KR20150103845A - Structure of the carrier mobility F PCB inspection equipment - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a carrier moving structure of a PCB inspection apparatus capable of inducing to quickly and efficiently inspect an inspection object by changing the moving structure of a carrier by variously changing the size and the shape of the inspection object in a conduction inspection process and receiving several inspection objects in one carrier for the conduction inspection of a substrate with a transparent conductive pattern or a flexible printed circuit board used in an electronic apparatus to be moved.

Description

에프피씨비 검사장치의 캐리어 이동구조{Structure of the carrier mobility F PCB inspection equipment}Technical Field [0001] The present invention relates to a carrier moving structure of an FPC inspection apparatus,

본 발명은 전자기기에 사용되는 연성회로기판이나 투명전도성 패턴이 형성된 기판 등의 통전유무 등의 검사를 위하여 여러 개의 검사품이 하나의 캐리어에 수용되어 이동되며 통전검사가 이루어지는 과정에서 검사품의 크기 및 형태가 다양하게 변형됨에 따라 캐리어의 이동구조를 변형시켜 검사품의 검사가 신속하고 효율적으로 이루어질 수 있도록 유도하는 에프피씨비 검사장치의 캐리어 이동구조에 관한 것이다.
The present invention relates to a flexible printed circuit board for use in electronic equipment, a substrate on which a transparent conductive pattern is formed, and the like, in which a plurality of inspection products are housed in a single carrier for inspection, The present invention relates to a carrier moving structure of an FPC inspection apparatus which changes the moving structure of a carrier to thereby promptly and efficiently perform inspection of an inspection object.

일반적으로 FPCB 검사에는 납땜쇼트, 단선 등을 검사하는 쇼트-오프검사, 부품을 측정하는 부품검사등을 실시하는바, 종래의 경우, FPCB 검사는 작업자에 의해 일일히 FPCB를 수작업으로 검사장치(TESTER)에 삽입후 측정스위치를 눌러, FPCB를 측정케한 후 합격품 또는 불합격품 판정에 따라 FPCB를 검사선별하여 합격품은 다음 공정에, 불합격품은 수리 또는 적재장치에 적재시키는 과정을 반복하는 것이므로, 생산성 품질저하는 물론 불필요한 인력 낭비로 인하여 가격 경쟁력을 확보하는데 가장 큰 걸림돌이 되었으며, 공장의 자동화를 저해하는 등 여러 결점이 있었다.In general, the FPCB inspection is performed by a short-off inspection for inspecting a solder short, a disconnection, etc., and a component inspection for measuring parts. In the conventional case, the FPCB inspection is performed manually by the operator, ), The FPCB is inspected and the FPCB is inspected according to the accepted product or the rejected product, and the rejected product is repetitively carried to the next process and the rejected product is loaded to the repair or loading device. Therefore, And unnecessary waste of manpower has become the biggest obstacle to securing price competitiveness, and there are various drawbacks such as inhibiting the automation of the factory.

보다 상세하게는 FPCB가 제 기능을 발휘하는지 검사하기 위해서 종래에는 FPCB를 검사장비에 연결된 연결 FPCB패턴에 손으로 직접 접촉하는 방식이 사용되었는데, 이 방식은 검사속도가 매우 느리고 먼지나 이물질에 의한 접촉이 용이하지 않은 문제점이 있다.
More specifically, in order to check whether the FPCB exerts its function, conventionally, a method in which the FPCB is directly contacted with the connected FPCB pattern connected to the inspection equipment is used, which is very slow in inspection speed, This is not easy.

한편, 특허등록 제10-0785309호(등록일자: 2007. 12. 06.)는 발명의 명칭을 에프피씨비 검사지그로 하는 것으로, On the other hand, the patent registration No. 10-0785309 (date of registration: Dec. 06, 2007) designates the invention as an FPC inspection jig,

휴대전자기기용 전자부품이 실장된 FPCB의 전자회로가 정상적으로 동작하는지를 검사하는 전자회로 검사장치를 구성함에 있어서, 각각 장방형의 테이블과 하판으로 구성되되, 상기 테이블과 하판은, 테이블과 하판의 각각의 모서리를 관통하여 연결하는 샤프트에 의해 연결되는 지그몸체;An electronic circuit inspection apparatus for inspecting whether an electronic circuit of an FPCB in which an electronic component for a portable electronic device is mounted operates is constituted by a rectangular table and a lower plate, A jig body connected by a shaft that passes through the body;

상기 지그 몸체의 하판의 하단에 구비되어, FPCB의 커넥터과 결합하는 소켓가 구비되는 소켓몸체; 로 구성되는 것을 특징으로 한다.
A socket body provided at a lower end of the lower plate of the jig body and provided with a socket for engaging with a connector of the FPCB; . ≪ / RTI >

또한, 다른 검사 방식으로는 가이드레일을 따라 이동하는 캐리어에 여러 개의 검사품을 안착시키고 자동으로 검사장치에 투입하고 배출되는 과정을 통하여 FPCB의 검사가 이루어지도록 함으로써 검사의 정밀도를 향상시키고 검사시간을 단축함으로써 검사효율을 향상시킬 수 있는 구성이 개발되었다.In another inspection method, the FPCB is inspected through the process of placing a plurality of specimens in the carrier moving along the guide rail and automatically putting them in the inspection apparatus and discharging them, thereby improving the accuracy of the inspection and shortening the inspection time Thereby improving the inspection efficiency.

