JP6770889B2

JP6770889B2 - インターリーブデバイス設定および試験を使用して複数の無線アクセス技術を備えるデータパケット信号送受信機を試験するための方法

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Publication number: JP6770889B2
Application number: JP2016538943A
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Inventors: オルガード、クリスチャン・ヴォルフ
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Filing date: 2014-08-08
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Description

本発明は、複数の無線アクセス技術を備えるデータパケット信号送受信機を試験することに関し、特に、インターリーブデバイス設定および試験を使用することによってそのような送受信機のより迅速な試験時間を達成することに関する。

今日の電子デバイスの多くは、接続および通信の両方の目的のためにワイヤレス技術を使用している。ワイヤレスデバイスは、電磁エネルギーを送受信することから、さらに２つ以上のワイヤレスデバイスは、信号周波数および電力スペクトル密度によって、互いの動作に干渉する可能性があることから、これらのデバイスおよびワイヤレス技術は、様々なワイヤレス技術標準仕様に準拠していなければならない。

そのようなワイヤレスデバイスを設計する際に、技術者は、このようなデバイスが、それぞれに含まれるワイヤレス技術規定標準ベース仕様に確実に合致するか、または上回るように、特別な注意を払っている。さらに、その後これらのデバイスが量産される際には、これらのデバイスは、製造上の欠陥が原因で動作不良を起こすことがないように、含まれるワイヤレス技術標準ベース仕様に確実に準拠していることも含めて試験される。

これらのデバイスを、製造および組み立て後に試験するために、現行のワイヤレスデバイス試験システム（「テスタ」とも呼ばれる）は、各デバイスから受信された信号を分析するためのサブシステムを採用している。そのようなサブシステムは、通常、少なくとも、被試験デバイスに送信されるソース信号を供給するためのベクトル信号発生器（ＶＳＧ）と、被試験デバイスによって生成された信号を分析するためのベクトル信号分析器（ＶＳＡ）とを含む。ＶＳＧによる試験信号の生成、およびＶＳＡによって実行される信号の分析は一般に、多様なデバイスがそれぞれ、異なる周波数範囲、帯域幅、および信号変調特性を有する多様なワイヤレス技術規定に準拠していることを試験するために使用できるようにプログラム可能である。

これらのタイプのワイヤレスデバイスがより洗練されたものになったため、それらのワイヤレスデバイスは、今では、複数の標準ベース技術に基づいて通信および接続を提供する送受信機回路を含む場合が多く、複数の標準ベース技術は、無線アクセス技術（ＲＡＴ）と呼ばれる場合が多く、数例を挙げれば、４ＧＬＴＥセルラ、ＧＳＭ（登録商標）、ＩＥＥＥ８０２．１１ｘＷｉＦｉおよびＢｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）などがある。

複数のＲＡＴを使用する通信が可能なそのようなデバイスを完全に試験するため、各技術およびその関連する送受信機回路は、その技術に対する適切な標準ベース仕様に対して試験が行われなければならない。これらの試験が順番に実行される場合、全試験時間は数分であり得、それは、何千もの（しばしば、何百万もの）デバイスを試験する際は長時間である。デバイスごとの試験時間を低減するための一解決策は、いくつかの被試験デバイス（ＤＵＴ）を同時に試験することである。例えば、各テスタが同時に１つのＤＵＴを試験するという形態で、５つの別個の試験システム（「テスタ」と呼ばれる場合が多い）を同時に使用することができる。これにより、ＤＵＴごとの試験時間が効果的に８０％低減されることになる。しかし、このテスタの数の増加は、装置の資本コストを著しく増加し、それにより、試験時間低減のためのいかなるコスト削減も縮小されるかまたは打ち消される。さらに、多くのＤＵＴは、２つ以上のＲＡＴ間で試験ポイント（例えば、入力／出力信号ポート）を共有することができ、それにより、各ＲＡＴは１つ以上の異なる信号特性（信号搬送波周波数、変調周波数、変調タイプ、データ速度など）の使用を必要とし得るため、個々のＲＡＴを同時に試験することが難しくなる。最後に、異なるＲＡＴの試験が類似の試験時間を必要とすることは稀である。それ故、試験システムの少なくともいくつかの部分は、重要な部分でない場合、異なるＲＡＴの試験の間はアイドル状態のままである。

全試験時間を低減しながら試験装置コストを最小限に抑えるための一技法は、単一のＶＳＡが複数のＤＵＴから送信された信号を同時に捕捉して分析することができないため、複数のＤＵＴを実質的に同時に（ただし、必ずしも並行ではない）試験できるように、複数の入力／出力（Ｉ／Ｏ）信号ポート間でＶＳＡとＶＳＧとを切り替えることができるスイッチングサブシステムを備える単一のＶＳＡおよび単一のＶＳＧを有するテスタを使用することである。あるいは、リソース共有は、複数のＤＵＴ間での共通のＩ／Ｏ信号ポート（可能な場合）およびスイッチの使用を含み得る。スイッチングサブシステムおよび共有リソースを使用するそのようなシステムは試験装置コストの低減を維持できるが、試験時間の低減は、各ＤＵＴ信号ポートに対するＶＳＡおよびＶＳＧを備えるシステムを使用することで、より良く実現することができるが、試験装置コストは著しく高い。

