KR20110083196A - Inspection apparatus of touch panel - Google Patents

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KR20110083196A
KR20110083196A KR1020100003297A KR20100003297A KR20110083196A KR 20110083196 A KR20110083196 A KR 20110083196A KR 1020100003297 A KR1020100003297 A KR 1020100003297A KR 20100003297 A KR20100003297 A KR 20100003297A KR 20110083196 A KR20110083196 A KR 20110083196A
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Abstract

PURPOSE: An inspection apparatus of a touch panel including a grid shape is provided to perform a shortage or a disconnection test by using a contact type probe. CONSTITUTION: A contact type probe(40) scans by being attached to an interface terminal part. A plurality of capacitance type contactless probes are arranged at the end tip of a pattern electrode. A controller(60) applies AC signal to a contact type probe by controlling the scan of the contact type probe. An interface terminal part(30) is connected to a pattern electrode formed on a touch part. A wire portion(20) interlinks the pattern electrode to the interface terminal part.

Description

터치패널의 검사장치{INSPECTION APPARATUS OF TOUCH PANEL}Inspection device of touch panel {INSPECTION APPARATUS OF TOUCH PANEL}

본 발명은 터치패널의 검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 다수개의 전극패턴이 절연된 서로 다른 층에 각각 가로방향과 세로방향으로 배치된 격자 모양의 터치부를 갖는 터치패널의 단선 및 단락을 다수의 정전 용량형 비접촉 프로브와 인터페이스 단자부를 스캔하는 접촉식 프로브를 이용하여 한 번의 스캔으로 단선 및 단락을 한 번에 검사하는 터치 패널의 검사장치에 관한 것이다.
The present invention relates to an inspection apparatus for a touch panel, and more particularly, a plurality of disconnections and short circuits of a touch panel having a lattice-shaped touch unit arranged in a horizontal direction and a vertical direction on different layers in which a plurality of electrode patterns are insulated. The present invention relates to an inspection apparatus for a touch panel that inspects disconnection and short circuit at one time by using a capacitive non-contact probe and a contact probe that scans an interface terminal unit.

일반적으로, 개인용 컴퓨터, 휴대용 전송 장치 등 개인용 정보처리장치 등은 키보드(keyboard), 마우스(mouse), 디지타이저(digitizer) 등 다양한 입력장치(Input device)를 이용하여 문자(text) 및 그래픽(Graphic) 처리 등을 수행한다.In general, personal information processing devices such as personal computers, portable transmission devices, and the like use text, graphics, and the like by using various input devices such as a keyboard, a mouse, and a digitizer. Processing and so on.

또한, 각종 전자기기를 효율적으로 사용하기 위하여, 리모콘이나 상술한 입력 장치를 사용하지 않고 표시장치의 표시면에서 신호를 입력하기 위한 터치패널이 널리 사용되고 있다. 즉, 전자수첩과, 액정표시장치(LCD, Liquid Crystal Display Device), PDP(Plasma Display Panel), EL(Electroluminescence) 등의 평판 디스플레이 장치 및 CRT(Cathode Ray Tube) 등과 같은 화상 표시장치의 표시면에 설치되어 사용자가 화상 표시장치를 보면서 원하는 정보를 선택하도록 하는데 이용되고 있다.In addition, in order to efficiently use various electronic devices, a touch panel for inputting a signal on the display surface of the display device without using a remote controller or the above-described input device is widely used. That is, the display surface of an electronic organizer, a flat panel display device such as a liquid crystal display device (LCD), a plasma display panel (PDP), an electroluminescence (EL), and an image display device such as a cathode ray tube (CRT) It is installed so that the user can select desired information while viewing the image display device.

이와 같은 터치패널은 터치를 감지하는 방법에 따라 저항막 방식(resistive type), 정전 용량 방식(capacitive type), 전자 유도 방식(EM) 등으로 구분할 수 있다.Such a touch panel may be classified into a resistive type, a capacitive type, and an electromagnetic induction method according to a method of sensing a touch.

각각의 방식에 따라 신호 증폭의 문제, 해상도 차이, 설계 및 가공 기술의 난이도 차이 등이 다르게 나타나는 특징을 갖고 있기 때문에 장점을 잘 살릴 수 있는 방식을 선택한다. 선택 기준은 광학적 특성, 전기적 특성, 기계적 특성, 내환경 특성 및 입력 특성뿐만 아니라, 내구성 및 경제성도 고려되어야 한다.Each method has different characteristics such as signal amplification problem, resolution difference, and difficulty in design and processing technology. Therefore, select a method that can take advantage of the advantages. Selection criteria should consider not only optical, electrical, mechanical, environmental and input characteristics, but also durability and economics.

그 중, 저항막 방식의 터치패널의 기본 구조는 서로 마주보는 면에 상부 전극이 형성된 상부 투명 기판과, 하부 전극이 형성된 하부 투명 기판이 스페이서(spacer)에 의해 일정 공간을 갖고 합착되어 있다. 따라서, 상부 기판의 표면에 펜 또는 손가락 같은 소정의 입력 수단으로 어느 한 지점을 접촉하게 되면, 상부 기판에 형성된 상부 전극과 하부 기판에 형성된 하부 전극이 상호 통전됨에 따라 그 위치의 저항값에 의하여 출력 전압이 변화되고, 변화된 전압 값을 읽어 들인 후 제어 장치에서 전위차의 변화에 따라 위치 좌표를 찾게 되는 방식이다. In the basic structure of the resistive touch panel, an upper transparent substrate having an upper electrode formed on a surface facing each other and a lower transparent substrate having a lower electrode formed thereon are bonded to each other by a spacer. Therefore, when any point is brought into contact with the surface of the upper substrate with a predetermined input means such as a pen or a finger, the upper electrode formed on the upper substrate and the lower electrode formed on the lower substrate are energized with each other, and then outputted by the resistance value at the position. After changing the voltage and reading the changed voltage value, the control device finds the position coordinate according to the change of the potential difference.

또한, 정전용량 방식의 터치패널의 기본 구조는 하나의 기판에 구동전극과 감지전극의 교차점에 대응되는 매트릭스타입의 터치키 어레이로 구비되어 구동신호가 구동전극에 인가되면 구동신호의 감지전극과의 용량성 커플링(capacitive coupling) 정도는 구동신호에서의 변화에 응답하여 감지전극에 전달된 변화량을 측정함으로써 결정되기 때문에 주어진 키에서 전극들 간의 용량성 커플링 정도는 키 부근에 물체들이 있는지에 따라 결정된다. 따라서, 손가락 또는 도전성 펜이 터치치 어레이에 접촉되면 이들 물체들이 전극들 간에 전기장 패턴을 변경시키기 때문에 이들 위치 좌표를 찾게 되는 방식이다.
In addition, the basic structure of the capacitive touch panel includes a matrix type touch key array corresponding to the intersection of the driving electrode and the sensing electrode on one substrate, and when the driving signal is applied to the driving electrode, Since the degree of capacitive coupling is determined by measuring the amount of change delivered to the sensing electrode in response to a change in the drive signal, the degree of capacitive coupling between the electrodes at a given key depends on whether there are objects near the key. Is determined. Therefore, when the finger or the conductive pen contacts the touch array, the object coordinates are found because these objects change the electric field pattern between the electrodes.

