KR20160016055A - 필터 주파수 튜닝 시스템 - Google Patents

필터 주파수 튜닝 시스템 Download PDF

Info

Publication number
KR20160016055A
KR20160016055A KR1020140099260A KR20140099260A KR20160016055A KR 20160016055 A KR20160016055 A KR 20160016055A KR 1020140099260 A KR1020140099260 A KR 1020140099260A KR 20140099260 A KR20140099260 A KR 20140099260A KR 20160016055 A KR20160016055 A KR 20160016055A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
filter
filters
waveform
tuned
output
Prior art date
Application number
KR1020140099260A
Other languages
English (en)
Inventor
안충용
김오권
구경호
이풍운
김동천
Original Assignee
주식회사 케이엠더블유
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 케이엠더블유 filed Critical 주식회사 케이엠더블유
Priority to KR1020140099260A priority Critical patent/KR20160016055A/ko
Publication of KR20160016055A publication Critical patent/KR20160016055A/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01PWAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
    • H01P1/00Auxiliary devices
    • H01P1/20Frequency-selective devices, e.g. filters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/002Switches for altering the measuring range or for multitesters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/16Spectrum analysis; Fourier analysis
    • G01R23/165Spectrum analysis; Fourier analysis using filters

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

본 발명은 튜닝하려는 복수의 필터 출력 파형을 분석하는 파형분석기를 포함하는 필터 주파수 튜닝 시스템에서, 상기 복수의 필터별 입출력 커넥터의 신호 경로를 선택적으로 전환하여, 상기 복수의 필터 출력 파형 중 선택된 필터의 출력 파형을 상기 파형분석기에 제공하는 스위칭 장치 및 상기 복수의 필터 중 튜닝할 각각의 필터를 선택하도록 상기 스위칭 장치를 제어하고, 상기 복수의 필터 중 튜닝할 각각의 필터의 기준 필터 파형 조건을 선택하도록 상기 파형분석기를 제어하여, 분석된 복수의 필터 출력 파형을 디스플레이 하도록 하는 제어 신호를 출력하는 시스템 제어기를 포함한다.

