KR20140130017A - Organic light emitting diode display and method for degradation compensation - Google Patents

Organic light emitting diode display and method for degradation compensation Download PDF

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KR20140130017A
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Abstract

Disclosed is an organic light emitting display device. The organic light emitting display device according to an embodiment of the present invention includes a panel assembly including a plurality of pixels; a plurality of brightness measuring units which are arranged around the panel assembly and measure the brightness of light emitted from the pixels; and a processing unit which detects the degraded pixel among the pixels by comparing the bright data measured in the brightness measuring units and compensates the degraded pixel.

Description

유기 발광 표시 장치 및 열화 보상 방법{ORGANIC LIGHT EMITTING DIODE DISPLAY AND METHOD FOR DEGRADATION COMPENSATION}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to an organic light emitting diode (OLED) display device and a method of compensating deterioration thereof.

본 발명은 유기 발광 표시 장치 및 열화 보상 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an organic light emitting display and a deterioration compensation method.

유기 발광 소자(organic light emitting diode)는 자발광형 소자로서 시야각이 넓고 콘트라스트가 우수할 뿐만 아니라, 응답시간이 빠르며, 휘도, 구동전압 및 응답속도 특성이 우수하고 다색화가 가능하다는 장점을 가지고 있다. 이러한 유기 발광 소자를 포함하는 유기 발광 표시 패널에서는 일부 화소에서 열화가 발생된다.The organic light emitting diode is a self light emitting type device having a wide viewing angle, excellent contrast, fast response time, excellent luminance, driving voltage and response speed characteristics, and multi-coloring. In an organic light emitting display panel including such an organic light emitting device, deterioration occurs in some pixels.

종래에서 유기 발광 표시 패널의 열화된 화소를 보상하는 방법은 다음과 같다. 유기 발광 표시 패널의 더미 픽셀(dummy pixel)에서 수명 측정 데이터를 구한다. 그리고, 이 데이터를 가지고 각 픽셀의 총 발광시간을 계산하여 이에 따른 열화정도를 계산하여 영상 데이터의 스케일(scale)을 조정하는 방법이 사용될 수 있다.Conventionally, a method of compensating a degraded pixel of an OLED display panel is as follows. The lifetime measurement data is obtained from a dummy pixel of the organic light emitting display panel. Then, the total light emission time of each pixel is calculated with this data, and the degree of deterioration is calculated to adjust the scale of the image data.

한편, 더미 픽셀(dummy pixel)의 열화의 정확한 데이터를 측정하기 위해서는 더미 픽셀(dummy pixel)을 표시(active) 영역의 픽셀과 동일한 조건으로 구동하고 일정 휘도를 유지하기 위한 데이터 값을 변화를 측정하고 이를 이용해 열화를 보상한다.In order to measure the accurate data of the deterioration of the dummy pixel, a dummy pixel is driven under the same condition as the pixel of the active area, and the change of the data value for maintaining the constant luminance is measured This is used to compensate for the degradation.

그러나, 유기 발광 표시 패널 간 또는 패널 내부에 공정 산포가 발생할 경우 더미 픽셀(dummy pixel)을 표시(active) 영역의 픽셀의 수명 특성이 다를 경우 열화 정도에 다른 보상이 달라지게 되는 문제점이 있다. 또한, 더미 픽셀(dummy pixel)에 열화를 위해 가해주는 조건이 실제 유기 발광 표시 패널에 가해지는 조건과 다를 경우 열화 보상 정도가 부족하거나 많아지게 되는 문제점이 있다.However, when process scattering occurs between the organic light emitting display panels or inside the panel, there is a problem that the durability of the dummy pixel varies depending on the degradation degree when the lifetime characteristics of the pixels in the active area are different. In addition, when the condition applied to the dummy pixel for deterioration differs from the condition applied to the organic light emitting display panel, there is a problem that the degree of deterioration compensation becomes insufficient or increases.

본 발명의 일 실시예는 열화된 화소의 보상이 개선될 수 있게 한 유기 발광 표시 장치 및 열화 보상 방법을 제공하고자 한다.An embodiment of the present invention is to provide an organic light emitting display and a deterioration compensation method which can improve the compensation of deteriorated pixels.

본 발명의 일 측면에 따른 유기 발광 표시 장치는 복수의 화소를 포함하는 패널 어셈블리, 상기 패널 어셈블리의 둘레면을 따라 배치되어 상기 화소들로부터 발생된 빛의 휘도를 측정하는 복수의 휘도 측정부, 및 상기 복수의 휘도 측정부에서 측정된 휘도 데이터들을 비교하여 상기 복수개의 화소 중에서 열화된 화소를 검출하여 보상하는 처리부를 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an organic light emitting display including a panel assembly including a plurality of pixels, a plurality of luminance measurement units disposed along the circumferential surface of the panel assembly and measuring luminance of light generated from the pixels, And a processor for comparing the luminance data measured by the plurality of luminance measuring units and detecting and compensating for degraded pixels among the plurality of pixels.

일 실시예에 있어서, 상기 휘도 측정부는 포토 센서일 수 있다.In one embodiment, the brightness measuring unit may be a photosensor.

일 실시예에 있어서, 상기 휘도 측정부는 일정 간격마다 배치될 수 있다.In one embodiment, the brightness measuring units may be arranged at regular intervals.

일 실시예에 있어서, 상기 처리부는, 상기 패널 어셈블리에 인가된 전류를 측정하는 전류 측정부, 상기 전류 측정부에 의해 측정된 전류와 상기 휘도 측정부에 의해 측정된 휘도 데이터를 비교 분석하여 화소의 열화 여부를 판단하는 열화 여부 판단부 및 상기 열화된 화소가 정상 화소로 발광되게 하는 제어부를 포함할 수 있다.In one embodiment, the processing unit includes a current measuring unit for measuring a current applied to the panel assembly, a comparator for comparing the current measured by the current measuring unit and the luminance data measured by the luminance measuring unit, A deterioration determining unit for determining whether the pixel is degraded, and a controller for causing the deteriorated pixel to emit light as a normal pixel.

일 실시예에 있어서, 상기 처리부는, 화소에 열화상기 패널 어셈블리에 동일한 전류가 인가된 상태에서, 상기 복수의 휘도 측정부 중에서 상기 휘도 데이터들로부터 상대적으로 낮은 값의 휘도 데이터가 측정된 휘도 측정부의 위치로부터 열화된 화소의 위치를 계산하는 화소 위치 계산부를 더 포함할 수 있다. In one embodiment, the processing unit may further include a brightness measuring unit for measuring luminance data of a relatively low value from the luminance data among the plurality of luminance measuring units in a state where the same current is applied to the panel assembly, And a pixel position calculation unit for calculating a position of the pixel deteriorated from the position.

본 발명의 일 측면에 따른 유기 발광 표시 장치는 복수의 화소가 형성된 표시영역과, 상기 복수의 화소가 형성되지 않은 비표시영역을 포함하는 패널 어셈블리, 상기 패널 어셈블리의 비표시영역에 형성되어 상기 표시영역으로부터 발생되는 빛을 난반사시키는 난반사부, 상기 패널 어셈블리의 하면에 배치되어 상기 난반사부에서 난반사된 빛의 휘도를 측정하는 복수의 휘도 측정부, 및 상기 휘도 측정부에서 측정된 휘도 데이터와 상기 패널 어셈블리를 구동시키는 동작 전류값으로 상기 복수개의 화소 중에서 열화된 화소를 검출하여 보상하는 처리부를 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an OLED display device including a panel assembly including a display region in which a plurality of pixels are formed, and a non-display region in which the plurality of pixels are not formed, A plurality of luminance measurement units disposed on a lower surface of the panel assembly for measuring luminance of light diffusedly reflected by the diffused reflection unit, and a plurality of luminance measurement units for measuring the luminance data measured by the luminance measurement unit, And a processor for detecting and compensating for degraded pixels among the plurality of pixels with an operation current value for driving the assembly.

일 실시예에 있어서, 상기 난반사부는 상기 패널 어셈블리의 상면에 형성될수 있다.In one embodiment, the irregular reflection portion may be formed on the upper surface of the panel assembly.

일 실시예에 있어서, 상기 난반사부와 상기 패널 어셈블리 사이에 개재된 굴절부를 더 포함할 수 있다.In one embodiment, the display device may further include a refracting portion interposed between the diffusive reflection portion and the panel assembly.

일 실시예에 있어서, 상기 패널 어셈블리의 상면의 일부분은 인입되도록 형성되고, 상기 난반사부는 상기 인입된 부분에 수용되도록 형성될 수 있다.In an exemplary embodiment, a portion of the upper surface of the panel assembly may be formed to be drawn in, and the diffusive reflection portion may be formed to be received in the drawn portion.

일 실시예에 있어서, 상기 난반사부의 두께는 상기 패널 어셈블리에서 인입된 깊이와 동일하게 형성될 수 있다.In one embodiment, the thickness of the irregular reflection portion may be the same as the depth of the panel assembly.

일 실시예에 있어서, 상기 난반사부는 라인(Line) 형상일 수 있다.In one embodiment, the irregular reflection portion may be in the form of a line.

일 실시예에 있어서, 상기 난반사부는 일정 간격마다 배치된 단위 난반사부들로 이루어질 수 있다.In an exemplary embodiment, the irregular reflection units may be unit irregular reflection units arranged at regular intervals.

일 실시예에 있어서, 상기 휘도 측정부는 포토 센서일 수 있다.In one embodiment, the brightness measuring unit may be a photosensor.

일 실시예에 있어서, 상기 휘도 측정부는 일정 간격마다 배치될 수 있다.In one embodiment, the brightness measuring units may be arranged at regular intervals.

일 실시예에 있어서, 상기 휘도 측정부는 상기 난반사부와 마주하도록 배치될 수 있다.In one embodiment, the brightness measuring unit may be disposed to face the diffusive reflection unit.

