KR20160051854A - 인터리빙 장치 설정 및 테스트를 이용한 다중 무선 액세스 기술로 데이터 패킷 신호 트랜시버를 테스트하는 방법 - Google Patents

인터리빙 장치 설정 및 테스트를 이용한 다중 무선 액세스 기술로 데이터 패킷 신호 트랜시버를 테스트하는 방법 Download PDF

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Abstract

하나 이상의 서로 상이한 신호 특성을 가진 다중 무선 액세스 기술(RAT)을 이용하여 통신할 수 있는 무선 주파수(RF) 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 테스터 데이터 패킷 신호 및 제어 명령을 이용하는 방법. 상호 교차하는 시간 간격 동안, 실질적으로 동시에 발생하는 테스터 데이터 패킷 신호 및 제어 명령 중 선택된 것이 DUT의 다중 RAT의 동시 테스트 및 테스트용 구성을 위해 각각 이용된다.

Description

인터리빙 장치 설정 및 테스트를 이용한 다중 무선 액세스 기술로 데이터 패킷 신호 트랜시버를 테스트하는 방법{METHOD FOR TESTING DATA PACKET SIGNAL TRANSCEIVERS WITH MULTIPLE RADIO ACCESS TECHNOLOGIES USING INTERLEAVED DEVICE SETUP AND TESTING}
본 발명은 다중 무선 액세스 기술로 데이터 패킷 신호 트랜시버를 테스트하는 것에 관한 것으로, 특히 인터리빙 장치 설정 및 테스트를 이용하여 이러한 트랜시버에 대한 더 빠른 테스트 시간을 달성하는 것에 관한 것이다.
오늘날의 전자 장치의 다수는 접속 및 통신 목적 모두를 위해 무선 기술을 사용한다. 무선 장치가 전자기 에너지를 송수신하고, 두 개 이상의 무선 장치가 자신의 신호 주파수 및 파워 스펙트럼 밀도에 의해 서로의 동작에 간섭할 가능성이 있기 때문에 이들 장치들과 그 장치들의 무선 기술은 다양한 무선 기술 표준 규격을 준수해야 한다.
이러한 장치들을 설계할 때, 엔지니어들은 장치들에 포함된 무선 기술의 상술한 표준 기반 규격 각각을 이러한 장치들이 만족시키거나 또는 그것을 능가할 것을 보장하도록 특별히 유의한다. 추가로, 이들 장치가 추후에 대량으로 제조될 때, 이들 장치는, 장치들에 포함된 무선 기술 표준 기반 규격에 대해 상기 장치들이 따르는 것을 포함하면서, 제조 결함이 부적절한 동작을 일으키지 않는 것을 보장하도록 테스트된다.
이들 장치의 제조 및 조립에 후속하는 이들 장치의 테스트에 대해, 현재 무선 장치 테스트 시스템(또한, "테스터"라고도 함)은 각각의 장치로부터 수신된 신호를 분석하는 서브시스템을 채용한다. 이러한 서브시스템은 일반적으로 적어도 피시험 장치에 전송될 소스 신호를 제공하는 벡터 신호 생성기(VSG) 및 피시험 장치에 의해 산출된 신호를 분석하기 위한 벡터 신호 분석기(VSA)를 포함한다. VSG에 의한 테스트 신호의 생성과 VSA에 의해 수행되는 신호 분석은 일반적으로 주파수 범위, 대역폭 및 신호 변조 특성을 변하게 하면서 다양한 무선 기술 표준에 따라 다양한 장치를 테스트하는 데에 각각 이용될 수 있도록 프로그래밍가능하다.
이러한 유형의 무선 장치는 보다 복잡하게 되기 때문에, 그것들은 대개 두서너 가지의 예를 들면 4G LTE 셀룰러, GSM, IEEE 802.11x, WiFi 및 블루투스와 같은 무선 액세스 기술(RAT)이라고도 하는, 다중 표준 기반 기술에 기초한 통신 및 접속을 제공하는 트랜시버 회로를 포함한다.
다중 RAT를 이용하여 통신할 수 있는 이러한 장치들을 완전히 테스트하기 위해, 각각의 기술 및 그의 연관된 트랜시버 회로가 그 기술에 대한 적절한 표준 기반 규격에 대해 테스트되어야 한다. 이들 테스트가 순차적으로 테스트된다면, 전체 테스트 시간은 수분이 될 수 있고, 이는 수천 그리고 보다 대개는 수백만 개의 장치들을 테스트할 때 긴 시간이 된다. 장치당 테스트 시간을 감축시키기 위한 하나의 방안은 다수의 피시험장치(DUT)를 동시에 테스트하는 것이다. 예를 들면, 각각의 테스터가 동시에 하나의 DUT를 테스트하면서 5개의 개별 테스트 시스템(대개, "테스터"라고 함)이 동시에 사용될 수 있다. 이는 DUT 당 테스트 시간을 80%까지 효과적으로 감소시킬 수 있다. 그러나, 이러한 증가된 수의 테스터는 자본 설비 비용을 현저하게 증가시켜, 테스트 시간 감소에 대한 임의의 비용 절감 효과를 약화 또는 무효로 만들어 버린다. 추가로, 각각의 RAT가 신호 반송파 주파수(carrier frequency), 변조 주파수, 변조 유형, 데이터 속도 등과 같은 하나 이상의 상이한 신호 특성을 이용하는 것을 요구하기 때문에, 다수의 DUT는 2개 이상의 RAT 사이의 테스트 포인트(예를 들면, 입/출력 신호 포트와 같은)를 공유하여, 개별 RAT를 동시에 테스트하는 것을 어렵게 한다. 마지막으로, 상이한 RAT를 테스트하는 것은 유사한 테스트 시간을 거의 필요로 하지 않는다. 따라서, 중요한 부분이 아니라면, 테스트 시스템의 적어도 일부는 상이한 RAT 테스트 동안 휴지 상태를 유지한다.
