KR20140092131A - Method for detecting validity of vehicular adc unit - Google Patents

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Abstract

Disclosed is a method for testing validity of a vehicular analog-digital converter (ADC) unit to perform a reliable inspection of an A/D converter. The method for testing validity according to the present invention comprises the steps of: a) outputting a reference test voltage applied to the ADC unit based on a hardware circuit and monitoring an output voltage; b) monitoring a standard analog reference voltage applied to the ADC unit and a bit stuck of a result register storing a digital conversion result of an analog reference ground voltage; c) setting channel selection signals (S0 to S3) for selecting the standard analog reference voltage and the analog reference ground voltage to be mutually exclusive and monitoring whether the channel selection signals (S0 to S3) have an error; and d) performing, by a vehicular electronic control unit (ECU), an error notification if there is any error based on the determinations in the a) to c) steps and repeating the said steps if there is not any error. Therefore, it is possible to test the validity of the ADC unit by detecting an error in the ADC unit with ADC unit itself without an extra ADC unit or additional signal.

Description

차량의 아날로그-디지털 컨버터 유닛의 타당성 검사방법{METHOD FOR DETECTING VALIDITY OF VEHICULAR ADC UNIT}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to an analog-to-

본 발명은 차량의 안전성 검사방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 차량 구동을 위해 입력, 발생 또는 생성되는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 에이디씨(ADC) 유닛에 대한 멀티플렉서(Multiplexer), 에이디 컨버터(A/D Converter), 결과정보 저장을 위한 레지스터(Register)를 자체 검사함으로써, 입력신호에 대한 변환과정에서의 오류를 방지할 수 있는 차량의 아날로그-디지털 컨버터 유닛의 타당성 검사방법에 관한 것이다.
The present invention relates to a safety inspection method for a vehicle, and more particularly, to a safety inspection method for a vehicle, including a multiplexer for an ADC unit that converts an analog signal input, generated, (A / D converter), and a register for storing result information, thereby preventing errors in the conversion process of the input signal.

최근 자동차의 안전성, 편의성, 안락성 등을 개선하기 위하여 제어하여야 하는 부품 수가 급격히 증가하고 있으며, 이를 위하여 차량에는 각 부품들을 제어할 수 있도록 전자제어유닛(ECU:Electronic Control Unit)을 설치하여 사용하고 있다. 전자제어유닛은 여러 제어장치를 하나의 제어유닛으로 조합하는 총합화가 이루어지고 있으며, 이러한 제품기술의 발전에 따른 제품의 품질 및 안전성 보증을 위하여 보다 효과적인 기술에 의한 검사장치를 필요로 하고 있다.Recently, in order to improve the safety, comfort, and comfort of automobiles, the number of components to be controlled has been rapidly increasing. To this end, an electronic control unit (ECU) . The electronic control unit has been summarized to combine various control devices into one control unit. In order to ensure the quality and safety of the product due to the development of the product technology, a more effective inspection apparatus is required.

종래의 검사기술은 전자제어유닛의 전반적인 부품을 조립하는 과정에서 작업자에 의한 육안검사나 수동 검사가 이루어지고, 더 나아가 완제품을 조립한 이후에 작동 여부에 따른 동작검사로 품질검사가 행해지고 있다. 특히 엔진 제어를 위한 전자제어장치의 안정성 검사는 필연적이고, 매우 중요한 사항이라 할 수 있다.In the conventional inspection technique, a visual inspection or a manual inspection is performed by an operator in the process of assembling the overall parts of the electronic control unit, and furthermore, after the finished product is assembled, the quality inspection is performed by the operation inspection according to the operation. In particular, the stability check of an electronic control device for engine control is inevitable and very important.

이러한 전자제어장치의 안정성을 검사하기 위한 장치는 도 1을 참조하여 설명하면 다음과 같다.An apparatus for checking the stability of such an electronic control apparatus will be described with reference to FIG.

전자제어장치의 안정성 검사장치는 도시한 바와 같이 증폭부(10)와, 신호 변환부(20)와, 타이머(30)와, 트랜지스터(40)로 이루어지는데, 증폭부(10)는 설정되어 있는 증폭비에 따라 입력신호를 증폭시킨다. 신호 변환부(20)는 상기 증폭부(10)에서 인가되는 증폭신호를 반전 혹은 재반전시켜 입력신호와 반전되거나 동일한 신호를 출력한다.The stability checking apparatus of the electronic control apparatus includes an amplifying unit 10, a signal converting unit 20, a timer 30 and a transistor 40 as shown in FIG. Amplifies the input signal according to the amplification ratio. The signal converting unit 20 inverts or re-inverts the amplified signal applied from the amplifying unit 10 to output the inverted signal or the same signal as the input signal.

타이머(30)는 상기 신호 변환부(20)에서 인가되는 신호를 구형파로 변조하여 소정의 발진주파수를 가지는 발진신호를 출력한다. FET 트랜지스터(40)는 입력신호에 따라 일정주기로 스위칭되어 설정되어 있는 공급전력을 단속시키는 것으로 전력용으로 사용되는 파워 트랜지스터로 이루어져 있다.The timer 30 modulates a signal applied from the signal converter 20 into a square wave and outputs an oscillation signal having a predetermined oscillation frequency. The FET transistor 40 is formed by a power transistor which is used for electric power by interrupting the set power which is switched at a predetermined cycle according to an input signal.