일 실시예에 있어서, 상기 처리부는, 상기 패널 어셈블리에 인가된 전류를 측정하는 전류 측정부, 상기 전류 측정부에 의해 측정된 전류와 상기 휘도 측정부에 의해 측정된 휘도 데이터를 비교 분석하여 화소의 열화 여부를 판단하는 열화 여부 판단부 및 상기 열화된 화소가 정상 화소로 발광되게 하는 제어부를 포함할 수 있다.In one embodiment, the processing unit includes a current measuring unit for measuring a current applied to the panel assembly, a comparator for comparing the current measured by the current measuring unit and the luminance data measured by the luminance measuring unit, A deterioration determining unit for determining whether the pixel is degraded, and a controller for causing the deteriorated pixel to emit light as a normal pixel.

일 실시예에 있어서, 상기 처리부는, 상기 패널 어셈블리에 동일한 전류가 인가된 상태에서, 상기 복수의 휘도 측정부중에서 상기 휘도 데이터들로부터 상대적으로 낮은 값의 휘도 데이터가 측정된 휘도 측정부의 위치로부터 열화된 화소의 위치를 계산하는 화소 위치 계산부를 더 포함할 수 있다. In one embodiment, the processing unit may be configured such that, in a state where the same current is applied to the panel assembly, luminance data of a relatively low value from the luminance data among the plurality of luminance measuring units is deteriorated And a pixel position calculation unit for calculating a position of the pixel.

일 실시예에 있어서, 상기 난반사부 상에 형성되며, 상기 패널 어셈블리의 비표시 영역에 형성된 차광부를 더 포함할 수 있다.In one embodiment, the display device may further include a light shielding part formed on the diffusive reflection part and formed in a non-display area of the panel assembly.

일 실시예에 있어서, 상기 차광부는 블랙 편광필름일 수 있다.In one embodiment, the light blocking portion may be a black polarizing film.

본 발명의 일 측면에 따른 열화 보상 방법은, 상기 패널 어셈블리로부터 상기 휘도 데이터들을 획득하는 단계, 상기 획득된 휘도 데이터들로부터 상기 패널 어셈블리의 화소의 열화 여부를 판단하는 단계 및 열화된 화소가 존재하는 경우 상기 열화된 화소를 보상하는 단계를 포함한다.The deterioration compensation method according to an aspect of the present invention includes the steps of acquiring luminance data from the panel assembly, determining whether the pixel of the panel assembly is deteriorated from the obtained luminance data, And compensating for the deteriorated pixel.

일 실시예에 있어서, 상기 패널 어셈블리로부터 상기 휘도 데이터들을 획득하는 단계는, 상기 복수의 휘도 측정부에 의해 상기 패널 어셈블리의 각 화소로부터 발광된 빛의 휘도를 측정하여 상기 휘도 데이터들을 획득할 수 있다.In one embodiment, the step of acquiring the brightness data from the panel assembly may acquire the brightness data by measuring the brightness of light emitted from each pixel of the panel assembly by the plurality of brightness measuring units .

일 실시예에 있어서, 상기 패널 어셈블리의 화소의 열화 여부를 판단하는 단계는, 상기 휘도 데이터들 중에서 상대적으로 낮은 값의 휘도 데이터가 존재하는지 여부로 판단할 수 있다. In one embodiment, the step of determining whether the pixel of the panel assembly is deteriorated may include determining whether brightness data having a relatively low value exists among the brightness data.

일 실시예에 있어서, 화소의 열화 여부를 판단한 후 상기 열화된 화소를 보상하기 전에, 상기 획득된 휘도 데이터들로부터 열화된 화소의 위치를 계산하는 단계를 더 포함할 수 있다. In one embodiment, the method may further include calculating a position of a pixel deteriorated from the obtained luminance data before determining whether the pixel is deteriorated and then compensating the deteriorated pixel.

일 실시예에 있어서, 상기 획득된 휘도 데이터들로 열화된 화소의 위치를 계산하는 단계에서는, 상기 패널 어셈블리의 각 화소들에 동일한 전류가 인가된 상태에서, 상기 휘도 데이터들 중에서 상대적으로 낮은 값의 휘도 데이터가 측정된 휘도 측정부의 위치로부터 열화된 화소의 위치를 계산할 수 있다.In one embodiment, in the step of calculating the position of the pixel deteriorated by the obtained luminance data, in the state where the same current is applied to each pixel of the panel assembly, a relatively low value It is possible to calculate the position of the pixel deteriorated from the position of the luminance measurement unit where the luminance data is measured.

일 실시예에 있어서, 상기 열화된 화소를 보상하는 단계는, 상기 열화된 화소가 정상 화소로 발광되도록 상기 열화된 화소의 전류를 조절할 수 있다.In one embodiment, the step of compensating for the deteriorated pixel may adjust the current of the deteriorated pixel so that the deteriorated pixel is emitted as a normal pixel.

일 실시예에 있어서, 상기 열화된 화소를 보상하는 단계는, 상기 패널 어셈블리의 화소에 공급되는 전체 구동 전압(ELVDD)을 조절할 수 있다. In one embodiment, the step of compensating for the deteriorated pixel may adjust the total driving voltage ELVDD supplied to the pixels of the panel assembly.

일 실시예에 있어서, 상기 열화된 화소를 보상하는 단계는, 상기 패널 어셈블리의 화소에 공급되는 적색 구동 전압, 녹색 구동 전압 및 청색 구동 전압을 각각 조절할 수 있다. In one embodiment, the step of compensating for the deteriorated pixel may adjust the red driving voltage, the green driving voltage, and the blue driving voltage supplied to the pixels of the panel assembly, respectively.

본 발명의 일 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치는, 표시 영역에 위치한 화소(Active pixel)로부터 발생되는 빛으로 휘도 저하 정도를 측정하여 열화된 화소를 보상해주는 방법을 실시한다. 이와 같이, 더미 화소(dummy pixel)를 사용하지 않고, 실제 엑티브 화소(Active pixel)을 직접 반영하여 보상해줌으로써, 보상 오류가 발생되는 것을 방지할 수 있다.The OLED display according to an exemplary embodiment of the present invention performs a method of compensating a deteriorated pixel by measuring a degree of luminance degradation with light generated from a pixel located in a display area. In this manner, compensation errors can be prevented from occurring by directly reflecting and compensating the actual active pixels without using dummy pixels.

도 1은 본 발명의 제1실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 일부를 발췌하여 도시한 단면도.
도 2는, 도 1에 도시된 제1실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 평면도.
도 3은 본 발명의 제2실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 일부를 발췌하여 도시한 단면도.
도 4는 본 발명의 제3실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 일부를 발췌하여 도시한 단면도.
도 5는, 도 4에 도시된 본 발명의 제3실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 평면도.
도 6은, 도 5에 도시된 본 발명의 제3실시예에 따른 유기 발광 표시 장치에서 난반사부의 변형예를 도시한 평면도.
도 7는 본 발명의 제4실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 일부를 발췌하여 도시한 단면도.
도 8는 본 발명의 제5실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 일부를 발췌하여 도시한 단면도.
도 9은 본 발명의 제6실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 일부를 발췌하여 도시한 단면도.
도 10은 본 발명의 일실시예에 따른 열화 보상 방법의 순서도.
도 11은 본 발명의 다른 실시예에 따른 열화 보상 방법의 순서도.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a part of an organic light emitting diode display according to a first embodiment of the present invention. FIG.
2 is a plan view of the organic light emitting display according to the first embodiment shown in FIG.
FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating a part of an organic light emitting diode display according to a second embodiment of the present invention. FIG.
FIG. 4 is a cross-sectional view illustrating a part of an organic light emitting diode display according to a third embodiment of the present invention. FIG.
5 is a plan view of an OLED display according to a third embodiment of the present invention shown in FIG.
6 is a plan view showing a modified example of the diffused reflection part in the organic light emitting diode display according to the third embodiment of the present invention shown in FIG.
FIG. 7 is a cross-sectional view illustrating a part of an organic light emitting diode display according to a fourth embodiment of the present invention. FIG.
8 is a cross-sectional view illustrating a portion of an organic light emitting diode display according to a fifth embodiment of the present invention.
9 is a cross-sectional view illustrating a part of an organic light emitting diode display according to a sixth embodiment of the present invention.
10 is a flowchart of a degradation compensation method according to an embodiment of the present invention;
11 is a flowchart of a deterioration compensation method according to another embodiment of the present invention.

이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예들에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예들에 한정되지 않는다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, which will be readily apparent to those skilled in the art to which the present invention pertains. The present invention may be embodied in many different forms and is not limited to the embodiments described herein.

또한, 여러 실시예들에 있어서, 동일한 구성을 가지는 구성요소에 대해서는 동일한 부호를 사용하여 대표적인 제1실시예에서만 설명하고, 그 외의 다른 실시예에서는 제1실시예와 다른 구성에 대해서만 설명하기로 한다.In addition, in the various embodiments, elements having the same configuration are denoted by the same reference symbols only in the first exemplary embodiment, and in the other embodiments, only the configurations different from those of the first embodiment will be described .

본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 붙이도록 한다.In order to clearly illustrate the present invention, parts not related to the description are omitted, and the same or similar components are denoted by the same reference numerals throughout the specification.

명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 부재를 사이에 두고 "전기적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다. 또한 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.Throughout the specification, when a part is referred to as being "connected" to another part, it includes not only "directly connected" but also "electrically connected" with another part in between . Also, when an element is referred to as "comprising ", it means that it can include other elements as well, without departing from the other elements unless specifically stated otherwise.

도 1은 본 발명의 제1실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 일부를 발췌하여 도시한 단면도이고, 도 2는, 도 1에 도시된 제1실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 일부를 발췌하여 도시한 평면도이다.FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a part of an organic light emitting display according to a first embodiment of the present invention. FIG. 2 is a view illustrating a part of the organic light emitting display according to the first embodiment shown in FIG. Fig.

도 1 및 도 2를 참조하면, 유기 발광 표시 장치(100)는 패널 어셈블리(110)와, 휘도 측정부(120)와, 처리부(130)를 포함한다.1 and 2, the organic light emitting diode display 100 includes a panel assembly 110, a brightness measuring unit 120, and a processing unit 130.

