KR20140146597A - 용량형 터치 컨트롤러 및 제스처 검출 디바이스 사이에서 전극들을 공유하기 위한 시스템 및 방법 - Google Patents

용량형 터치 컨트롤러 및 제스처 검출 디바이스 사이에서 전극들을 공유하기 위한 시스템 및 방법 Download PDF

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Abstract

시스템은, 터치 컨트롤러; 제스처 검출 디바이스; 및 적어도 하나의 제 1 전극 및 적어도 하나의 제 2 전극을 갖는 용량형 센서 - 상기 적어도 하나의 제 1 전극은 AC 신호를 상기 제 1 전극에 공급하기 위한 제어 가능한 발생기와 결합됨 - 를 포함할 수 있다. 게다가, 상기 적어도 하나의 제 2 전극, 상기 터치 컨트롤러의 입력부 및 상기 제스처 검출 디바이스의 입력부 사이에 구성 가능한 결합부가 제공되며, 상기 결합부는 상기 시스템이 제 1 구성 모드에서는 상기 터치 컨트롤러에 의해 상기 제 2 전극으로부터 수신된 신호들로부터 터치 검출을 수행하고, 제 2 구성 모드에서는 상기 제스처 검출 디바이스에 의해 상기 제 2 전극으로부터 수신된 신호들로부터 제스처 검출을 수행할 수 있게 하도록 구성될 수 있다.

Description

용량형 터치 컨트롤러 및 제스처 검출 디바이스 사이에서 전극들을 공유하기 위한 시스템 및 방법{SYSTEM AND METHOD TO SHARE ELECTRODES BETWEEN CAPACITIVE TOUCH CONTROLLER AND GESTURE DETECTION DEVICE}
본 출원은 2012년 3월 12일 출원된 미국 가출원 번호 61/609,538 호의 이익을 주장하며, 상기 미국 가출원은 그 전체가 본 출원에 통합된다.
본 개시는 용량형 터치 기술에 관한 것이며, 특히 용량형 터치 컨트롤러와 전극을 공유하기 위한 시스템 및 방법에 관한 것이다.
용량형 센서들은 종종 터치 감지 시스템들에 사용된다. 이러한 시스템들에서는 사용자가 조작 패널을 터치하는 것을 필요로 하여, 시스템의 각각의 검출 회로가 이러한 터치를 감지할 수 있게 한다. 보다 진보된 시스템들은 터치하는 것을 필요로 하지 않으며, 동작 패널 위의 영역에서 이루어지는 제스처를 감지할 수 있다. 예를 들어, 예컨대 100kHz의 범위의 신호를 이용하여 전기장을 생성하고, 예컨대 센서들 위의 3차원 영역 내에서 손이나 물체에 의해 이루어지는 제스처를 결정할 수 있도록 하기 위해 이러한 전기장의 교란들을 측정하도록 설계되는 복수의 검출 전극들을 생성하는, 다양한 시스템들이 존재한다. 휴먼 인터페이스 디바이스를 형성하기 위해 시스템들이 둘 다 결합될 수 있다면, 매우 유리하다. 그러나, 센서들에 관해서는, 양 시스템들은 일반적으로 호환되지 않으므로, 따라서 종래의 시스템들에서는 결합된 터치 및 제스처 검출 시스템에 대해 별도의 센서들이 필요하다.
용량형 터치 컨트롤러 및 제스처 검출 디바이스 사이에서 전극들을 공유하기 위한 개선된 시스템 및 방법이 필요하다.
시스템은, 터치 컨트롤러; 제스처 검출 디바이스; 적어도 하나의 제 1 전극 및 적어도 하나의 제 2 전극을 갖는 용량형 센서 - 상기 적어도 하나의 제 1 전극은 AC 신호를 상기 제 1 전극에 공급하기 위한 제어 가능한 발생기와 결합됨 -; 및 상기 적어도 하나의 제 2 전극, 상기 터치 컨트롤러의 입력부 및 상기 제스처 검출 디바이스의 입력부 사이의 구성 가능한 결합부 - 상기 결합부는 상기 시스템이 제 1 구성 모드에서는 상기 터치 컨트롤러에 의해 상기 제 2 전극으로부터 수신된 신호들로부터 터치 검출을 수행하고, 제 2 구성 모드에서는 상기 제스처 검출 디바이스에 의해 상기 제 2 전극으로부터 수신된 신호들로부터 제스처 검출을 수행할 수 있게 구성될 수 있음 - 를 포함할 수 있다.
추가 실시예에 따르면, 상기 결합부는 상기 제 2 전극을 상기 터치 컨트롤러와 상기 제스처 검출 디바이스 중 어느 하나에 연결하도록 동작 가능한 스위칭 장치를 포함할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 스위칭 장치는 멀티플렉서를 포함할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 스위칭 장치는 단극 쌍투형 스위치(Single Pole Double Throw switch; SPDT)를 포함할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 시스템은 상기 터치 컨트롤러의 입력부와 그라운드 사이에 연결된 저항을 더 포함할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 시스템은 상기 저항과 결합된 전류원을 더 포함할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 시스템은 상기 제스처 검출 디바이스의 입력부와 DC 전압 사이에 연결된 저항을 더 포함할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 시스템은 상기 터치 컨트롤러와 상기 제스처 검출 디바이스 사이의 동기화 연결부를 더 포함할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 동기화 연결부는 상기 터치 컨트롤러로부터 상기 제스처 검출 디바이스에 상태를 시그널링하도록 구성된 제 1 동기화 라인, 및 상기 제스처 검출 디바이스로부터 상기 터치 컨트롤러에 상태를 시그널링하도록 구성된 제 2 동기화 라인을 포함할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 동기화 연결부는 상기 터치 컨트롤러와 상기 제스처 검출 디바이스 사이의 쌍방향 통신 인터페이스를 포함할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 쌍방향 통신 인터페이스는 I2C 인터페이스일 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 제 2 전극은 상기 터치 컨트롤러의 입력부 및 상기 제스처 검출 디바이스의 입력부와 결합될 수 있으며, 상기 터치 컨트롤러의 입력부는 상기 결합부가 상기 제 2 구성 모드에서 동작하도록 구성될 때 하이(high) 임피던스 모드로 스위칭되도록 동작 가능하고, 상기 제어 가능한 발생기는 상기 제 2 구성 모드에서 상기 AC 신호를 상기 제 1 전극에 공급한다. 추가 실시예에 따르면, 상기 시스템은 상기 터치 컨트롤러와 상기 제스처 검출 디바이스 사이의 동기화 연결부를 더 포함할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 동기화 연결부는 상기 터치 컨트롤러로부터 상기 제스처 검출 디바이스에 상태를 시그널링하도록 구성된 제 1 동기화 라인, 및 상기 제스처 검출 디바이스로부터 상기 터치 컨트롤러에 상태를 시그널링하도록 구성된 제 2 동기화 라인을 포함할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 동기화 연결부는 상기 터치 컨트롤러와 상기 제스처 검출 디바이스 사이의 쌍방향 통신 인터페이스를 포함할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 쌍방향 통신 인터페이스는 I2C 인터페이스일 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 제 2 전극은 상기 제스처 검출 디바이스의 입력부에 연결될 수 있고, 상기 결합부는 로우 오프-분리(low off-isolation) 값 및 로우 스위치-온(switch-on) 커패시턴스를 갖고 상기 제 2 전극을 상기 터치 컨트롤러에 연결시키도록 동작 가능한 단극 단투형(single pole single throw) 스위치를 포함할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 제 2 전극은 상기 터치 컨트롤러의 입력부에 연결될 수 있고, 상기 결합부는 로우 오프-분리 값 및 로우 스위치-온 커패시턴스를 갖고 상기 제 2 전극을 상기 제스처 검출 디바이스에 연결시키도록 동작 가능한 단극 단투형 스위치를 포함한다.
