KR20100066318A - Display device and manufacturing method thereof - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 표시 장치에 관한 것으로, 특히 COG 방식에서 드라이버 IC의 콘택 불량을 방지할 수 있는 표시 장치 및 그 제조 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a display device, and more particularly, to a display device and a method of manufacturing the same that can prevent contact failure of a driver IC in a COG method.
정보화 사회의 발달로 인해, 정보를 표시할 수 있는 표시 장치가 활발히 개발되고 있다. 표시 장치는 액정표시장치(liquid crystal display device), 유기전계발광 표시장치(organic electro-luminescence display device), 플라즈마 표시장치(plasma display panel) 및 전계 방출 표시장치(field emission display device)를 포함한다.Due to the development of the information society, display devices capable of displaying information have been actively developed. The display device includes a liquid crystal display device, an organic electro-luminescence display device, a plasma display panel, and a field emission display device.
이 중에서, 액정표시장치는 경박 단소, 저 소비 전력 및 풀 컬러 동영상 구현과 같은 장점이 있어, 모바일 폰, 네비게이션, 모니터, 텔레비전에 널리 적용되고 있다.Among these, the liquid crystal display device has advantages such as light weight, small size, low power consumption, and full color video, and is widely applied to mobile phones, navigation, monitors, and televisions.
액정표시장치는 두 기판들과 이들 기판들 사이에 개재된 액정층을 포함하는 액정 패널이 구비되고, 액정 패널의 외부 영역에 구동 집적회로가 위치된다. The liquid crystal display device includes a liquid crystal panel including two substrates and a liquid crystal layer interposed between the substrates, and a driving integrated circuit is positioned in an outer region of the liquid crystal panel.
구동 집적회로는 액정 패널에 실장하는 방식에 따라 칩 온 글래스(COG: chip on glass) 방식, 테이프 캐리어 패키지(TCP: tape carrier package) 방식 및 칩 온 필름(COF: chip on film) 방식으로 나누어진다.The driving integrated circuit is divided into a chip on glass (COG) method, a tape carrier package (TCP) method, and a chip on film (COF) method according to the method of mounting the liquid crystal panel. .
이 중 COG 방식은 TCP 방식에 비해 구조가 간단하고 실장 방법이 용이하므로, 중소형 패널에 널리 적용되고 있다.Among them, the COG method has a simple structure and easy mounting method compared to the TCP method, and thus is widely applied to small and medium panels.
도 1은 종래의 COG 방식의 액정표시장치를 도시한 평면도이다. 1 is a plan view illustrating a liquid crystal display of a conventional COG method.
도 1에 도시한 바와 같이, 종래의 COG 방식의 액정표시장치는 제1 및 제2 기판들(11, 13)과 이들 기판들(11, 13) 사이에 게재된 액정층(미도시)을 포함한다. 제1 및 제2 기판들(11, 13)이 오버랩된 영역은 영상이 표시되는 표시 영역(9)으로 정의되고, 제1 및 제2 기판들(11, 13)이 오버랩되지 않는 제1 기판(11)의 영역은 영상이 표시되지 않는 비 표시 영역(10)으로 정의된다.As shown in FIG. 1, a conventional COG type liquid crystal display device includes first and