구체적으로는 도 1에 도시한 바와 같이 종래 검사장치(A)는 More specifically, as shown in Fig. 1, the conventional inspection apparatus A

검사장치(A)의 테이블(1)에 형성된 한 쌍의 가이드레일(2)과, A pair of guide rails 2 formed on the table 1 of the inspection apparatus A,

상기 검사장치(A)의 테이블(1) 일측에 설치된 구동모터(3)에 구동풀리(4)를 형성하고 타측에 종동풀리(5)를 형성한 상태에서 상기 각각의 풀리(4,5)를 밸트(6)로 연결하여 회전할 수 있도록 구성하며,The drive pulley 4 is formed on the driving motor 3 provided on one side of the table 1 of the inspection apparatus A and the driven pulley 5 is formed on the other side, And is connected to the belt 6 so as to be rotatable,

상기 가이드레일(2)의 상면에 여러 개의 검사품 수용부(7)가 형성된 캐리어(8)를 안착한 상태에서 밸트(6)에 의하여 일측방향으로 캐리어(8)가 이동할 수 있도록 구성된다.The carrier 8 can be moved in one direction by the belt 6 in a state in which the carrier 8 on which the plurality of inspected article receiving portions 7 are formed is placed on the upper surface of the guide rail 2. [

또한, 상기 테이블(1)의 상부와 하부에는 피스톤이나 실린더와 같은 승강장치(미도시)에 의하여 상하이동하는 상부지그(미도시)와 하부지그(미도시)를 형성하고 상기 상부지그와 하부지그의 캐리어(8) 방향으로 접촉단자(10)를 형성하여 케리어(8)의 검사품 수용홈(7)에 수용된 검사품과 접촉하여 검사품의 검사가 이루어지도록 구성된다.An upper jig (not shown) and a lower jig (not shown), which are moved up and down by a lifting device (not shown) such as a piston or a cylinder, are formed on the upper and lower portions of the table 1, The contact terminal 10 is formed in the direction of the carrier 8 so as to be brought into contact with the inspected object accommodated in the inspected object accommodating groove 7 of the carrier 8 to inspect the inspected object.

또한, 상기 접촉단자(10)는 케리어(8)에 수용된 검사품의 갯수와 동일하게 1대1로 이루어지도록 하여 검사가 이루어진다.In addition, the contact terminal 10 is inspected in such a manner that the contact terminals 10 are formed in a one-to-one manner identical to the number of the inspection objects housed in the carrier 8.

또한, 캐리어에 수용되는 FPCB검사품의 크기 및 형태가 다양하게 구성됨으로써 캐리어에 수용되는 검사품의 수도 이에 따라 다양하게 조절하여 검사품의 검사효율을 극대화 할 필요가 있다.
In addition, since the size and shape of the FPCB inspection object accommodated in the carrier are variously configured, it is necessary to maximize inspection efficiency of the inspection object by variously adjusting the number of the inspection object accommodated in the carrier.

그러나, 상기 검사품과 접촉되는 접촉단자의 수가 한정되어 있어 캐리어에 수용되는 검사품의 수량도 검사품의 크기 및 형태와 상관없이 접촉단자의 수에 맞추어 캐리어에 수용함으로써 검사품의 크기 및 형태에 상관없이 일정한 검사속도를 유지할 수 뿐이 없는 문제점이 있다.
However, since the number of contact terminals contacting with the inspected object is limited, the number of inspected objects received in the carrier is accommodated in the carrier in accordance with the number of contact terminals regardless of the size and shape of the inspected object, There is a problem that only the speed can be maintained.

따라서 검사품의 크기가 소형이거나 검사품의 형태에 따른 수용위치를 달리한 캐리어를 제공하고 상기 캐리어의 이동을 제어하여 한정된 접촉단자를 최대한 효율적으로 이용하여 검사속도를 향상시키고 검사장치를 보다 효율적으로 사용할 수 있는 캐리어 이동구조를 제공할 필요가 있다.
Accordingly, it is possible to provide a carrier having a small size or a different receiving position according to the shape of the inspected object, and to control the movement of the carrier to use the limited contact terminals as efficiently as possible to improve the inspection speed and to use the inspection device more efficiently There is a need to provide a carrier moving structure having the same structure.