패널 어셈블리(110)에는 영상이 출력된다. 패널 어셈블리(110)는 상부기판(112)과 하부기판(111)을 포함할 수 있다. 패널 어셈블리(110)는 미도시된 복수의 화소를 포함한다. 하부기판(111) 상에 복수의 화소가 형성될 수 있고, 상부기판(112)은 이러한 복수의 화소들을 밀봉하도록 이루어질 수 있다. 여기서, 하나의 화소는 하나의 유기 발광 소자일 수 있다. 이와 다르게, 하나의 화소는 복수의 유기 발광 소자로 이루어질 수 있다. 이러한 유기 발광 소자는 패널 어셈블리(110) 내에 패턴화되어 형성될 수 있다. The panel assembly 110 outputs an image. The panel assembly 110 may include an upper substrate 112 and a lower substrate 111. The panel assembly 110 includes a plurality of pixels not shown. A plurality of pixels may be formed on the lower substrate 111, and the upper substrate 112 may be configured to seal the plurality of pixels. Here, one pixel may be one organic light emitting device. Alternatively, one pixel may comprise a plurality of organic light emitting devices. The organic light emitting device may be patterned in the panel assembly 110.

패널 어셈블리(110)에는 복수의 화소를 구동시키기 위한 스캔 드라이버(도시하지 않음)와 데이터 드라이버(도시하지 않음)가 위치할 수 있다. 그리고, 패널 어셈블리(110)에는 스캔 드라이버와 데이터 드라이버로 전기적 신호를 전달하기 위한 패드 전극들(도시하지 않음)을 포함할 수 있다.The panel assembly 110 may include a scan driver (not shown) and a data driver (not shown) for driving the plurality of pixels. The panel assembly 110 may include pad electrodes (not shown) for transmitting electrical signals to the scan driver and the data driver.

한편, 도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일실시예에서는 유기 발광 소자로부터 발광된 빛이 패널 어셈블리(110)의 상방으로 조사되는 것으로 도시하였으나, 이에 한정하지는 않는다. 이와 다르게, 유기 발광 소자로부터 발광된 빛이 패널 어셈블리(110)의 하방으로 조사되는 것도 가능하다.1, the light emitted from the organic light emitting device is irradiated to the upper side of the panel assembly 110 in the embodiment of the present invention, but the present invention is not limited thereto. Alternatively, light emitted from the organic light emitting device may be irradiated to the lower side of the panel assembly 110.

휘도 측정부(120)는 상기 패널 어셈블리(110)의 둘레면을 따라 배치되어 상기 화소들로부터 발생된 빛(L)의 휘도를 측정한다. 패널 어셈블리(110)가 직사각형으로 이루어진 경우, 휘도 측정부(120)는 4개의 모서리 각각에 배치될 수 있다. The luminance measuring unit 120 is disposed along the circumferential surface of the panel assembly 110 to measure the luminance of the light L generated from the pixels. When the panel assembly 110 is formed in a rectangular shape, the brightness measuring unit 120 may be disposed at each of the four corners.

이러한 휘도 측정부(120)는 패널 어셈블리(110)의 둘레면에 밀착되게 배치될 수 있다. 이와 다르게, 휘도 측정부(120)는 패널 어셈블리(110)의 둘레면으로 부터 일정간격 이격되게 배치될 수 있다. 단, 휘도 측정부(120)가 패널 어셈블리(110)의 둘레면에 밀착된 것이 패널 어셈블리(110)의 화소로부터 발생되는 빛(L)의 휘도를 정확하게 측정하는데 있어서 더욱 유리할 수 있다. 이러한 휘도 측정부(120)의 일예로 포토 센서(photo sensor)일 수 있다.The brightness measuring unit 120 may be disposed in close contact with the peripheral surface of the panel assembly 110. Alternatively, the brightness measuring unit 120 may be spaced apart from the peripheral surface of the panel assembly 110 by a predetermined distance. However, the brightness measuring unit 120 is closely attached to the peripheral surface of the panel assembly 110, which is more advantageous in accurately measuring the brightness of the light L generated from the pixels of the panel assembly 110. An example of the luminance measuring unit 120 may be a photo sensor.

그리고, 복수의 휘도 측정부(120)는 일정 간격마다 배치될 수 있다. 이와 다르게, 복수의 휘도 측정부(120)는 간격이 불규칙적으로 배치되는 것도 가능하다. 그러나, 복수의 휘도 측정부(120)가 일정 간격마다 배치된 것이 패널 어셈블리(110)의 화소로부터 발생되는 빛(L)의 휘도를 정확하게 측정하는데 있어서 더욱 유리할 수 있다.The plurality of luminance measurement units 120 may be arranged at regular intervals. Alternatively, the plurality of luminance measurement units 120 may be arranged with irregular intervals. However, the arrangement of the plurality of luminance measurement units 120 at regular intervals can be more advantageous in accurately measuring the luminance of the light L generated from the pixels of the panel assembly 110.

처리부(130)는 상기 복수의 휘도 측정부(120)에서 측정된 휘도 데이터들을 비교하여 상기 화소의 열화 여부를 판단하고 열화된 화소를 보상할 수 있다. 이때, 처리부(130)는 복수개의 화소 중에서 열화된 특정 화소를 검출하거나, 열화된 특정 화소의 위치를 판단할 수 있다. 여기에서, 휘도 데이터는 휘도 측정부(120)에 의해 측정된 화소로부터 발생된 빛의 휘도값을 나타낸다. The processing unit 130 may compare the luminance data measured by the plurality of luminance measuring units 120 to determine whether the pixel is deteriorated and compensate for the deteriorated pixel. At this time, the processing unit 130 may detect a specific pixel deteriorated among a plurality of pixels, or may determine the position of a specific pixel which is deteriorated. Here, the luminance data represents the luminance value of light generated from the pixel measured by the luminance measurement unit 120. [

이러한 처리부(130)의 상세한 구조의 일예로, 전류 측정부(134), 열화 여부 판단부(132), 화소 위치 계산부와, 제어부(133)를 포함할 수 있다.As an example of the detailed structure of the processing unit 130, the current measuring unit 134, the deterioration determining unit 132, the pixel position calculating unit, and the control unit 133 may be included.

전류 측정부(134)는 상기 패널 어셈블리(110)에 인가된 전류를 측정한다. 즉, 전류 측정부(134)는 패널 어셈블리(110)의 각화소에 흐르는 전류를 측정한다. 전류 측정부(134)의 일예로, 회로를 흐르는 전류를 측정할 수 있는 것이면 어느 것을 사용하여도 무방하다.The current measuring unit 134 measures a current applied to the panel assembly 110. That is, the current measuring unit 134 measures a current flowing to each pixel of the panel assembly 110. Any of the current measuring unit 134 may be used as long as it can measure the current flowing through the circuit.

열화 여부 판단부(132)는 휘도 데이터를 비교하여 상기 패널 어셈블리(110)의 복수의 화소 중에 열화된 화소가 존재하는지 여부를 판단하게 된다. 이때, 열화 여부 판단부(132)는 전류 측정부(134)에 의해 측정된 전류값과 휘도 측정부(120)에 의해 측정된 휘도 데이터를 비교 분석하여 열화 여부를 판단한다. The deterioration determiner 132 compares the luminance data and determines whether or not deteriorated pixels exist in the plurality of pixels of the panel assembly 110. [ At this time, the deterioration determination unit 132 compares and analyzes the current value measured by the current measuring unit 134 with the luminance data measured by the luminance measuring unit 120 to determine whether or not the current is deteriorated.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 열화 여부 판단부(132)는 마이크로 제어 유닛(Micro Control Unit, MCU)일 수 있다. 이때, 열화 여부 판단부(132)는 휘도 측정부(120)에 의해 측정된 휘도 데이터들 중에서 상대적으로 낮은 값의 휘도 데이터가 존재하는지 여부로 판단할 수 있다. According to an embodiment of the present invention, the deterioration determination unit 132 may be a micro control unit (MCU). At this time, the deterioration determination unit 132 may determine whether brightness data of a relatively low value exists among the brightness data measured by the brightness measuring unit 120. [

한편, 열화 여부 판단부(132)는 전류 측정부(134)에 의해 측정된 전류값을 고려하여 열화 여부를 판단할 수 있다. 패널 어셈블리(110)에 동일한 전류가 공급된 상태임에도 불구하고, 휘도 데이터들 중에서 상대적으로 낮은 값의 휘도 데이터가 존재하는 경우, 열화된 것으로 판단할 수 있다. 이때, 전류 측정부(134)에 의해 패널 어셈블리(110)에 동일한 전류가 공급된 것을 확인할 수 있다. On the other hand, the deterioration determination unit 132 may determine whether the deterioration is caused by considering the current value measured by the current measurement unit 134. Even if the same current is supplied to the panel assembly 110, if luminance data having a relatively low value exists among the luminance data, it can be determined that the luminance data is degraded. At this time, it can be confirmed that the same current is supplied to the panel assembly 110 by the current measuring unit 134.

그리고, 화소에 열화가 발생한 것으로 판단되는 경우, 열화 여부 판단부(132)는 상기 휘도 데이터와 전류값을 통해, 열화를 보상해줄 수 있는 제어 신호를 생성한다. 예를 들어, 제어 신호는 보상 데이터(data)를 프레임 스케일 팩터(frame scale factor)형태로 생성된 것일 수 있다. 이때, 생성된 프레임 스케일 팩터는 후술하는 제어부(133)로 전달된다. If it is determined that deterioration has occurred in the pixel, the deterioration determination unit 132 generates a control signal capable of compensating deterioration through the luminance data and the current value. For example, the control signal may be generated in the form of a frame scale factor as compensation data (data). At this time, the generated frame scale factor is transmitted to the control unit 133, which will be described later.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 제어부(133)는 열화 여부 판단부(132)로부터 전달받은 신호에 기초하여, 열화된 화소가 정상화소로 발광하도록 열화된 화소를 보상한다. 이때, 제어부(133)는 ASIC(Application Specific integrated Circuits)일 수 있다. According to an embodiment of the present invention, the control unit 133 compensates the pixel deteriorated so that the deteriorated pixel emits light at a normalization area, based on the signal received from the deterioration determiner 132. [ At this time, the control unit 133 may be an ASIC (Application Specific Integrated Circuits).

