KR20150038874A - Circuit for Detecting Capacitor and Part Probe Station Using the Same - Google Patents

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    • G01R31/27Testing of devices without physical removal from the circuit of which they form part, e.g. compensating for effects surrounding elements

Abstract

The present invention relates to a circuit for detecting a capacitor and a part probe station using the same that can be implemented in a detection equipment for detecting a low-Farad capacitor used in a peripheral circuit for a mobile phone antenna. The capacitor detecting circuit supplies a square wave to one terminal of a specific capacitor in an antenna peripheral circuit, and determines if the capacitor is properly mounted by measuring a voltage across a resistor connected between the other terminal of the capacitor and the ground as a test point voltage. Here, the capacitance of the capacitor is 1pF to 10pF; the resistance of the resistor is 1MΩ or more; and the resistance of the resistor should be as large as possible in order to increase the test point voltage.

Description

커패시터 검출회로 및 이를 이용한 부품검사기{Circuit for Detecting Capacitor and Part Probe Station Using the Same}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a capacitor detecting circuit,

본 발명은 회로 기판상의 저 용량 커패시터의 실장 유무를 검출하기 위한 기본적인 회로 개발과 부품검사기에 관한 것으로, 특히 휴대폰의 안테나 주변회로에 사용되는 저 용량 커패시터의 검출을 위한 검사장비에 적용할 수 있는 커패시터 검출회로 및 이를 이용한 부품검사기에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a basic circuit development and a component tester for detecting the presence or absence of mounting of a low capacitance capacitor on a circuit board and in particular to a capacitor applicable to an inspection apparatus for detecting a low capacitance capacitor used in an antenna peripheral circuit of a cellular phone A detection circuit and a component tester using the same.

안테나는 전압 및 전류로 표현되는 전기적 신호와 전기장 및 자기장으로 표현되는 전자기파를 상호 변환해주는 역할을 하는 장치이다. 안테나는 외부의 전자기장의 변화와 안테나 도선 상의 전기적 신호가 상호 연동함으로써 자유 공간에 떠다니는 전자기파 신호를 전자기기가 감지하고 전자기기에서의 전기적 신호를 특정 주파수에서 공진시켜 자유 공간의 전자기파로 방사한다. 이러한 안테나는 안테나 주변회로와 함께 제품에 탑재된다.An antenna is a device that converts electric signals represented by voltage and current and electromagnetic waves represented by an electric field and a magnetic field. The antenna senses the electromagnetic wave signal floating in the free space by the interaction of the external electromagnetic field and the electric signal on the antenna wire, and the electronic device senses the electric signal in the electronic device and resonates at a specific frequency to emit electromagnetic waves in the free space. These antennas are mounted on the products together with the antenna peripheral circuits.

최근 스마트폰 등의 모바일 휴대단말의 보급에 따라 안테나 주변회로의 수요가 급증하고 있으며, 안테나 주변회로의 수요가 급증함에 따라 안테나 주변회로를 탑재한 회로 기판에 대한 성능 및 품질 검사의 신뢰성과 효율성이 대두되고 있다. 이러한 분위기에서 안테나 주변회로를 탑재한 회로 기판 등의 부품이나 부품 어셈블리에 대한 효율적인 부품검사 방안이 요구되고 있는 실정이다.In recent years, demand for peripheral circuits for antennas has increased rapidly due to the spread of mobile terminals such as smart phones, and as the demand for peripheral circuits for antennas has increased, reliability and efficiency of performance and quality inspection of circuit boards having peripheral circuits for antennas Is emerging. In this environment, there is a demand for an efficient component inspection method for a component such as a circuit board or a component assembly on which an antenna peripheral circuit is mounted.

본 발명은 상기의 요구에 부응하기 위한 것으로 안테나 주변회로가 탑재된 회로 기판에서 저 용량 커패시터의 실장 유무를 효율적으로 신뢰성 높게 검사할 수 있는 커패시터 검출회로 및 이를 이용한 부품검사기를 제공하고자 한다.The present invention provides a capacitor detection circuit and a component checker using the same that can efficiently and reliably inspect whether a low capacitance capacitor is mounted on a circuit board mounted with an antenna peripheral circuit.

상기 기술적 과제를 해결하기 위하여 본 발명의 일 측면에 따른 커패시터 검출회로는, 안테나 주변회로 내 특정 커패시터의 일측 단자에 구형파를 인가하고, 커패시터의 타측 단자와 그라운드 사이에 연결되는 저항기의 양 단자 간 전압을 측정점의 전압으로 검출함으로써 커패시터의 실장 유무를 판별한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a capacitor detection circuit including: a square wave is applied to one terminal of a specific capacitor in an antenna peripheral circuit, and a voltage between both terminals of the resistor connected between the other terminal of the capacitor and the ground Is detected as the voltage of the measurement point to determine whether or not the capacitor is mounted.

일 실시예에서, 커패시터는 용량이 1㎊ 내지 10㎊인 저 용량 커패시터이며, 저항기의 저항은 1㏁ 이상이다. 여기서, 저항기의 저항값은 측정점의 전압을 크게 하기 위하여 가능한 큰 값으로 설정될 수 있다.In one embodiment, the capacitor is a low capacitance capacitor having a capacitance of 1 kV to 10 kV, and the resistance of the resistor is 1 M or more. Here, the resistance value of the resistor can be set as large as possible in order to increase the voltage at the measuring point.

일 실시예에서, 구형파의 상승 에지 및 하강 에지는 직각에 근접하도록 설정된다. 즉, 구형파의 상승 에지 구간 및 하강 에지 구간에서 단위시간의 변화량이 영(0)에 수렴하는 값에 가장 가깝도록 설정될 수 있다.In one embodiment, the rising and falling edges of the square wave are set to be close to a right angle. That is, the change amount of the unit time in the rising edge interval and the falling edge interval of the square wave can be set to be closest to a value converging on zero (0).

일 실시예에서, 커패시터 검출회로는, 커패시터의 일측 단자와 구형파를 발생시키는 구형파 발생부 사이에 마련되는 스위치를 더 포함한다. 여기서, 스위치는 기설정 스위칭 동작 후 오프 상태에서 구형파 발생부로부터의 노이즈가 커패시터에 영향을 미치는 것을 방지하기 위하여 노이즈 차단 동작을 수행한다.In one embodiment, the capacitor detection circuit further includes a switch provided between the one terminal of the capacitor and the rectangular wave generating portion generating the rectangular wave. Here, the switch performs a noise blocking operation to prevent the noise from the square wave generating unit from affecting the capacitor in the OFF state after the initial setting operation.

