KR20160101312A - Apparatus for measuring distance - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a distance measuring device. According to an embodiment of the present invention, the distance measuring device comprising a light source radiating light in a pulse shape; a light receiving sensor receiving the light radiated from the light source and reflected from an object; a polarizing beam splitter guiding the light, radiated from the light source, towards the object, of which distance is measured, by transmitting or reflecting the light, and guiding the light, reflected from the object, towards the light receiving sensor by transmitting or reflecting the reflected light; a lens controlling the intensity or angle of the light radiated from the light source; and a filter selectively passing only a wavelength range of the light radiated from the light source. The distance measuring device is formed by more including a 1/4 wavelength plate to change a polarization property by delaying a component of the radiated light. The light source radiates linear polarizing light, and the polarizing beam splitter transmits or reflects every light radiated from the light source. The light receiving sensor comprises one call or one avalanche photo-diode (APD). Therefore, the present invention is capable of inducing the reflected light to be formed on a sensor, improving optical efficiency by using a simple sensor without using a linear array type sensor, reducing processing data and time for distance calculation, and reducing a price of the distance measuring device.

Description

거리 측정 장치 {Apparatus for measuring distance}{Apparatus for measuring distance}

본 발명은 거리 측정 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 TOF 방식의 거리 측정 장치의 광학 구조에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a distance measuring apparatus, and more particularly, to an optical structure of a TOF-type distance measuring apparatus.

거리를 측정하는 센서에는 적외선을 이용하는 적외선 센서, 초음파를 이용하는 초음파 센서, TOF 센서 등이 있다. 적외선 센서는 삼각 측량 원리에 따라 광원에서 방사한 적외선이 피측정물의 표면에서 반사되어 입력되는 접속 광을 수신하여 출력 전류로 수광점을 계산할 수 있는 PSD(Position Sensitive Detector)를 이용하여 거리를 측정할 수 있다. 초음파 센서는 센서가 발사한 초음파 펄스가 피측정물의 표면에서 반사되어 다시 센서로 되돌아올 때까지의 시간을 측정하여 측정 대상에 대한 거리를 측정할 수 있다.Sensors for measuring distance include infrared sensors using infrared rays, ultrasonic sensors using ultrasonic waves, and TOF sensors. The infrared sensor measures the distance by using a PSD (Position Sensitive Detector) which can calculate the light receiving point by receiving the input light reflected by the surface of the object to be measured by the infrared ray emitted from the light source according to the triangulation principle . The ultrasonic sensor can measure the distance to the object to be measured by measuring the time from the ultrasonic pulse emitted from the sensor to the surface of the object to be reflected back to the sensor.

TOF 센서는 매우 짧은 폭의 적외선 펄스를 방사하는 LD나 LED와 같은 광원과 물체에서 반사되는 반사광을 검출하기 위한 센서로 구성되는데, 광원에서 방사된 광이 물체에서 반사되어 센서로 돌아오는 시간을 측정하여 물체와의 거리를 식 d=c*tTOF/2(d는 물체와의 거리, c는 빛의 속도, tTOF는 광원에서 방사된 광이 물체에서 반사되어 센서로 돌아오는 시간)으로 계산할 수 있다. 하지만 빛의 속도가 너무 빨라 시간 tTOF를 측정하기 어렵기 때문에, 광원이 빛을 변조하여 방사하고 2개 이상의 위상을 이용하여 간접적으로 거리를 계산한다.The TOF sensor consists of a light source such as an LD or an LED emitting a very short pulse of infrared light and a sensor for detecting reflected light reflected from the object. It measures the time the light emitted from the light source is reflected from the object and returns to the sensor (D is the distance from the object, c is the velocity of the light, and t TOF is the time when the light emitted from the light source is reflected from the object and returns to the sensor) as follows: d = c * t TOF / 2 . However, since the speed of light is so fast that it is difficult to measure the time t TOF , the light source modulates and emits the light and indirectly calculates the distance using two or more phases.

도 1은 TOF 방식으로 거리를 측정하는 원리를 도시한 것이다.Fig. 1 shows the principle of measuring the distance by the TOF method.

광원이 소정 폭(T0)의 펄스 형태로 광을 출사하면 소정 시간(Td)이 경과한 후 물체에서 반사되는 반사광이 센서에 도달한다. 센서는 광원이 출사한 펄스와 동기하여(Phase 1) 반사광을 검출할 뿐만 아니라 광원이 출사한 펄스와 180도 위상차를 갖고(Phase 2) 반사광도 검출하는데, 출사광과 동기하여 검출한 광량(Q1)과 출사광과 180도 위상차를 갖고 검출한 광량(Q2)을 근거로 물체와의 거리를 계산할 수 있다.When the light source emits light in the form of a pulse having a predetermined width T0, the reflected light reflected from the object reaches the sensor after the elapse of the predetermined time Td. The sensor not only detects the reflected light in synchronization with the pulse emitted from the light source (phase 1) but also detects the reflected light with a phase difference of 180 degrees (Phase 2) from the pulse emitted from the light source. The light amount detected in synchronization with the emitted light And a light amount Q2 that is 180 degrees out of phase with the emitted light and is detected.