본 발명은 전술한 과제를 해결하기 위하여 안출한 것으로, 검사장치 내부로 검사품이 수용된 캐리어가 자동으로 이송되며 상기 캐리어의 상하에 형성된 지그가 캐리어로 이동하며 캐리어에 수용된 검사품을 검사함에 있어서, 검사품의 크기 및 형태가 다르더라도 캐리어를 부분이동시켜 접촉단자가 한정형성된 지그의 사용을 보다 효율적으로 운용함으로써 높은 검사품질은 유지하면서도 신속한 검사를 가능하게 함으로써 검사장치의 이용을 활성화하고 검사효율를 향상시킬 수 있는 새로운 형태의 캐리어 이동구조를 제공하는데 그 목적이 있다.
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide an inspection apparatus, in which a carrier accommodating an inspected object is automatically transferred to an inspection apparatus, a jig formed on upper and lower sides of the carrier is moved to a carrier, Even if the size and shape are different, the carrier is partially moved to more efficiently use the jig formed with the contact terminals, thereby enabling quick inspection while maintaining high inspection quality, thereby enabling the use of the inspection apparatus and improving the inspection efficiency It is an object of the present invention to provide a new type of carrier moving structure.

이와 같은 목적을 달성하기 위하여,In order to achieve this object,

본 발명의 일 형태에 따르면,According to an aspect of the present invention,

테이블(10)에 한 쌍의 가이드레일(20)이 형성되고 상기 가이드레일(20)의 상부와 하부에 각각 상하이동되며 여러 개의 접촉단자(31, 41)가 형성된 상부지그(30)와 하부지그(40)가 형성되어 가이드레일(20)에 의하여 이동방향이 조정되고 구동모터(50)의 구동에 의하여 연속회전하는 밸트(60)에 안착되어 이동하는 여러 개의 검사품이 수용된 캐리어(200)로 구성된 에프피씨비 검사장치에 있어서,An upper jig 30 in which a pair of guide rails 20 are formed on the table 10 and which are vertically moved up and down respectively on the guide rails 20 and on which a plurality of contact terminals 31 and 41 are formed, (200) in which a plurality of specimens (40) are formed, the moving direction of which is adjusted by the guide rails (20), and which move in a belt (60) In an FPC inspection apparatus,

상기 가이드레일(20)의 외측에 형성된 한 쌍의 미세이동부(100);A pair of fine movement parts (100) formed on the outside of the guide rail (20);

상기 미세이동부(100)의 상부에 형성된 실린더(110);를 포함하며,And a cylinder 110 formed at an upper portion of the fine movement unit 100,

여기서, 검사장치 내부로 투입된 캐리어(200)를 양측의 미세이동부(100)에 형성된 실린더(110)가 가압하고 미세이동부(100)의 구동에 의하여 일측으로 일정간격 이동시켜 캐리어(200)에 수용된 검사품을 검사함을 특징으로 한다.
The carrier 200 inserted into the inspecting apparatus is pressed by the cylinder 110 formed in the fine moving part 100 on both sides and moved by a predetermined distance to one side by driving the fine moving part 100, Is inspected.

상기 미세이동부(100)는 상기 가이드레일(20)의 외측 테이블(10)에 양측이 고정되는 고정부(101);The fine movement unit 100 includes a fixing unit 101 having both sides fixed to the outer table 10 of the guide rail 20;

상기 고정부(101)의 상면에 슬라이딩 이동가능하게 형성되는 이동부(102);A moving part (102) slidably formed on an upper surface of the fixing part (101);

상기 이동부(102)의 상부에 형성되며 일측의 피스톤(미도시) 단부에 가압판(103)이 형성된 실린더(110);A cylinder 110 formed on the moving part 102 and having a pressure plate 103 formed at one end of a piston (not shown);

상기 고정부(101)의 외측에 형성되며 검사장치로부터 전달되는 공압이 실린더(110)로 유입됨을 제어하는 제어부(미도시);를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.
And a control unit (not shown) formed on the outer side of the fixing unit 101 and controlling the pneumatic pressure transmitted from the inspection apparatus to flow into the cylinder 110.

상기 캐리어(200)의 모서리 부분에는 여러 개의 위치조절공(220)을 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
The carrier 200 may further include a plurality of positioning holes 220 at corner portions thereof.

본 발명은, 에프피씨비 검사장치를 이용하여 에프피씨비를 검사하는 과정에서 에프피씨비가 수용되는 캐리어의 수용단위를 최대로 수용할 수 있어 검사효율을 극대화 할 수 있는 효과가 있다.The present invention has the effect of maximizing the inspection efficiency by maximally accommodating the acceptance unit of the carrier accommodating the FPC in the process of inspecting the FPC by using the FPC inspection apparatus.