본 발명의 일 측면에 따른 부품검사기는, 안테나 주변회로 내 특정 커패시터의 일측 단자에 구형파를 인가하는 구형파 발생부, 커패시터의 타측 단자와 그라운드 사이에 연결되는 저항기, 커패시터의 타측 단자와 저항기가 공통 연결되는 측정점의 전압이 입력단에 인가되는 제1 증폭기, 제1 증폭기의 출력 신호를 필터링하는 제1 저역대역필터, 제1 저역대역필터의 출력 신호를 증폭하는 제2 증폭기, 제2 증폭기의 출력 신호를 필터링하는 제1 저역대역필터, 및 제2 저역대역필터의 출력 신호를 감지하는 중앙처리장치를 포함하여 구성된다.A component inspecting apparatus according to an aspect of the present invention includes a square wave generating unit for applying a square wave to one terminal of a specific capacitor in an antenna peripheral circuit, a resistor connected between the other terminal of the capacitor and the ground, A second amplifier for amplifying an output signal of the first low-pass filter, a second amplifier for amplifying an output signal of the second amplifier, and a second amplifier for amplifying an output signal of the second low- And a central processing unit for detecting an output signal of the second low-pass filter.

일 실시예에서, 부품검사기는, 구형파 발생부 및 전원장치가 탑재되는 부품검사기의 하우징 내외부 잡음을 차단하기 위하여 커패시터의 일측 단자와 구형파 발생부 사이에 마련되는 스위치를 구비한 스위치 블록을 더 포함한다. 여기서, 스위치는 커패시터의 일측 단자에 연결되는 연결케이블의 신호를 주입하거나 순간적으로 단절시키며, 아날로그 스위치 또는 릴레이로 마련될 수 있다.In one embodiment, the component tester further includes a switch block having a rectangular wave generating unit and a switch provided between the one end of the capacitor and the rectangular wave generating unit to block noise inside and outside the housing of the component tester on which the power supply is mounted . Here, the switch may be provided with an analog switch or a relay, which injects or momentarily disconnects a signal of a connection cable connected to one terminal of the capacitor.

일 실시예에서, 부품검사기는, 전원장치, 구형파 발생부 및 상기 스위치 블록을 제어하고 전원을 공급하는 스위칭 전원장치 중 적어도 하나를 차폐하는 제1 차폐부를 더 포함하거나, 혹은 하우징의 상부 및 하부가 분리가능하게 마련될 때, 안테나 주변회로를 포함한 회로 기판이 놓이는 하우징 상부를 금속성 제2 차폐부를 구비한 부재로 마련한다. 또는, 구현에 따라서 부품검사기는 제1 차폐부 및 제2 차폐부를 포함하여 구성될 수 있다.In one embodiment, the component inspecting apparatus further comprises a first shielding portion for shielding at least one of the power supply device, the square wave generating portion, and the switching power supply device for controlling and supplying the power to the switch block, The upper portion of the housing where the circuit board including the antenna peripheral circuit is disposed is provided with the member having the metallic second shielding portion. Or, depending on the implementation, the component tester may comprise a first shield and a second shield.

본 발명에 따르면, 구형파를 이용하여 안테나 주변회로가 탑재된 회로 기판에서 저 용량 커패시터의 실장 유무를 효율적으로 신뢰성 높게 검사할 수 있는 커패시터 검출회로 및 이를 이용한 부품검사기를 제공할 수 있다.According to the present invention, it is possible to provide a capacitor detection circuit capable of efficiently and reliably inspecting whether or not a low-capacitance capacitor is mounted on a circuit board on which an antenna peripheral circuit is mounted using a square wave, and a component tester using the same.

또한, 본 발명에 따르면, 부품검사기와 가장 유사한 임피던스 분석기와 비교하여 약 1/10 정도의 싼 가격으로 커패시터 실장 유무를 검출할 수 있는 커패시터 검출장치 및 이를 이용한 부품검사기를 제공할 수 있다.Also, according to the present invention, it is possible to provide a capacitor detecting apparatus capable of detecting whether or not a capacitor is mounted at an inexpensive price of about 1/10 as compared with an impedance analyzer most similar to an impedance analyzer, and a component inspector using the same.

아울러, 본 발명에 따르면, 스마트폰 안테나 주변회로 내 특정 부품의 실장 유무를 효율적으로 검출하는데 이용할 수 있을 뿐만 아니라 이를 응용한 대량 생산 설비를 통해 높은 부가가치 창출이 가능한 커패시터 검출회로 및 부품검사기를 제공할 수 있다.In addition, according to the present invention, there is provided a capacitor detection circuit and a component inspecting device that can be utilized not only for efficiently detecting the mounting of specific components in a smartphone antenna peripheral circuit but also capable of creating high added value through a mass production facility using the same .

도 1은 일반적인 커패시터 회로에서 스위치 동작에 따른 커패시터 전류를 설명하기 위한 도면.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 커패시터 검출회로에서 회로 기판의 커패시터 실장 유무를 판단하는 원리를 설명하기 위한 회로도.
도 3은 도 2에서 스위치가 온 및 오프 동작할 때 커패시터 입력단(A)에 인가되는 구형파(Vi)와 측정점(B)에서의 전압(Vo)을 나타낸 파형도.
도 4는 스마트폰에 적용되고 있는 일반적인 안테나 주변회로를 나타낸 예시도.
도 5 및 도 6은 도 4와 같은 안테나 주변회로를 포함하는 회로 기판에 도 2와 같은 작동원리의 커패시터 검출회로를 연결하여 커패시터의 실장 유무를 판단하기 위한 파형도.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 커패시터 검출회로의 개략적인 회로도.
도 8은 도 7의 구형파 발생부의 구형파에 대한 개략적인 파형도.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 부품검사기의 개략적인 사시도.
BRIEF DESCRIPTION OF DRAWINGS FIG. 1 is a diagram for explaining a capacitor current according to a switch operation in a general capacitor circuit; FIG.
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a capacitor detection circuit, and more particularly to a capacitor detection circuit.
3 is a waveform diagram showing a square wave Vi applied to a capacitor input terminal A and a voltage Vo at a measurement point B when the switch is turned on and off in Fig.
4 is a diagram illustrating an example of a general antenna peripheral circuit applied to a smartphone;
5 and 6 are waveform diagrams for determining whether a capacitor is mounted by connecting a capacitor detection circuit of the operating principle shown in FIG. 2 to a circuit board including an antenna peripheral circuit as shown in FIG.
7 is a schematic circuit diagram of a capacitor detection circuit according to an embodiment of the present invention;
FIG. 8 is a schematic waveform diagram of a square wave of the rectangular wave generating section of FIG. 7; FIG.
Figure 9 is a schematic perspective view of a part tester according to an embodiment of the present invention;