Description

필터 주파수 튜닝 시스템{Filter Frequency Tuning System}
본 발명은 안테나 무선 주파수 필터에 관한 것이며, 특히 필터 주파수 튜닝 시스템에 관한 것이다.
통상적으로, 무선통신 서비스를 위한 무선 주파수 필터는 미리 설정된 특정 주파수 대역의 신호를 통과 또는 차단시키는 기능을 담당하는 장치이다. 이러한 무선 주파수 필터는 고주파, 특히 초고주파를 공진하기 위한 일종의 회로통(즉, 캐비티)의 구조를 가진다. 캐비티 구조를 무선 주파수 필터는 도체로 둘러싸인 금속성 원통 또는 직육면체의 공동을 형성하며 그 내부에 유전체 공진기(DR: Dielectric Resonator) 또는 금속 공진봉으로 구성된 공진소자를 각각 구비시켜 초고주파의 공진을 발생시킨다. 또한, 이와 같은 캐비티 구조를 가지는 무선 주파수 필터에서, 통상 캐비티 구조의 상부에는 해당 캐비티의 개방면을 차폐하는 커버가 구비되며, 커버에는 해당 무선 주파수 필터의 필터링 특성을 튜닝하기 위한 튜닝 구조로서, 다수의 튜닝 나사 및 해당 튜닝 나사를 고정하기 위한 너트 등이 설치될 수 있다. 캐비티 구조를 가지는 무선 주파수 필터에 관한 일예로는, 본 출원인에 의해 선출원된 국내 공개특허공보 제10-2004-100084호(명칭: "무선 주파수 필터", 공개일: 2004년 12월 02일, 발명자: 박종규 외 2명)에 개시된 바를 예로 들 수 있다.
이러한 구성을 가지는 무선 주파수 필터에서, 주파수 튜닝 작업은 통상 숙련된 작업자가 직접 필터의 튜닝 나사들을 조이거나 풀어주는 수작업으로 이루어진다. 상기 작업자는 해당 무선 주파수 필터의 특성을 별도의 파형분석기를 이용하여 분석하고, 파형분석기를 통해 모니터로 출력된 해당 필터의 특성 파형을 확인하면서, 다수의 튜닝 나사들 중 적절한 튜닝 나사를 선택하여, 조이거나 푸는 튜닝 작업을 하게 된다.
이러한 주파수 튜닝 작업은 해당 필터가 원하는 필터링 특성을 갖도록 하기 위한 필수적인 작업으로서, 제작된 필터들 모두에 대해 개별적인 주파수 튜닝 작업이 요구된다. 따라서, 필터의 주파수 튜닝 작업을 보다 신속히 수행하는 방안이 간구되고 있다. 다량의 필터들에 대한 주파수 튜닝 작업을 신속히 수행하는 것만 고려할 경우에는, 많은 작업자 수의 확보와 더불어, 각각의 필터에 대한 특성 파형을 분석하기 위한 많은 수의 파형분석기를 구비하는 방안을 일차적으로 고려해 볼 수 있다.
즉, 이러한 방안은 동시에 튜닝하려는 필터의 수만큼 파형분석기(및 작업자)를 마련하는 방안으로 볼 수 있는데, 필터 특성 분석을 위해 통상 사용되는 파형분석기는 매우 고가의 장비이므로, 파형분석기를 다량으로 구비하는 것은 매우 비효율적이다.
따라서 본 발명의 목적은 저비용으로 신속한 필터 주파수 튜닝 작업을 수행하기 위한 것으로, 하나의 파형분석기를 이용하여, 복수의 필터 주파수 튜닝하는 작업을 가능하게 하여, 파형분석기의 구비 비용을 절감할 수 있는 필터 주파수 튜닝 시스템을 제공하는 것이다.
상기한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 튜닝하려는 복수의 필터 출력 파형을 분석하는 파형분석기를 포함하는 필터 주파수 튜닝 시스템에서, 상기 복수의 필터별 입출력 커넥터의 신호 경로를 선택적으로 전환하여, 상기 복수의 필터 출력 파형 중 선택된 필터의 출력 파형을 상기 파형분석기에 제공하는 스위칭 장치 및 상기 복수의 필터 중 튜닝할 각각의 필터를 선택하도록 상기 스위칭 장치를 제어하고, 상기 복수의 필터 중 튜닝할 각각의 필터의 기준 필터 파형 조건을 선택하도록 상기 파형분석기를 제어하여, 분석된 복수의 필터 출력 파형을 디스플레이 하도록 하는 제어 신호를 출력하는 시스템 제어기를 포함한다.
상기 시스템 제어기는, 시분할 듀플렉스(Time Division Duplex) 방식에 따라, 상기 복수의 필터 중 튜닝할 각각의 필터를 순차적으로 선택하도록 상기 스위칭 장치를 제어하고, 상기 복수의 필터 중 튜닝할 각각의 필터 튜닝 조건을 순차적으로 선택하도록 상기 파형분석기를 제어하여, 분석된 복수의 필터 출력 파형을 상기 적어도 하나의 모니터에 디스플레이 하도록 하는 제어 신호를 출력하는 것을 포함할 수 있다.
