JP2005070821A - Position detection panel and inspection method therefor - Google Patents

Position detection panel and inspection method therefor Download PDF

Info

Publication number
JP2005070821A
JP2005070821A JP2003208211A JP2003208211A JP2005070821A JP 2005070821 A JP2005070821 A JP 2005070821A JP 2003208211 A JP2003208211 A JP 2003208211A JP 2003208211 A JP2003208211 A JP 2003208211A JP 2005070821 A JP2005070821 A JP 2005070821A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
inspection
electrodes
substrate
contact
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003208211A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takashi Ikeda
孝史 池田
Hiroshi Ishikura
寛 石倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Schneider Electric Japan Holdings Ltd
Original Assignee
Digital Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Digital Electronics Corp filed Critical Digital Electronics Corp
Priority to JP2003208211A priority Critical patent/JP2005070821A/en
Publication of JP2005070821A publication Critical patent/JP2005070821A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Position Input By Displaying (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a position detecting panel for detecting precisely a positional shift of an electrode in a short time. <P>SOLUTION: A lower inspection electrode 41, for example, is provided in an end part opposite to a connection end of a connection wire 6 in a transparent electrode 4 in a right end side of a touch panel, and an upper inspection electrode 71 is provided in a connection end of a connection wire 7 in a transparent electrode 5 in an upper end side of the touch panel. The upper inspection electrode 71 is extended to an end part side of the transparent electrode 4, and the lower inspection electrode 41 is formed to be extended to an upper inspection electrode 71 side. The lower inspection electrode 41 and the upper inspection electrode 71 are arranged with the maximum allowance of spacing of a specified-directional shift between the transparent electrodes 4, 5 under the condition where a lower substrate 1 and an upper substrate 2 are laminated each other in a specified position and where the upper substrate 2 is press-operated. The upper substrate 2 on the lower inspection electrode 41 and the upper inspection electrode 71 is pressed to determine the generation of the shift between the transparent electrodes 4, 5 when the both inspection electrodes 41, 71 are brought into electric continuity. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、タッチパネルなどの位置検出パネルにおける電極パターンの印刷ずれの検査を高精度かつ容易にする技術に係り、位置検出パネルおよびその検査方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
タッチパネルは、ディスプレイの表示面に設けられ、その表示面に表示された画面の入力箇所を押圧操作することにより、表示面上での入力を可能にしている。最も普及しているタッチパネルとしては、アナログ抵抗膜方式のタッチパネルが挙げられる。このアナログ抵抗膜方式のタッチパネルは、特許文献1に開示されているように、軟質フィルムで形成された入力側の基板と、硬質フィルムまたはガラスで形成された他方側の基板と、両基板の対向面側に設けられた抵抗膜とを有し、入力側基板の押圧操作により接触した両基板の抵抗膜と出力端子との間の抵抗値で2次元座標値を検出する。
【0003】
あるいは、普及型の他のタイプのタッチパネルとしては、デジタルマトリクス式のタッチパネルが挙げられる。このタッチパネルは、両基板の対向面に互いに直交するように形成されたストライプ状の短冊電極を有しており、対向する短冊電極の交差部分が位置検出のためのスイッチ部となり、これらのスイッチ部がマトリクス状に配される構造をなす。このようなタッチパネルでは、押圧されたスイッチ部で互いに接触した対向する2つの短冊電極で入力座標を特定することができる。
【0004】
このようなタッチパネルの製造には、ITO(インジウム錫酸化物)などの透明導電材料がすでに形成された基板に、アナログ抵抗膜式タッチパネルでは出力端子となる銀電極を印刷する工程、デジタルマトリクス式タッチパネルではストライプ状電極の形成のためのエッチングレジスト、配線用銀電極、絶縁膜、取り出し電極などを印刷する工程と、両印刷工程後の両基板を所定間隔をおいて貼り合わせる工程とが含まれている。
【0005】
貼り合わせの工程を経たタッチパネルには、絶縁不良や導通不良などを確認するための電気検査が行われる。アナログ抵抗膜式のタッチパネルの電気検査においては、棒状部材をタッチパネルの操作面に押圧させた状態で移動させて得られる電圧(押圧位置に応じた抵抗値を表す)が、各押圧位置に対応した規定の許容範囲内の値であるか否かをコンピュータにより解析する。一方、デジタルマトリクス式のタッチパネルの電気検査においては、マトリクス状の各スイッチ部を1つずつ押圧する押圧装置を用いて、押圧されたスイッチ部に対応する短冊電極のON抵抗を測定し、そのON抵抗が各押圧位置に対応した規定の許容範囲内の値であるか否かをコンピュータにより解析する。
【0006】
電気検査により不良と判定されたタッチパネルには、両基板における導電膜材料や接続電極の印刷工程における印刷のずれ、または両基板の貼り合わせの工程における両基板の位置合わせのずれによって、配線電極やマトリクス状電極が正しい位置からずれてしまったタッチパネルが含まれる。
【0007】
【特許文献1】
特開平2002−82772号公報(公開日2002年03月22日)
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
従来、このようなタッチパネルによる電極のずれは、目視検査で判定されていた。外観でわかりやすいような大きなずれは、どの検査担当者によっても容易に判定が可能であるが、特に透明なマトリクス状電極については、許容範囲付近の微妙なずれは、判定が難しく検査担当者によって判定のばらつきが生じやすい。
【0009】
タッチパネルを少品種(特に単一品種または同一規格)かつ大量に生産する場合では、製造工程の自動化が進められており、画像認識技術を用いた位置決めなどにより、電極ずれの発生を減少させることは比較的容易である。しかしながら、タッチパネルを多品種かつ少量に生産する場合では、一般に、各品種に対応した製造工程の自動化にはコスト面で制約があるため、製造に手作業の工程が含まれることが多い。
【0010】
例えば、電極などの印刷工程においては、印刷台に基板を載置した状態で、印刷版を基板に降ろして印刷を行うため、印刷台における基板の位置決めが正しく行われないと、印刷された電極パターンにずれが生じてしまう。多品種のタッチパネルを製造するために大きさの異なる各種の基板に印刷を行うような場合、印刷台における基板の種類に応じた位置に位置決めのための部材を作業者が取り付ける必要があるが、その位置決め部材が正しい位置に取り付けられないことによってもずれが生じやすくなることがある。また、位置決め部材の配置を品種毎に変更する必要上、位置決め部材は、粘着テープなどの取り外しが容易な材料からなるため、初期には正しい位置に取り付けられていても、基板の入れ替えによって徐々に位置がずれるおそれがある。
【0011】
また、貼り合わせの工程においては、両基板の所定位置に設けられた位置決め用のマークを両基板間で合わせて貼り合せを行うが、特に、多数の基板を貼り合わせるような場合、集中力の低下などにより、貼り合わせ位置に誤差が生じやすくなる。
【0012】
手作業による電極のずれは、作業者の作業精度を向上させることにより減少させることができるが、作業者の作業精度には個人差があるため、作業者間で均一の作業精度を確保することは困難である。また、作業精度を向上させるには熟練や高度の注意力を要するため、作業者の育成などコスト面での制約もある。
【0013】
また、前述の電気検査によって電極のずれを検出することも可能であるが、電極のずれにある点を中心とする回転のずれが含まれている場合、回転の中心からの位置に応じてずれ量が異なるため、検査の精度を高めるには、検査点を基板のほぼ全面にわたって均等に分布させる必要がある。このように多点で検査を行おうとすると、検査時間が長引くことによるコストの上昇を招くという不都合がある。
【0014】
さらに、良品率の向上が各種の改善により図ることができても、不良品の発生は完全にはなくならないので、上記のように検査の精度を高めることができない状態では、不良品の出荷率を十分に低下させることは困難である。
【0015】
本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、短時間かつ高い精度で電極のずれを検出できる機能を備えた位置検出パネルおよびその機能を利用した位置検出パネルの検査方法を提供することにある。
【0016】
【課題を解決するための手段】
本発明の位置検出パネルは、上記の課題を解決するために、押圧操作される第1基板と、該第1基板に対向する第2基板とが所定の間隔をおいて貼り合わされ、前記第1基板が対向面に第1電極を有し、前記第2基板が対向面に第2電極を有し、該第1および第2電極の接触位置に基づいて前記第1基板上での押圧操作の位置を検出する位置検出パネルにおいて、前記第1電極と一定の位置関係を持つように形成される第1検査電極と、前記第2電極と一定の位置関係を持つように形成される第2検査電極とを備え、前記第1検査電極と前記第2検査電極とが、規定の位置に前記第1電極が形成された前記第1基板と、規定の位置に前記第2電極が形成された前記第2基板とが規定の位置に貼り合わされた状態で、前記第2基板上で規定の方向へ前記第1電極と前記第2電極とのずれの最大許容値の間隔をおくように配されていることを特徴としている。
【0017】
上記の構成では、第1検査電極が第1電極と一定の位置関係を持つように形成され、第2検査電極が第2電極と一定の位置関係を持つように形成されるので、、形成工程で第1電極にずれが生じれば第1検査電極にも同じずれが生じ、形成工程で第2電極にずれが生じれば第2検査電極にも同じずれが生じる。
【0018】
規定の位置に第1電極が第1基板と規定の位置に第2電極が形成された第2基板とが規定の位置に貼り合わされた状態では、第1電極と第2電極との間にずれが生じていないので、その状態で、第1検査電極と第2検査電極とが第2基板上での規定の方向に第1電極と第2電極とのずれの最大許容値の間隔をおくように配されることにより、製造の工程(第1電極および/または第2電極の形成や第1および第2基板の貼り合わせ)で、第1電極と第2電極との間にずれが生じると、そのずれと同等のずれが第1検査電極と第2検査電極との間にも生じる。それゆえ、そのずれが前記の最大許容値を超えると、第1検査電極と第2検査電極とが重なり合うようになる。そこで、第1検査電極および第2検査電極の部分を第1基板側から押圧操作すれば、両検査電極は接触する。これにより、両検査電極の導通状態が検出されれば、第1電極と第2電極とが最大許容値を超えてずれていることが判る。
【0019】
本発明の他の位置検出パネルは、上記の課題を解決するために、押圧操作される第1基板と、該第1基板に対向する第2基板とが所定の間隔をおいて貼り合わされ、前記第1基板が対向面に第1電極を有し、前記第2基板が対向面に第2電極を有し、該第1および第2電極の接触位置に基づいて前記第1基板上での押圧操作の位置を検出する位置検出パネルにおいて、前記第1電極と一定の位置関係を持つように形成される第1検査電極と、前記第2電極と一定の位置関係を持つように形成される第2検査電極とを備え、前記第1検査電極と前記第2検査電極とが、前記第2基板上での規定の方向への前記第1電極と前記第2電極とのずれの最大許容値の幅を有し、規定の位置に前記第1電極が形成された前記第1基板と、規定の位置に前記第2電極が形成された前記第2基板とが規定の位置に貼り合わされた状態で、前記規定の方向にずれなく重なり合うことを特徴としている。
【0020】
上記の構成でも、第1検査電極が第1電極と一定の位置関係を持つように形成され、第2検査電極が第2電極と一定の位置関係を持つように形成されるので、形成工程で第1電極にずれが生じれば第1検査電極にも同じずれが生じ、形成工程で第2電極にずれが生じれば第2検査電極にも同じずれが生じる。
【0021】
規定の位置に第1電極が第1基板と規定の位置に第2電極が形成された第2基板とが規定の位置に貼り合わされた状態では、第1電極と第2電極との間にずれが生じていないので、その状態で、第1検査電極と第2検査電極とが第2基板上での規定の方向に第1電極と第2電極とのずれの最大許容値の幅を有し、ずれなく重なり合い、かつ接触するように配されることにより、製造の工程(第1電極および/または第2電極の形成や第1および第2基板の貼り合わせ)で、第1電極と第2電極との間にずれが生じると、そのずれと同等のずれが第1検査電極と第2検査電極との間にも生じる。それゆえ、そのずれが前記の最大許容値を超えると、第1検査電極と第2検査電極とが重なり合わないようになる。そこで、第1検査電極および第2検査電極の部分を第1基板側から押圧操作すれば、両検査電極は接触しなくなる。これにより、両検査電極の非導通状態が検出されれば、第1電極と第2電極とが最大許容値を超えてずれていることが判る。
【0022】
前記の位置検出パネルにおいて、前記第1検査電極は前記第1電極と一体に形成され、前記第2検査電極は前記第2電極と一体に形成されていることが好ましい。このような構成では、第1検査電極を製造において第1電極と同じ形成工程で形成し、第2検査電極を製造において第2電極と同じ形成工程で形成することができる。それゆえ、両検査電極を形成するための工程を増加させないだけでなく、ずれ検査のための第1および第2検査電極の導通状態を第1および第2電極を介して外部に出力することができることから、その出力と位置検出の出力とを共通の出力配線で行うことが可能になる。
【0023】
先の位置検出パネルにおいては、前記第1または第2検査電極の一方が、前記第2基板上で他方の一部を包囲するように形成されていることが好ましい。このような構成では、第1および第2検査電極間でずれを特定する規定方向を多方向に設定することができ、様々な方向へのずれ検出に対応することができる。
【0024】
本発明の位置検出パネルの検査方法において、前述のいずれか1つの位置検出パネルにおいて、前記第1基板における前記第1および第2検査電極上の領域を押圧することにより、前記第1および第2検査電極の導通の有無を判定することを特徴としている。
【0025】
上記の方法では、先の位置検出パネルにおいて、第1基板における該当領域を押圧することで、第1および第2検査電極が導通すれば、前述のように第1および第2電極が最大許容値を超えてずれていることが検出され、第1および第2電極が導通していなければ、第1および第2電極が最大許容値を超えてずれていないことが検出される。また、他の位置検出パネルにおいては、第1および第2検査電極の導通により前述のようにずれが検出されず、非導通によりずれが検出される。
【0026】
【発明の実施の形態】
〔実施の形態1〕
本発明の一実施形態について図1ないし図6に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【0027】
図2(a)および(b)に示すように、本実施形態に係る位置検出パネルとしてのタッチパネルは、下側基板1と、上側基板2と、ドットスペーサ3と、透明電極4,5と、接続配線6,7と、コネクタテール8,9と、シール材10とを備えている。
【0028】
第2基板としての下側基板1と第1基板としての上側基板2とは、互いに対向するように一定間隔をおいて配されている。下側基板1は、透明なフィルムまたはガラスによって形成されており、上側基板2は、押圧操作を可能とするようにフィルムなどの可撓性透明材料によって形成されている。
【0029】
下側基板1の対向面には、一定の幅を有する薄膜状かつ短冊状の複数の透明電極4が互いに平行となるように形成されている。透明電極4は、ITOなどの透明導電材料によって形成されている。一方、上側基板2の対向面には、一定の幅を有する薄膜状かつ短冊状の複数の透明電極5が互いに平行となり、かつ透明電極4とほぼ直交するように形成されている。透明電極4は、ITOなどの透明導電材料によって形成されている。
【0030】
下側基板1上には多数のドットスペーサ3が形成されており、このドットスペーサ3によって下側基板1と上側基板2との間が一定間隔に保持される。そして、下側基板1と上側基板2とは、基板周縁に塗布されたシール材10によって貼り合わされている。
【0031】
また、下側基板1上には、透明電極4の一端とコネクタテール8とを接続するための銀などからなる接続配線6が透明電極毎に形成されている。上側基板2上にも同様に、透明電極5の一端とコネクタテール9とを接続するための銀などからなる接続配線7が透明電極毎に形成されている。接続配線6,7は、透明電極4,5と接続される電極端子部と、コネクタテール8,9と接続されるテール端子部と、両端子部間を接続する配線部とからなり、配線部は絶縁膜により覆われている。
【0032】
コネクタテール8は、透明電極4からの電圧を出力するためのフレキシブル基板からなる出力配線であり、下側基板1の一端縁に貼り付けられている。コネクタテール9は、透明電極5からの電圧を出力するためのフレキシブル基板からなる出力端子であり、下側基板2の一端縁に貼り付けられている。
【0033】
図1に示すように、透明電極4とこれに対向する透明電極5とで方形のスイッチ部がマトリクス状に形成され、スイッチ部の形成される領域が操作領域となる。上側基板2が押圧操作されると、該当部分のスイッチ部は、透明電極5が対向する透明電極4と接触することによりオンする。そのスイッチ部における導通により、そのスイッチ部の透明電極4,5から接続電極6,7およびコネクタテール8,9を介して出力される電圧に基づいて、図示しないコントローラでは、スイッチ部でのオン抵抗を計測し、押圧された入力座標位置を特定(検出)する。
【0034】
ここで、上記のように構成されるタッチパネルの製造工程について説明する。
【0035】
まず、上側基板2側について説明する。一方の面に一面にITO薄膜が形成されたフィルムを所望の大きさに切断した後、印刷台に位置決め部材に合わせた規定の位置に載置し、印刷台に設けられたバキューム装置にて吸引固定する。次いで、そのフィルムに透明電極5のストライプパターンのエッチングレジストをシルク印刷法により印刷し、エッチングによりエッチングレジストの印刷されていない領域のITO薄膜を除去する。これにより、透明電極5が形成される。また、透明電極5は、上記のようなエッチングによらず他の方法で形成されてもよい。例えば、レーザー光線を用いてITO薄膜の不要部分を除去するレーザーエッチングと呼ばれるエッチング法によって透明電極5を形成してもよい。
【0036】
続いて、接続配線7を形成するための銀ペーストをシルク印刷法により印刷し、さらに接続電極7の配線部上に絶縁膜を形成するための絶縁材料をシルク印刷により印刷する。そして、信号取り出し用の電極をフィルム上にシルク印刷し、その電極形成部分にコネクタテール9を貼り付ける。また、接続配線7の形成は、種々の方法を採用することが可能であり、上記の銀ペーストをシルク印刷する方法によらず他の方法を採用してもよい。例えば、蒸着法によって銀などの配線材料を上側基板2上に堆積形成させる方法がある。
【0037】
下側基板1側の同様の工程で、透明電極4、接続配線6および絶縁膜の形成や、コネクタテール8の貼り付けなどを行う。そして、基板周縁にシール材10を塗布して、下側基板1と上側基板2とを、両基板1,2の四隅に記された位置決め用のトンボマーク(十字形状のマーク)を両基板1,2間でそれぞれ一致させた状態で貼り合わせる。
【0038】
なお、透明電極5の形成と接続配線7の形成とは別工程で行われるが、透明電極5と接続配線7との接続位置を正確に合わせる必要があることから、これらの工程は上側基板2を印刷台に配置した同じ位置で行われる。このため、透明電極と接続配線7とは、一定の位置関係を持つように形成されるので、透明電極5の形成時に生じたずれは、同様に接続配線7にも生じる。したがって、配線電極7に形成される後述の上側検査電極71は透明電極5と同方向に同量ずれることになる。
【0039】
ところで、本タッチパネルにおいては、図1中上端の透明電極4の接続配線6の接続端とは逆の端部に下側検査電極41が設けられ、図1中右端の透明電極5の接続配線7の接続端に上側検査電極71が設けられている。上側検査電極71は透明電極4の上記の端部側に延設され、下側検査電極41は上側検査電極71側に延びるように形成されている。下側検査電極41および上側検査電極71は、透明電極4が規定の位置に形成された下側基板1および透明電極5が規定の位置に形成された上側基板2が、上記のトンボマークによって定まる規定の位置に貼り合わされ、かつ上側検査電極71が下側基板1上に押圧された状態で、下側基板1上で規定の方向へ透明電極4,5間のずれの最大許容値の間隔をおくように配されている。
【0040】
なお、上側検査電極71は、接続端子7の電極端子部を拡大することにより設けられているが、スペースを確保できれば、透明電極5における電極端子部付近を上側検査電極71と同方向に突出させて同様な形状に形成しても、透明電極5に上側検査電極71と同等の機能を持たせることができる。
【0041】
上記の下側検査電極41および上側検査電極71を備えることにより、上側基板2から両検査電極41,71の部分を押圧したときの両検査電極41,71の接触の有無から、透明電極4,5の規定方向のずれが最大許容値で定まる許容範囲を超えたか否かを判定することが可能になる。透明電極4,5のずれが許容範囲より小さい値であれば、両検査電極41,71のずれも同じ範囲(非接触範囲)内に収まるため、両検査電極41,71が接触しない。一方、透明電極4,5の規定方向のずれが許容範囲を超えれば、両検査電極41,71のずれも同様に非接触範囲を超えるため、両検査電極41,71が接触する。
【0042】
続いて、下側検査電極41および上側検査電極71の詳細について説明する。
【0043】
下側検査電極41および上側検査電極71は、最も基本的には、図3(a)に示すように構成される。図3(a)に示すように、透明電極4は、下側検査電極41として上側検査電極71に向かい合う端縁から上側検査電極71側に帯状に延びて形成される帯状電極41aを有している。一方、上側検査電極71は、下側検査電極41に向かい合う端縁から下側検査電極41側に帯状に延びて形成される帯状電極71aを有している。
【0044】
帯状電極41a,71aとの下側検査電極41および上側検査電極71は、下側基板1および上側基板2が規定の位置に貼り合わされた状態(以降、規定貼り合わせ状態と称する)でのX座標方向の間隔Xは、透明電極4,5間の規定の方向へのずれのX座標方向の最大許容値(以降、X方向最大許容値と称する)に設定されており、規定貼り合わせ状態でのY座標方向の間隔Yは、透明電極4,5間の規定の方向へのずれのY座標方向の最大許容値(以降、Y方向最大許容値と称する)に設定されている。X方向最大許容値は、例えば、透明電極5の幅の50%程度に設定され、Y方向最大許容値は、例えば、透明電極4の幅の50%程度に設定されるが、タッチパネルに要求される位置検出精度に応じて適宜設定される。
【0045】
このような構成では、帯状電極41aから帯状電極71a方向への透明電極4のずれや、その逆方向への透明電極5のずれがX方向最大許容値を超えると帯状電極41a,71aが重なり合う。このような状態で帯状電極41a,71a上の上側基板2が押圧されると、帯状電極41a,71aが接触し、その導通状態をとらえることによって電極のずれが検出される。また、帯状電極41aから上側検査電極71方向への透明電極4のずれや、その逆方向への透明電極5のずれがY方向最大許容値を超えると帯状電極41a,71aが重なり合う。しかしながら、帯状電極41a,71aが互いにX座標方向に離れていくずれや、帯状電極41aと上側検査電極71aとが互いにY座標方向に離れていくずれが生じている場合、そのずれは検出できない。
【0046】
図3(b)に示す構成では、上側検査電極71が、帯状電極41aを間において同様な大きさかつ形状の帯状電極71bを有している。この帯状電極71bも、下側検査電極41に向かい合う端縁から下側検査電極41側に向かって形成されており、帯状電極41aの間隔XはX方向最大許容値をおいて配されている。このような構成では、図3(a)の構成が検出できなかったX座標方向の上記のずれを検出することができるが、Y座標方向の上記のずれについては検出できない。
【0047】
図3(c)に示す構成では、図3(b)に示す帯状部材71a,71bを設ける代わりに、帯状部材41aより長く形成された帯状部材41bの先端部分を取り囲む凹部71cが上側検査電極71に設けられていてもよい。したがって、この構成では、帯状電極41bの先端部分が凹部71内に配置される。勿論、この構成においても、帯状電極41bと凹部71cとの間隔XはX方向最大許容値に設定され、間隔YはY方向最大許容値に設定されているので、図3(b)に示す構成と同様の方向にずれを検出することができる。
【0048】
図4(a)に示す構成では、下側検査電極41として下側電極4が振子状電極41cを有している。振子状電極41cは、上側検査電極71に向かい合う端縁から上側検査電極71側に帯状に延びて形成される帯状部と、この帯状部の先端に設けられた円形部とからなる。一方、上側検査電極71は、振子状電極41cの円形部より大きい径の円形部と、この円形部と上側検査電極71の端縁との間に形成される括れ部を有する凹部71dを有している。また、括れ部の幅は、振子状電極41cの帯状部の幅より大きく設定されている。
【0049】
振子状電極41cおよび上側検査電極71の両円形部間の間隔X,Yは、それぞれX,Y方向最大許容値に設定されている。また、ここでは、間隔X,Yを等しく設定することにより、両円形部間の間隔が間隔X(=Y)となる。一方、振子状電極41cの帯状部と凹部71dの括れ部との間隔XはX方向最大許容値に設定されている。
【0050】
上記の構成においては、振子状電極41cおよび凹部71dの両円形部により、X座標方向またはY座標方向の単独のずれだけでなく、両方向の合成のずれも適正に検出することができる。しかも、電極平面内のどの方向にずれても、振子状電極41cと上側検査電極71とが重なり合うため、図3の各構成のように、ずれの検出可能な方向に制限がない。また、振子状電極41cの帯状部および凹部71dの括れ部により、X座標方向のずれが検出されるのは勿論であるが、帯状部が比較的長く形成されることから、ある点を中心に回転して生じる回転性のずれが生じている場合には、帯状部もそれに応じて傾斜するため上側検査電極71と重なり、そのような回転性のずれを比較的容易に検出することができる。
【0051】
図4(b)に示す構成では、下側検査電極41として下側電極4が十字状電極41dを有している。十字状電極41dは、上側検査電極71に向かい合う端縁から上側検査電極71側に帯状に延びた十字状に形成されている。一方、上側検査電極71は、十字状電極41dの外形より大きい十字形状の凹部71eを有している。十字状電極41dおよび凹部71e間の間隔X,Yは、それぞれX,Y方向最大許容値に設定されている。
【0052】
上記の構成においても、十字電極41dおよび凹部71eにより、X座標方向またはY座標方向の単独のずれだけでなく、両方向の合成のずれも適正に検出することができ、図3の各構成のように、ずれの検出可能な方向に制限がない。また、十字状電極41dのY座標方向に延びる部分が振子状電極41cの帯状部と同様に比較的長く形成されることから、回転性のずれを比較的容易に検出することができる。
【0053】
図5(a)に示す構成では、下側検査電極41として下側電極4が屈曲電極41eを有している。屈曲電極41eは、下側電極4の端縁から上側検査電極71側に延びる延設部と、その先端から垂直方向に下側電極4の端縁と平行に延びる平行部と、その先端から下側電極4側に垂直に屈曲する垂直部と、その先端からる延設部側に垂直に屈曲する先端部とを有している。一方、上側検査電極71は、屈曲電極41eと逆方向に延びる同形状の屈曲電極71fを下側電極4と向かい合う側の端縁に有している。屈曲電極41e,71fとは、それぞれの先端部の内側が互いに平行に向き合うように配されており、相互の間の間隔X,YがそれぞれX,Y方向最大許容値に設定されている。
【0054】
このような構成においても、屈曲電極41e,71fにより、前述の図4(a)および(b)の構成と同様、X座標方向またはY座標方向の単独のずれだけでなく、両方向の合成のずれも適正に検出することができ、図3の各構成のように、ずれの検出可能な方向に制限がない。また、屈曲電極41e,71fの最も長い延設部により、回転性のずれを比較的容易に検出することができる。
【0055】
図5(b)に示す構成では、下側検査電極41として下側電極4が渦巻き電極41fを有している。渦巻き電極41fは、下側電極4の端縁から上側検査電極71側に延びた太い根元部と、根元部からそれより細で渦巻き状に延びるように形成された渦巻き部とを有している。一方、上側検査電極71は、渦巻き電極41fの渦巻き部と逆方向に延びる同形状の根元部および渦巻き部を有する渦巻き電極71gを下側電極4と向かい合う側の端縁に有している。渦巻き電極41f,71gとは、それぞれの渦巻き部の先端部分の内側が互いに向き合うように配されており、両渦巻き部間の間隔が図4(a)の両円形部間の間隔(X=Y)と同様に設定されている。
【0056】
このような構成においても、渦巻き電極41f,71gにより、前述の図4(a)および(b)の構成と同様、X座標方向またはY座標方向の単独のずれだけでなく、両方向の合成のずれも適正に検出することができ、図3の各構成のように、ずれの検出可能な方向に制限がない。また、渦巻き電極41f,71gの渦巻き部によっても、回転性のずれを比較的容易に検出することができる。
【0057】
引き続き、上記のように構成されるタッチパネルの電気検査について説明する。
【0058】
電気検査においては、押圧装置と電気チェッカーとを含む検査装置が用いられ、透明電極4,5のずれによる検査に続いて、透明電極4,5の交差領域すなわちスイッチ部の導通検査が行われる。押圧装置は、スイッチ部や上側基板2における前述の両検査電極41,71上の検査領域を上方から降下して押圧する棒状部材を有している。上側基板2などを傷つけないように、棒状部材の先端にはゴムが取り付けられている。押圧部材の押圧位置をコンピュータ制御などによって自動的に移動できるように押圧装置が構成されていてもよいが、押圧部材の押圧位置を手動で移動させてもよい。
【0059】
まず、検査対象となるタッチパネルが検査台の所定位置に載置されると、押圧部材が上側基板2における前記の検査領域を押圧する。このとき、両検査電極41,71が重なっていれば互いに接触するため、電気チェッカーはNGと判定する。これにより、透明電極4,5のずれが許容範囲を超えているため、検査対象のタッチパネルを不良品と判定することができる。一方、両検査電極41,71が重なっていなければ互いに接触しないため、電気チェッカーはOKと判定する。これにより、透明電極4,5のずれが許容範囲を超えていないため、検査対象のタッチパネルを良品と判定することができる。
【0060】
続いて、良品と判定されたタッチパネルについて、所定の何点かのスイッチ部を押圧部材によって押圧する。これによって、電気チェッカーはそれぞれのスイッチ部で検出された導通信号に基づいてオン抵抗を測定し、そのオン抵抗が各スイッチ部に設定された規定のオン抵抗である場合には良品と判定し、規定のオン抵抗から外れる場合には不良品と判定する。
【0061】
以上に述べたように、本実施の形態のタッチパネルは、下側基板1および上側基板2が規定の位置に貼り合わされた状態で、下側基板1上での規定の方向への透明電極4,5間のずれの最大許容値の間隔をおくように配された下側検査電極41および上側検査電極71を備えている。これにより、透明電極4,5のずれを前記のように電気的に判定することができる。それゆえ、人手によらずに正確な検査を行うことが可能になるので、不良品が出荷されるという不都合をより確実に防止するとともに、検査作業者の作業負担を軽減する。また、両検査電極41,71がタッチパネルの操作領域内に配置されていたとしても、ユーザが誤って検査領域を押したときには、良品のタッチパネルであれば両検査電極41,71で導通することはない。したがって、良品のタッチパネルにおいて検査領域が押されても、下側検査電極41が設けられる透明電極4と上側検査電極71が設けられる接続配線7に接続された透明電極5との交点におけるスイッチ部が押圧されたと誤って検出されることはない。
【0062】
しかも、下側検査電極41は、透明電極4と一体に設けられているので、製造において透明電極4の形成工程で形成され、上側検査電極71は、接続配線7と一体に設けられているので、製造において接続配線7の形成工程で形成される。それゆえ、両検査電極41,71を形成するための工程を増加させないだけでなく、接続配線6,7が、位置検出のための導通信号の出力と、ずれ検査のための導通信号の出力とを兼ねるので、ずれ検査のために独立した配線や出力端子を設ける必要がない。
【0063】
しかしながら、両検査電極41,71が透明電極4や接続配線7と独立して設けられるような構成であっても、前記のような正確なずれ検査を行うことができることから、独立した検査電極のための配線や出力端子が必要となるものの、本発明に含まれるのは勿論である。ただし、両検査電極41,71が透明電極4や接続配線7と独立して設けられるような構成では、下側検査電極41が透明電極4と同等にずれるとともに、上側検査電極71が接続配線7と同等にずれるために、下側検査電極41が透明電極4と同一の工程で形成される必要があり、上側検査電極71が接続配線7と同一の工程で形成される必要がある。
【0064】
なお、本実施の形態では、両検査電極41,71がタッチパネルにおいて1つずつ設けられる例について説明したが、その設置数については限定されない。例えば、タッチパネルの四隅のうちの少なくとも2箇所に検査電極を設けておけば、ずれの検出方向に制限のある図3(a)ないし(c)の構成であっても、X,Y座標方向および回転性に方向の制約のないずれ検出を行うことができる。特に、図4および図5の構成では、ずれの検出方向に制限がないため、両検査電極41,71を1箇所に設けるだけで精度の高いずれ検出が可能になる。
【0065】
また、両検査電極41,71の形状は、図3ないし図5に示した形状に限定されることなく、透明電極4,5のずれを検出できれば種々の形状が適用可能である。さらに、下側検査電極41および上側検査電極71が互いに逆の電極構造を有していてもよい。つまり、このような構成では、上側検査電極71が透明電極4側に向かって延びる、下側検査電極41と同形状の検査電極を有する一方、透明電極4の端部が上側検査電極71と同様な構造となるような形状に形成されている。
【0066】
ここで、本実施の形態の変形例について説明する。
【0067】
前述の実施の形態では、両検査電極41,71が互いに重なり合うときに透明電極4,5のずれを検出するが、本変形例では、両検査電極41,71が互いに重なり合うときに透明電極4,5のずれを検出せず、重なり合わなくなったときにずれを検出する構成を提供する。
【0068】
具体的には、図6に示す構成では、透明電極4から延長された延設部42が設けられ、接続配線7の電極端子部から延設部42と平行に延長された延設部72を有し、延設部42は延設部72側に延びる下側検査電極42aを有する一方、延設部72は延設部42側に延びる上側検査電極72aを有している。両検査電極42a,72aは、それぞれの先端部が同じ大きさかつ同じ形状に形成されている。また、両検査電極42a,72aは、下側基板1および上側基板2の規定貼り合わせ状態で、それぞれの先端部が互いに重なり合うように設けられている。先端部のX座標方向の最大幅WはX方向最大許容値に設定され、両先端部のY座標方向の重なりの最大長さLはY方向最大許容値に設定されている。
【0069】
このような構成では、透明電極4,5のずれがX方向最大許容値またはY方向最大許容値を超えないとき、両検査電極42a,72aの先端部が少なくとも一部で重なり合うので、両検査電極42a,72a上の検査領域を押圧すると、両検査電極42a,72aでの導通が得られ、そのタッチパネルが良品と判定される。一方、透明電極4,5がX方向最大許容値またはY方向最大許容値を超えてずれているとき、両検査電極42a,72aの先端部が重なり合わなくなるので、両検査電極42a,72a上の検査領域を押圧しても、両検査電極42a,72aでの導通が得られず、そのタッチパネルが不良品と判定される。
【0070】
上記の構成によっても、透明電極4,5のずれを電気的に判定することができるので、前述の実施の形態の構成と同様、高精度のずれ検出を可能にするが、導通によりずれを検出するので、ユーザが誤って両検査電極42a,72aの部分を押すと、両検査電極42a,72aに対応するスイッチ部の導通が検出されるという誤検出が生じる。このような不都合を回避するには、両検査電極42a,72aをそれぞれ延設部42,72と独立して形成すればよいが、前述のように、そのための配線や出力端子が必要となる。あるいは、両検査電極42a,72a上の検査領域を押圧されないようにカバーなどで覆ってもよいが、そのために部品点数や製造工程数の増加を招き、製品コストを上昇させてしまう。
【0071】
なお、上記の構成においても、両検査電極42a,72aの形状は問わないが、重なり合う先端部が、検出方向の制限をなくす観点で、前述の振子状電極41cの円形部と同様に形成されていることが望ましい。
【0072】
〔実施の形態2〕
本発明の他の実施形態について図3ないし図8に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【0073】
図7(a)および(b)に示すように、本実施形態に係る位置検出パネルとしてのタッチパネルは、下側基板11と、上側基板12と、ドットスペーサ13と、透明電極14,15と、電極16〜19と、コネクタテール20と、シール材21とを備えている。
【0074】
第2基板としての下側基板11と第1基板としての上側基板12とは、互いに対向するように一定間隔をおいて配されている。下側基板11は、透明なフィルムまたはガラスによって形成されており、上側基板12は、押圧操作を可能とするようにフィルムなどの可撓性透明材料によって形成されている。
【0075】
下側基板11の対向面には、両側端縁部に一定の幅を有する第2電極としての電極16,17と、これらの間にITOなどの透明導電材料からなる薄膜状の透明導電膜14が形成されている。一方、上側基板2の対向面には、両側端縁部に電極16,17と直交するように配されて一定の幅を有する第1電極としての電極18,19と、これらの間にITOなどの透明導電材料からなる薄膜状の透明導電膜15とが形成されている。
【0076】
下側基板11上には多数のドットスペーサ13が形成されており、このドットスペーサ13によって下側基板11と上側基板12との間が一定間隔に保持される。そして、下側基板11と上側基板12とは、基板周縁に塗布されたシール材20によって貼り合わされている。
【0077】
また、上側基板12には、電極16,17および電極18,19の電圧を外部に取り出すためのコネクタテール20が取り付けられている。下側基板11の電極18,19からのコネクタテール20への信号伝達は図示しない電極端子によって行なわれる。上記の電極16〜19は、絶縁膜により覆われている。
【0078】
透明導電膜14,15の全体が操作領域となる。上側基板12が押圧操作されると、透明導電膜14においては押圧点(入力点)で電極16,17間の抵抗値(Y座標方向の抵抗値)が分割され、透明導電膜15においては押圧点(入力点)で電極18,19間の抵抗値(X座標方向の抵抗値)が分割される。そして、電極18(正極)に電圧Eを印加して電極18から押圧点を経て電極16(負極)に現れる電圧を計測することによりX座標値が検出され、電極17(正極)に電圧Eを印加して電極17から押圧点を経て電極19(負極)に現れる電圧を計測することによりY座標値が検出される。このようにして、押圧操作された入力位置のX座標値およびY座標値が得られる。
【0079】
ここで、上記のように構成されるタッチパネルの製造工程について説明する。
【0080】
まず、上側基板12側について説明する。一方の面に一面にITO薄膜が形成されたフィルムを所望の大きさに切断し、印刷台に位置決め部材に合わせた規定の位置に載置する。次いで、そのフィルムに電極18,19のパターンのエッチングレジストをシルク印刷法により印刷し、エッチングによりエッチングレジストの印刷されていない領域のITO薄膜を除去する。これにより、透明導電膜15が形成される。
【0081】
続いて、電極18,19を形成するための銀ペーストをシルク印刷法により印刷し、さらに電極18,19上に絶縁膜を形成するための絶縁材料をシルク印刷により印刷する。そして、信号取り出し用の電極をフィルム上にシルク印刷し、その電極形成部分にコネクタテール20を貼り付ける。
【0082】
下側基板12側の同様の工程で、透明導電膜14および電極16,17や絶縁膜の形成などを行う。そして、基板周縁にシール材21を塗布して、下側基板11と上側基板12とを、両基板11,12の四隅に記された位置決め用のトンボマーク(十字形状のマーク)を両基板11,12間でそれぞれ一致させた状態で貼り合わせる。
【0083】
ところで、本タッチパネルにおいては、図8(a)に示すように、上側基板12が透明導電膜15の領域を超えて図中右側へ拡張しており、その拡張された上側基板12上で、電極17の図中右端が透明導電膜15の領域を超えて延設され、その先端部に下側検査電極171が設けられている。第2検査電極としての下側検査電極171は、電極17の長手方向に垂直な方向に、上側基板12の電極16側端縁方向へ延びるように形成されている。このように、下側検査電極171は、電極17と一体に形成されることにより、電極17と一定の位置関係を保つように形成される。
【0084】
