KR20140095793A - 패널 얼룩 평가 방법 및 시스템 - Google Patents

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KR20140095793A
KR20140095793A KR1020130008631A KR20130008631A KR20140095793A KR 20140095793 A KR20140095793 A KR 20140095793A KR 1020130008631 A KR1020130008631 A KR 1020130008631A KR 20130008631 A KR20130008631 A KR 20130008631A KR 20140095793 A KR20140095793 A KR 20140095793A
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Abstract

본 발명의 일 실시예에 따르면, 블록별 패널 휘도의 최대값 및 최소값의 차에 기초하여 단거리 균일도값을 산출하는 단거리 균일도 산출부; 패널 내에서 등간격의 휘도값에 기초하여 장거리 균일도값을 산출하는 장거리 균일도 산출부; 기설정된 휘도 수치 내에 대응하는 픽셀의 비율을 추출하여 휘도 비율값을 산출하는 휘도 비율 산출부; 기설정된 휘도 편차 이하를 갖는 저 휘도편차 픽셀의 비율값을 구하는 저 휘도편차 비율 산출부; 를 포함하는 패널 얼룩 평가 장치가 제공된다.

Description

패널 얼룩 평가 방법 및 시스템{METHOD AND SYSTEM FOR EVALUATING PANEL MURA}
본 발명은 패널 얼룩 평가 방법 및 시스템으로서, 보다 상세하게는 단거리 균일도값, 장거리 균일도값, 휘도 비율값, 저 휘도편차 픽셀의 비율값을 사용하여 객관적인 패널 얼룩 평가 수치를 제공하는 패널 얼룩 평가 방법 및 시스템에 관한 것이다.
최근, 음극선관(Cathode Ray Tube)의 단점인 무게와 부피를 줄일 수 있는 각종 평판 표시장치들이 개발되고 있다. 평판 표시장치로는 액정 표시장치(Liquid Crystal Display), 전계 방출 표시장치(Field Emission Display), 플라즈마 표시패널(Plasma Display Panel) 및 유기 전계 발광 표시장치(Organic Light Emitting Display) 등이 있다.
평판표시장치 중 유기 전계발광 표시장치는 전자와 정공의 재결합에 의하여 빛을 발생하는 유기 발광 다이오드(Organic Light Emitting Diode: OLED)들을 이용하여 화상을 표시한다.
이와 같은 상기 유기 전계발광 표시장치는 색 재현성의 뛰어남과 얇은 두께 등의 여러 가지 이점으로 응용분야에서 휴대폰용 이외에도 PDA, MP3, DSC 등으로 시장이 크게 확대되고 있다.
이러한 시장의 확대에 대응하여 평판 표시 장치의 대량 생산이 이루어지고 있으며, 평판 표시 장치는 복수개의 화소의 집합으로 이루어지므로 개별 화소에 이상이 생길 경우 전체 패널의 불량으로 발생할 수 있다. 이러한 개별 화소에 이상이 생기는 경우를 패널의 얼룩(MURA)이 발생하였다고 판단할 수 있으며, 기존에는 패널의 얼룩을 평가하기 위해 사람이 직접 평가하는 목시 평가가 사용되었다.
본 발명은 단거리 균일도값, 장거리 균일도값, 휘도 비율값, 저 휘도편차 픽셀의 비율값을 이용하여 얼룩 평가를 정량화하여 수치로 나타내는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 블록별 패널 휘도의 최대값 및 최소값의 차에 기초하여 단거리 균일도값을 산출하는 단거리 균일도 산출부; 패널 내에서 등간격의 휘도값에 기초하여 장거리 균일도값을 산출하는 장거리 균일도 산출부; 기설정된 휘도 수치 내에 대응하는 픽셀의 비율을 추출하여 휘도 비율값을 산출하는 휘도 비율 산출부; 기설정된 휘도 편차 이하를 갖는 저 휘도편차 픽셀의 비율값을 구하는 저 휘도편차 비율 산출부; 를 포함하는 패널 얼룩 평가 장치가 제공된다.
