KR20150004446A - Wire harness inspection method - Google Patents

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Abstract

Disclosed is a wire harness inspection method comprising the following steps: storing a master resistance value after measuring a resistance value of wire harness which is determined to be a good wire; storing a resistance value of an inspection targeted wire harness after measuring the resistance of the inspection targeted wire harness; comparing the master resistance value and the inspection targeted resistance value to determine the same as a good device if a difference between the two is below the predetermined value or as a bad device if a difference between the two is above the predetermined value: and updating the master resistance value to be optimized in the current state using the master resistance value and the current inspection targeted resistance value, if the device is determined to be good in the previous step. According to the present invention, the reliability of the inspection of the wire harness can be increased.

Description

와이어 하네스 검사방법{WIRE HARNESS INSPECTION METHOD}{WIRE HARNESS INSPECTION METHOD}

본 발명은 와이어 하네스 검사방법에 관한 것이다. The present invention relates to a wire harness inspection method.

와이어 하네스는 다수 개의 심선을 결속하고, 결속된 심선의 양단에 접촉단자를 결합한 물건이다. 와이어 하네스는 전기적인 장치들이 밀집되는 자동차, 가전제품 등 전기 기기의 전기 배선으로 사용될 수 있다.A wire harness is a thing that binds a plurality of core wires and connects contact terminals to both ends of the core wire. The wire harness can be used for electric wiring of electric devices such as automobiles and household appliances in which electric devices are concentrated.

상기 와이어 하네스는 여러 개의 심선 중 하나에 단선 등의 불량이 발생할 수가 있다. 이들 불량 와이어 하네스가 전기 기기에 장착되는 경우에는, 일부 심선을 통한 과전류 또는 순간적인 과부하에 의해서 단선되는 문제가 발생할 수 있고, 이로 인하여 타 장치에 오동작을 일으킬 수 있다. 나아가서, 불량 와이어 하네스에 의하여 심한 경우에는 누전으로 인하여 화재가 발생할 수도 있다. 또한, 상기 와이어 하네스는 여러 개의 심선 중 하나에 단선 등 불량이 발생할 경우에 고장 난 심선을 찾아내서 복구하기가 어렵다. 또한, 불량 와이어 하네스가 자동차 또는 가전제품 등과 같은 제품에 장착된 후 와이어 하네스의 일부가 몰딩처리 되는 경우에는, 고장의 원인을 찾아내기가 어렵고, 고장의 원인을 찾았다 하더라고 교체가 어려워 복구가 불가능하다. 따라서, 와이어 하네스를 포함하는 전체 전기 블록을 교체해야 하는 문제점이 있다. In the wire harness, defects such as disconnection may occur in one of a plurality of core wires. When these defective wire harnesses are mounted on an electric device, there is a problem that they are disconnected due to over current or momentary overload through some core wires, which may cause malfunctions in other devices. Furthermore, in the event of severe wire harness failure, a short circuit may cause a fire. Further, in the wire harness, it is difficult to find and repair a faulty core wire when a defect such as a broken wire occurs in one of several core wires. Further, in the case where the defective wire harness is molded in a part of the wire harness after being mounted on a product such as an automobile or an electric appliance, it is difficult to find the cause of the failure, and even if the cause of the failure is found, . Therefore, there is a problem that the entire electrical block including the wire harness must be replaced.

이러한 이유로 인하여, 와이어 하네스의 업계에서는 불량 와이어 하네스를 판단하기 위한 출하 전 검사가 까다롭게 이루어진다. 상기 출하 전 검사로는 일반적으로 도통검사를 수행하여 통전이 수행되는 와이어 하네스에 대하여 양품판정을 한다. 그러나, 통전이 잘 이루어지는 지의 여부만으로는 양품인지 불량품인지의 여부를 정확하게 판정할 수 없는 문제점이 있다. 특히, 일부단선 등의 문제는 통전의 여부에 거의 영향을 주지 않으므로 판단해 낼 수 없는 문제점이 있다. For this reason, in the wire harness industry, pre-shipment inspection to determine a defective wire harness is tricky. In the pre-shipment inspection, conduction inspection is generally performed to determine good products for the wire harness to be energized. However, there is a problem in that it can not be accurately judged whether the product is a good product or a defective product only by whether or not the energization is performed well. Particularly, there is a problem that some problems such as disconnection can not be judged because it hardly affects whether power is supplied or not.