후술하는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 그러므로, 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 하여 내려져야 할 것이다.The following terms are defined in consideration of the functions of the present invention, and this may vary depending on the intention or custom of the user, the operator. Therefore, definitions of these terms should be made based on the contents throughout this specification.

본 발명을 설명함에 있어서, 본 발명자는 회로 기판상의 저 용량 커패시터의 실장 유무를 검출하는 방안을 도출하기 위하여 구형파를 이용한다. 이러한 구형파를 이용한 커패시터 실장 유무의 검출 기술은 커패시터 부품에 관한 기초적인 회로 지식과 시간 축에서 표현되는 사인파, 구형파 등 각종 파형에 대한 주파수 축으로의 변환(퓨리에 변환 등)에 관한 지식과 본 명세서에서 제공하는 상세 설명을 통해 발명이 가능하다.In explaining the present invention, the inventor of the present invention uses a square wave to derive a measure for detecting the presence or absence of mounting of a low-capacitance capacitor on a circuit board. The detection technique of the capacitor mounting using such a square wave is based on knowledge of the basic circuit knowledge about the capacitor component and the conversion to the frequency axis (Fourier transform, etc.) of various waveforms such as a sine wave and a square wave expressed in the time axis, The invention is possible through the detailed description provided.

또한, 본 발명은 저 용량 커패시터의 실장 유무를 판별함에 있어서 커패시터 검출회로를 실제의 부품 검사 장비에 탑재하여 적용하는 과정에서 외부 잡음에 대한 전기적인 그리고 기구적인 노이즈 차단 방안을 제공한다.In addition, the present invention provides an electrical and mechanical noise reduction method for external noise in the process of mounting a capacitor detection circuit on an actual component inspection equipment in determining whether to mount a low capacitance capacitor.

본 발명에서 제시하는 저 용량 커패시터의 검출 방법과 동일한 부품검사장비는 아직까지 제작되거나 보고된 바가 없으며, 다른 원리에 의해 저 용량 커패시터를 검출하는 기존의 부품검사기 대비 약 1/10배 정도 저렴한 가격으로 구현가능하다.The same component inspection equipment as the low capacity capacitor detection method described in the present invention has not been manufactured or reported yet and it is about 1/10 times lower than a conventional component inspection unit for detecting a low capacitance capacitor by another principle It can be implemented.

이와 같이, 본 발명에서는 기초적인 회로지식 및 경험을 바탕으로 구형파를 이용하여 저 용량 커패시터의 실장 여부를 검출하는 검출회로와 이러한 검출회로를 바탕으로 부품 검사 장비를 구현하는 방법 및 외부 잡음을 차단하여 커패시터 검출을 용이하게 하는 방안을 제공한다.Thus, in the present invention, based on basic circuit knowledge and experience, a detection circuit for detecting whether a low-capacitance capacitor is mounted using a square wave, a method for implementing a component inspection apparatus based on the detection circuit, And provides a method for facilitating capacitor detection.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하기로 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1은 일반적인 커패시터 회로에서 스위치 동작에 따른 커패시터 전류를 설명하기 위한 도면이다.1 is a diagram for explaining a capacitor current according to a switch operation in a general capacitor circuit.

도 1을 참조하면, 커패시터 회로에 흐르는 전류(iC)는 다음의 수학식 1 내지 수학식 4와 같이 표현된다.Referring to FIG. 1, a current (i C ) flowing in a capacitor circuit is expressed by the following Equations (1) to (4).

Figure pat00001
Figure pat00001

수학식 1에서 q는 전하, dq는 전하의 변화량, t는 시간, 그리고 dt는 단위 시간을 지칭한다. 즉, 전류(iC)는 시간에 따라 발생하는 전하의 변화량을 지칭한다.In Equation (1), q is charge, dq is the amount of charge change, t is time, and dt is unit time. That is, the current (i C ) refers to the amount of change in charge that occurs over time.

Figure pat00002
Figure pat00002

수학식 2에서, Q는 커패시터에 저장할 수 있는 전하량, C는 정전용량 또는 전기용량, 그리고 V는 커패시터 양단에 인가되는 전압을 지칭한다.In Equation (2), Q refers to the amount of charge that can be stored in the capacitor, C refers to the capacitance or capacitance, and V refers to the voltage applied across the capacitor.

수학식 2를 수학식 1에 대입하여 정리하면 다음의 수학식 3 및 수학식 4와 같다. 수학식 3에서 정전용량의 변화(dC)는 0이다.Equation 2 is substituted into Equation 1 and summarized as Equation 3 and Equation 4 below. In Equation (3), the capacitance change (dC) is zero.

Figure pat00003
Figure pat00003

Figure pat00004
Figure pat00004

수학식 4에서 dt가 0에 수렴하면, 즉 스위치의 온/오프(On/Off) 시간을 무한히 짧게 하면, 커패시터에 흐르는 전류(iC)는 무한대(∞)가 된다. 이를 수식으로 나타내면 수학식 5와 같다.If dt is converged to zero in the equation (4), that is, when the infinitely short on / off (On / Off) of the time switch, the current (i C) flowing in the capacitor is the infinity (∞). This can be expressed by Equation (5).

Figure pat00005
Figure pat00005

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 커패시터 검출회로에서 회로 기판의 커패시터 실장 유무를 판단하는 원리를 설명하기 위한 회로도이다.2 is a circuit diagram for explaining a principle of determining whether a capacitor is mounted on a circuit board in a capacitor detection circuit according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 커패시터 검출회로는 커패시터, 및 커패시터에 직렬 연결되는 저항기(RL)을 포함하여 구성된다.Referring to Fig. 2, the capacitor detection circuit comprises a capacitor, and a resistor R L connected in series with the capacitor.

