KR20120130838A - Electron capture detector using auxillary gas - Google Patents

Electron capture detector using auxillary gas Download PDF

Info

Publication number
KR20120130838A
KR20120130838A KR1020110048844A KR20110048844A KR20120130838A KR 20120130838 A KR20120130838 A KR 20120130838A KR 1020110048844 A KR1020110048844 A KR 1020110048844A KR 20110048844 A KR20110048844 A KR 20110048844A KR 20120130838 A KR20120130838 A KR 20120130838A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
electrode
gas
ionization chamber
auxiliary gas
detector
Prior art date
Application number
KR1020110048844A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR101285564B1 (en
Inventor
황인범
Original Assignee
(주)영린기기
황인범
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주)영린기기, 황인범 filed Critical (주)영린기기
Priority to KR1020110048844A priority Critical patent/KR101285564B1/en
Publication of KR20120130838A publication Critical patent/KR20120130838A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101285564B1 publication Critical patent/KR101285564B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02Column chromatography
    • G01N30/62Detectors specially adapted therefor
    • G01N30/64Electrical detectors
    • G01N30/70Electron capture detectors
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01DSEPARATION
    • B01D53/00Separation of gases or vapours; Recovering vapours of volatile solvents from gases; Chemical or biological purification of waste gases, e.g. engine exhaust gases, smoke, fumes, flue gases, aerosols
    • B01D53/02Separation of gases or vapours; Recovering vapours of volatile solvents from gases; Chemical or biological purification of waste gases, e.g. engine exhaust gases, smoke, fumes, flue gases, aerosols by adsorption, e.g. preparative gas chromatography
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02Column chromatography
    • G01N2030/022Column chromatography characterised by the kind of separation mechanism
    • G01N2030/025Gas chromatography

Abstract

PURPOSE: An electron capturing detector using auxiliary gas is provided to reduce the occurrence of contamination due to the long period of using time and to increase the effect of a heat washing operation by reducing contamination on the surface of a detection electrode and radiation sources. CONSTITUTION: An electron capturing detector(200) of a gas chromatograph includes an electrode guide(213), an electrode auxiliary gas inlet(218), and a cell auxiliary gas inlet(232). The electrode guide is concentrically spaced apart from an electrode(212). The auxiliary gas inlets are respectively at the upper part and the lower part of an ionization chamber. Electrode auxiliary gas flows to the ionization chamber along the surface of the electrode guide. The flow of cell auxiliary gas is formed through an edge gap at the lower part of the ionization chamber, and the cell auxiliary gas flows to the ionization chamber along the surface of radiation sources on the lateral part of the ionization chamber. [Reference numerals] (AA) Electrode auxiliary gas; (BB) Microcell auxiliary gas; (CC) Specimen mixed gas

Description

보조가스를 사용하는 전자포획검출기{ELECTRON CAPTURE DETECTOR USING AUXILLARY GAS}ELECTRON CAPTURE DETECTOR USING AUXILLARY GAS}

본 발명은 가스 크로마토그래프 기기에 관한 것이며, 특히 가스 크로마토그래프 기기를 구성하는 요소 중의 하나인 전자포획 검출기의 구조에 관한 것이다.
The present invention relates to a gas chromatograph instrument, and more particularly, to the structure of an electron trap detector, which is one of the elements constituting the gas chromatograph instrument.

가스 크로마토그래프(GC)는 복합성분의 시료가 이동상(mobile phase)에 의해 이동하면서 컬럼의 고정상(stationary phase)과의 상호 물리화학적인 작용에 의해 각각의 단일 성분으로 분리되는 현상을 이용하여 화합물의 성분을 분석하는 장치이다. 이 가스 크로마토그래프는 시료 주입부, 컬럼, 검출기, 증폭기, 기록계를 포함하여 구성된다. 컬럼에 시료를 주입하면 수소 등의 운반기체에 의해 컬럼을 통하여 운반되고, 컬럼에서는 시료혼합물이 분배 계수에 의해 단일성분으로 분리되게 되고, 분석하고자 하는 시료에 대해 검출기가 분석을 행하게 된다.Gas Chromatograph (GC) is a method in which a sample of a complex component is moved by a mobile phase and is separated into each single component by mutual physicochemical action with the stationary phase of the column. It is a device for analyzing components. This gas chromatograph comprises a sample injector, a column, a detector, an amplifier and a recorder. When a sample is injected into the column, it is transported through the column by a carrier gas such as hydrogen. In the column, the sample mixture is separated into a single component by partition coefficient, and the detector analyzes the sample to be analyzed.

전자포획검출기는 상기 검출기의 일종으로서 할로겐 화합물이나 니트로 화합물의 친전자성 화합물의 측정에 특히 적합한 고감도 검출기이다. 따라서, 유기수은, 농약, PCB 등의 잔류량 측정 등의 극미량 측정에 이용되고 있다. The electron trap detector is a kind of the above-described detector, which is a particularly sensitive detector suitable for the measurement of electrophilic compounds of halogen compounds and nitro compounds. Therefore, organic mercury is used for measuring trace amounts, such as residual amount measurement of pesticides and PCBs.