이러한 문제점을 극복할 수 있도록, 상기 와이어 하네스의 양품/불량품의 판정을 정확하게 수행하기 위한 방법으로, 대한민국공개특허 2001-0018451 '와이어 하네스 시험방법 및 이를 수행하는 시스템'이 제시된 바가 있다. 상기 종래 특허는, 도통검사를 통과한 와이어 하네스에 대하여, 다시금 전원을 인가하여 전압강하량에 대한 측정검사를 수행한다. 상기 전압강하검사의 수행결과, 전압강하량이 설정된 범위를 벗어나면 심선에 단선이 일어난 것으로서 불량으로 판정하는 검사방법이 개시되어 있다. 그러나, 이들 방법도 불량 와이어 하네스를 정확하게 판정하지는 못하였다. 이는 다수의 심선 중에서 아주 적은 일부의 심선 만이 단선되는 등의 불량이 있을 때에는 저항의 차이가 미세하기 때문에 전압강하량으로는 이를 알아내기가 어렵기 때문인 것이 일 요인인 것으로 사료된다. 그러나, 그에 그치지 않고, 정밀한 전압강하량 측정기기를 사용하여도 문제가 있는 와이어 하네스를 완벽하게 구분해 내지 못하는 것을 확인할 수 있다. 따라서, 그 외의 다른 요인도 작용할 것으로 사료된다. In order to overcome such a problem, Korean Patent Laid-Open Publication No. 2001-0018451 " Wire harness test method and system for performing this " has been proposed as a method for accurately determining the good / defective wire harness. In the above-described conventional patent, a power supply is applied to a wire harness that has passed the continuity test, and a measurement test for the voltage drop amount is performed. As a result of the voltage drop test, if the voltage drop is out of the set range, it is determined that the wire is broken and the wire is broken. However, these methods also failed to accurately determine the defective wire harness. This is due to the fact that it is difficult to find out the voltage drop due to the small difference in resistance when there are defects such as only a small number of core wires being disconnected among a plurality of core wires. However, it can be seen that even if a precise voltage drop measuring device is used, the problematic wire harness can not be completely distinguished. Therefore, other factors will also work.

본 발명은 상기되는 배경 하에서, 정밀한 기기를 사용하더라도 불량인 와이어 하네스를 완벽히 검사해 낼 수 없는 이유를 연구하고, 이를 극복할 수 있는 방법 및 장치를 제안한다. Under the above-mentioned background, the present invention is to investigate the reason why a defective wire harness can not be completely inspected even if a precise device is used, and a method and apparatus for overcoming this problem are proposed.

공개특허 2001-0018451 와이어 하네스 시험방법 및 이를 수행하는 시스템Patent Document 1: Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-0018451 Test Method for Wire Harness and System Performing the Same

본 발명의 발명자는, 아주 적은 일부의 심선이 단선되거나 일부의 심선에 대한 접촉단자에 문제가 있는 경우에도, 이를 정확히 파악하여 불량인 와이어 하네스를 검사할 수 있는 와이어 하네스 검사방법을 제안한다. The inventor of the present invention proposes a wire harness inspecting method capable of accurately inspecting a wire harness that is defective even when a small number of core wires are broken or a contact terminal for a part of core wires is troubled.

본 발명에 따른 와이어 하네스 검사방법은, 양품인 와이어 하네스의 저항을 측정하여 마스터 저항값을 저장하는 것; 검사대상인 와이어 하네스의 저항을 측정하여 검사대상 저항값을 저장하는 것; 상기 마스터 저항값과 상기 검사대상 저항값을 비교하여, 그 차이값이 미리 설정된 설정값 미만이면 양품으로, 그렇지 않으면 불량품으로 판단하는 것; 및 양품/불량품의 판단단계에서 양품인 경우에는, 현재의 상기 검사대상 저항값과 상기 마스터 저항값을 이용하여, 상기 마스터 저항값을 현재상태에 적합하도록 업데이트하는 것이 포함된다. 이로써, 외부여건에 따라 저항값의 변화를 적극적으로 반영하여 와이어 하네스의 양품/불량품의 여부를 판단할 수 있고, 판정의 정확도가 향상되는 효과를 얻을 수 있다.The wire harness inspection method according to the present invention includes the steps of: measuring a resistance of a wire harness as a good product to store a master resistance value; Measuring the resistance of the wire harness to be inspected and storing the resistance value to be inspected; Comparing the master resistance value and the inspection target resistance value, and judging the difference as a good product if the difference value is less than a preset value; And updating the master resistance value to match the current state by using the current inspection target resistance value and the master resistance value when the product is good at the determination step of the good product / defective product. Thus, it is possible to judge whether the wire harness is good or defective by positively reflecting the change of the resistance value according to the external condition, and the accuracy of the determination can be improved.