단일 VSA는 다중 DUT로부터 동시에 송신된 신호를 캡처 및 분석할 수 없기 때문에, 전체 테스트 시간을 줄이면서 테스트 설비 비용을 최소화하는 하나의 기술은 다중 DUT가 정확하게 병렬로 테스트되는 것을 아닐지라도 실질적으로 동시에 테스트될 수 있도록 다중 입/출력(I/O) 신호 포트 사이에서 VSA/VSG를 스위칭할 수 있는 스위칭 서브시스템을 가진 단일한 VSA 및 VSG를 가진 테스터를 이용한다. 대안으로, 자원 공유는 가능한 공통 I/O 신호 포트, 및 다중 DUT 사이의 스위칭의 사용을 포함한다. 스위칭 서브시스템을 사용하고 자원을 공유하는 이러한 시스템이 테스트 설비 비용을 감소시키는 것을 유지하면서, 테스트 시간 감소는 테스트 설비 비용이 현저하게 더 높을지라도 각각의 DUT 신호 포트에 대해 VSA와 VSG를 가진 시스템을 이용하여 더 잘 실현될 수 있다.
본 발명에 따르면 하나 이상의 서로 상이한 신호 특성을 가진 다중 무선 액세스 기술(RAT)을 이용하여 통신할 수 있는 무선 주파수(RF) 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 테스터 데이터 패킷 신호 및 제어 명령을 이용하는 방법이 제공된다. 상호 교차하는 시간 간격 동안, 실질적으로 동시에 발생하는 테스터 데이터 패킷 신호 및 제어 명령 중 선택된 것이 DUT의 다중 RAT의 동시 테스트 및 테스트용 구성을 위해 각각 이용된다.
본 발명의 하나의 실시예에 따르면, 하나 이상의 서로 상이한 신호 특성을 가진 다중 무선 액세스 기술(RAT)을 이용하여 통신할 수 있는 무선 주파수(RF) 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 테스터 데이터 패킷 신호 및 제어 명령을 이용하는 방법은: 복수의 RAT 중 제1 RAT에 따라 제1 복수의 신호 특성을 가진 DUT 데이터 패킷 신호와 제1 테스터 데이터 패킷 신호 중 적어도 하나를 제1 복수의 테스트 시간간격 중 하나의 시간간격 동안 DUT를 통해 통신하는 단계; 상기 복수의 RAT 중 제2 RAT에 따라 제2 복수의 신호 특성을 가진 DUT 데이터 패킷 신호와 제2 테스터 데이터 패킷 신호 중 적어도 하나를 제2 복수의 테스트 시간간격 중 하나의 시간간격 동안 상기 DUT를 통해 통신하는 단계; 상기 DUT로 하여금 제1 테스터 데이터 패킷 신호와 DUT 데이터 패킷 신호 중 적어도 하나를 통신하도록 설정하는 복수의 DUT 제어 명령을 제1 복수의 명령 시간간격 중 하나의 시간간격 동안 상기 DUT로 실행하는 단계; 및 상기 DUT로 하여금 제2 테스터 데이터 패킷 신호와 DUT 데이터 패킷 신호 중 적어도 하나를 통신하도록 설정하는 또다른 복수의 DUT 제어 명령을 제2 복수의 명령 시간간격 중 하나의 시간간격 동안 상기 DUT로 실행하는 단계;를 포함한다. 상기 제1 복수의 테스트 시간간격 및 상기 제1 복수의 명령 시간간격의 각각의 시간간격은 상호 교차하여 배치되고, 상기 제2 복수의 테스트 시간간격 및 상기 제2 복수의 명령 시간간격의 각각의 시간간격은 상호 교차하여 배치되고, 상기 제1 복수의 테스트 시간간격의 각각의 시간간격은 상기 제2 복수의 명령 시간간격의 각각의 시간간격과 실질적으로 동시에 발생하고, 상기 제2 복수의 테스트 시간간격의 각각의 시간간격은 상기 제1 복수의 명령 시간간격의 각각의 시간간격과 실질적으로 동시에 발생한다.
본 발명의 또다른 실시예에 따르면, 하나 이상의 서로 상이한 신호 특성을 가진 다중 무선 액세스 기술(RAT)을 이용하여 통신할 수 있는 무선 주파수(RF) 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 테스터 데이터 패킷 신호 및 제어 명령을 제공하는 방법은: 복수의 RAT 중 제1 RAT에 따라 제1 복수의 신호 특성을 가진 DUT 데이터 패킷 신호와 제1 테스터 데이터 패킷 신호 중 적어도 하나를 제1 복수의 테스트 시간간격 중 하나의 시간간격 동안 DUT를 통해 통신하는 단계; 상기 복수의 RAT 중 제2 RAT에 따라 제2 복수의 신호 특성을 가진 DUT 데이터 패킷 신호와 제2 테스터 데이터 패킷 신호 중 적어도 하나를 제2 복수의 테스트 시간간격 중 하나의 시간간격 동안 상기 DUT를 통해 통신하는 단계; 상기 DUT로 하여금 제1 테스터 데이터 패킷 신호와 DUT 데이터 패킷 신호 중 적어도 하나를 통신하도록 설정하는 복수의 DUT 제어 명령을 제1 복수의 명령 시간간격 중 하나의 시간간격 동안 상기 DUT에 의해 실행하도록 제공하는 단계; 및 상기 DUT로 하여금 제2 테스터 데이터 패킷 신호와 DUT 데이터 패킷 신호 중 적어도 하나를 통신하도록 설정하는 또다른 복수의 DUT 제어 명령을 제2 복수의 명령 시간간격 중 하나의 시간간격 동안 상기 DUT에 의해 실행하도록 제공하는 단계;를 포함한다. 상기 제1 복수의 테스트 시간간격 및 상기 제1 복수의 명령 시간간격의 각각의 시간간격은 상호 교차하여 배치되고, 상기 제2 복수의 테스트 시간간격 및 상기 제2 복수의 명령 시간간격의 각각의 시간간격은 상호 교차하여 배치되고, 상기 제1 복수의 테스트 시간간격의 각각의 시간간격은 상기 제2 복수의 명령 시간간격의 각각의 시간간격과 실질적으로 동시에 발생하고, 상기 제2 복수의 테스트 시간간격의 각각의 시간간격은 상기 제1 복수의 명령 시간간격의 각각의 시간간격과 실질적으로 동시에 발생한다.
