KR20170094709A - 원형 물체에 대한 특징 검출 장치 및 방법 - Google Patents

원형 물체에 대한 특징 검출 장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

원형 물체에 대한 특징 검출 장치 및 방법이 개시된다. 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 물체에 대한 표면 경계선을 획득하는 인터페이스부와, 상기 표면 경계선을 이용하여, 상기 물체에 연관된 외부 경계선 및 내부 경계선을 중 적어도 하나의 경계선을 생성하고, 상기 생성된 경계선의 반지름을 이용하여, 물체에 대한 특징을 검출하는 프로세서를 포함할 수 있다.

Description

원형 물체에 대한 특징 검출 장치 및 방법{APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING FEATURE OF CIRCLE OBJECT}
본 발명의 실시예는 원형 물체에 대한 반지름, 진원도 등을 이용하여, 원형 물체의 크기 또는 표면 상태를 검출하는 기술에 관한 것이다.
제조산업에서 원형 형태의 가공품을 많이 생산하고 있고, 이러한 가공품에 대한 측정은 품질 보증을 위해서 반드시 필요한 절차이다. 하지만 기존의 측정 방법들은 대부분 레이저를 이용하거나, 전용 측정 장치를 이용하여, 가공품을 측정하였다.
그러나, 레이저를 이용한 영상 기반의 가공품 측정 방법은 원을 검출하고, 검출된 원이 이상치 원 형태와 얼마나 유사한지를 비교하는 것에 한정되어 있다. 또한, 전용 측정 장치를 이용한 가공품 측정 방법은 특정 제품에 한하여 적용할 수 있음에 따라, 다른 제품을 측정하는 것이 어렵다.
한편, 고정밀 측정이 필요할 경우에는 고가의 광학 장치를 이용하여 가공품을 측정할 수 있으나, 이때 사람이 육안으로 고가의 광학 장치를 통해 가공품을 파악 함에 따라, 측정 결과에 대한 객관성이 떨어질 수 있다.
본 발명의 실시예는 물체(예컨대, 원형 물체)에 대한 표면 경계선을 이용하여, 상기 물체에 연관된 외부 경계선(또는, 내부 경계선)을 생성하고, 상기 생성된 경계선의 반지름을 이용하여, 물체에 대한 특징(예컨대, 물체의 크기, 물체의 표면 상태)을 객관적으로 정확하게 검출하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 실시예에 따른 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 물체에 대한 표면 경계선을 획득하는 인터페이스부와, 상기 표면 경계선을 이용하여, 상기 물체에 연관된 외부 경계선 및 내부 경계선을 중 적어도 하나의 경계선을 생성하고, 상기 생성된 경계선의 반지름을 이용하여, 물체에 대한 특징을 검출하는 프로세서를 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따르면, 물체(예컨대, 원형 물체)에 대한 표면 경계선을 이용하여, 상기 물체에 연관된 외부 경계선(또는, 내부 경계선)을 생성하고, 상기 생성된 경계선의 반지름을 이용하여, 물체에 대한 특징(예컨대, 물체의 크기, 물체의 표면 상태)을 객관적으로 정확하게 검출할 수 있다.
따라서, 본 발명의 실시예에 따르면, 고가의 광학 장치를 이용하지 않고도, 물체에 대한 정밀 분석을 가능하게 하고, 상기 분석 결과에 기초하여 결정된, 물품에 대한 품질기준 통과 여부를 출력 함으로써, 정상 물품 또는 비정상 물품을 용이하게 선별할 수 있게 한다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 원형 물체에 대한 특징 검출 장치의 구성 일례를 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 원형 물체에 대한 특징 검출 장치에서의 물체에 대한 특징 검출 일례를 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 원형 물체에 대한 특징 검출 장치에서의 물체에 대한 특징 검출 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 원형 물체에 대한 특징 검출 장치에서의 표면 경계선에 관한 히스토그램 작성 일례를 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 원형 물체에 대한 특징 검출 장치에서의 표면 경계선에 관한 히스토그램 작성 방법을 나타내는 도면이다.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 원형 물체에 대한 특징 검출 장치에서 물체의 중심에 대한 후보 좌표 집합을 결정하는 일례를 도시한 도면이다.