一方、図8(b)に示すように、上側基板11が透明導電膜15の領域を超えて図中右側へ拡張しており、その拡張された上側基板11上で、下側電極11の電極18の図中上端からやや下方に上側検査電極181が設けられている。第1検査電極としての上側検査電極181は、下側検査電極171と平行に延びるように形成されている。このように、下側検査電極181は、電極18と一体に形成されることにより、電極18と一定の位置関係を保つように形成される。
【0085】
図8(c)に示すように、下側検査電極171および上側検査電極181は、電極16,17が規定の位置に形成された下側基板11および電極18,19が規定の位置に形成された上側基板12が、上記のトンボマークによって定まる規定の位置に貼り合わされ、かつ下側検査電極171が下側基板11上に押圧された状態で、下側基板11上で規定の方向へ電極16,17と電極18,19との間のずれの最大許容値の間隔をおくように配されている。
【0086】
上記の下側検査電極171および上側検査電極181を備えることにより、上側基板12から両検査電極171,181の部分を押圧したときの両検査電極171,181の接触の有無から、電極16,17と電極18,19との間の規定方向のずれが実施の形態1で述べた最大許容値で定まる許容範囲を超えたか否かを判定することが可能になる。電極16,17と電極18,19との間のずれが許容範囲より小さい値であれば、両検査電極171,181のずれも同じ範囲(非接触範囲)内に収まるため、両検査電極171,181が接触しない。一方、電極16,17と電極18,19との間の規定方向のずれが許容範囲を超えれば、両検査電極171,181のずれも同様に非接触範囲を超えるため、両検査電極171,181が接触する。
【0087】
下側検査電極171および上側検査電極181は、具体的には、実施の形態1における図3ないし図5の構成と同じであるので、その説明を省略する。
【0088】
上記のように構成されるタッチパネルの電気検査について説明する。
【0089】
電気検査においては、実施の形態1と同様の押圧装置と電気チェッカーとを含む検査装置が用いられ、電極16,17と電極18,19との間のずれによる検査に続いて、透明導電膜14,15の導通検査が行われる。
【0090】
まず、検査対象となるタッチパネルが検査台の所定位置に載置されると、押圧部材が上側基板12における両検査電極171,181上の検査領域を押圧する。このとき、両検査電極171,181が重なっていれば互いに接触するため、電気チェッカーはNGと判定する。これにより、電極16,17と電極18,19との間のずれが許容範囲を超えているため、検査対象のタッチパネルを不良品と判定することができる。一方、両検査電極171,181が重なっていなければ互いに接触しないため、電気チェッカーはOKと判定する。これにより、電極16,17と電極18,19との間のずれが許容範囲を超えていないため、検査対象のタッチパネルを良品と判定することができる。
【0091】
続いて、良品と判定されたタッチパネルについて、透明導電膜14,15における所定の何点かを押圧部材によって押圧する。これによって、電気チェッカーはそれぞれの押圧点で検出された電圧を測定し、その電圧がその押圧点に設定された規定範囲内の電圧である場合には良品と判定し、規定範囲外の電圧である場合には不良品と判定する。
【0092】
以上に述べたように、本実施の形態のタッチパネルは、下側基板11および上側基板12が規定の位置に貼り合わされた状態で、下側基板11上での規定の方向への電極16,17と電極18,19との間のずれの最大許容値の間隔をおくように配された下側検査電極171および上側検査電極181を備えている。これにより、電極16,17と電極18,19とのずれを前記のように電気的に判定することができる。それゆえ、人手によらずに正確な検査を行うことが可能になるので、不良品が出荷されるという不都合をより確実に防止することができ、また検査作業者の作業負担が軽減される。また、両検査電極171,181がタッチパネルの操作領域内に配置されていたとしても、ユーザが誤って検査領域を押したときには、良品のタッチパネルであれば両検査電極171,181で導通することはない。したがって、良品のタッチパネルにおいて検査領域が押されても、通常は両検査電極171,181にそれぞれ接続される電極17,18の領域を押圧するのではなく透明導電膜14,15の領域を押圧するように構成されているので、透明導電膜14,15のいずれかの部分が押圧されたと誤って検出されることはない。
【0093】
しかも、両検査電極171,181は、それぞれ電極18,17と一体に設けられているので、製造において電極18,17の形成工程で形成される。それゆえ、両検査電極171,181を形成するための工程を増加させないだけでなく、電極18,17が、位置検出のための電圧の出力と、ずれ検査のための導通信号の出力とを兼ねるので、ずれ検査のために独立した配線や出力端子を設ける必要がない。しかしながら、両検査電極181,171がそれぞれ電極181,171と独立して設けられるような構成であっても、前記のような正確なずれ検査を行うことができることから、独立した検査電極のための配線や出力端子が必要となるものの、本発明に含まれるのは勿論である。
【0094】
なお、本実施の形態では、両検査電極181,171がタッチパネルにおいて1つずつ設けられる例について説明したが、その設置数については限定されない。例えば、タッチパネルの四隅のうちの少なくとも2箇所に検査電極を設けておけば、ずれの検出方向に制限のある図3(a)ないし(c)の構成であっても、X,Y座標方向および回転性に方向の制約のないずれ検出を行うことができる。特に、図4および図5の構成では、ずれの検出方向に制限がないため、両検査電極181,171を1箇所に設けるだけで精度の高いずれ検出が可能になる。
【0095】
また、両検査電極181,171の形状は、図3ないし図5に示した形状に限定されることなく、電極16,17と電極18,19とのずれを検出できれば種々の形状が適用可能である。さらに、上側検査電極181および下側検査電極171が互いに逆の電極構造を有していてもよい。つまり、このような構成では、上側検査電極181が下側検査電極171側に向かって延びる、下側検査電極171と同形状の検査電極を有する一方、下側検査電極171が上側検査電極181と同様な電極構造となるような形状に形成されている。
【0096】
さらに、本実施の形態でも実施の形態1で述べた変形例と同様、両検査電極171,181が互いに重なり合うときに電極16,17と電極18,19とのずれを検出するようにしてもよく、例えば、図6に示す構成が適用できる。
【0097】
〔実施の形態3〕
本発明のさらに他の実施形態について図3ないし図6ならびに図9および図10に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【0098】
図9(a)および(b)に示すように、本実施形態に係る位置検出パネルとしてのメンブレンスイッチは、上側シート31と、下側シート32と、下側接点シート33と、上側接点シート34と、スペーサ35とを備えている。
【0099】
第2基板としての下側シート31と第1基板としての上側シート32とは、互いに対向するように一定間隔をおいて配されている。上側シート32には、スイッチ操作をする領域が分かりやすいように操作部321が設けられている。操作部321は、エンボス状に上方へ膨出するように形成されていてもよいし、表面に他の部分と異なる加工(ざらつき加工やエナメル状加工)が施されていてもよい。この操作部321は、押圧操作を可能とするために下方に変形するように形成されている。
【0100】
第2基板としての下側接点シート33は、ポリエステルなどからなるフィルムによって形成されており、操作部321と対向する位置に第2電極としての接点電極36が設けられている。この接点電極36は、導電インクを上記のフィルム上に印刷することによって形成されており、一列ずつ共通接続されている。また、第1基板としての下側接点シート33は、接点電極36から引き出される配線パターンをまとめて外部に取り出すためのテール部33aを有している。下側接点シート33には、上記の配線パターンも、導電インクの印刷によって接点電極36と同様に形成される。
【0101】
一方、上側接点シート34も、下側接点シート34と同材料のフィルムによって形成されており、操作部321と対向する位置に第1電極としての接点電極37が設けられている。この接点電極37も、導電インクの印刷によって接点電極36と同様に形成されているが、接点電極36の列と直交する方向に一行ずつ共通接続されている。また、上側接点シート34は、接点電極37から引き出される配線パターンをまとめて外部に取り出すための図示しないテール部を有している。
【0102】
スペーサ35は、両接点シート33,34間に挟持されるように設けられており、ポリエステルなどからなるフィルムによって形成されている。また、スペーサ35は、操作部321と対向する位置に貫通孔351を有しており、操作部321の押圧操作によって下方に押し下げられた接点電極37をその貫通孔351を介して接点電極36に接することができるように構成されている。
【0103】
下側シート31は、上側シート32との対向面の全体に粘着材が塗布されており、下側接点シート33を保持するとともに、上側シート32と周縁で貼り合わされる。これにより、下側シート31と上側シート32との間に両接点シート33,34とスペーサ35とが固定保持される。
【0104】
上記のように構成されるメンブレインスイッチにおいて、下側シート33と上側シート34との間で、複数の接点電極列と複数の接点電極行とが交差することにより、マトリクス状電極群が構成されている。これにより、本メンブレインスイッチは、図1のタッチパネルと同様に、各接点電極36,37の対に応じた押圧位置(入力点)の座標信号を出力することから、押圧操作される入力位置を検出する機能を有するが、予め押圧操作される位置が固定されているので、キーボードなどの入力装置に適している。
【0105】
ここで、上記のように構成されるメンブレンスイッチの製造工程について説明する。
【0106】
まず、下側接点シート33用のフィルムを印刷台に位置決め部材に合わせた規定の位置に載置すると、そのフィルムの一方の面に、接点電極36および配線を形成するための所定パターンに導電インクをシルク印刷で印刷する。一方、上側接点シート34用のフィルムを印刷台に位置決め部材に合わせた規定の位置に載置すると、そのフィルムの一方の面に、接点電極37を形成するための所定パターンに導電インクをシルク印刷で印刷する。
【0107】
次いで、両接点シート33,34およびスペーサ35の四隅に記された位置決め用のトンボマーク(十字形状のマーク)をそれぞれ一致させた状態で仮固定し、下側シート31の所定位置に配置して、その上から上側シート32を覆いかぶせることによって、下側シート31と上側シート32とを貼り合わせる。
【0108】
上記の接点電極36,37の印刷工程においては、印刷台上にフィルムが正しい位置に配置されないと、接点電極36,37の印刷ずれが生じ、接点電極36,37が正しい位置からずれて形成されてしまう。また、貼り合わせの構成においても、上側シート32、両接点シート33,34およびスペーサ35が正しい位置に合わされた状態で貼り合わされないと、接点電極36,37やスペーサ35の貫通孔351の位置がずれてしまう。このため、正しいスイッチ動作が行えなくなるおそれがある。
【0109】
ところで、本メンブレンスイッチにおいては、図10(a)および(b)に示すように、少なくとも1つの接点電極36に、下側接点シート33上でいずれか一方向に突出する下側検査電極361が設けられており、その接点電極36に対向する接点電極37に、上側接点シート34上で下側検査電極361と同方向に突出する上側検査電極371が設けられている。下側検査電極361は、接点電極36と一体に形成されることにより、接点電極36と一定の位置関係を保つように形成される。また、上側検査電極371は、接点電極37と一体に形成されることにより、接点電極37と一定の位置関係を保つように形成される。
【0110】
第1検査電極としての上側検査電極371は、第2検査電極としての下側検査電極361とほぼ同じ外形を有し、下側検査電極361よりも大きい貫通部371aを有している。また、スペーサ35の貫通孔351は、上側検査電極37aの下方への変位を可能とするように貫通部351aを有している。
【0111】
図10(d)に示すように、下側検査電極361および上側検査電極371は、規定の位置に接点電極36が形成された下側接点シート33および規定の位置に接点電極37が形成された上側接点シート34が規定の位置に合わされ、かつ接点電極37が押圧されて接点電極36と接触した状態で、下側接点シート33上で規定の方向へ接点電極36,37のずれの最大許容値の間隔をおくように配されている。
【0112】
なお、図10(b)および(d)では、上側接点シート34の下面側に接点電極37が設けられているため、接点電極37を破線で図示すべきであるが、分かりやすくするために接点電極37を実線で描いている。
【0113】
上記の下側検査電極361および上側検査電極371を備えることにより、上側シート32から両検査電極361,371の部分を押圧したときの両検査電極361,371の接触の有無から、接点電極36,37間の規定方向のずれが実施の形態1で述べた最大許容値で定まる許容範囲を超えたか否かを判定することが可能になる。接点電極36,37間のずれが許容範囲より小さい値であれば、両検査電極361,371のずれも同じ範囲(非接触範囲)内に収まるため、両検査電極361,371が接触しない。一方、接点電極36,37間の規定方向のずれが許容範囲を超えれば、両検査電極361,371のずれも同様に非接触範囲を超えるため、両検査電極361,371が接触する。
【0114】
下側検査電極361および上側検査電極371は、具体的には、実施の形態1における図3ないし図5の構成と同じである。
【0115】
具体的には、接点電極36,37が重なり合うことから、接点電極36は、下側検査電極361として図3(a)および(b)に示す帯状電極41aと同等の電極を有し、接点電極37は、上側検査電極371として接点電極37から延びる向きは逆となるが帯状電極41aとの関係が帯状電極71a,71bと同等の電極を有している。
【0116】
また、接点電極36は、下側検査電極361として図5(a)または(b)に示す屈曲電極41eまたは渦巻き電極42fと同等の電極を有し、接点電極37は、上側検査電極371として接点電極37から延びる向きは逆となるが屈曲電極41eまたは渦巻き電極42fとの配置関係が屈曲電極71fまたは渦巻き電極71gと同等の電極を有している。
【0117】
さらに、図10(a)に示す下側検査電極361は、図4(a)に示す振子状電極42cと同等の形状をなしており、図10(b)に示す貫通部371aは図4(a)に示す凹部71dと同形状をなしている。その他、下側検査電極361は、図4(b)に示す十字状電極41dと同等の形状をなしており、貫通部371aは図4(b)に示す凹部71eと同形状をなしている。
【0118】
上記のように構成されるメンブレインスイッチの電気検査について説明する。
【0119】
電気検査においては、実施の形態1と同様の押圧装置と電気チェッカーとを含む検査装置が用いられ、設定36,37間のずれによる検査に続いて、接点電極36,37の導通検査が行われる。
【0120】
まず、検査対象となるメンブレインスイッチが検査台の所定位置に載置されると、押圧部材が上側シート32における下側検査電極361および上側検査電極371上の検査領域を押圧する。このとき、接点電極36,37が適正に重なっていれば互いに接触するため、電気チェッカーはNGと判定する。これにより、接点電極36,37間のずれが許容範囲を超えているため、検査対象のメンブレインスイッチを不良品と判定することができる。一方、両検査電極361,371が重なっていなければ互いに接触しないため、電気チェッカーはOKと判定する。これにより、接点電極36,37間のずれが許容範囲を超えていないため、検査対象のメンブレインスイッチを良品と判定することができる。
【0121】
続いて、良品と判定されたメンブレインスイッチについて、所定のいくつかの操作部321を押圧部材によって押圧する。これによって、電気チェッカーはそれぞれの押圧点で検出された電圧を測定し、その電圧がその押圧点に設定された規定範囲内の電圧である場合には良品と判定し、規定範囲外の電圧である場合には不良品と判定する。
【0122】
以上に述べたように、本実施の形態のメンブレインスイッチは、下側シート31および上側シート32が規定の位置に貼り合わされた状態で、下側接点シート33上での規定の方向への接点電極36,37間のずれの最大許容値の間隔をおくように配された下側検査電極361および上側検査電極371を備えている。これにより、接点電極36,37のずれを前記のように電気的に判定することができる。それゆえ、人手によらずに正確な検査を行うことが可能になるので、不良品が出荷されるという不都合をより確実に防止することができ、また検査作業者の作業負担が軽減される。また、両検査電極361,371がメンブレインスイッチの操作領域内に配置されていたとしても、ユーザが誤って検査領域を押したときには、良品のメンブレンスイッチであれば両検査電極361,371で導通することはない。したがって、良品のメンブレンスイッチにおいて検査領域が押されても、下側検査電極361が設けられる接点電極36と上側検査電極371が設けられる接点電極37とが押圧されたと誤って検出されることはない。
【0123】
しかも、両検査電極361,371は、それぞれ接点電極36,37と一体に設けられているので、製造において接点電極36,37の形成工程で形成される。それゆえ、両検査電極361,371を形成するための工程を増加させないだけでなく、接点電極36,37が、位置検出のための入力電極と、ずれ検査のための入力電極とを兼ねるので、ずれ検査のために独立した配線や電極を設ける必要がない。しかしながら、両検査電極361,371がそれぞれ接点電極36,37と独立して設けられるような構成であっても、前記のような正確なずれ検査を行うことができることから、独立した検査電極のための配線や出力端子が必要となるものの、本発明に含まれるのは勿論である。
【0124】
なお、本実施の形態では、両検査電極361,371がメンブレインスイッチにおいて1つずつ設けられる例について説明したが、その設置数については限定されない。例えば、メンブレインスイッチの四隅の接点電極36,37のうちの少なくとも2つの接点電極36,37に検査電極を設けておけば、ずれの検出方向に制限のある図3(a)ないし(c)と同等の検査電極構成であっても、X,Y座標方向および回転性に方向の制約のないずれ検出を行うことができる。特に、図4および図5の構成では、ずれの検出方向に制限がないため、両検査電極361,371を1箇所に設けるだけで精度の高いずれ検出が可能になる。
【0125】
また、両検査電極361,371の形状は、図3ないし図5の構成に相当する形状に限定されることなく、接点電極36,37のずれを検出できれば種々の形状が適用可能である。さらに、下側検査電極361および上側検査電極371が互いに逆の電極構造を有していてもよい。つまり、このような構成では、上側検査電極376が下側検査電極361の電極構造を有する一方、下側検査電極361が上側検査電極371と同様な電極構造となるような形状に形成されている。
【0126】
さらに、本実施の形態でも実施の形態1で述べた変形例と同様、両検査電極361,371が互いに重なり合うときに接点電極36,37のずれを検出するようにしてもよく、例えば、図6に示す構成が適用できる。
【0127】
本発明は、上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
【0128】
例えば、実施の形態1および2では、それぞれデジタルマトリクス式のタッチパネルとアナログ抵抗膜式のタッチパネルについて説明したが、本発明は、このようななタッチパネルに限らず、対向する電極の接触により位置を検出する構成を有するものであれば、例えば、導電膜式のタッチパネルであっても適用が可能である。また、タッチパネル以外でも実施の形態3のようなメンブレンスイッチやその他の位置検出パネルも、対向する電極の接触により位置を検出する構成を有するものであれば、本発明の適用が可能であることは勿論である。
【0129】
【発明の効果】
本発明の位置検出パネルは、以上のように、押圧操作される第1基板と、該第1基板に対向する第2基板とが所定の間隔をおいて貼り合わされ、前記第1基板が対向面に第1電極を有し、前記第2基板が対向面に第2電極を有し、該第1および第2電極の接触位置に基づいて前記第1基板上での押圧操作の位置を検出する位置検出パネルにおいて、以下の構成を採用している。
(1)位置検出パネルは、前記第1電極と一定の位置関係を持つように形成される第1検査電極と、前記第2電極と一定の位置関係を持つように形成される第2検査電極とを備え、前記第1検査電極と前記第2検査電極とが、規定の位置に前記第1電極が形成された前記第1基板と、規定の位置に前記第2電極が形成された前記第2基板とが規定の位置に貼り合わされた状態で、前記第2基板上で規定の方向へ前記第1電極と前記第2電極とのずれの最大許容値の間隔をおくように配されているように構成されている。
(2)他の位置検出パネルは、前記第1電極と一定の位置関係を持つように形成される第1検査電極と、前記第2電極と一定の位置関係を持つように形成される第2検査電極とを備え、前記第1検査電極と前記第2検査電極とが、前記第2基板上での規定の方向への前記第1電極と前記第2電極とのずれの最大許容値の幅を有し、規定の位置に前記第1電極が形成された前記第1基板と、規定の位置に前記第2電極が形成された前記第2基板とが規定の位置に貼り合わされた状態で、前記規定の方向にずれなく重なり合うように構成されている。
【0130】
(1)の位置検出パネルでは、第1検査電極と第2検査電極との間のずれが前記の最大許容値を超えると、第1検査電極と第2検査電極とが重なり合うようになるので、第1検査電極および第2検査電極の部分を第1基板側から押圧操作すれば、両検査電極は接触する。これにより、両検査電極の導通状態が検出されれば、第1電極と第2電極とが最大許容値を超えてずれていることが判る。一方(2)の位置検出パネルでは、第1検査電極と第2検査電極との間のずれが前記の最大許容値を超えると、第1検査電極と第2検査電極とが重なり合わないようになるので、第1検査電極および第2検査電極の部分を第1基板側から押圧操作すれば、両検査電極は接触しなくなる。これにより、両検査電極の非導通状態が検出されれば、第1電極と第2電極とが最大許容値を超えてずれていることが判る。
【0131】
したがって、(1)および(2)の位置検出パネルによれば、第1および第2電極のずれを電気的に判定することができる。それゆえ、人手によらずに正確な検査を行うことが可能になるので、不良品が出荷されるという不都合をより確実に防止するとともに、検査作業者の検査負担を軽減する。その結果、短時間かつ高い精度で電極のずれを検出することができるという効果を奏する。
【0132】
(1)および(2)の位置検出パネルにおいて、前記第1検査電極は前記第1電極と一体に形成され、前記第2検査電極は前記第2電極と一体に形成されているので、第1検査電極を製造において第1電極と同じ形成工程で形成し、第2検査電極を製造において第2電極と同じ形成工程で形成することができる。それゆえ、両検査電極を形成するための工程を増加させないだけでなく、ずれ検査のための第1および第2検査電極の導通状態の出力と位置検出の出力とを共通の出力配線で行うことが可能になる。したがって、構成を複雑化させることなく、ずれ検査の精度向上を図ることができるという効果を奏する。
【0133】
この位置検出パネルおよび(1)の位置検出パネルにおいては、前記第1または第2検査電極の一方が、前記第2基板上で他方の一部を包囲するように形成されていることにより、第1および第2検査電極間でずれを特定する規定方向を多方向に設定することができ、様々な方向へのずれ検出に対応することができる。
【0134】
本発明の位置検出パネルの検査方法は、前述のいずれか1つの位置検出パネルにおいて、前記第1基板における前記第1および第2検査電極上の領域を押圧することにより、前記第1および第2検査電極の導通の有無を判定するので、第1基板における該当領域を押圧することで、(1)の位置検出パネルにおいては、第1および第2検査電極が導通すれば、前述のように第1および第2電極が最大許容値を超えてずれていることが検出され、第1および第2電極が導通していなければ、第1および第2電極が最大許容値を超えてずれていないことが検出される。また、(2)の位置検出パネルでは、第1および第2検査電極が導通すればずれが検出されず、導通していなければずれが検出される。したがって、第1および第2電極のずれの検査を正確かつ簡単に行うことにより、検査の精度および効率を飛躍的に向上させることができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1に係るタッチパネルの構成を示す平面図である。
【図2】(a)は図1のタッチパネルの構成を示す断面図であり、(b)は図1のタッチパネルの構成を示す分解斜視図である。
【図3】(a)ないし(c)は実施の形態1ないし3に共通する上側検査電極および下側検査電極の構成を示す平面図である。
【図4】(a)および(b)は実施の形態1ないし3に共通する他の上側検査電極および下側検査電極の構成を示す平面図である。
【図5】(a)および(b)は実施の形態1ないし3に共通するさらに他の上側検査電極および下側検査電極の構成を示す平面図である。
【図6】実施の形態1ないし3に共通する変形例の上側検査電極および下側検査電極の構成を示す図である。
【図7】(a)は本発明の実施の形態2に係るタッチパネルの構成を示す断面図であり、(b)は上記のタッチパネルの構成を示す分解斜視図である。
【図8】(a)ないし(c)はそれぞれ図7のタッチパネルにおける下側基板側、上側基板側および両者を重ね合わせた構成を示す平面図である。
【図9】(a)は本発明の実施の形態3に係るメンブレインスイッチの構成を示す断面図であり、(b)は上記のメンブレインスイッチの構成を示す分解斜視図である。
【図10】(a)ないし(d)はそれぞれ上記のメンブレインスイッチにおける下側シート、上側シート、スペーサならびに重ね合わされた下側シートおよび上側シートの一部を拡大して示す平面図である。
【符号の説明】
1 下側基板(第2基板)
2 上側基板(第1基板)
4 透明電極(第2電極)
5 透明電極(第1電極)
7 接続配線
6 接続配線
11 下側基板(第2基板)
12 上側基板(第1基板)
14,15 透明導電膜
16,17 電極(第2電極)
18,19 電極(第1電極)
31 下側シート
32 上側シート
33 下側接点シート(第2基板)
34 上側接点シート(第1基板)
36 接点電極(第2電極)
37 接点電極(第1電極)
41 下側検査電極(第2検査電極)
41a,41b 帯状電極
41c 振子状電極
41d 十字状電極
41e 屈曲電極
41f 渦巻き電極
42 延設部
42a 上側検査電極(第2検査電極)
71 上側検査電極(第1検査電極)
71a,71b 帯状電極
71c〜71e 凹部
71f 屈曲電極
71g 渦巻き電極
72 延設部
72a 上側検査電極(第1検査電極)
171 下側検査電極(第2検査電極)
181 上側検査電極(第1検査電極)
361 下側検査電極(第2検査電極)
351a 貫通部
371 上側検査電極(第1検査電極)
371a 貫通部
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a technique for highly accurately and easily inspecting an electrode pattern printing deviation in a position detection panel such as a touch panel, and relates to a position detection panel and an inspection method thereof.
[0002]
[Prior art]
The touch panel is provided on the display surface of the display, and enables input on the display surface by pressing an input portion of the screen displayed on the display surface. The most popular touch panel includes an analog resistive touch panel. As disclosed in Patent Document 1, the analog resistive film type touch panel includes an input-side substrate formed of a soft film, an other-side substrate formed of a hard film or glass, and an opposite of both substrates. A two-dimensional coordinate value is detected by a resistance value between the resistance film and the output terminal of both substrates that are in contact with each other by pressing the input side substrate.
[0003]
Alternatively, as another type of popular touch panel, a digital matrix type touch panel can be given. This touch panel has striped strip electrodes formed on the opposing surfaces of both substrates so as to be orthogonal to each other, and the intersection of the opposing strip electrodes becomes a switch unit for position detection, and these switch units Are arranged in a matrix. In such a touch panel, the input coordinates can be specified by two opposing strip electrodes that are in contact with each other with the pressed switch part.
[0004]
For manufacturing such a touch panel, a process of printing a silver electrode serving as an output terminal in an analog resistive touch panel on a substrate on which a transparent conductive material such as ITO (indium tin oxide) is already formed, a digital matrix touch panel Includes a step of printing an etching resist, a silver electrode for wiring, an insulating film, an extraction electrode, and the like for forming a striped electrode, and a step of bonding the two substrates after both printing steps at a predetermined interval. Yes.
[0005]
The touch panel that has undergone the bonding process is subjected to an electrical test for confirming an insulation failure or a conduction failure. In the electrical inspection of the analog resistance film type touch panel, the voltage (representing the resistance value corresponding to the pressed position) obtained by moving the rod-shaped member while being pressed against the operation surface of the touch panel corresponds to each pressed position. The computer analyzes whether the value is within the specified tolerance. On the other hand, in the electrical inspection of the digital matrix type touch panel, the ON resistance of the strip electrode corresponding to the pressed switch part is measured using a pressing device that presses each switch part of the matrix one by one, and the ON It is analyzed by a computer whether or not the resistance is a value within a prescribed allowable range corresponding to each pressing position.
[0006]
The touch panel that is determined to be defective by the electrical inspection has a wiring electrode or a misalignment caused by a misalignment in the printing process of the conductive film material and the connection electrode on both the substrates, or a misalignment of both the substrates in the bonding process of both the substrates. A touch panel in which the matrix electrodes are displaced from the correct positions is included.
[0007]
[Patent Document 1]
Japanese Patent Laid-Open No. 2002-82772 (Publication Date: March 22, 2002)
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
Conventionally, the displacement of the electrodes by such a touch panel has been determined by visual inspection. Large deviations that are easy to understand in appearance can be easily determined by any inspector, but especially for transparent matrix electrodes, subtle deviations near the permissible range are difficult to determine and are determined by the inspector. Variations are likely to occur.
[0009]
When touch panel is produced in small quantities (especially a single kind or the same standard) and in large quantities, the manufacturing process is being automated, and it is possible to reduce the occurrence of electrode misalignment by positioning using image recognition technology. It is relatively easy. However, in the case where touch panels are produced in a wide variety and in a small quantity, in general, there is a restriction in terms of cost in automating the production process corresponding to each kind, and thus production often involves a manual process.
[0010]
For example, in the printing process of electrodes and the like, printing is performed by lowering the printing plate onto the substrate while the substrate is placed on the printing stand. If the substrate is not properly positioned on the printing stand, the printed electrode Deviation occurs in the pattern. When printing on various substrates with different sizes in order to manufacture various types of touch panels, it is necessary for the operator to attach a positioning member at a position corresponding to the type of substrate on the printing stand. The positioning member may not be attached at the correct position, and the shift may easily occur. In addition, since the positioning member needs to be changed for each product type, the positioning member is made of a material that can be easily removed, such as an adhesive tape. There is a risk of displacement.
[0011]
Further, in the bonding process, the positioning marks provided at predetermined positions on both the substrates are aligned between the two substrates, and the bonding is performed, particularly when a large number of substrates are bonded. An error is likely to occur in the bonding position due to a decrease or the like.
[0012]
Electrode displacement due to manual work can be reduced by improving the work accuracy of workers, but there is a difference between workers in work accuracy, so ensure uniform work accuracy among workers. It is difficult. Moreover, since skill and high level of caution are required to improve the work accuracy, there are cost constraints such as training of workers.
[0013]
In addition, it is possible to detect the displacement of the electrode by the electrical inspection described above. However, in the case where a rotational displacement centered on a point in the displacement of the electrode is included, the displacement is detected according to the position from the center of the rotation. Since the amounts are different, in order to increase the accuracy of the inspection, it is necessary to distribute the inspection points evenly over almost the entire surface of the substrate. If the inspection is performed at multiple points in this way, there is a disadvantage that the cost increases due to the prolonged inspection time.
[0014]
Furthermore, even if improvement of the non-defective product rate can be achieved by various improvements, defective products will not completely disappear, so if the inspection accuracy cannot be increased as described above, the defective product shipment rate It is difficult to sufficiently reduce.
[0015]
The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a position detection panel having a function capable of detecting electrode displacement in a short time and with high accuracy, and a position detection panel using the function. To provide an inspection method.
[0016]
[Means for Solving the Problems]