본 발명에 있어서, 상기 얼룩 평가 장치는, 상기 단거리 균일도값, 장거리 균일도값, 휘도 비율값, 저 휘도편차 픽셀의 비율값에 각각 대응하는 비율을 곱한 후 모두 합하여 얼룩 수치값을 산출하는 얼룩 수치 정의부; 를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 있어서, 상기 얼룩 수치 정의부는 상기 얼룩 수치값에 기초하여 상기 패널의 얼룩 수치 등급을 설정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 있어서, 상기 단거리 균일도 산출부는, 상기 패널의 촬상 이미지를 기설정된 블록 단위로 자른 후, 해당 부분에서의 최대 휘도와 최소 휘도의 차이의 비를 이용하여 최대 균일도를 구하고, 최대 균일도의 평균을 상기 단거리 균일도 값으로 설정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 있어서, 상기 장거리 균일도 산출부는, 상기 패널의 촬상 이미지에서 등간격으로 기설정된 포인트만큼의 휘도를 측정한 후, 휘도의 최대값을 휘도의 최소값으로 나누어 장거리 균일도값을 산출하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 있어서, 상기 휘도 비율 산출부는 패널 전체의 휘도 분포를 각 휘도 단계별로 획득한 후, 평균 휘도에서 특정 오차 범위 내에 존재하는 픽셀의 비율을 휘도 비율값으로 설정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 있어서, 상기 단거리 균일도 산출부는, 특정 휘도 수치를 넘는 픽셀들만을 추출하여 최대 균일도의 평균을 계산하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 블록별 패널 휘도의 최대값 및 최소값의 차에 기초하여 단거리 균일도값을 산출하는 단계; 패널 내에서 등간격의 휘도값에 기초하여 장거리 균일도값을 산출하는 단계; 기설정된 휘도 수치 내에 대응하는 픽셀의 비율을 추출하여 휘도 비율값을 산출하는 단계; 기설정된 휘도 편차 이하를 갖는 저 휘도편차 픽셀의 비율값을 구하는 단계; 를 포함하는 패널 얼룩 평가 방법이 제공된다.
본 발명에 있어서, 상기 저 휘도편차 픽셀의 비율값을 구하는 단계 이후에, 상기 단거리 균일도값, 장거리 균일도값, 휘도 비율값, 저 휘도편차 픽셀의 비율값에 각각 대응하는 비율을 곱한 후 모두 합하여 얼룩 수치값을 산출하는 단계; 를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 다른 실시예에 따르면, 패널의 휘도를 측정하는 측정부; 블록별 패널 휘도의 최대값 및 최소값의 차에 기초하여 단거리 균일도값, 패널 내에서 등간격의 휘도값에 기초하여 장거리 균일도값, 기설정된 휘도 수치 내에 대응하는 픽셀의 비율을 추출하여 휘도 비율값, 기설정된 휘도 편차 이하를 갖는 저 휘도편차 픽셀의 비율값을 설정하는 수치 산출부; 상기 수치 산출부가 산출한 수치값들을 이용하여 최종 얼룩 수치값 및 패널 얼룩 평가 등급을 설정하는 얼룩 수치 정의부; 를 포함하는 패널 얼룩 평가 시스템이 제공된다.
본 발명에 의하면, 기존 목시평가에 비하여, 단거리 균일도값, 장거리 균일도값, 휘도 비율값, 저 휘도편차 픽셀의 비율값과 같은 객관적인 수치를 사용하여 얼룩 평가를 정량적으로 실시할 수 있다.
도 1은 일반적인 표시 장치를 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 패널 얼룩 평가 시스템의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 3는 본 발명의 일 실시예에 따라 패널을 블록 단위로 분할한 예이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따라 등간격으로 휘도를 측정하는 것을 예시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따라 각 휘도 분포에 대응하는 픽셀의 비율을 나타낸 그림이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따라 패널에서 휘도가 주변부에 비해 작은 영역을 표현한 도면이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따라 단거리 균일도값을 산출하는 순서를 나타낸 도면이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따라 장거리 균일도값을 산출하는 순서를 나타낸 도면이다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따라 패널 얼룩을 평가하는 방법을 나타낸 순서도이다.