제1 기판(11)의 비 표시 영역(10)에 FPC(flexible printing circuit board, 3)가 제1 기판(11)에 접속되고, 비 표시 영역(10)에 게이트 구동 집적회로들(5)과 데이터 구동 집적회로들(25 내지 27)이 실장된다. 게이트 구동 집적회로들(5)과 데이터 구동 집적회로들(25 내지 27)이 유리 재질의 기판 상에 실장되고, 이를 COG 방식이라 명명한다.A flexible printing circuit board (FPC) 3 is connected to the
비 표시 영역(10)에는 다수의 패턴 라인들(15a 내지 15d, 17a, 17c)이 형성된다. 즉, FPC(3)와 게이트 구동 집적회로들(5)을 연결하기 위한 게이트 패턴 라인들(17a, 17b)과 FPC(3)와 데이터 구동 집적회로들(25 내지 27)을 연결하기 위한 데이터 패턴 라인들(15a 내지 15d)이 구비된다. 데이터 구동 집적회로들(25 내지 27) 간에는 데이터 패턴 라인들(15a 내지 15d)에 의해 종속(cascade) 접속된다. A plurality of pattern lines 15a to 15d, 17a, and 17c are formed in the
게이트 구동 집적회로들(5)과 표시 영역(9) 간에는 게이트 라인들(21)에 의해 접속되고, 데이터 구동 집적회로들(25 내지 27)과 표시 영역(9) 간에는 데이터 라인들(23)에 의해 접속된다. A gate line 21 is connected between the gate driving integrated circuits 5 and the
FPC(3)에서 제공된 파워 신호(VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd), 감마 전압, 데이터 신호 및 제어 신호는 데이터 패턴 라인들(15a 내지 15d)을 경유하여 첫 번째 데이터 구동 집적회로로 공급된다. 파워 신호, 감마 전압, 데이터 신호 및 제어 신호에 의해 생성된 데이터 전압들이 데이터 라인들(23)을 경유하여 표시 영역(9)으로 공급된다. The power signals VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd, gamma voltage, data signal and control signal provided from the
VDD와 VDD_gnd는 감마 전압의 기준 전압이고, VCC와 VCC_gnd는 데이터 구동 집적회로들(25 내지 27)을 구동하기 위한 전압이다. 이들 파워 신호들은 규격에 의해 정해진 값으로서, 변동이 되는 경우 데이터 구동 집적회로들(25 내지 27) 각각으로부터 출력되는 데이터 전압의 변동을 유발하여 노이즈나 딤(dim) 불량을 야기한다(도 1의 블록 딤 또는 블록 노이즈의 발생 영역).VDD and VDD_gnd are reference voltages of the gamma voltage, and VCC and VCC_gnd are voltages for driving the data driver integrated
이들 파워 신호(VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd)는 데이터 구동 집적회로들(25 내지 27)과 데이터 패턴 라인들(15a 내지 15d) 간의 접속시, 이들 간의 콘택 불량에 의해 변동된다.These power signals VDD, VDD_gnd, VCC, and VCC_gnd are changed by contact failures between the data driving integrated
도 2는 도 1의 데이터 구동 집적회로를 도시한 평면도이다. FIG. 2 is a plan view illustrating the data driving integrated circuit of FIG. 1.
도 2에 도시한 바와 같이, 데이터 구동 집적회로(25 내지 27)는 다수의 범프(bump, 31, 33, 35)들을 구비한다. 이들 범프들(31, 33, 35)은 데이터 구동 집적회로(25 내지 27)와 데이터 패턴 라인들(15a 내지 15d)을 연결시키는 가교 역할을 한다.As shown in FIG. 2, the data driver integrated
데이터 구동 집적회로(25 내지 27)의 길이 방향으로 데이터 구동 집적회로(25 내지 27)의 양 끝단에는 입력측 범프들(31)과 출력측 범프들(33)이 구비되고, 다른 끝단에는 데이터 신호 출력용 범프들(35)이 구비된다.
입력측 범프들(31)은 파워 신호(VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd), 감마 전압, 데이터 신호 및 제어 신호를 입력받고, 출력측 범프들(33)은 파워 신호, 감마 전압, 데이터 신호 및 제어 신호를 출력한다. 데이터 신호 출력용 범프들(35)은 데이터 신호를 출력한다.
게이트 구동 집적회로(5) 또한 게이트 패턴 라인(17a, 17b)과 게이트 라인들(21)을 전기적으로 연결하기 위한 범프들(미도시)을 구비한다.The gate driving integrated circuit 5 also includes bumps (not shown) for electrically connecting the
도 3은 도 2에서 I-I' 라인을 따라 절단했을 때 데이터 구동 집적회로와 제1 기판에 대한 단면도이다.3 is a cross-sectional view of the data driving integrated circuit and the first substrate when taken along the line II ′ in FIG. 2.
