KR20150108949A - 전기화학 테스트 스트립용 식별 방법 - Google Patents

전기화학 테스트 스트립용 식별 방법 Download PDF

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찰스 보이테우
마틴 포레스트
스리다 이옌거
바오구오 웨이
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아가매트릭스, 인코포레이티드
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Abstract

본 발명은 테스트 스트립 상의 컨택 포인트 사이의 전기 전도도 또는 저항 차이에 기초하여 식별될 수 있는 테스트 스트립(test strips) 제조를 위한 방법 및 장치를 제공한다. 이것은 전기적 연결에 의해 다른 컨택 포인트에 연결될 수 있는 컨택 포인트가 있는 베이스 테스트 스트립을 제조함으로써 달성될 수 있다. 이들 베이스 테스트 스트립은 컨택 포인트들 사이의 전기 전도도 차이가 생성되도록 변형되거나, 또는 컨택 포인트가 제거될 수 있다. 이들 변형은 전기적 신호(elect rical signature)에 기초하여 테스트 스트립의 다른 타입을 구별하기 위해 사용될 수 있다. 또한, 테스트 스트립의 다양한 특성을 구별하는 다수의 변형이 가능하도록 상기 베이스 스트립을 제조할 수 있다.

Description

전기화학 테스트 스트립용 식별 방법{Identification method for electro chemical test strips}
본 출원은 전기화학적 테스트 스트립 식별 방법에 관한 것으로서 테스트 스트립의 하나의 타입 또는 하나의 로트를 계측기를 사용하여 서로 구별하는 것이고, 계측기(meter)는 샘플 중 글루코스와 같은 분석물(analyte)의 양을 평가하기 위해 테스트 스트립과 함께 사용된다.
본 출원은 전기화학적 테스트 스트립 식별 방법에 관한 것으로서 테스트 스트립의 하나의 타입 또는 하나의 로트를 계측기를 사용하여 서로 구별하는 것이고, 계측기(meter)는 샘플 중 글루코스와 같은 분석물(analyte)의 양을 평가하기 위해 테스트 스트립과 함께 사용된다.
소부피, 일회용 테스트 스트립(test strip)은 당뇨 혈당 수치 자가 측정과 같은 용도에서 일반적으로 사용된다. 이들 테스트 스트립은 전극과 반응물을 포함하고, 사용시 계측기(meter) 중에 위치한 샘플을 분석하기 위한 회로부(circuitry)를 제공하는 계측기와 결합한다. 적합한 품질 컨트롤(control)을 유지하고 상이한 규격을 맞추기 위해, 타지역 판매용으로 제조된 스트립은 다른 차별화된 방식으로 제조된다.
도 1은 본 발명의 베이스 테스트 스트립의 일 구현예를 도시한 것이다.
도 2-9는 본 발명의 변형된 테스트 스트립의 일 구현예를 도시한 것이다.
도 10A는 스트립 포트 커넥터를 도시한 것이다.
도 10B는 스트립이 삽입된 스트립 포트 커넥터를 도시한 것이다.
본 발명은 복수의 테스트 스트립 제조방법을 제공하며, 상기 방법에서 테스트 스트립은 베이스 테스트 스트립 그룹(base test strip group) 또는 하나 이상의 변형된 테스트 스트립 그룹(modified test strip group)의 일부이다. 변형된 테스트 스트립 그룹은 상기 베이스 그룹과 구별가능하다. 상기 방법에 따르면, 베이스 테스트 스트립을 제조하는데, 상기 베이스 테스트 스트립은 전기 도전성 재료 영역과 상기 전기 도전성 재료에 의해 서로 연결된 접근가능한(acessible) 복수의 컨택 포인트(contact point)를 가진다. 이들 컨택 포인트는 혈당 테스트 계측기와 같은 분석물 테스트 계측기와 상호작용한다.
베이스 테스트 스트립의 일부는 전기 도전성 재료의 물리적 제거 또는 하나 이상의 컨택 포인트의 완전한 제거에 의해 변형되어 변형된 테스트 스트립의 그룹을 형성한다. 변형된 테스트 스트립 그룹 내의 테스트 스트립은 컨택 포인트 사이의 전기 전도도/저항의 차이에 의해 베이스 테스트 스트립과 구별가능하다. 변형된 테스트 스트립의 추가 그룹은 상기 베이스 테스트 스트립 및 제 1 변형 테스트 스트립 그룹과 구별가능한 정도로, 베이스 테스트 스트립의 일부로부터 전기 도전성 재료를 제거하거나 또는 하나 이상의 컨택 포인트를 완전히 제거하여 형성될 수 있 다.