상기 FET 트랜지스터(40)의 게이터 단자에는 상기 입력신호에 따라 발진된 신호가 인가되고, 드레인 단자에는 입력전력인 12V가 입력되며, 소오스 단자에는 외부장치가 연결된다. 따라서, 검사 대상이 되는 전자제어 장치가 순간적인 입력전원 단속에 정상적으로 동작하는 지를 검출하기 위해 전자제어 장치의 안정성 검사장치의 입력단에는 PC(PERSONER COMPUER)를 연결하고, 출력단에는 검사할 전자제어 장치를 연결하며, 구동 전력은 전원 인가단자를 이용하여 12V를 인가한다.A signal oscillated according to the input signal is applied to the gate terminal of the FET transistor 40. An input power of 12V is input to the drain terminal and an external device is connected to the source terminal. Accordingly, in order to detect whether the electronic control device to be inspected normally operates in the intermittent input power interrupter, a PC (PERSONER COMPUTER) is connected to the input terminal of the stability testing device of the electronic control device, and an electronic control device And the driving power is 12 V by using the power supply terminal.

이때, 상기 PC에 설정되어 있는 테스트용 신호가 입력단에 인가되면 전자제어 장치의 안정성 검사장치의 증폭부(10)는 상기 PC에서 인가되는 테스트용 신호를 증폭비에 따라 증폭시키고 그에 해당하는 증폭신호를 신호 변환 장치(20)에 출력한다. 신호변환 장치(20)는 상기 증폭부(10)에서 인가되는 신호에 따라 증폭신호를 반전시킨 후 재반전시켜 입력신호와 동일한 신호를 타이머(30)에 출력한다.At this time, when the test signal set in the PC is applied to the input terminal, the amplification unit 10 of the stability checking apparatus of the electronic control unit amplifies the test signal applied from the PC according to the amplification ratio, To the signal converting apparatus 20. [ The signal converter 20 inverts the amplified signal according to a signal applied from the amplifier 10 and then inverts the amplified signal to output the same signal as the input signal to the timer 30.

타이머(30)는 상기 신호변환 장치(20)에 인가되는 신호에 따라 구형파 발진 신호를 FET 트랜지스터(40)의 게이터단(G)에 출력한다. 이때, 상기 타이머(30)에서 출력되는 발진신호에 의해 게이터단(G)이 제어되어 FET 트랜지스터가 온/오프 스위칭된다. 따라서, 상기 FET트랜지스터의 온/오프에 따라 드레인(D)단자와 소오스(S) 단자를 통해 전자제어 장치에 공급되는 입력전력이 순간적으로 단속된다. 이때, 상기 입력전력이 순간적으로 단속되는 동안 전자제어 장치가 기본 특성에 따른 정상적인 데이터 신호가 디스플레이부에 인가되는지를 테스터기 사용자가 확인한다.The timer 30 outputs a rectangular wave oscillation signal to the gate terminal G of the FET transistor 40 in accordance with a signal applied to the signal converter 20. At this time, the gate stage (G) is controlled by the oscillation signal outputted from the timer (30) so that the FET transistor is on / off switched. Accordingly, the input power supplied to the electronic control device through the drain (D) terminal and the source (S) terminal is momentarily interrupted according to the on / off state of the FET transistor. At this time, the tester user checks whether a normal data signal according to basic characteristics is applied to the display unit while the input power is momentarily interrupted.

이를 통해 종래 전자제어장치의 안정성 검사는 공급전력이 순간적으로 단속 되게 함으로써 공급전력이 순간적으로 단속되었을 경우 전자 제어 장치에 설정되어 있는 기본특성에 따라 정상적으로 동작하는지를 검사하는 것이다. 그러나, 이는 하드웨어적 검사에 지나지 않아 검사의 신뢰성이 높지 못하다는 지적이 있다. 특히 차량 이씨유(ECU)의 ADC 유닛은 전자 제어장치에서 사용하는 중요한 입력 신호로 많이 사용되고 있기 때문에 ADC 유닛의 타당성 검사가 필연적이며, 이는 전자제어장치의 안정성과 직결된다. 따라서, 차량의 안정성을 확보하기 위해서는 ADC 유닛의 타상성 검사의 필요성이 요구되고 있다.
Accordingly, the stability check of the conventional electronic control device is to check whether the power is normally operated according to the basic characteristics set in the electronic control device when the supply power is instantaneously interrupted by momentarily interrupting the supplied electric power. However, it is pointed out that the reliability of the test is not high because it is only a hardware test. Especially, since the ADC unit of the vehicle ECU is widely used as an important input signal used in the electronic control unit, the validity of the ADC unit is inevitably checked, which is directly related to the stability of the electronic control unit. Therefore, in order to secure the stability of the vehicle, it is required to check the tread of the ADC unit.

본 발명은 이와 같은 문제점을 해결하기 위해 창출된 것으로 본 발명의 목적은, ADC의 기준전압(reference volatage)이 정상이 아니거나 레지스터(register)의 비트 스턱(bit stuck)과 같은 ADC 유닛 자체의 오류를 감지함으로써, 별도의 ADC 유닛이나 추가 신호 없이 ADC 유닛 자체로 ADC 유닛의 타당성을 검사할 수 있는 차량의 아날로그-디지털 컨버터 유닛의 타당성 검사방법을 제공함에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to overcome the above problems, and it is an object of the present invention to provide a method and apparatus for correcting an error of an ADC unit itself, such as a reference voltage of an ADC or a bit stuck of a register, To provide a method of validating a vehicle's analog-to-digital converter unit that can check the validity of the ADC unit with a separate ADC unit or with no additional signal.

