KR20130114380A - Method and device for testing touch screen panel - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A method and device for testing touch screen panel is provided to reduce the time deciding the quality of the touch screen panel. CONSTITUTION: The testing module used in the touch screen panel testing system comprises the testing part (11) including the testing module inspecting the touch screen panel, the testing station, and the controller (13) which exchanges the signal and information. The first signal supply part (1111) applies the signal to each inspection coordinate of the touch screen panel. The second signal supply part (1113) applies the signal to each row of the inspection coordinate of the touch screen panel. The testing module (111) comprises the receiver receiving the discharge waveform which is detected after it applies the signal. [Reference numerals] (111) Testing module; (1111,1113) Signal permission part; (1115) Receiving part; (131) Controller; (1331) Input/output device; (1333) Signal generation unit; (1335) Calculator; (1337) Memory; (AA) Calculation part

Description

터치 스크린 패널의 검사방법 및 검사장치{METHOD AND DEVICE FOR TESTING TOUCH SCREEN PANEL}Inspection method and inspection device for touch screen panel {METHOD AND DEVICE FOR TESTING TOUCH SCREEN PANEL}

본원은 터치 스크린 패널의 검사방법 및 검사장치에 관한 것이다.The present application relates to an inspection method and an inspection apparatus of a touch screen panel.

터치 스크린 패널(Touch Screen Panel)은 영상표시장치 등의 화면에 나타난 지시 내용을 사람의 손 또는 물체로 선택하여 사용자의 명령을 입력할 수 있도록 한 입력장치로 최근 다양한 정보처리 장치에 적용되고 있다. 터치 스크린 패널은 조작이 간단하고, 오작동이 적으며, 다른 입력기기 없이 정보 입력이 가능하여 휴대폰, 각종 의료장비, 은행이나 관공서 등 여러 분야에서 널리 사용되고 있다.The touch screen panel is an input device for inputting a user's command by selecting an instruction content displayed on a screen such as an image display device with a human hand or an object, and has recently been applied to various information processing devices. The touch screen panel is simple to operate, has less malfunction, and can be inputted without any other input device. Therefore, the touch screen panel is widely used in various fields such as mobile phones, various medical equipment, banks, and government offices.

터치 스크린 패널은 접촉된 부분을 감지하는 방식에 따라 저항막 방식, 정전용량 방식, 표면 초음파 방식, 적외선 방식 등이 있다.The touch screen panel may include a resistive film type, a capacitive type, a surface ultrasonic type, or an infrared type according to a method of sensing a contact portion.

정전용량 방식은 얇은 전도성 물질이 코팅된 투명기판을 이용한다. 일정량의 전류를 투명기판의 표면에 흐르게 하고, 사용자가 코팅된 투명기판의 표면을 터치하면, 일정량의 전류가 사용자의 체내에 흡수되며 접촉면의 전류량이 변경된 부분을 인식함으로써 터치된 부분을 확인하게 된다. 정전용량 방식의 터치 스크린 패널은 접촉면에서의 접촉위치를 정확하게 판단하기 위해 X축 좌표 및 Y축 좌표를 인식하기 위한 두 종류의 감지전극을 갖는다.The capacitive type uses a transparent substrate coated with a thin conductive material. When a certain amount of current flows on the surface of the transparent substrate and the user touches the surface of the coated transparent substrate, a certain amount of current is absorbed into the user's body and the touched portion is recognized by recognizing a portion where the current amount of the contact surface is changed. . The capacitive touch screen panel has two types of sensing electrodes for recognizing the X-axis coordinates and the Y-axis coordinates to accurately determine the contact position on the contact surface.

대량 생산되는 터치 스크린 패널은 최종적으로 검사 공정을 거치게 된다. 검사 공정은 불량품을 가려내기 위한 과정으로 생산된 모든 제품은 터치감지 기능에 대한 검사를 받게 된다. Mass-produced touch screen panels are finally inspected. The inspection process is a process for screening out defective products. All products produced are inspected for the touch sensing function.

종래의 터치 스크린 패널 검사장치를 살펴보면, 먼저 터치 스크린 패널의 검사 영역에 기준 신호를 인가한 후 이를 다시 인가 받아 변화된 기준 신호를 해석한다. 다음으로 변화된 기준 신호의 해석을 통해 기준 신호가 인가된 검사 영역의 좌표를 해석하고, 미리 저장된 검사 좌표의 허용치와 비교하여 허용치를 벗어난 경우 해당 터치 스크린 패널을 불량으로 판정한다.Referring to a conventional touch screen panel inspection apparatus, a reference signal is first applied to an inspection region of a touch screen panel and then applied again to interpret a changed reference signal. Next, the coordinates of the inspection area to which the reference signal is applied are analyzed through the analysis of the changed reference signal, and the touch screen panel is determined to be defective when the reference value is out of tolerance by comparing with the allowable value of the previously stored inspection coordinates.

이러한 종래의 터치 스크린 패널 검사장치는 터치 스크린 패널 모델이 변경되면 원래 입력된 터치 스크린 패널의 검사 좌표를 바꾸어야 하므로, 터치 스크린 패널의 검사장치 자체의 통신 관련 프로그램의 수정이 필요하다.The conventional touch screen panel inspection apparatus needs to change the inspection coordinates of the originally input touch screen panel when the touch screen panel model is changed, and thus, it is necessary to modify a communication related program of the inspection apparatus itself of the touch screen panel.

또한, 종래의 터치 스크린 패널 검사 장치는 터치 스크린 패널의 양불 판단 시 사용자가 직접 기준을 입력하는 방식으로 자동화가 되어 있지 않다.In addition, the conventional touch screen panel inspection apparatus is not automated by a method in which a user directly inputs a reference when judging whether the touch screen panel is defective.

또한, 종래의 터치 스크린 패널 검사장치는 터치 스크린 패널의 검사 좌표에 대한 양불 판단 기준을 미리 입력하고, 검사 좌표에 기준 신호를 인가하여 검출되는 결과를 분석하여 검사 좌표마다 해당 좌표의 양불 판단 기준을 비교한다. 따라서, 터치 스크린 패널의 양불 여부 판단에 어느 정도의 시간이 소요된다.In addition, the conventional touch screen panel inspection apparatus inputs a payment judgment standard for the inspection coordinates of the touch screen panel in advance, analyzes the result detected by applying a reference signal to the inspection coordinates, and determines whether the determination of the payment of the corresponding coordinates for each inspection coordinate. Compare. Therefore, it takes some time to determine whether the touch screen panel is good or bad.

본원은 전술한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 터치 스크린 패널 모델이 변경되더라도 기존에 사용하던 통신 관련 프로그램을 사용할 수 있는 터치 스크린 패널 검사방법 및 검사장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, and to provide a touch screen panel inspection method and inspection apparatus that can use a communication-related program that has been used even if the touch screen panel model is changed.

또한, 본원은 사용자가 터치 스크린 패널의 양불 판단 시 사용자가 직접 기준을 입력하지 않아도 되는 방식으로 자동화가 되어 있는 터치 스크린 패널 검사방법 및 검사장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.In addition, an object of the present invention is to provide a touch screen panel inspection method and an inspection apparatus that is automated in such a way that the user does not have to directly input a criterion when the user determines whether the touch screen panel is defective.

또한, 본원은 터치 스크린 패널의 양불 여부를 판단하는데 걸리는 시간을 감소시키는 터치 스크린 패널 검사방법 및 검사장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.In addition, an object of the present invention is to provide a touch screen panel inspection method and inspection apparatus for reducing the time taken to determine whether the touch screen panel is unpaid.

상기한 기술적 과제를 달성하기 위한 기술적 수단으로서, 본원의 제1 측면에 따른 터치 스크린 패널의 검사방법은, 터치 스크린 패널에 신호를 인가하여 방전 파형을 검출하고, 상기 방전 파형을 통해 기준값을 산정하여 터치 스크린 패널의 양불 기준을 정하는 단계 및 양불 기준에 따라 터치 스크린 패널의 불량 여부를 판단하는 단계를 포함할 수 있다.As a technical means for achieving the above technical problem, the inspection method of the touch screen panel according to the first aspect of the present application, by applying a signal to the touch screen panel to detect a discharge waveform, and calculates a reference value through the discharge waveform Determining a good or bad reference of the touch screen panel and determining whether the touch screen panel is defective according to the good or bad reference.

한편, 본원의 제2 측면에 따른 터치 스크린 패널 장치는, 터치 스크린 패널의 검사 좌표의 각 열마다 신호를 인가하는 제1신호인가부, 각 행마다 신호를 인가하는 제2신호인가부 및 신호를 인가한 후 검출되는 방전 파형을 수신하는 수신부를 포함하는 검사부와, 전술한 검사부와 신호 및 정보를 주고받는 제어부를 포함할 수 있다.On the other hand, the touch screen panel device according to the second aspect of the present application, the first signal applying unit for applying a signal for each column of the inspection coordinates of the touch screen panel, the second signal applying unit for applying a signal for each row and the signal It may include a test unit including a receiving unit for receiving a discharge waveform detected after the application, and a control unit for transmitting signals and information to the above-described test unit.

전술한 본원의 과제 해결 수단 중 어느 하나에 의하면, 각 터치 스크린 패널에 신호를 인가하여 검출된 방전 파형을 통해 기준값을 산정할 수 있어 사용자가 직접 기준을 입력하지 않아도 되고, 검출된 방전 파형으로 기준값을 산정함과 동시에 기준값을 산정하였던 방전 파형을 그대로 이용하여 터치 스크린 패널의 양불 여부를 판단하므로 터치 스크린 패널의 양불 여부를 판단하는데 걸리는 시간을 감소시킬 수 있다.According to any one of the above-described problem solving means of the present application, it is possible to calculate a reference value through the discharge waveform detected by applying a signal to each touch screen panel, so that the user does not have to directly input the reference, and the reference value is the detected discharge waveform. In addition, since it is determined whether or not the touch screen panel is unsuccessful by using the discharge waveform from which the reference value is calculated, the time required to determine whether the touch screen panel is unsuccessful can be reduced.