센서를 구성하는 셀은 두 개의 스위치(V1, V2)와 2개의 캐패시터(C1, C2), 및 반사광에 반응하여 전하를 발생시키는 다이오드로 구성될 수 있고, 스위치 S1과 S2는 각각 Phase 1과 Phase 2에 따라 동작하여 반사광에 반응하여 전하를 발생시키는 다이오드를 캐패시터 1과 2에 교번적으로 연결하고, 다이오드에서 발생한 전하가 캐패시터 1과 2에 전하량 Q1과 Q2로 저장되고, 이에 따라 캐패시터 C1과 C2의 전압 V1과 V2은 캐패시터에 쌓이는 전하량 Q1과 Q2에 비례하는 값이 된다. 이때, 물체와의 거리는 (1/2)*c*T0*V2/(V1+V2)에 비례하는 값으로 계산할 수 있다.The cell constituting the sensor may be composed of two switches V1 and V2, two capacitors C1 and C2, and a diode for generating charges in response to the reflected light, and switches S1 and S2 are respectively connected to Phase 1 and Phase 2, a diode for generating charges in response to the reflected light is alternately connected to the capacitors 1 and 2. Charges generated in the diodes are stored in the capacitors 1 and 2 as charges Q1 and Q2, The voltages V1 and V2 are proportional to the charge amounts Q1 and Q2 accumulated in the capacitor. At this time, the distance from the object can be calculated as a value proportional to (1/2) * c * T0 * V2 / (V1 + V2).

TOF 방식의 거리 측정 방식에는 광을 방사하기 위한 송광부와 대상물에서 반사되는 반사광을 받아들이기 위한 수광부가 필요한데, 송광부와 수광부를 동일 축상에 위치시키는 것이 가장 이상적이나 가능하지 않다. 송광부와 수광부 사이에 간격이 있으면 대상물까지 거리에 따라 반사광이 맺히는 초점의 위치가 변하게 되고, 반사광이 센서에서 유효한 셀을 벗어날 수가 있다.The distance measurement method of the TOF method requires a light emitting unit for emitting light and a light receiving unit for receiving reflected light reflected from the object. It is most ideal to position the light emitting unit and the light receiving unit on the same axis. If there is a gap between the light-emitting part and the light-receiving part, the position of the focal point of the reflected light is changed according to the distance to the object, and the reflected light can escape from the effective cell in the sensor.

종래 TOF 거리 측정 장치는, 송광부와 수광부를 같은 축에 배치할 수 없어서 송광부와 수광부를 일정 거리 이격시키기 때문에, 대상물의 거리에 따라 수광 센서에 맺히는 초점의 위치가 변하게 되고, 이를 고려하여 측정하고자 하는 거리 범위 내에서 반사되는 반사광이 모두 센서에 맺히도록, 한 방향으로 나열된 복수 개의 셀로 구성된 선형 어레이 형태의 수광 센서를 이용한다.In the conventional TOF distance measuring apparatus, since the light transmitting section and the light receiving section can not be arranged on the same axis so that the light transmitting section and the light receiving section are spaced apart from each other by a predetermined distance, the position of the focus formed on the light receiving sensor changes according to the distance of the object. A light receiving sensor in the form of a linear array composed of a plurality of cells arranged in one direction is used so that all the reflected light reflected within a desired distance range is formed on the sensor.

하지만, 선형 어레이 구조의 센서는 각각의 유효 셀 사이에 데드 존(Dead zone)이 있어 센서가 거리를 인식하지 못하는 위치가 발생할 수 있다.However, a sensor of a linear array structure may have a dead zone between each effective cell, and a position where the sensor can not recognize the distance may occur.

따라서, 본 발명은 이러한 상황을 반영하여 창작된 것으로서, 본 발명의 목적은 대상물의 거리에 상관 없이 반사광이 센서에 맺히도록 하는 거리 측정 장치의 광학 구조를 제공하는 데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, it is an object of the present invention to provide an optical structure of a distance measuring apparatus that allows reflected light to be incident on a sensor regardless of the distance of an object.

본 발명의 다른 목적은, 어레이 형태의 센서를 사용하지 않고 TOF 방식으로 거리를 측정할 수 있도록 하는 거리 측정 장치의 광학 구조를 제공하는 데 있다.It is another object of the present invention to provide an optical structure of a distance measuring apparatus that enables distance measurement in a TOF manner without using an array type sensor.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 거리 측정 장치는, 펄스 형태로 광을 방사하기 위한 광원; 상기 광원이 방사하여 대상물로부터 반사되어 되돌아오는 반사광을 수신하기 위한 수광 센서; 상기 광원이 방사한 광을 반사시키거나 투과시켜 거리를 측정하고자 하는 대상물을 향한 방향으로 진행시키고 대상물에서 반사된 반사광을 투과시키거나 반사시켜 상기 수광 센서를 향해 진행시키기 위한 편광 빔 스플리터; 상기 광원에서 방사한 광의 각도나 강도를 조절하기 위한 렌즈; 및 상기 광원이 방사한 광의 파장대만을 선택적으로 통과시키기 위한 필터를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a distance measuring apparatus including: a light source for emitting light in a pulse shape; A light receiving sensor for receiving the reflected light reflected from the object by being emitted from the light source; A polarizing beam splitter for reflecting or transmitting the light radiated by the light source to advance the distance toward the object to be measured and transmitting or reflecting the reflected light reflected by the object toward the light receiving sensor; A lens for adjusting an angle or intensity of light emitted from the light source; And a filter for selectively passing only the wavelength band of the light emitted from the light source.

일 실시예에서, 상기 광원은 원편광을 방사할 수 있다.In one embodiment, the light source may emit circularly polarized light.

일 실시예에서, 상기 거리 측정 장치는 입사되는 광의 한 성분을 지연시켜 편광 성질을 바꾸기 위한 1/4 파장판을 더 포함하여 구성될 수 있다.In one embodiment, the distance measuring device may further comprise a quarter wave plate for changing polarization properties by delaying one component of the incident light.

일 실시예에서, 상기 광원은 선편광을 방사하고 상기 편광 빔 스플리터는 상기 광원이 방사한 광을 전부 반사시키거나 전부 투과시킬 수 있다.In one embodiment, the light source emits linearly polarized light, and the polarization beam splitter can totally reflect or totally transmit the light emitted by the light source.

