KR20170016890A - 스위치 검증 회로 및 방법 - Google Patents

Abstract

스위치-동작 치료제 전달 디바이스가 설명된다. 동작되는 치료제 전달 디바이스의 실시예들은 사용자에 의해 동작될 수 있는 스위치, 특정 미리 결정된 조건들이 충족될 때 디바이스가 디바이스를 활성화할 수 있는 스위치 입력을 통해 스위치에 연결되는 디바이스 제어기를 포함하여, 디지털 스위칭 인증 테스트 및 아날로그 스위치 인증 테스트 둘 모두를 수행한다.

Description

스위치 검증 회로 및 방법{SWITCH VALIDATION CIRCUIT AND METHOD}

[0001] 이 출원은 2014년 4월 6일 출원되고(US-2014-0288526-A1 호로서 공개됨) 발명의 명칭이 "SWITCH VALIDATION CIRCUIT AND METHOD"이며, 그 전체가 인용에 의해 본원에 포함되는 미국 특허 출원 번호 제 14/296,085 호를 우선권으로 주장한다.

[0002] 스위치-동작 치료제 전달 디바이스는 스위치를 활성화함으로써 단일 또는 다수의 도즈(dose)들의 치료제를 환자에게 제공할 수 있다. 활성화시, 그런 디바이스는 치료제를 환자에게 전달한다. 환자-제어 디바이스는 필요가 발생할 때 치료제를 자가 투여하기 위한 능력을 환자에게 제공한다. 예컨대, 치료제는, 충분한 고통이 느껴질 때마다 환자가 투여할 수 있는 진통제들일 수 있다.

[0003] 환자 제어 진통의 하나의 수단은 특정 미리 결정된 도징(dosing) 파라미터들 내에서 환자의 명령들에 응답하도록 사전 프로그래밍된 주입 펌프(infusion pump)에 의해 수행되는 환자 제어 정맥 내 주입(intravenous infusion)이다. 그런 정맥 내 주입 펌프들은 흔히 수술 후 고통의 제어를 위해 사용된다. 환자는 제어 유닛에게 시그널링함으로써 통상적으로 마약인 진통제 도즈의 주입을 개시한다. 유닛은 신호를 수신하고 그리고 특정 조건들이 충족되면, 환자의 정맥(vein)들 중 하나에 삽입된 바늘을 통해 약의 주입을 시작한다.

[0004] 다른 형태의 환자 제어 진통제는 전계확산(electrotransport)(예컨대, 또한 이온영동 약 전달로서 지칭되는 이온영동)이다. 전계확산 약 전달시, 치료제는 전기 전류에 의해 바디 내로 액티브하게 수송된다. 전계확산의 예들은 이온영동, 전기삼투 및 전기천공을 포함한다. 이온영동 전달 디바이스들은 통상적으로 저장소들에 연결된 적어도 2개의 전극들, 전압원, 및 전극들의 쌍 양단에 전압을 인가함으로써 치료제의 전달을 제어하는 제어기를 포함한다. 보통 저장소들 중 적어도 하나는 차지된(charged) 치료제(약)를 포함하는 반면, 적어도 하나의 저장소는 반대 이온을 포함하고 치료제가 없다. 차지된 종인 치료제는 치료제를 포함하는 저장소로부터 그리고 저장소들이 부착된 환자의 피부 내로 그리고 피부를 가로질러 넣어진다.

[0005] 치료제에 더하여, 저장소들은 다른 차지된 및 차지되지 않은 종을 포함할 수 있다. 예컨대, 저장소들은 종종 필요한 구성 성분으로서 물을 포함하는 하이드로젤(hydrogel)들이다. 저장소들은 또한 전해질, 방부제, 항세균제, 및 다른 차지된 및 차지되지 않은 종들을 포함할 수 있다.

[0006] 안전성 이유들 때문에, 임의의 환자-제어 약 전달 디바이스, 및 특히 치료제(예컨대, 펜타닐 같은 아편류 진통제)를 전달하는 전계확산 디바이스가 환자에게로의 치료제의 부주의한 전달을 방지하기 위하여 엄격하게 조정되는 것이 필수적이다. 예컨대, 디바이스의 단락 회로들은 약의 잘못되고, 부가적인 전달을 초래할 수 있다. 환자-활성화 도징 시스템들이 도즈를 전달하기 위하여 환자에 의해 선택되는, 예컨대 푸시(push)되는 도즈 스위치를 포함하여야 하기 때문에, 하나의 특히 취약한 양상은 이 스위치이다. 도즈 스위치 회로의 단락 회로는 유효한 도즈 스위치가 프레스(press)하는 것으로 디바이스의 제어 로직(예컨대, 프로세서)에 의해 해석될 수 있고, 그리고 잠재적으로 시스템이 유효한 환자 요청 없이도 도즈를 전달하게 할 수 있다. 그런 단락 회로들은 오염 또는 부식에 의해 유발될 수 있다.

[0007] 본원에는 도즈를 개시하기 전에 도즈 스위치 회로 및 신호 특성들의 무결성을 인증하는 방법들 및 장치들(예컨대, 시스템 및 디바이스들)이 설명된다. 특히, 본원에 설명된 장치들 및 방법들은 각각의 도즈 개시 전에 인증을 수행하고, 그리고 인증 프로세스(예컨대, 스위치가 적당하게 기능하고 있는지를 결정하기 위하여 측정들이 사용됨)는 특히 도즈 스위치의 실제 프레스들을 포함하여, 정상 동작을 간섭하지 않는다. 마지막으로, 본원에 설명된 장치 및 방법들은 명백히 높은 정도의 확실성으로 신뢰할 수 있다. 그러므로, 이들 장치 및 방법들은 앞서 제기된 문제들을 처리할 수 있다.

[0008] 본 발명은 환자-제어 약 처방 디바이스들, 특히 이온영동 디바이스들 같은, 저장 및 사용 동안 습기 및 다른 오염물들에 영향을 받는 이들 디바이스들의 기술분야에서 필요를 처리한다. 본 발명자들은, 오염물들이 디바이스로 하여금 오기능하게 할 수 있음에 따라, 특히 문제가 있는, 이온영동 디바이스들의 저장 및 사용시 존재하는 오염물들을 식별하였다. 예컨대, 이온영동 같은 전계확산시 ― 및 일반적으로 온-디맨드식 약 전달에서 ―, 불량 회로는 특히 문제가 있을 수 있는데, 그 이유는, 이것이 일부 경우들에서, 디바이스로 하여금 전체 도즈를 전달하는 것을 실패하고, 원하는 도즈보다 많이 전달하고, 저장 동안 하나 또는 그 초과의 도즈들을 전달하고, 환자 명령의 부재시 하나 또는 그 초과의 도즈들을 전달하고, 등등을 할 수 있기 때문이다. 전자 회로의 오염 가능성은 특히 이온영동 약 전달 시스템들에 존재하는데, 그 이유는 이용되는 저장소들이 회로, 이를테면 활성화 스위치들, 회로 리드(lead)들, 회로 트레이스(trace)들, 등을 오염시킬 수 있는 다른 차지되고 차지되지 않은 종들 ― 이를테면 차지된 치료제, 전해질, 방부제 및 항세균제 ― 뿐 아니라 물을 포함하기 때문이다. (다른 약 전달 방법들, 이를테면 환자-활성화 펌프들은 특히 환경적 습기 및 공기운반 오염물들에 의해 오염에 대해 유사한 가능성을 가질 수 있다). 약 전달(및 일부 경우들에서 저장) 동안 회로에 인가되는 전압들 및 전류들과 결합하여, 오염물들은 전류 누설들, 단락 회로들(간헐적 단락들을 포함하는 "단락들") 및 디바이스의 적당한 동작을 간섭할 수 있는 다른 거짓 신호들을 유발할 수 있다. 회로 오기능의 다른 원인들은 또한 제조 동안 또는 사용 환경에서 도입될 수 있다. 본 발명자들은, 일부 경우들에서 특히 오염 및 오기능에 취약할 수 있는 포인트로서, 회로의 특정 부분 ― 활성화 스위치를 식별하였다. 본 발명자들은, 활성화 스위치가 디바이스 성능, 및 궁극적으로 환자 건강에 악영향을 미치기 전에 잠재적 및 실제적 회로 결함들을 검출하고 방지하기 위한 초점인 회로의 부분으로서 활성화 스위치를 추가로 식별하였다.

[0009] 본원에 설명된 디바이스 및 방법들의 실시예들은 회로 결함들 및 결함들에 대한 프리커서(precursor)들을 액티브하게 찾아내고 검출하기 위한 수단을 제공함으로써 앞서 제기된 문제들을 처리한다. 예컨대 약 전달 전, 동안 또는 후에 디바이스의 전력이 온된 동안, 이용되는 수단은 디바이스 회로의 액티브 체크들을 수행하는 것을 포함한다. 본원에 설명된 디바이스 및 방법들의 일부 실시예들은, 거짓 전압 같은, 임의의 버튼 푸시 후 또는 버튼 푸시를 모사하는 임의의 이벤트 후 회로 결함들 및/또는 결함들에 대한 프리커서들의 액티브 검출을 제공한다. 일부 실시예들은 예컨대, 활성화 시퀀스에서 버튼 푸시들 사이, 약 전달 동안, 및 약 전달 시퀀스들 사이(즉, 하나의 도즈가 전달된 후 및 다른 도즈 전달의 개시 전)에, 회로 결함들 또는 결함들에 대한 프리커서들의 액티브 검출을 제공한다.

[00010] 일부 실시예들에서, 게다가, 디바이스의 사용 동안 액티브 테스팅은 디바이스 제조 동안 또는 디바이스 제조 다음 테스팅에 대한 것이다.

[00011] 따라서, 치료제를 포함하고 환자에게 전달하도록 적응된 하우징 및 컴포넌트들, 환자에게 치료제의 전달을 제어하기 위한 프로세서, 및 디바이스 동작 동안 하나 또는 그 초과의 결함들 및/또는 결함들에 대한 프리커서들을 검출하고, 그리고 결함 또는 결함에 대한 프리커서의 검출 시 디바이스를 디스에이블하기 위한 회로 및/또는 제어 로직을 포함할 수 있는, 치료제 전달 디바이스들, 이를테면 전계확산 디바이스(예컨대, 이온영동 디바이스)가 본원에 설명된다. 일부 실시예들에서, 디바이스는 이온영동 디바이스 또는 다른 전계확산 디바이스이다. 일부 실시예들에서, 디바이스는 디바이스가 결함 및/또는 결함에 대한 프리커서를 검출했다는 것을 환자 및/또는 간병인에게 경고하기 위한 알람을 더 포함한다. 일부 실시예들에서, 디바이스는 디바이스가 디스에이블된 것을 환자 및/또는 간병인에게 경고하기 위한 알람을 더 포함한다. 일부 실시예들에서, 알람들 중 어느 하나 또는 둘 모두는 청취가능 톤(또는 톤들), 적어도 하나의 시각적 표시기, 또는 이들의 둘 또는 그 초과의 결합 중 적어도 하나이다. 일부 실시예들에서, 치료제를 포함하고 환자에게 전달하기 위한 수단은 저장소들에 전류를 인가하고 그리고 환자의 외부 표면, 이를테면 피부를 가로질러 치료제를 액티브하게 수송하기 위하여 하나 또는 그 초과의 전극들에 연결된 하나 또는 그 초과의 치료제 저장소들을 포함한다. 일부 실시예들에서, 결함 또는 결함에 대한 프리커서를 검출하기 위한 수단은 스위치, 이를테면 활성화 스위치, 또는 다른 회로 컴포넌트, 이를테면 트레이스, 연결기, 전원, 집적 회로, 리드, 칩, 저항기, 캐패시터, 인덕터 또는 다른 회로 컴포넌트의 결함을 검출하도록 구성된다. 일부 실시예들에서, 치료제의 전달을 제어하기 위한 수단은 사전 프로그램되거나 프로그램 가능한 집적 회로 제어기, 이를테면 ASIC를 포함한다.

[00012] 일부 실시예들에서, 본원에 설명된 회로는 환자에게 치료제(약)의 전달을 위한 디바이스에 통합된다. 일부 실시예들에서, 디바이스는 환자-활성화 약 전달 디바이스이다. 일부 실시예들에서, 디바이스는 전계확산 약 전달 디바이스이다. 일부 실시예들에서, 디바이스는 이온영동 약 전달 디바이스이다. 일부 실시예들에서, 전달될 약은 오피오이드(opioid) 진통제이다. 일부 실시예들에서, 오피오이드 진통제는 펜타닐 또는 수펜타닐, 이를테면 펜타닐 염산염의 치료상 허용 가능 염이다.

[00013] 일부 실시예들에서, 본원에 설명된 방법들은 제어기, 특히 환자에게 치료제(약)의 전달을 위한 디바이스의 제어기를 포함하거나, 제어기로서 지칭될 수 있는 디바이스 프로세서에 의해 실행된다. 일부 실시예들에서, 방법들은 약 전달의 하나 또는 그 초과의 스테이지들 동안 ― 예컨대, 활성화 버튼의 푸시들 사이의 시간 기간 동안, 약의 전달 동안, 전달 시퀀스들 사이에서, 등에서 제어기에 의해 수행된다. 일부 바람직한 실시예들에서, 테스팅은 임의의 버튼 푸시 또는 버튼 푸시인 것으로 보이는 무언가 이후 수행된다. 특히 바람직한 실시예들에서, 방법들은 제어기의 액티브 제어하에 있고, 이는, 제어기가 예컨대 버튼 푸시 또는 버튼 푸시인 것으로 보이는 무언가 이후 회로 내 결함들 및 결함들에 대한 프리커서들의 검출을 개시한다는 것을 의미한다. 일부 실시예들에서, 결함 또는 결함에 대한 프리커서의 검출시, 제어기는 적당한 액션, 이를테면 결함 검출 플래그(flag)를 세팅, 이후 시간에서 리트리벌을 위하여 메모리에 결함 로깅(logging), 사용자 경고(이를테면 표시자 광 및/또는 청취가능 톤) 세팅, 및/또는 디바이스 디스에이블을 취한다. 이에 관하여, 그 전체가 본원에 통합된 McNichols 등에 의한 미국 특허 번호 제 7,027,859 호; 특히 컬럼 6, 라인 65 내지 컬럼 11, 라인 35에 설명된 결함의 검출시 디바이스를 디스에이블하기 위한 방법들은 구체적으로 회로를 디스에이블하기 위한 다양한 방식들을 교시하는 것으로서 인용에 의해 통합된다.

[00014] 본원에 설명된 것은 스위치 동작 디바이스들, 이를테면 약 전달 디바이스(예컨대, 약 전달 펌프 또는 이온영동 디바이스)이고, 약 전달 디바이스는 (a) 사용자에 의해 동작될 때 디바이스 제어기의 스위치 입력에 스위치 신호를 제공하는, 사용자에 의해 동작되도록 구성된 디바이스 스위치; (b) 스위치에 동작 가능하게 연결된 상기 스위치 입력을 가지며, 스위치로부터 스위치 신호를 수신하도록 구성된 디바이스 제어기 ― 디바이스 제어기는, 스위치 신호가 특정 미리 결정된 조건들을 충족할 때 디바이스를 작동시키고 스위치 무결성 테스트 서브회로로부터의 신호들을 제어 및 수신하도록 구성됨 ―; 및 (c) 스위치의 결함 또는 결함에 대한 프리커서를 검출하고 결함 신호를 제어기에 제공하도록 구성된 스위치 무결성 테스트 서브회로를 포함한다. 제어기가 스위치 무결성 테스트 서브회로로부터 결함 신호를 수신할 때, 제어기는, 결함 또는 결함에 대한 프리커서가 검출될 때 스위치 결함 서브루틴을 실행한다. 일부 실시예들에서, 스위치 무결성 테스트 서브회로는 스위치의 결함 또는 결함에 대한 프리커서를 체크 및 검출하도록 구성된다. 일부 실시예들에서, 스위치 무결성 테스트 서브회로는 오염, 단락 회로들(간헐적 단락 회로들 포함), 컴프로파이즈드(compromised) 회로 컴포넌트들(오기능 저항기들, 집적 회로 핀들, 및/또는 캐패시터들을 포함), 등 같은 적어도 하나의 결함 또는 결함에 대한 프리커서를 테스트 및 검출하도록 구성된다.

[00015] 일부 실시예들에서, 스위치 무결성 테스트 서브회로는 스위치 입력과 접지 또는 접지 초과 일부 중간 전압 사이의 전압(또는 전압 변화), 스위치 입력과 전압 풀 업(pull up) 또는 풀 업 전압 미만 일부 중간 전압 사이의 단락을 테스트 및 검출하도록 구성된다. 일부 바람직한 실시예들에서, 스위치 무결성 테스트 서브회로는 스위치 입력과 접지 또는 접지 초과 일부 중간 전압(저전압, V_L) 사이의 전압(또는 전압 변화), 및/또는 스위치 입력과 풀 업 전압 미만 일부 중간 전압(고전압, V_H) 사이의 단락을 테스트 및 검출하도록 구성된다. 따라서, 스위치 무결성 테스트 서브회로는 오염(예컨대, 습기 및/또는 입자들), 부식, 손상된 회로 저항기, 손상된 집적 회로 핀, 등을 표시하는 비-결정요인(determinant) 신호를 검출할 수 있다. 일부 실시예들에서, 스위치 결함 서브루틴은 사용자 경고 피처를 활성화하는 것, 결함들 또는 결함들에 대한 프리커서들의 로깅 검출, 디바이스 비활성화, 또는 이들의 하나 또는 그 초과의 결합들 중 적어도 하나를 포함한다. 일부 실시예들에서, 제어기는 스위치 입력에서 전압 또는 전압의 변화율을 측정하고 스위치 입력에서 전압 또는 전압 변화율이 하나 또는 그 초과의 미리 결정된 파라미터들을 충족하지 못할 때 스위치 결함 서브루틴을 실행하도록 구성된다. 일부 실시예들에서, 디바이스는 제 1 및 제 2 전극들 및 저장소들을 포함하는 이온영동 전달 디바이스이고, 저장소들 중 적어도 하나는 이온영동에 의해 전달될 치료제를 포함한다. 일부 실시예들에서, 디바이스를 활성화하기 위한 미리 결정된 조건들은 사용자가 미리 결정된 시간 기간 내에 적어도 2번 스위치를 활성화하는 것을 포함한다. 일부 실시예들에서, 스위치 입력은, 스위치가 개방될 때 고전압으로 풀 업되고 스위치 입력은 스위치가 폐쇄될 때 저전압이다.

[00016] 본원에 설명된 일부 실시예들은 스위치 동작 디바이스에서 스위치 결함 검출 방법을 제공하고, 상기 디바이스는: (a) 디바이스 제어기의 스위치 입력에 연결된 디바이스 스위치; (b) 상기 스위치 입력을 포함하는 디바이스 제어기; 및 (c) 스위치 무결성 테스트 서브회로를 포함하고, 상기 방법은 상기 제어기가, (i) 스위치 무결성 테스트 서브회로를 활성화고; (ii) 스위치 입력에서의 전압 조건을 검출하고; 그리고 (iii) 스위치 입력에서의 전압 조건이 하나 또는 그 초과의 미리 결정된 조건들을 충족하지 못하면 스위치 결함 서브루틴을 활성화하는 것을 포함한다. 일부 실시예들에서, 스위치 무결성 테스트 서브회로를 활성화하는 단계 및 스위치 입력에서 전압 조건을 검출하는 단계는 디바이스의 사용에 걸쳐 연속으로 또는 주기적으로 실행된다. 일부 실시예들에서, 스위치 결함 서브루틴은 예컨대 사용자 경고 피처를 활성화하거나, 결함들 또는 결함들에 대한 프리커서들의 검출을 로깅하거나, 디바이스를 비활성화하거나, 또는 이들의 하나 또는 그 초과의 결합들을 포함한다. 일부 실시예들에서, 전압 조건은, 전압, 전압 변화 또는 둘 모두이다. 일부 실시예들에서, 제어기는, 스위치 무결성이 동작 놈(norm)들 내에 있으면 전압이 영 또는 거의 영이어야 하는 조건들하에서 스위치 입력 전압을 검출하고, 그리고 전압이 영보다 상당히 높으면 스위치 결함 서브루틴을 활성화한다. 일부 실시예들에서, 제어기는, 스위치 무결성이 동작 놈들 내에 있으면 전압이 풀 업 전압이거나 거의 풀 업 전압과 같아야 하는 조건들하에서 스위치 입력 전압을 검출하고, 그리고 전압이 풀 업 전압보다 상당히 낮으면 스위치 결함 서브루틴을 활성화한다. 일부 실시예들에서, 제어기는 스위치 무결성이 동작 놈들 내에 있으면 미리 결정된 기간 내에서 이후 전압이 영 또는 거의 영으로 떨어지는 것으로 예상되는 조건들하에서 스위치 입력 전압의 변화를 검출하고, 그리고 미리 결정된 기간 내에서 전압이 영 또는 거의 영으로 떨어지지 않으면 스위치 결함 서브루틴을 활성화한다. 일부 실시예들에서, 제어기는 스위치 무결성이 동작 놈들 내에 있다면 미리 결정된 기간 내에서 전압이 풀 업 전압 또는 거의 풀 업 전압으로 상승하는 조건들하에서 스위치 입력 전압의 변화를 검출하고, 그리고 전압이 미리 결정된 기간 내에서 풀 업 전압 또는 거의 풀 업 전압으로 상승하지 않으면 스위치 결함 서브루틴을 활성화한다.