또한, 각 터치 스크린 패널에 신호를 인가하여 검출된 방전 파형을 통해 기준값을 개별적으로 산정할 수 있어 터치 스크린 패널의 모델이 변화되더라도 통신 관련 프로그램을 변화시키지 않고 종전에 사용하던 터치 스크린 패널 검사장치를 그대로 사용할 수 있다.In addition, by applying a signal to each touch screen panel, the reference value can be individually calculated through the detected discharge waveform, so that even if the model of the touch screen panel is changed, the previously used touch screen panel inspection device is not changed without changing the communication related program. You can use it as it is.

도 1은 본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널의 검사방법의 순서도이다.
도2는 본원의 일 실시예에 따른 도1의 s10단계를 설명하기 위한 개념도이다.
도 3의 (a) 및 (b)는 본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널 검사장치의 구성도이다.
도 4는 본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널 검사장치의 개략적인 평면도 및 검사부의 개략적인 확대 평면도이다.
도5는 본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널 검사장치의 확장성을 설명하기 위한 구성도이다.1 is a flowchart of a method of inspecting a touch screen panel according to an exemplary embodiment of the present application.
FIG. 2 is a conceptual diagram illustrating step S10 of FIG. 1 according to an exemplary embodiment of the present disclosure.
3 (a) and 3 (b) is a block diagram of a touch screen panel inspection device according to an embodiment of the present application.
4 is a schematic plan view of a touch screen panel inspecting apparatus and a schematic enlarged plan view of an inspecting unit according to an exemplary embodiment of the present disclosure.
5 is a configuration diagram for explaining the expandability of the touch screen panel inspection apparatus according to an embodiment of the present application.

아래에서는 첨부한 도면을 참조하여 본원이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본원의 실시예를 상세히 설명한다. 그러나 본원은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본원을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art can easily carry out the present invention. It should be understood, however, that the present invention may be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein. In the drawings, the same reference numbers are used throughout the specification to refer to the same or like parts.

본원 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "전기적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다. Throughout this specification, when a part is referred to as being "connected" to another part, it is not limited to a case where it is "directly connected" but also includes the case where it is "electrically connected" do.

본원 명세서 전체에서, 어떤 부재가 다른 부재 “상에” 위치하고 있다고 할 때, 이는 어떤 부재가 다른 부재에 접해 있는 경우뿐 아니라 두 부재 사이에 또 다른 부재가 존재하는 경우도 포함한다.Throughout this specification, when a member is " on " another member, it includes not only when the member is in contact with the other member, but also when there is another member between the two members.

본원 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함" 한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. 본원 명세서 전체에서 사용되는 정도의 용어 "약", "실질적으로" 등은 언급된 의미에 고유한 제조 및 물질 허용오차가 제시될 때 그 수치에서 또는 그 수치에 근접한 의미로 사용되고, 본원의 이해를 돕기 위해 정확하거나 절대적인 수치가 언급된 개시 내용을 비양심적인 침해자가 부당하게 이용하는 것을 방지하기 위해 사용된다. 본원 명세서 전체에서 사용되는 정도의 용어 "~(하는) 단계" 또는 "~의 단계"는 "~ 를 위한 단계"를 의미하지 않는다.Throughout this specification, when an element is referred to as "including " an element, it is understood that the element may include other elements as well, without departing from the other elements unless specifically stated otherwise. The terms "about "," substantially ", etc. used to the extent that they are used throughout the specification are intended to be taken to mean the approximation of the manufacturing and material tolerances inherent in the stated sense, Accurate or absolute numbers are used to help prevent unauthorized exploitation by unauthorized intruders of the referenced disclosure. The word " step (or step) "or" step "used to the extent that it is used throughout the specification does not mean" step for.

본원 명세서 전체에서, 마쿠시 형식의 표현에 포함된 “이들의 조합”의 용어는 마쿠시 형식의 표현에 기재된 구성 요소들로 이루어진 군에서 선택되는 하나 이상의 혼합 또는 조합을 의미하는 것으로서, 상기 구성 요소들로 이루어진 군에서 선택되는 하나 이상을 포함하는 것을 의미한다.Throughout this specification, the term " combination thereof " included in the expression of the machine form means one or more combinations or combinations selected from the group consisting of the constituents described in the expression of the machine form, And the like.

본원은 터치 스크린 패널의 검사방법 및 검사장치에 관한 것이다.The present application relates to an inspection method and an inspection apparatus of a touch screen panel.

우선, 본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널(15)의 검사방법(이하 '본 터치 스크린 패널의 검사방법'라 함)에 대해 설명한다.First, an inspection method of the touch screen panel 15 according to an embodiment of the present application (hereinafter referred to as an 'inspection method of the touch screen panel') will be described.

도 1은 본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널(15)의 검사방법의 순서도이다.1 is a flowchart of a method of inspecting a touch screen panel 15 according to an exemplary embodiment of the present application.

본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널(15)의 검사를 위해서는, 먼저 터치 스크린 패널(15)에 신호를 인가하여 방전 파형을 검출하고, 상기 방전 파형을 통해 기준값을 산정하여 상기 터치 스크린 패널(15)의 양불 기준을 정한다(S10). In order to inspect the touch screen panel 15 according to an exemplary embodiment of the present disclosure, first, a signal is applied to the touch screen panel 15 to detect a discharge waveform, and a reference value is calculated using the discharge waveform to determine the touch screen panel ( Set the standard of the payment of 15) (S10).

상기 (S10) 단계는 후술되는 (S11)단계 내지 (S17)단계에 대응될 수 있다.The step (S10) may correspond to steps (S11) to (S17) to be described later.

먼저, 터치 스크린 패널(15)의 모든 검사 좌표 중 어느 한 열의 검사 좌표에 신호를 인가한다(S11).First, a signal is applied to inspection coordinates of any one row of all inspection coordinates of the touch screen panel 15 (S11).

도2를 참조하면, 터치 스크린 패널(15)에 배치된 센서의 불량 여부를 효과적으로 검사하기 위하여 터치 스크린 패널(15)은 다수의 검사영역으로 구획되어 있으며, 구획된 검사 영역들에 대한 좌표가 후술되는 제어부(13)의 메모리(1337)에 검사 좌표로 미리 저장되어 있다. Referring to FIG. 2, the touch screen panel 15 is divided into a plurality of inspection regions in order to effectively inspect whether a sensor disposed on the touch screen panel 15 is defective, and the coordinates of the divided inspection regions will be described later. The memory 1337 of the control unit 13 is stored in advance as inspection coordinates.

즉, 검사 좌표는 터치 스크린 패널(15)의 표시 영역을 구획하여 정의한 검사 영역의 위치에 대응하는 행과 열의 좌표로써 메모리(1337)에 저장된다. 이러한 검사 좌표의 구체적인 값은 터치 스크린 패(15)널의 화면 크기 및 센서 밀도 등에 따라 달라지며, 반복 실험을 통하여 최적의 값이 선택된다.That is, the inspection coordinates are stored in the memory 1335 as coordinates of rows and columns corresponding to the positions of the inspection regions defined by partitioning the display area of the touch screen panel 15. The specific value of the inspection coordinates depends on the screen size and sensor density of the touch screen panel 15, and the optimal value is selected through repeated experiments.

도2에 도시된 바와 같이, 전술한 메모리(1337)에 미리 저장된 검사 좌표 중 어느 한 열의 검사 좌표에 신호를 인가하여 검사 좌표의 한 열을 검사 결과가 검출될 수 있는 상태로 활성화시킨다. 여기서, 신호란 전기적 신호가 될 수 있으나 이에만 한정되는 것은 아니다. As shown in Fig. 2, a signal is applied to the inspection coordinates of any one of the inspection coordinates previously stored in the above-described memory 1335 to activate one row of the inspection coordinates in a state where the inspection result can be detected. Here, the signal may be an electrical signal, but is not limited thereto.

검사 좌표 중 어느 한 열의 검사 좌표에 신호를 인가하는 역할은 후술하는 제어부(13)의 테스터(133)에 포함된 신호발생기(1333)에 의한다. 도2를 참조하면, 예시적으로, 신호발생기(1333)에서 발생된 신호는 디멀티플렉서를 통해 검사 좌표 중 어느 한 열에 인가될 수 있다.The role of applying a signal to the inspection coordinates of any one of the inspection coordinates is by the signal generator 1333 included in the tester 133 of the controller 13 to be described later. Referring to FIG. 2, by way of example, a signal generated by the signal generator 1333 may be applied to any one column of inspection coordinates through a demultiplexer.

다음으로, 터치 스크린 패널(15)의 모든 검사 좌표에 각 행마다 신호를 인가하여 어느 한열의 검사 좌표의 방전 파형을 검출한다(S13). Next, a signal is applied to all inspection coordinates of the touch screen panel 15 for each row to detect a discharge waveform of one column of inspection coordinates (S13).

도2에 도시된 바와 같이, 전술한 메모리(1337)에 미리 저장된 모든 검사 좌표의 각 행마다 신호를 인가하여 검사 좌표의 모든 행을 검사 결과가 검출될 수 있는 상태로 활성화 시킨다. As shown in FIG. 2, a signal is applied to each row of all the inspection coordinates stored in advance in the above-described memory 1335 to activate all the rows of the inspection coordinates in a state where the inspection result can be detected.

여기서, 신호란 전기적 신호가 될 수 있고, 방전 파형은 정전 용량의 크기에 대한 파형임이 바람직하나, 이에만 한정되는 것은 아니다.Here, the signal may be an electrical signal, and the discharge waveform is preferably a waveform for the magnitude of the capacitance, but is not limited thereto.

모든 검사 좌표의 각 행마다 신호를 인가하는 역할 또한 후술하는 제어부(13)의 테스터(133)에 포함된 신호발생기(1333)에 의한다. 도2를 참조하면, 예시적으로, 신호발생기(1333)에서 발생된 신호는 멀티플렉서를 통해 모든 검사 좌표의 각 행마다 인가될 수 있다.The role of applying a signal to each row of all the inspection coordinates is also by the signal generator 1333 included in the tester 133 of the controller 13 to be described later. Referring to FIG. 2, by way of example, a signal generated by the signal generator 1333 may be applied to each row of all inspection coordinates through a multiplexer.