또 하나의 실시예에 따르면, 시스템에서 터치 및 비(non)-터치 제스처 검출을 수행하기 위한 방법으로서, 상기 시스템은 용량형 센서 디바이스의 하나의 전극과 결합되도록 구성된 터치 컨트롤러 및 비-터치 제스처 검출 디바이스를 포함하고, 상기 용량형 센서 디바이스의 또 하나의 전극은 AC 신호를 상기 또 하나의 전극에 공급하기 위한 제어 가능한 발생기와 결합되고, 상기 방법은 상기 용량형 센서의 상기 하나의 전극과, 상기 터치 컨트롤러의 입력부 또는 상기 제스처 검출 디바이스의 입력부 사이에 결합부를 구성하는 단계를 포함할 수 있고, 상기 결합부는 상기 시스템이 제 1 구성 모드에서는 상기 터치 컨트롤러에 의해 상기 제 2 전극으로부터 수신된 신호들로부터 터치 검출을 수행하고, 제 2 구성 모드에서는 상기 제스처 검출 디바이스에 의해 상기 제 2 전극으로부터 수신된 신호들로부터 제스처 검출을 수행할 수 있게 하도록 구성되고, 상기 제어 가능한 발생기는 상기 제 2 구성 모드에 있을 때 상기 AC 신호를 상기 또 하나의 전극에 공급한다.
상기 방법의 추가 실시예에 따르면, 상기 결합부는 상기 제 2 전극과 상기 터치 컨트롤러 및 상기 제스처 검출 디바이스의 입력부들 사이의 스위칭 장치를 포함할 수 있고, 상기 방법은 상기 제 1 구성 모드 동안에는 상기 제스처 검출 디바이스의 입력부로부터 상기 제 2 전극을 분리하고 상기 터치 컨트롤러와 상기 제 2 전극을 결합시키고, 상기 제 2 구성 모드 동안에는 상기 터치 컨트롤러의 입력부로부터 상기 제 2 전극을 분리하고 상기 제스처 검출 디바이스와 상기 제 2 전극을 결합시키는 단계를 더 포함할 수 있다. 상기 방법의 추가 실시예에 따르면, 상기 제 2 전극은 상기 터치 컨트롤러의 입력부 및 상기 제스처 검출 디바이스의 입력부와 결합될 수 있고, 상기 방법은 상기 제 2 구성 모드 동안에는 상기 터치 컨트롤러의 입력부를 하이 임피던스 모드로 스위칭하는 단계를 더 포함할 수 있다. 상기 방법의 추가 실시예에 따르면, 상기 방법은 상기 터치 컨트롤러와 상기 제스처 검출 디바이스 사이의 동기화 연결부를 더 포함할 수 있으며, 상기 방법은 상기 제스처 검출 디바이스 및 상기 터치 컨트롤러에 의한 각각의 검출 프로세스의 종료를 상기 동기화 연결부에 의해 서로에게 시그널링하는 단계를 더 포함한다. 상기 방법의 추가 실시예에 따르면, 상기 동기화 연결부는 상기 터치 컨트롤러로부터 상기 제스처 검출 디바이스에 상태를 시그널링하도록 구성된 제 1 동기화 라인, 및 상기 제스처 검출 디바이스로부터 상기 터치 컨트롤러에 상태를 시그널링하도록 구성된 제 2 동기화 라인을 포함할 수 있다. 상기 방법의 추가 실시예에 따르면, 상기 동기화 연결부는 상기 터치 컨트롤러와 상기 제스처 검출 디바이스 사이의 쌍방향 통신 인터페이스를 포함할 수 있다. 상기 방법의 추가 실시예에 따르면, 상기 방법은 마스터로서의 상기 제스처 검출 디바이스와 슬레이브 디바이스로서의 상기 터치 컨트롤러, 및 상기 터치 컨트롤러 내지 상기 제스처 검출 디바이스에 의해 결정되는 통신 데이터를 구성하는 단계를 더 포함할 수 있다. 상기 방법의 추가 실시예에 따르면, 상기 방법은 상기 터치 컨트롤러 및 상기 제스처 검출 디바이스에 의해 결정된 모든 데이터를 상기 제스처 검출 디바이스에 의해 상위 프로세서에 통신하는 단계를 더 포함할 수 있다. 상기 방법의 추가 실시예에 따르면, 상기 제 2 전극은 상기 제스처 검출 디바이스의 입력부에 연결될 수 있고, 상기 방법은 상기 제 1 구성 모드 동안에는, 단극 단투형 스위치를 이용하여 상기 제 2 전극을 상기 터치 컨트롤러에 연결하는 단계를 더 포함할 수 있다. 상기 방법의 추가 실시예에 따르면, 상기 제 2 전극은 상기 터치 컨트롤러의 입력부에 연결될 수 있고, 상기 방법은 상기 제 2 구성 모드 동안에는, 단극 단투형 스위치를 이용하여 상기 제 2 전극을 상기 제스처 검출 디바이스에 연결하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 개시에 따라, 용량형 터치 컨트롤러 및 제스처 검출 디바이스 사이에서 전극들을 공유하기 위한 개선된 시스템 및 방법이 제공된다.
