KR20150051437A - 휘도 보정 시스템 및 방법 - Google Patents

휘도 보정 시스템 및 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20150051437A
KR20150051437A KR1020130132894A KR20130132894A KR20150051437A KR 20150051437 A KR20150051437 A KR 20150051437A KR 1020130132894 A KR1020130132894 A KR 1020130132894A KR 20130132894 A KR20130132894 A KR 20130132894A KR 20150051437 A KR20150051437 A KR 20150051437A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
correction
subpixels
values
luminance
correction values
Prior art date
Application number
KR1020130132894A
Other languages
English (en)
Inventor
전병근
김민철
김인환
이안수
Original Assignee
삼성디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성디스플레이 주식회사 filed Critical 삼성디스플레이 주식회사
Priority to KR1020130132894A priority Critical patent/KR20150051437A/ko
Priority to US14/528,792 priority patent/US9564074B2/en
Publication of KR20150051437A publication Critical patent/KR20150051437A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G5/00—Control arrangements or circuits for visual indicators common to cathode-ray tube indicators and other visual indicators
    • G09G5/10—Intensity circuits
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108—Industrial image inspection
    • G06T2207/30121—CRT, LCD or plasma display
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30168—Image quality inspection
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00—Control of display operating conditions
    • G09G2320/02—Improving the quality of display appearance
    • G09G2320/0271—Adjustment of the gradation levels within the range of the gradation scale, e.g. by redistribution or clipping
    • G09G2320/0276—Adjustment of the gradation levels within the range of the gradation scale, e.g. by redistribution or clipping for the purpose of adaptation to the characteristics of a display device, i.e. gamma correction
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00—Control of display operating conditions
    • G09G2320/06—Adjustment of display parameters
    • G09G2320/0693—Calibration of display systems

Abstract

본 발명은 휘도 보정 시스템 및 방법에 관한 것으로, 특히 디스플레이 장치의 휘도 얼룩을 제거할 수 있는 휘도 보정 시스템 및 방법에 관한 것이다. 본 발명의 실시 예에 따른 휘도 보정 시스템은 복수의 서브 픽셀들을 포함하는 디스플레이 장치, 상기 복수의 픽셀들 각각의 휘도 값들을 측정하는 촬상부, 및 상기 복수의 서브 픽셀들 중에서 제1 서브 픽셀들만 발광하도록 샘플 데이터를 공급하고, 상기 촬상부에 의해 측정된 휘도 값들 각각과 목표 휘도 값의 차이 값들에 따라 상기 복수의 서브 픽셀들 각각에 대응하는 보정 값들을 산출하는 휘도 보정 장치를 포함한다.