도 3에 도시한 바와 같이, 제1 기판(11)은 게이트 절연막(43), 데이터 패턴 라인들(45), 보호막(47) 및 콘택 전극들(48)을 포함한다. 도면번호 41은 기판이다. 게이트 절연막(43)은 기판(11)의 비 표시 영역(1) 상에 형성된다. 데이터 패턴 라인들(45)은 게이트 절연막(43) 상에 서로 이격되어 형성된다. 즉, 데이터 패턴 라인들(45)은 데이터 구동 집적회로들(25 내지 27)의 입력 터미널 영역들과 출력 터미널 영역들에 형성된다. 보호막(47)은 게이트 절연막(43) 상의 데이터 패턴 라인들(45)을 노출하도록 형성된다. 콘택 전극들(48)은 노출된 데이터 패턴 라인들(45) 상에 형성된다. 콘택 전극들(48)은 각 데이터 구동 집적회로들(25 내지 27)을 데이 터 패턴 라인들(45)에 전기적으로 연결시킨다.As illustrated in FIG. 3, the
제1 기판(11)은 비 표시 영역(10) 상에 배치되고 다수의 도전볼들(50)을 포함하는 이방성 도전 필름(ACF: anisotropic conductive film, 49)을 더 포함한다. 이방성 도전 필름(49) 상에는 범프들(31, 33)을 구비한 데이터 구동 집적회로(26)가 위치된다. The
데이터 구동 집적회로(26)는 열과 압력에 의해 가압되고, 이러한 가압에 의해 데이터 구동 집적회로(26)의 범프들(31, 33)이 이방성 도전 필름(49)을 누르게 되고 이방성 도전 필름(49)이 녹게 된다. 따라서, 이방성 도전 필름(49)에 포함된 도전볼들(50)이 콘택 전극들(48)에 전기적으로 연결된다. The data driving integrated
하지만, 이방성 도전 필름(49) 및/또는 도전볼들(50) 및 콘택 전극들(48) 사이의 부착력(adhesions)은 매우 취약한 것이 널리 알려져 있다. 게다가, 도 4에 도시한 바와 같이, 시간이 경과함에 따라 이방성 도전 필름(49)은 경화된다. 따라서, 도전볼(50)을 포함하는 이방성 도전 필름(49)은 콘택 전극들(48)로부터 탈착되어, 도전볼들(50)이 콘택 전극들(48)에 더 이상 연결되지 않게 된다. 그러므로, 콘택 불량(contact defects)이 데이터 구동 집적회로들(25 내지 27)의 입력 터미널 영역들 및/또는 출력 터미널 영역들의 콘택 영역들에서 발생된다. 콘택 불량은 범프들(31, 33)이 각 콘택 전극(48)과 오버랩되는 사이즈로 정의될 수 있다. However, it is widely known that the adhesions between the anisotropic
게다가, 콘택 전극들(48)과 데이터 패턴 라인들(45) 사이의 부착력 또한 비교적 취약한 것이 널리 알려져 있다. 따라서, 콘택 불량이 데이터 구동 집적회로들(25 내지 27)의 입력 터미널 영역들 및/또는 출력 터미널 영역들의 콘택 영역들 에서 추가로 더 발생된다.In addition, it is well known that the adhesion between the
이러한 콘택 불량으로 인해, 데이터 구동 집적회로(26)의 범프(31, 33)와 콘택 전극(48) 사이의 콘택 저항이 증가하게 된다. 이러한 콘택 저항의 증가로 인해 파워 신호(VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd), 감마 전압, 데이터 신호 및 제어 신호가 가변된다. Due to this contact failure, the contact resistance between the
예를 들어, 파워 신호(VDD 및 VCC)의 전압 레벨들이 감소하는데 반해, 파워 신호(VDD_gnd 및 VCC_gnd)의 전압 레벨들은 증가한다. 파워 신호(VCC 및 VCC_gnd)는 각 데이터 구동 집적회로(25 내지 27)를 구동하는데 사용되고, 파워 신호(VDD 및 VDD_gnd)는 감마 전압을 생성하기 위한 기준 전압으로서 사용된다.For example, while the voltage levels of the power signals VDD and VCC decrease, the voltage levels of the power signals VDD_gnd and VCC_gnd increase. The power signals VCC and VCC_gnd are used to drive the respective data driving integrated