본 발명의 다른 목적은, ADC 유닛의 멀티플렉서(Multiplexer) 오류 검사, 기준 테스트 전압을 이용하여 표준 아날로그 기준전압(Standard analog reference voltage) 오류 검사, 결과 레지스터(Result register)의 비트 스턱(Bit stuck) 검사를 기반으로 A/D 컨버터의 안정적 검사를 수행함으로써, 하드웨어적 추가 기능이 없이 시스템의 기능성과 안정성을 확보할 수 있는 차량의 아날로그-디지털 컨버터 유닛의 타당성 검사방법을 제공함에 있다.
It is another object of the present invention to provide a method and apparatus for testing a multiplexer error of an ADC unit, a standard analog reference voltage error check using a reference test voltage, a bit stuck test of a result register, The present invention provides a method for checking the validity of the analog-to-digital converter unit of a vehicle, which can secure the functionality and stability of the system without any additional hardware function by performing stable inspection of the A / D converter based on the A / D converter.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 관점에 따른 차량의 아날로그-디지털 컨버터 유닛의 타당성 검사방법은, 차량의 ADC 유닛의 타당성을 검사하기 위한 방법에 있어서, a) 상기 ADC 유닛으로 인가되는 기준 테스트 전압(Reference test voltage)을 하드웨어 회로에 기반하여 출력하고, 출력전압을 감시하는 단계; b) 상기 ADC 유닛으로 인가되는 표준 아날로그 기준전압(Standard analog reference) 및 아날로그 기준 접지전압(Analog reference ground)의 디지털 변환 결과를 저장하는 결과 레지스터의 비트 스턱(Bit stuck)을 감시하는 단계; c) 상기 표준 아날로그 기준전압(Standard analog reference) 및 아날로그 기준 접지전압(Analog reference ground)을 선택하기 위한 멀티플렉서의 채널 선택신호(S0 ~ S3)를 상호 배타적으로 설정하고, 상기 채널 선택신호(S0 ~ S3)에 대한 오류 여부를 감시하는 단계; 및 d) 상기 a) 단계 내지 c) 단계에서 판단한 결과, 어느 하나 이상의 오류가 발생할 경우 차량의 전자제어장치(ECU)가 오류 통지를 수행하고, 오류가 발생하지 않을 경우 상기 과정을 주기적으로 반복하는 단계;로 이루어진 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method for checking the validity of an ADC unit of a vehicle, the method comprising the steps of: a) Outputting a reference test voltage based on a hardware circuit and monitoring an output voltage; b) monitoring a bit stuck of a result register storing a result of digitally converting a standard analog reference voltage and an analog reference ground voltage applied to the ADC unit; c) mutually exclusively sets the channel selection signals S0 to S3 of the multiplexer for selecting the standard analog reference and the analog reference ground, and the channel selection signals S0- S3); < / RTI > And d) if at least one error occurs as a result of the determination in steps a) to c), the electronic control unit (ECU) of the vehicle performs an error notification, and if no error occurs, the process is repeated periodically The method comprising the steps of:

한편, 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 a) 단계는, a-1) 상기 기준 테스트 전압(Reference test voltage)의 정상 범위를 시스템 구성에 따라 최대 및 최소 문턱전압(maximum threshold, minimum threshold)으로 설정하는 단계; 및 a-2) 상기 최대 및 최소 문턱전압의 범위를 벗어나는 경우 기준 테스트 전압(reference test voltage)에 대한 오류로 판단하는 단계로 구성되는 것을 특징으로 한다.According to a preferred embodiment of the present invention, step a) comprises the steps of: a-1) setting a normal range of the reference test voltage to a maximum and minimum threshold voltage according to a system configuration, ; And a-2) determining an error with respect to a reference test voltage when the difference is out of the range of the maximum and minimum threshold voltages.

또한 b) 단계는, b-1) 상기 표준 아날로그 기준전압과 아날로그 기준 접지전압(Standard analog reference voltage, analog reference ground)의 최대값 또는 최소값이 출력되지 않을 경우, 상기 결과 레지스터의 비트 스턱(Bit stuck)을 감시하는 단계; 및 b-2) 상기 b-1) 단계에서 비트 스턱이 발생할 경우 에러를 통지하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
The method of claim 1, wherein step b) comprises the steps of: b-1) if the maximum or minimum value of the standard analog reference voltage and the analog reference ground voltage is not output, ); And b-2) notifying an error when the bit stuck occurs in the step b-1).