도 1은 SPDT를 이용하여 전극들을 공유하는 시스템의 제 1 실시예를 도시한 도면이다.
도 2는 바이패스 저항들을 이용하여 성능을 향상시키는 실시예를 도시한 도면이다.
도 3은 부가적인 전류원을 이용하여 성능을 향상시키는 실시예를 도시한 도면이다.
도 4는 전극을 직접적으로 공유하는 실시예를 도시한 도면이다.
도 5는 터치 컨트롤러 측에 SPST를 적용하여 전극이 공유되는 실시예를 도시한 도면이다.
도 6은 제스처 검출 디바이스 측에 SPST를 적용하여 전극이 공유되는 실시예를 도시한 도면이다.
도 7은 타이밍도를 도시한 도면이다.
도 8은 두 개의 동기화 라인들로 동기화가 수행되는 실시예를 도시한 도면이다.
도 9는 실시예에 따른 동작 프로세스들의 흐름도들을 도시한 도면이다.
도 10은 동기화를 위해 I2C를 이용하는 또 하나의 실시예를 도시한 도면이다.
도 11은 마스터 측의 동작 프로세스의 또 하나의 흐름도를 도시한 도면이다.
도 12는 마스터의 I2C 인터럽트 루틴을 도시한 도면이다.
도 13은 슬레이브 측의 동작 프로세스의 또 하나의 흐름도를 도시한 도면이다.
도 14는 슬레이브의 I2C 인터럽트 루틴을 도시한 도면이다.
다양한 실시예들에 따르면, 제스처 검출부와 용량형 터치 컨트롤러 사이에서 전극들을 공유하기 위한 두 가지 주요 개념들과 두 가지 변형들이 제공될 수 있다. SPDT(단극 쌍투형) 멀티플렉서로 구현되는 제 1 개념은 또한 일반적으로 둘 이상의 디바이스들 사이에서 신호를 공유하기 위한 다른 경우들에 적용된다. 또 하나의 개념 및 그의 변형들은 제스처 검출 시스템에 대해 특정된다. 그들은 어떠한 디바이스의 부가도 없이 또는 하나의 SPST(단극 단투형) 스위치만으로 구현된다. 다양한 실시예들에 따르면, 제스처 검출을 위한 전극들은 저비용 해결책을 이용함으로써 용량형 터치 컨트롤러와 공유될 수 있는데, 이 해결책은 또한 정착 시간과 신호 강도의 관점에서 좋은 성능을 제공한다. 다양한 실시예들에 따르면, 상기 제스처 검출 시스템은 시간 다중화 모드에서 터치 컨트롤러와 함께 작동한다. 이것은 제스처 검출과 터치 검출이 서로 다른 시간 슬롯들에서 수행됨을 의미한다.
다음의 실시예들은 터치 컨트롤러와 제스처 검출 디바이스 사이에서 단일 전극을 공유하는 것에 관하여 논의하지만, 다른 실시예들에 따르면, 유사한 방식으로 다수의 전극들이 디바이스들 사이에서 공유될 수 있다. 터치 컨트롤러 및 제스처 검출 디바이스는 각각 집적 회로 디바이스에 구현될 수 있거나, 또는 마이크로컨트롤러 디바이스의 주변 장치를 이룰 수 있다. 더욱이, 일 실시예에 따르면, 상기 터치 컨트롤러 및 상기 제스처 검출 디바이스는 마이크로컨트롤러의 주변 장치들로서 구현될 수 있다.
일 실시예에 따르면, 터치 컨트롤러는 예를 들어 소정 손의 소정 손가락이 터치할 때 변화되는 전극의 커패시턴스를 측정할 수 있다. 이를 위해, 예를 들어 충전 시간 측정 유닛이 사용될 수 있다. 대안적으로, 상기 전극에 의해 형성된 커패시터는 터치 컨트롤러의 발진기 주파수를 변화시킬 수 있다. 전극을 터치 센서로서 이용하는 터치 컨트롤러들의 다른 실시예들이 적용될 수 있다.
제스처 검출 디바이스는 물리적 차원 당 적어도 하나의 수신 전극을 포함한다. 3-차원(3D) 제스처 검출에 대해서는 최소한 세 개의 전극들이 요구된다. 동시에, 터치 컨트롤러는 전극들의 어레이를 해석할 수 있다. 이 문서에서는 일반적으로 이들 전극들을 제 2 전극이라 부르며, 도 1에서 전극(120)으로 도시된 바와 같고, 한편 제 1 전극은 AC 신호를 공급하는 제어 가능한 발생기에 의해 구동된다.
용량형 전극들은, 예를 들어 인쇄 회로 기판의 구리 층을 패턴화하거나 인듐 주석 산화물의 투명층을 패턴화하는 등에 의해, 예를 들어 금속 층으로 형성된 단순한 금속판들일 수 있다. 이러한 전극들은 용도에 따라 직사각형이나 정사각형 또는 임의의 다른 적합한 형상의 형태일 수 있다. 용량형 전극들은 외부에, 예를 들어 각각의 디바이스의 하우징 표면상에 있을 수 있거나, 또는 내부에, 예를 들어 하우징, 디스플레이 등의 내부 표면상에 있을 수 있다.