상기 스위칭 장치는, 상기 파형분석기에 튜닝할 필터 정보를 전송하기 위하여 튜닝할 필터의 제1입출력단자(231)와 상기 파형분석기(10)의 제1포트(101)가 연결되도록 스위칭하는 제1스위치, 상기 복수의 필터로부터 제공된 튜닝할 필터 정보를 상기 파형분석기로 전송하기 위하여 튜닝할 필터의 제2입출력단자(221)와 상기 파형분석기(10)의 제2포트(102)가 연결되도록 스위칭하는 제2스위치, 상기 시스템 제어기의 제어에 따라 상기 제1스위치와 상기 제2스위치의 스위치 동작을 제어하는 스위치 제어부를 포함할 수 있다.
상기 모니터의 개수는 상기 복수의 필터와 대응되는 개수로 구성되며, 상기 시스템 제어기가 각각의 필터와 대응되는 각각의 모니터에 필터 출력 파형을 디스플레이 하도록 하는 제어 신호를 출력하는 것을 특징으로 할 수 있다.
상기 시스템 제어기는 상기 적어도 하나의 모니터에 상기 복수의 필터 출력 파형을 적어도 두 개 디스플레이 하도록 하는 제어 신호를 출력하는 것을 특징으로 할 수 있다.
상기 시스템 제어기는 상기 복수의 필터 출력 파형의 튜닝을 위해 설정된 기준 파형 정보를 상기 파형분석기로 미리 전송하는 것을 특징으로 할 수 있다.
상기한 바와 같이, 본 발명의 일 실시 예에 따른 필터 주파수 튜닝 시스템은 하나의 파형분석기를 사용하여 복수의 필터들에 대한 동시 멀티 튜닝 작업이 가능하도록 함으로써, 파형분석기의 구비 비용을 절감할 수 있는 장점이 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 필터 주파수 튜닝 시스템의 개략적인 전체 블록 구성도
도 2는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 필터 주파수 튜닝 시스템의 개략적인 전체 블록 구성도
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 필터 주파수 튜닝 시스템의 공정 흐름도
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 필터 주파수 튜닝 시스템의 튜닝을 위한 기준 필터 파형 정보를 나타낸 테이블도
도 5a 및 도 5b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 필터 주파수 튜닝 시스템의 튜닝 작업에 따른 필터링 특성 곡선을 나타낸 그래프
이하 본 발명에 따른 바람직한 실시 예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 필터 주파수 튜닝 시스템의 개략적인 블록 구성도이다. 도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 필터 주파수 튜닝 시스템은 튜닝하려는 복수의 필터(50) 출력 파형을 분석하는 파형분석기(10)와 상기 복수의 필터(50) 입출력 커넥터의 신호 경로를 전환하여, 상기 복수의 필터(50) 출력 파형을 상기 파형분석기(10)에 제공하는 스위칭 장치(20)와 상기 파형분석기(10)에서 분석된 복수의 필터 출력 파형을 디스플레이하는 적어도 하나의 모니터(40)와 상기 복수의 필터(50) 중 튜닝할 각각의 필터를 선택하도록 상기 스위칭 장치(20)를 제어하고, 상기 복수의 필터(50) 중 튜닝할 각각의 필터의 튜닝 조건을 선택하도록 상기 파형분석기(10)를 제어하여, 분석된 복수의 필터 출력 파형을 상기 적어도 하나의 모니터(40)에 디스플레이 하도록 제어하는 시스템 제어기(30)를 포함할 수 있다. 도 1에 도시된 시스템 구성을 살펴보면, 본 발명의 특징에 따라 하나의 파형분석기에 스위칭 장치를 통해 복수의 필터가 연결되는 구성임을 알 수 있다. 즉, 본 발명에서는 (후술하는 바와 같이) 하나의 파형분석기를 이용하여 복수의 필터들을 동시에 주파수 튜닝할 수 있도록 한다.
한편, 도 1에 도시된 본 발명의 실시 예에서는 하나의 파형분석기(10)를 이용하여 예를 들어 4개의 필터의 파형을 분석 가능하도록 한다.
여기서, 복수의 필터(50)는 파형분석기(10)의 성능에 따라 2개 또는 8개 일 수 있으며 파형분석기의 성능 향상 및 파형분석기와 시스템 제어기와의 데이터 전송 속도의 증가에 따라 더욱 많은 필터 파형을 분석할 수 있도록 복수의 파형분석기가 구비될 수 있다.
상기 도 1에 도시된 구성을 보다 상세히 설명하면, 먼저, 상기 파형분석기(10)는 예를 들면, 애질런트 테크놀로지스(Agilent technologies)사의 507x 기종을 사용할 수 있으나, 이와 동등 이상의 기종으로 구성할 수 있다. 또한, 당업계에 공지되어, 안테나 필터 튜닝을 위한 파형을 분석할 수 있는 장치는 모두 사용 가능할 수 있다.