본 발명에서 제시하는 차량의 아날로그-디지털 컨버터 유닛의 타당성 검사방법은, ADC의 기준전압(reference volatage)이 정상이 아니거나 레지스터(register)의 비트 스턱(bit stuck)과 같은 ADC 유닛 자체의 오류를 감지함으로써, 별도의 ADC 유닛이나 추가 신호 없이 ADC 유닛 자체로 ADC 유닛의 타당성을 검사할 수 있는 효과를 갖는다. 또한, ADC 유닛의 멀티플렉서(Multiplexer) 오류 검사, 기준 테스트 전압을 이용하여 표준 아날로그 기준전압(Standard analog reference voltage) 오류 검사, 결과 레지스터(Result register)의 비트 스턱(Bit stuck) 검사를 기반으로 A/D 컨버터의 안정적 검사를 수행할 수 있는 효과를 제공한다.
The validity checking method of the analog-to-digital converter unit of the vehicle proposed in the present invention is based on the fact that the reference voltage of the ADC is not normal or the error of the ADC unit itself such as a bit stuck of a register By sensing, it is possible to check the validity of the ADC unit with a separate ADC unit or with the ADC unit itself without additional signal. In addition, A / D conversion is performed based on a multiplexer error check of the ADC unit, a standard analog reference voltage error check using a reference test voltage, and a bit stuck check of a result register. D converter can be performed in a stable manner.

도 1은 종래 차량의 전자제어장치의 안정성을 검사하기 위한 장치를 나타낸 구성도이다.
도 2는 본 발명에 따른 차량의 ADC 유닛의 주요 구성을 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 본 발명의 동작을 설명하기 위한 플로우챠트이다.
도 4는 도 3의 기준 테스트 전압에 대한 감시 방법을 설명하기 위한 그래프이다.
도 5는 도 3의 결과 레지스터 감시 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 도 3의 멀티플렉서 오류 감시 방법을 설명하기 위한 도면이다.
BRIEF DESCRIPTION OF DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram showing an apparatus for checking the stability of an electronic control unit of a conventional vehicle. FIG.
2 is a view for explaining a main configuration of an ADC unit of a vehicle according to the present invention.
3 is a flow chart for explaining the operation of the present invention.
4 is a graph for explaining a monitoring method for the reference test voltage of FIG.
5 is a diagram for explaining a result register monitoring method of FIG.
FIG. 6 is a diagram for explaining a multiplexer error monitoring method of FIG. 3. Referring to FIG.

이하, 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부된 예시도면에 의거 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

먼저, ADC 유닛의 세 채널을 이용하여 ADC 유닛의 타당성을 검사할 수 있다. ADC 유닛의 타당성을 확인하기 위해서, 상기 ADC 유닛은 여러 채널로 입력되는 아날로그 신호 중 변환할 하나의 채널을 선택하는 multiplexer와 선택한 아날로그 신호를 디자털 신호로 변환하는 A/D 컨버터 그리고 변환된 디지털 신호를 저장하는 결과 레지스터(result register)로 구성된다.First, the ADC unit's validity can be verified using three channels of the ADC unit. In order to verify the validity of the ADC unit, the ADC unit includes a multiplexer for selecting one channel to be converted among the analog signals input to the plurality of channels, an A / D converter for converting the selected analog signal into a design signal, And a result register for storing the result register.

상기 A/D 컨버터는 변환에 사용하는 기준 값인 표준 아날로그 기준신호(standard analog reference)와 아날로그 기준 접지신호(analog reference ground)를 참고하여 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환한다. 여기서, 본 발명은 ADC를 구성하는 mutiplexer와 A/D converter 그리고 result register를 검사하여 ADC 유닛의 타당성을 검사할 것이며, 각각의 구성 요소를 검사하기 위한 검사 방법은 아래와 같다.The A / D converter converts an analog signal into a digital signal by referring to a standard analog reference signal and an analog reference ground signal, which are reference values used for conversion. Here, the present invention examines the validity of the ADC unit by examining the mutiplexer, the A / D converter and the result register constituting the ADC, and the inspection method for inspecting the respective components is as follows.

먼저, 기준 테스트 전압(reference test voltage)을 이용한 표준 아날로그 기준신호(standard anlog reference voltage)에 대한 오류검사 과정을 갖는다. 그리고, 결과 레지스터(result register)의 비트 스턱(bit stuck)을 검사하는 과정을 갖는다. 그리고 멀티플렉서 검사(muliplexer)를 수행하는데, 이는 ADC 유닛의 멀티플렉서의 오류 상태를 검사하는 과정이다.First, there is an error checking process for a standard anlog reference voltage using a reference test voltage. Then, a bit stuck of the result register is checked. And performs a muliplexer, which is the process of checking the error state of the multiplexer in the ADC unit.

이와 같이 본 발명은 상기한 세 가지 과정을 통해 ADC 유닛의 안정성을 검사하는데, 이에 대한 전제조건으로 항상 일정한 전압을 유지할 수 있는 테스트 신호를 필요로 한다. 예컨대, 5V 전압을 기준전압(reference voltage)로 사용하는 경우 5V 전압이 5V 이하나 이상으로 변동되더라도 항상 일정한 전압을 유지하는 신호를 기준 테스트 신호가 필요한 것이다.As described above, according to the present invention, the stability of the ADC unit is checked through the three processes described above. As a precondition, the test signal is required to maintain a constant voltage at all times. For example, when a 5V voltage is used as a reference voltage, a reference test signal is required for a signal that always maintains a constant voltage even if the 5V voltage fluctuates by 5V or less.

도 2는 본 발명의 ADC 유닛을 나타낸 하드웨어 구조이다. 도시된 바와 같이, 네 개의 비트(S0 ~ S3)를 이용하여 16비트의 채널에서 입력되는 아날로그 신호를 선택하는 멀티플렉서(MUX)와, 상기 멀티플렉서(MUX)의 출력 신호를 디지털 신호로 변환하는 A/D 컨버터와, 상기 A/D 컨버터에서 변환된 데이터를 저장하는 결과 레지스터(Result register)로 이루어진다.2 is a hardware structure showing the ADC unit of the present invention. A multiplexer MUX for selecting an analog signal input from a 16-bit channel using four bits S0 to S3; an A / D converter for converting an output signal of the multiplexer MUX into a digital signal; D converter, and a result register for storing data converted by the A / D converter.

