip antenna to be measured and measures it while moving on a plane parallel to the ground through the probe station, E-plane and H-plane radiation pattern measurements are possible. Further, the probe 200 for measuring the radiation characteristic of the antenna according to the present invention can measure the cross pole characteristic when the detector is attached in a state in which the probe 200 is rotated 90 degrees on the plane using a waveguide twist part or the like.

본 발명은 측정이 어려운 테라헤르츠 대역 온-칩 안테나의 far-field 방사 성능인 효율과 패턴을 상대적으로 간편하고 정밀하게 측정할 수 있다.The present invention makes it possible to relatively easily and precisely measure the efficiency and the pattern of the far-field radiation performance of the terahertz band on-chip antenna, which is difficult to measure.

본 발명은 실험 환경별로 주문 제작이 필요한 일반적인 탐지기와 달리 프로브스테이션 환경에서 사용 가능한 표준 탐지기 제작이 가능하다.The present invention makes it possible to produce a standard detector that can be used in a probe station environment, unlike a general detector that requires customization for each experimental environment.

또한 본 발명은 안테나 측정 셋업에서 주파수에 대한 특성을 얻는데 짧은 시간이 소요되며, 특히 네트워크 분석기(network analyzer)와 결합하여 셋업으로 측정 가능한 전 주파수 대역의 방사 특성 측정이 한 번에 가능하다.The present invention also takes a short time to obtain the characteristics for the frequency in the antenna measurement setup, and in particular it is possible to measure the emission characteristics of the entire frequency band which can be measured by the setup in combination with a network analyzer at one time.

이와 같은 본 발명의 기본적인 기술적 사상의 범주 내에서, 당업계의 통상의 지식을 가진 자에게 있어서는 다른 많은 변형이 가능함은 물론이고, 본 발명의 권리범위는 첨부한 특허청구 범위에 기초하여 해석되어야 할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is evident that many alternatives, modifications, and variations will be apparent to those skilled in the art in light of the above teachings. will be.

1 : 프로브 몸체 2 : 그라운드 전극
3 : 시그널 전극 4 : 동축포트
10 : 프로브 본체 11 : 도파관부
12 : 동축포트부 20 : 제1그라운드 전극부재
20a : 제1그라운드 탐침부 30 : 제2그라운드 전극부재
30a : 제2그라운드 탐침부 40 : 시그널 전극부재
40a : 시그널 탐침부 41 : 제1시그널 전극체
42 : 제2시그널 전극체
100 : 종래 접촉식 회로특성 측정용 프로브
200 : 본 발명에 따른 안테나의 방사특성 측정용 프로브1: probe body 2: ground electrode
3: Signal electrode 4: Coaxial port
10: probe main body 11: waveguide part
12: coaxial port portion 20: first ground electrode member
20a: first ground probe portion 30: second ground electrode member
30a: second ground probe unit 40: signal electrode member
40a: Signal probe unit 41: First signal electrode body
42: second signal electrode body
100: Conventional contact type circuit property measuring probe
200: a probe for measuring the radiation property of the antenna according to the present invention

Claims (10)

