KR20170093515A - X-ray image apparatus and method for sensing performance degradation thereof - Google Patents

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KR20170093515A
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Abstract

The present invention relates to an X-ray imaging apparatus and a method for sensing the performance degradation of the detector and the X-ray source of the X-ray imaging apparatus. To this end, the apparatus of the present invention comprises: a plurality of X-ray sources for sequentially emitting X-rays, an X-ray detector for providing a unit pixel sensor for generating electric signals corresponding to each of the X-rays, and a performance diagnosis device for comparing the electric signal values with a predetermined performance deterioration reference value and determining the performance degradation of the X-ray source or the X-ray detector.

Description

성능 저하를 감지하는 엑스선 영상 촬영 장치 및 방법{X-RAY IMAGE APPARATUS AND METHOD FOR SENSING PERFORMANCE DEGRADATION THEREOF}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to an X-ray image capturing apparatus and method for detecting a performance degradation,

본 발명은 엑스선 영상 촬영 장치의 엑스선 소스 및 엑스선 디텍터의 성능 저하를 감지하는 엑스선 영상 촬영 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an X-ray imaging apparatus and method for detecting degradation of an X-ray source and an X-ray detector of an X-ray imaging apparatus.

도 1은 종래 기술의 엑스선 영상 촬영 장치로서, 맘모그래피를 도시한 도면이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 is a diagram showing a mammography system as an X-ray imaging apparatus of the prior art.

도 1에 도시된 바와 같이, 엑스선 영상 촬영 장치(1)는 본체(2), 본체(2)를 따라 승강 및 회전 가능한 겐트리(3), 겐트리(3)의 일측에 장착되어 엑스선을 조사하는 엑스선 발생부(4), 겐트리(3)의 타측에 장착되어 엑스선을 수광하는 엑스선 디텍터(7), 엑스선 발생부(4)와 엑스선 디텍터(7) 사이에서 피검체를 가압하는 가압 패널(5)을 포함하며, 바람직하게는 가압 패널(5)과 엑스선 디텍터(7) 사이에서 피검체를 지지하는 지지패널(6)를 더 포함할 수 있다.As shown in Fig. 1, an X-ray imaging apparatus 1 includes a main body 2, a gantry 3 capable of moving up and down along the main body 2, a gantry 3 mounted on one side of the gantry 3, An X-ray generator 4 mounted on the other side of the gantry 3 for receiving X-rays, a pressure panel 7 for pressurizing the object between the X-ray generator 4 and the X-ray detector 7 5, and preferably further includes a support panel 6 for supporting the object between the pressure panel 5 and the X-ray detector 7. [

상기와 같은 엑스선 영상 촬영 장치(1)의 엑스선 발생부(3)는 단일 엑스선 소스로 피검체에 엑스선을 조사한다.The X-ray generator 3 of the X-ray imaging apparatus 1 irradiates X-rays to the subject with a single X-ray source.

한편, 단일 엑스선 소스를 구비한 엑스선 영상 촬영 장치(1)는 겐트리(3)를 일정각도 범위에서 연속적(continuous)으로 회전시키거나, 단계적(discontinuous)으로 회전시키면서 엑스선 발생부(3)가 피검체에 대해 다방향의 엑스선을 조사하고 조사된 엑스선을 엑스선 디텍터(7)가 수광함으로써, 피검체에 대한 다방향의 엑스선 영상을 획득하게 된다.On the other hand, an X-ray imaging apparatus 1 having a single X-ray source can continuously and continuously rotate the gantry 3 within a certain angle range or rotate the gantry 3 discontinuously, Directional x-ray is irradiated on the specimen and the irradiated x-ray is received by the x-ray detector 7, thereby obtaining a multi-directional x-ray image of the inspected object.

한편, 겐트리(3)가 일정각도 범위에서 연속적으로 또는 단계적으로 회전함으로써, 엑스선 발생부(3) 또한 일정각도 범위에서 연속적으로 또는 단계적으로 회전하게 되는데, 엑스선 발생부(3)가 연속적으로 회전하면서 촬영하는 컨티뉴어스-샷(continuous-shoot) 방식은 획득되는 엑스선 영상의 경계가 불분명하게 나타나는 모션 블러(motion blur) 현상이 발생하여 영상 품질이 저하되는 문제가 있고, 엑스선 발생부(3)가 단계적으로 회전하면서 촬영하는 스톱-앤드-샷(stop-and-shoot) 방식은 소정의 각도 간격(angular interval)마다 완전히 멈춘 상태에서 엑스선 촬영을 진행하고 이동해야 하기 때문에 전체 촬영 시간이 길어지고, 진동과 소음이 발생하는 문제가 있다.On the other hand, when the gantry 3 is continuously or stepwise rotated in a certain angle range, the X-ray generating section 3 also rotates continuously or stepwise within a certain angle range. When the X-ray generating section 3 is continuously rotated A continuous-shoot system in which a subject is photographed is subject to a motion blur phenomenon in which the boundaries of obtained x-ray images are unclear, resulting in deterioration of image quality, and the x- In the stop-and-shoot method of photographing while rotating stepwise, the entire imaging time is lengthened because the X-ray photographing must be performed and moved in a completely stopped state at a predetermined angular interval, And noise is generated.

이러한 문제를 해결하고자, 최근에 복수의 엑스선 소스를 구비하는 엑스선 영상 촬영 장치가 개발되었다. To solve this problem, an X-ray imaging apparatus having a plurality of X-ray sources has recently been developed.

도 2는 통상적인 복수의 엑스선 소스를 구비하는 엑스선 영상 촬영 장치를 도시한 도면이다.FIG. 2 is a view showing an X-ray imaging apparatus having a plurality of conventional X-ray sources.

도 2를 참조하면, 엑스선 영상 촬영 장치(100)는, 수직 기둥 형상의 지지 칼럼(111)과, 지지 칼럼(111)을 따라 상하 방향으로 승강 가능하게 설치된 본체(110)를 포함하고, 본체(110)의 상단부에는 피검체에 대해 일정각도 범위에서 엑스선을 각각 조사하는 복수의 엑스선 소스가 배치된 엑스선 발생부(120)가 설치되고, 본체(110)의 하단부에는 엑스선 발생부(120)와 서로 마주보며 엑스선 발생부(120)가 조사하는 엑스선을 수광하는 엑스선 디텍터(130)가 설치된다.2, the X-ray imaging apparatus 100 includes a support column 111 in the form of a vertical column and a body 110 installed to be vertically movable along the support column 111, Ray generator 120 for irradiating X-rays to a subject in a range of a predetermined angle with respect to the subject is provided at the upper end of the main body 110. The X-ray generator 120 and the X- Ray detector 130 for receiving an X-ray irradiated by the X-ray generating unit 120 is installed.