위에서 설명한 기술은 본 발명이 속하는 기술분야의 배경기술을 의미하며, 종래기술을 의미하는 것은 아니다.
The technology described above refers to the background of the technical field to which the present invention belongs, and does not mean the prior art.

이러한 터치패널이 사용자가 선택한 지시 내용의 위치를 정확하게 검출하는지를 판단하기 위해 전극패턴의 전기적인 특성을 측정할 필요가 있다. In order to determine whether the touch panel accurately detects the position of the instruction content selected by the user, it is necessary to measure electrical characteristics of the electrode pattern.

일반적으로 터치패널의 전기적인 특성을 검사하기 위해서는 패드부에 필 프로브를 통해 교류신호를 인가한 후 터치부의 전극패턴 끝단에서 비접촉 센서를 스캔하면서 전기적 변화를 센싱하여 전극패턴의 단선과 단락을 검사한다. In general, in order to check the electrical characteristics of the touch panel, an AC signal is applied to the pad part through a peel probe, and then the electrical contact is sensed by scanning a non-contact sensor at the electrode pattern end of the touch part to check for disconnection and short circuit of the electrode pattern. .

그러나 위와 같이 터치패널을 검사하기 위해 핀 프로브를 통해 터치패널의 패드부와 접촉하여 측정할 경우 다음과 같은 문제점이 있다. However, when measuring the contact with the pad portion of the touch panel through the pin probe to check the touch panel as described above has the following problems.

첫째, 핀 프로브는 반복적인 접촉 작업에 의해 핀 프로브의 접촉다리가 변형을 일으켜 접촉 불량이 발생하는 문제점이 있다. First, the pin probe has a problem in that contact failure of the pin probe causes deformation due to repetitive contact operation.

둘째, 터치패널의 해상도가 높아지거나 크기가 커짐에 따라 배선수가 많아질 뿐만 아니라 전극이 협소해져 고해상력의 협소한 전극의 접촉면에 대응하도록 핀 프로브의 직경을 현재보다 아주 작은 것을 사용할 경우 핀 프로브의 강성문제로 굽힘 모멘트에 취약하여 와이어에 굽힘 변형이 생겨 전극의 접촉면에 접촉 불량이 발생하는 문제점이 있다. Second, as the resolution and size of the touch panel increase, not only the number of wires increases but also the electrodes become narrower, so that the diameter of the pin probe is smaller than that of the present so as to correspond to the contact surface of the narrow electrode of high resolution. Due to the stiffness problem, there is a problem in that contact failure occurs on the contact surface of the electrode due to the deformation of the wire due to the weak bending moment.

셋째, 핀 프로브와 터치패널의 인터페이스 단자와의 가압접촉시 고가이면서도 내구성이 없는 핀 프로브가 가압 접촉시 쉽게 손상될 뿐만 아니라 교체에 따른 많은 비용이 소요되는 문제점이 있다. Third, there is a problem in that a pin probe that is expensive and not durable at the time of pressure contact between the pin probe and the interface terminal of the touch panel is not only easily damaged during pressure contact but also requires a large cost due to replacement.

넷째, 핀 프로브를 터치패널의 인터페이스 단자에 가압 접촉시켜야 하기 때문에 접촉에 따른 스크래치(scratch)로 인하여 패턴전극의 손상으로 인한 또 다른 불량요인이 발생되는 문제점이 있다.Fourth, because the pin probe must be in pressure contact with the interface terminal of the touch panel, there is a problem that another defective factor is generated due to damage of the pattern electrode due to scratches due to contact.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 개선하기 위해 창작된 것으로서, 본 발명은 다수개의 전극패턴이 절연된 서로 다른 층에 각각 가로방향과 세로방향으로 배치된 격자 모양의 터치부를 갖는 터치패널의 단선 및 단락을 다수의 정전 용량형 비접촉 프로브와 인터페이스 단자부를 스캔하는 접촉식 프로브를 이용하여 한 번의 스캔으로 단선 및 단락을 한 번에 검사하는 터치 패널의 검사장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
The present invention has been made to solve the above problems, the present invention is a disconnection and short circuit of the touch panel having a grid-like touch unit disposed in a horizontal direction and a vertical direction, respectively, on different layers in which a plurality of electrode patterns are insulated It is an object of the present invention to provide an inspection apparatus for a touch panel that inspects disconnections and short circuits in one scan by using a plurality of capacitive non-contact probes and a contact probe scanning interface terminals.

상기와 같은 목적을 실현하기 위한 본 발명의 일 측면에 따른 터치패널의 검사장치는 터치가 이루어지는 터치부에 형성된 패턴전극과 인터페이스하기 위해 각각 연결되는 인터페이스 단자부와 터치부의 패턴전극을 인터페이스 단자부에 연결하기 위한 배선부를 포함하는 터치패널의 전기적인 특성을 검사하기 위한 터치패널의 검사장치에 있어서; 인터페이스 단자부에 접촉되어 스캔되는 접촉식 프로브; 터치부의 외측으로 패턴전극의 끝단부에 비접촉으로 배치되는 다수의 정전 용량형 비접촉 프로브; 및 접촉식 프로브의 스캔을 제어하여 접촉식 프로브로 교류신호를 인가하면서 다수의 정전 용량형 비접촉 프로브를 통해 측정된 적어도 어느 하나 이상의 전압값을 입력받아 접촉식 프로브에 접촉된 패턴전극이나 배선부의 단선 및 단락을 판단하는 제어부;를 포함하는 것을 특징으로 한다. According to an aspect of the present invention, an apparatus for inspecting a touch panel may include: connecting an interface terminal unit and a touch electrode pattern electrode connected to an interface terminal unit to interface with a pattern electrode formed on a touch unit where a touch is made; An apparatus for inspecting a touch panel for inspecting electrical characteristics of a touch panel including a wiring unit; A contact probe scanned in contact with the interface terminal unit; A plurality of capacitive non-contact probes disposed in contact with the end of the pattern electrode to the outside of the touch unit; And controlling the scan of the contact probe to apply an AC signal to the contact probe while receiving at least one voltage value measured through a plurality of capacitive non-contact probes, and disconnection of the pattern electrode or the wiring part contacted with the contact probe. And a control unit for determining a short circuit.

본 발명에서 접촉식 프로브는 디스크 휠 프로브, 볼 프로브, 유연한 와이어 프로브 중 어느 하나인 것을 특징으로 한다. In the present invention, the touch probe may be any one of a disk wheel probe, a ball probe, and a flexible wire probe.

본 발명에서 정전 용량형 비접촉 프로브는 패턴전극의 끝단에서 끝단을 따라 모든 패턴전극에 대응되는 것을 특징으로 한다. In the present invention, the capacitive non-contact probe is characterized in that it corresponds to all the pattern electrode from the end of the pattern electrode to the end.

본 발명에서 정전 용량형 비접촉 프로브는 패턴전극의 끝단에서 끝단의 패턴전극에 각각 대응되는 것을 특징으로 한다. In the present invention, the capacitive non-contact probe is characterized in that corresponding to the pattern electrode of the end from the end of the pattern electrode, respectively.