모든 검사 좌표의 각 행마다 신호를 인가하는 경우, (S11) 단계에서 활성화된 검사 좌표의 한 열에 인가된 신호와 만나게 되고, 그 결과 신호에 변화량이 생기면서 방전 파형이 검출된다. 이러한 방전 파형을 토대로 양불 기준을 정하고 방전 파형이 검출된 해당 검사 좌표의 양불 여부를 판단하게 된다. 보다 자세한 내용은 후술하기로 한다.When a signal is applied to each row of all the inspection coordinates, the signal encounters a signal applied to one column of the inspection coordinates activated in step S11, and as a result, a discharge amount is detected while a change amount is generated in the signal. Based on the discharge waveform, a positive reference is set and whether or not the corresponding test coordinates in which the discharge waveform is detected is determined. More details will be described later.

다음으로, (S11) 및 (S13)단계를 터치 스크린 패널(15)의 각 열마다 반복하여 모든 검사 좌표의 방전 파형을 검출한다(S15).Next, steps S11 and S13 are repeated for each column of the touch screen panel 15 to detect the discharge waveform of all the inspection coordinates (S15).

검사 좌표의 한 열에 신호를 인가하여 활성화 시킨 다음, 검사 좌표의 모든 행에 신호를 인가하여 해당 열의 모든 행에 대한 검사 좌표의 방전 파형을 검출한다. 다음으로, 또 다른 한 열을 활성화 시킨 다음, 검사 좌표의 모든 행에 신호를 인가하여 해당 열에 대한 모든 행의 방전 파형을 검출한다. 이 과정을 모든 열에 대해 반복하면 모든 검사 좌표에 대한 방전 파형을 검출할 수 있다.The signal is activated by applying a signal to one column of the inspection coordinates, and then a signal is applied to all rows of the inspection coordinates to detect the discharge waveform of the inspection coordinates for all the rows of the inspection coordinates. Next, after activating another column, a signal is applied to every row of the inspection coordinates to detect the discharge waveform of every row for that column. This process can be repeated for all rows to detect the discharge waveforms for all test coordinates.

다음으로, 검출된 모든 검사 좌표의 방전 파형을 통해 기준값을 산정하여, 터치 스크린 패널(15)의 양불 기준을 결정한다(S17).Next, the reference value is calculated through the discharge waveforms of all the detected inspection coordinates, and the non-payment reference of the touch screen panel 15 is determined (S17).

검출된 방전 파형의 기준값을 산정하는 것은 각 터치 스크린 패널(15)의 상태가 다르기 때문에, 사용자가 임의로 기준값을 입력시켜 모든 터치 스크린 패널(15)에 대해 일괄적으로 하나의 기준에 대하여 양불 여부를 판단하는 것보다, 각각의 터치 스크린 패널(15)마다 기준값을 다르게 하는 것이 터치 스크린 패널(15)의 양불 판단을 더 정확하게 하기 때문이다. Since the state of each touch screen panel 15 is different in calculating the reference value of the detected discharge waveform, the user inputs a reference value arbitrarily, and whether or not it is good or bad for one reference for all the touch screen panels 15 collectively. This is because different reference values for each touch screen panel 15 make more accurate judgment of the touch screen panel 15 than for judgment.

터치 스크린 패널(15)의 양불 기준은 모든 검사 좌표의 방전 파형의 평균에 따라 결정될 수 있다. 양불 기준은 방전 파형의 평균에 따라 결정됨이 바람직하나, 반드시 이에만 한정되는 것은 아니고, 터치 스크린 패널(15)의 양불 여부를 판단할 수 있는 합리적인 기준이라면 방전 파형을 산정하여 양불 기준으로 할 수 있다.The positive reference of the touch screen panel 15 may be determined according to the average of the discharge waveforms of all the inspection coordinates. The positive reference is preferably determined according to the average of the discharge waveform, but is not necessarily limited thereto. If the reference is a reasonable reference for determining whether the touch screen panel 15 is in good or bad condition, the discharge waveform may be calculated as a positive reference. .

검출된 방전 파형의 평균값을 산정하는 방법은 각 검사 좌표마다 검출된 방전 파형을 누적 적분 연산해서 정할 수 있다. 다만 이는 예시에 불과하며, 평균값을 산정하는 방법이 이에만 한정되는 것은 아니다.The method of calculating the average value of the detected discharge waveforms can be determined by cumulative integration calculation of the detected discharge waveforms for each inspection coordinate. However, this is only an example, and the method of calculating the average value is not limited thereto.

양불 기준은 모든 검사 좌표의 방전 파형의 평균으로부터 미리 정해진 범위 이내에 있는 방전 파형 값을 갖는 검사 좌표에 대해 양품 판정을 내릴 수 있다.The positive reference may make a good decision on an inspection coordinate having a discharge waveform value within a predetermined range from the average of the discharge waveforms of all the inspection coordinates.

양불 기준으로부터 미리 정해진 범위는 예시적으로, 터치 스크린 패널(15)의 모든 검사 좌표의 방전 파형의 평균의 표준 편차의 배수, 사용자의 입력 및 양품률 중 어느 하나가 될 수 있다. The predetermined range from the non-payment reference may be any one of, for example, a multiple of the standard deviation of the average of the discharge waveforms of all the inspection coordinates of the touch screen panel 15, the user input, and the yield rate.

또한, 미리 정해진 범위는 필요에 따라 터치 스크린 패널(15)을 검사하는 당일의 상태에 다르게 정해질 수 있다. 예를 들면, 보다 구체적으로 터치 스크린 패널(15)을 검사하는 당일에 터치 스크린 패널 검사장치(10)를 가동시켜보고, 도출되는 결과에 따라 미리 정해진 범위가 달라질 수 있다.In addition, the predetermined range may be determined differently depending on the state of the day of inspecting the touch screen panel 15 as necessary. For example, more specifically, the touch screen panel inspection apparatus 10 is operated on the day of inspecting the touch screen panel 15, and a predetermined range may vary according to the result.

여기서, 기준값을 산정하여 정해지는 양불 기준은 각 터치 스크린 패널(15)마다 다르게 된다. 이는 전술한 바와 같이, 각 터치 스크린 패널(15)의 상태가 제조 공정 등에 따라 달라질 수 있기 때문에 사용자가 양불 판단 기준값을 입력하는 것보다 양불 판단을 정확하게 할 수 있기 때문이다.Here, the non-payment criterion determined by calculating the reference value is different for each touch screen panel 15. This is because, as described above, since the state of each touch screen panel 15 may vary depending on a manufacturing process or the like, the user may make a good judgment more accurately than inputting a good judgment reference value.

또한, 터치 스크린 패널(15)의 모델이 달라지는 경우, 해당 터치 스크린 패널(15)의 검사 좌표마다 기준값을 다시 입력해주어야 하나, 각 터치 스크린 패널(15)의 검사 과정에서 검출되는 방전 파형을 이용하여 기준값을 산정하면 기준값을 다시 입력해주어야 하는 번거로움을 줄일 수 있다.In addition, when the model of the touch screen panel 15 is changed, the reference value must be input again for each inspection coordinate of the corresponding touch screen panel 15, but by using the discharge waveform detected in the inspection process of each touch screen panel 15. Calculating the reference value can reduce the hassle of having to re-enter the reference value.

또한, 기준값이 자동으로 계산되므로 사용자가 직접 입력할 필요가 없이 양불 기준 결정을 자동화 시킬 수 있다.In addition, the reference value is calculated automatically, allowing you to automate the determination of the non-payment criteria without the need for you to enter them manually.

다음으로, (S17) 단계에 의해 정해진 양불 기준에 따라 터치 스크린 패널(15)의 각 검사 좌표별 불량 여부를 판단한다(S30).Next, it is determined whether each inspection coordinate of the touch screen panel 15 is defective according to the non-payment criterion determined in the step S17 (S30).

(S17) 단계에 의해 산정된 양불 기준은 후술되는 제어부(13)의 테스터(133)에 포함된 메모리(1337)에 저장된다. The non-payment criterion calculated by the step S17 is stored in the memory 1335 included in the tester 133 of the controller 13 to be described later.

터치 스크린 패널(15)의 각 검사 좌표별 불량 여부를 판단하는 방법은, 전술한 (S15) 단계에 의해 검출된 방전 파형을 그대로 이용하여 메모리(1337)에 저장된 양불 기준과 비교하는 것이다. 즉, 검출된 방전 파형을 기준값을 산정하는 것에서만 이용하는 것이 아니라, 그 방전 파형을 그대로 이용하여 기준값과 대조하는 과정을 거친다. 이 경우, 기준값을 산정하는 동시에 대조하는 과정을 거치게 되므로, 기준값을 일일이 입력하고 각 검사 좌표마다 방전 파형을 검출해 대조과정을 거치는 기존의 검사방법보다 검사시간이 단축된다.The method of determining whether the touch screen panel 15 is defective for each inspection coordinate is to compare the discharge waveform detected by the above-described step (S15) with the positive reference stored in the memory 1335 as it is. In other words, the detected discharge waveform is used not only for calculating the reference value, but also using the discharge waveform as it is and matching with the reference value. In this case, since the reference value is calculated and simultaneously collated, the inspection time is shorter than the conventional inspection method of inputting the reference value one by one and detecting the discharge waveform for each inspection coordinate.

또한, 전술한 바와 같이 터치 스크린 패널(15)의 모델이 바뀌어도 이러한 검사방법 하에서는 바뀐 터치 스크린 패널(15)의 기준값을 다시 자동으로 산정하면 되므로, 통신 관련 프로그램 등을 바꿀 필요가 없다.In addition, even if the model of the touch screen panel 15 is changed as described above, the reference value of the changed touch screen panel 15 is automatically calculated again under this inspection method, so that there is no need to change a communication related program or the like.

한편, 본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널 검사장치(이하 '본 터치 스크린 패널 검사장치'라 함)(10)에 대해 설명한다. 다만, 앞서 살핀 본원의 일 실시예에 따른 터치 스크린 패널(15)의 검사방법에서 설명한 구성과 동일 또는 유사한 구성에 대해서는 동일한 도면부호를 사용하고, 중복되는 설명은 간략히 하거나 생략하기로 한다.On the other hand, the touch screen panel inspection device (hereinafter referred to as the present touch screen panel inspection device) 10 according to an embodiment of the present application will be described. However, the same reference numerals are used for the same or similar components as those described in the method for inspecting the touch screen panel 15 according to an embodiment of the present invention, and the overlapping description will be briefly or omitted.