즉, 검사장치에 형성된 접촉단자의 수와 캐리어에 수용된 에프피씨비의 수를 접촉단자의 수가 1 일때 캐리어에 수용되는 에프피씨비의 수를 2 또는 3으로 수용하고 캐리어를 근접이동시키는 과정을 통하여 검사를 진행함으로서 소형 에프피씨비의 경우 캐리어에 수용되는 량을 극대화할 수 있어 검사시간을 단축시킬 수 있으며 검사장치를 이용한 검사효율을 극대화할 수 있는 효과가 있다.
That is, when the number of contact terminals formed in the inspection apparatus and the number of FPC housed in the carrier is 1 or 2, the number of the FPC housed in the carrier is 2 or 3 when the number of contact terminals is 1, It is possible to maximize the amount of the small FPC accommodated in the carrier, thereby shortening the inspection time and maximizing the inspection efficiency using the inspection apparatus.

도 1은 종래 에프피씨비 검사장치에서 캐리어에 수용된 검사품의 검사과정을 설명하기 위한 요부 개략도
도 2는 본 발명에 따른 에프피씨비 검사장치의 전체적인 구성을 나타낸 사시도
도 3은 본 발명에 따른 에프피씨비 검사장치 중 캐리어의 이송부분을 나타낸 사시도
도 4는 본 발명에 따른 에프피씨비 검사장치 중 캐리어의 이송부분의 정면도
도 5는 본 발명에 따른 에프피씨비 검사장치 중 캐리어의 이송부분의 측면도
도 6은 본 발명에 따른 에프피씨비 검사장치 중 캐리어의 이송부분의 사진
도 7 내지 도 8은 본 발명에 따른 에프피씨비 검사장치 중 캐리어의 동작과정을 설명하기 위한 개략도BRIEF DESCRIPTION OF DRAWINGS FIG. 1 is a schematic view for explaining an inspection process of an inspected object accommodated in a carrier in a conventional ASP inspection apparatus;
2 is a perspective view showing the overall configuration of an FPC inspection apparatus according to the present invention.
FIG. 3 is a perspective view showing a conveying portion of the carrier among the FPC inspection apparatus according to the present invention.
FIG. 4 is a front view of the conveying portion of the carrier among the FPC inspection apparatus according to the present invention.
FIG. 5 is a side view of the conveying portion of the carrier among the FPC inspection apparatus according to the present invention
FIG. 6 is a photograph of the carrier portion of the FPC inspection apparatus according to the present invention
7 to 8 are schematic views for explaining the operation of the carrier among the FPC inspection apparatus according to the present invention

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시 예를 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명에 따른 에프피씨비 검사장치의 전체적인 구성을 나타낸 사시도이고, 도 3은 본 발명에 따른 에프피씨비 검사장치 중 캐리어의 이송부분을 나타낸 사시도이며, 도 4는 본 발명에 따른 에프피씨비 검사장치 중 캐리어의 이송부분의 정면도이고, 도 5는 본 발명에 따른 에프피씨비 검사장치 중 캐리어의 이송부분의 측면도이며, 도 6은 본 발명에 따른 에프피씨비 검사장치 중 캐리어의 이송부분의 사진이다.
FIG. 2 is a perspective view showing the overall configuration of an FPC inspection apparatus according to the present invention, FIG. 3 is a perspective view showing a carrier portion of an FPC inspection apparatus according to the present invention, FIG. FIG. 5 is a side view of a carrier portion of an FPC inspection apparatus according to the present invention, and FIG. 6 is a photograph of a carrier portion of an FPC inspection apparatus according to the present invention.

도시한 바와 같이 본 발명에 따른 에프피씨비 검사장치는 기본적으로 앞서 설명한 검사장치의 구성과 유사한 형태를 갖는다.As shown in the figure, the FPC inspection apparatus according to the present invention basically has a configuration similar to that of the above-described inspection apparatus.

즉, 상기 검사장치는 테이블(10)에 한 쌍의 가이드레일(20)이 형성되고 상기 가이드레일(20)의 상부와 하부에 각각 상하이동되며 여러 개의 접촉단자(31, 41)가 형성된 상부지그(30)와 하부지그(40)가 형성되며, 가이드레일(20)에 의하여 이동형태가 고정되고 구동모터(50)의 구동에 의하여 연속회전하는 이송밸트(60)에 안착되어 이동하는 여러 개의 검사품이 수용된 캐리어(200)로 구성된다.That is, the inspection apparatus includes a pair of guide rails 20 formed on a table 10, and vertically moving the upper and lower portions of the guide rails 20, respectively, and having a plurality of contact terminals 31 and 41, A plurality of inspection objects 30 and a lower jig 40 are fixed and fixed to the conveying belt 60 which is fixed by the guide rail 20 and continuously rotated by driving of the driving motor 50, (Not shown).