[00017] 본원에 설명된 일부 실시예들은 스위치 동작 이온영동 치료제 전달 디바이스를 제공하고, 상기 스위치 동작 이온영동 치료제 전달 디바이스는: (a) 전력 원; (b) 제 1 및 제 2 전극들 및 저장소들 ― 저장소들 중 적어도 하나는 치료제를 포함함 ―; (c) 디바이스 스위치 ― 디바이스 스위치는 사용자에 의해 동작될 때 디바이스 제어기의 스위치 입력에 스위치 신호를 제공하고, 디바이스 제어기는 스위치에 동작 가능하게 연결되는 상기 스위치 입력을 가지며, 이에 의해 제어기는 스위치로부터 스위치 신호를 수신하고, 디바이스 제어기는 환자에게 치료제를 전달하기 위한 전력을 제 1 및 제 2 전극들에 제공하는 전력 원에 동작 가능하게 연결됨 ―; 및 (d) 스위치의 결함을 검출하고 그리고 결함이 검출될 때 제어기로 하여금 스위치 결함 서브루틴을 실행하게 하도록 구성되는 스위치 무결성 테스트 서브회로를 포함한다. 일부 실시예들에서, 치료제는 본원에 설명된 바와 같은 오피오이드 진통제, 이를테면 펜타닐 또는 수펜타닐 또는 치료상 허용 가능한 염, 이의 유사물 또는 파생물이다.

[00018] 사용자 동작 이온영동 치료제 전달 디바이스에서 스위치 결함 검출 방법은 ― 상기 디바이스는 (a) 전력 원; (b) 제 1 및 제 2 전극들 및 저장소들 ― 상기 저장소들 중 적어도 하나는 치료제를 포함함 ―; (c) 디바이스 제어기의 스위치 입력에 연결된 디바이스 스위치; (d) 상기 스위치 입력을 포함하고 제 1 및 제 2 전극들로의 전력을 제어하도록 구성되고, 이에 의해 치료제의 전달을 제어하는 디바이스 제어기; 및 (e) 스위치 무결성 테스트 서브회로를 포함함 ―, 상기 제어기가: (i) 스위치 무결성 테스트 서브회로를 활성화하는 단계; 스위치 입력의 전압 조건을 검출하는 단계; 그리고 (ii) 스위치 입력의 전압 조건이 하나 또는 그 초과의 미리 결정된 조건들을 충족하지 못하면 스위치 결함 서브루틴을 활성화하는 단계를 포함한다. 일부 실시예들에서, 스위치 결함 서브루틴은 예컨대 사용자 경고를 활성하는 것, 디바이스를 비활성화하는 것, 또는 둘 모두를 포함한다.

[00019] 또한 약 전달 디바이스로부터 약의 도즈를 전달하기 위하여 사용자-활성화되는 것을 포함하는 스위치의 동작을 인증하는 방법들이 본원에 설명된다. 본원에 설명된 임의의 약 전달 디바이스들은 경피성 약 전달 디바이스들일 수 있다. (예컨대, 경피성) 약 전달 디바이스로부터 약의 도즈를 전달하기 위한 스위치(예컨대, 사용자-활성화 스위치)의 동작을 인증하는 방법은: 릴리스(release) 이벤트를 결정하기 위하여 스위치를 모니터링하는 단계; 릴리스 이벤트 다음 스위치의 디지털 인증을 수행하는 단계; 릴리스 이벤트 다음 스위치의 아날로그 인증을 수행하는 단계; 및 스위치의 아날로그 인증이 실패하면 약 전달 디바이스에 대해 실패 모드를 개시하는 단계를 포함할 수 있다.

[00020] 일반적으로, 스위치의 동작을 인증하도록 구성된 스위치 및 장치의 동작을 인증하는 방법들은 스위치를 모니터링할 때 버튼 샘플링을 포함할 수 있다. 예컨대, 스위치를 모니터링하는 단계는 일반적으로, 스위치 입력을 순차적으로 샘플링하는 단계, 순차적 샘플들의 윈도우를 저장하는 단계; 및 릴리스 이벤트를 검출하기 위하여 샘플들의 저장된 윈도우 내에서 복수의 더 최신 순차적 샘플들을 복수의 더 오래된 순차적 샘플들에 비교하는 단계를 포함할 수 있다. 순차적 샘플링은 정규적 간격들, 예컨대 매 1 ms, 2 ms, 3 ms, 4 ms, 5 ms, 6 ms, 7 ms, 8 ms, 9 ms, 10 ms 등에서 스위치에 대한 입력(예컨대, 스위치의 로우(low) 측 또는 하이(high) 측)을 주기적으로 샘플링하는 것을 지칭할 수 있다. 복수의 더 최신의 순차적 샘플들은 시간적으로 순차적으로 취해진 2 또는 그 초과, 3 또는 그 초과, 4 또는 그 초과, 5 또는 그 초과 등의 샘플들을 지칭할 수 있다. 저장된 순차적 샘플들의 윈도우는 샘플들의 롤링 윈도우를 저장하는 원형 버퍼일 수 있다(예컨대, 임의의 적당한 수의 샘플들이 저장될 수 있고, 가장 최근의 샘플은 연속적인 방식으로 가장 오래된 샘플을 대체함). 따라서, 일반적으로, 더 새로운 순차적 샘플들의 그룹은 더 오래된 순차적 샘플들의 그룹에 비교될 수 있고 그리고 상태 변화가 이루어지면(예컨대, 더 오래된 샘플들 모두가, 스위치가 폐쇄된 것을 표시하고, 그리고 더 새로운 샘플들 모두가 스위치가 개방된 것을 표시할 때), 릴리스 이벤트가 확인될 수 있다. 예컨대, 릴리스 이벤트를 결정하기 위하여 스위치를 모니터링하는 것은 스위치 입력을 순차적으로 샘플링하는 것, 순차적 샘플들의 윈도우를 저장하는 것, 및 예컨대 3 또는 그 초과의 최근 샘플들이 개방 스위치를 표시하고 3 또는 그 초과의 더 오래된 샘플들이 폐쇄 스위치를 표시할 때, 릴리스 이벤트를 검출하기 위하여 샘플들의 저장된 윈도우 내의 3 또는 그 초과의 최근의 순차적 샘플들을 3 또는 그 초과의 더 오래된 순차적 샘플들에 비교하는 것을 포함할 수 있다. 더 오래된 샘플들 및 더 최근의 샘플들은 일반적으로 오버랩핑하지 않는다.

[00021] 일반적으로, 앞서 논의된 바와 같이, 실패 모드는 디바이스의 동작을 중지하는 것, 디바이스를 셧 오프하는 것, 또는 디바이스를 재시작하는 것을 포함할 수 있다. 예컨대, 실패 모드는 약 전달 디바이스를 턴 오프하는 것, 및/또는 약 전달 디바이스를 잠그는 것(예컨대, 비활성화)(그러나 이들로 제한되지 않음)을 포함하여, 디바이스에 의한 약의 전달을 방지하는 것을 포함할 수 있다.

[00022] 일반적으로, 디지털 및 아날로그 인증 테스트들 둘 모두는 통상적으로 스위치가 "개방"(비활성화된) 상태에 있는 것으로 신뢰성 있게 예측되는 기간 동안, 스위치 상에서 수행될 수 있다. 비활성화된 상태는, 사용자가 하나(더 나은 것으로, 일련의) "푸시들" 또는 다른 활성화 입력" 직후 스위치를 더 빠르게 활성화하는 것이 불가능할 수 있기 때문에, 사용자 활성화 다음 가장 신뢰성있게 즉각적으로 또는 짧게(예컨대, 마이크로초 내지 밀리초 내) 알려진다. 따라서, 사용자가 기간 동안(예컨대, 약 8 μsec 내지 500 msec, 약 8 μsec 내지 400 msec, 약 8 μsec 내지 300 msec, 약 8 μsec 내지 200 msec 사이; 약 500 msec 미만, 약 400 msec 미만, 약 300 msec 미만, 약 200 msec 미만, 약 150 msec 미만, 약 100 msec 미만, 등), 다수 번, 예컨대 미리 결정된 활성화 기간 내에서 2번(예컨대, 연속적으로 2번 빠른 '클릭들') 버튼을 푸시(스위치를 활성화)하는 변동들에서, 사용자가 스위치를 유효하게 활성화하는 것은 가능하지 않을 것 같고, 그러므로 스위치의 상태는 개방 상태에 있어야 한다. 따라서, 아날로그 및 디지털 인증 둘 모두는 이 기간 내에서 수행될 수 있고, 이는 테스트 기간 또는 테스트 윈도우로서 지칭될 수 있다.

[00023] 스위치의 아날로그 인증은 통상적으로 스위치의 한 측 또는 양측들의 실제 전압 값을 결정하는 것 및 상기 값이 허용 가능한 파라미터들 내에 있는지를 확인하기 위하여 상기 값을 하나 또는 그 초과의 임계치들에 비교하는 것을 의미한다. 예컨대, 스위치의 아날로그 인증을 수행하는 것은, 디지털 인증이 통과하면 스위치의 아날로그 인증을 수행하는 것을 포함할 수 있다. 디지털 및 아날로그 인증의 어느 하나 또는 둘 모두는 도즈 스위치 회로를 사용하여 아날로그 인증을 수행하는 것을 포함할 수 있다. 도징 스위치 회로는 프로세서/제어기의 일부일 수 있다.

[00024] 일반적으로, 방법 또는 장치는 디지털 인증 및 아날로그 인증을 순차적으로 또는 병렬로 수행할 수 있다. 예컨대, 디지털 인증 단계는 아날로그 인증 단계 이전에 수행될 수 있고; 아날로그 인증 단계는 디지털 인증이 통과한 후에만(예컨대, 디지털 인증을 실패하지 않음) 수행될 수 있고; 약 전달 장치는, 스위치의 디지털 인증이 실패하면 재시작(예컨대, 버튼 샘플링 프로세스가 재시작될 수 있음)될 수 있다.

[00025] 디지털 인증은 일반적으로 전력원(예컨대, 배터리)으로부터 스위치로의 입력들에 기반하여 예상된 값들에 스위치의 한 측 또는 양 측들로부터의 디지털 인증 라인들의 로직 값들의 비교를 포함한다. 예컨대, 스위치의 제 1 측 상의 이차 디지털 입력이 스위치의 제 1 측 상의 일차 디지털 입력에 매칭하지 않거나, 스위치의 제 2 측 상의 이차 디지털 입력이 스위치의 제 2 측 상의 일차 디지털 입력에 매칭하지 않으면 디지털 인증은 "실패"할 수 있다(예컨대, 디지털 인증 실패). 일차 디지털 입력은 배터리 및 스위치의 하이 측에 연결된 제 1 입력 라인일 수 있고 이차 디지털 입력은 배터리(예컨대, 배터리의 음의 단자) 및 스위치의 로우 측에 연결된 제 2 입력 라인일 수 있다. 이차 디지털 입력 라인은 스위치의 하이 측 상에 또한 연결된 제 1 디지털 테스트 입력 라인일 수 있다. 유사하게, 아날로그 인증은 제 1 및 제 2 아날로그 입력 라인을 사용하여 수행될 수 있고; 제 1 아날로그 테스트 입력 라인은 스위치의 하이 측 상에 있을 수 있고 그리고 제 2 아날로그 테스트 입력 라인은 스위치의 로우 측 상에 있을 수 있다.

[00026] 디지털 인증을 수행하는 것은, 스위치의 하이 측 상의 이차 디지털 입력이 로우이거나 스위치의 로우 측 상의 이차 디지털 입력이 하이이면, 디지털 인증을 실패하는 것을 포함할 수 있다.

[00027] 아날로그 인증을 수행하는 것은, 하이 측 전압의 측정치가 약 전달 디바이스에 대한 배터리 전압의 제 1 미리 결정된 부분(예컨대, 90%, 85%, 80%, 75%, 70%, 65%, 등) 보다 작거나, 또는 로우 측 전압의 측정치가 배터리 전압의 제 2 미리 결정된 부분(예컨대, 90%, 85%, 80%, 75%, 70%, 65% 등)보다 크면 아날로그 인증을 실패하는 것을 포함할 수 있다. 예컨대, 아날로그 인증을 수행하는 것은, 하이 측 전압의 측정치가 약 전달 디바이스에 대한 배터리 전압의 약 0.8 배 미만이거나, 로우 측 전압의 측정치가 배터리 전압의 약 0.2 배 초과이면, 아날로그 인증을 실패하는 것을 포함할 수 있다. 아날로그 인증을 수행하는 것은 아날로그 투 디지털 컨버터(ADC)를 사용하여 하이 측 전압 및 로우 측 전압을 순차적으로 측정하는 것 및 하이 측 전압이 제 1 미리 결정된 임계치 미만이거나 로우 측 전압이 제 2 미리 결정된 임계치 초과이면 아날로그 인증을 실패하는 것을 포함할 수 있다.

[00028] 언급된 바와 같이, 스위치의 디지털 인증은 스위치의 아날로그 인증 전에 수행될 수 있다. 대안적으로, 스위치의 아날로그 인증은 스위치의 디지털 인증 전에 수행될 수 있다.

[00029] 일반적으로, 릴리스 이벤트는 미리 결정된 시간 기간 내에 스위치의 제 2 릴리스를 포함할 수 있다. 예컨대, 릴리스 이벤트는 약 400 msec, 300 msec, 200 msec, 100 msec 미만 등 내에서 스위치의 제 2 릴리스를 포함할 수 있다.

[00030] 예컨대, 스위치가 약 전달 디바이스로부터 약의 도즈를 전달하기 위하여 사용자-활성화되는, 스위치 동작을 인증하는 방법은: 릴리스 이벤트를 결정하기 위하여 스위치를 모니터링하는 단계; 도즈 스위치 회로를 사용하여 릴리스 이벤트 다음 스위치의 디지털 인증을 수행하고 스위치의 하이 측 상의 이차 디지털 입력이 로우이거나 스위치의 로우 측 상의 이차 디지털 입력이 하이이면 디지털 인증을 실패하는 단계; 디지털 인증이 통과하면 스위치의 아날로그 인증을 수행하고 하이 측 전압의 측정치가 약 전달 디바이스에 대한 배터리 전압의 제 1 미리 결정된 부분 미만이거나 로우 측 전압의 측정치가 배터리 전압의 제 2 미리 결정된 부분 초과이면 아날로그 인증을 실패하는 단계; 및 스위치의 아날로그 인증이 실패하면 약 전달 디바이스에 대해 실패 모드를 개시하는 단계를 포함할 수 있다.

[00031] 본원에 설명된 약 전달 디바이스들 중 임의의 디바이스는 약의 도즈를 전달하기 위하여 사용자-선택가능 활성화 스위치의 동작을 인증하도록 적응될 수 있다. 예컨대, 약 전달 디바이스는: 배터리 전압을 가지는 배터리; 약의 도즈를 전달하기 위하여 사용자에 의해 활성화되도록 구성된 스위치 ― 상기 스위치는 로우 전압 측 및 하이 전압 측을 가짐 ―; 하이 측 상의 제 1 입력 라인 및 로우 측 상의 제 2 입력 라인 ― 상기 제 1 및 제 2 입력 라인들은 배터리에 연결됨 ―; 하이 측 상의 제 1 아날로그 테스트 입력 라인 및 로우 측 상의 제 2 아날로그 테스트 입력 라인; 하이 측 상의 제 1 디지털 테스트 입력 라인 및 로우 측 상의 제 2 디지털 테스트 입력 라인; 및 스위치의 릴리스 이벤트 다음 스위치의 디지털 인증을 수행하고 그리고 릴리스 이벤트 다음 스위치의 아날로그 인증을 수행하도록 구성된 제어기를 포함할 수 있고, 제어기는, 스위치의 아날로그 인증이 실패하면 약 전달 디바이스의 실패 모드를 개시하도록 추가로 구성된다.

[00032] 일반적으로, 이들 디바이스들 중 임의의 디바이스는 스위치의 하이 전압 측 상의 입력 라인으로부터 복수의 순차적 샘플들을 저장하도록 구성된 원형 버퍼를 포함할 수 있고, 가장 새로운 샘플은 가장 오래된 샘플을 대체한다.

[00033] 추가로, 제어기는 스위치의 하이 전압 측 상의 입력 라인을 순차적으로 샘플링하고, 순차적 샘플들의 윈도우를 저장하고, 그리고 릴리스 이벤트를 검출하기 위하여 샘플들의 저장된 윈도우 내의 복수의 더 최근의 순차적 샘플들을 복수의 더 오래된 순차적 샘플들에 비교하도록 구성됨으로써 스위치 상에서 릴리스 이벤트를 결정하게 구성될 수 있다.

[00034] 제 1 및 제 2 아날로그 테스트 입력 라인들은 제어기에 연결될 수 있고, 그리고 추가로 제어기는, 제 1 아날로그 테스트 라인 상의 전압이 배터리 전압의 제 1 미리 결정된 부분 미만이거나 제 2 아날로그 테스트 라인 상의 전압이 배터리 전압의 제 2 미리 결정된 부분을 초과하면 아날로그 인증을 실패하도록 구성된다. 예컨대, 제 1 및 제 2 아날로그 테스트 입력 라인들은 제어기에 연결될 수 있고, 그리고 추가로 제어기는, 제 1 아날로그 테스트 라인 상의 전압이 배터리 전압의 약 0.8 배 미만이거나 제 2 아날로그 테스트 라인 상의 전압이 배터리 전압의 약 0.2 배를 초과하면 아날로그 인증을 실패하도록 구성된다.

[00035] 제 1 및 제 2 디지털 테스트 입력 라인들은 제어기에 연결될 수 있고, 제어기는, 제 1 디지털 테스트 입력 라인의 값이 제 1 입력 라인의 값에 매칭하지 않으면 또는 제 2 디지털 테스트 입력 라인의 값이 제 2 입력 라인의 값에 매칭하지 않으면 디지털 인증을 실패하도록 구성된다. 예컨대, 제 1 및 제 2 디지털 테스트 입력 라인들은 제어기에 연결될 수 있고, 제어기는, 제 1 디지털 입력 라인이 로우이거나 제 2 디지털 입력 라인이 하이이면 디지털 인증을 실패하도록 구성된다.

[00036] 제어기는 약 500 msec 미만(예컨대, 약 400 msec 미만, 약 300 msec 미만, 약 200 msec 미만, 약 100 msec 미만, 등) 내에서 스위치의 제 2 릴리스 다음 스위치의 아날로그 인증 및 스위치의 디지털 인증을 수행하도록 구성될 수 있다.

[00037] 예컨대, 약의 도즈를 전달하기 위하여 사용자-선택가능 활성화 스위치의 동작을 인증하도록 적응된 약 전달 디바이스는: 배터리 전압을 가진 배터리; 약의 도즈를 전달하기 위하여 사용자에 의해 활성화되도록 구성된 스위치 ― 스위치는 로우 전압 측 및 하이 전압 측을 가짐 ―; 하이 측 상의 제 1 입력 라인 및 로우 측 상의 제 2 입력 라인 ― 제 1 및 제 2 입력 라인들은 배터리에 연결됨 ―; 하이 측 상의 제 1 아날로그 테스트 입력 라인 및 로우 측 상의 제 2 아날로그 테스트 입력 라인 ― 제 1 및 제 2 아날로그 테스트 입력 라인들은 제어기에 연결됨 ―; 및 하이 측 상의 제 1 디지털 테스트 입력 라인 및 로우 측 상의 제 2 디지털 테스트 입력 라인을 포함할 수 있고, 제 1 및 제 2 디지털 테스트 입력 라인들은 제어기에 연결되고; 제어기는 상기 스위치의 디지털 인증 다음, 미리 결정된 시간 기간 내에서 스위치의 제 2 릴리스를 수행하고, 그리고 미리 결정된 시간 기간 내에서 스위치의 제 2 릴리스 다음 스위치의 아날로그 인증을 수행하고, 추가로 제어기는, 제 1 아날로그 테스트 라인 상의 전압이 배터리 전압의 제 1 미리 결정된 부분 미만이거나 제 2 아날로그 테스트 라인 상의 전압이 배터리 전압의 제 2 미리 결정된 부분 초과이면 아날로그 인증을 실패하고, 그리고 제 1 디지털 입력 라인이 로우이거나 제 2 디지털 입력 라인이 하이이면 디지털 인증을 실패하도록 구성되고; 그리고 제어기는, 스위치의 아날로그 인증이 실패하면 약 전달 디바이스에 대해 실패 모드를 개시한다.

[00038] 예컨대, 본원에 설명된 장치들 중 임의의 장치는 디지털 및 아날로그 인증 둘 모두를 사용하여 약의 도즈를 전달하기 위하여 사용자-선택가능 활성화 스위치의 동작을 인증하도록 적응된 이온영동 약 전달 디바이스들인 바와 같이 구성될 수 있다. 이들 이온영동 약 전달 디바이스들은 펜타닐 또는 수펜타닐의 전달을 위해 구성(및 특히 사용 가능)될 수 있다. 이온 영동 약 전달 디바이스는: 배터리 전압을 가지는 배터리; 약의 도즈를 전달하기 위하여 사용자에 의해 활성화되도록 구성된 스위치 ― 상기 스위치는 로우 전압 측 및 하이 전압 측을 가짐 ―; 하이 측 상의 제 1 입력 라인 및 로우 측 상의 제 2 입력 라인 ― 상기 제 1 및 제 2 입력 라인들은 배터리에 연결됨 ―; 하이 측 상의 제 1 아날로그 테스트 입력 라인 및 로우 측 상의 제 2 아날로그 테스트 입력 라인; 하이 측 상의 제 1 디지털 테스트 입력 라인 및 로우 측 상의 제 2 디지털 테스트 입력 라인; 스위치의 릴리스 이벤트 다음 스위치의 디지털 인증을 수행하고 그리고 릴리스 이벤트 다음 스위치의 아날로그 인증을 수행하도록 구성된 제어기를 포함할 수 있고, 제어기는, 스위치의 아날로그 인증이 실패하면 약 전달 디바이스의 실패 모드를 개시하도록 추가로 구성된다.