도 5에 도시한 바와 같이, VCC는 2.7V이고 VCC_gnd는 0V를 갖는 것으로 규격으로 정해진 상태에서, 데이터 구동 집적회로(26)의 범프(31, 33)와 콘택 전극(48) 사이의 콘택 저항이 증가하는 경우, VCC는 2.6V로 감소되는데 반해 VCC_gnd는 0.4V로 증가되게 되어, VCC의 마진폭이 2.2V가 된다. 이와 같이 줄어든 마진폭에 의해 데이터 구동 집적회로(26)가 구동되지 않게 된다. As shown in FIG. 5, in a state where VCC is 2.7 V and VCC_gnd is 0 V, the contact resistance between the
특히, 데이터 구동 집적회로들(26)이 종속으로 연결되고, 각 데이터 구동 집적회로(26)의 입력 터미널 영역들과 출력 터미널 영역들에서 콘택 불량이 발생되는 경우, 첫 번째 데이터 구동 집적회로 25에서 마지막 데이터 구동 집적회로 27로 갈수록 파워 신호(VCC)와 파워 신호(VCC_gnd) 사이의 마진폭은 더욱 줄어들게 된다. 따라서, 마지막 데이터 구동 집적회로 27에 이에 인접한 다른 데이터 구동 집적회로들 26은 구동이 되지 않게 된다. 이와 같이, 마지막 데이터 구동 집적회로 (27) 와 이에 인접한 다른 데이터 구동 집적회로들 26은 구동되지 않게 되어 어떠한 데이터 전압도 표시 영역으로 공급되지 않게 되어, 블록 노이즈가 발생될 수 있다. 블록은 각 데이터 구동 집적회로에 연결된 표시 영역의 데이터 라인들을 포함하는 영역으로 정의된다. In particular, when the data driving
아울러, 이러한 콘택 저항의 증가로 인해 파워 신호(VDD)는 감소하는데 반해 파워 신호(VDD_gnd)는 증가하게 되어, 감마 전압들이 설정된 전압으로 생성되지 않고 가변된 전압으로 생성되게 된다. 이러한 감마 전압들의 가변으로 인해 데이터 구동 집적회로에서 출력된 데이터 전압에 변동이 발생하여 계조 왜곡이 발생된다. 이러한 계조 왜곡은 첫 번째 데이터 구동 집적회로(25)보다는 마지막 데이터 구동 집적회로(27)로 갈수록 더욱 심해지게 된다. 따라서, 콘택 불량으로 인한 이러한 파워 신호(VDD와 VDD_gnd)의 가변으로 인해 마지막 데이터 구동 집적회로(27)와 이에 인접한 다른 데이터 구동 집적회로(26)에 각각 연결된 표시 영역의 데이터 라인으로 계조 왜곡이 발생되고, 이는 블록 딤을 야기한다. In addition, due to the increase in the contact resistance, the power signal VDD is decreased while the power signal VDD_gnd is increased, so that the gamma voltages are not generated as the set voltage but are generated as the variable voltage. Due to the variation of the gamma voltages, variations in the data voltages output from the data driving integrated circuits cause grayscale distortion. The gradation distortion becomes more severe toward the last data driving integrated
콘택 불량은 데이터 구동 집적회로(26)의 범프(31, 33)와 데이터 라인(23) 사이에도 발생되고, 이러한 콘택 불량에 의해 데이터 구동 집적회로(26)에서 데이터 라인(23)으로 공급되는 데이터 전압의 왜곡이 발생된다.Contact failure is also generated between the
따라서, 콘택 불량을 원천적으로 방지하는 것이 시급하다.Therefore, it is urgent to prevent contact defects at the source.
본 발명은 콘택 영역 내의 모든 도전볼들이 콘택 전극에 전기적으로 연결되 도록 하여, 콘택 불량을 방지할 수 있는 표시 장치 및 그 제조 방법을 제공함에 그 목적이 있다.It is an object of the present invention to provide a display device and a method of manufacturing the same, in which all conductive balls in a contact region are electrically connected to a contact electrode, thereby preventing contact failure.