이러한 파형분석기(10)는 필터 파형을 분석하기 위하여 필터 파형 분석용 신호를 복수의 필터(50)로 제공하는 제1포트(101) 및 해당 필터를 거친 분석용 신호를 다시 입력받기 위한 제2포트(102)가 구비된다. 통상적으로 파형분석기(10)를 통해 하나의 필터 파형을 분석할 경우에는 파형분석기(10)의 제1포트(101) 및 제2포트(102)는 각각 튜닝하려는 필터와 연결된 제1입출력단자(231) 및 튜닝하려는 필터와 연결된 제2입출력단자(221)와 연결될 수 있다.
상기 스위칭 장치(20)는 상기 파형분석기(10)에 튜닝할 필터 정보를 전송하기 위하여 튜닝할 필터의 제1입출력단자(231)와 상기 파형분석기(10)의 제1포트(101)가 연결되도록 스위칭하는 제1스위치(230)와 상기 복수의 필터(50)로부터 제공된 튜닝할 필터 정보를 상기 파형분석기(10)로 전송하기 위하여 튜닝할 필터의 제2입출력단자(221)와 상기 파형분석기(10)의 제2포트(102)가 연결되도록 스위칭하는 제2스위치(220)를 포함할 수 있다. 또한, 상기 시스템 제어기(30)의 제어에 따라 상기 제1스위치(230)와 상기 제2스위치(220)의 스위치 동작을 제어하는 스위치 제어부(210)를 포함할 수 있다.
한편, 상기 파형분석기(10)의 제1포트(101) 및 제2포트(102)는 스위칭 장치(20)의 제1스위치(230)와 제2스위치(220)로 연결되며, 각각 제1스위치(230)의 제1입출력단자(231)와 제2스위치(220)의 제2입출력단자(221)와 연결될 수 있도록 하였다.
그리고, 상기 제1스위치(230)로 튜닝하려는 복수의 필터(50)와 각각 연결된 제1입출력단자(231)가 제공될 수 있고, 상기 제2스위치(220)로 튜닝하려는 복수의 필터(50)와 각각 연결된 제2입출력단자(221)가 제공될 수 있다. 결론적으로 상기 파형분석기(10)의 제1포트(101)는 제1스위치(230)를 통해서 제1입출력단자(231)와 연결될 수 있고, 제2포트(102)는 상기 제2스위치(220)를 통해서 제2입출력단자(221)로 연결될 수 있다.
여기서, 본 발명의 일 실시 예에 따르면, 시스템 제어기(10)의 제어에 따라 상기 제1스위치(230)는 파형분석기(10)의 제1포트(101)에 4개의 복수의 필터(51,52,53,54)의 제1입출력단자(231)를 선택적으로 연결할 수 있도록 하며, 제2스위치(220) 또한 파형분석기(10)의 제2포트(102)에 4개의 복수의 필터(51,52,53,54)의 제2입출력단자(221)를 선택적으로 연결할 수 있도록 하는 구성을 하였다. 이러한, 제1스위치(230) 및 제2스위치(220)는 4개의 복수의 필터(51,52,53,54)와 선택적으로 연결되는 경우, 각각 SP4T(Single Pole 4 Throw) 스위치 구조를 가질 수 있다. 만약, 제1스위치(230) 및 제2스위치(220)가 2개의 복수의 필터(51,52)와 선택적으로 연결되는 경우, 각각 SP2T(Single Pole 2 Throw) 스위치를 사용할 수 있으며, 복수의 필터(50) 개수에 따라서, 상기 스위칭 장치(20)의 스위치 종류가 달라질 수 있다. 여기서 스위칭 제어부(210)는 상기 스위칭 제어부(210) 상에 접속된 D-sub connector 포트를 통하여 제1스위치(230) 및 제2스위치(220)와 각각 연결 할 수 있다.
한편, 시스템 제어기(30)는 개인용 컴퓨터일 수 있다. 시스템 제어기(30)는 USB포트, 2채널이상 지원 가능한 그래픽카드, 모니터 2EA 이상을 만족하는 기종을 사용할 수 있다. 여기서, 파형분석기(10)가 애질런트 테크놀로지스(Agilent technologies)사의 기종일 경우, 시스템 제어기(30)는 애질런트 테크놀로지스(Agilent technologies)사의 입출력 라이브러리 프로그램 설치가 가능한 기종을 사용할 수 있다.
이러한 시스템 제어기(30)는 파형분석기(10), 스위칭 장치(20) 및 적어도 하나의 모니터(40)와 통신할 수 있도록 구성되며, 필터 튜닝을 위한 프로그램이 미리 설치 될 수 있다. 구체적으로, 시스템 제어기(30)는 파형분석기(10)와 USB 케이블로 연결 될 수 있고, 이때 시스템 제어기(30)와 파형분석기(10)간의 통신을 연결 할 수 있도록 시스템 제어기(30)에 프로그램이 설치될 수 있다. 이러한 프로그램을 구동시켜 파형분석기(10)와 연결된 USB 케이블 주소를 입력하여 통신 가능한 상태로 만들 수 있다.