[00039] 본원에 설명된 장치들(예컨대, 이온영동 디바이스들) 중 임의의 장치는 스위치의 하이 전압 측 상의 입력 라인으로부터 복수의 순차적 샘플들을 저장하도록 구성된 원형 버퍼를 포함할 수 있고, 가장 새로운 샘플은 가장 오래된 샘플을 대체한다. 즉, 제어기는 스위치의 하이 측을 샘플링 및 분석하고 하이 측이 로우(프레스 이벤트를 표시함)로 가고 그 다음 하이(릴리스 이벤트를 표시함)로 리턴할 때 인증을 시작할 수 있다.

[00040] 본원에 설명된 제어기들 중 임의의 제어기는 스위치의 하이 전압 측 상의 입력 라인을 순차적으로 샘플링하고, 순차적 샘플들의 윈도우를 저장하고, 그리고 릴리스 이벤트를 검출하기 위하여 샘플들의 저장된 윈도우 내의 복수의 더 최근의 순차적 샘플들을 복수의 더 오래된 순차적 샘플들에 비교하도록 구성될 수 있다. '릴리스 이벤트'를 검출하는 것은 앞선 '프레스 이벤트'를 검출하는 것을 포함할 수 있다.

[00041] 본원에 설명된 장치들 중 임의의 장치에서, 제 1 및 제 2 아날로그 테스트 입력 라인들은 제어기에 연결될 수 있고, 그리고 제어기는, 제 1 아날로그 테스트 라인 상의 전압이 배터리 전압의 제 1 미리 결정된 부분 미만이거나 제 2 아날로그 테스트 상의 전압이 배터리 전압의 제 2 미리 결정된 부분을 초과하면 아날로그 인증을 실패하도록 구성될 수 있다. 제 1 항의 디바이스에서, 제 1 및 제 2 아날로그 테스트 입력 라인들은 제어기에 연결될 수 있고, 그리고 추가로 제어기는, 제 1 아날로그 테스트 라인 상의 전압이 배터리 전압의 약 0.8 배 미만이거나 제 2 아날로그 테스트 상의 전압이 배터리 전압의 약 0.2 배를 초과하면 아날로그 인증을 실패하도록 구성된다. 예컨대, 제 1 및 제 2 디지털 테스트 입력 라인들은 제어기에 연결될 수 있고, 제어기는, 제 1 디지털 테스트 입력 라인의 값이 제 1 입력 라인의 값에 매칭하지 않으면 또는 제 2 디지털 테스트 입력 라인의 값이 제 2 입력 라인의 값에 매칭하지 않으면 디지털 인증을 실패하도록 구성될 수 있다. 제 1 및 제 2 디지털 테스트 입력 라인들은 제어기에 연결될 수 있고, 제어기는, 제 1 디지털 입력 라인이 로우이거나 제 2 디지털 입력 라인이 하이이면 디지털 인증을 실패하도록 구성될 수 있다.

[00042] 제어기는 약 100 msec 미만 내에서 스위치의 제 2 릴리스 다음 스위치의 아날로그 인증 및 스위치의 디지털 인증을 수행하도록 추가로 구성될 수 있다.

[00043] 디지털 및 아날로그 인증 둘 모두를 사용하여 약의 도즈를 전달하기 위하여 사용자-선택가능 활성화 스위치의 동작을 인증하도록 적응된 이온영동 약 전달 디바이스는: 배터리 전압을 가진 배터리; 약의 도즈를 전달하기 위하여 사용자에 의해 활성화되도록 구성된 스위치 ― 스위치는 로우 전압 측 및 하이 전압 측을 가짐 ―; 하이 측 상의 제 1 입력 라인 및 로우 측 상의 제 2 입력 라인 ― 제 1 및 제 2 입력 라인들은 배터리에 연결됨 ―; 하이 측 상의 제 1 아날로그 테스트 입력 라인 및 로우 측 상의 제 2 아날로그 테스트 입력 라인 ― 제 1 및 제 2 아날로그 테스트 입력 라인들은 제어기에 연결됨 ―; 및 하이 측 상의 제 1 디지털 테스트 입력 라인 및 로우 측 상의 제 2 디지털 테스트 입력 라인을 포함할 수 있고, 제 1 및 제 2 디지털 테스트 입력 라인들은 제어기에 연결되고; 제어기는 스위치의 디지털 인증 다음, 미리 결정된 시간 기간 내에서 스위치의 제 2 릴리스를 수행하고, 그리고 미리 결정된 시간 기간 내에서 스위치의 제 2 릴리스 다음 스위치의 아날로그 인증을 수행하고, 추가로 제어기는, 제 1 아날로그 테스트 라인 상의 전압이 배터리 전압의 제 1 미리 결정된 부분 미만이거나 제 2 아날로그 테스트 라인 상의 전압이 배터리 전압의 제 2 미리 결정된 부분 초과이면 아날로그 인증을 실패하고, 그리고 제 1 디지털 입력 라인이 로우이거나 제 2 디지털 입력 라인이 하이이면 디지털 인증을 실패하도록 구성되고; 그리고 제어기는, 스위치의 아날로그 인증이 실패하면 약 전달 디바이스에 대해 실패 모드를 개시한다.

[00044] 본원에 설명된 방법들 중 임의의 방법은 디지털 및 아날로그 인증 둘 모두를 사용하여 이온영동 디바이스의 스위치의 동작을 인증하는 방법들일 수 있고, 스위치는 약 전달 디바이스로부터 약(예컨대, 펜타닐 또는 수펜타닐)의 도즈를 전달하도록 사용자-활성화된다. 예컨대, 이들 방법들 중 임의의 방법은 펜타닐 또는 수펜타닐의 이온영동 전달을 위하여 디지털 및 아날로그 인증 둘 다를 사용하여 이온영동 디바이스의 스위치의 동작을 인증하는 방법들일 수 있다. 그런 방법들은: 릴리스 이벤트를 결정하기 위하여 스위치를 모니터링하는 단계; 도즈 스위치 회로를 사용하여 릴리스 이벤트 다음 스위치의 디지털 인증을 수행하고 스위치의 하이 측 상의 이차 디지털 입력이 로우이거나 스위치의 로우 측 상의 이차 디지털 입력이 하이이면 디지털 인증을 실패하는 단계; 디지털 인증이 통과하면 스위치의 아날로그 인증을 수행하고 하이 측 전압의 측정치가 약 전달 디바이스에 대한 배터리 전압의 제 1 미리 결정된 부분 미만이거나 로우 측 전압의 측정치가 배터리 전압의 제 2 미리 결정된 부분 초과이면 아날로그 인증을 실패하는 단계; 및 스위치의 아날로그 인증이 실패하면 약 전달 디바이스에 대해 실패 모드를 개시하는 단계를 포함할 수 있다.

[00045] 이들 방법들 중 임의의 방법에서, 스위치를 모니터링하는 단계는, 스위치 입력을 순차적으로 샘플링하는 단계, 순차적 샘플들의 윈도우를 저장하는 단계; 및 릴리스 이벤트를 검출하기 위하여 샘플들의 저장된 윈도우 내에서 복수의 더 최신 순차적 샘플들을 복수의 더 오래된 순차적 샘플들에 비교하는 단계를 포함할 수 있다. 스위치를 모니터링하는 단계는, 스위치 입력을 순차적으로 샘플링하는 단계, 순차적 샘플들의 윈도우를 저장하는 단계; 및 릴리스 이벤트를 검출하기 위하여 샘플들의 저장된 윈도우 내에서 3 또는 그 초과의 더 최신 순차적 샘플들을 3 또는 그 초과의 더 오래된 순차적 샘플들에 비교하는 단계를 포함할 수 있다. 앞서 논의된 바와 같이, 실패 모드를 개시하는 단계는 전달 디바이스를 턴 오프하는 단계, 및/또는 전달 디바이스를 비활성화하는 단계를 포함할 수 있다. 추가로, 이들 방법들 중 임의의 방법은, 스위치의 디지털 인증이 실패하면 약 전달 디바이스의 버튼 샘플링 프로세스를 재시작하는 단계를 포함할 수 있다.

[00046] 디지털 인증을 수행하는 단계는, 스위치의 제 1 측 상의 이차 디지털 입력이 스위치의 제 1 측 상의 일차 디지털 입력에 매칭하지 않거나, 스위치의 제 2 측 상의 이차 디지털 입력이 스위치의 제 2 측 상의 일차 디지털 입력에 매칭하지 않으면 디지털 인증을 실패하는 단계; 및/또는 하이 측 전압의 측정치가 약 전달 디바이스에 대한 배터리 전압의 약 0.8 배 미만이거나, 로우 측 전압의 측정치가 배터리 전압의 약 0.2 배 초과이면 아날로그 인증을 실패하는 단계를 포함할 수 있다. 아날로그 인증을 수행하는 것은 아날로그 투 디지털 컨버터(ADC)를 사용하여 하이 측 전압 및 로우 측 전압을 순차적으로 측정하는 것 및 하이 측 전압이 제 1 미리 결정된 임계치 미만이거나 로우 측 전압이 제 2 미리 결정된 임계치 초과이면 아날로그 인증을 실패하는 것을 포함할 수 있다.

[00047] 일반적으로, 릴리스 이벤트는 미리 결정된 시간 기간 내에 스위치의 제 2 릴리스를 포함할 수 있다. 예컨대, 릴리스 이벤트는 약 100 msec 미만 내에서 스위치의 제 2 릴리스를 포함할 수 있다.

[00048] 이 명세서에 언급된 모든 공개물들 및 특허 출원들은, 마치 각각의 개별 공개물 또는 특허 출원이 구체적으로 및 개별적으로 인용에 의해 포함되도록 표시된 것과 동일한 범위로 그 전체가 인용에 의해 본원에 포함된다.

[00049] 본 발명의 새로운 피처(feature)들은 특히 첨부된 청구항들에서 설명된다. 본 발명의 피처들 및 장점들의 더 나은 이해는 본 발명의 원리들이 활용되는 예시적 실시예들 및 이의 첨부 도면들을 설명하는 다음 상세한 기술을 참조하여 얻어질 것이다.
[00050] 도 1은 예시적 치료제 전달 시스템을 예시한다.
[00051] 도 2는 이온영동 치료제 전달 메커니즘의 실시예를 도시한다.
[00052] 도 3은 활성화 스위치에 연결된 제어기의 예시적 실시예를 도시한다.
[00053] 도 4는 활성화 시퀀스의 예시적 타이밍을 도시한다.
[00054] 도 5는 치료제 전달 디바이스가 스위치 무결성 테스팅을 가지는 예시적 실시예이다.
[00055] 도 6은 치료제 전달 디바이스가 스위치 무결성 테스팅을 가지는 예시적 실시예이다.
[00056] 도 7은 스위치 무결성 테스팅을 가진 활성화 시퀀스의 예시적 타이밍을 도시한다.
[00057] 도 8은 짧은 간격 스위치 접지 무결성 테스트 동안 치료제 전달 디바이스(500)의 등가 회로 구성을 도시한다.
[00058] 도 9는 짧은 간격 스위치 접지 무결성 테스트 동안 시그널링을 도시한다.
[00059] 도 10은 짧은 간격 전력 스위치 무결성 테스트 동안 치료제 전달 디바이스(500)의 등가 회로 구성을 도시한다.
[00060] 도 11은 짧은 간격 전력 스위치 무결성 테스트 동안 시그널링을 도시한다.
[00061] 도 12는 긴 간격 아날로그 스위치 접지 무결성 테스트 동안 치료제 전달 디바이스(500)의 등가 회로 구성을 도시한다.
[00062] 도 13은 긴 간격 아날로그 스위치 접지 무결성 테스트 동안 시그널링을 도시한다.
[00063] 도 14는 긴 간격 아날로그 전력 스위치 무결성 테스트 동안 치료제 전달 디바이스(500)의 등가 회로 구성을 도시한다.
[00064] 도 15는 긴 간격 아날로그 전력 스위치 무결성 테스트 동안 시그널링을 도시한다.
[00065] 도 16은 스위치 무결성 테스팅을 가지는 치료제 전달 디바이스의 실시예의 도징 동작의 흐름도를 도시한다.
[00066] 도 17은 스위치 무결성 테스팅 프로세스의 예시적 실시예를 도시한다.
[00067] 도 18a는 디지털 및 아날로그 인증 둘 모두를 수행하기 위한 스위치 및 제어 회로의 일 변형의 개략 예시를 도시한다.
[00068] 도 18b는 도 18a의 예로부터 노드들의 연결들을 설명하는 표이다.
[00069] 도 19a, 19b 및 19c는, 아날로그 및 디지털 스위치 인증 둘 모두가 제 2 수동 스위치 활성화 직후 미리 결정된 시간 기간 내에서 수행되는 장치 또는 방법에 대한 도즈 스위치 활성화 시퀀스들의 타이밍의 변형들을 예시한다. 도 19a, 19b 및 19c는 각각 아날로그 스위치 인증 다음 디지털 스위치 인증, 디지털 스위치 인증 다음 아날로그 인증 및 동시의 아날로그 및 디지털 스위치 인증을 도시한다.

[00070] 본원에 설명된 실시예들은 디바이스들, 이를테면 약 전달 디바이스들, 및 보다 구체적으로 이온영동 약 전달 디바이스들의 결함들 및 결함들에 대한 프리커서들을 액티브하게 검출하기 위한 회로 및 방법들을 제공한다.

[00071] 일부 실시예들에서, 스위치 동작 디바이스, 이를테면 약 전달 디바이스(예컨대, 약 전달 펌프, 전계확산 디바이스 또는 이온영동 디바이스)가 제공된다. 디바이스는 (a) 사용자에 의해 동작될 때 디바이스 제어기의 스위치 입력에 스위치 신호를 제공하는, 사용자에 의해 동작되도록 구성된 디바이스 스위치; (b) 스위치에 동작 가능하게 연결된 상기 스위치 입력을 가지며, 스위치로부터 스위치 신호를 수신하도록 구성된 디바이스 제어기 ― 디바이스 제어기는, 스위치 신호가 특정 미리 결정된 조건들을 충족할 때 디바이스를 활성화하도록 구성됨 ―; 및 (c) 스위치의 결함 또는 결함에 대한 프리커서를 검출하도록 구성된 스위치 무결성 테스트 서브회로를 포함하고, 이에 의해 제어기는 결함 또는 결함에 대한 프리커서가 검출될 때 스위치 결함 서브루틴을 실행한다. 디바이스가 이온영동 약 전달 디바이스일 때, 디바이스는 다른 회로 컴포넌트들, 이를테면 전극들, 또한 액티브 저장소들이라 불리는 하나 또는 그 초과의 약 및 환자 입력에 응답하여 환자에게 약을 전달할 수 있는 하나 또는 그 초과의 반대 이온 저장소들을 더 포함한다. 이온영동이 잘-특성화되고 예컨대 US 7027859 호에 상세히 설명되지만, 이온영동 약 전달 디바이스(이온영동 디바이스들)는 아래에 예시된다.

[00072] 일부 실시예들에서, 스위치 무결성 테스트 서브회로는 스위치 또는 연결 회로의 결함 또는 결함에 대한 프리커서를 체크 및 검출하도록 구성된다. 일부 바람직한 실시예들에서, 결함 또는 결함에 대한 프리커서를 체킹하는 동작은, 회로 및 이의 컴포넌트들이 결함들 또는 결함들에 대한 프리커서들이 없으면, 미리 결정된 파라미터들 내에 속하는 것으로 예상되는 회로의 응답(예컨대, 전압 변화, 전류 변화)을 유발하도록 회로 조건을 세팅하는 것을 포함한다. 일부 실시예들에서, 스위치 무결성 테스트 서브회로는 오염, 단락들(간헐적 단락 회로들 포함), 컴프로마이즈드 회로 컴포넌트들(오기능 저항기들, 집적 회로 핀들 또는 인터페이스들, 및/또는 캐패시터들을 포함) 등으로 이루어진 그룹으로부터 선택된 그룹의 멤버 같은 적어도 하나의 결함 또는 결함에 대한 프리커서를 테스트 및 검출하도록 구성된다. 본원에 설명된 디바이스 및 방법들의 장점들 중에서, 결함들에 대한 프리커서들이 디바이스로 하여금 환자 편안함, 안전성 및/또는 준수를 위태롭게 하기 위해 오기능을 유발하는 그런 방식으로 나타나기 전에 결함들에 대한 프리커서들을 검출 및 응답하기 위한 능력이 언급될 수 있다. 디바이스 및 방법들의 이런 양상은 본원에 더 상세히 설명되지만, 미리 결정된 정상 회로 특성들로부터 회로 특성들의 미묘한 편차들을 액티브하게 테스트 및 검출하기 위한 능력을 포함한다.

[00073] 일부 실시예들에서, 스위치 무결성 테스트 서브회로는 스위치 입력과 접지 또는 접지 초과 일부 중간 전압(저전압, V_L) 사이의 단락, 스위치 입력과 전압 풀 업 또는 풀 업 전압 미만 일부 중간 전압(고전압, V_H) 사이의 단락 사이에서 전압 또는 전압 변화를 테스트 및 검출하도록 구성된다. 일부 바람직한 실시예들에서, 스위치 무결성 테스트 서브회로는 스위치 입력과 접지 초과의 일부 중간 전압(저전압, V_L) 사이의 단락 및/또는 스위치 입력과 풀 업 전압(고전압, V_H) 미만의 중간 전압 사이의 단락 사이에서 전압 또는 전압 변화를 테스트 및 검출하도록 구성된다. 따라서, 스위치 무결성 테스트 서브회로는 손상된 회로 저항기, 오염(예컨대, 습기, 입자들), 부식 및/또는 손상된 집적 회로 핀 또는 집적 회로 인터페이스들, 등을 테스트 및 검출하도록 구성된다. 특히 실시예들에서, 스위치 무결성 테스트 서브회로는 제어기 및 제어기의 제어 하에서 부가적인 회로 컴포넌트들을 포함하고, 상기 제어기는 회로에 특정 효과들을 유발하도록 특정 상태들로 두어질 수 있다. 제어기가 회로 컴포넌트들을 이들 미리 결정된 상태들로 둘 때 발생하는 효과들을 검출하고 그리고 그 효과들을 디바이스에 대해 정상으로 고려되는 효과들에 비교함으로써, 제어기는 디바이스 회로의 결함들 및 결함들에 대한 프리커서들을 검출할 수 있다. 결함들에 대한 프리커서들의 효과들이 환자에 의해 경험되도록 나타나기 전에 결함들에 대한 프리커서들이 검출될 수 있는 것이 본 인스턴트 디바이스 및 방법들의 특정 장점이다.

[00074] 스위치 무결성 테스트 서브회로가 결함 또는 결함에 대한 프리커서를 검출할 때, 결함 신호를 제어기에 제공하고, 이는 차례로 예컨대 사용자 경고 피처를 활성화하는 것, 결함들 또는 결함들에 대한 프리커서들의 검출을 로깅하는 것, 디바이스를 비활성화하는 것, 또는 이들의 하나 또는 그 초과의 결합들 중 적어도 하나를 포함하는 스위치 결함 서브루틴을 실행시킨다. 사용자 경고 피처는, 시스템의 동작이 위태롭다고 고려되는 것을 사용자에게 경고하기 위한 다양한 수단을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 디바이스가 결함들에 대한 프리커서들을 검출하도록 구성되기 때문에, 디바이스는, 환자에 의해 경험될 효과를 유발할 결함이 검출되기 전에도 사용자 경고를 활성화할 수 있다. 사용자 경고는 표시자 광, 이를테면 컬러 발광 다이오드(LED), 청취가능 톤(이를테면 반복하는 "비프(beep)"), 판독가능 디스플레이(이를테면 액정 디스플레이(LCD)), 다른 사용자 관찰가능 표시자(이를테면 환자, 간병인 또는 둘 모두에 의해 관찰 가능한 디바이스에 전송된 텍스트 메시지, 이메일, 음성메일, 또는 다른 전자 메시지), 또는 이들의 둘 도는 그 초과의 결합들일 수 있다.

[00075] 본원에 사용된 바와 같이, 다르게 정의되거나 제한되지 않으면, 용어 "때"는, 후속 이벤트가 동시에 발생하거나 프리디케이트(predicate) 이벤트 이후 일부 시간에서 발생하는 것을 표시한다. 명확성 때문에, "스위치 무결성 테스트 서브회로가 결함 또는 결함에 대한 프리커서를 검출하고, 이것이 결함 신호를 제어기에 제공하고, 차례로 스위치 결함 서브루틴을 실행시키는 …"은, 스위치 결함 서브루틴을 실행하는 후속 동작이 결함 또는 결함에 대한 프리커서의 프리디케이트 이벤트의 결과(예컨대, 일부 시간에서, 또는 그 후의 일부 시간에서)로서 발생하는 것을 표시하도록 의도된다. 용어 "때"는, 다르게 표시되지 않으면 본 개시 전체에 걸쳐 유사한 효과를 가지는 것으로 의도된다.