이 엑스선 영상 촬영 장치(100)는, 엑스선 발생부(120)의 복수의 엑스선 소스가 각각 사전 결정된 위치에서 엑스선을 조사하고 엑스선 디텍터(130)가 엑스선을 각각 수광하여 피검체에 대한 다방향의 엑스선 영상을 획득할 수 있다. 따라서 엑스선 발생부(120)의 물리적 이동을 배제할 수 있으므로 엑스선 발생부의 연속적 또는 단계적 회전에 의한 종래 기술의 문제가 해소되었다.The X-ray imaging apparatus 100 irradiates an X-ray at a predetermined position from a plurality of X-ray sources of the X-ray generator 120, and the X-ray detector 130 receives the X- Images can be acquired. Therefore, since the physical movement of the X-ray generator 120 can be eliminated, the problem of the prior art by the continuous or stepwise rotation of the X-ray generator is solved.

그러나, 복수의 엑스선 소스를 구비하는 엑스선 영상 촬영 장치(100)는, 엑스선 소스들 각자의 성능 저하 시점이 서로 달라, 즉 엑스선 소스마다 수명이 달라, 적절한 시기에 엑스선 소스를 교체하는데 어려움을 겪고 있다.However, in the X-ray imaging apparatus 100 having a plurality of X-ray sources, the performance degradation points of the X-ray sources are different from each other, that is, the lifespan differs for each X-ray source, and it is difficult to replace the X- .

따라서, 본 발명은 엑스선 소스 및 엑스선 디텍터의 성능 저하를 감지하는 엑스선 영상 촬영 장치 및 방법을 제공하고자 한다.Accordingly, it is an object of the present invention to provide an X-ray imaging apparatus and method for detecting degradation of an X-ray source and an X-ray detector.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 장치는, 엑스선을 각각 순차적으로 조사하는 다수개의 엑스선 소스, 상기 각각의 엑스선에 대응하는 전기신호를 생성하는 단위 픽셀 센서를 제공하는 엑스선 디텍터 및 상기 전기신호 값과 사전에 정해진 성능저하 기준 값을 각각 비교하여 엑스선 소스 또는 엑스선 디텍터의 성능저하를 판정하는 성능 진단 디바이스를 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an apparatus including: a plurality of X-ray sources for sequentially irradiating X-rays, an X-ray detector for providing a unit pixel sensor for generating an electric signal corresponding to each X-ray, And a performance diagnostic device for comparing the predetermined performance deterioration reference value with each other to determine degradation of the performance of the X-ray source or the X-ray detector.

한편, 상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 방법은, (a) 다수개의 엑스선 소스가 엑스선을 각각 순차적으로 조사하는 단계, (b) 엑스선 디텍터의 단위 픽셀 센서가 상기 각각의 엑스선에 대응하는 전기신호를 순차적으로 생성하는 단계 및 (c) 상기 전기신호 값과 사전에 정해진 성능저하 기준 값을 비교하여 상기 엑스선 소스 또는 상기 엑스선 디텍터의 성능저하를 판정하는 단계를 포함한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method of detecting an X-ray, comprising the steps of: (a) sequentially irradiating an X-ray source with a plurality of X-ray sources; (b) And (c) comparing the electrical signal value with a predetermined deterioration reference value to determine a degradation in performance of the X-ray source or the X-ray detector.

또한, 본 발명은 엑스선 영상 촬영 장치의 성능저하 감지 방법을 실현시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체를 제공한다.In addition, the present invention provides a computer-readable recording medium on which a program for realizing a method for detecting degradation in performance of an X-ray imaging apparatus is recorded.

따라서, 본 발명은 엑스선 소스 및 엑스선 디텍터의 성능 저하 시점을 정확히 감지할 수 있게 되어, 사용자가 적절한 시기에 엑스선 소스 및 엑스선 디텍터를 교체할 수 있다.Therefore, the present invention can accurately detect when the performance of the X-ray source and the X-ray detector deteriorates, so that the user can replace the X-ray source and the X-ray detector at an appropriate time.

도 1은 종래 기술에 따른 하나의 엑스선 소스를 구비한 엑스선 영상 촬영 장치를 도시한 도면,
도 2는 통상적인 다수의 엑스선 소스를 구비한 엑스선 영상 촬영 장치를 도시한 도면,
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 엑스선 영상 촬영 장치를 도시한 도면,
도 4는 단위 픽셀 센서들의 배치도,
도 5는 성능 진단 디바이스의 구성도,
도 6은 성능 진단 디바이스의 일반 감지모드와 특별 감지모드를 도시한 도면,
도 7은 S200 단계를 구체적으로 도시한 도면,
도 8은 단위 픽셀 센서들 중 기준 단위 픽셀 센서들의 위치를 나타내는 도면,
도 9는 S600 단계를 구체적으로 도시한 도면, 및
도 10은 S700 단계를 구체적으로 도시한 도면이다.
FIG. 1 illustrates an X-ray imaging apparatus having an X-ray source according to the prior art,
FIG. 2 illustrates an X-ray imaging apparatus having a plurality of conventional X-ray sources,
3 is a view illustrating an X-ray imaging apparatus according to an embodiment of the present invention.
4 is a layout diagram of unit pixel sensors,
5 is a configuration diagram of a performance diagnostic device,
6 is a diagram showing a general sensing mode and a special sensing mode of the performance diagnostic device,
7 is a diagram specifically showing the step S200,
8 is a view showing the positions of reference unit pixel sensors among the unit pixel sensors,
9 is a diagram specifically illustrating the step S600, and Fig.
10 is a diagram specifically showing the step S700.

상술한 목적, 특징 및 장점은 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 후술되어 있는 상세한 설명을 통하여 보다 명확해 질 것이며, 그에 따라 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 것이다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서 본 발명과 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에 그 상세한 설명을 생략하기로 한다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The above and other objects, features and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description of the present invention when taken in conjunction with the accompanying drawings, It can be easily carried out. In the following description, well-known functions or constructions are not described in detail since they would obscure the invention in unnecessary detail.

그리고 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐만 아니라 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "전기적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다. 또한, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함" 또는 "구비"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함하거나 구비할 수 있는 것을 의미한다. 또한, 명세서 전체의 기재에 있어서 일부 구성요소들을 단수형으로 기재하였다고 해서, 본 발명이 그에 국한되는 것은 아니며, 해당 구성요소가 복수 개로 이루어질 수 있음을 알 것이다.And throughout the specification, when a part is referred to as being "connected" to another part, it includes not only "directly connected" but also "electrically connected" with another part in between. Also, when a component is referred to as " comprising "or" comprising ", it does not exclude other components unless specifically stated to the contrary . In addition, in the description of the entire specification, it should be understood that the description of some elements in a singular form does not limit the present invention, and that a plurality of the constituent elements may be formed.