일 실시예에서, 상기 렌즈는 상기 광원이 방사하는 확산광을 평행광으로 바꾸고 상기 반사광이 수광 센서에 맺히도록 수렴시키는 콜리메이터 렌즈일 수 있다.In one embodiment, the lens may be a collimator lens that converts diffused light emitted by the light source into parallel light and converges the reflected light to be received by the light receiving sensor.

일 실시예에서, 상기 수광 센서는 하나의 셀로 구성되거나 하나의 APD(Avalanche Photo-Diode)로 구현될 수 있다.In one embodiment, the light-receiving sensor may be constituted by one cell or by one APD (Avalanche Photo-Diode).

일 실시예에서, 상기 광원과 수광 센서를 TOF 방식에 따라 대상물까지의 거리를 측정할 수 있도록 구성할 수 있다.In one embodiment, the light source and the light receiving sensor can be configured to measure the distance to the object according to the TOF method.

따라서, 거리 측정 장치에서 반사광이 센서에 맺히지 않는 것을 막을 수 있게 된다.Therefore, it is possible to prevent the reflected light from being incoherent to the sensor in the distance measuring device.

또한, 선형 어레이 형태의 센서를 사용하지 않고 단순한 형태의 센서를 채용하여, 데드 존에 의한 거리 측정 효율 저하를 막고, 거리 연산 시간과 처리 데이터를 줄일 수 있고, 거리 측정 장치의 가격을 낮출 수 있게 된다.In addition, by adopting a sensor of a simple shape without using a sensor of a linear array type, it is possible to prevent a decrease in the distance measurement efficiency by the dead zone, reduce the distance calculation time and processing data, do.

또한, 수광부와 송광부의 렌즈를 통합하여 렌즈의 개수를 줄일 수 있고, 센서에 수광되는 초점 크기를 최소화하여 광 효율을 올릴 수 있게 된다.Further, the number of lenses can be reduced by integrating the lenses of the light receiving unit and the light emitting unit, and the focal size received by the sensor can be minimized to increase the light efficiency.

도 1은 TOF 방식으로 거리를 측정하는 원리를 도시한 것이고,
도 2는 종래 TOF 방식 거리 측정 장치의 구성을 도시한 것이고,
도 3은 종래 TOF 방식 거리 측정 장치를 이용하여 근거리, 중거리, 원거리를 측정할 때 선형 어레이 센서에 맺히는 빔의 위치를 도시한 것이고,
도 4는 목표 대상물까지의 거리에 따른 센서에 맺히는 초점의 위치를 도시한 것이고,
도 5는 목표 대상물까지의 거리 변화에 따라 선형 어레이 센서의 데드 존 영향을 도시한 것이고,
도 6은 선형 어레이 센서의 데드 존 영향을 줄였을 때 목표 대상물까지의 거리에 따른 수광 강도를 도시한 것이고,
도 7은 본 발명에 따른 TOF 방식 거리 측정 장치의 구성을 도시한 것이고,
도 8은 목표 대상물에서 전반사될 때 편광되지 않는 반사광이 광원으로 진행하는 것을 막기 위해 QWP를 채용한 이유를 설명하는 도면이고,
도 9는 목표 대상물에서 난반사될 때 센서로 반사광이 진행하는 예를 도시한 것이다.Fig. 1 shows the principle of measuring the distance by the TOF method,
Fig. 2 shows a configuration of a conventional TOF-type distance measuring apparatus,
FIG. 3 is a view showing a position of a beam that is formed on a linear array sensor when a near-field, a middle-distance, and a far-field are measured using a conventional TOF-type distance measuring device,
4 is a view showing a position of a focus formed on a sensor according to a distance to a target object,
5 shows the dead zone effect of the linear array sensor according to the distance change to the target object,
6 shows the light receiving intensity according to the distance to the target object when the influence of the dead zone of the linear array sensor is reduced,
7 is a view showing a configuration of a TOF distance measuring apparatus according to the present invention,
8 is a view for explaining the reason why QWP is adopted to prevent the non-polarized reflected light from proceeding to the light source when the target object is totally reflected,
FIG. 9 shows an example in which reflected light travels to the sensor when diffused reflection from a target object.

이하, 본 발명에 따른 거리 측정 장치에 대한 실시예를 첨부하는 도면에 의거하여 상세히 설명한다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of a distance measuring apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2는 종래 TOF 방식 거리 측정 장치의 구성을 도시한 것이다.2 shows a configuration of a conventional TOF distance measuring device.

거리 측정 장치는, TOF 방식으로 대상물의 거리를 측정하기 위하여 소정 폭의 적외선 펄스를 방사하기 위한 송광부, 송광부가 방사한 적외선이 대상물에서 반사되어 되돌아오는 반사광을 검출하기 위한 수광부 및 수광부의 출력 신호를 근거로 대상물까지의 거리를 계산하기 위한 프로세서(미도시)를 포함하여 구성될 수 있다.The distance measuring apparatus includes a light emitting unit for emitting infrared pulses of a predetermined width in order to measure a distance of an object in a TOF manner, a light receiving unit for detecting reflected light reflected by the object, And a processor (not shown) for calculating the distance to the object based on the calculated distance.