본 발명에 따르면, 표시장치의 제조 방법은, 기판 상에 다수의 패턴 라인들과 이에 접속된 다수의 콘택 전극들을 형성하는 단계; 상기 기판 상에 다수의 도전볼들을 포함하는 이방성 도전 필름을 배치하는 단계; 상기 이방성 도전 필름에 범프들이 대응하도록 다수의 구동 회로들을 상기 기판 상에 배치하는 단계; 상기 구동 회로들에 열과 압력을 가하여 상기 구동 회로들의 범프들에 의해 상기 도전볼들이 상기 콘택 전극들에 전기적으로 접속되는 단계; 및 상기 패턴 라인들과 상기 콘택 전극들을 융용시키기 위해 콘택 영역들에 레이저 광을 조사하여 상기 도전볼들이 접속되기 위한 다수의 콘택층들을 형성하는 단계를 포함한다.According to the present invention, a method of manufacturing a display device includes: forming a plurality of pattern lines and a plurality of contact electrodes connected thereto on a substrate; Disposing an anisotropic conductive film including a plurality of conductive balls on the substrate; Disposing a plurality of drive circuits on the substrate such that bumps correspond to the anisotropic conductive film; Applying heat and pressure to the drive circuits so that the conductive balls are electrically connected to the contact electrodes by bumps of the drive circuits; And irradiating laser light to contact regions to fuse the pattern lines and the contact electrodes to form a plurality of contact layers for connecting the conductive balls.
본 발명에 따르면, 표시 장치는, 패턴 라인과 콘택 전극으로 형성된 기판; 범프를 갖는 구동 회로; 다수의 도전볼들을 갖는 이방성 도전 필름; 및 상기 패턴 라인과 상기 콘택 전극을 융용시켜 형성된 콘택층을 포함하고, 상기 콘택층은 상기 도전볼들에 접속된다.According to the present invention, a display device includes: a substrate formed of a pattern line and a contact electrode; A drive circuit having bumps; An anisotropic conductive film having a plurality of conductive balls; And a contact layer formed by melting the pattern line and the contact electrode, wherein the contact layer is connected to the conductive balls.
본 발명은 콘택 영역들에 레이저 광을 조사하여 데이터 패턴 라인들과 데이터 콘택 전극들을 용융시켜 이들을 포함하는 콘택층들을 형성하는 한편, 콘택층들 상부에 다수의 피크들을 형성하고, 이들 피크들이 도전볼에 접촉된 상태에서 흘러내리면서 서로 결합되며, 결합된 피크들과 콘택층이 경화된다. 이에 따라, 도전볼 들이 결합된 피크들을 매개로 하여 콘택층들에 강하게 접속됨으로써, 블록 딤이나 노이즈를 방지하여 화질을 향상시킬 수 있다. The present invention irradiates laser light to the contact regions to melt the data pattern lines and the data contact electrodes to form contact layers including the same, while forming a plurality of peaks on the contact layers, the peaks being conductive balls. While flowing down in contact with each other, they are bonded to each other, and the joined peaks and the contact layer are cured. Accordingly, since the conductive balls are strongly connected to the contact layers through the combined peaks, the image quality may be improved by preventing block dim or noise.
아울러, 본 발명은 부착력이 좋지 않은 데이터 패턴 라인들과 데이터 콘택 전극들을 레이저 광의 조사에 의해 융용시켜 서로 혼합되도록 함으로써, 데이터 라인들과 데이터 콘택 전극들 사이의 부착력 취약 문제를 해결할 수 있다. In addition, the present invention can solve the problem of adhesion weakness between the data line and the data contact electrodes by fusing the data pattern lines and the data contact electrodes with poor adhesion by the laser light irradiation to be mixed with each other.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described an embodiment of the present invention.
도 6은 본 발명에 따른 COG 방식의 액정표시장치를 도시한 평면도이다.6 is a plan view showing a liquid crystal display of the COG method according to the present invention.