그리고, ADC 유닛의 입력단에는 표준 아날로그 기준신호(Standart analog reference)와 아날로그 기준 접지신호(Analog reference ground)를 포함하여 기준 테스트 전압(Reference test voltage)이 입력된다. 상기 기준 테스트 전압은 별도의 하드웨어 회로(Fixed voltage generator)에 의해 공급되도록 한다. 또한, 상기 A/D 컨버터는 12비트의 분해성능을 보유하며, 이에 따라 결과 레지스터 또한 12비트 정보를 저장하기 위한 메모리 구조를 갖는다.A reference test voltage is input to the input terminal of the ADC unit, including a standard analog reference signal and an analog reference ground signal. The reference test voltage is supplied by a separate hardware circuit (Fixed voltage generator). In addition, the A / D converter has a 12-bit decomposition capability, and accordingly, the result register also has a memory structure for storing 12-bit information.

그러면, 전술된 ADC 유닛을 기반으로 본 발명에 따른 ADC 유닛의 오류검사 방법을 도 3에 의거 설명하면 다음과 같다. 도 3은 ADC 유닛의 오류검사 방법을 설명하기 위한 플로우챠트이다.The error checking method of the ADC unit according to the present invention will now be described with reference to FIG. 3 based on the above-described ADC unit. 3 is a flowchart for explaining an error checking method of the ADC unit.

도시된 바와 같이, S301 단계에서 상기 기준 테스트 전압(Reference test voltag)을 디지털 신호로 변환한다. 이를 위해, 차량의 전자제어장치(ECU:미도시함)는 상기 멀티플렉서의 선택신호(S0 ~ S3)을 이용하여 기준 테스트 전압이 입력되는 채널을 선택한다.As shown in the figure, in step S301, the reference test voltage is converted into a digital signal. To this end, the electronic control unit (ECU: not shown) of the vehicle selects the channel to which the reference test voltage is inputted by using the selection signals S0 to S3 of the multiplexer.

따라서, 상기 멀티플렉서는 기준 테스트 전압을 상기 A/D 컨버터로 제공하며, A/D 컨버터는 기준 테스트 전압을 디지털 신호로 변환하여 결과 레지스터로 저장한다. 여기서, 상기 기준 테스트 전압은 전술한 별도의 하드웨어 회로(Fixed voltage generator) 예컨대, NCV33161와 같은 IC를 이용할 경우, 배터리 전원 레벨과 관계없이 고정된 전압을 제공할 수 있게 될 것이다.Thus, the multiplexer provides a reference test voltage to the A / D converter, which converts the reference test voltage into a digital signal and stores it in a result register. Here, the reference test voltage will be able to provide a fixed voltage regardless of the battery power level when an IC such as the above-described fixed voltage generator (e.g., NCV33161) is used.

즉, 상기한 하드웨어 회로를 구현함으로써 기준 테스트 전압은 도 4a와 같이 표준 아날로그 기준전압(Standard analog reference voltage)이 5V이고, 기준 테스트 전압(reference test voltage)이 2.5V라고 가정할 경우, 정상적인 상태의 전압 레벨은 그래프와 같이 일정하게 고정된다.That is, by implementing the above-described hardware circuit, when the standard test voltage is 5V and the reference test voltage is 2.5V as shown in FIG. 4A, The voltage level is fixed as shown in the graph.

S303 단계는 현재 입력되는 아날로그의 기준 테스트 전압이 정상범위인지를 판단하는데, 이는 기준 테스트 전압(Reference test voltage)의 정상 범위를 시스템 구성에 맞게 정하여 최대 및 최소 문턱전압(maximum threshold, minimum threshold)를 정할 경우, 상기 최대 및 최소 문턱전압의 범위를 벗어나는 경우 기준 테스트 전압(reference test voltage)에 대한 오류로 판단하는 것이다.In step S303, it is determined whether the reference test voltage of the currently inputted analog is in the normal range. This is done by setting the normal range of the reference test voltage to the maximum and minimum threshold voltages If the maximum and minimum threshold voltages are out of the range, it is determined that the reference test voltage is an error.

S303 단계에서 판단한 결과, 기준 테스트 전압이 정상범위가 아닐 경우 이는 전술한 최대 및 최소 문턱전압(maximum threshold, minimum threshold)이 설정 범위를 벗어나는 것으로, ADC 유닛에 대한 에러 상태를 통지하게 된다. 이러한 에러 상태는 기준 테스트 전압(Reference test voltage)이 가변되는 것으로, 기준 테스트 전압을 생성하기 위한 하드웨어 회로를 갖지 않을 경우, 배터리의 전압 변동에 의해 발생될 우려가 있다.As a result of the determination in step S303, if the reference test voltage is not within the normal range, the maximum and minimum threshold voltages are out of the set range, and the error condition for the ADC unit is notified. Such an error condition is a variation of the reference test voltage, and may occur due to a voltage fluctuation of the battery if the battery does not have a hardware circuit for generating a reference test voltage.