한편, 제어부(133)는 열화된 특정 화소에 공급되는 전류를 조절하여 열화된 화소를 보상할 수 있다. 즉, 열화된 화소가 정상 화소로 발광하도록 상기 열화된 화소에 공급되는 전류를 증가시켜 보상할 수 있다. On the other hand, the control unit 133 can compensate the deteriorated pixel by adjusting the current supplied to the deteriorated specific pixel. That is, the current supplied to the deteriorated pixel can be increased by compensating for the deteriorated pixel to emit as a normal pixel.

그러나, 열화된 특정 화소를 보상하는 방법 이외에, 제어부(133)는 패널 어셈블리(110) 내의 전체 화소에 공급되는 구동 전압(ELVDD)을 조절할 수 있다. 보다 자세히, 열화 현상은 패널 어셈블리(110)의 전체 화소에 대해 발생할 수 있는 바, 이러한 경우 전술한 경우와 달리 전체 화소를 보상하기 위해 전체 화소에 공급되는 구동 전압(ELVDD)를 조절할 수 있다. However, in addition to the method of compensating for the deteriorated specific pixel, the control unit 133 can adjust the driving voltage ELVDD supplied to all the pixels in the panel assembly 110. [ More specifically, the deterioration phenomenon can occur with respect to all the pixels of the panel assembly 110, and in this case, unlike the case described above, the driving voltage ELVDD supplied to all the pixels can be adjusted to compensate the entire pixels.

한편, 구동 전압(ELVDD)이 적색, 녹색 및 청색 화소별로 다른 경우, 제어부(133)는 각각의 화소에 공급되는 적색 구동 전압, 녹색 구동 전압 및 청색 구동 전압을 다르게 조절할 수 있다. On the other hand, when the driving voltage ELVDD is different for each of the red, green, and blue pixels, the controller 133 may adjust the red driving voltage, the green driving voltage, and the blue driving voltage supplied to each pixel differently.

그러나, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 열화 여부 판단부(132)에서 제어 신호를 생성하여 제어부(133)에 전달하는 것으로 설명되나, 구동 전압(ELVDD)을 제어하는 경우에는, 열화 여부 판단부(132)에서 제어부(133)을 거치지 않고 바로 보상할 수 있다. However, according to one embodiment of the present invention, it is described that the deterioration determination unit 132 generates a control signal and transmits the control signal to the control unit 133. However, when the driving voltage ELVDD is controlled, It is possible to immediately compensate the signal without passing through the control unit 133 in the step 132.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 처리부(130)는 열화된 화소의 위치를 계산할 수 있는 화소 위치 계산부를 더 포함할 수 있다. 화소 위치 계산부에서 열화된 화소의 위치를 계산하는 방법의 일예를 설명한다. 우선, 상기 패널 어셈블리(110)에 동일한 전류가 인가된 상태, 즉, 모든 화소들에 동일한 전류가 인가된 상태이다. 이러한 상태에서, 상기 복수의 휘도 측정부(120) 중에서 상기 휘도 데이터들로부터 상대적으로 낮은 값의 휘도 데이터가 측정된 휘도 측정부(120)의 위치로부터 열화된 화소의 위치를 계산한다. According to an embodiment of the present invention, the processing unit 130 may further include a pixel position calculation unit capable of calculating the position of the deteriorated pixel. An example of a method of calculating the position of a pixel deteriorated by the pixel position calculation unit will be described. First, the same current is applied to the panel assembly 110, that is, all the pixels are applied with the same current. In this state, the position of the pixel deteriorated from the position of the luminance measurement unit 120 where the luminance data of a relatively low value is measured from the luminance data among the plurality of luminance measurement units 120 is calculated.

한편, 상대적으로 낮은 값의 휘도 데이터가 측정된 휘도 측정부(120)의 위치로부터 열화된 화소의 위치를 계산하는 방법의 일예를 설명한다.On the other hand, an example of a method of calculating the position of the pixel deteriorated from the position of the luminance measurement unit 120 where the relatively low value luminance data is measured will be described.

패널 어셈블리(110)의 가로방향의 모서리에 배치된 어느 하나의 휘도 측정부(120b)에서 획득된 값과, 세로방향의 모서리에 배치된 어느 하나의 휘도 측정부(120a)에서 획득된 값이 다른 휘도 측정부(120c, 120d)에서 획득된 값보다 상대적으로 낮은 값으로 확인되었다. 이러한 2개의 휘도 측정부(120a, 120b)들이 교차하는 영역에 위치한 화소(미도시)가 열화된 화소인 것으로 판단하여, 열화된 화소의 위치를 간접적으로 측정할 수 있다. 단, 상대적으로 낮은 값의 휘도 데이터가 측정된 휘도 측정부(120a, 120b)들의 위치로부터 열화된 화소의 위치를 계산하는 방법이 상기와 같은 방법인 것으로 한정하지는 않는다.The values obtained by any one of the luminance measuring units 120b disposed at the edges of the panel assembly 110 in the horizontal direction and the values obtained from any one of the luminance measuring units 120a disposed at the corners in the vertical direction are different from each other Is relatively lower than the value obtained by the luminance measuring units 120c and 120d. It is determined that the pixel (not shown) located in the area where the two luminance measuring units 120a and 120b intersect is a deteriorated pixel, and the position of the deteriorated pixel can be indirectly measured. However, the method of calculating the position of the pixel deteriorated from the positions of the luminance measurement units 120a and 120b in which relatively low luminance data is measured is not limited to the above method.

한편, 처리부(130)가 전술한 바와 같이 위치를 계산하여 각각의 위치마다 열화된 정도를 판단하여 화소를 보상하는 것으로 한정하지는 않는다. 처리부(130)에의해 화소가 보상되는 다른 방법을 설명하면, 패널 어셈블리(110)의 정중앙 또는 전체에 일정 패턴(pattern)을 출력(display)한 상태에서, 휘도 측정부(120)로 휘도를 검출하여 화소의 열화된 정도를 검출한다. 이러한 열화를 보상해줄 수 있는 보상 데이터(data)를 프레임 스케일 팩터(frame scale factor)형태로 생성한다. On the other hand, the processing unit 130 is not limited to calculating the position as described above and determining the degree of deterioration for each position to compensate the pixel. Another method in which pixels are compensated by the processing unit 130 is to detect luminance by the luminance measuring unit 120 in a state in which a certain pattern is displayed in the center or the entirety of the panel assembly 110 Thereby detecting the deterioration degree of the pixel. And generates compensation data that can compensate for such deterioration in the form of a frame scale factor.

다음으로, 패널 어셈블리(110)에 입력되는 보상 데이터(data)를 전체 레드 화소, 그린 화소, 블루 화소 각각에 스케일 펙터(scale factor)를 곱하는 방법으로 열화된 화소의 보상을 진행하는 것도 가능할 수 있다. 이러한 방법은 화소를 보상하기 위하여 일반적으로 사용되는 방법으로 이에 대한 상세한 설명은 생략한다..It is also possible to compensate the degraded pixel by multiplying the compensation data (data) input to the panel assembly 110 by a scale factor for each of the red, green and blue pixels . This method is a method generally used for compensating a pixel, and a detailed description thereof will be omitted.

이하에서는 도면을 참고하여 본 발명에 따른 유기 발광 표시 장치(100)의 다양한 실시예들에 대해 설명한다.Hereinafter, various embodiments of the organic light emitting diode display 100 according to the present invention will be described with reference to the drawings.

도 3은 본 발명의 제2실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 일부를 발췌하여 도시한 단면도이다.FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating a part of an organic light emitting diode display according to a second embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 발명의 제2실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(200)는 패널 어셈블리(210)와, 난반사부(240)와, 휘도 측정부(220)와, 처리부(130)를 포함한다. 여기서, 처리부(130)는 전술한 제1실시예에 따른 처리부(130, 도 2 참조)와 동일하므로, 이에 대한 상세한 설명은 생략한다.3, the OLED display 200 according to the second embodiment of the present invention includes a panel assembly 210, a diffusive reflection unit 240, a luminance measurement unit 220, and a processing unit 130 . Here, the processing unit 130 is the same as the processing unit 130 (refer to FIG. 2) according to the first embodiment described above, and a detailed description thereof will be omitted.

패널 어셈블리(210)는 표시영역(AA)과 비표시영역(PA)을 포함한다. 표시영역(AA)은 영상이 표시되는 영역이다. 비표시영역(PA)은 영상이 표시되지 않는 영역이다. 표시영역(AA)에는 복수의 화소가 형성된다.The panel assembly 210 includes a display area AA and a non-display area PA. The display area AA is an area in which an image is displayed. The non-display area PA is an area where no image is displayed. A plurality of pixels are formed in the display area AA.

난반사부(240)는 비표시영역(PA)에 형성되어 표시영역(AA)으로부터 발생되는 빛(L)을 난반사시킨다. 이를 위한 난반사부(240)는 패널 어셈블리(210)의 비표시영역(PA)에서 상측에 형성될 수 있다. 이는, 난반사부(240)가 패널 어셈블리(210)의 하방으로 빛(L)을 난반사시키기 위함이다. 난반사부(240)에 의해 난반사된 빛(L)은 휘도 측정부(220)로 조사된다.The diffusive reflection part 240 is formed in the non-display area PA to diffuse the light L generated from the display area AA irregularly. The diffusive reflection part 240 may be formed on the upper side of the non-display area PA of the panel assembly 210. This is for the diffusive reflection unit 240 to diffuse the light L downward of the panel assembly 210. The light L reflected by the diffusive reflection unit 240 is irradiated to the luminance measurement unit 220. [

복수의 휘도 측정부(220)는 상기 패널 어셈블리(210)의 하면에 배치되어 상기 난반사부(240)에서 난반사된 빛(L)의 휘도를 측정한다. 복수의 휘도 측정부(220)는 상기 패널 어셈블리(210)의 하면에 밀착되도록 배치될 수 있다. 이에 따라, 난반사부(240)에 의해 난반사된 빛(L)의 대부분이 휘도 측정부(220)로 입사되어 휘도 측정 신뢰성이 향상될 수 있다.The plurality of luminance measurement units 220 are disposed on the lower surface of the panel assembly 210 to measure the luminance of the light L that is irregularly reflected by the diffusive reflection unit 240. The plurality of luminance measurement units 220 may be disposed closely to the lower surface of the panel assembly 210. Accordingly, most of the light L that is irregularly reflected by the diffusive reflection unit 240 is incident on the luminance measurement unit 220, so that the luminance measurement reliability can be improved.