[00076] 일부 실시예들에서, 제어기는 또한 메모리, 이를테면 플래시 메모리에 결함들 또는 결함들에 대한 프리커서들의 검출을 로깅할 수 있다. 일부 그런 실시예들에서, 제어기는 특정 타입의 결함을 검출하고, 이를 결함 코드에 할당하고, 그리고 추후 시간에 리트리벌을 위하여 결함 코드를 메모리에 기록한다. 예컨대, 제어기는 다음 조건들 중 하나를 검출 및 기록할 수 있다: 고전압이 정상 동작 회로에 대해 예상될 포인트 및 조건들하에서의 저전압; 정상 동작 회로에 대해 예상된 전압보다 높거나 낮은 포인트 및 조건들하에서의 전압; 정상 동작 회로에 대해 예상된 것보다 더 길거나 더 짧은 전압 상승 시간; 정상 동작 회로에 대해 예상된 것보다 더 길거나 더 짧은 전압 하강 시간; 또는 둘 또는 그 초과의 이의 결합들.

[00077] 일부 실시예들에서, 스위치 결함 서브루틴은 디바이스를 비활성화하는 것을 포함한다. 예컨대 약 전달 회로로부터 전압 공급을 비가역적으로 분리하고, 전력 전지를 접지에 단락하고, 회로 내 용융 가능 링크를 용융시키는 것 등으로써 디바이스를 비활성화하는 방법들은 알려져 있다. 일부 실시예들에서, 인용에 의해 본원에 포함된 미국 특허 번호 제 7,027,859 호에 이용된 회로 및 방법들, 특히 미국 특허 번호 제 7,027,859 호의 컬럼 6의 라인 65와 컬럼 8의 라인 12 사이에서 나열된 것들(및 첨부 도면들)은, 제어기가 미리 결정된 파라미터 외측인 전압 또는 전류, 또는 이들의 변화를 검출할 때 회로를 디스에이블하도록 적응될 수 있다.

[00078] 일부 바람직한 실시예들에서, 본원에 교시된 디바이스들 및 방법들은 사용자 경고 피처를 활성화(예컨대, 광 및/또는 청취가능 사운드 활성화), 검출된 결함 또는 결함에 대한 프리커서 로깅, 및/또는 디바이스 비활성화의 기능들 중 둘 또는 그 초과를 수행할 수 있을 것이다. 일부 바람직한 실시예들에서, 본원에 교시된 디바이스들 및 방법들은 사용자 경고 피처를 활성화, 디바이스를 비활성화 및 검출된 결함 또는 결함에 대한 프리커서를 선택적으로 로깅할 수 있다.

[00079] 일부 실시예들에서, 제어기는 스위치 입력에서 전압 또는 전압의 변화율을 측정하고 스위치 입력에서 전압 또는 전압 변화율이 하나 또는 그 초과의 미리 결정된 파라미터들을 충족하지 못할 때 스위치 결함 서브루틴을 실행하도록 구성된다. 일부 실시예들에서, 디바이스는 제 1 및 제 2 전극들 및 저장소들을 포함하는 이온영동 전달 디바이스이고, 저장소들 중 적어도 하나는 이온영동에 의해 전달될 치료제를 포함한다. 용어들 "더 높은" 및 "더 낮은"이 상대적인 것이 이해될 것이다. 특히 디바이스가 결함들에 대한 프리커서들을 검출 및 반응할 수 있는 실시예들에서, 용어들 "더 높은" 및 "더 낮은"은 예상된 값들보다 10%, 5%, 2% 또는 1% 작은 편차들을 표현할 수 있다. 예컨대, 전압들의 측면들에서, 예상된 것보다 높은 전압은 테스트되는 포인트들 및 조건들하에서 예상된 공칭 전압보다 10-200 mV, 10-100 mV, 10-50 mV, 20-200 mV, 20-100 mV, 20-50 mV, 50-200 mV, 50-100 mV, 또는 100-200 mV 더 클 수 있다. 특히, "더 높은" 전압은 테스트되는 조건들하에서 동일한 포인트에서 예상된 것보다 10 mV, 20 mV, 50 mV, 75 mV, 100 mV, 125 mV, 150 mV, 175 mV, 200 mV 또는 250 mV보다 더 클 수 있다. 또한, 전압들의 측면들에서, 예상된 것보다 낮은 전압은 테스트되는 포인트들 및 조건들하에서 예상된 전압보다 적어도 10-200 mV, 10-100 mV, 10-50 mV, 20-200 mV, 20-100 mV, 20-50 mV, 50-200 mV, 50-100 mV, 또는 100-200 mV 더 낮을 수 있다. 특히, "더 낮은" 전압은 테스트되는 조건들하에서 동일한 포인트에서 예상된 것보다 적어도 10 mV, 20 mV, 50 mV, 75 mV, 100 mV, 125 mV, 150 mV, 175 mV, 200 mV 또는 250 mV보다 작을 수 있다. 전압 상승 및 하강 시간들은 예상된 전압 상태를 달성하기 위하여 테스트되는 조건하의 포인트에 대해 필요한 시간 양(예컨대, ms 또는 μs에서 측정됨)으로 특성화될 수 있다. 상승 또는 하강 시간들의 측면에서, 예상된 상승 또는 하강 시간으로부터 상승 또는 하강 시간의 차이는 특정 조건들하에서 테스트되는 포인트에 따라, 1 ms 만큼 작거나 20 ms보다 큰, 예컨대 1, 2, 5, 10, 12.5, 15 또는 20 ms일 수 있다. 전압 및 전류 상승 시간들은 또한 2개의 선택된 시점들 사이의 전압 또는 전류의 변화를 측정하고 그리고 이를, 테스트되는 포인트 및 조건하에서 정상 동작 회로에 대해 예상된 전압 또는 전류의 변화에 비교함으로써 특성화될 수 있다.

[00080] 일부 바람직한 실시예들에서, 디바이스는 회로 상태들(전압들이든, 전류들이든, 전압 변화들이든 또는 전류 변화들이든)의 미묘한 차이들을 검출할 수 있다. 이들 미묘한 변화들은, 회로 기판이 하나 또는 그 초과의 오염물들로 오염되었거나, 회로 컴포넌트들 사이에서 간헐적 단락들을 경험하는 중이거나, 하나 또는 그 초과의 컴프로마이즈드 회로 컴포넌트들을 가지거나, 또는 이들의 결합들을 가지는 것을 표시할 수 있다. 그런 실시예들은, 결함들에 대한 프리커서들이 약의 전달에 영향을 받을 수 있는 회로 결함들로서 나타나기 전에 및 특히 결함들에 대한 프리커서들이 환자에 의해 인식되거나 영향을 받기 전에 디바이스로 하여금 결함들에 대한 프리커서들을 식별하게 한다.

[00081] 일부 실시예들에서, 디바이스를 활성화하기 위한 미리 결정된 조건들은 사용자가 미리 결정된 시간 기간 내에 적어도 2번 스위치를 활성화하는 것을 포함한다. 이런 피처는 디바이스로 하여금 사용자(환자 또는 간병인, 바람직하게 화자)에 의한 스위치의 목적 있는 활성화와 거짓 또는 우연한 버튼 푸시들, 예컨대 선적 또는 저장 동안 발생하는 것들, 오염으로부터 발생하는 것들, 또는 디바이스가 환자에게 적용된 후 환자에 디바이스의 배치 동안 또는 환자의 이동 동안 우연히 발생하는 것들 사이를 구별하게 한다. 다수의 버튼 푸시들 등에 의한 스위치의 활성화는 본원의 도면들을 참조하여 설명된다. 버튼 푸시들 ― 통상적으로 적어도 몇백 밀리초(ms) 정도임 ― 사이의 시간은, 디바이스 제어기가 스위치 회로를 액티브하게 테스트할 수 있는 하나의 시간 윈도우를 제공한다. 일부 실시예들에서, 디바이스는, 시간적으로 미리 결정된 간격(예컨대 100-400 ms 정도, 바람직하게 약 300 ms)의 2개의 별개의 버튼 푸시들을 수신할 때 디바이스가 약 전달을 개시하도록 구성된다. 테스트 기간으로 지칭될 수 있는 이런 기간 동안, 제어기는 특정 포인트들에서 특정 회로 파라미터들(스위치 무결성 테스트 서브회로를 사용하여), 테스트 전압들 또는 전압들의 변화들을 액티브하게 세팅할 수 있고 그리고 이들을, 정상적으로 동작하는 회로(즉, 결함 또는 결함에 대한 프리커서를 나타내지 않는 회로)가 어떻게 나타날 것인지를 표시하는 미리 결정된 값들에 비교할 수 있다. 예컨대, 제어기는 스위치 입력을 로우 상태로 세팅하고 높은 공급 전압(V_DD)을 제거할 수 있고, 그 다음 스위치 입력이 낮은 공급 전압(V_SS, 예컨대, 접지 또는 접지 초과의 일부 전압)을 초과하는 0 mV의 트루(true) 로우(예상된)를 달성하는지, 또는 그런 트루 로우(결함 또는 결함에 대한 프리커서를 표시함)를 V_SS를 초과하는 적어도 5 mV 내지 적어도 250 mV(예컨대, V_SS를 초과하는 적어도 5, 10, 15, 20, 25, 30, 35, 40, 45, 50, 75, 100, 125, 150, 200, 225 또는 250 mV)로 달성하는 것을 실패하는 경우를 체크한다. 결함 또는 결함에 대한 프리커서가 검출되면, 디바이스 제어기는 본원의 다른 곳에 설명된 바와 같이, 스위치 결함 서브루틴을 개시할 것이다.

[00082] 본원에 사용된 바와 같이, V_DD는 임의의 미리 결정된 고전압(V_H)을 지칭하고, 그리고 전원으로부터 이용 가능한 가장 높은 전압일 필요가 없다. 마찬가지로, V_SS는 임의의 미리 결정된 저전압(V_L)을 지칭하고 "접지"를 표시할 필요가 없다. 다른 장점들 중에서, 본원에 설명된 디바이스 및 방법의 하나의 장점은, 중간 전압들이 스위치 무결성을 테스트하기 위하여 사용되는 것이고, 이는 오염들(예컨대, 습도, 입자들, 부식 등) 및 다른 결함들 및 결함들에 대한 프리커서들을 표시하는 거짓 전압들의 검출을 허용한다. V_DD 및 V_SS의 정확한 값들은 디바이스 디자인 동안 기술자에 의해 선택된다.

[00083] 다른 예시적 실시예들에서, 예컨대, 제어기는 스위치 입력을 V_DD(예컨대, 2 V 내지 15 V, 이를테면 5 V 또는 10 V의 값)로 세팅하고 스위치 입력을 V_SS(예컨대, 0 V 내지 접지를 초과하는 1 V의 값)에 연결할 수 있고, 그 다음 스위치 입력이 V_DD(예상된 바와 같은)를 달성하는지, 또는 V_DD(결함 또는 결함에 대한 프리커서를 표시함)를 V_DD보다 낮은 적어도 5 mV 내지 적어도 250 mV(예컨대, V_DD보다 적어도 5, 10, 15, 20, 25, 30, 35, 40, 45, 50, 75, 100, 125, 150, 200, 225 또는 250 mV 낮음)를 달성하는 것을 실패하는 경우를 체크한다.

[00084] 일부 실시예들에서, 스위치 입력은, 스위치가 개방될 때 V_DD로 풀 업되고 스위치 입력은 스위치가 폐쇄될 때 V_SS이다. 다른 구성들은 가능하다. 예컨대, 제어기의 로직 변화에 의해, 스위치 입력은 V_SS로 바이어싱될 수 있고, 이는 버튼 푸시시 스위치 입력이 하이로 당겨질 것을 의미한다. 당업자는, 일반적으로 본 발명자들이 2개가 대부분의 목적들에 충분할 것으로 고려하지만, 3, 4 또는 그 초과의 순차적 버튼 푸시들을 요구하는 것들을 포함하는 다른 구성들이 이용될 수 있다는 것을 인식할 것이다.

[00085] 본원에 설명된 일부 실시예들은 스위치 동작 디바이스에서 스위치 결함 검출 방법을 제공하고, 상기 디바이스는: (a) 디바이스 제어기의 스위치 입력에 연결된 디바이스 스위치; (b) 상기 스위치 입력을 포함하는 디바이스 제어기; 및 (c) 스위치 무결성 테스트 서브회로를 포함하고, 상기 방법은 상기 제어기가, (i) 스위치 무결성 테스트 서브회로를 활성화고; (ii) 스위치 입력에서의 전압 조건을 검출하고; 그리고 (iii) 스위치 입력에서의 전압 조건이 하나 또는 그 초과의 미리 결정된 조건들을 충족하지 못하면 스위치 결함 서브루틴을 활성화하는 것을 포함한다. 이들 방법들은 예컨대 본원에 설명된 회로들 및 디바이스들 것들을 사용하여 수행될 수 있다.

[00086] 일부 실시예들에서, 스위치 무결성 테스트 서브회로를 활성화하는 단계 및 스위치 입력에서 전압 조건을 검출하는 단계는 디바이스의 동작에 걸쳐 연속으로 또는 주기적으로 실행된다. 제한 없이, 그런 방법은 디지털 또는 아날로그 테스팅을 포함할 수 있다. 디지털 테스팅은 비교적 빠르고 버튼 푸시들 사이의 테스트 기간 동안 수행에 적당하다. 아날로그 테스팅은, 얼마나 많은 데이터 포인트들이 수집되는지에 따라, 빠르거나 느릴 수 있다. 아날로그 테스팅(그리고 일부 실시예들에서)은 보다 민감하고 결함들의 프리커서들의 증상을 보이는 예상된 디바이스 파라미터들로부터의 매우 미묘한 편차들의 검출에 적당하다. 빠른 아날로그 테스팅은 임의의 버튼 바운스(bounce) 또는 버튼 푸시처럼 보이는(제어기에 의해 해석될 수 있는) 무언가(임의의 전압 신호) 후의 검출에 적당하다. 아날로그 테스팅은 또한, 약이 환자에게 전달되는 기간(즉 디바이스가 2개의 별개의 버튼 프레스들에 의해 활성화되는 경우 제 2 버튼 프레스 후) 또는 심지어 약 전달 간격들 사이의 기간 동안(즉 디바이스가 여전히 환자에게 부착되지만 현재 약을 전달하지 않을 때) 적당하다. 후자의 경우에서, 디바이스는 짧은 시간 기간(예컨대, 500 ms 내지 10 초, 보다 바람직하게 500 ms 내지 5 초, 심지어 보다 바람직하게 500 ms 내지 1 초) 동안 매우 작은 양의 전류를 관리할 수 있고, 그 시간 동안 제어기는 그의 액티브 체킹을 수행한다. 본원에 설명된 바와 같이, 버튼 푸시들 사이이든, 도징 기간 동안이든 또는 도징 기간들 사이이든 아날로그 체킹은 매우 민감하고 회로 특성들의 미묘한 변화들이 확실한 결함들로 발전하기 전에 회로 특성들의 미묘한 변화들을 검출할 수 있고, 따라서 상기 결함들이 나타날 수 있기 전에 뜻밖의 이벤트들의 회피를 허용한다. 일부 실시예들에서, 테스팅은 디지털 및 아날로그 테스팅의 결합을 포함할 수 있다. 일부 바람직한 실시예들에서, 빠른 아날로그 테스트는 임의의 버튼 푸시(버튼 푸시로서 해석되는 임의의 전압 신호의 제어기에 의한 검출을 포함함) 후 수행되고 및/또는 디지털 테스트는 제 2 버튼 푸시 후 수행된다. 일부 바람직한 실시예들에서, 빠른 아날로그 테스트는 임의의 버튼 푸시(버튼 푸시로서 해석되는 임의의 전압 신호의 제어기에 의한 검출을 포함함) 후 수행되고 그리고 디지털 테스트는 제 2 버튼 푸시 후 수행된다. 일부 실시예들에서, 느린 아날로그 테스트는 디지털 테스트에 부가하여 제 2 버튼 푸시 후 언젠가 수행된다.

[00087] 본원에 설명된 일부 실시예들은 스위치 동작 이온영동 치료제 전달 디바이스를 제공하고, 상기 스위치 동작 이온영동 치료제 전달 디바이스는: (a) 전력 원; (b) 제 1 및 제 2 전극들 및 저장소들 ― 저장소들 중 적어도 하나는 치료제를 포함함 ―; (c) 디바이스 스위치 ― 디바이스 스위치는 사용자에 의해 동작될 때 디바이스 제어기의 스위치 입력에 스위치 신호를 제공하고, 디바이스 제어기는 스위치에 동작 가능하게 연결되는 상기 스위치 입력을 가지며, 이에 의해 제어기는 스위치로부터 스위치 신호를 수신하고, 디바이스 제어기는 환자에게 치료제를 전달하기 위한 전력을 제 1 및 제 2 전극들에 제공하는 전력 원에 동작 가능하게 연결됨 ―; 및 (d) 스위치의 결함을 검출하고 그리고 결함이 검출될 때 제어기로 하여금 스위치 결함 서브루틴을 실행하게 하도록 구성되는 스위치 무결성 테스트 서브회로를 포함한다. 일부 실시예들에서, 치료제는 펜타닐 또는 수펜타닐이다. 명확성 때문에, "펜타닐"은 펜타닐 염산염 같은 펜타닐의 치료상 허용 가능한 염들을 포함하고 그리고 "수펜타닐"은 수펜타닐의 치료상 허용 가능한 염들을 포함한다.

[00088] 본원에 설명된 일부 실시예들은 사용자 동작 이온영동 치료제 전달 디바이스에서 스위치 결함 검출 방법을 제공하고 ― 상기 디바이스는 (a) 전력 원; (b) 제 1 및 제 2 전극들 및 저장소들 ― 상기 저장소들 중 적어도 하나는 치료제를 포함함 ―; (c) 디바이스 제어기의 스위치 입력에 연결된 디바이스 스위치; (d) 상기 스위치 입력을 포함하고 제 1 및 제 2 전극들로의 전력을 제어하도록 구성되고, 이에 의해 치료제의 전달을 제어하는 디바이스 제어기; 및 (e) 스위치 무결성 테스트 서브회로를 포함함 ― 상기 방법은 상기 제어기가: (i) 스위치 무결성 테스트 서브회로를 활성화하는 단계; 스위치 입력의 전압 조건을 검출하는 단계; 그리고 (ii) 스위치 입력의 전압 조건이 하나 또는 그 초과의 미리 결정된 조건들을 충족하지 못하면 스위치 결함 서브루틴을 활성화하는 단계를 포함한다. 일부 실시예들에서, 스위치 결함 서브루틴은 사용자 경고를 활성화하는 것, 디바이스를 비활성화하는 것, 또는 둘 모두를 포함한다.

[00089] 본 발명은 일반적으로 전기영동 약 전달의 안전성을 강화하기 위하여 사용되는 장치(예컨대, 전기 회로들)에 관한 것이다. 이온영동 약 전달을 사용하기 위한 특정 가능성을 가진 약들은 자연 진통제 및 합성 진통제를 포함한다. 그런 물질들의 대표는 제한 없이, 진통제들, 이를테면 펜타닐, 수펜타닐, 카펜타닐, 로펜타닐, 알펜타닐, 하이드로모르폰, 옥시코돈, 프로폭시핀, 펜타조신, 메타돈, 틸리딘(tilidine), 부토르파놀, 부프레노피네, 레보르파놀, 코데인, 옥시몰폰, 메페리딘, 디히드로코데이논 및 코카인이다. 이온영동의 환경에서, 약에 대해 참조가 이루어질 때, 다르게 언급되지 않으면, 약 물질의 모든 치료상 허용 가능한 염들을 포함하는 것이 의도된다는 것이 이해될 것이다. 예컨대, 펜타닐에 대해 참조가 이루어질 때, 본 발명자들은 그 용어를 이온영동에 의해 전달에 적당한 펜타닐 염, 이를테면 펜타닐 염산염을 포함하도록 의도한다. 다른 예시적인 치료상 허용 가능한 염들은 당업자에게 자명할 것이다.

[00090] 명확성 때문에, 본원에 사용된 바와 같이, 용어들 "치료제" 및 "약"은 동의어로 사용되고, 그리고 피험자에게 투여될 때 치료상 유리한 효과를 끌어내는 것으로 예상되는 승인된 약들 및 물질들 둘 모두를 포함한다. 추가 명확성 때문에, 특정 약 또는 치료제가 나열되는 경우, 그 나열이 이들 치료제들의 치료상 효과적인 염들을 포함하는 것이 의도된다.

[00091] 본원에 교시된 디바이스 및 방법들의 특정 예시적 실시예들을 예시하는 도면들에 대해 이제 참조가 이루어진다. 당업자는, 예시된 회로들 및 방법들의 수정들 및 다양한 어레인지먼트들이 본 인스턴스 개시 및 청구항들의 범위 내에 있다는 것을 인식할 것이다.