In the position detection panel of the present invention, in order to solve the above-described problem, the first substrate to be pressed and the second substrate facing the first substrate are bonded to each other at a predetermined interval, and the first substrate The substrate has a first electrode on the opposite surface, the second substrate has a second electrode on the opposite surface, and a pressing operation on the first substrate is performed based on a contact position of the first and second electrodes. In the position detection panel for detecting the position, a first inspection electrode formed so as to have a certain positional relationship with the first electrode, and a second inspection formed so as to have a certain positional relationship with the second electrode. The first inspection electrode and the second inspection electrode, the first substrate on which the first electrode is formed at a predetermined position, and the second electrode formed at a predetermined position. In the state where the second substrate is bonded to the specified position, the specified one on the second substrate It is characterized by being arranged to spaced the maximum permissible value of the deviation between the first electrode and the second electrode to.
[0017]
In the above configuration, the first inspection electrode is formed to have a certain positional relationship with the first electrode, and the second inspection electrode is formed to have a certain positional relationship with the second electrode. If the first electrode is displaced, the same displacement occurs in the first inspection electrode. If the displacement occurs in the second electrode in the forming process, the same displacement occurs in the second inspection electrode.
[0018]
In a state where the first electrode at the specified position is bonded to the first substrate and the second substrate on which the second electrode is formed at the specified position, the first electrode is displaced between the first electrode and the second electrode. Therefore, in this state, the first inspection electrode and the second inspection electrode are spaced apart from the maximum allowable value of the deviation between the first electrode and the second electrode in a specified direction on the second substrate. When a gap occurs between the first electrode and the second electrode in the manufacturing process (formation of the first electrode and / or second electrode and bonding of the first and second substrates) A shift equivalent to the shift also occurs between the first test electrode and the second test electrode. Therefore, when the deviation exceeds the maximum allowable value, the first inspection electrode and the second inspection electrode overlap each other. Then, if the part of the 1st inspection electrode and the 2nd inspection electrode is pressed from the 1st substrate side, both inspection electrodes will contact. Thereby, if the conduction | electrical_connection state of both test | inspection electrodes is detected, it will be understood that the 1st electrode and the 2nd electrode have shifted | deviated exceeding the maximum allowable value.
[0019]
In another position detection panel of the present invention, in order to solve the above-described problem, a first substrate to be pressed and a second substrate facing the first substrate are bonded to each other with a predetermined interval, The first substrate has a first electrode on the opposing surface, the second substrate has a second electrode on the opposing surface, and is pressed on the first substrate based on the contact position of the first and second electrodes In the position detection panel for detecting the position of the operation, the first inspection electrode formed to have a certain positional relationship with the first electrode and the first electrode formed to have a certain positional relationship with the second electrode. Two inspection electrodes, and the first inspection electrode and the second inspection electrode have a maximum allowable value of deviation between the first electrode and the second electrode in a specified direction on the second substrate. A first substrate having a width and having the first electrode formed at a prescribed position; and In a state in which said second electrode is formed a second substrate is bonded to a predetermined position, it is characterized by overlapping without misalignment in the direction of the provision.
[0020]
Even in the above configuration, the first inspection electrode is formed so as to have a certain positional relationship with the first electrode, and the second inspection electrode is formed so as to have a certain positional relationship with the second electrode. If a shift occurs in the first electrode, the same shift occurs in the first inspection electrode. If a shift occurs in the second electrode in the forming process, the same shift occurs in the second test electrode.
[0021]
In a state where the first electrode at the specified position is bonded to the first substrate and the second substrate on which the second electrode is formed at the specified position, the first electrode is displaced between the first electrode and the second electrode. Therefore, in this state, the first inspection electrode and the second inspection electrode have a width of the maximum allowable value of the deviation between the first electrode and the second electrode in a specified direction on the second substrate. In the manufacturing process (formation of the first electrode and / or second electrode and bonding of the first and second substrates), the first electrode and the second electrode are arranged so as to overlap and come into contact without deviation. When a displacement occurs between the electrodes, a displacement equivalent to the displacement also occurs between the first inspection electrode and the second inspection electrode. Therefore, when the deviation exceeds the maximum allowable value, the first inspection electrode and the second inspection electrode do not overlap each other. Therefore, if the first inspection electrode and the second inspection electrode are pressed from the first substrate side, the two inspection electrodes do not come into contact with each other. Thereby, if the non-conduction state of both inspection electrodes is detected, it will be understood that the first electrode and the second electrode are displaced beyond the maximum allowable value.
[0022]
In the position detection panel, it is preferable that the first inspection electrode is formed integrally with the first electrode, and the second inspection electrode is formed integrally with the second electrode. In such a configuration, the first inspection electrode can be formed in the same formation process as the first electrode in manufacturing, and the second inspection electrode can be formed in the same formation process as the second electrode in manufacturing. Therefore, it is possible not only to increase the number of steps for forming both inspection electrodes, but also to output the conduction state of the first and second inspection electrodes for displacement inspection to the outside via the first and second electrodes. Therefore, the output and the position detection output can be performed by a common output wiring.
[0023]
In the previous position detection panel, it is preferable that one of the first or second inspection electrodes is formed so as to surround a part of the other on the second substrate. In such a configuration, it is possible to set a predetermined direction for specifying a deviation between the first and second inspection electrodes in multiple directions, and it is possible to cope with detection of deviation in various directions.
[0024]
In the position detection panel inspection method according to the present invention, in any one of the above-described position detection panels, the first and second regions may be formed by pressing regions on the first and second inspection electrodes on the first substrate. It is characterized by determining the presence or absence of conduction of the inspection electrode.
[0025]
In the above method, in the previous position detection panel, if the corresponding region of the first substrate is pressed and the first and second inspection electrodes are conducted, the first and second electrodes are set to the maximum allowable value as described above. If the first and second electrodes are not conducting, it is detected that the first and second electrodes are not displaced beyond the maximum allowable value. Further, in the other position detection panels, the shift is not detected as described above due to the conduction of the first and second inspection electrodes, and the shift is detected due to the non-conduction.
[0026]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
[Embodiment 1]
An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 6 as follows.
[0027]
As shown in FIGS. 2A and 2B, the touch panel as the position detection panel according to the present embodiment includes a lower substrate 1, an upper substrate 2, a dot spacer 3, transparent electrodes 4 and 5, Connection wirings 6 and 7, connector tails 8 and 9, and a sealing material 10 are provided.
[0028]
The lower substrate 1 as the second substrate and the upper substrate 2 as the first substrate are arranged at a constant interval so as to face each other. The lower substrate 1 is formed of a transparent film or glass, and the upper substrate 2 is formed of a flexible transparent material such as a film so as to enable a pressing operation.
[0029]
A plurality of thin-film and strip-shaped transparent electrodes 4 having a certain width are formed on the opposing surface of the lower substrate 1 so as to be parallel to each other. The transparent electrode 4 is made of a transparent conductive material such as ITO. On the other hand, on the opposing surface of the upper substrate 2, a plurality of thin and strip-like transparent electrodes 5 having a certain width are formed so as to be parallel to each other and almost orthogonal to the transparent electrode 4. The transparent electrode 4 is made of a transparent conductive material such as ITO.
[0030]
A number of dot spacers 3 are formed on the lower substrate 1, and the distance between the lower substrate 1 and the upper substrate 2 is maintained at a constant interval by the dot spacers 3. And the lower board | substrate 1 and the upper board | substrate 2 are bonded together by the sealing material 10 apply | coated to the board | substrate periphery.
[0031]
On the lower substrate 1, connection wiring 6 made of silver or the like for connecting one end of the transparent electrode 4 and the connector tail 8 is formed for each transparent electrode. Similarly, on the upper substrate 2, a connection wiring 7 made of silver or the like for connecting one end of the transparent electrode 5 and the connector tail 9 is formed for each transparent electrode. The connection wirings 6 and 7 include electrode terminal portions connected to the transparent electrodes 4 and 5, tail terminal portions connected to the connector tails 8 and 9, and wiring portions connecting the two terminal portions. Is covered with an insulating film.
[0032]
The connector tail 8 is an output wiring made of a flexible substrate for outputting a voltage from the transparent electrode 4, and is attached to one end edge of the lower substrate 1. The connector tail 9 is an output terminal made of a flexible substrate for outputting a voltage from the transparent electrode 5, and is attached to one end edge of the lower substrate 2.
[0033]
As shown in FIG. 1, a rectangular switch portion is formed in a matrix form with the transparent electrode 4 and the transparent electrode 5 facing the transparent electrode 4, and the region where the switch portion is formed is an operation region. When the upper substrate 2 is pressed, the corresponding switch portion is turned on when the transparent electrode 5 contacts the opposing transparent electrode 4. Based on the voltage output from the transparent electrodes 4 and 5 of the switch section through the connection electrodes 6 and 7 and the connector tails 8 and 9 due to the conduction in the switch section, the controller (not shown) has an on-resistance in the switch section. Is measured and the input coordinate position pressed is specified (detected).
[0034]
Here, the manufacturing process of the touch panel comprised as mentioned above is demonstrated.
[0035]
First, the upper substrate 2 side will be described. A film with an ITO thin film formed on one side is cut to a desired size, then placed on a printing table at a specified position that matches the positioning member, and suctioned by a vacuum device provided on the printing table. Fix it. Next, an etching resist having a stripe pattern of the transparent electrode 5 is printed on the film by a silk printing method, and the ITO thin film in a region where the etching resist is not printed is removed by etching. Thereby, the transparent electrode 5 is formed. Further, the transparent electrode 5 may be formed by other methods without depending on the etching as described above. For example, the transparent electrode 5 may be formed by an etching method called laser etching in which unnecessary portions of the ITO thin film are removed using a laser beam.
[0036]
Subsequently, a silver paste for forming the connection wiring 7 is printed by silk printing, and an insulating material for forming an insulating film on the wiring portion of the connection electrode 7 is printed by silk printing. Then, an electrode for signal extraction is silk-printed on the film, and a connector tail 9 is attached to the electrode forming portion. Various methods can be used to form the connection wiring 7, and other methods may be employed regardless of the method of silk printing the silver paste. For example, there is a method in which a wiring material such as silver is deposited on the upper substrate 2 by vapor deposition.
[0037]
In the same process on the lower substrate 1 side, formation of the transparent electrode 4, the connection wiring 6, and the insulating film, and the attachment of the connector tail 8 are performed. Then, a sealing material 10 is applied to the periphery of the substrate, the lower substrate 1 and the upper substrate 2 are placed, and the registration marks (cross-shaped marks) for positioning described at the four corners of both the substrates 1 and 2 are both substrates 1. , 2 in a state where they are matched with each other.
[0038]
The formation of the transparent electrode 5 and the formation of the connection wiring 7 are performed in separate processes. However, since the connection positions of the transparent electrode 5 and the connection wiring 7 need to be accurately matched, these processes are performed in the upper substrate 2. Is performed at the same position on the printing stand. For this reason, since the transparent electrode and the connection wiring 7 are formed so as to have a certain positional relationship, a shift that occurs when the transparent electrode 5 is formed also occurs in the connection wiring 7. Therefore, an upper inspection electrode 71 described later formed on the wiring electrode 7 is shifted in the same direction as the transparent electrode 5 by the same amount.
[0039]
By the way, in this touch panel, the lower inspection electrode 41 is provided at the end opposite to the connection end of the connection wiring 6 of the transparent electrode 4 at the upper end in FIG. 1, and the connection wiring 7 of the transparent electrode 5 at the right end in FIG. The upper inspection electrode 71 is provided at the connection end. The upper inspection electrode 71 is formed so as to extend to the end portion side of the transparent electrode 4, and the lower inspection electrode 41 is formed to extend toward the upper inspection electrode 71. In the lower inspection electrode 41 and the upper inspection electrode 71, the lower substrate 1 in which the transparent electrode 4 is formed at a predetermined position and the upper substrate 2 in which the transparent electrode 5 is formed at a predetermined position are determined by the above-described registration mark. In a state where the upper inspection electrode 71 is pressed onto the lower substrate 1 while being bonded to a predetermined position, the interval of the maximum allowable value of the deviation between the transparent electrodes 4 and 5 in the predetermined direction on the lower substrate 1 is set. It is arranged to leave.
[0040]
The upper inspection electrode 71 is provided by enlarging the electrode terminal portion of the connection terminal 7. However, if a space can be secured, the vicinity of the electrode terminal portion of the transparent electrode 5 is projected in the same direction as the upper inspection electrode 71. Even if formed in the same shape, the transparent electrode 5 can have the same function as the upper inspection electrode 71.
[0041]
By providing the lower inspection electrode 41 and the upper inspection electrode 71, the transparent electrode 4 can be determined from the presence or absence of contact between the inspection electrodes 41 and 71 when the portions of the inspection electrodes 41 and 71 are pressed from the upper substrate 2. It is possible to determine whether or not the deviation in the specified direction of 5 exceeds the allowable range determined by the maximum allowable value. If the deviation between the transparent electrodes 4 and 5 is smaller than the allowable range, the deviation between the two inspection electrodes 41 and 71 is within the same range (non-contact range), so that the two inspection electrodes 41 and 71 do not contact each other. On the other hand, if the displacement of the transparent electrodes 4 and 5 in the prescribed direction exceeds the allowable range, the displacement of both inspection electrodes 41 and 71 similarly exceeds the non-contact range, so that both inspection electrodes 41 and 71 are in contact with each other.
[0042]
Next, details of the lower inspection electrode 41 and the upper inspection electrode 71 will be described.
[0043]
The lower inspection electrode 41 and the upper inspection electrode 71 are most basically configured as shown in FIG. As shown in FIG. 3A, the transparent electrode 4 has a strip electrode 41a formed as a lower test electrode 41 extending from the edge facing the upper test electrode 71 to the upper test electrode 71 side. Yes. On the other hand, the upper inspection electrode 71 has a belt-like electrode 71 a formed to extend from the edge facing the lower inspection electrode 41 to the lower inspection electrode 41 side.
[0044]
The lower inspection electrode 41 and the upper inspection electrode 71 with the strip electrodes 41a and 71a are in the state where the lower substrate 1 and the upper substrate 2 are bonded to a specified position (hereinafter referred to as a specified bonded state). The interval X in the direction is set to the maximum allowable value in the X coordinate direction (hereinafter referred to as the maximum allowable value in the X direction) of the deviation in the specified direction between the transparent electrodes 4 and 5, and in the specified bonding state The interval Y in the Y coordinate direction is set to the maximum allowable value in the Y coordinate direction (hereinafter referred to as the maximum allowable value in the Y direction) of the deviation in the prescribed direction between the transparent electrodes 4 and 5. The maximum allowable value in the X direction is set to, for example, about 50% of the width of the transparent electrode 5, and the maximum allowable value in the Y direction is set to, for example, about 50% of the width of the transparent electrode 4. It is set appropriately according to the position detection accuracy.
[0045]
