KR20170085562A - Position detection device for elevator - Google Patents

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KR20170085562A
KR20170085562A KR1020177016508A KR20177016508A KR20170085562A KR 20170085562 A KR20170085562 A KR 20170085562A KR 1020177016508 A KR1020177016508 A KR 1020177016508A KR 20177016508 A KR20177016508 A KR 20177016508A KR 20170085562 A KR20170085562 A KR 20170085562A
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진 이노우에
게이타 모치즈키
히로시 다구치
마키토 세키
마사히로 이시카와
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미쓰비시덴키 가부시키가이샤
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Abstract

엘리베이터의 위치 검출 장치에서는, 여자 코일(281) 및 검출 코일(291)이 검출 영역(15)을 사이에 두고 배치되어 있다. 검출 영역(15)에서 볼 때, 여자 코일(281)측에는 제1 테스트 코일(311)이 배치되고, 검출 코일(291)측에는 제2 테스트 코일(312)이 배치되어 있다. 제2 고착 고장 진단 모드시에는, 제1 및 제2 테스트 코일(311, 312)을 포함하는 폐회로가 구성되고, 여자 코일(281)의 교류 자계에 의한 제1 테스트 코일(311)에서의 유도 기전력에 의해서, 검출 코일(291)에 유도 기전력을 발생시키는 자계가 제2 테스트 코일(312)에 생긴다. 제1 고착 고장 진단 모드시에는, 제1 테스트 코일(311)을 포함하는 폐회로가 구성되어, 여자 코일(281)의 교류 자계에 의해서, 여자 코일(281)의 교류 자계를 상쇄시키는 방향으로 유도 자계가 제1 테스트 코일(311)에 생긴다. In the elevator position detecting apparatus, the exciting coil 281 and the detecting coil 291 are arranged with the detection region 15 therebetween. The first test coil 311 is disposed on the excitation coil 281 side and the second test coil 312 is disposed on the detection coil 291 side. In the second stuck-at fault diagnosis mode, a closed circuit including the first and second test coils 311 and 312 is constituted, and the induced electromotive force in the first test coil 311 by the alternating magnetic field of the exciting coil 281 A magnetic field that generates an induced electromotive force in the detection coil 291 is generated in the second test coil 312. In the first stuck-at fault diagnosis mode, a closed circuit including the first test coil 311 is constituted so that the induced magnetic field in the direction of canceling the alternating magnetic field of the exciting coil 281 by the alternating magnetic field of the exciting coil 281, Is generated in the first test coil 311.

Figure P1020177016508
Figure P1020177016508

Description

엘리베이터의 위치 검출 장치{POSITION DETECTION DEVICE FOR ELEVATOR}[0001] POSITION DETECTION DEVICE FOR ELEVATOR [0002]

이 발명은 승강체의 위치를 검출하기 위한 엘리베이터의 위치 검출 장치에 관한 것이다. The present invention relates to an elevator position detecting apparatus for detecting the position of an elevator.

종래, 각 층에 대응하여 서로 다른 출력 패턴을 출력하는 복수의 위치 검출 센서를 엘리베이터 칸에 마련하고, 전회(前回)의 출력 패턴 검출 후에 기대되는 천이 예측 데이터와 이번의 출력 패턴이 일치하지 않는 경우에 고장으로 판정하는 엘리베이터의 위치 검출 장치가 제안되어 있다(특허 문헌 1 참조).Conventionally, a plurality of position detection sensors for outputting different output patterns corresponding to respective layers are provided in an elevator car. When the transition prediction data expected after the detection of the previous output pattern does not coincide with the present output pattern (Refer to Patent Document 1).

특허 문헌 1: 일본 특허 제5380407호 공보Patent Document 1: Japanese Patent No. 5380407

그러나 엘리베이터 칸이 일방의 층으로부터 타방의 층까지 이동하지 않으면 위치 검출 센서의 고장의 유무를 판정할 수 없다. 따라서 고장의 판정에 수고가 든다. However, if the elevator car does not move from one of the layers to the other, the presence or absence of a failure of the position detection sensor can not be determined. Therefore, it is troublesome to judge the failure.

이 발명은 상기와 같은 과제를 해결하기 위해서 이루어진 것으로서, 고장의 유무의 판정을 용이하게 할 수 있는 엘리베이터의 위치 검출 장치를 얻는 것을 목적으로 한다. It is an object of the present invention to provide an elevator position detecting apparatus which can easily determine whether or not a fault has occurred.

이 발명에 의한 엘리베이터의 위치 검출 장치는, 승강로 내에 마련된 피검출체, 승강로 내를 상하 방향으로 이동하는 승강체에 마련되고, 검출 영역이 마련되고, 검출 영역에서의 피검출체의 유무를 검출하는 센서, 및 테스트 신호를 센서로 보내 센서의 검출 신호를 수신함으로써 센서의 고장의 유무를 진단하는 진단 회로를 구비하고, 센서는 센서부와 테스트부를 가지고, 센서부는, 검출 영역을 사이에 두고 배치된 여자 코일 및 검출 코일을 가지고, 여자 코일에 교류 자계를 발생시킨 상태로 검출 코일에 유도 기전력이 생기면 제1 신호를 검출 신호로서 출력함과 아울러, 여자 코일에 교류 자계를 발생시킨 상태로 검출 코일에서의 유도 기전력이 억제되면 제2 신호를 검출 신호로서 출력하고, 테스트부는, 통상 운전시의 통상 모드와,센서부의 검출 신호가 제1 신호에 고착되는 고장을 진단할 때의 제1 고착 고장 진단 모드와, 센서부의 검출 신호가 제2 신호에 고착되는 고장을 진단할 때의 제2 고착 고장 진단 모드의 사이에서, 테스트 신호의 수신의 유무에 기초하여 모드를 전환 가능하게 되어 있고, 테스트부는, 검출 영역에서 볼 때 여자 코일측에 배치된 제1 테스트 코일과, 검출 영역에서 볼 때 검출 코일측에 배치된 제2 테스트 코일과, 제2 고착 고장 진단 모드시에 제1 및 제2 테스트 코일을 포함하는 폐회로를 구성하고 제1 고착 고장 진단 모드시에 제1 및 제2 테스트 코일을 서로 분리시키는 제1 스위치와, 제1 고착 고장 진단 모드시에 제1 테스트 코일을 포함하는 폐회로를 구성하는 제2 스위치를 가지고, 제2 고착 고장 진단 모드시에는, 여자 코일의 교류 자계에 의한 제1 테스트 코일에서의 유도 기전력에 의해서, 검출 코일에 유도 기전력을 발생시키는 자계가 제2 테스트 코일에 생기고, 제1 고착 고장 진단 모드시에는, 여자 코일의 교류 자계에 의해서, 여자 코일의 교류 자계를 상쇄시키는 방향으로 유도 자계가 제1 테스트 코일에 생긴다. An elevator position detecting device according to the present invention is provided with a detected object provided in a hoistway and an ascending / descending object moving in a vertical direction in a hoistway, wherein a detection area is provided, and the presence or absence of the detected object in the detection area is detected And a diagnostic circuit for diagnosing the presence or absence of a failure of the sensor by receiving a detection signal of the sensor by sending a test signal to the sensor, wherein the sensor has a sensor portion and a test portion, And an induction electromotive force is generated in the detection coil with the excitation coil and the detection coil being generated in the excitation coil, the first signal is outputted as the detection signal, and in the state where the induction electromotive force is generated in the detection coil And outputs a second signal as a detection signal when the induced electromotive force of the sensor unit is suppressed, Between a first stuck-at fault diagnosis mode in diagnosing a fault stuck to the first signal and a second stuck-at fault diagnosis mode in diagnosing a fault in which a detection signal of the sensor unit is stuck to the second signal, And the test section includes a first test coil disposed on the excitation coil side when viewed in the detection region and a second test coil disposed on the detection coil side when viewed in the detection region, A first switch for constituting a closed circuit including the first and second test coils in the second stuck-at fault diagnosis mode and for separating the first and second test coils from each other in the first stuck-at fault diagnosis mode, And a second switch constituting a closed circuit including the first test coil in the fixed failure diagnosis mode. In the second fixing failure diagnosis mode, the induction in the first test coil by the alternating magnetic field of the exciting coil In the first stuck-at fault diagnosis mode, a magnetic field for generating an induced electromotive force in the detection coil is generated by the electric power. In the first stuck-at fault diagnosis mode, by the alternating magnetic field of the exciting coil, Occurs in the first test coil.

이 발명에 의한 엘리베이터의 위치 검출 장치에 의하면, 승강체를 이동시키지 않고 정지시킨 채로, 센서의 고장의 유무의 판정을 용이하게 할 수 있다. According to the position detecting device for an elevator according to the present invention, it is possible to easily determine whether or not there is a failure of the sensor while the elevator is stopped without moving.

도 1은 이 발명의 실시 형태 1에 의한 엘리베이터를 나타내는 구성도이다.
도 2는 도 1의 식별판, 센서 및 제어반의 관계를 나타내는 구성도이다.
도 3은 도 2의 센서를 나타내는 구성도이다.
도 4는 도 3의 검출 영역에 식별판이 들어가 있을 때의 센서를 나타내는 구성도이다.
도 5는 도 4의 테스트부의 모드가 H 고착 고장 진단 모드일 때의 센서를 나타내는 구성도이다.
도 6은 도 3의 테스트부의 모드가 L 고착 고장 진단 모드일 때의 센서를 나타내는 구성도이다.
도 7은 이 발명의 실시 형태 2에 의한 엘리베이터의 위치 검출 장치의 여자 코일 및 제1 테스트 코일을 나타내는 구성도이다.
도 8은 이 실시 형태 3에 의한 엘리베이터의 위치 검출 장치의 센서를 나타내는 구성도이다.
도 9는 이 발명의 실시 형태 4에 의한 엘리베이터의 위치 검출 장치의 센서를 나타내는 구성도이다.
도 10은 이 발명의 실시 형태 5에 의한 엘리베이터의 위치 검출 장치의 센서를 나타내는 구성도이다.
도 11은 이 발명의 실시 형태 6에 의한 엘리베이터의 위치 검출 장치를 나타내는 구성도이다.
도 12는 이 발명의 실시 형태 7에 의한 엘리베이터의 위치 검출 장치를 나타내는 구성도이다.
1 is a configuration diagram showing an elevator according to Embodiment 1 of the present invention.
Fig. 2 is a configuration diagram showing the relationship between the identification plate, the sensor, and the control panel in Fig. 1;
Fig. 3 is a configuration diagram showing the sensor of Fig. 2. Fig.
Fig. 4 is a configuration diagram showing a sensor when the identification plate is contained in the detection area of Fig. 3; Fig.
5 is a configuration diagram showing a sensor when the mode of the test section in Fig. 4 is the H stuck-at fault diagnosis mode.
6 is a configuration diagram showing a sensor when the mode of the test section in Fig. 3 is the L stuck-at fault diagnosis mode.
7 is a configuration diagram showing an excitation coil and a first test coil of an elevator position detecting device according to a second embodiment of the present invention.
8 is a configuration diagram showing a sensor of the elevator position detecting device according to the third embodiment.
9 is a configuration diagram showing a sensor of an elevator position detecting device according to Embodiment 4 of the present invention.
10 is a configuration diagram showing a sensor of an elevator position detecting device according to Embodiment 5 of the present invention.
11 is a configuration diagram showing an elevator position detecting apparatus according to Embodiment 6 of the present invention.
12 is a configuration diagram showing an elevator position detecting apparatus according to Embodiment 7 of the present invention.

이하, 이 발명의 바람직한 실시 형태에 대해서 도면을 참조하여 설명한다. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

실시 형태 1.Embodiment 1

도 1은 이 발명의 실시 형태 1에 의한 엘리베이터를 나타내는 구성도이다. 도면에 있어서, 승강로(1)의 상부에는, 기계실(2)이 마련되어 있다. 기계실(2) 내에는, 구동 장치인 권상기(3)와, 권상기(3)의 시이브(sheave)로부터 떨어져서 배치된 디플렉터 휠(deflector wheel, 4)과, 엘리베이터의 운전을 제어하는 제어반(5)이 설치되어 있다. 권상기(3)의 시이브 및 디플렉터 휠(4)에는, 복수 개의 끈모양 바디(6)가 감겨 있다. 끈모양 바디(cord-like body, 6)로서는, 예를 들면 로프 또는 벨트 등이 이용되고 있다. 승강로(1) 내에 승강체로서 마련된 엘리베이터 칸(7) 및 균형 추(8)는, 끈모양 바디(6)에 의해서 매달려 있다. 엘리베이터 칸(7) 및 균형 추(8)는, 승강로(1) 내에 설치된 복수의 레일(도시하지 않음)에 개별로 안내되면서, 권상기(3)의 구동력에 의해서 승강로(1) 내를 상하 방향으로 이동된다. 1 is a configuration diagram showing an elevator according to Embodiment 1 of the present invention. In the drawing, a machine room 2 is provided at an upper portion of the hoistway 1. A machine room 2 is provided with a traction machine 3 as a drive unit, a deflector wheel 4 disposed away from the sheave of the traction machine 3, a control panel 5 for controlling the operation of the elevator, Is installed. A plurality of cord-like bodies (6) are wound on the sieve and deflector wheel (4) of the traction machine (3). As the cord-like body 6, for example, a rope or a belt is used. The elevator car 7 and the balance weight 8 provided as elevators in the hoistway 1 are suspended by the cord-like body 6. The elevator car 7 and the balance weight 8 are individually guided to a plurality of rails (not shown) provided in the hoistway 1 and are vertically moved in the hoistway 1 by the driving force of the hoist 3 .