본 터치 스크린 패널 검사장치(10)는 검사부(11)를 포함한다.The touch screen panel inspection apparatus 10 includes an inspection unit 11.

검사부(11)는 터치 스크린 패널을 검사하여 제어부(13)와 신호 및 정보를 주고받는 검사모듈(111)을 포함할 수 있다.The inspection unit 11 may include an inspection module 111 that inspects the touch screen panel to exchange signals and information with the control unit 13.

검사모듈(111)은 좀더 상세하게는 제어부(13)에 포함된 컨트롤러(131)와 신호 및 정보를 주고 받는다. 상기 신호는 전기 신호이고 정보는 원하는 검사 영역의 검사 좌표에 대한 정보임이 바람직하나, 이에만 한정되는 것은 아니다. 컨트롤러(131)가 검사모듈(111)에 원하는 터치 스크린 패널(15)의 검사 좌표에 대한 정보를 제공하고 신호를 인가하면, 검사모듈(111)은 정보를 받아 해당 검사 좌표에 신호를 인가한다. In more detail, the inspection module 111 exchanges signals and information with the controller 131 included in the control unit 13. Preferably, the signal is an electrical signal and the information is information about inspection coordinates of a desired inspection region, but is not limited thereto. When the controller 131 provides the test module 111 with information about the test coordinates of the desired touch screen panel 15 and applies a signal, the test module 111 receives the information and applies a signal to the test coordinates.

도4를 참조하면, 검사모듈(111)은 후술되는 검사용 핀(113)을 이동시키는 이동장치(115)의 상단에 위치할 수 있으나, 이에만 한정되는 것은 아니다. 검사모듈(111)이 컨트롤러(131)로부터 신호 및 정보를 받아 검사용 핀(113)에 신호 및 정보를 전달할 수 있는 곳에 위치하면 된다.Referring to Figure 4, the inspection module 111 may be located on the upper end of the moving device 115 for moving the inspection pin 113 to be described later, but is not limited thereto. The inspection module 111 may be located where it can receive signals and information from the controller 131 and transmit the signals and information to the inspection pin 113.

검사모듈(111)은 터치 스크린 패널(15)의 검사 좌표의 각 열마다 신호를 인가하는 제1신호인가부(1111)를 포함할 수 있다.The inspection module 111 may include a first signal applying unit 1111 for applying a signal to each column of inspection coordinates of the touch screen panel 15.

도2를 참조하면, 제1신호인가부(1111)는 컨트롤러(131)로부터 받은 검사 좌표에 대한 정보 및 신호 중 검사 좌표의 각 열에 대한 신호 및 정보를 검사용 핀(113)에 전달 및 인가하는 역할을 한다. Referring to FIG. 2, the first signal applying unit 1111 transmits and applies the information about the test coordinates received from the controller 131 and the signal and the information about each column of the test coordinates among the signals to the test pin 113. Play a role.

예시적으로, 제1신호인가부(1111)는 전기적 신호를 전달 및 인가하기 위하여 전도성 재질로 이루어짐이 바람직하나, 이에만 한정되는 것은 아니다. For example, the first signal applying unit 1111 is preferably made of a conductive material to transmit and apply an electrical signal, but is not limited thereto.

검사모듈(111)은 터치 스크린 패널(15)의 검사 좌표의 각 행마다 신호를 인가하는 제2신호인가부(1113)을 포함할 수 있다.The inspection module 111 may include a second signal applying unit 1113 to apply a signal to each row of inspection coordinates of the touch screen panel 15.

도2를 참조하면, 제2신호인가부(1113)은 컨트롤러(131)로부터 받은 검사 좌표에 대한 정보 및 신호 중 검사 좌표의 각 행에 대한 신호 및 정보를 검사용 핀(113)에 전달 및 인가하는 역할을 한다.Referring to FIG. 2, the second signal applying unit 1113 transmits and applies the information about the inspection coordinates received from the controller 131 and the signal and the information about each row of the inspection coordinates among the signals to the inspection pin 113. It plays a role.

예시적으로, 제2신호인가부(1113)는 전기적 신호를 전달 및 인가하기 위하여 전도성 재질로 이루어짐이 바람직하나, 이에만 한정되는 것은 아니다.For example, the second signal applying unit 1113 is preferably made of a conductive material to transmit and apply an electrical signal, but is not limited thereto.

검사모듈(111)은 신호를 인가한 후 검출되는 방전 파형을 수신하는 수신부(1115)를 포함할 수 있다.The inspection module 111 may include a receiver 1115 that receives a discharge waveform detected after applying a signal.

도3을 참조하면, 수신부(1115)는 검사용 핀(113)에 의해 각 검사 좌표마다 신호를 인가하여 검사 좌표의 행과 열에 인가된 신호가 만나 신호의 변화량이 방출되어 생기는 방전 파형을 수신한다. 또한, 수신부(1115)는 수신된 방전 파형을 다시 컨트롤러(131)로 전달하는 역할을 한다. 수신부(1115)는 방전 파형을 수신하고 컨트롤러(131)로 전달하는 역할과 더불어 후술하는 역할을 더 수행할 수 있다.Referring to FIG. 3, the receiver 1115 receives a discharge waveform by applying a signal to each inspection coordinate by the inspection pin 113 so that a signal applied to a row and a column of inspection coordinates meet to emit a change amount of the signal. . In addition, the receiver 1115 serves to transfer the received discharge waveform back to the controller 131. The receiver 1115 may further perform a role described later along with a role of receiving and transmitting a discharge waveform to the controller 131.

한편, 도 3의 (b)를 참조하면, 수신부(1115)는 수신부(1115)가 수신한 방전 파형을 통해 터치 스크린 패널(15)의 양불 기준을 결정하는 연산부를 포함할 수 있다. 다시 말해, 수신부(1115)는 연산부를 통해 수신부(1115) 자체에서 양불 기준을 산정할 수 있다. 예시적으로, 연산부는 방전 파형의 평균을 산정하여 이를 양불 기준으로 정할 수 있다. 또한, 연산부는 방전 파형을 산정하여 터치 스크린 패널(15)의 양불 기준을 정하고, 수신부(1115)는 이를 컨트롤러(131)로 전달하여 후술하는 테스터(133)의 메모리(1337)에 저장하게 할 수 있다. Meanwhile, referring to FIG. 3B, the receiver 1115 may include a calculator that determines a non-payment criterion of the touch screen panel 15 through the discharge waveform received by the receiver 1115. In other words, the receiver 1115 may calculate the non-payment criterion in the receiver 1115 itself through the calculator. For example, the calculator may calculate an average of the discharge waveform and determine the average of the discharge waveform. In addition, the calculation unit calculates the discharge waveform and determines the positive reference of the touch screen panel 15, and the receiving unit 1115 transfers it to the controller 131 to store it in the memory 1335 of the tester 133 described later. have.

한편, 수신부(1115)는 수신한 방전 파형을 통해 산정한 양불 기준을 컨트롤러(131)에 전달하여 테스터(133)의 메모리(1337)에 저장하는 대신 자체적으로 저장할 수 있다. 예시적으로, 연산부에 양불 기준이 저장될 수 있다. 도면에서는 도시되지 않았으나, 연산부는 양불 기준의 저장을 위한 저장영역, 이를테면 메모리를 포함할 수 있다.On the other hand, the receiver 1115 may transfer the positive reference calculated through the received discharge waveform to the controller 131 and store it in the memory 1335 of the tester 133 instead of itself. In exemplary embodiments, the payment criteria may be stored in the operation unit. Although not shown in the drawing, the operation unit may include a storage area for storing a good reference, such as a memory.

또한, 수신부(1115)는 방전 파형 값을 갖는 검사좌표에 대해 양품 판정을 내릴 수 있다. 예시적으로, 수신부(1115)는 수신한 방전 파형을 컨트롤러(131)에 전달하여 테스터(133)에서 양불 기준을 정하여 저장하게 하는 대신, 자체적으로 양불 기준을 산정하고 자체적으로 양품 판정을 내리도록 구현될 수 있다.In addition, the receiving unit 1115 may make a good decision on an inspection coordinate having a discharge waveform value. For example, the receiver 1115 transmits the received discharge waveform to the controller 131 so that the tester 133 determines and stores a good reference. Instead, the receiver 1115 calculates a good reference and makes a good decision. Can be.

예시적으로 도3의 (b)를 참조하면, 수신부(1115)의 연산부는 메모리 등에 저장된 양불 기준을 토대로, 양불 기준을 정하는데 사용된 방전 파형을 그대로 이용하여 양품 판정까지 내리는 기능을 수행할 수 있다.For example, referring to FIG. 3B, the calculating unit of the receiving unit 1115 may perform a function of determining a good product by using the discharge waveform used to determine the good reference based on the good reference stored in the memory. have.

이때, 수신부(1115)는 양불 기준으로부터 미리 정해진 범위 이내에 있는 방전 파형 값을 갖는 검사 좌표에 대해 양품 판정을 내릴 수 있다. 즉, 연산부는 방전 파형이 양불 기준으로부터 미리 정해진 범위에 있으면 해당 방전 파형이 검출된 검사 좌표는 양질로, 그 방전 파형이 양불 기준으로부터 미리 정해진 범위 밖에 있으면 불량으로 판단할 수 있다.In this case, the receiving unit 1115 may make a good product judgment about the inspection coordinates having the discharge waveform value within a predetermined range from the good reference. That is, the calculation unit may determine that the test coordinates in which the corresponding discharge waveform is detected is of good quality when the discharge waveform is in a predetermined range from the positive reference, and is bad when the discharge waveform is outside of the predetermined range from the positive reference.

그 다음, 판단된 결과를 테스터(133)에 전달하여 후술하는 입출력기(1331)를 통해 출력하여 사용자가 볼 수 있도록 한다.Then, the determined result is transmitted to the tester 133 and output through the input / output device 1331 to be described later so that the user can see it.

수신부(1115)에서 양불 기준으로부터 미리 정해진 범위는 예시적으로, 터치 스크린 패널(15)의 모든 검사 좌표의 방전 파형의 평균의 표준 편차의 배수, 사용자의 입력 및 양품률 중 어느 하나가 될 수 있다. The predetermined range from the non-payment reference in the receiver 1115 may be, for example, any one of a multiple of the standard deviation of the average of the discharge waveforms of all the inspection coordinates of the touch screen panel 15, a user input, and a yield rate. .

