KR20140118768A

KR20140118768A - 스캐닝 기구

Info

Publication number: KR20140118768A
Application number: KR1020140030065A
Authority: KR
Inventors: 아이 미요시
Original assignee: 가부시키가이샤 지씨
Priority date: 2013-03-29
Filing date: 2014-03-14
Publication date: 2014-10-08
Also published as: JP2014198132A; US20140297232A1; EP2783657A2; EP2783657A3

Abstract

임플란트 브리지를 위한 임플란트 픽스쳐에 대해서, 높은 정밀도로 중심축의 위치 및 기울기를 취득할 수 있는 스캐닝 기구를 제공한다.
아날로그(20)가 매설된 모형의 아날로그에 설치하는 스캐닝 기구(10, 110)이며, 원통 형상인 본체(11, 111)와, 본체를 아날로그에 설치하기 위한 고정 부재(12)와, 패턴 투영법에 의해 아날로그의 중심축의 위치 및 기울기의 정보를 얻기 위한 레퍼런스 포인트(13)를 구비한다.

Description

스캐닝 기구{SCANNING INSTRUMENT}

본 발명은 치과 분야에 있어서, 매립되어 있는 인공 치근(일반적으로, 임플란트 픽스쳐, 또는 임플란트 보디라고 불리는 경우가 있음)의 위치를 특정할 때에 사용하는 스캐닝 기구에 관한 것이다.

치과 분야에 있어서, 결손된 치아의 보철의 방법으로서 소위 치과 임플란트 기술이 적용되는 경우가 많아지게 되었다. 치과 임플란트 기술에 의한 임플란트의 적용은 종래의 치과 보철물에 비하여, 보다 자연 치아에 가까운 상태로 할 수 있기 때문에 이점이 많다.

임플란트에 의한 치료는 대강 다음과 같은 과정으로 행해진다. 즉, 임플란트의 적용 대상이 되는 결손부의 턱뼈에 구멍을 뚫고, 여기에 임플란트 픽스쳐를 매립한다. 매립된 임플란트 픽스쳐가 턱뼈에 충분히 결합하면, 매설된 임플란트 픽스쳐에 치과용 보철물을 고정하기 위한 부재인 어버트먼트(abutment)를 설치하고, 당해 어버트먼트에 치과용 보철물을 배치한다.

어버트먼트는 매립된 임플란트 픽스쳐의 깊이나 방향, 및 환자의 구강 내의 상태에 맞춰서 환자마다 개별적으로 설계되어 제작된다. 그 경우, 어버트먼트는 실제로 매립된 임플란트 픽스쳐의 상태에 맞춰서 제작해야 하므로, 어버트먼트를 제작하기 전에 임플란트 픽스쳐가 어떻게 매립되어 있는지를 알아 둘 필요가 있다. 그 때문에, 인상용 코핑을 사용하여, 임플란트 픽스쳐가 매립된 자세의 정보(깊이나 방향)를 아날로그(임플란트 픽스쳐의 레플리카)가 매설된 석고 모형(아날로그 모형)에 의해 재현하는 일이 행해진다. 그리고, 당해 아날로그 모형으로부터 임플란트 픽스쳐의 정보를 얻어서 어버트먼트가 제작된다.

최근에는, 어버트먼트의 제작은 3차원 형상 데이터를 사용하여 자동적으로 절삭 가공을 행함으로써 행해지고, 복잡한 형상의 어버트먼트도 고정밀도로 제작할 수 있다. 따라서, 가공을 위한 3차원 형상 데이터를 얻기 위해서, 사람의 구강 내 중 필요한 부위의 형상, 및 매립되어 있는 임플란트 픽스쳐의 깊이나 기울기 등의 자세 정보를 포함하는 3차원 형상 데이터를 얻을 필요가 있다.

