KR20120065019A - Manufacturing method of an array substrate for liquid crystal display - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: An array substrate manufacturing method for LCD is provided to increase step coverage by supplying etchant composition of a copper metal film and to indicate a low taper profile. CONSTITUTION: A gate line is formed on a substrate. A copper metal film is etched as the etchant composite. A gate insulating layer is formed on the substrate including the gate line. A semiconductor layer is formed on the gate insulating layer. Source and drain electrodes are formed on the semiconductor layer. A photoreaction material selectively remains on the copper metal film.

Description

액정 표시장치용 어레이 기판 제조방법{MANUFACTURING METHOD OF AN ARRAY SUBSTRATE FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY}MANUFACTURING METHOD OF AN ARRAY SUBSTRATE FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY}

본 발명은 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법, 구리계 금속막의 식각액 조성물, 상기 식각액 조성물을 사용하는 구리계 금속막의 식각방법 및 상기 식각액 조성물을 사용하여 제조된 액정표지장치용 어레이 기판에 관한 것이다.The present invention relates to a method of manufacturing an array substrate for a liquid crystal display device, an etching liquid composition of a copper-based metal film, an etching method of a copper-based metal film using the etching liquid composition, and an array substrate for a liquid crystal labeling device manufactured using the etching liquid composition. .

액정표시장치의 제조 중, 기판 위에 금속 배선을 형성하는 과정은 통상적으로 스퍼터링 등에 의한 금속막 형성공정, 포토레지스트 도포, 노광 및 현상에 의한 선택적인 영역에서의 포토레지스트 형성공정, 및 식각공정에 의한 단계로 구성되고, 개별적인 단위 공정 전후의 세정 공정 등을 포함한다. 이러한 식각공정은 포토레지스트를 마스크로 하여 선택적인 영역에 금속막을 남기는 공정을 의미하며, 통상적으로 플라즈마 등을 이용한 건식식각 또는 식각액 조성물을 이용하는 습식식각이 사용된다.During the manufacture of the liquid crystal display, the process of forming the metal wiring on the substrate is usually performed by a metal film forming process by sputtering or the like, a photoresist forming process in a selective region by photoresist coating, exposure and development, and an etching process. It consists of the steps, and the washing process before and after an individual unit process, etc. are included. The etching process refers to a process of leaving a metal film in a selective region using a photoresist as a mask, and typically, a dry etching using a plasma or the like and a wet etching using an etching liquid composition are used.

상기와 같이 제조되는 액정표시장치에서, 최근 금속배선의 저항이 주요한 관심사로 떠오르고 있다. 왜냐하면 TFT-LCD(thin film transistor-liquid crystal display)에 있어서 RC 신호지연 문제를 해결하는 것이 패널크기 증가와 고해상도 실현에 관건이 되는데, 저항이 RC 신호지연을 유발하는 주요한 인자이기 때문이다. 따라서, TFT-LCD의 대형화에 필수적으로 요구되는 RC 신호지연의 감소를 실현하기 위해서는, 저저항의 물질을 개발하는 것이 필수적이다. In the liquid crystal display device manufactured as described above, resistance of metal wiring has recently emerged as a major concern. In the thin film transistor-liquid crystal display (TFT-LCD), solving the RC signal delay problem is a key factor in increasing the panel size and realizing high resolution, since resistance is a major factor causing RC signal delay. Therefore, in order to realize the reduction of RC signal delay, which is essential for the large-sized TFT-LCD, it is essential to develop a material of low resistance.

종래에 주로 사용되었던 크롬(Cr, 비저항: 12.7 ×10-8Ωm), 몰리브덴(Mo, 비저항: 5×10-8Ωm), 알루미늄(Al, 비저항: 2.65 ×10-8Ωm) 및 이들의 합금은 저항이 크기 때문에 대형 TFT LCD에 사용되는 게이트 및 데이터 배선 등으로 이용하기 어렵다. 따라서, 저저항 금속막으로서 구리막 및 구리 몰리브덴막 등의 구리계 금속막과 그에 대한 식각액 조성물이 주목을 받고 있다. Chromium (Cr, resistivity: 12.7 × 10 -8 Ωm), molybdenum (Mo, resistivity: 5 x 10 -8 Ωm), aluminum (Al, resistivity: 2.65 × 10 -8 Ωm) and alloys thereof, which have been mainly used in the past Because of the large silver resistance, it is difficult to use as a gate and data wiring used in a large TFT LCD. Accordingly, attention has been paid to copper-based metal films such as copper films and copper molybdenum films and etching liquid compositions thereof.

그런데, 현재까지 알려진 구리계 식각액 조성물들은 사용자가 요구하는 성능을 충족시키지 못하고 있기 때문에 성능 향상을 위한 연구개발이 요구되고 있다. 특히, 기존의 구리계 식각액 조성물들은 식각시 테이퍼가 60 ~ 70 도 수준이어서, 특정 디바이스에서 스텝 커버리지가 불량하여 소자의 신뢰성이 낮아지는 문제점이 있었다.However, since the copper-based etching liquid compositions known to date do not meet the performance required by the user, research and development for improving performance are required. In particular, the conventional copper-based etchant compositions have a taper level at the time of etching 60 to 70 degrees, there is a problem that the reliability of the device is lowered due to poor step coverage in a particular device.

본 발명은 식각 균일성 및 직선성이 우수한 프로파일이 형성되고, 특정 디바이스에서 후속공정으로 이어지는 스텝 커버리지(Step Coverage)를 향상시키기 위하여 40 ~ 45 도의 낮은 테이퍼 프로파일을 나타내고, 금속막의 잔사가 남지 않는 구리계 금속막의 식각액 조성물을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention provides a copper tape with a low taper profile of 40 to 45 degrees to form a profile having excellent etching uniformity and linearity, to improve step coverage leading to a subsequent process in a specific device, and leaving no residue of the metal film. It is an object to provide an etching solution composition of a metal film.