도 6은 참조하면, 본 발명의 COG 방식의 액정표시장치는 제1 및 제2 기판들(111, 113)과 이들 기판들(111, 113) 사이에 게재된 액정층(미도시)을 포함한다. 제1 및 제2 기판들(111, 113)과 액정층에 의해 액정 패널(101)이 구성된다. 제1 및 제2 기판들(111, 113)이 오버랩된 영역은 영상이 표시되는 표시 영역(125)으로 정의되고, 제1 및 제2 기판들(111, 113)이 오버랩되지 않는 제1 기판(111)의 영역은 영상이 표시되지 않는 비 표시 영역(129)으로 정의된다. 표시 영역(125)은 다수의 서브 표시 영역들(126a, 126b, 127a, 127b, 128a, 128b, 129a 및 129b)로 정의된다. Referring to FIG. 6, the COG type liquid crystal display of the present invention includes first and
제1 기판(111)의 비 표시 영역(129)에 FPC(flexible printing circuit board, 103)가 제1 기판(111)에 접속되고, 비 표시 영역(129)에 게이트 구동 집적회로들(105)과 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)이 실장된다. 게이트 구동 집적회로들(105)과 데이터 구동 집적회로 들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)이 유리 재질의 제1 기판(111) 상에 실장되고, 이를 COG 방식이라 명명한다.A flexible printing circuit board (FPC) 103 is connected to the
본 발명에서는 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)이 배치되는 영역을 다수의 데이터 구동 영역들(116 내지 119)로 정의한다. In the present invention, an area in which the data driver integrated
각 데이터 구동 영역(116 내지 119)은 2개의 다수의 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)을 포함한다. 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)은 각각 서브 표시 영역들(126a, 126b, 127a, 127b, 128a, 128b, 129a 및 129b)에 대응된다. 각 데이터 구동 집적회로(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)로부터 출력된 데이터 신호들은 각 서브 표시 영역(126a, 126b, 127a, 127b, 128a, 128b, 129a 및 129b)에 표시된다. Each data driving region 116-119 includes two plurality of data driving
특히, 제1 데이터 구동 영역(116)의 데이터 구동 집적회로(116a)로부터 출력된 데이터 신호들은 서브 표시 영역(126a)에 표시된다. 제1 데이터 구동 영역(116)의 데이터 구동 집적회로(116b)로부터 출력된 데이터 신호들은 서브 표시 영역(126b)에 표시된다. 제2 데이터 구동 영역(117)의 데이터 구동 집적회로(117a)로부터 출력된 데이터 신호들은 서브 표시 영역(127a)에 표시된다. 제2 데이터 구동 영역(117)의 데이터 구동 집적회로(117b)로부터 출력된 데이터 신호들은 서브 표시 영역(127b)에 표시된다. In particular, data signals output from the data driver integrated circuit 116a of the first
각 데이터 구동 영역(116 내지 119)에 배치된 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)은 서로 종속 연결된다. 예를 들어, 제1 데이터 구동 영역(116)에 배치된 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b)은 서로 종속 연결된다. 제2 데이터 구동 영역(117)에 배치된 데이터 구동 집적회로들(117a, 117b)은 서로 종속 연결된다. 제3 데이터 구동 영역(118)에 배치된 데이터 구동 집적회로들(118a, 118b)은 서로 종속 연결된다. 제4 데이터 구동 영역(119)에 배치된 데이터 구동 집적회로들(119a, 119b)은 서로 종속 연결된다.The data driving
FPC(103)에서 제공된 파워 신호(VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd), 감마 전압, 데이터 신호 및 제어 신호는 제1 내지 제4 데이터 구동 영역들(116 내지 119)에 각각 공급된다. 파워 신호(VDD와 VDD_gnd)는 감마 전압의 기준 전압이고, 파워 신호(VCC와 VCC_gnd)는 데이터 구동 집적회로들(116 내지 119)을 구동하는데 사용된다. The power signals VDD, VDD_gnd, VCC, and VCC_gnd, the gamma voltage, the data signal, and the control signal provided from the
