KR20110027933A - Supporting plate for non-conductive substrate and supporting method thereof - Google Patents
Supporting plate for non-conductive substrate and supporting method thereof Download PDFInfo
- Publication number
- KR20110027933A KR20110027933A KR1020090085755A KR20090085755A KR20110027933A KR 20110027933 A KR20110027933 A KR 20110027933A KR 1020090085755 A KR1020090085755 A KR 1020090085755A KR 20090085755 A KR20090085755 A KR 20090085755A KR 20110027933 A KR20110027933 A KR 20110027933A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- conductive substrate
- conductive
- substrate
- mounting table
- heat transfer
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6831—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using electrostatic chucks
- H01L21/6833—Details of electrostatic chucks
Abstract
Description
본 발명은 비전도성 기판의 재치대 및 비전도성 기판의 재치방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 비전도성 기판의 주변부에 데드존(dead zone)이 형성되는 것을 방지할 수 있는 비전도성 기판의 재치대 및 비전도성 기판의 재치방법에 관한 것이다.The present invention relates to a mounting table of a non-conductive substrate and a mounting method of a non-conductive substrate, and more particularly, to a mounting table of a non-conductive substrate that can prevent a dead zone from being formed in the periphery of the non-conductive substrate. And a method for mounting a nonconductive substrate.
일반적으로 비전도성 기판의 예로는 엘이디를 제조하기 위한 사파이어 기판을 예로들 수 있다. 이러한 사파이어 기판을 사용하여 엘이디를 제조할 때 다수의 사파이어 기판을 식각장비 내의 재치대에 고정지지한 후, 다양한 층이 형성된 사파이어 기판을 건식식각한다.In general, an example of the non-conductive substrate may be a sapphire substrate for manufacturing the LED. When manufacturing an LED using such a sapphire substrate, a plurality of sapphire substrates are fixed to a mounting table in an etching apparatus, and then dry etching the sapphire substrate on which various layers are formed.
이때 상기 재치대에 고정지지되는 사파이어 기판을 견고하게 고정하기 위해서 클램프를 사용하여 그 재치대의 포켓에 위치하는 사파이어 기판의 상부를 부분적으로 클램핑하게 된다. In this case, in order to firmly fix the sapphire substrate fixed to the mounting table, a clamp is used to partially clamp the upper part of the sapphire substrate located in the pocket of the mounting table.
식각 챔버 내에서 발생하는 플라즈마에 의하여 상기 클램프가 가열되고, 그 클램프와 접하는 사파이어 기판의 상부 일부는 소자가 형성될 수 없는 영역인 데드존(dead zone)이 되어 사파이어 기판의 전체에 엘이디 소자를 형성할 수 없게 된다.The clamp is heated by the plasma generated in the etching chamber, and the upper part of the sapphire substrate in contact with the clamp becomes a dead zone, in which the device cannot be formed, to form an LED element in the entire sapphire substrate. You will not be able to.
일반적으로 기판을 재치대에 고정하는 방법의 다른 예로는 정전척을 이용한 방법을 사용할 수 있으나, 사파이어 기판 등 비전도성 기판은 정전기력을 이용하는 정전척으로는 고정할 수 없다.In general, a method using an electrostatic chuck may be used as another example of a method of fixing a substrate to a mounting table, but a non-conductive substrate such as a sapphire substrate cannot be fixed by an electrostatic chuck using electrostatic force.
따라서 종래 비전도성 기판은 클램프에 의해 재치대에 고정되었으며, 데드존의 발생에 의해 그 비전도성 기판 전체를 소자의 제조에 이용할 수 없는 문제점이 있었다.Therefore, the conventional non-conductive substrate is fixed to the mounting table by the clamp, there is a problem that the entire non-conductive substrate can not be used to manufacture the device due to the generation of dead zone.