Description

휘도 보정 시스템 및 방법{SYSTEM AND METHOD FOR A LUMINANCE CORRECTION}
본 발명은 휘도 보정 시스템 및 방법에 관한 것으로, 특히 디스플레이 장치의 휘도 얼룩을 제거할 수 있는 휘도 보정 시스템 및 방법에 관한 것이다.
최근, 음극선관(Cathode Ray Tube)의 단점인 무게와 부피를 줄일 수 있는 각종 평판 표시 장치들이 개발되고 있다. 평판 표시 장치로는 액정 표시장치(Liquid Crystal Display: LCD), 전계 방출 표시장치(Field Emission Display: FED), 플라즈마 표시패널(Plasma Display Panel: PDP) 및 유기 전계 발광 표시 장치(Organic Light Emitting Display: OLED) 등이 있다.
평판 표시 장치들 중에서 유기 전계 발광 표시 장치는 전자와 정공의 재결합에 의하여 빛을 발생하는 유기 발광 다이오드(Organic Light Emitting Diode : OLED)를 이용하여 화상을 표시한다. 이러한 유기 전계 발광 표시 장치는 빠른 응답속도를 가짐과 동시에 낮은 소비 전력으로 구동되는 장점이 있다.
그러나 유기 전계 발광 표시 장치를 포함하는 평판 표시 장치는 픽셀들의 특성 편차 및 제조 공정 상의 편차 등으로 인하여 각 픽셀들 간에 휘도 편차가 발생할 수 있다. 이와 같은 픽셀들 간의 휘도 편차에 따라, 평판 표시 장치에 휘도 얼룩이 발생하고 화질이 저하될 수 있다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적인 과제는 디스플레이 장치의 휘도 얼룩을 제거할 수 있는 휘도 보정 시스템 및 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 실시 예에 따른 휘도 보정 시스템은 복수의 서브 픽셀들을 포함하는 디스플레이 장치, 상기 복수의 픽셀들 각각의 휘도 값들을 측정하는 촬상부, 및 상기 복수의 서브 픽셀들 중에서 제1 서브 픽셀들만 발광하도록 샘플 데이터를 공급하고, 상기 촬상부에 의해 측정된 휘도 값들 각각과 목표 휘도 값의 차이 값들에 따라 상기 복수의 서브 픽셀들 각각에 대응하는 보정 값들을 산출하는 휘도 보정 장치를 포함한다.
상기 휘도 보정 장치는 상기 차이 값들에 따라 상기 제1 서브 픽셀들 각각에 대응하는 제1 보정 값들을 산출하는 제1 보정부, 및 상기 제1 보정 값들 각각에 기초하여 상기 복수의 서브 픽셀들 중에서 제2 서브 픽셀들 각각에 대응하는 제2 보정 값들을 산출하는 제2 보정부를 포함할 수 있다.
상기 제1 서브 픽셀들은 녹색 서브 픽셀들을 포함하며 상기 제2 서브 픽셀들은 적색 서브 픽셀들과 청색 서브 픽셀들을 포함할 수 있다.
상기 제2 보정부는 상기 제1 보정 값들에 대응하는 상기 제2 보정 값들을 룩 업 테이블로부터 리드할 수 있다.
상기 휘도 보정 장치는 상기 보정 값들을 포함하는 보정 데이터를 상기 디스플레이 장치의 메모리에 기입할 수 있다.
상기 디스플레이 장치는 외부로부터 공급되는 영상 데이터를 상기 메모리에 저장된 상기 보정 데이터에 기초하여 보정하고 보정된 영상 데이터에 따라 발광할 수 있다.
상기 휘도 보정 장치는 제1 기준 계조에 대응하는 제1 샘플 데이터를 공급할 때 산출된 제1 기준 보정 값들과 제2 기준 계조에 대응하는 제2 샘플 데이터를 공급할 때 산출된 제2 기준 보정 값들을 이용한 보간 연산을 통해 전체 계조들에 대한 상기 보정 값들을 산출할 수 있다.
본 발명의 실시 예에 따른 휘도 보정 방법은 복수의 서브 픽셀들 중에서 제1 서브 픽셀들만 발광하도록 샘플 데이터를 공급하는 단계, 상기 샘플 데이터에 응답하여 발광하는 상기 제1 서브 픽셀들 각각의 휘도 값을 측정하는 단계, 및 측정된 휘도값들 각각과 목표 휘도 값의 차이 값들에 따라 상기 복수의 서브 픽셀들 각각에 대응하는 보정 값들을 산출하는 단계를 포함한다.