또한, 본 발명은 게이트 전극과 게이트 배선 및 소스/드레인 전극과 데이터 배선의 일괄 식각이 가능한 구리계 금속막의 식각액 조성물을 제공하는 것을 목적으로 한다.In addition, an object of the present invention is to provide an etching liquid composition of a copper-based metal film capable of collective etching of a gate electrode, a gate wiring, a source / drain electrode, and a data wiring.

또한, 본 발명은 상기 식각액 조성물을 사용하는 구리계 금속막의 식각방법 및 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.In addition, an object of the present invention is to provide an etching method of a copper-based metal film and a method of manufacturing an array substrate for a liquid crystal display device using the etching liquid composition.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 조성물 총중량에 대하여, A)과산화수소(H2O2) 5 내지 25 중량%, B)함불소 화합물 0.01 내지 1.0 중량%, C)아졸계 화합물 0.1 내지 5 중량%, D) 포스폰산 유도체 및 그의 염으로부터 선택되는 1종 이상의 화합물 0.1 내지 10.0 중량%, E)질산염 화합물 0.1 내지 1.0 중량% 및 F)잔량의 물을 포함하는 구리계 금속막의 식각액 조성물을 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention is based on the total weight of the composition, A) 5 to 25% by weight of hydrogen peroxide (H 2 O 2 ), B) 0.01 to 1.0% by weight of fluorine-containing compound, C) 0.1 to 5% by weight of azole compound %, D) 0.1 to 10.0% by weight of at least one compound selected from phosphonic acid derivatives and salts thereof, E) 0.1 to 1.0% by weight of nitrate compounds and F) remaining amount of water. .

또한, 본 발명은 Ⅰ)기판 상에 구리계 금속막을 형성하는 단계; Ⅱ)상기 구리계 금속막 상에 선택적으로 광반응 물질을 남기는 단계; 및 Ⅲ)본 발명의 식각액 조성물을 사용하여 상기 구리계 금속막을 식각하는 단계를 포함하는 구리계 금속막의 식각방법을 제공한다.
In addition, the present invention comprises the steps of (I) forming a copper-based metal film on the substrate; II) selectively leaving a photoreactive material on the copper-based metal film; And iii) etching the copper-based metal film using the etchant composition of the present invention.

또한, 본 발명은 a)기판 상에 게이트 배선을 형성하는 단계; b)상기 게이트 배선을 포함한 기판 상에 게이트 절연층을 형성하는 단계; c)상기 게이트 절연층 상에 반도체층을 형성하는 단계; d)상기 반도체층 상에 소스 및 드레인 전극을 형성하는 단계; 및 e)상기 드레인 전극에 연결된 화소전극을 형성하는 단계를 포함하는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법에 있어서, In addition, the present invention comprises the steps of a) forming a gate wiring on the substrate; b) forming a gate insulating layer on the substrate including the gate wiring; c) forming a semiconductor layer on the gate insulating layer; d) forming source and drain electrodes on the semiconductor layer; And e) forming a pixel electrode connected to the drain electrode.

상기 a)단계는 기판 상에 구리계 금속막을 형성하고, 상기 구리계 금속막을 본 발명의 식각액 조성물로 식각하여 게이트 배선을 형성하는 단계를 포함하고, 상기 d)단계는 반도체층 상에 구리계 금속막을 형성하고 상기 구리계 금속막을 본 발명의 식각액 조성물로 식각하여 소스 및 드레인 전극을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법을 제공한다.Step a) includes forming a copper-based metal film on the substrate, and etching the copper-based metal film with the etchant composition of the present invention to form a gate wiring, wherein step d) is a copper-based metal on the semiconductor layer Forming a film and etching the copper-based metal film with the etchant composition of the present invention to form a source and a drain electrode provides a method of manufacturing an array substrate for a liquid crystal display device.

또한, 본 발명은 본 발명의 식각액 조성물을 사용하여 식각된 게이트 배선 및 소스/드레인 전극 중 하나 이상을 포함하는 액정표시장치용 어레이 기판을 제공한다.In addition, the present invention provides an array substrate for a liquid crystal display device including at least one of a gate wiring and a source / drain electrode etched using the etchant composition of the present invention.

본 발명의 식각액 조성물은 구리계 금속막을 식각할 때, 식각 균일성 및 직선성이 우수하고 낮은 테이퍼 프로파일을 구현하며, 잔사를 발생시키지 않으므로 전기적인 쇼트나 배선의 불량, 휘도의 감소 등의 문제로부터 자유롭다.When etching the copper-based metal film, the etchant composition of the present invention has excellent etching uniformity and linearity, implements a low taper profile, and does not generate residue, thereby preventing electrical shorts, poor wiring, and reduced luminance. free.

또한, 본 발명의 식각액 조성물은 액정표시장치용 어레이 기판을 제조시, 게이트 전극과 게이트 배선 및 소스/드레인과 데이터 배선을 일괄 식각할 수 있어, 식각공정을 단순화시키며 공정수율을 극대화시킨다.In addition, the etchant composition of the present invention can etch the gate electrode, the gate wiring, the source / drain and the data wiring in a batch when manufacturing the array substrate for the liquid crystal display device, thereby simplifying the etching process and maximizing the process yield.

따라서, 본 발명의 식각액 조성물은 대화면, 고휘도의 회로가 구현되는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조시에 매우 유용하게 사용될 수 있다.Therefore, the etchant composition of the present invention can be very useful for manufacturing an array substrate for a liquid crystal display device in which a large screen and a high luminance circuit are implemented.