상기와 같은 문제점을 감안한 본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 비전도성 기판을 지지고정할 때 데드존이 발생되지 않는 비전도성 기판의 재치대 및 비전도성 기판의 재치방법을 제공함에 있다.In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a mounting table of a non-conductive substrate and a method of mounting a non-conductive substrate, in which a dead zone does not occur when supporting a non-conductive substrate.
또한 본 발명이 해결하고자 하는 다른 과제는, 비전도성 기판을 이용한 제조공정시 기판의 온도 제어가 용이한 비전도성 기판의 재치대 및 비전도성 기판의 재치방법을 제공함에 있다.In addition, another object of the present invention is to provide a mounting table of a non-conductive substrate and a method of mounting a non-conductive substrate, which facilitates temperature control of the substrate during a manufacturing process using the non-conductive substrate.
상기와 같은 과제를 해결하기 위한 본 발명 비전도성 기판의 재치대는, 상부일부에 직류전원이 공급되는 제1전원커넥터가 마련된 하부전극과, 상기 하부전극 상에 위치하며 내부에 정전기 유도전극이 마련되고, 상기 제1전원커넥터와 연결되어 전원라인을 통해 상기 정전기 유도전극에 직류전원을 공급하는 제2전원커넥터를 구비함과 아울러 상면에는 정전기 발생 처리된 비전도성 기판이 안착되는 안착부가 마련된 재치대를 포함한다.In order to solve the above problems, the mounting table of the non-conductive substrate of the present invention includes a lower electrode provided with a first power connector for supplying DC power to an upper portion thereof, and an electrostatic induction electrode disposed on the lower electrode. And a second power connector connected to the first power connector for supplying DC power to the electrostatic induction electrode through a power line, and having a seating portion on which a non-conductive substrate on which the static electricity is generated is mounted is mounted. Include.
또한 본 발명 비전도성 기판의 재치방법은, a) 비전도성 기판을 정전기의 발생이 가능하도록 전도성 처리하는 단계와, b) 상기 a) 단계에서 정전기 발생 처리된 상기 비전도성 기판을 정전 척으로 지지고정하는 단계를 포함한다.In addition, the mounting method of the non-conductive substrate of the present invention, a) conducting the conductive process to enable the generation of static electricity, and b) supporting and fixing the non-conductive substrate subjected to the electrostatic generation in step a) with an electrostatic chuck Steps.
본 발명 비전도성 기판의 재치대 및 비전도성 기판의 재치방법은, 비전도성 기판의 배면에 정전기 발생이 가능하도록 처리하고, 그 정전기 발생 처리된 비전도성 기판을 정전기를 이용하여 재치대에 지지고정시킴으로써, 데드존의 발생 면적을 줄여 소자형성영역을 보다 확장할 수 있는 효과가 있다.The mounting table of the non-conductive substrate and the method of mounting the non-conductive substrate of the present invention are treated to enable the generation of static electricity on the back surface of the non-conductive substrate, and the non-conductive substrate treated with the static electricity generation is fixed to the mounting table by using static electricity. As a result, the area where the dead zone is generated can be reduced to further extend the device formation region.
또한 본 발명 비전도성 기판의 재치대 및 비전도성 기판의 재치방법은, 비전도성 기판이 안착되는 영역에 열전달 가스를 흐르게 하여 공정의 진행중 비전도성 기판의 온도를 조절할 수 있어, 비전도성 기판의 과도한 온도 상승을 방지하며, 하 나의 비전도성 기판 내에서 온도편차가 발생하는 것을 방지하여 제조공정의 균일성을 확보할 수 있는 효과가 있다.In addition, the mounting table of the non-conductive substrate of the present invention and the method of placing the non-conductive substrate may control the temperature of the non-conductive substrate during the process by flowing a heat transfer gas to a region where the non-conductive substrate is seated, thereby causing excessive temperature of the non-conductive substrate. It prevents the rise and prevents the temperature deviation from occurring in one non-conductive substrate, thereby ensuring the uniformity of the manufacturing process.
