KR20110000875A - 광디스크 디바이스와 그레이팅 소자의 위치 조정 방법 - Google Patents

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이호길
황호성
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엘지전자 주식회사
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Abstract

본 발명은, 광디스크 디바이스와 그레이팅 소자의 위치 조정 방법에 관한 것으로, 예를 들어, 광디스크에 데이터를 기록 또는 재생하는 다양한 유형의 광디스크 디바이스에서, 광픽업 내에 포함된 그레이팅(Grating) 소자의 위치 조정 모드가 설정되면, 제1 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP1)와 제2 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP2)를 검출하여, 오실로스코프(Oscilloscope) 등과 같은 외부 측정기기로 출력함으로써, 상기 외부 측정기기에서, 제1 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP1)와 제2 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP2)를, 각각 X 축과 Y 축으로 하는 리사주(Lissajous) 파형으로 표시하게 되므로, 예를 들어, 작업자가, 그레이팅 소자의 위치 조정에 따라 변화가 크게 발생하는 리사주 파형을 보면서, 타원형의 리사주 파형이 직선이 되도록, 그레이팅 소자의 위치를 보다 용이하고 정확하게 조정할 수 있게 된다.
그레이팅 소자, 위치 조정 모드, 제1 서브 빔 푸시풀 신호, 제2 서브 빔 푸시풀 신호, 리사주 파형

Description

광디스크 디바이스와 그레이팅 소자의 위치 조정 방법 {Optical disc device and method for adjusting position of grating device}
본 발명은, 예를 들어, 디브이디(DVD) 또는 비디(BD) 등과 같은 광디스크에 데이터를 기록 또는 재생하는 다양한 유형의 광디스크 디바이스와 그레이팅 소자의 위치 조정 방법에 관한 것이다.
도 1은, 일반적인 광디스크 디바이스에 대한 실시예의 구성을 도시한 것으로, 예를 들어, 디브이디(DVD) 또는 비디(BD) 등에 데이터를 기록 또는 재생하는 광디스크 드라이브(ODD: Optical Disc Drive)와 같은 광디스크 디바이스에는, 광디스크(10), 광픽업(11), 기록/재생부(12), 코덱(13), 검출기(14), 제어기(15), 메모리(16), 모터 드라이버(17), 슬레드 모터(18), 그리고 스핀들 모터(19) 등이 포함 구성된다.
한편, 상기 광픽업(11)에는, 예를 들어, 도 2에 도시한 바와 같이, 대물렌즈(111), 빔 스플리터(112), 그레이팅 소자(113), 레이저 다이오드(114), 그리고 포토 디텍터(115) 등이 포함 구성된다.
또한, 상기 포토 디텍터(115)는, 예를 들어, 12 개의 영역으로 분할된 12 분할 포토 디텍터(PD: Photo Detector)가 사용되는 데, 도 2에 도시한 바와 같이, 상기 그레이팅 소자(113)는, 상기 레이저 다이오드(114)에서 발광되는 레이저 빔을, 하나의 메인 빔(Main Beam)과 제1 서브 빔(Sub Beam 1), 그리고 제2 서브 빔(Sub Beam 2)으로 분할하게 된다.
그리고, 상기 메인 빔은, 상기 빔 스플리터(112)와 대물렌즈(11)를 거쳐, 상기 광디스크(10)에 반사된 후, 상기 포토 디텍터(115)의 중앙에 배치된 A,B,C,D 영역에 의해 전기 신호로 변환된다.
한편, 상기 제1 서브 빔은, 상기 빔 스플리터(112)와 대물렌즈(111)를 거쳐, 상기 광디스크(10)에 반사된 후, 상기 포토 디텍터(115)의 좌측에 배치된 E1, E2, E3, E4 영역에 의해 전기 신호로 변환되고, 상기 제2 서브 빔은, 상기 포토 디텍터(115)의 우측에 배치된 F1, F2, F3, F4 영역에 의해 전기 신호로 변환된다.
또한, 상기 A,B,C,D 영역에 의해 변환된 전기 신호와, 상기 E1,E2,E3,E4 영역에 의해 변환된 전기 신호, 그리고 상기 F1, F2, F3, F4 영역에 의해 변환된 전기 신호는, 상기 검출기(14)로 출력된다.