도 1은 무선 신호 트랜시버 테스트를 위한 종래 기술에 대한 테스트 환경 및 신호 다이어그램을 도시한다.
도 2는 무선 신호 트랜시버 테스트를 위한 대안의 종래 테스트 환경을 도시한다.
도 3은 다중 무선 신호 트랜시버 테스트를 위한 또다른 대안의 종래 테스트 환경 및 신호 다이어그램을 도시한다.
도 4는 본 발명의 예시적인 실시예에 따른 무선 신호 트랜시버 테스트 방법에 대한 타이밍 다이어그램을 도시한다.
도 5는 본 발명의 또다른 예시적인 실시예에 따른 무선 신호 트랜시버 테스트 방법에 대한 타이밍 다이어그램을 도시한다.
도 6은 본 발명의 또다른 예시적인 실시예에 따른 무선 신호 트랜시버 테스트 방법에 대한 타이밍 다이어그램을 도시한다.
하기의 상세한 설명은 첨부 도면을 참조한 본 발명의 예시적인 실시예이다. 이러한 설명은 본 발명의 범위에 대한 예시이고 그에 대해 한정하는 것을 의도하지 않는다. 이러한 실시예들은 당업자로 하여금 본 발명을 실시할 수 있도록 충분히 상세히 기술되고, 다른 실시예들이 본 발명의 범위 또는 취지를 벗어나지 않고서 일부 변형을 하여 실시될 수 있다는 것이 이해될 것이다.
문맥으로부터 명시적으로 반대로 지시하지 않는다면 본 명세서 전체에서, 기술된 바와 같은 개별 회로 엘리먼트는 단수이거나 복수일 수 있다는 것이 이해될 것이다. 예를 들면, "circuit" 및 "circuitry"와 같은 용어들은 단일한 컴포넌트 또는 복수의 컴포넌트 중 어느 하나를 포함할 수 있으며, 이는 능동 및/또는 수동이고, 연결되거나 또는 그렇지 않으면 함께 결합되어(예를 들면 하나 이상의 집적회로 칩으로서) 기술된 기능을 제공한다. 추가로, "신호"라는 용어는 하나 이상의 전류, 하나 이상의 전압 또는 데이터 신호를 가리킨다. 도면 내에서, 유사하거나 연관된 엘리먼트들은 유사하거나 연관된 문자, 숫자 또는 문자숫자 지시어를 가질 것이다. 추가로, 본 발명은 이산 전자 회로(바람직하게는 하나 이상의 집적회로 칩의 형태로 된)를 이용하는 실시의 측면에서 개시되었지만, 신호 주파수 또는 처리될 데이터 속도에 따라 이러한 회로의 임의의 부분의 기능은 대안적으로 하나 이상의 적절하게 프로그래밍된 프로세서를 이용하여 구현될 수 있다. 추가로, 도면이 다양한 실시예의 기능 블록도의 다이어그램을 예시하는 정도로, 기능 블록은 필수적으로 하드웨어 회로 사이의 분할을 지시하지는 않는다.
휴대폰, 스마트폰, 태블릿, 등과 같은 무선 장치는 모두 IEEE 802.11a, b, g, n, ac; 3GPP LTE; 및 블루투스와 같은 다수의 표준 기반 무선 신호 기술을 이용한다. 이들 기술에 내재한 표준은 신뢰할 수 있는 무선 접속 또는 통신을 제공하기 위해 설계된 것이며, 일반적으로 고 에너지 효율적이고, 인접한 무선 스펙트럼에 있거나 또는 무선 스펙트럼을 공유하는 동일하거나 다른 기술을 이용하는 장치들 사이에서의 간섭을 최소화하도록 선택된 물리적 및 고 레벨 규격을 규정한다.
이들 표준에 규정된 테스트는 이러한 장치들이 표준 규정 규격을 따르도록 설계된 것이고 제조된 장치들이 이들 규정된 규격을 계속 따를 것임을 보장하는 것을 의미한다. 대부분의 장치들은 적어도 하나 이상의 (각각의)수신기 및 송신기를 포함하는 트랜시버이다. 따라서, 테스트는 피시험장치(DUT)의 수신기와 송신기 모두가 규격을 준수하는지 여부를 판정한다. DUT 수신기 또는 수신기들의 테스트는 RX 테스트이고, 일반적으로 테스트 시스템 또는 테스터에 의해 수신기(들) 및 DUT 수신기(들)가 테스트 패킷에 어떻게 응답하는지를 판정하는 일부 수단으로 이들 테스트 패킷들을 전송하는 단계를 포함한다. DUT 송신기는 그것들이 패킷을 그런다음 장치들에 의해 전송된 신호들의 물리적 특성을 평가하는 테스트 시스템으로 전송하도록 함으로써 테스트된다.
RX 테스트 패킷은 테스트 시스템(예를 들면, VSG)에 의해 생성되고, TX 테스트 패킷은 DUT에 의해 생성되고 테스트 시스템의 분석 서브시스템(예를 들면, VSA)에 의해 평가된다.