송광부는 적외선을 방사하는 LD나 LED와 같은 발광 모듈과 LD 전면에 방사할 광의 각도나 광의 강도 등을 조절하기 위한 광학계, 예를 들어 콜리메이터 렌즈를 포함하여 구성될 수 있고, 수광부는 입사되는 반사광을 일정 크기나 모양으로 변형하기 위한 텔레센트릭 렌즈(Telecentric Lens)와 같은 수광 렌즈, 송광부가 출사한 광의 파장대만을 선택적으로 통과시키기 위한 필터 및 반사광을 검출하기 위한 선형 어레이 형태의 수광 센서를 포함하여 구성될 수 있다.The light emitting unit may include a light emitting module such as an LD or an LED that emits infrared rays, and an optical system for adjusting the angle of light to be radiated to the front surface of the LD or the intensity of light, for example, a collimator lens. A light receiving lens such as a telecentric lens for deforming the light into a predetermined size or shape, a filter for selectively passing the wavelength band of the light emitted from the light emitting unit, and a linear array type light receiving sensor for detecting reflected light Lt; / RTI >

송광부와 수광부가 소정의 간격으로 떨어져 있기 때문에, 대상물의 위치에 따라 대상물에서 반사되는 반사광이 수광 센서에 맺히는 위치가 달라지게 된다.Since the light-transmitting portion and the light-receiving portion are spaced apart from each other by a predetermined distance, the position of reflected light reflected by the object on the light-receiving sensor varies depending on the position of the object.

도 3은 종래 TOF 방식 거리 측정 장치를 이용하여 근거리, 중거리, 원거리를 측정할 때 선형 어레이 센서에 맺히는 빔의 위치를 도시한 것이다.FIG. 3 shows the position of a beam formed on a linear array sensor when measuring near, middle, and long distances using a conventional TOF type distance measuring apparatus.

송광부에서 방사된 평행광은 대상물에서 반사되어 반사광이 수광부의 수광 센서에 맺히는데, 대상물이 가까운 거리에 있다면 송광부, 대상물, 수광부가 이루는 각도가 커지게 되어 반사광이 수광부의 선형 어레이에서 중앙이 아닌 한쪽에 치우쳐서 맺히게 되고, 대상물이 먼 거리에 있다면 송광부, 대상물, 수광부가 이루는 각도가 커지게 되어 반사광이 수광부의 선형 어레이에서 중앙 부근에 위치하는 셀에 맺히게 된다.The parallel light emitted from the light emitting portion is reflected by the object and the reflected light is formed on the light receiving sensor of the light receiving portion. If the object is close to the distance, the angle formed by the light emitting portion, the object, and the light receiving portion becomes large, And when the object is at a long distance, the angle formed by the light emitting portion, the object, and the light receiving portion becomes large, and the reflected light is formed in the cell located near the center in the linear array of the light receiving portion.

도 4는 목표 대상물까지의 거리에 따른 센서에 맺히는 초점의 위치를 도시한 것이다.FIG. 4 shows the position of the focus pointing to the sensor according to the distance to the target object.

목표 대상물까지의 거리에 따른 초점 위치 변화는 핀홀 카메라(Pin-hole camera) 조건으로 계산할 때 ((수광 렌즈의 초점 거리) x (송광부와 수광부 사이 거리))/(Target 거리) 계산 식으로 나타낼 수 있는데, 도 4에 도시한 것과 같이, 타겟 거리가 가까워짐에 따라, 즉 근거리로 갈수록 결상 위치의 변화가 급격히 커지고, 위치의 변화는 계산 식에서 보듯이 '수광 렌즈의 초점 거리'와 '송광부와 수광부 사이 거리'에 의하여 결정된다. The change of the focal position according to the distance to the target object is expressed by the formula ((focal distance of the light receiving lens) x (distance between the light transmitting part and the light receiving part)) / (target distance) when calculating with the pin-hole camera condition As shown in FIG. 4, as the target distance approaches, that is, the change in the imaging position increases as the distance to the nearer side increases, and the change in the position increases as the focal length of the light- The distance between the light-receiving portions'.

도 5는 목표 대상물까지의 거리 변화에 따라 선형 어레이 센서의 데드 존 영향을 도시한 것으로, 도 4에서와 같이 타겟 거리에 따라서 반사광이 맺히는 결상 위치가 변하므로, 특정 위치에서 반사되는 반사광의 초점은 복수 개의 셀로 구성되는 선형 어레이에서 셀과 셀 사이의 데드 존에 맺히게 되어 수광 센서가 해당 위치에 대해서는 반사광을 인식할 수 없게 된다.FIG. 5 shows the dead zone effect of the linear array sensor according to the distance change to the target object. As shown in FIG. 4, the imaging position at which the reflected light is formed varies depending on the target distance, A dead zone between a cell and a cell is formed in a linear array composed of a plurality of cells, so that the light receiving sensor can not recognize the reflected light at the corresponding position.

따라서, 도 5와 같이 타겟 거리가 멀어짐에 따라 수광 센서에 입사되는 반사광의 강도가 일정하게(정확히는 거리의 제곱에 반비례하게) 줄어들지 않고 중간 중간에 강도가 갑자기 작아지는 위치가 몇 군데 발생하게 된다.Accordingly, as shown in FIG. 5, the intensity of the reflected light incident on the light receiving sensor does not decrease (exactly in inverse proportion to the square of the distance) as the target distance becomes farther away, and the intensity suddenly decreases in the middle.

도 6은 선형 어레이 센서의 데드 존 영향을 줄였을 때 목표 대상물까지의 거리에 따른 수광 강도를 도시한 것이다.6 shows the light receiving intensity according to the distance to the target object when the influence of the dead zone of the linear array sensor is reduced.