테스트 스트립은 세부사항(specification)을 충족한 그룹 또는 충족하지 않는 그룹(groups based on meeting or not meeting a specification)에 할당(assign ed)될 수 있다. 이를 위해, 베이스 테스트 스트립의 로트(lot)의 표본을 테스트하여 로트(lot)가 세부사항을 충족하는지 결정한다. 테스트 스트립의 로트는 그 후 세부사항을 충족한 그룹에 할당되고 변형된 테스트 스트립 그룹에 할당된 테스트 스트립은 변형되어 상기 그룹을 표시(indicate)한다.
이 방법은 베이스 테스트 스트립 그룹과 하나 이상의 변형된 테스트 스트립그룹을 포함하는 테스트 스트립의 패밀리(family)를 형성한다. 베이스 테스트 스트립은 전기 도전성 재료의 영역과 상기 전기 도전성 재료에 의해 서로 연결된 복수의 접근가능한 컨택 포인트를 가진다. 변형된 테스트 스트립은 전기 도전성 재료 또는 하나 이상의 컨택 포인트의 물리적 제거에 의해 변형된 베이스 테스트 스트립이다. 변형된 테스트 스트립은 컨택 포인트들 사이의 전기 전도도/저항의 차이에 의해 베이스 테스트 스트립과 구별가능하다. 추가 변형된 테스트 스트립 그룹은 베이스 테스트 스트립 일부가 전기 도전성 재료 또는 하나 이상의 컨택 포인트의 제거에 의해 변형되는 곳에 또한 생성될 수 있으며, 상기 추가 변형된 테스트 스트립 그룹은 베이스 테스트 스트립과 상기 제 1 변형된 테스트 스트립 그룹 모두와 구별가능하다. 상기 패밀리 내의 테스트 스트립은 베이스 테스트 스트립 로트의 표본(r epresentative) 샘플이 세부사항을 충족하는 그룹에 할당될 수 있다.
본 출원은 식별가능한 그룹의 일부인 스트립 제조에 대한 새로운 접근 방법을 제공한다. 이들 그룹은 타지역에 근거를 둘 수 있거나, 그들은 제조자를 차별화하기 위해 사용될 수 있거나(예를 들면 하나의 브랜드가 복수의 제조원을 가짐) 또는 제조 시간을 차별화하기 위해 사용될 수 있어, 하드 코드 유통기간(hard- coded expiration date) 타입이 될 수 있다. 또한, 본 발명의 접근 방법을, 일종의 분석물(예, 글루코스)에 대해 디자인된 스트립을 이종의 분석물(예. 콜레스테롤)과 구별하기 위해 사용되어, 다기능 계측기가 사용자가 아닌, 상기 스트립으로부터 제공된 정보로 올바른 분석을 수행할 수 있게 할 것이다.
본 발명의 추가적인 잇점은 스트립 식별용 엔코딩(encoding)이 품질 컨트롤 체크가 수행된 후 적용될 수 있어 스트립 각각의 그룹에 대한 개별 제조공정이 아닌, 최종 제조 단계로서 스트립이 그룹을 지정할 수 있게 된다. 따라서, 일 실시예에서, 매우 높은 품질 제어 표준을 만족시키는 스트립은 검량 코드를 요구하지 않는 계측기(무코드 계측기)를 이용하는 본 발명의 방법에서 식별될 수 있는 반면, 엄격한 균일성 표준을 만족시키지는 않으나 허용가능한 동일 초기 공정 중에 제조된 스트립을 테스트 스트립의 특정 로트를 위한 검량 코드를 요구하는 계측기에서 사용하기 위해 식별될 수 있다. 이것은 낭비를 제거하며, 따라서 스트립 비용을 제어한다. 로트 내에서 테스트 스트립의 불균일성은 그룹 할당(assignment to groups)의 근거가 될 수 있는“세부사항(specification)”의 예이다.
스트립이 하나의 그룹에 할당되면, 스트립은 포장되고 상기 그룹의 특성을 표시하도록 라벨링(labeled)될 수 있다. 예를 들면, 상기 그룹은 분석물의 타입, 계측기의 타입, 검량 코드가 필요여부, 및/또는 지역을 나타내기 위해 라벨링될 수 있다.