상기와 같은 구성의 검사장치를 이용한 검사과정을 간략하게 설명하면, 캐리어(200)에 형성된 여러 개의 검사품 수용홈(210)에 검사품이 끼움된 상태에서 캐리어(200)는 가이드레일(20)의 내부에 안착되고 밸트(60)의 구동에 의하여 좌우로 이동한다.The inspection process using the inspection apparatus as described above will be briefly described. In a state where the inspection product is inserted into the plurality of inspection product receiving grooves 210 formed in the carrier 200, the carrier 200 is inserted into the guide rail 20 And moves to the left and right by the driving of the belt 60.

이때, 캐리어(200)가 상부지그(30)와 하부지그(40)의 사이에 위치하면 캐리어(200)의 이동이 정지되고 상부지그(30)와 하부지그(40)가 상하이동하여 각각의 지그(30, 40)에 형성된 접촉단자(31, 41)가 검사품에 접촉되어 전기적 신호를 보내어 납땜쇼트, 단선 등을 검사하는 쇼트-오프검사, 부품을 측정하는 부품검사 등이 이루어진다.At this time, when the carrier 200 is positioned between the upper jig 30 and the lower jig 40, the movement of the carrier 200 is stopped and the upper jig 30 and the lower jig 40 move up and down, The contact terminals 31 and 41 formed on the terminals 30 and 40 are brought into contact with the inspected object to send an electrical signal to perform a short-off inspection for inspecting the solder short, disconnection, and the like, and a component inspection for measuring the parts.

또한, 상기와 같은 검사가 끝난 후에는 다시 캐리어(200)가 이동하여 검사장치 외부로 배출된다.Further, after the inspection is completed, the carrier 200 moves again and is discharged to the outside of the inspection apparatus.

상기와 같이 캐리어가 투입되고 검사한 후 배출되는 과정이 연속 반복적으로 이루어 짐으로서 검사품의 검사가 이루어지는 것이다.As described above, the process of inserting the carrier, inspecting and discharging the carrier is repeated continuously to inspect the inspected object.

상기와 같은 과정으로 이루어지는 검사장치에서 본 발명의 특징은 캐리어(200)에 수용된 검사품과 상부지그(30)와 하부지그(40)에 형성된 접촉단자(31, 41)가 1대1로 동일하게 구성된 현재 검사장치에서 검사품의 크기가 작은 경우에도 하나의 캐리어에 수용할 수 있는 검사품의 양이 한정되어 비효율적으로 검사가 이루어지는 문제점을 해소할 수 있도록 캐리어에 수용되는 검사품이 작은 경우 접촉단자의 수 대비 검사품을 캐리어에 2배수 또는 3배수로 수용하고 캐리어를 일정간격으로 부분적으로 이동시키는 미세이동부(100)를 추가하여 검사품의 검사가 보다 효율적으로 이루어질 수 있도록 함에 특징이 있다.The inspection apparatus according to the present invention is characterized in that the inspection object housed in the carrier 200 and the contact terminals 31 and 41 formed in the upper jig 30 and the lower jig 40 are arranged in the same one- Even when the size of the inspected object is small at the present inspection apparatus, the amount of the inspected object that can be accommodated in one carrier is limited, so that the problem of inspecting inefficiently can be solved. The present invention is characterized in that the inspection unit can be more efficiently inspected by adding the fine moving unit 100 that accommodates the carrier in two or three times and partially moves the carrier at a predetermined interval.

즉, 도 2 내지 6에 도시한 바와 같이 상기 캐리어(200)는 가이드레일(20)의 외측으로 형성된 한 쌍의 미세이동부(100)에 의하여 밸트(60)가 멈춘 상태에서도 일정간격 일측방향으로 이동되어 검사품의 검사가 원활하게 이루어질 수 있도록 한다.2 to 6, the carrier 200 is moved in one direction at regular intervals even when the belt 60 is stopped by the pair of fine moving parts 100 formed on the outer side of the guide rail 20, So that inspection of the inspected object can be performed smoothly.

상기 미세이동부(100)는 상기 가이드레일(20)의 외측 테이블(10)에 양측이 고정되는 고정부(101)와, 상기 고정부(101)의 상면에 슬라이딩 이동가능하게 형성되는 이동부(102)와, 상기 이동부(102)의 상부에 형성되며 일측의 피스톤(미도시) 단부에 가압판(103)이 형성된 실린더(110) 및 상기 이동부(102)의 외측에 형성되며 검사장치로부터 전달되는 공압이 실린더(110)로 유입됨을 제어하는 제어부(미도시)로 구성된다.The fine moving part 100 includes a fixing part 101 to which both sides are fixed to the outer table 10 of the guide rail 20 and a moving part 102 which is slidably movable on the upper surface of the fixing part 101 A cylinder 110 formed at an upper portion of the moving unit 102 and having a pressure plate 103 formed at one end of a piston (not shown), and a cylinder 110 formed at an outer side of the moving unit 102, And a control unit (not shown) for controlling the pneumatic pressure to flow into the cylinder 110.