그러나, 임플란트 픽스쳐의 자세 정보(깊이나 기울기)는 아날로그에 전사되고 있고, 이 아날로그는 아날로그 모형의 내부에 매설되어 있으므로, 이대로는 임플란트 픽스쳐의 자세 정보를 3차원 형상 데이터로서 얻을 수 없다. 이에 비해, 매설된 아날로그를 연장하도록 하여 아날로그에 설치하고, 그 결과 일단부측이 아날로그 모형으로부터 돌출되게 배치되는 스캐닝 지그가 사용된다. 즉, 스캐닝 지그는 아날로그에 대하여 동축으로 설치되고, 스캐닝 지그의 단부 중 아날로그에 접속되어 있지 않은 측의 단부가 아날로그 모형으로부터 돌출되도록 노출되므로, 아날로그의 방향이나 위치 정보를 유도하는 것이 가능하게 된다. 그리고, 스캐닝 지그를 장착한 아날로그 모형을 3차원 계측하여 3차원 형상 데이터를 취함으로써, 스캐닝 지그의 연장선 상에 매설된 아날로그의 길이 방향의 방향 및 스캐닝 지그의 단부의 위치로부터 아날로그의 위치 정보를 유도할 수 있다(예를 들면 특허문헌 1, 2 참조).

일본 특허 공개 제2012-115668호 공보 일본 특허 공개 제2012-518502호 공보

특허문헌 1, 2의 기재를 비롯하여 종래의 스캐닝 지그에서는, 보다 높은 정밀도로 3차원 계측하는 것이 요구되고 있었다. 특히 임플란트 브리지의 제작에 있어서는 복수의 임플란트 픽스쳐를 상부 구조에서 연결하므로, 복수의 임플란트 픽스쳐가 서로 간섭하여 바람직하지 않은 방향으로 힘을 가하면 임플란트 픽스쳐가 턱뼈로부터 탈락하는 원인이 될 가능성이 있기 때문에, 보다 높은 정밀도로 제작 할 필요가 있었다. 그로 인해, 임플란트 브리지에서는 그의 성질상, 개개의 임플란트 픽스쳐의 회전 방향의 방향에 관한 정보는 불필요하지만, 각각의 중심축의 위치 및 기울기에 대해서는, 개별로 설치하는 임플란트보다 높은 정밀도의 계측이 요구되고 있었다.

따라서 본 발명은 상기 문제를 감안하여, 임플란트 브리지를 위한 임플란트 픽스쳐에 대해서, 높은 정밀도로 중심축의 위치 및 기울기를 취득할 수 있는 스캐닝 기구를 제공하는 것을 과제로 한다.

이하, 본 발명에 대하여 설명한다. 여기에서는 이해하기 용이하도록, 도면에 붙인 참조 부호를 괄호에 병기하여 기재하지만, 본 발명은 이것에 한정되는 것은 아니다.

청구항 1에 기재된 발명은, 아날로그(20)가 매설된 모형의 아날로그에 설치하는 스캐닝 기구(10, 110)이며, 원통 형상인 본체(11, 111)와, 본체를 아날로그에 설치하기 위한 고정 부재(12)와, 패턴 투영법에 의해 아날로그의 중심축의 위치 및 기울기의 정보를 얻기 위한 레퍼런스 포인트(13)를 구비하는 스캐닝 기구이다.

청구항 2에 기재된 발명은, 청구항 1에 기재된 스캐닝 기구(10)에 있어서, 레퍼런스 포인트(13)는 본체(11)의 중심축의 위치 및 기울기의 정보와 관련되어 있다.

청구항 3에 기재된 발명은, 청구항 1 또는 2에 기재된 스캐닝 기구(110)에 있어서, 레퍼런스 포인트(13)가 모형에 배치된다.

청구항 4에 기재된 발명은, 청구항 1 내지 3 중 어느 한 항에 기재된 스캐닝 기구(10)에 있어서, 레퍼런스 포인트(13)가 본체(11)에 배치된다.

본 발명에 따르면, 임플란트 픽스쳐의 매립 자세의 정보를 포함하는 아날로그에 삽입하여, 레퍼런스 포인트를 포함하여 계측함으로써 레퍼런스 포인트에 기초하여 아날로그의 자세에 관한 정보, 즉 임플란트 픽스쳐의 중심축의 위치 및 기울기를 고정밀도로 취득할 수 있다.

도 1은 하나의 형태에 관한 스캐닝 기구(10)의 사시도이다.
도 2는 스캐닝 기구(10)의 축 방향 단면도이다.
도 3은 어버트먼트의 제조 공정을 설명하는 흐름도이다.
도 4는 아날로그 모형의 제작 공정을 설명하는 흐름도이다.
도 5는 3차원 데이터의 제작 공정을 설명하는 흐름도이다.
도 6은 스캐닝 기구의 장착 공정을 설명하는 1개의 도면이다.
도 7은 스캐닝 기구의 장착 공정을 설명하는 그 외의 도면이다.
도 8은 다른 형태에 관한 스캐닝 기구(110)를 설명하는 사시도이다.
도 9는 다른 형태에 관한 스캐닝 기구(110)가 아날로그에 장착된 장면의 도면이다.