本出願に係る発明に従って、１つ以上の相互に異なる信号特性を有する複数の無線アクセス技術（ＲＡＴ）を使用する通信が可能な無線周波数（ＲＦ）データパケット信号送受信機被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験するためのテスタデータパケット信号および制御指示を使用する方法が提供される。相互に交互に入れかわる時間間隔（それらのうちの選択された１つは実質的に同時発生である）の間に、テスタデータパケット信号および制御指示は、ＤＵＴの複数のＲＡＴの同時試験および試験のための構成にそれぞれ使用される。

本出願に係る発明の一実施形態に従って、１つ以上の相互に異なる信号特性を有する複数の無線アクセス技術（ＲＡＴ）を使用する通信が可能な無線周波数（ＲＦ）データパケット信号送受信機被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験するためのテスタデータパケット信号および制御指示を使用する方法は、複数のＲＡＴのうちの第１のＲＡＴに従って、第１の複数の信号特性を有する第１のテスタデータパケット信号およびＤＵＴデータパケット信号のうちの少なくとも１つを、第１の複数の試験間隔のうちの１つの試験間隔の間、ＤＵＴを介して通信するステップと、複数のＲＡＴのうちの第２のＲＡＴに従って、第２の複数の信号特性を有する第２のテスタデータパケット信号およびＤＵＴデータパケット信号のうちの少なくとも１つを、第２の複数の試験間隔のうちの１つの試験間隔の間、ＤＵＴを介して通信するステップと、第１のテスタデータパケット信号およびＤＵＴデータパケット信号のうちの少なくとも１つを通信するようにＤＵＴを構成するために、複数のＤＵＴ制御指示を、第１の複数の指示間隔のうちの１つの指示間隔の間、ＤＵＴで実行するステップと、第２のテスタデータパケット信号およびＤＵＴデータパケット信号のうちの少なくとも１つを通信するようにＤＵＴを構成するために、別の複数のＤＵＴ制御指示を、第２の複数の指示間隔のうちの１つの指示間隔の間、ＤＵＴで実行するステップとを含む。第１の複数の試験間隔および第１の複数の指示間隔のそれぞれの１つは、相互に交互に入れかわり、第２の複数の試験間隔および第２の複数の指示間隔のそれぞれの１つは、相互に交互に入れかわり、第１の複数の試験間隔のそれぞれの１つは、第２の複数の指示間隔のそれぞれの１つと実質的に同時発生であり、かつ、第２の複数の試験間隔のそれぞれの１つは、第１の複数の指示間隔のそれぞれの１つと実質的に同時発生である。

本出願に係る発明の別の実施形態に従って、１つ以上の相互に異なる信号特性を有する複数の無線アクセス技術（ＲＡＴ）を使用する通信が可能な無線周波数（ＲＦ）データパケット信号送受信機被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験するためのテスタデータパケット信号および制御指示を提供する方法は、複数のＲＡＴのうちの第１のＲＡＴに従って、第１の複数の信号特性を有する第１のテスタデータパケット信号およびＤＵＴデータパケット信号のうちの少なくとも１つを、第１の複数の試験間隔のうちの１つの試験間隔の間、ＤＵＴと通信するステップと、複数のＲＡＴのうちの第２のＲＡＴに従って、第２の複数の信号特性を有する第２のテスタデータパケット信号およびＤＵＴデータパケット信号のうちの少なくとも１つを、第２の複数の試験間隔のうちの１つの試験間隔の間、ＤＵＴと通信するステップと、第１のテスタデータパケット信号およびＤＵＴデータパケット信号のうちの少なくとも１つを通信するようにＤＵＴを構成するために、複数のＤＵＴ制御指示を、第１の複数の指示間隔のうちの１つの指示間隔の間、ＤＵＴによる実行のために提供するステップと、第２のテスタデータパケット信号およびＤＵＴデータパケット信号のうちの少なくとも１つを通信するようにＤＵＴを構成するために、別の複数のＤＵＴ制御指示を、第２の複数の指示間隔のうちの１つの指示間隔の間、ＤＵＴによる実行のために提供するステップとを含む。第１の複数の試験間隔および第１の複数の指示間隔のそれぞれの１つは、相互に交互に入れかわり、第２の複数の試験間隔および第２の複数の指示間隔のそれぞれの１つは、相互に交互に入れかわり、第１の複数の試験間隔のそれぞれの１つは、第２の複数の指示間隔のそれぞれの１つと実質的に同時発生であり、かつ、第２の複数の試験間隔のそれぞれの１つは、第１の複数の指示間隔のそれぞれの１つと実質的に同時発生である。