여기서, 와이어 하네스의 검사횟수 또는 검사시간이 임계치를 넘는 경우에는, 양품인 와이어 하네스의 저항을 측정하여 상기 마스터 저항값을 새로이 저장할 수 있고, 업데이트되는 마스터 저항값은 양품으로 판정되는 와이어 하네스의 저항값의 평균을 취할 수 있다. 동일하게, 상기 양품/불량품의 판단단계에서 불량품으로 판정되는 경우에는 상기 마스터 저항값을 업데이트하는 데 이용되지 않도록 할 수 있다. Here, when the number of inspections or the inspecting time of the wire harness exceeds the threshold value, it is possible to newly store the master resistance value by measuring the resistance of the wire harness which is a good product, and the updated master resistance value is the resistance of the wire harness The average of the values can be taken. Likewise, when it is determined that the product is defective at the step of determining the good product / defective product, it may not be used to update the master resistance value.

여기서, 상기 설정값은 조작이 가능하도록 하여, 양품판정의 엄밀도를 조절할 수 있다. 이로써, 고객이 요청하는 기준을 맞출 수 있다. Here, the set value can be manipulated, and the strictness of the good quality judgment can be adjusted. This allows us to meet customer-requested standards.

한편, 상기 업데이트 된 마스터 저항값은, 양품으로 판정되어 온 누적된 와이어 하네스의 저항값의 변화경향을 분석하여 수치모델링으로 얻을 수도 있다. 물론, 마스터 저항값을 새로이 알아내는 방식이 이에 제한된다고 할 수는 없다. 다만, 현재 측정되어 양품으로 판정되는 와이어 하네스의 저항값이 마스터 저항값을 업데이트하는 정보로서 사용되고, 이로써, 현재의 측정 조건에 맞추어진 최적의 마스터 저항값이 얻어지도록 할 수 있다. On the other hand, the updated master resistance value may be obtained by numerical modeling by analyzing the tendency of the resistance value of the accumulated wire harness which has been judged as good goods. Of course, there is no limit to the way in which a new master resistance value is determined. However, the resistance value of the wire harness which is currently measured and judged to be good is used as information for updating the master resistance value, so that an optimum master resistance value adapted to the current measurement condition can be obtained.

본 발명에 따르면, 와이어 하네스의 양품/불량품 판정의 신뢰성을 높일 수 있고, 이로써, 와이어 하네스가 채용되는 전기기기의 고장을 방지하는 효과가 있다. According to the present invention, it is possible to enhance the reliability of the determination of good / defective products of the wire harness, thereby preventing the failure of the electric device in which the wire harness is employed.

도 1은 실시예에 따른 와이어 하네스 검사방법을 설명하는 흐름도이다. 1 is a flowchart for explaining a wire harness inspection method according to an embodiment.

본 발명자는 정밀한 검사장치를 사용하더라도 와이어 하네스의 양/불량을 판정할 수 없었던 이유를 연구한 결과, 주변환경에 따른 저항값의 변화, 시험기 자체의 내부저항, 및 검사장치와 와이어 하네스 간의 접촉저항변화가, 동일한 와이어 하네스에 대하여도 미세한 저항의 오차를 일으키고, 전압강하량에 대한 오류를 야기하는 원인인 것을 알아내었다. The inventors of the present invention have studied the reason why the wire harness can not be judged whether or not the wire harness can be judged even when a precise inspection apparatus is used. As a result, it has been found that the change of the resistance value depending on the surrounding environment, the internal resistance of the tester itself, It has been found that the change causes a small resistance error even for the same wire harness and causes an error in the voltage drop amount.

더 구체적으로 그 이유를 설명한다.More specifically, explain why.

첫번째는 환경변화에 의한 저항값의 변화이다. 검사자는 실내에서 와이어 하네스 검사장치를 사용하지만, 계절 변화, 하루 중 시간 변화, 날씨 변화 등에 따라서, 온도/습도 등의 환경 변화가 생기게 된다. 그리고, 이는 검사장치의 내부회로의 미세 저항의 변화로 나타나게 되고, 이는 측정하고 하는 저항값의 변화로 나타나게 된다. 결국, 환경의 변화에 따라서 미세하지만 측정된 저항값의 오류로서 발생하게 되는 것이다. The first is the change in resistance due to environmental changes. The inspector uses a wire harness inspecting device indoors, but environmental changes such as temperature / humidity are caused due to seasonal changes, time changes during the day, and weather changes. This is caused by a change in the fine resistance of the internal circuit of the inspection apparatus, which is caused by a change in the resistance value to be measured. As a result, it occurs as an error of the measured resistance value although it is fine according to the change of the environment.