이로 인해, 표준 아날로그 기준 전압(Standard analog reference voltage)가 5V 아래로 감소하거나 5V 이상으로 증가하는 경우 ADC 유닛 자체는 정상 동작을 하더라도 표준 아날로그 기준 전압의 신호 값이 변하게 된다. 도 4b의 그래프 처럼 표준 아날로그 기준전압(Standard analog reference voltage)이 5V 아래로 감소하는 경우 항상 기준 테스트 전압(Reference test voltage)는 2.5V를 유지하지 않고 2.5V 이상의 값으로 읽히게 된다.As a result, if the standard analog reference voltage drops below 5V or increases above 5V, the ADC unit itself will change the signal value of the standard analog reference voltage even if it is operating normally. As shown in the graph of FIG. 4B, when the standard analog reference voltage is reduced below 5V, the reference test voltage is always read as a value of 2.5V or more without maintaining 2.5V.

상기 기준 테스트 전압(Reference test voltage) 자체는 2.5V로 항상 일정하지만 입력되는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환할 때 사용하는 표준 아날로그 기준전압(Standard analog reference voltage)가 기준 값보다 작아졌기 때문에 기준 테스트 전압(reference test voltage)이 2.5V보다 크게 읽히는 것이다. 반대로, 현재 입력되는 표준 아날로그 기준전압(Standard analog reference voltage)이 5V 이상 증가하는 경우 기준 테스트 전압(reference test voltage)은 2.5V로 고정되어 있음에도 불구하고, 디지털 신호로 변환한 값은 2.5V보다 작은 값으로 읽히게 된다.Since the reference test voltage itself is constant at 2.5V but the standard analog reference voltage used to convert the input analog signal into a digital signal is smaller than the reference value, (reference test voltage) is read out larger than 2.5V. Conversely, when the standard analog reference voltage is increased by more than 5 V, the reference test voltage is fixed at 2.5 V, but the converted value is less than 2.5 V Value.

따라서, 전술된 기준 테스트 전압에 대한 에러가 발생할 경우 전자제어장치(ECU)는 S315 단계에서 ADC 유닛에 대한 에러를 통지하는 것이다.Therefore, when an error with respect to the reference test voltage is generated, the electronic control unit (ECU) notifies an error to the ADC unit in step S315.

반면, 상기 S303 단계에서 판단한 결과, 기준 테스트 전압이 정상범위에 존재할 경우, S305 단계로 진입하여 현재 입력되는 아날로그 기준 전압(Standard analog reference voltage)를 디지털 신호로 변환한다.On the other hand, if it is determined in step S303 that the reference test voltage is in the normal range, the process proceeds to step S305 and converts the currently input analog reference voltage into a digital signal.

그리고, S307 단계로 진입하여 상기 전자제어장치(ECU)는 현재 입력되는 아날로그 기준 전압이 정상범위에 존재하는지를 판단한다. 여기서 아날로그 기준전압은 표준 아날로그 기준전압과 아날로그 기준 접지전압(Standard analog reference voltage, analog reference ground)을 의미하며, 각각의 오류 상태를 스턱(stuck) 비트를 감지함으로써 구현된다.In step S307, the electronic control unit ECU determines whether the currently input analog reference voltage is within the normal range. Here, the analog reference voltage refers to a standard analog reference voltage and an analog reference ground, and is implemented by sensing the stuck bit of each error state.

상기 S307 단계에서 아날로그 기준 전압에 대한 오류 판단과정은, 먼저 ADC 결과 레지스터에 대한 비트 스턱(Stuck)을 검사한다. 이는 결과 레지스터(result register)가 가질 수 있는 값의 최소치와 최대치를 반복적으로 저장하도록 하여 결과 레지스터(result register)의 비트 스턱(bit stuck)을 검사하는 것이다.In step S307, an error determination process for an analog reference voltage first checks a bit stuck to an ADC result register. This is to check the bit stuck of the result register by repeatedly storing the minimum and maximum values that the result register may have.

상기 결과 레지스터(Result register)의 비트 스턱(bit stuck)을 검사하기 위해서 두 개의 아날로그 신호가 필요하며, 하나의 신호는 표준 아날로그 기준신호(stadard analog reference)이고 다른 하나는 아날로그 기준 접지신호(analog refernece ground) 이다. 12 비트의 결과 레지스터(result register)라고 가정할 경우, 표준 아날로그 기준신호(Stadard analog reference)의 채널을 변환하면 결과 레지스터(result register)의 모든 비트가 "1"의 값을 가지게 된다.Two analog signals are needed to check the bit stuck of the result register, one signal is a stadard analog reference and the other is an analog reference signal ground. Assuming a 12-bit result register, converting the channel of a standard analog reference will cause all bits in the result register to have a value of "1".

그리고, 아날로그 기준 접지신호(analog reference ground)가 할당된 채널을 변환하는 경우 결과 레지스터(resutl register)의 모든 비트가 "0"의 값을 가지게 된다. 여기서, 하드웨어의 특성 때문에 혹은 아날로그 신호를 변환하는 과정에서 약간의 오차가 생길 수 있기 때문에 각각 신호의 정상 범위를 정해서 변환한 값이 범위 안에 들어오는 경우 정상을 판단한다.When converting a channel to which an analog reference ground is allocated, all the bits of the result register have a value of "0". Here, since there is a slight error in the process of converting the analog signal due to the characteristics of the hardware or the like, it is determined that the normal range of the signal is normal and the converted value falls within the range.