ワイヤレス信号送受信機を試験するための従来の技法のための試験環境および信号図を図示する。ワイヤレス信号送受信機を試験するための代替の従来の試験環境を図示する。複数のワイヤレス信号送受信機を試験するための別の代替の従来の試験環境および信号図を図示する。本出願に係る発明の例示的な実施形態に従ってワイヤレス信号送受信機を試験するための方法のタイミング図を図示する。本出願に係る発明の別の例示的な実施形態に従ってワイヤレス信号送受信機を試験するための方法のタイミング図を図示する。本出願に係る発明の別の例示的な実施形態に従ってワイヤレス信号送受信機を試験するための方法のタイミング図を図示する。

以下の詳細な説明は、添付図面を参照して本出願に係る発明の例示の実施形態を説明するものである。そのような説明は、例示を意図とするものであって、本発明の範囲に関して限定するものではない。そのような実施形態は、当業者が主題となる本発明を実践することを可能にするよう十分に詳細に説明され、また、主題となる本発明の趣旨または範囲から逸脱することなく、いくつかの変更を加えて、他の実施形態が実践され得ることが理解されよう。

本開示の全体を通じて、文脈から反対のことが明示されない限り、説明される個々の回路素子の数は、単数または複数であり得ることが理解されよう。例えば、用語「回路（ｃｉｒｃｕｉｔ）」および「回路（ｃｉｒｃｕｉｔｒｙ）」は、単一の構成要素または複数の構成要素のいずれかを含んでもよく、それらは、能動的および／または受動的のいずれでもよく、接続されるか、または別の方法で互いに結合されて（例えば、１つ以上の集積回路チップとして）、説明される機能を提供する。さらには、用語「信号」は、１つ以上の電流、１つ以上の電圧、またはデータ信号を指す場合がある。図面内では、類似または関連する要素は、類似または関連する英字、数字、または英数字の指示表記を有する。さらに、本発明は、ディスクリート電子回路（好ましくは、１つ以上の集積回路チップの形態の）を使用する実装形態に関連して論じられているが、そのような回路の任意の部分の機能も、信号周波数または処理されるデータ速度に応じて、適切にプログラムされた１つ以上のプロセッサを使用して代替的に実施することができる。さらに、図が様々な実施形態の機能ブロック図を示す範囲で、その機能ブロックは、ハードウェア回路間の区分を必ずしも示すものではない。

携帯電話、スマートフォン、タブレットおよび同様のものなどのワイヤレスデバイスは、複数の標準ベースワイヤレス信号技術またはＲＡＴ（ＩＥＥＥ８０２．１１ａ、ＩＥＥＥ８０２．１１ｂ、ＩＥＥＥ８０２．１１ｇ、ＩＥＥＥ８０２．１１ｎ、ＩＥＥＥ８０２．１１ａｃ、３ＧＰＰＬＴＥおよびＢｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）など）を利用する場合が多い。これらの技術の根底にある規格は、信頼できるワイヤレス接続または通信を提供するように設計され、ワイヤレススペクトルに隣接するかまたはそれを共有する同じまたは他の技術を使用して高度にエネルギー効率が良くなるように、かつデバイス間の干渉を最小限に抑えるように一般的に選ばれる物理的および高レベルの仕様を規定する。

これらの規格によって規定される試験は、そのようなデバイスが標準規定仕様に適合するように設計されることおよび製造されたデバイスがそれらの規定された仕様に適合し続けることを保証することを意図している。デバイスの大部分は送受信機であり、少なくとも１つ以上の（各）受信機および送信機を含む。したがって、試験により、被試験デバイス（ＤＵＴ）の受信機および送信機の両方が適合するかどうかが決定される。ＤＵＴの１つまたは複数の受信機の試験はＲＸ試験であり、通常、受信機への試験システムまたはテスタによる試験パケットの送信と、ＤＵＴの受信機がどのようにそれらの試験パケットに応答するかを決定するための何らかの手段とを伴う。ＤＵＴの送信機は、試験システムへのパケットの送信を送信機に行わせることによって試験され、次いで、試験システムは、デバイスによって送信された信号の物理的特性を評価する。

ＲＸ試験パケットは、試験システム（例えば、ＶＳＧ）によって生成され、ＴＸ試験パケットは、ＤＵＴによって生成され、試験システムの分析サブシステム（例えば、ＶＳＡ）によって評価される。

以下でより詳細に論じられるように、本出願に係る発明の例示的な実施形態に従って、試験の様々なタスクまたは動作を同時に実行することによって、全試験時間を低減することができ、それにより、コスト削減が達成される。これは、携帯電話と他のデバイスまたは信号接続技術とを組み合わせたいわゆるスマートフォンデバイスを試験する上で、および、携帯電話技術のための試験時間が接続技術のための試験時間よりも著しく長くなり得る場合に、特に役立つ。以下で論じられるように、試験時間の低減は、単一の試験フロー内で異なるＲＡＴに対する試験タスクをインターリーブすることによって達成され、それにより、全試験時間が低減され、試験装置の利用が増大する。