In such a configuration, when the displacement of the transparent electrode 4 from the strip electrode 41a in the direction of the strip electrode 71a or the displacement of the transparent electrode 5 in the opposite direction exceeds the maximum allowable value in the X direction, the strip electrodes 41a and 71a overlap. When the upper substrate 2 on the strip electrodes 41a and 71a is pressed in such a state, the strip electrodes 41a and 71a come into contact with each other, and the displacement of the electrodes is detected by detecting the conduction state. Further, when the displacement of the transparent electrode 4 from the strip electrode 41a toward the upper inspection electrode 71 or the displacement of the transparent electrode 5 in the opposite direction exceeds the maximum allowable value in the Y direction, the strip electrodes 41a and 71a overlap. However, when the strip electrodes 41a and 71a are displaced from each other in the X coordinate direction, or the strip electrode 41a and the upper inspection electrode 71a are displaced from each other in the Y coordinate direction, the displacement cannot be detected.
[0046]
In the configuration shown in FIG. 3B, the upper inspection electrode 71 has a strip-shaped electrode 71b having the same size and shape with the strip-shaped electrode 41a interposed therebetween. The strip electrode 71b is also formed from the edge facing the lower inspection electrode 41 toward the lower inspection electrode 41, and the interval X between the strip electrodes 41a is arranged with a maximum allowable value in the X direction. With such a configuration, it is possible to detect the above-described shift in the X-coordinate direction that could not be detected by the configuration of FIG. 3A, but it is not possible to detect the above-described shift in the Y-coordinate direction.
[0047]
In the configuration shown in FIG. 3C, instead of providing the strip members 71a and 71b shown in FIG. 3B, a recess 71c surrounding the tip portion of the strip member 41b formed longer than the strip member 41a is an upper inspection electrode 71. May be provided. Therefore, in this configuration, the tip portion of the strip electrode 41 b is disposed in the recess 71. Of course, in this configuration as well, the interval X between the strip electrode 41b and the recess 71c is set to the maximum allowable value in the X direction, and the interval Y is set to the maximum allowable value in the Y direction. Therefore, the configuration shown in FIG. Can be detected in the same direction as.
[0048]
In the configuration shown in FIG. 4A, the lower electrode 4 includes a pendulum electrode 41 c as the lower inspection electrode 41. The pendulum electrode 41c is composed of a belt-like portion formed to extend from the edge facing the upper inspection electrode 71 toward the upper inspection electrode 71 and a circular portion provided at the tip of the belt-like portion. On the other hand, the upper inspection electrode 71 has a circular portion having a larger diameter than the circular portion of the pendulum electrode 41 c and a concave portion 71 d having a constricted portion formed between the circular portion and the edge of the upper inspection electrode 71. ing. The width of the constricted portion is set larger than the width of the band-shaped portion of the pendulum electrode 41c.
[0049]
The intervals X and Y between the circular portions of the pendulum electrode 41c and the upper inspection electrode 71 are set to the maximum allowable values in the X and Y directions, respectively. Also, here, by setting the intervals X and Y equal, the interval between the circular portions becomes the interval X (= Y). On the other hand, the distance X between the belt-like portion of the pendulum electrode 41c and the constricted portion of the recess 71d is set to a maximum allowable value in the X direction.
[0050]
In the above configuration, both the circular portions of the pendulum electrode 41c and the recess 71d can appropriately detect not only a single shift in the X coordinate direction or the Y coordinate direction but also a combined shift in both directions. Moreover, since the pendulum electrode 41c and the upper inspection electrode 71 overlap each other in any direction within the electrode plane, there is no limit to the direction in which the deviation can be detected as in each configuration of FIG. In addition, it is a matter of course that a deviation in the X coordinate direction is detected by the band-shaped portion of the pendulum electrode 41c and the constricted portion of the concave portion 71d. When there is a rotational deviation caused by rotation, the belt-like portion is also tilted accordingly, so that it overlaps the upper inspection electrode 71, and such a rotational deviation can be detected relatively easily.
[0051]
In the configuration shown in FIG. 4B, the lower electrode 4 has a cross-shaped electrode 41 d as the lower inspection electrode 41. The cross-shaped electrode 41d is formed in a cross shape extending in a strip shape from the edge facing the upper test electrode 71 to the upper test electrode 71 side. On the other hand, the upper inspection electrode 71 has a cross-shaped recess 71e larger than the outer shape of the cross-shaped electrode 41d. The intervals X and Y between the cross-shaped electrode 41d and the recess 71e are set to the maximum allowable values in the X and Y directions, respectively.
[0052]
Also in the above configuration, the cross electrode 41d and the recess 71e can appropriately detect not only a single shift in the X coordinate direction or the Y coordinate direction but also a combined shift in both directions, as in each configuration of FIG. There is no limit to the direction in which the deviation can be detected. Further, since the portion extending in the Y coordinate direction of the cross-shaped electrode 41d is formed to be relatively long like the band-shaped portion of the pendulum-shaped electrode 41c, it is possible to detect the rotational deviation relatively easily.
[0053]
In the configuration shown in FIG. 5A, the lower electrode 4 has a bent electrode 41 e as the lower inspection electrode 41. The bent electrode 41e includes an extending part extending from the edge of the lower electrode 4 toward the upper inspection electrode 71, a parallel part extending in parallel to the edge of the lower electrode 4 in the vertical direction from the tip thereof, and a lower part from the tip. It has a vertical part that bends perpendicularly to the side electrode 4 side and a tip part that bends perpendicularly to the extended part side from the tip. On the other hand, the upper inspection electrode 71 has a bent electrode 71f of the same shape extending in the opposite direction to the bent electrode 41e at the edge on the side facing the lower electrode 4. The bending electrodes 41e and 71f are arranged so that the inner sides of the respective tip portions face each other in parallel, and the distances X and Y between them are set to the maximum allowable values in the X and Y directions, respectively.
[0054]
Even in such a configuration, the bent electrodes 41e and 71f are not limited to a single shift in the X-coordinate direction or the Y-coordinate direction as in the configuration shown in FIGS. 3 can be detected appropriately, and there is no limit to the direction in which the deviation can be detected, as in each configuration of FIG. Further, the longest extension of the bent electrodes 41e and 71f makes it possible to detect a rotational deviation relatively easily.
[0055]
In the configuration shown in FIG. 5B, the lower electrode 4 has a spiral electrode 41 f as the lower inspection electrode 41. The spiral electrode 41f has a thick root portion extending from the edge of the lower electrode 4 to the upper inspection electrode 71 side, and a spiral portion formed so as to extend from the root portion in a spiral shape that is finer than that. . On the other hand, the upper inspection electrode 71 has a spiral electrode 71g having a root part and a spiral part of the same shape extending in the opposite direction to the spiral part of the spiral electrode 41f at the edge on the side facing the lower electrode 4. The spiral electrodes 41f and 71g are arranged so that the insides of the tip portions of the spiral portions face each other, and the spacing between the spiral portions is the spacing between the circular portions in FIG. 4A (X = Y). ).
[0056]
Even in such a configuration, the spiral electrodes 41f and 71g are not limited to a single shift in the X-coordinate direction or the Y-coordinate direction as in the configuration shown in FIGS. 3 can be detected appropriately, and there is no limit to the direction in which the deviation can be detected, as in each configuration of FIG. Also, the rotational deviation can be detected relatively easily by the spiral portions of the spiral electrodes 41f and 71g.
[0057]
Next, an electrical inspection of the touch panel configured as described above will be described.
[0058]
In the electrical inspection, an inspection device including a pressing device and an electrical checker is used. Following the inspection due to the displacement of the transparent electrodes 4 and 5, the continuity inspection of the intersecting region of the transparent electrodes 4 and 5, that is, the switch unit is performed. The pressing device has a rod-like member that descends and presses the inspection region on the above-described inspection electrodes 41 and 71 on the switch unit and the upper substrate 2 from above. Rubber is attached to the tip of the rod-shaped member so as not to damage the upper substrate 2 and the like. The pressing device may be configured so that the pressing position of the pressing member can be automatically moved by computer control or the like, but the pressing position of the pressing member may be manually moved.
[0059]
First, when the touch panel to be inspected is placed at a predetermined position on the inspection table, the pressing member presses the inspection area on the upper substrate 2. At this time, if the two inspection electrodes 41 and 71 are overlapped with each other, they are in contact with each other, and therefore the electric checker determines that the determination is NG. Thereby, since the shift | offset | difference of the transparent electrodes 4 and 5 exceeds the tolerance | permissible_range, it can determine with the touch panel of test object being inferior goods. On the other hand, if both inspection electrodes 41 and 71 are not overlapped, they do not contact each other, so the electric checker determines that they are OK. Thereby, since the shift | offset | difference of the transparent electrodes 4 and 5 does not exceed the tolerance | permissible_range, it can determine with the touch panel of test | inspection object being non-defective.
[0060]
Subsequently, with respect to the touch panel determined to be non-defective, a predetermined number of switch portions are pressed by a pressing member. Thereby, the electrical checker measures the on-resistance based on the conduction signal detected in each switch unit, and determines that the on-resistance is a non-defective product when the on-resistance is a specified on-resistance set in each switch unit, If it is outside the specified on-resistance, it is determined as a defective product.
[0061]
As described above, the touch panel of the present embodiment has the transparent electrode 4 in the specified direction on the lower substrate 1 in a state where the lower substrate 1 and the upper substrate 2 are bonded to the specified position. The lower inspection electrode 41 and the upper inspection electrode 71 are provided so as to have an interval of the maximum allowable value of the deviation between the five. Thereby, the shift | offset | difference of the transparent electrodes 4 and 5 can be electrically determined as mentioned above. Therefore, since it is possible to perform an accurate inspection without relying on human hands, it is possible to more reliably prevent the inconvenience that defective products are shipped, and to reduce the work burden on the inspection operator. Further, even if both inspection electrodes 41 and 71 are arranged in the operation area of the touch panel, when the user accidentally presses the inspection area, if the touch panel is a good product, both inspection electrodes 41 and 71 will not conduct. Absent. Therefore, even if the inspection area is pressed on a non-defective touch panel, the switch portion at the intersection of the transparent electrode 4 provided with the lower inspection electrode 41 and the transparent electrode 5 connected to the connection wiring 7 provided with the upper inspection electrode 71 is provided. It is not erroneously detected that the button is pressed.
[0062]
Moreover, since the lower inspection electrode 41 is provided integrally with the transparent electrode 4, it is formed in the manufacturing process of the transparent electrode 4 in manufacturing, and the upper inspection electrode 71 is provided integrally with the connection wiring 7. In the manufacturing process, the connection wiring 7 is formed. Therefore, not only the process for forming both inspection electrodes 41 and 71 is not increased, but also the connection wirings 6 and 7 are connected to output a conduction signal for position detection and a conduction signal for displacement inspection. Therefore, it is not necessary to provide an independent wiring or output terminal for the deviation inspection.
[0063]
However, even if the both inspection electrodes 41 and 71 are provided independently of the transparent electrode 4 and the connection wiring 7, it is possible to perform an accurate displacement inspection as described above. Needless to say, the present invention includes the wiring and the output terminal. However, in a configuration in which both inspection electrodes 41 and 71 are provided independently of the transparent electrode 4 and the connection wiring 7, the lower inspection electrode 41 is shifted to the same level as the transparent electrode 4 and the upper inspection electrode 71 is connected to the connection wiring 7. Therefore, the lower inspection electrode 41 needs to be formed in the same process as the transparent electrode 4, and the upper inspection electrode 71 needs to be formed in the same process as the connection wiring 7.
[0064]
In the present embodiment, the example in which both the inspection electrodes 41 and 71 are provided one by one on the touch panel has been described, but the number of the installation is not limited. For example, if inspection electrodes are provided in at least two of the four corners of the touch panel, the X and Y coordinate directions and the configuration shown in FIGS. It is possible to detect whether the direction of rotation is restricted. In particular, in the configurations of FIGS. 4 and 5, since there is no limit on the detection direction of the shift, it is possible to detect with high accuracy by providing both the inspection electrodes 41 and 71 at one place.
[0065]
Further, the shapes of the inspection electrodes 41 and 71 are not limited to the shapes shown in FIGS. 3 to 5, and various shapes can be applied as long as the displacement of the transparent electrodes 4 and 5 can be detected. Furthermore, the lower inspection electrode 41 and the upper inspection electrode 71 may have electrode structures opposite to each other. That is, in such a configuration, the upper inspection electrode 71 has an inspection electrode having the same shape as the lower inspection electrode 41 extending toward the transparent electrode 4, while the end of the transparent electrode 4 is the same as the upper inspection electrode 71. It is formed in a shape that provides a simple structure.
[0066]
Here, a modification of the present embodiment will be described.
[0067]
In the above-described embodiment, the displacement of the transparent electrodes 4 and 5 is detected when the two inspection electrodes 41 and 71 overlap each other. However, in the present modification, the transparent electrode 4 and the two inspection electrodes 41 and 71 overlap each other. A configuration is provided in which a shift is not detected and the shift is detected when they no longer overlap.
[0068]
Specifically, in the configuration shown in FIG. 6, an extending portion 42 extending from the transparent electrode 4 is provided, and an extending portion 72 extending in parallel with the extending portion 42 from the electrode terminal portion of the connection wiring 7 is provided. The extending portion 42 has a lower inspection electrode 42a extending to the extending portion 72 side, while the extending portion 72 has an upper inspection electrode 72a extending to the extending portion 42 side. Both inspection electrodes 42a and 72a are formed in the same size and the same shape at their respective tip portions. In addition, both inspection electrodes 42a and 72a are provided such that the tip portions thereof overlap each other in the prescribed bonding state of the lower substrate 1 and the upper substrate 2. The maximum width W in the X coordinate direction of the tip is set to the maximum allowable value in the X direction, and the maximum overlap length L in the Y coordinate direction of both ends is set to the maximum allowable value in the Y direction.
[0069]
In such a configuration, when the displacement of the transparent electrodes 4 and 5 does not exceed the maximum allowable value in the X direction or the maximum allowable value in the Y direction, the tip portions of the inspection electrodes 42a and 72a overlap at least partially. When the inspection areas on 42a and 72a are pressed, continuity is obtained at both inspection electrodes 42a and 72a, and the touch panel is determined to be non-defective. On the other hand, when the transparent electrodes 4 and 5 are shifted beyond the maximum allowable value in the X direction or the maximum allowable value in the Y direction, the tip portions of the two inspection electrodes 42a and 72a do not overlap each other. Even if the inspection area is pressed, continuity between the inspection electrodes 42a and 72a cannot be obtained, and the touch panel is determined to be defective.
[0070]
Even with the above configuration, the displacement of the transparent electrodes 4 and 5 can be electrically determined. Thus, as with the configuration of the above-described embodiment, the displacement can be detected with high accuracy, but the displacement is detected by conduction. Therefore, if the user accidentally presses both inspection electrodes 42a and 72a, an erroneous detection that the continuity of the switch portion corresponding to both inspection electrodes 42a and 72a is detected occurs. In order to avoid such an inconvenience, both the inspection electrodes 42a and 72a may be formed independently of the extending portions 42 and 72, respectively. However, as described above, wiring and output terminals for that purpose are required. Alternatively, the inspection regions on both inspection electrodes 42a and 72a may be covered with a cover or the like so as not to be pressed, but this causes an increase in the number of parts and the number of manufacturing processes, resulting in an increase in product cost.
[0071]
Also in the above configuration, the shape of both inspection electrodes 42a and 72a is not limited, but the overlapping tip is formed in the same manner as the circular portion of the pendulum electrode 41c described above from the viewpoint of eliminating the limitation of the detection direction. It is desirable that
[0072]
[Embodiment 2]
The following will describe another embodiment of the present invention with reference to FIGS.
[0073]
As shown in FIGS. 7A and 7B, the touch panel as the position detection panel according to this embodiment includes a lower substrate 11, an upper substrate 12, a dot spacer 13, transparent electrodes 14 and 15, Electrodes 16 to 19, a connector tail 20, and a sealing material 21 are provided.
[0074]
The lower substrate 11 as the second substrate and the upper substrate 12 as the first substrate are arranged at a constant interval so as to face each other. The lower substrate 11 is formed of a transparent film or glass, and the upper substrate 12 is formed of a flexible transparent material such as a film so as to enable a pressing operation.