본 발명에서 정전 용량형 비접촉 프로브는 터치부에서 배선부가 접속된 반대측의 가로방향과 세로방향에 각각 배치되는 것을 특징으로 한다. In the present invention, the capacitive non-contact probe is characterized in that the touch portion is disposed in the transverse direction and the longitudinal direction on the opposite side to which the wiring unit is connected.

본 발명에서 정전 용량형 비접촉 프로브는 터치부에서 배선부가 접촉된 측의 가로방향이나 세로방향에 더 배치되는 것을 특징으로 한다. In the present invention, the capacitive non-contact probe is characterized in that it is further disposed in the transverse direction or longitudinal direction of the side in which the wiring portion in the touch portion.

본 발명에서 제어부는 접촉식 프로브가 접촉된 해당 방향의 정전 용량형 비접촉 프로브에서 측정된 전압이 정상값보다 낮게 측정될 경우 해당 방향의 패턴전극이 단선된 것으로 판단하고 높게 측정될 경우 해당 방향의 패턴전극간 단락으로 판단하며, 동시에 다른 방향의 정전 용량형 비접촉 프로브에서 측정된 전압이 정상값보다 높게 측정될 경우 다른 방향의 패턴전극간 교차 단락된 것으로 판단하는 것을 특징으로 한다. In the present invention, the control unit determines that the pattern electrode in the corresponding direction is disconnected when the voltage measured by the capacitive non-contact probe in the corresponding direction in which the contact probe is in contact is lower than the normal value, and the pattern in the corresponding direction is measured in the high direction. When the voltage measured by the capacitive non-contact probe in the other direction is measured higher than the normal value, it is determined that the inter-electrode is short-circuited.

본 발명에서 제어부는 접촉식 프로브가 접촉된 해당 방향의 정전 용량형 비접촉 프로브 모두에서 측정된 전압이 정상값보다 낮게 측정될 경우 배선부에서 단선된 것으로 판단하는 것을 특징으로 한다.
In the present invention, the control unit is characterized in that it is determined that the disconnection in the wiring unit when the voltage measured in all of the capacitive non-contact probe in the corresponding direction in which the contact probe is in contact.

또한, 본 발명의 다른 측면에 따른 터치패널의 검사장치는 터치가 이루어지는 터치부에 형성된 패턴전극과 인터페이스하기 위해 각각 연결되는 인터페이스 단자부와 터치부의 패턴전극을 인터페이스 단자부에 연결하기 위한 배선부를 포함하는 터치패널의 전기적인 특성을 검사하기 위한 터치패널의 검사장치에 있어서; 인터페이스 단자부에 접촉되어 스캔되는 접촉식 프로브; 터치부의 외측으로 패턴전극의 끝단부에 비접촉으로 배치되는 다수의 정전 용량형 비접촉 프로브; 및 다수의 정전 용량형 비접촉 프로브를 통해 각각 서로 다른 주파수의 교류신호를 인가하면서 접촉식 프로브의 스캔을 제어하여 접촉식 프로브를 통해 측정되는 서로 다른 주파수의 교류신호를 입력받아 접촉식 프로브에 접촉된 패턴전극이나 배선부의 단선 및 단락을 판단하는 제어부;를 포함하는 것을 특징으로 한다. In addition, the touch panel inspection apparatus according to another aspect of the present invention includes a touch including an interface terminal portion connected to interface with the pattern electrode formed on the touch portion to make a touch and a wiring portion for connecting the pattern electrode of the touch portion to the interface terminal portion. An inspection apparatus for a touch panel for inspecting electrical characteristics of a panel; A contact probe scanned in contact with the interface terminal unit; A plurality of capacitive non-contact probes disposed in contact with the end of the pattern electrode to the outside of the touch unit; And a plurality of capacitive non-contact probes, each of which applies an AC signal having a different frequency and controls the scan of the contact probe to receive an AC signal having a different frequency measured through the contact probe and contacts the contact probe. And a control unit for determining disconnection and short circuit of the pattern electrode or the wiring unit.

본 발명에서 접촉식 프로브를 통해 측정한 신호에서 각각 서로 다른 주파수를 필터링하기 위한 다수의 필터부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다. In the present invention is characterized in that it further comprises a plurality of filter units for filtering each different frequency in the signal measured by the contact probe.

본 발명에서 접촉식 프로브는 디스크 휠 프로브, 볼 프로브, 유연한 와이어 프로브 중 어느 하나인 것을 특징으로 한다. In the present invention, the touch probe may be any one of a disk wheel probe, a ball probe, and a flexible wire probe.

본 발명에서 정전 용량형 비접촉 프로브는 패턴전극의 끝단에서 끝단을 따라 모든 패턴전극에 대응되는 것을 특징으로 한다. In the present invention, the capacitive non-contact probe is characterized in that it corresponds to all the pattern electrode from the end of the pattern electrode to the end.

본 발명에서 정전 용량형 비접촉 프로브는 패턴전극의 끝단에서 끝단의 패턴전극에 각각 대응되는 것을 특징으로 한다. In the present invention, the capacitive non-contact probe is characterized in that corresponding to the pattern electrode of the end from the end of the pattern electrode, respectively.

본 발명에서 정전 용량형 비접촉 프로브는 터치부에서 배선부가 접속된 반대측의 가로방향과 세로방향에 각각 배치되는 것을 특징으로 한다. In the present invention, the capacitive non-contact probe is characterized in that the touch portion is disposed in the transverse direction and the longitudinal direction on the opposite side to which the wiring unit is connected.

본 발명에서 정전 용량형 비접촉 프로브는 터치부에서 배선부가 접촉된 측의 가로방향이나 세로방향에 더 배치되는 것을 특징으로 한다. In the present invention, the capacitive non-contact probe is characterized in that it is further disposed in the transverse direction or longitudinal direction of the side in which the wiring portion in the touch portion.

본 발명에서 제어부는 접촉식 프로브가 접촉된 해당 방향의 정전 용량형 비접촉 프로브에서 인가한 주파수의 교류신호가 정상값보다 낮게 측정될 경우 해당 방향의 패턴전극이 단선된 것으로 판단하고 높게 측정될 경우 해당 방향의 패턴전극간 단락으로 판단하며, 동시에 다른 방향의 정전 용량형 비접촉 프로브에서 인가한 주파수의 교류신호가 정상값보다 높게 측정될 경우 다른 방향의 패턴전극간 교차 단락된 것으로 판단하는 것을 특징으로 한다. In the present invention, when the AC signal of the frequency applied by the capacitive non-contact probe in the corresponding direction in which the contact probe is in contact is measured to be lower than the normal value, the control unit determines that the pattern electrode in the corresponding direction is disconnected, It is determined as a short circuit between the pattern electrodes in the direction, and at the same time, when the AC signal of the frequency applied by the capacitive non-contact probe in the other direction is measured higher than the normal value, it is determined to be cross-shorted between the pattern electrodes in the other direction. .