[00092] 도 1은 예시적 치료제 전달 시스템을 예시한다. 치료제 전달 시스템(100)은 활성화 스위치(102), 제어기(104) 및 치료제 전달 메커니즘(106)을 포함한다. 활성화 스위치(102)는 다양한 스위치 타입들, 이를테면 푸시 버튼 스위치, 슬라이드 스위치들 및 로커(rocker) 스위치들로부터 선택될 수 있다. 일부 실시예들에서, 푸시 버튼 스위치가 사용된다. "순간적 온" 또는 "순간적 오프" 푸시 버튼 스위치 중 어느 하나가 사용될 수 있지만, 명확성 때문에, 순간적 온 푸시 버튼 스위치가 각각의 예에서 주어진다. 제어기(104)는 약이 제공되는 특정 비율 및 양에 관해서 환자에게로의 약들의 투여를 제어한다. 또한 이는 도징 간격을 조정하기 위하여 사용될 수 있다. 예컨대, 고통 치료를 위하여, 제어기는 환자로 하여금 미리 결정된 시간 기간에 기껏 한번, 예컨대 매 5분, 10분, 15분, 20분, 1시간 또는 2시간마다 한번 도즈를 수용하게 한다. 제어기(104)는 또한 전력 원, 이를테면 배터리를 포함할 수 있거나, 제어기 외부의 전력 원을 간단히 조정할 수 있다. 통상적으로, 제어기(104)에 의해 제어되는 전력 원은 치료제 전달 메커니즘(106)을 통해 치료제의 전달을 추진하기 위하여 사용된다. 제어기(104)는 기술 분야에서 알려진 다수의 방식들로 구현될 수 있다. 제어기(104)는 마이크로프로세서 및 명령들을 포함하는 메모리를 포함할 수 있다. 대안적으로, 제어기(104)는 적당히 프로그래밍된 FPGA(field-programmable gate array)를 포함할 수 있다. 제어기(104)는 이산 로직 또는 ASIC(application specific integrated circuit)로 구현될 수 있다.

[00093] 치료제 전달 메커니즘(106)은 이온영동 및 IV-라인 펌프들을 포함하는 다양한 도징 메커니즘들로부터 선택될 수 있다. 전자의 경우에서, 제어기(104)에 의해 제어되는 작은 전기 전하는 환자의 피부를 통해 약을 전달하기 위하여 사용된다. 후자의 경우에, 제어기(104)는 약을 정맥 라인으로 도입하는 펌프를 제어한다. 명확성 때문에, 본원의 예들은 이온영동 약 디스펜서(dispenser)를 지칭한다.

[00094] 도 2는 이온영동 치료제 전달 메커니즘의 실시예를 도시한다. 이온영동 치료제 전달 메커니즘(200)은 액티브 전극(202), 액티브 저장소(204), 리턴 전극(212), 반대 이온 저장기(214)를 포함한다. 액티브 전극(202) 및 리턴 전극(212)은 제어기(104)에 전기적으로 커플링된다. 이온영동 치료제 전달 메커니즘(200)은 종종 환자 피부(220)에 부착된 패치의 형태를 취한다. 액티브 저장소(204)는 본원에 설명된 바와 같은 약, 약제 또는 다른 치료제일 수 있고 그리고 액티브 전극과 동일한 극성을 가지는 이온 치료제(206)를 포함한다. 반대 이온 저장소(214)는 염분 또는 전해질일 수 있는 이온 치료제와 반대 극성의 이온제인 반대 이온제(216)를 포함한다. 다른 실시예들에서, 이온영동 치료제 전달 메커니즘(200)은 부가적인 액티브 및/또는 반대 이온 저장소들을 더 포함할 수 있다.

[00095] 제어기(104)가 액티브 전극(202) 및 리턴 전극(212) 양단에 전압을 인가할 때, 환자의 바디는 회로를 완성한다. 이런 방식으로 생성된 전기장은 액티브 저장소(204)로부터 환자로 이온 치료제(206)를 인도한다. 이 예에서, 제어기(104)는 배터리일 수 있는 전원(240)을 포함한다. 다른 실시예들에서, 제어기(104)는 외부 전력 원을 제어한다. 치료제 전달 메커니즘(200)은 종종 생체 적합 재료, 이를테면 환자의 피부에 부착하기 위한 부착제뿐 아니라 기술 분야에서 잘 알려진 직물들 또는 폴리머들을 포함한다.

[00096] 일부 실시예들에서, 제어기(104) 및 이온영동 치료제 전달 메커니즘(200)은 치료제의 적용 시간에 함께 어셈블리된다. 이런 패키징은 준비된 애플리케이션을 허용하고 치료제의 무결성을 보장하지만, 또한 전달 디바이스의 실패의 부가적인 포인트들을 도입할 수 있다.

[00097] 치료제 전달 시스템(100)은 종종 환자로 하여금 약을 자체-투여하게 하는 환경들에서 사용된다. 예컨대, 진통제(특히 염산염 또는 다른 전달가능 염의 형태인 이를테면 펜타닐 또는 수페닐)는 그런 디바이스를 사용하여 자체-투여될 수 있다. 그런 환경에서, 환자는, 그가 고통을 느낄 때마다, 또는 환자의 피부가 환자의 고통 허용오차 임계치를 초과할 때마다 진통제를 자체-투여할 수 있다. 다수의 안전장치 및 안전 특징부들은 환자의 안전을 보장하기 위하여 제어기(104)에 통합된다. 이온영동 치료제 전달 시스템에서 적당한 전달을 보장하기 위하여, 디바이스는 회로의 다른 엘리먼트들 사이에서 환자의 피부의 가변하는 저항을 고려하도록 구성될 수 있다. 따라서, 제어기(104)는 전류를 모니터링함으로써(예컨대, 전류 감지 저항기 양단 전압을 감지함으로써) 그리고 이에 따른 전압 상승 또는 하강을 조정함으로써, 치료제의 일관된 전달을 허용하도록 환자에게 전달되는 전류량을 조정할 수 있다. 게다가, 전압 공급부의 조건이 적당한 동작을 방해하면(예컨대, 약한 배터리), 디바이스는 셧 다운될 수 있다.

[00098] 동작시, 약 적용의 상세사항들을 숙지하지 못하고, 그리고 또한 고통스러운 고통에 있을 수 있는 환자에 의해 버튼 프레스가 치료제의 전달을 활성화하게 하는 것은 종종 편리하다. 활성화시 제어기(104)는 규정된 레이트로 단일 도즈를 투여할 수 있다. 의도하지 않은 도징을 방지하기 위하여, 제어기(104)는 미리 결정된 간격 내에서 활성화 스위치(102)를 2번 활성화하도록 환자에게 요구할 수 있다. 이전에 설명된 바와 같이, 미리 결정된 테스트 기간 간격은, 환자에 의한 1번 스위치 활성화 시도가 2번의 스위치 활성화 시도들로서 올바르지 않게 해석되지 않는 것을 보장하기 위하여 사용될 수 있다. 본원에 설명된 바와 같이, 이 테스트 기간 간격은, 본원에 설명된 바와 같은 디바이스가 예컨대 아날로그 또는 디지털 결함 체킹 방법을 사용하여 결함 또는 결함에 대한 프리커서를 검출하고 응답할 수 있는 하나의 편리한 기간을 제공한다.

[00099] 도 3은 활성화 스위치에 연결된 제어기의 예시적 실시예를 도시한다. 활성화 스위치(302)는 푸시 버튼 순간적 "온" 스위치로서 도시되고 접지 평면에 커플링되고 그리고 스위치 입력(308)을 통하여 제어기(300)에 커플링된다. 제어기(300)는 풀 업 저항기(304) 및 제어 회로(306)를 포함한다. 풀 업 저항기(304)는 공급 전압(V_DD) 및 스위치 입력(308)에 커플링된다. 제어 회로(306)는 또한 스위치 입력(308)에 커플링된다. 활성화 스위치(302)가 개방될 때, 풀 업 저항기(304)는 스위치 입력(308)의 전압을 공급 전압(V_DD)의 레벨로 끌어당긴다. 활성화 스위치(302)가 폐쇄될 때, 풀 업 저항기(304)는 스위치 입력(308)의 전압을 접지로 끌어당긴다.

[000100] 비록 예시 때문에, 여기서 V_DD, V_SS 및 "접지"에 대해 참조가 이루어지지만, V_DD에 대해 참조가 이루어질 때마다, 다르게 특정되지 않으면, 이것이 임의의 미리 결정된 로직 레벨 하이(V_H)를 포함하는 것으로 의도되는 것이 이해될 것이다. 마찬가지로, V_SS 또는 "접지"에 대해 참조가 이루어질 때마다, 다르게 특정되지 않으면, 임의의 미리 결정된 로직 레벨 로우(V_L)를 포함하는 것으로 의도된다. 일부 바람직한 실시예들에서, 로직 하이 레벨은 V_DD 미만 중간 전압이고 및/또는 로직 로우 레벨은 접지 초과 일부 중간 전압이다. 일부 바람직한 실시예들에서, 실제로, 로직 하이 레벨은 V_DD 미만 중간 전압이고 로직 로우 레벨은 접지 초과 일부 중간 전압이다. 명확성 때문에, 본원의 일부 장소들에서, 로직 하이는 V_H로서 지칭될 수 있고 로직 로우는 V_L로서 지칭될 수 있다. V_DD 미만 V_H 및/또는 접지(또는 V_SS) 초과 V_L의 사용은 오염, 부식 또는 다른 결함들 및 결함들에 대한 프리커서들 외에서 발생하는 중간 전압 신호들의 검출을 허용한다.

[000101] 도 4는 활성화 시퀀스의 예시적 타이밍을 도시한다. 트레이스(400)는 시간의 함수로서 스위치 입력의 전압 플롯을 도시한다. 시간(402)에서, 푸시 버튼은 스위치 입력(308)의 전압을 접지 전위로 강하하게 하게 눌려진다. 시간(404)에서, 푸시 버튼은 스위치 입력(308)의 전압을 공급 전압 레벨로 리턴하게 릴리스된다. 디바이스의 활성화의 강건성을 추가로 강화하기 위하여, 제어기(300)는 제 1 버튼 푸시 후 버튼의 릴리스와 버튼의 제 2 프레싱 사이의 미리 결정된 최소 시간 간격(406) 및 미리 결정된 최대 시간 간격(412)을 강화한다. 미리 결정된 최소 시간 간격(406)이 경과되기 전에 버튼이 프레싱되면, 이 기간 동안, 제 2 버튼 프레스가 의도된 것인지 아닌지가 명확하지 않기 때문에, 이는 무시된다. 이 간격은 우연한 판독을 회피하기에 충분히 길지만, 평균 환자가 미리 결정된 최소 시간 간격보다 빠르게 버튼을 프레싱하는데 어려운 시간을 가지도록 충분히 짧다. 예시적인 미리 결정된 최소 시간 간격들은 앞서 논의된 개요에서 주어진다. 미리 결정된 최소 시간 간격이 경과된 후 발생하는 시간(408)에서, 제 2 푸시 버튼 프레스가 발생하고, 그 다음 시간(410)에서 버튼 릴리스가 발생한다. 시간(410) 이후 제 2 버튼 프레스를 인증할 때, 미리 결정된 최대 시간 간격(예컨대 3 초 내)이 경과되기 전에 제 2 버튼 프레스가 완료되면, 제어기(300)는 유효 활성화 시퀀스로서 시퀀스를 허용하고 치료제의 전달이 시작될 수 있다. 이것은, 우발적 제 1 버튼 프레스가, 치료제 전달 디바이스를, 제 2 우발적 버튼 프레스가 치료제의 전달을 활성화시킬 수 있는 준비된 상태(armed)가 되지 않게 보장한다. 활성화 시퀀스는, 치료제가 우연히 전달되지 않는 것을 보장한다. 환자가 원할 때만 치료제가 전달되는 것을 보장하는 것에 더하여, 제어기(300)는 또한 미리 결정된 수명 후 치료제의 제공을 방지할 뿐 아니라 치료제의 오버-도징을 방지하는 로직 및/또는 회로를 포함할 수 있다. 그런 로직 및 회로는 특히 본원의 다른 곳에 설명된 바와 같이, 그 전체가 인용에 의해 포함되는 예컨대 US 7027859 호에 설명된다. 다시, V_DD 및 V_SS가 도 4에서 예시 목적들을 위하여 사용되지만, 임의의 로직 하이(V_H)는 V_DD 대신 사용될 수 있고 임의의 로직 로우(V_L)는 V_SS 대신 사용될 수 있다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 또는 V_L > V_SS이다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 및 V_L > V_SS이다.

[000102] 스위치의 무결성을 보장하기 위한 부가적인 안전장치들은 또한 제어기(300)에 구현될 수 있다. 예컨대, 제어기(300)는 스위치(302)와 접지 평면 또는 전원 트레이스 사이에 단락(간헐적 단락 포함)이 있는지를 검출할 수 있고, 단락은 오염 또는 부식으로부터 발생할 수 있다. 단락 회로는 "하드(hard)" 단락 또는 간헐적 단락일 수 있다. 간헐적 단락들을 포함하는 단락들은 예컨대 회로상의 부식 또는 오염에 의해 유발될 수 있다. 부식 또는 오염은 연속적이거나 거짓일 수 있는 전기 통로를 제공할 수 있다. 부가적으로, 제어기(300)는 집적 회로 핀 또는 집적 회로 인터페이스 패드일 수 있는 스위치 입력에 손상이 있는지를 검출할 수 있다. 오염 또는 부식으로 인한 단락, 특히 간헐적 단락은 반드시 디바이스로 하여금 오기능 자체를 유발하지 않을 수 있다. 처음에, 오염 또는 부식 그 자체는 스위치(302)와 접지 평면 또는 전원 트레이스 사이에 높은 저항 경로를 나타낼 수 있지만; 시간이 지남에 따라, 오염 또는 부식이 축적되기 때문에, 이 경로의 저항은 궁극적으로 스위치가 실패할 수 있을 때까지 감소할 수 있다. 그러므로, 심지어 높은 저항 단락의 존재는 미래 결함을 표시한다. 따라서, 일부 실시예들에서, 제어기는 본원에 설명된 바와 같이, 설명된 것들 같은 간헐적 단락들을 검출하고 적당한 스위치 결함 서브루틴을 개시할 것이다. 예컨대, 스위치 결함 서브루틴은 하나 또는 그 초과의 적당한 사용자 경고들(예컨대, 그리고 청취 가능 톤 또는 시청 가능 표시기)을 세팅하는 것 및/또는 디바이스를 디스에이블하는 것(예컨대, 전극들로부터 전원을 분리함으로써)을 포함할 수 있다.

[000103] 도 5는 치료제 전달 디바이스가 스위치 무결성 테스팅을 구현하는 예시적 실시예이다. 제어기(300)와 같이, 제어기(510)는 제어 로직(306), 풀 업 저항기(304), 및 스위치 입력(308)을 포함한다. 제어기(510)는 스위치(502)(특히 스위치 입력(308)으로부터 풀 업 저항기(304)를 분리하기 위하여 사용될 수 있음)를 포함하는 스위치 무결성 테스트 서브회로, 스위치 무결성 테스트 출력(506) 및 제어 로직(306) 내의 무결성 테스트 서브로직(512)을 더 포함한다. 스위치 무결성 테스트 서브회로는, 스위치 무결성 테스팅이 수행될 때 활성화된다. 무결성 테스트 서브로직(512)은 특정 스위치 무결성 테스트에 따라 스위치(502)를 개방하고 스위치 무결성 출력(506)을 미리 결정된 전압 또는 전압들의 시퀀스로 세팅하도록 구성된다. 제어기(510)가 집적 회로상에 놓이는 구현에서, 스위치 무결성 테스트 출력(506)은 범용 I/O 포트 또는 아날로그 입력 핀으로 구현될 수 있다. 스위치 무결성 테스트 출력(506)은 일반적으로 하이 저항(예컨대, 1 MΩ)을 가지는 저항기(504)와 함께 스위치 입력(308)에 커플링된다. 스위치 무결성 테스트 출력(506)은 플로팅된 채로 있을 수 있거나, 하이 공급 전압(V_DD)을 제공할 수 있거나 또는 로우 공급 전압(V_SS)(예컨대, 접지 전위)을 제공할 수 있다. 테스팅 동안, 스위치(502)는 전기적으로 개방되어, 스위치 입력(308)으로부터 풀 업 저항기(304)가 분리된다. 원하는 테스트에 따라, 스위치 무결성 테스트 출력(506)은 하이 공급 전압 또는 로우 공급 전압을 제공한다. 더 많은 세부사항들은 다음 설명에서 주어진다. 명확성 때문에, 무결성 테스트 서브로직(512)은 추가 도면들로부터 생략된다. 다시, V_DD 및 접지가 도 5에서 예시 목적들을 위하여 사용되지만, 임의의 로직 하이(V_H)는 V_DD 대신 사용될 수 있고 임의의 로직 로우(V_L)는 접지 대신 사용될 수 있다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 또는 V_L > 접지이다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 및 V_L > 접지이다.

[000104] 도 6은 치료제 전달 디바이스가 스위치 무결성 테스팅을 가지는 예시적 실시예이다. 보다 구체적으로, 제어기(510) 및 보다 구체적으로 무결성 서브로직(512)(도시되지 않음)은 제어 로직(602)에 의해 제어되는 스위치(604) 및 스위치(606)를 포함한다. 스위치(604) 및 스위치(606)가 개방될 때, 스위치 무결성 테스트 출력(506)은 플로팅된 채로 있는다. 스위치(604)가 폐쇄되고 스위치(606)가 개방될 때, 스위치 무결성 테스트 출력(506)은 하이 공급 전압을 제공한다. 스위치(604)가 개방되고 스위치(606)가 폐쇄될 때, 스위치 무결성 테스트 출력(506)은 로우 공급 전압을 제공한다. 다시, V_DD 및 접지가 도 6에서 예시 목적들을 위하여 사용되지만, 임의의 로직 하이(V_H)는 V_DD 대신 사용될 수 있고 임의의 로직 로우(V_L)는 접지 대신 사용될 수 있다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 또는 V_L > 접지이다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 및 V_L > 접지이다.

[000105] 다양한 테스트들은 이 구성에서 수행될 수 있다. 도 7을 참조하여, 우연한 도징에 대한 이중 버튼 프레스 안전장치들로 인해, 스위치 무결성 테스팅을 적용할 몇몇 기회들이 있다. 버튼이 시간(404)에서 릴리스 된 후, 스위치(302)는 미리 결정된 최소 시간 간격(406)이 경과될 때까지 무시되고, 이 기간 동안 스위치(302) 및 이의 인터페이스들의 무결성은 테스트될 수 있다. 테스트가 최소 시간 간격(406)보다 짧게 걸리는 한, 단락 테스트(예컨대, 빠른 아날로그 테스트 또는 디지털 테스트)가 수행될 수 있다. 일부 실시예들에서, 빠른 아날로그 테스트가 수행된다. 도 7에는 단락 테스트가 수행될 수 있는 시간인 시간 간격(702)이 묘사된다. 제 2 버튼이 시간(410)에서 릴리스된 후, 다른 테스트(예컨대, 디지털 또는 빠르거나 느린 아날로그 테스트)가 치료제의 전달 동안 발생할 수 있는데, 그 이유는 이 시간 기간 동안 스위치(302)에 의한 임의의 신호가 무시될 수 있기 때문이다. 제 2 테스트는 도 7에서 시간 간격(704) 동안 묘사된다. 다시, V_DD 및 V_SS가 도 7에서 예시 목적들을 위하여 사용되지만, 임의의 로직 하이(V_H)는 V_DD 대신 사용될 수 있고 임의의 로직 로우(V_L)는 V_SS 대신 사용될 수 있다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 또는 V_L > V_SS이다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 및 V_L > V_SS이다.

[000106] 도 8은 짧은 간격 스위치 접지 무결성 테스트 동안 치료제 전달 디바이스(500)의 등가 회로 구성을 도시한다. 짧은 간격 스위치 테스트 동안, 스위치 무결성 테스트 출력(506)은 하이 공급 전압 상태로부터 접지 저항기(504)로서 도 8에 묘사된 로우 공급 전압 상태로 강제된다. 부가적으로 스위치(502)는 테스트 동안 개방된다. 테스트 동안, 저항기(504)는 풀 다운 저항기로서 동작하고, 이는 스위치 입력(308)의 전압이 V_DD로부터 V_SS로 강하하게 한다. 전압이 떨어지는 레이트는 저항-캐패시턴스("RC") 시간 상수에 기반한다. 회로의 저항은 저항기(504)에 의해 제공되고 캐패시턴스는 스위치 입력(308) 및 회로에 고유한 캐패시턴스이다. 예컨대, 제어기(510)가 PCB(printed circuit board)에 장착된 ASIC로 구현되면, PCB 내의 금속 트레이스들, ASIC 패키지의 인터페이스 핀들, 볼들 또는 랜드(land)들은 캐패시턴스의 주요 소스들일 수 있다. 실험으로 인해, 제어기(510)의 공칭 캐패시턴스가 결정될 수 있다. 스위치 입력(308)에서 보여지는 전압의 관찰된 하락(decay) 레이트의 임의의 편차는 저항기(504)가 불량이거나, 오염되거나, 단락되거나, 개방 회로들("opens")이거나, 없어지거나 불량 PCB 트레이스들이거나, 불량 ASIC 인터페이스인 것으로부터 발생할 수 있다. 예컨대, 제조, 패키징, 저장 또는 사용 동안 ESD(electrostatic discharge)는 ASIC 인터페이스를 손상시킬 수 있다. 다시, V_DD 및 접지가 도 8에서 예시 목적들을 위하여 사용되지만, 임의의 로직 하이(V_H)는 V_DD 대신 사용될 수 있고 임의의 로직 로우(V_L)는 접지 대신 사용될 수 있다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 또는 V_L > 접지이다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 및 V_L > 접지이다.