본 실시예에 따른 커패시터 검출회로에서는 커패시터의 일측 단자와 저항기(RL)의 일측 단자의 공통 연결점의 전압(Vo)을 측정하도록 구성된다. 공통 연결점은 커패시터 검출회로에서 저 용량 커패시터의 실장 여부를 검출하기 위한 측정점(B)이 된다.The capacitor detection circuit according to the present embodiment is configured to measure the voltage Vo at the common connection point between one terminal of the capacitor and one terminal of the resistor R L. The common connection point is a measurement point (B) for detecting whether or not the low-capacitance capacitor is mounted in the capacitor detection circuit.

측정점의 전압 즉 B 전압(Vo)을 수식으로 나타내면 수학식 6과 같다.The voltage at the measurement point, that is, the B voltage Vo, can be expressed by the following equation (6).

Figure pat00006
Figure pat00006

수학식 6에서, 저항기(RL)은 여러 저항값을 가질 수 있으며, 예컨대 3㏁일 수 있다. 저항기(RL)는 B 전압을 높은 값으로 설정하기 위하여 가급적 큰 저항값을 가질 수 있다.In Equation 6, the resistor R L may have various resistance values, for example, 3 M OMEGA. The resistor R L may have a resistance value as large as possible in order to set the B voltage to a high value.

도 3은 도 2에서 스위치가 온 및 오프 동작할 때 커패시터 입력단(A)에 인가되는 전압(이하, A 전압)을 가지는 구형파(Vi)와 측정점(B)에서의 전압(Vo)을 나타낸 파형도이다.3 is a waveform diagram showing a square wave Vi having a voltage (hereinafter referred to as A voltage) applied to a capacitor input terminal A when the switch is turned on and off in FIG. 2 and a voltage Vo at the measuring point B to be.

도 3에 도시한 바와 같이, 측정점(B)에서의 전압(Vo)은 스위치 동작에 따라 발생하는 구형파(Vi)의 상태 천이에 대응하여 소정 크기의 순간 펄스 형태의 전압 파형(이하, 커패시터 전압파형)을 나타낸다. 커패시터 전압파형의 전압 피크(Vp)는 구형파(Vi)의 최대값보다 작다.As shown in Fig. 3, the voltage Vo at the measurement point B corresponds to a state transition of the square wave Vi generated in response to the switch operation, ). The voltage peak Vp of the capacitor voltage waveform is smaller than the maximum value of the square wave Vi.

도 4는 스마트폰에 적용되고 있는 일반적인 안테나 주변회로를 나타낸 예시도이다.4 is a diagram illustrating an example of a general antenna peripheral circuit applied to a smartphone.

도 4에 나타낸 바와 같이, 기존의 스마트폰에 적용된 안테나 주변회로는 안테나와 모바일 프로세싱 유닛(Mobile Processing Unit, MPU) 등의 중앙처리장치와의 사이에 배치되며, 안테나 측에 연결되는 단자1(D1), 중앙처리장치 측에 연결되는 단자2(D2), 단자1(D1)과 단자2(D2) 사이에 연결되는 커패시터(Capacitor), 커패시터(CL)의 일측 단자와 그라운드 사이에 병렬 연결되는 인덕터1(L1), 및 커패시터의 타측 단자와 그라운드 사이에 병렬 연결되는 인덕터2(L2)를 포함하여 구성된다.4, an antenna peripheral circuit applied to a conventional smart phone is disposed between an antenna and a central processing unit such as a mobile processing unit (MPU), and includes a terminal 1 (D1 A capacitor 2 connected between the terminal 1 and the terminal 2 and a capacitor 2 connected in parallel between one terminal of the capacitor C L and the ground, An inductor 1 (L1), and an inductor 2 (L2) connected in parallel between the other terminal of the capacitor and the ground.

안테나 주변회로에 적용되는 커패시터(CL)는 약 1㎊ 내지 약 10㎊의 아주 작은 용량을 가진다.The capacitor (C L ) applied to the antenna peripheral circuit has a very small capacitance of about 1 kV to about 10 kV.

도 5 및 도 6은 도 4와 같은 안테나 주변회로를 포함하는 회로 기판에 도 2와 같은 커패시터 검출회로를 연결하여 커패시터의 실장 유무를 판단하기 위한 파형도이다.5 and 6 are waveform diagrams for determining whether a capacitor is mounted by connecting a capacitor detection circuit as shown in FIG. 2 to a circuit board including an antenna peripheral circuit as shown in FIG.

도 5를 참조하면, 커패시터 전압파형(Vo)은 기준 전압(Vx)의 크기 이상의 전압 피크를 가지며, 이러한 전압 피크(Vx)의 크기로 저 용량 커패시터가 회로 기판의 안테나 주변회로에 실장되어 있는 것으로 판단할 수 있다.5, the capacitor voltage waveform Vo has a voltage peak equal to or larger than the magnitude of the reference voltage Vx, and the low-capacitance capacitor is mounted on the antenna peripheral circuit of the circuit board at the magnitude of the voltage peak Vx It can be judged.

한편, 도 6을 참조하면, 커패시터 전압파형(Vo)은 기준 전압(Vx)의 크기보다 작은 전압 피크를 가지며, 이러한 전압 피크의 크기로 저 용량 커패시터가 회로 기판의 안테나 주변회로에 실장되어 있지 않은 것으로 판단할 수 있다.6, the capacitor voltage waveform Vo has a voltage peak that is smaller than the magnitude of the reference voltage Vx, and the low-capacitance capacitor is not mounted on the antenna peripheral circuit of the circuit board .

이와 같이, 본 실시예에 따른 커패시터 검출회로를 이용하면, 회로 기판의 안테나 주변회로에 커패시터가 실장되어 있는 경우와 커패시터가 실장되어 있지 않은 경우에 있어서, 커패시터 검출회로의 측정점에서의 전기적 신호 크기가 많이 차이가 나며, 이를 통해 저 용량 커패시터의 실장 유무를 용이하게 검출할 수 있다는 것을 알 수 있다.As described above, when the capacitor detection circuit according to the present embodiment is used, when the capacitor is mounted on the antenna peripheral circuit of the circuit board and when the capacitor is not mounted, the electrical signal size at the measurement point of the capacitor detection circuit is It can be seen that the presence or absence of the low-capacitance capacitor can be easily detected.