도 1은 본 발명의 비교예 1의 식각액 조성물을 사용하여 Cu/Mo-Ti 이중막을 식각한 후, 식각 단면을 관찰한 주사전자현미경 사진이고,
도 2는 본 발명의 실시예 2의 식각액 조성물을 사용하여 Cu/Mo-Ti 이중막을 식각한 후, 식각 단면을 관찰한 주사전자현미경 사진이다.
1 is a scanning electron micrograph of the etching cross-section after etching the Cu / Mo-Ti double layer using the etchant composition of Comparative Example 1 of the present invention,
2 is a scanning electron micrograph of the etching cross section after etching the Cu / Mo-Ti double layer using the etchant composition of Example 2 of the present invention.

이하, 본 발명에 대하여 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail.

본 발명은, A)과산화수소(H2O2) 5 내지 25 중량%, B)함불소 화합물 0.01 내지 1.0 중량%, C)아졸계 화합물 0.1 내지 5 중량%, D)포스폰산 유도체 및 그의 염으로부터 선택되는 1종 이상의 화합물 0.1 내지 10.0 중량%, E)질산염 화합물 0.1 내지 1.0 중량% 및 F)잔량의 물을 포함하는 구리계 금속막의 식각액 조성물에 관한 것이다. The present invention provides a composition comprising: A) 5 to 25% by weight of hydrogen peroxide (H 2 O 2 ), B) 0.01 to 1.0% by weight of fluorine-containing compounds, C) 0.1 to 5% by weight of azole compounds, D) phosphonic acid derivatives and salts thereof It relates to an etching liquid composition of a copper-based metal film comprising 0.1 to 10.0% by weight of at least one selected compound, 0.1 to 1.0% by weight of E) nitrate compound and F) remaining water.

본 발명에서 구리계 금속막은 막의 구성성분 중에 구리가 포함되는 것으로서, 단일막 및 이중막 등의 다층막을 포함하는 개념이다. 예컨대, 구리 또는 구리 합금의 단일막, 다층막으로서 구리 몰리브덴막, 구리 몰리브덴 합금막 등이 포함된다. In the present invention, the copper-based metal film includes copper as a constituent of the film, and is a concept including a multilayer film such as a single film and a double film. For example, a copper molybdenum film, a copper molybdenum alloy film, etc. are contained as a single film | membrane of copper or a copper alloy, and a multilayer film.

상기 구리 몰리브덴막은 몰리브덴층과 상기 몰리브덴층 상에 형성된 구리층을 포함하는 것을 의미하며, 상기 구리 몰리브덴 합금막은 몰리브덴 합금층과 상기 몰리브덴 합금층 상에 형성된 구리층을 포함하는 것을 의미한다. The copper molybdenum film means to include a molybdenum layer and a copper layer formed on the molybdenum layer, and the copper molybdenum alloy film means to include a molybdenum alloy layer and a copper layer formed on the molybdenum alloy layer.

또한, 상기 몰리브덴 합금층은 예컨대, 티타늄(Ti), 탄탈륨(Ta), 크롬(Cr), 니켈(Ni), 네오디늄(Nd), 및 인듐(In) 등으로 이루어진 군에서 선택되는 하나 이상과 몰리브덴의 합금을 의미한다.In addition, the molybdenum alloy layer is at least one selected from the group consisting of, for example, titanium (Ti), tantalum (Ta), chromium (Cr), nickel (Ni), neodymium (Nd), indium (In) and the like. It means an alloy of molybdenum.

본 발명의 식각액 조성물에 포함되는 A)과산화수소(H2O2)는 구리계 금속막을 식각하는 주성분이며, 함량은 조성물 총중량에 대하여 5 내지 25 중량%이다. 상기 A)과산화수소의 함량이 5 중량% 미만이면, 구리계 금속의 식각이 되지 않거나 식각속도가 아주 느려지며, 25 중량%를 초과하면 식각속도가 전체적으로 빨라지기 때문에 공정 컨트롤이 어렵다.A) hydrogen peroxide (H 2 O 2 ) included in the etchant composition of the present invention is the main component for etching the copper-based metal film, the content is 5 to 25% by weight relative to the total weight of the composition. When the content of hydrogen peroxide is less than 5% by weight, the copper-based metal is not etched or the etching rate is very slow, and when it exceeds 25% by weight, the process speed is difficult because the etching rate is generally increased.

본 발명의 식각액 조성물에 포함되는 B)함불소 화합물은 물에 해리되어 플루오르 이온을 낼 수 있는 화합물을 의미한다. 상기 B)함불소 화합물은 구리막과 몰리브덴막을 동시에 식각하는 용액에서 필연적으로 발생하는 잔사를 제거하여 주는 역할을 한다. 상기 B)함불소 화합물의 함량은 조성물 총중량에 대하여 0.01 내지 1.0 중량%이다. 상기 B)함불소 화합물의 함량이 0.01 중량% 미만인 경우, 식각 잔사가 발생될 수 있으며, 1.0 중량%를 초과하는 경우에는 유리 기판의 식각률이 크게 증가하는 문제가 있다.B) fluorine-containing compound included in the etchant composition of the present invention means a compound capable of dissociating in water to give fluorine ions. The B) fluorine-containing compound serves to remove residues inevitably generated in a solution for simultaneously etching a copper film and a molybdenum film. The content of the B) fluorine-containing compound is 0.01 to 1.0% by weight based on the total weight of the composition. When the content of the B) fluorine-containing compound is less than 0.01% by weight, an etching residue may occur, and when the content of the fluorine-containing compound is greater than 1.0% by weight, the etching rate of the glass substrate may be greatly increased.