하기에 더 상술되는 바와 같이, 본 발명의 예시적인 실시예에 따라, 다양한 태스크 또는 테스트 동작을 동시에 수행함으로써 전체 테스트 시간이 감소되고 그에 의해 비용 절감이 달성될 수 있다. 이는 특히 휴대 전화와 기타 장치 또는 신호 연결 기술을 결합하고, 휴대 전화 기술을 위한 테스트 시간이 연결 기술을 위한 시간 보다 현저하게 더 길 수 있는 소위 스마트폰 장치를 테스트하기에 유용할 것이다. 하기에 논의된 바와 같이, 테스트 시간 감소는 단일한 테스트 흐름 내에서 상이한 RAT에 대한 태스크 테스트를 인터리빙시켜, 전체 테스트 시간을 감소시키고 테스트 설비 활용을 증가시킴으로써 달성된다.
무선 신호 트랜시버 테스트는, DUT 테스트 준비 및 컨디셔닝 엘리먼트와 액티브 테스트 엘리먼트라는 2개의 필수적인 프로세스 또는 엘리먼트를 포함한다. DUT 테스트 준비 동안, 적어도 VSA 및 VSG 모두가 DUT와 통신이 활성화되거나 또는 DUT와 상호작용하지 않은 한은 테스트 장비는 비활성화 되어있다. VSA가 하나 이상의 DUT로부터의 인입 데이터 패킷 신호를 순차적으로 캡처하고 있고 및/또는 VSG가 DUT 중 하나 이상으로 전달하기 위해 데이터 패킷 테스트 신호를 전송하고 있는 동안에는, 이는 액티브 테스트 엘리먼트에 대해 반대이다.
테스트 시스템이 DUT를 테스트하는 것이 활성화되지 않은 때, 그의 활용 그리고, 그에 따른 테스트 효율은 감소된다. 따라서, 이상적으로, 항상 하나 이상의 DUT 테스트를 활성화하여 개별 DUT 테스트 시간을 감소시키거나 또는 보다 많은 DUT를 동시에 테스트함으로써 성능을 증가시켜 테스트 설비 활용을 최대화하는 테스트 기술을 가지는 것이 바람직하다. 그러나, 단일한 테스터가 단일한 DUT를 테스트하고 있는 이들 테스트 시나리오에서, DUT 테스트 준비의 각각의 예는 테스터가 DUT 테스트에서 활성화되지 않은 동안의 테스트 시간의 부분을 나타낸다. 유감스럽게도, 이러한 DUT 테스트 준비 예를 완전히 제거하는 방법은 없다.
하기에 더 상술되는 바와 같이, 본 발명에 따르면, DUT 테스트 준비는 단지 그의 완료를 대기함으로써 기다려 지는 것이 아니다. 오히려, 이러한 DUT 테스트 준비 시간은 동일한 DUT에 대해 상이한 RAT를 테스트하기 위해 테스터에 의해 이용된다. 이는 DUT의 상이한 신호 포트 사이의 스위칭 또는 다중 RAT가 공통 DUT 신호 포트를 공유하는 경우 현재 DUT 신호 포트와 통신하거나 또는 현재 DUT 신호 포트에 연결할 때 상이한 RAT를 이용함으로써 달성될 수 있다. 예를 들면, 단일한 DUT 신호 포트를 공유하는 RAT는 블루투스(BT), IEEE 802.11b/g 및 2.4GHz 주파수 대역의 WiFi를 포함할 수 있다. 이들 RAT는 공통 주파수 대역을 공유하기 때문에, 이들은 공통 DUT 신호 포트를 공유할 수 있고, 대개는 공유한다.
도 1을 참조하면, DUT(20)를 테스트하는 테스트 환경(10a)은 테스터(12) 및 제어 시스템 또는 회로(16)(테스터(12)로부터 원격에 있을 뿐 아니라 외부에 있을 수 있고, 또는 테스터(12)의 예를 들면 일부와 같이 내부에 있을 수 있는)를 포함한다. 공지된 원리에 따라, 테스터(12)는 신호 소스(12t) 및 신호 분석기(12r)와의 연결 사이에서 선택하기 위한 신호 스위칭 서브시스템(18t)과 함께 테스터 신호 소스(12t)(예를 들면, VSG) 및 테스트 신호 분석기(12r)(예를 들면, VSA)를 포함한다. 테스터(12)로부터 그리고 테스터(12)로의 테스트 신호는 신호 경로(13)(일반적으로, 동축 무선 주파수(RF) 케이블 및 커넥터의 형태로 된 도전성 신호 경로)를 통해 DUT(20)로부터 그리고 DUT(20)로 전달된다.
제어 시스템(16)은 제어 신호(예를 들면, 명령 및 데이터)를 제공하고 별개이거나 또는 공유될 수 있는(예를 들면, 네트워크를 통해) 하나 이상의 각각의 제어 신호 인터페이스(17t, 17d)를 통해 테스터(12) 및 DUT(20)로부터의 데이터를 수신한다. DUT(20)는 추후 또는 반복된 실행 및 사용을 위해 원하는 경우 명령어와 데이터를 저장하기 위한 메모리 회로(20m)를 포함할 수 있다.
신호 다이어그램에 도시된 바와 같이, 수신(DUT에 의한) 신호 테스트 동안, DUT(20)는 테스트 장비가 비활성화된 시간(21c)동안 DUT 준비 프로그램(예를 들면, 제어 시스템(16)으로부터 실시간으로 수신되거나 또는 미리 수신되어 메모리(20m)에 저장된 준비 명령어)을 실행한다. 이 DUT 준비 시간간격(21c)에 이어서, DUT(20)가 준비된 테스트(즉, 액티브 테스트)가 수행된다(21t). 수신 신호 테스트를 위한 이 시간(21t)동안, VSG(12t)는 DUT로 전달하기 위한 테스트 데이터 패킷 신호(13r)를 전송한다. 역으로, 송신(DUT에 의한) 신호 테스트 동안, 이러한 액티브 테스트(21t)동안, DUT(20)는 테스터(12)로 전달하기 위한 테스트 데이터 패킷 신호(13t)를 전송한다.