엘리베이터 칸(7)에는, 엘리베이터 칸 출입구를 개폐하는 엘리베이터 칸 도어(도시하지 않음)가 마련되어 있다. 각 층의 승강장(9)에는, 승강장 출입구를 개폐하는 승강장 도어(10)가 마련되어 있다. 엘리베이터 칸(7)이 어느 층에 정지하고 있을 때에는, 엘리베이터 칸 도어가 승강장 도어(10)와 맞물리면서 수평 방향으로 이동함으로써, 엘리베이터 칸 출입구 및 승강장 출입구가 개폐된다. The elevator car 7 is provided with an elevator car door (not shown) for opening and closing the elevator car entrance. The platform 9 of each floor is provided with a platform door 10 for opening and closing the platform entrance. When the elevator car 7 stops in a certain floor, the elevator car door moves in the horizontal direction while engaging with the elevation door 10, thereby opening and closing the elevator car entrance and exit.

승강로(1) 내에는, 승강장 위치용의 피검출체인 복수의 금속제의 식별판(11)이 엘리베이터 칸(7)의 이동 방향에 대해 서로 간격을 두고 마련되어 있다. 각 식별판(11)은 승강로(1) 내의 각 층에 대응하는 위치에 각각 배치되어 있다. 각 식별판(11)은 대응하는 층의 승강장(9)의 층상으로부터 일정한 높이의 위치에 배치되어 있다. In the hoistway 1, a plurality of metal identification plates 11, which are to be detected for the landing position, are provided at intervals relative to the moving direction of the car 7. Each of the identification plates 11 is disposed at a position corresponding to each layer in the hoistway 1. Each identification plate 11 is disposed at a position of a certain height from the layer of the landing 9 of the corresponding layer.

또, 승강로(1) 내에는, 종단부용의 피검출체인 금속제의 식별판(12)이 상부 종단층 및 하부 종단층의 각각의 위치에 대응시켜서 마련되어 있다. 엘리베이터 칸(7)의 이동 방향에 대한 각 식별판(12)의 길이는, 각 식별판(11)의 길이보다도 길게 되어 있다. 또, 각 식별판(12)은, 수평 방향에 대해 식별판(11)으로부터 떨어진 위치에 배치되어 있다. Also, in the hoistway 1, a metal-made identification plate 12, which is an object to be detected for a terminal end, is provided corresponding to each position of the upper end termination layer and the lower end termination layer. The length of each identification plate 12 with respect to the moving direction of the car 7 is longer than the length of each identification plate 11. [ Each identification plate 12 is disposed at a position away from the identification plate 11 with respect to the horizontal direction.

엘리베이터 칸(7)에는, 식별판(11)을 검출하기 위한 근접 센서인 와전류(渦電流)식의 센서(13)와, 식별판(12)을 검출하기 위한 근접 센서인 와전류식의 센서(14)가 마련되어 있다. 이 예에서는, 각 센서(13, 14)가 엘리베이터 칸(7)의 상부에 마련되어 있다. The elevator car 7 is provided with an eddy current sensor 13 which is a proximity sensor for detecting the identification plate 11 and an eddy current sensor 14 which is a proximity sensor for detecting the identification plate 12 ). In this example, the sensors 13 and 14 are provided in the upper part of the car 7.

도 2는 도 1의 식별판(11), 센서(13) 및 제어반(5)의 관계를 나타내는 구성도이다. 센서(13)에는, 공간인 검출 영역(15)이 마련되어 있다. 센서(13)는 검출 영역(15)에서의 식별판(11)의 유무를 검출한다. 엘리베이터 칸(7)이 어느 층에 정지하면 식별판(11)이 검출 영역(15)에 들어가고, 엘리베이터 칸(7)이 각 층으로부터 상하 방향으로 이동하면 식별판(11)이 검출 영역(15)으로부터 벗어난다. 이 예에서는, 위에서 보았을 때의 센서(13)의 형상이, 검출 영역(15)을 둘러싸는 U자 모양으로 되어 있다. Fig. 2 is a configuration diagram showing the relationship between the identification plate 11, the sensor 13, and the control panel 5 shown in Fig. The sensor 13 is provided with a detection region 15 which is a space. The sensor 13 detects the presence or absence of the identification plate 11 in the detection area 15. The identification plate 11 enters the detection area 15 when the car 7 is stopped in a certain layer and the identification plate 11 moves in the detection area 15 when the car 7 moves up and down from each layer, . In this example, the shape of the sensor 13 when seen from above is a U-shape surrounding the detection area 15. [

센서(13)는 검출 영역(15)에서의 식별판(11)의 유무에 따라 서로 다른 검출 신호를 출력한다. 구체적으로는, 센서(13)가 검출 영역(15)에 식별판(11)이 없는 것을 검출하면 제1 신호가 검출 신호로서 센서(13)로부터 출력되고, 센서(13)가 검출 영역(15)에 식별판(11)이 있는 것을 검출하면 제1 신호와 다른 제2 신호가 검출 신호로서 센서(13)로부터 출력된다. 이 예에서는, 제1 신호가 L 신호, 즉 Low 신호로 되고, 제2 신호가 H 신호, 즉 high 신호로 되어 있다. The sensor 13 outputs different detection signals depending on the presence or absence of the identification plate 11 in the detection area 15. [ Specifically, when the sensor 13 detects that the identification plate 11 is not present in the detection area 15, the first signal is outputted from the sensor 13 as a detection signal, and when the sensor 13 detects the detection area 15, A second signal different from the first signal is output from the sensor 13 as a detection signal. In this example, the first signal is an L signal, that is, a Low signal, and the second signal is an H signal, that is, a high signal.

제어반(5)에는, 센서(13)의 고장의 유무를 진단하는 진단 회로(16)가 마련되어 있다. 진단 회로(16)는 센서(13)로 테스트 신호를 보내 센서(13)의 검출 신호를 받음으로써, 센서(13)의 고장의 유무를 진단한다. 즉, 진단 회로(16)는 센서(13)로 출력한 테스트 신호와, 센서(13)로부터 받은 검출 신호에 기초하여, 센서(13)의 고장의 유무를 진단한다. 제어반(5)은 진단 회로(16)에 의한 진단 결과에 기초하여, 엘리베이터의 운전을 제어한다. The control panel 5 is provided with a diagnostic circuit 16 for diagnosing the presence or absence of a failure of the sensor 13. [ The diagnostic circuit 16 sends a test signal to the sensor 13 to receive a detection signal from the sensor 13 to diagnose the presence or absence of a failure of the sensor 13. [ That is, the diagnostic circuit 16 diagnoses the presence or absence of failure of the sensor 13 based on the test signal output to the sensor 13 and the detection signal received from the sensor 13. [ The control panel 5 controls the operation of the elevator based on the diagnosis result by the diagnostic circuit 16. [

도 3은 도 2의 센서(13)를 나타내는 구성도이다. 센서(13)는 하우징(21)과, 하우징(21) 내에 배치된 센서부(22) 및 테스트부(23)를 가지고 있다. 3 is a configuration diagram showing the sensor 13 in Fig. The sensor 13 has a housing 21 and a sensor portion 22 and a test portion 23 disposed in the housing 21. The sensor 21 has a housing 21,

하우징(21)은 하우징 본체부(24)와, 하우징 본체부(24)에 마련되고, 검출 영역(15)을 사이에 둔 위치에 배치된 한 쌍의 하우징 대향부(25)를 가지고 있다. 엘리베이터 칸(7)의 이동 방향을 따라서 보았을 때의 하우징(21)의 형상은, 하우징 본체부(24) 및 한 쌍의 하우징 대향부(25)에 의해 U자 모양으로 되어 있다. The housing 21 has a housing main body portion 24 and a pair of housing opposed portions 25 which are provided in the housing main body portion 24 and are disposed at positions sandwiching the detection region 15. The shape of the housing 21 when viewed along the moving direction of the car 7 is U-shaped by the housing main body 24 and the pair of housing opposed portions 25. [

센서부(22)는 센서 회로(26)와 출력 회로(27)를 가지고 있다. The sensor unit 22 has a sensor circuit 26 and an output circuit 27. [

센서 회로(26)는 여자 코일(281) 및 콘덴서(282)를 전기적으로 접속하여 폐회로를 구성한 여자측 공진 회로(28)와, 검출 코일(291) 및 콘덴서(292)를 전기적으로 접속하여 폐회로를 구성한 검출측 공진 회로(29)와, 검출측 공진 회로(29)로부터의 신호에 따라 출력 회로(27)로의 신호를 제어하는 스위칭 소자(30)를 가지고 있다. The sensor circuit 26 electrically connects the excitation-side resonance circuit 28 constituting a closed circuit by electrically connecting the excitation coil 281 and the condenser 282 to the detection coil 291 and the condenser 292, Side resonance circuit 29 and a switching element 30 for controlling a signal to the output circuit 27 in accordance with a signal from the detection-side resonance circuit 29. The detection-

여자 코일(281)은 일방의 하우징 대향부(25)에 마련되고, 검출 코일(291)은 타방의 하우징 대향부(25)에 마련되어 있다. 이것에 의해, 여자 코일(281) 및 검출 코일(291)은, 검출 영역(15)을 사이에 두고 배치되어 있다. 여자 코일(281)은 교류 전원으로부터의 여자 전류가 여자측 공진 회로(28)에 흐름으로써 교류 자계 F1을 발생시킨다. 검출측 공진 회로(29)에서는, 검출 코일(291)이 교류 자계를 받아 검출 코일(291)에 유도 기전력이 생김으로써, 특정의 공진 주파수로 공진 전류가 흐른다. The exciting coil 281 is provided on one housing opposing portion 25 and the detecting coil 291 is provided on the other housing opposing portion 25. [ Thereby, the exciting coil 281 and the detecting coil 291 are arranged with the detection region 15 therebetween. The exciting coil from the AC power source flows to the exciting circuit 28 to generate the AC magnetic field F1. In the detection-side resonance circuit 29, the detection coil 291 receives the AC magnetic field and induction electromotive force is generated in the detection coil 291, so that the resonance current flows at a specific resonance frequency.

스위칭 소자(30)는 검출 코일(291)에 유도 기전력이 생겨 검출측 공진 회로(29)에 전류의 공진이 생기면, 센서 회로(26)로부터 출력 회로(27)로 교류 전류의 출력을 행한다. 또, 스위칭 소자(30)는 검출 코일(291)에서의 유도 기전력이 억제되어 검출측 공진 회로(29)에서의 전류의 공진이 정지하면, 센서 회로(26)로부터 출력 회로(27)로의 교류 전류의 출력을 정지한다. The switching element 30 outputs an alternating current from the sensor circuit 26 to the output circuit 27 when an induction electromotive force is generated in the detection coil 291 and resonance of the current occurs in the detection side resonance circuit 29. When the induced electromotive force in the detection coil 291 is suppressed and the resonance of the current in the detection-side resonance circuit 29 is stopped, the switching element 30 switches the alternating current from the sensor circuit 26 to the output circuit 27 .

출력 회로(27)는 센서 회로(26)로부터의 교류 전류의 출력을 정류하는 정류·콤퍼레이터 회로(271)를 가지고 있다. 또, 출력 회로(27)는 센서 회로(26)로부터정류·콤퍼레이터 회로(271)로 전류가 출력되면 직류 신호인 H 신호를 센서부(22)의 검출 신호로서 진단 회로(16)로 출력하고, 센서 회로(26)로부터 정류·콤퍼레이터 회로(271)로의 전류 출력이 정지하면 H 신호와 다른 직류 신호인 L 신호를 센서부(22)의 검출 신호로서 진단 회로(16)로 출력한다. The output circuit 27 has a rectifier / comparator circuit 271 for rectifying the output of the alternating current from the sensor circuit 26. The output circuit 27 outputs an H signal, which is a DC signal, to the diagnostic circuit 16 as a detection signal of the sensor unit 22 when a current is outputted from the sensor circuit 26 to the rectifier / comparator circuit 271, When the current output from the sensor circuit 26 to the rectifier / comparator circuit 271 stops, the L signal, which is a DC signal different from the H signal, is output to the diagnostic circuit 16 as the detection signal of the sensor unit 22. [

센서부(22)에서는, 식별판(11)이 검출 영역(15)으로부터 벗어나면, 여자 코일(281)로부터의 교류 자계 F1이 검출 영역(15)을 통해서 검출 코일(291)에 이른다. 검출 코일(291)이 여자 코일(281)로부터의 교류 자계 F1을 받으면, 검출 코일(291)에 유도 기전력이 생겨 검출측 공진 회로(29)에 대응하는 공진 주파수로 전류의 공진이 생긴다. 센서부(22)에 고장이 생기지 않은 상태에서는, 검출측 공진 회로(29)에 전류의 공진이 생기면, L 신호가 검출 신호로서 출력 회로(27)로부터 진단 회로(16)로 출력된다. The AC magnetic field F1 from the exciting coil 281 reaches the detecting coil 291 through the detecting area 15 when the discriminating plate 11 is displaced from the detecting area 15. [ When the detecting coil 291 receives the alternating magnetic field F1 from the exciting coil 281, an induced electromotive force is generated in the detecting coil 291 and resonance of the current occurs at the resonance frequency corresponding to the detecting side resonating circuit 29. [ When resonance of the current occurs in the detection side resonance circuit 29 in a state where no failure occurs in the sensor unit 22, an L signal is outputted as a detection signal from the output circuit 27 to the diagnosis circuit 16.