본 발명에서 제어부는 접촉식 프로브가 접촉된 해당 방향의 정전 용량형 비접촉 프로브에서 인가한 모든 주파수의 교류신호가 정상값보다 낮게 측정될 경우 배선부에서 단선된 것으로 판단하는 것을 특징으로 한다.
In the present invention, the control unit is characterized in that it is determined that the disconnection in the wiring unit when the AC signal of all frequencies applied by the capacitive non-contact probe in the corresponding direction in which the contact probe is in contact.

상기한 바와 같이 본 발명은 다수개의 전극패턴이 절연된 서로 다른 층에 각각 가로방향과 세로방향으로 배치된 격자 모양의 터치부를 갖는 터치패널의 단선 및 단락을 다수의 정전 용량형 비접촉 프로브와 인터페이스 단자부를 스캔하는 접촉식 프로브를 이용하여 한 번의 스캔으로 단선 및 단락을 한 번에 검사할 수 있다.
As described above, the present invention provides a plurality of capacitive type non-contact probes and interface terminals for disconnection and short circuit of a touch panel having a lattice-shaped touch unit disposed in a horizontal direction and a vertical direction, respectively, on different layers in which a plurality of electrode patterns are insulated. With a contact probe that scans, you can check for disconnections and short circuits in one scan.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널을 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 검사장치를 나타낸 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 검사장치에서 정전 용량형 비접촉 프로브의 배치상태를 나타낸 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 검사장치에서 정전 용량형 비접촉 프로브의 형태를 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 검사장치의 검사원리를 설명하기 위한 도면이다.
도 6내지 도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 검사장치에 의해 측정되는 결과는 나타낸 도면이다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 터치패널의 검사장치를 나타낸 도면이다. 1 is a diagram illustrating a touch panel according to an exemplary embodiment of the present invention.
2 is a view showing an inspection apparatus of a touch panel according to an embodiment of the present invention.
3 is a view showing an arrangement of the capacitive non-contact probe in the inspection device of the touch panel according to an embodiment of the present invention.
4 is a view showing the form of the capacitive non-contact probe in the inspection device of the touch panel according to an embodiment of the present invention.
5 is a view for explaining the inspection principle of the inspection apparatus of the touch panel according to an embodiment of the present invention.
6 to 8 are diagrams showing the results measured by the inspection apparatus of the touch panel according to an embodiment of the present invention.
9 is a view showing an inspection apparatus of a touch panel according to another embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 터치패널의 검사장치의 실시예를 설명한다. 이 과정에서 도면에 도시된 선들의 두께나 구성요소의 크기 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시되어 있을 수 있다. 또한, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 그러므로, 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.Hereinafter, an embodiment of an inspection apparatus of a touch panel according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. In this process, the thickness of the lines or the size of the components shown in the drawings may be exaggerated for clarity and convenience of description. In addition, the terms described below are defined in consideration of the functions of the present invention, which may vary depending on the intention or custom of the user, the operator. Therefore, definitions of these terms should be made based on the contents throughout the specification.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널을 나타낸 도면이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 검사장치를 나타낸 도면이고, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 검사장치에서 정전 용량형 비접촉 프로브의 배치상태를 나타낸 도면이고, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 검사장치에서 정전 용량형 비접촉 프로브의 형태를 나타낸 도면이고, 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 검사장치의 검사원리를 설명하기 위한 도면이고, 도 6내지 도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치패널의 검사장치에 의해 측정되는 결과는 나타낸 도면이다. 1 is a view showing a touch panel according to an embodiment of the present invention, Figure 2 is a view showing an inspection apparatus of a touch panel according to an embodiment of the present invention, Figure 3 is according to an embodiment of the present invention Figure 4 is a view showing the arrangement of the capacitive non-contact probe in the inspection device of the touch panel, Figure 4 is a view showing the shape of the capacitive non-contact probe in the inspection device of the touch panel according to an embodiment of the present invention, Figure 5 Is a view for explaining the inspection principle of the inspection apparatus of the touch panel according to an embodiment of the present invention, Figures 6 to 8 are the results measured by the inspection apparatus of the touch panel according to an embodiment of the present invention is shown Drawing.

도 2에 도시된 바와 같이 터치패널의 검사장치는 터치패널의 인터페이스 단자부(30)에 접촉되는 접촉식 프로브(40), 터치패널의 패턴전극(15)에 배치되는 제 1정전 용량형 비접촉 프로브(51)와 제 2정전 용량형 비접촉 프로브(52) 및 제어부(60)를 포함한다. As shown in FIG. 2, the inspection apparatus of the touch panel includes a first type capacitive non-contact probe disposed on the contact probe 40 contacting the interface terminal 30 of the touch panel and the pattern electrode 15 of the touch panel. 51), a second capacitive non-contact probe 52, and a controller 60.

터치패널은 도 1에 도시된 바와 같이 터치가 이루어지는 터치부(10)에 형성된 패턴전극(15)과 인터페이스하기 위해 각각 연결되는 인터페이스 단자부(30)와 터치부(10)의 패턴전극(15)을 인터페이스 단자부(30)에 연결하기 위한 배선부(20)를 포함한다. As shown in FIG. 1, the touch panel includes an interface terminal 30 and a pattern electrode 15 of the touch unit 10 connected to interface with the pattern electrode 15 formed on the touch unit 10 where touch is made. The wiring unit 20 is connected to the interface terminal unit 30.

접촉식 프로브(40)는 인터페이스 단자부(30)의 개별적으로 접촉되어 순차적으로 스캔된다. The contact probes 40 are individually contacted with the interface terminal portions 30 and sequentially scanned.

이때 접촉식 프로브(40)로는 본 출원인이 특허권자인 특허 0458930호(2004.12.03. 공고)의 "LCD 패널 검사용 휠 프로브 모듈과 이를 이용한 LCD 패널의 검사장치 및 방법"에 개시된 디스크 휠 프로브를 사용하거나 본 출원인이 특허권자인 특허 0752938호(2007.08.30. 공고)의 "볼을 이용한 접촉식 프로브"에 개시된 볼 프로브를 사용할 수 있다. In this case, as the contact probe 40, the disk wheel probe disclosed in the "Panel Probe Module for LCD Panel Inspection and LCD Panel Inspection Apparatus Using the Same" of Patent No. 0458930 (published Dec. 3, 2004), which is the applicant's patent, is used. Or the ball probe disclosed in the "contact probe using a ball" of the patent applicant No. 0752938 (August 30, 2007).

또한, 본 출원인이 2009년 01월 23일에 출원한 출원번호 10-2009-0006075호의 "유연한 와이어를 이용한 접촉식 프로브"에 개시된 스캔하는 스캔방향 관성모멘트가 스캔방향의 수직방향 관성모멘트보다 적은 횡단면을 갖는 유연한 와이어 프로브를 사용할 수도 있다. In addition, the scanning scan inertia moment disclosed in Applicant's application No. 10-2009-0006075 filed on January 23, 2009, which is less than the vertical moment of inertia in the scan direction. Flexible wire probes may be used.

정전 용량형 비접촉 프로브(50)는 터치부(10)의 외측으로 패턴전극(15)의 끝단에서 끝단을 따라 모든 패턴전극(15)에 대응되는 막대형태로 구성되어 비접촉으로 다수 배치된다. The capacitive non-contact probe 50 has a rod shape corresponding to all the pattern electrodes 15 from the end of the pattern electrode 15 to the outside of the touch unit 10 and is disposed in a plurality of non-contact manners.