다만, 미리 정해진 범위는 필요에 따라 터치 스크린 패널(15)을 검사하는 당일의 상태에 다르게 정해질 수 있다. 보다 구체적으로 예를 들면 터치 스크린 패널(15)을 검사하는 당일에 터치 스크린 패널 검사장치(10)를 가동시켜보고, 도출되는 결과에 따라 미리 정해진 범위를 정할 수 있다.However, the predetermined range may be differently determined depending on the state of the day of inspecting the touch screen panel 15 as needed. More specifically, for example, the touch screen panel inspection apparatus 10 may be operated on the day of inspecting the touch screen panel 15, and a predetermined range may be determined according to the result.

또한, 수신부(1115)는 제1신호인가부(1111)가 터치 스크린 패널(15)의 모든 검사 좌표 중 어느 한 열의 검사 좌표에 신호를 인가한 상태에서 제2신호인가부(1113)가 터치 스크린 패널(15)의 모든 검사 좌표에 각 행마다 신호를 인가함으로써 검출되는 어느 한 열의 검사 좌표의 방전 파형을 수신할 수 있다.In addition, the receiving unit 1115 may be configured by the second signal applying unit 1113 on the touch screen while the first signal applying unit 1111 applies a signal to inspection coordinates of any one of all inspection coordinates of the touch screen panel 15. By applying a signal to each inspection coordinate of the panel 15 for each row, it is possible to receive a discharge waveform of inspection coordinates of any one column detected.

먼저, 제1신호인가부(1111)가 검사 좌표의 한 열에 대한 정보를 컨트롤러(131)로부터 받아, 해당 열에 대한 신호를 검사용 핀(113)에 인가하여 검사 좌표의 한 열을 활성화 시킨다. 그 다음, 제2신호인가부(1113)가 검사 좌표의 모든 행에 대한 정보를 컨트롤러(131)로부터 받아, 모든 행에 대한 신호를 검사용 핀(113)에 인가하여 검사 좌표의 모든 행을 활성화 시킨다.First, the first signal applying unit 1111 receives information on one column of inspection coordinates from the controller 131, and applies a signal for the corresponding column to the inspection pin 113 to activate one column of inspection coordinates. Next, the second signal applying unit 1113 receives information on all rows of the inspection coordinates from the controller 131, and applies signals for all the rows to the inspection pin 113 to activate all the rows of the inspection coordinates. Let's do it.

한 열에 인가된 신호와 모든 행에 인가된 신호가 만나 신호의 변화량이 방전 파형의 형태로 검출되고, 이 과정을 모든 열에 대하여 반복함으로써 모든 검사 좌표에 대한 방전 파형이 검출되어 수신부(1115)가 이를 수신할 수 있게 된다.When the signal applied to one column and the signal applied to all the rows meet, the amount of change in the signal is detected in the form of a discharge waveform. By repeating this process for all columns, the discharge waveform for all the inspection coordinates is detected and the receiver 1115 detects this. Can be received.

이렇게 수신된 방전 파형을 전술한 수신부(1115)의 역할에 따라 수신부(1115)자체 내에서 평균값을 산정하여 양불 기준을 정할 수 있고, 양불 기준을 저장할 수도 있으며, 저장된 양불 기준을 토대로 터치 스크린 패널(15)의 양불 여부를 판단할 수도 있다.According to the role of the receiver 1115 described above, the received discharge waveform may calculate the average value in the receiver 1115 itself, and determine the quantum quantity, store the quantum quantity standard, or store the touch screen panel based on the stored quantum quantity standard. It is also possible to determine whether or not the payment of 15).

검사부(11)는 터치 스크린 패널(15)의 검사 좌표에 접촉되는 검사용 핀(113)을 포함할 수 있다.The inspection unit 11 may include an inspection pin 113 that contacts the inspection coordinates of the touch screen panel 15.

검사용 핀(113)은 제1신호인가부(1111) 및 제2신호인가부(1113)로부터 신호를 전달받아 검사 좌표에 인가할 수 있다. 즉, 검사모듈(111)이 검사를 원하는 검사 좌표에 대한 정보를 분석하면, 제1신호인가부(1111) 및 제2신호인가부(1113) 중 해당 검사 좌표에 해당 되는 부분에 신호가 인가되고, 검사용 핀(113)이 후술하는 이동장치(115)에 의해 해당 검사 좌표의 위치로 이동되어 제1신호인가부(1111) 및 제2신호인가부(1113)로부터 받은 신호를 터치 스크린 패널(15)에 직접 접촉하여 신호를 인가한다. The test pin 113 may receive a signal from the first signal applying unit 1111 and the second signal applying unit 1113 and apply the signal to the inspection coordinates. That is, when the inspection module 111 analyzes the information about the inspection coordinates to be inspected, a signal is applied to a portion corresponding to the inspection coordinates of the first signal applying unit 1111 and the second signal applying unit 1113. In addition, the inspection pin 113 is moved to the position of the inspection coordinates by the moving device 115 which will be described later, and receives the signals received from the first signal applying unit 1111 and the second signal applying unit 1113 to the touch screen panel ( 15) apply a signal by direct contact.

검사용 핀(113)은 전기적 신호를 터치 스크린 패널(15)의 해당 검사 좌표에 전달하기 위해 전도성 재질로 이루어짐이 바람직하나, 반드시 이에만 한정되는 것은 아니다.Inspection pin 113 is preferably made of a conductive material in order to transfer the electrical signal to the corresponding inspection coordinates of the touch screen panel 15, but is not necessarily limited thereto.

또한, 도4를 참조하면, 검사용 핀(113)이 터치 스크린 패널(15)에 접촉할 때 터치 스크린 패널(15)의 손상을 막기 위해 끝이 뭉뚝한 형상을 가짐이 바람직하나, 반드시 이에만 한정되는 것은 아니다.In addition, referring to Figure 4, when the inspection pin 113 is in contact with the touch screen panel 15, it is preferable to have a blunt shape to prevent damage to the touch screen panel 15, but only this It is not limited.

검사부(11)는 터치 스크린 패널(15)의 검사 좌표에 접촉시키기 위해 검사용 핀(113)을 이동시키는 이동장치(115)를 포함할 수 있다.The inspection unit 11 may include a moving device 115 for moving the inspection pin 113 to contact the inspection coordinates of the touch screen panel 15.

도4에 도시된 바와 같이, 이동장치(115)는 검사모듈(111)이 분석한 결과에 해당하는 검사 좌표에 신호를 정확하게 인가하기 위해 검사용 핀(113)과 연결되어 검사용 핀(113)을 상하좌우로 이동시킬 수 있다. As shown in FIG. 4, the mobile device 115 is connected to the test pin 113 to accurately apply a signal to the test coordinates corresponding to the analysis result of the test module 111, and thus the test pin 113. You can move up, down, left, and right.

검사부(11)는 터치 스크린 패널(15)의 점등 검사를 수행할 수 있는 점등 검사부(117)를 포함할 수 있다.The inspection unit 11 may include a lighting inspection unit 117 capable of performing a lighting inspection of the touch screen panel 15.

전술한 검사부(11)의 역할은 터치 스크린 패널(15)의 정전용량 등에 대한 양불 여부 검사를 수행할 수 있는 것이다. 이와 더불어 터치 스크린 패널(15)의 점등을 검사할 수 있도록 점등 검사부(117)를 더 포함할 수 있다. 종래의 터치 스크린 패널 검사장치에는 터치 스크린 패널(15)의 정전용량 검사를 한 후, 별도로 터치 스크핀 패널 점등 검사를 수행하였으나, 본원에서는 점등 검사부(117)를 검사부(11)에 포함시켜 하나의 장치에서 점등 검사와 정전용량 검사를 같이 할 수 있다.The role of the inspection unit 11 described above is to perform a non-payment inspection on the capacitance of the touch screen panel 15. In addition, the lighting inspection unit 117 may be further included to inspect the lighting of the touch screen panel 15. In the conventional touch screen panel inspection apparatus, the capacitive inspection of the touch screen panel 15 is performed, and then the touch screen panel lighting inspection is separately performed. However, in the present application, the lighting inspection unit 117 is included in the inspection unit 11 so as to provide a single touch screen panel. The device can perform both a lighting test and a capacitance test.

예시적으로, 점등 검사부(117)는 검사용 핀(113)에 점등 검사용 핀을 더 포함시켜 제어부(13)에 의해 전달받은 해당 터치 스크린 패널(15)의 검사 좌표에 대해 정전용량을 검사한 다음, 이동 장치(115)에 의해 점등 검사용 핀이 해당 검사 좌표에 위치하여 점등 검사를 수행할 수 있다.For example, the lighting inspection unit 117 further includes a lighting inspection pin in the inspection pin 113 to inspect the capacitance with respect to the inspection coordinates of the corresponding touch screen panel 15 received by the controller 13. Next, the lighting test pin may be positioned at the corresponding test coordinates by the mobile device 115 to perform the lighting test.

검사부(11)는 터치 스크린 패널(15)의 정전용량 검사 및 점등 검사 중 어느 하나를 수행하도록 스위칭시켜주는 스위치를 포함할 수 있다.The inspection unit 11 may include a switch for switching to perform one of the capacitance inspection and the lighting inspection of the touch screen panel 15.

검사를 원하는 터치 스크린 패널(15)의 검사 좌표에 대해 정전용량 검사 및 점등 검사 중 어느 하나를 수행한 후, 다른 하나를 수행하기 위해 정전용량 검사용 핀에서 점등 검사용 핀으로 이동장치를 이동시키거나, 다른 전기적 신호를 인가하는 등의 방식으로 스위칭시켜주는 스위치를 더 포함할 수 있다.After performing either of the capacitance test and the lighting test on the inspection coordinates of the touch screen panel 15 to be inspected, the moving device is moved from the capacitive test pin to the lighting test pin to perform the other one. Or a switch for switching in such a manner as to apply another electrical signal.

본 터치 스크린 패널 검사장치(10)는 제어부(13)를 포함한다.The touch screen panel inspecting apparatus 10 includes a controller 13.

제어부(13)는 검사부(11)와 신호 및 정보를 주고받는다.The control unit 13 exchanges signals and information with the inspection unit 11.