상기 산출하는 단계는 상기 차이 값들에 따라 상기 제1 서브 픽셀들 각각에 대응하는 제1 보정 값들을 산출하는 단계, 및 상기 제1 보정 값들 각각에 기초하여 상기 복수의 서브 픽셀들 중에서 제2 서브 픽셀들 각각에 대응하는 제2 보정 값들을 산출하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 제1 서브 픽셀들은 녹색 서브 픽셀들을 포함하며 상기 제2 서브 픽셀들은 적색 서브 픽셀들과 청색 서브 픽셀들을 포함할 수 있다.
상기 제2 보정 값들은 상기 제1 보정 값들에 따라 룩 업 테이블로부터 리드될 수 있다.
상기 휘도 보정 방법은 상기 보정 값들을 포함하는 보정 데이터를 디스플레이 장치의 메모리에 기입하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기 휘도 보정 방법은 외부로부터 공급되는 영상 데이터를 상기 메모리에 저장된 상기 보정 데이터에 기초하여 보정하는 단계, 및 보정된 영상 데이터에 따라 발광하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기 산출하는 단계는 제1 기준 계조에 대응하는 제1 샘플 데이터를 공급할 때 산출된 제1 기준 보정 값들과 제2 기준 계조에 대응하는 제2 샘플 데이터를 공급할 때 산출된 제2 기준 보정 값들을 이용한 보간 연산을 통해 전체 계조들에 대한 상기 보정 값들을 산출하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 실시 예에 따른 휘도 보정 시스템 및 방법은 디스플레이 장치의 휘도 얼룩을 제거할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 휘도 보정 시스템을 나타내는 개념도이다.
도 2는 도 1에 도시된 디스플레이 장치를 보다 상세하게 나타내는 블록도이다.
도 3은 도 1에 도시된 휘도 보정 장치를 보다 상세하게 나타내는 블록도이다.
도 4는 도 1에 도시된 휘도 보정 장치의 동작을 설명하기 위한 그래프이다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 휘도 보정 방법을 설명하기 위한 플로우 차트(flow chart)이다.
도 6은 도 6에 도시된 보정 값들을 산출하는 단계를 보다 상세하게 설명하기 위한 플로우 차트이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예를 보다 상세하게 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 휘도 보정 시스템을 나타내는 개념도이고, 도 2는 도 1에 도시된 디스플레이 장치를 보다 상세하게 나타내는 블록도이며, 도 3은 도 1에 도시된 휘도 보정 장치를 보다 상세하게 나타내는 블록도이다.
도 1 내지 3을 참조하면, 휘도 보정 시스템(1)은 디스플레이 장치(100), 촬상부(200), 및 휘도 보정 장치(300)를 포함한다.
디스플레이 장치(100)는 휘도 보정 장치(300)로부터 공급되는 샘플 데이터(SD) 또는 외부로부터 공급되는 영상 데이터(ID)에 응답하여 영상을 표시한다. 디스플레이 장치(100)는 휘도 보정 장치(300)로부터 공급되는 보정 데이터(CD)를 메모리(170)에 저장한다. 디스플레이 장치(100)는 메모리(170)에 저장된 보정 데이터(CD)에 기초하여 영상 데이터(ID)를 변환하고, 변환된 영상 데이터(ID')에 대응하는 영상을 표시한다.
디스플레이 장치(100)는 데이터 변환부(110), 타이밍 제어부(120), 데이터 구동부(130), 주사 구동부(140), 및 표시부(150)를 포함한다.
데이터 변환부(110)는 메모리(170)에 저장된 보정 데이터(CD)에 따라 영상 데이터(ID)를 변환하고 변환된 영상 데이터(ID')를 타이밍 제어부(120)로 공급한다.
타이밍 제어부(120)는 외부로부터 공급되는 동기 신호(미도시)에 응답하여 데이터 구동부(130)와 주사 구동부(140)의 동작을 제어한다. 구체적으로, 타이밍 제어부(120)는 데이터 구동 제어 신호(DCS)를 생성하여 데이터 구동부(130)로 공급한다. 타이밍 제어부(120)는 주사 구동 제어 신호(SCS)를 생성하여 주사 구동부(140)로 공급한다.
또한, 타이밍 제어부(120)는 휘도 보정 장치(300)로부터 공급되는 샘플 데이터(SD) 또는 데이터 변환부(110)로부터 공급되는 변환된 영상 데이터(ID')를 데이터 구동 제어 신호(DCS)와 주사 구동 제어 신호(SCS)에 동기하여 데이터 구동부(130)로 공급한다.