ワイヤレス信号送受信機の試験は、２つの必須のプロセスまたは要素（ＤＵＴ試験準備および調節要素ならびにアクティブ試験要素）を伴う。ＤＵＴ試験準備の間、試験装置は非アクティブであるが、その理由は、少なくとも、ＶＳＡおよびＶＳＧのいずれもＤＵＴとアクティブに通信または別の方法で相互作用していないためである。これは、アクティブ試験要素と対照的であり、その間、ＶＳＡは、１つ以上のＤＵＴからの着信データパケット信号を順番に捕捉しており、および／またはＶＳＧは、ＤＵＴのうちの１つ以上に伝達するためのデータパケット試験信号を送信している。

試験システムがＤＵＴをアクティブに試験していないときは、その利用ひいては試験効率が低減される。それ故、理想的には、常に１つ以上のＤＵＴをアクティブに試験することによって試験装置の利用を最大化する試験技法を有することが望ましく、それにより、個々のＤＵＴ試験時間を低減することによってまたはより多くのＤＵＴを同時に試験することによってスループットが増大する。しかし、単一のテスタが単一のＤＵＴを試験しているそれらの試験シナリオでは、ＤＵＴ試験準備の各例は、ＤＵＴの試験の際にテスタがアクティブではない試験時間の一部分を表す。残念ながら、そのようなＤＵＴ試験準備例を完全に取り除く方法はない。

以下でより詳細に論じられるように、本出願に係る発明に従って、ＤＵＴ試験準備は、単にその完了を待つことによって存続するわけではない。むしろ、そのようなＤＵＴ試験準備時間は、同じＤＵＴに対して異なるＲＡＴを試験するためにテスタによって使用される。このことは、ＤＵＴの異なる信号ポート間で切り替えることによって、または、複数のＲＡＴが共通のＤＵＴ信号ポートを共有している事例において現在のＤＵＴ信号ポートと連通するかもしくは接続される際に異なるＲＡＴを使用することによって、達成することができる。例えば、単一のＤＵＴ信号ポートを共有しているＲＡＴは、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）（ＢＴ）、ＩＥＥＥ８０２．１１ｂ／ｇおよび２．４ＧＨｚ周波数帯域のＷｉＦｉを含み得る。これらのＲＡＴは共通の周波数帯域を共有するため、それらのＲＡＴは、共通のＤＵＴ信号ポートを共有することができ、共通のＤＵＴ信号ポートを共有する場合が多い。

図１を参照すると、ＤＵＴ２０を試験するための試験環境１０ａは、テスタ１２と、制御システムまたは回路１６（テスタ１２の外部およびテスタ１２から遠いところにあり得るか、または、テスタ１２の内部にあり得る（例えば、テスタ１２の一部である））とを含む。周知の原理によれば、テスタ１２は、信号源１２ｔとの接続と信号分析器１２ｒとの接続との間で選択するための信号スイッチングサブシステム１８ｔと共に、試験信号源１２ｔ（例えば、ＶＳＧ）および試験信号分析器１２ｒ（例えば、ＶＳＡ）を含む。テスタ１２からおよびテスタ１２への試験信号は、信号経路１３（通常、同軸無線周波数（ＲＦ）ケーブルおよびコネクタという形態の導電性信号経路）を介してＤＵＴ２０におよびＤＵＴ２０から伝達される。

制御システム１６は、制御信号（例えば、指示およびデータ）を提供し、１つ以上のそれぞれの制御信号インタフェース１７ｔ、１７ｄを介してテスタ１２およびＤＵＴ２０からデータを受信し、制御信号インタフェース１７ｔ、１７ｄは、別個のものでも共有されても（例えば、ネットワークを介して）よい。ＤＵＴ２０は、後のまたは繰り返される実行および使用のために必要に応じて指示およびデータを格納するためのメモリ回路２０ｍを含み得る。

信号図において図示されるように、受信（ＤＵＴによる）信号試験の間は、ＤＵＴ２０は、ＤＵＴ準備プログラム（例えば、制御システム１６からリアルタイムで受信されるかまたは以前に受信されてメモリ２０ｍに格納された準備指示）を実行し、その時間２１ｃの間は、試験装置は非アクティブである。このＤＵＴ準備間隔２１ｃに続いて、ＤＵＴ２０がそれに対して準備されている試験（すなわち、アクティブ試験）が実行される（２１ｔ）。受信信号試験に対するこの時間２１ｔの間は、ＶＳＧ１２ｔは、ＤＵＴに伝達するための試験データパケット信号１３ｒを送信する。逆に、送信（ＤＵＴによる）信号試験の間、そのようなアクティブ試験２１ｔ中には、ＤＵＴ２０は、テスタ１２に伝達するための試験データパケット信号１３ｔを送信する。

示されるように、各アクティブ試験セグメント２１ｔの後には、ＤＵＴ準備セグメント２１ｃが続く。少なくともＤＵＴ２０とアクティブに通信するかまたは別の方法で相互作用するという意味でテスタ１２が利用されているのは、アクティブ試験セグメントの間のみである。ＤＵＴ準備セグメント２１ｃの継続時間がアクティブ試験セグメント２１ｔの継続時間の２倍である場合は、テスタ１２の利用は約３３％となる。それ故、１時間の試験のうち、テスタは、わずか２０分間のみアクティブに試験している。さらに、ＤＵＴの必要な物理的処理（例えば、ロード、アンロード、接続、切断など）も考慮する場合は、テスタ利用レートはさらに低減される。