이하, 상기와 같은 본 발명 비전도성 기판의 재치대 및 비전도성 기판의 재치방법의 바람직한 실시예의 구성과 작용을 보다 상세히 설명한다.Hereinafter, the configuration and operation of the preferred embodiment of the mounting table of the present invention non-conductive substrate and the method of mounting the non-conductive substrate will be described in more detail.
도 1은 본 발명의 제1실시예에 따른 비전도성 기판 재치대의 단면 구성도이고, 도 2는 본 발명에 적용되는 정전기 발생 처리된 비전도성 기판의 단면 구성도이다.1 is a cross-sectional configuration diagram of a non-conductive substrate mounting table according to the first embodiment of the present invention, Figure 2 is a cross-sectional configuration diagram of the electrostatic-generated non-conductive substrate applied to the present invention.
도 1과 도 2를 각각 참조하면 본 발명의 제1실시예에 따른 비전도성 기판의 재치대는, 상부일부에 제1전원커넥터(31)가 마련된 하부전극(30)과, 상기 하부전극(30) 상에 마련된 오형링(40)과, 상기 오형링(40) 상에 위치하며 내부에 정전기 유도전극(21)이 마련되고, 상기 제1전원커넥터(31)와 연결되어 전원라인(22)을 통해 상기 정전기 유도전극(21)에 직류전원을 공급하는 제2전원커넥터(23)를 포함하며, 그 상면에는 정전기 발생 처리된 비전도성 기판(10)이 안착되는 안착부(24)가 마련된 재치대(20)를 포함하여 구성된다.1 and 2, the mounting table of the non-conductive substrate according to the first embodiment of the present invention includes a
상기 정전기 발생 처리된 비전도성 기판(10)은 사파이어 기판 등의 비전도성 기판(11)의 배면 안착부의 전체 또는 일부에 전도성층(12)이 형성된 것이다.The
이하, 상기와 같이 구성되는 본 발명의 제1실시예에 따른 비전도성 기판의 재치대의 구성과 작용을 보다 상세히 설명한다.Hereinafter, the configuration and operation of the mounting table of the non-conductive substrate according to the first embodiment of the present invention configured as described above will be described in more detail.
먼저, 본 발명은 비전도성 기판(11)을 정전기로 데드존의 발생없이 지지고정하기 위하여 그 비전도성 기판(11)의 배면에 금속층, 반도체층, 도전성 폴리머층 등의 전하가 유도될 수 있는 전도성층(12)을 형성한다.First, in order to support and fix the
이때의 전도성층(12)은 도전성 테이프를 그 비전도성 기판(11)의 배면에 부착하거나, 도전성 폴리머를 도포하거나, 도전성 잉크를 인쇄 또는 도포하거나, 도전성 금속, 도전성 탄소 또는 금속성 입자를 증착하는 등의 다양한 방법으로 형성할 수 있다.At this time, the
또한 상기 전도성층(12)은 이후에 제거가 되어야 하는 것이기 때문에 그 전도성층(12)의 요건으로는 그 비전도성 기판(11)의 손상 없이 선택적인 제거가 가능한 것이어야 한다.In addition, since the
상기와 같이 다양한 방법을 선택적으로 적용하여 비전도성 기판(11)의 배면에 전도성층(12)을 형성하여, 정전기 발생 처리된 비전도성 기판(10)을 얻을 수 있게 된다.By selectively applying various methods as described above, the