데이터 구동부(130)는, 타이밍 제어부(120)로부터 출력된 데이터 구동 제어 신호(DCS)에 응답하여, 샘플 데이터(SD) 또는 변환된 영상 데이터(ID')를 재정렬하여 데이터 신호들로서 데이터선들(D1 내지 Dm)로 공급한다.
주사 구동부(140)는, 타이밍 제어부(120)로부터 출력된 주사 구동 제어 신호(SCS)에 응답하여, 주사선들(S1 내지 Sn)로 주사 신호를 순차적으로 공급한다.
표시부(150)는 데이터선들(D1 내지 Dm)과 주사선들(S1 내지 Sn)의 교차부들마다 배치된 픽셀들(160)을 포함한다. 픽셀들(160) 각각은 복수의 서브 픽셀들(R, G, B)을 포함한다. 여기서, 데이터선들(D1 내지 Dm)은 수직 방향으로 배열되고, 주사선들(S1 내지 Sn)은 수평 방향으로 배열된다. 서브 픽셀들(R, G, B)은 데이터선들(D1 내지 Dm) 중에서 대응하는 데이터선과 주사선들(S1 내지 Sn) 중에서 대응하는 주사선에 접속된다.
촬상부(200)는 디스플레이 장치(100)에 표시되는 영상을 촬상한다. 구체적으로, 촬상부(200)는 복수의 서브 픽셀들(R, G, B) 각각의 휘도 값들을 측정하고 측정된 휘도 값들을 포함하는 측정 데이터(MD)를 생성한다. 촬상부(200)는 생성된 측정 데이터(MD)를 휘도 보정 장치(300)로 공급한다.
실시예에 따라, 촬상부(200)는 CCD(charged coupled device) 카메라로 구현될 수 있다. 촬상부(200)는 촬상 소자들, 예를 들어, CCD 소자들이 디스플레이 장치(100)의 픽셀들(160) 각각에 대응하도록 배열될 수 있다. 예를 들어, 3 개의 CCD 소자들이 하나의 픽셀에 대응하도록 배열될 수 있다.
휘도 보정 장치(300)는 디스플레이 장치(100)로 공급된 샘플 데이터(SD)와 촬상부(200)로부터 공급되는 측정 데이터(MD)에 기초하여 보정 데이터(CD)를 생성한다.
휘도 보정 장치(300)는 복수의 서브 픽셀들(R, G, B) 중에서 제1 서브 픽셀들만 발광하도록 하는 샘플 데이터(SD)를 생성하고 생성된 샘플 데이터(SD)를 디스플레이 장치(100)로 공급한다.
본 명세서에서 '제1 서브 픽셀들'이라고 함은 복수의 서브 픽셀들(R, G, B) 중에서 샘플 데이터(SD)에 응답하여 발광하도록 설정된 색의 서브 픽셀들을 의미하고, '제2 서브 픽셀들'이라고 함은 복수의 서브 픽셀들(R, G, B) 중에서 상기 제1 서브 픽셀들을 제외한 나머지 색들의 서브 픽셀들을 의미한다. 여기서, 삼원색 중에서 인간에게 가장 잘 시인되는 색은 녹색이므로 녹색 서브 픽셀들을 제1 서브 픽셀들로 설정하는 것이 바람직하다.
휘도 보정 장치(300)는 촬상부(200)로부터 공급되는 측정 데이터(MD)를 분석하고 분석 결과에 따라 보정 데이터(CD)를 생성한다. 여기서, 보정 데이터(CD)는 제1 서브 픽셀들에 대응하는 제1 보정 값들(CV1)과 제2 서브 픽셀들에 대응하는 제2 보정 값들(CV2)을 포함한다.
휘도 보정 장치(300)는 제1 서브 픽셀들에 대응하는 제1 보정 값들(CV1)을 측정 데이터(MD)에 직접 기초하여 산출한다. 휘도 보정 장치(300)는 제1 보정 값들(CV1)에 기초하여 제2 보정 값들(CV2)을 산출한다. 제1 보정 값들(CV1)과 제2 보정 값들(V2) 사이의 관계는 서브 픽셀들 각각을 구성하는 재료 등에 따라 달라질 수 있으며 실험을 통해 산출될 수 있다.
휘도 보정 장치(300)는 보정 데이터(CD)를 디스플레이 장치(100)의 메모리(170)에 기입(write)한다.
휘도 보정 장치(300)는 샘플 데이터 생성부(310), 제1 보정부(320), 제2 보정부(330), 및 룩 업 테이블(look up table; 340)을 포함한다.
샘플 데이터 생성부(310)는 소정의 기준 계조에 대응하는 샘플 데이터(SD)를 생성한다. 샘플 데이터 생성부(310)는 복수의 서브 픽셀들(R, G, B) 중에서 제1 서브 픽셀들만 발광하도록 하는 샘플 데이터(SD)를 생성한다. 샘플 데이터 생성부(310)는 생성된 샘플 데이터(SD)를 디스플레이 장치(100)로 공급한다.