다음의 도면들에 도시된 전극들을 공유하기 위한 제 1 개념에 있어서, 신호 발생기(110)는 용량형 센서(120)의 제 1 전극에 교류 전기장 신호를 제공한다. 용량형 센서(120)는 모든 도면들에서 두 개의 전극들을 갖는 것으로 도시되었으며, 제스처 검출 센서로서 동작할 때 하나의 전극은 송신기로서 동작하고 하나의 전극은 수신기로서 동작한다. 제스처 검출에 사용될 수 있는 용량형 센서(120)는 하나보다 많은 수신기 전극을 가질 수 있고 또한 하나보다 많은 송신기 전극을 가질 수 있음을 이해할 수 있다. 모든 도면들에 도시된 용량형 센서의 기호는 커패시터를 나타내지만, 제스처 검출 시스템의 전극들은 도시된 바와 같이 서로 대향하여 배치될 필요는 없다. 대부분의 애플리케이션들에서는 오히려 이들 전극들이 동일한 평면에 혹은 평행한 평면들에 배치된다. 다른 실시예들에 따르면 그들은 경사지게 배치될 수 있다. 교류 전기장은 송신기 전극과 수신기 전극 사이에 발생되며, 이들의 서로에 대한 배열은 제스처가 검출될 수 있는 3차원 공간을 정의한다. 예를 들어, 100kHz 신호는 발생기(110)에 의해 발생되어 제 1 전극에 공급될 수 있으며, 여기서 이 제 1 전극은 예를 들어 하나 이상의 수신 전극들과 동일 평면상에 배치되어 있다. 전극들은 서로로부터 적절한 거리로 배치되어, 전극들 사이의 거리에 따라, 전극 평면들로부터 예를 들어 최대 15cm까지의 수직으로, 및 수평으로 확장하는 검출 필드를 정의할 수 있다. 그러므로, 단일 송신기 전극, 및 예를 들어 이 송신기 전극을 둘러쌀 수 있는 세 개의 연관된 수신 전극들에 의해, 비교적 큰 3차원 검출 공간이 생성될 수 있다.
터치 감지에 대해서는, 오직 하나의 전극만이 특정 위치에 필요할 수 있고, 예를 들어 매트릭스로 배치된 복수의 전극들은 터치 전극들이 배치되는 검출 표면의 2차원 터치들을 검출하는데 사용될 수 있다. 따라서, 터치 애플리케이션들에 대해서는, 발생기(110)와 결합된 제 1 전극은 기본적으로 필요치 않으며, 터치 검출 모드 동안에는 상기 발생기가 턴 오프(turn off)될 수 있고 상기 하나 이상의 제 2 전극들만이 활성화된다.
단지 하나의 제 2 전극을 보여주는 도 1에 도시된 바와 같이, 터치 컨트롤러(150)와 제스처 검출 디바이스(140) 사이의 센서(120)의 제 2 전극으로부터 수신 신호 경로들을 스위칭하는 아날로그 멀티플렉서(130)(SPDT)가 적용된다. STR.I이라 명명된 구조 및 STR.II라 명명된 구조는 각각 제스처 검출 시스템 및 터치 검출 시스템을 나타낸다. 따라서, 점선들로 표시된 바와 같이, 터치 검출에 대해서는 제 2 전극만이 사용된다. 두 채널들 사이의 신호 교란을 감소시키기 위해, 필요 이상의 로우 오프-분리(low off-isolation) 및 필요 이상의 로우 크로스 토킹(cross talking)을 갖는 멀티플렉서(130)가 선택된다. 더욱이, 스위치-온(switch-on) 커패시턴스는 증폭기에 의해 부가된 추가 노이즈 및 증폭률을 결정하는 큰 신호 강도의 수신 신호를 얻기 위해 작아야 한다. 멀티플렉서(130)의 스위치-오프 채널이 커패시터처럼 동작하므로, 터치 컨트롤러 측의 핀들의 포텐셜 변화는 제스처 검출 디바이스(140)의 신호 강도에 큰 영향을 미친다. 터치 컨트롤러 측에서, 상기 핀들은 고정 포텐셜에 연결되어야 하거나, 또는 하이(high) 임피던스로 설정되어야 하거나, 또는 터치 컨트롤러 핀들의 로우(low) 상태가 일정한 로우 레벨 신호로서 검증될 수 있고 제스처 검출 디바이스(140)의 신호 강도를 상당히 감소시키지 않을 때에는 로우 상태까지로도 설정되어야 한다. 대응 핀들을 하이 임피던스로 설정하는 것 또한 추천된다. 그러나, 작은 전압 변화는 내부 커패시턴스 변화 및 누설 전류에 의해 주로 초래되는 이들 핀들 상의 하이 임피던스의 상태에서 나타날 것이다. 제스처 검출 디바이스(140) 신호들에 미치는 하이 임피던스의 영향이 허용 범위에 있지 않으면, 이러한 종류의 영향은 또한 도 2에 도시된 STR.III과 같이 바이패스 저항(210)을 이용하여 감소될 수 있다. 도 3에 도시된 바와 같은 몇몇 경우들에서, 저항들(310, 320, 340) 및 커패시터(330)를 갖는 STR.IV와 같은 구조는 터치 컨트롤러 핀들의 하이 임피던스 상태의 제스처 검출 신호에 미치는 영향을 감소시키기 위해 구현될 수 있다. 이 방법에서는 제스처 검출 신호 성능이 또한 향상될 수 있다. 그러나, 이 전류원 구조는 터치 검출 동안 전극들의 충전 시간 및 방전 시간을 변화시킴으로써 터치 검출의 성능에 영향을 미칠 수 있다. 그러나, 저항(310)이 10MΩ과 같은 큰 값으로 구성 가능하기 때문에, 그 영향은 매우 적어야 한다.
제 1 구현에 기초하여, 제스처 검출 시스템의 입력 구조를 이용하는 새로운 개념이 제공될 수 있다. 도 4에 도시된 바와 같이, 터치 컨트롤러(150)의 핀들은 터치 신호에 대해 하이 임피던스로서 동작하는 제스처 검출 시스템(140)의 아날로그 입력부에 직접적으로 연결된다. 터치 컨트롤러(150)는 제스처 검출 동안 이 핀들을 하이 임피던스로 설정하는 것을 필요로 하며, 터치 검출을 위해 그 핀들을 구동하는 것을 필요로 한다. 이 핀들은 제스처 컨트롤러(140) 내의 R1과 같은 큰 저항들을 통해 VCC/2에 내부적으로 연결되므로, 터치 컨트롤러(150)는 터치 검출을 정확한 파라미터로 나타내기 위해 이 외부 전류원의 영향을 고려해야 한다. 이 가장 단순한 구조에 기초하는 두 개의 변형들이 있다.