도 4는 도 3의 검출 영역(15)에 식별판(11)이 들어가 있을 때의 센서(13)를 나타내는 구성도이다. 식별판(11)이 검출 영역(15)에 들어가면, 여자 코일(281)로부터의 교류 자계 F1에 의해서, 식별판(11)에 와전류가 발생하여, 여자 코일(281)의 교류 자계 F1을 상쇄시키는 방향으로 와전류 자계 F2가 식별판(11)으로부터 발생한다. 이것에 의해, 검출 코일(291)에서의 유도 기전력이 억제되어, 검출측 공진 회로(29)에서의 전류의 공진이 정지한다. 센서부(22)에 고장이 생기지 않은 상태에서는, 검출측 공진 회로(29)에서의 전류의 공진이 정지하면, H 신호가 검출 신호로서 출력 회로(27)로부터 진단 회로(16)로 출력된다. Fig. 4 is a configuration diagram showing the sensor 13 when the identification plate 11 is contained in the detection area 15 of Fig. When the identification plate 11 enters the detection area 15, an eddy current is generated in the identification plate 11 by the alternating magnetic field F1 from the exciting coil 281, and the alternating magnetic field F1 of the exciting coil 281 is canceled The eddy current magnetic field F2 is generated from the identification plate 11. [ As a result, the induced electromotive force in the detection coil 291 is suppressed, and the resonance of the current in the detection-side resonance circuit 29 is stopped. When the resonance of the current in the detection side resonance circuit 29 is stopped in the state where no failure occurs in the sensor unit 22, the H signal is outputted from the output circuit 27 to the diagnosis circuit 16 as a detection signal.

여기서, 센서부(22)에는, 검출 영역(15)에서의 식별판(11)의 유무에 관계없이 센서부(22)의 검출 신호가 제1 신호인 L 신호로 고착되어 버리는 L 고착 고장(즉, 제1 고착 고장)과, 검출 영역(15)에서의 식별판(11)의 유무에 관계없이 센서부(22)의 검출 신호가 제2 신호인 H 신호로 고착되어 버리는 H 고착 고장(즉, 제2 고착 고장)이 생길 우려가 있다. 테스트부(23)는 진단 회로(16)로부터의 테스트 신호의 수신의 유무에 기초하여, 통상 운전시의 통상 모드와, 제1 고착 고장인 L 고착 고장의 진단을 할 때의 L 고착 고장 진단 모드(즉, 제1 고착 고장 진단 모드)와, 제2 고착 고장인 H 고착 고장의 진단을 할 때의 H 고착 고장 진단 모드(즉, 제2 고착 고장 진단 모드)의 사이에서, 모드를 전환 가능하게 되어 있다. 테스트부(23)의 모드가 L 고착 고장 진단 모드로 전환되거나 H 고착 고장 진단 모드로 전환되거나 함으로써, L 고착 고장 및 H 고착 고장의 각각의 진단을 진단 회로(16)에서 행하는 것이 가능하게 된다. Here, the sensor unit 22 is provided with an L-stuck fault (that is, a fault) in which the detection signal of the sensor unit 22 is fixed to the L signal as the first signal, regardless of the presence or absence of the identification plate 11 in the detection region 15. [ (I.e., a first stuck-at fault) and an H stuck fault (that is, a first stuck-at fault) in which the detection signal of the sensor unit 22 is fixed to the H signal as the second signal regardless of whether or not the identification plate 11 is present in the detection area 15. [ Second stuck-at fault) may occur. The test section 23 determines whether or not the normal mode at the time of normal operation and the L stuck-at fault diagnosis mode at the time of diagnosing the L stuck-at fault as the first stuck-at fault, based on the presence or absence of reception of the test signal from the diagnostic circuit 16 (I.e., the first stuck-at fault diagnosis mode) and the H stuck-at fault diagnosis mode (that is, the second stuck-at fault diagnosis mode) at the time of diagnosing the H stuck-at fault as the second stuck- . The mode of the test section 23 is switched to the L stuck-at fault diagnosis mode or the mode is switched to the H stuck-at fault diagnosis mode, whereby diagnosis of each of the L stuck-at fault and the H stuck fault can be performed in the diagnostic circuit 16.

테스트부(23)는 테스트 회로(31)와, 수신부(32)를 가지고 있다. The test section 23 has a test circuit 31 and a receiving section 32.

테스트 회로(31)는 제1 테스트 코일(311)과, 제2 테스트 코일(312)과, 2개의 제1 스위치(313)와, 제2 스위치(314)와, 제3 스위치(315)를 가지고 있다. The test circuit 31 has a first test coil 311, a second test coil 312, two first switches 313, a second switch 314 and a third switch 315 have.

제1 테스트 코일(311)은 검출 영역(15)에서 보았을 때 여자 코일(281)측에 배치되어 있다. 또, 제1 테스트 코일(311)은 여자 코일(281)보다도 검출 영역(15)으로부터 먼 위치에 배치되어 있다. The first test coil 311 is disposed on the side of the exciting coil 281 when viewed from the detection region 15. The first test coil 311 is arranged farther from the detection area 15 than the excitation coil 281. [

제2 테스트 코일(312)은 검출 영역(15)에서 보았을 때 검출 코일(291)측에 배치되어 있다. 또, 제2 테스트 코일(312)은 검출 코일(291)보다도 검출 영역(15)으로부터 먼 위치에 배치되어 있다. The second test coil 312 is disposed on the side of the detection coil 291 when viewed in the detection region 15. [ The second test coil 312 is disposed at a position farther from the detection region 15 than the detection coil 291.

각 제1 스위치(313)는 제1 및 제2 테스트 코일(311, 312)의 일단부끼리 및 타단부끼리의 각각의 전기적 접속을 개별로 개폐한다. 또, 각 제1 스위치(313)는 테스트부(23)의 L 고착 고장 진단 모드시에 열림 상태가 되고, 테스트부(23)의 H 고착 고장 진단 모드시에 닫힘 상태가 된다. 각 제1 스위치(313)가 열림 상태가 되면, 제1 및 제2 테스트 코일(311, 312)이 서로 분리된다. 또, 각 제1 스위치(313)가 닫힘 상태가 되면, 제1 및 제2 테스트 코일(311, 312)이 서로 전기적으로 접속되어, 제1 및 제2 테스트 코일(311, 312)을 포함하는 폐회로가 구성된다. Each of the first switches 313 individually opens and closes the respective electrical connections between the ends of the first and second test coils 311 and 312 and between the other ends thereof. Each of the first switches 313 is opened in the L-stuck-at fault diagnosis mode of the test section 23 and closed in the H-stuck-at fault diagnosis mode of the test section 23. [ When each of the first switches 313 is in an open state, the first and second test coils 311 and 312 are separated from each other. When the first switches 313 are closed, the first and second test coils 311 and 312 are electrically connected to each other, and the first and second test coils 311 and 312 are closed, .

제2 스위치(314)는 제1 테스트 코일(311)의 일단부 및 타단부 사이의 전기적 접속을 개폐한다. 또, 제2 스위치(314)는 테스트부(23)의 L 고착 고장 진단 모드시에 닫힘 상태가 되고, 테스트부(23)의 H 고착 고장 진단 모드시에 열림 상태가 된다. 제2 스위치(314)가 닫힘 상태가 되면, 제1 테스트 코일(311)의 일단부 및 타단부 사이가 단락되어, 제1 테스트 코일(311)을 포함하는 폐회로가 구성된다. 제2 스위치(314)가 열림 상태가 되면, 제1 테스트 코일(311)의 일단부 및 타단부 사이의 단락이 해제된다. The second switch 314 opens and closes the electrical connection between the one end and the other end of the first test coil 311. The second switch 314 is brought into the closed state in the L stuck-at fault diagnosis mode of the test section 23 and opened in the H stuck-at fault diagnosis mode of the test section 23. [ When the second switch 314 is closed, one end and the other end of the first test coil 311 are short-circuited to constitute a closed circuit including the first test coil 311. When the second switch 314 is in the open state, the short circuit between the one end and the other end of the first test coil 311 is released.

제3 스위치(315)는 제2 테스트 코일(312)의 일단부 및 타단부 사이의 전기적 접속을 개폐한다. 또, 제3 스위치(315)는 테스트부(23)의 L 고착 고장 진단 모드시에 닫힘 상태가 되고, 테스트부(23)의 H 고착 고장 진단 모드시에 열림 상태가 된다. 제3 스위치(315)가 닫힘 상태가 되면, 제2 테스트 코일(312)의 일단부 및 타단부 사이가 단락되어, 제2 테스트 코일(312)을 포함하는 폐회로가 구성된다. 제3 스위치(315)가 열림 상태가 되면, 제2 테스트 코일(312)의 일단부 및 타단부 사이의 단락이 해제된다. The third switch 315 opens and closes the electrical connection between the one end and the other end of the second test coil 312. The third switch 315 is closed in the L stuck-at fault diagnosis mode of the test section 23 and is opened in the H stuck-at fault diagnosis mode of the test section 23. [ When the third switch 315 is in the closed state, the one end and the other end of the second test coil 312 are short-circuited to constitute a closed circuit including the second test coil 312. When the third switch 315 is opened, the short circuit between the one end and the other end of the second test coil 312 is released.

진단 회로(16)는 서로 다른 L 고착 진단 신호 및 H 고착 진단 신호(즉, 제1 고착 진단 신호 및 제2 고착 진단 신호) 중에서 선택한 1개의 진단 신호를 테스트 신호로서 테스트부(23)로 보낸다. 진단 회로(16)로부터 테스트부(23)로 테스트 신호를 보내는 계통은, 1개의 계통만으로 되어 있다. 진단 회로(16)로부터의 테스트 신호는 테스트부(23)의 수신부(32)로 수신된다. The diagnostic circuit 16 sends one test signal selected from the different L sticking diagnostic signals and the H sticking diagnostic signals (i.e., the first sticking diagnostic signal and the second sticking diagnostic signal) to the test section 23 as a test signal. The system for sending the test signal from the diagnostic circuit 16 to the test section 23 is composed of only one system. The test signal from the diagnostic circuit 16 is received by the receiving section 32 of the test section 23. [

수신부(32)에서의 테스트 신호의 수신이 정지되어 있는 상태에서는, 테스트부(23)의 모드가 통상 모드로 되어 있다. 테스트부(23)가 통상 모드일 때에는, 제1 ~ 제3 스위치(313~315)의 모두가 열림 상태로 되어 있어, 센서부(22)의 고장 진단은 행해지지 않는다. In a state in which the receiving section 32 stops receiving the test signal, the test section 23 is in the normal mode. When the test section 23 is in the normal mode, all of the first to third switches 313 to 315 are in the open state, and the trouble diagnosis of the sensor section 22 is not performed.

수신부(32)는 진단 회로(16)로부터의 테스트 신호를 수신하면, 테스트 신호가 L 고착 진단 신호 및 H 고착 진단 신호 중 어느 것인지를 판단한다. 이 예에서는, 수신부(32)가 L 고착 진단 신호 및 H 고착 진단 신호 중, H 고착 진단 신호에 대해서만 동작하는 제2 진단 신호 동작부인 밴드 패스 필터(321)와, L 고착 진단 신호 및 H 고착 진단 신호 중, L 고착 진단 신호에 대해서만 동작하는 제1 진단 신호 동작부인 로우 패스 필터(322)를 가지고 있다. H 고착 진단 신호가 수신부(32)로 수신되면, 밴드 패스 필터(321)가 동작되어 2개의 제1 스위치(313)가 닫힘 상태로 되어, 테스트부(23)의 모드가 H 고착 고장 진단 모드가 된다. 또, L 고착 진단 신호가 수신부(32)로 수신되면, 로우 패스 필터(322)가 동작되어 제2 스위치(314) 및 제3 스위치(315)가 닫힘 상태로 되어, 테스트부(23)의 모드가 L 고착 고장 진단 모드가 된다. Upon receiving the test signal from the diagnostic circuit 16, the receiver 32 determines whether the test signal is the L fixation diagnostic signal or the H fixation diagnostic signal. In this example, the receiving section 32 includes a band-pass filter 321 serving as a second diagnostic signal operating section which operates only for the H-sticking diagnostic signal among the L-sticking diagnostic signal and the H-sticking diagnostic signal, Pass filter 322, which is a first diagnostic signal operation part that operates only on the L fixation diagnostic signal. When the H-sticking diagnostic signal is received by the receiver 32, the band-pass filter 321 is operated so that the two first switches 313 are closed, and the mode of the test section 23 is set to the H- do. When the L fixing diagnosis signal is received by the receiving section 32, the low-pass filter 322 is operated so that the second switch 314 and the third switch 315 are closed and the mode of the test section 23 The fixed fault diagnosis mode becomes active.

제어반(5)은 테스트부(23)의 모드가 통상 모드일 때, 센서부(22)로부터의 검출 신호에 기초하여, 검출 영역(15)에 식별판(11)이 들어갔을 때의 엘리베이터 칸(7)의 위치를 특정하고, 특정한 엘리베이터 칸(7)의 위치에 기초하여 엘리베이터의 운전을 제어한다. The control panel 5 determines whether or not the identification plate 11 enters the detection area 15 based on the detection signal from the sensor unit 22 when the mode of the test unit 23 is the normal mode 7), and controls the operation of the elevator based on the position of the specific car 7.

센서(14)의 구성은, 센서(13)의 구성과 같다. 센서(14)의 고장의 진단은, 센서(13)와 마찬가지로, 진단 회로(16)로부터 테스트 신호를 보내 센서(14)의 검출 신호를 진단 회로(16)로 받음으로써 행해진다. 또한, 엘리베이터의 위치 검출 장치는, 식별판(11, 12), 센서(13, 14), 진단 회로(16)를 가지고 있다. The configuration of the sensor 14 is the same as that of the sensor 13. The diagnosis of the failure of the sensor 14 is made by sending a test signal from the diagnostic circuit 16 and receiving the detection signal of the sensor 14 to the diagnostic circuit 16 as in the case of the sensor 13. [ The elevator position detecting device has identification plates 11 and 12, sensors 13 and 14, and a diagnosis circuit 16.