이때 정전 용량형 비접촉 프로브(50)는 도 2에 도시된 바와 같이 터치부(10)에서 배선부(20)가 접속된 반대측의 가로방향과 세로방향에 각각 제 1정전 용량형 비접촉 프로브(51)와 제 2정전 용량형 비접촉 프로브(52)가 각각 배치될 수 있다. In this case, as shown in FIG. 2, the capacitive non-contact probe 50 has a first capacitive non-contact probe 51 in a horizontal direction and a vertical direction on the opposite side to which the wiring unit 20 is connected in the touch unit 10, respectively. And the second capacitive non-contact probe 52 may be disposed, respectively.

반면, 도 3에 도시된 바와 같이 제 3정전 용량형 비접촉 프로브(53)와 제 4정전 용량형 비접촉 프로브(54)가 터치부(10)에서 배선부(20)가 접촉된 측의 가로방향이나 세로방향에 더 배치될 수도 있다. On the other hand, as shown in FIG. 3, the third capacitive non-contact probe 53 and the fourth capacitive non-contact probe 54 may have a horizontal direction on the side where the wiring unit 20 is in contact with the touch unit 10. It may be further arranged in the longitudinal direction.

한편, 도 4에 도시된 바와 같이 정전 용량형 비접촉 프로브(50)는 패턴전극(15)의 끝단에서 끝단의 패턴전극(15)에 각각 대응되도록 비접촉으로 배치된 상태로 서로 연결되어 이루질 수도 있다. Meanwhile, as shown in FIG. 4, the capacitive non-contact probes 50 may be connected to each other in a state in which they are arranged in contact with each other so as to correspond to the pattern electrodes 15 at the ends of the pattern electrodes 15. .

제어부(60)는 접촉식 프로브(40)의 스캔을 제어하여 접촉식 프로브(40)로 교류신호를 인가하면서 제 1내지 제 4정전 용량형 비접촉 프로브(51~54)를 통해 측정된 적어도 어느 하나 이상의 전압값을 입력받아 접촉식 프로브(40)에 접촉된 패턴전극(15)이나 배선부(20)의 단선 및 단락을 판단한다. The controller 60 controls at least one of the first and fourth capacitive non-contact probes 51 to 54 while controlling the scan of the contact probe 40 to apply an AC signal to the contact probe 40. The disconnection and short-circuit of the pattern electrode 15 or the wiring unit 20 in contact with the contact probe 40 is determined by receiving the above voltage value.

즉, 제어부(60)는 접촉식 프로브(40)가 접촉된 가로방향의 제 1정전 용량형 비접촉 프로브(51)에서 측정된 전압이 정상값보다 낮게 측정될 경우 가로방향의 패턴전극(15)이 단선된 것으로 판단하고 높게 측정될 경우 가로방향의 패턴전극(15)간 단락으로 판단하며, 동시에 세로방향의 제 2정전 용량형 비접촉 프로브(52)에서 측정된 전압이 정상값보다 높게 측정될 경우 세로방향의 패턴전극(15)과 가로방향의 패턴전극(15)이 서로 교차 단락된 것으로 판단한다. That is, when the voltage measured by the first capacitive non-contact probe 51 in the horizontal direction to which the contact probe 40 is in contact is measured to be lower than the normal value, the controller 60 is connected to the pattern electrode 15 in the horizontal direction. If it is determined to be disconnected and is measured high, it is determined to be a short circuit between the pattern electrodes 15 in the horizontal direction, and at the same time, if the voltage measured by the second capacitive non-contact probe 52 in the vertical direction is measured higher than the normal value, It is determined that the pattern electrode 15 in the direction and the pattern electrode 15 in the horizontal direction cross each other.

또한, 접촉식 프로브(40)가 접촉된 세로방향의 제 2정전 용량형 비접촉 프로브(52)에서 측정된 전압이 정상값보다 낮게 측정될 경우 세로방향의 패턴전극(15)이 단선된 것으로 판단하고 높게 측정될 경우 세로방향의 패턴전극(15)간 단락으로 판단하며, 동시에 가로방향의 제 1정전 용량형 비접촉 프로브(51)에서 측정된 전압이 정상값보다 높게 측정될 경우 가로방향의 패턴전극(15)과 세로방향의 패턴전극(15)이 서로 교차 단락된 것으로 판단한다. In addition, when the voltage measured by the second capacitive non-contact probe 52 in the vertical direction in which the contact probe 40 is contacted is lower than the normal value, it is determined that the vertical pattern electrode 15 is disconnected. If the measurement is high, it is determined as a short circuit between the pattern electrodes 15 in the vertical direction, and at the same time, when the voltage measured by the first capacitive non-contact probe 51 in the horizontal direction is measured higher than the normal value, It is determined that 15) and the vertical pattern electrode 15 cross each other.

한편, 제어부(60)는 접촉식 프로브(40)가 접촉된 가로방향의 제 1정전 용량형 비접촉 프로브(51)와 제 3정전 용량형 비접촉 프로브(53) 모두에서 측정된 전압이 정상값보다 낮게 측정될 경우 배선부(20)에서 단선된 것으로 판단하고, 접촉식 프로브(40)가 접촉된 세로방향의 제 2정전 용량형 비접촉 프로브(52)와 제 4정전 용량형 비접촉 프로브(54) 모두에서 측정된 전압이 정상값보다 낮게 측정될 경우 배선부(20)에서 단선된 것으로 판단한다. On the other hand, the controller 60 is such that the voltage measured by both the first capacitive non-contact probe 51 and the third capacitive non-contact probe 53 in the horizontal direction that the contact probe 40 is in contact with the lower than the normal value When measured, it is determined that the wire 20 is disconnected, and both the second capacitive non-contact probe 52 and the fourth capacitive non-contact probe 54 in contact with the contact probe 40 contact each other. If the measured voltage is measured lower than the normal value, it is determined that the wiring unit 20 is disconnected.

이와 같이 접촉식 프로브(40)를 통해 교류신호를 인가한 후 정전 용량형 비접촉 프로브(50)를 통해 측정되는 전압값을 통해 단선 및 단락을 판단하는 원리를 도 5에 도시된 도면을 통해 설명하면 다음과 같다. As described above, the principle of determining disconnection and short circuit through the voltage value measured by the capacitive non-contact probe 50 after applying the AC signal through the contact probe 40 will be described with reference to the drawing shown in FIG. 5. As follows.

(가)와 같이 정상적인 패턴전극(15)에 접촉식 프로브(40)를 통해 교류전원을 인가한 후 정전 용량형 비접촉 프로브(50)에서 측정되는 전압값을 정상값으로 볼 때 단선된 경우에는 (나)와 같이 패턴전극(15)의 임피던스가 커지게 되어 패턴전극(15)의 임피던스와 패턴전극(15)과 정전 용량형 비접촉 프로브(50) 사이의 정전용량에 의한 임피던스의 합인 전체 임피던스가 증가하게 되어 정전 용량형 비접촉 프로브(50)에서 측정되는 전압값은 정상값보다 작은 값이 측정된다. When the AC voltage is applied to the normal pattern electrode 15 through the contact probe 40 as shown in (A) and the voltage value measured by the capacitive non-contact probe 50 is disconnected when viewed as a normal value, B) The impedance of the pattern electrode 15 is increased to increase the overall impedance which is the sum of the impedance of the pattern electrode 15 and the impedance due to the capacitance between the pattern electrode 15 and the capacitive non-contact probe 50. The voltage value measured by the capacitive non-contact probe 50 is measured to be smaller than the normal value.