図２を参照すると、別の試験環境１０ｂでは、ＤＵＴ２０ｔは、複数のＲＡＴ（例えば、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）２４、２．４ＧＨｚＷｉＦｉ２６および５ＧＨｚＷｉＦｉ２８）を含むものである。２つのＲＡＴ２４、２６は、信号スイッチングまたは結合器回路２２を介してＤＵＴ信号ポート２５を共有し、第３のＲＡＴ２８は、それ自体の信号ポート２７を有する。前に述べたように、ＤＵＴ２０ｔは、信号経路１３ａ、１３ｂ（例えば、導電性ＲＦ信号ケーブルおよびコネクタ）を介してテスタ１２と通信し、テスタ１２は、ＤＵＴ２０ｔから信号を受信するかまたはＤＵＴ２０ｔに信号を伝達するための信号ポート１５と信号ポート１７との間で選択するためのスイッチング回路１８ｄを含む。

図３を参照すると、上記で論じられるように、ＤＵＴごとの試験時間を低減する方法の１つは、複数のＤＵＴを並行して試験することである。これは、ＤＵＴが単一のＲＡＴ（図１）を使用するかまたは複数のＲＡＴ（図２）を使用するかにかかわらず、真実である。一技法は、各ＤＵＴ２０に対するＶＳＡ１２ｒおよびＶＳＧ１２ｔ（あるＤＵＴ２０ａを試験するためのＶＳＡ１２ｒａおよびＶＳＧ１２ｔａ、ならびに別のＤＵＴ２０ｂを試験するための別のＶＳＡ１２ｒｂおよびＶＳＧ１２ｔｂ）を有するテスタ１２を必要とする。あるいは、他の技法は、ＤＵＴ２０ａおよび２０ｂ間のＶＳＡおよびＶＳＧのそれぞれの使用をインターリーブまたは多重化するための追加のハードウェア（例えば、パワースイッチ、分割器、結合器など）を含む一方で、ＶＳＡおよびＶＳＧを共有することができる。これにより、テスタ１２は、上記で論じられるもの（図１）と同様に、複数のＤＵＴ試験を並行に実行できるようになる。しかし、前に述べたように、テスタ１２が非アクティブであるＤＵＴ準備間隔２１ｃａ、２１ｃｂは、アクティブ試験間隔２１ｔａ、２１ｔｂと交互に入れかわる。それに従って、準備２１ｃおよび試験２１ｔ間隔の相対的な継続時間に応じて、テスタ１２の利用は、ＤＵＴごとの試験時間が低減されても、低いままである。言い換えれば、ＤＵＴごとに基づく試験時間は改善される（例えば、恐らくはわずかに長い全試験時間であるが、ここでは、より多くのＤＵＴを一度に試験できるという利益がある）が、テスタの利用は実質的には影響を受けないままである。

図４を参照すると、本出願に係る発明の実施形態に従ってＤＵＴ試験時間（減少）およびテスタの利用（増大）の同時改善についてより良く理解することができる。上記で論じられるように、従来のワイヤレス信号送受信機試験は、単一のＤＵＴ（図１）上で実行されるかまたは複数のＤＵＴ（図３）上で実行されるかにかかわらず、シーケンシャルな試験間隔３０または要素に依存し、ＤＵＴ準備間隔２４ｐ、２６ｐ、２８ｐは、試験実行間隔２４ｅ、２６ｅ、２８ｅとインターリーブするかまたは交互に入れかわる。例えば、複数のＲＡＴ２４、２６、２８を有するＤＵＴ２０ｔを試験する事例（図２）では、ＤＵＴ２０ｔは、第１のＲＡＴ２４を試験するための３つの準備間隔２４ｐ１、２４ｐ２、２４ｐ３の間に準備され、その後に、それぞれの試験実行間隔２４ｅ１、２４ｅ２、２４ｅ３が続く。この後に、第２のＲＡＴ２６を試験するためのＤＵＴ準備２６ｐ４が続き、その後に、そのような試験の実行２６ｅ４が次々と続く。さらに、次々と、第３のＲＡＴ２８の試験実行２８ｅ５、２８ｅ６のためのＤＵＴ準備間隔２８ｐ５、２８ｐ６が続く。上記で論じられるように、この試験技法３０は、著しく低いテスタの利用をもたらす。