또한, 상기 캐리어(200)의 모서리 부분으로는 여러 개의 위치조절공(220)을 형성하여 안착된 캐리어(200)에 수용된 검사품이 상부지그(30)와 하부지그(40)에 형성된 각각의 접촉단자(31, 41)들과 정확한 수직선상에 위치되도록 캐리어(200)를 유도한다.A plurality of position adjusting holes 220 are formed at corner portions of the carrier 200 so that the inspected object housed in the carrier 200 placed on the carrier jig 30 is held in contact with the contact jig 30 formed on the upper jig 30 and the lower jig 40, The carrier 200 is guided so that it is positioned on the correct vertical line with the carrier 31, 41.

또한, 상기 위치조절공(220)에 삽입되는 돌기(42)를 하부지그(40)에 일체로 형성되어 하부지그(40)가 상부로 상승하면서 상부에 위치한 캐리어(200)의 위치조절공(220)에 돌기(42)가 끼위지며 캐리어(200)의 위치를 정밀하게 조절 및 고정한다.The protrusion 42 inserted into the position adjusting hole 220 is integrally formed with the lower jig 40 so that the lower jig 40 is lifted up to the upper part of the position adjusting hole 220 And the position of the carrier 200 is precisely adjusted and fixed.

또한, 상기 캐리어(200)가 미세이동부(100)에 의하여 이동하는 과정에서는 상부지그(30)와 하부지그(40)가 캐리어(200) 상하로 이동하여 위치조절공(220)에서 돌기(42)가 빠짐으로써 캐리어(200)의 이동에 방해가 없도록 한다.The upper jig 30 and the lower jig 40 move up and down the carrier 200 to move the projections 42 in the position adjusting holes 220. [ Thereby preventing the movement of the carrier 200 from being disturbed.

또한, 상기 위치조절공(220)을 여러 개 형성함으로써 캐리어(200)가 미세이동에 따라 이동된 위치가 계속적으로 위치조절공(220)과 돌기(42)의 구성에 의하여 정밀하게 조절된다.
Further, since the plurality of the position adjusting holes 220 are formed, the position where the carrier 200 is moved according to the fine movement is continuously controlled by the configuration of the position adjusting hole 220 and the protrusion 42.

이하, 상기와 같이 구성된 본 발명에 따른 에프피씨비 검사장치의 캐리어 이동구조의 동작과정을 도 7 내지 도 8을 참조하여 구체적으로 설명한다.Hereinafter, the operation of the carrier moving structure of the FPC inspection apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 7 to 8. FIG.

도 7 내지 도 8은 본 발명에 따른 에프피씨비 검사장치 중 캐리어의 동작과정을 설명하기 위한 개략도로써 도 7은 1차적인 검사품의 검사과정을 도시한 것으로 도 8은 미세이동부(100)에 의하여 2차적인 검사품의 검사과정을 도시한 것이다.7 to 8 are schematic views for explaining the operation procedure of the carrier among the FPC inspection apparatus according to the present invention. FIG. 7 shows a process of inspecting a primary inspected product. FIG. And the inspection process of the next inspected object.

도 7에 도시한 바와 같이 검사품이 수용된 캐리어(200)는 (A)열에 형성된 검사품을 검사하기 위하여 상부지그(30)와 하부지그(40) 사이에 정지하고 상부지그(30)와 하부지그(40)를 구동하여 각각의 접촉단자(31, 41)가 (A)열의 검사품과 접촉하여 검사를 진행한다.7, the carrier 200 holding the inspected object is stopped between the upper jig 30 and the lower jig 40 to inspect the inspected object formed in the row (A), and the upper jig 30 and the lower jig 40 And the contact terminals 31 and 41 are brought into contact with the inspected object of the row (A), and the inspection proceeds.

이때, 캐리어(200)는 하부지그(40)가 상부로 이동하며 캐리어(200)를 일정높이로 들어올림으로써 가이드레일(20)로부터 이격된 상태로 검사가 진행된다.At this time, the carrier 200 moves upward to move the lower jig 40 upward to raise the carrier 200 at a predetermined height, so that the inspection is performed while being separated from the guide rail 20.

또한, 하부지그(40)에 형성된 돌기(42)는 캐리어(200)에 형성된 위치조절공(A)(220)에 끼움되어 캐리어(200)를 고정한다.The projections 42 formed on the lower jig 40 are inserted into the position adjusting holes A formed in the carrier 200 to fix the carrier 200. [

또한, 상기 가이드레일(20)의 외측에 형성된 미세이동부(100)의 실린더(110)가 동작허여 전방의 가압판(103)을 캐리어(200)의 양측면에 밀착시키고 가압하여 가이드레일(20)로부터 이격된 상태가 안전하게 유지되도록 잡아준다.The cylinder 110 of the fine moving part 100 formed on the outer side of the guide rail 20 is pressed against the both sides of the carrier 200 and pressed away from the guide rail 20, Hold the state to be safe.