한편, 소신호값(Vx, V'x)이 아주 작기 때문에 실제의 회로에서는 증폭 및 저역통과필터 등을 이용하여 중앙처리장치(마이컴, 마이크로프로세서 등)가 읽을 수 있도록 처리해 줄 수 있다.On the other hand, since the small signal values (Vx, V'x) are very small, an actual circuit can be processed to be read by a central processing unit (microcomputer, microprocessor, etc.) using an amplification and a low-pass filter.

도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 커패시터 검출회로의 개략적인 회로도이다. 도 8은 도 7의 구형파 발생부의 구형파에 대한 개략적인 파형도이다.7 is a schematic circuit diagram of a capacitor detection circuit according to an embodiment of the present invention. 8 is a schematic waveform diagram of a square wave of the rectangular wave generating portion of FIG.

도 7을 참조하면, 본 실시예에 따른 커패시터 검출회로는, 기본적으로 안테나 주변회로(PA) 내에 실장된 것으로 가정되는 저 용량 커패시터(CL)의 일측 단자(D1 참조)에 연결되어 구형파를 입력하는 구형파 발생부(116), 및 저 용량 커패시터(CL)의 타측 단자와 그라운드 사이에 직렬 연결되는 저항기(RL)를 포함하여 구성된다. 여기서, 소정의 전압 검출 수단(13)을 통해 저 용량 커패시터(CL)의 타측 단자 또는 저항기(RL)의 양 단자 사이에 걸리는 전압을 측정함으로써 커패시터의 실장 유무를 검출한다.7, the capacitor detection circuit according to the present embodiment is connected to one terminal (see D1) of a low-capacitance capacitor C L , which is basically assumed to be mounted in the antenna peripheral circuit PA, And a resistor R L connected in series between the other terminal of the low capacitance capacitor C L and the ground. Here, the presence or absence of the capacitor is detected by measuring the voltage across the other terminal of the low-capacitance capacitor (C L ) or between both terminals of the resistor (R L ) through the predetermined voltage detection means (13).

커패시터 실장 유무를 검출하기 위해 임의의 신호가 커패시터를 통과해야 하는데, 저 용량 커패시터(CL)는 자기 공진점이 수백 ㎒로 높아 낮은 주파수를 주입하면 신호를 통과시킬 수 없다. 실제로 수백 ㎒ 신호를 발생시켜 커패시터로 주입하고자 한다면 회로의 복잡성, 각종 잡음 발생 및 기판 제작 등의 비용 문제 등이 발생한다. 따라서, 본 발명에서는 수백 ㎒ 신호를 발생시키는 방법을 구형파를 이용하는 것으로 구현한다. 즉, 본 발명에서는 주파수 측면에서 볼 때 구형파 내에는 낮은 주파수 성분부터 수백 ㎒의 높은 주파수 성분이 모두 포함되어 있다는 것에 착안하여 커패시터(CL)에 구형파를 주입하는 방식으로 저 용량 커패시터의 실장 유무를 검출한다.Any signal must pass through the capacitor to detect the presence of the capacitor, and the low-capacitance capacitor (C L ) can not pass the signal when the low-frequency is injected because the self-resonant point is high at several hundred MHz. In fact, if a signal of several hundreds MHz is generated and injected into a capacitor, the complexity of the circuit, generation of various kinds of noise, and cost of manufacturing the substrate occur. Therefore, in the present invention, a method of generating several hundreds of MHz signals is implemented by using a square wave. That is, in the present invention, it is noted that the square wave includes all the high frequency components from the low frequency component to several hundreds of MHz in the frequency domain, and a rectangular wave is injected into the capacitor C L to determine whether or not the low-capacitance capacitor is mounted .

또한, 본 실시예에 따른 커패시터 검출회로는, 구현에 따라서, 저 용량 커패시터(CL)의 타측 단자에 인접하게 위치하는 측정점(B 또는 D2)에 입력단이 연결되는 제1 증폭기(131), 제1 증폭기의 출력단에 입력단이 연결되는 제1 저역통과필터(LPF, 132), 제1 저역통과필터의 출력단에 입력단이 연결되는 제2 증폭기(133), 제2 증폭기의 출력단에 입력단이 연결되는 제2 저역통과필터(134), 및 제2 저역통과필터의 출력단에 입력단이 연결되는 중앙처리장치(Micro Control Unit, MCU)를 더 포함하여 구성될 수 있다. 중앙처리장치(135)의 입력단은 아날로그 디지털 컨버터(ADC)로 마련될 수 있다.The capacitor detection circuit according to this embodiment includes a first amplifier 131 having an input terminal connected to a measurement point B or D2 located adjacent to the other terminal of the low capacitance capacitor C L , A first low pass filter (LPF) 132 having an input terminal connected to the output terminal of the first amplifier, a second amplifier 133 having an input terminal connected to the output terminal of the first low pass filter, 2 low pass filter 134 and a micro control unit (MCU) having an input terminal connected to the output terminal of the second low pass filter. The input of the central processing unit 135 may be provided by an analog-to-digital converter (ADC).

구형파 발생부(116)는, 도 8의 (a)에 나타낸 바와 같이, 최대한 가파르게 상승하는 상승 에지, 및 가파르게 내려오는 하강 에지를 구비하는 구형파를 발생시킨다. 이는 스위치의 온 또는 오프 시간에 해당하는 단위시간(dt)을 0에 가깝게 설정하기 위한 것이다(수학식 4 참조). 이러한 구성에 의하면 커패시터에 흐르는 전류(ic)의 크기를 크게 할 수 있고, 그에 의해 커패시터의 전압파형(Vo)을 정확하게 감지하여 회로 기판의 안테나 주변회로 등에서 저 용량 커패시터의 실장 유무를 정확하게 판별할 수 있다.The square wave generating section 116 generates a square wave having a rising edge which rises as steeply as possible and a falling edge which rises as steep as shown in Fig. 8 (a). This is to set the unit time dt corresponding to the ON or OFF time of the switch close to zero (see Equation 4). With such a configuration it is possible to increase the magnitude of the current (i c) flowing through the capacitor, to accurately determine the mounting presence or absence of the low-capacity capacitors etc. antenna peripheral circuit for accurately detecting the circuit board a voltage waveform (Vo) of the capacitor thereby .