외측면에 돌출된 도파관부를 구비하는 프로브 본체;
상기 프로브 본체의 일측에 배치되며, 선단부가 상기 프로브 본체의 선단부 측으로 일부분 돌출되는 제1그라운드 전극부재;
상기 제1그라운드 전극부재와 이격되게 상기 프로브 본체의 타측에 배치되고, 선단부가 상기 프로브 본체의 선단부 측으로 일부분 돌출되는 제2그라운드 전극부재; 및
상기 제1그라운드 전극부재와 상기 제2그라운드 전극부재의 사이에 배치되고, 선단부가 상기 프로브 본체의 선단부 측으로 일부분 돌출되는 시그널 전극부재를 포함하며,
상기 시그널 전극부재의 길이는 상기 제1그라운드 전극부재의 길이와 상기 제2그라운드 전극부재의 길이보다 더 긴 길이를 가져 선단부가 상기 제1그라운드 전극부재의 선단부와 상기 제2그라운드 전극부재의 선단부보다 더 돌출되게 배치되는 것을 특징으로 하는 안테나의 방사특성 측정용 프로브.A probe main body having a waveguide portion protruding from an outer surface;
A first ground electrode member disposed at one side of the probe main body and having a distal end portion protruding partly toward a distal end side of the probe main body;
A second ground electrode member disposed on the other side of the probe main body so as to be spaced apart from the first ground electrode member and having a tip partially protruding toward the distal end side of the probe main body; And
And a signal electrode member disposed between the first ground electrode member and the second ground electrode member and having a distal end portion protruding partly toward the distal end side of the probe main body,
Wherein the length of the signal electrode member is longer than the length of the first ground electrode member and the length of the second ground electrode member so that the tip end portion of the signal electrode member is longer than the tip end portion of the first ground electrode member and the distal end portion of the second ground electrode member And the antenna is arranged so as to protrude further. 청구항 1에 있어서,
상기 시그널 전극부재는 상기 제1그라운드 전극부재와 상기 제2그라운드 전극부재의 선단부로부터 측정대상 안테나의 주파수에서 λ/4 의 길이만큼 더 길게 형성되는 것을 특징으로 하는 안테나의 방사특성 측정용 프로브.The method according to claim 1,
Wherein the signal electrode member is formed to be longer from the tip end of the first ground electrode member and the second ground electrode member by a length of? / 4 at the frequency of the measurement target antenna. 청구항 1에 있어서,
상기 시그널 전극부재는 상기 도파관부 측으로 연결되는 제1시그널 전극체, 상기 제1시그널 전극체의 단부에 연결되는 제2시그널 전극체를 포함하는 것을 특징으로 하는 안테나의 방사특성 측정용 프로브.The method according to claim 1,
Wherein the signal electrode member includes a first signal electrode body connected to the waveguide unit side and a second signal electrode body connected to an end of the first signal electrode body. 청구항 3에 있어서,
상기 제1시그널 전극체는 상기 제1그라운드 전극부재, 상기 제2그라운드 전극부재와 동일한 길이로 형성되는 것을 특징으로 하는 안테나의 방사특성 측정용 프로브.The method of claim 3,
Wherein the first signal electrode body is formed to have the same length as the first ground electrode member and the second ground electrode member. 청구항 3에 있어서,
상기 제1그라운드 전극부재의 선단부에는 측정대상 안테나를 향하는 면에 제1그라운드 탐침부가 돌출되고, 상기 제2그라운드 전극부재의 선단부에는 측정대상 안테나를 향하는 면에 제2그라운드 탐침부가 돌출되고, 상기 제1시그널 전극체의 선단부에는 측정대상 안테나를 향하는 면에 시그널 탐침부가 돌출되며,
상기 제2시그널 전극체는 상기 시그널 탐침부에 연결되어 고정되는 것을 특징으로 하는 안테나의 방사특성 측정용 프로브.The method of claim 3,
Wherein a first ground probe portion is protruded on a surface of the first ground electrode member facing the antenna to be measured and a second ground probe portion is protruded on a surface of the second ground electrode member facing the antenna to be measured, A signal probe portion is protruded from a surface of the one-signal electrode body toward a measurement target antenna,
And the second signal electrode unit is connected to and fixed to the signal probe unit. 청구항 3에 있어서,
상기 제2시그널 전극체는 전극 와이어로 양단부가 각각 상기 제1시그널 전극체의 양 측에 고정된 형태를 가지는 것을 특징으로 하는 안테나의 방사특성 측정용 프로브.The method of claim 3,
Wherein the second signal electrode body has a shape in which both ends of the electrode body are fixed to both sides of the first signal electrode body. 청구항 3에 있어서,
상기 제2시그널 전극체는 상기 제1시그널 전극체에 분리 가능하게 결합되는 것을 특징으로 하는 안테나의 방사특성 측정용 프로브.The method of claim 3,
And the second signal electrode unit is detachably coupled to the first signal electrode unit. 청구항 7에 있어서,
상기 제1시그널 전극체와 상기 제2시그널 전극체는 전극 플레이트 형상으로 형성되고, 상기 제2시그널 전극체는 상기 제1시그널 전극체에 볼트로 체결되어 결합되는 것을 특징으로 하는 안테나의 방사특성 측정용 프로브.The method of claim 7,
Wherein the first signal electrode unit and the second signal electrode unit are formed in an electrode plate shape and the second signal electrode unit is coupled to the first signal electrode unit by bolts. Probe. 청구항 7에 있어서,
상기 제2시그널 전극체는 전극 와이어로 형성되고, 상기 제1시그널 전극체의 양측에는 상기 전극 와이어의 양 단부가 각각 끼워져 결합되는 와이어 끼움홈부가 구비되어 상기 전극 와이어의 양 단부를 상기 와이어 끼움홈부에 각각 끼워 결합시키는 것을 특징으로 하는 안테나의 방사특성 측정용 프로브.The method of claim 7,
Wherein the second signal electrode body is formed of an electrode wire, and both ends of the first signal electrode body are provided with a wire fitting groove in which both ends of the electrode wire are inserted and joined, Respectively, of the antenna. 청구항 1에 있어서,
상기 시그널 전극부재는 하나의 일치된 형상을 가지는 하나의 몸체로 형성되는 것을 특징으로 하는 안테나의 방사특성 측정용 프로브.The method according to claim 1,
Wherein the signal electrode member is formed of one body having one matching shape.
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