도시된 바와 같이, 각각의 액티브 테스트 세그먼트(21t) 뒤에는 DUT 준비 세그먼트(21c)가 후속된다. 액티브 테스트 세그먼트 동안만은 적어도 DUT(20)와 액티브하게 통신하거나 그와 상호작용한다는 의미에서 테스터(12)가 활용되고 있다. DUT 준비 세그먼트(21c)의 듀레이션이 액티브 테스트 세그먼트(21t)의 듀레이션의 2배라면, 테스터(12)의 활용률은 약 33%가 될 것이다. 따라서, 한 시간의 테스트 코스 동안, 테스터는 단 20분 동안 액티브하게 테스트된다. 또한, DUT의 필수적인 물리적 핸들링(예를 들면, 로딩, 언로딩, 연결, 연결 해제 등)이 양호한 것으로 간주된다면, 테스터 활용률은 더 감소된다.
도 2를 참조하면, 또다른 테스트 환경(10b)에서, DUT(20t)는 예를 들면 블루투스(24), 2.4GHz WiFi(26) 및 5GHz WiFi(28)와 같은 다수의 RAT를 포함하는 DUT이다. 2개의 RAT(24, 26)는 신호 스위칭 또는 합성 회로(22)를 통해 DUT 신호 포트(25)를 공유하는 반면, 제3 RAT(28)는 자신의 신호 포트(27)를 가진다. 상술한 바와 같이, DUT(20t)는 신호 경로(13a, 13b)(예를 들면, 도전성 RF 신호 케이블 및 커넥터)를 통해 테스터(12)와 통신하고, 테스터(12)는 DUT(20t)로부터의 신호를 수신하거나 또는 신호를 DUT(20t)로 전달하기 위해 신호 포트(15, 17) 사이에서 선택하는 스위칭 회로(18d)를 포함한다.
도 3을 참조하면, 상술한 바와 같이, DUT 당 테스트 시간을 감소시키기 위한 하나의 방법은 다중 DUT를 병렬로 테스트하는 것이다. 이는 DUT가 단일한 RAT(도 1)를 사용하건 다중 DUT(도 2)를 사용하건 간에 관계없다. 하나의 기술은 하나의 DUT(20a)를 테스트하기 위해서 VSA(12ra) 및 VSG(12ta), 그리고 또다른 DUT(20b) 테스트를 위해서는 또다른 VSA(12rb) 및 VSG(12tb)와 같은 각각의 DUT(20)에 대해 VSA(12r) 및 VSG(12t)를 가지는 테스터(12)를 요구한다. 대안으로, 다른 기술은 DUT(20a, 20b)사이에서 각각의 사용하는 VSA와 VSG를 인터리빙, 또는 멀티플렉싱하기 위한 추가적인 하드웨어(예를 들면, 파워 스위치, 스플리터, 합성기 등)를 포함하면서 VSA 및 VSG를 공유할 수 있다. 이는 테스터(12)로 하여금 상술한 바와 유사하게(도 1) 다중 DUT 테스트를 병렬로 수행하도록 할 수 있다. 그러나, 상술한 바와 같이 테스터(12)가 비활성 상태 동안인 DUT 준비 시간간격(21ca, 21cb)은 액티브 테스트 시간간격(21ta, 21tb)과 교대로 배치된다. 따라서, 준비(21c) 및 테스트(21t) 시간간격의 상대적 듀레이션에 따라, 테스터(12)의 활용은 DUT 당 테스트 시간이 감소될지라도 낮게 유지된다. 즉, DUT 기반 당 테스트 시간은 테스터 활용이 실질적으로 영향을 받지 않으면서 개선된다(예를 들면, 아마도 전체 테스트 시간을 조금 더 길게 하지만 한 번에 더 많은 DUT를 지금 테스트하는 효익을 가짐).
도 4를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따라 동시에 DUT 테스트 시간(감소) 및 테스터 활용(증가)에서의 개선이 더 잘 이해될 수 있다. 상술한 바와 같이, 종래 무선 신호 트랜시버 테스트는 단일한 DUT(도 1) 상에서 수행되거나 또는 다중 DUT(도 3) 상에서 수행되거나에 상관없이 DUT 준비 시간간격(24p, 26p, 28p)이 테스트 실행 시간간격(24e, 26e, 28e)과 인터리빙되거나 또는 교대로 나타나는 순차적인 테스트 시간 간격(30) 또는 엘리먼트에 따른다. 예를 들면, 다중 RAT(24, 26, 28)(도 2)를 가진 DUT(20t) 테스트의 경우, DUT(20t)는 제1 RAT(24)에 대한 3개의 준비 시간간격(24p1, 24p2, 24p3) 동안 준비되고, 각각의 테스트 실행 시간간격(24e1, 24e2, 24e3)이 후속된다. 이는 제2 RAT(26) 테스트를 위한 DUT 준비(26p4)가 후속되고, 그런다음 이러한 테스트의 실행(26e4)이 후속된다. 추가로, 제3 RAT(28)의 테스트(28e5, 28e6)를 실행하기 위한 DUT 준비 시간간격(28p5, 28p6)이 후속한다. 상술한 바와 같이, 이 테스트 기술(30)은 테스터가 현저하게 불충분하게 이용되는 결과를 가져온다.