しかし、本出願に係る発明の例示的な実施形態４０によれば、テスタの利用は、ＤＵＴ準備とインターリーブされる（例えば、ＤＵＴ準備と重複する）。例えば、前に述べたように、ＤＵＴ準備間隔２４ｐ１、２４ｐ２、２４ｐ３は、第１のＲＡＴ２４を試験するためのＤＵＴ試験実行間隔２４ｅ１、２４ｅ２、２４ｅ３と交互に入れかわる。しかし、第１のＲＡＴ２４を交互に準備および試験するためのこの時間間隔Ｔ１の重複は、第２のＲＡＴ２６および第３のＲＡＴ２８を交互に準備および試験するための別の時間間隔Ｔ２であり、その間は、ＤＵＴ準備間隔２６ｐ４、２８ｐ５、２８ｐ６は、第２のＲＡＴ２６および第３のＲＡＴ２８のためのＤＵＴ試験実行間隔２６ｅ４、２８ｅ５、２８ｅ６と交互に入れかわる。示されるように、これは、テスタ１２の完全な利用（例えば、１００％）を効果的に達成する。

図５を参照すると、図４に図示されるようなＤＵＴ準備および試験のインターリーブおよび同時の性能の達成は、以下の通り実現することができる。異なるＲＡＴを互いに独立して試験できることが想定されるが、そのような独立した試験のスケジューリングに対する適切な同期が重要である。適切なＤＵＴ準備および試験実行の保証は、テスタ１２によって生じる同期を使用して確保することができる。例示的な実施形態に従って、ＤＵＴ２０は、テスタ１２からのコマンドを聞くように制御またはプログラムすることができる。これは、テスタ１２からＤＵＴに送信された簡単な受信データパケットを使用して実施することができ、簡単な受信データパケットに対し、ＤＵＴは、セルラシステム試験および他の時分割二重（ＴＤＤ）ベースシステム（Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）など）で使用される場合が多い、確認応答（ＡＣＫ）信号または簡単なループバック動作（例えば、テスタ１２から提供されたダウンリンク信号への反応をＤＵＴ２０に行わせることによって）で応答する。

ＲＡＴは独立して動作されるため、初期動作は、両方のＲＡＴの並行準備２４ｐａ、２６ｐａを含む。同時に、テスタ１２は、第１のＲＡＴ２４の試験に着手するために、同期１２ｓａの試みを開始する。第１のＲＡＴ２４の試験準備が整うと、テスタ１２への同期２４ｓａの試みを開始する。テスタ１２は既に同期を待っている状態であるため、テスタ１２は、第１のＲＡＴ試験２４ｅａの実行に進むことによって迅速に応答することができる。

同様に、第２のＲＡＴ２６の準備に続いて、テスタ１２への同期２６ｓｂの試みを開始する。第１のＲＡＴ試験２４ｅａの完了に続いて、テスタ１２は、第２のＲＡＴ２６への同期１２ｓｂの試みを開始する。第２のＲＡＴ２６の準備に続いて、ＲＡＴ２６による実行２６ｅａが開始される。その間、その次の試験に対する第１のＲＡＴ２４の準備２４ｐｂが整えられる。その次の試験に対する第１の技術２４の準備に続いて、ＤＵＴ２０ｔは、テスタ１２への同期２４ｓｃの試みを開始する。その間、第２のＲＡＴ試験２６ｅａの実行に続いて、テスタ１２は、ＤＵＴ２０ｔとの同期１２ｓｃの試みを開始する。それと同時に、第２のＲＡＴ２６の次の試験（または、第２の技術２６の試験が完了している場合は第３の技術２８）の準備２６ｐｂが開始される。第１のＲＡＴ試験２４ｅｂの完了に続いて、テスタ１２は、第２のＲＡＴ２６の試験２６ｅｂの実行を開始するために、ＤＵＴ２０ｔとの同期１２ｓｄに着手しようと努める。

当業者によって容易に理解されるように、信号ポートを共有している１つのＤＵＴの複数のＲＡＴの事例（図２）では、共通の信号ポート２５の共有は、信号スイッチ２２の適切な制御（例えば、試験されるＲＡＴ２４、２６の一方または他方を係合するため）によってＤＵＴ試験シーケンスの間に達成することができる。あるいは、テスタ１２によって送信された試験データパケット信号は、そうでなければ「開いている」信号スイッチ（有限信号絶縁を有する）を通じて十分な同期信号（信号「漏れ」）を生成するために、上昇されたまたは通常より高い信号の振幅で提供することができる。同期データパケットがＤＵＴ２０ｔによって受信された時点で、ＤＵＴ２０ｔは、信号スイッチ２２を制御して、所望の信号経路を提供することを保証することができる。さらに、試験中の複数のＲＡＴが同じ同期信号によってトリガされることを防ぐために、メディアアクセス制御（ＭＡＣ）アドレス、信号周波数、信号電力レベル、変調タイプ、ビットレートなどの様々な信号コンテンツ、プロパティまたは特性を使用して、異なる同期技法を使用できることが理解されよう。

図示されるように、ある時間間隔の間、テスタ１２は、ＤＵＴ２１によるその試験準備の完了を待っており、他の時間には、ＤＵＴ２１ｔは、テスタ１２との通信を待っていることが分かる。そのようなテスタアイドル時間を低減するためのさらなる最適化は、多くの方法で達成することができる。例えば、テスタがＤＵＴを待っている場合は、その間に第３のＲＡＴを試験することができる。あるいは、より最適なテスタの利用のために、必要に応じて試験フローを再構成することができる。しかし、いかなる事象においても、テスタの利用が著しく増大され、それにより、全試験時間が低減されることが分かる。