다음에, 동작에 대해 설명한다. 제어반(5)의 제어에 의해 엘리베이터 칸(7)이 각 층의 어느 층에 정지하면, 엘리베이터 칸(7)의 정지층에 대응하는 식별판(11)이 센서(13)의 검출 영역(15)에 들어간다. 식별판(11)이 검출 영역(15)에 들어가면, 여자 코일(281)로부터의 교류 자계 F1이 식별판(11)에 이르러, 식별판(11)으로부터 와전류 자계 F2가 발생한다. 한편, 엘리베이터 칸(7)이 각 층의 어느 층으로부터 상하 방향으로 이동하면, 식별판(11)이 검출 영역(15)으로부터 벗어나, 식별판(11)으로부터 와전류 자계 F2가 발생하지 않게 된다. Next, the operation will be described. The identification plate 11 corresponding to the stopping layer of the car 7 is moved to the detection area 15 of the sensor 13 when the car 7 stops on any layer of each layer under the control of the control panel 5. [ ≪ / RTI > When the identification plate 11 enters the detection area 15, the alternating magnetic field F1 from the exciting coil 281 reaches the identification plate 11, and the eddy current magnetic field F2 is generated from the identification plate 11. [ On the other hand, when the elevator car 7 is moved vertically from any layer of each layer, the identification plate 11 is displaced from the detection area 15 and the eddy current magnetic field F2 is not generated from the identification plate 11. [

진단 회로(16)로부터 테스트부(23)로의 테스트 신호의 출력이 정지되어 있을 때는, 테스트부(23)의 모드가 통상 모드로 되어 있다. 엘리베이터의 서비스 운전은, 테스트부(23)의 모드를 통상 모드로 한 상태로 행해진다. When the output of the test signal from the diagnostic circuit 16 to the test section 23 is stopped, the mode of the test section 23 is in the normal mode. The service operation of the elevator is performed in a state in which the mode of the test section 23 is set to the normal mode.

테스트부(23)의 모드가 통상 모드로 되면, 제1 ~ 제3 스위치(313~315)의 각각이 열림 상태가 된다. 이것에 의해, 여자 코일(281)로부터 교류 자계 F1이 발생하고 있더라도, 제1 및 제2 테스트 코일(311, 312)로부터 자계는 발생하지 않는다. When the mode of the test section 23 is set to the normal mode, each of the first to third switches 313 to 315 is in an open state. Thereby, even if the AC magnetic field F1 is generated from the exciting coil 281, no magnetic field is generated from the first and second test coils 311 and 312.

통상 모드시에 식별판(11)이 검출 영역(15)에 들어가면, 도 4에 나타내는 것처럼, 여자 코일(281)의 교류 자계 F1에 의해서, 여자 코일(281)의 교류 자계 F1을 상쇄시키는 방향으로의 와전류 자계 F2가 식별판(11)으로부터 발생한다. 이것에 의해, 검출 코일(291)에서의 유도 기전력이 억제되어, 검출측 공진 회로(29)에서의 전류의 공진이 정지한다. 검출측 공진 회로(29)에서의 공진이 정지하면, H 신호가 검출 신호로서 출력 회로(27)로부터 진단 회로(16)로 출력된다. When the identification plate 11 enters the detection region 15 in the normal mode, as shown in Fig. 4, the AC magnetic field F1 of the exciting coil 281 causes the AC magnetic field F1 of the exciting coil 281 to cancel out The magnetic field F2 of the eddy current is generated from the identification plate 11. As a result, the induced electromotive force in the detection coil 291 is suppressed, and the resonance of the current in the detection-side resonance circuit 29 is stopped. When the resonance in the detection-side resonance circuit 29 is stopped, an H signal is outputted from the output circuit 27 to the diagnosis circuit 16 as a detection signal.

한편, 통상 모드시에 식별판(11)이 검출 영역(15)으로부터 벗어나면, 도 3에 나타내는 것처럼, 여자 코일(281)의 교류 자계 F1이 검출 코일(291)에 도달한다. 이것에 의해, 검출 코일(291)에 유도 기전력이 발생하여, 검출측 공진 회로(29)에 전류의 공진이 생긴다. 검출측 공진 회로(29)에 전류의 공진이 생기면, L 신호가 검출 신호로서 출력 회로(27)로부터 진단 회로(16)로 출력된다. On the other hand, if the identification plate 11 deviates from the detection area 15 in the normal mode, the alternating magnetic field F1 of the exciting coil 281 reaches the detecting coil 291, as shown in Fig. Thereby, an induction electromotive force is generated in the detection coil 291, and resonance of the current occurs in the detection-side resonance circuit 29. When resonance of the current occurs in the detection-side resonance circuit 29, an L signal is outputted from the output circuit 27 to the diagnosis circuit 16 as a detection signal.

제어반(5)에서는, 센서부(22)로부터 진단 회로(16)로 보내진 검출 신호(즉, L 신호 또는 H 신호)에 기초하여 엘리베이터 칸(7)이 층에 있는지 여부가 판정된다. 엘리베이터의 운전은, 엘리베이터 칸(7)이 층에 있는지 여부의 판정 결과에 기초하여 제어반(5)에 의해 제어된다. The control panel 5 determines whether or not the car 7 is on the floor based on the detection signal (that is, the L signal or the H signal) sent from the sensor unit 22 to the diagnostic circuit 16. [ The operation of the elevator is controlled by the control panel 5 on the basis of the judgment result of whether or not the car 7 is in the floor.

제2 고착 고장의 진단을 행할 때에는, H 고착 진단 신호가 테스트 신호로서 진단 회로(16)로부터 테스트부(23)로 출력된다. 이 예에서는, H 고착 진단 신호가 구형파(矩形波)의 신호로 되어 있다. 테스트부(23)에서는, 수신부(32)로 H 고착 진단 신호를 수신하면 밴드 패스 필터(321)가 동작되어, 테스트부(23)의 모드가 통상 모드로부터 H 고착 고장 진단 모드로 전환된다. When diagnosing the second fixing trouble, the H fixing diagnosis signal is outputted from the diagnostic circuit 16 to the test section 23 as a test signal. In this example, the H fixation diagnosis signal is a signal of a square wave. In the test section 23, upon receiving the H fixing diagnosis signal to the receiving section 32, the band pass filter 321 is operated, and the mode of the test section 23 is switched from the normal mode to the H stuck failure diagnosis mode.

도 5는 도 4의 테스트부(23)의 모드가 H 고착 고장 진단 모드일 때의 센서(13)를 나타내는 구성도이다. H 고착 고장 진단 모드시에는, 제2 및 제3 스위치(314, 315)가 열림 상태가 되고, 각 제1 스위치(313)가 닫힘 상태가 된다. 이것에 의해, 테스트 회로(31)에는, 제1 및 제2 테스트 코일(311, 312)을 포함하는 폐회로가 구성된다. 5 is a configuration diagram showing the sensor 13 when the mode of the test section 23 in Fig. 4 is the H stuck-at fault diagnosis mode. H stuck-at fault diagnosis mode, the second and third switches 314 and 315 are in the open state, and the first switches 313 are in the closed state. As a result, the test circuit 31 is constituted with a closed circuit including the first and second test coils 311 and 312.

H 고착 고장 진단 모드시에는, 제1 및 제2 테스트 코일(311, 312)을 포함하는 폐회로가 구성되기 때문에, 여자 코일(281)의 교류 자계 F1에 의해서 제1 테스트 코일(311)에 유도 기전력이 발생하고, 제1 테스트 코일(311)에서의 유도 기전력에 의해서 제2 테스트 코일(312)에 자계 F3이 생긴다. 이것에 의해, 검출 코일(291)에 유도 기전력이 생겨, 검출측 공진 회로(29)에 전류의 공진이 생긴다. 즉, H 고착 고장 진단 모드시에는, 검출 영역(15)에서의 식별판(11)의 유무에 관계없이, 검출 코일(291)에 유도 기전력을 발생시키는 자계 F3이 제2 테스트 코일(312)에 생김으로써, 식별판(11)이 검출 영역(15)으로부터 벗어나 있는 상태가 강제적으로 재현된다. H stuck-at fault diagnosis mode, a closed circuit including the first and second test coils 311 and 312 is formed. Therefore, the alternating-current magnetic field F1 of the exciting coil 281 causes the first test coil 311 to generate an induced electromotive force And a magnetic field F3 is generated in the second test coil 312 by the induced electromotive force in the first test coil 311. [ Thereby, an induction electromotive force is generated in the detection coil 291, and resonance of the current occurs in the detection-side resonance circuit 29. That is, in the H stuck-at fault diagnosis mode, the magnetic field F3 generating the induced electromotive force in the detection coil 291 is applied to the second test coil 312 regardless of the presence or absence of the identification plate 11 in the detection area 15 The state in which the identification plate 11 is deviated from the detection area 15 is forcibly reproduced.

진단 회로(16)로부터 H 고착 진단 신호가 테스트 신호로서 테스트부(23)로 출력된 후, 센서부(22)로부터의 검출 신호가 진단 회로(16)로 수신되면, 진단 회로(16)에서는, 센서부(22)로부터의 검출 신호가, H 고착 진단 신호에 대응하는 신호, 즉 L 신호와 일치하고 있는지가 판정된다. 이것에 의해, 센서부(22)로부터의 검출 신호가 L 신호와 일치하고 있으면, 정상 판정이 진단 회로(16)에 의해 행해진다. 한편, 센서부(22)에 L 신호를 강제적으로 출력시키기 위한 테스트 신호를 테스트부(23)로 출력했음에도 불구하고, 센서부(22)로부터의 검출 신호가 L 신호와 다른 H 신호일 때는, H 고착 고장의 판정이 진단 회로(16)에 의해 행해진다. 이와 같이 하여, 센서부(22)의 H 고착 고장의 진단이 행해진다. When the detection signal from the sensor unit 22 is received by the diagnostic circuit 16 after the H fixation diagnostic signal is output from the diagnostic circuit 16 to the test unit 23 as a test signal, It is determined whether or not the detection signal from the sensor unit 22 coincides with the signal corresponding to the H fixation diagnostic signal, that is, the L signal. As a result, when the detection signal from the sensor unit 22 coincides with the L signal, a normal determination is made by the diagnostic circuit 16. On the other hand, when the detection signal from the sensor unit 22 is an H signal different from the L signal although the test signal for forcibly outputting the L signal to the sensor unit 22 is output to the test unit 23, The diagnosis is made by the diagnostic circuit 16. Thus, the diagnosis of the H-fixing failure of the sensor unit 22 is made.

L 고착 고장의 진단을 행할 때는, L 고착 진단 신호가 테스트 신호로서 진단 회로(16)로부터 테스트부(23)로 출력된다. 이 예에서는, L 고착 진단 신호가 high 직류 신호로 되어 있다. 테스트부(23)에서는, 수신부(32)로 L 고착 진단 신호를 수신하면 로우 패스 필터(322)가 동작되고, 테스트부(23)의 모드가 통상 모드로부터 L 고착 고장 진단 모드로 전환된다. L When the stuck-at fault is diagnosed, the L fixing diagnosis signal is outputted from the diagnostic circuit 16 to the test section 23 as a test signal. In this example, the L fixation diagnosis signal is a high DC signal. In the test section 23, when receiving the L fixing diagnostic signal to the receiving section 32, the low pass filter 322 is operated and the mode of the test section 23 is switched from the normal mode to the L stuck failure diagnosis mode.

도 6은 도 3의 테스트부(23)의 모드가 L 고착 고장 진단 모드일 때의 센서(13)를 나타내는 구성도이다. L 고착 고장 진단 모드시에는, 제2 및 제3 스위치(314, 315)가 닫힘 상태로 되고, 각 제1 스위치(313)가 열림 상태가 된다. 이것에 의해, 테스트 회로(31)에는, 제1 테스트 코일(311)을 포함하는 폐회로와, 제2 테스트 코일(312)을 포함하는 폐회로가 서로 분리되어 독립하여 구성된다.Fig. 6 is a configuration diagram showing the sensor 13 when the mode of the test section 23 in Fig. 3 is the L stuck-at fault diagnosis mode. L stuck-at fault diagnosis mode, the second and third switches 314 and 315 are closed, and the first switches 313 are opened. Thereby, the closed circuit including the first test coil 311 and the closed circuit including the second test coil 312 are formed separately from each other in the test circuit 31.

L 고착 고장 진단 모드시에는, 제1 테스트 코일(311)을 포함하는 폐회로가 구성되어 있기 때문에, 여자 코일(281)의 교류 자계 F1에 의해서 제1 테스트 코일(311)에 유도 기전력이 발생하여, 여자 코일(281)의 교류 자계 F1을 상쇄시키는 방향으로 유도 자계 F4를 제1 테스트 코일(311)이 발생시킨다. 또, 비록 여자 코일(281)의 교류 자계 F1이 검출 코일(291)에 도달하였다고 하더라도, 여자 코일(281)의 교류 자계 F1에 의해서 제2 테스트 코일(311)에도 유도 기전력이 발생하여, 여자 코일(281)의 교류 자계 F1을 상쇄시키는 방향으로 제2 테스트 코일(312)이 자계 F3을 발생시킨다. 이것에 의해, 검출 영역(15)에서의 식별판(11)의 유무에 관계없이, 여자 코일(281)의 교류 자계 F1이 억제되어, 검출 코일(291)에서의 유도 기전력이 억제된다. 이것에 의해, 검출 영역(15)에서의 식별판(11)의 유무에 관계없이, 검출측 공진 회로(29)에서의 전류의 공진이 정지하여, 식별판(11)이 검출 영역(15)에 들어가 있는 상태가 강제적으로 재현된다.An induced electromotive force is generated in the first test coil 311 by the alternating magnetic field F1 of the exciting coil 281 and the induced electromotive force is generated in the first test coil 311 because the closed circuit including the first test coil 311 is constituted in the L- The first test coil 311 generates the induction magnetic field F4 in the direction of canceling the AC magnetic field F1 of the excitation coil 281. [ Even if the AC magnetic field F1 of the exciting coil 281 reaches the detecting coil 291, an induced electromotive force is also generated in the second test coil 311 by the alternating magnetic field F1 of the exciting coil 281, The second test coil 312 generates the magnetic field F3 in the direction to cancel the alternating magnetic field F1 of the first test coil 281. This suppresses the AC magnetic field F1 of the exciting coil 281 and suppresses the induced electromotive force in the detecting coil 291 regardless of whether or not the identification plate 11 is present in the detection area 15. [ The resonance of the current in the detection side resonance circuit 29 is stopped and the identification plate 11 is placed in the detection region 15 regardless of whether or not the identification plate 11 is present in the detection region 15. [ The entering state is forcibly reproduced.