도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 원형 물체에 대한 특징 검출 장치에서 물체의 중심에 대한 후보 좌표 집합 중 하나의 원점을 지정하는 일례를 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 원형 물체에 대한 특징 검출 장치에서 물체의 중심에 대한 후보 좌표 집합 중 선택된 하나의 좌표를 원점으로 가지는 경계선과 물체에 대한 표면 경계선 간의 차이에 대한 히스토그램을 도시한 도면이다.
도 9는 본 발명의 일실시예에 따른 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 외부 경계선과 표면 경계선 간의 차이에 대한 히스토그램 생성 방법을 나타내는 도면이다.
도 10은 본 발명의 일실시예에 따른 원형 물체에 대한 특징 검출 방법을 나타내는 흐름도이다.
이하, 첨부 도면들 및 첨부 도면들에 기재된 내용들을 참조하여 본 발명의 다양한 실시예를 상세하게 설명하지만, 본 발명이 실시예에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 원형 물체에 대한 특징 검출 장치의 구성 일례를 도시한 도면이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일실시예에 따른 원형 물체에 대한 특징 검출 장치(100)는 인터페이스부(101) 및 프로세서(103)를 포함할 수 있다.
인터페이스부(101)는 물체(예컨대, 원형 물체)에 대한 표면 경계선을 획득할 수 있다. 이때, 인터페이스부(101)는 예컨대, 레이저 센서를 이용하여, 상기 표면 경계선을 획득하거나, 또는 상기 물체를 촬상한 영상 정보로부터 상기 표면 경계선을 획득할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
프로세서(103)는 상기 표면 경계선을 이용하여, 상기 물체에 연관된 외부 경계선 및 내부 경계선을 중 적어도 하나의 경계선을 생성하고, 상기 생성된 경계선의 반지름(예컨대, 외부 경계선의 외부 반지름(외부 반지름), 내부 경계선의 반지름(내부 반지름))을 이용하여, 물체에 대한 특징(예컨대, 물체의 크기, 물체의 표면 상태)을 검출할 수 있다.
이때, 프로세서(103)는 상기 외부 경계선의 반지름(또는, 직경) 또는 상기 내부 경계선의 반지름(또는, 직경)을 이용하여, 상기 물체에 대한 특징으로서, 상기 물체의 크기를 검출할 수 있다.
또한, 프로세서(103)는 상기 외부 경계선의 반지름 및 상기 내부 경계선의 반지름 간의 차(즉, 진원도)를 이용하여, 상기 물체에 대한 특징으로서, 상기 물체의 표면 상태를 검출할 수 있다. 이때, 프로세서(103)는 상기 외부 경계선의 반지름 및 상기 내부 경계선의 반지름 간의 차가 클수록 상기 물체의 표면에 대한 매끄러움 정도가 낮은 것(즉, 거침 정도가 높음)으로 판단하고, 상기 차가 작을수록 상기 물체의 표면에 대한 매끄러운 정도가 높은 것(즉, 거침 정도가 낮음)으로 판단할 수 있다.
또한, 프로세서(103)는 외부 경계선 및 내부 경계선의 반지름 또는 진원도(가공 조건이나 다양한 설비 내부의 변수에 따라서 달라질 수 있음)를 측정하고, 측정된 결과가 각각 설정된 범위를 만족하는지를 판단하여, 물품에 대한 품질기준 통과 여부를 결정한 후, 출력 함으로써, 정상 물품 또는 비정상 물품을 용이하게 선별할 수 있게 한다.
원형 물체에 대한 특징 검출 장치(100)는 예컨대, CNC(Computerized Numerical Control)나 연삭 등의 공정 후의 원형 가공품에 대한 품질 상태를 결정하는 데에 활용될 수 있다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 원형 물체에 대한 특징 검출 장치에서의 물체에 대한 특징 검출 일례를 설명하기 위한 도면이다.