상기 B)함불소 화합물은 이 분야에서 사용되는 물질로서 용액 내에서 플루오르 이온 혹은 다원자 플루오르 이온으로 해리될 수 있는 것이라면 특별히 한정되지 않으나, 불화암모늄(ammonium fluoride: NH4F), 불화나트륨(sodium fluoride: NaF), 불화칼륨(potassium fluoride: KF), 중불화암모늄(ammonium bifluoride: NH4FHF), 중불화나트륨(sodium bifluoride: NaFHF) 및 중불화칼륨(potassium bifluoride: KFHF)으로 이루어진 군으로부터 선택되는 1종 이상인 것이 바람직하다.
The B) fluorine-containing compound is not particularly limited as long as it can be dissociated into fluorine ions or polyatomic fluoride ions in a solution as a material used in this field, and ammonium fluoride (NH 4 F) and sodium fluoride (sodium fluoride) selected from the group consisting of fluoride (NaF), potassium fluoride (KF), ammonium bifluoride (NH 4 FHF), sodium bifluoride (NaFHF), and potassium bifluoride (KFHF) It is preferable that it is 1 or more types.

본 발명의 식각액 조성물에 포함되는 C)아졸계 화합물은 구리계 금속의 식각 속도를 조절하며 패턴의 시디로스(CD Loss)를 줄여주어 공정상의 마진을 높이는 역할을 한다. C) azole compound included in the etchant composition of the present invention controls the etching rate of the copper-based metal and serves to increase the process margin by reducing the CD loss of the pattern.

상기 C)아졸계 화합물의 함량은 조성물 총 중량에 대하여, 0.1 내지 5 중량%이다. 상기 C)아졸계 화합물의 함량이 0.1 중량% 미만인 경우, 식각 속도가 빠르게 되어 시디로스가 너무 크게 발생될 수 있으며, 5 중량%를 초과하는 경우, 구리의 식각속도가 느려지고 몰리브덴 또는 몰리브덴 합금의 식각 속도가 빨라지기 때문에 몰리브덴 또는 몰리브덴 합금이 과식각되어 언더컷이 발생 될 수 있다.The content of the C) azole compound is 0.1 to 5% by weight based on the total weight of the composition. When the content of the C) azole-based compound is less than 0.1% by weight, the etching rate may be increased, so that cisidose is generated too much. When the content of the azole compound is greater than 5% by weight, the etching rate of copper is lowered and the etching of molybdenum or molybdenum alloy is performed. Because of the higher speed, molybdenum or molybdenum alloys may be overetched, resulting in undercuts.

상기 C)아졸계 화합물로는 예컨대, 아미노테트라졸(aminotetrazole), 벤조트리아졸 (benzotriazole), 톨리트리아졸(tolytriazole), 피라졸(pyrazole), 피롤(pyrrole), 이미다졸, 2-메틸이미다졸, 2-에틸이미다졸, 2-프로필이미다졸, 2-아미노이미다졸, 4-메틸이미다졸, 4-에틸이미다졸, 4-프로필이미다졸 등을 들 수 있으며, 이들은 1종 단독으로 또는 2종 이상이 함께 사용될 수 있다.
The C) azole compound is, for example, aminotetrazole, benzotriazole, tolytriazole, pyrazole, pyrrole, imidazole, 2-methyl di Midazole, 2-ethylimidazole, 2-propylimidazole, 2-aminoimidazole, 4-methylimidazole, 4-ethylimidazole, 4-propylimidazole, and the like. One kind alone or two or more kinds may be used together.

본 발명의 식각액 조성물에 포함되는 D)포스폰산 유도체 및 그의 염으로부터 선택되는 1종 이상의 화합물은 구리막을 식각할 때 식각액에 용해되는 구리 이온을 킬레이팅하여 구리이온의 활동도를 억제함으로써 과산화수소의 분해 반응을 억제한다. 이렇게 구리이온의 활동도를 낮추게 되면 식각액을 사용하는 동안 안정적으로 공정을 진행할 수 있다. The at least one compound selected from D) phosphonic acid derivatives and salts thereof included in the etchant composition of the present invention decomposes hydrogen peroxide by chelating copper ions dissolved in the etchant when the copper film is etched to inhibit the activity of the copper ions. Suppress the reaction. When the activity of copper ions is lowered in this way, the process can be stably performed while using the etching solution.

상기 D)포스폰산 유도체 및 그의 염으로부터 선택되는 1종 이상의 화합물의 함량은 조성물 총 중량에 대하여 0.1 내지 10.0 중량%이다. 상기 D)포스폰산 유도체 및 그의 염으로부터 선택되는 1종 이상의 화합물의 함량이 0.1 중량% 미만인 경우, 식각 균일성이 저하되고 과산화수소의 분해가 가속화 되는 문제가 발생하며, 10.0 중량%를 초과하면 식각속도가 너무 빨라지는 문제가 발생한다.The content of at least one compound selected from D) phosphonic acid derivatives and salts thereof is 0.1 to 10.0% by weight, based on the total weight of the composition. When the content of at least one compound selected from the D) phosphonic acid derivatives and salts thereof is less than 0.1% by weight, etching uniformity is lowered and decomposition of hydrogen peroxide is accelerated, and when it exceeds 10.0% by weight, the etching rate is increased. Is too fast.