본 발명의 상기한 작용 및 이득은, 다음에 설명하는 발명을 실시하기 위한 구체적인 내용으로부터 분명해진다. 이하, 본 발명을 도면에 나타내는 실시 형태에 기초하여 설명한다. 단, 본 발명은 이들 실시 형태에 한정되는 것은 아니다.

도 1은 하나의 형태에 관한 스캐닝 기구(10)의 외관 사시도이다. 또한, 도 2에는 스캐닝 기구(10)의 축방향 단면도를 나타내었다. 도 1, 도 2로부터 알 수 있는 바와 같이 스캐닝 기구(10)는 본체(11), 고정 부재(12) 및 레퍼런스 포인트(13)를 구비하고 있다.

본체(11)는 원통 형상인 기초부(11a), 기초부(11a)의 일단부측에 배치되어, 기초부(11a)에 동축이 되도록 설치된 원판 형상의 확장부(11b), 및 확장부(11b)와는 반대측에 배치된 끼워 맞춤부(11c)를 구비하고 있다. 원통 형상인 기초부(11a)의 내측의 구멍(11d) 중, 끼워 맞춤부(11c)측의 단부에서 당해 구멍의 직경이 작아지도록 구성되어 있다.

확장부(11b)는 원판 형상이고, 원판 형상의 직경은 기초부(11a)의 원통 형상의 직경보다 크게 형성되어 있다. 본 형태에서는, 레퍼런스 포인트(13)를 많이 취할 수 있도록 확장부(11b)의 상면측은 넓게 형성되어 있다.

끼워 맞춤부(11c)는 후술하는 바와 같이 아날로그(20)(도 6, 도 7 참조)에 조합되어서 연결되도록 구성된 부위이다.

본체(11)는 가공 정밀도 및 정밀도 유지 효과가 높은 재료인 금속, 또는 수지에 의해 형성된다. 또한 계측 장치에 오작동을 발생시키지 않는 재료인 것이 바람직하다.

고정 부재(12)는 원통 형상인 본체(11)의 구멍(11d)의 내측에 삽입되고, 그의 일단부가 본체(11) 중 끼워 맞춤부(11c)의 단부면으로부터 돌출되도록 배치된 부재이다. 돌출된 측의 단부에는 아날로그(20)에 나사 결합하는 나사 홈이 형성되어 있다. 한편 구멍(11d)에 내포되는 측의 단부는 구멍(11d)에 걸리도록 직경이 크게 형성되어 있다. 이에 의해 본체(11)에 고정 부재(12)가 유지된다.

레퍼런스 포인트(13)는, 후술하는 바와 같이 아날로그 모형의 아날로그에 스캐닝 기구(10)가 설치된 상태에 있어서, 패턴 투영법에 기초하는 방법으로 측정할 때의 참조 점이다. 그리고 본 형태에서는, 레퍼런스 포인트(13)는 당해 레퍼런스 포인트(13)의 위치로부터 본체(11)의 중심축의 위치 및 기울기를 알 수 있도록 미리 관련지어져 있다. 따라서, 레퍼런스 포인트(13)는 3개 이상 설치되고, 레퍼런스 포인트에 의해 둘러싸이는 면적이 가능한 한 커지도록 배치되는 것이 바람직하다.

여기서, 패턴 투영법은 3차원 측정에 있어서의 공지 방법을 적용할 수 있다. 즉, 패턴 광을 대상물에 투영하고, 표면 형상을 계측하는 동시에 화상에 비치거나 레퍼런스 포인트의 3차원 좌표를 구하는 것이다.

본 형태에서는, 5개의 레퍼런스 포인트(13)가 본체(11)의 확장부(11b) 중, 기초부(11a)와는 반대측이 되는 면에 본체(11)의 구멍(11d)을 둘러싸도록 배치되어 있다. 본 형태에서는 확장부(11b)가 넓은 면을 갖고 있으므로 레퍼런스 포인트(13)를 많이, 넓은 범위에 걸쳐서 설치할 수 있다.

여기에서는 레퍼런스 포인트의 수를 5개로 했지만, 이것에 한정되지 않고 적절하게 수를 변경할 수 있다.