전술한 제1실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(100, 도 2 참조)는 휘도 측정부(120, 도 2 참조)가 패널 어셈블리(110, 도 2 참조)의 둘레면에 배치되나, 제2실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(200)에서는 휘도 측정부(220)가 패널 어셈블리(210)의 하면에 인접하게 배치된다.2) of the OLED display 100 (see FIG. 2) according to the first embodiment is disposed on the peripheral surface of the panel assembly 110 (see FIG. 2) In the OLED display 200 according to an exemplary embodiment, the brightness measuring unit 220 is disposed adjacent to a lower surface of the panel assembly 210.

이러한 상기 휘도 측정부(220)는 상기 난반사부(240)와 마주하도록 배치될 수 있다. 즉, 휘도 측정부(220)와 난반사부(240)는 패널 어셈블리(210)를 기준으로 수직방향으로 서로 대향되게 배치될 수 있다. 이러한 구조에 의하여 난반사부(240)에 의해 난반사된 빛(L)의 대부분이 휘도 측정부(220)로 반사될 수 있으므로, 더욱 정확한 휘도 측정이 이루어질 수 있다.The brightness measuring unit 220 may be disposed to face the diffusive reflection unit 240. That is, the brightness measuring unit 220 and the diffusive reflection unit 240 may be arranged to face each other in the vertical direction with respect to the panel assembly 210. With this structure, most of the light L that is irregularly reflected by the irregular reflection unit 240 can be reflected to the luminance measurement unit 220, so that more accurate luminance measurement can be performed.

전술한 제1실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(100, 도 1 참조)에서는 휘도 측정부(120, 도 1 참조)가 패널 어셈블리(210, 도 1 참조)의 둘레면에 배치되었으나, 상기와 같은 본 발명의 제2실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(200)에서는 휘도 측정부(220)가 패널 어셈블리(210)의 하측에 배치된다. 이러한 구조에 의하여 전술한 제1실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(100, 도 1 참조)보다 패널 어셈블리(210) 둘레면의 공간이 더욱 효율적으로 활용될 수 있다.1) is disposed on the circumferential surface of the panel assembly 210 (see FIG. 1) in the OLED display 100 (see FIG. 1) according to the first embodiment, In the OLED display 200 according to the second embodiment of the present invention, the brightness measuring unit 220 is disposed below the panel assembly 210. With this structure, the space around the panel assembly 210 can be utilized more efficiently than the OLED display 100 according to the first embodiment (see FIG. 1).

한편, 본 발명의 제2실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(200)에서 패널 어셈블리(210)의 구조를 더욱 상세하게 설명하면, 상기 패널 어셈블리(210)의 상면의 일부분은 인입되도록 형성된다. 그리고, 상기 난반사부(240)는 상기 인입된 부분에 수용되도록 형성될 수 있다. 즉, 난반사부(240)가 패널 어셈블리(210)의 비표시영역(PA)의 내부에 수용된 형태가 될 수 있다. The structure of the panel assembly 210 in the OLED display 200 according to the second embodiment of the present invention will be described in more detail. A part of the top surface of the panel assembly 210 is drawn in. The irregularly reflecting portion 240 may be formed to be received in the drawn-in portion. That is, the diffusive reflection part 240 may be accommodated in the non-display area PA of the panel assembly 210.

이러한 난반사부(240)의 제조 방법의 일예로, 부식과 같은 화학적인 방법을 이용하여 제조할 수 있다. 또한, 난반사부(240)는 그라인더와 같은 기계적인 연마 도구를 이용하여 제조할 수 있다. 또한, 난반사부(240)는 포토 리소그래피(Photo lithography)로 패널 어셈블리(210) 상에 미세 패턴을 형성하여 제조할 수 있다.As an example of the manufacturing method of the diffusive reflection part 240, it can be manufactured by a chemical method such as corrosion. Also, the diffusive reflection part 240 can be manufactured using a mechanical polishing tool such as a grinder. In addition, the diffuse reflection part 240 can be manufactured by forming a fine pattern on the panel assembly 210 by photolithography.

여기서, 상기 난반사부(240)의 두께는 상기 패널 어셈블리(210)에서 인입된 깊이와 동일하게 형성될 수 있다. 이러한 구조는, 난반사부(240)가 패널 어셈블리(210)의 상면으로부터 돌출되지 않는 구조이다. 그러므로, 유기 발광 표시 장치(100)의 전체 두께를 증가시키지 않도록 할 수 있다.Here, the thickness of the irregular reflection portion 240 may be the same as the depth of the panel assembly 210. This structure is a structure in which the diffusely reflecting portion 240 does not protrude from the upper surface of the panel assembly 210. Therefore, the total thickness of the OLED display 100 can be prevented from increasing.

도 4는 본 발명의 제3실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 일부를 발췌하여 도시한 단면도이다.4 is a cross-sectional view illustrating a portion of an OLED display according to a third embodiment of the present invention.

도 4를 참조하면, 본 발명의 제3실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(300)는 전술한 제2실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(200, 도 3 참조)와 다르게, 난반사부(240)가 상기 패널 어셈블리(110)의 상면에 형성될 수 있다. 난반사부(240)의 일예로 난반사 필름일 수 있다.4, the OLED display 300 according to the third exemplary embodiment of the present invention differs from the OLED display 200 according to the second exemplary embodiment shown in FIG. May be formed on the upper surface of the panel assembly 110. An example of the diffusive reflection part 240 may be a diffuse reflection film.

여기서, 난반사 필름(240)은 별도의 미도시된 접착제에 의해 접착될 수 있다. 이러한 접착제의 굴절율은 상부기판(112)과 동일한 굴절율을 갖도록 이루어질 수 있다. 예를 들어, 상부기판(112)이 유리로 이루어진 경우, 접착제의 굴절율도 유리와 동일한 굴절율을 갖도록 이루어질 수 있다.Here, the diffusely reflecting film 240 may be adhered by an adhesive not shown. The refractive index of the adhesive may be made to have the same refractive index as that of the upper substrate 112. For example, when the upper substrate 112 is made of glass, the refractive index of the adhesive may be made to have the same refractive index as the glass.

상기와 같은 구조에서는 패널 어셈블리(110)를 별도로 가공하지 않더라도, 기존의 패널 어셈블리의 상면에 난반사부(240)를 배치하여 유기 발광 표시 장치(300)의 제조를 완료할 수 있다. 즉, 본 발명의 제3실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(300)를 제조하는데 있어서, 패널 어셈블리(110)를 별도로 가공하는 공정을 거치지 않게 됨으로써, 제조 비용이 절감될 수 있다.In the above structure, the irregular reflection portion 240 may be disposed on the upper surface of the panel assembly 110 to complete the manufacture of the organic light emitting display 300 without separately fabricating the panel assembly 110. In other words, in manufacturing the organic light emitting diode display 300 according to the third embodiment of the present invention, the panel assembly 110 is not processed separately, thereby reducing the manufacturing cost.

한편, 도 5에 도시된 바와 같이, 전술한 난반사부(240)의 형상의 일예로 라인(line) 형상으로 이루어질 수 있다. 더욱 상세하게 설명하면, 난반사부(240)는 패널 어셈블리(210)의 비표시영역(PA)을 따라 형성된 폐곡선 형상으로 이루어질 수 있다. Meanwhile, as shown in FIG. 5, the shape of the irregularly reflecting portion 240 may be a line. More specifically, the diffusive reflection unit 240 may have a closed curve shape formed along the non-display area PA of the panel assembly 210.

이와 다르게, 도 6에 도시된 바와 같이, 난반사부(240, 도 5 참조)의 변형예로, 일정 간격마다 배치된 단위 난반사부(340)들로 이루어질 수 있다. 즉, 변형예에 따른 단위 난반사부(340)는 휘도 측정부(120)와 대응되는 위치에만 형성되고, 휘도 측정부(120)가 대응되지 않는 위치에는 형성되지 않도록 이루어질 수 있다. Alternatively, as shown in FIG. 6, a variation of the diffusive reflection unit 240 (see FIG. 5) may include unit diffusive reflection units 340 arranged at predetermined intervals. That is, the unit irregular reflection unit 340 according to the modified example may be formed only at a position corresponding to the luminance measurement unit 120, and may not be formed at a position where the luminance measurement unit 120 does not correspond.

또한, 미도시되었으나 비표시영역(PA)의 일부분에는 라인 형상의 난반사부가형성되고, 나머지 부분은 단위 난반사부(340)들로 이루어진 것도 가능할 수 있다.Also, although not shown, a line-shaped diffuse reflection part may be formed in a part of the non-display area PA, and the remaining part may be made of the unit diffusive reflection parts 340.

여기서, 난반사부(240)의 형상을 상기와 같은 것으로 한정하지는 않으며, 표시영역(AA)에서 방출된 빛(L)이 휘도 측정부(220)로 조사될 수 있게 하는 형상이면 어떤 형상이든 무방하다.Here, the shape of the diffusive reflection part 240 is not limited to the above, and any shape may be used as long as the light L emitted from the display area AA can be irradiated to the brightness measuring part 220 .

도 7는 본 발명의 제4실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 일부를 발췌하여 도시한 단면도이고, 도 8는 본 발명의 제5실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 일부를 발췌하여 도시한 단면도이다.FIG. 7 is a cross-sectional view illustrating a portion of an OLED display according to a fourth embodiment of the present invention. FIG. 8 is a cross-sectional view illustrating a portion of an OLED display according to a fifth embodiment of the present invention. to be.