후술하는 본 발명에 대한 상세한 설명은, 본 발명이 실시될 수 있는 특정 실시예를 예시로서 도시하는 첨부 도면을 참조한다. 이러한 실시예는 당업자가 본 발명을 실시할 수 있기에 충분하도록 상세히 설명된다. 본 발명의 다양한 실시예는 서로 다르지만 상호 배타적일 필요는 없음이 이해되어야 한다. 예를 들어, 본 명세서에 기재되어 있는 특정 형상, 구조 및 특성은 본 발명의 정신과 범위를 벗어나지 않으면서 일 실시예로부터 다른 실시예로 변경되어 구현될 수 있다. 또한, 각각의 실시예 내의 개별 구성요소의 위치 또는 배치도 본 발명의 정신과 범위를 벗어나지 않으면서 변경될 수 있음이 이해되어야 한다. 따라서, 후술하는 상세한 설명은 한정적인 의미로서 행하여지는 것이 아니며, 본 발명의 범위는 특허청구범위의 청구항들이 청구하는 범위 및 그와 균등한 모든 범위를 포괄하는 것으로 받아들여져야 한다. 도면에서 유사한 참조부호는 여러 측면에 걸쳐서 동일하거나 유사한 구성요소를 나타낸다.
이하에서는, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록 하기 위하여, 본 발명의 여러 실시예에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 일반적인 표시 장치를 나타낸 도면이다.
도 1은 일반적인 표시 장치로, 대표적인 일 예로 유기발광표시장치가 될 수 있다. 본 명세서에서는 도 1의 표시 장치가 유기발광표시장치임을 가정하여 설명하기로 한다. 도 1을 참조하면, 유기발광표시장치(1)는 복수개의 발광화소를 포함하는 제1 기판(30), 제1 기판(30)과 실링을 통해 합착되는 제2 기판(20), 및 제1 기판(10)의 소자들과 배선으로 연결되는 연성회로기판(10)을 포함한다.
제1 기판(10)에는 박막트랜지스터(TFT), 유기발광소자(EL), 커패시터(Cst) 등이 형성될 수 있다. 또한, 제1 기판(10)은 LTPS(crystalline silicon) 기판, 유리 기판 또는 플라스틱 기판 등일 수 있다.
제2 기판(20)은 제1 기판(30)에 구비된 TFT 및 발광화소 등을 외부 수분, 공기 등으로부터 차단하도록 제1 기판(30) 상에 배치되는 봉지기판일 수 있다. 제2 기판(70)은 제1 기판(10)과 대향되도록 위치하고, 제1 기판(10)과 제2 기판(20)은 그 가장자리를 따라 배치되는 실링부재(21)에 의해 서로 접합된다. 제2기판(20)은 유리 기판 또는 플라스틱 기판 또는 스테인리스 스틸(Stainless Using Steel; SUS) 기판 일 수 있다.
제1 기판(30)은 빛이 출사되는 발광영역(DA)과 이 발광영역(DA)의 외곽에 위치한 비발광영역(제2기판에서 발광영역을 제외한 부분, NDA)을 포함한다. 본 발명의 실시예들에 따르면, 발광 영역(DA) 외측의 비발광 영역에 실링부재(21)가 배치되어, 제1 기판(30)과 제2 기판(20)을 접합한다. 상술한 바와 같이, 제1 기판(10)의 발광영역(DA)에는 유기발광소자(EL), 이를 구동하는 박막트랜지스터(TFT) 및 이들과 전기적으로 연결된 배선이 형성된다. 그리고, 비발광 영역(NDA)에는 발광영역(DA)의 배선 및 배선으로부터 연장 형성된 패드(PAD)가 위치하는 배선영역(40)이 포함될 수 있다.
제1 기판(30)의 아래쪽 에는 연성회로기판(Flexible PCB)(10)이 형성된다. 연성회로기판(10)은 제1 기판(30)에 전원 신호, 구동 신호, 혹은 데이터 신호를 전달하는 역할을 하며, 연성회로기판(10)은 드라이버 구동부(11) 및 전원 구동부(12)를 복수개 포함할 수 있다. 드라이버 구동부(11)는 제1 기판(30)상의 소자들에 인가되는 데이터 신호 혹은 스캔 신호를 제어할 수 있고, 전원 구동부(12)는 제1 기판(30)상의 소자들에 인가되는 전압 신호를 제어할 수 있다.
도 1에서는 비록 연성회로기판(10)이 제1 기판(30)의 아래쪽에 형성되는 경우를 도시하고 있지만, 배선의 구조에 따라 연성회로기판(10)이 위쪽에 형성될 수도 있으며, 이 경우 배선영역(40) 역시 제1 기판(30)의 위쪽에 위치한다.