그리고 상기 정전기 발생 처리된 비전도성 기판(10)은 재치대(20)의 안착 부(24)에 안착된다.The
상기 재치대(20)는 내측에 텅스텐 등의 전도성을 가지는 재질이며, 원판 형상을 가지는 정전기 유도전극(21)이 마련되어 있다. 이 정전기 유도전극(21)에 직류전원이 공급되면 그 정전기 유도전극(21)의 표면은 양의 전하 또는 음의 전하로 대전된다. 이때, 상기 안착된 정전기 발생 처리된 비전도성 기판(10)의 전도성층(12)은 상기 정전기 유도전극(21)의 표면 전하와는 반대 극성의 표면 전하로 대전된다. The mounting table 20 is made of a conductive material such as tungsten, and is provided with an
이와 같이 상기 정전기 유도전극(21)과 전도성층(12)의 표면전하 극성이 반대가 되면, 그 정전기 유도전극(21)과 전도성층(12) 사이에 정전기력에 의한 인력이 작용하여 그 정전기 발생 처리된 비전도성 기판(10)이 재치대(20)의 안착부(24) 내에서 견고하게 지지고정된다.As such, when the surface charge polarities of the
상기 정전기 유도전극(21)과 전도성층(12) 사이의 정전기력의 발생이 용이하게 될 수 있도록 상기 재치대(20)는 유전율이 높은 세라믹 재질로 형성하는 것이 바람직하다.The
상기 전도성층(12)은 비전도성 기판(11)을 정전기력으로 지지고정할 수 있도록 하는 역할을 할 뿐만 아니라, 비전도성 기판(11)의 상대적으로 열전달률이 낮은 문제점을 보완할 수 있다.The
비전도성 기판(11)의 면적이 대면적화되면서 플라즈마 공정에서 그 비전도성 기판(11)의 온도 프로파일이 균일하지 않고 부분적으로 과도하게 높은 온도로 타 부분과는 온도편차가 심한 부분이 발생할 수 있으며, 이는 공정의 불량을 발생시켜 수율을 저하시키는 원인이 된다.As the area of the
상기 비전도성 기판(11)에 전도성층(12)을 형성하면 금속 재질의 전도성층(12)이 열전달의 매개역할을 하게 되어, 비전도성 기판(11)의 온도 프로파일을 보다 균일하게 할 수 있다.When the
상기 정전기 유도전극(21)에는 전원라인(22)의 일측이 연결되며, 그 전원라인(22)의 타측은 재치대(20)의 배면에 노출되어 있는 제2전원커넥터(23)에 연결되어 있다.One side of the
상기 제2전원커넥터(23)는 직류전원(32)을 공급받는 제1전원커넥터(31)에 직접 접촉되어 그 직류전원(32)을 상기 전원라인(22)을 통해 정전기 유도전극(21)에 공급할 수 있게 된다.The
하부전극(30)은 플라즈마 공정에서 사용되는 일측전극이며, 오형링(40)는 상기 제1실시예에서는 선택적으로 적용 또는 비적용이 가능하다.The
이와 같이 본 발명은 비전도성 기판(11)의 배면에 전도성층(12)을 형성하여 비전도성 기판(11)을 정전기 발생 처리된 비전도성 기판(10)으로 변경하고, 그 정전기 발생 처리된 비전도성 기판(10)에 전하가 대전될 수 있도록 유도하는 정전기 유도전극(21)을 재치대에 마련하여 그 비전도성 기판(11)을 클램프를 사용하지 않 고 견고하게 지지고정할 수 있게 된다.As described above, the present invention forms the
따라서 비전도성 기판(11)에 클램프의 사용에 의한 데드존 발생을 방지하여 그 비전도성 기판(11)의 전체를 소자 형성영역으로 사용할 수 있게 된다.Therefore, the generation of the dead zone by the use of the clamp in the
도 3은 본 발명의 제2실시예에 따른 비전도성 기판의 재치대의 단면 구성도이다.3 is a cross-sectional view of a mounting table of a non-conductive substrate according to a second embodiment of the present invention.