도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 엑스선 영상 촬영 장치를 도시한 도면이다.3 is a view illustrating an X-ray imaging apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시 예에 따른 엑스선 영상 촬영 장치는, 엑스선을 각각 조사하는 다수의 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n)가 구비된 엑스선 발생부(120), 이들로부터 조사된 엑스선을 각각 수광하고 수광한 엑스선의 세기에 대응하는 전기신호로 변환하는 엑스선 디텍터(130), 엑스선 디텍터(130)로부터 전기신호를 수신하고, 전기신호의 값과 성능 저하 기준 값을 비교하여 엑스선 영상 촬영 장치의 이상을 판정하는 성능 진단 디바이스(150) 및 이들을 제어하는 제어부(140)를 구비한다.3, an X-ray imaging apparatus according to an embodiment of the present invention includes a plurality of X-ray sources 123-1 to 123-n and 124-1 to 124-n for irradiating X-rays, respectively Ray detector 130 and an X-ray detector 130 that receive the X-ray emitted from the X-ray generator 120 and convert the received X-rays into electric signals corresponding to the received X-ray intensity, A performance diagnosis device 150 for comparing the value of the performance degradation reference value with the performance degradation reference value to determine an abnormality of the X-ray imaging apparatus, and a control unit 140 for controlling them.

도 3에 도시된 바와 같이, 엑스선 발생부(120)는 엑스선 디텍터(130)를 중심으로 일정각도 범위를 커버하고, 엑스선 발생부(120)에는 적어도 일 열로 복수의 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n)가 장착된다. 이때, 바람직하게는 각각의 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n)는 엑스선 발생부(120)에 탈부착 가능하게 장착될 수 있다. 그리고 엑스선 발생부(120)의 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n)는 일정규칙에 따라 각각 엑스선을 순차적으로 조사하고, 바람직하게는 고유번호를 각각 보유한다. 아래에서는 편의상 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n)가 어느 한쪽에서부터 다른 한쪽으로 순차적으로 엑스선을 조사하는 것으로 가정한다.3, the X-ray generator 120 covers a certain angle range around the X-ray detector 130, and the X-ray generator 120 is provided with a plurality of X-ray sources 123-1 to 123 -n and 124-1 to 124-n. At this time, preferably, each of the x-ray sources 123-1 to 123-n and 124-1 to 124-n may be detachably mounted on the x-ray generator 120. The X-ray sources 123-1 to 123-n and 124-1 to 124-n of the X-ray generator 120 sequentially irradiate the X-rays according to a predetermined rule, and preferably hold their own numbers. For convenience, it is assumed that the X-ray sources 123-1 to 123-n and 124-1 to 124-n sequentially scan the X-rays from one side to the other side for convenience.

엑스선 디텍터(130)는 엑스선 센서를 포함한다. 엑스선 디텍터(130)는 일정 면적을 갖는 면형 센서로서 엑스선 센서를 구성하는 각각의 단위 픽셀 센서들이 이차원적으로 배열된 형태, 즉, 단위 픽셀 센서들이 복수 행과 복수 열로 매트릭스(matrix)를 이루고 있는 형태이다.The x-ray detector 130 includes an x-ray sensor. The X-ray detector 130 is a planar sensor having a predetermined area. The X-ray detector 130 is a type in which each unit pixel sensor constituting the X-ray sensor is arranged in a two-dimensional array, that is, to be.

도 4는 단위 픽셀 센서들의 배치를 개략적으로 도시한 도면이다.4 is a view schematically showing the arrangement of unit pixel sensors.

도 4에 도시된 바와 같이, 각각의 단위 픽셀 센서들(131-1 내지 131-i)은 복수 행과 복수 열로 매트릭스(matrix)를 이루고 있다. 각각의 단위 픽셀 센서들(131-1 내지 131-i)은 엑스선을 각각 감지하고 감지한 엑스선의 세기에 대응하는 전기신호로 각각 변환하며, 바람직하게는 고유번호를 각각 보유한다.As shown in FIG. 4, each of the unit pixel sensors 131-1 to 131-i has a matrix of a plurality of rows and a plurality of columns. Each of the unit pixel sensors 131-1 to 131-i senses the X-rays and converts them into electric signals corresponding to the intensity of the sensed X-rays, respectively, and preferably retains the unique numbers.

도 5는 성능 진단 디바이스(150)를 도시한 도면이다.FIG. 5 is a diagram illustrating a performance diagnostic device 150. FIG.

도 5에 도시된 바와 같이, 성능 진단 디바이스(150)는 엑스선 디텍터(130)의 단위픽셀 센서들(131-1 내지 131-i) 일부 또는 전부로부터 변환된 전기신호와 성능 저하 기준 값을 비교하는 비교부(160), 비교부(160)의 비교 결과에 따라 엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하를 판정하는 성능 저하 판정부(170) 및 판정 결과에 따라 사용자에게 엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하를 알리는 알림부(180)를 포함한다.5, the performance diagnostic device 150 compares the performance degradation reference value with the electrical signals converted from some or all of the unit pixel sensors 131-1 to 131-i of the X-ray detector 130 A performance decreasing judging unit 170 for judging the performance degradation of the X-ray imaging apparatus according to the comparison result of the comparing unit 160 and the comparing unit 160, and a notification for notifying the user of the performance degradation of the X- (180).

이하에서는 도 3 내지 5를 참조하여 본원발명에 따른 엑스선 영상 촬영 장치의 작용을 상세하게 설명하겠다.Hereinafter, the operation of the X-ray imaging apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to FIGS.

먼저, 비교부(160)는 엑스선 디텍터(130)의 단위픽셀 센서들(131-1 내지 131-i)로부터 변환된 전기신호의 값을 성능 저하 기준 값과 비교하고, 전기신호의 값이 성능 저하 기준 값보다 작은 경우, 해당 전기신호에 대응하는 엑스선을 조사하는 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n)의 고유번호 및 단위 픽셀 센서들(131-1 내지 131-i)의 고유번호를 메모리(도시되지 않음)에 저장할 수 있다. 한편, 성능 저하 기준 값은 엑스선 센서(120) 및/또는 엑스선 디텍터(130)의 성능 저하를 판정할 수 있는 임의의 엑스선의 세기에 대응하는 전기신호의 값이다. 예를 들어, 각 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n)마다 1mAs의 엑스선을 조사한 경우, 그 엑스선의 대략 95% 이하, 예를 들어, 0.95mAs의 엑스선의 세기에 대응하는 전기신호의 값이 성능 저하 기준 값으로 설정될 수 있다. 또한, 각각의 고유 번호는 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n) 및 단위 픽셀 센서들(131-1 내지 131-i)을 식별하기 위해 사전 설정된 번호이다.First, the comparator 160 compares the value of the electric signal converted from the unit pixel sensors 131-1 to 131-i of the X-ray detector 130 with the performance degradation reference value, The number of the X-ray sources 123-1 to 123-n and 124-1 to 124-n that irradiate the X-ray corresponding to the electric signal, and the unit pixel sensors 131-1 to 131- i may be stored in a memory (not shown). On the other hand, the performance deterioration reference value is a value of an electrical signal corresponding to the intensity of an arbitrary x-ray that can determine the performance degradation of the x-ray sensor 120 and / or the x- For example, when an X-ray beam of 1mAs is irradiated for each of the X-ray sources 123-1 to 123-n and 124-1 to 124-n, the intensity of the X-ray of about 95% or less, for example, 0.95mAs, May be set to the performance degradation reference value. In addition, each unique number is a predetermined number for identifying the x-ray sources 123-1 to 123-n and 124-1 to 124-n and the unit pixel sensors 131-1 to 131-i.