도 5와 같은 수광 센서에 존재하는 데드 존의 영향을 줄이기 위해 수광 센서에 맺히는 스폿(Spot) 크기를 크게 할 경우, 반사광이 셀과 셀 사이에 맺힐 때 발생하는 데드 존의 영향을 줄일 수는 있지만 반사광의 일부가 수광 센서 안으로 맺히지 않게 되어 도 6을 도 5와 비교해보면 전체적인 신호의 크기가 작아지는 것을 확인할 수 있다.When the spot size of the light receiving sensor is increased to reduce the influence of the dead zone existing in the light receiving sensor shown in FIG. 5, the influence of the dead zone generated when the reflected light is formed between the cell and the cell can be reduced A part of the reflected light is not formed in the light receiving sensor, and it can be seen that the size of the overall signal becomes smaller when comparing Fig. 6 with Fig.

본 발명에서는, 광 디스크 장치에 채용되는 광 픽업 헤드와 같이 편광 빔 스플리터를 사용하여, 송광부와 수광부를 일정 거리 이격시키지 않고 같은 광축에 배치하는 방식을 적용한다. 송광부와 수광부가 같은 광축에 배치되면, 반사광이 맺히는 초점 위치가 거리에 따라 바뀌지 않기 때문에, 선형 어레이 구조의 수광 센서를 사용할 필요가 없게 되어 수광 센서를 하나의 픽셀 구조나 APD(Avalanche Photo-Diode)로 단순화할 수 있다.In the present invention, a method of using a polarization beam splitter such as an optical pickup head employed in an optical disk apparatus, and arranging the light-transmitting section and the light-receiving section on the same optical axis without being distanced by a predetermined distance is applied. When the light-emitting section and the light-receiving section are disposed on the same optical axis, the focal position at which the reflected light is formed does not change with distance, so that it becomes unnecessary to use a light-receiving sensor of a linear array structure. ).

또한, 수광 센서 구조를 단순화함으로써, 선형 어레이 구조에서 유효 셀들 사이에 존재하는 데드 존에 의한 측정 에러를 줄이기 위해 결상되는 스폿을 크게(최소 2개 셀에 반사광 초점의 유효 반경이 들어가도록)할 때 발생하는 강도 또는 효율 감소를 방지할 수 있게 된다.Further, by simplifying the light-receiving sensor structure, it is possible to reduce the number of spots formed in order to reduce the measurement error caused by the dead zone existing between the effective cells in the linear array structure (such that the effective radius of the reflected light focal point is at least two cells) It is possible to prevent the occurrence of a decrease in strength or efficiency.

도 7은 본 발명에 따른 TOF 방식 거리 측정 장치의 구성을 도시한 것이다.FIG. 7 shows a configuration of a TOF distance measuring apparatus according to the present invention.

본 발명에 따른 TOF 방식 거리 측정 장치(1)는, 송광부와 수광부를 별도로 구분하지 않고, 광원(10), 편광 빔 스플리터(20), 콜리메이트 렌즈(30), 1/4 파장판(QWP: Quarter Wave Plate)(40), 필터(50) 및 수광 센서(60)를 포함하여 구성될 수 있다.The TOF-type distance measuring apparatus 1 according to the present invention does not distinguish the light-transmitting section and the light-receiving section separately but the light source 10, the polarization beam splitter 20, the collimator lens 30, the quarter wave plate (QWP : Quarter Wave Plate) 40, a filter 50, and a light receiving sensor 60.

광원(10)은 적외선 대역의 일정 파장의 광을 방출하는 LD나 LED와 같은 발광 모듈과 발광 모듈이 소정의 폭을 갖는 펄스 형태로 광을 출력하도록 구동하기 위한 구동부를 포함하여 구성될 수 있다.The light source 10 may include a light emitting module such as an LD or an LED that emits light having a predetermined wavelength in the infrared band and a driver for driving the light emitting module to output light in a pulse shape having a predetermined width.

편광 빔 스플리터(20)는, 광원(10)이 방출한 출사광을 반사시키거나 투과시켜 거리를 측정하고자 하는 대상물을 향한 방향으로 진행시키고, 대상물에서 반사된 반사광을 투과시키거나 반사시켜 수광 센서(60)를 향해 진행시킬 수 있는데, 도 7에서는 광원(10)이 방출한 출사광이 편광 빔 스플리터(20)에 의해 반사되어 경로가 꺾이고 반사광이 편광 빔 스플리터(20)를 투과하는 예를 도시하고 있다.The polarizing beam splitter 20 reflects or transmits the emitted light emitted from the light source 10 to advance the distance in the direction toward the object to be measured and reflects or reflects the reflected light reflected from the object, 7 shows an example in which the outgoing light emitted by the light source 10 is reflected by the polarized beam splitter 20 to be folded and the reflected light is transmitted through the polarized beam splitter 20 have.

편광 빔 스플리터(20)의 미러는, 예를 들어 P-편광 성분은 반사시키고 S-편광 성분은 투과시킬 수 있는데(또는 반대도 가능), 광원(10)이 선편광 성질을 갖는 출사광을 방사할 때 편광 빔 스플리터(20)의 미러는 출사광을 전부 반사시키거나 전부 투과시킬 수 있다. 또한, 반사광 중에서 출사광과 편광 방향이 다른 광이 편광 빔 스플리터(20)의 미러에 의해 수광 센서(60)를 향해 진행할 수 있다.The mirror of the polarizing beam splitter 20 can reflect, for example, the P-polarized component and the S-polarized component (or vice versa), so that the light source 10 emits outgoing light with linearly polarized light properties The mirror of the polarization beam splitter 20 can totally reflect or totally reflect the outgoing light. Light having a polarization direction different from that of the outgoing light in the reflected light can be advanced toward the light receiving sensor 60 by the mirror of the polarization beam splitter 20.