만일, 도 8의 (b)에 나타낸 바와 같이, 구형파의 상승 에지 구간(R)이나 하강 에지 구간(D)에서의 스위칭 시간 즉 스위치 시간의 단위시간(dt)이 상대적으로 커지면, 커패시터에 흐르는 전류(ic)가 매우 작아져 실제로 저 용량 커패시터의 실장 유무를 검출하는 것은 불가능해진다.8B, when the switching time, that is, the unit time dt of the switching time in the rising edge section R or the falling edge section D of the rectangular wave becomes relatively large, the current flowing in the capacitor (i c ) becomes very small and it is practically impossible to detect the presence or absence of the mounting of the low-capacitance capacitor.

다시 도 7을 참조하면, 저항기(RL)는 측정점(D2 참조)에서의 커패시터 전압파형의 피크가 큰 값을 갖도록 가능한 한 큰 저항값으로 설정된다.Referring again to Fig. 7, the resistor R L is set to a resistance value as large as possible so that the peak of the capacitor voltage waveform at the measurement point (see D2) has a large value.

제1 증폭기(131) 및 제2 증폭기(133)는 측정점에서의 소신호를 증폭하고, 제1 저역통과필터(132) 및 제2 저역통과필터(134)는 각 증폭기에서의 잡음과 기타 유입된 노이즈를 제거한다.The first amplifier 131 and the second amplifier 133 amplify the small signal at the measurement point and the first low pass filter 132 and the second low pass filter 134 amplify the noise from each amplifier, Remove noise.

제1 증폭기(131), 제1 저역통과필터(132), 제2 증폭기(133) 및 제2 저역통과필터(134)를 이용하면, 측정점에서 검출된 소신호를 2단 증폭 및 필터링하고, 그에 의해 중앙처리장치(135)의 입력단(ADC)에서 소신호를 읽어낼 수 있다. 이러한 구성에 의하면, 커패시터 검출회로는 어느 정도의 노이즈 환경에서도 저 용량 커패시터의 실장 유무를 정밀하게 검출할 수 있게 된다.The small signal detected at the measurement point is amplified and filtered in two stages by using the first amplifier 131, the first low-pass filter 132, the second amplifier 133 and the second low-pass filter 134, A small signal can be read from the input terminal (ADC) of the central processing unit 135. According to such a configuration, the capacitor detection circuit can precisely detect whether or not the low-capacitance capacitor is mounted even under a certain noise environment.

또한, 전술한 2단 증폭 및 필터링 구조를 이용하면, 제1 저역통과필터(132)에서 소신호가 과도하게 필터링되는 경우에 제2 증폭기(133)에서 소신호를 증폭하더라도 자칫 신호가 뭉그러져서 저 용량 커패시터의 실장 유무 판별에 혼란이 올 수 있으나, 제2 증폭기(133)의 출력 신호를 제2 저역통과필터(134)에서 다시 필터링함으로써 상기한 혼란을 방지할 수 있다.In addition, by using the two-stage amplification and filtering structure described above, even when the small signal is excessively filtered by the first low-pass filter 132, the signal is distorted even if the small signal is amplified by the second amplifier 133, The confusion can be prevented by discriminating whether or not the capacitor is mounted. However, the output signal of the second amplifier 133 may be filtered again by the second low-pass filter 134 to prevent the confusion.

실제로 전술한 커패시터 검출회로는 단독으로 존재하지 않고 여타의 부품과 연결되어 하나의 블록화된 회로(부품검사기)로 존재한다. 이러한 부품검사기의 일 실시예를 아래에서 설명한다.Actually, the above-mentioned capacitor detection circuit does not exist alone but is connected to other components and exists as one block circuit (component checker). One embodiment of such a component inspector is described below.

도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 부품검사기의 개략적인 사시도이다. 도 9에서는 설명의 편의상 하우징의 내부가 투시되도록 도시되어 있다.9 is a schematic perspective view of a part tester according to an embodiment of the present invention. In Fig. 9, the interior of the housing is shown to be viewed through for convenience of explanation.

도 9를 참조하면, 본 실시예에 따른 부품검사기는, 하우징(110), 전원장치(111), 주기판(112), 주기판 커넥터(113), 연결케이블(114), 스위칭 전원장치(116), 구형파 발생부(117), 연결커넥터(121), 스위치 블록(122), 신호단절용 스위치(123), 및 증폭-필터 회로(125)를 포함하여 구성된다.9, the component inspecting apparatus according to the present embodiment includes a housing 110, a power supply unit 111, a main board 112, a main board connector 113, a connecting cable 114, a switching power supply unit 116, A square wave generating section 117, a connection connector 121, a switch block 122, a signal disconnection switch 123, and an amplification-filter circuit 125.

하우징(110)은 하부 하우징(110a)과 상부 하우징(110b)을 포함하여 구성될 수 있다. 상부 하우징(110b)은 하부 하우징(110a)의 상부 개구부를 덮도록 마련될 수 있다.The housing 110 may include a lower housing 110a and an upper housing 110b. The upper housing 110b may be provided to cover the upper opening of the lower housing 110a.

전원장치(111)는 외부 전원(220V 등)을 받아 부품검사기의 각 구성요소에 필요한 전원을 공급한다.The power supply unit 111 receives external power (220 V or the like) and supplies power to each component of the component tester.

주기판(112)은 상부 하우징(110b) 상에 놓이는 제품(안테나 주변회로를 탑재한 회로 기판 등)(120)의 성능 및 품질을 검사하기 위한 수단 또는 이러한 수단에 상응하는 기능을 수행하는 구성부(회로부 등)를 포함하여 구성된다.The main board 112 is a component for inspecting the performance and quality of a product (such as a circuit board on which an antenna peripheral circuit is mounted) 120 placed on the upper housing 110b or a function corresponding to the means Circuit portion, etc.).