반면에, (다)와 같이 패턴전극(15)이 인접한 패턴전극(15)과 단락된 경우에는 접촉식 프로브(40)가 접촉된 패턴전극(15)과 단락된 패턴전극(15)이 하나의 패턴전극(15)으로 작용하면서 패턴전극(15)의 표면적이 증가하는 효과를 가져와 패턴전극(15)과 정전 용량형 비접촉 프로브(50) 사이의 정전용량에 의한 임피던스가 작아지게 되고 따라서 패턴전극(15)의 임피던스와 패턴전극(15)과 정전 용량형 비접촉 프로브(50) 사이의 정전용량에 의한 임피던스의 합인 전체 임피던스가 감소하게 되어 정전 용량형 비접촉 프로브(50)에 의해 측정되는 값은 정상값보다 큰 값이 측정된다. On the other hand, when the pattern electrode 15 is shorted to the adjacent pattern electrode 15 as shown in (c), the pattern electrode 15 to which the contact probe 40 is contacted and the patterned electrode 15 to be shorted are one While acting as the pattern electrode 15, the surface area of the pattern electrode 15 is increased, so that the impedance due to the capacitance between the pattern electrode 15 and the capacitive non-contact probe 50 becomes small, and thus the pattern electrode ( The total impedance, which is the sum of the impedance of 15 and the impedance due to the capacitance between the pattern electrode 15 and the capacitive non-contact probe 50 is decreased, so that the value measured by the capacitive non-contact probe 50 is a normal value. Larger values are measured.

이와 같은 검사원리에 따라 도 6은 접촉식 프로브(40)를 가로방향의 패턴전극(15)과 연결된 인터페이스 단자부(30)를 스캔할 때 제 1정전 용량형 비접촉 프로브(51)를 통해 측정한 전압값을 나타낸 것으로 화살표 지점에서 정상값보다 높은 전압값이 측정되고 있어 이때에는 접촉식 프로브(40)가 접촉된 가로방향의 패턴전극(15)간 단락이 발생했음을 알 수 있다. According to this inspection principle, FIG. 6 shows the voltage measured by the first capacitive non-contact probe 51 when the touch probe 40 is scanned with the interface terminal 30 connected to the pattern electrode 15 in the horizontal direction. As a value is shown, a voltage value higher than the normal value is measured at an arrow point. In this case, it is understood that a short circuit occurs between the horizontal pattern electrodes 15 to which the touch probe 40 is in contact.

또한, 도 7은 접촉식 프로브(40)를 세로방향의 패턴전극(15)과 연결된 인터페이스 단자부(30)를 스캔할 때 제 2정전 용량형 비접촉 프로브(52)를 통해 측정한 전압값을 나타낸 것으로 화살표 지점에서 정상값보다 높은 전압값이 측정되고 있어 이때에는 접촉식 프로브(40)가 접촉된 세로방향의 패턴전극(15)간 단락이 발생했음을 알 수 있다. In addition, FIG. 7 illustrates voltage values measured by the second capacitive non-contact probe 52 when the touch probe 40 is scanned with the interface terminal 30 connected to the pattern electrode 15 in the vertical direction. The voltage value higher than the normal value is measured at the point of the arrow. In this case, it can be seen that a short circuit occurs between the pattern electrodes 15 in the vertical direction in which the contact probe 40 is in contact.

한편, 도 8은 접촉식 프로브(40)가 가로방향이나 세로방향 중 어느 한 방향의 패턴전극(15)과 연결된 인터페이스 단자부(30)를 스캔할 때 제 1정전 용량형 비접촉 프로브(51)와 제 2정전 용량형 비접촉 프로브(52)를 통해 측정한 전압값을 나타낸 것으로 제 1정전 용량형 비접촉 프로브(51)와 제 2정전 용량형 비접촉 프로브(52) 모두에서 화살표 지점과 같이 정상값보다 높은 전압값이 측정되고 있어 이때에는 접촉식 프로브(40)가 접촉된 가로방향이나 세로방향의 패턴전극(15)간 교차단락이 발생했음을 알 수 있다.
8 shows the first capacitive non-contact probe 51 and the first capacitive non-contact probe 51 when the contact probe 40 scans the interface terminal 30 connected to the pattern electrode 15 in either the horizontal or vertical direction. The voltage value measured by the two capacitive non-contact probe 52 is shown, and the voltage higher than the normal value such as the arrow point in both the first capacitive non-contact probe 51 and the second capacitive non-contact probe 52 is shown. Since the value is being measured, it can be seen that a cross short between the pattern electrodes 15 in the horizontal or vertical direction to which the contact probe 40 is in contact has occurred.

도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 터치패널의 검사장치를 나타낸 도면이다. 9 is a view showing an inspection apparatus of a touch panel according to another embodiment of the present invention.

도 9에 도시된 바와 같이 본 발명의 다른 실시예에 따른 터치패널의 검사장치는 도 2와 도 4와 같이 터치패널에 접촉식 프로브(40)와 제 1내지 제 4정전 용량형 비접촉 프로브(51~54)가 배치된다. As shown in FIG. 9, an inspection apparatus for a touch panel according to another exemplary embodiment of the present invention includes a touch probe 40 and a first to fourth capacitive non-contact probe 51 on the touch panel as shown in FIGS. 2 and 4. 54) are arranged.

또한, 접촉식 프로브(40)를 통해 측정한 신호에서 각각 서로 다른 주파수를 필터링하기 위한 제 1내지 제 4필터부(71~74)를 더 포함한다. The apparatus further includes first to fourth filter parts 71 to 74 for filtering different frequencies from signals measured by the contact probe 40.

따라서, 제어부(60)는 제 1내지 제 4정전 용량형 비접촉 프로브(51~54)를 통해 각각 서로 다른 주파수의 교류신호를 인가하면서 접촉식 프로브(40)의 스캔을 제어하여 접촉식 프로브(40)를 통해 측정되는 서로 다른 주파수의 교류신호를 각각 필터링하는 제 1내지 제 4필터부(71~74)의 전압값을 입력받아 접촉식 프로브(40)에 접촉된 패턴전극(15)이나 배선부(20)의 단선 및 단락을 판단한다. Accordingly, the control unit 60 controls the scan of the contact probe 40 by applying an AC signal having a different frequency through the first to fourth capacitive non-contact probes 51 to 54, respectively. The pattern electrode 15 or the wiring part contacting the contact probe 40 by receiving the voltage value of the first to fourth filter parts 71 to 74 respectively filtering AC signals of different frequencies measured through The disconnection and short circuit of (20) are judged.