도 3을 참조하면 본 발명의 제2실시예에 따른 비전도성 기판의 재치대는, 상기 도 1을 참조하여 상세히 설명한 제1실시예의 구성에서 상기 하부전극(30)에 열전달 가스의 제1공급로(33)를 마련함과 아울러 상기 재치대(20)에도 상기 제1공급로(33)를 통해 공급되는 열전달 가스를 안착부(24)에 안착되는 정전기 발생 처리된 비전도성 기판(10)의 배면측으로 공급하는 제2공급로(25)가 마련된 구성이다.Referring to FIG. 3, the mounting table of the non-conductive substrate according to the second embodiment of the present invention may include a first supply path of heat transfer gas to the
상기 정전기 발생 처리된 비전도성 기판(10)과 접촉되는 상기 안착부(24)의 상부면에는 하부전극을 통해 공급된 열전달가스가 효율적으로 공급되어 상기 기판의 배면에 전체적으로 유입될 수 있도록 열전달가스 공급유로가 형성되어 있으며, 상기 열전달가스가 누출되지 않도록 상기 안착부(24)와 상기 기판의 사이에는 안착돌기(26)가 사용된다.The heat transfer gas is supplied to the upper surface of the
상기 열전달가스 공급유로는 안착부(24)와 열전달가스의 접촉표면적을 넓혀 열전달 효율을 극대화시키기 위하여 원형, 방사형, 나선형 등과 같이 다양한 모양으로 형성할 수 있다.The heat transfer gas supply passage may be formed in various shapes such as circular, radial, spiral, etc. to maximize the heat transfer efficiency by widening the contact surface area between the
상기 제2공급로(25)는 도 3에서와 같이 상기 정전기 유도전극(21)을 관통하 여 형성될 수 있으며, 그 정전기 유도전극(21)을 우회하여 형성할 수 있다.The
이와 같은 본 발명의 제2실시예에 따른 비전도성 기판의 재치대는, 외부에서 공급되는 열전달 가스를 상기 하부전극(30)에 마련된 제1공급로(33)와 재치대(20)에 마련된 제2공급로(25)를 통해 상기 안착부(24)와 정전기 발생 처리된 기판(10)의 사이 공간부에 공급하여 플라즈마 공정에서 정전기 발생 처리된 기판(10)의 온도가 과도하게 상승하는 것을 방지할 수 있게 된다.In the mounting table of the non-conductive substrate according to the second embodiment of the present invention, the heat transfer gas supplied from the outside is provided in the
상기 열전달 가스는 열전달 효율이 뛰어난 헬륨가스를 사용할 수 있다.As the heat transfer gas, helium gas having excellent heat transfer efficiency may be used.
또한 최근 엘이디 제조공정에 사용하는 비전도성 기판(11)의 면적이 증가함에 따라 발생할 수 있는 그 비전도성 기판(11) 내의 국부적인 온도차를 방지하여, 그 비전도성 기판(11) 전체의 온도 프로파일을 균일하게 하여 공정의 신뢰성을 보다 향상시킬 수 있다.In addition, it is possible to prevent a local temperature difference in the
또한 상기 재치대(20)와 하부전극(30)간의 열전달 효율을 보다 증가시키기 위하여 열전달률이 높은 열전달시트를 상기 재치대의 배면에 부착시킬 수 있으며, 상기 오형링(40)은 상기 하부전극(30)과 재치대(20)의 사이에서 상기 공급되는 열전달 가스의 누설을 방지하는 역할을 한다.In addition, in order to further increase the heat transfer efficiency between the mounting table 20 and the
상기 열전달시트로는 열전도성 실리콘시트, 유리섬유가 코팅된 열전도성 시트, 이방성도전시트, 탄소, 그라파이트, 탄소나노튜브, 탄소섬유로 이루어지는 군에서 선택된 것으로 사용이 가능하다.The heat transfer sheet may be selected from the group consisting of thermally conductive silicon sheet, glass fiber coated thermally conductive sheet, anisotropic conductive sheet, carbon, graphite, carbon nanotube, carbon fiber.