도 1의 유기발광표시장치에서 발광영역(DA)은 유기발광소자(EL) 및 이를 구동하는 박막트랜지스터(TFT)와 주변 회로의 특성으로 인해 그 휘도가 균일하지 않아 얼룩이 생성될 수 있다. 따라서 유기발광표시장치(1)와 같은 표시 장치 패널의 불량을 검출하기 위해 패널의 얼룩 정도를 평가하는 방법 및 장치를 본 발명의 일 실시예에서 제시하기로 한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 패널 얼룩 평가 시스템의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 패널 얼룩 평가 시스템은 얼룩 평가 장치(100), 측정부(200) 및 출력 디스플레이(300)를 포함할 수 있으며, 얼룩 평가 장치(100)는 제어부(110), 수치 산출부(120) 및 얼룩 수치 정의부(130)를 포함할 수 있다. 또한, 수치 산출부(120)는 단거리 균일도 산출부(121), 장거리 균일도 산출부(122), 휘도 비율 산출부(123), 저 휘도편차 비율 산출부(124)를 포함한다.
먼저, 얼룩 평가 장치(100)는 단거리 균일도, 장거리 균일도, 휘도 비율, 저 휘도편차 비율 등의 얼룩에 관계된 수치를 산출하여 이들 수치를 기설정된 비율로 조합하여 얼룩 수치가 기준치 이상인지를 판별하는 역할을 한다. 얼룩 평가 장치(100)의 구체적인 역할에 대해서는 아래에서 상세히 살펴보기로 한다.
다음으로, 측정부(200)는 얼룩 평가 장치(100)의 제어에 따라 표시 패널의 휘도를 측정하는 역할을 한다. 측정부(200)는 얼룩 평가 장치(100)의 제어에 따라 블록별로 휘도를 측정할 수 있고, 등간격으로 일정 범위 내의 휘도를 측정할 수도 있다. 측정부(200)는 측정된 휘도를 얼룩 평가 장치(100)로 전달할 수 있다.
또한, 출력 디스플레이(300)는 얼룩 평가 장치(100)가 처리한 얼룩 평가 수치를 출력하는 역할을 한다. 이때, 출력 디스플레이(300)는 도 1의 표시 장치와 별개의 장치일 수 있다. 또한, 출력 디스플레이(300)는 얼룩 평가 수치에 기초하여 패널이 얼룩 평기 기준에 미달하는지 여부를 출력할 수도 있다.
아래의 명세서에서는 얼룩 평가 장치(100)의 각 부의 역할을 상세히 설명하기로 한다.
먼저, 얼룩 평가 장치(100)의 제어부(110)는 수치 산출부(120)를 통해 얼룩 수치 정도를 각 평가 방법 별로 획득하고, 얼룩 수치 정의부(130)의 기준에 따라 최종 얼룩 수치값을 산출하는 역할을 한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 제어부(110)는 단거리 균일도 산출부(121), 장거리 균일도 산출부(122), 휘도 비율 산출부(123), 저 휘도편차 비율 산출부(124) 및 얼룩 수치 정의부(130) 간의 데이터의 흐름을 제어하는 기능을 수행할 수 있다. 즉, 본 발명에 따른 제어부(110)는 얼룩 평가 장치의 외부로부터의/로의 데이터 흐름 또는 얼룩 평가 장치의 각 구성요소 간의 데이터 흐름을 제어함으로써, 단거리 균일도 산출부(121), 장거리 균일도 산출부(122), 휘도 비율 산출부(123), 저 휘도편차 비율 산출부(124) 및 얼룩 수치 정의부(130)에서 각각 고유 기능을 수행하도록 제어할 수 있다.
수치 산출부(120)는 단거리 균일도 산출부(121), 장거리 균일도 산출부(122), 휘도 비율 산출부(123), 저 휘도편차 비율 산출부(124) 및 얼룩 수치 정의부(130)를 구비하며, 각 부에서 별개의 얼룩 수치 평가 기준에 따른 수치를 산출하는 역할을 한다.