정상 범위를 정할 때 ADC 유닛의 1비트의 샘플링보다 적은 범위로 오차범위를 정해야 한다. 예를 들어 5V 기준전압에 12비트 결과 레지스터(result resgister)를 사용하는 경우 오차 범위는 0.001V 보다 작아야 한다.When determining the normal range, the error range should be less than the sampling of 1 bit of the ADC unit. For example, if you use a 12-bit result register with a 5V reference voltage, the error range should be less than 0.001V.

즉, 오차 범위 = 기준전압(reference voltage) ÷ 결과 레지스터 최대값(result register maximum value)이기 때문에, "0.001V = 5V ÷ 4095 (3FFh)"가 된다.That is, since the error range is the reference voltage ÷ the result register maximum value, "0.001V = 5V ÷ 4095 (3FFh)" is obtained.

도 5a에서 도시된 바와 같이, 아날로그 기준전압(alanlog reference voltage)이 5V인 경우 ADC 유닛이 정상인 경우, 상기 표준 아날로그 기준전압(standard analog reference)은 5V이고, 아날로그 접지전압(analog reference ground)은 0V로 측정된다. 반면, 결과 레지스터(result register)의 소정 비트 예컨대, 일곱 번째 비트가 '0'으로 고착된 경우, 도 5b와 같이 기준전압(reference voltage)은 4.921V로 측정되기 때문에 비트 스턱(bit stuck)을 감지할 수 있는 것이다.5A, when the analog reference voltage is 5V, the standard analog reference is 5V and the analog reference ground is 0V when the ADC unit is normal. . On the other hand, when a predetermined bit of the result register, for example, the seventh bit, is fixed to '0', the reference voltage is measured as 4.921 V as shown in FIG. 5B, You can do it.

또한, 상기 결과 레지스터(result register)의 소정 비트 예컨대, 첫 번째 비트가 '1'로 고착된 경우, 도 5c와 같이 아날로그 기준 접지신호(analog reference ground)의 값이 0.001V로 측정되어 결국 비트 스턱(bit stuck)을 감지할 수 있게 된다.When the predetermined bit of the result register, for example, the first bit is fixed to '1', the value of the analog reference ground is measured as 0.001 V as shown in FIG. 5C, (bit stuck) can be detected.

이와 같이 결과 레지스터(result register)의 소정 비트에 대한 비트 스턱을 감지함으로써, 아날로그 기준전압에 대한 오류여부를 검출하는 것이고, 오류 발생 시에는 전자제어장치(ECU)는 상기 S315 단계를 통해 에러 발생에 따른 경고 메시지를 출력한다.In this manner, the bitstack for a predetermined bit of the result register is detected to detect whether or not an error has occurred with respect to the analog reference voltage. When an error occurs, the electronic control unit (ECU) And outputs a warning message.

한편 상기 S307 단계에서 판단한 결과, 아날로그 기준전압에 대한 오류가 발생하지 않을 경우에는 S309 단계로 진입하여, 멀티플렉서의 오류검출을 위한 선택 신호(S0 ~ S3)을 추출한다.On the other hand, if it is determined in step S307 that there is no error with respect to the analog reference voltage, step S309 is performed to extract the selection signals S0 to S3 for error detection of the multiplexer.

그리고 S311 단계로 진입하여, 멀티플렉서의 오류 여부를 판단하되 상기 선택신(S0 ~ S3)에 대한 오류가 존재하는지를 판단한다. 이는 상기한 바와 같이 멀티플렉서는 네 개의 신호(S0 ~ S3)를 이용하여 입력되는 16개의 아날로그 채널을 선택하는데, 상기 표준 아날로그 기준전압(Standard analog reference voltage)와 아날로그 기준 접지전압(analog reference ground)에 대한 선택이 명확하게 이루어졌는지를 판단하는 것이다.In step S311, it is determined whether or not there is an error in the selection signal S0 to S3. As described above, the multiplexer selects 16 analog channels to be input using the four signals S0 to S3. The standard analog reference voltage and the analog reference ground It is to judge whether the selection is clear.

즉 도 6에서 도시한 바와 같이, 아날로그 기준전압에 대한 두 채널을 선택할 때 이용하는 선택신호(S0 ~ S3)를 상호 배타적으로 구성함으로써, 멀티플렉서의 선택 신호에 문제가 생길 경우 이를 감지할 수 있도록 하는 것이다.That is, as shown in FIG. 6, the selection signals S0 to S3 used when selecting two channels for the analog reference voltage are configured mutually exclusive so that a problem can be detected in the selection signal of the multiplexer .

예컨대, 표준 아날로그 기준전압(Standard analog reference)를 0번 채널에 할당할 경우, 아날로그 기준 접지전압(analog reference ground) 신호를 15번 채널에 할당하여 상호 배탁적으로 구성한다. 이로 인해, 선택 신호가 네 개인 경우 두 채널의 구성 방법은 8가지가 되며, 각 선택 신호에 대한 반전 코드로부터 멀티플렉서의 에러 여부를 판단하는 것이다.For example, when a standard analog reference is assigned to channel 0, an analog reference ground signal is assigned to channel 15, which is mutually disjointed. Thus, when there are four selection signals, there are eight ways of configuring the two channels, and it is judged whether the multiplexer is erroneous from the inversion code for each selection signal.

