JP7175639B2 - X-ray imaging device and medical image processing device - Google Patents

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Description

本発明の実施形態は、X線撮影装置及び医用画像処理装置に関する。 An embodiment of the present invention relates to an X-ray imaging apparatus and a medical image processing apparatus.

X線管を保護する機能として、OLP(Over Load Protection)機能がある。OLP機能によれば、管電圧、管電流、スキャン時間から求められる加熱量と時間経過に伴う冷却量とをスキャン前に計算し、X線管の熱容量を超えた状態でX線管が使用されないように管理できる。 As a function to protect the X-ray tube, there is an OLP (Over Load Protection) function. According to the OLP function, the amount of heating obtained from the tube voltage, tube current, and scan time and the amount of cooling with the passage of time are calculated before scanning, and the X-ray tube is not used when the heat capacity of the X-ray tube is exceeded. can be managed as

OLP機能が存在するため、現在の熱量を基準としてX線管の熱容量を超えてしまうスキャン条件を指定すると、当該スキャン条件のX線照射ができる熱量にX線管が冷えるまで待ち時間が必要となる。そのため、X線撮影装置から待ち時間に関してユーザとの対話が実行される。例えば、待ち時間ありのスキャン条件が表示される。待ち時間ありのスキャン条件を許容できるか否かはユーザの判断となる。ユーザが待ち時間ありのスキャン条件を許容できない場合、待ち時間を短くするためには、スキャン条件に含まれる管電圧、管電流およびスキャン時間などを変更しなければならない。
しかし、スキャン条件と待ち時間との関係は分かりにくく、ユーザは、スキャン条件を変更し、変更されたスキャン条件における待ち時間を確認するという作業を、ユーザが許容できるスキャン条件及び待ち時間となるまで繰り返す必要がある。
Due to the presence of the OLP function, if you specify a scan condition that exceeds the heat capacity of the X-ray tube based on the current amount of heat, a waiting time is required until the X-ray tube cools down to the amount of heat that can be irradiated with X-rays under that scan condition. Become. Therefore, the X-ray imaging apparatus executes a dialogue with the user regarding the waiting time. For example, a scan condition with waiting time is displayed. It is up to the user to decide whether or not the scan condition with waiting time is permissible. If the user cannot accept scan conditions with waiting time, the tube voltage, tube current, scan time, etc. included in the scan conditions must be changed in order to shorten the waiting time.
However, the relationship between the scanning conditions and the waiting time is difficult to understand, and the user has to change the scanning conditions and confirm the waiting time under the changed scanning conditions until the scanning conditions and the waiting time are acceptable to the user. Need to repeat.

特開2003-190138号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2003-190138 特開2002-207824号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-207824

本発明が解決しようとする課題は、ワークフローを改善し、スループットを向上することである。 The problem to be solved by the present invention is to improve the workflow and increase the throughput.

本実施形態に係るX線撮影装置は、X線管と、検出器と、取得部と、表示制御部とを具備する。X線管は、X線を照射する。検出器は、前記X線管から照射されて被検体を透過したX線を検出する。取得部は、第1スキャン条件を取得する。表示制御部は、前記第1スキャン条件の画質に関する第1パラメータと当該第1スキャン条件下でのOLPのための第1待ち時間とに関する第1情報を表示させ、前記第1スキャン条件と異なる第2スキャン条件の画質に関する第2パラメータと当該第2スキャン条件下でのOLPのための第2待ち時間とに関する第2情報を選択可能に表示させる。 An X-ray imaging apparatus according to this embodiment includes an X-ray tube, a detector, an acquisition section, and a display control section. The X-ray tube emits X-rays. The detector detects X-rays emitted from the X-ray tube and transmitted through the subject. The acquisition unit acquires a first scan condition. The display control unit displays first information regarding a first parameter regarding image quality under the first scanning condition and a first waiting time for OLP under the first scanning condition, and displays a first parameter different from the first scanning condition. Second information regarding a second parameter regarding image quality under two scanning conditions and a second waiting time for OLP under the second scanning conditions is displayed in a selectable manner.

図1は、第1の実施形態に係るX線CT装置の構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the X-ray CT apparatus according to the first embodiment. 図2は、第1の実施形態に係るX線CT装置の動作を示すフローチャートである。FIG. 2 is a flow chart showing the operation of the X-ray CT apparatus according to the first embodiment. 図3は、第1の実施形態に係る表示制御機能による対応関係の第1表示例を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a first display example of the correspondence relationship by the display control function according to the first embodiment. 図4は、第1の実施形態に係る表示制御機能による対応関係の第2表示例を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a second display example of the correspondence relationship by the display control function according to the first embodiment. 図5は、第1の実施形態に係る表示制御機能による対応関係の第3表示例を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a third display example of the correspondence relationship by the display control function according to the first embodiment. 図6は、第1の実施形態に係る表示制御機能による対応関係の第4表示例を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a fourth display example of the correspondence relationship by the display control function according to the first embodiment. 図7は、第1の実施形態に係る参考画像の表示例を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a display example of a reference image according to the first embodiment. 図8は、第2の実施形態に係るスキャンプランの一例を示すリストである。FIG. 8 is a list showing an example of scan plans according to the second embodiment. 図9は、第2の実施例に係るX線CT装置の動作を示すフローチャートである。FIG. 9 is a flow chart showing the operation of the X-ray CT apparatus according to the second embodiment. 図10は、第2の実施形態に係る画質と待ち時間との関係を示すリストである。FIG. 10 is a list showing the relationship between image quality and waiting time according to the second embodiment. 図11は、画質を低下させる場合のスキャン条件の設定の概念的表示例を示す図である。FIG. 11 is a diagram showing a conceptual display example of scan condition settings when image quality is reduced. 図12は、本実施形態に係る医用画像処理装置を示すブロック図である。FIG. 12 is a block diagram showing a medical image processing apparatus according to this embodiment.

以下、図面を参照しながら本実施形態に係わるX線撮影装置及び医用画像処理装置について説明する。以下の実施形態では、同一の参照符号を付した部分は同様の動作をおこなうものとして、重複する説明を適宜省略する。以下、一実施形態について図面を用いて説明する。 An X-ray imaging apparatus and a medical image processing apparatus according to this embodiment will be described below with reference to the drawings. In the following embodiments, it is assumed that parts denoted by the same reference numerals perform the same operations, and overlapping descriptions will be omitted as appropriate. An embodiment will be described below with reference to the drawings.

(第1の実施形態)
以下、X線撮影装置の一例として、X線CT(Computed Tomography)装置の構成を参照して説明する。図1は、X線CT装置のブロック図である。なお、X線CT装置に限らず、X線診断装置でも実施可能である。
(First embodiment)
Hereinafter, the configuration of an X-ray CT (Computed Tomography) apparatus will be described as an example of an X-ray imaging apparatus. FIG. 1 is a block diagram of an X-ray CT apparatus. It should be noted that the X-ray diagnostic apparatus can be used instead of the X-ray CT apparatus.

図1に示すX線CT装置1は、架台装置10と、寝台装置30と、コンソール装置40とを有する。図1では説明の都合上、架台装置10を複数描画している旨を記載する。なお、本実施形態では、非チルト状態での回転フレーム13の回転軸又は寝台装置30の天板33の長手方向をZ軸方向、Z軸方向に直交し、床面に対し水平である軸方向をX軸方向、Z軸方向に直交し、床面に対し垂直である軸方向をY軸方向とそれぞれ定義するものとする。 The X-ray CT apparatus 1 shown in FIG. 1 has a gantry device 10 , a bed device 30 and a console device 40 . For convenience of explanation, FIG. 1 shows that a plurality of gantry devices 10 are drawn. In this embodiment, the rotation axis of the rotating frame 13 in the non-tilt state or the longitudinal direction of the top plate 33 of the bed apparatus 30 is the Z-axis direction, and the axial direction perpendicular to the Z-axis direction and horizontal to the floor surface is are defined as the X-axis direction, the axis direction perpendicular to the Z-axis direction, and the Y-axis direction as the axis direction perpendicular to the floor surface.

例えば、架台装置10及び寝台装置30はCT検査室に設置され、コンソール装置40はCT検査室に隣接する制御室に設置される。なお、コンソール装置40は、必ずしも制御室に設置されなくてもよい。例えば、コンソール装置40は、架台装置10及び寝台装置30とともに同一の部屋に設置されてもよい。いずれにしても架台装置10と、寝台装置30と、コンソール装置40とは互いに通信可能に有線または無線で接続されている。 For example, the gantry device 10 and the bed device 30 are installed in a CT examination room, and the console device 40 is installed in a control room adjacent to the CT examination room. Note that the console device 40 does not necessarily have to be installed in the control room. For example, the console device 40 may be installed in the same room together with the gantry device 10 and the bed device 30 . In any case, the gantry device 10, the bed device 30, and the console device 40 are connected by wire or wirelessly so as to be able to communicate with each other.

架台装置10は、被検体PをX線CT撮影するための構成を有するスキャン装置である。架台装置10は、X線管11と、X線検出器12と、回転フレーム13と、X線高電圧装置14と、制御装置15と、ウェッジ16と、コリメータ17と、データ収集装置18(DAS(Data Acquisition System)18ともいう)とを含む。 The gantry device 10 is a scanning device having a configuration for X-ray CT imaging of the subject P. As shown in FIG. The gantry device 10 includes an X-ray tube 11, an X-ray detector 12, a rotating frame 13, an X-ray high voltage device 14, a control device 15, a wedge 16, a collimator 17, and a data acquisition device 18 (DAS (Data Acquisition System) 18).

X線管11は、X線高電圧装置14からの高電圧の印加及びフィラメント電流の供給により、陰極(フィラメント)から陽極(ターゲット)に向けて熱電子を照射することでX線を発生する真空管である。具体的には、熱電子がターゲットに衝突することによりX線が発生される。X線管11で発生したX線は、例えばコリメータ17を介してコーンビーム形に成形され、被検体Pに照射される。 The X-ray tube 11 is a vacuum tube that generates X-rays by irradiating thermal electrons from a cathode (filament) to an anode (target) by applying a high voltage and supplying a filament current from an X-ray high voltage device 14. is. Specifically, X-rays are generated by thermal electrons colliding with a target. The X-rays generated by the X-ray tube 11 are shaped into a cone beam through, for example, a collimator 17 and irradiated onto the subject P. FIG.