도3을 참조하면, 제어부(13)는 터치 스크린 패널(15)의 원하는 검사영역에 인가될 신호를 발생시켜 검사부(11)로 전달하고, 다시 검사부(11)로부터 검출된 방전 파형을 전달받아 기준값을 산정하여 양불 기준을 정하여 저장할 수 있다. 그 다음, 검출된 방전 파형을 양불 기준과 비교하여 터치 스크린 패널(15)의 양불 여부를 출력하여 사용자가 볼 수 있도록 할 수 있다.Referring to FIG. 3, the control unit 13 generates a signal to be applied to a desired inspection area of the touch screen panel 15, transmits the signal to the inspection unit 11, and receives a discharge waveform detected from the inspection unit 11 to receive a reference value. It is possible to calculate and save the standard of payment. Thereafter, the detected discharge waveform may be compared with the non-payment reference to output whether the touch screen panel 15 is non-payable and may be viewed by the user.

제어부(13)는 검사부(11)에 신호를 전달하고 이에 따라 검사부(11)에서 검출되는 방전 파형을 전달받는 컨트롤러(131)를 포함할 수 있다.The controller 13 may include a controller 131 that transmits a signal to the inspector 11 and receives a discharge waveform detected by the inspector 11.

컨트롤러(131)는 검사부에 신호를 전달하는 인쇄회로기판을 포함할 수 있다.The controller 131 may include a printed circuit board that transmits a signal to the inspection unit.

도3을 참조하면, 컨트롤러(131)는 후술되는 테스터(133)로부터 터치 스크린 패널(15)의 검사 좌표에 인가될 신호 및 신호가 인가될 검사 좌표의 정보를 받아 검사부(11)에 전달한다. 또한, 컨트롤러(131)는 검사부(11)로부터 검출되는 방전 파형을 받아 테스터(133)에 전달한다.Referring to FIG. 3, the controller 131 receives a signal to be applied to the inspection coordinates of the touch screen panel 15 and the inspection coordinates to which the signal is applied from the tester 133, which will be described later, and transmits the information to the inspection unit 11. In addition, the controller 131 receives the discharge waveform detected by the inspection unit 11 and transmits the discharge waveform to the tester 133.

상기 신호는 전기적 신호임이 바람직하며, 전기적 신호를 전달할 수 있도록 컨트롤러(131)는 인쇄회로기판을 포함할 수 있다. 하지만 이에만 한정되는 것은 아니다.The signal is preferably an electrical signal, and the controller 131 may include a printed circuit board to transmit the electrical signal. But it is not limited to this.

터치 스크린 패널 검사장치(10)에는 컨트롤러(131)가 하나 이상 포함될 수 있다.The touch screen panel inspector 10 may include one or more controllers 131.

도3에서 도시된 바와 같이, 컨트롤러(131)는 후술하는 테스터(133)와 연결된다. 이 때, 도5에 도시된 바와 같이, 하나의 테스터(133)에 대하여 하나 이상의 컨트롤러(131)가 연결될 수 있다. 예시적으로 허브를 이용하여 하나 이상의 컨트롤러(131)를 테스터(133)와 연결할 수 있으나, 이에만 한정되는 것은 아니다.As shown in FIG. 3, the controller 131 is connected to a tester 133 which will be described later. In this case, as shown in FIG. 5, one or more controllers 131 may be connected to one tester 133. For example, one or more controllers 131 may be connected to the tester 133 by using a hub, but the present invention is not limited thereto.

예시적으로, 하나의 컨트롤러(131)에 8개의 검사부(11)가 연결될 수 있다고 하면, 두 개의 컨트롤러(131)를 테스터(133)에 연결하는 경우에는 하나의 컨트롤러(131)당 4개의 검사부(11)를 연결할 수 있다. 이 때, 하나의 컨트롤러(131)는 4개의 검사부(11)에만 신호 및 정보를 주고 받으면 되므로, 하나의 컨트롤러(131)에 8개의 검사부(11)가 연결되는 경우보다 신호 및 정보를 주고 받는데 걸리는 시간이 단축될 수 있다. For example, if eight inspection units 11 may be connected to one controller 131, when two controllers 131 are connected to the tester 133, four inspection units per controller 131 ( 11) can be connected. At this time, since one controller 131 only needs to send and receive signals and information to four inspection units 11, it takes more than one case when eight inspection units 11 are connected to one controller 131. The time can be shortened.

즉, 컨트롤러(131)를 허브 등의 장치와 연결하여 터치 스크린 패널(15)을 검사하는 경우, 터치 스크린 패널(15)의 검사시간이 단축될 수 있다. That is, when the controller 131 is connected to a device such as a hub to inspect the touch screen panel 15, the inspection time of the touch screen panel 15 may be shortened.

또한, 하나 이상의 컨트롤러(131)가 포함되는 경우, 한꺼번에 많은 신호 및 정보를 전달할 수 있으므로 확장성이 좋아진다.In addition, when one or more controllers 131 are included, scalability is improved because many signals and information can be transmitted at one time.

하나의 컨트롤러(131)는 하나 이상의 검사부(11)와 연결되어 검사부(11)와 신호 및 정보를 주고받을 수 있다.One controller 131 may be connected to one or more inspection units 11 to exchange signals and information with the inspection unit 11.

도4에 도시된 바와 같이, 하나의 컨트롤러(131)가 하나 이상의 검사부(11)와 연결되는 경우 복수 개의 터치 스크린 패널(15)을 동시에 검사할 수 있다. As illustrated in FIG. 4, when one controller 131 is connected to one or more inspection units 11, the plurality of touch screen panels 15 may be inspected at the same time.

또한, 도5를 참조하면, 복수 개의 컨트롤러(131)를 연결하고, 하나의 컨트롤러(131)당 복수 개의 검사부(11)를 연결하는 경우, 터치 스크린 패널(15)을 동시에 검사할 수 있고, 터치 스크린 패널(15)의 검사시간도 단축시킬 수 있다.In addition, referring to FIG. 5, when the plurality of controllers 131 are connected and the plurality of inspection units 11 are connected to one controller 131, the touch screen panel 15 may be inspected at the same time. The inspection time of the screen panel 15 can also be shortened.

제어부(13)는 컨트롤러(131)에 전달되는 신호를 발생시키고, 발생된 신호를 컨트롤러(131)에 전달하며, 컨트롤러(131)로부터 방전 파형을 전달받아 기준값을 산정하여 양불 기준으로 저장하고, 방전 파형을 저장된 양불 기준과 비교하여 터치 스크린 패널(15)의 양불을 판단하여 결과를 출력하는 테스터(133)를 포함할 수 있다.The control unit 13 generates a signal transmitted to the controller 131, transmits the generated signal to the controller 131, receives a discharge waveform from the controller 131, calculates a reference value, and stores the reference value as a reference to a quantum quantity, and discharges. The tester 133 may include a tester 133 that compares a waveform with a stored good reference to determine the good of the touch screen panel 15 and outputs a result.

예시적으로, 도3을 참조하면, 테스터(133)는 입출력기(1331), 신호발생기(1333), 연산기(1335) 및 메모리(1337)를 포함할 수 있다.For example, referring to FIG. 3, the tester 133 may include an input / output unit 1331, a signal generator 1333, an operator 1335, and a memory 1335.

도3에 도시된 바와 같이, 테스터(133)는 컨트롤러(131)에 전달되는 신호를 발생시키는 신호발생기(1333)를 포함할 수 있다. As shown in FIG. 3, the tester 133 may include a signal generator 1333 for generating a signal transmitted to the controller 131.

도3에 도시된 바와 같이, 신호발생기(1333)는 최종적으로 터치 스크린 패널(15)의 검사 좌표에 도달되는 신호를 발생시킨다. 신호발생기(1333)는 전기적 신호를 발생시킴이 바람직하나, 이에만 한정되는 것은 아니다. As shown in FIG. 3, the signal generator 1333 generates a signal that finally reaches the inspection coordinates of the touch screen panel 15. The signal generator 1333 preferably generates an electrical signal, but is not limited thereto.

신호발생기(1333)는 입출력기(1331)로부터 명령을 받아 신호를 발생시킨다. 사용자가 입출력기(1331)에 터치 스크린 패널(15)의 검사를 시작하도록 입력하면, 입출력기(1331)가 신호발생기(1333)에 신호를 발생하도록 명령을 내리게 된다.The signal generator 1333 generates a signal by receiving a command from the input / output unit 1331. When the user inputs the input / output unit 1331 to start the inspection of the touch screen panel 15, the input / output unit 1331 issues a command to the signal generator 1333.

도3를 참조하면, 테스터(133)는 신호발생기(1333)로부터 발생된 신호를 컨트롤러(131)에 전달한 후, 컨트롤러(131)로부터 방전 파형을 전달받아 기준값을 산정하고, 전술한 방전 파형을 후술하는 메모리(1337)에 저장된 기준값과 비교하여 터치 스크린 패널(15)의 양불을 판단하는 연산기(1335)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 3, the tester 133 transfers a signal generated from the signal generator 1333 to the controller 131, receives a discharge waveform from the controller 131, calculates a reference value, and describes the discharge waveform described above. It may include an operator 1335 to determine the good or bad of the touch screen panel 15 compared to the reference value stored in the memory 1335.

도3에 도시된 바와 같이, 연산기(1335)는 전술한 신호발생기(1333)에 의해 발생된 신호가 최종적으로 검사부(11)에 인가되고, 이에 따라 검출된 방전 파형을 컨트롤러(131)를 통해 전달받는다. As illustrated in FIG. 3, the calculator 1335 finally receives the signal generated by the signal generator 1333 to the inspection unit 11, and transfers the detected discharge waveform through the controller 131. Receive.

연산기(1335)는 터치 스크린 패널(15)의 모든 검사 좌표에 대해 검출된 방전 파형을 전달받아 기준값을 산정한다. 여기서 기준값은 방전 파형의 평균값일 수 있으나 이에만 한정되는 것은 아니다. 연산기(1335)는 산정한 기준값을 터치 스크린 패널(15)의 양불 기준으로 저장될 수 있도록 후술되는 메모리(1337)에 저장한다.The calculator 1335 calculates a reference value by receiving the detected discharge waveforms for all inspection coordinates of the touch screen panel 15. The reference value may be an average value of the discharge waveform, but is not limited thereto. The calculator 1335 stores the calculated reference value in the memory 1335 to be described below so that the calculated reference value can be stored as a good reference of the touch screen panel 15.