두번째는 검사장치 내부의 저항/오차이다. 검사장치 내부에는 반도체 부품과 패턴, 전자회로, 측정단자, 및 프로브 등이 포함되어 있고, 측정하고자 하는 와이어 하네스의 저항값의 오차로 나타나게 된다.The second is the resistance / error inside the test equipment. Inside the inspection apparatus, semiconductor components and patterns, electronic circuits, measurement terminals, and probes are included, and the resistance value of the wire harness to be measured appears as an error.

세번째는 커넥터의 접촉저항이다. 와이어 하네스의 검사과정은 다음과 같이 수행된다. 먼저, 검사자가 검사장치에 부착된 커넥터에 시험하고자 하는 와이어 하네스를 장착하고, 그 이후에 전원을 인가하여 측정값을 결과값으로서 확인하는 과정이다. 그런데, 하루에 수천 개 이상의 와이어 하네스를 시험하는데, 이때 접촉부에서 발생하는 접촉저항은 사용자가 하네스를 검사하는 방법에 따라 차이가 생길 수 있다. 또한, 수만 회 이상 반복 측정된 커넥터는 초기 커넥터에 비하여 느슨하게 되는데, 이때 측정한 저항값은 초기 측정한 값에 비해 미세하지만 차이를 보이게 된다. 이런 미세한 저항값의 차이는 작은 저항값의 차이를 양품과 불량품의 검출에는 결과를 틀리게 할 수 있는 오차로서 작용한다. The third is the contact resistance of the connector. The inspection process of the wire harness is performed as follows. First, the inspector attaches the wire harness to be tested to a connector attached to the inspection apparatus, and then applies power to confirm the measured value as a resultant value. By the way, in the test of more than a thousand wire harnesses per day, the contact resistance occurring at the contact part may differ depending on how the user inspects the harness. Also, a connector that is repeatedly measured over tens of thousands of times will become looser than the initial connector, where the measured resistance value is finer than the initial measured value, but shows a difference. The difference in the small resistance value serves as a difference in the small resistance value which can cause a difference in the detection of the good product and the defective product.

발명자는 상기되는 배경하에서 본 발명을 하기에 이르렀으며, 외부환경의 변화에 영향을 받지 않고 와이어 하네스를 검사할 수 있고, 와이어 하네스 검사장치의 커넥터 부분의 변화에 대하여 영향을 받지 않으면서 검사할 수 있고, 와이어 검사장치의 내부 상태가 변하더라도 검사할 수 있다. 따라서, 정확하게 와이어 하네스의 양품/불량품을 판단할 수 있는 와이어 하네스 검사방법을 제안한다. The inventor has arrived at the present invention under the background described above and can examine the wire harness without being affected by the change of the external environment and can examine the wire harness without being affected by the change of the connector portion of the wire harness inspection apparatus And can be inspected even if the internal state of the wire inspection apparatus changes. Therefore, a wire harness inspection method capable of accurately determining good / defective wire harnesses is proposed.

이하에서는 도면을 참조하여 본 발명의 구체적인 실시예를 상세하게 설명한다. 한편, 이하의 설명에서는 저항값을 측정하는 것으로 설명이 되어 있으나, 전압강하량을 측정하는 것과 마찬가지인 것은 오옴의 법칙에 의해서 이해될 수 있을 것이다. Hereinafter, specific embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. On the other hand, in the following description, it is described that the resistance value is measured, but the same thing as the measurement of the voltage drop amount can be understood by the Ohm's law.

도 1은 실시예에 따른 와이어 하네스 검사방법을 설명하는 흐름도이다. 1 is a flowchart for explaining a wire harness inspection method according to an embodiment.

먼저, 양품으로 알려져 있는 와이어 하네스의 저항값을 와이어 하네스 검사장치로 측정한다. 그리고, 측정된 저항값을 마스터 저항값으로서 저장한다(S1). 이때 와이어 하네스 검사장치로 저항값을 측정하는 방식은 4단자 캘빈 컨택 프로브(kelvin contact probe)방식을 적용할 수 있다. 이로써, 와이어 하네스 검사장치의 내부 저항에 의한 영향을 최소화시킬 수 있다. First, the resistance value of the wire harness known as good is measured by a wire harness inspection apparatus. Then, the measured resistance value is stored as the master resistance value (S1). At this time, the 4-terminal Kelvin contact probe method can be applied to the method of measuring the resistance value by the wire harness inspection device. Thereby, the influence of the internal resistance of the wire harness inspecting apparatus can be minimized.