도 2를 참조하면, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 물체(예컨대, 원형 물체)(200)에 관한 파라미터(parameter)를 획득하고, 상기 파라미터에 기초하여, 물체에 대한 특징을 검출할 수 있다. 여기서, 파라미터는 예컨대, 물체(200)에 연관된 외부 경계선(205)의 반지름(209) 및 물체에 연관된 내부 경계선(207)의 반지름(211)일 수 있다.
원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 물체(200)에 대한 표면 경계선(201)을 획득하고, 표면 경계선(201)을 이용하여, 물체(200)에 연관된 외부 경계선(205) 및 내부 경계선(207)을 생성할 수 있다. 여기서, 표면 경계선(201)은 완전한 원형이 아닐 수 있으며, 거친 표면일 수 있다.
이때, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 예컨대, 표면 경계선(201)의 외부측에 접하면서, 표면 경계선(201)을 포함하는 제1 원형을, 외부 경계선(205)으로 생성할 수 있고, 예컨대, 표면 경계선(201)의 내부측에 접하면서, 표면 경계선(201)에 포함되는 제2 원형을, 내부 경계선(207)으로 생성할 수 있다. 여기서, 제1, 2 원형 각각은 동일한 좌표를 원점(203)으로 가질 수 있다.
외부 경계선(205) 및 내부 경계선(207)을 생성하는 일례로서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 예컨대, 표면 경계선(201) 내 중심으로 추정되는 좌표를 선정하고, 선정된 좌표를 원점으로 하면서, 표면 경계선(201)과 접하는 제1, 2 원형을 외부 경계선(205) 및 내부 경계선(207)으로 생성할 수 있다.
다른 일례로서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 표면 경계선(201)과 접하는 제1, 2 원형을 외부 경계선(205) 및 내부 경계선(207)으로 생성하되, 제1, 2 원형이 동일한 좌표를 원점으로 갖지 않는 경우, 동일한 좌표가 원점(203)이 되도록 제1, 2 원형을 각각 조정하고, 조정된 제1,2 원형을 외부 경계선(205) 및 내부 경계선(207)으로 생성할 수 있다.
원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 외부 경계선(205)의 반지름(209) 또는 내부 경계선(207)의 반지름(211)을 이용하여, 물체(200)의 크기를 검출할 수 있다. 또한, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 외부 경계선(205)의 반지름(209) 및 내부 경계선(207)의 반지름(211) 간의 차(즉, 진원도)를 이용하여, 물체(200)의 표면 상태를 검출할 수 있다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 원형 물체에 대한 특징 검출 장치에서의 물체에 대한 특징 검출 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 3을 참조하면, 단계 301에서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 물체에 대한 표면 경계선을 획득할 수 있다.
단계 303에서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 표면 경계선이, X,Y의 좌표축에 있다는 가정 하에, 각 X,Y 축에 수직인 가상의 선 각각에 대한 제1 히스토그램을 작성할 수 있다.
단계 305에서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 상기 제1 히스토그램을 분석한 결과에 기초하여, 물체의 중심에 대한 후보 좌표 집합을 결정할 수 있다.
단계 307에서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 상기 후보 좌표 집합 중에서, 최적의 외부 경계선과 내부 경계선의 중심이 되는 하나의 좌표를 선정할 수 있다.
이때, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 상기 후보 좌표 집합 내 각 좌표에 대해, 상기 좌표와 연관된 외부 경계선(또는, 내부 경계선)과 상기 표면 경계선 간의 빈공간(또는, 차이)에 대한 제2 히스토그램을 작성하고, 상기 제2 히스토그램을 분석한 결과에 기초하여, 상기 후보 좌표 집합 중에서 최적의 외부 경계선과 내부 경계선의 중심이 되는 하나의 좌표를 선정할 수 있다.