성능 저하 판정부(170)는, 비교부(160)의 비교 결과에 따라 엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하를 판정한다. 성능 저하 판정부(170)의 구체적인 판정 과정은 이하에서 도면을 참조하여 설명하도록 한다.The performance degradation determination unit 170 determines the performance degradation of the X-ray imaging apparatus based on the comparison result of the comparison unit 160. [ A specific determination process of the performance degradation determination unit 170 will be described below with reference to the drawings.

알림부(180)는, 디스플레이 장치 및/또는 스피커 장치를 구비하며, 엑스선 영상 촬영 장치의 성능에 이상이 발생한 경우(즉, 엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하가 판정된 경우), 알림 문구 또는 컬러광(예컨대, 적색광)을 디스플레이 장치에 표시하거나/하고 알림 소리를 스피커 장치를 통해 방송할 수 있다. 그에 따라, 사용자는 알림부(180)의 알림을 통해 엑스선 영상 촬영 장치의 이상을 감지할 수 있다.The notification unit 180 includes a display device and / or a speaker device. When an abnormality occurs in the performance of the X-ray imaging apparatus (that is, when the performance deterioration of the X-ray imaging apparatus is judged) (For example, red light) on the display device and / or broadcast the notification sound through the speaker device. Accordingly, the user can sense an abnormality of the X-ray imaging apparatus through the notification of the notification unit 180.

이하에서는, 도면을 참조하여, 성능 진단 디바이스(150)의 일반 감지모드와 특별 감지모드를 설명하도록 한다. 여기서, 일반 감지모드는 피검체에 대한 엑스선 영상을 획득하는 일반적인 엑스선 영상 촬영과 함께 엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하를 개략적으로 감지하는 예비 모드이며, 특별 감지모드는 엑스선 영상 촬영 장치가 성능 저하 상태로 판정된 경우, 피검체 없이 엑스선 영상 촬영을 진행하여 엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하를 정밀하게 감지하는 정밀 모드이다.Hereinafter, the general sensing mode and the special sensing mode of the performance diagnostic device 150 will be described with reference to the drawings. Here, the general detection mode is a preliminary mode for roughly sensing the performance degradation of the X-ray imaging apparatus together with a general X-ray imaging for acquiring an X-ray image of the subject. In the special sensing mode, the X- And when it is judged, it is a precision mode in which the X-ray imaging is performed without the body to accurately detect the deterioration of the performance of the X-ray imaging apparatus.

도 6은 성능 진단 디바이스(150)의 일반 감지모드와 특별 감지모드를 도시한 도면이다.FIG. 6 is a diagram showing a general sensing mode and a special sensing mode of the performance diagnostic device 150. FIG.

도 6에 도시된 바와 같이, 피검체에 대한 엑스선 영상 촬영 시 성능 진단 디바이스(150)는 S100 단계의 일반 감지모드를 개시한다. 그 다음 S200 단계에서 성능 진단 디바이스(150)는 엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하를 개략적으로 감지한다.As shown in FIG. 6, the performance diagnostic device 150 at the time of taking an X-ray image of the subject starts the normal sensing mode in step S100. Then, in step S200, the performance diagnostic device 150 roughly detects degradation of the performance of the X-ray imaging apparatus.

도 7은 S200 단계를 구체적으로 도시한 도면이다.7 is a diagram specifically showing the step S200.

도 7에 도시된 바와 같이, S210 단계에서, 제어부(140)의 제어 하에, 엑스선 발생부(120)의 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n) 중 일례로 첫 번째의 엑스선 소스가 엑스선 디텍터(130)를 향해 엑스선을 조사한다.7, under the control of the control unit 140, among the x-ray sources 123-1 to 123-n and 124-1 to 124-n of the x-ray generator 120, Ray source irradiates the x-ray toward the x-ray detector 130.

그 다음, S220 단계에서, 제어부(140)의 제어 하에, 엑스선 디텍터(130)의 단위 픽셀 센서(131-1 내지 131-i)는 조사된 엑스선을 수광하고, 수광한 엑스선의 세기에 대응하는 전기신호(예컨대, 전압)로 변환한다.Subsequently, in step S220, the unit pixel sensors 131-1 to 131-i of the X-ray detector 130 receive the irradiated X-ray and, under the control of the control unit 140, Signal (e.g., voltage).

그 다음, S230 단계에서, 비교부(160)는 단위 픽셀 센서(131-1 내지 131-i) 중 기준 단위 픽셀 센서(132-1 내지 132-6)(도 8에 도시됨)가 수광한 엑스선의 세기에 대응하는 전기신호의 값과 성능 저하 기준 값을 비교한다. 8) of the unit pixel sensors 131-1 to 131-i, which are received by the reference unit pixel sensors 132-1 to 132-6 (shown in Fig. 8), in step S230, And compares the value of the electric signal corresponding to the intensity of the reference signal with the reference value of the performance degradation.

바람직하게, 기준 단위 픽셀 센서(132-1 내지 132-6)는 피검체가 위치하지 않을 것으로 예상되는 엑스선 디텍터(130) 상의 단위 픽셀 센서가 선택된다. 예를 들어, 도 8에 도시된 바와 같이, 피검체가 피검자의 유방이면 엑스선 디텍터(130)의 모서리 부분에는 피검체가 위치하지 않을 것이므로, 그 지점의 단위 픽셀 센서들이 기준 단위 픽셀 센서들(132-1 내지 132-6)로서 사전 설정될 수 있고, 기준 단위 픽셀 센서들(132-1 내지 132-6)의 수량은 크게 제한이 없다. Preferably, the reference unit pixel sensors 132-1 to 132-6 are selected as the unit pixel sensors on the X-ray detector 130 where the subject is not expected to be positioned. For example, as shown in FIG. 8, if the subject is the breast of the subject, the subject will not be positioned at the corner of the X-ray detector 130, so that the unit pixel sensors at that point are located at the reference unit pixel sensors 132 -1 to 132-6), and the number of the reference unit pixel sensors 132-1 to 132-6 is not particularly limited.