[000107] 도 9는 짧은 간격 스위치 접지 무결성 테스트 동안 시그널링을 도시한다. 신호 트레이스(902)는 처음에 V_DD에서 시작하고 갑작스럽게 V_SS로 강하하는 무결성 스위치 테스트 출력(506)으로부터의 신호이다. 신호 트레이스(904)는 "우수한" 치료제 전달 디바이스에 대한 스위치 입력(308)에서 관찰된 신호이다. 무결성 스위치 테스트 출력(506)의 전압 강하 후 미리 결정된 시간 간격(910)이 경과되면, 신호는 화살표(912)에 의해 표시된 바와 같이 알려진 값으로 하락한다. 그러나, 미리 결정된 시간 간격(910) 이후, 스위치 입력(308)에서 관찰된 신호 트레이스(906)에 의해 도시된 신호가 예상된 만큼 빠르게 화살표(914)에 의해 표시된 바와 같은 알려진 값으로 하락하지 않으면, 상기 설명된 바와 같이 결함 또는 결함의 프리커서의 존재를 표시할 수 있는 과도한 캐패시턴스 또는 저항이 테스트 회로에 있을 수 있다. 다시, V_DD 및 V_SS가 도 9에서 예시 목적들을 위하여 사용되지만, 임의의 로직 하이(V_H)는 V_DD 대신 사용될 수 있고 임의의 로직 로우(V_L)는 V_SS 대신 사용될 수 있다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 또는 V_L > V_SS이다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 및 V_L > V_SS이다.

[000108] 도 10은 짧은 간격 전력 스위치 무결성 테스트 동안 치료제 전달 디바이스(500)의 등가 회로 구성을 도시한다. 짧은 간격 스위치 테스트 동안, 스위치 무결성 테스트 출력(506)은 로우 공급 전압 상태로부터 도 10에 묘사된 하이 공급 전압 상태로 강제된다. 일단 다시, 스위치(502)는 테스트 동안 개방된다. 테스트 동안, 저항기(504)는 풀 업 저항기로서 동작하고, 이는 스위치 입력(308)의 전압이 V_SS로부터 V_DD로 상승하게 한다. 전압이 상승하는 레이트는 짧은 간격 스위치 접지 무결성 테스트 동안 앞서 설명된 것과 유사한 RC 시간 상수에 기반된다. 일단 다시, 앞서 설명된 공칭 RC 시간으로부터의 편차의 원인들은 저항기(504)가 불량이거나, 오염이거나, 단락이거나, 개방이거나, 없어지거나 또는 불량 PCB 트레이스들이거나, 또는 불량 ASIC 인터페이스인 것으로부터 발생할 것이다. 다시, V_DD 및 접지가 도 10에서 예시 목적들을 위하여 사용되지만, 임의의 로직 하이(V_H)는 V_DD 대신 사용될 수 있고 임의의 로직 로우(V_L)는 접지 대신 사용될 수 있다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 또는 V_L > 접지이다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 및 V_L > 접지이다.

[000109] 도 11은 짧은 간격 전력 스위치 무결성 테스트 동안 시그널링을 도시한다. 신호는 도 9에 묘사된 것과 논리적으로 상보적이다. 신호 트레이스(1102)는 처음에 V_SS에서 시작하고 갑작스럽게 V_DD로 상승하는 무결성 스위치 테스트 출력(506)으로부터의 신호이다. 신호 트레이스(1104)는 "우수한" 치료제 전달 디바이스에 대한 스위치 입력(308)에서 관찰된 신호이다. 무결성 스위치 테스트 출력(506)의 전압 강하 후 미리 결정된 시간 간격(1110)이 경과되면, 신호는 화살표(1112)에 의해 표시된 바와 같이 알려진 값으로 상승한다. 그러나, 미리 결정된 시간 간격(910) 이후, 스위치 입력(308)에서 관찰된 신호 트레이스(906)에 의해 도시된 신호가 예상된 만큼 빠르게 화살표(1114)에 의해 표시된 바와 같은 알려진 값으로 상승하지 않으면, 상기 설명된 바와 같이 결함 또는 결함의 프리커서의 존재를 표시할 수 있는 과도한 캐패시턴스 또는 저항이 테스트 회로에 있을 수 있다. 예컨대 일부 실시예들에서 디지털 테스팅을 이용하는 것처럼 제 2 버튼이 푸시된 후 테스팅이 수행되는 경우, 어떠한 타이밍 엘리먼트도 필요하지 않을 수 있고; 그리고 일부 그런 실시예들에서 타이밍 엘리먼트가 없다는 것이 주의된다. 다시, V_DD 및 V_SS가 도 11에서 예시 목적들을 위하여 사용되지만, 임의의 로직 하이(V_H)는 V_DD 대신 사용될 수 있고 임의의 로직 로우(V_L)는 V_SS 대신 사용될 수 있다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 또는 V_L > V_SS이다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 및 V_L > V_SS이다.

[000110] 도 12는 아날로그 스위치 접지 무결성 테스트 동안 치료제 전달 디바이스(500)의 등가 회로 구성을 도시한다. 도 12에 도시된 등가 회로 구성은 본질적으로 도 8에 묘사된 것과 동일한 구성이다. 부가적으로 제어 로직(306)은 스위치 입력(308)의 전압을 측정하기 위한 수단을 더 포함한다. 묘사된 실시예에서, 전압을 측정하기 위한 수단은 아날로그 투 디지털 컨버터("ADC")(1204)이지만, 전압을 측정하기 위한 다른 방법들, 이를테면 비교기 임계치에 비교되는 아날로그 신호의 전압 레벨을 측정하기 위하여 ADC 대신 비교기 회로들의 세트의 사용이 구현될 수 있다. 도 8에서와 같이, 스위치 무결성 테스트 출력(506)은 로우 공급 전압 상태로 하향으로 강제되고, 따라서 저항기(504)는 풀 다운 저항기로서 동작한다. 오염 또는 부식(1202로서 도시됨)이 스위치(302), 스위치 입력(308) 또는 연결 배선들 및 하이 전원 소스, 이를테면 전력 라인 금속 트레이스 사이에 존재하면, 오염 또는 부식은 분압기를 초래하는 저항기(504)에 대해 풀링 업하는 저항기로서 동작할 수 있다. 결과는, 저항기(504)가 스위치 입력(308)의 전압을 V_SS로 하향으로 완전히 풀 다운할 수 없을 것이라는 것이다. 스위치 입력(308)의 전압이 V_SS에서 정착하지 못하면, 장치의 오염, 부식 또는 다른 부패는 스위치(302) 및/또는 스위치 입력(308) 및 하이 전원 소스 사이에 단락을 유발한다. 다시, V_DD 및 V_SS가 도 12에서 예시 목적들을 위하여 사용되지만, 임의의 로직 하이(V_H)는 V_DD 대신 사용될 수 있고 임의의 로직 로우(V_L)는 V_SS 대신 사용될 수 있다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 또는 V_L > V_SS이다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 및 V_L > V_SS이다.

[000111] 도 13은 긴 간격 아날로그 스위치 접지 무결성 테스트 동안 시그널링을 도시한다. (긴 간격 아날로그 접지 무결성 테스트에 대해 참조가 이루어지지만, 테스트는 수집된 데이터 포인트들의 수를 조정함으로써 짧은 간격에 대해 이루어질 수 있다). 신호 트레이스(1302)는 처음에 V_DD에서 시작하고 갑자기 V_SS로 강하하는 무결성 스위치 테스트 출력(506)으로부터의 신호이다. 신호 트레이스(1304)는 "우수한" 치료제 전달 디바이스에 대한 스위치 입력(308)에서 관찰된 신호이다. 무결성 스위치 테스트 출력(506)의 전압 강하 후 미리 결정된 시간 간격(1310)이 경과되면, 신호는 그의 최종 값으로 하락된다. 미리 결정된 간격(1310)은 도 9에 도시된 미리 결정된 간격(910)과 상이하다. 짧은 간격 테스트의 목적이 하락 레이트를 측정하는 것이기 때문에, 미리 결정된 간격(910)은, RC 시간 상수의 임의의 변화가 관찰되도록 충분히 짧아야 한다. 대조하여, 미리 결정된 간격(1310)은, 스위치 입력(308)에서 관찰된 신호가 RC 시간 상수(또는 적어도 RC 시간 상수들의 합리적인 범위 내)에 무관하게 정상 상태 전압으로 하락되어야 하도록 충분히 길어야 한다. 신호 트레이스(1306)는, 부패 또는 일부 다른 원인이 하이 전원 및 스위치(302) 및/또는 스위치 입력(308) 사이에 단락을 유발할 때 치료제 전달을 위하여 스위치 입력(308)에서 관찰된 신호이다. 정상 상태 전압과 V_SS 사이의 차이는 화살표(1308)에 의해 표시된다. 다시, V_DD 및 V_SS가 도 13에서 예시 목적들을 위하여 사용되지만, 임의의 로직 하이(V_H)는 V_DD 대신 사용될 수 있고 임의의 로직 로우(V_L)는 V_SS 대신 사용될 수 있다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 또는 V_L > V_SS이다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 및 V_L > V_SS이다.

[000112] 동작 가능하게, 미리 결정된 시간 간격(1310) 후, 제어 로직(306)은 스위치 입력(308)의 전압을 측정한다. 정상 상태 전압이 주어진 임계치를 초과하면, 결함은 제어기(510)에 의해 표시될 수 있다. 부가적으로 또는 대안적으로, 정상 상태 전압이 제 2 임계치를 초과하면, 결함에 대한 프리커서는 표시될 수 있고 적당한 동작은 제어기(510)에 의해 취해질 수 있다.

[000113] 도 14는 긴 간격 아날로그 전력 스위치 무결성 테스트 동안 치료제 전달 디바이스(500)의 등가 회로 구성을 도시한다. 도 14에 도시된 등가 회로 구성은 본질적으로 도 10에 묘사된 것과 동일한 구성이다. 일단 다시 제어 로직(306)은 스위치 입력(308)의 전압을 측정하기 위한 수단을 더 포함한다. 도 10에서와 같이, 스위치 무결성 테스트 출력(506)은 하이 공급 전압 상태로 상향으로 강제되고, 따라서 저항기(504)는 풀 업 저항기로서 동작한다. 오염 또는 부식(1402로서 도시됨)이 스위치(302), 스위치 입력(308) 도는 연결 배선들 및 로우 전원 소스, 이를테면 접지 트레이스 사이에 존재하거나, 오염 또는 부식이 스위치(302)를 단락시키게 스위치(302) 상의 2개의 극들 사이에서 방해하면, 오염 또는 부식은 분압기를 초래하는 저항기(504)에 대해 풀링 다운하는 저항기로서 동작할 수 있다. 결과는, 저항기(504)가 스위치 입력(308)의 전압을 V_DD까지 완전히 풀 업할 수 없을 것이라는 것이다. 스위치 입력(308)의 전압이 V_DD에서 정착하지 못하면, 장치의 오염, 부식 또는 다른 부패는 로우 전원 소스에 단락을 유발한다. 다시, V_DD 및 V_SS가 도 14에서 예시 목적들을 위하여 사용되지만, 임의의 로직 하이(V_H)는 V_DD 대신 사용될 수 있고 임의의 로직 로우(V_L)는 V_SS 대신 사용될 수 있다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 또는 V_L > V_SS이다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 및 V_L > V_SS이다.

[000114] 도 15는 긴 간격 아날로그 전력 스위치 무결성 테스트 동안 시그널링을 도시한다. 신호 트레이스(1502)는 처음에 V_SS에서 시작하고 갑작스럽게 V_DD로 상승하는 무결성 스위치 테스트 출력(506)으로부터의 신호이다. 신호 트레이스(1504)는 "우수한" 치료제 전달 디바이스에 대한 스위치 입력(308)에서 관찰된 신호이다. 무결성 스위치 테스트 출력(506)의 전압 상승 후 미리 결정된 시간 간격(1510)이 경과되면, 신호는 그의 최종 값으로 상승한다. 일단 다시, 미리 결정된 간격(1510)은 미리 결정된 간격(1310)과 미리 결정된 간격(910) 사이의 차이와 유사한 이유들 때문에, 도 11에 도시된 미리 결정된 간격(1110)과 상이하다. 신호 트레이스(1506)는, 부패 또는 일부 다른 원인이 로우 전원 및 스위치(302) 및/또는 스위치 입력(308) 사이에 단락을 유발할 때 치료제 전달을 위하여 스위치 입력(308)에서 관찰된 신호이다. 정상 상태 전압과 V_SS 사이의 차이는 화살표(1508)에 의해 표시된다. 다시, V_DD 및 V_SS가 도 15에서 예시 목적들을 위하여 사용되지만, 임의의 로직 하이(V_H)는 V_DD 대신 사용될 수 있고 임의의 로직 로우(V_L)는 V_SS 대신 사용될 수 있다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 또는 V_L > V_SS이다. 일부 실시예들에서, V_H < V_DD 및 V_L > V_SS이다.

[000115] 동작 가능하게, 미리 결정된 시간 간격(1510) 후, 제어 로직(306)은 스위치 입력(308)의 전압을 측정한다. 정상 상태 전압과 V_DD 사이의 전압 차이가 주어진 임계치를 초과하면, 결함은 제어기(510)에 의해 표시될 수 있다. 부가적으로 또는 대안적으로, 전압 차이가 제 2 임계치를 초과하면, 결함에 대한 프리커서는 표시될 수 있고 적당한 동작은 제어기(510)에 의해 취해질 수 있다.

[000116] 도 16은 스위치 무결성 테스팅을 가지는 치료제 전달 디바이스의 실시예의 도징 동작의 흐름도를 도시한다. 단계(1602)에서, 디바이스는 버튼 릴리스를 대기한다. 이것은 도 7의 이벤트(404)를 대기하는 것에 대응한다. 단계(1604)에서 버튼이 릴리스된 후, 하나 또는 그 초과의 짧은 스위치 무결성 테스트들은 도 8-11에서 앞서 설명된 것들과 같이 수행될 수 있다. 단계(1606)에서, 디바이스는 제 2 버튼 릴리스를 대기한다. 단계(1608)에서 버튼이 릴리스된 후, 제 2 버튼 프레스가 미리 결정된 최소 시간 간격 내에서 발생하였는지에 대해 결정이 이루어진다. 만약 그렇지 않으면, 최종 버튼 릴리스 무시되고 디바이스는 다른 버튼 릴리스를 대기하는 단계(1606)로 리턴한다. 만약 그렇다면, 제 1 버튼이 릴리스된 이래 최대 시간 간격이 경과되었는지에 대해 결정이 이루어진다. 만약 그렇다면, 제 2 버튼 릴리스는 제 1 버튼 릴리스로서 처리되고, 따라서 디바이스는 단계(1604)로 리턴한다. 최대 시간이 경과되지 않으면, 단계(1612)에서 치료제의 전달이 시작된다. (비록 도 16에 구체적으로 묘사되지 않지만, 하나 또는 그 초과의 스위치 무결성 체크들, 이를테면 디지털 스위치 무결성 체크 또는 빠른 아날로그 무결성 체크가 단계(1610)와 단계(1612) 사이에서 수행될 수 있다는 것이 이해될 것이다). 치료제의 전달과 동시에, 디바이스는 단계(1614)에서 하나 또는 그 초과의 선택적인 긴 스위치 무결성 테스트들을 수행할 수 있다. 동시에, 디바이스의 셧다운을 타당하게 하기에 충분한 심각도를 가진 결함이 발생하였는지에 대해 결정이 단계(1616)에서 이루어진다. 만약 그렇다면, 디바이스는 단계(1618)에서 셧 다운한다.

[000117] 도 17은 스위치 무결성 테스팅 프로세스의 예시적 실시예를 도시한다. 도시된 흐름도는 단계들(1604) 및/또는 단계(1614)에 사용된 통상적인 스위치 무결성 프로세스들의 대표이다. 단계(1702)에서, 디바이스(500)는 그의 스위치 무결성 서브회로를 활성화한다. 앞서 주어진 예들에서, 이것은 스위치(502)를 개방하고, 스위치 무결성 테스트 출력을 V_DD 또는 V_SS 같은 미리 결정된 전압으로 세팅하고 및/또는 도 12 및 14에 도시된 구성들에서와 같이 ADC(1204)를 선택적으로 전력 인가하거나 활성화하는 것을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, ADC 회로는, 전력을 절약하기 위하여 테스팅하지 않을 때 전력을 오프할 수 있다. 단계(1704)에서, 하나 또는 그 초과의 미리 결정된 전압 조건들이 테스트된다. 이들 조건들의 예들은 도 8-15에서 앞서 설명된다. 예컨대, 도 8-11에 설명된 짧은 테스트들에서, 스위치 무결성 테스트 출력이 미리 결정된 전압으로 세팅된 후 미리 결정된 시간 간격이 경과되면, 스위치 입력(308)의 전압이 측정된다. 측정된 전압이 예상된 전압으로 상승하거나 하락되면, 전압 조건은 검출된 것으로 여겨진다. 다른 예에서, 도 12-16에 설명된 긴 테스트들에서, 스위치 무결성 테스트 출력이 미리 결정된 전압으로 세팅된 후 미리 결정된 시간 간격이 경과되면, 스위치 입력(308)의 전압이 측정된다. 미리 결정된 전압과 측정된 전압 사이에 차이가 존재하면, 전압 조건은 검출된 것으로 여겨진다.

[000118] 단계(1706)에서, 미리 결정된 전압 조건이 검출되었는지에 대해 결정이 이루어지고, 만약 그렇다면 단계(1708)에서 결함 서브루틴이 활성화된다. 보다 구체적으로, 각각의 미리 결정된 전압 조건은 결함 또는 결함에 대한 프리커서와 연관된다. 결함 서브루틴은 결함 또는 결함에 대한 프리커서의 심각도에 따라 동작 중 하나 또는 그 초과의 과정들을 취할 수 있다. 예컨대, 환자 또는 간병인은 사용자 경고 피처를 활성화함으로써 경고받을 수 있다. 이전에 논의된 바와 같이, 사용자 경고 피처는, 시스템의 동작이 위태롭다고 고려되는 것을 사용자에게 경고하기 위한 다양한 수단을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 디바이스가 결함들에 대한 프리커서들을 검출하도록 구성되고, 따라서 디바이스는, 환자에 의해 경험될 효과를 유발할 결함이 검출되기 전에도 사용자 경고를 활성화할 수 있다. 사용자 경고는 표시자 광, 이를테면 컬러화된 발광 다이오드(LED), 청취 가능 톤(이를테면 반복하는 "비프"), 판독가능 디스플레이(이를테면 액정 디스플레이(LCD)), 다른 사용자 관찰가능 표시자, 외부 모니터링 디바이스에 대한 통신들(예컨대, 중앙 콘솔로의 무선 송신) 또는 이들의 2 또는 그 초과의 결합들일 수 있다.

[000119] 다른 예에서, 결함들 및 결함들에 대한 프리커서들은 메모리에 로깅될 수 있다. 일부 그런 실시예들에서, 제어기는 특정 타입의 결함을 검출하고, 이를 결함 코드에 할당하고, 그리고 추후 시간에 리트리벌을 위하여 결함 코드를 메모리에 기록한다. 예컨대, 제어기는 다음 조건들 중 하나를 검출 및 기록할 수 있다: 고전압이 정상 동작 회로에 대해 예상될 포인트 및 조건들하에서의 저전압; 정상 동작 회로에 대해 예상된 전압보다 높거나 낮은 포인트 및 조건들하에서의 전압; 정상 동작 회로에 대해 예상된 것보다 더 길거나 더 짧은 전압 상승 시간; 정상 동작 회로에 대해 예상된 것보다 더 길거나 더 짧은 전압 또는 전류 하강 시간; 또는 둘 또는 그 초과의 이의 결합들. 로그들은 몇가지 방식들로 리트리브될 수 있고, 예컨대 제거 가능 메모리 매체 이를테면 플래시 메모리에 의해 리트리브되거나, 디스플레이 디바이스 상의 하나 또는 그 초과의 시각적 메시지들에 의해 간병인이 보거나, 또는 외부 모니터링 디바이스에 송신될 수 있다.

[000120] 다른 예에서, 결함들이 환자에게 위험을 제기하는 충분한 심각도를 가질 때, 본원에 설명된 바와 같이, 디바이스는 약 전달 회로로부터 전압 공급부를 비가역적으로 분리하고, 전력 전지를 접지에 단락시키고, 회로의 용융 가능 링크를 용융시키고, 소프트웨어 로직에 의해 등으로 비활성화될 수 있다.

[000121] 다른 예에서, 결함 서브루틴은 설명된 동작들의 결합을 수행할 수 있다. 예컨대, 처음에, 결함들에 대한 프리커서들은 로깅되지만, 잠재적 결함들의 심각도가 증가함에 따라, 사용자 경고가 발행된다. 마지막으로, 잠재적 결함들이 실제 결함들이 되고 심각도가 충분히 높을 때, 디바이스는 단계(1618)에서 셧 다운한다.