단계 309에서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 상기 선정된 좌표를 중심으로 가지는 외부 경계선 및 내부 경계선 각각에 대한 반지름을 측정하고, 반지름 간의 차(즉, 진원도)를 이용하여, 물체의 표면 상태(예컨대, 표면의 매끄러운 정도)를 검출할 수 있다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 원형 물체에 대한 특징 검출 장치에서의 표면 경계선에 관한 히스토그램 작성 일례를 설명하기 위한 도면이다.
도 4를 참조하면, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 물체에 대한 표면 경계선이, X,Y의 좌표축에 있다는 가정 하에, 각 X,Y 축에 수직인 가상의 선 각각에 대한 히스토그램을 작성할 수 있다.
이때, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 예컨대, 좌측에서 우측으로 가상의 세로 선(401)을 설정된 간격으로 이동시키면서, 표면 경계선(400)과 만나는 2개의 접점의 Y값에 대한 차이(403)를 Y 히스토그램(세로축 접점 간격 히스토그)(405)으로 작성할 수 있다. 또한, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 예컨대, 위에서 아래로 가상의 가로 선(407)을 설정된 간격으로 이동시키면서, 표면 경계선과 만나는 2개의 접점의 X값에 대한 차이(409)를 X 히스토그램(가로축 접점 간격 히스토그)(411)으로 작성할 수 있다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 원형 물체에 대한 특징 검출 장치에서의 표면 경계선에 관한 히스토그램 작성 방법을 나타내는 도면이다.
도 5를 참조하면, 단계 501에서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 물체에 대한 표면 경계선에, X,Y의 좌표축을 설정할 수 있다.
단계 503에서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 표면 경계선의 좌측끝 X좌표를, X축과 수직인 세로 선의 시작점으로 설정하고, X축의 스캔 간격 또한 설정할 수 있다.
단계 505에서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 상기 시작점에서 우측으로, 상기 설정된 스캔 간격 만큼 이동하여 스캔하면서, X축과 수직인 세로 선과 표면 경계선이 만나는 좌표(접점)를 검출할 수 있다.
단계 507에서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 상기 검출된 좌표가 설정된 조건을 만족하는지를 체크(예컨대, 세로 선과 표면 경계선이 만나는 좌표가 2개 인지를 체크)할 수 있다.
상기 체크 결과, 상기 검출된 좌표가, 설정된 조건을 만족할 경우(예컨대, 세로 선과 표면 경계선이 만나는 좌표가 2개일 경우), 단계 509에서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 좌표 간의 Y값에 대한 차이를 히스토그램으로 작성하고, 단계 511에서, 시작점에서 우측으로, 설정된 스캔 간격 만큼, X축과 수직인 세로 선을 이동할 수 있다.
반면, 상기 체크 결과, 상기 검출된 좌표가 설정된 조건을 만족하지 않을 경우(세로 선과 표면 경계선이 만나는 좌표가 2개가 아닐 경우(예컨대, 1개 또는 0개)), 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 세로 선의 X좌표가 표면 경계선의 우측끝에 도달하거나 지나간 것으로 판단하여, 스캔을 종료할 수 있다.
한편, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 X축에 수직인 세로 선을 이용하여 표면 경계선을 스캔 함에 따라, 세로 선과 표면 경계선이 만나는 2개의 접점의 Y값에 대한 차이를 Y 히스토그램으로 작성하는 방법에 대해 설명하였으나, Y축에 수직인 가로 선을 이용하여 표면 경계선을 스캔하는 경우에도 동일한 방법으로 수행할 수 있다.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 원형 물체에 대한 특징 검출 장치에서 물체의 중심에 대한 후보 좌표 집합을 결정하는 일례를 도시한 도면이다.
도 6을 참조하면, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 물체에 대한 표면 경계선(600)에 관한 히스토그램(Y, X 히스토그램)을 이용하여, 물체의 중심에 대한 후보 좌표 집합(613)을 결정할 수 있다.