터치 컨트롤러(150)가 자신의 핀들을 하이 임피던스(HighZ)로 설정할 수 없거나 또는 하이 임피던스 구성이 긴 정착 시간의 원인이 된다면, 스위치(SPST)(510)는 도 5에 도시된 바와 같이 터치 컨트롤러(150)의 방해를 피하기 위해 터치 컨트롤러 측에 놓일 수 있다. 터치 컨트롤러(150)가 제스처 검출 시스템 입력의 전기적 특성 때문에 이 핀들을 적합하게 구동할 수 없는 다른 경우들에서는, 제스처 검출 시스템(140)의 입력 신호 핀들은 도 6에 도시된 바와 같이 제스처 검출 시스템 측에 자리잡은 스위치(SPST)(610)를 이용함으로써 터치 검출을 위해 분리될 수 있다. 둘 다의 경우들에서는, 보다 좋은 신호 강도를 얻기 위해 그리고 터치 컨트롤러의 영향을 줄이기 위해 스위치의 로우 오프-분리 값 및 로우 스위치-온 커패시턴스가 필요하다. 게다가, STR.III 및 STR.IV의 구조들에서는, 도 5에 도시된 구성에서 제스처 검출 시스템 신호에 미치는 하이 임피던스 상태의 영향을 줄이기 위해 SPST 스위치(510)가 또한 사용될 수 있다. 부가적으로, 도 5에 도시된 해결책에서는, 제스처 검출 시스템(140)이 신호 강도가 충분하고 또한 신호 레벨이 충분히 일정한 채로 남아 있다면, 터치 컨트롤러의 핀들은 로우 상태로 설정될 수 있다.
다음에서는 다양한 실시예들에 따른 하드웨어 해결책의 혜택들에 관하여 논의한다:
1) 큰 신호 강도와 짧은 정착 시간의 관점에서의 신호 성능.
멀티플렉서 또는 SPST-스위치의 스위치-온 커패시턴스는 정상적으로 이들의 스위치-오프 커패시턴스보다 두 배 더 크다. 그러므로, 도 1 내지 도 3 및 도 6의 제스처 검출 디바이스(140)의 신호 강도들은 다른 구성들에서보다 더욱 감소된다.
이상적인 경우들에서는, 짧은 정착 시간, 큰 신호 강도 및 정착 시간 이후의 안정된 신호 커브를 갖는 좋은 신호 성능이 예상될 수 있다. 일부 나쁜 경우들에서는, 제스처 검출 디바이스 신호에 대한 하이 임피던스 상태의 방해가 회피되는 구성이 사용되어야 한다. 그러므로, 신호 성능은 더욱 분석되어야 한다. 이와 관련해서 다음 예들의 "정착 시간"은 터치 컨트롤러 핀들에 나타나는 매우 느린 포텐셜 변화의 시간을 포함하지 않음을 주목해야 한다.
예를 들어, 도 7에 도시된 바와 같이, 세 개의 제스처 검출 신호들이 나타나 있다(demonstrated). 커브(710)는 이 커브들 중 최고의 성능을 보여준다. 정착 시간 이후, 커브(720)는 약간 올라가는 반면, 커브(730)는 약간 내려간다. 이들 두 커브들은 다음의 두 조건들 하에서 여전히 허용될 수 있다:
조건 1: 정착 시간 이후의 변화는 터치 컨트롤러(150)의 핀들의 불가피한 포텐셜 변화에 의해 그리고 상태를 변화시키는 스위치 디바이스에 의해 초래된다.
조건 2: 정착 시간 이후의 변화는 1분당 60 디지트(digit)와 같이 매우 작아야 한다. 실제로, 제스처 검출 디바이스(140)는 단지 약 80ms에 달하는 작은 작동 시간 슬롯을 갖는다. 이 종류의 성능은 신호가 모든 시간 슬롯에서 어떤 큰 변화 없이 부드러운 커브를 갖는 경우 양호하다고 고려된다. 한편, 각각의 반복된 시간 슬롯에서, 커브는 커브의 값과 경향에서 동일한 성능을 보여줘야 한다.
2) 하드웨어 비용은 또한 결정에 중요한 요소이다. 예를 들어 도 4에 도시된 바와 같은, 가장 단순한 구조를 갖는 해결책이 먼저 고려될 수 있다. 그 이후, SPST-스위치는 아날로그 멀티플렉서에 비해 가격 이점을 갖는다.
다양한 실시예들에 따르면, 제스처 검출 디바이스(140)의 입력이 터치 컨트롤러(150)에 직접 연결되는 구성이 제공될 수 있다. 도 8에 도시된 바와 같은 이 구성에서, 발생기(110) 및 제스처 검출 디바이스(140)는 단지 제스처 검출을 위해 활성화된다. 터치 검출에 대해서는 터치 컨트롤러(150)가 다양한 신호 레벨들로의 자신의 핀들을 구동하여 전극들(120)의 커패시턴스 변화를 측정한다. 이 구성의 포인트는, 결과적으로 부동(floating) 상태를 초래하는 터치 컨트롤러(150)의 하이 임피던스 상태(HIGHZ)와 터치 컨트롤러 핀들의 작은 포텐셜 변화가 제스처 검출에 단지 무시할 수 있는 영향을 끼친다는 점이다. 동시에, 제스처 검출 디바이스(140)의 입력 구조는 터치 검출에 또한 영향을 거의 미치지 않는 하이 임피던스를 나타낸다. 더욱이, 제스처 검출 디바이스 입력의 전류원은 또한 하이 임피던스 상태에 의해 발생되는 포텐셜 변화의 영향을 줄일 수 있다. 제스처 검출 디바이스(140)의 입력 구조로부터 저항(R1)은 큰 값을 가지므로, 이 전류원은 터치 검출을 위한 터치 핀들의 충전 프로세스 및 방전 프로세스에 매우 적은 영향을 미칠 수 있다. 따라서, 이 영향 또한 무시할 수 있다. 이 방법으로, 검출 프로세스들은 둘 다 시간 다중화 모드에서 매우 양호하게 수행될 수 있다. 터치 컨트롤러(150)와 제스처 검출 디바이스(140) 사이에서 시간 다중화 모드를 구현하기 위해, 컨트롤러들(140, 150) 둘 다의 작동 상태들을 동기화하기 위한 몇 가지 방법들이 있다.