상기와 같은 과정을 통하여 (A)열의 검사가 완료된 후에는 상부지그(30)와 하부지그(40)가 후진하여 캐리어(200)에서 멀어짐과 동시에 하부지그(40)에 형성된 돌기(42)가 빠짐으로써 캐리어(200)는 미세이동부(100)의 가압판(103)에 의하여 위치가 고정된다.The upper jig 30 and the lower jig 40 are moved backward from the carrier 200 and the protrusions 42 formed on the lower jig 40 are disengaged So that the carrier 200 is fixed in position by the pressure plate 103 of the fine moving part 100.

또한, 캐리어(200)가 미세이동부(100)에 지지된 상태에서 이동부(102)가 고정부(101)의 상면을 슬라이딩 이동하며 캐리어(200)를 일측으로 이동시키켜 캐리어(200)에 수용된 (B)열의 검사품이 각각의 지그(30, 40) 접촉단자(31, 41)와 수직선상에 위치되도록 한다.The moving part 102 slides on the upper surface of the fixing part 101 and moves the carrier 200 to one side in a state where the carrier 200 is supported on the fine moving part 100, And the inspected object of the row (B) is positioned on the vertical line with the contact terminals 31 and 41 of the jigs 30 and 40, respectively.

또한, 상기와 같이 캐리어(200)가 이동된 후 다시 상부지그(30)와 하부지그(40)를 캐리어(200)측으로 이동하여 하부지그(40)의 돌기(42)가 위치조절공(B)(220)에 끼움되며 위치를 정밀하게 조절하고 (B)열의 검사가 진행된다.After the carrier 200 is moved as described above, the upper jig 30 and the lower jig 40 are moved toward the carrier 200 so that the projections 42 of the lower jig 40 are positioned in the position adjusting holes B, (220), the position is precisely adjusted, and (B) the heat is inspected.

상기와 같은 구성을 통하여 (B)열의 검사품의 검사가 완료되며 미세이동부(100)의 실린더(110)가 후진하여 원위치로 복귀하고 하부지그(40)가 하강하며 캐리어(200)는 가이드레일(20)에 안착되고 밸트(60)의 구동에 의하여 검사장치 외부로 배출된다.
The cylinder 110 of the fine moving part 100 moves backward to return to its original position and the lower jig 40 descends and the carrier 200 is guided by the guide rail 20 And is discharged to the outside of the inspection apparatus by the driving of the belt 60.

또한, 새로운 검사품이 수용된 캐리어(미도시)가 검사장치 내부로 유입되며 앞서 설명한 검사과정이 동일하게 반복되어 연속적인 검사품의 검사가 이루어지는 것이다.Further, a carrier (not shown) containing a new inspected object is introduced into the inspection apparatus, and the above-described inspection process is repeated in the same manner to continuously inspect the inspected object.

상기와 같은 검사장치의 구성을 통하여 제한된 접촉단자를 이용하여 캐리어에 수용된 검사품을 효율적으로 검사함으로써 정밀한 검사가 가능함은 물론, 검사시간의 단축과 이를 통한 검사품의 검사량 상승에 따른 작업성 향상이 가능한 특징이 있다.
Through the configuration of the inspection apparatus as described above, it is possible to perform precise inspection by efficiently inspecting the inspection articles accommodated in the carrier by using the limited contact terminals, as well as to shorten the inspection time and improve the workability due to the increase of inspection quantity of the inspection articles Feature.

이상에서 본 발명에 대한 기술사상을 첨부도면과 함께 서술하였지만 이는 본 발명의 바람직한 실시 예를 예시적으로 설명한 것이지 본 발명을 한정하는 것은 아니다. 또한, 이 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 누구나 본 발명의 기술사상의 범주를 이탈하지 않는 범위 내에서 다양한 변형 및 모방이 가능함은 명백한 사실이다.
Although the preferred embodiments of the present invention have been disclosed for illustrative purposes, those skilled in the art will appreciate that various modifications, additions and substitutions are possible, without departing from the scope and spirit of the invention as disclosed in the accompanying claims. In addition, it is a matter of course that various modifications and variations are possible without departing from the scope of the technical idea of the present invention by anyone having ordinary skill in the art.