図６を参照すると、本出願に係る発明のさらなる例示的な実施形態による類似技法は、共有されたリソースを用いる並行試験用に設計されたテスタを使用して複数のＤＵＴの並行試験が行われる際（図１）に、テスタの利用の類似増大を達成するために適用することができる。最初に、両方のＤＵＴの２つのＲＡＴ２４、２６（例えば、この例の目的では、２つのＤＵＴの並行試験が行われるが、この技法は、より多くのＤＵＴに拡大することができる）が実質的に同時に準備される（２４ａｐａ、２６ａｐａ、２４ｂｐａ、２６ｂｐａ）。テスタ１２は、第１のＤＵＴ試験の実行２４ａｅａがテスタ１２のリソースを完全に占めることを知っているため、テスタ１２は、同期データパケット１２ｓａを第１のＤＵＴに送信する（例えば、その内容が参照により本明細書に組み込まれる、米国特許出願第１３／４６２，４５９号明細書（代理人ファイル１１６０２．００．００７１の下、２０１２年５月２日に出願された）および米国特許出願第１３／７１６，３６９号明細書（代理人ファイル１１６０２．００．００７７の下、２０１２年１２月１７日に出願された）に開示されるように、各ＤＵＴに対して異なるＭＡＣアドレスを使用することによって、または同期が望まれるもの以外のＤＵＴへの同期データパケットを破損させることによって）。第１のＲＡＴ試験の実行２４ａｅａに続いて、テスタ１２は、第２のＤＵＴとの同期１２ｓｂに着手し、第１のＲＡＴ２４の次の試験のために第１のＤＵＴの準備２４ａｐｂを続ける。第２のＤＵＴの第１のＲＡＴ試験２４の実行２４ｂｅａの完了に続いて、テスタ１２は、両方のＤＵＴへの同期１２ｓｃに着手する。この事例では、テスタ１２は、両方のＤＵＴの第２のＲＡＴ２６の試験の実行２６ａｅａ、２６ｂｅａを同時に行うことができる。例えば、受信試験は、テスタ１２が、試験データパケット信号を両方のＤＵＴに同時に提供できるかまたは２つの試験ポート１５、１７間でＶＳＡによって捕捉されるデータパケットをインターリーブすることによってＤＵＴから試験データパケット信号を捕捉できる場合（図２）に実行することができる。

ＤＵＴ準備２６ａｐｂ、２６ｂｐｂおよび試験実行２４ａｅｂ、２４ｂｅｂの残りの例は並行して完了することができ、それにより、複数のＤＵＴ上で並行して実行する一方で、図４に図示される試験フローを達成することができる。あるいは、テスタ１２が各ＤＵＴ試験ポートに対する専用のＶＳＡおよびＶＳＧを有する場合（図３）、初期の第１のＲＡＴ試験２４ａｅａ、２４ｂｅａは、ここで図示されるようなインターリーブを必要とすることなく、同時に実行することができる。

本発明の範囲および趣旨から逸脱することのない、本発明の構造および動作方法における様々な他の修正形態および変更形態が、当業者には明らかであろう。本発明は、特定の好適な実施形態に関連して説明されているが、特許請求される本発明は、そのような特定の実施形態に不当に限定されるべきではないことを理解されたい。以下の特許請求の範囲は、本発明の範囲を規定するものであり、この特許請求の範囲およびその均等物の範囲内の構造および方法が特許請求の範囲によって包含されることを意図している。