즉, FPC(103)에서 제공된 파워 신호(VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd), 감마 전압, 데이터 신호 및 제어 신호는 각각 제1 내지 제4 데이터 구동 영역(116 내지 119)에 포함된 제1 데이터 구동 집적회로(116a, 117a, 118a 및 119a)에 인가된다. 제1 데이터 구동 집적회로(116a, 117a, 118a 및 119a)에 인가된 파워 신호(VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd), 감마 전압, 데이터 신호 및 제어 신호는 제1 데이터 구동 집적회로(116a, 117a, 118a 및 119a)에 종속적으로 인접하여 배치된 제2 데이터 구동 집적회로(116b, 117b, 118b 및 119b)로 전달된다. 이런 방식으로, 파워 신호(VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd), 감마 전압, 데이터 신호 및 제어 신호는 제1 데이터 구동 집적회로(116a, 117a, 118a 및 119a)로부터 마지막 데이터 구동 집적회 로(116b, 117b, 118b 및 119b)로 순차적으로 전달된다. That is, the power signals VDD, VDD_gnd, VCC, and VCC_gnd, the gamma voltage, the data signal, and the control signal provided from the
다시 말해, 제1 데이터 구동 영역(116)에서, 제1 데이터 구동 집적회로(116a)에 인가된 파워 신호(VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd), 감마 전압, 데이터 신호 및 제어 신호는 인접하여 종속 연결된 제2 데이터 구동 집적회로(116b)로 인가된다. 이러한 방식으로 마지막 데이터 구동 집적회로(116b)에 파워 신호(VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd), 감마 전압, 데이터 신호 및 제어 신호가 전달된다.In other words, in the first
제2 데이터 구동 영역(117)에서, 제1 데이터 구동 집적회로(117a)에 인가된 파워 신호(VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd), 감마 전압, 데이터 신호 및 제어 신호는 인접하여 종속 연결된 제2 데이터 구동 집적회로(117b)로 인가된다. 이러한 방식으로 마지막 데이터 구동 집적회로(117b)에 파워 신호(VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd), 감마 전압, 데이터 신호 및 제어 신호가 전달된다.In the second
제3 데이터 구동 영역(118)에서, 제1 데이터 구동 집적회로(118a)에 인가된 파워 신호(VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd), 감마 전압, 데이터 신호 및 제어 신호는 인접하여 종속 연결된 제2 데이터 구동 집적회로(118b)로 인가된다. 이러한 방식으로 마지막 데이터 구동 집적회로(118b)에 파워 신호(VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd), 감마 전압, 데이터 신호 및 제어 신호가 전달된다.In the third
제4 데이터 구동 영역(119)에서, 제1 데이터 구동 집적회로(119a)에 인가된 파워 신호(VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd), 감마 전압, 데이터 신호 및 제어 신호는 인접하여 종속 연결된 제2 데이터 구동 집적회로(119b)로 인가된다. 이러한 방식으로 마지막 데이터 구동 집적회로에 파워 신호(VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd), 감마 전압, 데이터 신호 및 제어 신호가 전달된다.In the fourth data driving region 119, the power signals VDD, VDD_gnd, VCC, and VCC_gnd, the gamma voltage, the data signal, and the control signal applied to the first data driving integrated circuit 119a are adjacently connected to the second data. Applied to the driving integrated circuit 119b. In this manner, power signals VDD, VDD_gnd, VCC, and VCC_gnd, a gamma voltage, a data signal, and a control signal are transmitted to the last data driving integrated circuit.