X線検出器12は、X線管11から照射され、被検体Pを通過したX線を検出し、当該X線量に対応した電気信号をDAS18へと出力する。X線検出器12は、例えば、X線管11の焦点を中心として1つの円弧に沿ってチャネル方向に複数のX線検出素子が配列された複数のX線検出素子列を有する。X線検出器12は、例えば、チャネル方向に複数のX線検出素子が配列されたX線検出素子列がスライス方向(列方向、row方向)に複数配列された列構造を有する。 The X-ray detector 12 detects X-rays emitted from the X-ray tube 11 and passing through the subject P, and outputs an electrical signal corresponding to the X-ray dose to the DAS 18 . The X-ray detector 12 has, for example, a plurality of X-ray detection element arrays in which a plurality of X-ray detection elements are arranged in the channel direction along one circular arc centering on the focal point of the X-ray tube 11 . The X-ray detector 12 has, for example, a row structure in which a plurality of X-ray detection element rows each having a plurality of X-ray detection elements arranged in the channel direction are arranged in the slice direction (row direction).

X線検出器12は、具体的には、例えば、グリッドと、シンチレータアレイと、光センサアレイとを有する間接変換型の検出器である。X線検出器12は、検出部の一例である。
シンチレータアレイは、複数のシンチレータを有する。シンチレータは、入射X線量に応じた光子量の光を出力するシンチレータ結晶を有する。
グリッドは、シンチレータアレイのX線入射側の面に配置され、散乱X線を吸収する機能を有するX線遮蔽板を有する。なお、グリッドはコリメータ(1次元コリメータまたは2次元コリメータ)と呼ばれる場合もある。
光センサアレイは、シンチレータからの受けた光を増幅して電気信号に変換する機能を有し、例えば、光電子増倍管(フォトマルチプライヤー:PMT)等の光センサを有する。
なお、X線検出器12は、入射したX線を電気信号に変換する半導体素子を有する直接変換型の検出器であっても構わない。
Specifically, the X-ray detector 12 is, for example, an indirect conversion type detector having a grid, a scintillator array, and a photosensor array. The X-ray detector 12 is an example of a detection section.
The scintillator array has a plurality of scintillators. The scintillator has a scintillator crystal that outputs light with an amount of photons corresponding to the amount of incident X-rays.
The grid has an X-ray shielding plate arranged on the surface of the scintillator array on the X-ray incident side and having a function of absorbing scattered X-rays. Note that the grid may also be called a collimator (one-dimensional collimator or two-dimensional collimator).
The photosensor array has a function of amplifying the light received from the scintillator and converting it into an electric signal, and has photosensors such as photomultiplier tubes (PMTs), for example.
The X-ray detector 12 may be a direct conversion type detector having a semiconductor element that converts incident X-rays into electrical signals.

回転フレーム13は、X線発生部とX線検出器12とを回転軸回りに回転可能に支持する。具体的には、回転フレーム13は、X線管11とX線検出器12とを対向支持し、後述する制御装置15によってX線管11とX線検出器12とを回転させる円環状のフレームである。回転フレーム13は、アルミニウム等の金属により形成された固定フレーム(図示せず)に回転可能に支持される。詳しくは、回転フレーム13は、ベアリングを介して固定フレームの縁部に接続されている。回転フレーム13は、制御装置15の駆動機構からの動力を受けて回転軸Z回りに一定の角速度で回転する。 The rotating frame 13 supports the X-ray generator and the X-ray detector 12 so as to be rotatable around the rotation axis. Specifically, the rotating frame 13 is an annular frame that supports the X-ray tube 11 and the X-ray detector 12 so as to face each other and rotates the X-ray tube 11 and the X-ray detector 12 by means of a control device 15, which will be described later. is. The rotating frame 13 is rotatably supported by a fixed frame (not shown) made of metal such as aluminum. Specifically, the rotating frame 13 is connected to the edges of the stationary frame via bearings. The rotating frame 13 receives power from the drive mechanism of the control device 15 and rotates around the rotation axis Z at a constant angular velocity.

なお、回転フレーム13は、X線管11とX線検出器12に加えて、X線高電圧装置14やDAS18を更に備えて支持する。このような回転フレーム13は、撮影空間をなす開口(ボア)19が形成された略円筒形状の筐体に収容されている。開口はFOVに略一致する。開口の中心軸は、回転フレーム13の回転軸Zに一致する。なお、DAS18が生成した検出データは、例えば発光ダイオード(LED)を有する送信機から光通信によって架台装置の非回転部分(例えば固定フレーム。図1での図示は省略する。)に設けられた、フォトダイオードを有する受信機(図示せず)に送信され、コンソール装置40へと転送される。なお、回転フレームから架台装置の非回転部分への検出データの送信方法は、前述の光通信に限らず、非接触型のデータ伝送であれば如何なる方式を採用しても構わない。 In addition to the X-ray tube 11 and the X-ray detector 12, the rotating frame 13 further includes an X-ray high-voltage device 14 and a DAS 18 to support them. Such a rotating frame 13 is accommodated in a substantially cylindrical housing in which an opening (bore) 19 forming an imaging space is formed. The aperture approximately matches the FOV. The central axis of the opening coincides with the rotational axis Z of the rotating frame 13 . The detection data generated by the DAS 18 is provided in a non-rotating portion (for example, a fixed frame, not shown in FIG. 1) of the gantry device by optical communication from a transmitter having a light emitting diode (LED), It is transmitted to a receiver (not shown) having a photodiode and forwarded to the console device 40 . The method of transmitting the detected data from the rotating frame to the non-rotating portion of the gantry is not limited to the optical communication described above, and any method of non-contact data transmission may be adopted.

X線高電圧装置14は、変圧器(トランス)及び整流器等の電気回路を有し、X線管11に印加する高電圧及びX線管11に供給するフィラメント電流を発生する機能を有する高電圧発生装置と、X線管11が照射するX線に応じた出力電圧の制御を行うX線制御装置とを有する。高電圧発生装置は、変圧器方式であってもよいし、インバータ方式であっても構わない。なお、X線高電圧装置14は、後述する回転フレーム13に設けられてもよいし、架台装置10の固定フレーム(図示しない)側に設けられても構わない。 The X-ray high voltage device 14 has electric circuits such as a transformer and a rectifier, and has a function of generating a high voltage to be applied to the X-ray tube 11 and a filament current to be supplied to the X-ray tube 11. It has a generating device and an X-ray control device for controlling the output voltage according to the X-rays emitted by the X-ray tube 11 . The high voltage generator may be of a transformer type or an inverter type. Note that the X-ray high-voltage device 14 may be provided on a rotating frame 13 to be described later, or may be provided on a fixed frame (not shown) side of the gantry device 10 .

制御装置15は、CPU(Central Processing Unit)等を有する処理回路と、モータ及びアクチュエータ等の駆動機構とを有する。処理回路は、ハードウェア資源として、CPUやMPU(Micro Processing Unit)等のプロセッサとROM(Read Only Memory)やRAM(Random Access Memory)等のメモリとを有する。また、制御装置15は、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit:ASIC)やフィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ(Field Programmable Gate Array:FPGA)、他の複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device:CPLD)、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device:SPLD)により実現されてもよい。制御装置15は、コンソール装置40からの指令に従い、X線高電圧装置14及びDAS18等を制御する。当該プロセッサは、当該メモリに保存されたプログラムを読み出して実現することで上記制御を実現する。 The control device 15 has a processing circuit having a CPU (Central Processing Unit) and the like, and drive mechanisms such as motors and actuators. The processing circuit has, as hardware resources, a processor such as a CPU or an MPU (Micro Processing Unit) and a memory such as a ROM (Read Only Memory) or a RAM (Random Access Memory). In addition, the control device 15 includes an application specific integrated circuit (ASIC), a field programmable gate array (FPGA), and other complex programmable logic devices (Complex Programmable Logic Device: CPLD ), which may be implemented by a Simple Programmable Logic Device (SPLD). The control device 15 controls the X-ray high-voltage device 14, the DAS 18, etc. according to commands from the console device 40. FIG. The processor implements the control by reading and implementing the program stored in the memory.

また、制御装置15は、コンソール装置40若しくは架台装置10に取り付けられた、後述する入力インターフェース43からの入力信号を受けて、架台装置10及び寝台装置30の動作制御を行う機能を有する。例えば、制御装置15は、入力信号を受けて回転フレーム13を回転させる制御や、架台装置10をチルトさせる制御、及び寝台装置30及び天板33を動作させる制御を行う。なお、架台装置10をチルトさせる制御は、架台装置10に取り付けられた入力インターフェース43によって入力される傾斜角度(チルト角度)情報により、制御装置15がX軸方向に平行な軸を中心に回転フレーム13を回転させることによって実現される。また、制御装置15は架台装置10に設けられてもよいし、コンソール装置40に設けられても構わない。なお、制御装置15は、当該メモリにプログラムを保存する代わりに、当該プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むように構成しても構わない。この場合、当該プロセッサは、当該回路内に組み込まれたプログラムを読み出して実行することで上記制御を実現する。 The control device 15 also has a function of receiving an input signal from an input interface 43 (described later) attached to the console device 40 or the gantry device 10 and controlling the operations of the gantry device 10 and the bed device 30 . For example, the control device 15 receives an input signal and performs control to rotate the rotating frame 13 , control to tilt the gantry device 10 , and control to operate the bed device 30 and the tabletop 33 . The control for tilting the gantry device 10 is performed by the control device 15 rotating the frame about an axis parallel to the X-axis direction based on inclination angle (tilt angle) information input by the input interface 43 attached to the gantry device 10 . It is realized by rotating 13. Also, the control device 15 may be provided in the gantry device 10 or may be provided in the console device 40 . Instead of storing the program in the memory, the control device 15 may be configured to directly incorporate the program into the circuit of the processor. In this case, the processor implements the above control by reading and executing the program incorporated in the circuit.

ウェッジ16は、X線管11から照射されたX線量を調節するためのフィルタである。具体的には、ウェッジ16は、X線管11から被検体Pへ照射されるX線が、予め定められた分布になるように、X線管11から照射されたX線を透過して減衰するフィルタである。例えば、ウェッジ16(ウェッジフィルタ(wedge filter)、ボウタイフィルタ(bow-tie filter))は、所定のターゲット角度や所定の厚みとなるようにアルミニウムを加工したフィルタである。 Wedge 16 is a filter for adjusting the dose of X-rays emitted from X-ray tube 11 . Specifically, the wedge 16 transmits and attenuates the X-rays irradiated from the X-ray tube 11 so that the X-rays irradiated from the X-ray tube 11 to the subject P have a predetermined distribution. It is a filter that For example, the wedge 16 (wedge filter, bow-tie filter) is a filter processed from aluminum to have a predetermined target angle and a predetermined thickness.