우선, 도 7를 참조하면, 본 발명의 제4실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(400)는 차광부(460)를 더 포함할 수 있다. 차광부(460)는 상기 난반사부(240) 상에 형성되며, 상기 패널 어셈블리(210)의 비표시 영역에 형성된다. 본 발명의 제4실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(400)는 도 3에 도시된 본 발명의 제2실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(200)와 다르게, 차광부(460)가 상기 패널 어셈블리(210)의 비표시 영역에 형성된다.7, the organic light emitting diode display 400 according to the fourth exemplary embodiment of the present invention may further include a light shielding part 460. Referring to FIG. The light shielding part 460 is formed on the non-display area of the panel assembly 210, and is formed on the diffusive reflection part 240. The OLED display 400 according to the fourth embodiment of the present invention is different from the OLED display 200 according to the second embodiment of the present invention shown in FIG. Non-display region of the display region 210.

이러한 차광부(460)는 난반사부(240)에서 난반사된 빛(L)이 표시영역(AA)으로 재차 반사되는 것을 최소화한다. 이에 따라, 난반사부(240)에 인접한 표시영역(AA)의 휘도가 반사된 빛(L)이 섞어서 변화되는 것을 방지할 수 있다.The light-shielding portion 460 minimizes the reflection of the diffused light L from the diffusive reflection portion 240 to the display region AA again. Accordingly, it is possible to prevent the luminance of the display area AA adjacent to the diffusive reflection part 240 from being changed by mixing the reflected light L.

다음으로, 도 8을 참조하면, 본 발명의 제5실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(500)는 도 4에 도시된 본 발명의 제3실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(300, 도 4)의 구조에 차광부(560)가 더 포함될 수 있다.8, an OLED display 500 according to a fifth exemplary embodiment of the present invention includes an OLED display 300 (FIG. 4) according to a third exemplary embodiment of the present invention shown in FIG. 4, The light shielding portion 560 may be further included in the structure of FIG.

차광부(560)의 형상의 일예로, 난반사부(240)와 접촉되는 부분은 일정 깊이 인입되도록 형성될 수 있다. 차광부(560)의 바닥면에서 차광부(560)의 인입된 부분에 난반사부(240)가 수용될 수 있다. 이러한 차광부(560)에 대한 설명은 전술하였으므로, 생략한다.As an example of the shape of the light-shielding portion 560, a portion contacting the diffusive reflection portion 240 may be formed to be drawn to a certain depth. The diffused portion 240 may be received in a portion of the bottom surface of the light shielding portion 560 where the light shielding portion 560 is inserted. Since the description of the light-shielding portion 560 has been described above, it is omitted.

도 9은 본 발명의 제6실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 일부를 발췌하여 도시한 단면도이다.FIG. 9 is a cross-sectional view illustrating a part of an organic light emitting diode display according to a sixth embodiment of the present invention.

도 9을 참조하면, 본 발명의 제6실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(600)는 굴절부(650)를 더 포함할 수 있다. Referring to FIG. 9, the organic light emitting diode display 600 according to the sixth embodiment of the present invention may further include a refraction unit 650.

굴절부(650)는 상기 난반사부(240)와 상기 패널 어셈블리(210) 사이에 개재된다. 굴절부(650)는 패널 어셈블리(210)를 구성하는 유리와 동일한 굴절률을 갖는 소재일 수 있다.The refracting portion 650 is interposed between the diffusive reflecting portion 240 and the panel assembly 210. The refraction portion 650 may be a material having the same refractive index as the glass constituting the panel assembly 210.

이와 같이 이루어진 본 발명의 제6실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(600) 는 굴절부(650)를 포함함으로써, 도 8에 도시된 본 발명의 제5실시예에 따른 유기 발광 표시 장치(500, 도 8)에서 보다 더 많은 양의 빛(L)이 휘도 측정부(220)로 난반사되도록 할 수 있다. 이에 따라, 휘도 측정부(220)에서 휘도를 측정하는데 있어서, 휘도 측정 신뢰성이 더욱 향상될 수 있다.The organic light emitting diode display 600 according to the sixth embodiment of the present invention includes the refracting unit 650 so that the OLED display 500 and the organic light emitting diode display 500 according to the fifth embodiment of the present invention shown in FIG. 8, the amount of light L may be diffusely reflected by the brightness measuring unit 220. Accordingly, in measuring the luminance in the luminance measuring unit 220, the luminance measurement reliability can be further improved.

앞서 설명한 바와 같이 종래의 유기 발광 표시 장치에서 열화된 화소를 보상하는 방식의 경우, 패널들 사이 또는 패널 내부에 공정 산포가 발생할 경우 더미 화소(dummy pixel)에서 읽은 열화 정도와 실제 엑티브 화소(Active pixel)에 나타난 열화 정도에 차이가 나타나게 되어 보상 오류가 발생될 수 밖에 없었다. As described above, in the case of a method of compensating a pixel deteriorated in a conventional organic light emitting display, when a process dispersion occurs between panels or inside a panel, the degree of deterioration read from a dummy pixel and the actual pixel ), And a compensation error occurred.

그러나, 상기와 같은 구조로 이루어진 본 발명의 다양한 일실시예에 따른 유기 발광 표시 장치에서는 표시 영역에 위치한 화소(Active pixel)로부터 발생되는 빛으로 휘도 저하 정도를 측정하여 열화된 화소를 보상해주는 방법을 실시한다. 이와 같이, 더미 화소(dummy pixel)를 사용하지 않고, 실제 엑티브 화소(Active pixel)을 직접 반영하여 보상해줌으로써, 보상 오류가 발생되는 것을 방지할 수 있다.However, in the organic light emitting diode display according to various embodiments of the present invention having the above structure, a method of compensating a deteriorated pixel by measuring a degree of brightness reduction using light generated from a pixel located in a display area Conduct. In this manner, compensation errors can be prevented from occurring by directly reflecting and compensating the actual active pixels without using dummy pixels.

상기와 같은 구조로 이루어진 유기 발광 표시 장치에서 열화된 화소를 보상하는 열화 보상 방법에 대해 설명한다.A degradation compensation method for compensating a degraded pixel in an organic light emitting display having the above structure will be described.

본 발명의 일실시예에 따른 열화 보상 방법은 상기 패널 어셈블리로부터 상기 휘도 데이터들을 획득하는 단계(S100), 상기 획득된 휘도 데이터들로부터 상기 패널 어셈블리의 화소의 열화 여부를 판단하는 단계(S300) 및 열화된 화소가 존재하는 경우 상기 열화된 화소를 보상하는 단계를 포함한다. The deterioration compensation method according to an exemplary embodiment of the present invention may include obtaining brightness data from the panel assembly (S100), determining whether deterioration of a pixel of the panel assembly is obtained from the obtained brightness data (S300) And compensating for the degraded pixel if degraded pixels are present.

한편, 상기 패널 어셈블리로부터 상기 휘도 데이터들을 획득하는 단계(S100)에서는 상기 복수의 휘도 측정부로 상기 패널 어셈블리의 각 화소로부터 발광된 빛의 휘도를 측정하여 상기 휘도 데이터들을 획득할 수 있다. Meanwhile, in the step of obtaining the brightness data from the panel assembly (S100), the plurality of brightness measuring units may measure brightness of light emitted from each pixel of the panel assembly to obtain the brightness data.

이 단계에서는, 전술한 도 1에 도시된 유기 발광 표시 장치(100)와 같이 휘도 측정부를 패널 어셈블리의 측면에 배치하거나, 도 3에 도시된 유기 발광 표시 장치(200)와 같이 휘도 측정부를 패널 어셈블리의 하면에 배치하여 휘도 데이터를 획득할 수 있다.In this step, the luminance measurement unit may be disposed on the side of the panel assembly as in the organic light emitting display 100 shown in FIG. 1, or the luminance measurement unit may be mounted on the panel assembly, such as the organic light emitting display 200 shown in FIG. The luminance data can be obtained.

한편, 상기 획득된 휘도 데이터들로부터 상기 패널 어셈블리의 화소의 열화 여부를 판단하는 단계(S300)에서는, 상기 휘도 데이터들 중에서 상대적으로 낮은 값의 휘도 데이터가 존재하는 여부로 화소의 열화 여부를 판단할 수 있다. Meanwhile, in step S300 of determining whether the pixel of the panel assembly deteriorates from the obtained brightness data, it is determined whether or not the pixel is deteriorated by the presence of relatively low brightness data among the brightness data .

화소 측정부(120)에서 측정된 복수의 화소 데이터 중 낮은 값의 휘도 데이터가 검출되는 것은 특정 화소에 열화 현상이 발생되는 것을 나타낸다. 따라서, 이와 같이 측정된 복수의 화소 데이터를 분석함으로써, 패널 어셈블리의 화소 중에서 열화 현상이 발생한지를 판단할 수 있게 된다. The detection of low value luminance data among a plurality of pixel data measured by the pixel measuring unit 120 indicates that a deterioration phenomenon occurs in a specific pixel. Therefore, by analyzing a plurality of pixel data measured in this way, it is possible to determine whether deterioration has occurred in the pixels of the panel assembly.

다음으로, 열화된 화소를 보상하는 단계로서, 열화된 화소가 존재하는 것으로 판단되는 경우, 패널 어셈블리의 화소에 공급되는 구동 전압(ELVDD)을 조절한다(S500). 이때, 패널 어셈블리의 화소가 정상 화소로 발광하도록, 화소에 공급되는 구동 전압(ELVDD)를 증가시킬 수 있다. Next, in the step of compensating the deteriorated pixel, when it is determined that a deteriorated pixel exists, the driving voltage ELVDD supplied to the pixel of the panel assembly is adjusted (S500). At this time, the driving voltage (ELVDD) supplied to the pixel can be increased so that the pixel of the panel assembly emits as a normal pixel.

패널 어셈블리의 화소에 공급되는 구동 전압(ELVDD)가 적색, 녹색 및 청색 화소에 구분없이 하나의 구동 전압(ELVDD)가 공급되는 경우, 이러한 하나의 구동 전압(ELVDD)를 조절하여 열화된 화소를 보상한다.When one driving voltage ELVDD is supplied to the red, green, and blue pixels regardless of the driving voltage ELVDD supplied to the pixels of the panel assembly, the driving voltage ELVDD is adjusted to compensate for the deteriorated pixel do.