제품(120)의 커넥터는 연결커넥터(121)를 통해 주기판 커넥터(113)와 연결된다. 주기판 커넥터(113)와 연결커넥터(121)는 연결케이블(114)에 의해 서로 연결된다.The connector of the product 120 is connected to the main board connector 113 through the connector 121. [ The main board connector 113 and the connection connector 121 are connected to each other by a connection cable 114.

스위칭 전원장치(116)는 스위치 블록(122) 내 신호단절용 스위치를 포함한 다수의 스위치의 동작을 제어하고 스위치에 전원을 공급한다.The switching power supply unit 116 controls the operation of a plurality of switches including a signal break switch in the switch block 122 and supplies power to the switch.

구형파 발생부(117)는 가파른 상승 에지와 가파른 하강 에지를 가진 구형파를 생성하고 생성된 구형파를 연결케이블(114a)을 통해 제품(120) 즉 제품의 안테나 주변회로의 단자1(D1)에 인가한다.The square wave generating unit 117 generates a square wave having a steep rising edge and a steep falling edge and applies the generated square wave to the product 120 or the terminal 1 of the antenna peripheral circuit of the product through the connecting cable 114a .

연결커넥터(121) 상에는 스위치 블록(122), 신호단절용 스위치(123) 및 증폭-필터 회로(125)가 마련될 수 있다.On the connection connector 121, a switch block 122, a signal disconnection switch 123, and an amplification-filter circuit 125 may be provided.

스위치 블록(122)은 제품(12)의 성능 및 품질 검사 시에 주기판(112)의 특정 검사 회로와 제품의 특정 회로를 연결하거나 분리하도록 작동한다.The switch block 122 operates to couple or disconnect the particular circuitry of the product to and from the particular test circuitry of the main board 112 during performance and quality testing of the product 12. [

신호단절용 스위치(123)는 제품(120)의 안테나 주변회로 내 저 용량 커패시터의 일측 단자에 구형파를 인가하나 후 적어도 순간적으로 저 용량 커패시터의 일측 단자에 연결되는 회로나 케이블을 분리하도록 작동한다.The signal disconnect switch 123 operates to disconnect a circuit or cable connected to one terminal of the low capacitance capacitor at least momentarily after applying a square wave to one terminal of the low capacitance capacitor in the antenna peripheral circuit of the product 120.

증폭-필터 회로(125)는 도 7에서 언급한 제1 증폭기, 제1 저역통과필터, 제2 증폭기, 제2 저역통과필터의 조합에 대응할 수 있다.The amplifier-filter circuit 125 may correspond to a combination of the first amplifier, the first low-pass filter, the second amplifier, and the second low-pass filter mentioned in FIG.

이와 같이, 본 실시예의 부품검사기(100)는 하우징(110)의 하부에 탑재된 주기판(112), 하우징(110)의 상부에 놓이는 피검사대상인 제품(120)의 커넥터와 주기판의 커넥터를 연결하는 연결커넥터(121) 및 연결케이블(114), 연결케이블의 일단과 제품(120)의 커넥터 사이의 신호단절용 스위치(123), 신호단절용 스위치를 제어하고 구동전원을 공급하는 스위칭 전원장치(116), 제품 내 저 용량 커패시터의 일측 단자에 구형파를 인가하도록 배치되는 구형파 발생부(117), 그리고 저 용량 커패시터의 타측 단자에 각각 연결되는 저항기(도 7 참조)와 증폭-필터 회로(125)와 전술한 이들의 연결관계를 포함하여 구성될 수 있다.As described above, the component inspecting apparatus 100 according to the present embodiment includes a main board 112 mounted on the lower portion of the housing 110, and a connector 110 connecting the connector of the main board and the connector of the product 120 to be inspected placed on the upper portion of the housing 110 A signal disconnecting switch 123 between one end of the connecting cable and the connector of the product 120, a switching power supply 116 for controlling the signal disconnection switch and supplying driving power, A square wave generator 117 arranged to apply a square wave to one terminal of the low capacitance capacitor in the product, a resistor (see FIG. 7) connected to the other terminal of the low capacitance capacitor, an amplifier-filter circuit 125 And may be configured to include the above-described connection relationship.

또한, 본 실시예에 따른 부품검사기에서는, 전원장치(111), 주기판(112), 스위칭 전원장치(116) 등으로부터 발생하는 각종 잡음이 연결케이블(114) 등을 통하여 유입되어 제품(120)상에 실장된 커패시터까지 영향을 미치는 것을 방지하기 위하여, 다음의 네 가지 구성을 선택적으로 또는 조합하여 추가로 구비할 수 있다.In the component inspecting apparatus according to the present embodiment, various noises generated from the power supply unit 111, the main substrate 112, the switching power supply unit 116, etc. are introduced through the connection cable 114 and the like, It is possible to additionally provide the following four configurations selectively or in combination.

첫째, 부품검사기 내의 전원장치(111)를 금속으로 된 재질로 완전히 감싸는 차폐처리(Shielding)를 수행함으로써 전원장치(111)로부터 발생하는 잡음을 원천 차단한다.First, shielding is performed to completely enclose the power supply unit 111 in the component inspecting apparatus with a metal material, thereby shielding the noise generated from the power supply unit 111 from the source.

둘째, 연결케이블(114)의 표면을 소정의 차폐부(115)로 차폐처리하여 외부 잡음이 연결케이블(114) 내의 신호선으로 유입되는 것을 방지한다.Secondly, the surface of the connection cable 114 is shielded by a predetermined shielding portion 115 to prevent external noise from flowing into the signal line in the connection cable 114.

셋째, 스위치 블록(122) 또는 신호단절용 스위치(123)를 이용하여 커패시터 검출 시 연결케이블(114)의 신호를 전기적으로 차단한다. 연결케이블(114)의 신호를 차단하면, 연결케이블(114)에 유입된 잡음이 완전히 차단되어 커패시터 검출을 용이하게 할 수 있다.Third, the switch block 122 or the signal break switch 123 is used to electrically disconnect the signal of the connection cable 114 when the capacitor is detected. When the signal of the connection cable 114 is cut off, the noise introduced into the connection cable 114 is completely cut off, thereby facilitating the detection of the capacitor.

넷째, 부품검사기의 상부 하우징(110b)를 금속 재질로 마련함으로써 부품검사기 내 잡음이 부품검사기 상부에 놓인 제품(120)으로 유입되는 것을 차단한다.Fourth, by providing the upper housing 110b of the component inspection machine with a metal material, the noise in the component inspection machine is prevented from flowing into the product 120 placed on the component inspection machine.