또한, 샘플 데이터 생성부(310)는 샘플 데이터(SD)에 포함된 기준 계조에 대응하는 목표 휘도 값(TLV)을 생성한다. 여기서, 목표 휘도 값(TLV)은, 제1 기준 픽셀들이 설계에 따라 오차 없이 제조되었을 경우, 제1 기준 픽셀들 각각이 샘플 데이터(SD)에 포함된 기준 계조에 응답하여 발광할 휘도 값을 의미한다. 샘플 데이터 생성부(310)는 생성된 목표 휘도 값(TLV)을 제1 보정부(320)로 공급한다.
제1 보정부(320)는 측정부(200)로부터 공급되는 측정 데이터(MD)와 샘플 데이터 생성부(310)로부터 공급되는 목표 휘도 값(TLV)에 기초하여 복수의 서브 픽셀들(R, G, B) 중에서 제1 서브 픽셀들에 대응하는 제1 보정 값들(CV1)을 산출한다.
구체적으로, 제1 보정부(320)는 측정 데이터(MD)에 포함된 휘도 값들 각각과 목표 휘도 값(TLV)의 차이 값들을 산출한다. 제1 보정부(320)는 상기 차이 값들에 따라 제1 서브 픽셀들에 대응하는 제1 보정 값들(CV1)을 산출한다.
실시 예에 따라, 제1 보정 값들(CV1)과 제2 보정 값들(CV2)은 계조들 각각에 대응하는 상수들일 수 있다. 이 경우, 예를 들어, 제1 보정부(320)는 상기 휘도 값들 각각과 목표 휘도 값(TLV)의 차이가 클 때 제1 보정 값들(CV1)을 증가시킨다. 반대로, 제1 보정부(320)는 상기 휘도 값들 각각과 목표 휘도 값(TLV)의 차이가 작을 때 제1 보정 값들(CV1)을 감소시킨다.
다른 실시 예에 따라, 제1 보정 값들(CV1)과 제2 보정 값들(CV2)은 소정의 함수의 파라미터들일 수 있다.
제1 보정부(320)는 산출된 제1 보정 값들(CV1)을 디스플레이 장치(100)의 메모리(170)에 기입한다. 또한, 제1 보정부(320)는 산출된 제1 보정 값들(CV1)을 제2 보정부(320)로 공급한다.
제2 보정부(330)는 제1 보정부(320)로부터 공급되는 제1 보정 값들(CV1)에 기초하여 복수의 서브 픽셀들(R, G, B) 중에서 제2 서브 픽셀들에 대응하는 제2 보정 값들(CV2)을 산출한다. 구체적으로, 제2 보정부(330)는 제1 보정 값들(CV1)에 대응하는 제2 보정 값들(CV2)을 룩 업 테이블(340)로부터 리드하고, 리드된 제2 보정 값들(CV2)을 디스플레이 장치(100)의 메모리(170)에 기입한다.
룩 업 테이블(340)은 제1 보정 값들(CV1)에 대응하는 제2 보정 값들(CV2)을 저장한다. 룩 업 테이블(340)에 저장된 정보는 미리 수행된 다수의 실험을 통해 산출된 것이다.
복수의 서브 픽셀들(R, G, B) 각각의 특성은 복수의 서브 픽셀들(R, G, B) 각각을 구성하는 재료에 따라서 달라질 수 있다. 이와 같이 재료에 따라 달라지는 특성은 디스플레이 장치(100)를 설계하면서 미리 고려해야하는 사항이다. 즉, 설계에 따라 디스플레이 장치(100)를 제조하였다면 복수의 서브 픽셀들(R, G, B) 간의 휘도 편차는 제조 공정 상의 편차에 의한 것이 대부분이다. 제조 공정 상의 편차는 일반적으로 복수의 서브 픽셀들(R, G, B)에 공통적으로 발생한다. 따라서, 제1 서브 픽셀들에 대응하는 제1 보상 값들(CV1)은 촬상을 통해 직접 산출하고 제2 서브 픽셀들에 대응하는 제2 보상 값들(CV2)은 제1 보상 값들(CV1)에 기초하여 유추하여도 정확한 휘도 보상이 가능하다.
도 4는 도 1에 도시된 휘도 보정 장치의 동작을 설명하기 위한 그래프이다. 도 1 내지 4를 참조하면, 휘도 보정 장치(300)는 소수의 기준 계조들(RG1, RG2)에서 측정된 측정 데이터들에 기초하여 전체 계조들에 대응하는 보정 데이터(CD)를 생성할 수 있다.
샘플 데이터 생성부(310)는 제1 기준 계조(RG1)에 대응하는 제1 샘플 데이터를 디스플레이 장치(100)로 공급한다. 디스플레이 장치(100)의 제1 서브 픽셀들은 제1 샘플 데이터에 응답하여 발광한다. 촬상부(200)는 제1 샘플 데이터에 응답하여 발광하는 제1 서브 픽셀들의 휘도 값들(ML1)을 측정하고 측정된 휘도 값들(ML1)을 포함하는 측정 데이터(MD)를 제1 보정부(320)로 공급한다. 제1 보정부(320)는 측정된 휘도 값들(ML1) 각각과 제1 기준 목표 휘도 값(RTL1)의 차이 값들(DV1)을 산출한다. 제1 보정부(320)는 차이 값들(DV1)에 따라 제1 기준 보정 값들을 산출한다.