본 발명은 최초 형성된 전기적 연결을 방해하기 위해 테스트 스트립 중에 제한된 지역 내로 절단된 노치(notches) 또는 홀을 사용하여 작동된다. 도 1은 노치 형성전 테스트 스트립의 커넥션 말단을 도시한 것이다. 도시된 구현예에서, 스트립 포트 커넥터(strip port connector, SPC, 미도시)로부터 5 개의 핀(pins)을 통하여 전기적으로 컨택될 수 있는 5개의 포인트(1-5로 표시되어 있음)가 상기 스트립 상에 있다. 실제로는 보다 많은 컨택 포인트가 있거나, 또는 여기서 도시된 5개 보다 더 적은 컨택 포인트가 있을 수 있다. 바람직한 구현예에서, 컨택 포인트는 테스트 스트립의 말단으로부터 상이한 깊이(depth)에서 2 이상의 그룹으로 배열된다. 상기 열을 일렬로 정확히 정렬시킴으로써 SPC에서 컨택을 디자인하는 것이 보다 용이해질 수 있으나, 상기 열(rows)을 일렬로 정확히 정렬시키는 것이 요구되는 것은 아니다. 일반적인 용법에서, 컨택 포인트 (1), (2) 및 (3)은 또한, 예를 들면 작동(working) 및 상대 전극(counter electrode)과 충진 검출 전극(fill detection electrode)에 대한 전기적 커넥터로서 작용한다. 도면 중 참조 번호 (6),(7), 및 (8)은 서로 전기적으로 분리될 수 있거나 분리되지 않을 수 있는 구조로부터의 리드(leads)에 관한 것이다. 예를 들면, 리드 (6) 및 (8)은 둘다 공통 전극(common electrode)과 컨택할 수 있거나 한 레그(one leg)는 샘플 스페이스(sample space) 및 활성 측정 전극(작동 또는 상대)과 컨택하고 나머지 레그는 단지 측정에 관련되지 않은 도전성 영역일 수 있다. 리드 (7)은 그 후 상기 측정 전극의 나머지와 컨택한다. 상기 리드의 특정 배열은 본 발명에서 결정적이지는 않다.
본 출원의 도해에서, 컨택 포인트는 명확성을 위해 흰색 사각형(squares)으로 도시되어 있다. 컨택 포인트는 분리된 구조일 필요는 없으나, 일반적으로 SPC 상에 프로브에 접근가능한(accessible) 테스트 스트립의 도전성 표면 상에 위치할 수 있다.
도 1에 도시된 스트립은 또한 리드 (6),(7) 및 (8)를 서로 분리시키고, 그 열의 컨택 포인트를 부분적으로 분리시키는 절연 재료 영역(10)도 포함한다. 상기 영역은 도전성 재료가 위치하지 않는 바탕(underlying) 절연 기재이다.
스트립 상에서 전기적 컨택 포인트 사이에 전기적 연속성(electrical continuity)의 존재 및/또는 부재는 계측기(meter)에 의해 조사되어 스트립의 독특성(uniqueness)을 보장한다. 한 쌍(pairs)의 포인트 및/또는 한 쌍의 포인트 조합은 전기적 특징에 대해 독특한 스트립 디자인에 도달하는데 사용될 수 있다.
도 2-9는 다른 스트립 식별 그룹 정의에 사용될 수 있는 다른 노치 패턴을 도시한 것이다. 도 2에서, 노치는 절연 영역 (10)까지 확장되고, 컨택 포인트 (5)를 제거하고 테스트 스트립 상의 모든 다른 포인트로부터 컨택 포인트 (3)을 단절시킨다(disconnect). 따라서, 포인트 (1)과 (4) 사이의 커넥션(예를 들면 저항 측정) 측정은 커넥션(낮은 저항)을 보일 것이나, 반면 (3)과 (4) 사이에 커넥션 측정은 (2)와 (4) 사이에서 관찰된 것에 필적하는 비-커넥션(noconnection)(고저항/무한 저항)을 보여줄 것이다. 이 도해에서 포인트 (2)는 항상 전기적으로 절연되므로, 포인트 (2)를 사용한 측정은, 바람직하게는, 일종의 비-커넥션 컨트롤 표식(co ntrol indicator)으로서 사용된다. 포인트 (3)이 제거된 커넥터로의 테스트는 필적할 만하지만 구별되는 결과를 보일 것이다. 도 3에서, 노치는 컨택 포인트 (4)를 제거하고 모든 다른 포인트와 (1)을 단절시킨다. 따라서, 이 테스트 스트립은 도 2의 스트립의 결과와 동등하나 다른 결과를 유발한다.