コリメータ17は、ウェッジ16を透過したX線の照射範囲を絞り込むための鉛板等であり、複数の鉛板等の組み合わせによってスリットを形成する。なお、コリメータ17は、X線絞りと呼ばれる場合もある。 The collimator 17 is a lead plate or the like for narrowing down the irradiation range of the X-rays transmitted through the wedge 16, and a slit is formed by combining a plurality of lead plates or the like. Note that the collimator 17 may also be called an X-ray diaphragm.

DAS18は、X線検出器12から電気信号を読み出し、読み出した電気信号に基づいて、X線検出器12により検出されたX線の線量に関するデジタルデータ(以下、生データともいう)を生成する。生データは、生成元のX線検出素子のチャンネル番号、列番号、収集されたビュー(投影角度ともいう)を示すビュー番号、及び検出されたX線の線量の積分値を示すデータのセットである。DAS18は、例えば、生データを生成可能な回路素子を搭載したASIC(Application Specific Integrated Circuit)により実現される。生データは、コンソール装置40へと転送される。 The DAS 18 reads electrical signals from the X-ray detector 12 and generates digital data (hereinafter also referred to as raw data) regarding the dose of X-rays detected by the X-ray detector 12 based on the read electrical signals. The raw data is a set of data indicating the channel number and row number of the X-ray detection element from which it was generated, the view number indicating the acquired view (also called projection angle), and the integral value of the detected X-ray dose. be. The DAS 18 is implemented by, for example, an ASIC (Application Specific Integrated Circuit) equipped with circuit elements capable of generating raw data. Raw data is transferred to the console device 40 .

例えば、DAS18は、検出器画素各々について前置増幅器、可変増幅器、積分回路及びA/D変換器を含む。前置増幅器は、接続元のX線検出素子からの電気信号を所定のゲインで増幅する。可変増幅器は、前置増幅器からの電気信号を可変のゲインで増幅する。積分回路は、前置増幅器からの電気信号を、1ビュー期間に亘り積分して積分信号を生成する。積分信号の波高値は、1ビュー期間に亘り接続元のX線検出素子により検出されたX線の線量値に対応する。A/D変換器は、積分回路からの積分信号をアナログデジタル変換して生データを生成する。 For example, DAS 18 includes a preamplifier, variable amplifier, integrator circuit and A/D converter for each detector pixel. The preamplifier amplifies the electric signal from the X-ray detection element of the connection source with a predetermined gain. A variable amplifier amplifies the electrical signal from the preamplifier with a variable gain. An integrator circuit integrates the electrical signal from the preamplifier over one view period to generate an integrated signal. The crest value of the integral signal corresponds to the X-ray dose value detected by the X-ray detection element of the connection source over one view period. The A/D converter analog-to-digital converts the integration signal from the integration circuit to generate raw data.

寝台装置30は、スキャン対象の被検体Pを載置、移動させる装置であり、基台31と、寝台駆動装置32と、天板33と、支持フレーム34とを備えている。
基台31は、支持フレーム34を鉛直方向に移動可能に支持する筐体である。
寝台駆動装置32は、被検体Pが載置された天板33を天板33の長軸方向に移動するモータあるいはアクチュエータである。寝台駆動装置32は、コンソール装置40による制御、または制御装置15による制御に従い、天板33を移動する。例えば、寝台駆動装置32は、天板33に載置された被検体Pの体軸が回転フレーム13の開口の中心軸に一致するよう、天板33を被検体Pに対して直交方向に移動する。また、寝台駆動装置32は、架台装置10を用いて実行されるX線CT撮影に応じて、天板33を被検体Pの体軸方向に沿って移動してもよい。寝台駆動装置32は、制御装置15からの駆動信号のデューティ比等に応じた回転速度で駆動することにより動力を発生する。寝台駆動装置32は、例えば、ダイレクトドライブモータやサーボモータ等のモータにより実現される。
The bed device 30 is a device for placing and moving a subject P to be scanned, and includes a base 31 , a bed driving device 32 , a top board 33 and a support frame 34 .
The base 31 is a housing that supports the support frame 34 so as to be vertically movable.
The bed driving device 32 is a motor or actuator that moves the table 33 on which the subject P is placed in the longitudinal direction of the table 33 . The bed driving device 32 moves the tabletop 33 under the control of the console device 40 or the control device 15 . For example, the bed driving device 32 moves the top plate 33 in a direction orthogonal to the subject P so that the body axis of the subject P placed on the top plate 33 coincides with the central axis of the opening of the rotating frame 13 . do. Further, the bed driving device 32 may move the top board 33 along the body axis direction of the subject P according to the X-ray CT imaging performed using the gantry device 10 . The bed drive device 32 generates power by driving at a rotational speed according to the duty ratio of the drive signal from the control device 15 and the like. The bed driving device 32 is realized by a motor such as a direct drive motor or a servo motor, for example.

支持フレーム34の上面に設けられた天板33は、被検体Pが載置される板である。なお、寝台駆動装置32は、天板33に加え、支持フレーム34を天板33の長軸方向に移動してもよい。 A top plate 33 provided on the upper surface of the support frame 34 is a plate on which the subject P is placed. Note that the bed driving device 32 may move the support frame 34 in the longitudinal direction of the top plate 33 in addition to the top plate 33 .

コンソール装置40は、メモリ41と、ディスプレイ42と、入力インターフェース43と、処理回路44とを有する。メモリ41と、ディスプレイ42と、入力インターフェース43と、処理回路44との間のデータ通信は、バス(BUS)を介して行われる。なお、コンソール装置40は架台装置10とは別体として説明するが、架台装置10にコンソール装置40またはコンソール装置40の各構成要素の一部が含まれてもよい。 The console device 40 has a memory 41 , a display 42 , an input interface 43 and a processing circuit 44 . Data communication between the memory 41, the display 42, the input interface 43, and the processing circuit 44 is performed via a bus (BUS). Note that the console device 40 is described as being separate from the gantry device 10 , but the console device 40 or a part of each component of the console device 40 may be included in the gantry device 10 .

メモリ41は、種々の情報を記憶するHDD(Hard Disk Drive)やSSD(Solid State Drive)、集積回路記憶装置等の記憶装置である。メモリ41は、例えば、投影データや再構成画像データを記憶する。メモリ41は、HDDやSSD等以外にも、CD(Compact Disc)、DVD(Digital Versatile Disc)、フラッシュメモリ等の可搬性記憶媒体や、RAM(Random Access Memory)等の半導体メモリ素子等との間で種々の情報を読み書きする駆動装置であってもよい。また、メモリ41の保存領域は、X線CT装置1内にあってもよいし、ネットワークで接続された外部記憶装置内にあってもよい。例えば、メモリ41は、CT画像や表示画像のデータを記憶する。また、メモリ41は、本実施形態に係る制御プログラムを記憶する。 The memory 41 is a storage device such as an HDD (Hard Disk Drive), an SSD (Solid State Drive), or an integrated circuit storage device that stores various information. The memory 41 stores projection data and reconstructed image data, for example. The memory 41 can be connected to portable storage media such as CDs (Compact Discs), DVDs (Digital Versatile Discs), flash memories, semiconductor memory devices such as RAMs (Random Access Memory), etc., in addition to HDDs and SSDs. It may also be a driving device that reads and writes various information with. Also, the storage area of the memory 41 may be in the X-ray CT apparatus 1 or in an external storage device connected via a network. For example, the memory 41 stores data of CT images and display images. The memory 41 also stores a control program according to this embodiment.

ディスプレイ42は、各種の情報を表示する。例えば、ディスプレイ42は、処理回路44によって生成された医用画像(CT画像)や、操作者からの各種操作を受け付けるためのGUI(Graphical User Interface)等を出力する。例えば、ディスプレイ42としては、例えば、液晶ディスプレイ(LCD:Liquid Crystal Display)、CRT(Cathode Ray Tube)ディスプレイ、有機ELディスプレイ(OELD:Organic Electro Luminescence Display)、プラズマディスプレイ又は他の任意のディスプレイが、適宜、使用可能となっている。また、ディスプレイ42は、架台装置10に設けられてもよい。また、ディスプレイ42は、デスクトップ型でもよいし、コンソール装置40本体と無線通信可能なタブレット端末などで構成されることにしても構わない。 The display 42 displays various information. For example, the display 42 outputs a medical image (CT image) generated by the processing circuit 44, a GUI (Graphical User Interface) for accepting various operations from the operator, and the like. For example, the display 42 may be, for example, a liquid crystal display (LCD: Liquid Crystal Display), a CRT (Cathode Ray Tube) display, an organic EL display (OELD: Organic Electro Luminescence Display), a plasma display, or any other arbitrary display. , is enabled. Also, the display 42 may be provided on the gantry device 10 . The display 42 may be of a desktop type, or may be configured by a tablet terminal capable of wireless communication with the main body of the console device 40, or the like.

入力インターフェース43は、操作者からの各種の入力操作を受け付け、受け付けた入力操作を電気信号に変換して処理回路44に出力する。例えば、入力インターフェース43は、投影データを収集する際の収集条件や、CT画像を再構成する際の再構成条件、CT画像から後処理画像を生成する際の画像処理条件等を操作者から受け付ける。入力インターフェース43としては、例えば、マウス、キーボード、トラックボール、スイッチ、ボタン、ジョイスティック、タッチパッド及びタッチパネルディスプレイ等が適宜、使用可能となっている。なお、本実施形態において、入力インターフェース43は、マウス、キーボード、トラックボール、スイッチ、ボタン、ジョイスティック、タッチパッド及びタッチパネルディスプレイ等の物理的な操作部品を備えるものに限られない。例えば、装置とは別体に設けられた外部の入力機器から入力操作に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を処理回路44へ出力する電気信号の処理回路も入力インターフェース43の例に含まれる。入力インターフェース43は、架台装置10に設けられてもよい。又、入力インターフェース43は、コンソール装置40本体と無線通信可能なタブレット端末などで構成されることにしても構わない。 The input interface 43 receives various input operations from the operator, converts the received input operations into electrical signals, and outputs the electrical signals to the processing circuit 44 . For example, the input interface 43 receives acquisition conditions for acquiring projection data, reconstruction conditions for reconstructing CT images, image processing conditions for generating post-processed images from CT images, and the like from the operator. . As the input interface 43, for example, a mouse, keyboard, trackball, switch, button, joystick, touch pad, touch panel display, etc. can be used as appropriate. In addition, in the present embodiment, the input interface 43 is not limited to physical operation components such as a mouse, keyboard, trackball, switch, button, joystick, touch pad, and touch panel display. For example, the input interface 43 includes an electrical signal processing circuit that receives an electrical signal corresponding to an input operation from an external input device provided separately from the device and outputs the electrical signal to the processing circuit 44. . The input interface 43 may be provided on the gantry device 10 . Also, the input interface 43 may be composed of a tablet terminal or the like capable of wireless communication with the main body of the console device 40 .