시스템 제어기(30)와 파형분석기(10)가 통신 가능한 상태에서, 튜닝이 수행되기 전에 상기 시스템 제어기(30)는 복수의 필터(50) 출력 파형의 튜닝을 하기 위한 기준 출력 파형 정보들을 상기 파형분석기(10)로 미리 전송해 줄 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에서는 튜닝하려는 복수의 필터(50)를 4개로 예시 하였으므로, 4개의 기준 출력 파형 정보들을 튜닝 수행이 시작되기 전에 파형분석기(10)로 미리 전송하였으나, 튜닝하려는 복수의 필터 개수에 대응하는 기준 출력 파형 정보들을 전송할 수 있다. 여기서 시스템 제어기(30)는 시분할 듀플렉스(Time Division Duplex) 방식을 이용하여, 상기 복수의 필터(50) 중 튜닝할 각각의 필터(51,52,53,54)를 순차적으로 선택하도록 상기 스위칭 장치(20)를 제어하고, 상기 복수의 필터(50) 중 튜닝할 각각의 필터(51,52,53,54)의 기준 필터 파형 정보를 순차적으로 선택하도록 상기 파형분석기(10)를 제어하여, 분석된 복수의 필터 출력 파형을 상기 적어도 하나의 모니터(40)에 디스플레이할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에서는 복수의 필터(50)와 대응되는 개수인 4개의 모니터(41,42,43,44)를 구성하여, 각각의 모니터에 대응되도록 복수의 필터(51,52,53,54) 출력 파형을 각각 디스플레이 할 수 있도록 하였다.
한편, 도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 다른 실시 예에 따른 필터 주파수 튜닝 시스템은 상기 도 1에 도시된 일 실시 예와 마찬가지로 튜닝하려는 복수의 필터(50), 파형분석기(10), 스위칭 장치(20), 시스템 제어기(30)를 구비한다.
도 2를 참조하면, 상기 일 실시 예와는 달리 복수의 필터(50)와 대응되게 복수의 모니터를 구성하는 것이 아니라, 복수의 필터(50)의 개수보다 적은 수의 모니터(40)를 구성할 수 있도록 하였다.
이러한 구성을 가진 경우에 상기 시스템 제어기(30)는 상기 적어도 하나의 모니터(40)에 복수의 필터(50) 출력 파형을 적어도 두 개 디스플레이 하도록 제어할 수 있도록 할 수 있다. 만약 하나의 모니터(45)만으로 구성하였다면 제1모니터(45)에 4개의 필터(51,52,53,54) 파형을 모두 디스플레이할 수 있다. 만약, 두 개의 모니터(45,46)로 구성하였을 경우, 시스템 제어기(30)의 제어에 따라, 제1모니터(45)에 디스플레이 할 수 있는 두 개 이상의 필터가 제1(51) 및 제3(53) 필터 파형일 수 있고, 제1(51) 및 제4(54) 필터 파형일 수 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 필터 주파수 튜닝 시스템의 공정 흐름도이다. 도 3을 참조하면, 300단계에서 시스템 제어기(30)에서 복수의 필터(50) 각각의 튜닝을 하기 위한 조건을 설정한 기준 출력 파형 정보들을 파형분석기(10)로 미리 전송할 수 있다. 본 발명의 일 실시 예에서는 튜닝하려는 복수의 필터(50)를 4개로 예시하였으므로, 4개의 기준 출력 파형 정보들을 튜닝 수행이 시작되기 전에 파형분석기(10)로 미리 전송할 수 있다.
310단계에서 시스템 제어기(30)는 복수의 필터(50) 중 튜닝할 필터를 선택하여, 선택신호를 스위칭 장치(20)에 전송할 수 있다. 상기 시스템 제어기(30)의 제어에 따라, 스위치 제어부(210)는 제1스위치(230)와 제2스위치(220)가 스위칭 구동 할 수 있도록 제어할 수 있다. 이와 동시에 복수의 필터(50) 중 튜닝할 필터의 기준 파형 정보를 파형분석기(10)에서 선택할 수 있도록 조건선택신호를 전송할 수 있다.