또한, 도3을 참조하면, 연산기(1335)는 터치 스크린 패널(15)의 각 검사 좌표마다 검출된 방전 파형을 산정하고, 이를 메모리(1337)에 저장된 양불 기준과 비교하여 양불 여부를 판단한다. 이 때, 양불 기준은 연산기(1335)에서 산정된 기준값에 대하여 미리 정해진 범위 이내에 있는 경우는 양질을, 미리 정해진 범위 밖에 있는 경우는 불량으로 판단하는 기준을 의미함이 바람직하나, 이에만 한정되는 것은 아니다.In addition, referring to FIG. 3, the calculator 1335 calculates a discharge waveform detected for each test coordinate of the touch screen panel 15, and compares the discharge waveform with a good reference stored in the memory 1335 to determine whether the good is valid. In this case, the non-payment criterion refers to a criterion for determining a good quality when it is within a predetermined range with respect to the reference value calculated by the calculator 1335 and a defect when it is outside a predetermined range, but is not limited thereto. no.

테스터(133)는 컨트롤러(131)로부터 방전 파형을 전달받아 연산기(1335)가 산정한 기준값을 터치 스크린 (15) 의 양불 기준으로 저장하는 메모리(1337)를 포함할 수 있다.The tester 133 may include a memory 1337 that receives the discharge waveform from the controller 131 and stores the reference value calculated by the calculator 1335 as a reference of the good value of the touch screen 15.

도3에 도시된 바와 같이, 메모리(1337)는 연산기(1335)에서 산정된 방전 파형의 기준값을 해당 터치 스크린 패널(15)의 양불 기준으로 저장한다. 이 때, 양불 기준은 전술한 바와 같이 산정된 기준값에서 미리 정해진 범위 이내에 있는 경우는 양질로 판단하는 것임이 바람직하나, 이에만 한정되는 것은 아니다. As shown in FIG. 3, the memory 1335 stores the reference value of the discharge waveform calculated by the calculator 1335 as a positive reference of the corresponding touch screen panel 15. At this time, it is preferable to determine whether the standard of good quality when it is within a predetermined range from the calculated reference value as described above, but is not limited thereto.

테스터(133)는 터치 스크린 패널(15)의 검사 영역에 대한 정보를 입력할 수 있고 이에 따라 신호발생기(1331)에 컨트롤러(131)에 전달될 신호를 발생시키고, 연산기(1335)가 판단한 터치 스크린 패널(15)의 양불 여부에 대한 결과를 출력하는 입출력기(1331)를 포함할 수 있다.The tester 133 may input information about an inspection area of the touch screen panel 15, thereby generating a signal to be transmitted to the controller 131 to the signal generator 1331, and the touch screen determined by the calculator 1335. It may include an input / output unit 1331 for outputting a result of whether or not the panel 15 is unsuccessful.

입출력기(1331)는 신호발생기(1333)와 컨트롤러(131)를 통해 검사부(11)에 전달되는 터치 스크린 패널(15)의 검사 영역에 대한 정보를 사용자가 입력할 수 있다.The input / output unit 1331 may input information about an inspection area of the touch screen panel 15 transmitted to the inspection unit 11 through the signal generator 1333 and the controller 131.

또한, 도3에 도시된 바와 같이 입출력기(1331)는 사용자가 터치 스크린 패널(15)의 검사를 시작하도록 입력하는 경우, 신호발생기(1333)에 신호를 발생시키도록 명령한다.  In addition, as illustrated in FIG. 3, the input / output unit 1331 instructs the signal generator 1333 to generate a signal when the user inputs to start the inspection of the touch screen panel 15.

또한, 도3에 도시된 바와 같이 입출력기(1331)는 연산기(1335)에서 터치 스크린 패널(15)의 각 검사 좌표의 방전 파형을 메모리(1337)에 저장된 양불 기준과 비교하여 해당 터치 스크린 패널(15)의 양불 여부를 판단한 결과를 사용자가 볼 수 있도록 출력한다. In addition, as illustrated in FIG. 3, the input / output unit 1331 compares the discharge waveform of each inspection coordinate of the touch screen panel 15 by the calculator 1335 with a non-paying reference stored in the memory 1335. The result of judging whether or not the payment is made in 15) is output for the user to see.

또한, 입출력기(1331)는 도5에 도시된 바와 같이, 복수 개의 컨트롤러(131) 또는 복수 개의 검사부(11)가 연결된 경우, 복수 개의 신호 및 정보를 발생시킬 수 있다.In addition, as illustrated in FIG. 5, the input / output unit 1331 may generate a plurality of signals and information when a plurality of controllers 131 or a plurality of inspection units 11 are connected.

전술한 본 터치 스크린 패널(15)의 검사방법에 따르면, 사용자가 각 터치 스크린 패널(15)의 양불 기준을 직접 입력하던 종래의 기술과는 달리, 터치 스크린 패널(15)에 신호를 인가하여 검출된 방전 파형으로 양불 기준을 산정하므로 번거롭지 않다. According to the above-described inspection method of the touch screen panel 15, unlike the conventional technology in which the user directly inputs the non-payment reference of each touch screen panel 15, a signal is applied to the touch screen panel 15 to detect it. It is not troublesome to calculate the positive reference based on the discharge waveform.

또한, 각 터치 스크린 패널(15)은 제조 공정 등의 차이가 있으므로 터치 스크린 패널(15)마다 양불 기준을 달리함이 바람직하다. 각 터치 스크린 패널(15)마다 양불 기준을 다르게 하지 않고 일괄적인 기준으로 양불 여부를 판단하던 종래의 기술과는 달리, 각 터치 스크린 패널(15)마다 신호를 인가하여 검출되는 방전 파형으로 양불 기준을 산정한다. 따라서, 각 터치 스크린 패널(15)마다 양불 기준이 해당 터치 스크린 패널(15)에 맞도록 산정되므로 터치 스크린 패널(15)의 양불 판단에 대한 정확도를 높일 수 있다.In addition, since each touch screen panel 15 has a difference in a manufacturing process or the like, it is preferable to change the standard of payment for each touch screen panel 15. Unlike the conventional technology of determining whether or not the standard is different based on the collective standard of each touch screen panel 15, the standard of the standard is determined by the discharge waveform detected by applying a signal to each touch screen panel 15. Calculate. Accordingly, since each of the touch screen panels 15 is calculated to fit the touch screen panel 15, the accuracy of the determination of the failure of the touch screen panel 15 may be increased.

또한, 양불 기준을 산정하고, 다시 터치 스크린 패널(15)의 검사 좌표에 신호를 인가하여 검출된 방전 파형으로 양불 여부를 판단하는 것이 아니라, 한번 검출된 방전 파형으로 양불 기준 산정과 양불 여부 판단을 수행한다. 따라서, 터치 스크린 패널(15)의 양불 판단 시간을 단축시킬 수 있다.In addition, the calculation of the good reference and the determination of whether or not to determine whether the good or bad by the discharge waveform detected by applying a signal to the inspection coordinates of the touch screen panel 15 again, and then determine the good or bad. Perform. Therefore, it is possible to shorten the time for determining the non-payment of the touch screen panel 15.

전술한 본 터치 스크린 패널 검사장치(10)에 따르면, 터치 스크린 패널(15)에 신호를 인가하여 검출되는 방전 파형을 산정하여 양불 기준을 정한다. 다시 말하면, 본 터치 스크린 패널 검사장치(10)는 터치 스크린 패널(15)에서 검출되는 방전 파형으로 양불 기준을 산정할 수 있는 구성요소를 포함하고 있다. 따라서, 터치 스크린 패널(15)의 모델이 바뀌면 통신 관련 프로그램의 수정이 필요하던 종래의 터치 스크린 패널 검사장치와는 달리 모델이 바뀌더라도 검출된 방전 파형에 따라 양불 기준을 다시 산정하면 되므로 종전의 장치 그대로 사용할 수 있다.According to the present touch screen panel inspection apparatus 10 described above, a positive reference is determined by calculating a discharge waveform detected by applying a signal to the touch screen panel 15. In other words, the touch screen panel inspecting apparatus 10 includes a component capable of estimating a good and low reference based on a discharge waveform detected by the touch screen panel 15. Therefore, unlike the conventional touch screen panel inspection apparatus, which requires modification of a communication related program when the model of the touch screen panel 15 is changed, the conventional apparatus may be recalculated according to the detected discharge waveform even if the model is changed. You can use it as it is.

또한, 하나의 테스터(133)에 하나 이상의 컨트롤러(131)를 포함할 수 있어 확장성이 간편하고, 하나의 컨트롤러(131)에 하나 이상의 검사부(11)를 포함할 수 있어 한꺼번에 많은 터치 스크린 패널(15)을 검사할 수 있다.In addition, since one or more controllers 131 may be included in one tester 133, scalability is easy, and one or more inspection units 11 may be included in one controller 131. 15) can be checked.

전술한 본원의 설명은 예시를 위한 것이며, 본원이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본원의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형이 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 예를 들어, 단일형으로 설명되어 있는 각 구성 요소는 분산되어 실시될 수도 있으며, 마찬가지로 분산된 것으로 설명되어 있는 구성 요소들도 결합된 형태로 실시될 수 있다.It will be understood by those of ordinary skill in the art that the foregoing description of the embodiments is for illustrative purposes and that those skilled in the art can easily modify the invention without departing from the spirit or essential characteristics thereof. It is therefore to be understood that the above-described embodiments are illustrative in all aspects and not restrictive. For example, each component described as a single entity may be distributed and implemented, and components described as being distributed may also be implemented in a combined form.

본원의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본원의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.The scope of the present invention is defined by the appended claims rather than the detailed description, and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalents should be construed as being included within the scope of the present invention.