[0075]
On the opposing surface of the lower substrate 11, electrodes 16 and 17 as second electrodes having a certain width at both side edge portions, and a thin transparent conductive film 14 made of a transparent conductive material such as ITO between them. Is formed. On the other hand, on the opposing surface of the upper substrate 2, electrodes 18 and 19 as first electrodes having a certain width are arranged at both side edge portions so as to be orthogonal to the electrodes 16 and 17, and ITO or the like therebetween. A thin film-like transparent conductive film 15 made of a transparent conductive material is formed.
[0076]
A large number of dot spacers 13 are formed on the lower substrate 11, and the dot spacers 13 hold the lower substrate 11 and the upper substrate 12 at regular intervals. And the lower board | substrate 11 and the upper board | substrate 12 are bonded together by the sealing material 20 apply | coated to the board | substrate periphery.
[0077]
A connector tail 20 for taking out the voltages of the electrodes 16 and 17 and the electrodes 18 and 19 to the outside is attached to the upper substrate 12. Signal transmission from the electrodes 18 and 19 of the lower substrate 11 to the connector tail 20 is performed by electrode terminals (not shown). The electrodes 16 to 19 are covered with an insulating film.
[0078]
The entirety of the transparent conductive films 14 and 15 becomes an operation region. When the upper substrate 12 is pressed, the resistance value between the electrodes 16 and 17 (resistance value in the Y coordinate direction) is divided at the pressing point (input point) in the transparent conductive film 14, and the pressure in the transparent conductive film 15 is pressed. The resistance value (resistance value in the X coordinate direction) between the electrodes 18 and 19 is divided at the point (input point). An X coordinate value is detected by applying a voltage E to the electrode 18 (positive electrode) and measuring a voltage appearing on the electrode 16 (negative electrode) through the pressing point from the electrode 18, and applying the voltage E to the electrode 17 (positive electrode). The Y coordinate value is detected by measuring the voltage applied to the electrode 19 (negative electrode) through the pressing point from the electrode 17. In this way, the X coordinate value and the Y coordinate value of the input position that has been pressed are obtained.
[0079]
Here, the manufacturing process of the touch panel comprised as mentioned above is demonstrated.
[0080]
First, the upper substrate 12 side will be described. A film having an ITO thin film formed on one side is cut into a desired size and placed on a printing table at a specified position according to a positioning member. Next, an etching resist having a pattern of the electrodes 18 and 19 is printed on the film by a silk printing method, and the ITO thin film in a region where the etching resist is not printed is removed by etching. Thereby, the transparent conductive film 15 is formed.
[0081]
Subsequently, a silver paste for forming the electrodes 18 and 19 is printed by silk printing, and an insulating material for forming an insulating film on the electrodes 18 and 19 is printed by silk printing. Then, the signal extraction electrode is silk-printed on the film, and the connector tail 20 is attached to the electrode forming portion.
[0082]
In the same process on the lower substrate 12 side, the transparent conductive film 14, the electrodes 16, 17 and the insulating film are formed. Then, a sealing material 21 is applied to the peripheral edge of the substrate, the lower substrate 11 and the upper substrate 12, and registration marks (cross-shaped marks) for positioning on the four corners of both the substrates 11, 12 are placed on both the substrates 11. , 12 are pasted together in a state of matching.
[0083]
By the way, in this touch panel, as shown to Fig.8 (a), the upper side board | substrate 12 has extended to the right side in the figure beyond the area | region of the transparent conductive film 15, and on the extended upper side board | substrate 12, an electrode The right end in FIG. 17 extends beyond the region of the transparent conductive film 15, and a lower inspection electrode 171 is provided at the tip. The lower inspection electrode 171 as the second inspection electrode is formed so as to extend in the direction perpendicular to the longitudinal direction of the electrode 17 toward the electrode 16 side edge of the upper substrate 12. Thus, the lower inspection electrode 171 is formed integrally with the electrode 17 so as to maintain a certain positional relationship with the electrode 17.
[0084]
On the other hand, as shown in FIG. 8B, the upper substrate 11 extends beyond the transparent conductive film 15 to the right side in the drawing, and the electrode of the lower electrode 11 is formed on the expanded upper substrate 11. An upper inspection electrode 181 is provided slightly below the upper end in FIG. The upper inspection electrode 181 as the first inspection electrode is formed so as to extend in parallel with the lower inspection electrode 171. As described above, the lower inspection electrode 181 is formed integrally with the electrode 18 so as to maintain a certain positional relationship with the electrode 18.
[0085]
As shown in FIG. 8C, the lower inspection electrode 171 and the upper inspection electrode 181 are formed such that the lower substrate 11 and the electrodes 18 and 19 in which the electrodes 16 and 17 are formed in a predetermined position are formed in the predetermined positions. The upper substrate 12 is bonded to a predetermined position determined by the register mark and the lower inspection electrode 171 is pressed onto the lower substrate 11, and the electrode 16 is moved in a predetermined direction on the lower substrate 11. , 17 and the electrodes 18, 19 are arranged so as to have an interval of a maximum allowable value of deviation.
[0086]
Since the lower inspection electrode 171 and the upper inspection electrode 181 are provided, the electrodes 16 and 17 are determined based on whether or not the inspection electrodes 171 and 181 are in contact with each other when the portions of the inspection electrodes 171 and 181 are pressed from the upper substrate 12. It is possible to determine whether or not the deviation in the specified direction between the electrode 18 and the electrode 18 and 19 exceeds the allowable range determined by the maximum allowable value described in the first embodiment. If the deviation between the electrodes 16 and 17 and the electrodes 18 and 19 is smaller than the allowable range, the deviation between the two inspection electrodes 171 and 181 is within the same range (non-contact range). 181 does not touch. On the other hand, if the deviation in the specified direction between the electrodes 16 and 17 and the electrodes 18 and 19 exceeds the allowable range, the deviation between the two inspection electrodes 171 and 181 similarly exceeds the non-contact range. Touch.
[0087]
Since the lower inspection electrode 171 and the upper inspection electrode 181 are specifically the same as the configurations of FIGS. 3 to 5 in the first embodiment, the description thereof is omitted.
[0088]
An electrical inspection of the touch panel configured as described above will be described.
[0089]
In the electrical inspection, an inspection device including a pressing device and an electrical checker similar to those in the first embodiment is used. Following the inspection due to the displacement between the electrodes 16 and 17 and the electrodes 18 and 19, the transparent conductive film 14 , 15 continuity tests are performed.
[0090]
First, when the touch panel to be inspected is placed at a predetermined position on the inspection table, the pressing member presses the inspection region on both inspection electrodes 171 and 181 on the upper substrate 12. At this time, if the two inspection electrodes 171 and 181 are overlapped with each other, they are in contact with each other. Thereby, since the shift | offset | difference between the electrodes 16 and 17 and the electrodes 18 and 19 has exceeded the tolerance | permissible_range, it can determine with the touch panel of test | inspection object being inferior goods. On the other hand, if the two inspection electrodes 171 and 181 do not overlap with each other, they do not come into contact with each other. Thereby, since the shift | offset | difference between the electrodes 16 and 17 and the electrodes 18 and 19 does not exceed the allowable range, the touch panel to be inspected can be determined as a non-defective product.
[0091]
Then, about the touch panel determined to be non-defective, some predetermined points on the transparent conductive films 14 and 15 are pressed by a pressing member. As a result, the electric checker measures the voltage detected at each pressing point, and if the voltage is within the specified range set at the pressing point, it is determined as non-defective, and the voltage outside the specified range is detected. In some cases, it is determined as a defective product.
[0092]
As described above, the touch panel according to the present embodiment has the electrodes 16 and 17 directed in a specified direction on the lower substrate 11 in a state where the lower substrate 11 and the upper substrate 12 are bonded to a specified position. Are provided with a lower inspection electrode 171 and an upper inspection electrode 181 arranged so as to have an interval of a maximum permissible value of deviation between the upper inspection electrode 181 and the electrodes 18 and 19. Thereby, the shift | offset | difference of the electrodes 16 and 17 and the electrodes 18 and 19 can be electrically determined as mentioned above. Therefore, since it is possible to perform an accurate inspection without relying on human hands, it is possible to more reliably prevent the inconvenience that defective products are shipped, and to reduce the work load on the inspection operator. Further, even if both inspection electrodes 171 and 181 are arranged in the operation area of the touch panel, when the user accidentally presses the inspection area, if the touch panel is a good product, both inspection electrodes 171 and 181 are electrically connected. Absent. Therefore, even if the inspection area is pressed on a non-defective touch panel, the areas of the transparent conductive films 14 and 15 are normally pressed instead of pressing the areas of the electrodes 17 and 18 connected to the inspection electrodes 171 and 181 respectively. Therefore, it is not erroneously detected that any part of the transparent conductive films 14 and 15 is pressed.
[0093]
In addition, since both the inspection electrodes 171 and 181 are provided integrally with the electrodes 18 and 17, respectively, they are formed in the process of forming the electrodes 18 and 17 in manufacturing. Therefore, not only the process for forming both inspection electrodes 171 and 181 is not increased, but the electrodes 18 and 17 also serve as a voltage output for position detection and a conduction signal output for displacement inspection. Therefore, it is not necessary to provide independent wiring and output terminals for the deviation inspection. However, even if the two inspection electrodes 181 and 171 are provided independently of the electrodes 181 and 171, respectively, the accurate displacement inspection as described above can be performed. Needless to say, the present invention includes wiring and output terminals.
[0094]
In the present embodiment, the example in which both the inspection electrodes 181 and 171 are provided one by one on the touch panel has been described, but the number of the installation is not limited. For example, if inspection electrodes are provided in at least two of the four corners of the touch panel, the X and Y coordinate directions and the configuration shown in FIGS. It is possible to detect whether the direction of rotation is restricted. In particular, in the configurations of FIGS. 4 and 5, since there is no limit on the detection direction of the shift, it is possible to detect with high accuracy by providing both the inspection electrodes 181 and 171 at one place.
[0095]
Further, the shapes of the inspection electrodes 181 and 171 are not limited to the shapes shown in FIGS. 3 to 5, and various shapes can be applied as long as the displacement between the electrodes 16 and 17 and the electrodes 18 and 19 can be detected. is there. Furthermore, the upper inspection electrode 181 and the lower inspection electrode 171 may have electrode structures opposite to each other. In other words, in such a configuration, the upper test electrode 181 has a test electrode having the same shape as the lower test electrode 171 and extends toward the lower test electrode 171, while the lower test electrode 171 has the upper test electrode 181. It is formed in a shape that results in a similar electrode structure.
[0096]
Further, in this embodiment as well, as in the modification described in the first embodiment, when the two inspection electrodes 171 and 181 overlap each other, a deviation between the electrodes 16 and 17 and the electrodes 18 and 19 may be detected. For example, the configuration shown in FIG. 6 can be applied.
[0097]
[Embodiment 3]
The following will describe still another embodiment of the present invention with reference to FIGS. 3 to 6, 9 and 10. FIG.
[0098]
As shown in FIGS. 9A and 9B, the membrane switch as the position detection panel according to this embodiment includes an upper sheet 31, a lower sheet 32, a lower contact sheet 33, and an upper contact sheet 34. And a spacer 35.
[0099]
The lower sheet 31 as the second substrate and the upper sheet 32 as the first substrate are arranged at a constant interval so as to face each other. The upper sheet 32 is provided with an operation unit 321 so that a switch operation area can be easily understood. The operation unit 321 may be formed so as to bulge upward in an embossed shape, or may be subjected to processing (roughness processing or enamel processing) different from other portions on the surface. The operation unit 321 is formed to be deformed downward in order to enable a pressing operation.
[0100]
The lower contact sheet 33 as the second substrate is formed of a film made of polyester or the like, and a contact electrode 36 as a second electrode is provided at a position facing the operation unit 321. The contact electrodes 36 are formed by printing conductive ink on the above-described film, and are commonly connected one by one. Further, the lower contact sheet 33 as the first substrate has a tail portion 33a for collecting the wiring patterns drawn from the contact electrodes 36 to the outside. On the lower contact sheet 33, the above wiring pattern is also formed in the same manner as the contact electrode 36 by printing conductive ink.
[0101]
On the other hand, the upper contact sheet 34 is also formed of a film made of the same material as the lower contact sheet 34, and a contact electrode 37 as a first electrode is provided at a position facing the operation unit 321. The contact electrodes 37 are also formed in the same manner as the contact electrodes 36 by printing conductive ink, but are commonly connected line by line in a direction orthogonal to the columns of the contact electrodes 36. Further, the upper contact sheet 34 has a tail portion (not shown) for collectively collecting the wiring patterns drawn from the contact electrodes 37 to the outside.
[0102]
The spacer 35 is provided so as to be sandwiched between the contact sheets 33 and 34, and is formed of a film made of polyester or the like. Further, the spacer 35 has a through hole 351 at a position facing the operation portion 321, and the contact electrode 37 pushed downward by the pressing operation of the operation portion 321 becomes a contact electrode 36 through the through hole 351. It is comprised so that it can touch.
[0103]
The lower sheet 31 is coated with an adhesive on the entire surface facing the upper sheet 32, holds the lower contact sheet 33, and is bonded to the upper sheet 32 at the periphery. Accordingly, the contact sheets 33 and 34 and the spacer 35 are fixed and held between the lower sheet 31 and the upper sheet 32.
[0104]
In the membrane switch configured as described above, a plurality of contact electrode rows and a plurality of contact electrode rows intersect between the lower sheet 33 and the upper sheet 34 to form a matrix electrode group. ing. As a result, the membrane switch outputs a coordinate signal of a pressing position (input point) corresponding to each pair of contact electrodes 36 and 37 as in the touch panel of FIG. Although it has a detection function, the position to be pressed is fixed in advance, so that it is suitable for an input device such as a keyboard.
[0105]
Here, a manufacturing process of the membrane switch configured as described above will be described.
[0106]
First, when the film for the lower contact sheet 33 is placed on the printing stand at a predetermined position in accordance with the positioning member, the conductive ink is formed in a predetermined pattern for forming the contact electrode 36 and the wiring on one surface of the film. Print with silk printing. On the other hand, when the film for the upper contact sheet 34 is placed on the printing stand at a predetermined position according to the positioning member, the conductive ink is silk-printed in a predetermined pattern for forming the contact electrode 37 on one surface of the film. Print with.
[0107]
Next, the registration marks (cross-shaped marks) for positioning positioned at the four corners of the contact sheets 33 and 34 and the spacer 35 are temporarily fixed in a state of being aligned with each other, and are arranged at predetermined positions on the lower sheet 31. The lower sheet 31 and the upper sheet 32 are bonded together by covering the upper sheet 32 from above.
[0108]
In the printing process of the contact electrodes 36 and 37, if the film is not arranged at the correct position on the printing table, the contact electrodes 36 and 37 are printed out of alignment, and the contact electrodes 36 and 37 are formed out of the correct position. End up. Further, even in the configuration of bonding, if the upper sheet 32, both contact sheets 33 and 34, and the spacer 35 are not bonded together in a correct position, the positions of the contact electrodes 36 and 37 and the through holes 351 of the spacer 35 are changed. It will shift. For this reason, there is a possibility that correct switch operation cannot be performed.
[0109]
By the way, in this membrane switch, as shown in FIGS. 10A and 10B, at least one contact electrode 36 has a lower inspection electrode 361 protruding in one direction on the lower contact sheet 33. An upper inspection electrode 371 that protrudes in the same direction as the lower inspection electrode 361 on the upper contact sheet 34 is provided on the contact electrode 37 that faces the contact electrode 36. The lower inspection electrode 361 is formed integrally with the contact electrode 36 so as to maintain a certain positional relationship with the contact electrode 36. Further, the upper inspection electrode 371 is formed integrally with the contact electrode 37 so as to maintain a certain positional relationship with the contact electrode 37.
[0110]
The upper inspection electrode 371 as the first inspection electrode has substantially the same outer shape as the lower inspection electrode 361 as the second inspection electrode, and has a penetrating portion 371a larger than the lower inspection electrode 361. Further, the through hole 351 of the spacer 35 has a through portion 351a so that the upper inspection electrode 37a can be displaced downward.
[0111]