예를 들어, 시스템 제어기(30)가 제1필터(51)를 선택할 경우, 제1필터(51) 선택신호와 제1필터(51) 의 조건선택신호를 각각 스위칭 장치(20)와 파형분석기(10)로 전송할 수 있다. 구체적으로, 상기 제1필터(51)의 선택신호를 입력받은 스위치 제어부(210)는 제1스위치(230)를 구동하여 제1필터(51)와 접속된 제1입출력단자(231)를 파형분석기(10)의 제1포트(101)와 연결되도록 하고, 제2스위치(220)를 구동하여, 제1필터(51)와 접속된 제2입출력단자(221)을 파형분석기(10)의 제2포트(102)와 연결되도록 하여, 제1필터(51)의 파형 정보를 파형분석기(10)로 전송할 수 있다. 이때, 상기 파형분석기(10)는 시스템 제어기(30)의 제어에 따라 입력 받은 제1필터(51)의 조건선택신호에 맞게 제1필터(51)의 출력 파형을 분석하여 시스템 제어기(30)로 분석된 출력 파형을 전송할 수 있다.
한편, 제1필터(51)의 출력 파형을 입력받은 시스템 제어기(30)는 제1모니터(41)에 출력 파형을 디스플레이할 수 있다.
시스템 제어기(30)는 튜닝할 필터가 모두 튜닝 될 때까지 순차적으로 선택신호를 스위칭 장치(20)로 전송 할 수 있으며, 또한 튜닝할 필터가 모두 튜닝될 때까지 순차적으로 파형분석기(10)로 전송 할 수 있다. 도 3에 도시한 바와 같이, 320단계는 이미 선택신호를 전송한 필터를 제외한 나머지 필터 중에서 제2필터(52)를 튜닝할 필터로 선택하는 경우이며, 330단계는 제3필터(53)를 튜닝할 필터로 선택하는 경우이며, 340단계는 제4필터(54)를 튜닝할 필터로 선택하는 경우일 수 있다. 본 발명에서는 4개의 필터(51,52,53,54)를 튜닝하는 단계로 4단계를 수행하였으나, 복수의 필터(50) 개수에 따라, 튜닝하는 단계는 8단계를 수행할 수 있을 것이다.
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 필터 주파수 튜닝 시스템의 튜닝을 위한 기준 필터 파형 정보를 나타낸 테이블이다. 도 4를 참조하면, 필터 파형 정보는 튜닝하려는 복수의 필터별(예를 들어 4개 채널(CH))로 각각 주파수 포인트('point'), 중심 주파수('CENTER'), 전체 대역폭('SPAN'), 측정 신호 세기('Power'), 스위치 경로('S/W Path'), 마커('Marker') 등의 조건을 설정한 테이블을 확인할 수 있다. 예를 들어, 본 발명의 일 실시 예에서는 각각의 복수의 필터(50)의 튜닝에 적합한 측정 주파수의 포인트(point)를 401개로 설정하였다. 또한, 중심 주파수를 830(MHz)로 설정하였다. 그리고, 전체 대역폭을 50(MHz)로 설정하였다. 이때, 측정 신호의 세기는 0 (dBm) 일 수 있다. 상기 조건들은 각각의 필터 특성에 따라 달라질 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에서는 복수의 필터(50)가 4개 이므로, 4개의 채널에 각각 기재된 조건 테이블을 확인할 수 있다. 또한, 한 채널에 4번 정도의 측정(trace)할 수 있도록 하였다. 이때의 주파수 표시위치는 824MHz 또는 835MHz로 설정할 수 있다. 본 발명의 일 실시 예에서는, 4개의 채널에 모두 같은 필터 특성에 따른 기준 필터 파형 정보를 적용하였으나, 필터에 따라 필터 특성에 따른 기준 필터 파형 정보가 달라질 수 있으므로, 각각 채널에 다른 기준 필터 파형 정보들을 설정해 줄 수 있다. 만약, 복수의 필터(50) 개수가 2개 이거나 8개 일 경우에는 채널의 개수 또한 각각의 필터 개수에 따라 달라질 수 있다.
여기서, 도 5a 및 도 5b는 각각의 필터 튜닝 조건을 적용하여 모니터에 디스플레이된 파형을 나타낸 것이다.
상기와 같이 본 발명의 일 실시 예에 따른 필터 주파수 튜닝 시스템의 구성 및 동작이 이루어질 수 있으며, 한편 상기한 본 발명의 설명에서는 구체적인 실시 예에 관해 설명하였으나 여러 가지 변형이 본 발명의 범위를 벗어나지 않고 실시될 수 있다.
예를 들어, 상기한 실시 예들의 설명에서는, 튜닝하려는 필터가 4개일 경우에 모니터를 4개 또는 2개 등으로 구비하는 것으로 설명하였으나, 이러한 구성 외에도 경우에 따라서는 튜닝하려는 필터 개수보다 작은 모니터 개수를 구비하여 해당 모니터에 다수개의 필터 파형을 모두 디스플레이 하는 구성을 가질 수도 있다.
이와 같이, 본 발명의 다양한 변형 및 변경이 있을 수 있으며, 따라서 본 발명의 범위는 설명된 실시 예에 의하여 정할 것이 아니고 청구범위와 청구범위의 균등한 것에 의하여 정하여져야 할 것이다.