処理回路44は、入力インターフェース43から出力される入力操作の電気信号に応じてX線CT装置1全体の動作を制御する。例えば、処理回路44は、ハードウェア資源として、CPUやMPU、GPU(Graphics Processing Unit)等のプロセッサとROMやRAM等のメモリとを有する。処理回路44は、メモリに展開されたプログラムを実行するプロセッサにより、システム制御機能441、前処理機能442、再構成処理機能443、取得機能444、OLP計算機能445および表示制御機能446を実行する。なお、各機能(システム制御機能441、前処理機能442、再構成処理機能443、取得機能444、OLP計算機能445および表示制御機能446)は単一の処理回路で実現される場合に限らない。複数の独立したプロセッサを組み合わせて処理回路を構成し、各プロセッサがプログラムを実行することにより各機能を実現するものとしても構わない。 The processing circuit 44 controls the operation of the entire X-ray CT apparatus 1 according to the electric signal of the input operation output from the input interface 43 . For example, the processing circuit 44 has, as hardware resources, processors such as a CPU, MPU, and GPU (Graphics Processing Unit), and memories such as a ROM and a RAM. The processing circuit 44 executes a system control function 441 , a preprocessing function 442 , a reconstruction processing function 443 , an acquisition function 444 , an OLP calculation function 445 and a display control function 446 by means of a processor that executes programs developed in memory. Each function (system control function 441, preprocessing function 442, reconstruction processing function 443, acquisition function 444, OLP calculation function 445, and display control function 446) is not limited to being realized by a single processing circuit. A processing circuit may be configured by combining a plurality of independent processors, and each function may be realized by each processor executing a program.

システム制御機能441は、入力インターフェース43を介して操作者から受け付けた入力操作に基づいて、処理回路44の各機能を制御する。具体的には、システム制御機能441は、メモリ41に記憶されている制御プログラムを読み出して処理回路44内のメモリ上に展開し、展開された制御プログラムに従ってX線CT装置1の各部を制御する。例えば、処理回路44は、入力インターフェース43を介して操作者から受け付けた入力操作に基づいて、処理回路44の各機能を制御する。例えば、システム制御機能441は、スキャン範囲、撮影条件等を決定するための被検体Pの2次元の位置決め画像を取得する。なお、位置決め画像は、スキャノ画像またはスカウト画像とも呼ばれる。システム制御機能441は、システム制御部の一例である。 The system control function 441 controls each function of the processing circuit 44 based on input operations received from the operator via the input interface 43 . Specifically, the system control function 441 reads the control program stored in the memory 41, develops it on the memory in the processing circuit 44, and controls each part of the X-ray CT apparatus 1 according to the developed control program. . For example, the processing circuit 44 controls each function of the processing circuit 44 based on an input operation received from the operator via the input interface 43 . For example, the system control function 441 acquires a two-dimensional positioning image of the subject P for determining the scan range, imaging conditions, and the like. A positioning image is also called a scanogram or a scout image. The system control function 441 is an example of a system control section.

前処理機能442は、DAS18から出力された検出データに対して対数変換処理やオフセット補正処理、チャネル間の感度補正処理、ビームハードニング補正等の前処理を施したデータを生成する。なお、前処理前の生データ(検出データ)及び前処理後のデータを総称して投影データと称する場合もある。 A preprocessing function 442 generates data by performing preprocessing such as logarithmic conversion processing, offset correction processing, inter-channel sensitivity correction processing, and beam hardening correction on the detection data output from the DAS 18 . Raw data (detection data) before preprocessing and data after preprocessing may be collectively referred to as projection data.

再構成処理機能443は、前処理機能442にて生成された投影データに対して、フィルタ補正逆投影法(FBP法:Filtered Back Projection)や逐次近似再構成法等を用いた再構成処理を行ってCT画像データを生成する。 The reconstruction processing function 443 performs reconstruction processing on the projection data generated by the preprocessing function 442 using a filtered back projection (FBP) method, an iterative reconstruction method, or the like. to generate CT image data.

取得機能444は、デフォルトで設定されたスキャン条件、またはユーザにより設定されたスキャン条件を取得する。取得機能444は、取得部の一例である。 The acquisition function 444 acquires the scan conditions set by default or the scan conditions set by the user. Acquisition function 444 is an example of an acquisition unit.

OLP計算機能445は、スキャン条件に基づくスキャンを実行するために必要なX線管の冷却時間、つまりオーバー・ロード・プロテクション(OLP)のための待ち時間(以下、OLP待ち時間という)を計算し、OLP待ち時間が発生するか否かを決定する。 The OLP calculation function 445 calculates the cooling time of the X-ray tube required for executing a scan based on the scan conditions, that is, the waiting time for overload protection (OLP) (hereinafter referred to as OLP waiting time). , determines whether OLP latency occurs.

表示制御機能446は、処理回路44の各機能または処理における処理途中又は処理結果の情報を表示するようにディスプレイ42を制御する。具体的には、スキャン条件とOLP待ち時間との対応関係をディスプレイ42に表示する。表示制御機能446は、表示制御部の一例である。 The display control function 446 controls the display 42 so as to display information on the progress or results of each function or process of the processing circuit 44 . Specifically, the display 42 displays the correspondence between the scan conditions and the OLP waiting time. The display control function 446 is an example of a display control unit.

なお、処理回路44は、スキャン制御処理および画像処理も行う。
スキャン制御処理は、X線高電圧装置14に高電圧を供給させて、X線管11にX線を照射させるなど、X線スキャンに関する各種動作を制御する処理である。
画像処理は、入力インターフェース43を介して操作者から受け付けた入力操作に基づいて、再構成処理機能443によって生成されたCT画像データを公知の方法により、任意断面の断層画像データや3次元画像データに変換する処理である。
The processing circuit 44 also performs scan control processing and image processing.
The scan control process is a process of controlling various operations related to X-ray scanning, such as causing the X-ray high-voltage device 14 to supply a high voltage and causing the X-ray tube 11 to emit X-rays.
In the image processing, the CT image data generated by the reconstruction processing function 443 is transformed into tomographic image data or three-dimensional image data of an arbitrary cross section by a known method based on the input operation received from the operator via the input interface 43. This is the process of converting to

処理回路44は、コンソール装置40に含まれる場合に限らず、複数の医用画像診断装置にて取得された検出データに対する処理を一括して行う統合サーバに含まれてもよい。
なお、コンソール装置40は、単一のコンソールにて複数の機能を実行するものとして説明したが、複数の機能を別々のコンソールが実行することにしても構わない。例えば、前処理機能442、再構成処理機能443等の処理回路44の機能を分散して有しても構わない。
The processing circuit 44 is not limited to being included in the console device 40, and may be included in an integrated server that collectively processes detection data acquired by a plurality of medical image diagnostic apparatuses.
Although the console device 40 has been described as executing a plurality of functions with a single console, the plurality of functions may be executed by separate consoles. For example, the functions of the processing circuit 44 such as the preprocessing function 442 and the reconstruction processing function 443 may be distributed.

次に、第1の実施形態に係るX線CT装置1の動作について図2のフローチャートを参照して説明する。
ステップS201では、被検体に対するスキャン条件が決定される。具体的には、取得機能444を実行することで処理回路44が、予め登録された検査予約リストから被検体PのID、被検体Pの検査対象部位などに関する被検体情報(患者情報)を取得する。被検体情報に基づいてスキャン条件が決定される。
Next, the operation of the X-ray CT apparatus 1 according to the first embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG.
In step S201, scan conditions for the subject are determined. Specifically, by executing the acquisition function 444, the processing circuit 44 acquires subject information (patient information) regarding the ID of the subject P, the inspection target site of the subject P, and the like from a pre-registered examination reservation list. do. Scanning conditions are determined based on the object information.

スキャン条件のパラメータとしては、例えば、管電流、管電圧、スキャン時間が挙げられる。なお、これに限らず、焦点サイズなどの他の情報もスキャン条件として含めてもよい。スキャン条件は、ユーザが被検体情報に基づいて決定してもよい。スキャン条件は、メモリ41などに過去のスキャン事例から被検体情報とスキャン条件との対応テーブルを作成および格納しておき、取得機能444を実行することで処理回路44が、対応テーブルを参照し、被検体情報に対応するスキャン条件を抽出してもよい。また、ディープラーニングなどの機械学習により、被検体情報からスキャン条件が決定されてもよい。 Scanning condition parameters include, for example, tube current, tube voltage, and scan time. In addition, other information such as focal size may be included as the scan condition. The scan conditions may be determined by the user based on subject information. For scan conditions, a correspondence table between subject information and scan conditions is created and stored in the memory 41 or the like based on past scan cases, and the processing circuit 44 refers to the correspondence table by executing the acquisition function 444, A scan condition corresponding to subject information may be extracted. Scanning conditions may also be determined from subject information by machine learning such as deep learning.

ステップS202では、OLP計算機能445を実行することで処理回路44が、ステップS201で取得したスキャン条件に基づくOLP待ち時間が発生するか否かを決定する。OLP計算機能445を実行することで処理回路44が、現在のX線管の熱容量とX線管固有の限界熱容量とに基づき、管電圧、管電流およびスキャン時間の値に応じたOLP待ち時間を計算する。計算結果がゼロであればOLP待ち時間が発生していないと決定され、ステップS207に進む。一方、計算結果がゼロ以外の数値であればOLP待ち時間が発生すると決定され、ステップS203に進む。 In step S202, the processing circuit 44 determines whether or not an OLP waiting time occurs based on the scan conditions obtained in step S201 by executing the OLP calculation function 445. FIG. By executing the OLP calculation function 445, the processing circuit 44 calculates the OLP waiting time corresponding to the values of the tube voltage, tube current and scan time based on the current heat capacity of the X-ray tube and the limit heat capacity inherent to the X-ray tube. calculate. If the calculation result is zero, it is determined that the OLP waiting time has not occurred, and the process proceeds to step S207. On the other hand, if the calculation result is a numerical value other than zero, it is determined that an OLP waiting time will occur, and the process proceeds to step S203.

なお、OLP待ち時間の計算結果がゼロ以外の数値であり計算上OLP待ち時間が発せいる場合でも、5秒、10秒程度であればユーザにとってはスキャンまでOLP待ち時間が発生すると感じない場合も想定される。
よって、OLP計算機能445を実行することで処理回路44が、OLP待ち時間が予め定められた閾値以上長い場合、OLP待ち時間が発生したと判定し、OLP待ち時間が当該閾値よりも短い場合、OLP待ち時間が発生しないと判定してもよい。予め定められた閾値は30秒や1分など任意の時間に設定可能である。
Even if the calculation result of the OLP waiting time is a numerical value other than zero and there is an OLP waiting time for calculation, if it is about 5 seconds or 10 seconds, the user may not feel that the OLP waiting time will occur until scanning. is assumed.
Therefore, by executing the OLP calculation function 445, the processing circuit 44 determines that an OLP waiting time has occurred when the OLP waiting time is longer than a predetermined threshold, and when the OLP waiting time is shorter than the threshold, It may be determined that the OLP waiting time does not occur. The predetermined threshold can be set to any time such as 30 seconds or 1 minute.