As shown in FIG. 10D, the lower inspection electrode 361 and the upper inspection electrode 371 have the lower contact sheet 33 in which the contact electrode 36 is formed at a predetermined position and the contact electrode 37 at a predetermined position. The maximum allowable deviation of the contact electrodes 36, 37 in the specified direction on the lower contact sheet 33 in a state where the upper contact sheet 34 is aligned with the specified position and the contact electrode 37 is pressed to contact the contact electrode 36. It is arranged to leave an interval.
[0112]
10B and 10D, since the contact electrode 37 is provided on the lower surface side of the upper contact sheet 34, the contact electrode 37 should be illustrated by a broken line. The electrode 37 is drawn with a solid line.
[0113]
By providing the lower inspection electrode 361 and the upper inspection electrode 371, the contact electrodes 36, 371 can be determined from the presence or absence of contact between the inspection electrodes 361, 371 when the portions of the inspection electrodes 361, 371 are pressed from the upper sheet 32. It is possible to determine whether or not the deviation in the specified direction between the numbers 37 exceeds the allowable range determined by the maximum allowable value described in the first embodiment. If the deviation between the contact electrodes 36 and 37 is smaller than the allowable range, the deviation between the two inspection electrodes 361 and 371 is within the same range (non-contact range), and thus the two inspection electrodes 361 and 371 do not contact each other. On the other hand, if the deviation in the specified direction between the contact electrodes 36 and 37 exceeds the allowable range, the deviation between the two inspection electrodes 361 and 371 similarly exceeds the non-contact range, so that both the inspection electrodes 361 and 371 are in contact with each other.
[0114]
Specifically, the lower inspection electrode 361 and the upper inspection electrode 371 have the same configurations as those in FIGS. 3 to 5 in the first embodiment.
[0115]
Specifically, since the contact electrodes 36 and 37 overlap, the contact electrode 36 has an electrode equivalent to the strip electrode 41a shown in FIGS. 3A and 3B as the lower inspection electrode 361, and the contact electrode 37 has an electrode that is the same as the strip electrodes 71a and 71b in relation to the strip electrode 41a although the direction extending from the contact electrode 37 is reversed as the upper inspection electrode 371.
[0116]
The contact electrode 36 has an electrode equivalent to the bent electrode 41e or the spiral electrode 42f shown in FIG. 5A or 5B as the lower inspection electrode 361, and the contact electrode 37 serves as a contact as the upper inspection electrode 371. Although the direction extending from the electrode 37 is reversed, the arrangement relationship with the bent electrode 41e or the spiral electrode 42f is the same as that of the bent electrode 71f or the spiral electrode 71g.
[0117]
Further, the lower inspection electrode 361 shown in FIG. 10A has the same shape as the pendulum electrode 42c shown in FIG. 4A, and the penetrating portion 371a shown in FIG. It has the same shape as the recess 71d shown in a). In addition, the lower inspection electrode 361 has the same shape as the cross-shaped electrode 41d shown in FIG. 4B, and the penetrating portion 371a has the same shape as the recess 71e shown in FIG. 4B.
[0118]
An electrical inspection of the membrane switch configured as described above will be described.
[0119]
In the electrical inspection, an inspection device including a pressing device and an electrical checker similar to those of the first embodiment is used, and the continuity inspection of the contact electrodes 36 and 37 is performed following the inspection due to the deviation between the settings 36 and 37. .
[0120]
First, when the membrane switch to be inspected is placed at a predetermined position on the inspection table, the pressing member presses the inspection region on the lower inspection electrode 361 and the upper inspection electrode 371 in the upper sheet 32. At this time, if the contact electrodes 36 and 37 are properly overlapped with each other, they are in contact with each other. Thereby, since the deviation between the contact electrodes 36 and 37 exceeds the allowable range, the membrane switch to be inspected can be determined as a defective product. On the other hand, if the two inspection electrodes 361 and 371 do not overlap with each other, they do not come into contact with each other, so the electric checker determines that they are OK. Thereby, since the deviation between the contact electrodes 36 and 37 does not exceed the allowable range, the membrane switch to be inspected can be determined as a non-defective product.
[0121]
Subsequently, for the membrane switch determined to be a non-defective product, several predetermined operation portions 321 are pressed by a pressing member. As a result, the electric checker measures the voltage detected at each pressing point, and if the voltage is within the specified range set at the pressing point, it is determined as non-defective, and the voltage outside the specified range is detected. In some cases, it is determined as a defective product.
[0122]
As described above, the membrane switch according to the present embodiment has a contact in a specified direction on the lower contact sheet 33 in a state where the lower sheet 31 and the upper sheet 32 are bonded to each other at a specified position. A lower inspection electrode 361 and an upper inspection electrode 371 are provided so as to have an interval of a maximum allowable value of deviation between the electrodes 36 and 37. Thereby, the shift | offset | difference of the contact electrodes 36 and 37 can be electrically determined as mentioned above. Therefore, since it is possible to perform an accurate inspection without relying on human hands, it is possible to more reliably prevent the inconvenience that defective products are shipped, and to reduce the work load on the inspection operator. Further, even if both inspection electrodes 361 and 371 are arranged in the operation area of the membrane switch, when the user accidentally presses the inspection area, both the inspection electrodes 361 and 371 are conductive if they are good membrane switches. Never do. Therefore, even when the inspection region is pressed in a non-defective membrane switch, it is not erroneously detected that the contact electrode 36 provided with the lower inspection electrode 361 and the contact electrode 37 provided with the upper inspection electrode 371 are pressed. .
[0123]
In addition, since both the inspection electrodes 361 and 371 are provided integrally with the contact electrodes 36 and 37, respectively, they are formed in the manufacturing process of the contact electrodes 36 and 37. Therefore, not only the process for forming both inspection electrodes 361 and 371 is not increased, but also the contact electrodes 36 and 37 serve as an input electrode for position detection and an input electrode for displacement inspection. There is no need to provide independent wiring or electrodes for the displacement inspection. However, even if the two inspection electrodes 361 and 371 are provided independently of the contact electrodes 36 and 37, respectively, the accurate displacement inspection as described above can be performed. Of course, this wiring and output terminal are required, but are included in the present invention.
[0124]
In the present embodiment, the example in which both the inspection electrodes 361 and 371 are provided one by one in the membrane switch has been described, but the number of installation is not limited. For example, if inspection electrodes are provided on at least two contact electrodes 36, 37 of the four corner contact electrodes 36, 37 of the membrane switch, FIGS. Even if the inspection electrode configuration is the same as that of the first embodiment, it is possible to detect any of the X and Y coordinate directions and the direction of rotation with no restrictions on the direction. In particular, in the configurations of FIGS. 4 and 5, since there is no restriction on the detection direction of the deviation, it is possible to detect with high accuracy by providing both the inspection electrodes 361 and 371 at one place.
[0125]
The shapes of the inspection electrodes 361 and 371 are not limited to the shapes corresponding to the configurations of FIGS. 3 to 5, and various shapes can be applied as long as the displacement of the contact electrodes 36 and 37 can be detected. Further, the lower inspection electrode 361 and the upper inspection electrode 371 may have opposite electrode structures. In other words, in such a configuration, the upper inspection electrode 376 has the electrode structure of the lower inspection electrode 361, while the lower inspection electrode 361 is formed in a shape similar to the electrode structure of the upper inspection electrode 371. .
[0126]
Further, in the present embodiment, as in the modification described in the first embodiment, the displacement of the contact electrodes 36 and 37 may be detected when the two inspection electrodes 361 and 371 overlap each other. For example, FIG. The configuration shown in FIG.
[0127]
The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications are possible within the scope shown in the claims, and the embodiments can be obtained by appropriately combining technical means disclosed in different embodiments. The form is also included in the technical scope of the present invention.
[0128]
For example, in Embodiments 1 and 2, a digital matrix type touch panel and an analog resistance film type touch panel have been described, but the present invention is not limited to such a touch panel, and the position is detected by contact of opposing electrodes. For example, even a conductive film type touch panel can be applied as long as it has a configuration to do so. In addition to the touch panel, the membrane switch and other position detection panels as in Embodiment 3 can be applied to the present invention as long as they have a configuration that detects the position by the contact of the opposing electrodes. Of course.
[0129]
【The invention's effect】
In the position detection panel of the present invention, as described above, the first substrate to be pressed and the second substrate facing the first substrate are bonded to each other at a predetermined interval, and the first substrate faces the opposing surface. And the second substrate has a second electrode on the opposing surface, and the position of the pressing operation on the first substrate is detected based on the contact position of the first and second electrodes. The position detection panel employs the following configuration.
(1) The position detection panel includes a first inspection electrode formed to have a certain positional relationship with the first electrode, and a second inspection electrode formed to have a certain positional relationship with the second electrode. And the first inspection electrode and the second inspection electrode are the first substrate on which the first electrode is formed at a predetermined position, and the second electrode on which the second electrode is formed at a predetermined position. In a state where two substrates are bonded to each other at a predetermined position, an interval of a maximum allowable value of a deviation between the first electrode and the second electrode is arranged on the second substrate in a predetermined direction. It is configured as follows.
(2) The other position detection panel includes a first inspection electrode formed to have a certain positional relationship with the first electrode, and a second electrode formed to have a certain positional relationship with the second electrode. An inspection electrode, and the first inspection electrode and the second inspection electrode have a width of a maximum allowable value of a deviation between the first electrode and the second electrode in a specified direction on the second substrate. The first substrate on which the first electrode is formed at a specified position and the second substrate on which the second electrode is formed at a specified position are bonded to the specified position. It is configured to overlap without deviation in the prescribed direction.
[0130]
In the position detection panel of (1), when the deviation between the first inspection electrode and the second inspection electrode exceeds the maximum allowable value, the first inspection electrode and the second inspection electrode overlap each other. If the first inspection electrode and the second inspection electrode are pressed from the first substrate side, the two inspection electrodes come into contact with each other. Thereby, if the conduction | electrical_connection state of both test | inspection electrodes is detected, it will be understood that the 1st electrode and the 2nd electrode have shifted | deviated exceeding the maximum allowable value. On the other hand, in the position detection panel (2), when the deviation between the first inspection electrode and the second inspection electrode exceeds the maximum allowable value, the first inspection electrode and the second inspection electrode do not overlap each other. Therefore, if the first inspection electrode and the second inspection electrode are pressed from the first substrate side, the two inspection electrodes do not come into contact with each other. Thereby, if the non-conduction state of both inspection electrodes is detected, it will be understood that the first electrode and the second electrode are displaced beyond the maximum allowable value.
[0131]
Therefore, according to the position detection panels of (1) and (2), it is possible to electrically determine the shift between the first and second electrodes. Therefore, since it is possible to perform an accurate inspection without relying on human hands, it is possible to more reliably prevent the inconvenience that defective products are shipped and to reduce the inspection burden on the inspection operator. As a result, there is an effect that the displacement of the electrode can be detected in a short time and with high accuracy.
[0132]
In the position detection panels of (1) and (2), the first inspection electrode is formed integrally with the first electrode, and the second inspection electrode is formed integrally with the second electrode. The inspection electrode can be formed in the same formation process as the first electrode in manufacturing, and the second inspection electrode can be formed in the same formation process as the second electrode in manufacturing. Therefore, not only the number of steps for forming both inspection electrodes is increased, but also the output of the conduction state and the position detection output of the first and second inspection electrodes for displacement inspection are performed by a common output wiring. Is possible. Therefore, it is possible to improve the accuracy of the deviation inspection without complicating the configuration.
[0133]
In the position detection panel and the position detection panel of (1), one of the first or second inspection electrodes is formed so as to surround a part of the other on the second substrate. It is possible to set a predetermined direction for specifying the deviation between the first and second inspection electrodes in multiple directions, and it is possible to cope with detection of deviation in various directions.
[0134]
According to the position detection panel inspection method of the present invention, in any one of the above-described position detection panels, the regions on the first and second inspection electrodes in the first substrate are pressed, whereby the first and second regions are detected. Since the presence / absence of conduction of the inspection electrode is determined, in the position detection panel of (1), if the first and second inspection electrodes are electrically conducted by pressing the corresponding region on the first substrate, the first as described above. It is detected that the first and second electrodes are displaced beyond the maximum allowable value, and if the first and second electrodes are not conducting, the first and second electrodes are not displaced beyond the maximum allowable value. Is detected. Further, in the position detection panel of (2), the shift is not detected if the first and second inspection electrodes are conductive, and the shift is detected if they are not conductive. Therefore, it is possible to dramatically improve the accuracy and efficiency of the inspection by accurately and simply inspecting the displacement between the first and second electrodes.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a plan view showing a configuration of a touch panel according to Embodiment 1 of the present invention.
2A is a cross-sectional view showing the configuration of the touch panel of FIG. 1, and FIG. 2B is an exploded perspective view showing the configuration of the touch panel of FIG.
FIGS. 3A to 3C are plan views showing configurations of an upper inspection electrode and a lower inspection electrode common to the first to third embodiments. FIGS.
FIGS. 4A and 4B are plan views showing configurations of other upper test electrodes and lower test electrodes common to the first to third embodiments. FIGS.
FIGS. 5A and 5B are plan views showing configurations of still another upper inspection electrode and lower inspection electrode that are common to the first to third embodiments. FIGS.
6 is a diagram showing a configuration of an upper inspection electrode and a lower inspection electrode of a modification common to the first to third embodiments. FIG.
7A is a cross-sectional view showing the configuration of a touch panel according to Embodiment 2 of the present invention, and FIG. 7B is an exploded perspective view showing the configuration of the touch panel described above.
FIGS. 8A to 8C are plan views showing a configuration in which the lower substrate side, the upper substrate side, and both are superimposed on the touch panel of FIG.
9A is a cross-sectional view showing the configuration of a membrane switch according to Embodiment 3 of the present invention, and FIG. 9B is an exploded perspective view showing the configuration of the membrane switch.
FIGS. 10A to 10D are plan views showing enlarged views of a lower sheet, an upper sheet, a spacer, and a part of the stacked lower sheet and upper sheet in the membrane switch.
[Explanation of symbols]
1 Lower substrate (second substrate)
2 Upper substrate (first substrate)
4 Transparent electrode (second electrode)
5 Transparent electrode (first electrode)
7 Connection wiring
6 Connection wiring
11 Lower substrate (second substrate)
12 Upper substrate (first substrate)
14,15 Transparent conductive film
16, 17 electrode (second electrode)
18, 19 electrodes (first electrode)
31 Lower seat
32 Upper seat
33 Lower contact sheet (second board)
34 Upper contact sheet (first board)
36 Contact electrode (second electrode)
37 Contact electrode (first electrode)
41 Lower test electrode (second test electrode)
41a, 41b Strip electrode
41c Pendulum electrode
41d cross-shaped electrode
41e bent electrode
41f spiral electrode
42 Extension
42a Upper inspection electrode (second inspection electrode)
71 Upper inspection electrode (first inspection electrode)
71a, 71b Strip electrode
71c to 71e recess
71f bent electrode
71g spiral electrode
72 Extension
72a Upper inspection electrode (first inspection electrode)
171 Lower test electrode (second test electrode)
181 Upper inspection electrode (first inspection electrode)
361 Lower test electrode (second test electrode)
351a penetration
371 Upper inspection electrode (first inspection electrode)
371a penetration