콜리메이트 렌즈(30)는 광원(10)에서 방사한 출사광의 각도나 강도를 조절하기 위한 것으로, 확산하는 출사광을 평행광으로 바꾸고 평행광에 해당하는 반사광이 수광 센서(60)의 한정된 영역에 맺히도록 반사광을 수렴광으로 변환시킨다.The collimator lens 30 is for adjusting the angle and intensity of the light emitted from the light source 10, and converts the diffused outgoing light into parallel light, and the reflected light corresponding to the parallel light is incident on a limited area of the light receiving sensor 60 So that the reflected light is converted into convergent light.

1/4 파장판(QWP: Quarter Wave Plate)(40)은 광원(10)에서 방사한 출사광의 한 성분을 지연시켜 편광 방향을 1/4 파장만큼 회전시키고 역시 대상물에서 반사되어 되돌아오는 반사광의 편광 방향을 1/4 파장만큼 회전시킨다.A quarter wave plate (QWP) 40 rotates the polarization direction by a quarter wavelength by delaying one component of the outgoing light emitted from the light source 10, and also polarizes the reflected light reflected from the object Direction is rotated by 1/4 wavelength.

콜리메이트 렌즈(30)와 1/4 파장판(40)은 편광 빔 스플리터(20)와 대상물 사이에 배치된다.The collimator lens 30 and the 1/4 wave plate 40 are disposed between the polarization beam splitter 20 and the object.

필터(50)는 광원(10)이 출사한 광의 파장대만을 선택적으로 통과시키기 위한 것으로, 필터는 편광 빔 스플리터(20)와 수광 센서(60) 사이에 배치될 수 있다.The filter 50 is for selectively passing only the wavelength band of the light emitted from the light source 10, and the filter can be disposed between the polarization beam splitter 20 and the light receiving sensor 60.

수광 센서(60)는, 광원(10)과 광축을 공유하여 대상물까지의 거리에 상관 없이 반사광이 초점 맺히는 위치가 바뀌지 않기 때문에 하나의 셀만으로 구성될 수 있는데, TOF 방식으로 거리를 측정할 수 있도록 도 1과 같은 회로 구성을 포함하여, 광원(10)이 방사하는 적외선 펄스와 동기하여(Phase 1) 반사광을 수신하고 또한 광원(10)이 방사하는 적외선 펄스와 180도의 위상차를 갖고(Phase 2) 반사광을 수신하여, Phase 1에 대한 전기 신호와 Phase 2에 대한 전기 신호를 출력할 수 있는데, 광의 위상 시프트(Shift) 양(Phase 1과 Phase 2의 차이)을 측정할 수 있도록 셀이 2개 이상의 서브 셀로 나뉠 수 있다.Since the light receiving sensor 60 shares the optical axis with the light source 10 and does not change the focal position of the reflected light regardless of the distance to the object, the light receiving sensor 60 can be constituted by only one cell. (Phase 1) in synchronization with an infrared pulse emitted by the light source 10 and a phase difference of 180 degrees with an infrared pulse emitted by the light source 10, It can receive the reflected light and output the electric signal for Phase 1 and the electric signal for Phase 2. It is possible to measure the amount of phase shift of the light (difference between Phase 1 and Phase 2) Sub-cells.

TOF 방식 거리 측정 장치는 수광부(60)의 출력 신호를 근거로 TOF 방식에 따라 대상물까지의 거리를 계산하기 위한 프로세서(미도시)를 더 포함할 수 있다.The TOF distance measuring apparatus may further include a processor (not shown) for calculating the distance to the object according to the TOF method based on the output signal of the light receiving unit 60.

프로세서는, 수광 센서(60)의 셀로부터 출력되는 Phase 1에 대한 전기 신호와 Phase 2에 대한 전기 신호를 기초로 TOF 방식에 따라 출사광이 반사광으로 수광 센서(60)에 맺힐 때까지의 시간을 계산하여 대상물까지의 거리를 계산할 수 있다.Based on the electric signal for Phase 1 and the electric signal for Phase 2 output from the cell of the light receiving sensor 60, the processor calculates the time until the emitted light is reflected on the light receiving sensor 60 according to the TOF method The distance to the object can be calculated by calculation.

프로세서는, 수광 센서(60)를 구성하는 하나 이상의 셀이 광원(10)과 동기 하여 얻은 전기 신호 V1과 광원(10)과 180도 위상차를 갖고 얻은 전기 신호 V2를 출력할 때, V1과 V2를 이용하여 거리 정보를 계산할 수 있다. 도 1은 하나의 셀을 2개의 서브 셀로 나누어 광원의 펄스와 동기 하여 얻은 신호와 180도 위상차를 갖고 얻은 신호를 이용하는 예를 설명하지만, 하나의 셀을 4개의 서브 셀로 나누고 광원의 펄스와 동기 하여 얻은 신호와 서로 다른 위상차(90도, 180도, 270도)를 두고 활성화하여 얻은 신호들을 이용하여 거리를 구할 수도 있는데, 전자의 경우는 두 신호의 크기를 비교하고 후자의 경우는 두 신호들의 합을 다른 두 신호들의 합과 비교하는 방식을 이용할 수 있다.When one or more cells constituting the light receiving sensor 60 output the electric signal V1 obtained in synchronism with the light source 10 and the obtained electric signal V2 having a phase difference of 180 degrees between the light source 10 and V1 and V2 The distance information can be calculated. 1 illustrates an example in which one cell is divided into two sub-cells and a signal obtained in synchronization with the pulse of the light source and a signal obtained in a phase difference of 180 degrees are used. However, one cell is divided into four sub- The distances can be obtained using signals obtained by activating the obtained signals with different phase differences (90 degrees, 180 degrees, and 270 degrees). In the former case, the magnitudes of the two signals are compared. In the latter case, To the sum of the other two signals.