진단 회로(16)로부터 L 고착 진단 신호가 테스트 신호로서 테스트부(23)로 출력된 후, 센서부(22)로부터의 검출 신호가 진단 회로(16)로 수신되면, 진단 회로(16)에서는, 센서부(22)로부터의 검출 신호가, L 고착 진단 신호에 대응하는 신호, 즉 H 신호와 일치하고 있는지가 판정된다. 이것에 의해, 센서부(22)로부터의 검출 신호가 H 신호와 일치하고 있으면, 정상 판정이 진단 회로(16)에 의해 행해진다. 한편, 센서부(22)에 H 신호를 강제적으로 출력시키기 위한 테스트 신호를 테스트부(23)로 출력했음에도 불구하고, 센서부(22)로부터의 검출 신호가 H 신호와 다른 L 신호일 때에는, L 고착 고장의 판정이 진단 회로(16)에 의해 행해진다. 이와 같이 하여, 센서부(22)의 L 고착 고장의 진단이 행해진다. When the detection signal from the sensor unit 22 is received by the diagnosis circuit 16 after the L fixing diagnosis signal is output to the test unit 23 as a test signal from the diagnosis circuit 16, It is determined whether or not the detection signal from the sensor unit 22 coincides with the signal corresponding to the L fixation diagnostic signal, that is, the H signal. Thus, if the detection signal from the sensor unit 22 coincides with the H signal, a normal determination is made by the diagnostic circuit 16. [ On the other hand, when the detection signal from the sensor unit 22 is an L signal different from the H signal although the test signal for forcibly outputting the H signal to the sensor unit 22 is output to the test unit 23, The diagnosis is made by the diagnostic circuit 16. In this way, the diagnosis of the L stuck-at fault of the sensor unit 22 is made.

상부 종단층 및 하부 종단층에 엘리베이터 칸(7)이 정지했을 때에 식별판(12)을 검출하는 센서(14)에 대해서도, 센서(13)와 마찬가지로 하여 H 고착 고장의 진단 및 L 고착 고장의 진단이 행해진다. The diagnosis of the H-stuck-at fault and the diagnosis of the L-stuck-at fault are performed in the same manner as the sensor 13 for the sensor 14 that detects the identification plate 12 when the car 7 is stopped in the upper- .

이러한 엘리베이터의 위치 검출 장치에서는, 테스트부(23)가 L 고착 고장 진단 모드와 H 고착 고장 진단 모드의 사이에서 모드를 전환 가능하게 되어 있고, H 고착 고장 진단 모드시에는, 여자 코일(281)의 교류 자계 F1에 의한 제1 테스트 코일(311)에서의 유도 기전력에 의해서, 검출 코일(291)에 유도 기전력을 발생시키는 자계 F3이 제2 테스트 코일(312)에 생기고, L 고착 고장 진단 모드시에는, 여자 코일(281)의 교류 자계 F1에 의해서, 여자 코일(281)의 교류 자계 F1을 상쇄시키는 방향으로 유도 자계 F4가 제1 테스트 코일(311)에 생기므로, 엘리베이터 칸(7)을 이동시키지 않고 정지시킨 채로, 제1 ~ 제3 스위치(313~315)의 각각을 개폐하는 것만으로, 센서부(22)의 L 고착 고장의 유무 및 H 고착 고장의 유무를 판정할 수 있다. 이것에 의해, 센서(13, 14)의 고장의 유무의 판정을 용이하게 할 수 있다. In the position detecting apparatus of the elevator, the test section 23 is capable of switching modes between the L stuck-at fault diagnosis mode and the H stuck-at fault diagnosis mode. In the H stuck-at fault diagnosis mode, A magnetic field F3 that generates an induced electromotive force in the detection coil 291 is generated in the second test coil 312 due to the induced electromotive force in the first test coil 311 caused by the AC magnetic field F1, The induction magnetic field F4 is generated in the first test coil 311 in the direction of canceling the alternating magnetic field F1 of the exciting coil 281 by the alternating magnetic field F1 of the exciting coil 281, It is possible to determine whether there is an L stuck-at fault or a H-stuck-at fault of the sensor unit 22 by simply opening each of the first to third switches 313 to 315 while stopping the operation. This makes it easy to determine whether or not the sensors 13 and 14 have failed.

또, 진단 회로(16)는 L 고착 진단 신호를 테스트 신호로서 테스트부(23)로 보냄으로써 테스트부(23)의 모드를 L 고착 고장 진단 모드로 하고, L 고착 진단 신호와 다른 H 고착 진단 신호를 테스트 신호로서 테스트부(23)로 보냄으로써 테스트부(23)의 모드를 H 고착 고장 진단 모드로 하므로, 테스트부(23)의 모드의 전환을 용이하게 행할 수 있어, 센서부(22)의 L 고착 고장 및 H 고착 고장의 각각의 진단을 용이하게 행할 수 있다. The diagnosis circuit 16 sets the mode of the test section 23 to the L stuck-at fault diagnosis mode by sending the L stuck diagnostic signal as a test signal to the test section 23, The mode of the test section 23 can be switched to the H fixed fault diagnosis mode by sending the test section 23 as a test signal to the test section 23 so that the mode of the test section 23 can be easily switched, L stuck-at fault and H stuck-at fault can be easily diagnosed.

또, 테스트부(23)는 진단 회로(16)로부터의 테스트 신호가 L 고착 진단 신호 및 H 고착 진단 신호 중 어느 것인지를 판단하는 수신부(32)를 가지고 있으므로, 진단 회로(16)로부터 테스트부(23)로 테스트 신호를 보내는 계통을 1개의 계통만으로 할 수 있어, 엘리베이터의 위치 검출 장치의 코스트의 저감화를 도모할 수 있다.Since the test section 23 has the receiving section 32 for judging whether the test signal from the diagnostic circuit 16 is the L fixation diagnostic signal or the H fixation diagnostic signal, 23 as a system for sending a test signal to only one system, and the cost of the elevator position detecting apparatus can be reduced.

실시 형태 2.Embodiment 2 Fig.

도 7은 이 발명의 실시 형태 2에 의한 엘리베이터의 위치 검출 장치의 여자 코일(281) 및 제1 테스트 코일(311)을 나타내는 구성도이다. 여자 코일(281) 및 제1 테스트 코일(311)의 각각의 도선은, 서로 겹쳐 감겨 있다. 이 예에서는, 여자 코일(281)의 도선과 제1 테스트 코일(311)의 도선이, 서로 겹친 상태로 축선(軸線)을 중심으로 하는 나선 모양으로 감겨 있다. 7 is a configuration diagram showing the excitation coil 281 and the first test coil 311 of the elevator position detecting device according to the second embodiment of the present invention. The conductors of the exciting coil 281 and the first test coil 311 are wound on each other. In this example, the lead wire of the exciting coil 281 and the lead wire of the first test coil 311 are wound in a spiral shape centered on the axis line in a state of overlapping each other.

검출 코일(291) 및 제2 테스트 코일(312)의 각각의 도선도, 서로 겹쳐 감겨 있다. 이 예에서는, 도시는 하고 있지 않지만, 검출 코일(291)의 도선과 제2 테스트 코일(312)의 도선이, 서로 겹친 상태로 축선을 중심으로 하는 나선 모양으로 감겨 있다. 다른 구성은 실시 형태 1과 같다.The lead wires of the detection coil 291 and the second test coil 312 are also wound on each other. In this example, although not shown, the lead wire of the detection coil 291 and the lead wire of the second test coil 312 are wound in a helical shape centering on the axis in a state of overlapping each other. The other configuration is the same as the first embodiment.

이러한 엘리베이터의 위치 검출 장치에서는, 여자 코일(281) 및 제1 테스트 코일(311)의 각각의 도선이 서로 겹쳐 감기고, 검출 코일(291) 및 제2 테스트 코일(312)의 각각의 도선이 서로 겹쳐 감겨 있으므로, 여자 코일(281), 검출 코일(291), 제1 테스트 코일(311) 및 제2 테스트 코일(312)을 배치하는 스페이스를 전체적으로 작게 할 수 있어, 센서(13)의 소형화를 도모할 수 있다. 또, 여자 코일(281) 및 제1 테스트 코일(311)을 1개의 부품으로서 취급할 수 있음과 아울러, 검출 코일(291) 및 제2 테스트 코일(312)을 1개의 부품으로서 취급할 수 있어, 부품 개수를 삭감할 수 있다. In such an elevator position detecting device, the conductors of the exciting coil 281 and the first test coil 311 are wound on each other and the conductors of the detecting coil 291 and the second test coil 312 are overlapped with each other The space for disposing the exciting coil 281, the detecting coil 291, the first test coil 311 and the second test coil 312 can be reduced as a whole and the sensor 13 can be miniaturized . In addition, the exciting coil 281 and the first test coil 311 can be handled as one component, and the detecting coil 291 and the second test coil 312 can be handled as one component, The number of parts can be reduced.

또한, 상기의 예에서는, 여자 코일(281) 및 제1 테스트 코일(311)의 각각의 도선이 서로 겹쳐 감겨 있음과 아울러, 검출 코일(291) 및 제2 테스트 코일(312)의 각각의 도선이 서로 겹쳐 감겨 있지만, 여자 코일(281) 및 제1 테스트 코일(311)의 각각의 도선만을 서로 겹쳐 감도록 해도 되고, 검출 코일(291) 및 제2 테스트 코일(312)의 각각의 도선만을 서로 겹쳐 감도록 해도 된다. In the above example, the conductors of the exciting coil 281 and the first test coil 311 are wound on each other, and the conductors of the detecting coil 291 and the second test coil 312 Only the respective conductors of the exciting coil 281 and the first test coil 311 may overlap each other and only the respective conductors of the detecting coil 291 and the second test coil 312 are overlapped with each other It may be wound.

실시 형태 3.Embodiment 3:

도 8은 이 실시 형태 3에 의한 엘리베이터의 위치 검출 장치의 센서(13)를 나타내는 구성도이다. 본 실시 형태에서는, 실시 형태 1에서의 테스트부(23)의 테스트 회로(31)에 포함되는 구성으로부터, 도 8에 파선 A로 둘러싸 나타내는 것처럼, 제3 스위치(315)가 제거되어 있다. 이것에 의해, 제2 테스트 코일(312)의 양단부 사이가 전기적으로 단락되지 않도록 되어 있다. 테스트 회로(31)의 제1 테스트 코일(311), 제2 테스트 코일(312), 각 제1 스위치(313) 및 제2 스위치(314)의 각각의 구성은, 실시 형태 1과 같다. 또, 다른 구성은 실시 형태 1과 같다. 8 is a configuration diagram showing the sensor 13 of the elevator position detecting device according to the third embodiment. In the present embodiment, from the configuration included in the test circuit 31 of the test section 23 in the first embodiment, the third switch 315 is removed as shown by the broken line A in Fig. Thereby, both ends of the second test coil 312 are not electrically short-circuited. The configurations of the first test coil 311, the second test coil 312, the first switch 313 and the second switch 314 of the test circuit 31 are the same as those in the first embodiment. The other configuration is the same as in the first embodiment.

H 고착 고장 진단 모드시에서의 동작은, 실시 형태 1과 같다. 또, L 고착 고장 진단 모드시에는, 각 제1 스위치(313)가 열림 상태가 되고, 제2 스위치(314)가 닫힘 상태가 된다. 이것에 의해, L 고착 고장 진단 모드시에는, 제2 테스트 코일(312)의 양단부 사이의 단락이 회피된 채로 제2 테스트 코일(312)을 포함하는 폐회로는 구성되지 않고, 제1 테스트 코일(311)의 양단부 사이가 단락되어 제1 테스트 코일(311)을 포함하는 폐회로가 구성된다. The operation in the H fixed fault diagnosis mode is the same as in the first embodiment. In the L stuck-at fault diagnosis mode, each of the first switches 313 is opened and the second switch 314 is closed. Thus, in the L stuck-at fault diagnosis mode, a closed circuit including the second test coil 312 is not formed while short circuit between the both ends of the second test coil 312 is avoided, and the first test coil 311 Is short-circuited to constitute a closed circuit including the first test coil 311. [

L 고착 고장 진단 모드시에는, 여자 코일(281)의 교류 자계에 의해서, 여자 코일(281)의 교류 자계를 상쇄시키는 방향으로 유도 자계가 제1 테스트 코일(311)에 생긴다. 이것에 의해, 검출 영역(15)에서의 식별판(11)의 유무에 관계없이, 검출 코일(291)에서의 유도 기전력의 발생이 억제되어 검출측 공진 회로(29)에서의 전류의 공진이 정지되어, 식별판(11)이 검출 영역(15)에 들어가 있는 상태가 강제적으로 재현된다. 다른 동작은 실시 형태 1과 같다. The induction magnetic field is generated in the first test coil 311 in the direction of canceling the alternating magnetic field of the exciting coil 281 by the alternating magnetic field of the exciting coil 281. [ As a result, the generation of the induced electromotive force in the detection coil 291 is suppressed and the resonance of the current in the detection-side resonance circuit 29 is stopped, regardless of the presence or absence of the identification plate 11 in the detection region 15 And the state in which the identification plate 11 enters the detection area 15 is forcibly reproduced. The other operation is the same as in the first embodiment.