Claims (5)

押圧操作される第1基板と、該第1基板に対向する第2基板とが所定の間隔をおいて貼り合わされ、前記第1基板が対向面に第1電極を有し、前記第2基板が対向面に第2電極を有し、該第1および第2電極の接触位置に基づいて前記第1基板上での押圧操作の位置を検出する位置検出パネルにおいて、
前記第1電極と一定の位置関係を持つように形成される第1検査電極と、前記第2電極と一定の位置関係を持つように形成される第2検査電極とを備え、前記第1検査電極と前記第2検査電極とが、規定の位置に前記第1電極が形成された前記第1基板と、規定の位置に前記第2電極が形成された前記第2基板とが規定の位置に貼り合わされた状態で、前記第2基板上で規定の方向へ前記第1電極と前記第2電極とのずれの最大許容値の間隔をおくように配されていることを特徴とする位置検出パネル。
A first substrate to be pressed and a second substrate facing the first substrate are bonded to each other at a predetermined interval, the first substrate has a first electrode on an opposing surface, and the second substrate is In a position detection panel having a second electrode on the opposing surface and detecting the position of the pressing operation on the first substrate based on the contact position of the first and second electrodes,
A first inspection electrode formed so as to have a certain positional relationship with the first electrode; and a second inspection electrode formed so as to have a certain positional relationship with the second electrode. The electrode and the second inspection electrode have the first substrate on which the first electrode is formed at a predetermined position, and the second substrate on which the second electrode is formed at a predetermined position. The position detection panel, which is disposed in such a manner that a gap of a maximum allowable value of a deviation between the first electrode and the second electrode is provided in a predetermined direction on the second substrate in a bonded state. .
押圧操作される第1基板と、該第1基板に対向する第2基板とが所定の間隔をおいて貼り合わされ、前記第1基板が対向面に第1電極を有し、前記第2基板が対向面に第2電極を有し、該第1および第2電極の接触位置に基づいて前記第1基板上での押圧操作の位置を検出する位置検出パネルにおいて、
前記第1電極と一定の位置関係を持つように形成される第1検査電極と、前記第2電極と一定の位置関係を持つように形成される第2検査電極とを備え、前記第1検査電極と前記第2検査電極とが、前記第2基板上での規定の方向への前記第1電極と前記第2電極とのずれの最大許容値の幅を有し、規定の位置に前記第1電極が形成された前記第1基板と、規定の位置に前記第2電極が形成された前記第2基板とが規定の位置に貼り合わされた状態で、前記規定の方向にずれなく重なり合うことを特徴とする位置検出パネル。
A first substrate to be pressed and a second substrate facing the first substrate are bonded to each other at a predetermined interval, the first substrate has a first electrode on an opposing surface, and the second substrate is In a position detection panel having a second electrode on the opposing surface and detecting the position of the pressing operation on the first substrate based on the contact position of the first and second electrodes,
A first inspection electrode formed so as to have a certain positional relationship with the first electrode; and a second inspection electrode formed so as to have a certain positional relationship with the second electrode. The electrode and the second inspection electrode have a width of a maximum allowable value of a deviation between the first electrode and the second electrode in a specified direction on the second substrate, and the first electrode and the second inspection electrode are positioned at a predetermined position. The first substrate on which one electrode is formed and the second substrate on which the second electrode is formed at a prescribed position are bonded to each other at a prescribed position without overlapping in the prescribed direction. Characteristic position detection panel.
前記第1検査電極は前記第1電極と一体に形成され、前記第2検査電極は前記第2電極と一体に形成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の位置検出パネル。The position detection panel according to claim 1, wherein the first inspection electrode is formed integrally with the first electrode, and the second inspection electrode is formed integrally with the second electrode. 前記第1または第2検査電極の一方が、前記第2基板上で他方の一部を包囲するように形成されていることを特徴とする請求項1または3に記載の位置検出パネル。4. The position detection panel according to claim 1, wherein one of the first and second inspection electrodes is formed so as to surround a part of the other on the second substrate. 5. 請求項1ないし4のいずれか1項に記載の位置検出パネルにおいて、前記第1基板における前記第1および第2検査電極上の領域を押圧することにより、前記第1および第2検査電極の導通の有無を判定することを特徴とする位置検出パネルの検査方法。5. The position detection panel according to claim 1, wherein the first and second inspection electrodes are electrically connected by pressing an area on the first and second inspection electrodes in the first substrate. 6. A method for inspecting a position detection panel, characterized by determining whether or not there is any.
JP2003208211A 2003-08-21 2003-08-21 Position detection panel and inspection method therefor Pending JP2005070821A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003208211A JP2005070821A (en) 2003-08-21 2003-08-21 Position detection panel and inspection method therefor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003208211A JP2005070821A (en) 2003-08-21 2003-08-21 Position detection panel and inspection method therefor