예컨대, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 히스토그램에 적용할 윈도우 사이즈를 지정할 수 있다. 이후, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 표면 경계선(600)에 대해, X축과 수직인 세로 선과 Y축에 수직인 가로 선을 이용한 스캔 결과에 따라 생성된, 각각의 Y, X 히스토그램(601, 603)에 윈도우를 적용하고, 윈도우를 이동시켜 윈도우 내 값(두 접점의 Y값 차이(605) 또는 두 접점의 X값 차이(607))의 합이 가장 클 때의 윈도우를 선택할 수 있다. 즉, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 Y 히스토그램(601)에서, 두 접점의 Y값 차이의 합이 가장 클 때의 윈도우에 매칭되는 X값을, 물체의 중심에 대한 후보 좌표 집합의 X범위(609)로 결정하고, X 히스토그램(603)에서, 두 접점의 X값 차이의 합이 가장 클 때의 윈도우에 매칭되는 Y값을, 물체의 중심에 대한 후보 좌표 집합의 Y범위(611)로 결정하며, X범위(609) 및 Y범위(611)에 해당하는 복수의 좌표를, 후보 좌표 집합(613)으로 결정할 수 있다.
도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 원형 물체에 대한 특징 검출 장치에서 물체의 중심에 대한 후보 좌표 집합 중 하나의 원점을 지정하는 일례를 설명하기 위한 도면이다.
도 7을 참조하면, 단계 701에서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 물체에 대한 표면 경계선에 관한 히스토그램(Y, X 히스토그램)에 적용할 윈도우 사이즈를 지정할 수 있다.
단계 703에서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 Y, X 히스토그램 각각에 적용한 윈도우를 이동시켜, 윈도우 내 값의 합이 가장 클 때의 윈도우를 각각 선택할 수 있다.
단계 705에서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 각각 윈도우에 매칭되는 X값 및 Y값을, 물체의 중심에 대한 후보 좌표 집합의 X범위 및 Y범위로 결정하고, 상기 X범위에 포함되는 물체 내 X좌표와 상기 Y범위에 포함되는 물체 내 Y좌표가 만나는 복수의 좌표(교차하는 복수의 좌표)를, 상기 후보 좌표 집합으로 결정할 수 있다.
단계 707에서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 후보 좌표 집합 내 각 좌표에 대해, 외부 경계선 및 내부 경계선 중 적어도 하나의 경계선을 생성하고, 상기 생성된 경계선을 고려하여, 후보 좌표 집합 중에서 하나의 좌표를 원점으로 지정할 수 있다.
원점 지정시, 먼저, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 설정된 기준에 따라, 상기 후보 좌표 집합 내 좌표를 선택할 수 있다. 예컨대, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 후보 좌표 집합 내 각 좌표를 중간점과의 거리를 기준으로 예컨대, 오름차순으로 정렬하고, 정렬된 순서대로 좌표를 선택할 수 있다. 여기서, 중간점은 X범위 내 중간에 위치하는 X값과, Y범위 내 중간에 위치하는 Y값이 만나는 좌표를 의미할 수 있다.
이후, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 상기 선택된 좌표를 원점으로 가지는 외부 경계선 및 내부 경계선 중 적어도 하나의 경계선을 생성하고, 상기 생성된 경계선과 물체에 대한 표면 경계선 간의 차이를 계산할 수 있다. 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 상기 차이가 설정된 기준을 만족하지 않는 경우, 다음으로 선택된 좌표에 대해, 경계선과 물체에 대한 표면 경계선 간의 차이를 계산하는 반면, 상기 차이가 설정된 기준을 만족하는 경우, 상기 선택된 좌표를, 상기 원점으로 지정할 수 있다.
다른 일례로서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 상기 후보 좌표 집합 내 모든 좌표에 대해, 경계선(예컨대, 외부 경계선 또는 내부 경계선)과 물체에 대한 표면 경계선 간의 차이를 생성하고, 상기 차이를 분석한 결과에 기초하여(예컨대, 가장 차이가 적은 좌표), 선택한 하나의 좌표를, 상기 원점으로 지정할 수 있다.
도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 원형 물체에 대한 특징 검출 장치에서 물체의 중심에 대한 후보 좌표 집합 중 선택된 하나의 좌표를 원점으로 가지는 경계선과 물체에 대한 표면 경계선 간의 차이에 대한 히스토그램을 도시한 도면이다.