전자포획 검출기의 동작원리는 다음과 같다. 질소 등의 캐리어 가스를 β선 방출방사선 물질 니켈-63을 사용하는 검출기에 도입하면 캐리어는 이온화된다. 약한 전위를 걸어 이 이온전류를 검출하고 있는데 PCB와 BHC등의 할로겐을 포함하는 유기화합물과 유기금속 화합물이 들어오면 자유전자가 친전자성 화합물로 흡인된다. 분자에 흡인되는 것으로 질량이 증가하고 자유전자는 감소하여 이에 대한 변화를 이온전류로 감지하게 된다. 전자포획검출기의 직선동작 범위는 104정도이고 BHC 10pg의 검출이 가능하다. The operation principle of the electron capture detector is as follows. The carrier is ionized when a carrier gas such as nitrogen is introduced into the detector using? -Ray emitting radiation substance nickel-63. The ion current is detected at a weak potential. When organic compounds and organometallic compounds containing halogen such as PCB and BHC enter, free electrons are attracted to the electrophilic compounds. By being attracted to the molecules, the mass increases and the free electrons decrease to detect the change as an ion current. The linear motion range of the electron trap detector is about 10 4 , and BHC 10pg can be detected.

가스 크로마토그래프에 사용되는 전자포획검출기는 몇 가지의 형태를 취하고 있는데 이온화를 하기 위한 방사선원, 절연된 애노드 금속전극, 유로와 챔버로 구성된다. 전자포획검출기는 주로 니켈-63 방사선원을 사용하고 있는데 검출기의 구조에 의하여 검출성능과 응답특성이 영향을 많이 받고 사용시간에 따라 열화와 오염으로 검출한계가 낮아지는 문제점이 있었다.Electron trapping detectors used in gas chromatographs take several forms and consist of a radiation source for ionization, an insulated anode metal electrode, a flow path and a chamber. Electron trapping detector mainly uses nickel-63 radiation source, and the detection performance and response characteristics are affected by the structure of the detector, and the detection limit is lowered due to deterioration and contamination according to the usage time.

도 1은 종래의 전자포획 검출기(100)를 나타내었다. 도 1에 도시된 바와 같이, 종래의 전자포획 검출기(100)는 원통형으로서 전기적 펄스를 검출하는 금속전극(112)은 절연된 상태로서 전자포획검출기(100) 몸체의 상단에 고정된다. 애노드 금속전극의 다른 쪽 끝은 접지 콜렉터(124)를 가지는 이온화 챔버(126)에 의하여 정의된 검출 셀 아래 부분을 향하고 있다. 시료의 분리 컬럼(240)은 용융석영 라이너(131)에 장착하여 그 끝부분이 이온화 챔버(126)의 하단에 맞추어 삽입된다. 컬럼에서 배출되는 캐리어 가스는 셀의 용량에 대하여 이를 통과하는 데에 소요되는 시간을 줄이기 위한 보충가스와 혼합되어 전자포획 검출기(100)의 챔버로 향한다. 보충가스는 보충가스 도입구를 통하여 유입되고 라이너의 안쪽 면과 컬럼의 바깥쪽 면의 틈을 거쳐 이온화 챔버(126)내로 전달되고 컬럼의 캐리어가스와 혼합된다. 챔버 위쪽의 상부 몸체는 측면 포트(113)을 가진다. 이 포트는 챔버에 가스를 치환하기 위한 퍼지가스 도입구이며 하부 몸체의 측면 포트(123)는 공통으로 사용되는 배출구이다. 1 shows a conventional electron capture detector 100. As shown in FIG. 1, the conventional electron capture detector 100 has a cylindrical shape, and a metal electrode 112 for detecting an electrical pulse is insulated and fixed to an upper end of the body of the electron capture detector 100. The other end of the anode metal electrode is directed below the detection cell defined by the ionization chamber 126 having the ground collector 124. The separation column 240 of the sample is mounted on the molten quartz liner 131 so that its end portion is inserted into the lower end of the ionization chamber 126. Carrier gas exiting the column is mixed with a supplemental gas to reduce the time it takes to pass the cell's capacity to the chamber of the electron capture detector 100. Replenishment gas is introduced through the replenishment gas inlet and delivered into the ionization chamber 126 via a gap between the inner side of the liner and the outer side of the column and mixed with the carrier gas of the column. The upper body above the chamber has a side port 113. This port is a purge gas inlet for replacing gas in the chamber and the side port 123 of the lower body is a common outlet.

자유전자는 이온화 챔버(126)에서 포일 또는 도금된 형태의 β선 방출 방사선원에 의하여 생성된다. 이와 같은 β선 방출 방사선원으로는 트리티움과 니켈-63이 있다. 도 1에 있어서 이온화 챔버(126)의 안쪽 벽면(125)은 방사성 포일로 니켈-63 방사선원이다. 니켈-63 방사선원은 이온화 챔버(126)를 통하여 흐르는 보충가스 분자를 이온화하며 전자는 펄스전류를 형성하는 애노드 전극(112)에 회유된다. 이 전류는 시료가 전자흡인분자를 포함하는 시료가 도입되었을 때 감소된다. 분석을 위해서 전류의 감소를 전위계로 증폭한다. 시료 성분분자가 자유전자와 접촉되었을 때 자유전자는 음이온을 생성시키기 위해 시료 분자에 포획된다. 셀의 전극을 가로지르는 전압은 중이온에 상대적으로 영향을 받지 않으며 캐리어가스에 휩쓸려 배출구(123)로 나가는 동안 남아있는 자유전자를 모으기 위해 펄스화된다. 정전류 가변 주파수 동작모드에서 셀의 전류는 참조전류에 비교되어 측정된다. 그 때에 펄스속도는 일정한 셀 전류에 의하여 조정된다. 전자를 포획하는 시료성분이 있을 때에 펄스속도가 증가한다. 이 펄스속도는 전압으로 변환되고 기록된다. 즉 펄스속도가 검출기의 출력신호이다. Free electrons are generated by the β-ray emitting radiation source in foil or plated form in the ionization chamber 126. Such β-ray emitting radiation sources include tritium and nickel-63. In FIG. 1 the inner wall 125 of the ionization chamber 126 is a nickel-63 radiation source with a radioactive foil. The nickel-63 radiation source ionizes supplemental gas molecules flowing through the ionization chamber 126 and electrons are circulated to the anode electrode 112 forming a pulse current. This current is reduced when a sample is introduced that contains electron withdrawing molecules. Amplify the decrease in current with an electrometer for analysis. When a sample component molecule is contacted with free electrons, the free electrons are trapped in the sample molecule to produce anions. The voltage across the electrode of the cell is relatively unaffected by heavy ions and is pulsed to collect free electrons remaining while being swept away by the carrier gas and exiting the outlet 123. In the constant current variable frequency mode of operation, the cell's current is measured against the reference current. At that time, the pulse rate is adjusted by a constant cell current. The pulse rate increases when there is a sample component that traps electrons. This pulse rate is converted to voltage and recorded. That is, the pulse rate is the output signal of the detector.

이와 같은 종래의 전자포획검출기의 드리프트의 원인은 전극과 전극절연체의 표면오염에 의하여 생산되는 누설전류에 의한다. 이 결과로 참조전류가 높은 베이스라인 주파수로 증가시켜 결국 검출기의 응답에서 다이내믹 레인지의 손실을 키우게 된다. 또한 방사선원 표면의 오염은 방사선량을 떨어뜨리는 원인이 되므로 접지 콜렉터(124)와 애노드 전극(112)사이에 형성되는 전자구름의 밀도를 변화시켜 감도에 영향을 주는 문제점을 수반하게 된다.The cause of the drift of the conventional electron trap detector is due to the leakage current produced by the surface contamination of the electrode and the electrode insulator. As a result, the reference current increases to a higher baseline frequency, resulting in a loss of dynamic range in the detector's response. In addition, since contamination of the surface of the radiation source causes a decrease in the radiation dose, it is accompanied by a problem that affects the sensitivity by changing the density of electron clouds formed between the ground collector 124 and the anode electrode 112.

본 발명의 발명가는 위와 같은 종래의 불꽃 광도 검출기의 문제점들을 해결하기 위하여 보조 가스를 사용하는 방법을 고안하여 본 발명을 완성하기에 이르렀다.
The inventor of the present invention has devised a method of using an auxiliary gas to solve the problems of the conventional flame light detector as described above to complete the present invention.

본 발명의 목적은 종래의 검출기에 대하여 검출 전극과 방사선원 표면의 오염을 줄임으로써 장시간 사용에 따르는 오염을 저감하고 용이하게 가열세척의 효과를 높일 수 있도록 하는 데에 있다. An object of the present invention is to reduce the contamination of the detection electrode and the surface of the radiation source with respect to the conventional detector to reduce the contamination caused by long-term use and to easily increase the effect of heating and cleaning.

본 발명의 다른 목적은 전자구름이 마이크로 셀의 일정한 영역에 형성되도록 하여 반복하여 같은 시료의 농도를 측정할 때에 편차를 줄이고 흡인효율을 높임으로써 검출감도를 최대한 높이는 데에 있다.Another object of the present invention is to increase the detection sensitivity as much as possible by reducing the deviation and increasing the suction efficiency when repeatedly measuring the concentration of the same sample by forming an electron cloud in a certain area of the microcell.

한편, 본 발명의 명시되지 않은 또 다른 목적들은 하기의 상세한 설명 및 그 효과로부터 용이하게 추론할 수 있는 범위 내에서 추가적으로 고려될 것이다.
On the other hand, other unspecified purposes of the present invention will be further considered within the scope of the following detailed description and easily deduced from the effects thereof.

위와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 가스 크로마토그래프의 전자포획 검출기는, 상기 전자포획 검출기 내부의 이온화 챔버(236) 상단으로 노출되는 전극(212)을 동심으로 하여 일정한 간격을 갖는 전극 가이드를 구비하고, 상기 이온화 챔버 위쪽에서 챔버 내부로 전극 보조가스를 주입하는 전극 보조가스 주입구 및 상기 이온화 챔버 하단에서 챔버 내부로 셀 보조가스를 주입하는 셀 보조가스 주입구를 구비하며, 상기 전극 가이드의 표면을 따라 상기 전극 보조가스의 유체흐름을 형성하여 상기 이온화 챔버 내부로 흐르도록 하고, 또한 상기 이온화 챔버 하단에 설치된 가장자리 틈을 통해서 상기 셀 보조가스의 유체흐름을 형성하여 상기 이온화 챔버의 측면에 위치한 방사선원의 표면을 따라 상기 이온화 챔버 내부로 흐르도록 함으로써, In order to achieve the above object, the electron capture detector of the gas chromatograph of the present invention has an electrode guide having a predetermined interval with the electrode 212 exposed to the top of the ionization chamber 236 inside the electron capture detector concentrically. And an electrode auxiliary gas inlet for injecting an electrode auxiliary gas into the chamber from above the ionization chamber, and a cell auxiliary gas inlet for injecting a cell auxiliary gas into the chamber from the bottom of the ionization chamber, and along the surface of the electrode guide. A fluid flow of the electrode auxiliary gas is formed to flow into the ionization chamber, and a fluid flow of the cell auxiliary gas is formed through an edge gap provided at the bottom of the ionization chamber to form a surface of the radiation source located on the side of the ionization chamber. By flowing along the inside of the ionization chamber,

라이너(252)를 통해 상기 이온화 챔버 중앙 하단부로 주입되는 시료혼합가스가 상기 전극 가이드 및 상기 방사선원의 표면에 접촉하지 않도록 하는 내부 구조를 갖는 것을 특징으로 한다.The sample mixture gas injected into the center lower end of the ionization chamber through the liner 252 has an internal structure that does not contact the surface of the electrode guide and the radiation source.

또한, 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 가스 크로마토그래프의 전자포획 검출기에 있어서, 상기 전극 가이드가 상기 방사선원의 상단에 근접하여 위치함으로써 시료혼합가스에 포함된 시료가 상기 방사선원에서 방출된 자유전자를 흡인하여 생긴 전자구름 흡인영역의 용적이 저감되도록 할 수 있다.
In addition, in the electron trap detector of the gas chromatograph according to an embodiment of the present invention, the electrode guide is located close to the top of the radiation source, so that the sample contained in the sample mixture gas is free electrons emitted from the radiation source The volume of the electron cloud suction region generated by the suction can be reduced.

위와 같은 본 발명에 따르면 검출기의 사용에 따르는 오염을 크게 저감함으로써 방사선원을 사용하는 검출기의 수명이 크게 향상되므로 열화에 의한 교체횟수를 줄일 수 있는 현저한 효과를 발휘한다.According to the present invention as described above, by greatly reducing the contamination caused by the use of the detector, the life of the detector using a radiation source is greatly improved, thereby exhibiting a remarkable effect of reducing the number of replacements due to deterioration.

또한, 마이크로 셀에 전자구름이 안정적으로 전극 근처에 형성되므로 검출감도가 향상되며 유량조건에 의한 검출성능의 변화가 적다는 장점이 있다.In addition, since the electron cloud is stably formed in the vicinity of the electrode in the micro cell, the detection sensitivity is improved, and there is an advantage that the change in detection performance due to the flow condition is small.

본 발명에 명세서에 구체적으로 언급되지 않은 효과라 하더라도 본 발명의 기술적 특징에 의하여 기대되는 잠정적인 효과는 본 발명의 명세서에 기재된 것과 같이 취급됨을 첨언한다.
Even if effects are not specifically mentioned in the specification, it is to be noted that the potential effects expected by the technical features of the invention are treated as described in the specification of the invention.

도 1은 종래의 전자포획 검출기의 구조를 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따르는 전자포획 검출기(200)의 구성을 나타내는 도면이다.
도 3은 도 2의 "A" 부분을 확대하여 나타낸 도면이다.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
200: 전자포획 검출기, 210: 상부몸체, 212: 금속 애노드 전극, 213: 전극 가이드, 218: 전극 보조가스 주입구, 216: 애노드 전극 홀더, 220: O링, 230: 셀 몸체, 232: 셀 보조가스 주입구, 233: 배출구, 236: 이온화 챔버, 238: 니켈-63 방사선원, 240: O링, 250: 라이너 어셈블리, 252: 라이너, 260: 모세관 컬럼
첨부된 도면은 본 발명의 기술사상에 대한 이해를 위하여 참조로서 예시된 것임을 밝히며 그것에 의해 본 발명의 권리범위가 제한되지는 아니한다.
1 is a view showing the structure of a conventional electron trap detector.
2 is a view showing the configuration of the electron capture detector 200 according to an embodiment of the present invention.
3 is an enlarged view of a portion “A” of FIG. 2.
Description of the Related Art
200: electron capture detector, 210: upper body, 212: metal anode electrode, 213: electrode guide, 218: electrode auxiliary gas inlet, 216: anode electrode holder, 220: O-ring, 230: cell body, 232: cell auxiliary gas Inlet, 233: outlet, 236: ionization chamber, 238: nickel-63 radiation source, 240: O-ring, 250: liner assembly, 252: liner, 260: capillary column
The accompanying drawings show that they are illustrated as a reference for understanding of the technical idea of the present invention, thereby not limiting the scope of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시를 위한 구체적인 내용을 설명한다. 그리고 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지기능에 대하여 이 분야의 기술자에게 자명한 사항으로서 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described specific details for the practice of the invention. In the following description of the present invention, when it is determined that the subject matter of the present invention may be unnecessarily obscured by those skilled in the art with respect to the known functions related thereto, the detailed description thereof will be omitted.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자포획 검출기(200)의 구성을 나타낸다. 본 발명의 장치와 그 구동원리에 따른 방법은 가스 크로마토그래프 분석시스템에서 검출 성능을 개선하는데 중요하게 적용될 것이며 여기에 그 구성과 동작, 발명에 대한 내용을 상세히 기술한다.2 shows a configuration of an electron capture detector 200 according to an embodiment of the present invention. The apparatus of the present invention and the method according to the driving principle thereof will be important for improving the detection performance in a gas chromatograph analysis system, and the configuration, operation, and details of the invention will be described in detail.

본 발명의 구체적인 내용은 가스 크로마토그래프에서 온도가 제어되는 정전류 펄스변조 전자포획검출기를 사용하여 구현될 수 있다. 가스 크로마토그래프에서 화합물시료는 분리 컬럼으로 캐리어 가스의 압력으로 주입되고 컬럼 유출물은 유체흐름으로 전자포획검출기로 향하게 된다.The details of the invention can be implemented using a constant current pulse modulated electron capture detector whose temperature is controlled in a gas chromatograph. In the gas chromatograph the compound sample is injected into the separation column at the pressure of the carrier gas and the column effluent is directed to the electron trap detector in fluid flow.

캐리어 가스와 공기, 수소, 보충가스와 같은 적합한 형태의 대다수의 가스 흐름을 제어하려면 하나 이상의 공압 매니폴드 어셈블리가 구성된다. 이에 따라 공압 매니폴드 밸브는 어떤 가스 흐름에 변조하여 동작되며 특히 아래에서 기술하는 전자포획검출기에는 변조된 보충가스와 퍼지가스가 공급되어 동작되도록 한다. 이러한 유체흐름의 공급이라는 측면에서 공압의 전자 제어기술이 선호되고 있다. 즉, 이온화 챔버 내부로 공급되는 보조가스와 시료혼합가스는 유량을 전자제어 방법을 사용하여 항상 일정한 유량으로 제어될 수 있도록 할 수 있다.One or more pneumatic manifold assemblies are configured to control the majority of gas flows in a suitable form, such as carrier gas and air, hydrogen and make-up gas. Accordingly, the pneumatic manifold valve is operated by modulating any gas flow, and in particular, the electron trap detector described below is supplied with the modulated supplementary gas and purge gas. Pneumatic electronic control technology is preferred in terms of supply of such fluid flow. That is, the auxiliary gas and the sample mixed gas supplied into the ionization chamber can be controlled at a constant flow rate at all times using an electronic control method.

본 발명에 따르면 셀 보조가스가 니켈-63 방사선원이 장착된 마이크로 셀의 가장자리로 흐를 수 있도록 하여 니켈-63 방사선원의 표면이 시료혼합가스에 의하여 오염되는 것을 차단하고 셀 보조가스가 시료 혼합가스를 에워 싸 셀의 안쪽에 시료 혼합가스의 전자구름이 전극주위에 모여 형성될 수 있도록 한다.According to the present invention, the cell auxiliary gas can flow to the edge of the micro cell equipped with the nickel-63 radiation source, thereby preventing the surface of the nickel-63 radiation source from being contaminated by the sample mixture gas and the cell auxiliary gas surrounding the sample mixed gas. The electron cloud of the sample gas mixture is collected around the electrode inside the cell.

또한, 본 발명에 따르면 전극주위에 다른 경로의 전극 보조가스 유로를 구성하여 전극의 시료혼합 가스가 전극에 도달하지 않도록 함으로써 검출기 셀의 오염을 방지하고 이 유로를 통하여 셀에 다른 가스를 채울 수 있도록 함으로써 셀을 가열 세척하는 데에 사용할 수 있도록 하며, 이 유로를 구성하기 위하기 위하여 마이크로 셀의 상단에 놓인 전극가이드가 전자흡인 구름영역을 제한하여 궁극적으로 전자포획검출기의 성능을 높일 수 있다.
In addition, according to the present invention by forming an electrode auxiliary gas flow path of the other path around the electrode so that the sample mixture gas of the electrode does not reach the electrode to prevent contamination of the detector cell and to fill the other gas into the cell through this flow path In this way, the cell can be used for heating and cleaning, and in order to construct this flow path, the electrode guide placed on the top of the micro cell restricts the electron-sucking cloud area and ultimately improves the performance of the electron trap detector.

도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 전자포획검출기(200)는 상단 몸체(210)와 애노드 전극(212), 전극 가이드(213), 셀 몸체와 니켈-63 방사선원(238), 하단몸체와 라이너 어셈블리(250)를 포함하여 구성될 수 있다.As shown in FIG. 2, the electron trap detector 200 according to the present invention includes an upper body 210 and an anode electrode 212, an electrode guide 213, a cell body and a nickel-63 radiation source 238, and a lower body. And a liner assembly 250.

상기 상단 몸체(210)는 콜렉터 전극으로 실시될 수 있고 애노드 전극(212)을 동심에 놓이게 하도록 편의를 도모하는 중심구멍으로 정의하는 전극 가이드(213)를 포함한다. 전극 가이드(213)는 전극(212)을 동심으로 하여 일정한 간격을 갖는다. 그리고 그 간격을 통해 유량이 흐를 수 있도록 형성된다. 셀 몸체(230)는 상단 몸체(210)의 상응하는 짝짓는 표면을 받는 용도로, 그리고 인터페이스에서 실(220)을 받는 용도로 우묵한 면을 포함한다. 셀 몸체(230)는 안쪽에 방사선원(238)을 가지는 이온화 챔버(236), 중심구멍과의 연결에서 구성 요소들의 조합이 동심으로 놓이는 것을 포함한다. 상단 몸체(210)는 또한 상기 전극 가이드(213)로 가스를 전달하는 전극 보조가스 주입구(218)를 포함한다. 그리고 전극 보조가스는 이온화 챔버(236) 위쪽에서 챔버 내부를 향해 주입되되 전극 가이드(213) 표면 위로 흐른다.The upper body 210 may include an electrode guide 213 which may be implemented as a collector electrode and defines a center hole for convenience of placing the anode electrode 212 concentrically. The electrode guide 213 has a constant distance with the electrode 212 concentric. And it is formed so that the flow rate can flow through the gap. The cell body 230 includes a recessed surface for receiving the corresponding mating surface of the upper body 210 and for receiving the seal 220 at the interface. The cell body 230 includes an ionization chamber 236 having a radiation source 238 therein, with the combination of components lying concentrically in connection with the central hole. The upper body 210 also includes an electrode auxiliary gas inlet 218 for delivering gas to the electrode guide 213. The electrode auxiliary gas is injected into the chamber from the upper side of the ionization chamber 236, and flows over the surface of the electrode guide 213.

밀봉은 상단, 셀, 하단의 각 몸체의 접촉면 사이에서 O링(220, 240)이 조립에서의 잠금에 의한 압축에 의하여 제공될 수 있다.Sealing may be provided by compression of the O-rings 220 and 240 by locking in assembly between the top, cell, and contact surfaces of each body at the bottom.

또한, 상단과 셀과 하단의 각 몸체와 부품들은 스테인리스 강과 같은 내열성 재료가 선호된다. 라이너 어셈블리의 몸체(250)와 셀 몸체(230)는 선택된 온도로 가열된다. In addition, the upper body, the cell and the lower body and parts are preferably heat-resistant materials such as stainless steel. The body 250 and cell body 230 of the liner assembly are heated to a selected temperature.

가스 크로마토그래프 컬럼(260)의 출구 끝부분은 라이너(252)에 장착되고 컬럼/라이너 어셈블리의 중심에 위치한다. 분석되는 가스는 모세관 컬럼(260)내에서 거동하고 컬럼의 끝에서 방류된다. 컬럼/라이너 어셈블리에서는 셀의 용적에 비하여 적은 캐리어 가스의 양을 보충하기 위한 보충가스가 함께 공급되어 라이너 어셈블리의 끝단에 있는 캡에서 균일하게 혼합된 후 이온화 챔버(236)로 흐른다. The outlet end of the gas chromatograph column 260 is mounted to the liner 252 and located at the center of the column / liner assembly. The gas to be analyzed behaves in capillary column 260 and discharges at the end of the column. In the column / liner assembly, supplemental gas is supplied together to replenish a small amount of carrier gas relative to the volume of the cell, uniformly mixed in the cap at the end of the liner assembly, and then flows into the ionization chamber 236.

도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 이온화 챔버(236)에서는 시료혼합가스에 포함되어 있는 친전자성 시료가 Ni-63 방사선원(238)이 방출하여 생성된 자유전자를 흡인한다. 이온화 챔버(236)는 측면에 방사선원(238)으로 컵모양의 단면을 가지는데 그렇게 설계되어 위치한 것은 혼합가스로 제공되는 시료분자의 연속적인 전리에 대하여 이온화 챔버(236)에서 위쪽으로 혼합가스가 통과할 수 있도록 보장한다.2 and 3, in the ionization chamber 236, the electrophilic sample included in the sample mixture gas sucks free electrons generated by the Ni-63 radiation source 238. The ionization chamber 236 has a cup-shaped cross section with a radiation source 238 on its side, so designed that the mixed gas passes upwards from the ionization chamber 236 for the continuous ionization of the sample molecules provided as mixed gas. Ensure that you can.