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005070821A true JP2005070821A (en) 2005-03-17

Family

ID=34401584

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003208211A Pending JP2005070821A (en) 2003-08-21 2003-08-21 Position detection panel and inspection method therefor

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005070821A (en)

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009294771A (en) * 2008-06-03 2009-12-17 Young Fast Optoelectronics Co Ltd Manufacturing method of touch panel
WO2011001655A1 (en) * 2009-07-01 2011-01-06 パナソニック株式会社 Touch panel
CN102096533A (en) * 2009-12-15 2011-06-15 索尼公司 Electrostatic capacitance-type input device, method of testing electrostatic capacitance-type input device, and driving device for electrostatic capacitance-type input device
KR101091694B1 (en) * 2010-01-14 2011-12-08 마이크로 인스펙션 주식회사 Inspection apparatus of touch panel
JP2011252848A (en) * 2010-06-03 2011-12-15 Nissha Printing Co Ltd Inspection device
CN103034361A (en) * 2011-09-30 2013-04-10 株式会社和冠 Position detection sensor unit and position detection apparatus
KR101257565B1 (en) * 2010-04-21 2013-04-23 파나소닉 액정 디스플레이 주식회사 Touch panel and display device
US8648833B2 (en) 2009-09-03 2014-02-11 Samsung Display Co., Ltd. Touch panel having reduced number of interconnects and touch input/output apparatus having the same
JP2014505316A (en) * 2011-07-04 2014-02-27 エルジー・ハウシス・リミテッド Capacitive touch panel and manufacturing method thereof
CN103941109A (en) * 2013-01-21 2014-07-23 宸鸿科技(厦门)有限公司 A test device of a touch panel
JP2014235476A (en) * 2013-05-31 2014-12-15 パナソニック株式会社 Transparent touch panel device and adjustment method of the same, and electronic device employing touch panel device
CN106066727A (en) * 2015-04-21 2016-11-02 三菱电机株式会社 Touch-screen, touch panel, display device and electronic instrument
CN109614010A (en) * 2019-01-09 2019-04-12 深圳市德名利电子有限公司 A kind of touch screen and electronic equipment
CN112435619A (en) * 2020-11-26 2021-03-02 上海天马有机发光显示技术有限公司 Display module and test method thereof
KR102575205B1 (en) * 2023-01-17 2023-09-08 주식회사 아이티에스솔루션 All-in-one touch screen panel and bezel applied sensor device
CN117963453A (en) * 2024-03-28 2024-05-03 江苏冠宇机械设备制造有限公司 Automobile manufacturing conveying line with test function

Cited By (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009294771A (en) * 2008-06-03 2009-12-17 Young Fast Optoelectronics Co Ltd Manufacturing method of touch panel
WO2011001655A1 (en) * 2009-07-01 2011-01-06 パナソニック株式会社 Touch panel
JP2011013881A (en) * 2009-07-01 2011-01-20 Panasonic Corp Touch panel
CN102473064A (en) * 2009-07-01 2012-05-23 松下电器产业株式会社 Touch panel
US8803830B2 (en) 2009-07-01 2014-08-12 Panasonic Corporation Touch panel with conductive layers formed of parallel strips
US8648833B2 (en) 2009-09-03 2014-02-11 Samsung Display Co., Ltd. Touch panel having reduced number of interconnects and touch input/output apparatus having the same
CN102096533A (en) * 2009-12-15 2011-06-15 索尼公司 Electrostatic capacitance-type input device, method of testing electrostatic capacitance-type input device, and driving device for electrostatic capacitance-type input device
JP2011128673A (en) * 2009-12-15 2011-06-30 Sony Corp Electrostatic capacitance-type input device, method of testing electrostatic capacitance-type input device, and driving device for electrostatic capacitance-type input device
KR101091694B1 (en) * 2010-01-14 2011-12-08 마이크로 인스펙션 주식회사 Inspection apparatus of touch panel
KR101257565B1 (en) * 2010-04-21 2013-04-23 파나소닉 액정 디스플레이 주식회사 Touch panel and display device
JP2011252848A (en) * 2010-06-03 2011-12-15 Nissha Printing Co Ltd Inspection device
JP2014505316A (en) * 2011-07-04 2014-02-27 エルジー・ハウシス・リミテッド Capacitive touch panel and manufacturing method thereof
US9608628B2 (en) 2011-07-04 2017-03-28 Lg Hausys, Ltd. Capacitive touch panel with improved visibility
CN103034361B (en) * 2011-09-30 2017-03-01 株式会社和冠 Position-detection sensor unit and position detecting device
CN103034361A (en) * 2011-09-30 2013-04-10 株式会社和冠 Position detection sensor unit and position detection apparatus
JP2013077271A (en) * 2011-09-30 2013-04-25 Wacom Co Ltd Position detection sensor unit and position detection device
CN103941109A (en) * 2013-01-21 2014-07-23 宸鸿科技(厦门)有限公司 A test device of a touch panel
WO2014110941A1 (en) * 2013-01-21 2014-07-24 宸鸿科技(厦门)有限公司 Testing apparatus of touch panel
JP2014235476A (en) * 2013-05-31 2014-12-15 パナソニック株式会社 Transparent touch panel device and adjustment method of the same, and electronic device employing touch panel device
CN106066727B (en) * 2015-04-21 2019-09-24 三菱电机株式会社 Touch screen, touch panel, display device and electronic instrument
CN106066727A (en) * 2015-04-21 2016-11-02 三菱电机株式会社 Touch-screen, touch panel, display device and electronic instrument
CN109614010A (en) * 2019-01-09 2019-04-12 深圳市德名利电子有限公司 A kind of touch screen and electronic equipment
CN109614010B (en) * 2019-01-09 2023-10-13 深圳市德明利技术股份有限公司 Touch screen and electronic equipment
CN112435619A (en) * 2020-11-26 2021-03-02 上海天马有机发光显示技术有限公司 Display module and test method thereof
KR102575205B1 (en) * 2023-01-17 2023-09-08 주식회사 아이티에스솔루션 All-in-one touch screen panel and bezel applied sensor device
CN117963453A (en) * 2024-03-28 2024-05-03 江苏冠宇机械设备制造有限公司 Automobile manufacturing conveying line with test function
CN117963453B (en) * 2024-03-28 2024-06-07 江苏冠宇机械设备制造有限公司 Automobile manufacturing conveying line with test function

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2005070821A (en) Position detection panel and inspection method therefor
US9256337B2 (en) Coordinate detection apparatus
JPH05109341A (en) Thin film switch
EP2811376B1 (en) In-cell touch panel and voltage testing method thereof
US9195327B2 (en) Touch panel and display device employing the same
CN103941109B (en) The test device of contact panel
JP2006523872A (en) Position detection device
JP2001154791A (en) Touch panel
TWI601037B (en) Testing system and testing method for touch-control apparatus
JP5382357B2 (en) Touch panel member and touch panel
WO2014171102A1 (en) Sensor sheet, sensor sheet module, touch sensor panel module, and electronic device
JP2000181612A (en) Coordinate input device
US6693624B1 (en) Joystick operated positioning device for a computer
JP4508886B2 (en) Resistive touch panel
JP2003258396A (en) Electronic device and method of manufacturing the same, semiconductor device and electronic equipment
US5750940A (en) Coordinate input tablet with notched film substrate
US20110043480A1 (en) Multiple input analog resistive touch panel and method of making same
JP3213513B2 (en) Touch panel, touch panel inspection method, and touch panel manufacturing method
JPH0648027U (en) Transmissive coordinate detector
US8269742B2 (en) Manufacturing method of coordinate position detecting device
CN103354072B (en) display device and detection method thereof
KR100322302B1 (en) Structure of Electrode in Touch Screen and Flat Panel Display with the Touch Screen
JP2001094233A (en) Conductor pattern inspection method and electro-optical apparatus
KR20050021080A (en) method for detecting the defect of touch panel
JPH0330903Y2 (en)

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051013

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080205

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080407

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20080407

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20080507