먼저, 단거리 균일도 산출부(121)는 단거리 균일도(Short Range Uniformity, SRU) 값을 구하는 역할을 하며, 보다 상세히 패널 촬상 이미지를 기설정된 블록 단위로 자른 후, 해당 블록에서의 최대 휘도와 최소 휘도의 차이의 비를 이용하여 최대 균일도를 구하고 최대 균일도의 평균으로 패널의 얼룩 수준을 평가하는 수치를 설정한다.
도 3는 본 발명의 일 실시예에 따라 패널을 블록 단위로 분할한 예이다.
단거리 균일도 산출부(121)는 패널 촬상 이미지를 도 3과 같이 8*8, 혹은 4*4의 크기로 분할할 수 있다. 단거리 균일도 산출부(121)는 분할된 각 블록에서의 최대 휘도와 최소 휘도의 차이를 구한 후, 이를 최대 휘소의 값으로 나누어 최대 균일도를 구할 수 있다. 최대 균일도는 아래의 [수학식 1]과 같이 나타낼 수 있다.
[수학식 1]
Figure pat00001
여기서, L(i,j)max는 각 블록의 최대 휘도이고, L(i,j)min은 각 블록의 최소 휘도이며, U(i,j)max는 최대 균일도이다.
다음으로, 단거리 균일도 산출부(121)는 최대 균일도의 평균을 계산하여 이를 단거리 균일도 수치로 설정할 수 있다. 단거리 균일도 수치는 아래의 [수학식 2]와 같이 나타낼 수 있다.
[수학식 2]
Figure pat00002
[수학식 2]에서, m은 패널 촬상 이미지에서 가로 블록의 개수이고, n은 패널 촬상 이미지에서 세로 블록의 개수이다. 따라서, AVG(MU)는 패널 촬상 이미지의 전체 블록의 최대 균일도 평균이 되며, 단거리 균일도 산출부(121)는 계산된 최대 균일도 평균을 해당 패널의 단거리 균일도 수치로 설정한다.
추가적으로, 단거리 균일도 산출부(121)는 특정 수치 이상의 휘도를 갖는 것들만의 평균을 취할수도 있다. 예를 들어, 사람은 2% 이내의 휘도 변화는 느끼지 못하므로, 2%를 넘는 휘도를 가지는 블록들만의 평균을 취할 수 있다. 혹은, 사람은 주변 휘도에 따라 인지할 수 있는 편차가 달라지므로, 단거리 균일도 산출부(121)는 주변 휘도에 따라 함수화한 기준값을 정하고 그것을 넘는 블록들만의 휘도 평균을 취할 수도 있다.
다음으로, 장거리 균일도 산출부(122)는 패널의 촬상 이미지에서 등간격으로 기설정된 포인트만큼의 휘도를 측정한 후, 휘도의 최대값을 휘도의 최소값으로 나누어 장거리 균일도값를 산출하는 역할을 한다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따라 등간격으로 휘도를 측정하는 것을 예시한 도면이다.
도 4에서 볼 수 있는 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 장거리 균일도 산출부(122)는 등간격으로 표시된 동그라미 안의 휘도만을 측정하는 얼룩 수치 평가 기준을 제공할 수 있다.
예를 들어, 장거리 균일도 산출부(122)는 패널에서 등간격으로 위치하는 점을 찍은 후, 점을 찍은 위치에서 13point 내에 있는 영역의 휘도를 측정한 후 휘도의 최소값을 최대값으로 나누어 장거리 균일도 수치를 도출해 낼 수 있다.
이와 같이 등간격으로 일정 범위 내의 휘도를 측정하는 경우, 패널 전체의 거시적인 휘도 산포를 파악할 수 있는 장점이 있다.
다음으로, 휘도 비율 산출부(123)는 패널 전체에 분포하고 있는 휘도 분포를 히스토그램으로부터 추출하여 평균 휘도에서 특정 범위 내에 존재하는 픽셀의 비율을 추출하여 휘도 비율값을 산출하는 역할을 한다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따라 각 휘도 분포에 대응하는 픽셀의 비율을 나타낸 그림이다.