S230 단계에서의 비교 결과 기준 단위 픽셀 센서가 변환한 전기신호가 사전 설정된 성능 저하 기준 값 이하이면("예" 판정), S240 단계로 진행한다. 그러나 S230 단계에서의 비교 결과 기준 단위 픽셀 센서가 변환한 전기신호가 사전 설정된 성능 저하 기준 값을 초과하면("아니오" 판정), S250 단계로 진행한다. 이때, 바람직하게는 기준 단위 픽셀 센서가 변환한 전기신호는 사전 설정된 성능 저하 기준 값과 일대일 비교될 수 있다. If the electric signal converted by the reference unit pixel sensor is equal to or less than the predetermined performance deterioration reference value ("YES") as a result of the comparison in step S230, the flow proceeds to step S240. However, if the electric signal converted by the reference unit pixel sensor exceeds the predetermined performance deterioration reference value ("NO" determination result) in step S230, the process proceeds to step S250. At this time, preferably, the electric signal converted by the reference unit pixel sensor can be one-to-one compared with the predetermined performance deterioration reference value.

S240 단계에서, 비교부(160)는 해당 전기신호에 대응하는 엑스선을 조사한 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n)의 고유 번호 및 단위 픽셀 센서들(131-1 내지 131-i)의 고유번호를 제어부(140)에 또는 별도로 마련된 메모리(도시되지 않음)에 저장한다.In step S240, the comparing unit 160 compares the unique numbers of the x-ray sources 123-1 to 123-n and 124-1 to 124-n and the unit pixel sensors 131-1 To 131-i are stored in the control unit 140 or in a separately provided memory (not shown).

그 다음, S250 단계에서, 제어부(140)는 최근에 엑스선을 조사한 엑스선 소스가 마지막 번째의 엑스선 소스인지를 판정한다.Next, in step S250, the control unit 140 determines whether the x-ray source that has recently examined the x-ray is the last x-ray source.

S250 단계에서의 판정 결과 마지막 번째의 엑스선 소스이면("예" 판정), S300 단계로 진행하며, 마지막 번째의 엑스선 소스가 아니면("아니오" 판정), S260 단계로 진행한다.If it is determined as the last X-ray source in step S250 ("YES" determination), the process proceeds to step S300. If the X-ray source is not the last X-ray source (NO determination), the process proceeds to step S260.

한편, S260 단계에서, 제어부(140)는 최근에 엑스선을 조사한 엑스선 소스의 다음 번째의 엑스선 소스가 엑스선 디텍터(130)를 향해 엑스선을 조사하도록 제어한다.On the other hand, in step S260, the control unit 140 controls the next x-ray source of the x-ray source having recently examined the x-ray to irradiate the x-ray toward the x-ray detector 130.

다시 도 6에서, S300 단계에서, 성능 저하 판정부(170)는, S230 및 S240 단계에서의 결과를 이용하여, 엑스선 영상 촬영 장치의 상태를 판정한다. 예를 들어, 성능 저하 기준 값보다 작은 전기신호가 존재하는 경우, 성능 저하 판정부(170)는 엑스선 영상 촬영 장치를 예비 성능 저하 상태로 판정한다.6, in step S300, the performance degradation determination unit 170 determines the state of the X-ray imaging apparatus using the results of steps S230 and S240. For example, when there is an electric signal smaller than the performance degradation reference value, the performance degradation determination unit 170 determines the x-ray image pickup apparatus to be in the preliminary performance degradation state.

S300 단계에서의 판정 결과 엑스선 영상 촬영 장치의 상태가 예비 성능 저하 상태이면("예" 판정) S400 단계로 진행하며, 엑스선 영상 촬영 장치의 예비 상태가 성능 저하 상태가 아니면("아니오" 판정) S100 단계로 진행한다.If it is determined in step S300 that the state of the X-ray imaging apparatus is in the preliminary performance deterioration state (YES), the process proceeds to step S400. If the preliminary state of the X-ray imaging apparatus is not in the degraded state (NO) .

그 다음, S400 단계에서, 알림부(180)는 엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하 상태를 사용자에게 알리는 제1 알림을 발생한다. 예를 들어, 제1 알림은 알림 문구 또는 컬러광(예컨대, 적색광)을 디스플레이 장치에 표시하거나/하고 알림 소리를 스피커 장치를 통해 방송하는 것으로 이루어질 수 있다.Next, in step S400, the notification unit 180 generates a first notification informing the user of the performance degradation state of the X-ray imaging apparatus. For example, the first notification may consist of displaying a notification text or color light (e.g., red light) on a display device and / or broadcasting a notification sound through a speaker device.

그 다음, S500 단계에서 성능 진단 디바이스(150)는 일반 감지모드를 종료하고, 별도로 피검체가 없는 상태로 별도의 특별 감지모드를 개시한다. 이때, 특별 감지모드는 사용자의 별도 지시에 의해 개시될 수 있다. Next, in step S500, the performance diagnostic device 150 ends the normal sensing mode, and starts a special special sensing mode in a state in which there is no separate object. At this time, the special sensing mode may be started by a separate instruction from the user.

그 다음, S600 단계에서, 성능 진단 디바이스(150)는 엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하를 정밀하게 감지한다.Then, in step S600, the performance diagnostic device 150 precisely detects degradation of the performance of the X-ray imaging apparatus.

도 9는 S600 단계를 구체적으로 도시한 도면이다.9 is a diagram specifically showing the step S600.

도 9에 도시된 바와 같이, S610 단계에서, 제어부(140)의 제어 하에, 엑스선 발생부(120)의 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n) 중 첫 번째의 엑스선 소스가 엑스선 디텍터(130)를 향해 엑스선을 조사한다.9, under the control of the control unit 140, in step S610, the first of the X-ray sources 123-1 to 123-n and 124-1 to 124-n of the X-ray generator 120 The x-ray source irradiates the x-ray toward the x-ray detector 130.

그 다음, S620 단계에서, 제어부(140)의 제어 하에, 엑스선 디텍터(130)의 단위 픽셀 센서(131-1 내지 131-i)는 조사된 엑스선을 수광하고, 수광한 엑스선의 세기에 대응하는 전기신호(예컨대, 전압)로 변환한다.Subsequently, in step S620, the unit pixel sensors 131-1 to 131-i of the X-ray detector 130 receive the irradiated X-ray and, under the control of the control unit 140, Signal (e.g., voltage).

그 다음, S630 단계에서, 비교부(160)는 단위 픽셀 센서(131-1 내지 131-i)가 수광한 엑스선의 세기에 대응하는 전기신호의 값과 성능 저하 기준 값을 비교한다. 여기에서, 일반 감지모드에 이용된 성능 저하 기준 값과 특별 감지 모드에 이용된 성능 저하 기준 값은 동일하거나 다르게 설정될 수 있다.Next, in step S630, the comparing unit 160 compares the value of the electric signal corresponding to the intensity of the X-ray received by the unit pixel sensors 131-1 to 131-i with the performance degradation reference value. Here, the performance degradation reference value used in the general detection mode may be the same or different from the performance degradation reference value used in the special detection mode.