한편, 패널 어셈블리의 화소에 공급되는 구동 전압이 적색, 녹색 및 청색 화소에 따라 각기 다른 구동 전압(ELVDD_R, ELVDD_G, ELVDD_B)이 공급되는 경우는, 각각의 구동 전압(ELVDD_R, ELVDD_G, ELVDD_B)을 조절하여 열화된 화소를 보상한다.On the other hand, when different driving voltages ELVDD_R, ELVDD_G, and ELVDD_B are supplied to the pixels of the panel assembly depending on the red, green, and blue pixels, the driving voltages ELVDD_R, ELVDD_G, and ELVDD_B are controlled Thereby compensating for the deteriorated pixels.

본 발명의 다른 실시예에 따른 열화 보상 방법은 상기 패널 어셈블리로부터 상기 휘도 데이터들을 획득하는 단계(S100), 상기 획득된 휘도 데이터들로부터 상기 패널 어셈블리의 화소의 열화 여부를 판단하는 단계(S300), 상기 획득된 휘도 데이터들로부터 열화된 화소의 위치를 계산하는 단계(S400) 및 상기 열화된 화소를 보상하는 단계를 포함한다.The deterioration compensation method according to another exemplary embodiment of the present invention includes the steps of acquiring luminance data from the panel assembly (S100), determining whether deterioration of a pixel of the panel assembly is obtained from the obtained luminance data (S300) Calculating a position of a deteriorated pixel from the obtained brightness data (S400), and compensating the deteriorated pixel.

상기 휘도 데이터들을 획득하는 단계(S100) 및 화소의 열화 여부를 판단하는 단계(S300)는 전술한 본 발명의 일 실시예에 따른 열화 보상 방법의 단계와 동일한 바, 이에 대한 설명은 생략하기로 한다. The step S100 of obtaining the brightness data and the step S300 of determining whether the pixel is deteriorated are the same as the steps of the degradation compensation method according to the embodiment of the present invention, .

상기 획득된 휘도 데이터들로 열화된 화소의 위치를 계산하는 단계(S20)에서는, 상기 패널 어셈블리의 각 화소들에 동일한 전류가 인가된 상태에서, 상기 휘도 데이터들 중에서 상대적으로 낮은 값의 휘도 데이터가 측정된 휘도 측정부의 위치로부터 열화된 화소의 위치를 계산할 수 있다. 이 단계에서는 전술한 도 2에 도시된 처리부(130)에서 전류 측정부(134)와, 화소 위치 계산부의해 열화된 화소의 위치가 계산될 수 있다.In the step S20 of calculating the position of the pixel deteriorated by the obtained luminance data, luminance data having a relatively low value among the luminance data is applied to each pixel of the panel assembly The position of the deteriorated pixel can be calculated from the position of the measured luminance measurement unit. At this stage, the position of the current measurement unit 134 and the pixel deteriorated by the pixel position calculation unit in the processing unit 130 shown in FIG. 2 can be calculated.

한편, 전술한 바와 다르게, 상기 패널 어셈블리로부터 상기 휘도 데이터들을 획득하는 단계(S20)의 이전에는, 그레이 데이터(0Gray data)를 패널 어셈블리에 입력하고, 이러한 그레이 데이터가 패널 어셈블리에 출력되는 경우, 전류값이 대략적으로 특정 값을 갖는 것으로 가정하는 방법으로 패널 어셈블리의 전류값을 간접적으로 계산하는 것도 가능할 수 있다. 이러한 방법은 패널 어셈블리의 전류를 측정하는 일반적인 방법으로, 이에 대한 상세한 설명은 생략한다.Meanwhile, unlike the above, before the step S20 of obtaining the luminance data from the panel assembly, gray data (0 Gray data) is inputted to the panel assembly. When such gray data is outputted to the panel assembly, It may also be possible to indirectly calculate the current value of the panel assembly in a manner that assumes that the value has an approximate specific value. This method is a general method of measuring the current of the panel assembly, and a detailed description thereof will be omitted.

그리고, 패널 어셈블리에 인가된 전류값을 측정하거나 계산하는 방법이 전술한 방법에 한정하지는 않으며, 열화된 화소의 위치를 측정하기 위하여 패널 어셈블리의 전류를 측정하는 방법이면 어느 방법을 사용하여도 무방할 수 있다.The method of measuring or calculating the current value applied to the panel assembly is not limited to the method described above. Any method may be used as long as the current of the panel assembly is measured to measure the position of the deteriorated pixel .

한편, 상기 열화된 화소를 보상하는 단계로서, 열화된 화소가 정상 화소로 발광하도록 상기 열화된 화소의 전류를 조절한다. 즉, 열화된 특정 화소만 개별적으로 보상한다. 여기에서, 화소의 전류는 각 화소의 발광층에 공급되는 전류를 의미한다. On the other hand, in the step of compensating the deteriorated pixel, the current of the deteriorated pixel is adjusted so that the deteriorated pixel emits as a normal pixel. That is, only the deteriorated specific pixels are individually compensated. Here, the current of the pixel means the current supplied to the light emitting layer of each pixel.

전술한 본 발명의 일 실시예에 따른 열화 보상 방법에서는, 열화가 발생되는 경우 패널 어셈블리의 복수의 화소에 공급되는 구동 전압(ELVDD)를 조절하여 열화를 보상하는 반면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 열화 보상 방법에서는 열화가 발생된 특정 화소의 전류만 조절하여 열화를 보상하는 차이가 있다.In the deterioration compensation method according to an embodiment of the present invention, when deterioration occurs, the deterioration is compensated by adjusting the driving voltage (ELVDD) supplied to the plurality of pixels of the panel assembly, while in another embodiment There is a difference in that deterioration is compensated by adjusting only the current of a specific pixel in which deterioration has occurred.

상기와 같은 본 발명의 일실시예에 따른 열화 보상 방법은 앞서 설명한 본 발명에 따른 유기 발광 표시 장치(100, 200, 300, 400, 500, 600)를 설명하면서 상세하게 설명하였으므로, 이에 대한 설명은 생략한다.Since the degradation compensation method according to an embodiment of the present invention has been described in detail with reference to the organic light emitting display devices 100, 200, 300, 400, 500, and 600 according to the present invention, It is omitted.

전술한 바와 같이 본 발명의 일실시예에 따른 열화 보상 방법은 종래의 열화 보상 방법과 다르게 더미 화소가 아닌 표시 영역에 위치한 화소(Active pixel)로부터 발생되는 빛으로 휘도 저하 정도를 측정하여 열화된 화소를 보상해주는 방법을 실시한다. 이와 같이, 더미 화소(dummy pixel)를 사용하지 않고, 실제 엑티브 화소(Active pixel)로부터 휘도 데이터를 측정하여 이러한 것을 직접 반영하여 열화된 화소를 보상해줌으로써, 보상 오류가 발생되는 것을 현저하게 방지할 수 있다.As described above, the deterioration compensation method according to an embodiment of the present invention differs from the conventional deterioration compensation method in that the luminance degradation degree is measured by light generated from a pixel (Active pixel) To be compensated for. In this manner, luminance data is measured from actual active pixels without using a dummy pixel, and these are directly reflected to compensate for degraded pixels, thereby remarkably preventing compensation errors from occurring .

지금까지 참조한 도면과 기재된 발명의 상세한 설명은 단지 본 발명의 예시적인 것으로서, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.It is to be understood that both the foregoing general description and the following detailed description of the present invention are illustrative and explanatory only and are intended to be illustrative of the invention and are not to be construed as limiting the scope of the invention as defined by the appended claims. It is not. Therefore, those skilled in the art will appreciate that various modifications and equivalent embodiments are possible without departing from the scope of the present invention. Accordingly, the true scope of the present invention should be determined by the technical idea of the appended claims.

L: 빛
AA: 표시영역
PA: 비표시영역
100,200,300,400,500,600: 유기 발광 표시 장치
110, 210: 패널 어셈블리
111: 하부기판
112: 상부기판
120,220: 휘도 측정부
130: 처리부
131: 열화 여부 판단부
134: 전류 측정부
240,340: 난반사부
460, 560: 차광부
650: 굴절부
L: Light
AA: display area
PA: non-display area
100, 200, 300, 400, 500, 600:
110, 210: Panel assembly
111: Lower substrate
112: upper substrate
120, 220:
130:
131: Deterioration determination unit
134: current measuring unit
240,340: diffuse reflection
460, 560:
650: refraction part

Claims (27)