ステップS203では、表示制御機能446を実行することで処理回路44が、スキャン条件とOLP待ち時間との対応関係をディスプレイ42に表示させる。具体的には、表示制御機能446を実行することで処理回路44が、ステップS201で取得したスキャン条件(第1スキャン条件ともいう)の画質に関するパラメータと、第1スキャン条件下でのOLP待ち時間(第1待ち時間ともいう)とに関する情報(第1情報ともいう)をディスプレイ42に表示させる。さらに、表示制御機能446を実行することで処理回路44が、第1スキャン条件と異なる他のスキャン条件(第2スキャン条件ともいう)の画質に関するパラメータと、第2スキャン条件下でのOLP待ち時間(第2待ち時間ともいう)とに関する情報(第2情報ともいう)とを選択可能にディスプレイ42に表示させる。対応関係の表示形式は、例えば、分布図、関数などのグラフ形式、またはテーブルなどのリスト形式が想定され、詳細は後述する。 In step S<b>203 , the processing circuit 44 causes the display 42 to display the correspondence between the scan conditions and the OLP waiting time by executing the display control function 446 . Specifically, by executing the display control function 446, the processing circuit 44 controls the image quality parameters of the scanning conditions (also referred to as first scanning conditions) acquired in step S201 and the OLP waiting time under the first scanning conditions. (also referred to as first waiting time) and information (also referred to as first information) is displayed on the display 42 . Furthermore, by executing the display control function 446, the processing circuit 44 controls parameters related to image quality under other scanning conditions (also referred to as second scanning conditions) different from the first scanning conditions, and the OLP waiting time under the second scanning conditions. (also referred to as second waiting time) and related information (also referred to as second information) are displayed on the display 42 in a selectable manner. The correspondence display format is assumed to be, for example, a graph format such as a distribution map or a function, or a list format such as a table, which will be described later in detail.

ステップS204では、処理回路44が、ステップS201で取得した第1スキャン条件から変更があり、第2スキャン条件が選択されたか否かを判定する。例えば、取得機能444を実行することで処理回路44が、ディスプレイ42に表示された第2スキャン条件のうちの1つを選択したことを示すユーザ入力(タッチパネルディスプレイであればディスプレイへのタッチ、マウス入力、キーボード入力など)を取得した場合、他のスキャン条件が選択されたと判定する。他のスキャン条件が選択されれば、ステップS205に進み、他のスキャン条件が選択されない、すなわちスキャン条件の変更がなければ、ステップS206に進む。スキャン条件の変更がないと判定する手法としては、例えば、ユーザか第2スキャン条件を選択せずに決定ボタンを押す場合、一定期間経過後に設定されたスキャン条件で実行するようなタイムアウト期間を設け、第1スキャン条件のままタイムアウトした場合、スキャン条件の変更がないと判定されればよい。 In step S204, the processing circuitry 44 determines whether or not the first scan conditions acquired in step S201 have been changed and the second scan conditions have been selected. For example, a user input indicating that processing circuitry 44 has selected one of the second scan conditions displayed on display 42 by executing acquire function 444 (for example, a touch on the display, a mouse for a touch panel display). input, keyboard input, etc.), it is determined that another scan condition has been selected. If another scan condition is selected, the process proceeds to step S205, and if no other scan condition is selected, that is, if there is no change in the scan condition, the process proceeds to step S206. As a method for determining that the scan conditions have not been changed, for example, if the user presses the OK button without selecting the second scan condition, a timeout period is set so that the scan conditions are executed after a certain period of time has elapsed. , if the time-out occurs while the first scan condition is maintained, it may be determined that the scan condition has not been changed.

ステップS205では、システム制御機能441を実行することで処理回路44は、選択された第2スキャン条件に基づく第2待ち時間に亘りスキャン実行を待機する。厳密には、処理回路44は、対応関係が表示された時点からユーザにより他のスキャン条件が選択される時点までの期間を、第2待ち時間から除いた期間に亘りスキャン実行を待機すればよい。 In step S205, by executing the system control function 441, the processing circuit 44 waits for the execution of scanning for a second waiting time based on the selected second scanning condition. Strictly speaking, the processing circuit 44 should wait for the execution of the scan for a period other than the second waiting time, which is the period from when the correspondence relationship is displayed to when another scan condition is selected by the user. .

ステップS206では、システム制御機能441を実行することで処理回路44は、第1のスキャン条件に基づく第1待ち時間に亘りスキャン実行を待機する。厳密には、処理回路44は、第1待ち時間の算出した時点からスキャン条件の変更がないと判定された時点までの期間を、第1待ち時間から除いた期間に亘りスキャン実行を待機すればよい。 In step S206, by executing the system control function 441, the processing circuit 44 waits for the execution of scanning for a first waiting time based on the first scanning condition. Strictly speaking, the processing circuit 44 waits for the execution of the scan for the period from the time when the first waiting time is calculated to the time when it is determined that there is no change in the scanning condition from the first waiting time. good.

ステップS205またはステップS206が行われるとステップS207が行われる。ステップS207では、例えばシステム制御機能441を実行することで処理回路44は、設定されたスキャン条件のパラメータに従ってスキャンが実行される。以上で第1の実施形態に係るX線CT装置1の動作が終了する。 After step S205 or step S206 is performed, step S207 is performed. In step S207, for example, by executing the system control function 441, the processing circuit 44 performs scanning according to the parameters of the set scanning conditions. This completes the operation of the X-ray CT apparatus 1 according to the first embodiment.

次に、表示制御機能446による対応関係の第1表示例について図3を参照して説明する。
図3は、スキャン条件と待ち時間との対応関係を示す分布図である。縦軸が出力(管電圧値、管電流値または電力値)であり、横軸がスキャン時間である。表示制御機能446を実行することで処理回路44は、計算されたOLP待ち時間に基づいて、縦軸を出力としたスキャン条件と待ち時間とに関する分布図を生成し、ディスプレイ42等に表示する。
すなわち、出力とスキャン時間とで定まる任意のスキャン条件で撮影しようとした場合に、どの位OLP待ち時間が必要となるかが、分布図により一目瞭然に示される。
また、取得機能444により処理回路44が取得した現在のスキャン条件が分布図上にマークされる。ここでは、星印により現在のスキャン条件510(第1スキャン条件)が表示されるが、どのようなマーカーが用いられてもよい。
Next, a first display example of the correspondence relationship by the display control function 446 will be described with reference to FIG.
FIG. 3 is a distribution diagram showing the correspondence between scan conditions and waiting times. The vertical axis is output (tube voltage value, tube current value, or power value), and the horizontal axis is scan time. By executing the display control function 446, the processing circuit 44 generates a distribution map of the scanning conditions and the waiting time with the vertical axis as the output based on the calculated OLP waiting time, and displays it on the display 42 or the like.
In other words, the distribution diagram clearly shows how long the OLP waiting time is required when an image is taken under arbitrary scanning conditions determined by the output and the scanning time.
Also, the current scan conditions acquired by the processing circuit 44 by the acquisition function 444 are marked on the distribution map. Here, the current scan condition 510 (first scan condition) is indicated by an asterisk, but any marker may be used.

図3では、OLP待ち時間無しの領域501、OLP待ち時間が1分以内の領域502、待ち時間が5分以内の領域503、OLP待ち時間が5分以上の領域504、および出力不可能な領域505に分類した分布図が示される。なお、各領域内において、出力およびスキャン時間がより細かい単位で分類されてもよい。例えば、領域503では、10秒単位で、1分10秒から5分まで分類されてもよい。 In FIG. 3, an area 501 with no OLP waiting time, an area 502 with an OLP waiting time of 1 minute or less, an area 503 with an OLP waiting time of 5 minutes or less, an area 504 with an OLP waiting time of 5 minutes or more, and an output impossible area 505 classified distribution map is shown. In each area, the output and scan time may be classified in finer units. For example, in area 503, 1 minute 10 seconds to 5 minutes may be classified in units of 10 seconds.

また出力が小さすぎるため、スキャン条件としては設定可能ではあるものの画質が悪く、推奨できないスキャン条件がある。よって、表示制御機能446を実行することで処理回路44は、推奨できないスキャン条件の範囲506を、網掛け表示としてもよい。これにより、推奨されないスキャン条件が選択されないように表示させることができる。 Moreover, since the output is too small, there are scanning conditions that cannot be recommended because of poor image quality, although they can be set as scanning conditions. Therefore, by executing the display control function 446, the processing circuit 44 may shade the range 506 of scan conditions that cannot be recommended. Thereby, it is possible to display the scan conditions that are not recommended so as not to be selected.

次に、表示制御機能446による対応関係の第2表示例について図4を参照して説明する。
図4は、図3と同様、スキャン条件と待ち時間との対応関係を示す分布図であるが、縦軸が出力ではなく画質(SD:Standard Deviation)である。画質は、出力から変換すればよく、一般的な手法を用いればよいため、ここでの説明を省略する。このように縦軸を画質とすることで、ユーザにとって、スキャン条件の変更をより直感的に操作しやすくなる。
Next, a second display example of the correspondence relationship by the display control function 446 will be described with reference to FIG.
Similar to FIG. 3, FIG. 4 is a distribution diagram showing the correspondence between scanning conditions and waiting times, but the vertical axis is not output but image quality (SD: Standard Deviation). Since the image quality can be converted from the output and a general method can be used, the description is omitted here. By plotting the image quality on the vertical axis in this manner, it becomes easier for the user to intuitively change the scanning conditions.

次に、表示制御機能446による対応関係の第3表示例について図5を参照して説明する。
図5は、画質とOLP待ち時間との対応関係を示す関数のグラフ520である。縦軸はOLP待ち時間、横軸は画質(SD)である。すなわち、図4と比較して、グラフ520には画質とOLP待ち時間との関係のみが示されるため、ユーザが画質とOLP待ち時間との関係をより理解しやすい。
なお、推奨できない画質については、図5中、矢印の範囲506で示すようにグラフ520を非表示としてもよい。
Next, a third display example of the correspondence relationship by the display control function 446 will be described with reference to FIG.
FIG. 5 is a graph 520 of a function showing the correspondence between image quality and OLP latency. The vertical axis is the OLP waiting time, and the horizontal axis is the image quality (SD). That is, as compared with FIG. 4, the graph 520 shows only the relationship between image quality and OLP latency, making it easier for the user to understand the relationship between image quality and OLP latency.
For image quality that cannot be recommended, the graph 520 may not be displayed as indicated by an arrow range 506 in FIG.