상기 포스폰산 유도체 및 그의 염으로부터 선택되는 1종 이상의 화합물에 있어서, 포스폰산 유도체의 대표적인 예로는 1-히드록시에틸리덴-1,1-디포스포닉산(HEDP: 1-hydroxyethylidene-1,1-diphosphonic acid)을 들 수 있으며, 포스폰산 유도체 염의 대표적인 예로는 1-히드록시에틸리덴-1,1-디포스포닉산의 나트륨 또는 칼륨염을 들 수 있다.In at least one compound selected from the above phosphonic acid derivatives and salts thereof, representative examples of phosphonic acid derivatives include 1-hydroxyethylidene-1,1-diphosphonic acid (HEDP: 1-hydroxyethylidene-1,1- diphosphonic acid), and representative examples of the phosphonic acid derivative salts include sodium or potassium salts of 1-hydroxyethylidene-1,1-diphosphonic acid.

본 발명의 식각액 조성물에 포함되는 E)질산염 화합물은 식각시 테이퍼를 낮추는 역할을 한다. 특정 디바이스에서 구리막의 테이퍼를 낮춤으로써 스텝 커버리지를 향상시킬 수 있고 이에 따라 소자 구동에 도움을 줄 수 있다.E) nitrate compound included in the etchant composition of the present invention serves to lower the taper during etching. In certain devices, step coverage can be improved by lowering the taper of the copper film, thereby helping drive the device.

상기 E)질산염 화합물의 함량은 조성물 총 중량에 대하여 0.1 내지 1.0 중량%이다. 상기 E) 질산염 화합물의 함량이 0.1 중량% 미만인 경우 테이퍼를 낮추는 능력이 저하되고, 1.0 중량%를 초과하면 Cu 및 Mo-Ti 박막의 식각이 너무 빨라지게 되어 공정컨트롤이 어려워진다.The content of the E) nitrate compound is 0.1 to 1.0% by weight based on the total weight of the composition. When the content of the nitrate compound is less than 0.1% by weight, the ability to lower the taper is lowered, and when the content of the nitrate compound is greater than 1.0% by weight, etching of the Cu and Mo-Ti thin films becomes too fast, making process control difficult.

상기 E)질산염 화합물로는 예컨대, 질산암모늄((NH4)NO3), 질산칼슘(Ca(NO3)2), 질산나트륨(NaNO3), 질산칼륨(KNO3), 질산마그네슘(Mg(NO3)2), 질산알루미늄(Al(NO3)3) 등을 들 수 있으며, 이들은 1종 단독으로 또는 2종 이상이 함께 사용될 수 있다.
Examples of the nitrate compound E include ammonium nitrate ((NH 4 ) NO 3 ), calcium nitrate (Ca (NO 3 ) 2 ), sodium nitrate (NaNO 3 ), potassium nitrate (KNO 3 ), magnesium nitrate (Mg ( NO 3 ) 2 ), aluminum nitrate (Al (NO 3 ) 3 ), and the like, and these may be used alone or in combination of two or more.

본 발명의 식각액 조성물에 포함되는 F)잔량의 물은 특별히 한정되는 것은 아니나, 탈이온수가 바람직하다. 더욱 바람직하게는 물의 비저항 값(즉, 물속에 이온이 제거된 정도)이 18 ㏁/㎝이상인 탈이온수를 사용하는 것이 좋다.
F) residual amount of water contained in the etchant composition of the present invention is not particularly limited, but deionized water is preferred. More preferably, deionized water having a specific resistance value of water (that is, the degree of removal of ions in water) of 18 kW / cm or more is preferably used.

본 발명의 식각액 조성물은 계면활성제를 더 포함할 수 있다. 상기 계면활성제는 표면장력을 저하시켜 식각의 균일성을 증가시키는 역할을 한다. 상기 계면활성제는 본 발명의 식각액 조성물에 견딜 수 있고, 상용성이 있는 것이라면 특별히 한정되지 않으나, 음이온성 계면활성제, 양이온성 계면활성제, 양쪽 이온성 계면활성제, 비이온성 계면활성제 및 다가알코올형 계면활성제로 이루어진 군에서 선택되는 1종 또는 2종 이상인 것이 바람직하다.
The etchant composition of the present invention may further include a surfactant. The surfactant serves to decrease the surface tension to increase the uniformity of the etching. The surfactant is not particularly limited as long as it can withstand the etching liquid composition of the present invention and is compatible, but is not limited to anionic surfactants, cationic surfactants, zwitterionic surfactants, nonionic surfactants, and polyalcohol-type surfactants. It is preferably one or two or more selected from the group consisting of.

또한, 전술한 성분 이외에 통상의 첨가제를 더 첨가할 수 있으며, 첨가제로는 금속 이온 봉쇄제, 및 부식 방지제 등을 들 수 있다.
In addition to the above components, a conventional additive may be further added, and examples of the additive include a metal ion blocking agent, a corrosion inhibitor, and the like.

본 발명에서 사용되는 A)과산화수소(H2O2), B)함불소 화합물, C)아졸계 화합물, D)포스폰산 유도체 및 그의 염으로부터 선택되는 1종 이상의 화합물, E) 질산염 화합물 및 F)잔량의 물을 포함하는 식각액은 통상적으로 공지된 방법에 의해서 제조가 가능하며, 반도체 공정용의 순도를 가지는 것이 바람직하다.
At least one compound selected from A) hydrogen peroxide (H 2 O 2 ), B) fluorine-containing compounds, C) azole compounds, D) phosphonic acid derivatives and salts thereof, E) nitrate compounds and F) An etchant containing the residual amount of water can be prepared by a conventionally known method, and preferably has a purity for a semiconductor process.

본 발명의 식각액 조성물은 구리계 금속으로 이루어진 액정표시장치의 게이트 전극과 게이트 배선 및 소스/드레인 전극과 데이터 배선을 일괄 식각할 수 있다.
The etchant composition of the present invention may collectively etch the gate electrode, the gate wiring, the source / drain electrode, and the data wiring of the liquid crystal display device made of a copper-based metal.