이후, 샘플 데이터 생성부(310)는 제2 기준 계조(RG2)에 대응하는 제2 샘플 데이터를 디스플레이 장치(100)로 공급한다. 디스플레이 장치(100)의 제1 서브 픽셀들은 제2 샘플 데이터에 응답하여 발광한다. 촬상부(200)는 제2 샘플 데이터에 응답하여 발광하는 제1 서브 픽셀들의 휘도 값들(ML2)을 측정하고 측정된 휘도 값들(ML2)을 포함하는 측정 데이터(MD)를 제1 보정부(320)로 공급한다. 제1 보정부(320)는 측정된 휘도 값들(ML2) 각각과 제2 기준 목표 휘도 값(RTL2)의 차이 값들(DV2)을 산출한다. 제1 보정부(320)는 차이 값들(DV2)에 따라 제2 기준 보정 값들을 산출한다.
여기서, 제1 기준 목표 휘도 값(RTL1)은 목표 휘도 곡선(TLC) 상에서 제1 기준 계조(RG1)에 대응하는 값이며, 제2 기준 목표 휘도 값(RTL2)은 목표 휘도 곡선(TLC) 상에서 제2 기준 계조(RG2)에 대응하는 값이다.
제1 보정부(320)는 제1 기준 보정 값들과 제2 기준 보정 값들을 이용한 보간 연산을 통해 전체 계조들에 대한 제1 보정 값들(CV1)을 산출한다. 제2 보정부(320)는 제1 보정 값들(CV1)에 대응하는 제2 보정 값들(CV2)을 산출한다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 휘도 보정 방법을 설명하기 위한 플로우 차트(flow chart)이며, 도 6은 도 6에 도시된 보정 값들을 산출하는 단계를 보다 상세하게 설명하기 위한 플로우 차트이다.
도 5와 6을 참조하면, 휘도 보정 장치(300)는 복수의 서브 픽셀들(R, G, B) 중에서 제1 서브 픽셀들만 발광하도록 샘플 데이터(SD)를 공급한다. 제1 서브 픽셀들은 샘플 데이터(SD)에 응답하여 발광한다(S100).
측정부(200)는 제1 서브 픽셀들 각각의 휘도 값을 측정하고 측정된 휘도 값들을 포함하는 측정 데이터(MD)를 휘도 보정 장치(300)로 공급한다(S110).
휘도 보정 장치(300)는 측정 데이터(MD)에 포함된 측정된 휘도 값들 각각과 목표 휘도 값의 차이 값들에 따라 복수의 서브 픽셀들(R, G, B) 각각에 대응하는 보정 값들(CV1, CV2)을 산출한다(S120).
구체적으로, 휘도 보정 장치(300)의 제1 보정부(320)는 측정 데이터(MD)에 포함된 측정된 휘도 값들 각각과 목표 휘도 값들의 차이 값들에 따라 제1 서브 픽셀들 각각에 대응하는 제1 보정 값들(CV1)을 산출한다(S121).
휘도 보정 장치(300)의 제2 보정부(330)는 제1 보정부(320)에 의해 산출된 제1 보정 값들(CV1) 각각에 기초하여 제2 서브 픽셀들 각각에 대응하는 제2 보정 값들(CV2)을 산출한다(S123).
휘도 보정 장치(300)는 산출된 보정 값들(CV1, CV2)을 포함하는 보정 데이터(CV)를 디스플레이 장치(100)의 메모리(170)에 기입한다(S120). 이후, 디스플레이 장치(100)는 메모리(170)에 저장된 보정 데이터(CV)에 기초하여 외부로부터 공급되는 영상 데이터(ID)를 변환하여 표시함으로써 휘도 얼룩을 제거할 수 있다.
상기 발명의 상세한 설명과 도면은 단지 본 발명의 예시적인 것으로서, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 따라서, 이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 보호 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허청구범위에 의해 정하여 져야만 할 것이다.
1; 휘도 보정 시스템 100; 디스플레이 장치
110; 데이터 변환부 120; 타이밍 제어부
130; 데이터 구동부 140; 주사 구동부
150; 표시부 160; 픽셀
R, G, B; 서브 픽셀 170; 메모리
200; 촬상부 300; 휘도 보정 장치
310; 샘플 데이터 생성부 320; 제1 보정부
330; 제2 보정부 340; 룩 업 테이블