도 4와 도 5는 각각 본 발명의 제3실시예와 제4실시예에 따른 비전도성 기판의 재치대의 사시도이다.4 and 5 are perspective views of a mounting table of the non-conductive substrate according to the third and fourth embodiments of the present invention, respectively.
도 4와 도 5를 각각 참조하면 본 발명의 제3실시예와 제4실시예에 따른 비전도성 기판의 재치대는, 상기 도 3을 참조하여 상세히 설명한 구성에서 정전기 발생 처리된 비전도성 기판(10)을 다수로 장착할 수 있는 구조이며, 동시에 다수의 비전도성 기판을 처리함이 가능하여 생산성을 보다 향상시킬 수 있게 된다.4 and 5, the mounting table of the non-conductive substrate according to the third and fourth embodiments of the present invention is a
이와 같이 비전도성 기판(10)을 다수로 장착할 수 있는 본 발명의 제3실시예와 제4실시예의 구체적인 구성은 상기 본 발명의 제1 또는 제2실시예와 동일한 것이며, 안착부(24)의 수를 증가시킨 것에 차이가 있다.As described above, specific configurations of the third and fourth embodiments of the present invention, in which a plurality of
이때 상기 안착부(24)에 안착되는 비전도성 기판(10)을 정전기력으로 지지고정하기 위해서 정전기 유도전극(21)이 제3실시예의 구성과 같이 전체적으로 위치할 수 있거나, 제4실시예와 같이 그 안착부(24)의 하부측에만 독립적으로 위치하도록 하여 유도전극(21) 각각에 직류전원(32)이 각각 공급된다.At this time, in order to support and fix the
상기 제3실시예와 제4실시예의 차이는 유도전극(21)의 형상이며, 제4실시예는 그 유도전극(21)의 형상을 분할하여 정전기력을 집중시킬 수 있는 특징이 있다.The difference between the third embodiment and the fourth embodiment is the shape of the
또한 열전달 가스의 공급을 위한 제2공급로(25) 역시 재치대(20)의 저면으로 부터 다수의 안착부(24)까지 관통되게 형성되어 있으며, 상기 안착부(24)에는 열전 달 가스의 공급유로가 형성되어 열전달 가스가 상기 비전도성 기판(10)의 배면에 고르게 전달 될 수 있도록 한다.In addition, the
상기 열전달 가스의 공급유로는 방사형, 원형 또는 나선형 등 다양한 형태를 가질 수 있으며, 이와 같은 구조에 의해 각 안착부(24)에 안착된 정전기 발생 처리된 비전도성 기판(10)의 온도가 과도하게 상승하는 것을 방지할 수 있게 된다.The heat supply gas supply passage may have various shapes such as radial, circular, or spiral, and the temperature of the electrostatic-generated
상기한 바와 같이 본 발명은 비전도성 기판(11)의 배면에 전도성층(12)을 형성하고, 그 전도성층(12)의 형성에 의해 정전기 발생 처리된 비전도성 기판(10)을 클램프를 사용하지 않고 정전 척으로 지지고정할 수 있게 되며, 그 전도성층(12)의 높은 열전달률에 의해 비전도성 기판(11)의 온도 프로파일을 개선할 수 있게 된다.As described above, in the present invention, the
또한 열전달 가스의 도입으로 인하여 공정중 비전도성 기판(11)의 과도한 온도상승을 방지함과 아울러 국부적인 온도 편차의 발생을 방지하여 공정불량의 발생을 방지할 수 있게 된다.In addition, due to the introduction of the heat transfer gas, it is possible to prevent excessive temperature rise of the
도 1은 본 발명의 제1실시예에 따른 비전도성 기판의 재치대의 단면 구성도이다.1 is a cross-sectional view of a mounting table of a non-conductive substrate according to a first embodiment of the present invention.
도 2는 본 발명에 적용되는 정전기 발생 처리된 비전도성 기판의 단면 구성도이다.Figure 2 is a cross-sectional configuration of the electrostatic generation non-conductive substrate applied to the present invention.