그러나 본 발명의 예시적인 실시예(40)에 따라, 테스트의 활용과 DUT 준비가 인터리빙된다(예를 들면, DUT 준비와 오버랩된다). 예를 들면, 상술한 바와 같이, DUT 준비 시간간격(24p1, 24p2, 24p3)은 제1 RAT(24)에 대한 DUT 테스트 실행 시간간격(24e1, 24e2, 24e3)과 교대로 일어난다. 그러나, 교대로 제1 RAT(24)를 준비하고 테스트하는 이러한 시간간격(T1)의 오버랩핑은 DUT 준비 시간간격(26p4, 28p5, 28p6)이 제2 RAT(26) 및 제3 RAT(28)에 대한 DUT 테스트 실행 시간간격(26e4, 28e5, 28e6)과 교대로 일어나는 제2 RAT(26) 및 제3 RAT(28)를 교대로 준비하고 테스트하는 또다른 시간간격(T2)이다. 도시된 바와 같이, 이는 테스터(12)의 완전한 활용(예를 들면, 100%)을 효과적으로 달성한다.
도 5를 참조하면, 도 4에 도시된 바와 같이, DUT 준비 및 테스트의 인터리빙 및 동시 수행의 달성은 하기와 같이 구현될 수 있다. 상이한 RAT가 서로 독립적으로 테스트될 수 있다고 가정되는 동안, 이러한 독립적인 테스트를 스케줄링하기 위한 적절한 동기화가 중요하다. 적절한 DUT 준비 및 테스트 실행을 보장하는 것은 테스터(12)에 의해 발생되는 동기화를 이용하여 보장될 수 있다. 예시적인 실시예에 따르면, DUT(20)는 테스터(12)로부터의 명령을 따르기 위해 제어 또는 프로그래밍될 수 있다. 이는 테스터(12)로부터 DUT가 대개 블루투스와 같은 휴대전화 테스트 시스템 및 기타 시분할(TDD: Time-Division-Duplex) 기반 시스템에서 사용되는 것과 같은 간단한 루프-백 동작(예를 들면, DUT(20)가 테스터(12)로부터의 제공된 다운링크 신호에 대해 반응하도록 함으로써) 또는 수신확인(ACK) 신호를 가지고 응답하는 DUT로 전송된 간단한 수신 데이터 패킷을 이용하여 구현될 수 있다.
RAT가 종속적으로 동작될 때, 최초의 동작은 RAT 모두를 병렬로 준비(24pa, 26pa)하는 것을 포함한다. 동시에, 테스터(12)는 제1 RAT(24)의 테스트를 시작하는 동기화(12sa) 시도를 시작할 것이다. 제1 RAT(24)가 테스트 준비가 되면, 그것은 테스터(12)에 대한 동기화(24sa) 시도를 시작한다. 테스터(12)가 이미 동기화를 대기하고 있으면, 그것은 제1 RAT 테스트(24ea)의 실행을 진행함으로써 빠르게 응답할 수 있다.
유사하게, 제2 RAT(26) 판독에 후속하여, 그것은 테스터(12)에 대한 동기화(26sb) 시도를 시작할 것이다. 제1 RAT 테스트(24ea)의 완료에 후속하여, 테스터(12)는 제2 RAT(26)에 대한 동기화(12sb) 시도를 시작할 것이다. 제2 RAT(26)의 판독에 후속하여, RAT(26)에 따른 실행(26ea)이 시작될 것이다. 반면, 제1 RAT(24)는 자신의 다음 테스트를 위해 준비되고 있다(24pb). 자신의 다음 테스트를 위한 제1 기술(24) 판독에 후속하여, DUT(20t)는 테스터(12)에 대한 동기화(24sc) 시도를 시작할 것이다. 반면, 제2 RAT 테스트(26ea)의 실행에 후속하여, 테스터(12)는 DUT(20t)와의 동기화(12sc) 시도를 시작한다. 그와 동시에, 제2 RAT(26)(또는 제2 기술(26)의 테스트가 완료되는 경우 제3 기술(28))의 다음 테스트를 위한 준비(26pb)가 시작된다. 제1 RAT 테스트(24eb)의 완료에 후속하여, 테스터(12)는 제2 RAT(26)의 테스트(26eb)의 실행을 시작하기 위해 DUT(20t)와의 동기화(12sd)를 시작한다.
당업자에 의해 용이하게 이해되는 바와 같이, 신호 포트를 공유하는(도 2) DUT에서의 다중 RAT의 경우에, 공통 신호 포트(25)의 공유는 신호 스위치(22)의 적절한 제어(예를 들면, 테스트될 RAT(24, 26) 중 하나 또는 다른 것을 맞물리게 하는)에 의해 DUT 테스트 시퀀스 동안 달성될 수 있다. 대안으로, 유한 신호 격리(finite signal isolation)을 갖는 다른 "개방" 신호 스위치를 통해 충분한 동기화 신호(신호 "누출")를 산출하도록 규격(evaluated) 또는 정상 신호 크기 보다 더 큰 크기의 테스터(12)에 의해 전송된 테스트 데이터 패킷 신호가 제공될 수 있다. 동기화 데이터 패킷이 DUT(20t)에 의해 수신되면, 그것은 원하는 신호 경로를 제공하는 것을 보장하도록 신호 스위치(22)를 제어할 수 있다. 추가로, 테스트되고 있는 다중 RAT가 동일한 동기화 신호에 의해 트리거되는 것을 방지하기 위해, 상이한 동기화 기술이 매체 액세스 제어(MAC: Media Access Control) 어드레스, 신호 주파수, 신호 파워 레벨, 변조 유형, 비트율 등과 같은 다양한 신호 컨텐츠, 속성 또는 특성을 이용하여 사용될 수 있다는 것이 이해될 것이다.
도시된 바와 같이, 일부 시간간격 동안 테스터(12)가 자신의 테스트 준비 DUT(21)에 의한 완료를 대기하는 반면, 다른 시간에 DUT(21t)가 테스터(12)와의 통신을 대기한다는 것을 이해할 수 있다. 이러한 테스터 휴지 시간을 감소시키기 위한 추가적인 최적화가 다수의 방식으로 달성될 수 있다. 예를 들면, 테스터가 DUT에 대해 대기하고 있는 경우, 제3 RAT는 그 사이에 테스트될 수 있다. 대안으로, 테스트 흐름은 원하는 경우 보다 최적화된 테스트 활용을 위해 재배열될 수 있다. 그러나 어떤 경우건, 테스터 활용이 현저하게 증가되어 전체 테스트 시간을 감소시킨다는 것을 이해할 수 있다.