Claims (6)

  1. 튜닝하려는 복수의 필터 출력 파형을 분석하는 파형분석기를 포함하는 필터 주파수 튜닝 시스템에서,
    상기 복수의 필터별 입출력 커넥터의 신호 경로를 선택적으로 전환하여, 상기 복수의 필터 출력 파형 중 선택된 필터의 출력 파형을 상기 파형분석기에 제공하는 스위칭 장치 및
    상기 복수의 필터 중 튜닝할 각각의 필터를 선택하도록 상기 스위칭 장치를 제어하고, 상기 복수의 필터 중 튜닝할 각각의 필터의 기준 필터 파형 조건을 선택하도록 상기 파형분석기를 제어하여, 분석된 복수의 필터 출력 파형을 디스플레이 하도록 하는 제어 신호를 출력하는 시스템 제어기
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 필터 주파수 튜닝 시스템.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 시스템 제어기는, 시분할 듀플렉스(Time Division Duplex) 방식에 따라, 상기 복수의 필터 중 튜닝할 각각의 필터를 순차적으로 선택하도록 상기 스위칭 장치를 제어하고, 상기 복수의 필터 중 튜닝할 각각의 필터 튜닝 조건을 순차적으로 선택하도록 상기 파형 분석기를 제어하여, 분석된 복수의 필터 출력 파형을 디스플레이 하도록 하는 제어 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 필터 주파수 튜닝 시스템.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 스위칭 장치는, 상기 파형분석기에 튜닝할 필터 정보를 전송하기 위하여 튜닝할 필터의 제1입출력단자(231)와 상기 파형분석기(10)의 제1포트(101)가 연결되도록 스위칭하는 제1스위치
    상기 복수의 필터로부터 제공된 튜닝할 필터 정보를 상기 파형분석기로 전송하기 위하여 튜닝할 필터의 제2입출력단자(221)와 상기 파형분석기(10)의 제2포트(102)가 연결되도록 스위칭하는 제2스위치 및
    상기 시스템 제어기의 제어에 따라 상기 제1스위치와 상기 제2스위치의 스위치 동작을 제어하는 스위치 제어부
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 필터 주파수 튜닝 시스템.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 모니터의 개수는 상기 복수의 필터와 대응되는 개수로 구성되며, 상기 시스템 제어기가 각각의 필터와 대응되는 각각의 모니터에 필터 파형을 디스플레이 하도록 하는 제어 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 필터 주파수 튜닝 시스템.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 시스템 제어기는 상기 적어도 하나의 모니터에 복수의 필터 출력 파형을 적어도 두 개 디스플레이 하도록 하는 제어 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 필터 주파수 튜닝 시스템.
  6. 제 1항에 있어서,
    상기 시스템 제어기는 상기 복수의 필터 출력 파형의 튜닝을 위해 설정된 기준 파형 정보를 상기 파형분석기로 미리 전송하는 것을 특징으로 하는 필터 주파수 튜닝시스템.
KR1020140099260A 2014-08-01 2014-08-01 필터 주파수 튜닝 시스템 KR20160016055A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020140099260A KR20160016055A (ko) 2014-08-01 2014-08-01 필터 주파수 튜닝 시스템