이온화 챔버(236)의 아래 면의 가장자리에는 틈이 있고, 셀 보조가스 주입구(232)로부터 흡입된 셀 보조가스가 이 틈을 통해서 유체흐름을 형성하여 상기 이온화 챔버(236) 내부의 측면의 니켈-63 방사선원(238)의 표면을 타고 흘러가서 배출구(233) 방향으로 흐르게 된다. 또한 전극 보조가스의 유량흐름은 먼저 전극보조가스 주입구(218)로 흡입되어, 도시된 바와 같이 전극(212)의 주변을 타고 흐른 다음에 전극 가이드(213)의 가장자리 표면을 따라 흐름으로써, 상기 셀 보조가스 및 시료혼합가스와 함께 배출구로 배출된다. 전극 보조가스 및 셀 보조가스가 전극 가이드(213)와 니켈-63 방사선원(258)의 표면을 타고 흐르므로 시료 혼합가스가 이들의 표면에 접촉하지 않게 됨으로써 방사선원과 전극의 오염이 크게 저감될 수 있다. There is a gap in the edge of the lower surface of the ionization chamber 236, the cell auxiliary gas sucked from the cell auxiliary gas inlet 232 forms a fluid flow through the gap to form a nickel- 63 flows on the surface of the radiation source 238 and flows toward the outlet 233. In addition, the flow rate of the electrode auxiliary gas is first sucked into the electrode auxiliary gas inlet 218, flows around the electrode 212 as shown, and then flows along the edge surface of the electrode guide 213, thereby allowing the cell to flow. It is discharged to the outlet along with auxiliary gas and sample mixture gas. Since the electrode auxiliary gas and the cell auxiliary gas flow on the surfaces of the electrode guide 213 and the nickel-63 radiation source 258, the contamination of the radiation source and the electrode can be greatly reduced by preventing the sample mixed gas from contacting their surfaces. .

또한 도 3에 도시된 바와 같이, 전극 가이드(213)가 원통형의 니켈-63 방사선원(238)의 상단에 가까운 위치에 있으므로 셀의 유효용적이 작아지는 효과가 있다. In addition, as shown in FIG. 3, since the electrode guide 213 is located near the top of the cylindrical nickel-63 radiation source 238, the effective volume of the cell is reduced.

또한 상기 보조가스들이 각각 전극 가이드(213)의 표면과 방사선원(238)의 표면으로 흐르는 것에 의하여 라이너 어셈블리의 중심에서 방출된 시료혼합가스는 흩어지지 않고 중심에서 전자구름 흡인 영역이 만들게 되는데 이는 더욱 셀의 유효용적이 작아지는 효과를 발휘하므로 전자 흡인효율이 높아진다. In addition, the auxiliary gas flows to the surface of the electrode guide 213 and the surface of the radiation source 238, respectively, so that the sample mixed gas emitted from the center of the liner assembly is not scattered, and an electron cloud suction region is formed at the center. Since the effective volume of is exerted, the electron withdrawing efficiency becomes high.

전자포획 검출기의 구성을 상기와 같이 구성함으로써 유효한 셀의 용적은 100㎕ 로서 종래에 비하여 1/10로 감소됨이 확인되었다. 이는 검출감도 성능이 크게 향상되는 효과를 수반한다. By constructing the electron capture detector as described above, it was confirmed that the volume of the effective cell was reduced to 1/10 as compared with the conventional one as 100 µl. This entails the effect that the detection sensitivity performance is greatly improved.

한편, 본 발명의 보호범위가 이상에서 명시적으로 설명한 실시예에 의해 제한되는 것은 아니다. 또한, 본 발명이 속하는 기술분야에서 자명한 변경이나 치환으로 말미암아 본 발명의 보호범위가 제한될 수도 없음을 첨언한다.
On the other hand, the scope of protection of the present invention is not limited by the embodiments explicitly described above. Further, it should be noted that the protection scope of the present invention may not be limited due to obvious changes or substitutions in the technical field to which the present invention belongs.

Claims (2)