즉, 제어부(60)는 제 1필터부(71)에서 측정된 전압이 정상값보다 낮게 측정될 경우 가로방향의 패턴전극(15)이 단선된 것으로 판단하고 높게 측정될 경우 가로방향의 패턴전극(15)간 단락으로 판단하며, 동시에 제 2필터부(72)에서 측정된 전압이 정상값보다 높게 측정될 경우 세로방향의 패턴전극(15)과 가로방향의 패턴전극(15)이 서로 교차 단락된 것으로 판단한다. That is, the controller 60 determines that the pattern electrode 15 in the horizontal direction is disconnected when the voltage measured by the first filter unit 71 is lower than the normal value, and when the voltage is measured higher, the pattern electrode in the horizontal direction ( 15, and when the voltage measured by the second filter unit 72 is measured to be higher than the normal value, the vertical pattern electrode 15 and the horizontal pattern electrode 15 cross each other. Judging by it.

또한, 제 2필터부(72)에서 측정된 전압이 정상값보다 낮게 측정될 경우 세로방향의 패턴전극(15)이 단선된 것으로 판단하고 높게 측정될 경우 세로방향의 패턴전극(15)간 단락으로 판단하며, 동시에 제 1필터부(71)에서 측정된 전압이 정상값보다 높게 측정될 경우 가로방향의 패턴전극(15)과 세로방향의 패턴전극(15)이 서로 교차 단락된 것으로 판단한다. In addition, when the voltage measured by the second filter unit 72 is measured to be lower than the normal value, it is determined that the pattern electrode 15 in the vertical direction is disconnected. At the same time, when the voltage measured by the first filter unit 71 is measured to be higher than the normal value, it is determined that the horizontal pattern electrode 15 and the vertical pattern electrode 15 cross each other.

한편, 제어부(60)는 제 1필터부(71)와 제 3필터부(73) 모두에서 측정된 전압이 정상값보다 낮게 측정될 경우 배선부(20)에서 단선된 것으로 판단하고, 제 2필터부(72)와 제 4필터부(74) 모두에서 측정된 전압이 정상값보다 낮게 측정될 경우 배선부(20)에서 단선된 것으로 판단한다.
Meanwhile, when the voltage measured by both the first filter unit 71 and the third filter unit 73 is lower than the normal value, the controller 60 determines that the wiring unit 20 is disconnected and determines the second filter. If the voltage measured by both the unit 72 and the fourth filter unit 74 is lower than the normal value, it is determined that the wiring unit 20 is disconnected.

본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 하여 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 기술적 보호범위는 아래의 특허청구범위에 의해서 정하여져야 할 것이다.
Although the present invention has been described with reference to the embodiments shown in the drawings, this is merely exemplary, and those skilled in the art to which the art belongs can make various modifications and other equivalent embodiments therefrom. Will understand. Therefore, the technical protection scope of the present invention will be defined by the claims below.

10 : 터치부
15 : 패턴전극
20 : 배선부
30 : 인터페이스 단자부
40 : 접촉식 프로브
51, 52, 53, 54 : 제 1내지 제 4 비접촉 정전용량 프로브
60 : 제어부
71,72,73,74 : 제 1내지 제 4필터부10: touch unit
15: pattern electrode
20: wiring section
30: interface terminal unit
40: contact probe
51, 52, 53, 54: first to fourth non-contact capacitive probes
60: control unit
71,72,73,74: first to fourth filter parts

Claims (17)