도 6을 참조하면, 본 발명의 추가적인 실시예에 따른 유사한 기술이, 다중 DUT가 공유된 자원을 가지고(도 1) 병렬로 테스트하도록 설계된 테스터를 이용하여 병렬로 테스트될 때, 테스터 활용에서의 유사한 증가를 달성하도록 적용될 수 있다. 시작을 위해, 양 DUT(예를 들면, 본 예시의 목적을 위해, 본 기술이 보다 많은 DUT에 대해서 규모가 커질지라도, 2개의 DUT가 병렬로 테스트되는)의 2개의 RAT(24, 26)가 실질적으로 동시에 준비된다(24apa, 26apa, 24bpa, 26bpa). 테스터(12)는 제1 DUT 테스트의 실행(24aea)이 테스터(12)의 자원을 완전히 점유할 것이라는 것을 알기 때문에, 그것은 동기화 데이터 패킷(12sa)을 제1 DUT로 전송한다(예를 들면, 그 전체 내용이 참조에 의해 본원에 개시된 미국특허출원 번호 제13/462,459(Atty. 파일 11602.00.0071하에서 2012년 5월 2일 출원) 및 13/716,369(Atty. 파일 11602.00.0077하에서 2012년 12월 17일 출원)에 개시된 바와 같이, 동기화가 요구되는 것 이외의 DUT(들)로의 동기화 데이터 패킷을 손상시키거나(corrupting) 또는 각각의 DUT에 대한 상이한 MAC 어드레스를 사용함으로써). 제1 RAT 테스트의 실행(24aea)에 후속하여, 테스터(12)는 그런다음 제2 DUT와의 동기화(12sb)를 시작하고, 제1 RAT(24)의 다음 테스트를 위해 제1 DUT를 준비(24apb)하는 것을 계속한다. 제2 DUT의 제1 RAT 테스트(24)의 실행(24bea)의 완료에 후속하여, 테스터(12)는 양 DUT에 대한 동기화(12sc)를 시작한다. 이 경우, 테스터(12)는 양 DUT에서의 제2 RAT(26)의 테스트(26aea, 26bea)를 동시에 실행할 수 있다. 예를 들면, 테스터(12)가 테스트 데이터 패킷 신호를 양 DUT에 동시에 제공하거나 또는 2개의 테스트 포트(15, 17) 사이에서(도 2) VSA에 의해 캡처한 데이터 패킷을 인터리빙함으로써 DUT로부터의 테스트 데이터 패킷 신호를 캡처할 수 있는 수신 테스트가 수행될 수 있다.
DUT 준비(26apb, 26bpb) 및 테스트 실행(24aeb, 24beb)의 나머지 예시는 병렬로 달성되어, 병렬로 다중 DUT에 대해 실행되는 동안 도 4에 도시된 테스트 흐름을 달성하도록 할 수 있다. 대안으로, 테스터(12)가 각각의 DUT 테스트 포트(도 3)에 대한 전용 VSA 및 VSG를 구비하면, 최초의 제1 RAT 테스트(24aea, 24bea)가 본원에 도시된 바와 같은 인터리빙을 필요로 하지 않으면서 동시에 실행될 수 있다.
본 발명의 동작의 구조 및 방법에서의 다양한 기타 변형 및 변경은 본 발명의 범위 및 취지를 벗어나지 않고 당업자에게 명확할 것이다. 본 발명이 특정한 바람직한 실시예와 관련하여 설명되었지만, 본 발명은 이러한 특정한 실시예에 과도하게 한정되지 않는다는 것이 이해되어야 한다. 하기의 청구 범위는 본 발명의 범위를 정의하고, 이들 청구범위 및 그 등가물의 범위 내에서의 구조 및 방법이 그에 의해 커버되는 것으로 의도된다.

Claims (10)

  1. 하나 이상의 서로 상이한 신호 특성을 가진 다중 무선 액세스 기술(RAT)을 이용하여 통신할 수 있는 무선 주파수(RF) 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 테스터 데이터 패킷 신호 및 제어 명령을 이용하는 방법으로서:
    복수의 RAT 중 제1 RAT에 따라 제1 복수의 신호 특성을 가진 DUT 데이터 패킷 신호와 제1 테스터 데이터 패킷 신호 중 적어도 하나를 제1 복수의 테스트 시간간격 중 하나의 시간간격 동안 DUT를 통해 통신하는 단계;
    상기 복수의 RAT 중 제2 RAT에 따라 제2 복수의 신호 특성을 가진 DUT 데이터 패킷 신호와 제2 테스터 데이터 패킷 신호 중 적어도 하나를 제2 복수의 테스트 시간간격 중 하나의 시간간격 동안 상기 DUT를 통해 통신하는 단계;
    상기 DUT로 하여금 제1 테스터 데이터 패킷 신호와 DUT 데이터 패킷 신호 중 적어도 하나를 통신하도록 설정하는 복수의 DUT 제어 명령을 제1 복수의 명령 시간간격 중 하나의 시간간격 동안 상기 DUT로 실행하는 단계; 및
    상기 DUT로 하여금 제2 테스터 데이터 패킷 신호와 DUT 데이터 패킷 신호 중 적어도 하나를 통신하도록 설정하는 또다른 복수의 DUT 제어 명령을 제2 복수의 명령 시간간격 중 하나의 시간간격 동안 상기 DUT로 실행하는 단계;
    를 포함하고,
    상기 제1 복수의 테스트 시간간격 및 상기 제1 복수의 명령 시간간격의 각각의 시간간격은 상호 교차하여 배치되고,
    상기 제2 복수의 테스트 시간간격 및 상기 제2 복수의 명령 시간간격의 각각의 시간간격은 상호 교차하여 배치되고,
    상기 제1 복수의 테스트 시간간격의 각각의 시간간격은 상기 제2 복수의 명령 시간간격의 각각의 시간간격과 실질적으로 동시에 발생하고,
    상기 제2 복수의 테스트 시간간격의 각각의 시간간격은 상기 제1 복수의 명령 시간간격의 각각의 시간간격과 실질적으로 동시에 발생하는 것을 특징으로 하는 테스터 데이터 패킷 신호 및 제어 명령을 이용하는 방법.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 복수의 테스트 시간간격 및 상기 제2 복수의 테스트 시간간격의 각각의 시간간격은 상호 교대로 배치되고,
    상기 제1 복수의 명령 시간간격 및 상기 제2 복수의 명령 시간간격의 각각의 시간간격은 상호 교대로 배치되는 것을 특징으로 하는 테스터 데이터 패킷 신호 및 제어 명령을 이용하는 방법.