Claims (14)

  1. 복수의 서브 픽셀들을 포함하는 디스플레이 장치;
    상기 복수의 픽셀들 각각의 휘도 값들을 측정하는 촬상부; 및
    상기 복수의 서브 픽셀들 중에서 제1 서브 픽셀들만 발광하도록 샘플 데이터를 공급하고, 상기 촬상부에 의해 측정된 휘도 값들 각각과 목표 휘도 값의 차이 값들에 따라 상기 복수의 서브 픽셀들 각각에 대응하는 보정 값들을 산출하는 휘도 보정 장치를 포함하는 휘도 보정 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 휘도 보정 장치는,
    상기 차이 값들에 따라 상기 제1 서브 픽셀들 각각에 대응하는 제1 보정 값들을 산출하는 제1 보정부; 및
    상기 제1 보정 값들 각각에 기초하여 상기 복수의 서브 픽셀들 중에서 제2 서브 픽셀들 각각에 대응하는 제2 보정 값들을 산출하는 제2 보정부를 포함하는 휘도 보정 시스템.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제1 서브 픽셀들은 녹색 서브 픽셀들을 포함하며 상기 제2 서브 픽셀들은 적색 서브 픽셀들과 청색 서브 픽셀들을 포함하는 휘도 보정 시스템.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 제2 보정부는 상기 제1 보정 값들에 대응하는 상기 제2 보정 값들을 룩 업 테이블로부터 리드하는 휘도 보정 시스템.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 휘도 보정 장치는 상기 보정 값들을 포함하는 보정 데이터를 상기 디스플레이 장치의 메모리에 기입하는 휘도 보정 시스템.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 디스플레이 장치는 외부로부터 공급되는 영상 데이터를 상기 메모리에 저장된 상기 보정 데이터에 기초하여 보정하고 보정된 영상 데이터에 따라 발광하는 휘도 보정 시스템.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 휘도 보정 장치는 제1 기준 계조에 대응하는 제1 샘플 데이터를 공급할 때 산출된 제1 기준 보정 값들과 제2 기준 계조에 대응하는 제2 샘플 데이터를 공급할 때 산출된 제2 기준 보정 값들을 이용한 보간 연산을 통해 전체 계조들에 대한 상기 보정 값들을 산출하는 휘도 보정 시스템.
  8. 복수의 서브 픽셀들 중에서 제1 서브 픽셀들만 발광하도록 샘플 데이터를 공급하는 단계;
    상기 샘플 데이터에 응답하여 발광하는 상기 제1 서브 픽셀들 각각의 휘도 값을 측정하는 단계; 및
    측정된 휘도값들 각각과 목표 휘도 값의 차이 값들에 따라 상기 복수의 서브 픽셀들 각각에 대응하는 보정 값들을 산출하는 단계를 포함하는 휘도 보정 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 산출하는 단계는,
    상기 차이 값들에 따라 상기 제1 서브 픽셀들 각각에 대응하는 제1 보정 값들을 산출하는 단계; 및
    상기 제1 보정 값들 각각에 기초하여 상기 복수의 서브 픽셀들 중에서 제2 서브 픽셀들 각각에 대응하는 제2 보정 값들을 산출하는 단계를 포함하는 휘도 보정 방법.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 제1 서브 픽셀들은 녹색 서브 픽셀들을 포함하며 상기 제2 서브 픽셀들은 적색 서브 픽셀들과 청색 서브 픽셀들을 포함하는 휘도 보정 방법.
  11. 제9항에 있어서,
    상기 제2 보정 값들은 상기 제1 보정 값들에 따라 룩 업 테이블로부터 리드되는 휘도 보정 방법.
  12. 제8항에 있어서,
    상기 보정 값들을 포함하는 보정 데이터를 디스플레이 장치의 메모리에 기입하는 단계를 더 포함하는 휘도 보정 방법.
  13. 제12항에 있어서,
    외부로부터 공급되는 영상 데이터를 상기 메모리에 저장된 상기 보정 데이터에 기초하여 보정하는 단계; 및
    보정된 영상 데이터에 따라 발광하는 단계를 더 포함하는 휘도 보정 방법.
  14. 제8항에 있어서,
    상기 산출하는 단계는,
    제1 기준 계조에 대응하는 제1 샘플 데이터를 공급할 때 산출된 제1 기준 보정 값들과 제2 기준 계조에 대응하는 제2 샘플 데이터를 공급할 때 산출된 제2 기준 보정 값들을 이용한 보간 연산을 통해 전체 계조들에 대한 상기 보정 값들을 산출하는 단계를 포함하는 휘도 보정 방법.
KR1020130132894A 2013-11-04 2013-11-04 휘도 보정 시스템 및 방법 KR20150051437A (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130132894A KR20150051437A (ko) 2013-11-04 2013-11-04 휘도 보정 시스템 및 방법
US14/528,792 US9564074B2 (en) 2013-11-04 2014-10-30 System and method for luminance correction