次に、表示制御機能446による対応関係の第4表示例について図6を参照して説明する。
図6は、画質とOLP待ち時間との関係を示すリスト600である。リスト600では、画質(SD)601とOLP待ち時間602とが対応付けられる。具体的には、例えば画質601「-10」とOLP待ち時間602「10分」とが対応付けられる。
また、リスト600において、現在のスキャン条件による画質と対応するOLP待ち時間との列をマークする(図6中、列603)。なお、推奨できない画質に関する列604については、色を付けたり、網掛けにするなどして、他の列と区別可能に表示させてもよい。
Next, a fourth display example of the correspondence relationship by the display control function 446 will be described with reference to FIG.
FIG. 6 is a list 600 showing the relationship between image quality and OLP latency. In list 600, image quality (SD) 601 and OLP latency 602 are associated. Specifically, for example, the image quality 601 “−10” and the OLP waiting time 602 “10 minutes” are associated.
Also, in the list 600, the column of the image quality under the current scanning conditions and the corresponding OLP latency is marked (column 603 in FIG. 6). Note that the column 604 related to image quality that cannot be recommended may be displayed in a different color from other columns by adding color or shading.

図3から図6までの表示をユーザが参照することで、出力または画質をどのくらい下げれば、OLP待ち時間がどのくらい減るかが理解しやすくなり、適切なスキャン条件を選択できる。
なお、現在のスキャン条件で撮影される画像よりも画質を低下させた場合、見た目にどのくらい画質が低下するかを比較可能にするため、参考画像および劣化画像を表示させてもよい。
By referring to the displays of FIGS. 3 to 6, the user can easily understand how much the OLP waiting time can be reduced by reducing the output or image quality, and can select appropriate scanning conditions.
It should be noted that a reference image and a degraded image may be displayed in order to make it possible to compare how much the image quality is visually degraded when the image quality is degraded from that of the image captured under the current scanning conditions.

画質を低下させた場合の参考画像および劣化画像の表示例について図7を参照して説明する。
図7の例では、現在のスキャン条件で撮影されたと想定した場合の画質を有する参考画像701と、スキャン条件変更後の画質に応じて、画質を低下させた参考画像である劣化画像702とが並列表示される。なお、参考画像701および劣化画像702は、白黒反転させた画像である。並列表示に限らず、参考画像701と劣化画像702とが比較可能に表示されれば、どのような表示形式でもよい。
A display example of the reference image and the degraded image when the image quality is lowered will be described with reference to FIG.
In the example of FIG. 7, a reference image 701 having the image quality assumed to have been captured under the current scanning conditions, and a degraded image 702, which is a reference image whose image quality is lowered according to the image quality after the scanning conditions are changed. displayed in parallel. Note that the reference image 701 and the degraded image 702 are black-and-white reversed images. Any display format may be used as long as the reference image 701 and the degraded image 702 can be compared with each other without being limited to the parallel display.

参考画像および劣化画像の表示処理に関し、具体的な処理としては、表示制御機能446を実行することで処理回路44が、サンプル画像とサンプル画像の画質(SD)を異ならせた複数の画像とを予め用意し、例えばメモリ41に記憶する。処理回路44は、現在のスキャン条件により想定される画質(SD)のサンプル画像を参考画像701としてディスプレイ42に表示させる。併せて、処理回路44は、変更されたスキャン条件に対応する画質(SD)のサンプル画像をメモリ41から取得し、劣化画像702としてディスプレイ42に表示させればよい。 Regarding the display processing of the reference image and the degraded image, as a specific processing, by executing the display control function 446, the processing circuit 44 displays a sample image and a plurality of images with different image quality (SD) of the sample image. It is prepared in advance and stored in the memory 41, for example. The processing circuit 44 causes the display 42 to display, as a reference image 701, a sample image of image quality (SD) assumed under the current scanning conditions. In addition, the processing circuit 44 acquires a sample image of image quality (SD) corresponding to the changed scanning conditions from the memory 41 and displays it on the display 42 as the degraded image 702 .

以上に示した第1の実施形態によれば、X線撮影装置が、出力または画質とスキャン時間とに基づくOLP待ち時間の対応関係、または画質とOLP待ち時間との対応関係を表示し、現在のスキャン条件におけるOLP待ち時間を当該対応関係上に表示する。これにより、現在のスキャン条件からどのように変更すれば、OLP待ち時間がどの位短くなるかをユーザが容易かつ直感的に理解できる。また、現在のスキャン条件におけるOLP待ち時間を許容できない場合、ユーザが容易に適切なスキャン条件に変更することができる。 According to the first embodiment described above, the X-ray imaging apparatus displays the correspondence relationship between the OLP waiting time based on the output or image quality and the scanning time, or the correspondence relationship between the image quality and the OLP waiting time. is displayed on the corresponding relationship. As a result, the user can easily and intuitively understand how the current scanning conditions can be changed to shorten the OLP waiting time. Also, if the OLP waiting time under the current scan conditions is unacceptable, the user can easily change the scan conditions to appropriate ones.

また、対応関係が一目して分かるような分布図、グラフまたはリストがユーザに対して提示されているため、スキャン条件が変更された場合に再度OLP待ち時間が計算され、計算された結果をその都度ユーザが確認するという煩わしい作業がなくなる。結果として、ワークフローを改善することができ、スループットを向上させることができる。 In addition, since a distribution map, graph, or list is presented to the user so that the correspondence can be understood at a glance, the OLP waiting time is calculated again when the scanning conditions are changed, and the calculated result is The troublesome work of checking each time by the user is eliminated. As a result, workflow can be improved and throughput can be increased.

(第2の実施形態)
第2の実施形態では、複数のスキャンに関するスキャン条件が含まれるスキャンプランを立てる場合を想定し、スキャンプランにおけるスキャン条件ごとに画質低下を許容するかどうかを設定される。これによって、ユーザが画質低下を許容できるスキャンのみ画質を調整されることができ、ユーザのニーズに即した適切な処理が行われる。
(Second embodiment)
In the second embodiment, it is assumed that a scan plan including scan conditions for a plurality of scans is created, and whether or not image quality deterioration is permitted is set for each scan condition in the scan plan. This allows the user to adjust the image quality of only scans for which image quality degradation is acceptable, and performs appropriate processing that meets the user's needs.

第2の実施形態に係るスキャンプランの一例について図8を参照して説明する。
図8は、スキャンプランに関するリスト800の一例を示す。リスト800は、複数のスキャン条件を含む。第2の実施形態では、スキャン条件は、識別番号801、管電圧802、管電流803、スキャン時間804および画質低下を許容するか否かの設定値805(設定情報ともいう)がそれぞれ対応づけられたものとする。リスト800は、例えばメモリ41に格納されてもよいし、コンソール装置40と通信可能な外部ストレージに記憶されてもよい。
An example of a scan plan according to the second embodiment will be described with reference to FIG.
FIG. 8 shows an example of a list 800 of scan plans. List 800 includes multiple scan conditions. In the second embodiment, the scan conditions are associated with an identification number 801, tube voltage 802, tube current 803, scan time 804, and setting value 805 (also referred to as setting information) indicating whether or not image quality deterioration is allowed. shall be assumed. The list 800 may be stored in the memory 41, for example, or may be stored in an external storage that can communicate with the console device 40. FIG.

具体的には、例えば、スキャンに関する情報として、識別番号801「1」、管電圧802「100kV」、管電流803「300mA」、スキャン時間804「0.5s」および設定値805「可」が対応付けられる。
なお、設定値805は、「可」または「不可」の文字列に限らず、「1」または「0」のビットによるフラグなど、画質低下を許容するか否かが判別可能な値であればよい。設定値805は、ユーザ入力により設定されてもよい。また、過去のスキャンにおいて同様のスキャン条件の場合に画質低下を許容した例、または画質低下を許容させるべきではないスキャンが経験的に分かっている例があれば、設定値805は、スキャンプランが生成される際に処理回路44によってデフォルトで設定されてもよい。
Specifically, for example, as information about scanning, identification number 801 “1”, tube voltage 802 “100 kV”, tube current 803 “300 mA”, scan time 804 “0.5 s”, and setting value 805 “possible” correspond. Attached.
Note that the setting value 805 is not limited to the character string “permissible” or “impossible”, and is a value that can determine whether or not image quality deterioration is permitted, such as a “1” or “0” bit flag. good. The setting value 805 may be set by user input. Also, if there is an example in which deterioration in image quality was allowed under similar scanning conditions in past scans, or an example in which it is empirically known that deterioration in image quality should not be allowed, the setting value 805 is It may be set by default by processing circuitry 44 when generated.

次に、第2の実施形態に係るX線CT装置1の動作例について図9のフローチャートを参照して説明する。
ステップS901では、スキャンプランが決定される。第2の実施形態では、取得機能444を実行することで処理回路44が、ユーザ入力に基づきスキャンプランに含まれる複数のスキャン条件のそれぞれ対する設定情報を取得することで、スキャンプランが決定される。なお、予め設定情報が入力されたスキャンプランが取得されてもよい。
Next, an operation example of the X-ray CT apparatus 1 according to the second embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG.
In step S901, a scan plan is determined. In the second embodiment, the scan plan is determined by executing the acquisition function 444 so that the processing circuit 44 acquires setting information for each of a plurality of scan conditions included in the scan plan based on user input. . Note that a scan plan in which setting information is input in advance may be acquired.

ステップS902では、OLP計算機能445を実行することで処理回路44が、スキャンプランに含まれる全スキャンを、各スキャン条件に基づきスキャン間でOLP待ち時間なく実行した場合のOLP待ち時間を計算し、OLP待ち時間が発生するか否かを決定する。OLP待ち時間が発生しなければ、ステップS907に進み、OLP待ち時間が発生すれば、ステップS903に進む。 In step S902, by executing the OLP calculation function 445, the processing circuit 44 calculates the OLP waiting time when all the scans included in the scan plan are executed without the OLP waiting time between scans based on each scanning condition, Determine whether OLP latency occurs. If the OLP waiting time does not occur, the process proceeds to step S907, and if the OLP waiting time occurs, the process proceeds to step S903.