상기 S311 단계에서 판단한 결과, AD 멀티플렉서의 오류가 인지될 경우 상기 전자제어장치(ECU)는 S315 단계로 진입하여 에러에 대한 통지를 수행하고, 반면 S311 단계에서 판단한 결과, AD 멀티플렉서가 정상임을 인지할 경우 전자제어장치(ECU)는 S313 단계를 통해 ADC 유닛이 정상상태임으로 판단한다. 그리고, 상기 과정을 일정 주기단위로 검사함으로써, ADC 유닛에 대한 오류를 지속적으로 감시하게 된다.
If it is determined in step S311 that an error has occurred in the AD multiplexer, the electronic control unit (ECU) proceeds to step S315 to notify of an error. On the other hand, if it is determined in step S311 that the AD multiplexer is normal The electronic control unit ECU determines in step S313 that the ADC unit is in a normal state. Then, the ADC unit is continuously monitored for errors by inspecting the process in a predetermined period.

MUX : 멀티플렉서 S0 ~ S3 : 선택신호
Result register : 결과 레지스터
MUX: Multiplexer S0 to S3: Select signal
Result register: Result register

Claims (4)

차량의 ADC 유닛의 타당성을 검사하기 위한 방법에 있어서,
a) 상기 ADC 유닛으로 인가되는 기준 테스트 전압(Reference test voltage)을 하드웨어 회로에 기반하여 출력하고, 출력전압을 감시하는 단계;
b) 상기 ADC 유닛으로 인가되는 표준 아날로그 기준전압(Standard analog reference) 및 아날로그 기준 접지전압(Analog reference ground)의 디지털 변환 결과를 저장하는 결과 레지스터의 비트 스턱(Bit stuck)을 감시하는 단계;
c) 상기 표준 아날로그 기준전압(Standard analog reference) 및 아날로그 기준 접지전압(Analog reference ground)을 선택하기 위한 멀티플렉서의 채널 선택신호(S0 ~ S3)를 상호 배타적으로 설정하고, 상기 채널 선택신호(S0 ~ S3)에 대한 오류 여부를 감시하는 단계; 및
d) 상기 a) 단계 내지 c) 단계에서 판단한 결과, 어느 하나 이상의 오류가 발생할 경우 차량의 전자제어장치(ECU)가 오류 통지를 수행하고, 오류가 발생하지 않을 경우 상기 과정을 주기적으로 반복하는 단계;로 이루어진 것을 특징으로 하는 차량의 아날로그-디지털 컨버터 유닛의 타당성 검사방법.
A method for checking the validity of an ADC unit of a vehicle,
a) outputting a reference test voltage applied to the ADC unit based on a hardware circuit, and monitoring an output voltage;
b) monitoring a bit stuck of a result register storing a result of digitally converting a standard analog reference voltage and an analog reference ground voltage applied to the ADC unit;
c) mutually exclusively sets the channel selection signals S0 to S3 of the multiplexer for selecting the standard analog reference and the analog reference ground, and the channel selection signals S0- S3); < / RTI > And
d) if the ECU of the vehicle performs an error notification when any one or more errors occur as a result of the determination in steps a) to c), and if the error does not occur, repeating the process periodically The method of claim 1, wherein the analog-to-digital converter unit comprises:
제 1 항에 있어서,
상기 a) 단계의 하드웨어 회로는 정격전압을 출력하는 아이씨(IC) 소자를 사용하여, 배터리의 전원 레벨에 상관없이 고정된 전압을 출력하기 위한 구성인 것을 특징으로 하는 차량의 아날로그-디지털 컨버터 유닛의 타당성 검사방법.
The method according to claim 1,
Wherein the hardware circuit of step a) is configured to output a fixed voltage regardless of a power level of the battery using an IC element that outputs a rated voltage. Feasibility check method.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서 상기 a) 단계는,
a-1) 상기 기준 테스트 전압(Reference test voltage)의 정상 범위를 시스템 구성에 따라 최대 및 최소 문턱전압(maximum threshold, minimum threshold)으로 설정하는 단계; 및
a-2) 상기 최대 및 최소 문턱전압의 범위를 벗어나는 경우 기준 테스트 전압(reference test voltage)에 대한 오류로 판단하는 단계로 구성되는 것을 특징으로 하는 차량의 아날로그-디지털 컨버터 유닛의 타당성 검사방법.
The method according to claim 1 or 2, wherein the step a)
a-1) setting a normal range of the reference test voltage to a maximum threshold and a minimum threshold according to a system configuration; And
a-2) determining an error with respect to a reference test voltage when the difference between the maximum and minimum threshold voltages is out of the range of the maximum and minimum threshold voltages.
제 1 항에 있어서 상기 b) 단계는,
b-1) 상기 표준 아날로그 기준전압과 아날로그 기준 접지전압(Standard analog reference voltage, analog reference ground)의 최대값 또는 최소값이 출력되지 않을 경우, 상기 결과 레지스터의 비트 스턱(Bit stuck)을 감시하는 단계; 및
b-2) 상기 b-1) 단계에서 비트 스턱이 발생할 경우 에러를 통지하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 차량의 아날로그-디지털 컨버터 유닛의 타당성 검사방법.
The method of claim 1, wherein the step b)
b-1) monitoring a bit stuck of the result register when the maximum or minimum value of the standard analog reference voltage and the analog reference ground voltage is not output; And
b-2) a step of notifying an error when a bit stuck occurs in the step b-1).
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