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130132894A KR20150051437A (ko) 2013-11-04 2013-11-04 휘도 보정 시스템 및 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20150051437A true KR20150051437A (ko) 2015-05-13

Family

ID=53006698

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020130132894A KR20150051437A (ko) 2013-11-04 2013-11-04 휘도 보정 시스템 및 방법

Country Status (2)

Country Link
US (1) US9564074B2 (ko)
KR (1) KR20150051437A (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180039725A (ko) * 2015-08-19 2018-04-18 밸브 코포레이션 디스플레이의 픽셀 휘도 및/또는 색차 응답 변화의 검출 및/또는 보정을 위한 시스템 및 방법
US11398176B2 (en) 2020-12-08 2022-07-26 Lx Semicon Co., Ltd. Mura compensation data generation apparatus for Mura compensation, and Mura compensation apparatus of display using Mura compensation data

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102468270B1 (ko) * 2015-09-23 2022-11-18 삼성전자주식회사 전자 장치, 그의 디스플레이 패널 장치 보정 방법 및 보정 시스템
KR102402051B1 (ko) 2015-10-12 2022-05-26 삼성전자주식회사 전자 장치, 그의 디스플레이 장치 보정 방법 및 보정 시스템
EP3407296A1 (en) 2017-05-23 2018-11-28 Thomson Licensing Method and device for determining a characteristic of a display device
KR20210076341A (ko) * 2019-12-16 2021-06-24 엘지디스플레이 주식회사 디스플레이 장치, 데이터 구동 회로 및 데이터 구동 방법

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000049812A1 (en) 1999-02-19 2000-08-24 Sony Corporation Image signal processor, image signal processing method, learning device, learning method, and recorded medium
JP4433546B2 (ja) 1999-05-31 2010-03-17 ソニー株式会社 画像信号処理装置、画像信号処理方法、学習装置、学習方法及び記録媒体
JP4411588B2 (ja) 2003-11-27 2010-02-10 横河電機株式会社 欠陥検査装置
TW200923873A (en) 2007-11-26 2009-06-01 Tpo Displays Corp Image displaying system and method of elimitating mura defect
KR100977865B1 (ko) 2008-07-17 2010-08-24 금오공과대학교 산학협력단 유기발광다이오드 디스플레이의 밝기편차를 이용한검사방법
US8836797B1 (en) * 2013-03-14 2014-09-16 Radiant-Zemax Holdings, LLC Methods and systems for measuring and correcting electronic visual displays
KR20150048394A (ko) 2013-10-28 2015-05-07 삼성디스플레이 주식회사 휘도 보정 시스템

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180039725A (ko) * 2015-08-19 2018-04-18 밸브 코포레이션 디스플레이의 픽셀 휘도 및/또는 색차 응답 변화의 검출 및/또는 보정을 위한 시스템 및 방법
US11398176B2 (en) 2020-12-08 2022-07-26 Lx Semicon Co., Ltd. Mura compensation data generation apparatus for Mura compensation, and Mura compensation apparatus of display using Mura compensation data

Also Published As

Publication number Publication date
US20150123957A1 (en) 2015-05-07
US9564074B2 (en) 2017-02-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20150059268A (ko) 휘도 보정 시스템 및 방법
KR102536685B1 (ko) 휘도 보정 시스템 및 표시 패널의 휘도 보정 방법
KR101065406B1 (ko) 표시 장치, 영상 신호 보정 시스템, 및 영상 신호 보정 방법
US8624942B2 (en) Luminance correction system for organic light emitting display
US9299283B2 (en) Apparatus for compensating color characteristics in display device and compensating method thereof
KR102111777B1 (ko) 영상 표시장치 및 그의 구동 방법
KR101861795B1 (ko) 유기전계 발광 표시장치용 휘도 보정 시스템
KR102071056B1 (ko) 표시 장치 및 그의 영상 보상 방법
KR20150051437A (ko) 휘도 보정 시스템 및 방법
KR102330866B1 (ko) 표시장치의 휘도 보상 시스템 및 그 휘도 보상 방법
KR102509023B1 (ko) 표시 장치 및 그의 색편차 보상 방법
US9087481B2 (en) Luminance correcting system and luminance correcting method for organic light emitting display
KR20180058266A (ko) 표시 장치 및 이의 휘도 보상 방법
KR102138590B1 (ko) 휘도 보정 데이터 생성 장치 및 방법
KR102046443B1 (ko) 표시 장치 및 그의 영상 보상 방법
JP2009015265A (ja) 液晶表示装置のバックライト駆動方法及びその装置並びに液晶表示装置
KR20140116690A (ko) 표시장치, 표시장치를 위한 데이터 처리 장치 및 그 방법
KR20150048394A (ko) 휘도 보정 시스템
JP2011221305A (ja) 画像表示装置及び画像表示方法
KR20150104662A (ko) 표시 장치 및 그 구동 방법
KR101981137B1 (ko) 휘도 보정 데이터 생성 장치 및 방법
KR102368596B1 (ko) 영상처리장치 및 영상처리방법
KR20210085301A (ko) 표시 장치 및 표시 장치의 구동 방법
TWI751815B (zh) 顯示裝置及用於控制顯示裝置的方法
KR101953262B1 (ko) 휘도 보정 데이터 생성 장치 및 방법

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid