KR20140050317A - Semiconductor package and manufacturing method therof - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 반도체 패키지에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 제조가 용이하고 제조 과정에서 발생되는 불량을 최소화할 수 있는 반도체 패키지에 관한 것이다.The present invention relates to a semiconductor package, and more particularly, to a semiconductor package which can be easily manufactured and minimizes defects generated during the manufacturing process.
전력 트랜지스터, 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터(insulated-gate bipolar transistor; IGBT), 모스 트랜지스터, 실리콘 제어 정류기(silicon-controlled rectifier; SCR), 전력 정류기, 서보 드라이버, 전력 레귤레이터, 인버터, 컨버터와 같은 전력 소자를 사용하는 전력용 전자 산업이 발전함에 따라, 우수한 성능을 가지면서도 경량 및 소형화가 가능한 전력용 제품에 대한 요구가 증대되고 있다.Power devices such as power transistors, insulated-gate bipolar transistors (IGBTs), MOS transistors, silicon-controlled rectifiers (SCRs), power rectifiers, servo drivers, power regulators, inverters and converters As the power electronics industry develops, there is a growing demand for power products that have excellent performance and are lightweight and compact.
이와 같은 추세에 따라, 최근에는 다양한 전력 소자들을 하나의 패키지에 집적시킬 뿐만 아니라, 전력 소자들을 제어하기 위한 제어 소자를 전력 소자와 하나의 패키지로 제조하려는 연구가 활발하게 이루어지고 있다In accordance with this trend, recent studies have been actively conducted not only integrating various power devices into one package but also manufacturing a control device for controlling the power devices into a power device and a single package.
이에 따른 종래의 반도체 패키지는 일반적으로 리드 프레임과, 리드 프레임 상에 실장되는 전력 소자, 제어 소자, 그리고 각 소자들의 외부를 수지 등으로 몰딩하는 몰드부를 포함하여 구성된다. 또한 효과적인 열 방출을 위해 방열 기판이 구비되고 있다. Accordingly, the conventional semiconductor package generally includes a lead frame, a power element mounted on the lead frame, a control element, and a mold portion molding the exterior of each element with a resin or the like. In addition, a heat dissipation substrate is provided for effective heat dissipation.
그런데 이러한 종래의 반도체 패키지는 방열 기판 상에 솔더 페이스트를 도포한 후 리드 프레임을 배치하여 경화시키고, 다시 리드 프레임 위에 솔더 페이스트를 도포한 후 소자들을 배치하여 경화시키는 방법에 의해 제조되고 있다. However, such a conventional semiconductor package is manufactured by applying a solder paste on a heat dissipation substrate and arranging a lead frame to harden it, and then applying a solder paste on the lead frame and arranging elements to harden the lead frame.
이로 인해 제조 공정이 많고 복잡하다는 단점이 있다. 또한, 편평한 리드 프레임 상에 소자들을 배치하므로, 소자들이 처음 배치된 위치에 고정되지 않고 경화 과정 등에서 미세한 움직임이 발생하게 된다. This has the disadvantage that the manufacturing process is many and complicated. In addition, since the elements are disposed on the flat lead frame, the microscopic movement occurs in the curing process and the like without being fixed to the position where the elements are first placed.
이러한 문제로 인해 소자들과 리드 프레임을 전기적으로 연결하는 와이어 본딩 공정의 정밀도가 저하되고 있으며 최종적으로 제품의 불량으로 이어지고 있다.
Due to these problems, the precision of the wire bonding process that electrically connects the devices and the lead frame is deteriorated, leading to product defects.
본 발명은 제조가 용이한 반도체 패키지 및 그 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. An object of the present invention is to provide a semiconductor package which is easy to manufacture and a method of manufacturing the same.
본 발명의 다른 목적은 제조 과정에서 불량을 최소화할 수 있는 반도체 패키지 및 그 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
Another object of the present invention is to provide a semiconductor package and a method of manufacturing the same that can minimize defects in the manufacturing process.
본 발명의 실시예에 따른 반도체 패키지는, 적어도 하나의 전자 소자; 일면에 상기 전자 소자를 수용하는 홈 형태의 수용 공간이 적어도 하나 형성되는 리드 프레임; 및 상기 리드 프레임의 타면에 접합되는 기판;을 포함할 수 있다.A semiconductor package according to an embodiment of the present invention, at least one electronic device; A lead frame having at least one groove-shaped accommodation space accommodating the electronic device on one surface thereof; And a substrate bonded to the other surface of the lead frame.
본 실시예의 반도체 패키지는 상기 전자 소자를 밀봉하는 몰딩부를 더 포함할 수 있다.The semiconductor package of the present exemplary embodiment may further include a molding part that seals the electronic device.
본 실시예에 있어서 상기 리드 프레임은, 상기 수용 공간이 형성되는 내부 프레임; 상기 몰딩부 내에 배치되며 상기 전자 소자와 전기적으로 연결되는 내부 리드 및 상기 내부 리드로부터 상기 몰딩부의 외부로 연장되는 외부 리드;를 포함할 수 있다. In the present embodiment, the lead frame may include an inner frame in which the accommodation space is formed; And an inner lead disposed in the molding part and electrically connected to the electronic element, and an outer lead extending from the inner lead to the outside of the molding part.
본 실시예에 있어서 상기 수용 공간은 내부에 수용되는 상기 전자 소자의 외형에 대응하는 형상으로 형성될 수 있다.In the present embodiment, the accommodation space may be formed in a shape corresponding to the external shape of the electronic device accommodated therein.
본 실시예에 있어서 상기 리드 프레임은, 상기 수용 공간의 바닥면을 관통하는 적어도 하나의 관통 구멍이 형성될 수 있다.In the present exemplary embodiment, at least one through hole penetrating the bottom surface of the accommodation space may be formed.
본 실시예에 있어서 상기 전자 소자, 상기 리드 프레임, 및 상기 기판은 동일한 접착 부재에 의해 상호 접합될 수 있다.In the present embodiment, the electronic device, the lead frame, and the substrate may be bonded to each other by the same adhesive member.
본 실시예에 있어서 상기 접합 부재는, 상기 전자 소자와 상기 리드 프레임 사이 및 상기 리드 프레임과 상기 기판 사이에 개재되며, 상기 관통 구멍 내에 충진될 수 있다. In the present exemplary embodiment, the bonding member may be interposed between the electronic element and the lead frame and between the lead frame and the substrate and filled in the through hole.
또한 본 발명의 실시예에 따른 반도체 패키지 제조 방법은, 기판 상에 접착 부재를 도포하는 단계; 상기 기판 상에 수용 공간을 갖는 리드 프레임을 배치하는 단계; 및 상기 수용 공간 내에 적어도 하나의 전자 소자를 배치하는 단계;를 포함할 수 있다. In addition, the semiconductor package manufacturing method according to an embodiment of the present invention, the step of applying an adhesive member on the substrate; Disposing a lead frame having a receiving space on the substrate; And disposing at least one electronic device in the accommodation space.
본 실시예에 있어서, 상기 리드 프레임은 상기 수용 공간 바닥을 관통하는 적어도 하나의 관통 구멍을 구비하고, 상기 리드 프레임을 배치하는 단계는 상기 관통 구멍을 통해 상기 접착 부재가 상기 수용 공간의 내부로 유입되는 단계를 포함할 수 있다. In the present exemplary embodiment, the lead frame includes at least one through hole penetrating the bottom of the accommodation space, and the arranging of the lead frame may cause the adhesive member to flow into the accommodation space through the through hole. It may comprise the steps.
본 실시예에 있어서 상기 전자 소자를 배치하는 단계는, 상기 접착 부재를 경화시키는 단계를 포함할 수 있다.
In the present embodiment, the disposing of the electronic device may include curing the adhesive member.
본 발명에 따른 반도체 패키지 및 그 제조 방법은 전자 소자들이 내부 프레임에 형성되는 수용 공간 내에 배치된다. 이로 인해 전자 소자들의 움직임은 수용 공간에 의해 제한된다.A semiconductor package and a method of manufacturing the same according to the present invention are disposed in an accommodation space in which electronic devices are formed in an inner frame. As a result, the movement of the electronic elements is limited by the receiving space.
따라서, 솔더 페이스트의 경화 과정에서 솔더의 부피나 형태가 변하더라도 전자 소자들의 위치를 지속적으로 고정시킬 수 있어 불량을 최소화할 수 있다. Therefore, even if the volume or shape of the solder changes during the curing of the solder paste, the position of the electronic devices can be fixed continuously, thereby minimizing defects.
또한 본 발명에 따른 반도체 패키지는 전자 소자에서 발생되는 열이 리드 프레임을 통하지 않고 접착 부재인 솔더를 통해 기판으로 직접 전달된다. 따라서, 열 방출 경로를 최소화할 수 있으므로 열 방출 효과를 높일 수 있다. In addition, in the semiconductor package according to the present invention, heat generated in the electronic device is transferred directly to the substrate through solder, which is an adhesive member, instead of through the lead frame. Therefore, the heat dissipation path can be minimized, so that the heat dissipation effect can be enhanced.
또한 본 발명에 따른 반도체 패키지의 제조 방법은 리드 프레임에 관통 구멍을 형성하여 기판과 리드 프레임을 접합하기 위해 도포한 솔더 페이스트가 리드 프레임의 수용 공간 내에도 유입되도록 구성된다.In addition, the method of manufacturing a semiconductor package according to the present invention is configured such that a solder paste applied to form a through hole in the lead frame to bond the substrate and the lead frame also flows into the accommodating space of the lead frame.
이로 인해 본 발명은 리드 프레임과 기판, 그리고 리드 프레임과 전자 소자들을 접합하기 위해 여러 번 솔더 페이스트를 도포하고 경화하는 종래의 제조 방법을 한 번의 솔더 페이스트 도포 공정과 한 번의 솔더 페이스트 경화 공정으로 단축할 수 있다. 따라서, 제조 공정을 최소화할 수 있으며 솔더의 양도 줄일 수 있으므로 제조 비용도 줄일 수 있다.
As a result, the present invention shortens the conventional manufacturing method of applying and curing the solder paste several times to bond the lead frame and the substrate and the lead frame and the electronic device to one solder paste application process and one solder paste curing process. Can be. Therefore, the manufacturing process can be minimized and the amount of solder can be reduced, thereby reducing the manufacturing cost.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 반도체 패키지를 개략적으로 나타내는 단면도.
도 2는 도 1의 분해 단면도.
도 3은 도 1의 리드 프레임과 기판 및 전자 소자만을 개략적으로 도시한 부분 사시도.
도 4는 도 1의 A 부분을 확대하여 도시한 확대 단면도.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 내부 프레임을 도시한 평면도.
도 6a 내지 도 6d는 본 발명의 실시예에 따른 반도체 패키지의 제조 방법을 설명하기 위한 단면도. 1 is a cross-sectional view schematically showing a semiconductor package according to an embodiment of the present invention.
Fig. 2 is an exploded sectional view of Fig. 1; Fig.
3 is a partial perspective view schematically showing only the lead frame and the substrate and the electronic device of FIG.
4 is an enlarged cross-sectional view illustrating an enlarged portion A of FIG. 1;
5 is a plan view showing an inner frame according to an embodiment of the present invention.
6A to 6D are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a semiconductor package in accordance with an embodiment of the present invention.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 형태들을 설명한다. 그러나, 본 발명의 실시형태는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 실시 형태로 한정되는 것은 아니다. 또한, 본 발명의 실시형태는 당해 기술분야에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다. 더하여 도면에서 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있다.
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. However, the embodiments of the present invention can be modified into various other forms, and the scope of the present invention is not limited to the embodiments described below. Further, the embodiments of the present invention are provided to more fully explain the present invention to those skilled in the art. In addition, the shape and size of elements in the figures may be exaggerated for clarity.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 반도체 패키지를 개략적으로 나타내는 단면도이고, 도 2는 도 1의 분해 단면도로, 몰딩부와 본딩 와이어가 제거된 상태를 도시하고 있다. 또한 도 3은 도 1의 리드 프레임과 기판 및 전자 소자만을 개략적으로 도시한 부분 사시도이고, 도 4는 도 1의 A 부분을 확대하여 도시한 확대 단면도이다.
1 is a cross-sectional view schematically illustrating a semiconductor package according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an exploded cross-sectional view of FIG. 1, in which a molding part and a bonding wire are removed. 3 is a partial perspective view schematically illustrating only the lead frame, the substrate, and the electronic device of FIG. 1, and FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view of an enlarged portion A of FIG. 1.
도 1 내지 도 4를 참조하면, 본 실시예에 따른 반도체 패키지(100)는 전자 소자(10), 리드 프레임(20), 기판(60), 및 몰딩부(80)를 포함하여 구성될 수 있다. 1 to 4, the
전자 소자(10)는 수동 소자와 능동 소자 등과 같은 다양한 소자들을 포함할 수 있다. 특히 본 실시예에 따른 전자 소자(10)는 적어도 하나의 제1 전자 소자(12, 예컨대 전력 소자)와 적어도 하나의 제2 전자 소자(14, 예컨대 제어 소자)를 포함할 수 있다. The
여기서 제1 전자 소자(12)인 전력 소자(12)는 서보 드라이버, 인버터, 전력 레귤레이터 및 컨버터 등과 같은 전력 제어를 위한 전력변환 또는 전력제어를 위한 전력 회로 소자일 수 있다. The
예를 들어, 전력 소자(12)는 전력 모스펫(power MOSFET), 바이폴라 졍션 트랜지스터(bipolar junction transistor, BJT), 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터(insulated-gate bipolar transistor; IGBT), 다이오드(diode) 이거나 이들의 조합을 포함할 수 있다. 즉, 본 실시예에 있어서 전력 소자(12)는 상술한 소자들을 모두 포함하거나 또는 그 일부를 포함할 수 있다.For example, the
또한 도면에는 하나의 전력 소자(12)가 도시되어 있으나, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니며, 다수 개로 구성될 수 있다. 예를 들어 전력 소자들(12)은 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터(IGBT)와 다이오드(diode)로 구성될 수 있다. 또한, 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터(IGBT)와 다이오드(diode)를 한 쌍으로 하여, 여러 쌍을 포함하는 전력 소자 패키지를 구현할 수 있다. 그러나 이는 하나의 예시일 뿐, 본 발명은 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.In addition, although one
전력 소자(12)는 접착 부재(70)를 매개로 후술되는 리드프레임(20)의 일면에 부착될 수 있다. 여기서 접착 부재(70)는 도전성이 이용되나 필요에 따라 비도전성으로 구성될 수도 있다. 이러한 접착 부재(70)는 솔더(solder), 금속 에폭시, 금속 페이스트, 수지계 에폭시(resin-based epoxy) 등의 페이스트를 경화시켜 이용할 수 있다.
The
제어 소자(14)는 본딩 와이어(90)를 통해 전력 소자(12)와 전기적으로 연결되고, 이에 따라 전력 소자(12)의 동작을 제어할 수 있다. 제어 소자(14)는 예를 들어, 마이크로 프로세서(microprocessor)일 수 있으나, 이에 더하여 저항, 인버터, 또는 콘덴서와 같은 수동 소자, 또는 트랜지스터와 같은 능동 소자들이 더 부가될 수 있다.The
한편, 제어 소자(14)는 하나의 전력 소자(12)에 대하여 하나 또는 다수개가 배치될 수 있다. 즉, 제어 소자(14)의 종류 및 개수는 전력 소자(12)의 종류와 개수에 따라서 적절하게 선택될 수 있다.Meanwhile, one or
이러한 본 실시예에 따른 반도체 패키지(100)는 전력 소자(12)와, 전력 소자(12)를 제어하는 제어 소자(14)를 포함하는 모듈일 수 있다. The
또한 본 실시예에 있어서 전력 소자(12)와 제어 소자(14)는 수직하게 적층되는 형태로 배치되지 않고 수평적으로 배치된다. 이에 따라 반도체 패키지(100)는 수직 길이(즉 두께)보다는 수평 길이(즉 폭)이 긴 형상으로 형성된다.
In addition, in the present embodiment, the
리드 프레임(20)은 다수의 리드들과 내부 프레임(22)을 포함하여 구성될 수 있다. The
여기서 각 리드들은 외부 기판(도시되지 않음)와 연결되기 위한 다수개의 외부 리드(20b)와, 전자 소자(10)와 연결되는 다수의 내부 리드(20a)로 구분될 수 있다. 즉, 내부 리드(20a)는 몰딩부(80)의 내부에 위치하는 부분을 의미하며, 외부 리드(20b)는 내부 리드(20a)로부터 연장되어 몰딩부(80)의 외부로 노출되는 부분을 의미할 수 있다.Each lead may be divided into a plurality of
내부 프레임(22)은 전자 소자들(10)이 실장되는 영역으로 정의될 수 있다. 따라서 내부 프레임(22)은 일면에 전자 소자들(10)이 실장된다. 그리고 타면은 후술되는 기판(60)에 접합된다. 이때, 전자 소자들(10)은 본딩 와이어(90)를 통해 내부 리드(20a)와 전기적으로 연결될 수 있다. The
본 실시예에 따른 내부 프레임(22)은 내부에 적어도 하나의 수용 공간(24)이 형성된다. 수용 공간(24)에는 전자 소자(10)들이 각각 수용될 수 있다. 따라서, 수용 공간(24)은 내부 프레임(22) 상에 배치되는 전자 소자(10)들의 개수에 대응하여 형성될 수 있다.In the
또한 본 실시예에 따른 각각의 수용 공간(24)은 내부에 배치되는 전자 소자(10)의 형태에 대응하는 형상으로 형성될 수 있다. 즉, 수용 공간(24)은 대응하는 전자 소자(10)의 외형과 대략 동일한 크기와 동일한 형상의 외형을 갖도록 형성될 수 있다.In addition, each
여기서, 수용 공간(24)의 깊이는 내부 프레임(22)의 두께나 전자 소자(10)의 두께에 따라 선택적으로 구성될 수 있다. 즉, 내부 프레임(22)이 두께보다 전자 소자(10)의 두께가 두꺼운 경우, 수용 공간(24)의 깊이는 전자 소자(10)의 두께보다 얇게 형성될 수 있으며, 반대로 내부 프레임(22)이 전자 소자(10)보다 두꺼운 경우 수용 공간(24)의 깊이는 전자 소자(10)의 두께 이상으로 형성될 수 있다.Here, the depth of the
수용 공간(24)이 전자 소자(10)의 외형과 대략 동일한 크기로 형성됨에 따라, 전자 소자(10)는 타이트(tight)하게 수용 공간(24) 내에 수용되며, 이로 인해 수용 공간(24)에 수용된 전자 소자(10)는 움직임이 제한된다.As the
또한 본 실시예에 따른 수용 공간(24)은 바닥에 적어도 하나의 관통 구멍(26)을 구비할 수 있다. In addition, the
관통 구멍(26)은 내부 프레임(22)을 관통하는 형태로 형성된다. 이에 따라 내부 프레임(22)과 기판(60)을 상호 접합하는 접착 부재(70, 예컨대 솔더)는 관통 구멍(26)을 통해 수용 공간(24)의 내부로 유입될 수 있다. The through
이로 인해, 도 4에 도시된 바와 같이 본 실시예에 따른 접착 부재(70)는 전자 소자(10)와 리드 프레임(20) 사이 및 리드 프레임(20)과 기판(60) 사이에 개재되며, 관통 구멍(26) 내에 충진될 수 있다. 이에 전자 소자(10), 리드 프레임(20), 및 기판(60)은 동일한 접착 부재(70)에 의해 상호 접합될 수 있다. 이에 대해서는 후술되는 제조 방법을 통해 보다 상세히 설명하기로 한다.For this reason, as shown in FIG. 4, the
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 내부 프레임을 도시한 평면도이다. 이를 함께 참조하면, 본 실시예에 따른 내부 프레임의 관통 구멍(26)은 도 5의 (a) 내지 (d) 에 도시된 바와 같이 다양한 형태로 형성될 수 있다. 한편 본 발명은 상기한 도면의 구성으로 한정되지 아니며, 필요에 따라 다양한 형태로의 응용이 가능하다. 5 is a plan view illustrating an inner frame according to an exemplary embodiment of the present invention. Referring to this together, the through
한편, 본 실시예에서는 내부 프레임(22)이 다운셋(down set)으로 형성되는 경우를 예로 들고 있다. 그러나, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니며, 필요에 따라 내부 프레임(22)과 외부 리드(20b)가 동일한 평면 상에 배치되도록 구성하는 것도 가능하다.
In the present embodiment, the
기판(60)은 인쇄회로기판(printed circuit board, PCB), 세라믹 기판, 프리-몰딩(pre-molded) 기판, 또는 DBC(direct bonded copper) 기판이거나, 리드 프레임에 의해 제공되는 도전성 기판일 수 있다. The
특히 본 실시예에 따른 기판(60)은 절연된 금속 기판(insulated metal substrate, IMS)일 수 있다.In particular, the
기판(60)은 리드 프레임(20)에 체결된다. 기판(60)은 일면이 리드 프레임(20)의 타면에 접합되고, 기판(60)의 타면은 후술되는 몰딩부(80)의 외부로 노출된다.The
한편 도시되어 있지 않지만 기판(60)의 일면에는 배선 패턴이 형성될 수 있으나 본 실시예에서는 배선 패턴이 전자 소자들(12) 간에 전기적인 연결을 위해서 이용되지 않으므로 생략하였다. 그러나, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니며, 필요에 따라 전자 소자들(12) 간 또는 전자 소자들(12)과 내부 리드(20a) 간의 전기적인 연결을 위해 배선 패턴을 이용할 수 있다. 이 경우 배선 패턴은 본딩 와이어를 통해 전자 소자들(12)이나 내부 리드(20a)와 전기적으로 연결될 수 있다. Although not shown, a wiring pattern may be formed on one surface of the
본딩 와이어(90)는 금속 재질일 수 있고, 예를 들어 알루미늄(Al), 금(Au), 또는 이들의 합금이 이용될 수 있다. 또한 본딩 와이어(90)를 전자 소자(10)와 배선 패턴에 접합하기 위해, 전자 소자(10)들과 배선 패턴(72)은 통상의 접속 패드와 같은 접속부를 각각 구비할 수 있다.
The
몰딩부(80)는 기판(60)의 타면을 노출시키며 기판(60), 전력 소자(12), 제2 기판(70), 제어 소자(14), 및 제1 및 제2 프레임(26)의 일부(즉 내부 리드)를 봉지한다. The
몰딩부(80)는 전자 소자들(10)과, 전자 소자들(10)에 접합된 리드 프레임(20)의 내부 리드(20a)를 덮으며 밀봉하는 형태로 형성되어 외부 환경으로부터 전자 소자들(10)을 보호한다. 또한 전자 소자들(10)을 외부에서 둘러싸며 전자 소자들(10)을 고정시킴으로써 외부의 충격으로부터 전자 소자들(10)을 안전하게 보호한다.The
몰딩부(80)는 기판(60)의 타면이 외부에 노출되도록 형성된다. 즉, 기판(60)의 전체가 아닌, 일부분을 덮는 형태로 형성될 수 있다. The
몰딩부(80)는 절연성 재료로 형성될 수 있다. 특히 열 전도도가 높은 실리콘 겔(Silicone Gel)이나 열전도성 에폭시(Epoxy), 폴리이미드(ployimide) 등의 재료가 이용될 수 있다.The
한편 도시되어 있지 않으나, 몰딩부(80)의 외부면, 특히 기판(60)의 타면에는 효과적인 열 방출을 위해 히트 싱크(도시되지 않음)가 부착될 수 있다. 히트 싱크는 고온 테이프(high temperature tape)나 고온용 솔더 등에 의해 부착될 수 있으며, 반도체 패키지(100)의 외부로 완전히 노출된다.
On the other hand, although not shown, a heat sink (not shown) may be attached to the outer surface of the
다음으로, 본 발명의 실시예에 따른 반도체 패키지의 제조 방법을 설명하기로 한다. Next, a method of manufacturing a semiconductor package according to an embodiment of the present invention will be described.
도 6a 내지 도 6d는 본 발명의 실시예에 따른 반도체 패키지의 제조 방법을 설명하기 위한 단면도이다. 6A through 6D are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a semiconductor package in accordance with an embodiment of the present invention.
이를 함께 참조하면, 본 실시예에 따른 반도체 패키지의 제조 방법은 먼저 도 6a에 도시된 바와 같이 기판(60)의 일면에 접착 부재(70) 즉 솔더 페이스트를 도포하는 단계가 수행된다. Referring to this together, in the method of manufacturing a semiconductor package according to the present embodiment, first, an
이어서 도 6b에 도시된 바와 같이 기판(60)의 일면에 리드 프레임(20) 즉, 내부 프레임(22)을 배치하는 단계가 수행된다. 이 단계에서 리드 프레임(20)은 일정한 힘에 의해 기판(60) 측으로 가압되며, 이로 인해 기판(60) 상에 도포된 솔더 페이스트는 내부 프레임(22)의 관통 구멍(26)을 통해 내부 프레임(22)의 수용 공간(24) 내로 유입된다. Subsequently, as illustrated in FIG. 6B, the
다음으로 도 6c에 도시된 바와 같이 수용 공간(24)에 전자 소자(10)를 배치하는 단계가 수행된다. 전자 소자(10)가 배치됨에 따라, 수용 공간(24)에 유입된 솔더 페이스트는 전자 소자(10)와 수용 공간(24)의 바닥면 사이에 고르게 퍼지며 전자 소자(10)와 내부 프레임(22) 사이를 메우게 된다. 그리고 전자 소자(10)의 배치가 완료되면, 솔더 페이스트를 경화시키는 단계가 수행될 수 있다. Next, as shown in FIG. 6C, the
다음으로 도 6d에 도시된 바와 같이 본딩 와이어(90)를 이용하여 전자 소자들(10)과 리드 프레임(20)의 내부 리드들(20a)을 서로 전기적으로 연결하는 단계가 수행된다. Next, as illustrated in FIG. 6D, the
이어서 절연성 재료로 전자 소자들(10)과 내부 리드(20a)를 밀봉하며 몰딩부(80)를 형성하는 단계를 수행함으로써 도 1에 도시된 본 실시예에 따른 반도체 패키지(100)를 완성하게 된다.
Subsequently, the
이와 같이 구성되는 본 실시예에 따른 반도체 패키지는 전자 소자들이 내부 프레임에 형성되는 수용 공간 내에 배치된다. 이로 인해 전자 소자들의 움직임(회전하거나 수평 방향을 따라 이동하는 등)은 수용 공간으로 인해 제한된다.The semiconductor package according to the present exemplary embodiment configured as described above is disposed in an accommodation space in which electronic devices are formed in an inner frame. As a result, the movement of the electronic elements (such as rotating or moving in the horizontal direction) is limited due to the receiving space.
따라서, 솔더 페이스트의 경화 과정에서 솔더 페이스트의 부피나 형태가 변하더라도 전자 소자들의 위치를 지속적으로 고정시킬 수 있어 불량을 최소화할 수 있다. Therefore, even if the volume or shape of the solder paste changes during the hardening of the solder paste, the position of the electronic devices can be fixed continuously, thereby minimizing defects.
또한 본 실시예에 따른 반도체 패키지는 전자 소자에서 발생되는 열이 리드 프레임을 통하지 않고 접착 부재(예컨대, 솔더)를 통해 기판으로 직접 전달된다. 따라서, 열 방출 경로를 최소화할 수 있으므로 열 방출 효과를 높일 수 있다. In addition, in the semiconductor package according to the present embodiment, heat generated in the electronic device is directly transmitted to the substrate through the adhesive member (eg, solder) without passing through the lead frame. Therefore, the heat dissipation path can be minimized, so that the heat dissipation effect can be enhanced.
또한 본 실시예에 따른 반도체 패키지의 제조 방법은 리드 프레임에 관통 구멍을 형성하여 기판과 리드 프레임을 접합하기 위해 도포한 솔더 페이스트가 리드 프레임의 수용 공간 내에도 유입되도록 구성된다.In addition, the method for manufacturing a semiconductor package according to the present exemplary embodiment is configured such that a solder paste applied to form a through hole in the lead frame to bond the substrate and the lead frame also flows into the accommodation space of the lead frame.
이로 인해 본 발명은 리드 프레임과 기판, 그리고 리드 프레임과 전자 소자들을 접합하기 위해 여러 번 솔더 페이스트를 도포하고 경화하는 종래의 제조 방법을 한 번의 솔더 페이스트 도포 공정과 한 번의 솔더 페이스트 경화 공정으로 단축한다. 따라서, 제조 공정을 최소화할 수 있으며 솔더의 양도 줄일 수 있으므로 제조 비용도 줄일 수 있다.
As a result, the present invention shortens the conventional manufacturing method of applying and curing the solder paste several times to bond the lead frame and the substrate and the lead frame and the electronic device to one solder paste application process and one solder paste curing process. . Therefore, the manufacturing process can be minimized and the amount of solder can be reduced, thereby reducing the manufacturing cost.
이상에서 설명한 본 실시예들에 따른 반도체 패키지는 다양한 응용이 가능하다. 또한, 전술된 실시예들에서는 전력 반도체 패키지의 경우를 예로 들어 설명하였으나, 본 발명은 이에 한정되지 않으며 적어도 하나의 전자 소자들이 패키징되는 전자 부품이라면 다양하게 적용될 수 있다. The semiconductor package according to the exemplary embodiments described above may have various applications. In addition, in the above-described embodiments, the power semiconductor package has been described as an example, but the present invention is not limited thereto and may be variously applied as long as at least one electronic device is packaged.
또한 이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 수정 및 변형이 가능하다는 것은 당 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에게는 자명할 것이다.
In addition, although the embodiments of the present invention have been described in detail above, the scope of the present invention is not limited thereto, and various modifications and variations can be made without departing from the technical spirit of the present invention described in the claims. It will be apparent to those of ordinary skill in the art.
100: 반도체 패키지
10: 전기 소자
12: 전력 소자 14: 제어 소자
20: 리드 프레임
20a: 내부 리드 20b: 외부 리드
22: 내부 프레임
24: 수용 공간 26: 관통 구멍
60: 기판
70: 접착 부재
80: 몰딩부
90: 본딩 와이어100: semiconductor package
10: electrical components
12: power device 14: control device
20: lead frame
20a:
22: inner frame
24: accommodating space 26: through hole
60: substrate
70: adhesive member
80: molding part
90: Bonding wire
Claims (10)
일면에 상기 전자 소자를 수용하는 홈 형태의 수용 공간이 적어도 하나 형성되는 리드 프레임; 및
상기 리드 프레임의 타면에 접합되는 기판;
을 포함하는 반도체 패키지;
At least one electronic device;
A lead frame having at least one groove-shaped accommodation space accommodating the electronic device on one surface thereof; And
A substrate bonded to the other surface of the lead frame;
A semiconductor package comprising a;
상기 전자 소자를 밀봉하는 몰딩부를 더 포함하는 반도체 패키지.
The method of claim 1,
The semiconductor package further comprises a molding unit for sealing the electronic device.
상기 수용 공간이 형성되는 내부 프레임;
상기 몰딩부 내에 배치되며 상기 전자 소자와 전기적으로 연결되는 내부 리드 및
상기 내부 리드로부터 상기 몰딩부의 외부로 연장되는 외부 리드;
를 포함하는 반도체 패키지.
The method of claim 2, wherein the lead frame,
An inner frame in which the accommodation space is formed;
An internal lead disposed in the molding part and electrically connected to the electronic element;
An outer lead extending from the inner lead to the outside of the molding part;
≪ / RTI >
내부에 수용되는 상기 전자 소자의 외형에 대응하는 형상으로 형성되는 반도체 패키지.
The method of claim 1, wherein the accommodation space
A semiconductor package formed in a shape corresponding to the outer shape of the electronic element accommodated therein.
상기 수용 공간의 바닥면을 관통하는 적어도 하나의 관통 구멍이 형성되는 반도체 패키지.
The method of claim 1, wherein the lead frame,
And at least one through hole penetrating the bottom surface of the accommodation space.
상기 전자 소자, 상기 리드 프레임, 및 상기 기판은 동일한 접착 부재에 의해 상호 접합되는 반도체 패키지.
6. The method of claim 5,
And the electronic device, the lead frame, and the substrate are bonded to each other by the same adhesive member.
상기 전자 소자와 상기 리드 프레임 사이와 상기 리드 프레임과 상기 기판 사이에 개재되며, 상기 관통 구멍 내에 충진되는 반도체 패키지.
The method of claim 6, wherein the joining member,
And a semiconductor package interposed between the electronic device and the lead frame and between the lead frame and the substrate and filled in the through hole.
상기 기판 상에 수용 공간을 갖는 리드 프레임을 배치하는 단계; 및
상기 수용 공간 내에 적어도 하나의 전자 소자를 배치하는 단계;
를 포함하는 반도체 패키지 제조 방법.
Applying an adhesive member on the substrate;
Disposing a lead frame having a receiving space on the substrate; And
Disposing at least one electronic element in the accommodation space;
≪ / RTI >
상기 리드 프레임은 상기 수용 공간 바닥을 관통하는 적어도 하나의 관통 구멍을 구비하고,
상기 리드 프레임을 배치하는 단계는 상기 관통 구멍을 통해 상기 접착 부재가 상기 수용 공간의 내부로 유입되는 단계를 포함하는 반도체 패키지 제조 방법.
9. The method of claim 8,
The lead frame has at least one through hole penetrating the bottom of the accommodation space,
The disposing of the lead frame may include introducing the adhesive member into the accommodation space through the through hole.
상기 접착 부재를 경화시키는 단계를 포함하는 반도체 패키지 제조 방법.The method of claim 9, wherein disposing the electronic device comprises:
And curing the adhesive member.
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CN117712079A (en) * | 2024-02-02 | 2024-03-15 | 合肥中航天成电子科技有限公司 | Be used for SOP encapsulation and package production facility |
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2012
- 2012-10-19 KR KR1020120116570A patent/KR20140050317A/en active Search and Examination
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