S630 단계에서의 비교 결과, 단위 픽셀 센서가 변환한 전기신호가 사전 설정된 성능 저하 기준 값 이하이면("예" 판정), S640 단계로 진행한다. 그러나 S630 단계에서의 비교 결과, 단위 픽셀 센서가 변환한 전기신호가 사전 설정된 성능 저하 기준 값을 초과하면("아니오" 판정), S650 단계로 진행한다.As a result of the comparison in step S630, if the electric signal converted by the unit pixel sensor is less than the predetermined performance deterioration reference value (YES), the process proceeds to step S640. However, if it is determined in step S630 that the electric signal converted by the unit pixel sensor has exceeded the predetermined performance degradation reference value ("NO"), the process proceeds to step S650.

S640 단계에서, 비교부(160)는 해당 전기신호에 대응하는 엑스선을 조사한 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n)의 고유 번호 및 단위 픽셀 센서들(131-1 내지 131-i)의 고유번호를 메모리(도시되지 않음)에 저장한다.In step S640, the comparison unit 160 compares the unique numbers of the x-ray sources 123-1 to 123-n and 124-1 to 124-n and the unit pixel sensors 131-1 To 131-i are stored in a memory (not shown).

그 다음, S650 단계에서, 제어부(140)는 최근에 엑스선을 조사한 엑스선 소스가 마지막 번째의 엑스선 소스인지를 판정한다.Then, in step S650, the control unit 140 determines whether the X-ray source having recently examined the X-ray is the last X-ray source.

S650 단계에서의 판정 결과 마지막 번째의 엑스선 소스이면("예" 판정), S700 단계로 진행하며, 마지막 번째의 엑스선 소스가 아니면("아니오" 판정), S660 단계로 진행한다.If the result of the determination in step S650 is the last X-ray source (YES), the process proceeds to step S700. If the X-ray source is not the last X-ray source (NO), the process proceeds to step S660.

한편, S660 단계에서, 제어부(140)는 최근에 엑스선을 조사한 엑스선 소스의 다음 번째의 엑스선 소스가 엑스선 디텍터(130)를 향해 엑스선을 조사하도록 제어한다.On the other hand, in step S660, the control unit 140 controls the X-ray source of the X-ray source having recently examined the X-ray to irradiate the X-ray toward the X-ray detector 130.

다시 도 6의 S700 단계에서, 성능 저하 판정부(170)는 엑스선 영상 촬영 장치가 구체적인 성능 저하 상태인지 판정한다.6, in step S700, the performance degradation determination unit 170 determines whether the X-ray image pickup apparatus is in a specific degraded state.

도 10은 S700 단계를 상세하게 도시한 도면이다.10 is a diagram showing in detail the step S700.

S710 단계에서, 성능 저하 판정부(170)는 성능저하 기준 값 이하로 판정된 전기신호의 개수, 즉 단위 픽셀의 개수가 기준 카운트 값 이하인지를 판정한다. 여기서, 기준 카운트 값은 예비 성능저하 상태인 엑스선 영상 촬영 장치가 엑스선 디텍터(130)의 성능 저하 상태인지 엑스선 센서(120)의 성능 저하 상태인지를 판정하기 위해 사전 설정된 값이다. 기준 카운트 값은 엑스선 디텍터(130)의 단위 픽셀 센서(131-1 내지 131-i)의 개수에 대응되도록 사전 설정될 수 있다. 즉, 예를 들어, 기준 카운트 값은 단위 픽셀 센서 개수의 대략 90% 또는 100%로 사전 설정될 수 있다.In step S710, the performance degradation determination unit 170 determines whether the number of electric signals determined to be equal to or lower than the performance degradation reference value, that is, the number of unit pixels is equal to or less than the reference count value. Here, the reference count value is a predetermined value for determining whether the x-ray image capturing apparatus in the preliminary performance deterioration state is in a degraded state of the x-ray detector 130 or in a degraded state of the x-ray sensor 120. The reference count value can be preset to correspond to the number of unit pixel sensors 131-1 to 131-i of the X-ray detector 130. [ That is, for example, the reference count value can be preset to approximately 90% or 100% of the number of unit pixel sensors.

S710 단계에서의 판정 결과 성능저하 기준 값 이하로 판정된 전기신호의 개수가 기준 카운트 값 이하이면("예" 판정), S720 단계로 진행하며, 성능저하 기준 값 이하로 판정된 전기신호의 개수가 기준 카운트 값을 초과하면("아니오" 판정), S740 단계로 진행한다. 한편, S740 단계에서, 성능 저하 판정부(170)는 대응하는 엑스선 소스의 상태를 성능저하 상태로 갱신하여 메모리에 저장한다. 여기서, 대응하는 엑스선 소스는 현재 판정중인 전기신호에 대응하는 엑스선을 조사한 엑스선 소스이다.If it is determined in step S710 that the number of electric signals determined to be equal to or less than the performance degradation reference value is equal to or less than the reference count value (YES), the process proceeds to step S720. If the number of electric signals If the reference count value is exceeded ("NO" determination), the flow proceeds to step S740. On the other hand, in step S740, the performance degradation determination unit 170 updates the state of the corresponding X-ray source to the degraded state and stores it in the memory. Here, the corresponding x-ray source is an x-ray source which has examined the x-ray corresponding to the electric signal currently being determined.

그 다음, S720 단계에서, 성능 저하 판정부(170)는 성능저하 기준 값 이하로 판정된 전기신호의 개수가 0개인지를 판정한다.Next, in step S720, the performance degradation determination unit 170 determines whether the number of electric signals determined to be equal to or less than the performance degradation reference value is zero.

S720 단계에서의 판정 결과 성능저하 기준 값 이하로 판정된 전기신호의 개수가 0개이면("예" 판정), S800 단계로 진행하며, 성능저하 기준 값 이하로 판정된 전기신호의 개수가 0개가 아니면("아니오" 판정), S730 단계로 진행한다.If it is determined in step S720 that the number of electric signals determined to be equal to or less than the performance degradation reference value is 0 (YES), the process proceeds to step S800. If the number of electric signals determined to be equal to or less than the performance degradation reference value is 0 Otherwise ("NO" determination), the flow proceeds to step S730.

그리고, S730 단계에서, 성능 저하 판정부(170)는 엑스선 디텍터의 상태를 성능저하 상태로 갱신하여 메모리에 저장한다.Then, in step S730, the performance degradation determination unit 170 updates the state of the X-ray detector to the degraded state and stores the state in the memory.