도 3은 본 발명의 제2실시예에 따른 비전도성 기판의 재치대의 단면 구성도이다. 3 is a cross-sectional view of a mounting table of a non-conductive substrate according to a second embodiment of the present invention.
도 4는 본 발명의 제3실시예에 따른 비전도성 기판 재치대의 구성도이다.4 is a configuration diagram of a non-conductive substrate mounting base according to a third embodiment of the present invention.
도 5는 본 발명의 제4실시예에 따른 비전도성 기판의 재치대의 구성도이다.5 is a configuration diagram of the mounting table of the non-conductive substrate according to the fourth embodiment of the present invention.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명** Description of the symbols for the main parts of the drawings *
10:정전기 발생 처리된 비전도성 기판10: electrostatically generated nonconductive substrate
11:비전도성 기판 12:전도성층11: non-conductive substrate 12: conductive layer
20:재치대 21:정전기 유도전극20: base 21: electrostatic induction electrode
22:전원라인 23:제2전원커넥터22: power line 23: second power connector
24:안착부 25:제2공급로24: Seating portion 25: Second supply path
26:안착돌기 30:하부전극26: seating projection 30: lower electrode
31:제1전원커넥터 32:직류전원31: First power connector 32: DC power
33:제1공급로 40:오형링33: 1st supply path 40: Odd ring
Claims (13)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090085755A KR20110027933A (en) | 2009-09-11 | 2009-09-11 | Supporting plate for non-conductive substrate and supporting method thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090085755A KR20110027933A (en) | 2009-09-11 | 2009-09-11 | Supporting plate for non-conductive substrate and supporting method thereof |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20110027933A true KR20110027933A (en) | 2011-03-17 |
Family
ID=43934462
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020090085755A KR20110027933A (en) | 2009-09-11 | 2009-09-11 | Supporting plate for non-conductive substrate and supporting method thereof |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20110027933A (en) |
-
2009
- 2009-09-11 KR KR1020090085755A patent/KR20110027933A/en not_active Application Discontinuation
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8295026B2 (en) | Electrostatic chuck and substrate processing apparatus having same | |
JP5324251B2 (en) | Substrate holding device | |
TW432582B (en) | Electrostatic support assembly having an integral ion focus ring | |
KR101822318B1 (en) | Thermal plate with planar thermal zones for semiconductor processing | |
TWI641074B (en) | Locally heated multi-zone substrate support | |
TWI358785B (en) | ||
JP4354983B2 (en) | Substrate processing equipment | |
JPH04211146A (en) | Electrostatic chuck | |
JP2015008287A (en) | Temperature controlled substrate support assembly | |
CN101645410A (en) | Apparatus for holding semiconductor wafers | |
WO1996013058A2 (en) | Apparatus and method for temperature control of workpieces in vacuum | |
KR20000023474A (en) | Electrostatic chuck | |
JP2002504266A (en) | Method and apparatus for improved retention of a semiconductor wafer in a semiconductor wafer processing system | |
JPWO2019188681A1 (en) | Electrostatic chuck heater | |
TWI755800B (en) | Semiconductor substrate supports with improved high temperature chucking | |
JP2005142496A (en) | Electrostatic chuck provided with heating mechanism | |
JP2016143760A (en) | Electrostatic chuck device | |
JP5654083B2 (en) | Electrostatic chuck and substrate processing apparatus | |
TW202147371A (en) | Electrostatic edge ring mounting system for substrate processing | |
JP4495687B2 (en) | Electrostatic chuck | |
JP4993694B2 (en) | Plasma CVD apparatus and thin film forming method | |
KR20110027933A (en) | Supporting plate for non-conductive substrate and supporting method thereof | |
US20050274604A1 (en) | Plating apparatus | |
JP2004158751A (en) | Plasma processing apparatus | |
JP2009088558A (en) | Electrostatic chuck device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E601 | Decision to refuse application |