ステップS903では、表示制御機能446を実行することで処理回路44が、スキャンプランとOLP待ち時間との対応関係をディスプレイ42に表示させる。すなわち、第2の実施形態では、スキャンプランに含まれる複数のスキャンを全て実行する場合に発生するOLP待ち時間を表示させる。 In step S903, the processing circuit 44 causes the display 42 to display the correspondence relationship between the scan plan and the OLP waiting time by executing the display control function 446. FIG. That is, in the second embodiment, the OLP waiting time that occurs when executing all of the multiple scans included in the scan plan is displayed.

ステップS904では、処理回路44が、OLP待ち時間の変更があったか否かを判定する。具体的には、例えば、取得機能444を実行することで処理回路44が、ユーザ入力が画質を低下させる指示を含む場合、OLP待ち時間の変更があったと判定する。OLP待ち時間の変更があれば、ステップS905に進み、OLP待ち時間の変更がなければ、ステップS906に進む。 In step S904, the processing circuit 44 determines whether or not the OLP waiting time has been changed. Specifically, for example, by executing the acquisition function 444, the processing circuitry 44 determines that the OLP waiting time has been changed if the user input includes an instruction to reduce image quality. If the OLP waiting time has been changed, the process proceeds to step S905, and if the OLP waiting time has not been changed, the process proceeds to step S906.

ステップS905では、システム制御機能441を実行することで処理回路44は、画質低下が許容されたスキャン条件についてのみ、許容された画質の低下量に応じてスキャン条件のパラメータを変更する。 In step S905, by executing the system control function 441, the processing circuitry 44 changes the parameters of the scanning conditions only for the scanning conditions for which image quality deterioration is permitted, according to the permitted amount of image quality deterioration.

ステップS906では、システム制御機能441を実行することで処理回路44は、スキャンプランに対応するOLP待ち時間に亘りスキャン実行を待機する。つまり、OLP待ち時間の変更がない場合(ステップS904:No)、処理回路44は、当初のOLP待ち時間に亘りスキャン実行を待機すればよい。厳密には、処理回路44は、第1待ち時間を計算した時点からOLP待ち時間の変更があった時点までの期間を第1待ち時間から除いた期間に亘りスキャン実行を待機すればよい。
一方、OLP待ち時間の変更がある場合(ステップS904:Yes)、処理回路44は、パラメータ変更後のスキャンプランに対応するOLP待ち時間に亘りスキャン実行を待機すればよい。厳密には、処理回路44は、対応関係が表示された時点から他のスキャン条件が選択される時点までの期間を、第2待ち時間から除いた期間に亘りスキャン実行を待機すればよい。
In step S906, by executing the system control function 441, the processing circuit 44 waits for the scan execution for the OLP waiting time corresponding to the scan plan. That is, if there is no change in the OLP waiting time (step S904: No), the processing circuit 44 may wait for the initial OLP waiting time before executing the scan. Strictly speaking, the processing circuit 44 may wait for the execution of scanning for a period obtained by excluding the period from the time when the first waiting time is calculated to the time when the OLP waiting time is changed from the first waiting time.
On the other hand, if there is a change in the OLP waiting time (step S904: Yes), the processing circuit 44 may wait for the scan execution over the OLP waiting time corresponding to the scan plan after the parameter change. Strictly speaking, the processing circuit 44 may wait for the execution of the scan for a period other than the second waiting time, which is the period from when the correspondence relationship is displayed to when another scanning condition is selected.

ステップS902においてOLP待ち時間が発生しない場合(ステップS902:No)又はステップS906が行われた場合、ステップS907が行われる。
ステップS907では、当初のスキャンプランに沿って、または画質低下を許容した場合の変更されたスキャンプランに沿ってスキャンが実行される。以上で第2の実施形態に係るX線CT装置の動作を終了する。
If no OLP waiting time occurs in step S902 (step S902: No) or if step S906 has been performed, step S907 is performed.
In step S907, scanning is performed according to the original scan plan, or according to a modified scan plan where image quality degradation is acceptable. This concludes the operation of the X-ray CT apparatus according to the second embodiment.

次に、第2の実施形態に係るスキャンプランの制御例について図10および図11を参照して説明する。
図10は、図6と同様のリストを示すが、第2の実施形態において、画質(SD)601は、スキャンプランに含まれる複数のスキャン条件のうちの画質低下を許容したスキャン条件についての画質を示す。また、OLP待ち時間602は、スキャンプランに対するOLP待ち時間を示す。表示制御機能446を実行することで処理回路44は、図10に示すように、スキャンプランに対する画質とOLP待ち時間との関係を示すリスト600をディスプレイ42に表示させる。
Next, an example of scan plan control according to the second embodiment will be described with reference to FIGS. 10 and 11. FIG.
FIG. 10 shows a list similar to that of FIG. 6, but in the second embodiment, the image quality (SD) 601 is the image quality for the scan conditions that allowed image quality degradation among the multiple scan conditions included in the scan plan. indicates Also, the OLP wait time 602 indicates the OLP wait time for the scan plan. By executing the display control function 446, the processing circuit 44 causes the display 42 to display a list 600 showing the relationship between the image quality and the OLP waiting time for the scan plan, as shown in FIG.

ここでユーザは、画質(SD)を低下させることを許容し、第2スキャン条件として、「画質(SD)「-20」、OLP待ち時間「5分」の列1001を選択したと想定する。
この場合、例えばシステム制御機能441を実行することで処理回路44が、リスト800から設定値805が「可」である識別番号801「1」および「3」のスキャン条件について、画質を「-20」低下させるようなパラメータを設定する。
Here, it is assumed that the user has allowed the image quality (SD) to be lowered and has selected the column 1001 of "image quality (SD) of -20" and OLP waiting time of "5 minutes" as the second scan condition.
In this case, for example, by executing the system control function 441, the processing circuit 44 changes the image quality from the list 800 to "-20" for the scanning conditions of the identification numbers 801 "1" and "3" whose setting value 805 is "allowed". ” set the parameters to lower the

画質を低下させる場合のスキャン条件の設定の概念的な表示例を図11に示す。
図11は、スキャンプランに含まれるスキャン条件ごとのパラメータの一例として、管電流値を表すグラフである。システム制御機能441を実行することで処理回路44が、設定値805が「可」であるスキャン条件、つまり図8の識別番号801「1」および「3」について、ユーザにより選択された画質となるように管電流の値を小さくするよう制御する。なお、管電流値を変更することに限らず、例えば、管電圧値を小さくしたり、スキャン時間を短くしてもよい。つまり、ユーザにより設定された画質の低下量となるように、スキャン条件のパラメータを調整すればよい。
FIG. 11 shows a conceptual display example of scan condition settings when image quality is lowered.
FIG. 11 is a graph showing tube current values as an example of parameters for each scan condition included in the scan plan. By executing the system control function 441, the processing circuit 44 becomes the image quality selected by the user for the scanning conditions for which the setting value 805 is "allowed", that is, the identification numbers 801 "1" and "3" in FIG. control to reduce the value of the tube current. Note that, instead of changing the tube current value, for example, the tube voltage value may be decreased or the scan time may be shortened. In other words, the parameters of the scanning conditions may be adjusted so as to achieve the image quality degradation amount set by the user.

以上に示した第2の実施形態によれば、X線撮影装置は、スキャンプランにおいて画質低下を許容できるスキャンを予め設定しておく。これにより、スキャンプランに沿って撮影を行う場合に、画質低下を許容できないスキャンについては、画質を低下させず、画質低下を許容できるスキャンについてのみスキャン条件を変更することができる。よって、ユーザのニーズに即した適切な処理を行うことができる。 According to the second embodiment described above, the X-ray imaging apparatus presets a scan that allows image quality degradation in the scan plan. As a result, when the image is captured according to the scan plan, it is possible to change the scan conditions only for the scans for which the image quality deterioration is permissible without degrading the image quality for the scans for which the image quality deterioration is not permissible. Therefore, it is possible to perform appropriate processing that meets the user's needs.

(第3の実施形態)
上述の実施形態に係る表示制御処理は、X線CT装置のコンソール装置40で行われることに限らず、例えば、ワークステーションに含まれるような、医用画像処理装置において実行されてもよい。
(Third Embodiment)
The display control processing according to the above-described embodiments is not limited to being performed in the console device 40 of the X-ray CT apparatus, and may be performed in, for example, a medical image processing apparatus included in a workstation.

第3の実施形態に係る、表示制御処理を実行する医用画像処理装置を図12のブロック図を参照して説明する。
医用画像処理装置1200は、処理回路1220と、記憶回路1240と、通信インターフェース1260とを含む。また、信号のやりとりは、バス1280を介して行われる。
A medical image processing apparatus that executes display control processing according to the third embodiment will be described with reference to the block diagram of FIG.
The medical image processing apparatus 1200 includes processing circuitry 1220 , storage circuitry 1240 and communication interface 1260 . Also, signal exchange is performed via the bus 1280 .

処理回路1220は、取得機能1222と、OLP計算機能1224と、表示制御機能1226とを含む。取得機能1222と、OLP計算機能1224と、表示制御機能1226とは、上述の実施形態と同様の処理を行うため、ここでの詳細な説明は省略する。
記憶回路1240は、例えばメモリであり、選択されたスキャン条件、OLP待ち時間の計算結果(分布図、グラフ、リストを含む)、参考画像、劣化画像などを記憶する。
通信インターフェース1260は、OLP待ち時間を変更するために選択されたスキャン条件またはスキャンプランをX線撮影装置に送信する。
Processing circuitry 1220 includes acquisition functionality 1222 , OLP computation functionality 1224 , and display control functionality 1226 . Since the acquisition function 1222, the OLP calculation function 1224, and the display control function 1226 perform the same processing as in the above embodiments, detailed description thereof will be omitted here.
The storage circuit 1240 is, for example, a memory, and stores selected scan conditions, OLP waiting time calculation results (including distribution diagrams, graphs, and lists), reference images, degraded images, and the like.
The communication interface 1260 transmits the scan conditions or scan plan selected for changing the OLP latency to the X-ray imaging apparatus.

以上に示した第3の実施形態によれば、医用画像処理装置が表示制御処理を実行することで、ユーザがX線撮影装置のコンソール画面を見ながら操作する代わりに、X線撮影装置と別室でスキャン条件またはスキャンプランの変更を行うこともできる。 According to the third embodiment described above, the medical image processing apparatus executes the display control processing, so that the user can operate the X-ray imaging apparatus and the separate room instead of viewing the console screen of the X-ray imaging apparatus. You can also change the scan conditions or scan plan with .