이러한 스캐닝 기구(10)에 의하면, 후술하는 바와 같이 스캐닝 기구(10)를 아날로그 모형 내의 아날로그에 장착할 수 있다. 그리고, 이에 의해 스캐닝 기구(10)가 아날로그 모형 내부에 매립된 아날로그를 연장하는 방향으로 아날로그 모형으로부터 돌출되게 배치된다. 돌출된 부분에 있어서의 레퍼런스 포인트(13)를 패턴 투영법으로 계측함으로써 아날로그의 매설 자세를 구할 수 있게 된다. 아날로그는 임플란트 픽스쳐의 자세 정보를 갖고 있으므로, 이에 의해 임플란트 픽스쳐의 매립 자세도 얻을 수 있다.

레퍼런스 포인트(13)는 미리 본체(11)의 중심축의 위치 및 기울기와 관련지어져 있으므로, 이에 의해 본체(11)의 자세, 즉 아날로그의 자세를 용이하게 고정밀도로 얻을 수 있다. 여기서, 본 형태에서는 확장부(11b)를 넓게 하고 있으므로, 많은 레퍼런스 포인트(13)를 넓은 범위에 걸쳐서 설치할 수 있고, 측정의 정밀도를 높이는 것이 가능하다.

이어서, 스캐닝 기구(10)를 사용하여 어버트먼트를 제조하는 방법의 하나의 예인, 어버트먼트 제조 방법 S1에 대하여 설명한다. 본 방법은 아날로그 모형을 사용한 어버트먼트의 제조 방법이다. 도 3에는 어버트먼트 제조 방법 S1의 흐름을 나타냈다. 도 3으로부터 알 수 있는 바와 같이, 어버트먼트 제조 방법 S1은 아날로그 모형의 제작 공정(S10), 3차원 데이터의 제작 공정(S20) 및 어버트먼트의 제작 공정(S30)을 포함하고 있다. 이하, 각각에 대하여 설명한다.

아날로그 모형 제작 공정(S10)은 아날로그(20)가 매설된 아날로그 모형을 제작하는 공정이다. 여기에는 공지된 공정을 적용할 수 있다. 도 4는 아날로그 모형의 제작 공정(S10)의 흐름의 일례를 나타냈다. 즉 아날로그 모형의 제작 공정(S10)은 임플란트 픽스쳐의 매립 공정(S11), 인상용 코핑에 의한 인상 채득 공정(S12) 및 아날로그 모형의 형성 공정(S13)을 갖고 있다.

임플란트 픽스쳐의 매립 공정(S11)은 치아의 결손부에 있어서의 턱뼈에 임플란트 픽스쳐를 매립하는 구멍을 뚫고, 임플란트 픽스쳐를 매립하는 공정이다.

인상용 코핑에 의한 인상 채득 공정(S12)은 매립한 임플란트 픽스쳐가 턱뼈에 충분히 결합한 후에 인상용 코핑에 의해 인상을 취득하는 공정이다. 인상용 코핑에 의한 인상 취득은 공지의 방법으로 행할 수 있다.

아날로그 모형 형성 공정(S13)은 인상용 코핑에 의한 인상 채득 공정(S12)에서 채득한 인상 및 인상 내의 인상용 코핑에 아날로그를 설치하고, 이것에 기초하여 석고 모형을 제작하는 공정이다. 즉, 아날로그가 매설된 석고 모형인 아날로그 모형이 형성된다.

당해 아날로그 모형의 아날로그에는 그 환자에 있어서의 임플란트 픽스쳐의 배치가 고정밀도로 전사되어 있다.

도 3으로 되돌아와 설명을 계속한다. 3차원 데이터의 제작 공정(S20)은 제작해야 할 어버트먼트의 3차원 형상 데이터를 제작하는 공정이다. 3차원 데이터의 제작 공정(S20)은 예를 들면 도 5에 나타낸 것과 같이 행할 수 있다. 도 5에는 3차원 데이터의 제작 공정(S20)의 흐름을 나타냈다. 즉 3차원 데이터의 제작 공정(S20)은 스캐닝 기구의 장착 공정(S21), 3차원 계측 공정(S22) 및 어버트먼트 데이터의 제작 공정(S23)을 포함하고 있다.