그리고, 상기 검출기(14)는, 예를 들어, 도 2에 도시한 바와 같이, 상기 전기 신호들을 조합 및 연산하여, 메인 푸시풀 신호(MPP: Main Push Pull)로서, MPP=(A+D)-(B+C)를 검출하고, 서브 푸시풀 신호(SPP: Sub Push Pull)로서, SPP=(E1F1+E4F4)-(E2F2+E3F3)를 검출하게 된다.
한편, 상기 광픽업(11) 내에 포함된 그레이팅 소자(113)의 위치를 조정하는 제조 공정의 작업자는, 예를 들어, 도 2에 도시한 바와 같이, 오실로스코프(Oscilloscope) 등과 같은 외부 측정기기를 이용하여, 상기 검출기(14)에서 검출되는 메인 푸시풀 신호(MPP)와 서브 푸시풀 신호(SPP)를 측정 확인하게 된다.
또한, 상기 작업자는, 상기 그레이팅 소자(113)의 위치를 미세 조정하면서, 상기 외부 측정기기에 표시되는 메인 푸시풀 신호(MPP)와 서브 푸시풀 신호(SPP)의 위상(Phase) 차가, 임의의 특정 목표 위상차가 되도록 한다.
예를 들어, 도 3에 도시한 바와 같이, 메인 푸시풀 신호와 서브 푸시풀 신호의 위상(M/S Phase) 차를 조정하여, 서브 빔의 위치가 180도에서 최대가 되도록 해야 하는 데, 상기 오실로스코프와 같은 외부 측정기기에서, 상기 메인 푸시풀 신호(MPP)와 서브 푸시풀 신호(SPP)를 수신하여, 그에 해당하는 리사주(Lissajous) 파형을 표시하는 경우, 작업자가, 그레이팅 소자(113)의 위치를 가변 조정하더라도, 상기 외부 측정기기에 표시되는 리사주 파형이 극히 미세하게 변하게 된다.
예를 들어, 도 4에 도시한 바와 같이, 외부 측정기기에서, X 축을 메인 푸시풀 신호(MPP)로 하고, Y 축을 서브 푸시풀 신호(SPP)로 하는 리사주 파형이 표시된 상태에서, 작업자가 제1 조정 스텝으로서, 그레이팅 소자를 160도로 조정하여, 메인 푸시풀 신호와 서브 푸시풀 신호의 비율(M/S Ratio)이 46.9%가 되도록 조정하게 된다.
그리고, 상기 작업자가 제2 조정 스텝으로서, 그레이팅 소자를 170도로 조정하여, 메인 푸시풀 신호와 서브 푸시풀 신호의 비율(M/S Ratio)이 49.1%가 되도록 조정하고, 이후 제3 조정 스텝으로서, 그레이팅 소자를 180도로 조정하여, 메인 푸시풀 신호와 서브 푸시풀 신호의 비율(M/S Ratio)이 50.0%가 되도록 조정하게 된다.
또한, 상기 작업자가 제4 조정 스텝으로서, 그레이팅 소자를 190도로 조정하여, 메인 푸시풀 신호와 서브 푸시풀 신호의 비율(M/S Ratio)이 49.10%가 되도록 조정하고, 이후 제5 조정 스텝으로서, 그레이팅 소자를 200도로 조정하여, 메인 푸시풀 신호와 서브 푸시풀 신호의 비율(M/S Ratio)이 46.9%가 되도록 조정하는 일련의 그레이팅 소자 위치 조정 동작을 수행하게 된다.
그러나, 도 4에 도시한 바와 같이, X 축과 Y 축을 메인 푸시풀 신호(MPP)와 서브 푸시풀 신호(SPP)로 하는 리사주 파형의 경우, 그레이팅 소자의 위치 조정에 따른 파형 변화가 극히 미세하게 발생하기 때문에, 작업자가, 상기 리사주 파형의 변화를 보면서, 그레이팅 소자의 위치를 정확하게 조정할 수 없게 되는 문제점이 있다.
본 발명은, 광디스크 디바이스에서, 그레이팅 소자의 위치 조정 모드가 설정되면, 제1 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP1)와 제2 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP2)를 외부 측정기기로 출력하여, 그레이팅 소자의 위치 조정에 따라 변화가 크게 발생하는 리사주 파형이 표시되도록 함으로써, 작업자가 그레이팅 소자의 위치를 보다 정확 하게 조정할 수 있도록 하기 위한 광디스크 디바이스와 그레이팅 소자의 위치 조정 방법을 제공하기 위한 것이다.