이와 같이, 제2 테스트 코일(312)의 양단부 사이의 전기적 접속을 개폐하는 제3 스위치(315)를 없애, 제2 테스트 코일(312)을 포함하는 폐회로가 구성되지 않도록 되어 있더라도, 엘리베이터 칸(7)을 정지시킨 채로 L 고착 고장 및 H 고착 고장의 각각의 진단을 용이하게 행할 수 있다. 또, 제3 스위치(315)가 없어지므로, 부품 개수의 삭감을 도모할 수 있다. Even if the third switch 315 for opening and closing the electrical connection between the both ends of the second test coil 312 is eliminated and the closed circuit including the second test coil 312 is not constituted, The diagnosis of L stuck-at fault and H stuck-at fault can be easily performed. In addition, since the third switch 315 is eliminated, the number of parts can be reduced.

실시 형태 4.Embodiment 4.

도 9는 이 발명의 실시 형태 4에 의한 엘리베이터의 위치 검출 장치의 센서(13)를 나타내는 구성도이다. 본 실시 형태에서는, 진단 회로(16)로부터의 L 고착 진단 신호 및 H 고착 진단 신호가, 서로 다른 2개의 계통을 통하여 테스트부(23)의 수신부(32)로 테스트 신호로서 개별로 보내진다. 수신부(32)는 L 고착 진단 신호를 수신하는 L 진단 신호 수신부(323)와, H 고착 진단 신호를 수신하는 H 진단 신호 수신부(324)를 가지고 있다. 테스트부(23)의 모드는, 진단 회로(16)로부터 일방의 계통을 통한 L 진단 신호가 L 진단 신호 수신부(323)로 수신됨으로써 L 고착 고장 진단 모드가 되고, 진단 회로(16)로부터 타방의 계통을 통한 H 진단 신호가 H 진단 신호 수신부(324)로 수신됨으로써 H 고착 고장 진단 모드가 된다. 다른 구성은 실시 형태 1과 같다. 9 is a configuration diagram showing a sensor 13 of an elevator position detecting device according to Embodiment 4 of the present invention. In the present embodiment, the L fixing diagnosis signal and the H fixing diagnosis signal from the diagnosis circuit 16 are sent individually as a test signal to the receiving section 32 of the test section 23 through two different systems. The receiving unit 32 has an L diagnostic signal receiving unit 323 for receiving the L fixation diagnostic signal and an H diagnostic signal receiving unit 324 for receiving the H fixation diagnostic signal. The mode of the test section 23 is set to the L stuck-at fault diagnosis mode by receiving the L diagnostic signal through one of the systems from the diagnostic circuit 16 to the L diagnostic signal receiving section 323, The H diagnosis signal through the system is received by the H diagnosis signal receiving unit 324, thereby becoming the H stuck failure diagnosis mode. The other configuration is the same as the first embodiment.

이와 같이, 진단 회로(16)로부터의 L 고착 진단 신호 및 H 고착 진단 신호를, 서로 다른 2개의 계통을 통해 테스트부(23)로 개별로 보내도록 하더라도, 테스트부(23)의 모드의 전환을 용이하게 행할 수 있다. 또, L 고착 진단 신호 및 H 고착 진단 신호 중 어느 것인지를 판단하는 구성을 수신부(32)에 마련할 필요가 없어지므로, 테스트부(23)의 수신부(32)의 구성을 간소화할 수 있어, 코스트의 저감화를 도모할 수 있다. Thus, even if the L fixing diagnosis signal and the H fixing diagnosis signal from the diagnosis circuit 16 are individually sent to the testing section 23 through two different systems, the switching of the mode of the testing section 23 Can be easily performed. It is also possible to simplify the configuration of the receiving section 32 of the test section 23 since it is unnecessary to provide the receiving section 32 with a configuration for determining which of the L fixation diagnosis signal and the H fixation diagnosis signal is to be performed, Can be reduced.

실시 형태 5.Embodiment 5:

도 10은 이 발명의 실시 형태 5에 의한 엘리베이터의 위치 검출 장치의 센서(13)를 나타내는 구성도이다. 진단 회로(16)로부터 테스트부(23)로 테스트 신호를 보내는 계통은, 1개의 계통뿐이다. 즉, 진단 회로(16)는 1개의 계통만을 통하여, L 고착 진단 신호를 테스트부(23)로 테스트 신호로서 보내거나, H 고착 진단 신호를 테스트부(23)로 테스트 신호로서 보내거나 한다. L 고착 진단 신호 및 H 고착 진단 신호의 각각의 전압치는, 서로 다르다. 즉, 테스트 신호의 전압치는, L 고착 진단 신호 및 H 고착 진단 신호에 따라 서로 다르다. 10 is a configuration diagram showing a sensor 13 of an elevator position detecting device according to Embodiment 5 of the present invention. The system for sending the test signal from the diagnostic circuit 16 to the test section 23 is only one system. That is, the diagnostic circuit 16 sends the L fixing diagnostic signal to the test unit 23 as a test signal or sends the H fixing diagnostic signal to the test unit 23 as a test signal through only one system. And the voltage values of the L fixation diagnostic signal and the H fixation diagnostic signal are different from each other. That is, the voltage value of the test signal differs depending on the L fixation diagnostic signal and the H fixation diagnostic signal.

테스트부(23)의 수신부(32)는, 테스트 신호의 전압치의 차이에 의해서, 테스트 신호가 L 고착 진단 신호 및 H 고착 진단 신호 중 어느 것인지를 판단하는 콤퍼레이터이다. 테스트부(23)의 모드는, 테스트 신호의 수신이 정지되어 있을 때 통상 모드가 되고, 테스트 신호가 수신부(32)로 수신되면, L 고착 고장 진단 모드 및 H 고착 고장 진단 모드 중, 수신부(32)로 판단된 L 고착 진단 신호 및 H 고착 진단 신호의 어느 것에 대응하는 모드가 된다. 이 예에서는, 테스트 신호의 전압치가 0[V]일 때, 즉 테스트 신호가 수신부(32)로 수신되어 있지 않을 때 테스트부(23)의 모드가 통상 모드가 되고, 테스트 신호의 전압치가 미리 정해진 H값일 때 테스트부(23)의 모드가 H 고착 고장 진단 모드가 되고, 테스트 신호의 전압치가 0[V]와 H값 사이의 중간값일 때 테스트부(23)의 모드가 L 고착 고장 진단 모드가 된다. 다른 구성은 실시 형태 1과 같다. The receiving section 32 of the test section 23 is a comparator for judging whether the test signal is the L fixation diagnostic signal or the H fixation diagnosis signal depending on the difference in the voltage value of the test signal. The mode of the test section 23 becomes the normal mode when the reception of the test signal is stopped. When the test signal is received by the receiving section 32, the mode of the L stuck-at fault diagnosis mode and the H stuck- ), And the H fixation diagnostic signal judged to be " L " In this example, when the voltage value of the test signal is 0 [V], that is, when the test signal is not received by the receiving unit 32, the mode of the test unit 23 becomes the normal mode, H, the mode of the test section 23 becomes the H stuck-at fault diagnosis mode, and when the voltage value of the test signal is a middle value between 0 [V] and H, the mode of the test section 23 is in the L stuck- do. The other configuration is the same as the first embodiment.

이와 같이, 테스트 신호의 전압치가 L 고착 진단 신호 및 H 고착 진단 신호에 따라 서로 다르고, 테스트 신호의 전압치의 차이에 의해서, 테스트 신호가 L 고착 진단 신호 및 H 고착 진단 신호 중 어느 것인지를 수신부(32)가 판단하도록 하더라도, 엘리베이터 칸(7)을 정지시킨 채로 센서(13)의 고장의 진단을 할 수 있어, 실시 형태 1과 마찬가지의 효과를 얻을 수 있다. As described above, the voltage value of the test signal differs depending on the L fixation diagnostic signal and the H fixation diagnostic signal, and depending on the difference in the voltage value of the test signal, whether the test signal is the L fixation diagnostic signal or the H fixation diagnostic signal, The diagnosis of the failure of the sensor 13 can be made while the car 7 is stopped, and the same effect as that of the first embodiment can be obtained.

실시 형태 6.Embodiment 6:

도 11은 이 발명의 실시 형태 6에 의한 엘리베이터의 위치 검출 장치를 나타내는 구성도이다. 본 실시 형태에서는, 센서(13)의 하우징(21) 내에 진단 회로(16)가 마련되어 있다. 이것에 의해, 진단 회로(16)는 센서(13)에 실장되어 있다. 식별판(11)의 검출 영역(15)으로의 유무를 검출하는 센서부(22)로부터의 검출 신호(즉, L 신호 또는 H 신호)는, 진단 회로(16) 및 제어반(5)의 각각으로 보내진다. 11 is a configuration diagram showing an elevator position detecting apparatus according to Embodiment 6 of the present invention. In the present embodiment, the diagnosis circuit 16 is provided in the housing 21 of the sensor 13. As a result, the diagnostic circuit 16 is mounted on the sensor 13. The detection signal (that is, the L signal or the H signal) from the sensor section 22 for detecting the presence or absence of the identification plate 11 in the detection region 15 is supplied to the diagnosis circuit 16 and the control panel 5 .

진단 회로(16)는 L 고착 진단 신호 및 H 고착 진단 신호를 테스트 신호로 하여 각각 일정 주기로 테스트부(23)로 보내 센서부(22)로부터의 검출 신호(즉, L 신호 또는 H 신호)를 각 주기로 수신함으로써, 센서부(22)의 L 고착 고장 및 H 고착 고장의 각각의 진단을 일정 주기로 행한다. 또, 진단 회로(16)는 진단 결과가 L 고착 고장 또는 H 고착 고장의 판정일 때, 고장 판정 신호를 제어반(5)으로 출력한다. The diagnosis circuit 16 sends the L fixing diagnosis signal and the H fixing diagnosis signal as test signals to the test section 23 at regular intervals and sends the detection signal (i.e., L signal or H signal) from the sensor section 22 to the test section 23 Thereby diagnosing each of the L stuck-at fault and H stuck-at fault of the sensor unit 22 at regular intervals. The diagnosis circuit 16 outputs a failure determination signal to the control panel 5 when the diagnosis result is the L fixing failure or the H fixing failure.

제어반(5)은 진단 회로(16)로부터의 고장 판정 신호의 수신의 유무, 및 센서부(22)로부터의 검출 신호에 기초하여, 엘리베이터의 운전을 제어한다. 다른 구성은 실시 형태 1과 같다.The control panel 5 controls the operation of the elevator based on the presence or absence of reception of the fault determination signal from the diagnosis circuit 16 and the detection signal from the sensor unit 22. [ The other configuration is the same as the first embodiment.

이러한 엘리베이터의 위치 검출 장치에서는, 진단 회로(16)가 센서(13)에 실장되어 있으므로, 제어반(5) 내의 처리의 부하를 경감시킬 수 있다. In such an elevator position detecting apparatus, since the diagnostic circuit 16 is mounted on the sensor 13, the load of processing in the control board 5 can be reduced.

실시 형태 7.Embodiment 7:

도 12는 이 발명의 실시 형태 7에 의한 엘리베이터의 위치 검출 장치를 나타내는 구성도이다. 본 실시 형태에서는, 제1 테스트 코일(311)이 여자 코일(281)보다도 검출 영역(15)에 가까운 위치에 배치되고, 제2 테스트 코일(312)이 검출 코일(291)보다도 검출 영역(15)에 가까운 위치에 배치되어 있다. 다른 구성은 실시 형태 6과 같다.12 is a configuration diagram showing an elevator position detecting apparatus according to Embodiment 7 of the present invention. The first test coil 311 is disposed closer to the detection region 15 than the excitation coil 281 and the second test coil 312 is disposed closer to the detection region 15 than the detection coil 291, As shown in Fig. The other configuration is the same as in the sixth embodiment.

이와 같이, 제1 테스트 코일(311)의 위치를 여자 코일(281)의 위치보다도 검출 영역(15)에 가까운 위치로 하고, 제2 테스트 코일(312)의 위치를 검출 코일(291)의 위치보다도 검출 영역(15)에 가까운 위치로 하더라도, 엘리베이터 칸(7)을 정지시킨 채로 센서부(22)의 고장의 진단을 용이하게 행할 수 있다. The position of the first test coil 311 is set closer to the detection area 15 than the position of the excitation coil 281 and the position of the second test coil 312 is set to be shorter than the position of the detection coil 291 It is possible to easily diagnose the failure of the sensor unit 22 while keeping the car 7 in a stopped position even if it is located close to the detection area 15. [

또한, 상기의 예에서는, 제1 테스트 코일(311)이 여자 코일(281)보다도 검출 영역(15)에 가까운 위치에 배치되어 있음과 아울러, 제2 테스트 코일(312)이 검출 코일(291)보다도 검출 영역(15)에 가까운 위치에 배치되어 있지만, 제1 테스트 코일(311)을 여자 코일(281)보다도 검출 영역(15)으로부터 먼 위치에 배치하고, 제2 테스트 코일(312)을 검출 코일(291)보다도 검출 영역(15)에 가까운 위치에 배치해도 된다. 또, 제1 테스트 코일(311)을 여자 코일(281)보다도 검출 영역(15)에 가까운 위치에 배치하고, 제2 테스트 코일(312)을 검출 코일(291)보다도 검출 영역(15)으로부터 먼 위치에 배치해도 된다. In the above example, the first test coil 311 is disposed closer to the detection region 15 than the excitation coil 281, and the second test coil 312 is positioned closer to the detection region 15 than the detection coil 291 The first test coil 311 may be disposed at a position farther from the detection region 15 than the excitation coil 281 and the second test coil 312 may be disposed at a position close to the detection region 15, 291 in the vicinity of the detection region 15. The first test coil 311 may be disposed at a position closer to the detection region 15 than the excitation coil 281 and the second test coil 312 may be disposed at a position farther from the detection region 15 than the detection coil 291 .