도 8을 참조하면, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 물체의 중심에 대한 후보 좌표 집합 중 선택된 하나의 좌표를 원점으로 가지는 외부 경계선(또는, 내부 경계선)(801)을 생성하고, 외부 경계선(801)과 물체에 대한 표면 경계선(800) 간의 차이(또는, 빈공간)(803)을 히스토그램(805)으로 나타낼 수 있다. 여기서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 외부 경계선(801)과 물체에 대한 표면 경계선(800) 간의 차이(803)를 분석한 결과(예컨대, 패턴, 부피, 편차 등)를 통해, 물체의 특징을 파악할 수 있다.
도 9는 본 발명의 일실시예에 따른 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 외부 경계선과 표면 경계선 간의 차이에 대한 히스토그램 생성 방법을 나타내는 도면이다.
도 9를 참조하면, 단계 901에서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 먼저 히스토그램의 정밀도에 해당되는 이동 각도(세타, θ)와 시작지점에 해당하는 현재 각도(예컨대, 0∼3도)를 설정할 수 있다.
단계 903에서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 현재 각도를 이용하여, 외부 경계선 상의 좌표(X1, Y1)를 구할 수 있다. 이때, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 [수학식 1]을 이용하여, 상기 좌표를 구할 수 있다.
Figure pat00001
단계 905에서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 외부 경계선 상의 제1 좌표(X1, Y1)와 원점(X,Y)을 지나는 직선의 방정식을 계산하고, 상기 방정식을 이용하여 표면 경계선과 상기 직선이 만나는 점의 제2 좌표(X2, Y2)를 구할 수 있다.
단계 907에서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 외부 경계선 상의 제1 좌표(X1, Y1)와 표면 경계선 상의 제2 좌표(X2, Y2) 간의 거리 값 계산하여 히스토그램에 표시할 수 있다.
단계 909에서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 현재 각도가 설정된 조건을 만족하는지를 판단하고, 상기 판단 결과, 설정된 조건을 만족하지 않는 경우, 단계 911에서, 상기 설정된 이동 각도에 따라, 상기 현재 각도를 조정한 후, 상기 단계 903, 905, 907을 반복할 수 있다.
반면, 상기 판단 결과, 설정된 조건을 만족하는 경우(예컨대, 현재 각도가 360도를 포함하는 경우), 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 외부 경계선 전체에 대해, 표면 경계선과의 차이를 모두 계산한 것으로 간주하여, 종료할 수 있다.
도 10은 본 발명의 일실시예에 따른 원형 물체에 대한 특징 검출 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 10을 참조하면, 단계 1001에서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 물체(예컨대, 원형 물체)에 대한 표면 경계선을 획득할 수 있다.
단계 1003에서, 원형 물체에 대한 특징 검출 장치는 상기 표면 경계선을 이용하여, 상기 물체에 연관된 외부 경계선 및 내부 경계선 중 적어도 하나의 경계선을 생성하고, 상기 생성된 경계선의 반지름(예컨대, 외부 경계선의 외부 반지름(외부 반지름), 내부 경계선의 반지름(내부 반지름))을 이용하여, 물체에 대한 특징(예컨대, 물체의 크기, 물체의 표면 상태)을 검출할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따르면, 물체(예컨대, 원형 물체)에 대한 표면 경계선을 이용하여, 상기 물체에 연관된 외부 경계선(또는, 내부 경계선)을 생성하고, 상기 생성된 경계선의 반지름을 이용하여, 물체에 대한 특징(예컨대, 물체의 크기, 물체의 표면 상태)을 객관적으로 정확하게 검출할 수 있다.
따라서, 본 발명의 실시예에 따르면, 고가의 광학 장치를 이용하지 않고도, 물체에 대한 정밀 분석을 가능하게 하고, 상기 분석 결과에 기초하여 결정된, 물품에 대한 품질기준 통과 여부를 출력 함으로써, 정상 물품 또는 비정상 물품을 용이하게 선별할 수 있게 한다.