또한, 본 발명은,Further, according to the present invention,

Ⅰ)기판 상에 구리계 금속막을 형성하는 단계;I) forming a copper-based metal film on the substrate;

Ⅱ)상기 구리계 금속막 상에 선택적으로 광반응 물질을 남기는 단계; 및II) selectively leaving a photoreactive material on the copper-based metal film; And

Ⅲ)본 발명의 식각액 조성물을 사용하여 상기 구리계 금속막을 식각하는 단계를 포함하는 구리계 금속막의 식각방법에 관한 것이다.III) an etching method of a copper-based metal film comprising etching the copper-based metal film using the etchant composition of the present invention.

본 발명의 식각방법에서, 상기 광반응 물질은 통상적인 포토레지스트 물질인 것이 바람직하며, 통상적인 노광 및 현상 공정에 의해 선택적으로 남겨질 수 있다.
In the etching method of the present invention, the photoreactive material is preferably a conventional photoresist material, and may be selectively left by conventional exposure and development processes.

또한, 본 발명은, Further, according to the present invention,

a)기판 상에 게이트 배선을 형성하는 단계; a) forming a gate wiring on the substrate;

b)상기 게이트 배선을 포함한 기판 상에 게이트 절연층을 형성하는 단계; b) forming a gate insulating layer on the substrate including the gate wiring;

c)상기 게이트 절연층 상에 반도체층을 형성하는 단계; c) forming a semiconductor layer on the gate insulating layer;

d)상기 반도체층 상에 소스 및 드레인 전극을 형성하는 단계; 및 d) forming source and drain electrodes on the semiconductor layer; And

e)상기 드레인 전극에 연결된 화소전극을 형성하는 단계를 포함하는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법에 있어서, e) a method of manufacturing an array substrate for a liquid crystal display device comprising forming a pixel electrode connected to the drain electrode;

상기 a)단계는 기판 상에 구리계 금속막을 형성하고 상기 구리계 금속막을 본 발명의 식각액 조성물로 식각하여 게이트 배선을 형성하는 단계를 포함하며, Step a) includes forming a copper-based metal film on the substrate and etching the copper-based metal film with the etchant composition of the present invention to form a gate wiring,

상기 d)단계는 반도체층 상에 구리계 금속막을 형성하고 상기 구리계 금속막을 본 발명의 식각액 조성물로 식각하여 소스 및 드레인 전극을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법에 관한 것이다.The step d) includes forming a copper-based metal film on the semiconductor layer and etching the copper-based metal film with the etchant composition of the present invention to form source and drain electrodes. It relates to a manufacturing method.

상기 액정표시장치용 어레이 기판은 박막트랜지스터(TFT) 어레이 기판일 수 있다. The array substrate for a liquid crystal display device may be a thin film transistor (TFT) array substrate.

이하에서는 실시예 및 비교예를 통하여 본 발명을 더욱 상세하게 설명한다. 단, 실시예는 본 발명을 예시하기 위한 것으로, 본 발명이 이에만 한정되는 것은 아니다.
Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to Examples and Comparative Examples. However, the Examples are provided to illustrate the present invention, but the present invention is not limited thereto.

실험예Experimental Example : 구리계 Copper 금속막의Metal film 식각액Etchant 조성물의 제조  Preparation of the composition

하기 표 1에 나타낸 조성에 따라 실시예 1 내지 4, 및 비교예 1, 2의 식각액 조성물을 제조하였다.
The etching liquid compositions of Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 and 2 were prepared according to the compositions shown in Table 1 below.

  H2O2 H 2 O 2 불화암모늄Ammonium Fluoride 아미노테트라졸Aminotetrazole HEDPHEDP 질산염nitrate 탈이온수Deionized water 실시예1Example 1 1010 0.050.05 0.50.5 0.50.5 0.50.5 잔량Balance 실시예2Example 2 1515 0.10.1 0.60.6 1.01.0 1.01.0 잔량Balance 실시예3Example 3 55 0.40.4 1.01.0 5.05.0 0.50.5 잔량Balance 실시예4Example 4 2525 0.80.8 4.04.0 9.09.0 1.01.0 잔량Balance 비교예1Comparative Example 1 1010 0.050.05 0.50.5 0.50.5 -- 잔량Balance 비교예2Comparative Example 2 1515 0.10.1 0.60.6 1.01.0 -- 잔량Balance

*HEDP: 1-히드록시에틸리덴-1,1-디포스포닉산
* HEDP: 1-hydroxyethylidene-1,1-diphosphonic acid

시험예Test Example : : 식각액Etchant 조성물의 특성평가 Characterization of the Composition

실시예 1 내지 4, 및 비교예 1, 2의 식각액 조성물을 이용하여 구리계 금속막(Cu 단일막 및 Cu/Mo-Ti 이중막)의 식각공정을 수행하였다. 식각공정 시 식각액 조성물의 온도는 약 30 ℃ 내외로 하였으나, 적정온도는 다른 공정조건과 기타 요인에 의해 필요에 따라 변경될 수 있다. 식각 시간은 식각 온도에 따라서 다를 수 있으나, 통상 30 내지 180초 정도로 진행한다. 상기 식각공정에서 식각된 구리계 금속막의 프로파일을 단면 SEM (Hitachi사 제품, 모델명 S-4700)을 사용하여 검사하였고, 결과를 하기 표 2에 기재하였다.An etching process of the copper-based metal film (Cu single layer and Cu / Mo-Ti double layer) was performed using the etching solution compositions of Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 and 2. During the etching process, the temperature of the etchant composition is about 30 ° C., but the proper temperature may be changed as necessary by other process conditions and other factors. The etching time may vary depending on the etching temperature, but usually proceeds about 30 to 180 seconds. The profile of the copper-based metal film etched in the etching process was examined using a cross-sectional SEM (Model S-4700, manufactured by Hitachi), and the results are shown in Table 2 below.