스캐닝 기구의 장착 공정(S21)은 아날로그 모형의 제작 공정(S10)에서 제작한 아날로그 모형에 대하여 상기 설명한 스캐닝 기구(10)를 장착하는 공정이다. 도 6, 도 7에 모식적으로 도면으로 나타냈다.

도 6에는 아날로그 모형에 매설되어 있는 아날로그(20)의 형태를 모식적으로 나타냈다.

아날로그(20)는 한쪽에만 바닥을 갖는 바닥이 있는 원통 형상의 부재이고, 그 내측에 중공부(20a)가 형성되어 있다. 중공부(20a)에는 스캐닝 기구(10)의 고정 부재(12)가 결합할 수 있도록 형성되어 있다. 또한, 그의 중공부(20a)의 개방측 단부에는, 스캐닝 기구(10)의 본체(11)의 끼워 맞춤부(11c)가 채워지는 피끼워 맞춤부(20b)가 설치되어 있다.

또한, 아날로그(20)의 외주면은 석고로부터의 빠짐 방지의 관점에서 요철로 형성되어 있다.

이러한 아날로그(20)는 도 6으로부터 알 수 있는 바와 같이, 아날로그 모형의 외관 형상을 구성하는 석고 내에 매설되어 있어, 아날로그 모형의 외관으로부터는 아날로그(20)의 매설 각도나 깊이를 볼 수 없다.

이러한 아날로그 모형에 설치된 아날로그(20)에 대하여 도 7에 나타낸 바와 같이 스캐닝 기구(10)의 본체(11)를 고정 부재(12)에 의해 설치한다. 이것은 본체(11)로부터 돌출된 고정 부재(12)를 중공부(20a)에 나사 결합함으로써 행해진다. 또한 이때, 본체(11)의 끼워 맞춤부(11c)가 아날로그(20)의 피끼워 맞춤부(20b)에 끼워 맞춰져 있다.

이상과 같이 스캐닝 기구(10)가 아날로그 모형 내부에 매설된 아날로그(20)를 연장하는 방향으로 아날로그 모형으로부터 돌출되도록 배치되고, 스캐닝 기구(10)가 장착된 아날로그(20)가 형성되어, 아날로그(20)의 매설 자세를 유도할 수 있게 된다.

이때, 아날로그 모형 중 잇몸 부분 모형은 벗겨 두는 것이 바람직하다.

도 5로 되돌아와 설명을 계속한다. 3차원 계측 공정(S22)은 스캐닝 기구(10)가 장착된 아날로그 모형의 형상을 패턴 투영법에 의해 3차원 계측하는 공정이다. 이에 의해, 아날로그 모형의 형상을 3차원의 형상 데이터로 하여 취득함과 동시에, 여기에 설치된 스캐닝 기구(10) 상의 레퍼런스 포인트(13)의 위치 정보를 취득한다.

상기한 바와 같이 레퍼런스 포인트(13)는 본체(11)의 중심축의 위치 및 기울기와 관련되어 있으므로, 여기에서 본체(11)의 중심축의 위치 및 기울기를 얻을 수 있다.

어버트먼트 데이터의 제작 공정(S23)은, 얻어진 3차원 형상 데이터에 기초하여, 환자에게 적절한 어버트먼트의 3차원 형상 데이터를 제작하는 공정이다. 상기 스캐닝 기구(10)에 의해 고정밀도로 아날로그, 즉 임플란트 픽스쳐의 중심축의 위치, 기울기가 정해져 있으므로, 당해 정밀도 향상이 어버트먼트 데이터에도 적절하게 반영되어, 보다 환자에게 적합한 어버트먼트의 데이터를 제작하는 것이 가능하다.

도 2로 되돌아와 계속해서 어버트먼트 제조 방법(S1)에 대하여 설명한다. 어버트먼트의 제작 공정(S30)은 상기 3차원 데이터의 제작 공정(S20)에서 제작된 3차원 형상 데이터에 기초하여 어버트먼트를 제작하는 공정이다. 이 공정에서는 공지된 방법을 사용할 수 있지만, 예를 들면 당해 3차원 형상 데이터를 머시닝 센터 등의 NC 공작 기계에 제공함으로써 고정밀도로 어버트먼트를 제작한다.

도 8은 다른 형태에 관한 스캐닝 기구(110)를 설명하는 사시도, 도 9는 스캐닝 기구(110)가 아날로그 모형(20)에 장착된 장면을 나타내는 도면이고, 도 7과 같은 시점에 의한 도면이다.