마지막으로, S800 단계에서 제어부(140)는, S600 단계에서의 판정 결과에 따라, 성능저하 상태로서 인덱스 된 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n) 및/또는 엑스선 디텍터(130)에 대한 정보를 함께 사용자에게 알리는 제2 알림(즉, 구체적인 성능 저하 알림)을 발생한다. 예를 들어, 제2 알림은 알림 문구 또는 색(예컨대, 적색)을 디스플레이 장치에 표시하거나/하고 알림 소리를 스피커 장치를 통해 방송하며, 동시에 성능저하 상태인 엑스선 디텍터(130) 및/또는 성능저하 상태의 엑스선 소스의 고유 번호를 디스플레이 장치에 표시하는 것으로 이루어질 수 있다.Finally, in step S800, the control unit 140 determines whether or not the X-ray sources 123-1 to 123-n and 124-1 to 124-n indexed as the degraded state and / And generates a second notification (i.e., a specific degradation notification) informing the user of the information about the detector 130 together. For example, the second notification can be displayed on the display device and / or broadcast the notification sound through a speaker device, and at the same time the performance of the x-ray detector 130 and / And displaying the unique number of the x-ray source in the state on the display device.

한편, 전술한 바와 같은 본 발명에 따른 엑스선 영상 촬영 장치는, 엑스선 영상 촬영 장치의 엑스선 디텍터(130)가 성능 저하 상태이면, 공지의 불량 화소 정정(Bad Pixel Correction) 알고리즘을 이용하여, 성능저하 기준 값 이하로 판정된 화소들의 출력 전기신호의 세기를 보정할 수 있다.In the meantime, when the X-ray detector 130 of the X-ray imaging apparatus is in a degraded state, the X-ray imaging apparatus according to the present invention as described above is capable of detecting a degradation criterion by using a known bad pixel correction algorithm, It is possible to correct the intensity of the output electric signal of the pixels determined to be equal to or smaller than the value.

또한, 전술한 바와 같은 본 발명에 따른 엑스선 영상 촬영 장치는, 엑스선 영상 촬영 장치 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n)가 성능 저하 상태이면, 성능 저하 상태인 엑스선 소스(123-1 내지 123-n 및 124-1 내지 124-n)의 엑스선 영상 촬영을 배제한다.Further, in the x-ray image pickup apparatus according to the present invention as described above, when the x-ray source 123-1 to 123-n and 124-1 to 124-n of the x- X-ray imaging of the sources 123-1 to 123-n and 124-1 to 124-n is excluded.

한편, 전술한 바와 같은 본 발명에 따른 엑스선 소스 및 디텍터의 성능 저하를 감지할 수 있는 방법은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체에 기록되는 프로그램 명령은 본 발명을 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 상기 매체는 프로그램 명령, 데이터 구조 등을 지정하는 신호를 전송하는 반송파를 포함하는 광 또는 금속선, 도파관 등의 전송 매체일 수도 있다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용하여 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기 하드웨어 장치는 본 발명의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.Meanwhile, the method for detecting the degradation of the X-ray source and the detector according to the present invention may be implemented in a form of a program command which can be executed through various computer means and recorded in a computer readable medium. The computer-readable medium may include program instructions, data files, data structures, and the like, alone or in combination. The program instructions recorded on the medium may be those specially designed and configured for the present invention or may be available to those skilled in the art of computer software. Examples of computer-readable media include magnetic media such as hard disks, floppy disks and magnetic tape; optical media such as CD-ROMs and DVDs; magnetic media such as floppy disks; Magneto-optical media, and hardware devices specifically configured to store and execute program instructions such as ROM, RAM, flash memory, and the like. The medium may be a transmission medium such as an optical or metal line, a wave guide, or the like, including a carrier wave for transmitting a signal designating a program command, a data structure, or the like. Examples of program instructions include machine language code such as those generated by a compiler, as well as high-level language code that can be executed by a computer using an interpreter or the like. The hardware device may be configured to operate as one or more software modules to perform the operations of the present invention, and vice versa.

이상과 같이 본 발명은 비록 한정된 실시 예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 상기의 실시 예에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 치환, 변형 및 변경이 가능하다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, but, on the contrary, Various permutations, modifications and variations are possible without departing from the spirit of the invention.

그러므로 본 발명의 범위는 설명된 실시 예에 국한되어 정해져서는 아니 되며, 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.Therefore, the scope of the present invention should not be construed as being limited to the embodiments described, but should be determined by the scope of the appended claims, as well as the appended claims.

Claims (11)