예를 들어, 도 8은 두 동기화 라인들(810, 820)을 이용함으로써 동기화를 갖는 구성을 도시한다. 터치 컨트롤러는 제스처 검출 디바이스(140)에게 자신의 상태를 보여주기 위해 라인(810)과 결합된 핀 TP_sync를 이용하지만, 제스처 검출 디바이스(140)는 터치 컨트롤러(150)에게 자신의 작동 상태를 보여주기 위해 라인(820)과 결합되는 Gest_sync라고 명명된 핀을 구동할 수 있다. 이들 핀들의 하이 상태는 대응 검출 프로세스가 완료되었음을 의미한다. 이들 핀들의 이러한 하이 상태는 즉시 펌웨어의 인터럽트를 발생시켜 작업 흐름을 변화시킬 것이다. 각각의 컨트롤러(140 및 150)는 도 8에 도시된 바와 같이 상위 프로세서 또는 시스템과 결합하기 위한 병렬 또는 직렬 인터페이스와 같은 개별 인터페이스를 가질 수 있다. 도 9는 제스처 검출 디바이스(140) 펌웨어 및 터치 컨트롤러(150) 펌웨어의 작동 프로세스들을 도시한다. 동기화 라인들(810, 820)의 인터럽트 루틴들은 도 9에 포함되지 않음을 유의한다.
제스처 검출 디바이스(140)에 대해서는, 루틴은 단계(910)에서 시작하며, 이 단계 다음에 '0'으로의 라인(820)의 상태 설정이 뒤따른다. 단계(920)에서 제스처 검출 프로세스가 수행되고, 그 다음에 단계(925)에서 상태 라인(820)이 '1'로 설정된다. 루프(930)는 터치 컨트롤러 상태 라인(810)이 '1'로 설정될 때까지 대기한다.
터치 컨트롤러(150)에 대해서는, 루틴은 단계(940)에서 시작하며, 이 단계 다음에 '0'으로의 터치 상태 라인(810)의 설정이 뒤따른다. 단계(960)에서 루틴은 상태 라인(820)이 '1'로 설정될 때까지 대기한다. 단계(960)에서 상태 라인(820)이 '1'로 설정되면, 단계(970)에서 상태 라인(810)은 '0'으로 설정되며, 그 다음에 단계(980)에서 터치 검출 프로세스가 뒤따른다. 터치 검출을 수행한 이후에 상태 라인(810)은 단계(990)에서 '1'로 설정되고, 루틴은 단계(960)로 귀환한다.
이 방법과 유사하게, 다른 또 하나의 실시예에 따르면, 통신 인터페이스(1010)는 양 측들 사이의 작업 프로세스들을 동기화하는데 사용될 수 있다. 도 10에 도시된 바와 같이, I2C 인터페이스(1010)는 터치 검출을 위한 시작-명령을 전송하고 터치 컨트롤러(150)로부터의 터치 결과들을 판독하는데 관여한다. 이 방법에서는, 터치 컨트롤러(150)가 슬레이브의 역할을 하고, 반면에 제스처 검출 디바이스(140)는 마스터로서 동작한다. 그러나, 이 할당은 또한 다른 실시예들에서 반전될 수 있다. 더욱이, 다른 실시예들에 따르면, RS232, SPI, 임의의 유형의 단일 와이어 직렬 통신 인터페이스 등과 같은 다른 통신 인터페이스들이 사용될 수 있다. 게다가, 도 10은, 예를 들어 상위 프로세서 또는 시스템으로의 연결을 위한 병렬 또는 직렬 인터페이스와 같은, 제스처 검출 디바이스(140) 내의 또 하나의 통신 인터페이스를 도시한다. 이러한 배치에서 제스처 검출 디바이스(140)가 마스터이고 터치 컨트롤러(150)로부터의 모든 데이터를 수집한다는 사실에 기인하여, 터치 컨트롤러는 추가 인터페이스가 구비될 필요가 없다. 다른 또 하나의 실시예에 따르면, 이전에 언급한 바와 같이, I2C 인터페이스는 상기 추가 인터페이스 대신에 상위 프로세서 또는 시스템과의 통신에도 또한 사용될 수 있다.
터치 검출이 완료된 후, 상태 라인(810)은 제스처 검출 디바이스(140)가 인터럽트를 초래하여 터치 데이터 판독을 개시하도록 하기 위해 '1'로 설정될 것이다. 도 11 내지 도 14는 마스터 및 슬레이브의 주요 작업 프로세스들을 각각 설명한다. 다시, 동기화 라인 TP_sync를 위한 인터럽트 루틴은 포함되지 않음을 주목해야 한다. 이 구성에서는, 터치 검출 결과들 및 제스처 검출 결과들이 통신 인터페이스(1010)를 통해 다른 프로세서들에 송신될 수 있다. 게다가, 제스처 검출 디바이스(140)는 x-방향, y-방향 및 z-방향의 검출을 수행할 수 있다. 그러므로, 제스처 검출을 위한 시간 슬롯의 길이는 또한 z-방향의 위치에 관련하여 구성될 수 있다.
도 11은 도 10에 도시된 실시예에 따른 제스처 검출 디바이스(140)에 대한 예시적인 루틴을 도시한다. 루틴은 단계(1110)에서 시작하며, 그 다음의 단계(1120)에서는 제스처 검출 프로세스가 수행된다. 다음 단계(1130)에서는 검출된 오브젝트의 Z-위치가 제 1 문턱치(Z_high)보다 작은지의 여부를 체크한다. 이 단계에서 상기 검출된 오브젝트의 Z-위치가 상기 제 1 문턱치(Z_high)보다 작지 않으면, 타이머는 단계(1140)에서 시작되고, 그 다음에 타이머가 만료되었는지를 체크하기 위한 루프(1150)가 뒤따른다. 타이머가 만료되었으면, 루틴은 단계(1120)로 귀환한다.
단계(1130)에서의 Z-위치 체크에 의해 검출된 위치가 문턱치(Z_high)보다 작다고 결정되면, 단계(1160)에서 Z-위치가 제 2 문턱치(Z_low)보다 아래에 있는지의 여부가 체크될 것이다. Z-위치가 제 2 문턱치(Z_low)보다 아래에 있지 않다고 체크되면, 루틴은 단계(1120)으로 귀환한다. 단계(1160)에서 Z-위치가 제 2 문턱치(Z_low)보다 아래에 있다고 체크되면, 루틴은 단계(1170)에서 I2C 인터페이스(1010)를 통해 제어 데이터를 터치 컨트롤러에 쓰기 시작하고, 옵션으로 데이터를 다른 디바이스들에 쓰기 시작한다. 터치 컨트롤러(140)를 위한 제어 데이터는 터치 검출 프로세스를 시작하기 위한 명령을 포함할 수 있다. 다음 단계(1180)에서는, 루틴은 상태 라인(810)이 '1'로 설정될 때까지 대기한다. 상태 라인(810)이 '1'로 설정되면, 루틴은 I2C 인터페이스(1010)를 통해 터치 컨트롤러(150)로부터 데이터를 판독하기 시작하고 단계(1120)으로 귀환한다.