  3. 제1 항에 있어서, 상기 제1 복수의 테스트 시간간격 및 상기 제2 복수의 테스트 시간간격의 각각의 시간간격은 상호 배타적인 것을 특징으로 하는 테스터 데이터 패킷 신호 및 제어 명령을 이용하는 방법.
  4. 제1 항에 있어서, 상기 제1 복수의 명령 시간간격 및 상기 제2 복수의 명령 시간간격의 각각의 시간간격은 상호 배타적인 것을 특징으로 하는 테스터 데이터 패킷 신호 및 제어 명령을 이용하는 방법.
  5. 제1 항에 있어서, 상기 제1 복수의 명령 시간간격 및 상기 제2 복수의 명령 시간간격의 각각의 시간간격은 부분적으로 동시에 발생하는 것을 특징으로 하는 테스터 데이터 패킷 신호 및 제어 명령을 이용하는 방법.
  6. 하나 이상의 서로 상이한 신호 특성을 가진 다중 무선 액세스 기술(RAT)을 이용하여 통신할 수 있는 무선 주파수(RF) 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 테스터 데이터 패킷 신호 및 제어 명령을 제공하는 방법으로서:
    복수의 RAT 중 제1 RAT에 따라 제1 복수의 신호 특성을 가진 DUT 데이터 패킷 신호와 제1 테스터 데이터 패킷 신호 중 적어도 하나를 제1 복수의 테스트 시간간격 중 하나의 시간간격 동안 DUT를 가지고 통신하는 단계;
    상기 복수의 RAT 중 제2 RAT에 따라 제2 복수의 신호 특성을 가진 DUT 데이터 패킷 신호와 제2 테스터 데이터 패킷 신호 중 적어도 하나를 제2 복수의 테스트 시간간격 중 하나의 시간간격 동안 상기 DUT를 가지고 통신하는 단계;
    상기 DUT로 하여금 제1 테스터 데이터 패킷 신호와 DUT 데이터 패킷 신호 중 적어도 하나를 통신하도록 설정하는 복수의 DUT 제어 명령을 제1 복수의 명령 시간간격 중 하나의 시간간격 동안 상기 DUT에 의해 실행하도록 제공하는 단계; 및
    상기 DUT로 하여금 제2 테스터 데이터 패킷 신호와 DUT 데이터 패킷 신호 중 적어도 하나를 통신하도록 설정하는 또다른 복수의 DUT 제어 명령을 제2 복수의 명령 시간간격 중 하나의 시간간격 동안 상기 DUT에 의해 실행하도록 제공하는 단계;
    를 포함하고,
    상기 제1 복수의 테스트 시간간격 및 상기 제1 복수의 명령 시간간격의 각각의 시간간격은 상호 교차하여 배치되고,
    상기 제2 복수의 테스트 시간간격 및 상기 제2 복수의 명령 시간간격의 각각의 시간간격은 상호 교차하여 배치되고,
    상기 제1 복수의 테스트 시간간격의 각각의 시간간격은 상기 제2 복수의 명령 시간간격의 각각의 시간간격과 실질적으로 동시에 발생하고,
    상기 제2 복수의 테스트 시간간격의 각각의 시간간격은 상기 제1 복수의 명령 시간간격의 각각의 시간간격과 실질적으로 동시에 발생하는 것을 특징으로 하는 테스터 데이터 패킷 신호 및 제어 명령을 제공하는 방법.
  7. 제6 항에 있어서,
    상기 제1 복수의 테스트 시간간격 및 상기 제2 복수의 테스트 시간간격의 각각의 시간간격은 상호 교대로 배치되고,
    상기 제1 복수의 명령 시간간격 및 상기 제2 복수의 명령 시간간격의 각각의 시간간격은 상호 교대로 배치되는 것을 특징으로 하는 테스터 데이터 패킷 신호 및 제어 명령을 제공하는 방법.
  8. 제6 항에 있어서, 상기 제1 복수의 테스트 시간간격 및 상기 제2 복수의 테스트 시간간격의 각각의 시간간격은 상호 배타적인 것을 특징으로 하는 테스터 데이터 패킷 신호 및 제어 명령을 제공하는 방법.
  9. 제6 항에 있어서, 상기 제1 복수의 명령 시간간격 및 상기 제2 복수의 명령 시간간격의 각각의 시간간격은 상호 배타적인 것을 특징으로 하는 테스터 데이터 패킷 신호 및 제어 명령을 제공하는 방법.
  10. 제6 항에 있어서, 상기 제1 복수의 명령 시간간격 및 상기 제2 복수의 명령 시간간격의 각각의 시간간격은 부분적으로 동시에 발생하는 것을 특징으로 하는 테스터 데이터 패킷 신호 및 제어 명령을 제공하는 방법.
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