각 휘도 수준에 따른 픽셀 개수의 분포는 좌측의 표와 같이 나타낼 수 잇다. 도 5의 우측 그래프는 좌측의 표를 히스토그램으로 나타낸 것인데, 중간 수준의 휘도를 가지는 픽셀이 가장 많은 것을 알 수 있다. 휘도 비율 산출부(123)는 이중 특정 수준의 휘도 안에 대응하는 픽셀의 비율을 산출한 후, 산출된 값을 휘도 비율값으로 설정할 수 있다. 가령, 휘도 비율 산출부(123)는 평균 휘도의 ±3시그마 안에 해당하는 픽셀의 비율을 휘도 비율값으로 설정할 수 있다.
다음으로, 저 휘도편차 비율 산출부(124)는 패널 촬상 이미지에서 휘도 편차가 특별히 작은 부분의 비율을 구하여 이를 패널 얼룩을 표현하는 수치로 수치화 할 수 있다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따라 패널에서 휘도가 주변부에 비해 작은 영역을 표현한 도면이다.
일반적으로 사람은 패널 내에서 휘도가 특별히 좋지 않은 몇 군데의 휘도 편차를 보고 패널 얼룩의 좋고 나쁨을 인지하므로, 저 휘도편차 비율 산출부(124)는 휘도 편차가 특정 수준 이하인 비율을 구하여 이를 저 휘도편차 비율값으로 설정하고, 패널 얼룩을 표현하는 일 수치로 설정할 수 있다. 가령, 저 휘도편차 비율 산출부(124)는 휘도 편차가 특별히 작다고 판단되는 부분, 예를 들어 U(i,j)max 가 3% 보다 작은 부분의 비율을 구하여 저 휘도편차 비율값으로 설정할 수 있다.
다음으로, 얼룩 수치 정의부(130)는 수치 산출부(120)에서 설정한 4가지 패널 얼룩을 표현하는 수치를 사용하여 패널 얼룩 수치값을 설정할 수 있다. 즉, 얼룩 수치 정의부(130)는 단거리 균일도값, 장거리 균일도값, 휘도 비율값, 저 휘도편차 비율값에 대응하는 적절한 비율값을 곱한 후 이를 더하여 얼룩 수치값을 정의할 수 있다.
예를 들어, 얼룩 수치 정의부(130)는 단거리 균일도값:장거리 균일도값:휘도 비율값:저 휘도편차 비율값의 비율을 각각 50 : 20 : 15 : 15로 정하여 최종적인 얼룩 수치값을 정의할 수 있다. 즉, 얼룩 수치값은 아래의 [수학식 3]과 같이 나타낼 수 있다.
[수학식 3]
얼룩 수치값=0.50*(단거리 균일도값) + 0.20*(장거리 균일도값) + 0.15*(휘도 비율값) + 0.15*(저 휘도편차 비율값)
물론 각 얼룩 평가 수치값의 비율은 해당 패널의 특성에 따라 달라질 수 있으며, 패널을 사용하는 주 시청자나 지역의 특색에 따라 다양하게 변형될 수 있다.
또한, 얼룩 수치 정의부(130)는 산출된 얼룩 수치값에 따라 패널의 얼룩 평가 기준을 설정할 수도 있다. 예를 들어, 얼룩 수치값이, 1.0~0.9일 경우 A 등급, 0.9~0.8일 경우 B 등급, 0.8~0.7일 경우 C 등급, 0.7~0.6일 경우 D 등급, 0.9~0.8일 경우 불량 패널로 판별할 수 있다. 얼룩 평가 기준 역시 상황에 따라 다양하게 변형될 수 있음은 물론이다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 패널 얼룩 평가 방법 및 시스템을 사용하면 주관적이고 부정확할 수 있는 패널 얼룩 평가를 정량화하여 수치로 나타낼 수 있다.
추가적으로, 발명의 부연 설명을 위해 아래의 도 7 내지 도 9에서는 본 발명의 일 실시예에 따른 패널 얼룩 평가 방법을 순서도를 이용하여 설명하기로 한다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따라 단거리 균일도값을 산출하는 순서를 나타낸 도면이다.
먼저, 단거리 균일도 산출부(121)는 패널 촬상 이미지를 블록 이미지로 분할하고(S11), 각각의 블록에서 최대 휘도와 최소 휘도를 측정한다(S12).
측정된 최대 휘도와 최소 휘도의 차이의 비를 이용하여 최대 균일도 산출하여(S13) 전체 블록에서 최대 균일도의 평균을 계산한다(S14).