본 발명에 따른 그레이팅 소자의 위치 조정 방법은, 레이저 빔을 하나의 메인 빔과 제1 서브 빔, 그리고 제2 서브 빔으로 분할하는 그레이팅(Grating) 소자의 위치 조정 모드를 설정하는 1단계; 및 상기 위치 조정 모드가 설정되면, 상기 제1 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP1)와 상기 제2 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP2)를 검출하여, 외부 측정기기로 출력하는 2단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하며,
또한, 상기 2단계는, 12 분할 포토 디텍터 내에, 시계 방향으로 4 분할된 E1, E2, E3, E4 영역에 의해 각각 광전 변환된 제1 서브 빔의 전기 신호들을 (E1E4)-(E2E3)로 조합 및 연산하여 제1 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP1)를 검출하고, 상기 12 분할 포토 디텍터 내에, 시계 방향으로 4 분할된 F1, F2, F3, F4 영역에 의해 각각 광전 변환된 제2 서브 빔의 전기 신호들을 (F1F4)-(F2F3)로 조합 및 연산하여 제2 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP2)를 검출하는 것을 특징으로 하며,
또한, 상기 외부 측정기기는, 상기 제1 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP1)와 상기 제2 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP2)를, 각각 X 축과 Y 축으로 하는 리사주(Lissajous) 파형으로 표시하는 것을 특징으로 하며,
또한, 상기 리사주(Lissajous) 파형이 타원형에서 직선이 되도록, 상기 그레이팅 소자의 위치를 조정하는 단계를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하며,
또한, 상기 위치 조정 모드가 해제되면, 메인 푸시풀 신호(MPP)와, 서브 푸시풀 신호(SPP)를 검출하여, 광디스크 디바이스 내의 제어기로 출력하는 단계를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하며,
또한, 본 발명에 따른 광디스크 디바이스는, 레이저 빔을 하나의 메인 빔과 제1 서브 빔, 그리고 제2 서브 빔으로 분할하는 그레이팅(Grating) 소자의 위치 조정 모드를 설정하기 위한 제어기; 및 상기 위치 조정 모드가 설정되면, 상기 제1 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP1)와 상기 제2 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP2)를 검출하여, 외부 측정기기로 출력하기 위한 검출기를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하며,
또한, 상기 검출기는, 12 분할 포토 디텍터 내에, 시계 방향으로 4 분할된 E1, E2, E3, E4 영역에 의해 각각 광전 변환된 제1 서브 빔의 전기 신호들을 (E1E4)-(E2E3)로 조합 및 연산하여 제1 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP1)를 검출하고, 상기 12 분할 포토 디텍터 내에, 시계 방향으로 4 분할된 F1, F2, F3, F4 영역에 의해 각각 광전 변환된 제2 서브 빔의 전기 신호들을 (F1F4)-(F2F3)로 조합 및 연산하여 제2 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP2)를 검출하는 것을 특징으로 하며,
또한, 상기 외부 측정기기는, 상기 제1 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP1)와 상기 제2 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP2)를, 각각 X 축과 Y 축으로 하는 리사주(Lissajous) 파형으로 표시하는 것을 특징으로 하며,
또한, 상기 그레이팅 소자의 위치는, 상기 리사주(Lissajous) 파형이 타원형에서 직선이 되도록 조정되는 것을 특징으로 하며,
또한, 상기 검출기는, 상기 제어기에 의해 위치 조정 모드가 해제되면, 메인 푸시풀 신호(MPP)와, 서브 푸시풀 신호(SPP)를 검출하여, 상기 제어기로 출력하는 것을 특징으로 하며,
또한, 상기 검출기에는, 상기 제1 서브 빔의 푸시풀 신호와 상기 제2 서브 빔의 푸시풀 신호를, 상기 외부 측정기기로 출력하기 위한 별도의 출력 포트가 형성되어 있는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 광디스크 디바이스와 그레이팅 소자의 위치 조정 방법은, 예를 들어, 광디스크 드라이브(ODD)와 같은 광디스크 디바이스에서, 광픽업 내에 포함된 그레이팅(Grating) 소자의 위치 조정 모드가 설정되면, 제1 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP1)와 제2 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP2)를 검출하여 외부 측정기기로 출력함으로써, 상기 외부 측정기기에서, 제1 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP1)와 제2 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP2)를, 각각 X 축과 Y 축으로 하는 리사주(Lissajous) 파형으로 표시하게 되므로, 예를 들어, 작업자가, 그레이팅 소자의 위치 조정에 따라 변화가 크게 발생하는 리사주 파형을 보면서, 타원형의 리사주 파형이 직선이 되도록, 그레이팅 소자의 위치를 보다 용이하고 정확하게 조정할 수 있게 된다.
이하, 본 발명에 따른 광디스크 디바이스와 그레이팅 소자의 위치 조정 방법 에 대한 바람직한 실시예에 대해, 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
본 발명은, 예를 들어, 도 1을 참조로 전술한 바와 같이, 광디스크에 데이터를 기록 또는 재생하는 광디스크 드라이브 등과 같은 다양한 유형의 광디스크 디바이스에 적용된다.
한편, 본 발명이 적용되는 광디스크 디바이스에는, 광디스크(10), 광픽업(11), 기록/재생부(12), 코덱(13), 검출기(14), 제어기(15), 메모리(16), 모터 드라이버(17), 슬레드 모터(18), 그리고 스핀들 모터(19) 등이 포함 구성된다.
또한, 상기 광픽업(11)에는, 예를 들어, 도 5에 도시한 바와 같이, 대물렌즈(111), 빔 스플리터(112), 그레이팅 소자(113), 레이저 다이오드(114), 그리고 포토 디텍터(115) 등이 포함 구성되며, 상기 포토 디텍터(115)는, 12 개의 영역으로 분할된 12 분할 포토 디텍터(PD)가 사용된다.
그리고, 상기 그레이팅 소자(113)는, 상기 레이저 다이오드(114)에서 발광되는 레이저 빔을, 하나의 메인 빔(Main Beam)과 제1 서브 빔(Sub Beam 1), 그리고 제2 서브 빔(Sub Beam 2)으로 분할하게 된다.
한편, 상기 그레이팅 소자(113)에 의해 분할된 메인 빔은, 상기 빔 스플리터(112)와 대물렌즈(111)를 거쳐, 광디스크(10)에 반사된 후, 상기 포토 디텍터(115)의 중앙에 배치된 A,B,C,D 영역에 의해 전기 신호로 변환된다.
또한, 상기 그레이팅 소자(113)에 의해 분할된 제1 서브 빔은, 상기 빔 스플리터(112)와 대물렌즈(11)를 거쳐, 광디스크(10)에 반사된 후, 상기 포토 디텍터(115)의 좌측에 배치된 E1,E2,E3,E4 영역에 의해 전기 신호로 변환되고, 상기 그 레이팅 소자(113)에 의해 분할된 제2 서브 빔은, 상기 포토 디텍터(115)의 우측에 배치된 F1,F2,F3,F4 영역에 의해 전기 신호로 변환된다.
그리고, 상기 A,B,C,D 영역에 의해 변환된 전기 신호와, 상기 E1,E2,E3,E4 영역에 의해 변환된 전기 신호, 그리고 상기 F1,F2,F3,F4 영역에 의해 변환된 전기 신호는, 상기 검출기(14)로 출력된다.
한편, 상기 검출기(14)에서는, 예를 들어, 상기 제어기(15)로부터 출력되는 제어신호(예: Grating Adjust Mode Set)에 따라, 그레이팅 소자의 위치 조정 모드를 설정하게 되면, 도 5에 도시한 바와 같이, 상기 포토 디텍터(115) 내에, 시계 방향으로 4 분할된 E1, E2, E3, E4 영역에 의해 각각 광전 변환된 제1 서브 빔의 전기 신호들을 (E1E4)-(E2E3)로 조합 및 연산하여 제1 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP1)를 검출하게 된다.
또한, 상기 검출기(14)에서는, 상기 포토 디텍터(115) 내에, 시계 방향으로 4 분할된 F1, F2, F3, F4 영역에 의해 각각 광전 변환된 제2 서브 빔의 전기 신호들을 (F1F4)-(F2F3)로 조합 및 연산하여 제2 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP2)를 검출하게 된다.
그리고, 상기 제1 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP1)와 제2 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP2)를, 오실로스코프 등과 같은 외부 측정기기로 출력하게 되며, 상기 외부 측정기기에서는, 상기 제1 서브 빔의 푸시풀 신호와 제2 서브 빔의 푸시풀 신호를, 각각 X 축과 Y 축으로 하는 리사주 파형을 표시하게 된다.
한편, 상기 외부 측정기기에 표시되는 리사주 파형은, 작업자가, 그레이팅 소자(113)의 위치를 조정함에 따라 파형의 변화가 크게 발생하게 되는 데, 예를 들어, 도 6에 도시한 바와 같이, 외부 측정기기에서, X 축을 제1 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP1)로 하고, Y 축을 제2 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP2)로 하는 리사주 파형이 표시된 상태에서, 작업자가 제1 조정 스텝으로서, 그레이팅 소자를 320도로 조정한 후, 다시 제2 조정 스텝으로서, 그레이팅 소자를 340도로 조정하면, 타원형의 리사주 파형이 점차 직선에 가까운 파형으로 변하게 된다.
또한, 상기 작업자가 제3 조정 스텝으로서, 그레이팅 소자를 360도로 조정하면, 타원형의 리사주 파형이 직선으로 표시되고, 이후 작업자가 제4 조정 스텝으로서, 그레이팅 소자를 380도로 조정한 후, 다시 제5 조정 스텝으로서, 그레이팅 소자를 400도로 조정하면, 직선의 리사주 파형이 점차 타원형으로 변하게 된다.
따라서, 상기 작업자는, 상기 외부 측정기기에 표시되는 리사주 파형이 타원형에서 직선으로 변화된 시점에 해당하는 그레이팅 소자의 위치(예: 360도)를 목표(Target) 위치로 조정하게 된다.
한편, 상기 검출기(14)에서는, 예를 들어, 도 7에 도시한 바와 같이, 상기 제어기(16)로부터 출력되는 제어 신호(예: Normal Mode Set)에 따라, 그레이팅 소자의 위치 조정 모드를 해제하게 되면, 상기 포토 디텍터(115) 내에, 시계 방향으로 4 분할된 A, D, C, D 영역에 의해 각각 광전 변환된 메인 빔의 전기 신호들을 (A+D-(B+C)로 조합 및 연산하여 메인 푸시풀 신호(MPP)를 검출하게 된다.
또한, 상기 검출기(14)에서는, 상기 포토 디텍터(115) 내에, 시계 방향으로 각각 4 분할된 E1, E2, E3, E4 영역과 F1, F2, F3, F4 영역에 의해 각각 광전 변환 된 제1 서브 빔의 전기 신호들과 제2 서브 빔의 전기 신호들을 (E1F1+E4F4)- (E2F2+E3F3)로 조합 및 연산하여 서브 푸시풀 신호(SPP)를 검출하게 된다.
그리고, 상기 메인 푸시풀 신호와 서브 푸시풀 신호를, 상기 제어기(15)로 출력하여, 통상적인 서보 컨트롤 동작이 정상적으로 수행되도록 하는 데, 상기 검출기(14)에는, 상기 메인 푸시풀 신호와 서브 푸시풀 신호를, 상기 제어기(15)로 출력하기 위한 출력 포트와는 별도로, 상기 제1 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP1)와 상기 제2 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP2)를, 외부 측정기기로 출력하기 위한 별도의 출력 포트가 형성될 수 있다.
이상, 전술한 본 발명의 바람직한 실시예는, 예시의 목적을 위해 개시된 것으로, 당업자라면, 이하 첨부된 특허청구범위에 개시된 본 발명의 기술적 사상과 그 기술적 범위 내에서, 또다른 다양한 실시예들을 개량, 변경, 대체 또는 부가 등이 가능할 것이다.
도 1은 일반적인 광디스크 디바이스에 대한 실시예의 구성을 도시한 것이고,
도 2는 일반적인 메인 푸시풀 신호와 서브 푸시풀 신호가 외부 측정기기로 출력되는 실시예를 도시한 것이고,
도 3 및 도 4는 일반적인 외부 측정기기에 표시되는 실시예의 그래프들을 도시한 것이고,
도 5는 본 발명에 따라 제1 서브 빔의 푸시풀 신호와 제2 서브 빔의 푸시풀 신호가 외부 측정기기로 출력되는 실시예를 도시한 것이고,
도 6은 본 발명에 따라 리사주 파형이 타원형에서 직선으로 변화되는 실시예의 그래프들을 도시한 것이고,
도 7은 본 발명에 따라 메인 푸시풀 신호와 서브 푸시풀 신호가 제어기로 출력되는 실시예를 도시한 것이다.