노치는 충분히 길어서 도 2 및 도 3에서 도시된 바와 같이 절연 영역(10)까지 확장될 수 있거나 또는 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이 스트립의 말단으로 부분적으로만 확장될 수 있다. 도 4에서 노치는 컨택 포인트 (5)를 제거하지만 모든 다른 컨택 포인트로부터 컨택 포인트 (3)을 단절시키지는 않는다. 오히려, (4)와 (3) 사이의 저항은 도전성 부분의 너비에 의존하므로, 상기 위치(place) 및 노치 정도의 표식으로서 사용될 수 있다. 유사하게, 도 5에서, 노치는 컨택 포인트 (4)를 제거하지만 모든 나머지 컨택 포인트로부터 컨택 포인트 (1)을 단절하지는 않는다. (1)과 (5)사이의 저항은 상기 도전성 부분의 너비에 의존한다.
도 6에서, 노치가 (1)과 (5) 사이의 연속성(continuity)을 단절시킨다. 도 7에서, 노치는 (4)와 (5)사이의 연속성을 단절시킨다. 도 8에서, 노치는 (3)과 (5) 사이의 연속성을 단절시킨다. 도 9에서, 노치는 포인트 (4)와 (5)를 제거한다. 상기 구성에서, 하나의 리드, 예를 들어 리드 (6)은, 샘플 챔버와 컨택하지 않고, 그것은 단지 스트립의 백(back)으로서 작용한다. 따라서, 전기적 연속성은 포인트 (1)과 (3) 사이에서 유지된다.
상술한 바와 같이, 도전성 경로의 너비 변경은 스트립 전체 두께의 물리적 제거와 같이 스트립 일부를 노치 아웃(notching out)하여 달성된다. 또는, 도전성 경로의 너비 변경은 컨택 포인트 사이의 도전성 재료를 제거하는 레이져 어블레이션(laser ablasion)에 의해 달성될 수 있다. 따라서, 일반적으로, 본 발명은 복수의 가능한 그룹 식별을 위해 제공하기 위하여 복수의 컨택 포인트 중 선택된 컨택 포인트들 사이의 전기적 연속성을 변형시키도록 도전성 재료가 제거되는 후처리(postprocessing) 공정을 제공한다.
노칭(notching)은, 완전히 전기적 커넥션이 단절되어 어떠한 전류도 흐를 수 없도록(도 2에 도시), 완전히(100%) 수행될 수 있거나 또는 불완전하게 수행될 수 있다. 도전성 경로의 너비가 작을수록, 저항은 커진다. 노치의 변화 정도(예:25%, 50%, 75%)는 이에 부합되도록 저항을 변화시킬 것이다. 일 예는 도 4 및 5에 도시되어 있다. 하나의 도전성 포인트의 절연은 포인트를 컨택하는 링 주변을 어블레이팅하여(by ablating a ring around that contact point) 달성될 수 있다. 컨택 포인트 주변의 제거된 링의 경우에, 링의 직경은 노치될 정도를 정의하는 데 사용될 수 있어 대직경 링(절연 영역과 스트립의 말단 모두와 겹침)은 완전한 노치를 유발할 것이고 보다 작은 직경의 고리는 사이한 수준의 저항을 생성하기 위해 사용될 수 있다. 이와 유사한 결과가 컨택 포인트의 하나를 에워싸는 홀(말단 노치가 아님)을 절단함으로써 달성될 수 있다. 또한, 홀은 가변 저항이 이용되는 불완전한 컷(cut)의 경우에 말단 노치 보다 바람직할 수 있는데, 이는 홀이 스트립의 말단 또는 절연 영역 (10)과 겹쳐지지 않는 한, 배열이 결정적이지 않기 때문이다. 이 기술들은 전기 도전성 재료의 제거의 예를 제공한다.
가변 저항의 사용은 발명의 식별 가능성에 많은 다양성을 제공하는데, 왜냐하면 제한된 수의 컨택 포인트를 가진 동일한 구조가 SPC 디자인의 변화없이 산정될 수 있는 많은 다른 구별가능한 구성을 생산할 수 있기 때문이다.