Claims

１つ以上の相互に異なる信号特性を有する複数の無線アクセス技術（ＲＡＴ）を使用する通信が可能な無線周波数（ＲＦ）データパケット信号送受信機被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験するテスタを、前記ＤＵＴと前記テスタとの間に接続された制御システムが使用する方法であって、
前記制御システムが、複数のＲＡＴのうちの第１のＲＡＴに従って、第１の複数の信号特性を有する第１の試験データパケット信号を、第１の複数のＤＵＴ試験実行間隔のうちの１つのＤＵＴ試験実行間隔の間、前記ＤＵＴと前記テスタとの間で通信させるステップと、
前記制御システムが、前記複数のＲＡＴのうちの第２のＲＡＴに従って、第２の複数の信号特性を有する第２の試験データパケット信号を、第２の複数のＤＵＴ試験実行間隔のうちの１つのＤＵＴ試験実行間隔の間、前記ＤＵＴと前記テスタとの間で通信させるステップと、
前記制御システムが、第１の複数のＤＵＴ準備間隔のうちの１つのＤＵＴ準備間隔の間、前記ＤＵＴを準備して前記テスタを前記第１の試験データパケット信号に対して非アクティブにするステップと、
前記制御システムが、第２の複数のＤＵＴ準備間隔のうちの１つのＤＵＴ準備間隔の間、前記ＤＵＴを準備して前記テスタを前記第２の試験データパケット信号に対して非アクティブにするステップと
を含み、
前記第１の複数のＤＵＴ試験実行間隔および前記第１の複数のＤＵＴ準備間隔のそれぞれの１つが、相互に交互に入れかわり、
前記第２の複数のＤＵＴ試験実行間隔および前記第２の複数のＤＵＴ準備間隔のそれぞれの１つが、相互に交互に入れかわり、
前記第１の複数のＤＵＴ試験実行間隔のそれぞれの１つが、前記第２の複数のＤＵＴ準備間隔のそれぞれの１つと実質的に同時発生であり、
前記第２の複数のＤＵＴ試験実行間隔のそれぞれの１つが、前記第１の複数のＤＵＴ準備間隔のそれぞれの１つと実質的に同時発生であり、
前記第１の複数のＤＵＴ試験実行間隔と前記第２の複数のＤＵＴ試験実行間隔との間には、前記テスタが前記ＤＵＴからの同期を待っているテスタアイドル時間が存在し、
前記複数のＲＡＴは、同じ同期信号によってトリガされることが防止される、方法。
前記第１および第２の複数のＤＵＴ試験実行間隔のそれぞれの１つが、相互に交互に入れかわり、
前記第１および第２の複数のＤＵＴ準備間隔のそれぞれの１つが、相互に交互に入れかわる、請求項１に記載の方法。
前記第１および第２の複数のＤＵＴ試験実行間隔のそれぞれの１つが、相互に排他的である、請求項１に記載の方法。
前記第１および第２の複数のＤＵＴ準備間隔のそれぞれの１つが、相互に排他的である、請求項１に記載の方法。
前記第１および第２の複数のＤＵＴ準備間隔のそれぞれの１つが、部分的に同時発生である、請求項１に記載の方法。
１つ以上の相互に異なる信号特性を有する複数の無線アクセス技術（ＲＡＴ）を使用する通信が可能な無線周波数（ＲＦ）データパケット信号送受信機被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験するテスタを、前記ＤＵＴと前記テスタとの間に接続された制御システムが使用する方法であって、
前記制御システムが、複数のＲＡＴのうちの第１のＲＡＴに従って、第１の複数の信号特性を有する第１の試験データパケット信号を、第１の複数のＤＵＴ試験実行間隔のうちの１つのＤＵＴ試験実行間隔の間、前記ＤＵＴと前記テスタとの間で通信させるステップと、
前記制御システムが、前記複数のＲＡＴのうちの第２のＲＡＴに従って、第２の複数の信号特性を有する第２の試験データパケット信号を、第２の複数のＤＵＴ試験実行間隔のうちの１つのＤＵＴ試験実行間隔の間、前記ＤＵＴと前記テスタとの間で通信させるステップと、
前記制御システムが、第１の複数のＤＵＴ準備間隔のうちの１つのＤＵＴ準備間隔の間、前記ＤＵＴを準備して前記テスタを前記第１の試験データパケット信号に対して非アクティブにするステップと、
前記制御システムが、第２の複数のＤＵＴ準備間隔のうちの１つのＤＵＴ準備間隔の間、前記ＤＵＴを準備して前記テスタを前記第２の試験データパケット信号に対して非アクティブにするステップと
を含み、
前記第１の複数のＤＵＴ試験実行間隔および前記第１の複数のＤＵＴ準備間隔のそれぞれの１つが、相互に交互に入れかわり、
前記第２の複数のＤＵＴ試験実行間隔および前記第２の複数のＤＵＴ準備間隔のそれぞれの１つが、相互に交互に入れかわり、
前記第１の複数のＤＵＴ試験実行間隔のそれぞれの１つが、前記第２の複数のＤＵＴ準備間隔のそれぞれの１つと実質的に同時発生であり、
前記第２の複数のＤＵＴ試験実行間隔のそれぞれの１つが、前記第１の複数のＤＵＴ準備間隔のそれぞれの１つと実質的に同時発生であり、
前記第１の複数のＤＵＴ試験実行間隔と前記第２の複数のＤＵＴ試験実行間隔との間には、前記テスタが前記ＤＵＴからの同期を待っているテスタアイドル時間が存在し、
前記複数のＲＡＴは、同じ同期信号によってトリガされることが防止される、方法。
前記第１および第２の複数のＤＵＴ試験実行間隔のそれぞれの１つが、相互に交互に入れかわり、
前記第１および第２の複数のＤＵＴ準備間隔のそれぞれの１つが、相互に交互に入れかわる、請求項６に記載の方法。
前記第１および第２の複数のＤＵＴ試験実行間隔のそれぞれの１つが、相互に排他的である、請求項６に記載の方法。
前記第１および第２の複数のＤＵＴ準備間隔のそれぞれの１つが、相互に排他的である、請求項６に記載の方法。
前記第１および第２の複数のＤＵＴ準備間隔のそれぞれの１つが、部分的に同時発生である、請求項６に記載の方法。