본 형태의 스캐닝 기구(110)는 본체(111), 고정 부재(12) 및 레퍼런스 포인트(13)를 구비하고 있다.

본체(111)는 원통 형상인 기초부(111a) 및 기초부(111) 중 아날로그(20)와 끼워 맞춰지는 단부에 끼워 맞춤부(111c)를 구비하고 있다. 원통 형상인 기초부(111a)의 내측의 구멍(111d) 중, 끼워 맞춤부(111c)측의 단부에서 당해 구멍의 직경이 작아지도록 구성되어 있다. 또한, 본 형태에서는 기초부(111a) 중 끼워 맞춤부(111c)가 배치되어 있지 않은 측의 단부는 기초부(111a)의 단부가 나타나, 평탄하게 형성되어 있다.

끼워 맞춤부(111c)는 아날로그(20)의 피끼워 맞춤부(20b)에 조합되어서 연결되도록 구성된 부위이다.

고정 부재(12)는 상기한 바와 같다.

본 형태에서는 레퍼런스 포인트(13)는, 상기와 동일하게 아날로그 모형의 아날로그(20)에 스캐닝 기구(110)가 설치된 상태에 있어서, 패턴 투영법에 기초하는 방법으로 측정할 때의 데이터 합성의 기준으로서 이용된다. 본 형태에서는 도 9로부터 알 수 있는 바와 같이 복수의 레퍼런스 포인트(13)가 아날로그 모형의 표면에 배치되어 있다. 레퍼런스 포인트의 수는 한정되지 않고 적절하게 수를 변경할 수 있다.

이러한 스캐닝 기구(110)에 의하면, 도 9에 나타낸 바와 같이 스캐닝 기구(110)를 아날로그 모형 내의 아날로그(20)에 장착할 수 있다. 그리고, 이에 의해 스캐닝 기구(110)가, 아날로그 모형 내부에 매립된 아날로그를 연장하는 방향으로 아날로그 모형으로부터 돌출되도록 배치되고, 돌출된 부분에 있어서의 본체(111)를 계측함으로써 아날로그의 매설 자세를 구할 수 있게 된다. 아날로그(20)는 임플란트 픽스쳐의 매립 자세의 정보를 포함하고 있으므로 임플란트 픽스쳐의 정보를 얻을 수 있다.

본 예에 있어서의 스캐닝 기구(110)에서는 다음과 같이 3차원의 계측을 행한다. 즉, 상기한 공정(S20)이 다음과 같이 행해진다.

본 예에서도 패턴 투영법에 기초하여 계측을 행하여, 스캐닝 기구(110)의 본체(111)의 중심축의 위치 및 기울기를 얻는다. 그 때, 본 예에서는 본체(111)의 단부면 및 외주면의 형상이 계측되고, 이것에 기초하여 본체(111)에 있어서의 중심축의 위치 및 기울기가 구해진다. 한편, 레퍼런스 포인트(13)에 의해 그의 공간에 있어서의 본체(111)의 위치가 특정된다.

이렇게 본 예에서는, 통 형상의 스캐닝 기구(110)의 한쪽의 단부면 및 외주면의 형상을 사용하여 그 중심축의 자세를 검출하므로, 그 근원이 되는 정보가 큰 면적에 기초하고 있다. 따라서, 보다 정밀도가 높은 중심축의 결정을 하는 것이 가능하다.

10 스캐닝 기구
11 본체
12 고정 부재
13 레퍼런스 포인트

Claims

아날로그가 매설된 모형의 상기 아날로그에 설치하는 스캐닝 기구이며,
원통 형상인 본체와,
상기 본체를 상기 아날로그에 설치하기 위한 고정 부재와,
패턴 투영법에 의해 상기 아날로그의 중심축의 위치 및 기울기의 정보를 얻기 위한 레퍼런스 포인트를 구비하는 스캐닝 기구.
제1항에 있어서, 상기 레퍼런스 포인트는 상기 본체의 중심축의 위치 및 기울기의 정보와 관련지어져 있는 스캐닝 기구.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 레퍼런스 포인트가 상기 모형에 배치되는 스캐닝 기구.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 레퍼런스 포인트가 상기 본체에 배치되는 스캐닝 기구.
제3항에 있어서, 상기 레퍼런스 포인트가 상기 본체에 배치되는 스캐닝 기구.