식별가능한 그룹을 제외하도록 제거된 도전성 재료를 가진 본 발명의 스트립은 테스트 스트립의 부적절한 삽입(즉, 역위(upside down))을 막는 스트립과 계측기 상에서 기계적 특징을 조합하여 사용될 수 있다. 이 타입의 구성은 당해 기술분야에서, 예를 들면 미국 특허 5,526,120에서, 공지된 것이고, 참조에 의해 본 발명에 통합된다. 또한, SPC는, 적절한 스트립이 SPC에 삽입될 때 노치에서 수신될 수 있고 특정 계측기에 대해 부적절한 위치에서 노치를 가진 스트립의 삽입을 방해할 포스트를 노치에 대응되는 위치에서 가질 수 있다.
노치가 스트립의 말단까지 확장되는데 사용되는 경우에, 특정 위치에서 노치의 존재 또는 부재는 또한 스위치 메커니즘과 상호작용하기 위해 사용될 수 있고, 올바르게 암호화된 스트립이 삽입된다면 계측기를 활성화하기 위해 또는 삽입된 스트립의 타입(노치의 위치에 의해 나타나는 바와 같이)에 의존하는 계측기의 구동을 셋팅하기 위해 사용될 수 있다. 도 10A에서 도시된 바와 같이, 스트립 포트 커넥터는 편향될 수 있는(deflectable) 스위치 부 (100) 및 고정된 스위치 컨택 (101)을 포함할 수 있다. 이 스위치에 맞쳐 노치되지 않은 스트립 (102)가 삽입시, 편향될 수 있는 스위치 부 (100)가 편향되어 도 10B에 되시된 바와 같이 고정된 스위치 컨택 (101)과 컨택할 수 있다. 스트립이 스위치에 맞추어 노치될 때는, 어떤 편향(deflection)도 발생하지 않는다.

Claims (6)

  1. 복수의 테스트 스트립 제조 방법으로서,
    상기 테스트 스트립은 베이스 테스트 스트립 그룹 또는 상기 베이스 그룹과 구별가능한 변형된 테스트 스트립 그룹의 일부이고,
    전기적 도전성 재료에 의해 다른 컨택 포인트들에 연결된 컨택 포인트들을 갖는 상기 베이스 테스트 스트립 그룹을 제조하는 단계;
    상기 베이스 테스트 스트립 그룹에 품질 컨트롤 체크(quality control check)를 수행하는 단계;
    상기 품질 컨트롤 체크의 결과에 근거하여 상기 베이스 테스트 스트립 그룹을 2 이상의 그룹으로 분리하는 단계; 및
    컨택 포인트들 사이에 전기적 활성의 차이를 생성하기 위해서 상기 전기적 도전성 재료의 적어도 일부를 물리적으로 제거하여 상기 2 이상의 테스트 스트립의 그룹 중 하나 이상을 변형시키는 단계를 포함하는 복수의 테스트 스트립 제조 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 테스트 스트립이 글루코스(glucose) 검출에 사용되는 것을 특징으로 하는 복수의 테스트 스트립 제조방법.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 베이스 테스트 스트립 및 상기 제1 변형된 테스트 스트립 그룹과 구별가능한 추가의 변형된 테스트 스트립 그룹을 생성하기 위해서 전기적 도전성 재료 또는 하나 이상의 컨택 포인트를 제거하여 상기 베이스 테스트 스트립의 추가 부분을 변형시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 복수의 테스트 스트립 제조방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 세부사항(specification)은 상기 테스트 스트립이 검량 없이 사용되기에 적합한 품질인지를 표시하는 것을 특징으로 하는 복수의 테스트 스트립 제조방법.
  5. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 베이스 테스트 스트립은, 각각 상기 테스트 스트립의 말단으로부터 상이한 깊이(depth)에서 2 이상의 그룹으로 배열된 컨택 포인트를 갖는 것을 특징으로 하는 복수의 테스트 스트립 제조방법.
  6. 제5항에 있어서, 상기 베이스 테스트 스트립은 2열로 배열된 5개의 컨택 포인트를 갖되, 제 1열은 상기 테스트 스트립의 말단으로부터 보다 작은 깊이에서 2 개의 컨택 포인트를 가지고 제 2열은 상기 테스트 스트립의 말단으로부터 보다 큰 깊이에서 3개의 컨택 포인트를 가지고;
    절연 재료 영역은 상기 제 2열 중 하나의 컨택 포인트를 상기 제 2열 중 다른 두개의 컨택 포인트와 분리시키고; 및
    상기 절연 재료는 컨택 포인트의 제 1열과 제 2열을 부분적으로 분리하는 것을 특징으로 하는 복수의 테스트 스트립 제조방법.