전술한 실시예에 의하면, 커패시터 실장 유무를 검출하기 위한 기본적인 회로와 이 회로를 고안하기 위한 관련 수식 및 파형 등을 토대로 구성된 커패시터 검출회로를 제공할 수 있다.According to the above-described embodiment, it is possible to provide a capacitor detection circuit constructed on the basis of a basic circuit for detecting the presence or absence of a capacitor mounting, a related expression for designing this circuit, a waveform, and the like.

또한, 실제의 부품 내 저 용량 커패시터의 실장 유무를 검출하는 부품검사 장비를 제작할 경우, 고안된 커패시터 검출회로가 올바르게 동작할 수 있도록 부품검사기 내외부의 잡음을 차단하는 방안을 추가로 제공할 수 있다.In addition, when a component inspecting apparatus for detecting the actual mounting of the low-capacitance capacitor in the component is manufactured, it is possible to further provide a method for blocking the noise inside and outside the component inspecting device so that the designed capacitor detecting circuit can operate correctly.

전술한 본 발명의 설명은 예시를 위한 것이며, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.It will be understood by those of ordinary skill in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the present invention as defined by the following claims . It is therefore to be understood that the above-described embodiments are illustrative in all aspects and not restrictive.

Claims (7)

안테나 주변회로 내 특정 커패시터의 일측 단자에 구형파를 인가하고, 상기 커패시터의 타측 단자와 그라운드 사이에 연결되는 저항기의 양 단자 간 전압을 측정점의 전압으로 검출함으로써 상기 커패시터의 실장 유무를 판별하는 커패시터 검출회로.A square wave is applied to one terminal of a specific capacitor in an antenna peripheral circuit and a voltage between both terminals of a resistor connected between the other terminal of the capacitor and the ground is detected as a voltage at a measuring point, . 청구항 1에 있어서,
상기 커패시터는 용량이 1㎊ 내지 10㎊인 저 용량 커패시터이며, 상기 저항기의 저항은 1㏁ 이상인 커패시터 검출회로.
The method according to claim 1,
Wherein the capacitor is a low capacitance capacitor having a capacitance of 1 kV to 10 kV, and the resistance of the resistor is 1 MΩ or more.
청구항 2에 있어서,
상기 구형파의 상승 에지 및 하강 에지는 직각에 근접하도록 설정되는 커패시터 검출회로.
The method of claim 2,
Wherein the rising edge and the falling edge of the square wave are set to be close to a right angle.
청구항 1에 있어서,
상기 커패시터의 일측 단자와 상기 구형파를 발생시키는 구형파 발생부 사이에 마련되는 스위치를 더 포함하며, 상기 스위치는 기설정 스위칭 동작 후 오프 상태에서 상기 구형파 발생부로부터의 노이즈를 차단하는 커패시터 검출회로.
The method according to claim 1,
Further comprising a switch provided between one terminal of the capacitor and the rectangular wave generating unit for generating the rectangular wave, wherein the switch blocks noise from the rectangular wave generating unit in an off state after a predetermined switching operation.
안테나 주변회로 내 특정 커패시터의 일측 단자에 구형파를 인가하는 구형파 발생부;
상기 커패시터의 타측 단자와 그라운드 사이에 연결되는 저항기;
상기 커패시터의 타측 단자와 상기 저항기가 공통 연결되는 측정점의 전압이 입력단에 인가되는 제1 증폭기;
상기 제1 증폭기의 출력 신호를 필터링하는 제1 저역대역필터;
상기 제1 저역대역필터의 출력 신호를 증폭하는 제2 증폭기;
상기 제2 증폭기의 출력 신호를 필터링하는 제1 저역대역필터; 및
상기 제2 저역대역필터의 출력 신호를 감지하는 중앙처리장치;
를 포함하는 부품검사기.
A square wave generator for applying a square wave to one terminal of a specific capacitor in an antenna peripheral circuit;
A resistor connected between the other terminal of the capacitor and the ground;
A first amplifier to which a voltage of a measuring point to which the other terminal of the capacitor and the resistor are connected in common is applied to an input terminal;
A first low-pass filter for filtering an output signal of the first amplifier;
A second amplifier for amplifying the output signal of the first low-pass filter;
A first low band pass filter for filtering an output signal of the second amplifier; And
A central processing unit for detecting an output signal of the second low-pass filter;
And a component checker.
청구항 5에 있어서,
상기 구형파 발생부 및 전원장치가 탑재되는 부품검사기의 하우징 내외부 잡음을 차단하기 위하여 상기 커패시터의 일측 단자와 상기 구형파 발생부 사이에 마련되는 스위치를 구비한 스위치 블록을 더 포함하고,
상기 스위치는 상기 커패시터의 일측 단자에 연결되는 연결케이블의 신호를 주입하거나 순간적으로 단절시키며, 아날로그 스위치 또는 릴레이로 마련되는 부품검사기.
The method of claim 5,
Further comprising a switch block having a switch provided between one terminal of the capacitor and the rectangular wave generating unit to block noise inside and outside the housing of the component inspecting apparatus on which the rectangular wave generating unit and the power supply unit are mounted,
Wherein the switch is provided with an analog switch or a relay, which injects or momentarily disconnects a signal of a connection cable connected to one terminal of the capacitor.
청구항 6에 있어서,
상기 전원장치, 상기 구형파 발생부 및 상기 스위치 블록을 제어하고 전원을 공급하는 스위칭 전원장치 중 적어도 하나를 차폐하는 제1 차폐부를 더 포함하거나, 또는 상기 하우징의 상부 및 하부가 분리가능하게 마련될 때, 상기 안테나 주변회로를 포함한 회로 기판이 놓이는 상기 하우징 상부를 금속성 제2 차폐부를 구비한 부재로 마련하는 부품검사기.
The method of claim 6,
Further comprising a first shielding portion for shielding at least one of the power source device, the rectangular wave generating portion, and the switching power source device for controlling the switch block and supplying power, or when the upper and lower portions of the housing are detachably provided And the upper portion of the housing where the circuit board including the antenna peripheral circuit is placed is provided with a member having a metallic second shielding portion.
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