 
 
 
 
 
 
식각속도(Å/sec)Etching Speed (Å / sec) Taper Angle( ˚)Taper Angle (˚)
Cu 단일막Cu monolayer Cu/Mo-Ti 이중막Cu / Mo-Ti Double Layer Cu 단일막Cu monolayer Cu/Mo-Ti
이중막
Cu / Mo-Ti
Double membrane
CuCu Mo-TiMo-Ti 실시예1Example 1 50~7050-70 50~7050-70 6~96-9 4343 4242 실시예2Example 2 70~10070-100 70~10070-100 7~107-10 4242 4040 실시예3Example 3 40~6040-60 40~6040-60 6~86 ~ 8 4242 4040 실시예4Example 4 70~9070-90 70~9070-90 8~118 ~ 11 4141 4242 비교예1Comparative Example 1 40~6040-60 40~6040-60 4~74 ~ 7 6767 6262 비교예2Comparative Example 2 60~9060-90 60~9060-90 5~85 ~ 8 6363 6161

상기 표 2의 결과로부터, 실시예 1 내지 4, 및 비교예 1, 2의 식각속도는 적당한 것으로 확인되었다. 또한, 도 1 및 2에서 확인할 수 있는 바와 같이, 비교예 1에 따른 식각액 조성물로 식각한 구리계 금속막의 경우 테이퍼가 약 62 ~ 67도이었지만, 실시예 2에 따른 식각액 조성물로 구리막계 금속막을 식각한 경우 테이퍼가 약 40 ~ 42도 수준으로 약 25도 이상 낮아짐을 확인할 수 있었다.From the results of Table 2, the etching rates of Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 and 2 were found to be appropriate. In addition, as can be seen in FIGS. 1 and 2, in the case of the copper-based metal film etched with the etchant composition according to Comparative Example 1, the taper was about 62 to 67 degrees, but the copper film-based metal film was etched with the etchant composition according to Example 2 In one case, the taper was about 40 to 42 degrees lower than about 25 degrees.

Claims (10)