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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150108949A (ko) 2007-10-10 2015-09-30 아가매트릭스, 인코포레이티드 전기화학 테스트 스트립용 식별 방법
US20090145753A1 (en) * 2007-12-07 2009-06-11 Apex Biotechnology Corp. Biomechanical test system, measurement device, and biochemical test strip
US20110057671A1 (en) * 2009-09-04 2011-03-10 Lifescan Scotland, Ltd. Methods, system and device to identify a type of test strip
AU2011301843B2 (en) 2010-09-17 2015-02-05 Agamatrix, Inc. Method and apparatus for encoding test strips
US9217723B2 (en) 2012-03-02 2015-12-22 Cilag Gmbh International Co-facial analytical test strip with stacked unidirectional contact pads
CN102967637B (zh) 2012-03-31 2016-07-06 艾康生物技术(杭州)有限公司 自动编码装置和具有该装置的生物传感器和制造方法
US9128038B2 (en) 2012-06-21 2015-09-08 Lifescan Scotland Limited Analytical test strip with capillary sample-receiving chambers separated by a physical barrier island
US8877023B2 (en) 2012-06-21 2014-11-04 Lifescan Scotland Limited Electrochemical-based analytical test strip with intersecting sample-receiving chambers
US8926369B2 (en) * 2012-12-20 2015-01-06 Lifescan Scotland Limited Electrical connector for substrate having conductive tracks
US9373007B2 (en) 2013-11-21 2016-06-21 Analog Devices Global Low-cost capacitive sensing decoder
GB201419472D0 (en) 2014-10-31 2014-12-17 Inside Biometrics Ltd Method of using and electrochemical device
TWI645185B (zh) * 2017-08-24 2018-12-21 鄭原輝 生物感測試片、其製備方法及試片接收裝置
CN109142484A (zh) * 2018-07-23 2019-01-04 青岛厚美德生物科技有限公司 一种参数识别元件及免条码生物传感试纸

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4714874A (en) * 1985-11-12 1987-12-22 Miles Inc. Test strip identification and instrument calibration
US5526120A (en) 1994-09-08 1996-06-11 Lifescan, Inc. Test strip with an asymmetrical end insuring correct insertion for measuring
US6599406B1 (en) * 1997-07-22 2003-07-29 Kyoto Daiichi Kagaku Co., Ltd. Concentration measuring apparatus, test strip for the concentration measuring apparatus, biosensor system and method for forming terminal on the test strip
US6773671B1 (en) * 1998-11-30 2004-08-10 Abbott Laboratories Multichemistry measuring device and test strips
US6800488B2 (en) * 2000-12-13 2004-10-05 Lifescan, Inc. Methods of manufacturing reagent test strips
US6814844B2 (en) 2001-08-29 2004-11-09 Roche Diagnostics Corporation Biosensor with code pattern
EP1431758B1 (en) * 2001-09-28 2013-11-13 ARKRAY, Inc. Measurement instrument and concentration measurement apparatus
US8206565B2 (en) * 2003-06-20 2012-06-26 Roche Diagnostics Operation, Inc. System and method for coding information on a biosensor test strip
US7601299B2 (en) * 2004-06-18 2009-10-13 Roche Diagnostics Operations, Inc. System and method for coding information on a biosensor test strip
US7418285B2 (en) * 2004-12-29 2008-08-26 Abbott Laboratories Analyte test sensor and method of manufacturing the same
US7713392B2 (en) * 2005-04-15 2010-05-11 Agamatrix, Inc. Test strip coding and quality measurement
US7955856B2 (en) * 2005-07-15 2011-06-07 Nipro Diagnostics, Inc. Method of making a diagnostic test strip having a coding system
US20080105024A1 (en) * 2006-11-07 2008-05-08 Bayer Healthcare Llc Method of making an auto-calibrating test sensor
US20090288964A1 (en) * 2006-12-13 2009-11-26 Sung-Kwon Jung Biosensor with coded information and method for manufacturing the same
WO2008134587A1 (en) * 2007-04-27 2008-11-06 Abbott Diabetes Care, Inc. Test strip identification using conductive patterns
US8206564B2 (en) * 2007-07-23 2012-06-26 Bayer Healthcare Llc Biosensor calibration system
US7875461B2 (en) * 2007-07-24 2011-01-25 Lifescan Scotland Limited Test strip and connector
KR20150108949A (ko) 2007-10-10 2015-09-30 아가매트릭스, 인코포레이티드 전기화학 테스트 스트립용 식별 방법

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