또는, 수광 센서(60)를 구성하는 하나 이상의 셀을 둘 이상의 서브 셀로 나누지 않고, 광원(10)을 제어하여 적외선 광을 고주파로 점멸, 즉 모듈레이션 시켜 반복하여 방사하고 수광 센서(60)의 셀을 시분할 방식으로 광원(10)의 모듈레이션 간격을 기준으로 서로 다른 위상차(예를 들어, 광원 모듈레이션 간격과 동기(Phase 0), 90도 위상차(Phase 1), 180도 위상차(Phase 2), 270도 위상차(Phase 3))로 활성화시켜 반사광을 수광하여 수광된 광을 전기적으로 처리하여 각각 위상 프레임 데이터를 출력하도록 하면, 프로세서가 각 위상 프레임 데이터를 이용하여 대상물과의 거리를 측정할 수도 있다.Alternatively, instead of dividing one or more cells constituting the light-receiving sensor 60 into two or more sub-cells, the light source 10 may be controlled to blink or modulate the infrared light at high frequency, (For example, light source modulation interval and phase (0), 90 degree phase difference, 180 degree phase difference, 270 degree phase difference) based on the modulation interval of the light source 10 in a time- (Phase 3)) to receive the reflected light, electrically process the received light, and output the phase frame data, respectively, so that the processor can measure the distance to the object using each phase frame data.

도 8은 목표 대상물에서 전반사될 때 편광되지 않는 반사광이 광원으로 진행하는 것을 막기 위해 QWP를 채용한 이유를 설명하는 도면이다.Fig. 8 is a view for explaining the reason why QWP is adopted to prevent the non-polarized reflected light from propagating to the light source when total reflection is performed on the target object.

광원(10)에서 출사된 선편광의 출사광은 편광 빔 스플리터(20)의 미러에 의해 거리 측정 장치(1)의 정면, 즉 대상물을 향한 방향으로 꺾이고, 1/4 파장판(40)에 의해 원편광으로 바뀌어 대상물을 향해 진행한다.The outgoing light of the linearly polarized light emitted from the light source 10 is folded by the mirror of the polarizing beam splitter 20 in the direction toward the front face of the distance measuring apparatus 1, that is, toward the object, It is converted into polarized light and proceeds toward the object.

대상물(Target)이 예를 들어 거울, 스테인레스 스틸, 크롬 코팅, 하이그로시, 유리 등 전반사 특징을 갖는 물질일 때, 대상물에 입사되는 원편광은 반대 방향의 원편광 성질을 갖는 반사광으로 바뀌어 거리 측정 장치(1)를 향해 반사된다.When the target is a material having a total reflection characteristic such as a mirror, a stainless steel, a chrome coating, a high gloss, a glass, etc., the circularly polarized light incident on the object is converted into the reflected light having circularly polarized light properties in the opposite direction, (1).

원편광의 반사광은 1/4 파장판(40)에 의해 선편광으로 바뀌는데 광원(10)에서 출사되는 출사광의 선편광과는 방향이 달라져서 편광 빔 스플리터(20)의 미러에서 반사되지 않고 그대로 통과하여 수광 센서(60)에 맺히게 된다.The reflected light of the circularly polarized light is changed into the linearly polarized light by the quarter wave plate 40 but differs in direction from the linearly polarized light of the emitted light emitted from the light source 10 and passes therethrough without being reflected by the mirror of the polarization beam splitter 20, (60).

1/4 파장판(40)이 없다면 전반사 성질의 대상물에서 반사되는 반사광이 입사광(출사광)과 같은 편광 성분을 갖게 되어 편광 빔 스플리터(20)의 미러에서 반사되어 광원(10)으로 입사되기 때문에, 수광 센서(60)의 광 효율이 떨어질 뿐 아니라 광원(10)의 발광 특징도 저하시킬 수 있다. 따라서, 1/4 파장판(40)은 채용하여 이러한 현상을 막기 위해 채용될 수 있다.If there is no quarter wave plate 40, the reflected light reflected by the object of total reflection property has the same polarization component as the incident light (emitted light), is reflected by the mirror of the polarization beam splitter 20 and is incident on the light source 10 Not only the light efficiency of the light receiving sensor 60 is lowered but also the light emitting characteristic of the light source 10 can be lowered. Thus, the quarter wave plate 40 can be employed to prevent this phenomenon.

도 9는 목표 대상물에서 난반사될 때 센서로 반사광이 진행하는 예를 도시한 것이다.FIG. 9 shows an example in which reflected light travels to the sensor when diffused reflection from a target object.

목표 대상물이 전반사 성질을 갖지 않는 일반적인 물체일 때에는 대상물에 입사되는 광은 무편광화되어, 즉 반사광이 모든 편광 성분을 갖게 되고, 1/4 파장판(40)을 통과한 반사광 중에서 출사광의 선편광과 편광 방향이 다른 편광 성분(S-편광)이 편광 빔 스플리터(20)의 미러를 통과하여 수광 센서(60)에 맺힐 수 있다.When the target object is a general object having no total reflection property, the light incident on the object is uncooled, that is, the reflected light has all the polarization components, and the linearly polarized light of the outgoing light and the polarized light (S-polarized light) having a different direction can pass through the mirror of the polarization beam splitter 20 and can be formed on the light receiving sensor 60. [

1/4 파장판(40)을 채용하지 않는다면, 광 효율이 떨어지겠지만, 광원(10)이 선편광 대신 원편광을 출사하여 출사광의 적어도 일부 편광 성분이 수광 센서(60)까지 도달하게 할 수도 있다.The light source 10 may emit circularly polarized light instead of linearly polarized light so that at least a part of the polarized light of the emitted light reaches the light receiving sensor 60 although the light efficiency is lowered if the 1/4 wave plate 40 is not employed.