최종적으로 단거리 균일도 산출부(121)는 계산된 최대 균일도의 평균을 단거리 균일도값으로 설정한다(S15).
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따라 장거리 균일도값을 산출하는 순서를 나타낸 도면이다.
먼저, 장거리 균일도 산출부(122)는 패널에서 휘도를 측정할 등간격 기준 설정하고(S21), 설정된 등간격으로 기설정된 포인트만큼의 휘도를 측정한다(S22).
측정된 휘도값을 사용하여 휘도의 최대값을 휘도의 최대값으로 나눈 후(S23), 최종적으로 나눈 값을 장거리 균일도 값으로 설정한다(S24).
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따라 패널 얼룩을 평가하는 방법을 나타낸 순서도이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 패널 얼룩 평가 시스템은 먼저 단거리 균일도를 산출하고(S31), 장거리 균일도를 산출하며(S32), 휘도 비율을 산출하고(S33), 저 휘도편차의 비율을 산출한다(S34).
다음으로, 단거리 균일도, 장거리 균일도, 휘도 비율, 저휘도 편차 비율을 설정하여 얼룩 수치를 정의하고(S35), 정해진 비율에 따라 최종적인 얼룩 수치값을 산출한다(S36).
본 발명에서 설명하는 특정 실행들은 일 실시 예들로서, 어떠한 방법으로도 본 발명의 범위를 한정하는 것은 아니다. 명세서의 간결함을 위하여, 종래 전자적인 구성들, 제어 시스템들, 소프트웨어, 상기 시스템들의 다른 기능적인 측면들의 기재는 생략될 수 있다. 또한, 도면에 도시된 구성 요소들 간의 선들의 연결 또는 연결 부재들은 기능적인 연결 및/또는 물리적 또는 회로적 연결들을 예시적으로 나타낸 것으로서, 실제 장치에서는 대체 가능하거나 추가의 다양한 기능적인 연결, 물리적인 연결, 또는 회로 연결들로서 나타내어질 수 있다. 또한, “필수적인”, “중요하게” 등과 같이 구체적인 언급이 없다면 본 발명의 적용을 위하여 반드시 필요한 구성 요소가 아닐 수 있다.
본 발명의 명세서(특히 특허청구범위에서)에서 “상기”의 용어 및 이와 유사한 지시 용어의 사용은 단수 및 복수 모두에 해당하는 것일 수 있다. 또한, 본 발명에서 범위(range)를 기재한 경우 상기 범위에 속하는 개별적인 값을 적용한 발명을 포함하는 것으로서(이에 반하는 기재가 없다면), 발명의 상세한 설명에 상기 범위를 구성하는 각 개별적인 값을 기재한 것과 같다. 마지막으로, 본 발명에 따른 방법을 구성하는 단계들에 대하여 명백하게 순서를 기재하거나 반하는 기재가 없다면, 상기 단계들은 적당한 순서로 행해질 수 있다. 반드시 상기 단계들의 기재 순서에 따라 본 발명이 한정되는 것은 아니다. 본 발명에서 모든 예들 또는 예시적인 용어(예들 들어, 등등)의 사용은 단순히 본 발명을 상세히 설명하기 위한 것으로서 특허청구범위에 의해 한정되지 않는 이상 상기 예들 또는 예시적인 용어로 인해 본 발명의 범위가 한정되는 것은 아니다. 또한, 당업자는 다양한 수정, 조합 및 변경이 부가된 특허청구범위 또는 그 균등물의 범주 내에서 설계 조건 및 팩터에 따라 구성될 수 있음을 알 수 있다.
이상에서 본 발명이 구체적인 구성요소 등과 같은 특정 사항과 한정된 실시예 및 도면에 의하여 설명되었으나, 이는 본 발명의 보다 전반적인 이해를 돕기 위하여 제공된 것일 뿐, 본 발명이 상기 실시예에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상적인 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정과 변경을 꾀할 수 있다.
따라서, 본 발명의 사상은 상기 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 아니 되며, 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 또는 이로부터 등가적으로 변경된 모든 범위는 본 발명의 사상의 범주에 속한다고 할 것이다.