터치가 이루어지는 터치부에 형성된 패턴전극과 인터페이스하기 위해 각각 연결되는 인터페이스 단자부와 상기 터치부의 패턴전극을 상기 인터페이스 단자부에 연결하기 위한 배선부를 포함하는 터치패널의 전기적인 특성을 검사하기 위한 터치패널의 검사장치에 있어서;
상기 인터페이스 단자부에 접촉되어 스캔되는 접촉식 프로브;
상기 터치부의 외측으로 상기 패턴전극의 끝단부에 비접촉으로 배치되는 다수의 정전 용량형 비접촉 프로브; 및
상기 접촉식 프로브의 스캔을 제어하여 상기 접촉식 프로브로 교류신호를 인가하면서 상기 다수의 정전 용량형 비접촉 프로브를 통해 측정된 적어도 어느 하나 이상의 전압값을 입력받아 상기 접촉식 프로브에 접촉된 상기 패턴전극이나 상기 배선부의 단선 및 단락을 판단하는 제어부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치패널의 검사장치.
Inspection of a touch panel for inspecting electrical characteristics of a touch panel including an interface terminal unit connected to interface with a pattern electrode formed on a touch unit where a touch is made and a wiring unit for connecting the pattern electrode of the touch unit to the interface terminal unit In an apparatus;
A contact probe which is scanned in contact with the interface terminal unit;
A plurality of capacitive non-contact probes disposed in contact with the end of the pattern electrode to the outside of the touch unit; And
The pattern electrode which is in contact with the contact probe by receiving at least one voltage value measured through the plurality of capacitive non-contact probes while controlling the scan of the contact probe to apply an AC signal to the contact probe. Or a control unit for determining disconnection and short circuit of the wiring unit.
제 1항에 있어서, 상기 접촉식 프로브는 디스크 휠 프로브, 볼 프로브, 유연한 와이어 프로브 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 터치패널의 검사장치.
The apparatus of claim 1, wherein the contact probe is any one of a disc wheel probe, a ball probe, and a flexible wire probe.
제 1항에 있어서, 상기 정전 용량형 비접촉 프로브는 상기 패턴전극의 끝단에서 끝단을 따라 모든 패턴전극에 대응되는 것을 특징으로 하는 터치패널의 검사장치.
The apparatus of claim 1, wherein the capacitive non-contact probe corresponds to all pattern electrodes from end to end of the pattern electrode.
제 1항에 있어서, 상기 정전 용량형 비접촉 프로브는 상기 패턴전극의 끝단에서 끝단의 상기 패턴전극에 각각 비접촉으로 대응되는 것을 특징으로 하는 터치패널의 검사장치.
The apparatus of claim 1, wherein the capacitive non-contact probe corresponds to the pattern electrode at the end of the pattern electrode in a non-contact manner.
제 1항에 있어서, 상기 정전 용량형 비접촉 프로브는 상기 터치부에서 상기 배선부가 접속된 반대측의 가로방향과 세로방향에 각각 배치되는 것을 특징으로 하는 터치패널의 검사장치.
The apparatus of claim 1, wherein the capacitive non-contact probe is disposed in the transverse direction and the longitudinal direction of the touch unit, respectively, on the opposite side to which the wiring unit is connected.
제 5항에 있어서, 상기 정전 용량형 비접촉 프로브는 상기 터치부에서 상기 배선부가 접촉된 측의 가로방향이나 세로방향에 더 배치되는 것을 특징으로 하는 터치패널의 검사장치.
The apparatus of claim 5, wherein the capacitive non-contact probe is further disposed in a horizontal direction or a vertical direction of a side of the touch unit where the wiring unit is in contact.
제 1항에 있어서, 상기 제어부는 상기 접촉식 프로브가 접촉된 해당 방향의 상기 정전 용량형 비접촉 프로브에서 측정된 전압이 정상값보다 낮게 측정될 경우 해당 방향의 상기 패턴전극이 단선된 것으로 판단하고 높게 측정될 경우 해당 방향의 상기 패턴전극간 단락으로 판단하며, 동시에 다른 방향의 상기 정전 용량형 비접촉 프로브에서 측정된 전압이 정상값보다 높게 측정될 경우 다른 방향의 상기 패턴전극간 교차 단락된 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 터치패널의 검사장치.
The method of claim 1, wherein the controller determines that the pattern electrode in the corresponding direction is disconnected when the voltage measured by the capacitive non-contact probe in the corresponding direction in which the contact probe is in contact is lower than a normal value. When measured, it is determined as a short circuit between the pattern electrodes in the corresponding direction, and at the same time, when the voltage measured by the capacitive non-contact probe in the other direction is measured higher than the normal value, the short circuit between the pattern electrodes in the other direction is determined to be short-circuited. Inspection device of the touch panel, characterized in that.
제 1항에 있어서, 상기 제어부는 접촉식 프로브가 접촉된 해당 방향의 상기 정전 용량형 비접촉 프로브 모두에서 측정된 전압이 정상값보다 낮게 측정될 경우 상기 배선부에서 단선된 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 터치패널의 검사장치.
The method of claim 1, wherein the control unit determines that the voltage measured by both of the capacitive non-contact probes in the corresponding direction in which the contact probe is in contact is lower than the normal value, and is disconnected from the wiring unit. Touch panel inspection device.
터치가 이루어지는 터치부에 형성된 패턴전극과 인터페이스하기 위해 각각 연결되는 상기 인터페이스 단자부와 상기 터치부의 패턴전극을 상기 인터페이스 단자부에 연결하기 위한 배선부를 포함하는 터치패널의 전기적인 특성을 검사하기 위한 터치패널의 검사장치에 있어서;
상기 인터페이스 단자부에 접촉되어 스캔되는 접촉식 프로브;
상기 터치부의 외측으로 상기 패턴전극의 끝단부에 비접촉으로 배치되는 다수의 정전 용량형 비접촉 프로브; 및
상기 다수의 정전 용량형 비접촉 프로브를 통해 각각 서로 다른 주파수의 교류신호를 인가하면서 상기 접촉식 프로브의 스캔을 제어하여 상기 접촉식 프로브를 통해 측정되는 서로 다른 주파수의 교류신호를 입력받아 상기 접촉식 프로브에 접촉된 상기 패턴전극이나 상기 배선부의 단선 및 단락을 판단하는 제어부;를 포함하는 것을 특징으로 터치패널의 검사장치.
A touch panel for inspecting electrical characteristics of a touch panel including an interface terminal unit connected to interface with a pattern electrode formed on a touch unit where a touch is made, and a wiring unit for connecting the pattern electrode of the touch unit to the interface terminal unit; In the inspection apparatus;
A contact probe which is scanned in contact with the interface terminal unit;
A plurality of capacitive non-contact probes disposed in contact with the end of the pattern electrode to the outside of the touch unit; And
The touch probe receives the AC signals of different frequencies measured through the contact probes by controlling the scan of the contact probes while applying AC signals of different frequencies through the plurality of capacitive non-contact probes. And a control unit for determining disconnection and short circuit of the pattern electrode or the wiring unit in contact with the touch panel.
제 9항에 있어서, 상기 접촉식 프로브를 통해 측정한 신호에서 각각 서로 다른 주파수를 필터링하기 위한 다수의 필터부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 터치패널의 검사장치.
10. The apparatus of claim 9, further comprising a plurality of filter units for filtering different frequencies from the signals measured by the contact probes.
제 9항에 있어서, 상기 접촉식 프로브는 디스크 휠 프로브, 볼 프로브, 유연한 와이어 프로브 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 터치패널의 검사장치.
The apparatus of claim 9, wherein the contact probe is any one of a disk wheel probe, a ball probe, and a flexible wire probe.
제 9항에 있어서, 상기 정전 용량형 비접촉 프로브는 상기 패턴전극의 끝단에서 끝단을 따라 모든 패턴전극에 대응되는 것을 특징으로 하는 터치패널의 검사장치.
10. The apparatus of claim 9, wherein the capacitive non-contact probe corresponds to all pattern electrodes from end to end of the pattern electrode.
제 9항에 있어서, 상기 정전 용량형 비접촉 프로브는 상기 패턴전극의 끝단에서 끝단의 상기 패턴전극에 각각 비접촉으로 대응되는 것을 특징으로 하는 터치패널의 검사장치.
10. The apparatus of claim 9, wherein the capacitive non-contact probe corresponds to the pattern electrode at the end of the pattern electrode in a non-contact manner.
제 9항에 있어서, 상기 정전 용량형 비접촉 프로브는 상기 터치부에서 상기 배선부가 접촉된 측의 가로방향이나 세로방향에 더 배치되는 것을 특징으로 터치패널의 검사장치.
10. The apparatus of claim 9, wherein the capacitive non-contact probe is further disposed in a horizontal direction or a vertical direction of the side of the touch unit in contact with the wiring unit.
제 9항에 있어서, 상기 정전 용량형 비접촉 프로브는 상기 터치부에서 상기 배선부가 접속된 반대측의 가로방향과 세로방향에 각각 배치되는 것을 특징으로 하는 터치패널의 검사장치.
10. The apparatus of claim 9, wherein the capacitive non-contact probe is disposed in the transverse direction and the longitudinal direction on the opposite side to which the wiring unit is connected in the touch unit, respectively.
제 9항에 있어서, 상기 제어부는 상기 접촉식 프로브가 접촉된 해당 방향의 상기 정전 용량형 비접촉 프로브에서 인가한 주파수의 교류신호가 정상값보다 낮게 측정될 경우 해당 방향의 상기 패턴전극이 단선된 것으로 판단하고 높게 측정될 경우 해당 방향의 상기 패턴전극간 단락으로 판단하며, 동시에 다른 방향의 상기 정전 용량형 비접촉 프로브에서 인가한 주파수의 교류신호가 정상값보다 높게 측정될 경우 다른 방향의 상기 패턴전극간 교차 단락된 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 터치패널의 검사장치.
10. The method of claim 9, wherein the control unit is that the pattern electrode in the direction is disconnected when the AC signal of the frequency applied by the capacitive non-contact probe in the direction that the contact probe is in contact with the lower than the normal value If it is determined and measured high, it is determined as a short circuit between the pattern electrodes in the corresponding direction, and at the same time, when the AC signal of the frequency applied by the capacitive non-contact probe in the other direction is measured higher than the normal value, Inspection device for a touch panel, characterized in that it is determined that the cross-short circuit.
제 9항에 있어서, 상기 제어부는 상기 접촉식 프로브가 접촉된 해당 방향의 상기 정전 용량형 비접촉 프로브에서 인가한 모든 주파수의 교류신호가 정상값보다 낮게 측정될 경우 상기 배선부에서 단선된 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 터치패널의 검사장치. The method of claim 9, wherein the controller determines that the AC unit is disconnected from the wiring unit when an AC signal of all frequencies applied by the capacitive non-contact probe in the corresponding direction in which the contact probe is in contact is measured to be lower than a normal value. Inspection device of the touch panel, characterized in that.
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