(a) 다수개의 엑스선 소스가 엑스선을 각각 순차적으로 조사하는 단계;
(b) 엑스선 디텍터의 단위 픽셀 센서가 상기 각각의 엑스선에 대응하는 전기신호를 순차적으로 생성하는 단계; 및
(c) 상기 전기신호 값과 사전에 정해진 성능저하 기준 값을 비교하여 상기 엑스선 소스 또는 상기 엑스선 디텍터의 성능저하를 판정하는 단계
를 포함하는 엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하 감지 방법.
(a) sequentially irradiating X-rays to a plurality of X-ray sources;
(b) a unit pixel sensor of the X-ray detector sequentially generating an electric signal corresponding to each X-ray; And
(c) comparing the electrical signal value with a predetermined performance degradation reference value to determine a degradation in performance of the x-ray source or the x-ray detector
And detecting the degradation of the performance of the X-ray imaging apparatus.
제1항에 있어서,
상기 성능 저하 기준 값은 제1 성능 저하 기준 값과 제2 성능 저하 기준 값을 포함하고,
상기 (c) 단계는,
(d) 상기 엑스선 소스와 상기 엑스선 디텍터 사이에 피검체가 놓여진 상태에서 획득된 전기신호 값과 상기 제1 성능 저하 기준 값을 비교하는 단계;
(e) 상기 (d) 단계에서 획득된 상기 전기신호 값이 상기 제1 성능 저하 기준 값보다 낮으면 상기 엑스선 소스와 상기 엑스선 디텍터 사이에 상기 피검체가 놓이지 않은 상태에서 획득된 전기신호 값과 상기 제2 성능 저하 기준 값을 비교하는 단계; 및
(f) 비교 결과에 따라 상기 엑스선 소스 또는 상기 엑스선 디텍터의 성능저하를 판정하는 단계를 포함하는,
엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하 감지 방법.
The method according to claim 1,
Wherein the performance degradation reference value includes a first degradation reference value and a second degradation reference value,
The step (c)
(d) comparing the electrical signal value obtained in a state where the subject is placed between the X-ray source and the X-ray detector and the first performance degradation reference value;
(e) if the electrical signal value obtained in the step (d) is lower than the first performance degradation reference value, an electrical signal value obtained in a state in which the subject is not placed between the x-ray source and the x- Comparing the second performance degradation reference value; And
(f) determining a degradation of the x-ray source or the x-ray detector according to the comparison result.
Detection of performance degradation of X - ray imaging device.
제2항에 있어서,
상기 (d) 단계는,
상기 단위 픽셀 센서 중 피검체가 놓이지 않은 단위 픽셀 센서의 전기신호 값과 상기 제1 성능 저하 기준 값을 비교하는 엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하 감지 방법.
3. The method of claim 2,
The step (d)
And comparing the electric signal value of the unit pixel sensor in which the subject is not placed among the unit pixel sensors with the first performance degradation reference value.
제2항에 있어서,
상기 (e) 단계는,
상기 제2 성능저하 기준 값 이하의 전기신호 값을 갖는 단위 픽셀 센서의 개수와 사전 설정된 기준 카운트 값을 비교하고,
상기 (f) 단계는,
상기 제2 성능저하 기준 값 이하의 전기신호 값을 생성한 단위 픽셀 센서의 개수가 상기 기준 카운트 값 이하이면 상기 엑스선 디텍터가 성능 저하 상태인 것으로 판정하고, 상기 제2 성능저하 기준 값 이하의 전기신호 값을 갖는 단위 픽셀의 개수가 상기 기준 카운트 값을 초과하면 상기 엑스선 소스가 성능 저하 상태인 것으로 판정하는,
엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하 감지 방법.
3. The method of claim 2,
The step (e)
Comparing a number of unit pixel sensors having an electric signal value equal to or less than the second performance degradation reference value with a predetermined reference count value,
The step (f)
If the number of unit pixel sensors generating the electric signal value equal to or less than the second performance degradation reference value is less than the reference count value, it is determined that the X-ray detector is in a degraded state, Ray source is in a degraded state when the number of unit pixels having a value exceeds the reference count value,
Detection of performance degradation of X - ray imaging device.
제1항에 있어서,
상기 (c) 단계에서 상기 엑스선 소스 또는 상기 엑스선 디텍터가 성능저하 상태로 판정되면, 디스플레이 장치 또는 스피커 장치 중 적어도 하나를 통해 성능저하 알림을 발생시키는 단계를 더 포함하는 엑스선 영상 촬영 장치의 성능 저하 감지 방법.
The method according to claim 1,
Further comprising the step of generating a performance degradation notification through at least one of a display device and a speaker device when the X-ray source or the X-ray detector is determined to be in a degraded state in step (c) Way.
제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 따른 엑스선 영상 촬영 장치의 성능저하 감지 방법을 실현시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체.
A computer-readable recording medium having recorded thereon a program for realizing a method for detecting degradation in performance of an X-ray image photographing apparatus according to any one of claims 1 to 5.
엑스선을 각각 순차적으로 조사하는 다수개의 엑스선 소스;
상기 각각의 엑스선에 대응하는 전기신호를 생성하는 단위 픽셀 센서를 제공하는 엑스선 디텍터; 및
상기 전기신호 값과 사전에 정해진 성능저하 기준 값을 각각 비교하여 엑스선 소스 또는 엑스선 디텍터의 성능저하를 판정하는 성능 진단 디바이스
를 포함하는 엑스선 영상 촬영 장치.
A plurality of X-ray sources sequentially irradiating X-rays;
An X-ray detector for providing a unit pixel sensor for generating an electric signal corresponding to each X-ray; And
A performance diagnostic device for comparing the electric signal value with a predetermined performance deterioration reference value to determine the performance degradation of the X-ray source or the X-ray detector
Ray imaging apparatus.
제7항에 있어서,
상기 성능 저하 기준 값은 제1 성능 저하 기준 값과 제2 성능 저하 기준 값을 포함하고,
상기 성능 진단 디바이스는
상기 엑스선 소스와 상기 엑스선 디텍터 사이에 피검체가 놓여진 상태에서 획득된 전기신호 값과 제1 성능 저하 기준값을 비교하고, 상기 전기신호의 값이 상기 제1 성능 저하 기준값보다 낮으면 상기 엑스선 소스와 상기 엑스선 디텍터 사이에 상기 피검체가 놓이지 않은 상태에서 획득된 전기신호 값과 상기 제2 성능 저하 기준 값을 비교하는 비교부; 및
상기 비교부의 비교결과에 따라 상기 엑스선 소스 또는 엑스선 디텍터의 성능저하를 판정하는 성능 저하 판정부를 포함하는
엑스선 영상 촬영 장치.
8. The method of claim 7,
Wherein the performance degradation reference value includes a first degradation reference value and a second degradation reference value,
The performance diagnostic device
Comparing the electric signal value obtained in a state where the subject is placed between the X-ray source and the X-ray detector and a first performance degradation reference value, and if the value of the electric signal is lower than the first performance degradation reference value, A comparison unit comparing an electric signal value obtained in a state where the subject is not placed between the X-ray detector and the second performance deterioration reference value; And
And a performance deterioration judging section for judging the performance degradation of the X-ray source or the X-ray detector in accordance with the comparison result of the comparing section
X-ray imaging device.
제8항에 있어서,
상기 비교부는,
상기 단위 픽셀 센서 중 피검체가 놓이지 않은 단위 픽셀 센서의 전기신호 값과 상기 제1 성능 저하 기준 값을 비교하는
엑스선 영상 촬영 장치.
9. The method of claim 8,
Wherein,
Comparing the electric signal value of the unit pixel sensor of the unit pixel sensor in which the subject does not exist and the first performance deterioration reference value
X-ray imaging device.
제8항에 있어서,
상기 비교부는,
상기 제2 성능저하 기준 값 이하의 전기신호 값을 생성한 단위 픽셀 센서의 개수와 사전 설정된 기준 카운트 값을 비교하고,
상기 성능 저하 판정부는,
상기 제2 성능저하 기준 값 이하의 전기신호 값을 생성한 단위 픽셀 센서의 개수가 상기 기준 카운트 값 이하이면 상기 엑스선 디텍터가 성능 저하 상태인 것으로 판정하고, 상기 제2 성능저하 기준 값 이하의 전기신호 값을 생성한 단위 픽셀 센서의 개수가 상기 기준 카운트 값을 초과하면 상기 엑스선 소스들이 성능 저하 상태인 것으로 판정하는,
엑스선 영상 촬영 장치.
9. The method of claim 8,
Wherein,
Comparing the number of the unit pixel sensors that generate the electric signal value equal to or less than the second performance deterioration reference value with a predetermined reference count value,
The performance deterioration judging section judges,
If the number of unit pixel sensors generating the electric signal value equal to or less than the second performance degradation reference value is less than the reference count value, it is determined that the X-ray detector is in a degraded state, Ray source determines that the x-ray sources are in a degraded state when the number of unit pixel sensors that generate the value exceeds the reference count value,
X-ray imaging device.
제7항에 있어서,
상기 엑스선 소스 또는 엑스선 디텍터의 성능저하 상태를 디스플레이 장치 또는 스피커 장치를 통해 표시하는 알림부를 더 포함하는 엑스선 영상 촬영 장치.
8. The method of claim 7,
And an informing unit for displaying a state of degradation of the X-ray source or the X-ray detector through a display device or a speaker device.
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