검사대상이 되는 와이어 하네스의 저항값을 동일한 와이어 하네스 검사장치로 측정한다. 그리고, 측정된 저항값을 검사대상 저항값으로서 저장한다(S2). 이때, 검사대상이 되는 와이어 하네스는 마스터 저항값 측정단계(S1)의 와이어 하네스와 동종의 와이어 하네스이다. The resistance value of the wire harness to be inspected is measured by the same wire harness inspection apparatus. Then, the measured resistance value is stored as the inspection target resistance value (S2). At this time, the wire harness to be inspected is a wire harness of the same kind as the wire harness of the master resistance value measuring step (S1).

다음으로, 상기 검사대상 저항값과 상기 마스터 저항값을 비교하여 그 차이값, 즉 편차에 따라서, 현재 검사대상인 와이어 하네스가 양품인지 불량품인지의 여부를 판단한다(S3). 상기 차이값이 일정값보다 크면 현재 검사대상인 와이어 하네스는 불량품이고, 상기 차이값이 일정값보다 작으면 현재 검사대상인 와이어 하네스는 양품으로 판정할 수 있다. 상기 차이값은 절대값을 취하여 판정할 수 있다. Next, the resistance value to be inspected is compared with the master resistance value, and it is determined whether the current wire harness to be inspected is a good product or a defective product according to the difference, that is, the deviation (S3). If the difference value is larger than a predetermined value, the wire harness to be inspected is a defective product, and if the difference is smaller than a predetermined value, the wire harness to be inspected can be determined to be defective. The difference value can be determined by taking an absolute value.

상기 차이값에 대하여 더 상세하게 설명한다. 표 1은 11개의 심선으로 만들어진 와이어 하네스에서, 단선되는 심선의 개수에 따라서 저항값(전압강하량으로 표현된다)의 변화를 측정한 것이다. The difference value will be described in more detail. Table 1 shows the change in resistance value (expressed as a voltage drop) according to the number of disconnection cores in a wire harness made of 11 cores.

단선 개수Number of breaks 측정값
[V]
Measures
[V]
양품 와이어와 편차[mV]Good wire and deviation [mV] 양품 와이어와 편차[%]Good wire and deviation [%] 비 고Remarks
0(양품)0 (good) 0.1630.163 00 00 1One 0.1660.166 33 0.30.3 22 0.1690.169 66 0.60.6 33 0.1690.169 66 0.60.6 44 0.1730.173 1010 1One 55 0.1790.179 1616 1.61.6 판정가능Can be judged 66 0.1850.185 2222 2.22.2 77 0.1950.195 3232 3.23.2 88 0.1920.192 2929 2.92.9 99 0.2210.221 5858 5.85.8 1010 0.2630.263 100100 1010 1111 단선monorail

먼저, 단선의 개수가 10개로서 하나의 심선이 제대로 동작하는 경우에도, 모든 심선이 연결되어 있는 경우에 비하여 10%정도밖에 전압강하가 일어나지 않는 것을 볼 수 있다. 이로써, 통전의 여부만으로 와이어 하네스의 양/불량을 판단하는 것의 어려움을 알 수 있다. 또한, 단선된 심선이 개수가 4개에 이르기까지는 단선 하나당 0.3% 내외에 지나지 않는 전압강하가 일어나는 것을 볼 수 있다. 이로써, 미세한 측정 저항값의 오차가 와이어 하네스의 양/불량의 여부를 제대로 판정하기 어려운 것을 알 수 있다. 이에 반하여 실시예에 따르면 정확하게 판단할 수 있다. First, the number of disconnection is 10, so that even if one core works properly, it can be seen that only about 10% of the voltage drop does not occur when all the core wires are connected. As a result, it can be seen that it is difficult to judge the quantity / defect of the wire harness only by the power supply. Also, until the number of disconnected core wires reaches four, a voltage drop of only about 0.3% per single wire occurs. Thus, it can be seen that it is difficult to accurately judge whether the error in the measured resistance value is a positive / negative value of the wire harness. On the other hand, according to the embodiment, it can be judged accurately.

산업적으로는 단선의 개수가 5개 정도인 경우라도, 그 와이어 하네스는 전기기기에 적용되어 문제없이 사용될 수 있는 것으로 알려져 있다. 따라서, 실시예에서는 5개 정도를 기준으로 양품인지 불량품인지를 판단하는 것으로 한다. 그러나, 엄정한 전기기기의 경우에는 엄격한 기준이 필요한 경우가 있을 수 있는데, 이를 위하여 본 발명에서는 단선의 개수가 한 개 또는 두 개의 경우도 판단할 수 있는 것은 물론이다. Even when the number of disconnection lines is about 5 in industry, it is known that the wire harness can be applied to electric devices and used without problems. Therefore, in the embodiment, it is determined whether the product is a good product or a defective product based on about five products. However, in the case of a strict electric device, there may be a case where strict criteria are required. For this purpose, it is needless to say that the number of disconnection may be one or two.