이와 같이, 송광부와 수광부, 즉 광원(10)과 수광 센서(60)가 같은 광축에 배치되므로, 목표 대상물까지의 거리에 상관 없이 항상 같은 위치에 반사광의 초점이 맺히게 된다.Since the light-emitting portion and the light-receiving portion, that is, the light source 10 and the light-receiving sensor 60 are disposed on the same optical axis, the focal point of the reflected light always coincides with the same position regardless of the distance to the target object.

이상 전술한 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것으로, 당업자라면 이하 첨부된 특허청구범위에 개시된 본 발명의 기술적 사상과 그 기술적 범위 내에서, 다양한 다른 실시예들을 개량, 변경, 대체 또는 부가 등이 가능할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention as defined in the appended claims. Addition or the like.

1: 거리 측정 장치 10: 광원
20: 편광 빔 스플리터 30: 콜리메이터 렌즈
40: 1/4 파장판 50: 필터
60: 수광 센서1: distance measuring device 10: light source
20: polarizing beam splitter 30: collimator lens
40: 1/4 wavelength plate 50: filter
60: Light receiving sensor

Claims (7)

펄스 형태로 광을 방사하기 위한 광원;
상기 광원이 방사하여 대상물로부터 반사되어 되돌아오는 반사광을 수신하기 위한 수광 센서;
상기 광원이 방사한 광을 반사시키거나 투과시켜 거리를 측정하고자 하는 대상물을 향한 방향으로 진행시키고 대상물에서 반사된 반사광을 투과시키거나 반사시켜 상기 수광 센서를 향해 진행시키기 위한 편광 빔 스플리터;
상기 광원에서 방사한 광의 각도나 강도를 조절하기 위한 렌즈; 및
상기 광원이 방사한 광의 파장대만을 선택적으로 통과시키기 위한 필터를 포함하여 구성되는 거리 측정 장치.A light source for emitting light in a pulse shape;
A light receiving sensor for receiving the reflected light reflected from the object by being emitted from the light source;
A polarizing beam splitter for reflecting or transmitting the light radiated by the light source to advance the distance toward the object to be measured and transmitting or reflecting the reflected light reflected by the object toward the light receiving sensor;
A lens for adjusting an angle or intensity of light emitted from the light source; And
And a filter for selectively passing only the wavelength band of the light emitted by the light source. 제 1항에 있어서,
상기 광원은 원편광을 방사하는 것을 특징으로 하는 거리 측정 장치.The method according to claim 1,
Wherein the light source emits circularly polarized light. 제 1항에 있어서,
입사되는 광의 한 성분을 지연시켜 편광 성질을 바꾸기 위한 1/4 파장판을 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 거리 측정 장치.The method according to claim 1,
Further comprising a 1/4 wave plate for changing the polarizing property by delaying one component of the incident light. 제 3항에 있어서,
상기 광원은 선편광을 방사하고, 상기 편광 빔 스플리터는 상기 광원이 방사한 광을 전부 반사시키거나 전부 투과시키는 것을 특징으로 하는 거리 측정 장치.The method of claim 3,
Wherein the light source emits linearly polarized light and the polarizing beam splitter totally reflects or totally transmits the light emitted by the light source. 제 1항에 있어서,
상기 렌즈는 상기 광원이 방사하는 확산광을 평행광으로 바꾸고 상기 반사광이 수광 센서에 맺히도록 수렴시키는 콜리메이터 렌즈인 것을 특징으로 하는 거리 측정 장치.The method according to claim 1,
Wherein the lens is a collimator lens that converts the diffused light emitted from the light source into parallel light and converges the reflected light to be converged on the light receiving sensor. 제 1항에 있어서,
상기 수광 센서는 하나의 셀로 구성되거나 하나의 APD(Avalanche Photo-Diode)로 구현되는 것을 특징으로 하는 거리 측정 장치.The method according to claim 1,
Wherein the light receiving sensor is constituted by one cell or an APD (Avalanche Photo-Diode). 제 1항에 있어서,
상기 광원과 수광 센서를 TOF 방식에 따라 대상물까지의 거리를 측정할 수 있도록 구성하는 것을 특징으로 하는 거리 측정 장치.The method according to claim 1,
Wherein the light source and the light receiving sensor are configured to measure a distance to an object according to a TOF method.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180108116A (en) * 2017-03-24 2018-10-04 주식회사 히타치엘지 데이터 스토리지 코리아 Distance measuring apparatus
CN109490903A (en) * 2017-09-11 2019-03-19 日立乐金光科技株式会社 Distance-measuring device
CN109975787A (en) * 2019-03-27 2019-07-05 深圳市速腾聚创科技有限公司 Laser radar receives system and method
CN111263899A (en) * 2017-11-28 2020-06-09 索尼半导体解决方案公司 Lighting device, time-of-flight system and method

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180108116A (en) * 2017-03-24 2018-10-04 주식회사 히타치엘지 데이터 스토리지 코리아 Distance measuring apparatus
CN109490903A (en) * 2017-09-11 2019-03-19 日立乐金光科技株式会社 Distance-measuring device
CN111263899A (en) * 2017-11-28 2020-06-09 索尼半导体解决方案公司 Lighting device, time-of-flight system and method
CN111263899B (en) * 2017-11-28 2023-11-24 索尼半导体解决方案公司 Lighting device, time-of-flight system and method
US11828849B2 (en) 2017-11-28 2023-11-28 Sony Semiconductor Solutions Corporation Illumination device, time of flight system and method
CN109975787A (en) * 2019-03-27 2019-07-05 深圳市速腾聚创科技有限公司 Laser radar receives system and method

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