가스 크로마토그래프의 전자포획검출기에 있어서,
상기 전자포획 검출기 내부의 이온화 챔버(236) 상단으로 노출되는 전극(212)을 동심으로 하여 일정한 간격을 갖는 전극 가이드를 구비하고, 상기 이온화 챔버 위쪽에서 챔버 내부로 전극 보조가스를 주입하는 전극 보조가스 주입구 및 상기 이온화 챔버 하단에서 챔버 내부로 셀 보조가스를 주입하는 셀 보조가스 주입구를 구비하며, 상기 전극 가이드의 표면을 따라 상기 전극 보조가스의 유체흐름을 형성하여 상기 이온화 챔버 내부로 흐르도록 하고, 또한 상기 이온화 챔버 하단에 설치된 가장자리 틈을 통해서 상기 셀 보조가스의 유체흐름을 형성하여 상기 이온화 챔버의 측면에 위치한 방사선원의 표면을 따라 상기 이온화 챔버 내부로 흐르도록 함으로써,
라이너(252)를 통해 상기 이온화 챔버 중앙 하단부로 주입되는 시료 혼합가스가 상기 전극 가이드 및 상기 방사선원의 표면에 접촉하지 않도록 하는 내부 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 가스 크로마토그래프의 전자포획검출기.
In the electron trap detector of the gas chromatograph,
An electrode auxiliary gas having an electrode guide having a predetermined interval concentrically with the electrode 212 exposed to an upper end of the ionization chamber 236 inside the electron trap detector, and injecting an electrode auxiliary gas into the chamber from above the ionization chamber An injection port and a cell auxiliary gas injection hole for injecting a cell auxiliary gas into the chamber from the bottom of the ionization chamber, and form a fluid flow of the electrode auxiliary gas along the surface of the electrode guide to flow into the ionization chamber, In addition, by forming a fluid flow of the cell auxiliary gas through the edge gap provided at the bottom of the ionization chamber to flow into the ionization chamber along the surface of the radiation source located on the side of the ionization chamber,
Electron trapping detector of the gas chromatograph, characterized in that the sample structure gas injected into the center of the ionization chamber through the liner (252) does not contact the surface of the electrode guide and the radiation source.
제1항에 있어서,
상기 전극 가이드가 상기 방사선원의 상단에 근접하여 위치함으로써 시료 혼합가스에 포함된 시료가 상기 방사선원에서 방출된 자유전자를 흡인하여 생긴 전자구름 흡인 영역의 용적이 저감되는 것을 특징으로 하는, 가스 크로마토그래프의 전자포획검출기.
The method of claim 1,
Since the electrode guide is located close to the top of the radiation source, the volume of the electron cloud suction region generated by the sample contained in the sample mixture gas sucks free electrons emitted from the radiation source is reduced, the gas chromatograph of the Electronic capture detector.
KR1020110048844A 2011-05-24 2011-05-24 Electron capture detector using auxillary gas KR101285564B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110048844A KR101285564B1 (en) 2011-05-24 2011-05-24 Electron capture detector using auxillary gas

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110048844A KR101285564B1 (en) 2011-05-24 2011-05-24 Electron capture detector using auxillary gas

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20120130838A true KR20120130838A (en) 2012-12-04
KR101285564B1 KR101285564B1 (en) 2013-07-12

Family

ID=47514821

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020110048844A KR101285564B1 (en) 2011-05-24 2011-05-24 Electron capture detector using auxillary gas

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101285564B1 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105229457A (en) * 2013-05-17 2016-01-06 株式会社岛津制作所 Electron capture detector
CN107907621A (en) * 2017-12-28 2018-04-13 浙江福立分析仪器股份有限公司 The automatically cleaning electron capture detector and its application process of a kind of gas chromatograph
CN110554126A (en) * 2019-10-21 2019-12-10 江苏天瑞仪器股份有限公司 electron capture detector and gas phase device

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5739699A (en) * 1996-09-03 1998-04-14 Hewlett-Packard Company Method and apparatus for ion discrimination in an electron capture detector
JP4156602B2 (en) * 2005-02-18 2008-09-24 株式会社日立ハイテクサイエンスシステムズ Non-radiation electron capture detector
JP5093377B2 (en) 2011-03-30 2012-12-12 株式会社島津製作所 Electron capture detector

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105229457A (en) * 2013-05-17 2016-01-06 株式会社岛津制作所 Electron capture detector
CN107907621A (en) * 2017-12-28 2018-04-13 浙江福立分析仪器股份有限公司 The automatically cleaning electron capture detector and its application process of a kind of gas chromatograph
CN110554126A (en) * 2019-10-21 2019-12-10 江苏天瑞仪器股份有限公司 electron capture detector and gas phase device

Also Published As

Publication number Publication date
KR101285564B1 (en) 2013-07-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Poole Ionization-based detectors for gas chromatography
US6639215B2 (en) Ion source and mass spectrometer
US8829913B2 (en) Discharge ionization current detector
US8773138B2 (en) Discharge ionization current detector
US10309928B2 (en) Apparatus and method for ion mobility spectrometry and sample introduction
US8797041B2 (en) Discharge ionization current detector
CN102956433A (en) Mass spectrometer and mass analyzing method
US10161906B2 (en) Dielectric barrier discharge ionization detector and method for tuning the same
US4028617A (en) Ionization detector utilizing electric discharge
KR101285564B1 (en) Electron capture detector using auxillary gas
CN106461608A (en) Chemical calibration process, system and device
US20040178917A1 (en) Capillary-discharge based detector for chemical vapor monitoring
JP5093377B2 (en) Electron capture detector
JP3907796B2 (en) Electron capture type detection device and electron capture type detection method
US4264817A (en) Coaxial electron capture detector with thermionic emission electron source
US10048222B2 (en) Miniaturized helium photoionization detector
US20040189314A1 (en) Helium ionization detector
JP5614379B2 (en) Discharge ionization current detector and gas chromatograph apparatus
US5920072A (en) Ionization detector
Begley et al. Photoemissive ionisation source for ion mobility detectors
RU115072U1 (en) PHOTOIONIZATION DETECTOR FOR GAS ANALYTICAL EQUIPMENT
US3828184A (en) Ionization chamber with a porous anode
JPH04303759A (en) Electron capture detector
JP5946111B2 (en) Detection method and detection apparatus using plasma
JPH10197485A (en) Electron capturing type detector

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160707

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170704

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180705

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190708

Year of fee payment: 7