[000122] 어떠한 전압 조건도 단계(1706)에서 발견되지 않거나 전압 조건이 단계(1708)에서 프로세싱된 후, 선택적으로 스위치 무결성 프로세스는, 디바이스가 다음 테스트를 준비하거나 최종 테스트를 종료하도록 준비하는 단계(1710)로 진행할 수 있다. 전자의 경우에서, 디바이스는 스위치 무결성 테스트 출력을 다른 전압으로 세팅할 수 있다. 예컨대, 도 8-9, 12-13에서 앞서 설명된 접지 테스트들 중 하나에 대한 준비시, 스위치 무결성 테스트 출력은, 접지 테스트들이 단계(1702)에서 시작할 때, 스위치 무결성 테스트 출력이 테스트를 개시하기 위해 V_SS로 하향으로 될 수 있도록 V_DD로 세팅될 수 있다. 그러나, 이것은 테스트들의 적당한 선택에 의해 최소화될 수 있다. 예컨대, 전력 테스트들 및 접지 테스트들이 교번되면, 각각의 테스트들이 다른 테스트를 개시하기 위하여 스위치 무결성 테스트 출력을 적당한 전압에 둠에 따라 스위치 무결성 테스트 출력을 다른 전압으로 세팅할 필요가 없다. 단계(1710)의 후자의 경우에서, 디바이스는 스위치 무결성 서브회로를 비활성화할 수 있고, 예컨대 스위치 무결성 테스트 출력은 하이 공급 전압 또는 로우 공급 전압 중 어느 하나일 수 있는 그의 비-테스트 디폴트 상태로 세팅될 수 있다. 대안적으로, 스위치 무결성 테스트 출력은 플로팅된 채로 있을 수 있다. 부가적으로, 스위치(502)는, 저항기(304)가 그의 풀 업 기능을 재개할 수 있도록 폐쇄된다.

[000123] 앞서 설명된 바와 같이, 본원에 설명된 장치들 및 방법들 중 임의의 것은 도즈 스위치의 아날로그 및 디지털 스위치 인증 둘 모두를 수행하도록 구성될 수 있다. 도 18a는 아날로그 및 디지털 스위치 인증 둘 모두를 수행하는 약 전달 디바이스에 대한 회로 설명의 일 예를 예시한다.

[000124] 예컨대, 정상-개방 스위치(예컨대, 순간적-콘택 푸시-버튼 스위치)(SW1)는 회로 내에 위치된다. 도 18a에서, SW1 스위치는 IT101 회로 기판 상에 위치되고, 그리고 도즈 스위치로서 지칭된다. 스위치의 각각의 측은 제어 로직을 포함하는 회로(IC) 상의 3개의 별개의 라인들에 직접 연결된다. Aux1, KP0 및 GPIO0 라인들은 도즈 스위치의 일 측 상에 있고 그리고 Aux2, KP3, 및 GPIO2는 도즈 스위치의 다른 측 상에 있는다. 이들 연결들은 제어기(예컨대, "ITSIC")로 하여금, 도즈 스위치가 적당하게 동작하는 것을 확인하게 한다. 임의의 적당한 도즈 스위치는 사용될 수 있다. 예컨대, 도즈 스위치는 특성상 짧은 콘택 바운스를 가지는, 둥근 금속 스냅 돔(snap dome)을 가진 버튼으로서 구성된 기계적 스위치일 수 있다. 비록 전기 분리를 가진 스위치들이 사용될 수 있지만, 어떠한 전기적 디-바운싱도 그런 예에 대해 요구되지 않는다. 도 18a 및 18b는 노드들의 도즈 스위치 연결 디자인 및 설명들을 도시한다.

[000125] 예컨대, 도 18a에서, 스위치의 하이 측("A")은 제 1 전력 입력 라인(KP0), 제 1 디지털 테스트 입력 라인(GPIO_0), 제 1 아날로그 테스트 입력 라인(AUX1)에 대한 노드들을 포함한다. 스위치의 로우 측("B")은 제 2 전력 입력 라인(KP3), 제 2 디지털 테스트 입력 라인(GPIO_1), 및 제 2 아날로그 테스트 입력 라인(AUX2)에 대한 노드들을 포함한다. 배터리(Vbat)는 또한 풀-업 저항기들(Rpu0 및 Rpu3)을 포함하여, KP0 및 KP3 라인들에 연결되는 것으로 도시된다. 아날로그 및 디지털 테스트 입력 라인들 모두는 제어기(ITSIC)에 연결되고 여기서 이들 라인들은 디지털 인증(GPIO_0 및 GPIO_1을 사용하여) 및 아날로그 인증(AUX1 및 AUX2를 사용하여)을 수행하도록 분석된다. 이 예에서, 동일한 제어기/프로세서가 사용되고; 서브-프로세서들을 포함하여 상이한 프로세서들이 사용될 수 있다.

[000126] 3개의 별개의 기술들(절차들)은, 특히 모두 3개의 기술들이 이용되고 장치의 부분으로서 통합될 때, 리던던시를 제공할 수 있고 높은 정도의 확실성으로 인증 방법의 입증을 가능하게 한다. 구체적으로, 버튼 샘플링, 아날로그 스위치 인증, 및 디지털 스위치 인증은 모두 포함될 수 있다.

[000127] 버튼 샘플링(버튼 샘플링 절차 포함)은 버튼 프레싱 및 릴리스를 검출하기 위하여 사용될 수 있다. 특히, 버튼 샘플링은, 버튼이 짧은 시간 기간에 걸쳐 취해진 순차적 샘플들을 비교함으로써 안정된 구성에 있을 때(예컨대, 프레싱 또는 릴리싱됨)를 결정하기 위한 순차적 상태 테스트들의 이용 시리즈를 포함할 수 있다. 상태의 빠른 변화들은, 버튼이 안정된("푸시" 또는 "릴리스") 상태에 있지 않다는 것을 표시한다. 예컨대, 버튼 입력의 전이들을 검출하고 스위치 바운스 또는 다른 이벤트들에 의해 유발된 노이즈 신호들을 필터링하기 위하여, 버튼 입력들은 주기적으로, 예컨대 매 n ms(예컨대, 여기서 n은 2 ms, 3 ms, 4 ms, 5 ms, 6 ms, 7 ms, 8 ms, 9 ms, 10 ms, 약 1-20 ms, 약 1-10 ms, 약 2-10 ms, 등일 수 있음)마다 샘플링될 수 있다. 샘플링 주파수는 사용자 입력들에 응답성을 제공할 수 있다. 샘플링된 데이터(버튼 입력 샘플 데이터)는 미리 결정된 수의 샘플들(예컨대, 4 샘플들, 5 샘플들, 6 샘플들, 7 샘플들, 8 샘플들, 9 샘플들, 10 샘플들, 11 샘플들, 12 샘플들, 13 샘플들, 등)을 홀딩하는 원형 버퍼로 버퍼링될 수 있다. 가장 최근 샘플들(예컨대, 4개의 가장 최근 샘플들)은 버튼 상태를 결정하기 위하여 버튼 샘플링 테스트(하드웨어, 소프트웨어, 펌웨어, 또는 이들의 몇몇 결합으로 구현될 수 있음)에 의해 사용될 수 있다. 버튼의 상태는, 가장 최근 샘플들 모두(예컨대, 모두 4개의 샘플들)가 동일한 상태일 때 결정된다(예컨대, 개방되거나 폐쇄됨). 이것은 기계적 스위치 바운스 또는 전기적 노이즈로부터 안정된 버튼 상태를 구별한다. 버퍼가 로우 및 하이 샘플 값들의 혼합을 포함하면, 신호는 스위치 바운스 또는 전기 노이즈의 결과인 것으로 결정될 수 있고 장치는 그 신호를 무시할 수 있다.

[000128] 프레스 및 릴리스 전이들은 검출될 수 있고, 그리고 각각의 전이시, 버튼들의 상태는 샘플링(예컨대, 대략 50ms의 레이트로) 될 수 있다. 예컨대, 릴리스 전이는 4개의 누름 상태들 다음 4개의 릴리스 상태들의 검출에 의해 확인될 수 있고, 그리고 프레스 전이는 반대 시퀀스에 의해 확인될 수 있다. 버튼이 매 8ms 마다 샘플링되고 4개의 샘플들이 롤링 윈도우 내에서 검사되면, 결과는 유효 버튼 상태 전이를 식별하기 위하여 대략 65 ms의 샘플링 시간이다.

[000129] 2개의 별개의 스위치 인증 기술들/경로들(예컨대, 아날로그 및 디지털 스위치 인증)을 사용하는 것은 리던던시를 제공할 수 있고 단일 인증 기술/경로보다 놀랍게도 더 나은 방식으로 높은 정도의 확실성으로 인증의 입증을 가능하게 한다. 아날로그 스위치 인증 테스트 및 디지털 스위치 인증 테스트 둘 모두가 수행되거나, 또는 둘 모두가 수행될 수 있고; 일부 변형들에서 양쪽 테스트들은, 테스트 중 하나가 처음에 수행되고 통과할 때(예컨대, 트루임)만 수행된다. 예컨대, 아날로그 스위치 인증은, 디지털 스위치 인증이 트루인 경우만, 또는 그 반대인 경우에만 수행될 수 있다.

[000130] 펌웨어, 하드웨어 및/또는 소프트웨어를 포함할 수 있는 제어기는 통상적으로 디지털 및 아날로그 신호들 둘 모두를 사용하여 도즈 스위치 회로를 제어 및 모니터한다. 도즈 스위치 회로의 아날로그 부분은 도즈 스위치의 양쪽 측들(예컨대, 하이 "A" 및 로우 "B" 측들) 상의 아날로그 전압들을 모니터하기 위하여 사용될 수 있다. 도즈 스위치 회로의 디지털 부분은 스위치의 양 측들 상에서 스위치 바이어스 제어 및 디지털 모니터링을 위해 사용될 수 있다. 도 18a에 도시된 예에서, 소프트웨어는 도시된 바와 같이, 스위치(1802) 양단 Vbat 바이어스를 설정하기 위하여 키패드 입력 풀-업(KP0 및 GPIO[1])을 구성할 수 있다. KP3 및 GPIO[0]는 스위치의 디지털 상태를 모니터하기 위하여 사용될 수 있다.

[000131] 아날로그 스위치 인증 테스트는 잘못된 스위치 판독들을 유도할 수 있는 잠재적 문제들을 검출하기 위하여 도즈 버튼 스위치의 하이 및 로우 측들 둘 모두 상의 전압 레벨들을 측정할 수 있다. 스위치 개방을 가지는 정상 조건들하에서, 스위치의 하이 측 전압은, 스위치 회로에 연결된 전자 컴포넌트들에 의해 유발된 작은 전압 강하를 처리하기 위하여, 배터리 전압보다 약간 작을 것이다. 정상 조건들하에서, 스위치의 로우 측 전압은 접지에 매우 밀접할 것이다. 일부 조건들, 이를테면 오염 또는 부식은 하이-측 전압을 강하하게 하거나, 로우-측 전압을 상승하게 할 수 있다. 만약 하이-측 전압이 미리 결정된 하이-측 임계치, 이를테면 배터리 전압의 일부 미리 결정된 하이-측 부분(예컨대, 0.8 x 배터리 전압)보다 작게 떨어지거나, 또는 로우-측 전압이 일부 미리 결정된 로우-측 임계치, 이를테면 배터리 전압의 미리 결정된 로우-측 부분(예컨대, 0.2 x 배터리 전압)보다 크게 상승하면, 스위치 입력은 디지털 스위치 입력에 관하여 다양한 중간 디지털 로직 레벨로 떨어질 수 있다. 이 범위의 스위치 전압은 잘못된 스위치 판독들을 유발할 수 있고, 이는 사용자에 의해 개시되지 않은 잘못된 버튼 전이들, 및 그러므로 부적당한 도시지를 나타낼 수 있다. 그러므로, 아날로그 스위치 인증 테스트는, 스위치 전압 레벨들이 잘못된 판독들이 발생할 수 있는 포인트에 도달하기 전에 조건을 검출할 수 있다.

[000132] 아날로그 스위치 인증 테스트는, 스위치가 그의 정상-개방 조건에 있을 때 실행될 수 있어서, 하이-측 및 로우-측 전압들 둘 모두가 측정될 수 있다. 테스트가 실행되는 동안 스위치 상태의 임의의 변화는 스위치가 폐쇄된 동안 하이-측 전압의 측정으로 인해 테스트가 잘못 실패하게 할 수 있다. 사용자가 임의의 시간에 버튼을 프레스하거나 릴리스할 수 있기 때문에, 장치는 아날로그 및/또는 디지털 스위치 인증을 간섭하지 않고 임의의 시간에 정상 동작의 간섭을 회피하는 방식으로, 예컨대, 버튼 푸시, 또는 더 가능하게 한 쌍의 버튼 푸시들을 허용하여 테스트를 실행하도록 구성될 수 있다. 본원에 설명된 장치 및 방법들은 버튼 프레스들 사이에 최소 시간에 대한 기계적 및 인간적 제한들이 있고, 따라서 스위치 상태가 가장 큰 정확성으로 개방으로 알려지는 포인트가 버튼의 검출된 릴리스 직후라는 사실을 이용할 수 있다. 따라서, 아날로그 및/또는 디지털 스위치 인증은 하나 또는 그 초과의 버튼 푸싱 이벤트들, 또는 더 가능하게 버튼 릴리스 이벤트들 다음 수행될 수 있다.

[000133] 예컨대, 아날로그 스위치 인증 테스트는 도즈 개시 시퀀스에 대한 기준들을 충족하는 이중-프레스의 제 2 버튼 릴리스 직후 수행될 수 있다. 아날로그 스위치 인증은 하이-측 전압 및 로우-측 전압의 순차적 측정들을 하게 하기 위하여, 아날로그-투-디지털 컨버터(ADC) 예컨대 제어기/프로세서(예컨대, ITSIC)의 부분을 사용할 수 있다. 예컨대, ADC는 각각의 측정 동안 6.25 ms로 샘플링하도록 구성될 수 있다. 만약 스위치의 하이 측 전압이 하이 측 미리 결정된 임계치(예컨대, 0.8 x 배터리 전압)보다 작거나 같거나, 또는 로우 측 전압이 로우 측 미리 결정된 임계치(예컨대, 0.2 x 배터리 전압)보다 크거나 같으면, 테스트가 실패한다. 스위치 하이 및 로우 제한들은, 배터리 전압이 배터리 전압 테스트를 위해 측정되는 각각의 시간에 계산 및 저장될 수 있다.

[000134] 디지털 스위치 인증 테스트는 일반적으로 또한 본원에 설명된 장치 및 방법들에 의해 수행된다. 디지털 스위치 인증 테스트는 아날로그 스위치 인증 테스트의 목적과 유사할 수 있지만, 일반적으로 측정들시 더 간단하고, 더 빠르고, 그리고 더 거시적이다. 테스트는 스위치가 개방되어 있는 동안(예컨대, 버튼이 눌려지지 않음) 디지털 로직 레벨들을 확인하기 위하여, 도즈 스위치(1802)의 각각의 측에 연결된 이차 디지털 입력들(예컨대, 도 18a 및 18b의 GPIO[0] 및 GPIO[1])을 사용할 수 있다. 이들 "이차" 디지털 입력들(예컨대, 제 1 및 제 2 디지털 테스트 입력 라인들)은 일차 디지털 입력들과 동일한 타입을 가질 수 있고, 이들 디지털 입력들의 대응하는 값들은 매칭하는 것으로 예상된다. 예컨대, 제 1(하이 측) 디지털 입력 테스트 라인은 배터리에 연결된 제 1 입력 라인과 동일한 로직 값을 가져야 하고 제 2(로우 측) 디지털 입력 테스트 라인은 제 2 입력 라인과 동일한 로직 값을 가져야 한다.

[000135] 디지털 스위치 인증 테스트는 아날로그 스위치 인증 테스트 이전, 동안, 또는 이후 중 어느 하나에서 실행될 수 있다. 아날로그 스위치 인증 테스트의 수행은 성공적인 디지털 스위치 인증 테스트, 또는 그 반대에 따를 수 있다. 예컨대, 아날로그 스위치 인증 테스트는 도즈 개시 시퀀스에 대한 기준들을 충족하는 이중-프레스의 제 2 버튼 릴리스 다음 성공적인 디지털 스위치 인증 테스트 이후 수행될 수 있다. 예컨대, 앞서 설명된 바와 같이, 스위치의 하이 측 상의 이차 디지털 입력이 로우이거나, 스위치의 로우 측 상 이차 디지털 입력이 하이이면, 디지털 스위치 인증 테스트는 실패하고, 그리고 시스템은 실패 모드(예컨대, 디지털 스위치 인증 실패 모드)를 개시할 수 있고; 스위치의 하이 측 상 이차 디지털 입력이 하이이고, 그리고 스위치의 로우 측 상 이차 디지털 입력이 로우이면, 디지털 스위치 인증 테스트는 통과하고, 그 다음으로 시스템은 아날로그 스위치 인증을 수행할 수 있다. 아날로그 스위치 인증 테스트가 실패하면, 시스템은 또한 실패 모드(예컨대, 아날로그 스위치 인증 실패 모드)를 개시할 수 있다. 실패 모드는 디바이스를 잠그는 것(추가 활성화들을 방지하기 위하여), 디바이스를 셧 다운하는 것, 디바이스를 재시작하는 것, 경보/경고를 발행하는 것(예컨대, 부저, 알람 등), 회로로부터 배터리를 분리하는 것, 또는 이들의 일부 결합을 포함할 수 있다. 예컨대, 아날로그 스위치 인증 테스트가 실패하면, 장치는 수명 종료 모드로 진입할 수 있다.

[000136] 도 19a-19c는 아날로그 및 디지털 스위치 인증 테스트들 둘 모두를 수행하도록 구성된 장치 또는 방법에 대한 도즈 스위치 활성화 시퀀스의 타이밍에 대한 변형들을 예시한다. 도 19a-19c에서, 미리 결정된 시간 기간(1902) 내에서 도즈 스위치의 제 2 활성화 다음, 스위치 인증 테스트들 둘 모두가 수행된다. 도 19a에서, 아날로그 스위치 인증(ASV) 테스트가 먼저 수행되고, 그 다음 디지털 스위치 인증(DSV) 테스트가 수행된다. 디지털 스위치 인증 테스트는, 아날로그 스위치 인증 테스트가 우수하면(예컨대, 스위치의 하이 및 로우 측들이 미리 결정된 임계치들(예컨대, 하이 측 상에서 >0.8xVbat 및 로우 측 상에서 <0.2Vbat)에 의해 세팅된 허용 가능한 전압 범위들 내에 있다면) 수행될 수 있다. 아날로그 및 디지털 스위치 인증 테스트들 둘 모두는 스위치의 릴리스 다음(예컨대, 스위칭 시간 기간 내에서 제 2 릴리스 다음) 시간의 윈도우 내에서 수행될 수 있다. 시간 윈도우는, 스위치의 릴리스를 검출한 직후 또는 짧은 이후 시작될 수 있고 피험자 상 버튼을 다시 푸시할 수 있는 것이 가능하지 않거나 매우 가능하지 않은 시간 기간 동안 연장될 수 있다. 예컨대, 스위치 인증 테스트들은, 테스트 기간(테스트 윈도우)이 종료되기 전에(예컨대, 500 ms, 400 ms, 300 ms, 200 ms, 150 ms, 100 ms, 50 ms, 등) 수행될 수 있다.

[000137] 도 19b에서, 디지털 스위치 인증(DSV) 테스트가 먼저 수행되고, 그 다음 아날로그 스위치 인증(ASV) 테스트가 수행된다. 예컨대, 아날로그 스위치 인증은, 디지털 스위치 인증이 통과하는 경우만(예컨대, 하이 측이 로직 1이고 및/또는 배터리에 연결된 제 1 입력 라인으로부터의 하이-측 전압 입력에 매칭하고, 그리고 로우 측이 로직 0이고 및/또는 반대 입력 라인으로부터의 로우-측 전압 입력에 매칭함) 수행될 수 있다. 디지털 스위치 인증이 통과되지 못하면, 디바이스는 제 1 실패 모드(예컨대, 재시작, 및/또는 디지털 스위치 인증의 실패를 표시하는 카운터 또는 플래그를 증분, 셧 다운, 등)에 진입할 수 있다. 디지털 스위치 인증이 통과되고, 그리고 후속 아날로그 스위치 인증이 통과되면, 도즈는 전달될 수 있지만; 디지털 스위치 인증이 통과되지만 아날로그 스위치 인증이 통과되지 못하면, 디바이스는 제 2 실패 모드(예컨대, 디바이스 셧 다운, 디바이스 재시작, 경보/경고 발행, 회로로부터 배터리 분리, 또는 이들의 몇몇 결합)로 진입할 수 있다. 제 1 및 제 2 실패 모드들은 동일할 수 있다. 일부 변형들에서, 제 1 및 제 2 실패 모드들은 상이하다. 예컨대, 디지털 스위치 인증 테스트가 실패하면, 소프트웨어는, 도즈가 준비 모드(제 1 실패 모드)를 요청하고 머물러 있는 것을 무시할 수 있고, 그리고 아날로그 스위치 인증 테스트가 실패하면, 장치는 수명 종료 실패 모드(EOL 모드)에 진입할 수 있다. 일부 변형들에서, 아날로그 스위치 인증 테스트는 디지털 스위치 인증 테스트보다 더 민감하다(예컨대, 더 민감한 회로 사용). 아날로그 스위치 인증 테스트를 통과하는 것은, 회로가 온전한 것을 표시할 수 있고; 아날로그 스위치 인증 테스트의 실패는 회로의 실패를 표시할 수 있다. 그러므로, 그런 경우들에서, 아날로그 스위치 인증 테스트의 실패는 장치로 하여금 EOL(end of life) 모드로 진입하게 할 수 있다. 디지털 스위치 인증 테스트를 통과하는 것은 또한, 회로가 온전한 것을 (중복적으로) 표시할 수 있지만, 디지털 스위치 인증 테스트의 실패는 반드시 회로의 실패를 표시하지 않을 수 있다. 디지털 스위치 인증 테스트의 실패는 또한 일시적 전기 노이즈 신호들의 결과일 수 있다. 그러므로, 디지털 스위치 인증 테스트 이전 아날로그 스위치 인증 테스트를 수행하는 것은 디지털 스위치 인증 테스트의 잘못된 포지티브 실패들이 시스템이 EPL 모드에 진입함으로써 디스에이블하는 것을 방지할 수 있다.