이상에서 설명된 장치는 하드웨어 구성요소, 소프트웨어 구성요소, 및/또는 하드웨어 구성요소 및 소프트웨어 구성요소의 조합으로 구현될 수 있다. 예를 들어, 실시예들에서 설명된 장치 및 구성요소는, 예를 들어, 프로세서, 콘트롤러, ALU(arithmetic logic unit), 디지털 신호 프로세서(digital signal processor), 마이크로컴퓨터, FPA(field programmable array), PLU(programmable logic unit), 마이크로프로세서, 또는 명령(instruction)을 실행하고 응답할 수 있는 다른 어떠한 장치와 같이, 하나 이상의 범용 컴퓨터 또는 특수 목적 컴퓨터를 이용하여 구현될 수 있다. 처리 장치는 운영 체제(OS) 및 상기 운영 체제 상에서 수행되는 하나 이상의 소프트웨어 애플리케이션을 수행할 수 있다. 또한, 처리 장치는 소프트웨어의 실행에 응답하여, 데이터를 접근, 저장, 조작, 처리 및 생성할 수도 있다. 이해의 편의를 위하여, 처리 장치는 하나가 사용되는 것으로 설명된 경우도 있지만, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는, 처리 장치가 복수 개의 처리 요소(processing element) 및/또는 복수 유형의 처리 요소를 포함할 수 있음을 알 수 있다. 예를 들어, 처리 장치는 복수 개의 프로세서 또는 하나의 프로세서 및 하나의 콘트롤러를 포함할 수 있다. 또한, 병렬 프로세서(parallel processor)와 같은, 다른 처리 구성(processing configuration)도 가능하다.
소프트웨어는 컴퓨터 프로그램(computer program), 코드(code), 명령(instruction), 또는 이들 중 하나 이상의 조합을 포함할 수 있으며, 원하는 대로 동작하도록 처리 장치를 구성하거나 독립적으로 또는 결합적으로(collectively) 처리 장치를 명령할 수 있다. 소프트웨어 및/또는 데이터는, 처리 장치에 의하여 해석되거나 처리 장치에 명령 또는 데이터를 제공하기 위하여, 어떤 유형의 기계, 구성요소(component), 물리적 장치, 가상 장치(virtual equipment), 컴퓨터 저장 매체 또는 장치, 또는 전송되는 신호 파(signal wave)에 영구적으로, 또는 일시적으로 구체화(embody)될 수 있다. 소프트웨어는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템 상에 분산되어서, 분산된 방법으로 저장되거나 실행될 수도 있다. 소프트웨어 및 데이터는 하나 이상의 컴퓨터 판독 가능 기록 매체에 저장될 수 있다.
실시예에 따른 방법은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체에 기록되는 프로그램 명령은 실시예를 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 실시예의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.
이상과 같이 실시예들이 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기의 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 예를 들어, 설명된 기술들이 설명된 방법과 다른 순서로 수행되거나, 및/또는 설명된 시스템, 구조, 장치, 회로 등의 구성요소들이 설명된 방법과 다른 형태로 결합 또는 조합되거나, 다른 구성요소 또는 균등물에 의하여 대치되거나 치환되더라도 적절한 결과가 달성될 수 있다.
그러므로, 다른 구현들, 다른 실시예들 및 특허청구범위와 균등한 것들도 후술하는 특허청구범위의 범위에 속한다.
100: 원형 물체에 대한 특징 검출 장치
101: 인터페이스부 103: 프로세서

Claims (1)

  1. 물체에 대한 표면 경계선을 획득하는 인터페이스부; 및
    상기 표면 경계선을 이용하여, 상기 물체에 연관된 외부 경계선 및 내부 경계선을 중 적어도 하나의 경계선을 생성하고, 상기 생성된 경계선의 반지름을 이용하여, 물체에 대한 특징을 검출하는 프로세서
    를 포함하는 원형 물체에 대한 특징 검출 장치.
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