상기 차이값이 16mV이상인 경우에는 불량품으로 판정하고 16mV미만인 경우에는 양품으로 판정할 수 있을 것이다. 상기 차이값은 검사대상 와이어 하네스의 저항값을 측정하기 전에 언제라도 작업자에 의해서 설정될 수 있을 것이다. 상기 차이값이 아니라 단선된 심선의 개수를 입력해 놓을 수도 있을 것이다. 상기 저항값은 소비자의 니즈에 따라서 결정될 수 있다. When the difference value is 16 mV or more, it is determined to be a defective product, and when it is less than 16 mV, it can be judged to be a good product. The difference value may be set by the operator at any time before measuring the resistance value of the wire harness to be inspected. The number of disconnected core wires may be input instead of the difference value. The resistance value may be determined according to the needs of the consumer.

상기 양품판단단계(S3)에서 현재 와이어 하네스의 차이값이 16mV이상인 경우에는, 현재 검사대상인 와이어 하네스를 불량품으로 판정하고 수리/폐기 등의 절차를 수행하고, 새로운 와이어 하네스를 와이어 하네스 검사장치에 장착한다(S7)If the current wire harness difference value is greater than or equal to 16 mV in the good quality determination step (S3), the wire harness to be inspected is determined to be a defective product, the repair / disposal procedure is performed, and a new wire harness is mounted on the wire harness inspection apparatus (S7)

상기 양품판단단계(S3)에서 현재 와이어 하네스의 차이값이 16mV미만인 경우에는, 현재 와이어 하네스를 양품으로 판정하고 포장 등의 작업을 수행하고, 마스터 저항값을 업데이트한다(S4). If the difference value of the current wire harness is less than 16 mV in the good quality determination step (S3), the wire harness is judged to be good, the work such as packaging is performed, and the master resistance value is updated (S4).

상기 마스터 저항값의 업데이트 과정은 다음과 같다. 기존의 마스터 저항값에 현재 양품으로 판정된 와이어 하네스의 저항값을 더하고 그 평균값을 새로운 마스터 저항값으로 저장한다. 수학식으로 표현하면 하기되는 수학식 1과 같다.The process of updating the master resistance value is as follows. The resistance value of the wire harness determined as the current good article is added to the existing master resistance value, and the average value is stored as a new master resistance value. (1) " (1) "

Figure pat00001
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여기서, Rmaster - new는 업데이트되는 새로운 마스터 저항값, Rmaster - old는 기존의 마스터 저항값, n은 검사횟수이고, Rpresent는 현재 측정된 와이어 하네스의 저항값이다. Where R master - new is the new master resistance value to be updated, R master - old is the existing master resistance value, n is the number of tests, and R present is the resistance value of the currently measured wire harness.

상기 n은 검사횟수로서, 기존의 마스터 저항값을 얻기까지 더하여진 양품 와이어 하네스의 개수에 대한 가중치를 부여하기 위한 것이다. The number n is the number of inspections to give a weight to the number of good-quality wire harnesses added until the existing master resistance value is obtained.

상기되는 방식에 의해서 마스터 저항값이 현재 상태를 따라서 변경되도록 한다. 상세하게, 외부환경이 변함으로 인하여 측정되는 저항값이 전체적으로 변하는 경우에는, 마스터 저항값이 그에 따라서 추종해 갈 수 있다. 예를 들어, 외부 환경이 변하여 단선이 하나도 없이 고장이 없는 와이어 하네스에 있어서 그 저항값에 의한 전압강하가 표 1을 기준으로 할 때 0.185V로 변하는 경우에도, 이를 반영하여 마스터 저항값을 변경시켜 나갈 수 있다. 이때 상기 차이값은 변하지 않고 그대로 놓아둘 수도 있고, 스케일링을 통하여 일정수준으로 변경시킬 수도 있다.The master resistance value is changed according to the current state by the above-described method. Specifically, when the resistance value measured due to the change of the external environment totally changes, the master resistance value can be tracked accordingly. For example, even when the voltage drop due to the resistance value changes to 0.185 V based on Table 1 in a wire harness in which no external breakdown occurs and no breakage occurs, the master resistance value is changed I can go out. At this time, the difference value may be left unchanged or may be changed to a certain level through scaling.