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020140099260A KR20160016055A (ko) 2014-08-01 2014-08-01 필터 주파수 튜닝 시스템

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20160016055A true KR20160016055A (ko) 2016-02-15

Family

ID=55356862

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020140099260A KR20160016055A (ko) 2014-08-01 2014-08-01 필터 주파수 튜닝 시스템

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20160016055A (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114325024A (zh) * 2021-12-29 2022-04-12 海华电子企业(中国)有限公司 一种高效陷波器调谐参数的测试方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114325024A (zh) * 2021-12-29 2022-04-12 海华电子企业(中国)有限公司 一种高效陷波器调谐参数的测试方法
CN114325024B (zh) * 2021-12-29 2023-09-29 海华电子企业(中国)有限公司 一种高效陷波器调谐参数的测试方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8498582B1 (en) Optimized multi frequency PIM tester topology
US10317447B2 (en) Passive intermodulation measurement device and relay unit including the same
KR102252715B1 (ko) 협소한 대역의 테스터를 이용하여 광대역 데이터 패킷 신호 트랜시버를 테스트하는 시스템 및 방법
TWI505652B (zh) 天線系統及設定其最佳天線單元的方法
US20100295569A1 (en) Rf performance test structure with electronic switch function
CN203164340U (zh) 一种宽频带辐射抗扰度自动测试装置
CN111970171A (zh) 终端设备中射频电路的自动化测试系统
CN110474631B (zh) 一种自适应射频滤波器及其自适应射频滤波系统
CN207636631U (zh) 器件调试测试系统以及微波器件调试测试系统
KR20160016055A (ko) 필터 주파수 튜닝 시스템
KR20160130762A (ko) 유도 인터럽트를 통해 테스트 흐름을 제어함으로써 무선 주파수 트랜시버를 테스트하는 시스템 및 방법
US9031808B2 (en) System of testing multiple RF modules and method thereof
KR102483371B1 (ko) 전자장비용 시험계측기 확장 장치 및 방법
KR101139953B1 (ko) Rf 성능 테스트용 스위칭 장치
CN107222270B (zh) 通信设备的测试方法、测试系统及测试设备
US8023416B2 (en) Module for testing electromagnetic compatibility of a high-speed ethernet interface onboard an aircraft
TWI493904B (zh) 射頻特性測試設備
KR20130054714A (ko) Rf 신호 테스트 시스템 및 그 방법
JP2016191557A (ja) 試験装置及び試験方法
KR101297577B1 (ko) Rf 성능 테스트용 스위칭 장치
CN103686258A (zh) 一种机顶盒及机顶盒干扰信号的检测方法
JP2007208349A (ja) 無線機用テストシステム
CN108155954B (zh) 一种可编程的射频网络装置
KR101148192B1 (ko) 확장가능한 피아이엠 분석장치
KR102220252B1 (ko) 매시브 mimo용 동작 제어 장치

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination