KR20110023140A - Test method for one sheet - Google Patents

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이덕진
박순룡
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삼성모바일디스플레이주식회사
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Abstract

PURPOSE: A method for testing one sheet is provided to improve yield by minimizing the number of display panels which is determined as a defect in a one sheet testing stage. CONSTITUTION: A target property data value with information about the emission and brightness properties of a reference panel is produced(210). An actual data value of an actual panel is measured(220). A MTP stage corresponding to the target property data value and the actual property data value is produced(230). The actual property data value is estimated after the MTP stage is applied(240). One sheet is tested for the estimated property data value(250).

Description

원장 검사 방법{TEST METHOD FOR ONE SHEET}Ledger inspection method {TEST METHOD FOR ONE SHEET}

본 발명은 원장 검사 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 디스플레이 패널의 원장 검사 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a ledger inspection method, and more particularly to a ledger inspection method of the display panel.

다수개의 유기 발광 표시 장치(Organic Light Emitting Display)의 디스플레이 패널들은 하나의 기판(이하, 원장 기판) 상에서 형성된 후, 스크라이빙(scribing)되어 개개의 패널들로 분리된다. 디스플레이 패널들은 원장 기판에서 절단, 분리되기 전에, 원장 기판 상태에서 디스플레이 패널 단위의 점등이나 디스플레이 패널 단위의 검사 공정 또는 에이징(aging) 검사 공정 등을 진행한다. Display panels of a plurality of organic light emitting displays are formed on a single substrate (hereinafter, referred to as a mother substrate), and then scribed and separated into individual panels. Before the display panels are cut or separated from the mother substrate, the display panels are turned on in the state of the mother substrate, and the display panel unit inspection process or the aging inspection process is performed.

도 1은 일반적인 원장 검사 시스템을 나타내는 도면이다. 1 is a view showing a general ledger inspection system.

도 1을 참조하면, 원장 검사 시스템은 원장 기판(100), 전원 공급부(130), 및 원장 검사 장치(160)를 포함한다. Referring to FIG. 1, the ledger inspection system includes a ledger substrate 100, a power supply unit 130, and a ledger inspection device 160.

원장 기판(100) 상에는 절단 또는 분리되기 전의 상태인 다수개의 디스플레이 패널(105)이 형성되어 있다. A plurality of display panels 105 are formed on the mother substrate 100 before being cut or separated.

전원 공급부(130)는 배선(135)을 통하여 원장 기판(100) 상에 형성된 다수개의 디스플레이 패널(105) 각각에 전력을 공급한다. 다수개의 디스플레이 패널(105) 은 전원 공급부(130)로부터 공급받은 전력을 이용하여 원장 검사시 필요한 테스트 구동을 시작한다. The power supply unit 130 supplies power to each of the plurality of display panels 105 formed on the mother substrate 100 through the wiring 135. The plurality of display panels 105 starts the test driving required for the ledger inspection by using the power supplied from the power supply 130.

원장 검사 장치(160)는 입출력 배선(165)을 이용하여 디스플레이 패널(105) 각각에 구동 신호를 인가한다. 그리고, 상기 구동 신호에 응답하여 출력되는 데이터를 이용하여, 디스플레이 패널(105)이 사용자가 설계한대로 정상 구동하고 있는지를 테스트한다. 원장 검사 장치(160)는 출력되는 데이터가 사용자 등이 설정한 데이터 범위 또는 제품 스펙을 만족하는 범위 내에 존재하는지 여부에 따라서, 디스플레이 패널(105)의 양불을 판정한다. The ledger inspection device 160 applies a driving signal to each of the display panels 105 using the input / output wires 165. Then, using the data output in response to the drive signal, it is tested whether the display panel 105 is normally driven as designed by the user. The ledger inspection device 160 determines whether the display panel 105 is unsuccessful based on whether the outputted data is within a range satisfying a data range or a product specification set by a user or the like.

본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 불량 판정을 최소화하여 수율을 향상시킬 있는 원장 검사 방법을 제공하는 것이다. The technical problem to be solved by the present invention is to provide a ledger inspection method that can improve the yield by minimizing defect determination.

본 발명의 일 실시예에 따른 원장 검사 방법은 기준 패널의 발광 및 휘도 특성에 대한 정보를 가진 목표 특성 데이터 값을 산출하는 단계, 검사 대상이 되는 실제 패널의 실제 특성 데이터 값을 측정하는 단계, 상기 목표 특성 데이터 값과 상기 실제 특성 데이터 값 간의 차이에 대응되는 MTP 단계를 산출하는 단계, 산출된 상기 MTP 단계를 적용하여 상기 실제 특성 데이터 값을 보정할 경우, 보정 후의 상기 실제 특성 데이터 값을 예측하는 단계, 및 예측된 상기 실제 특성 데이터 값에 대하여 원장 검사를 실시하는 단계를 포함한다.According to an embodiment of the present invention, a method for inspecting a ledger includes calculating a target characteristic data value having information on light emission and luminance characteristics of a reference panel, measuring an actual characteristic data value of an actual panel to be inspected. Calculating an MTP step corresponding to a difference between a target characteristic data value and the actual characteristic data value; when correcting the actual characteristic data value by applying the calculated MTP step, predicting the actual characteristic data value after correction; And performing an ledger check on the predicted actual characteristic data value.

상기 차이에 대응되는 MTP 단계는 상기 차이를 보상할 수 있는 MTP 단계로, 검사 대상이 되는 패널의 모델 별로 실험적으로 결정할 수 있다. The MTP step corresponding to the difference may be an MTP step to compensate for the difference, and may be experimentally determined for each model of the panel to be inspected.

상기 특성 데이터 값은 색좌표 및 상기 색좌표에 따른 휘도가 될 수 있다. The characteristic data value may be a color coordinate and luminance according to the color coordinate.

상기 MTP 단계를 산출하는 단계는 상기 기준 패널의 상기 색좌표 및 상기 휘도를 만족시키는 상기 기준 패널에 흐르는 목표 전류량을 계산하는 단계, 상기 실제 패널의 상기 색좌표 및 상기 휘도를 만족시키는 상기 패널에 흐르는 실 전류량을 계산하는 단계, 및 상기 목표 전류량과 상기 실 전류량 간의 차이에 대응되는 MTP 단계를 산출하는 단계를 포함할 수 있다. The calculating of the MTP step may include calculating a target amount of current flowing through the reference panel that satisfies the color coordinates and the luminance of the reference panel, and an actual amount of current flowing through the panel that satisfies the color coordinates and the luminance of the actual panel. And calculating an MTP step corresponding to the difference between the target current amount and the real current amount.

상기 MTP 단계를 산출하는 단계는 상기 목표 전류량과 상기 실 전류량의 차이를 계산하는 단계, 및 상기 전류량 차이에 대응되는 MTP 단계를 산출하는 단계를 더 포함할 수 있다. 여기서, 상기 차이에 대응되는 MTP 단계는 상기 차이를 보상할 수 있는 MTP 단계로, 검사 대상이 되는 패널의 모델 별로 실험적으로 결정할 수 있다. The calculating of the MTP step may further include calculating a difference between the target current amount and the actual current amount, and calculating an MTP step corresponding to the difference in the current amount. Here, the MTP step corresponding to the difference is an MTP step to compensate for the difference, and can be determined experimentally for each model of the panel to be inspected.

상기 원장 검사 실시 단계는 예측된 상기 실제 특성 데이터 값인 상기 색좌표에 따른 휘도가, 사용자가 설정한 검사 기준 또는 제품 스펙을 만족하는지 판단함으로써 이루어질 수 있다. The checking of the ledger may be performed by determining whether the luminance according to the color coordinate, which is the predicted actual characteristic data value, satisfies an inspection standard or a product specification set by a user.

본 발명의 일 실시예에 따른 원장 검사 방법은 불량으로 판정되는 디스플레이 패널의 개수를 최소화하여 수율을 향상시킬 수 있다. The ledger inspection method according to an embodiment of the present invention can improve the yield by minimizing the number of display panels that are determined to be defective.

아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다. DETAILED DESCRIPTION Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art may easily implement the present invention. The present invention may, however, be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein. In the drawings, parts irrelevant to the description are omitted in order to clearly describe the present invention, and like reference numerals designate like parts throughout the specification.

명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "전기적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다. 또한 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. Throughout the specification, when a part is "connected" to another part, this includes not only "directly connected" but also "electrically connected" with another element in between. . In addition, when a part is said to "include" a certain component, which means that it may further include other components, except to exclude other components unless otherwise stated.

원장 검사에서는 디스플레이 패널(105)에서 출력되는 신호(휘도, 감마 특성을 나타내는 정보 등이 될 수 있음) 등이 사용자 설정한 데이터 범위 또는 제품 스펙을 만족하는 범위 내에 존재하는지 판단한다. 그리고, 상기 출력 신호가 상기 제품 스펙 등의 범위를 벗어나서 존재하면, 해당 디스플레이 패널은 불량으로 판정하여 폐기 처분하거나 또는 제품의 수리를 하게 된다. In the ledger inspection, it is determined whether a signal (which may be information indicating luminance, gamma characteristics, etc.) output from the display panel 105 exists within a user data range or a product specification. If the output signal exists outside the range of the product specification or the like, the corresponding display panel is determined to be defective and disposed of or repaired.

원장 검사에서 불량이 아닌 것으로 판정된 다수개의 디스플레이 패널들(105)은 스크라이빙(scribing)되어 개개의 패널들로 분리된다. 그리고, 분리된 디스플레이 패널 각각은 개별적인 모듈 출하 검사를 받게 된다. 모듈 출하 검사란, 디스플레이 패널 각각에 대하여 에이징 특성, 감마 특성, 또는 입력 전압 대비 휘도 성능 등의 제품 품질 및 구동 성능을 검사하는 것이다. The plurality of display panels 105 which are determined not to be defective in the ledger inspection are scribed and separated into individual panels. Each of the separated display panels is subjected to an individual module shipment inspection. The module shipment inspection is to inspect product quality and driving performance, such as an aging characteristic, a gamma characteristic, or a luminance performance with respect to an input voltage, with respect to each display panel.

유기 전계 발광 표시 장치의 표시 품질 향상을 위한 중요 요소 중 하나로, 감마 설정을 들 수 있다. 감마 설정은 표시 휘도와 계조 데이터의 상관관계로서, 표시 휘도와 계조 데이터의 상관관계는 감마 곡선(Gamma Curve)에 따라 정의된다. 유기 전계 발광 표시 장치가 안정된 표시 품질을 유지하기 위해서는 매우 정확한 감마 설정이 필요하다. One of the important factors for improving the display quality of the organic light emitting display device is gamma setting. The gamma setting is a correlation between display luminance and gray scale data, and the correlation between display luminance and gray scale data is defined according to a gamma curve. In order to maintain stable display quality of the organic light emitting display device, a very accurate gamma setting is required.

감마 설정에 오차가 발생하면, 실제 표시 휘도와 계조 데이터에 따르는 표시 휘도간의 편차가 발생한다. 편차가 발생한 패널에 대하여, 편차를 제거하기 위해서 기준 감마 전압의 보정 작업을 반복적으로 시행한다. 이하, 반복적으로 기준 감마 전압을 보정하는 작업을 다 시점 프로그래밍(multi time programming, 이하 MTP라고 함)이라 한다. If an error occurs in the gamma setting, a deviation occurs between the actual display brightness and the display brightness according to the gray scale data. For the panel in which the deviation occurred, the correction operation of the reference gamma voltage is repeatedly performed to remove the deviation. Hereinafter, the task of repeatedly correcting the reference gamma voltage is referred to as multi time programming (hereinafter referred to as MTP).

여기서, 기준 감마 전압이란, 표시 휘도를 결정하는 계조 데이터를 구동 전압 또는 구동 전류로 생성하기 위해 구동 회로에 입력하는 전압이다. 기준 감마 전압 값이 변하면, 계조 데이터에 따른 구동 전압 또는 구동 전류가 변하므로, 동일한 계조 데이터에 따른 패널의 표시 휘도 또한 변하게 된다. 따라서, 계조 데이터에 따른 실제 표시 휘도와 계조 데이터에 따른 목표 휘도 간에 편차가 발생하면, 실제 표시 휘도가 목표 표시 휘도가 되도록, 기준 가마 전압을 조절한다. 이 때, 본 발명은 MTP 방식에 따라 기준 감마 전압을 조절하여 실제 표시 휘도를 목표 표시 휘도에 도달시킨다. Here, the reference gamma voltage is a voltage input to the driving circuit to generate grayscale data for determining the display luminance as a driving voltage or a driving current. When the reference gamma voltage value changes, the driving voltage or driving current according to the gray scale data changes, so that the display brightness of the panel according to the same gray scale data also changes. Therefore, when a deviation occurs between the actual display luminance according to the gradation data and the target luminance according to the gradation data, the reference kiln voltage is adjusted so that the actual display luminance becomes the target display luminance. At this time, the present invention adjusts the reference gamma voltage according to the MTP method to reach the actual display luminance to the target display luminance.

전술한 모듈 출하 검사 단계에서는, 감마 특성 등을 검사한다. 그리고, 검사 결과 상기 감마 특성 등에 대하여 보정이 필요하다고 판단하면, MTP를 수행한다. 따라서, 휘도 특성에 약간의 오류가 발생한다고 하더라도, 모듈 출하 검사 단계에서 MTP를 수행하여 상기 휘도 특성 오류를 보정될 수 있다. In the above-described module shipment inspection step, gamma characteristics and the like are inspected. If it is determined that correction is necessary for the gamma characteristic and the like, the MTP is performed. Therefore, even if a slight error occurs in the luminance characteristic, the luminance characteristic error can be corrected by performing MTP in the module shipment inspection step.

일반적인 원장 검사에서는 MTP를 수행하기 이전의 디스플레이 패널에 대하여 제품 스펙 검사를 실시하며, 원장 검사 시 불량 판정 받지 않은 디스플레이 패널에 대하여 모듈 출하 검사 및 MTP를 수행한다. 이러한 원장 검사 방법에 의하여 불량으로 판정된 다수개의 디스플레이 패널 중에는, MTP를 수행하고 나면 불량이 아닌 제품으로 판정받을 수 있는 디스플레이 패널들이 다수 존재하였다. In general ledger inspection, product specification inspection is performed on the display panel before MTP is performed, and module shipment inspection and MTP are performed on the display panel which is not judged to be defective during ledger inspection. Among the plurality of display panels that are determined to be defective by the ledger inspection method, there are a large number of display panels that can be judged as non-defective products after performing MTP.

본 발명의 일 실시예 따른 원장 검사 방법은 MTP 수행 후의 색좌표 또는 휘도 등을 예측하고, 이를 기준으로 원장 검사를 실시한다. 이하에서는, 원장 검사 단계에서의 불량 판정을 최소화함으로써 디스플레이 패널 제조 시 수율을 향상시킬 수 있는 본 발명의 일 실시예에 따른 원장 검사 방법을 도 2 및 도 3을 참조하여 이하에서 상세히 설명하도록 한다. The ledger inspection method according to an embodiment of the present invention predicts color coordinates or luminance after MTP and performs ledger inspection based on this. Hereinafter, a method for inspecting a ledger according to an embodiment of the present invention, which may improve yield in manufacturing a display panel by minimizing a defect determination in a ledger inspection step, will be described in detail below with reference to FIGS. 2 and 3.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 원장 검사 방법을 나타내는 플로우차트이다. 2 is a flowchart showing a ledger inspection method according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 원장 검사 방법은 기준 패널의 특성 데이터 값을 산출한다(210 단계). Referring to FIG. 2, in the ledger inspection method according to an embodiment of the present invention, a characteristic data value of a reference panel is calculated (step 210).

여기서, 기준 패널이란 사용자가 제작하고자 제품 모델 별로 최적의 스펙을 갖도록 설계된 디스플레이 패널을 뜻한다. 또한, 특성 데이터 값이란 패널의 발광 및 휘도 특성 등의 제품 사양을 나타낼 수 있는 각종 데이터를 뜻한다. 따라서, 기 준 패널은 검사 대상이 되는 실제 패널에 대하여 색좌표 및 휘도 등에 있어서 목표 값을 제공한다. 또한, 실제 패널이 기준 패널과 휘도 값 등에 있어서 동일한 특성 데이터 값을 가질 때, 해당 디스플레이 패널을 최고의 제품 품질을 갖게 된다. Here, the reference panel refers to a display panel designed to have an optimal specification for each product model to be manufactured by a user. In addition, the characteristic data value means various data that can represent product specifications such as light emission and luminance characteristics of the panel. Therefore, the reference panel provides a target value in color coordinates and luminance and the like for the actual panel to be inspected. In addition, when the actual panel has the same characteristic data value as the reference panel and the luminance value, the display panel has the best product quality.

이하에서는 기준 패널의 특성 데이터 값을 '목표 특성 데이터'라고 한다. 목표 특성 데이터는 패널이 방출하는 빛의 발광 색상들 각각 별로 측정될 수 있으며, 따라서 목표 특성 데이터는 R(red), G(green), B(blue) 각각의 색상에서 측정할 수 있다. Hereinafter, the characteristic data value of the reference panel is referred to as 'target characteristic data'. The target characteristic data may be measured for each of the emission colors of the light emitted by the panel, and thus the target characteristic data may be measured for each of R (red), G (green), and B (blue) colors.

특성 데이터는 패널의 발광 및 휘도 특성에 대한 정보를 가진 데이터를 뜻한다. 특성 데이터는 색좌표 및 해당 색좌표를 만족시키는 휘도 또는 휘도에 대응되는 전류량(I_oled) 등이 될 수 있다. 휘도에 대응되는 전류량(I_oled)란 패널에 흐르는 전류량으로, 이 값에 따라서 패널의 휘도가 달라진다. 즉, 패널로 흐르는 전류량이 클수록, 휘도가 커지며, 휘도와 전류량(I_oled)은 서로 비례하는 값을 갖는다. 이하에서 휘도에 대응되는 전류량(I_oled)을 '발광 전류량'이라 한다. The characteristic data refers to data having information on light emission and luminance characteristics of the panel. The characteristic data may be a color coordinate and a luminance satisfying the color coordinate or the current amount I_oled corresponding to the luminance. The amount of current I_oled corresponding to the luminance is the amount of current flowing through the panel, and the luminance of the panel varies according to this value. That is, as the amount of current flowing through the panel increases, the luminance increases, and the luminance and the current amount I_oled have a value proportional to each other. Hereinafter, the current amount I_oled corresponding to the luminance is referred to as the 'light emission current amount'.

검사 대상이 되는 실제 패널의 특성 데이터 값을 측정한다(220 단계). 이하에서는, 실제 패널 에서 측정된 특성 데이터 값을 '실제 특성 데이터'라고 한다. The characteristic data value of the actual panel to be inspected is measured (step 220). Hereinafter, the characteristic data values measured in the actual panel are referred to as 'real characteristic data'.

실제 특성 데이터는 패널이 방출할 수 있는 발광 색상 각각별로 측정될 수 있다. 즉, R(red), G(green), B(blue) 색상 별로 휘도 등이 측정될 수 있다. Actual characteristic data can be measured for each of the luminescent colors the panel can emit. That is, luminance and the like may be measured for each of R (red), G (green), and B (blue) colors.

여기서, 220 단계에서의 특성 데이터는 210 단계의 특성 데이터와 동일하다. 즉, 패널의 발광 특성을 나타낼 수 있는 색좌표 및 해당 색좌표를 만족시키는 휘도, 또는 휘도에 대응되는 발광 전류량(I_oled) 등의 데이터를 뜻한다.  Here, the characteristic data in step 220 is the same as the characteristic data in step 210. That is, it means data such as color coordinates that can exhibit light emission characteristics of the panel, luminance satisfying the corresponding color coordinates, or emission current amount I_oled corresponding to the luminance.

목표 특성 데이터와 실제 특성 데이터 간의 차이를 계산하고, 상기 차이 값에 대응되는 MTP 단계(MTP step)를 도출한다(230 단계). 이하에서는, 목표 특성 데이터 및 실제 특성 데이터가 해당 디스플레이 패널의 제품 별 색좌표를 만족하는 휘도 값인 경우를 예로 들어 설명한다. The difference between the target characteristic data and the actual characteristic data is calculated, and an MTP step corresponding to the difference value is derived (step 230). Hereinafter, a case where the target characteristic data and the actual characteristic data are luminance values satisfying the color coordinates of each product of the display panel will be described as an example.

디스플레이 패널들은 제품(모델) 별로 서로 다른 색좌표를 갖는다. 제품 사양 등에 따라서 색좌표가 결정되며, 디스플레이 패널은 결정된 색좌표를 갖도록 설계 및 생산된다. 또한, 색좌표가 달라지면 R(red), G(green), B(blue) 발광 소자 간의 휘도 비 가 달라지며, 그에 따라서 R(red), G(green), B(blue) 색상 각각에서의 휘도 값도 변화하게 된다. The display panels have different color coordinates for each product (model). Color coordinates are determined according to product specifications and the like, and the display panel is designed and produced to have the determined color coordinates. In addition, when the color coordinates are different, the luminance ratio between R (red), G (green), and B (blue) light emitting elements is changed, and accordingly, luminance values in the R (red), G (green), and B (blue) colors, respectively. Will also change.

그러므로, 상기 210 및 220 단계에서 휘도 값을 측정할 때에는, 해당 디스플레이 패널이 만족해야 하는 색좌표 값을 고려하여 측정한다. Therefore, when the luminance value is measured in steps 210 and 220, the measurement is performed by considering the color coordinate value that the display panel needs to satisfy.

230 단계에서는 먼저, 기준 패널의 휘도 값과 실제 패널의 휘도 값과의 차이를 계산한다. 전술한 바와 같이 휘도 값은 발광 전류량(I_oled)에 비례하는 값을 갖는다. 따라서, 휘도 값은 발광 전류량으로 변환되어 나타낼 수 있으며, 기준 패널의 휘도 값과 실제 패널의 휘도 값 간의 차이 값은 기준 패널에서의 발광 전류량(I_oled)과 실제 패널에서의 발광 전류량(I_oled) 간의 차이 값으로 나타나낼 수 있다. In operation 230, first, a difference between the luminance value of the reference panel and the luminance value of the actual panel is calculated. As described above, the luminance value is proportional to the emission current amount I_oled. Therefore, the luminance value may be converted into the amount of light emitting current and the difference value between the luminance value of the reference panel and the luminance value of the actual panel is the difference between the emission current amount I_oled in the reference panel and the emission current amount I_oled in the actual panel. Can be represented by a value.

기준 패널의 휘도 값을 발광 전류량(I_oled)으로 변환하여 계산하고, 실제 패널의 휘도 값을 발광 전류량(I_oled)으로 변환하여 계산한다. 그리고, 기준 패널에서의 발광 전류량(I_oled)과 실제 패널에서의 발광 전류량(I_oled) 간의 전류 차 이를 계산한다. 이하에서는 기준 패널에서의 발광 전류량(I_oled)과 실제 패널에서의 발광 전류량(I_oled) 간의 전류 차이를 '전류량 차이 값'이라고 한다. '전류량 차이=목표 전류량-실 전류량'으로 정의 될 수 있다. The luminance value of the reference panel is converted to the luminous current amount I_oled and calculated, and the luminance value of the actual panel is converted to the luminous current amount I_oled. Then, the current difference between the luminous current amount I_oled in the reference panel and the luminous current amount I_oled in the actual panel is calculated. Hereinafter, the current difference between the luminous current amount I_oled in the reference panel and the luminous current amount I_oled in the actual panel is referred to as a 'current difference value'. It can be defined as 'current difference = target current amount-actual current amount'.

산출된 MTP 단계는 패널의 휘도를 측정하여 보정하는데 이용된다. TP 단계는 MTP를 수행하는 횟수를 뜻한다. 예를 들어, MTP 단계가 a 단계라면, MTP를 수행하는 횟수가 a 번 인 것을 뜻한다. 실제 휘도와 목표 휘도의 차이가 클수록 MTP 수행 횟수가 증가하게 된다. MTP를 수행하면, 실제 휘도와 목표 휘도를 비교하여 목표 휘도와 실제 휘도와의 차이를 감소시키는 방향으로 디스플레이 패널의 구동 전압 또는 구동 전류가 보정되고, 보정된 상기 구동 전압 또는 구동 전류가 디스플레이 패널에 공급된다. 그리고, 다시 패널의 실제 휘도를 측정하며, 실제 휘도가 목표 휘도와 차이가 있으며 다음 MTP를 수행한다. MTP를 반복 시행할수록 실제 패널의 휘도는 목표 휘도에 가까운 값으로 점차적으로 보정된다. The calculated MTP step is used to measure and correct the brightness of the panel. The TP stage refers to the number of times MTP is performed. For example, if the MTP stage is a stage, it means that the number of times MTP is performed is a. As the difference between the actual luminance and the target luminance increases, the number of times MTP is performed increases. When the MTP is performed, the driving voltage or driving current of the display panel is corrected in a direction of reducing the difference between the target luminance and the actual luminance by comparing the actual luminance with the target luminance, and the corrected driving voltage or driving current is applied to the display panel. Supplied. In addition, the actual luminance of the panel is measured again, and the actual luminance is different from the target luminance, and the next MTP is performed. As the MTP is repeated, the actual panel brightness is gradually corrected to a value close to the target brightness.

도 3은 도 2의 230 단계를 설명하기 위한 도면이다. FIG. 3 is a diagram for describing operation 230 of FIG. 2.

도 3은 MTP 단계 대비 전류량 차이 값을 나타내는 그래프이다. 도 3을 참조하면, MTP 단계는 전류량 차이 값에 비례하여 증가하는 값을 갖는다. 전류량 차이가 크면 MTP 단계를 높여, 디스플레이 패널에 대하여 여러 번 휘도 보정을 수행한다. 3 is a graph showing a difference in current amount compared to an MTP step. Referring to FIG. 3, the MTP step has a value that increases in proportion to the current amount difference value. If the current difference is large, the MTP step is increased to perform luminance compensation several times on the display panel.

전류량 차이가 음(-)의 값을 갖는 경우 MTP 단계는 음(-)의 값으로 도시되어 있다. MTP 단계가 음(-)의 값을 갖는 것은 실 전류량이 목표 전류량보다 클 경우, 실 전류량을 감소시키는 방향으로 MTP를 수행하는 것을 의미한다. 또한 전류량 차 이가 양(+)의 값을 갖는 경우, MTP 단계는 양(+)의 값으로 도시되어 있다. MTP 단계가 양(-)의 값을 갖는 것은 실 전류량이 목표 전류량보다 작은 경우, 실 전류량을 증가시키는 방향으로 MTP를 수행하는 것을 의미한다. If the amount of current difference has a negative value, the MTP step is shown as a negative value. The negative value of the MTP step means that the MTP is performed in a direction of decreasing the actual current amount when the actual current amount is larger than the target current amount. Also, if the amount of current difference has a positive value, the MTP step is shown as a positive value. The MTP step having a positive value means that the MTP is performed in a direction of increasing the real current amount when the actual current amount is smaller than the target current amount.

도 3에 도시된 MTP 단계 대비 전류량 차이 그래프는 디스플레이 패널의 제품 별로 실험적으로 구할 수 있다. 디스플레이 패널의 사양 또는 모델에 따라서 MTP 단계 대비 전류량 차이 그래프는 조금씩 다르게 나타날 수 있다. A graph of the difference in current amount compared to the MTP step shown in FIG. 3 may be obtained experimentally for each product of the display panel. Depending on the display panel specification or model, the current difference graph may be slightly different from the MTP stage.

본원에서는 도 3의 그래프를 실험적으로 산출하여 놓고, 이를 이용할 수 있다. 따라서, 230 단계에서는, 미리 실험적으로 구해놓은 MTP 단계 대비 전류량 차이 그래프를 이용하여, 상기 전류량 차이 값을 대응되는 MTP 단계를 결정한다. 또는, 산출된 전류량 차이 값을 이용하여, 그때그때마다 실험적으로 상기 전류량 차이 값에 대응되는 MTP 단계를 산출할 수 있다. In the present application, the graph of FIG. 3 may be experimentally calculated and used. Therefore, in step 230, the MTP step corresponding to the current amount difference value is determined using the current difference graph compared with the MTP step previously obtained experimentally. Alternatively, by using the calculated current amount difference value, an MTP step corresponding to the current amount difference value can be calculated experimentally at that time.

230 단계에서 구한 MTP 단계를 적용하여, 실제 패널의 휘도를 보정할 경우의 보정된 후의 휘도를 예측한다(240 단계). The MTP step obtained in step 230 is applied to predict the corrected luminance when the luminance of the actual panel is corrected (step 240).

240 단계에서 예측 된 실제 패널의 휘도를 검사 대상인 패널의 휘도로 하여 원장 검사를 실시한다(250 단계). 즉, 240 단계에서 예측된 실제 패널의 휘도가 사용자가 설정한 검사 기준(데이터 범위) 또는 제품 스펙을 만족하는 범위 내에 존재하는지 여부에 따라서 제품의 양불을 판정한다. The ledger inspection is performed by using the luminance of the actual panel predicted in step 240 as the luminance of the panel to be inspected (step 250). In other words, whether the brightness of the actual panel predicted in step 240 is within the range satisfying the inspection criteria (data range) or product specification set by the user is determined whether the product is good or bad.

본원에서는 기준 패널의 휘도와 실제 패널의 휘도 간의 차이를 이용하여 해당 디스플레이 패널에 적용하여야 할 MTP 단계를 결정한다. 그리고, 상기 결정된 MTP 단계를 적용한 경우의 실제 패널의 보정된 휘도를 예측하고, 예측된 휘도로 원 장 검사를 실시한다. 따라서 본 발명에 따른 원장 검사 방법을 수행하면, 후속되는 모듈 검사 과정에서 MTP를 실시하여 불량으로 판정받지 않을 수 있는 디스플레이 패널들이, 원장 검사 단계에서 불량으로 판정되는 것을 막을 수 있다. 나아가, 원장 검사 단계에서 불량으로 판정되는 디스플레이 패널의 수를 최소화하여 제품의 생산 수율을 향상시킬 수 있다. Here, the difference between the luminance of the reference panel and the luminance of the actual panel is used to determine the MTP step to be applied to the corresponding display panel. Then, the corrected luminance of the actual panel in the case of applying the determined MTP step is predicted, and the ledger inspection is performed with the predicted luminance. Accordingly, when the ledger inspection method according to the present invention is performed, display panels that may not be determined to be defective by performing MTP in a subsequent module inspection process may be prevented from being determined to be defective in the ledger inspection step. Furthermore, the production yield of the product can be improved by minimizing the number of display panels that are determined to be defective in the ledger inspection step.

도 1은 일반적인 원장 검사 시스템을 나타내는 도면이다. 1 is a view showing a general ledger inspection system.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 원장 검사 방법을 나타내는 플로우차트이다. 2 is a flowchart showing a ledger inspection method according to an embodiment of the present invention.

도 3은 도 2의 230 단계를 설명하기 위한 도면이다. FIG. 3 is a diagram for describing operation 230 of FIG. 2.

Claims (9)

기준 패널의 발광 및 휘도 특성에 대한 정보를 가진 목표 특성 데이터 값을 산출하는 단계;Calculating a target characteristic data value having information on light emission and luminance characteristics of the reference panel; 검사 대상이 되는 실제 패널의 실제 특성 데이터 값을 측정하는 단계; Measuring an actual characteristic data value of an actual panel to be inspected; 상기 목표 특성 데이터 값과 상기 실제 특성 데이터 값 간의 차이에 대응되는 MTP 단계를 산출하는 단계;Calculating an MTP step corresponding to a difference between the target characteristic data value and the actual characteristic data value; 산출된 상기 MTP 단계를 적용하여 상기 실제 특성 데이터 값을 보정할 경우, 보정 후의 상기 실제 특성 데이터 값을 예측하는 단계; 및 Predicting the actual characteristic data value after the correction when correcting the actual characteristic data value by applying the calculated MTP step; And 예측된 상기 실제 특성 데이터 값에 대하여 원장 검사를 실시하는 단계를 포함하는 원장 검사 방법. And performing a ledger check on the predicted actual characteristic data values. 제1항에 있어서, 상기 차이에 대응되는 MTP 단계는 The method of claim 1, wherein the MTP step corresponding to the difference is 상기 차이를 보상할 수 있는 MTP 단계로, 검사 대상이 되는 패널의 모델 별로 실험적으로 결정되는 원장 검사 방법. The MTP step to compensate for the difference, the ledger inspection method determined experimentally for each model of the panel to be examined. 제1항에 있어서, 상기 특성 데이터 값은 The method of claim 1, wherein the characteristic data value is 색좌표 및 상기 색좌표에 따른 휘도인 원장 검사 방법. A ledger inspection method of color coordinates and luminance according to the color coordinates. 제3항에 있어서, 상기 MTP 단계를 산출하는 단계는 4. The method of claim 3, wherein calculating the MTP step 상기 기준 패널의 상기 색좌표 및 상기 휘도를 만족시키는 상기 기준 패널에 흐르는 목표 전류량을 계산하는 단계; Calculating a target current flowing through the reference panel satisfying the color coordinates and the luminance of the reference panel; 상기 실제 패널의 상기 색좌표 및 상기 휘도를 만족시키는 상기 패널에 흐르는 실 전류량을 계산하는 단계; 및 Calculating an amount of real current flowing in the panel satisfying the color coordinates and the luminance of the actual panel; And 상기 목표 전류량과 상기 실 전류량 간의 차이에 대응되는 MTP 단계를 산출하는 단계를 포함하는 원장 검사 방법. And calculating an MTP step corresponding to the difference between the target current amount and the actual current amount. 제4항에 있어서, 상기 MTP 단계를 산출하는 단계는 5. The method of claim 4, wherein calculating the MTP step 상기 목표 전류량과 상기 실 전류량의 차이를 계산하는 단계; 및 Calculating a difference between the target current amount and the actual current amount; And 상기 전류량 차이에 대응되는 MTP 단계를 산출하는 단계를 더 포함하며, Calculating an MTP step corresponding to the difference in current amount; 상기 차이에 대응되는 MTP 단계는 상기 차이를 보상할 수 있는 MTP 단계로, 검사 대상이 되는 패널의 모델 별로 실험적으로 결정되는 원장 검사 방법. The MTP step corresponding to the difference is an MTP step for compensating for the difference, which is determined experimentally for each model of the panel to be examined. 제3항에 있어서, 상기 원장 검사 실시 단계는 The method of claim 3, wherein performing the ledger inspection 예측된 상기 실제 특성 데이터 값인 상기 색좌표에 따른 휘도가, 사용자가 설정한 검사 기준 또는 제품 스펙을 만족하는지 판단함으로써 이루어지는 원장 검사 방법. And determining whether the luminance according to the color coordinate, which is the predicted actual characteristic data value, satisfies an inspection standard or a product specification set by a user. 제3항에 있어서, 상기 기준 패널의 휘도를 산출하는 단계는 The method of claim 3, wherein the calculating of the luminance of the reference panel comprises: 상기 기준 패널이 방출할 수 있는 발광 색상들 각각 별로 측정되는 원장 검 사 방법. Ledger inspection method for each of the emission colors that can be emitted by the reference panel. 제7항에 있어서, 상기 실제 패널의 휘도를 측정하는 단계는The method of claim 7, wherein measuring the brightness of the actual panel 상기 실제 패널이 방출할 수 있는 발광 색상들 각각 별로 측정되는 원장 검사 방법. And a ledger inspection method for each of the emission colors that the actual panel can emit. 제7항 또는 제8항에 있어서, 상기 방출할 수 있는 발광 색상들은The method of claim 7 or 8, wherein the emitting light emitting colors are R, G, 및 B인 원장 검사 방법. A method for checking the ledger, which is R, G, and B.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150081085A (en) * 2014-01-03 2015-07-13 삼성디스플레이 주식회사 Method of compensating image of display panel, method of driving display panel including the same and display apparatus for performing the same
US9852018B2 (en) 2012-12-28 2017-12-26 Samsung Display Co., Ltd. Method of detecting an error of a multi-time programmable operation, and organic light emitting display device employing the same

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20080021472A (en) * 2006-08-28 2008-03-07 삼성전자주식회사 Automatic system and method for generating correction data
KR100833755B1 (en) 2007-01-15 2008-05-29 삼성에스디아이 주식회사 Onejang test device and method thereof
KR100886099B1 (en) * 2007-06-26 2009-03-04 주식회사 코아로직 Apparatus for automatically computing image correction curve and Method thereof

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9852018B2 (en) 2012-12-28 2017-12-26 Samsung Display Co., Ltd. Method of detecting an error of a multi-time programmable operation, and organic light emitting display device employing the same
KR20150081085A (en) * 2014-01-03 2015-07-13 삼성디스플레이 주식회사 Method of compensating image of display panel, method of driving display panel including the same and display apparatus for performing the same

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