※ 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 광디스크 11 : 광픽업
12 : 기록/재생부 13 : 코덱
14 : 검출기 15 : 제어기
16 : 메모리 17 : 모터 드라이버
18 : 슬레드 모터 19 : 스핀들 모터
111 : 대물렌즈 112 : 빔 스플리터
113 : 그레이팅 소자 114 : 레이저 다이오드
115 : 포토 디텍터

Claims (11)

  1. 레이저 빔을 하나의 메인 빔과 제1 서브 빔, 그리고 제2 서브 빔으로 분할하는 그레이팅(Grating) 소자의 위치 조정 모드를 설정하는 1단계; 및
    상기 위치 조정 모드가 설정되면, 상기 제1 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP1)와 상기 제2 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP2)를 검출하여, 외부 측정기기로 출력하는 2단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 그레이팅 소자의 위치 조정 방법.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 2단계는, 12 분할 포토 디텍터 내에, 시계 방향으로 4 분할된 E1, E2, E3, E4 영역에 의해 각각 광전 변환된 제1 서브 빔의 전기 신호들을 (E1E4)-(E2E3)로 조합 및 연산하여 제1 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP1)를 검출하고,
    상기 12 분할 포토 디텍터 내에, 시계 방향으로 4 분할된 F1, F2, F3, F4 영역에 의해 각각 광전 변환된 제2 서브 빔의 전기 신호들을 (F1F4)-(F2F3)로 조합 및 연산하여 제2 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP2)를 검출하는 것을 특징으로 하는 그레이팅 소자의 위치 조정 방법.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 외부 측정기기는, 상기 제1 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP1)와 상기 제2 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP2)를, 각각 X 축과 Y 축으로 하는 리사주(Lissajous) 파 형으로 표시하는 것을 특징으로 하는 그레이팅 소자의 위치 조정 방법.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 리사주(Lissajous) 파형이 타원형에서 직선이 되도록, 상기 그레이팅 소자의 위치를 조정하는 단계를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 그레이팅 소자의 위치 조정 방법.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 위치 조정 모드가 해제되면, 메인 푸시풀 신호(MPP)와, 서브 푸시풀 신호(SPP)를 검출하여, 광디스크 디바이스 내의 제어기로 출력하는 단계를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 그레이팅 소자의 위치 조정 방법.
  6. 레이저 빔을 하나의 메인 빔과 제1 서브 빔, 그리고 제2 서브 빔으로 분할하는 그레이팅(Grating) 소자의 위치 조정 모드를 설정하기 위한 제어기; 및
    상기 위치 조정 모드가 설정되면, 상기 제1 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP1)와 상기 제2 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP2)를 검출하여, 외부 측정기기로 출력하기 위한 검출기를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 광디스크 디바이스.
  7. 제 6항에 있어서,
    상기 검출기는, 12 분할 포토 디텍터 내에, 시계 방향으로 4 분할된 E1, E2, E3, E4 영역에 의해 각각 광전 변환된 제1 서브 빔의 전기 신호들을 (E1E4)-(E2E3)로 조합 및 연산하여 제1 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP1)를 검출하고,
    상기 12 분할 포토 디텍터 내에, 시계 방향으로 4 분할된 F1, F2, F3, F4 영역에 의해 각각 광전 변환된 제2 서브 빔의 전기 신호들을 (F1F4)-(F2F3)로 조합 및 연산하여 제2 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP2)를 검출하는 것을 특징으로 하는 광디스크 디바이스.
  8. 제 6항에 있어서,
    상기 외부 측정기기는, 상기 제1 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP1)와 상기 제2 서브 빔의 푸시풀 신호(SPP2)를, 각각 X 축과 Y 축으로 하는 리사주(Lissajous) 파형으로 표시하는 것을 특징으로 하는 광디스크 디바이스.
  9. 제 8항에 있어서,
    상기 그레이팅 소자의 위치는, 상기 리사주(Lissajous) 파형이 타원형에서 직선이 되도록 조정되는 것을 특징으로 하는 광디스크 디바이스.
  10. 제 6항에 있어서,
    상기 검출기는, 상기 제어기에 의해 위치 조정 모드가 해제되면, 메인 푸시풀 신호(MPP)와, 서브 푸시풀 신호(SPP)를 검출하여, 상기 제어기로 출력하는 것을 특징으로 하는 광디스크 디바이스.
  11. 제 6항에 있어서,
    상기 검출기에는, 상기 제1 서브 빔의 푸시풀 신호와 상기 제2 서브 빔의 푸시풀 신호를, 상기 외부 측정기기로 출력하기 위한 별도의 출력 포트가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 광디스크 디바이스.
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