복수의 화소를 포함하는 패널 어셈블리,
상기 패널 어셈블리의 둘레면을 따라 배치되어 상기 화소들로부터 발생된 빛의 휘도를 측정하는 복수의 휘도 측정부, 및
상기 복수의 휘도 측정부에서 측정된 휘도 데이터들을 비교하여 상기 복수개의 화소 중에서 열화된 화소를 검출하여 보상하는 처리부를 포함하는 유기 발광 표시 장치.
A panel assembly comprising a plurality of pixels,
A plurality of luminance measurement units disposed along the circumferential surface of the panel assembly for measuring luminance of light generated from the pixels,
And a processing unit for comparing the luminance data measured by the plurality of luminance measuring units and detecting and compensating for degraded pixels among the plurality of pixels.
제1항에 있어서,
상기 휘도 측정부는 포토 센서인 유기 발광 표시 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the luminance measuring unit is a photosensor.
제1항에 있어서,
상기 휘도 측정부는 일정 간격마다 배치된 유기 발광 표시 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the luminance measuring unit is disposed at predetermined intervals.
제1항에 있어서,
상기 처리부는,
상기 패널 어셈블리에 인가된 전류를 측정하는 전류 측정부,
상기 전류 측정부에 의해 측정된 전류와 상기 휘도 측정부에 의해 측정된 휘도 데이터를 비교 분석하여 화소의 열화 여부를 판단하는 열화 여부 판단부 및
상기 열화된 화소가 정상 화소로 발광되게 하는 제어부를 포함하는 유기 발광 표시 장치.
The method according to claim 1,
Wherein,
A current measuring unit for measuring a current applied to the panel assembly,
A deterioration determining unit for comparing the current measured by the current measuring unit and the luminance data measured by the luminance measuring unit to determine whether the pixel is degraded;
And a controller for causing the deteriorated pixel to emit light as a normal pixel.
제4항에 있어서,
상기 처리부는,
화소에 열화상기 패널 어셈블리에 동일한 전류가 인가된 상태에서, 상기 복수의 휘도 측정부 중에서 상기 휘도 데이터들로부터 상대적으로 낮은 값의 휘도 데이터가 측정된 휘도 측정부의 위치로부터 열화된 화소의 위치를 계산하는 화소 위치 계산부를 더 포함하는 유기 발광 표시 장치.
5. The method of claim 4,
Wherein,
Deterioration of Pixel In a state where the same current is applied to the panel assembly, the position of the pixel deteriorated from the position of the luminance measurement unit where relatively low luminance data is measured from the luminance data among the plurality of luminance measurement units is calculated And a pixel position calculation unit.
복수의 화소가 형성된 표시영역과, 상기 복수의 화소가 형성되지 않은 비표시영역을 포함하는 패널 어셈블리,
상기 패널 어셈블리의 비표시영역에 형성되어 상기 표시영역으로부터 발생되는 빛을 난반사시키는 난반사부,
상기 패널 어셈블리의 하면에 배치되어 상기 난반사부에서 난반사된 빛의 휘도를 측정하는 복수의 휘도 측정부, 및
상기 휘도 측정부에서 측정된 휘도 데이터와 상기 패널 어셈블리를 구동시키는 동작 전류값으로 상기 복수개의 화소 중에서 열화된 화소를 검출하여 보상하는 처리부를 포함하는 유기 발광 표시 장치.
A panel assembly including a display region in which a plurality of pixels are formed, and a non-display region in which the plurality of pixels are not formed,
A diffusive reflection part formed on the non-display area of the panel assembly for diffusely reflecting light generated from the display area,
A plurality of luminance measurement units arranged on a lower surface of the panel assembly for measuring luminance of the diffused reflection light from the diffused reflection unit,
And a processing unit for detecting and compensating for degraded pixels among the plurality of pixels with luminance data measured by the luminance measuring unit and an operation current value for driving the panel assembly.
제6항에 있어서,
상기 난반사부는 상기 패널 어셈블리의 상면에 형성된 유기 발광 표시 장치.
The method according to claim 6,
Wherein the irregular reflection portion is formed on an upper surface of the panel assembly.
제6항에 있어서,
상기 난반사부와 상기 패널 어셈블리 사이에 개재된 굴절부를 더 포함하는 유기 발광 표시 장치.
The method according to claim 6,
And a refraction portion interposed between the diffusive reflection portion and the panel assembly.
제6항에 있어서,
상기 패널 어셈블리의 상면의 일부분은 인입되도록 형성되고, 상기 난반사부는 상기 인입된 부분에 수용되도록 형성된 유기 발광 표시 장치.
The method according to claim 6,
A portion of the upper surface of the panel assembly is formed to be drawn in, and the irregular reflection portion is formed to be received in the drawn portion.
제9항에 있어서,
상기 난반사부의 두께는 상기 패널 어셈블리에서 인입된 깊이와 동일하게 형성된 유기 발광 표시 장치.
10. The method of claim 9,
Wherein the thickness of the irregular reflection portion is the same as the depth of the panel assembly.
제6항에 있어서,
상기 난반사부는 라인(Line) 형상인 유기 발광 표시 장치.
The method according to claim 6,
Wherein the irregular reflection portion has a line shape.
제6항에 있어서,
상기 난반사부는 일정 간격마다 배치된 단위 난반사부들로 이루어진 유기 발광 표시 장치.
The method according to claim 6,
Wherein the irregular reflection portions comprise unit irregular reflection portions arranged at regular intervals.
제6항에 있어서,
상기 휘도 측정부는 포토 센서인 유기 발광 표시 장치.
The method according to claim 6,
Wherein the luminance measuring unit is a photosensor.
제6항에 있어서,
상기 휘도 측정부는 일정 간격마다 배치된 유기 발광 표시 장치.
The method according to claim 6,
Wherein the luminance measuring unit is disposed at predetermined intervals.
제6항에 있어서,
상기 휘도 측정부는 상기 난반사부와 마주하도록 배치된 유기 발광 표시 장치.
The method according to claim 6,
Wherein the luminance measuring unit is arranged to face the diffusive reflection unit.
제6항에 있어서,
상기 처리부는,
상기 패널 어셈블리에 인가된 전류를 측정하는 전류 측정부,
상기 전류 측정부에 의해 측정된 전류와 상기 휘도 측정부에 의해 측정된 휘도 데이터를 비교 분석하여 화소의 열화 여부를 판단하는 열화 여부 판단부 및
상기 열화된 화소가 정상 화소로 발광되게 하는 제어부를 포함하는 유기 발광 표시 장치.
The method according to claim 6,
Wherein,
A current measuring unit for measuring a current applied to the panel assembly,
A deterioration determining unit for comparing the current measured by the current measuring unit and the luminance data measured by the luminance measuring unit to determine whether the pixel is degraded;
And a controller for causing the deteriorated pixel to emit light as a normal pixel.
제16항에 있어서,
상기 처리부는,
상기 패널 어셈블리에 동일한 전류가 인가된 상태에서, 상기 복수의 휘도 측정부중에서 상기 휘도 데이터들로부터 상대적으로 낮은 값의 휘도 데이터가 측정된 휘도 측정부의 위치로부터 열화된 화소의 위치를 계산하는 화소 위치 계산부를 더 포함하는 유기 발광 표시 장치.
17. The method of claim 16,
Wherein,
Calculating a pixel position for calculating a position of a pixel deteriorated from a position of the luminance measurement unit where luminance data of a relatively low value is measured from the luminance data among the plurality of luminance measurement units in a state in which the same current is applied to the panel assembly; Further comprising: an organic light emitting diode (OLED).
제7항에 있어서,
상기 난반사부 상에 형성되며, 상기 패널 어셈블리의 비표시 영역에 형성된 차광부를 더 포함하는 유기 발광 표시 장치.
8. The method of claim 7,
And a light blocking part formed on the non-display area of the panel assembly.
제18항에 있어서,
상기 차광부는 블랙 편광필름인 유기 발광 표시 장치.
19. The method of claim 18,
Wherein the light-shielding portion is a black polarizing film.
제1항 내지 제19항 중 어느 한 항의 유기 발광 표시 장치에서 열화된 화소를 보상하는 열화 보상 방법에 있어서,
상기 패널 어셈블리로부터 상기 휘도 데이터들을 획득하는 단계;
상기 획득된 휘도 데이터들로부터 상기 패널 어셈블리의 화소의 열화 여부를 판단하는 단계 및
열화된 화소가 존재하는 경우 상기 열화된 화소를 보상하는 단계를 포함하는 열화 보상 방법.
A degradation compensation method for compensating a degraded pixel in an organic light emitting display according to any one of claims 1 to 19,
Obtaining the luminance data from the panel assembly;
Determining whether the pixel of the panel assembly deteriorates from the obtained brightness data;
And compensating for the degraded pixel if degraded pixels are present.
제20항에 있어서,
상기 패널 어셈블리로부터 상기 휘도 데이터들을 획득하는 단계는,
상기 복수의 휘도 측정부에 의해 상기 패널 어셈블리의 각 화소로부터 발광된 빛의 휘도를 측정하여 상기 휘도 데이터들을 획득하는 열화 보상 방법.
21. The method of claim 20,
Wherein the obtaining of the luminance data from the panel assembly comprises:
Wherein the plurality of brightness measuring units measure brightness of light emitted from each pixel of the panel assembly to obtain the brightness data.
제20항에 있어서,
상기 패널 어셈블리의 화소의 열화 여부를 판단하는 단계는,
상기 휘도 데이터들 중에서 상대적으로 낮은 값의 휘도 데이터가 존재하는지 여부로 판단하는 열화 보상 방법.
21. The method of claim 20,
Wherein the step of determining whether the pixel of the panel assembly is degraded comprises:
And determining whether luminance data of a relatively low value exists among the luminance data.
제20항에 있어서,
화소의 열화 여부를 판단한 후 상기 열화된 화소를 보상하기 전에,
상기 획득된 휘도 데이터들로부터 열화된 화소의 위치를 계산하는 단계를 더포함하는 열화 보상 방법.
21. The method of claim 20,
Before compensating the deteriorated pixel after determining whether the pixel is deteriorated,
And calculating a position of a pixel deteriorated from the obtained luminance data.
제23항에 있어서,
상기 획득된 휘도 데이터들로 열화된 화소의 위치를 계산하는 단계에서는,
상기 패널 어셈블리의 각 화소들에 동일한 전류가 인가된 상태에서, 상기 휘도 데이터들 중에서 상대적으로 낮은 값의 휘도 데이터가 측정된 휘도 측정부의 위치로부터 열화된 화소의 위치를 계산하는 열화 보상 방법.
24. The method of claim 23,
In the step of calculating the position of the pixel deteriorated by the obtained brightness data,
Wherein a position of a pixel deteriorated from a position of a luminance measurement unit in which luminance data of a relatively low value among the luminance data is measured while the same current is applied to each pixel of the panel assembly is calculated.
제24항에 있어서,
상기 열화된 화소를 보상하는 단계는,
상기 열화된 화소가 정상 화소로 발광되도록 상기 열화된 화소의 전류를 조절하는 열화 보상 방법.
25. The method of claim 24,
Wherein compensating the degraded pixel comprises:
And adjusting the current of the deteriorated pixel so that the deteriorated pixel is emitted as a normal pixel.
제20항에 있어서,
상기 열화된 화소를 보상하는 단계는,
상기 패널 어셈블리의 화소에 공급되는 전체 구동 전압(ELVDD)을 조절하는 열화 보상 방법.
21. The method of claim 20,
Wherein compensating the degraded pixel comprises:
Wherein the total driving voltage (ELVDD) supplied to the pixels of the panel assembly is adjusted.
제20항에 있어서,
상기 열화된 화소를 보상하는 단계는,
상기 패널 어셈블리의 화소에 공급되는 적색 구동 전압, 녹색 구동 전압 및 청색 구동 전압을 각각 조절하는 열화 보상 방법.
21. The method of claim 20,
Wherein compensating the degraded pixel comprises:
And a red driving voltage, a green driving voltage, and a blue driving voltage supplied to the pixels of the panel assembly, respectively.
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