なお、X線CT装置には、X線管と検出器とが一体として被検体Pの周囲を回転するRotate/Rotate-Type(第3世代CT)、リング状にアレイされた多数のX線検出素子が固定され、X線管のみが被検体Pの周囲を回転するStationary/Rotate-Type(第4世代CT)等様々なタイプがあり、いずれのタイプでも本実施形態へ適用可能である。 The X-ray CT apparatus includes a Rotate/Rotate-Type (3rd generation CT) in which the X-ray tube and detector are rotated around the subject P as a unit, and a large number of X-ray detectors arrayed in a ring. There are various types such as Stationary/Rotate-Type (4th generation CT) in which the element is fixed and only the X-ray tube rotates around the subject P, and any type can be applied to this embodiment.

なお、X線を発生させるハードウェアはX線管11に限られない。例えば、X線管11に替えて、電子銃から発生した電子ビームを集束させるフォーカスコイルと、電磁偏向させる偏向コイルと、被検体Pの半周を囲い偏向した電子ビームが衝突することによってX線を発生させるターゲットリングとを含む第5世代方式を用いてX線を発生させることにしても構わない。 Note that hardware for generating X-rays is not limited to the X-ray tube 11 . For example, in place of the X-ray tube 11, a focus coil for converging the electron beam generated from the electron gun, a deflection coil for electromagnetic deflection, and the deflected electron beam surrounding the half circumference of the subject P collide with each other to emit X-rays. X-rays may be generated using a fifth generation system including a target ring to be generated.

さらに、本実施形態においては、一管球型のX線CT装置にも、X線管と検出器との複数のペアを回転リングに搭載した、いわゆる多管球型のX線CT装置にも適用可能である。
多管球型のX線CT装置の場合は、処理回路44は、管球ごとに上述した対応関係を作成し、最も長いOLP待ち時間に基づいて、上述の実施形態に係る表示制御処理を実行すればよい。
Furthermore, in the present embodiment, both a single-tube type X-ray CT apparatus and a so-called multi-tube type X-ray CT apparatus in which a plurality of pairs of X-ray tubes and detectors are mounted on a rotating ring can be used. Applicable.
In the case of a multi-tube X-ray CT apparatus, the processing circuit 44 creates the above-described correspondence relationship for each tube, and executes the display control processing according to the above-described embodiment based on the longest OLP waiting time. do it.

加えて、実施形態に係る各機能は、当該処理を実行するプログラムをワークステーション等のコンピュータにインストールし、これらをメモリ上で展開することによっても実現することができる。このとき、コンピュータに当該手法を実行させることのできるプログラムは、磁気ディスク(ハードディスクなど)、光ディスク(CD-ROM、DVDなど)、半導体メモリなどの記憶媒体に格納して頒布することも可能である。 In addition, each function according to the embodiment can also be realized by installing a program for executing the processing in a computer such as a workstation and deploying them on the memory. At this time, the program that allows the computer to execute the method can be stored and distributed in a storage medium such as a magnetic disk (hard disk, etc.), optical disk (CD-ROM, DVD, etc.), semiconductor memory, etc. .

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。 While several embodiments of the invention have been described, these embodiments have been presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and modifications can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and their modifications are included in the scope and spirit of the invention, as well as the scope of the invention described in the claims and equivalents thereof.

1 X線撮影装置(X線CT装置)
10 架台装置
11 X線管
12 X線検出器
13 回転フレーム
14 X線高電圧装置
15 制御装置
16 ウェッジ
17 コリメータ
18 データ収集装置(DAS)
19 開口(ボア)
30 寝台装置
31 基台
32 寝台駆動装置
33 天板
34 支持フレーム
40 コンソール装置
41 メモリ
42 ディスプレイ
43 入力インターフェース
44,1220 処理回路
441 システム制御機能
442 前処理機能
443 再構成処理機能
444,1222 取得機能
445,1224 OLP計算機能
446,1226 表示制御機能
501~505 領域
506 範囲
510 スキャン条件
520 グラフ
600,800 リスト
601 画質
602 OLP待ち時間
603,604,1001 列
701 参考画像
702 劣化画像
801 識別番号
802 管電圧
803 管電流
804 スキャン時間
805 設定値
1200 医用画像処理装置
1240 記憶回路
1260 通信インターフェース
1280 バス
1 X-ray equipment (X-ray CT equipment)
REFERENCE SIGNS LIST 10 gantry device 11 X-ray tube 12 X-ray detector 13 rotating frame 14 X-ray high voltage device 15 controller 16 wedge 17 collimator 18 data acquisition device (DAS)
19 aperture (bore)
30 bed device 31 base 32 bed drive device 33 top board 34 support frame 40 console device 41 memory 42 display 43 input interface 44, 1220 processing circuit 441 system control function 442 preprocessing function 443 reconstruction processing function 444, 1222 acquisition function 445 , 1224 OLP calculation function 446, 1226 Display control function 501 to 505 Area 506 Range 510 Scan condition 520 Graph 600, 800 List 601 Image quality 602 OLP waiting time 603, 604, 1001 Column 701 Reference image 702 Degraded image 801 Identification number 802 Tube voltage 803 tube current 804 scan time 805 set value 1200 medical image processing apparatus 1240 storage circuit 1260 communication interface 1280 bus

Claims (9)

X線を照射するX線管と、
前記X線管から照射されて被検体を透過したX線を検出する検出器と、
第1スキャン条件を取得する取得部と、
前記第1スキャン条件の画質に関する第1パラメータと当該第1スキャン条件下でのOLPのための第1待ち時間とに関する第1情報を表示させ、前記第1スキャン条件と異なる第2スキャン条件の画質に関する第2パラメータと当該第2スキャン条件下でのOLPのための第2待ち時間とに関する第2情報を選択可能に表示させ、推奨されない画質に関するパラメータを含む第2情報は、他の第2情報と区別可能に表示させる表示制御部と、
を具備するX線撮影装置。
an X-ray tube that emits X-rays;
a detector for detecting X-rays emitted from the X-ray tube and transmitted through a subject;
an acquisition unit that acquires the first scan condition;
displaying first information about a first parameter relating to image quality under the first scanning condition and a first waiting time for OLP under the first scanning condition; and displaying image quality under a second scanning condition different from the first scanning condition. and a second waiting time for the OLP under the second scanning conditions, the second information including parameters relating to image quality that is not recommended, other second information A display control unit that displays in a distinguishable manner from
An X-ray imaging device comprising:
前記表示制御部は、前記第2情報として、出力と待ち時間との対応関係を示す分布図を表示させ、当該分布図に前記第1情報を表示させる請求項1に記載のX線撮影装置。 2. The X-ray imaging apparatus according to claim 1, wherein the display control unit displays a distribution diagram showing a correspondence relationship between output and waiting time as the second information, and displays the first information on the distribution diagram. X線を照射するX線管と、
前記X線管から照射されて被検体を透過したX線を検出する検出器と、
第1スキャン条件を取得する取得部と、
前記第1スキャン条件の画質に関する第1パラメータと当該第1スキャン条件下でのOLPのための第1待ち時間とに関する第1情報を表示させ、前記第1スキャン条件と異なる第2スキャン条件の画質に関する第2パラメータと当該第2スキャン条件下でのOLPのための第2待ち時間とに関する第2情報を選択可能に表示させ、前記第2情報として、画質と待ち時間との対応関係を示すグラフを表示させ、当該グラフに前記第1情報を表示させる表示制御部と、
を具備するX線撮影装置。
an X-ray tube that emits X-rays;
a detector for detecting X-rays emitted from the X-ray tube and transmitted through a subject;
an acquisition unit that acquires the first scan condition;
displaying first information about a first parameter relating to image quality under the first scanning condition and a first waiting time for OLP under the first scanning condition; and displaying image quality under a second scanning condition different from the first scanning condition. and second information on the second waiting time for OLP under the second scanning conditions are selectably displayed, and the second information is a graph showing the correspondence relationship between the image quality and the waiting time and a display control unit for displaying the first information on the graph;
An X-ray imaging device comprising:
前記グラフは、分布図または関数である請求項3に記載のX線撮影装置。 4. The X-ray imaging apparatus according to claim 3, wherein said graph is a distribution map or a function. 前記表示制御部は、画質と待ち時間との対応関係を示すリストを表示し、当該リストに前記第1情報を表示させる請求項1に記載のX線撮影装置。 2. The X-ray imaging apparatus according to claim 1, wherein the display control unit displays a list showing correspondence between image quality and waiting time, and causes the list to display the first information. 前記取得部は、スキャンプランに含まれる複数の前記第1スキャン条件のそれぞれに対し、画質の低下を許容できるか否かを示す設定情報を取得し、
前記X線撮影装置は、前記画質の低下させる指示がある場合、前記設定情報に基づいて前記画質の低下を許容できる第1スキャン条件の第1パラメータを変更させるシステム制御部をさらに具備する、請求項1から請求項5のいずれか1項に記載のX線撮影装置。
The acquisition unit acquires setting information indicating whether or not deterioration in image quality is permissible for each of the plurality of first scan conditions included in the scan plan,
wherein the X-ray imaging apparatus further comprises a system control unit that changes a first parameter of a first scanning condition that allows the deterioration of the image quality based on the setting information when there is an instruction to reduce the image quality. The X-ray imaging apparatus according to any one of Claims 1 to 5.
前記表示制御部は、前記第2情報のうちの1つが選択された場合、選択された第2情報に含まれる第2スキャン条件に基づく画質を有する参考画像を表示させる請求項1から請求項6のいずれか1項に記載のX線撮影装置。 7. When one of the second information is selected, the display control unit displays a reference image having an image quality based on the second scanning condition included in the selected second information. The X-ray imaging apparatus according to any one of 1. 前記第2情報のうちの1つが選択された場合、選択された第2情報に基づいたスキャン条件を実行するシステム制御部をさらに具備する、請求項1から請求項6のいずれか1項に記載のX線撮影装置。 7. The method according to any one of claims 1 to 6, further comprising a system control unit that executes scanning conditions based on the selected second information when one of the second information is selected. X-ray equipment. 第1スキャン条件を取得する取得部と、
前記第1スキャン条件の画質に関する第1パラメータと当該第1スキャン条件下でのOLPのための第1待ち時間とに関する第1情報を表示させ、前記第1スキャン条件と異なる第2スキャン条件の画質に関する第2パラメータと当該第2スキャン条件下でのOLPのための第2待ち時間とに関する第2情報を選択可能に表示させ、推奨されない画質に関するパラメータを含む第2情報は、他の第2情報と区別可能に表示させる表示制御部と、
を具備する医用画像処理装置。
an acquisition unit that acquires the first scan condition;
displaying first information about a first parameter relating to image quality under the first scanning condition and a first waiting time for OLP under the first scanning condition; and displaying image quality under a second scanning condition different from the first scanning condition. and a second waiting time for the OLP under the second scanning conditions, the second information including parameters relating to image quality that is not recommended, other second information A display control unit that displays in a distinguishable manner from
A medical image processing apparatus comprising:
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