a)기판 상에 게이트 배선을 형성하는 단계;
b)상기 게이트 배선을 포함한 기판 상에 게이트 절연층을 형성하는 단계;
c)상기 게이트 절연층 상에 반도체층을 형성하는 단계;
d)상기 반도체층 상에 소스 및 드레인 전극을 형성하는 단계; 및
e)상기 드레인 전극에 연결된 화소전극을 형성하는 단계를 포함하는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법에 있어서,
상기 a)단계는 기판 상에 구리계 금속막을 형성하고 상기 구리계 금속막을 식각액 조성물로 식각하여 게이트 배선을 형성하는 단계를 포함하고,
상기 d)단계는 반도체층 상에 구리계 금속막을 형성하고 상기 구리계 금속막을 식각액 조성물로 식각하여 소스 및 드레인 전극을 형성하는 단계를 포함하며,
상기 식각액 조성물은, 조성물 총 중량에 대하여 A)과산화수소(H2O2) 5 내지 25 중량%, B)함불소 화합물 0.01 내지 1.0 중량%, C)아졸계 화합물 0.1 내지 5 중량%, D)포스폰산 유도체 및 그의 염으로부터 선택되는 1종 이상의 화합물 0.1 내지 10.0 중량%, E)질산염 화합물 0.1 내지 1.0 중량% 및 F)잔량의 물을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법.
a) forming a gate wiring on the substrate;
b) forming a gate insulating layer on the substrate including the gate wiring;
c) forming a semiconductor layer on the gate insulating layer;
d) forming source and drain electrodes on the semiconductor layer; And
e) a method of manufacturing an array substrate for a liquid crystal display device comprising forming a pixel electrode connected to the drain electrode;
The step a) includes forming a copper-based metal film on the substrate and etching the copper-based metal film with an etchant composition to form a gate wiring;
Step d) includes forming a copper-based metal film on the semiconductor layer and etching the copper-based metal film with an etchant composition to form source and drain electrodes.
The etching liquid composition, A) 5 to 25% by weight of hydrogen peroxide (H 2 O 2 ), B) 0.01 to 1.0% by weight of fluorine-containing compound, C) 0.1 to 5% by weight of azole compound, D) Force A method for producing an array substrate for a liquid crystal display device, comprising 0.1 to 10.0% by weight of at least one compound selected from phononic acid derivatives and salts thereof, 0.1 to 1.0% by weight of E) nitrate compounds and F) residual water.
청구항 1에 있어서, 상기 액정표시장치용 어레이 기판은 박막트랜지스터(TFT) 어레이 기판인 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법. The method of claim 1, wherein the array substrate for a liquid crystal display device is a thin film transistor (TFT) array substrate. 조성물 총 중량에 대하여,
A)과산화수소(H2O2) 5 내지 25 중량%;
B)함불소 화합물 0.01 내지 1.0 중량%;
C)아졸계 화합물 0.1 내지 5 중량%;
D)포스폰산 유도체 및 그의 염으로부터 선택되는 1종 이상의 화합물 0.1 내지 10.0 중량%;
E)질산염 화합물 0.1 내지 1.0 중량% 및
F)잔량의 물을 포함하는 것을 특징으로 하는 구리계 금속막의 식각액 조성물.
Regarding the total weight of the composition,
A) 5 to 25 weight percent hydrogen peroxide (H 2 O 2 );
B) 0.01 to 1.0 wt% fluorine-containing compound;
C) 0.1 to 5% by weight of an azole compound;
D) 0.1 to 10.0% by weight of at least one compound selected from phosphonic acid derivatives and salts thereof;
E) 0.1 to 1.0% by weight of nitrate compound and
F) An etchant composition of a copper metal film comprising a residual amount of water.
청구항 3에 있어서, 상기 B)함불소 화합물은 NH4FHF, KFHF, NaFHF, NH4F, KF 및 NaF으로 이루어진 군으로부터 선택되는 1종 이상의 것임을 특징으로 하는 구리계 금속막의 식각액 조성물.The etchant composition according to claim 3, wherein the B) fluorine-containing compound is at least one selected from the group consisting of NH 4 FHF, KFHF, NaFHF, NH 4 F, KF, and NaF. 청구항 3에 있어서, 상기 C)아졸계 화합물은 아미노테트라졸(aminotetrazole), 벤조트리아졸 (benzotriazole), 톨리트리아졸 (tolytriazole), 피라졸(pyrazole), 피롤(pyrrole), 이미다졸, 2-메틸이미다졸, 2-에틸이미다졸, 2-프로필이미다졸, 2-아미노이미다졸, 4-메틸이미다졸, 4-에틸이미다졸 및 4-프로필이미다졸로 이루어진 군으로부터 선택되는 1종 이상의 것임을 특징으로 하는 구리계 금속막의 식각액 조성물.The method according to claim 3, wherein the C) azole compound is aminotetrazole, benzotriazole, tolytriazole, pyrazole, pyrrole, imidazole, 2- Methylimidazole, 2-ethylimidazole, 2-propylimidazole, 2-aminoimidazole, 4-methylimidazole, 4-ethylimidazole and 4-propylimidazole. Etching liquid composition of a copper-based metal film, characterized in that at least one. 청구항 3에 있어서, 상기 D)포스폰산 유도체 및 그의 염으로부터 선택되는 1종 이상의 화합물은 1-히드록시에틸리덴-1,1-디포스포닉산, 1-히드록시에틸리덴-1,1-디포스포닉산의 나트륨염 및 1-히드록시에틸리덴-1,1-디포스포닉산의 칼륨염으로 이루어진 군으로부터 선택되는 1종 이상의 것임을 특징으로 하는 구리계 금속막의 식각액 조성물. The method of claim 3, wherein the D) at least one compound selected from phosphonic acid derivatives and salts thereof is 1-hydroxyethylidene-1,1-diphosphonic acid, 1-hydroxyethylidene-1,1- Etching liquid composition of a copper-based metal film, characterized in that at least one selected from the group consisting of sodium salt of diphosphonic acid and potassium salt of 1-hydroxyethylidene-1,1-diphosphonic acid. 청구항 3에 있어서, 상기 E)질산염 화합물은 질산암모늄((NH4)NO3), 질산칼슘(Ca(NO3)2), 질산나트륨(NaNO3), 질산칼륨(KNO3), 질산마그네슘(Mg(NO3)2) 및 질산알루미늄(Al(NO3)3)으로 이루어진 군으로부터 선택되는 1종 이상의 것임을 특징으로 하는 구리계 금속막의 식각액 조성물.The method of claim 3, wherein the E) nitrate compound is ammonium nitrate ((NH 4 ) NO 3 ), calcium nitrate (Ca (NO 3 ) 2 ), sodium nitrate (NaNO 3 ), potassium nitrate (KNO 3 ), magnesium nitrate ( Mg (NO 3 ) 2 ) and aluminum nitrate (Al (NO 3 ) 3 ) The etching liquid composition of the copper-based metal film, characterized in that at least one member selected from the group consisting of. 청구항 3에 있어서, 상기 구리계 금속막은 구리 또는 구리 합금의 단일막, 몰리브덴층과 상기 몰리브덴층 상에 형성된 구리층을 포함하는 구리 몰리브덴막, 또는 몰리브덴 합금층과 상기 몰리브덴 합금층 상에 형성된 구리층을 포함하는 구리 몰리브덴 합금막인 것을 특징으로 하는 구리계 금속막의 식각액 조성물.The method of claim 3, wherein the copper-based metal film is a copper molybdenum film or a molybdenum alloy layer and a copper layer formed on the molybdenum alloy layer including a single film of copper or a copper alloy, a molybdenum layer and a copper layer formed on the molybdenum layer It is a copper molybdenum alloy film containing an etching liquid composition of the copper-based metal film. Ⅰ)기판 상에 구리계 금속막을 형성하는 단계;
Ⅱ)상기 구리계 금속막 상에 선택적으로 광반응 물질을 남기는 단계; 및
Ⅲ)청구항 3의 식각액 조성물을 사용하여 상기 구리계 금속막을 식각하는 단계를 포함하는 구리계 금속막의 식각방법.
I) forming a copper-based metal film on the substrate;
II) selectively leaving a photoreactive material on the copper-based metal film; And
(III) etching the copper-based metal film using the etching solution composition of claim 3.
청구항 3의 식각액 조성물을 사용하여 식각된 게이트 전극, 게이트 배선, 소스 및 드레인 전극, 및 데이터 배선 중 하나 이상을 포함하는 액정표시장치용 어레이 기판.An array substrate for a liquid crystal display device comprising at least one of a gate electrode, a gate wiring, a source and a drain electrode, and a data wiring etched using the etchant composition of claim 3.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20150114655A (en) * 2014-04-02 2015-10-13 동우 화인켐 주식회사 Manufacturing method of an array substrate for liquid crystal display
KR20150114652A (en) * 2014-04-02 2015-10-13 동우 화인켐 주식회사 Manufacturing method of an array substrate for liquid crystal display
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