[000138] 도 19c는, 아날로그 및 디지털 스위치 인증 모드들이 동시에 수행되거나, 대략적으로 동시에 수행되고, 그 다음 허용 가능한 기간 동안(예컨대, 도즈가 요청되는 것을 도즈 스위치의 활성화들로 표시할 시간 기간) 검출된 도즈 스위치의 제 2 릴리스가 수행되는 다른 변형을 예시한다.

[000139] 피처 또는 엘리먼트가 본원에서 다른 피처 또는 엘리먼트 "상에" 있는 것으로 참조될 때, 이는 직접적으로 다른 피처 또는 엘리먼트 상에 있을 수 있거나 개재 피처들 및/또는 엘리먼트들은 또한 존재할 수 있다. 대조하여, 피처 또는 엘리먼트가 다른 피처 또는 엘리먼트 "바로 위에" 있는 것으로 참조될 때, 개재 피처들 또는 엘리먼트들이 존재하지 않는다. 피처 또는 엘리먼트가 다른 피처 또는 엘리먼트에 "연결", "부착" 또는 "커플링"되는 것으로 참조될 때, 이는 다른 피처 또는 엘리먼트에 직접 연결, 부착 또는 커플링될 수 있거나 개재 피처들 또는 엘리먼트들이 존재할 수 있다는 것이 또한 이해될 것이다. 대조하여, 피처 또는 엘리먼트가 다른 피처 또는 엘리먼트에 "직접 연결", "직접 부착" 또는 "직접 커플링"되는 것으로 참조될 때, 개재 피처들 또는 엘리먼트들은 존재하지 않는다. 비록 하나의 실시예에 관하여 설명되거나 도시되지만, 이렇게 설명되거나 도시된 피처들 및 엘리먼트들은 다른 실시예들에 적용할 수 있다. "인접한" 다른 피처에 배치된 구조 또는 피처에 대한 참조들이 인접한 피처에 겹치거나 아래 놓이는 부분들을 가질 수 있다는 것은 당업자들에 의해 또한 인식될 것이다.

[000140] 본원에 사용된 용어들은 단지 특정 실시예들을 설명하는 목적을 위한 것이고 본 발명의 제한이도록 의도되지 않는다. 예컨대, 본원에 사용된 바와 같이, 단수 형태들은, 문맥이 명확하게 다르게 표시하지 않으면, 또한 복수의 형태들을 포함하도록 의도된다. 이 명세서에 사용될 때 용어들 "포함하다" 및/또는 "포함하는"이 언급된 피처들, 단계들, 동작들, 엘리먼트들, 및/또는 컴포넌트들의 존재를 특정하지만, 하나 또는 그 초과의 다른 피처들, 단계들, 동작들, 엘리먼트들, 컴포넌트들, 및/또는 이들의 그룹들의 존재 또는 부가를 배제하지 않는 것이 추가로 이해될 것이다. 본원에 사용된 바와 같이, 용어 "및/또는"은 연관되어 열거된 아이템들 중 하나 또는 그 초과의 임의의 결합들 및 모든 결합들을 포함하고 그리고 "/"로서 단축될 수 있다.

[000141] "아래", "밑", "하부", "상단", "상부" 등 같은 공간적으로 상대적 용어들은 도면들에 예시된 바와 같은 다른 엘리먼트(들) 또는 피처(들)에 대한 하나의 엘리먼트 또는 피처의 관계를 설명하기 위하여 설명의 용이함을 위하여 본원에서 사용될 수 있다. 공간적으로 상대적 용어들이 도면들에 묘사된 배향에 더하여 사용 또는 동작시 디바이스의 상이한 배향들을 포함하도록 의도되는 것이 이해될 것이다. 예컨대, 도면들의 디바이스가 반전되면, "아래" 또는 "밑"의 다른 엘리먼트들 또는 피처들로서 설명된 엘리먼트들은 다른 엘리먼트들 또는 피처들 "위"로 배향될 것이다. 따라서, 예시적 용어 "아래"는 위 및 아래의 배향 둘 다를 포함할 수 있다. 디바이스는 다르게 배향될 수 있고(90 도 회전되거나 다른 배향들로 있음) 그리고 본원에 사용된 공간적으로 상대적 설명자들은 이에 따라 해석하였다. 유사하게, 용어들 "상향으로", "하향으로", "수직", "수평" 등은 특정하게 다르게 표시되지 않으면 단지 설명의 목적을 위해서 본원에 사용된다.

[000142] 비록 용어들 "제 1" 및 "제 2"가 다양한 피처들/엘리먼트들(단계들을 포함함)을 설명하기 위하여 본원에서 사용될 수 있지만, 문맥이 다르게 표시하지 않으면, 이들 피처들/엘리먼트들은 이들 용어들에 의해 제한되지 않아야 한다. 이들 용어들은 다른 피처/엘리먼트로부터 하나의 피처/엘리먼트를 구별하기 위해 사용될 수 있다. 따라서, 하기 논의되는 제 1 피처/엘리먼트는 제 2 피처/엘리먼트로 칭해질 수 있고, 그리고 유사하게, 하기 논의되는 제 2 피처/엘리먼트는 본 발명의 지침들로부터 벗어남이 없이 제 1 피처/엘리먼트로 칭해질 수 있다.

[000143] 예들에서 사용된 바와 같이 포함되고 그리고 명시적으로 다르게 특정되지 않으면, 본원의 명세서 및 청구항들에서 사용된 바와 같이, 모든 번호들은, 비록 용어가 명시적으로 나타나지 않더라도, 단어 "약" 또는 "대략"에 의해 전제된 바와 같이 판독할 수 있다. 어구 "약" 또는 "대략적으로"는, 규정된 값 및/또는 포지션이 값들 및/또는 포지션들의 합리적인 예상된 범위 내에 있다는 것을 표시하기 위하여 크기 및/또는 포지션을 설명할 때 사용될 수 있다. 예컨대, 수치 값은 언급된 값(또는 값들의 범위)의 +/- 0.1%, 언급된 값(또는 값들의 범위)의 +/- 1%, 언급된 값(또는 값들의 범위)의 +/- 2%, 언급된 값(또는 값들의 범위)의 +/- 5%, 언급된 값(또는 값들의 범위)의 +/- 10% 등인 값을 가질 수 있다. 본원에 나열된 임의의 수치 범위는 그 안에 포함된 모든 서브-범위들을 포함하도록 의도된다.

[000144] 비록 다양한 예시적 실시예들이 상기 설명되었지만, 다수의 변화들 중 임의의 변화는 청구항들에 의해 설명된 바와 같이 본 발명의 범위에서 벗어남이 없이 다양한 실시예들에 대해 이루어질 수 있다. 예컨대, 다양한 설명된 방법 단계들이 수행되는 순서는 종종 대안적인 실시예들에서 변경될 수 있고, 그리고 다른 대안적인 실시예들에서 하나 또는 그 초과의 방법 단계들은 완전히 스킵될 수 있다. 다양한 디바이스 및 시스템 실시예들의 선택적인 피처들은 일부 실시예들에 포함될 수 있고 다른 실시예들에 포함되지 않을 수 있다. 그러므로, 상기 설명은 주로 예시 목적들을 위해 제공되고 청구항들에 설명된 바와 같이 본 발명의 범위를 제한하는 것으로 해석되지 않아야 한다.

[000145] 본원에 포함된 예들 및 예시들은 제한 없이 예시에 의해, 청구 대상이 실시될 수 있는 특정 실시예들을 도시한다. 언급된 바와 같이, 다른 실시예들은 이로부터 활용되고 유도될 수 있어서, 구조적 및 논리적 치환들 및 변화들은 이 개시의 범위에서 벗어남이 없이 이루어질 수 있다. 본 발명의 청구 대상의 그런 실시예들은 단지 편리함을 위해 그리고 하나보다 많은 것이 실제로 개시되면, 이 출원의 범위를 임의의 단일 발명 또는 발명의 개념으로 자발적으로 제한하도록 의도함이 없이 용어 "본 발명"에 의해 개별적으로 또는 집합적으로 지칭될 수 있다. 따라서, 특정 실시예들이 본원에 예시되고 설명되었지만, 동일한 목적을 달성하기 위하여 계산된 임의의 어레인지먼트는 도시된 특정 실시예들을 대신할 수 있다. 본 개시는 다양한 실시예들의 임의의 및 모든 적응들 또는 변형들을 커버하도록 의도된다. 상기 실시예들의 결합들, 및 본원에 특정하게 설명되지 않은 다른 실시예들은 상기 설명을 검토할 때 당업자들에게 명백할 것이다.

Claims (20)

1. 디지털 및 아날로그 인증 둘 모두를 사용하여 약의 도즈(dose)를 전달하기 위하여 사용자-선택가능 활성화 스위치의 동작을 인증하도록 적응된 이온영동(iontophoretic) 약 전달 디바이스로서,
   배터리 전압을 가진 배터리;
   약의 도즈를 전달하기 위하여 사용자에 의해 활성화되도록 구성된 스위치 ― 상기 스위치는 로우(low) 전압 측 및 하이(high) 전압 측을 가짐 ―;
   제 1 상기 하이 측 상의 제 1 입력 라인 및 상기 로우 측 상의 제 2 입력 라인 ― 상기 제 1 입력 라인 및 상기 제 2 입력 라인은 상기 배터리에 연결됨 ―;
   상기 하이 측 상의 제 1 아날로그 테스트 입력 라인 및 상기 로우 측 상의 제 2 아날로그 테스트 입력 라인;
   상기 하이 측 상의 제 1 디지털 테스트 입력 라인 및 상기 로우 측 상의 제 2 디지털 테스트 입력 라인;
   상기 스위치의 릴리스(release) 이벤트 다음 상기 스위치의 디지털 인증 및 상기 릴리스 이벤트 다음 상기 스위치의 아날로그 인증 둘 모두를 수행하도록 구성된 제어기
   를 포함하고,
   상기 제어기는, 상기 스위치의 아날로그 인증이 실패하면 상기 약 전달 디바이스에 대한 실패 모드를 개시하도록 추가로 구성되는,
   이온영동 약 전달 디바이스.
2. 제 1 항에 있어서,
   상기 스위치의 하이 전압 측 상의 입력 라인으로부터 복수의 순차적 샘플들을 저장하도록 구성된 원형 버퍼를 더 포함하고, 가장 새로운 샘플은 가장 오래된 샘플을 대체하는,
   이온영동 약 전달 디바이스.
3. 제 1 항에 있어서,
   상기 제어기는 상기 스위치의 상기 하이 전압 측 상의 입력 라인을 순차적으로 샘플링하고, 순차적 샘플들의 윈도우를 저장하고, 그리고 릴리스 이벤트를 검출하기 위하여 샘플들의 저장된 윈도우 내의 복수의 더 최근의 순차적 샘플들을 복수의 더 오래된 순차적 샘플들에 비교하도록 구성되는,
   이온영동 약 전달 디바이스.
4. 제 1 항에 있어서,
   상기 제 1 아날로그 테스트 입력 라인 및 상기 제 2 아날로그 테스트 입력 라인은 상기 제어기에 연결되고, 그리고 추가로 상기 제어기는, 상기 제 1 아날로그 테스트 라인 상의 전압이 배터리 전압의 제 1 미리 결정된 부분 미만이거나 상기 제 2 아날로그 테스트 상의 전압이 상기 배터리 전압의 제 2 미리 결정된 부분을 초과하면 상기 아날로그 인증을 실패하도록 구성되는,
   이온영동 약 전달 디바이스.
5. 제 1 항에 있어서,
   제 1 아날로그 테스트 입력 라인 및 제 2 아날로그 테스트 입력 라인은 제어기에 연결되고, 그리고 추가로 제어기는, 상기 제 1 아날로그 테스트 라인 상의 전압이 배터리 전압의 약 0.8 배 미만이거나 상기 제 2 아날로그 테스트 상의 전압이 상기 배터리 전압의 약 0.2 배를 초과하면 아날로그 인증을 실패하도록 구성되는,
   이온영동 약 전달 디바이스.
6. 제 1 항에 있어서,
   상기 제 1 디지털 테스트 입력 라인 및 제 2 디지털 테스트 입력 라인은 상기 제어기에 연결되고, 그리고 추가로 상기 제어기는, 상기 제 1 디지털 테스트 입력 라인의 값이 제 1 입력 라인의 값에 매칭하지 않으면 또는 상기 제 2 디지털 테스트 입력 라인의 값이 상기 제 2 입력 라인의 값에 매칭하지 않으면 상기 디지털 인증을 실패하도록 구성되는,
   이온영동 약 전달 디바이스.
7. 제 1 항에 있어서,
   상기 제 1 디지털 테스트 입력 라인 및 상기 제 2 디지털 테스트 입력 라인은 상기 제어기에 연결되고, 그리고 추가로 상기 제어기는, 상기 제 1 디지털 입력 라인이 로우이거나 상기 제 2 디지털 입력 라인이 하이이면 상기 디지털 인증을 실패하도록 구성되는,
   이온영동 약 전달 디바이스.
8. 제 1 항에 있어서,
   상기 제어기는 약 100 msec 미만 내에서 상기 스위치의 제 2 릴리스 다음 상기 스위치의 상기 아날로그 인증 및 상기 스위치의 상기 디지털 인증을 수행하도록 추가로 구성되는,
   이온영동 약 전달 디바이스.
9. 디지털 및 아날로그 인증 둘 모두를 사용하여 약의 도즈를 전달하기 위하여 사용자-선택가능 활성화 스위치의 동작을 인증하도록 적응된 이온영동 약 전달 디바이스로서,
   배터리 전압을 가진 배터리;
   약의 도즈를 전달하기 위하여 사용자에 의해 활성화되도록 구성된 스위치 ― 상기 스위치는 로우 전압 측 및 하이 전압 측을 가짐 ―;
   하이 측 상의 제 1 입력 라인 및 로우 측 상의 제 2 입력 라인 ― 상기 제 1 입력 라인 및 상기 제 2 입력 라인은 상기 배터리에 연결됨 ―;
   상기 하이 측 상의 제 1 아날로그 테스트 입력 라인 및 상기 로우 측 상의 제 2 아날로그 테스트 입력 라인 ― 상기 제 1 아날로그 테스트 입력 라인 및 상기 제 2 아날로그 테스트 입력 라인은 제어기에 연결됨 ―;
   상기 하이 측 상의 제 1 디지털 테스트 입력 라인 및 상기 로우 측 상의 제 2 디지털 테스트 입력 라인 ― 상기 제 1 디지털 테스트 입력 라인 및 상기 제 2 디지털 테스트 입력 라인은 상기 제어기에 연결됨 ―;
   을 포함하고,
   상기 제어기는 상기 스위치의 디지털 인증 다음, 미리 결정된 시간 기간 내에 상기 스위치의 제 2 릴리스를 수행하고, 그리고 상기 미리 결정된 시간 기간 내에 상기 스위치의 제 2 릴리스 다음 상기 스위치의 아날로그 인증을 수행하도록 구성되고, 추가로 상기 제어기는, 상기 제 1 아날로그 테스트 라인 상 전압이 상기 배터리 전압의 제 1 미리 결정된 부분 미만이거나 또는 상기 제 2 아날로그 테스트 라인 상 전압이 상기 배터리 전압의 제 2 미리 결정된 부분 초과이면 상기 아날로그 인증을 실패하고, 그리고 상기 제 1 디지털 입력 라인이 로우이거나 또는 상기 제 2 디지털 입력 라인이 하이이면 상기 디지털 인증을 실패하도록 구성되고;
   그리고 상기 제어기는, 상기 스위치의 아날로그 인증이 실패하면 상기 약 전달 디바이스에 대해 실패 모드를 개시하는,
   이온영동 약 전달 디바이스.
10. 디지털 및 아날로그 인증 둘 모두를 사용하여 이온영동 디바이스의 스위치의 동작을 인증하는 방법으로서,
    상기 스위치는 약 전달 디바이스로부터 약의 도즈를 전달하도록 사용자-활성화되고, 상기 방법은:
    릴리스 이벤트를 결정하기 위하여 상기 스위치를 모니터링하는 단계;
    도즈 스위치 회로를 사용하여 상기 릴리스 이벤트 다음 상기 스위치의 디지털 인증을 수행하고 그리고 상기 스위치의 하이 측 상의 이차 디지털 입력이 로우이거나 상기 스위치의 로우 측 상의 이차 디지털 입력이 하이이면, 디지털 인증을 실패하는 단계;
    상기 디지털 인증이 통과하면 상기 스위치의 아날로그 인증을 수행하고 그리고 하이 측 전압의 측정치가 상기 약 전달 디바이스에 대한 배터리 전압의 제 1 미리 결정된 부분 미만이거나 또는 상기 로우 측 상 전압의 측정치가 상기 배터리 전압의 제 2 미리 결정된 부분을 초과하면 상기 아날로그 인증을 실패하는 단계; 및
    상기 스위치의 상기 아날로그 인증이 실패하면 상기 약 전달 디바이스에 대해 실패 모드를 개시하는 단계
    를 포함하는,
    이온영동 디바이스의 스위치의 동작을 인증하는 방법.
11. 제 10 항에 있어서,
    상기 스위치를 모니터링하는 단계는, 스위치 입력을 순차적으로 샘플링하는 단계, 순차적 샘플들의 윈도우를 저장하는 단계, 및 상기 릴리스 이벤트를 검출하기 위하여 샘플들의 저장된 윈도우 내에서 복수의 더 최신 순차적 샘플들을 복수의 더 오래된 순차적 샘플들에 비교하는 단계를 포함하는,
    이온영동 디바이스의 스위치의 동작을 인증하는 방법.
12. 제 10 항에 있어서,
    상기 스위치를 모니터링하는 단계는, 스위치 입력을 순차적으로 샘플링하는 단계, 순차적 샘플들의 윈도우를 저장하는 단계, 및 상기 릴리스 이벤트를 검출하기 위하여 샘플들의 저장된 윈도우 내에서 3 또는 그 초과의 더 최신 순차적 샘플들을 3 또는 그 초과의 더 오래된 순차적 샘플들에 비교하는 단계를 포함하는,
    이온영동 디바이스의 스위치의 동작을 인증하는 방법.
13. 제 10 항에 있어서,
    상기 실패 모드를 개시하는 단계는 상기 전달 디바이스를 턴 오프하는 단계를 포함하는,
    이온영동 디바이스의 스위치의 동작을 인증하는 방법.
14. 제 10 항에 있어서,
    상기 실패 모드를 개시하는 단계는 상기 전달 디바이스를 비활성화하는 단계를 포함하는,
    이온영동 디바이스의 스위치의 동작을 인증하는 방법.
15. 제 10 항에 있어서,
    상기 스위치의 디지털 인증이 실패하면 상기 약 전달 디바이스의 버튼 샘플링 프로세스를 재시작하는 단계를 더 포함하는,
    이온영동 디바이스의 스위치의 동작을 인증하는 방법.
16. 제 10 항에 있어서,
    상기 디지털 인증을 수행하는 단계는, 상기 스위치의 제 1 측 상의 이차 디지털 입력이 상기 스위치의 상기 제 1 측 상의 일차 디지털 입력에 매칭하지 않거나, 상기 스위치의 제 2 측 상의 이차 디지털 입력이 상기 스위치의 상기 제 2 측 상의 일차 디지털 입력에 매칭하지 않으면 상기 디지털 인증을 실패하는 단계를 포함하는,
    이온영동 디바이스의 스위치의 동작을 인증하는 방법.
17. 제 10 항에 있어서,
    상기 아날로그 인증을 수행하는 단계는, 하이 측 전압의 측정치가 상기 약 전달 디바이스에 대한 배터리 전압의 약 0.8 배 미만이거나, 로우 측 전압의 측정치가 상기 배터리 전압의 약 0.2 배 초과이면, 상기 아날로그 인증을 실패하는 단계를 포함하는,
    이온영동 디바이스의 스위치의 동작을 인증하는 방법.
18. 제 10 항에 있어서,
    상기 아날로그 인증을 수행하는 단계는 아날로그 투 디지털 컨버터(ADC)를 사용하여 하이 측 전압 및 로우 측 전압을 순차적으로 측정하는 단계 및 상기 하이 측 전압이 제 1 미리 결정된 임계치 미만이거나 로우 측 전압이 제 2 미리 결정된 임계치 초과이면 상기 아날로그 인증을 실패하는 단계를 포함하는,
    이온영동 디바이스의 스위치의 동작을 인증하는 방법.
19. 제 10 항에 있어서,
    상기 릴리스 이벤트는 미리 결정된 시간 기간 내에서 상기 스위치의 제 2 릴리스를 포함하는,
    이온영동 디바이스의 스위치의 동작을 인증하는 방법.
20. 제 10 항에 있어서,
    상기 릴리스 이벤트는 약 100 msec 미만 내에서 상기 스위치의 제 2 릴리스를 포함하는,
    이온영동 디바이스의 스위치의 동작을 인증하는 방법.

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