도 12는 마스터, 예를 들어 제스처 검출 디바이스(140)에 대한 예시적인 연관된 I2C 인터럽트 루틴을 도시한다. 루틴은 단계(1210)에서 시작하고, 그 다음에 단계(1220)에서는 판독을 시작해야 하는지의 여부가 결정된다. 판독을 시작해야 한다고 결정되면, 루틴은 단계(1230)로 분기하며, 이 단계(1230)에서는 터치 컨트롤러(150)로부터의 터치 결과들이 I2C 인터페이스(1010)를 통해 판독되고, 그 다음에 단계(1250)에서는 인터럽트에서 빠져나온다. 단계(1220)에서 판독이 수행되지 않을 것이라고 결정되면, 시작 명령은 단계(1240)에서 I2C 인터페이스(1010)를 통해 터치 컨트롤러(150)에 전송되고, 이후 단계(1250)에서는 인터럽트에서 빠져나온다.
도 13은 도 10의 시스템의 터치 컨트롤러(150)에 대한 예시적인 루틴을 도시한다. 루틴은 단계(1310)에서 시작하고, 그 다음 단계인 단계(1320)에서는 상태 라인(810)이 '0'으로 설정된다. 이후 단계(1330)에서, 루틴은 시작 명령이 수신되어, 예를 들어 연관된 플래그 touch_start가 '1'로 설정될 때까지 대기한다. touch_start가 '1'로 설정되면, 루틴은 단계(1340)으로 분기하며, 이 단계(1340)에서는 상태 라인(810) 및 touch_start 플래그가 '0'으로 설정된다. 이후 터치 검출 프로세스는 단계(1350)에서 수행된다. 다음 단계(1360)에서는 상태 라인(810)이 '1'로 설정되고, 루틴은 단계(1330)으로 귀환한다.
슬레이브, 예를 들어 터치 컨트롤러(150)에 대한 연관된 인터럽트 루틴은 도 14에 도시되었다. 루틴은 단계(1410)로 시작하고, 그 다음 단계인 단계(1420)에서는 판독 명령이 수행되어야 하는지의 여부를 결정한다. 판독 명령이 수행되어야 한다면, 루틴은 단계(1430)으로 분기하며, 이 단계(1430)에서는 터치 결과들이 I2C 인터페이스(1010)를 통해 전송되고, 그 다음 단계(1450)에서는 인터럽트에서 빠져나온다. 단계(1420)에서의 결정이 '아니오(no)'이면, 루틴은 단계(1440)으로 분기하며, 이 단계(1440)에서는 touch_start 플래그가 '1'로 설정되고, 그 다음 단계(1450)에서는 인터럽트에서 빠져나온다.

Claims (28)

  1. 터치 컨트롤러;
    제스처 검출 디바이스;
    적어도 하나의 제 1 전극 및 적어도 하나의 제 2 전극을 갖는 용량형 센서 - 상기 적어도 하나의 제 1 전극은 AC 신호를 상기 제 1 전극에 공급하기 위한 제어 가능한 발생기와 결합됨 -; 및
    상기 적어도 하나의 제 2 전극, 상기 터치 컨트롤러의 입력부 및 상기 제스처 검출 디바이스의 입력부 사이의 구성 가능한 결합부 - 상기 결합부는 상기 시스템이 제 1 구성 모드에서는 상기 터치 컨트롤러에 의해 상기 제 2 전극으로부터 수신된 신호들로부터 터치 검출을 수행하고, 제 2 구성 모드에서는 상기 제스처 검출 디바이스에 의해 상기 제 2 전극으로부터 수신된 신호들로부터 제스처 검출을 수행할 수 있게 구성될 수 있음 - 를 포함하는 시스템.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 결합부는 상기 제 2 전극을 상기 터치 컨트롤러와 상기 제스처 검출 디바이스 중 어느 하나에 연결하도록 동작 가능한 스위칭 장치를 포함하는, 시스템.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 스위칭 장치는 멀티플렉서를 포함하는, 시스템.
  4. 제 2 항에 있어서,
    상기 스위칭 장치는 단극 쌍투형 스위치(Single Pole Double Throw switch; SPDT)를 포함하는, 시스템.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 터치 컨트롤러의 입력부와 그라운드 사이에 연결된 저항을 더 포함하는 시스템.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 저항과 결합된 전류원을 더 포함하는 시스템.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 제스처 검출 디바이스의 입력부와 직류(DC) 전압 사이에 연결된 저항을 더 포함하는 시스템.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 터치 컨트롤러와 상기 제스처 검출 디바이스 사이의 동기화 연결부를 더 포함하는 시스템.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 동기화 연결부는 상기 터치 컨트롤러로부터 상기 제스처 검출 디바이스에 상태를 시그널링하도록 구성된 제 1 동기화 라인, 및 상기 제스처 검출 디바이스로부터 상기 터치 컨트롤러에 상태를 시그널링하도록 구성된 제 2 동기화 라인을 포함하는, 시스템.
  10. 제 8 항에 있어서,
    상기 동기화 연결부는 상기 터치 컨트롤러와 상기 제스처 검출 디바이스 사이의 쌍방향 통신 인터페이스를 포함하는, 시스템.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 쌍방향 통신 인터페이스는 I2C 인터페이스인, 시스템.
  12. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 2 전극은 상기 터치 컨트롤러의 입력부 및 상기 제스처 검출 디바이스의 입력부와 결합되고, 상기 터치 컨트롤러의 입력부는 상기 결합부가 상기 제 2 구성 모드에서 동작하도록 구성될 때 하이(high) 임피던스 모드로 스위칭되도록 동작 가능하고, 상기 제어 가능한 발생기는 상기 제 2 구성 모드에서 상기 AC 신호를 상기 제 1 전극에 공급하는, 시스템.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 터치 컨트롤러와 상기 제스처 검출 디바이스 사이의 동기화 연결부를 더 포함하는 시스템.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 동기화 연결부는 상기 터치 컨트롤러로부터 상기 제스처 검출 디바이스에 상태를 시그널링하도록 구성된 제 1 동기화 라인, 및 상기 제스처 검출 디바이스로부터 상기 터치 컨트롤러에 상태를 시그널링하도록 구성된 제 2 동기화 라인을 포함하는, 시스템.