10: 터치 스크린 패널 검사장치
11: 검사부 13: 제어부
15: 터치 스크린 패널 111: 검사모듈
113: 검사용 핀 115: 이동장치
117: 점등 검사부 131: 컨트롤러
133: 테스터 1111: 제1신호인가부
1113: 제2신호인가부 1115: 수신부
1331: 입출력기 1333: 신호발생기
1335: 연산기 1337: 메모리10: touch screen panel inspection device
11: inspection unit 13: control unit
15: touch screen panel 111: inspection module
113: inspection pin 115: moving device
117: lighting inspection unit 131: controller
133: tester 1111: first signal applying unit
1113: second signal applying unit 1115: receiving unit
1331: I / O 1333: Signal Generator
1335: operator 1337: memory

Claims (17)

터치 스크린 패널 검사장치에 의한 터치 스크린 패널의 검사방법에 있어서,
(a) 터치 스크린 패널에 신호를 인가하여 방전 파형을 검출하고, 상기 방전 파형을 통해 기준값을 산정하여 상기 터치 스크린 패널의 양불 기준을 정하는 단계; 및
(b) 상기 양불 기준에 따라 상기 터치 스크린 패널의 각 검사 좌표별 불량 여부를 판단하는 단계를 포함하는 터치 스크린 패널의 검사방법.In the inspection method of the touch screen panel by the touch screen panel inspection device,
(a) applying a signal to the touch screen panel to detect a discharge waveform, and calculating a reference value based on the discharge waveform to determine a positive reference of the touch screen panel; And
(b) determining whether each touch coordinate of the touch screen panel is defective according to the payment criteria. 제1항에 있어서,
상기 (a)단계는,
(a1) 상기 터치 스크린 패널의 모든 검사 좌표 중 어느 한 열의 검사 좌표에 신호를 인가하는 단계;
(a2) 상기 터치 스크린 패널의 모든 검사 좌표에 각 행마다 신호를 인가하여 상기 어느 한 열의 검사 좌표의 방전 파형을 검출하는 단계;
(a3) 상기 (a1) 및 (a2) 단계를 상기 터치 스크린 패널의 각 열마다 반복하여 모든 검사 좌표의 방전 파형을 검출하는 단계; 및
(a4) 검출된 상기 모든 검사 좌표의 방전 파형을 통해 기준값을 산정하여 상기 양불 기준을 결정하는 단계를 포함하는 터치 스크린 패널의 검사방법.
The method of claim 1,
The step (a)
(a1) applying a signal to inspection coordinates of any one row of all inspection coordinates of the touch screen panel;
(a2) detecting a discharge waveform of the inspection coordinates of any one column by applying a signal to each inspection coordinate of the touch screen panel for each row;
(a3) repeating steps (a1) and (a2) for each column of the touch screen panel to detect discharge waveforms of all inspection coordinates; And
and (a4) determining the reference value by calculating a reference value through the discharge waveforms of all the detected test coordinates.
제2항에 있어서,
상기 양불 기준은 상기 모든 검사 좌표의 방전 파형의 평균에 따라 결정되는 것인 터치 스크린 패널의 검사방법.3. The method of claim 2,
And wherein the good reference is determined according to an average of discharge waveforms of all the test coordinates. 제3항에 있어서,
상기 양불 기준은 상기 모든 검사 좌표의 방전 파형의 평균으로부터 미리 정해진 범위 이내에 있는 방전 파형 값을 갖는 검사 좌표에 대해 양품 판정을 내리는 것인 터치 스크린 패널의 검사방법.The method of claim 3,
And wherein the good reference is to make a good judgment on an inspection coordinate having a discharge waveform value within a predetermined range from an average of the discharge waveforms of all the inspection coordinates. 제1항에 있어서,
상기 신호는 전기 신호이고,
상기 방전 파형은 정전용량의 크기에 대한 파형인 것인 터치 스크린 패널의 검사방법.The method of claim 1,
The signal is an electrical signal,
Wherein the discharge waveform is a waveform of a magnitude of capacitance. 터치 스크린 패널을 검사하는 검사모듈을 포함하는 검사부 및 상기 검사부와 신호 및 정보를 주고받는 제어부를 포함하는 터치 스크린 패널 검사 시스템에 사용되는 검사모듈에 있어서,
상기 터치 스크린 패널의 검사 좌표의 각 열마다 신호를 인가하는 제1신호인가부;
상기 터치 스크린 패널의 검사 좌표의 각 행마다 신호를 인가하는 제2신호인가부; 및
상기 신호를 인가한 후 검출되는 방전 파형을 수신하는 수신부를 포함하는 검사모듈.An inspection module for use in a touch screen panel inspection system, comprising: an inspection unit including an inspection module for inspecting a touch screen panel; and a control unit that exchanges signals and information with the inspection unit.
A first signal applying unit which applies a signal to each column of inspection coordinates of the touch screen panel;
A second signal applying unit which applies a signal to each row of inspection coordinates of the touch screen panel; And
And a receiver configured to receive a discharge waveform detected after applying the signal. 제6항에 있어서,
상기 수신부는,
상기 방전 파형의 평균을 산정하여 상기 터치 스크린 패널의 양불 기준을 결정하는 것인 검사모듈.The method according to claim 6,
The receiver may further comprise:
And determining a good and low reference of the touch screen panel by calculating an average of the discharge waveforms. 제7항에 있어서,
상기 수신부는,
상기 양불 기준으로부터 미리 정해진 범위 이내에 있는 방전 파형 값을 갖는 검사 좌표에 대해 양품 판정을 내리는 것인 검사모듈.The method of claim 7, wherein
The receiver may further comprise:
And a goodness-of-goods determination for an inspection coordinate having a discharge waveform value within a predetermined range from the non-payment reference. 제6항에 있어서,
상기 수신부는 상기 제1신호인가부가 상기 터치 스크린 패널의 모든 검사 좌표 중 어느 한 열의 검사 좌표에 신호를 인가하고, 상기 제2신호인가부가 상기 터치 스크린 패널의 모든 검사 좌표에 각 행마다 신호를 인가하는 과정을 상기 터치 스크린 패널의 각 열마다 반복하여 모든 검사 좌표의 방전 파형을 검출하여 상기 제어부로 전달하는 것인 검사모듈.The method according to claim 6,
The receiving unit applies a signal to the inspection coordinates of any one column of all inspection coordinates of the touch screen panel, and the second signal applying unit applies a signal to each inspection coordinate of the touch screen panel for each row. And repeating the process for each column of the touch screen panel to detect the discharge waveform of all the test coordinates and transmit the detected waveform to the controller. 터치 스크린 패널의 불량 유무를 판단하는 터치 스크린 패널 검사장치에 있어서,
제6항에 따른 검사 모듈을 포함하는 검사부; 및
제어부를 포함하는 것인 터치 스크린 패널 검사장치.In the touch screen panel inspection device for determining whether the touch screen panel is defective,
An inspection unit including an inspection module according to claim 6; And
Touch screen panel inspection apparatus comprising a control unit. 제10항에 있어서,
상기 제어부는,
신호를 상기 검사부에 전달하고 이에 따라 상기 검사부에서 검출되는 방전 파형을 전달받는 컨트롤러; 및
상기 컨트롤러에 전달되는 신호를 발생시키고, 발생된 상기 신호를 상기 컨트롤러에 전달하며, 상기 컨트롤러로부터 상기 방전 파형을 전달받아 기준값을 산정하여 양불 기준으로 저장하고, 상기 방전 파형을 저장된 상기 양불 기준과 비교하여 상기 터치 스크린 패널의 양불을 판단하여 결과를 출력하는 테스터를 포함하는 터치 스크린 패널 검사장치.The method of claim 10,
The control unit,
A controller which transmits a signal to the inspection unit and receives a discharge waveform detected by the inspection unit accordingly; And
Generates a signal transmitted to the controller, transfers the generated signal to the controller, receives the discharge waveform from the controller, calculates a reference value, stores the reference value as a positive reference, and compares the discharge waveform with the stored positive reference And a tester for determining the quantity of light of the touch screen panel and outputting a result. 제10항에 있어서,
상기 검사부는,
상기 터치 스크린 패널의 검사 좌표에 접촉되는 검사용 핀; 및
상기 터치 스크린 패널의 검사 좌표에 접촉시키기 위해 상기 검사용 핀을 이동시키는 이동장치를 포함하되,
상기 검사용 핀은 상기 제1신호인가부 및 제2신호인가부로부터 신호를 전달받아 상기 검사 좌표에 인가하는 것인 터치 스크린 패널 검사장치.The method of claim 10,
Wherein,
An inspection pin in contact with inspection coordinates of the touch screen panel; And
Includes a moving device for moving the inspection pin to contact the inspection coordinates of the touch screen panel,
And the inspection pin receives a signal from the first signal applying unit and the second signal applying unit and applies the signal to the inspection coordinates. 제11항에 있어서,
상기 컨트롤러는,
상기 검사부에 신호를 전달하는 인쇄회로기판을 포함하는 것인 터치 스크린 패널 검사장치.12. The method of claim 11,
The controller,
Touch screen panel inspection apparatus that includes a printed circuit board for transmitting a signal to the inspection unit. 제11항에 있어서,
상기 검사부는 하나 이상 구비되고,
상기 컨트롤러는 상기 하나 이상의 검사부와 연결되어 신호 및 정보를 주고받는 것인, 하나 이상의 컨트롤러가 포함되는 터치 스크린 패널 검사장치12. The method of claim 11,
At least one inspection unit is provided,
The controller is connected to the at least one inspection unit to send and receive signals and information, the touch screen panel inspection apparatus including at least one controller 제14항에 있어서,
상기 컨트롤러는 복수 개 구비되고,
상기 복수의 컨트롤러 각각은 상기 하나 이상의 검사부와 연결되어 신호 및 정보를 주고받는 것인 터치 스크린 패널 검사 장치.
15. The method of claim 14,
The controller is provided in plurality,
And each of the plurality of controllers is connected to the one or more inspection units to exchange signals and information.
제10항에 있어서,
상기 검사부에 상기 터치 스크린 패널의 점등 검사를 수행할 수 있는 점등 검사부를 더 포함하는 터치 스크린 패널 검사장치.The method of claim 10,
And a lighting inspection unit configured to perform a lighting inspection of the touch screen panel on the inspection unit. 제16항에 있어서,
상기 검사부에서 상기 터치 스크린 패널의 정전용량 검사 및 점등 검사 중 어느 하나를 수행하도록 스위칭시켜주는 스위치를 더 포함하는 터치 스크린 패널 검사장치.
17. The method of claim 16,
And a switch for switching the inspection unit to perform any one of a capacitance test and a lighting test of the touch screen panel.
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