또한, 와이어 하네스 검사장치의 커넥터의 저항값이 변하는 경우에도, 외부 환경이 변하는 것과 마찬가지로 이를 반영하여 마스터 저항값을 추종시킬 수 있다. 따라서, 와이어 하네스가 양품인지 불량품인지의 여부를 올바르게 판정할 수 있다. 뿐만 아니라, 캘빈 컨택 프로브를 사용할 뿐 아니라, 동일한 와이어 하네스 검사장치를 사용하므로 검사장치의 내부저항에 의한 검사오류는 방지할 수 있다. Also, even when the resistance value of the connector of the wire harness inspecting apparatus changes, the master resistance value can be tracked in a manner similar to the change of the external environment. Therefore, it is possible to correctly determine whether the wire harness is good or defective. In addition, since the same wire harness inspecting apparatus is used as well as the Calvin contact probe, inspection errors due to the internal resistance of the inspecting apparatus can be prevented.

한편, 와이어 하네스의 경우에, 심선이 단선되는 경우는 거의 발생하지 않는 경우로서, 대다수의 와이어 하네스는 단선이 하나도 없는 상태이다. 따라서, 약간 수의 단선에 의해서 마스터 저항값이 요동치는 경우는 거의 발생하지 않는다. 오히려, 외부환경이나 커넥터의 상태에 따라서 점진적으로 마스터 저항값이 실제 외부 환경 및 검사장치의 환경에 추종해 나갈 수 있도록 하는 효과가 있다. 또한, 불량으로 판단되는 와이어 하네스는 상기 마스터 저항값의 변화에 영향을 미치지 않으므로 마스터 저항값은 외부환경/검사장치/커넥터에만 영향을 받아서 변해나갈 수 있다. On the other hand, in the case of the wire harness, a case where the core wire is hardly disconnected does not occur, and a majority of the wire harness is in a state where no disconnection occurs. Therefore, the master resistance value is hardly oscillated by a small number of disconnection. Rather, there is an effect that the master resistance value can gradually follow the environment of the actual external environment and the inspection apparatus according to the external environment or the state of the connector. Also, since the wire harness determined to be defective has no influence on the change in the master resistance value, the master resistance value can be influenced only by the external environment / inspection apparatus / connector.

한편, 검사된 와이어 하네스의 수가 늘어감에 따라서 마스터 저항값이 틀려질 수도 있다. 예를 들어, 하루의 기온이 하루를 단위로 주기적으로 변하는 등의 변화가 있을 수 있으므로, 그에 맞추어서 누적된 마스터 저항값이 틀려질 수 있는 것이다. 이때 마스터 저항값을 새로이 측정하도록 할 수 있다. 다시 말하면, 예를 들어, 연속적으로 검사된 와이어 하네스의 수가 2,000개를 넘어서는 경우, 또는 연속동작시간이 2시간을 넘어서는 등, 임계치를 넘어서는 지를 판단한다(S5). 현재 상태가 임계치를 넘어서는 것으로 판단되는 경우에는, 마스터 저항값을 측정하는 단계(S1)로 되돌아 간다. 마스터 저항값이 새로이 저장되는 것은 용이하게 짐작될 것이다. On the other hand, as the number of wire harnesses inspected increases, the master resistance value may be different. For example, there may be a change such as a day's temperature periodically changing in units of a day, so that the accumulated master resistance value may be different. At this time, the master resistance value can be newly measured. In other words, it is judged whether the number of continuously inspected wire harness exceeds 2,000, or whether the continuous operation time exceeds 2 hours, for example, exceeding the threshold value (S5). If it is determined that the current state exceeds the threshold value, the process returns to step S1 of measuring the master resistance value. It will be easily guessed that the master resistance value is newly stored.

상기 임계치 여부의 판단단계(S5) 이후에는, 검사를 종료할 지의 여부를 판단하여(S6), 계속하여 수행하는 경우에는, 검사대상 와이어 하네스를 새로이 로드한다(S2). After the step of determining whether or not the threshold value is determined (S5), it is determined whether the inspection is to be terminated (S6). If the determination is to be continued, a wire harness to be inspected is newly loaded (S2).

본 발명은 상기되는 실시예 외에 다른 실시예를 더 가질 수 있다. 예를 들어, 마스터 저항값을 업데이트 하는 방식은 일 예에 지나지 않는다. 예를 들어, 양품으로 판정되고 누적되어 온 지금까지의 와이어 하네스의 저항값의 변화경향을 분석하여 수치모델링으로 업데이트 될 마스터 저항값을 구할 수도 있다. 이때에는 단선이 하나도 없는 와이어 하네스만을 이용할 수 있도록, 일정 시간을 단위로 그 시간 안에서 전압강하가 가장 낮은 값만을 취하여, 양품인 와이어 하네스만을 선택하여 취할 수도 있다. The present invention may have other embodiments other than the above-described embodiments. For example, the method of updating the master resistance value is only one example. For example, the master resistance value to be updated by the numerical modeling may be obtained by analyzing the tendency of the resistance value of the wire harness to be so far determined and accumulated as a good product. In this case, only the wire harness of good quality can be selected by taking only the lowest value of the voltage drop within a certain period of time, so that only the wire harness without any single wire can be used.