또, 상기의 예에서는, 제1 테스트 코일(311)을 여자 코일(281)보다도 검출 영역(15)에 가까운 위치에 배치하는 구성이 실시 형태 6의 센서(13)에 적용되어 있지만, 제1 테스트 코일(311)을 여자 코일(281)보다도 검출 영역(15)에 가까운 위치에 배치하는 구성을 실시 형태 1 및 3~5의 센서(13)에 적용해도 된다. In the above example, the configuration in which the first test coil 311 is arranged closer to the detection area 15 than the excitation coil 281 is applied to the sensor 13 of the sixth embodiment, A configuration in which the coil 311 is disposed closer to the detection area 15 than the excitation coil 281 may be applied to the sensor 13 of the first and third to fifth embodiments.

또, 상기의 예에서는, 제2 테스트 코일(312)을 검출 코일(291)보다도 검출 영역(15)에 가까운 위치에 배치하는 구성이 실시 형태 6의 센서(13)에 적용되어 있지만, 제2 테스트 코일(312)을 검출 코일(291)보다도 검출 영역(15)에 가까운 위치에 배치하는 구성을 실시 형태 1 및 3~5의 센서(13)에 적용해도 된다.In the above example, the configuration in which the second test coil 312 is disposed closer to the detection area 15 than the detection coil 291 is applied to the sensor 13 of the sixth embodiment, A configuration in which the coil 312 is disposed closer to the detection region 15 than the detection coil 291 may be applied to the sensor 13 of Embodiments 1 and 3 to 5.

또, 상기 실시 형태 2에서는, 여자 코일(281) 및 제1 테스트 코일(311)의 각각의 도선을 서로 겹쳐 감은 구성이 실시 형태 1의 센서(13)에 적용되어 있지만, 여자 코일(281) 및 제1 테스트 코일(311)의 각각의 도선을 서로 겹쳐 감은 구성을 실시 형태 3~6의 센서(13)에 적용해도 된다. Although the configuration in which the conductors of the exciting coil 281 and the first test coil 311 are overlapped with each other is applied to the sensor 13 of the first embodiment in the second embodiment, The configuration in which the respective conductors of the first test coil 311 are overlapped with each other may be applied to the sensor 13 of the third to sixth embodiments.

또, 상기 실시 형태 2에서는, 검출 코일(291) 및 제2 테스트 코일(312)의 각각의 도선을 서로 겹쳐 감은 구성이 실시 형태 1의 센서(13)에 적용되어 있지만, 검출 코일(291) 및 제2 테스트 코일(312)의 각각의 도선을 서로 겹쳐 감은 구성을 실시 형태 3~6의 센서(13)에 적용해도 된다.In the second embodiment, the configuration in which the respective conductors of the detection coil 291 and the second test coil 312 are overlapped with each other is applied to the sensor 13 of the first embodiment. However, the detection coils 291 and The configuration in which the respective conductors of the second test coil 312 are overlapped with each other may be applied to the sensor 13 of the third to sixth embodiments.

또, 상기 실시 형태 3에서는, 제3 스위치(315)를 없앤 구성이 실시 형태 1의 센서(13)에 적용되어 있지만, 제3 스위치(315)를 없앤 구성을 실시 형태 4~7의 센서(13)에 적용해도 된다. In the third embodiment, the configuration in which the third switch 315 is omitted is applied to the sensor 13 of the first embodiment. However, the configuration in which the third switch 315 is omitted is not limited to the sensor 13 of the fourth to seventh embodiments ).

또, 상기 실시 형태 6에서는, 진단 회로(16)를 센서(13)에 실장한 구성이 실시 형태 1의 센서(13)에 적용되어 있지만, 진단 회로(16)를 센서(13)에 실장한 구성을 실시 형태 4 및 5의 센서(13)에 적용해도 된다. Although the configuration in which the diagnosis circuit 16 is mounted on the sensor 13 is applied to the sensor 13 of the first embodiment in the sixth embodiment, the configuration in which the diagnosis circuit 16 is mounted on the sensor 13 May be applied to the sensor 13 of the fourth and fifth embodiments.

또, 각 상기 실시 형태에서는, 제1 및 제2 테스트 코일(311, 312) 사이의 전기적 접속을 개폐하는 2개의 제1 스위치(313)가 테스트 회로(31)에 포함되어 있지만, 각 제1 스위치(313)는 없어도 된다. 이와 같이 해도, 테스트부(22)의 L 고착 고장의 진단, 즉 제1 고착 고장의 진단을 행할 수 있다. 또, 이와 같이 하면, 테스트 회로(31)의 구성을 간소화할 수 있다. Although the test circuit 31 includes two first switches 313 for opening and closing the electrical connection between the first and second test coils 311 and 312 in each of the above embodiments, (313) may be omitted. Even in this manner, diagnosis of the L stuck-at fault of the test section 22, that is, diagnosis of the first stuck-at fault can be performed. In this way, the configuration of the test circuit 31 can be simplified.

각 제1 스위치(313)를 없앴을 경우, 제1 및 제2 테스트 코일(311, 312)은, 전기적으로 서로 분리되어 독립된 채로 된다. 이것에 의해, 테스트부(23)의 L 고착 고장 진단 모드시에 제2 스위치(314)가 닫힘 상태가 되면, 제1 및 제2 테스트 코일(311, 312)이 서로 분리된 채로 제1 테스트 코일(311)을 포함하는 폐회로가 구성된다. 또, 이 경우, 진단 회로(16)로부터의 테스트 신호는 1종류로만 되어, 수신부(32)의 구성도 간소화된다. 추가로, 이 경우, 테스트부(23)에 의한 테스트 신호의 수신의 유무에 기초하여, 테스트부(23)의 모드가 통상 모드와 L 고착 고장 진단 모드의 사이에서 전환한다. 즉, 테스트부(23)의 모드는, 테스트 신호를 수신하면 L 고착 고장 진단 모드가 되고, 테스트 신호의 수신이 정지되면 통상 모드가 된다. When each first switch 313 is removed, the first and second test coils 311 and 312 are electrically separated from each other and remain independent. As a result, when the second switch 314 is closed in the L stuck-at fault diagnosis mode of the test section 23, the first and second test coils 311 and 312 are separated from each other, (311). In this case, the number of test signals from the diagnostic circuit 16 is only one, and the configuration of the receiver 32 is also simplified. Further, in this case, the mode of the test section 23 is switched between the normal mode and the L-stuck-at fault diagnosis mode based on the presence or absence of reception of the test signal by the test section 23. That is, the mode of the test section 23 becomes the L stuck-at fault diagnosis mode when the test signal is received, and becomes the normal mode when the reception of the test signal is stopped.

또, 각 상기 실시 형태에서는, 제1 테스트 코일(311)의 양단부 사이의 전기적 접속을 개폐하는 제2 스위치(314)와, 제2 테스트 코일(312)의 양단부 사이의 전기적 접속을 개폐하는 제3 스위치(315)가 테스트 회로(31)에 포함되어 있지만, 제2 스위치(314) 및 제3 스위치(315)는 없어도 된다. 이와 같이 해도, 테스트부(22)의 H 고착 고장의 진단, 즉 제2 고착 고장의 진단을 행할 수 있다. 또, 이와 같이 하면, 테스트 회로(31)의 구성을 간소화할 수 있다. In each of the above embodiments, the second switch 314 for opening and closing the electrical connection between the both ends of the first test coil 311 and the third switch 314 for opening and closing the electrical connection between both ends of the second test coil 312 Although the switch 315 is included in the test circuit 31, the second switch 314 and the third switch 315 may be omitted. Even in this manner, the diagnosis of the H-fixation failure of the test section 22, that is, the diagnosis of the second fixation failure, can be performed. In this way, the configuration of the test circuit 31 can be simplified.

제2 및 제3 스위치(314, 315)를 없앴을 경우, 제1 테스트 코일(311)의 양단부 사이가 전기적으로 단락되지 않고, 제2 테스트 코일(312)의 양단부 사이가 전기적으로 단락되지 않는 구성으로 된다. 이것에 의해, 테스트부(23)의 H 고착 고장 진단 모드시에 각 제1 스위치(314)가 닫힘 상태가 되면, 제1 및 제2 테스트 코일(311, 312)을 포함하는 폐회로가 구성된다. 또, 이 경우, 진단 회로(16)로부터의 테스트 신호는 1종류로만 되어, 수신부(32)의 구성도 간소화된다. 추가로, 이 경우, 테스트부(23)에 의한 테스트 신호의 수신의 유무에 기초하여, 테스트부(23)의 모드가 통상 모드와 H 고착 고장 진단 모드의 사이에서 전환된다. 즉, 테스트부(23)의 모드는, 테스트 신호를 수신하면 H 고착 고장 진단 모드가 되고, 테스트 신호의 수신이 정지되면 통상 모드가 된다. When the second and third switches 314 and 315 are eliminated, the first test coil 311 is electrically short-circuited and the second test coil 312 is not electrically short-circuited . Thus, when each of the first switches 314 is brought into the closed state in the H-fixing fault diagnosis mode of the test section 23, a closed circuit including the first and second test coils 311 and 312 is formed. In this case, the number of test signals from the diagnostic circuit 16 is only one, and the configuration of the receiver 32 is also simplified. Further, in this case, the mode of the test section 23 is switched between the normal mode and the H-stuck-at fault diagnosis mode based on the presence or absence of reception of the test signal by the test section 23. That is, when the test signal is received, the mode of the test section 23 is set to the H stuck-at fault diagnosis mode, and when the reception of the test signal is stopped, the mode becomes the normal mode.

또, 각 상기 실시 형태에서는, 센서(13, 14)가 엘리베이터 칸(7)에 마련되어 있지만, 승강체로서의 균형 추에 센서(13, 14)를 마련해도 된다. Although the sensors 13 and 14 are provided in the elevator car 7 in each of the above embodiments, the sensors 13 and 14 may be provided on the balance weight as the ascending / descending body.

또, 각 상기 실시 형태에서는, 검출 영역(15)에 식별판(11)이 없을 때에 센서(13)로부터 출력되는 제1 신호가 L 신호, 즉 Low 신호로 되고, 검출 영역(15)에 식별판(11)이 있을 때 센서(13)로부터 출력되는 제2 신호가 H 신호, 즉 high 신호로 되어 있지만, 이것으로 한정되지 않고, 제1 신호 및 제2 신호가 서로 다르면 된다. 따라서 제1 신호를 H 신호, 즉 high 신호로 하고, 제2 신호를 L 신호, 즉 Low 신호로 해도 된다. 이 경우, 센서부(22)의 검출 신호가 제1 신호로 고착되어 버리는 제1 고착 고장이 H 고착 고장이 되고, 센서부(22)의 검출 신호가 제2 신호로 고착되어 버리는 제2 고착 고장이 L 고착 고장이 된다. 또, 이 경우, 제1 고착 고장을 진단할 때의 제1 고착 고장 진단 모드가 H 고착 고장 진단 모드가 되고, 제2 고착 고장을 진단할 때의 제2 고착 고장 진단 모드가 L 고착 고장 진단 모드가 된다. 추가로, 이 경우, 진단 회로(16)로부터 출력되는 제1 고착 진단 신호가 H 고착 진단 신호가 되고, 진단 회로(16)로부터 출력되는 제2 고착 진단 신호가 L 고착 진단 신호가 된다. In each of the above embodiments, the first signal outputted from the sensor 13 becomes the L signal, that is, the Low signal when the identification plate 11 is not present in the detection region 15, The second signal outputted from the sensor 13 is the H signal, that is, the high signal. However, the present invention is not limited to this, and the first signal and the second signal may be different from each other. Therefore, the first signal may be an H signal, that is, a high signal, and the second signal may be an L signal, that is, a Low signal. In this case, the first stuck-at fault, in which the detection signal of the sensor unit 22 is fixed to the first signal, becomes the H stuck-at fault, and the second stuck- This is a stuck-at fault. In this case, the first stuck-at fault diagnosis mode at the time of diagnosing the first stuck-at fault becomes the H stuck-at fault diagnosis mode, and the second stuck-at fault diagnosis mode at the time of diagnosing the second stuck- . Further, in this case, the first fixation diagnostic signal output from the diagnostic circuit 16 becomes the H fixation diagnostic signal, and the second fixation diagnostic signal output from the diagnostic circuit 16 becomes the L fixation diagnostic signal.