  15. 제 13 항에 있어서,
    상기 동기화 연결부는 상기 터치 컨트롤러와 상기 제스처 검출 디바이스 사이의 쌍방향 통신 인터페이스를 포함하는, 시스템.
  16. 제 15 항에 있어서,
    상기 쌍방향 통신 인터페이스는 I2C 인터페이스인, 시스템.
  17. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 2 전극은 상기 제스처 검출 디바이스의 입력부에 연결되고, 상기 결합부는 로우 오프-분리(low off-isolation) 값 및 로우 스위치-온(switch-on) 커패시턴스를 갖고 상기 제 2 전극을 상기 터치 컨트롤러에 연결시키도록 동작 가능한 단극 단투형(single pole single throw) 스위치를 포함하는, 시스템.
  18. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 2 전극은 상기 터치 컨트롤러의 입력부에 연결되고, 상기 결합부는 로우 오프-분리 값 및 로우 스위치-온 커패시턴스를 갖고 상기 제 2 전극을 상기 제스처 검출 디바이스에 연결시키도록 동작 가능한 단극 단투형 스위치를 포함하는, 시스템.
  19. 시스템에서 터치 및 비(non)-터치 제스처 검출을 수행하기 위한 방법으로서,
    상기 시스템은 용량형 센서 디바이스의 하나의 전극과 결합되도록 구성된 터치 컨트롤러 및 비-터치 제스처 검출 디바이스를 포함하고, 상기 용량형 센서 디바이스의 또 하나의 전극은 AC 신호를 상기 또 하나의 전극에 공급하기 위한 제어 가능한 발생기와 결합되고,
    상기 방법은 상기 용량형 센서의 상기 하나의 전극과, 상기 터치 컨트롤러의 입력부 또는 상기 제스처 검출 디바이스의 입력부 사이에 결합부를 구성하는 단계를 포함하고,
    상기 결합부는 상기 시스템이 제 1 구성 모드에서는 상기 터치 컨트롤러에 의해 상기 제 2 전극으로부터 수신된 신호들로부터 터치 검출을 수행하고, 제 2 구성 모드에서는 상기 제스처 검출 디바이스에 의해 상기 제 2 전극으로부터 수신된 신호들로부터 제스처 검출을 수행할 수 있게 하도록 구성되고, 상기 제어 가능한 발생기는 상기 제 2 구성 모드에 있을 때 상기 AC 신호를 상기 또 하나의 전극에 공급하는, 터치 및 비-터치 제스처 검출 수행 방법.
  20. 제 19 항에 있어서,
    상기 결합부는 상기 제 2 전극과 상기 터치 컨트롤러 및 상기 제스처 검출 디바이스의 입력부들 사이의 스위칭 장치를 포함하고,
    상기 방법은 상기 제 1 구성 모드 동안에는 상기 제스처 검출 디바이스의 입력부로부터 상기 제 2 전극을 분리하고 상기 터치 컨트롤러와 상기 제 2 전극을 결합시키고, 상기 제 2 구성 모드 동안에는 상기 터치 컨트롤러의 입력부로부터 상기 제 2 전극을 분리하고 상기 제스처 검출 디바이스와 상기 제 2 전극을 결합시키는 단계를 더 포함하는, 터치 및 비-터치 제스처 검출 수행 방법.
  21. 제 20 항에 있어서,
    상기 제 2 전극은 상기 터치 컨트롤러의 입력부 및 상기 제스처 검출 디바이스의 입력부와 결합되고,
    상기 방법은 상기 제 2 구성 모드 동안에는 상기 터치 컨트롤러의 입력부를 하이 임피던스 모드로 스위칭하는 단계를 더 포함하는, 터치 및 비-터치 제스처 검출 수행 방법.
  22. 제 21 항에 있어서,
    상기 터치 컨트롤러와 상기 제스처 검출 디바이스 사이의 동기화 연결부를 더 포함하고,
    상기 방법은 상기 제스처 검출 디바이스 및 상기 터치 컨트롤러에 의한 각각의 검출 프로세스의 종료를 상기 동기화 연결부에 의해 서로에게 시그널링하는 단계를 더 포함하는, 터치 및 비-터치 제스처 검출 수행 방법.
  23. 제 22 항에 있어서,
    상기 동기화 연결부는 상기 터치 컨트롤러로부터 상기 제스처 검출 디바이스에 상태를 시그널링하도록 구성된 제 1 동기화 라인, 및 상기 제스처 검출 디바이스로부터 상기 터치 컨트롤러에 상태를 시그널링하도록 구성된 제 2 동기화 라인을 포함하는, 터치 및 비-터치 제스처 검출 수행 방법.
  24. 제 22 항에 있어서,
    상기 동기화 연결부는 상기 터치 컨트롤러와 상기 제스처 검출 디바이스 사이의 쌍방향 통신 인터페이스를 포함하는, 터치 및 비-터치 제스처 검출 수행 방법.
  25. 제 24 항에 있어서,
    마스터로서의 상기 제스처 검출 디바이스와 슬레이브 디바이스로서의 상기 터치 컨트롤러, 및 상기 터치 컨트롤러 내지 상기 제스처 검출 디바이스에 의해 결정되는 통신 데이터를 구성하는 단계를 더 포함하는, 터치 및 비-터치 제스처 검출 수행 방법.
  26. 제 25 항에 있어서,
    상기 터치 컨트롤러 및 상기 제스처 검출 디바이스에 의해 결정된 모든 데이터를 상기 제스처 검출 디바이스에 의해 상위 프로세서에 통신하는 단계를 더 포함하는, 터치 및 비-터치 제스처 검출 수행 방법.
  27. 제 19 항에 있어서,
    상기 제 2 전극은 상기 제스처 검출 디바이스의 입력부에 연결되고,
    상기 방법은 상기 제 1 구성 모드 동안에는, 단극 단투형 스위치를 이용하여 상기 제 2 전극을 상기 터치 컨트롤러에 연결하는 단계를 더 포함하는, 터치 및 비-터치 제스처 검출 수행 방법.
  28. 제 19 항에 있어서,
    상기 제 2 전극은 상기 터치 컨트롤러의 입력부에 연결되고,
    상기 방법은 상기 제 2 구성 모드 동안에는, 단극 단투형 스위치를 이용하여 상기 제 2 전극을 상기 제스처 검출 디바이스에 연결하는 단계를 더 포함하는, 터치 및 비-터치 제스처 검출 수행 방법.
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