100: 얼룩 평가 장치
110: 제어부
120: 수치 산출부
121: 단거리 균일도 산출부
122: 장거리 균일도 산출부
123: 휘도 비율 산출부
124: 저 휘도 편차 비율 산출부
130: 얼룩 수치 정의부
200: 측정부
300: 출력 디스플레이

Claims (10)

  1. 블록별 패널 휘도의 최대값 및 최소값의 차에 기초하여 단거리 균일도값을 산출하는 단거리 균일도 산출부;
    패널 내에서 등간격의 휘도값에 기초하여 장거리 균일도값을 산출하는 장거리 균일도 산출부;
    기설정된 휘도 수치 내에 대응하는 픽셀의 비율을 추출하여 휘도 비율값을 산출하는 휘도 비율 산출부;
    기설정된 휘도 편차 이하를 갖는 저 휘도편차 픽셀의 비율값을 구하는 저 휘도편차 비율 산출부;
    를 포함하는 패널 얼룩 평가 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 얼룩 평가 장치는,
    상기 단거리 균일도값, 장거리 균일도값, 휘도 비율값, 저 휘도편차 픽셀의 비율값에 각각 대응하는 비율을 곱한 후 모두 합하여 얼룩 수치값을 산출하는 얼룩 수치 정의부; 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 패널 얼룩 평가 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 얼룩 수치 정의부는;
    상기 얼룩 수치값에 기초하여 상기 패널의 얼룩 수치 등급을 설정하는 것을 특징으로 하는 패널 얼룩 평가 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 단거리 균일도 산출부는,
    상기 패널의 촬상 이미지를 기설정된 블록 단위로 자른 후, 해당 부분에서의 최대 휘도와 최소 휘도의 차이의 비를 이용하여 최대 균일도를 구하고, 최대 균일도의 평균을 상기 단거리 균일도 값으로 설정하는 것을 특징으로 하는 패널 얼룩 평가 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 장거리 균일도 산출부는,
    상기 패널의 촬상 이미지에서 등간격으로 기설정된 포인트만큼의 휘도를 측정한 후, 휘도의 최대값을 휘도의 최소값으로 나누어 장거리 균일도값을 산출하는 것을 특징으로 하는 패널 얼룩 평가 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 휘도 비율 산출부는
    패널 전체의 휘도 분포를 각 휘도 단계별로 획득한 후, 평균 휘도에서 특정 오차 범위 내에 존재하는 픽셀의 비율을 휘도 비율값으로 설정하는 것을 특징으로 하는 패널 얼룩 평가 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 단거리 균일도 산출부는,
    특정 휘도 수치를 넘는 픽셀들만을 추출하여 최대 균일도의 평균을 계산하는 것을 특징으로 하는 패널 얼룩 평가 장치.
  8. 블록별 패널 휘도의 최대값 및 최소값의 차에 기초하여 단거리 균일도값을 산출하는 단계;
    패널 내에서 등간격의 휘도값에 기초하여 장거리 균일도값을 산출하는 단계;
    기설정된 휘도 수치 내에 대응하는 픽셀의 비율을 추출하여 휘도 비율값을 산출하는 단계;
    기설정된 휘도 편차 이하를 갖는 저 휘도편차 픽셀의 비율값을 구하는 단계;
    를 포함하는 패널 얼룩 평가 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 저 휘도편차 픽셀의 비율값을 구하는 단계 이후에,
    상기 단거리 균일도값, 장거리 균일도값, 휘도 비율값, 저 휘도편차 픽셀의 비율값에 각각 대응하는 비율을 곱한 후 모두 합하여 얼룩 수치값을 산출하는 단계; 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 패널 얼룩 평가 방법.
  10. 패널의 휘도를 측정하는 측정부;
    블록별 패널 휘도의 최대값 및 최소값의 차에 기초하여 단거리 균일도값, 패널 내에서 등간격의 휘도값에 기초하여 장거리 균일도값, 기설정된 휘도 수치 내에 대응하는 픽셀의 비율을 추출하여 휘도 비율값, 기설정된 휘도 편차 이하를 갖는 저 휘도편차 픽셀의 비율값을 설정하는 수치 산출부;
    상기 수치 산출부가 산출한 수치값들을 이용하여 최종 얼룩 수치값 및 패널 얼룩 평가 등급을 설정하는 얼룩 수치 정의부;
    를 포함하는 패널 얼룩 평가 시스템.
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