본 발명에 따르면, 와이어 하네스의 양품/불량품의 판정을 더 신뢰성있게 수행할 수 있다. 이로써, 와이어 하네스가 채용되는 전기기기의 고장을 방지할 수 있는 것도 물론이다. According to the present invention, it is possible to more reliably determine whether the wire harness is good or defective. Thus, it is needless to say that the failure of the electric device in which the wire harness is employed can be prevented.

Claims (7)

양품인 와이어 하네스의 저항을 측정하여 마스터 저항값을 저장하는 것;
검사대상인 와이어 하네스의 저항을 측정하여 검사대상 저항값을 저장하는 것;
상기 마스터 저항값과 상기 검사대상 저항값을 비교하여, 그 차이값이 미리 설정된 설정값 미만이면 양품으로, 그렇지 않으면 불량품으로 판단하는 것; 및
양품/불량품의 판단단계에서 양품인 경우에는, 현재의 상기 검사대상 저항값과 상기 마스터 저항값을 이용하여, 상기 마스터 저항값을 현재상태에 적합하도록 업데이트하는 것이 포함되는 와이어 하네스 검사방법.
Measuring the resistance of a good wire harness and storing the master resistance value;
Measuring the resistance of the wire harness to be inspected and storing the resistance value to be inspected;
Comparing the master resistance value and the inspection target resistance value, and judging the difference as a good product if the difference value is less than a preset value; And
And updating the master resistance value to match the current state by using the current resistance value to be inspected and the master resistance value when the product is defective at the determination step of the good product or defective product.
제 1 항에 있어서,
검사횟수 또는 검사시간이 임계치를 넘는 경우에는, 양품인 와이어 하네스의 저항을 측정하여 상기 마스터 저항값을 새로이 저장하는 와이어 하네스 검사방법.
The method according to claim 1,
And when the number of inspections or the inspecting time exceeds the threshold value, the resistance of the good wire harness is measured to newly store the master resistance value.
제 1 항에 있어서,
업데이트되는 마스터 저항값은, 양품으로 판정되는 와이어 하네스의 저항값의 평균인 와이어 하네스 검사방법.
The method according to claim 1,
Wherein the master resistance value to be updated is an average of the resistance value of the wire harness determined as a good product.
제 1 항에 있어서,
상기 설정값은 조작이 가능한 와이어 하네스 검사방법.
The method according to claim 1,
Wherein the set value is operable.
제 1 항에 있어서,
상기 양품/불량품의 판단단계에서 불량품으로 판정되는 경우에는 상기 마스터 저항값을 업데이트하는 데 이용되지 않는 와이어 하네스 검사방법.
The method according to claim 1,
And when the defective product is judged to be a defective product in the step of judging the good / defective product, it is not used to update the master resistance value.
제 1 항에 있어서,
상기 업데이트 된 마스터 저항값은, 양품으로 판정되어 온 누적된 와이어 하네스의 저항값의 변화경향을 분석하여 수치모델링으로 얻어지는 와이어 하네스 검사방법.
The method according to claim 1,
Wherein the updated master resistance value is obtained by numerical modeling by analyzing a tendency of the resistance value of the accumulated wire harness which has been determined to be good goods.
제 1 항에 있어서,
상기 와이어 하네스의 저항값을 측정하는 방식은 4단자 캘빈 컨택 프로브 방식이 적용되는 와이어 하네스 검사방법.
The method according to claim 1,
A method of measuring the resistance value of the wire harness is a 4-terminal Calvin contact probe method.
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Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0645270Y2 (en) * 1988-06-13 1994-11-16 日新電機株式会社 Insulation resistance measuring device
KR100310971B1 (en) * 1999-08-19 2001-10-18 엄병윤 method for testing a wire harness and system for performming the same
KR20000054516A (en) * 2000-06-09 2000-09-05 주도식 Method for Editing Circuit of Wiring Harness, and Multi Functional System for Testing Erroneous Wiring of Wiring Harness and Method thereof Using the Same
KR101304800B1 (en) * 2011-05-23 2013-09-05 단암시스템즈 주식회사 Apparatus and method to detect default of cable for aircraft controlling apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104614637A (en) * 2015-02-28 2015-05-13 苏州路之遥科技股份有限公司 Microcomputer self-learning method of intelligent wire harness tester

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