Claims (12)

승강로 내에 마련된 피검출체,
상기 승강로 내를 상하 방향으로 이동하는 승강체에 마련되고, 검출 영역이 마련되고, 상기 검출 영역에서의 상기 피검출체의 유무를 검출하는 센서, 및
테스트 신호를 상기 센서로 보내 상기 센서의 검출 신호를 수신함으로써 상기 센서의 고장의 유무를 진단하는 진단 회로를 구비하고,
상기 센서는 센서부와, 테스트부를 가지고,
상기 센서부는, 상기 검출 영역을 사이에 두고 배치된 여자 코일 및 검출 코일을 가지고, 상기 여자 코일에 교류 자계를 발생시킨 상태로 상기 검출 코일에 유도 기전력이 생기면 제1 신호를 상기 검출 신호로서 출력함과 아울러, 상기 여자 코일에 교류 자계를 발생시킨 상태로 상기 검출 코일에서의 유도 기전력이 억제되면 상기 제1 신호와 다른 제2 신호를 상기 검출 신호로서 출력하고,
상기 테스트부는, 통상 운전시의 통상 모드와, 상기 센서부의 검출 신호가 상기 제1 신호에 고착되는 고장을 진단할 때의 제1 고착 고장 진단 모드와, 상기 센서부의 검출 신호가 상기 제2 신호에 고착되는 고장을 진단할 때의 제2 고착 고장 진단 모드의 사이에서, 상기 테스트 신호의 수신의 유무에 기초하여 모드를 전환 가능하게 되어 있고,
상기 테스트부는, 상기 검출 영역에서 볼 때 상기 여자 코일측에 배치된 제1 테스트 코일과, 상기 검출 영역에서 볼 때 상기 검출 코일측에 배치된 제2 테스트 코일과, 상기 제2 고착 고장 진단 모드시에 상기 제1 및 제2 테스트 코일을 포함하는 폐회로를 구성하여 상기 제1 고착 고장 진단 모드시에 상기 제1 및 제2 테스트 코일을 서로 분리시키는 제1 스위치와, 상기 제1 고착 고장 진단 모드시에 상기 제1 테스트 코일을 포함하는 폐회로를 구성하는 제2 스위치를 가지고,
상기 제2 고착 고장 진단 모드시에는, 상기 여자 코일의 교류 자계에 의한 상기 제1 테스트 코일에서의 유도 기전력에 의해서, 상기 검출 코일에 유도 기전력을 발생시키는 자계가 상기 제2 테스트 코일에 생기고,
상기 제1 고착 고장 진단 모드시에는, 상기 여자 코일의 교류 자계에 의해서, 상기 여자 코일의 교류 자계를 상쇄시키는 방향으로 유도 자계가 상기 제1 테스트 코일에 생기는 엘리베이터의 위치 검출 장치.
The object to be detected provided in the hoistway,
A sensor provided in the ascending / descending body moving in the vertical direction in the hoistway and provided with a detection region, for detecting presence or absence of the detected object in the detection region, and
And a diagnostic circuit for diagnosing the presence or absence of a failure of the sensor by receiving a detection signal of the sensor by sending a test signal to the sensor,
The sensor has a sensor unit and a test unit,
Wherein the sensor unit includes an excitation coil and a detection coil disposed with the detection region interposed therebetween and outputs a first signal as the detection signal when an induced electromotive force is generated in the detection coil in a state where an AC magnetic field is generated in the excitation coil And outputs a second signal different from the first signal as the detection signal when the induced electromotive force in the detection coil is suppressed in a state in which an AC magnetic field is generated in the excitation coil,
Wherein the test section includes: a normal mode at normal operation; a first stuck-at fault diagnosis mode for diagnosing a fault where a detection signal of the sensor section is fixed to the first signal; The mode can be switched on the basis of the presence or absence of the reception of the test signal during the second fixing trouble diagnosis mode for diagnosing a fixed trouble,
Wherein the test unit includes a first test coil disposed on the excitation coil side when viewed in the detection area, a second test coil disposed on the detection coil side when viewed in the detection area, A first switch that constitutes a closed circuit including the first and second test coils and separates the first and second test coils from each other in the first stuck-at fault diagnosis mode; And a second switch constituting a closed circuit including the first test coil,
A magnetic field generating an induced electromotive force in the detection coil is generated in the second test coil by the induced electromotive force in the first test coil caused by the alternating magnetic field of the excitation coil in the second stuck-
Wherein in the first stuck-at fault diagnosis mode, an induction magnetic field is generated in the first test coil in a direction of canceling the alternating-current magnetic field of the exciting coil by the alternating-current magnetic field of the exciting coil.
청구항 1에 있어서,
상기 진단 회로는, 제1 고착 진단 신호를 상기 테스트 신호로서 상기 테스트부로 보냄으로써 상기 테스트부의 모드를 상기 제1 고착 고장 진단 모드로 하고, 상기 제1 고착 진단 신호와 다른 제2 고착 진단 신호를 상기 테스트 신호로서 상기 테스트부로 보냄으로써 상기 테스트부의 모드를 상기 제2 고착 고장 진단 모드로 하는 엘리베이터의 위치 검출 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the diagnosis circuit sets the mode of the test section as the first stuck-at fault diagnosis mode by sending a first stuck-at diagnosis signal as the test signal to the test section, and outputs a second stuck- And sending the test signal to the test section as a test signal to set the mode of the test section to the second stuck-at fault diagnosis mode.
청구항 2에 있어서,
상기 진단 회로로부터 상기 테스트부로 상기 테스트 신호를 보내는 계통은 1개의 계통뿐이고,
상기 테스트부는, 상기 테스트 신호가 상기 제1 고착 진단 신호 및 상기 제2 고착 진단 신호 중 어느 것인지를 판단하는 수신부를 추가로 가지고 있는 엘리베이터의 위치 검출 장치.
The method of claim 2,
The system for sending the test signal from the diagnostic circuit to the test unit is only one system,
Wherein the test unit further has a receiver for determining whether the test signal is the first fixation diagnostic signal or the second fixation diagnostic signal.
청구항 3에 있어서,
상기 테스트 신호의 전압치는, 상기 제1 고착 진단 신호 및 상기 제2 고착 진단 신호에 따라 서로 다르고,
상기 수신부는, 상기 테스트 신호의 전압치의 차이에 의해서, 상기 테스트 신호가 상기 제1 고착 진단 신호 및 상기 제2 고착 진단 신호 중 어느 것인지를 판단하는 엘리베이터의 위치 검출 장치.
The method of claim 3,
The voltage value of the test signal being different according to the first fixing diagnostic signal and the second fixing diagnostic signal,
Wherein the receiving section determines whether the test signal is the first fixing diagnostic signal or the second fixing diagnostic signal based on a difference in the voltage value of the test signal.
청구항 2에 있어서,
상기 진단 회로로부터의 상기 제1 고착 진단 신호 및 상기 제2 고착 진단 신호는, 서로 다른 2개의 계통을 통하여 상기 테스트부로 개별로 보내지는 엘리베이터의 위치 검출 장치.
The method of claim 2,
Wherein the first fixing diagnosis signal and the second fixing diagnosis signal from the diagnosis circuit are separately sent to the test unit through two different systems.
승강로 내에 마련된 피검출체,
상기 승강로 내를 상하 방향으로 이동하는 승강체에 마련되고, 검출 영역이 마련되고, 상기 검출 영역에서의 상기 피검출체의 유무를 검출하는 센서, 및
테스트 신호를 상기 센서로 보내 상기 센서의 검출 신호를 수신함으로써 상기 센서의 고장의 유무를 진단하는 진단 회로를 구비하고,
상기 센서는 센서부와, 테스트부를 가지고,
상기 센서부는, 상기 검출 영역을 사이에 두고 배치된 여자 코일 및 검출 코일을 가지고, 상기 여자 코일에 교류 자계를 발생시킨 상태로 상기 검출 코일에 유도 기전력이 생기면 제1 신호를 검출 신호로서 출력함과 아울러, 상기 여자 코일에 교류 자계를 발생시킨 상태로 상기 검출 코일에서의 유도 기전력이 억제되면 상기 제1 신호와 다른 제2 신호를 검출 신호로서 출력하고,
상기 테스트부는 통상 운전시의 통상 모드와, 상기 센서부의 검출 신호가 상기 제1 신호에 고착되는 고장을 진단할 때의 제1 고착 고장 진단 모드의 사이에서, 상기 테스트 신호의 수신의 유무에 기초하여 모드를 전환 가능하게 되어 있고,
상기 테스트부는, 상기 검출 영역에서 볼 때 상기 여자 코일측에 배치된 제1 테스트 코일과, 상기 검출 영역에서 볼 때 상기 검출 코일측에 배치된 제2 테스트 코일과, 상기 제1 고착 고장 진단 모드시에 상기 제1 및 제2 테스트 코일을 서로 분리한 채로 상기 제1 테스트 코일을 포함하는 폐회로를 구성하는 제2 스위치를 가지고,
상기 제1 고착 고장 진단 모드시에는, 상기 여자 코일의 교류 자계에 의해서, 상기 여자 코일의 교류 자계를 상쇄시키는 방향으로 유도 자계가 상기 제1 테스트 코일에 생기는 엘리베이터의 위치 검출 장치.
The object to be detected provided in the hoistway,
A sensor provided in the ascending / descending body moving in the vertical direction in the hoistway and provided with a detection region, for detecting presence or absence of the detected object in the detection region, and
And a diagnostic circuit for diagnosing the presence or absence of a failure of the sensor by receiving a detection signal of the sensor by sending a test signal to the sensor,
The sensor has a sensor unit and a test unit,
Wherein the sensor unit has an excitation coil and a detection coil disposed with the detection region interposed therebetween and outputs a first signal as a detection signal when an induced electromotive force is generated in the detection coil in a state in which an AC magnetic field is generated in the excitation coil When the induction electromotive force in the detection coil is suppressed in a state where an AC magnetic field is generated in the excitation coil, a second signal different from the first signal is output as a detection signal,
Wherein the test section is configured to determine whether or not the test signal is received between the normal mode at the time of normal operation and the first stuck-at fault diagnosis mode at the time of diagnosing a fault where the detection signal of the sensor section is fixed to the first signal Mode can be switched,
The test unit includes a first test coil disposed on the excitation coil side when viewed in the detection region, a second test coil disposed on the detection coil side when viewed in the detection region, And a second switch constituting a closed circuit including the first test coil while separating the first and second test coils from each other,
Wherein in the first stuck-at fault diagnosis mode, an induction magnetic field is generated in the first test coil in a direction of canceling the alternating-current magnetic field of the exciting coil by the alternating-current magnetic field of the exciting coil.
승강로 내에 마련된 피검출체,
상기 승강로 내를 상하 방향으로 이동하는 승강체에 마련되고, 검출 영역이 마련되고, 상기 검출 영역에서의 상기 피검출체의 유무를 검출하는 센서, 및
테스트 신호를 상기 센서로 보내 상기 센서의 검출 신호를 수신함으로써 상기 센서의 고장의 유무를 진단하는 진단 회로를 구비하고,
상기 센서는 센서부와, 테스트부를 가지고,
상기 센서부는, 상기 검출 영역을 사이에 두고 배치된 여자 코일 및 검출 코일을 가지고, 상기 여자 코일에 교류 자계를 발생시킨 상태로 상기 검출 코일에 유도 기전력이 생기면 제1 신호를 검출 신호로서 출력함과 아울러, 상기 여자 코일에 교류 자계를 발생시킨 상태로 상기 검출 코일에서의 유도 기전력이 억제되면 상기 제1 신호와 다른 제2 신호를 검출 신호로서 출력하고,
상기 테스트부는, 통상 운전시의 통상 모드와, 상기 센서부의 검출 신호가 상기 제2 신호에 고착되는 고장을 진단할 때의 제2 고착 고장 진단 모드의 사이에서, 상기 테스트 신호의 수신의 유무에 기초하여 모드를 전환 가능하게 되어 있고,
상기 테스트부는, 상기 검출 영역에서 볼 때 상기 여자 코일측에 배치된 제1 테스트 코일과, 상기 검출 영역에서 볼 때 상기 검출 코일측에 배치된 제2 테스트 코일과, 상기 제2 고착 고장 진단 모드시에 상기 제1 및 제2 테스트 코일을 포함하는 폐회로를 구성하는 제1 스위치를 가지고,
상기 제2 고착 고장 진단 모드시에는, 상기 여자 코일의 교류 자계에 의한 상기 제1 테스트 코일에서의 유도 기전력에 의해서, 상기 검출 코일에 유도 기전력을 발생시키는 자계가 상기 제2 테스트 코일에 생기는 엘리베이터의 위치 검출 장치.
The object to be detected provided in the hoistway,
A sensor provided in the ascending / descending body moving in the vertical direction in the hoistway and provided with a detection region, for detecting presence or absence of the detected object in the detection region, and
And a diagnostic circuit for diagnosing the presence or absence of a failure of the sensor by receiving a detection signal of the sensor by sending a test signal to the sensor,
The sensor has a sensor unit and a test unit,
Wherein the sensor unit has an excitation coil and a detection coil disposed with the detection region interposed therebetween and outputs a first signal as a detection signal when an induced electromotive force is generated in the detection coil in a state in which an AC magnetic field is generated in the excitation coil When the induction electromotive force in the detection coil is suppressed in a state where an AC magnetic field is generated in the excitation coil, a second signal different from the first signal is output as a detection signal,
Wherein the test section determines whether or not the test signal is received based on whether or not the test signal is received between the normal mode at the time of normal operation and the second fixing trouble diagnosis mode for diagnosing a trouble in which the detection signal of the sensor section is fixed to the second signal So that the mode can be switched,
Wherein the test unit includes a first test coil disposed on the excitation coil side when viewed in the detection area, a second test coil disposed on the detection coil side when viewed in the detection area, And a first switch constituting a closed circuit including the first and second test coils,
Wherein the second stuck-at fault diagnosis mode is a mode in which the induction electromotive force in the first test coil by the AC magnetic field of the excitation coil causes a magnetic field, which generates an induced electromotive force in the detection coil, Position detecting device.
청구항 1 내지 청구항 7 중 어느 한 항에 있어서,
상기 진단 회로는 상기 센서에 실장되어 있는 엘리베이터의 위치 검출 장치.
The method according to any one of claims 1 to 7,
Wherein the diagnosis circuit is mounted on the sensor.
청구항 1 내지 청구항 8 중 어느 한 항에 있어서,
상기 여자 코일 및 상기 제1 테스트 코일의 각각의 도선은, 서로 겹쳐 감겨 있는 엘리베이터의 위치 검출 장치.
The method according to any one of claims 1 to 8,
And the conductors of the exciting coil and the first test coil are wound one over the other.
청구항 1 내지 청구항 9 중 어느 한 항에 있어서,
상기 검출 코일 및 상기 제2 테스트 코일의 각각의 도선은, 서로 겹쳐 감겨 있는 엘리베이터의 위치 검출 장치.
The method according to any one of claims 1 to 9,
And the conductors of the detection coil and the second test coil are wound one over the other.
청구항 1 내지 청구항 10 중 어느 한 항에 있어서,
상기 제1 테스트 코일은, 상기 여자 코일 보다도 상기 검출 영역에 가까운 위치에 배치되어 있는 엘리베이터의 위치 검출 장치.
The method according to any one of claims 1 to 10,
Wherein the first test coil is disposed closer to the detection area than the excitation coil.
청구항 1 내지 청구항 11 중 어느 한 항에 있어서,
상기 제2 테스트 코일은, 상기 검출 코일보다도 상기 검출 영역에 가까운 위치에 배치되어 있는 엘리베이터의 위치 검출 장치.
The method according to any one of claims 1 to 11,
And the second test coil is disposed at a position closer to the detection area than the detection coil.
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