10 : 테이블 20 : 가이드레일
30 : 상부지그 40 : 하부지그
50 : 구동모터 60 : 밸트
100 : 미세이동부 101 : 고정부
102 : 이동부 103 : 가압판
110 : 실린더 200 : 캐리어
210 : 검사품 수용홈 220 : 위치조절공10: Table 20: Guide rail
30: upper jig 40: lower jig
50: drive motor 60: belt
100: micro-moving section 101:
102: moving part 103: pressure plate
110: cylinder 200: carrier
210: Inspection receiving groove 220: Position adjusting hole

Claims (3)

테이블(10)에 한 쌍의 가이드레일(20)이 형성되고 상기 가이드레일(20)의 상부와 하부에 각각 상하이동되며 여러 개의 접촉단자(31, 41)가 형성된 상부지그(30)와 하부지그(40)가 형성되어 가이드레일(20)에 의하여 이동방향이 조정되고 구동모터(50)의 구동에 의하여 연속회전하는 밸트(60)에 안착되어 이동하는 여러 개의 검사품이 수용된 캐리어(200)로 구성된 에프피씨비 검사장치에 있어서,
상기 가이드레일(20)의 외측에 형성된 한 쌍의 미세이동부(100);
상기 미세이동부(100)의 상부에 형성된 실린더(110);를 포함하며,
여기서, 검사장치 내부로 투입된 캐리어(200)를 양측의 미세이동부(100)에 형성된 실린더(110)가 가압하고 미세이동부(100)의 구동에 의하여 일측으로 일정간격 이동시켜 캐리어(200)에 수용된 검사품을 검사함을 특징으로 하는 에프피씨비 검사장치의 캐리어 이동구조.
An upper jig 30 in which a pair of guide rails 20 are formed on the table 10 and which are vertically moved up and down respectively on the guide rails 20 and on which a plurality of contact terminals 31 and 41 are formed, (200) in which a plurality of specimens (40) are formed, the moving direction of which is adjusted by the guide rails (20), and which move in a belt (60) In an FPC inspection apparatus,
A pair of fine movement parts (100) formed on the outside of the guide rail (20);
And a cylinder 110 formed at an upper portion of the fine movement unit 100,
The carrier 200 inserted into the inspecting apparatus is pressed by the cylinder 110 formed in the fine moving part 100 on both sides and moved by a predetermined distance to one side by driving the fine moving part 100, The carrier moving structure of the FPC inspection apparatus.
제 1항에 있어서,
상기 미세이동부(100)는 상기 가이드레일(20)의 외측 테이블(10)에 양측이 고정되는 고정부(101);
상기 고정부(101)의 상면에 슬라이딩 이동가능하게 형성되는 이동부(102);
상기 이동부(102)의 상부에 형성되며 일측의 피스톤(미도시) 단부에 가압판(103)이 형성된 실린더(110);
상기 고정부(101)의 외측에 형성되며 검사장치로부터 전달되는 공압이 실린더(110)로 유입됨을 제어하는 제어부(미도시);를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 에프피씨비 검사장치의 캐리어 이동구조.
The method according to claim 1,
The fine movement unit 100 includes a fixing unit 101 having both sides fixed to the outer table 10 of the guide rail 20;
A moving part (102) slidably formed on an upper surface of the fixing part (101);
A cylinder 110 formed on the moving part 102 and having a pressure plate 103 formed at one end of a piston (not shown);
And a control unit (not shown) formed on the outer side of the fixing unit 101 and controlling the pneumatic pressure transmitted from the inspection apparatus to flow into the cylinder 110. The carrier moving structure of the FPC inspection apparatus according to claim 1,
제 1항에 있어서,
상기 캐리어(200)의 모서리 부분에는 여러 개의 위치조절공(220)을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 에프피씨비 검사장치의 캐리어 이동구조.The method according to claim 1,
Wherein the carrier (200) further comprises a plurality of positioning holes (220) at corners of the carrier (200).
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107708049A (en) * 2017-11-24 2018-02-16 苏州岸肯电子科技有限公司 A kind of loudspeaker measurement jig of adjustable pressure
KR20190037952A (en) * 2017-09-29 2019-04-08 주식회사 디이엔티 contact jig and f-pcb contact method using contact jig
CN110220660A (en) * 2019-06-05 2019-09-10 合肥国轩高科动力能源有限公司 Small-size cylinder battery vibration test fixed clamping device
KR102281699B1 (en) * 2021-06-16 2021-07-26 한화시스템(주) Test object supporter of mobile test equipment for testing console-mounted display devices

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100270784B1 (en) * 1998-11-28 2000-12-01 정문술 Device for transferring carrier in module i.c handler
TW490564B (en) * 1999-02-01 2002-06-11 Mirae Corp A carrier handling apparatus for module IC handler, and method thereof

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190037952A (en) * 2017-09-29 2019-04-08 주식회사 디이엔티 contact jig and f-pcb contact method using contact jig
CN107708049A (en) * 2017-11-24 2018-02-16 苏州岸肯电子科技有限公司 A kind of loudspeaker measurement jig of adjustable pressure
CN110220660A (en) * 2019-06-05 2019-09-10 合肥国轩高科动力能源有限公司 Small-size cylinder battery vibration test fixed clamping device
KR102281699B1 (en) * 2021-06-16 2021-07-26 한화시스템(주) Test object supporter of mobile test equipment for testing console-mounted display devices

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