각 데이터 구동 영역(116 내지 119)에 포함된 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)에서 제공된 출력 신호들은 각 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)에 대응된 각 서브 표시 영역(126a, 126b, 127a, 127b, 128a, 128b, 129a 및 129b)에 영상으로 표시될 수 있다.The output signals provided by the data driver integrated
비 표시 영역(129)에는 다수의 패턴 라인들(107, 147a, 147b)이 형성된다. 즉, 패턴 라인들은 FPC(103)와 게이트 구동 집적회로들(105) 사이를 전기적으로 연결하기 위한 게이트 패턴 라인들(107), FPC(103)와 데이터 구동 집적회로들(116a, 117a, 118a, 및 119a) 사이를 전기적으로 연결하기 위한 데이터 패턴 라인들(147a) 그리고 서로 인접하는 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b) 사이를 전기적으로 연결하기 위한 데이터 패턴라인들(147b)이 구비된다. A plurality of
각 게이트 구동 집적회로(105)와 표시 영역(125) 간에는 게이트 라인들(121)에 의해 접속되고, 각 데이터 구동 집적회로(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)와 표시 영역(125) 간에는 데이터 라인들(123)에 의해 접속된다. Each gate driving
각 데이터 구동 집적회로(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)는 다수의 범프들(미도시)을 포함한다. 이들 범프들은 게이트 구동 집적회로(105)를 게이트 패턴 라인들(107)로 연결하고 각 데이터 구동 집적회로(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)를 데이터 패턴 라인들(147a, 147b)을 연결시 키는 가교 역할을 한다.Each data driving
범프들은 게이트 구동 집적회로(105)와 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a 및 119b) 상의 입력 터미널 영역들 상의 입력 패턴 라인들(147a)을 전기적으로 연결하기 위한 입력 범프들과, 게이트 구동 집적회로(105)와 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a 및 119b) 상의 출력 터미널 영역들 상의 출력 패턴 라인들(147b)을 전기적으로 연결하기 위한 출력측 범프들과, 게이트 구동 집적회로(105)와 데이터 구동 집적회로(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a 및 119b) 상의 게이트 라인(121) 및 데이터 라인들(123)을 전기적으로 연결하기 위한 데이터 신호 출력용 범프들을 포함한다. The bumps electrically connect the gate driving
데이터 구동 집적 회로(116a, 117a, 118a, 및 119a)의 입력 범프들에 의해 입력된 파워 신호(VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd), 감마 전압, 데이터 신호 및 제어 신호는 출력 범프들을 통해 인접한 다른 데이터 구동 집적회로(116b, 117b, 118b 및 119b)의 입력 범프들로 제공된다. 데이터 신호 출력용 범프들에 의해 출력된 데이터 신호는 데이터 라인들(123)을 통해 각 서브 표시 영역(126a, 126b, 127a, 127b, 128a, 128b, 129a 및 129b)으로 제공된다. The power signals VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd, gamma voltages, data signals and control signals input by the input bumps of the data driver integrated
앞서 설명한 바와 같이, 이방성 도전 필름에 포함된 도전볼들이 콘택 전극들로부터 탈착되고 콘택 전극들과 데이터 패턴 라인들 사이의 부착력이 취약하기 때문에, 범프와 데이터 패턴 라인 사이에 의해 정의된 콘택 영역에서 콘택 불량이 발생될 수 있다.As described above, since the conductive balls included in the anisotropic conductive film are detached from the contact electrodes and the adhesion between the contact electrodes and the data pattern lines is weak, the contact is defined in the contact region defined between the bump and the data pattern line. Defects may occur.
본 발명은 서로 종속적으로 연결된 2개의 데이터 구동 집적회로들(116a 및 116b, 117a 및 117b, 118a 및 118b, 119a 및 119b)을 각 데이터 구동 영역(116 내지 119)로 구분한다. 따라서, 각 데이터 구동 영역(116 내지 119)으로 파워 신호(VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd), 감마 전압, 데이터 신호 및 제어 신호를 개별적으로 공급한다. The present invention divides two data driving
이에 따라, 각 데이터 구동 영역(116 내지 119)에 포함된 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)의 개수가 현저히 줄어들게 되어, 각 데이터 구동 영역(116 내지 119)의 마지막 데이터 구동 집적회로로 입력된 각 데이터 구동 영역(116 내지 119)의 마지막 데이터 구동 집적회로로 입력된 파워 신호(VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd), 감마 전압, 데이터 신호 및 제어 신호에 변동이 발생되지 않게 되어 블록 딤이나 노이즈가 발생되지 않게 된다. As a result, the number of data driving
도 7a 내지 도 7f는 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정표시장치의 제조 방법을 도시한 도면이다. 도 7a 내지 도 7f에 도시한 데이터 구동 집적회로는 앞서 설명한 각 데이터 구동 영역에 포함된 데이터 구동 집적회로들 모두에 적용될 수 있다. 또한, 도 7a 내지 도 7f는 데이터 구동 집적회로의 범프와 데이터 패턴 라인 사이의 콘택 불량을 해소하기 위한 액정 표시장치의 제조 공정을 한정하고 있지만, 본 발명은 이에 한정하지 않고 데이터 구동 집적회로의 범프와 데이터 라인 사이의 콘택 불량을 해소하기 위한 액정 표시장치의 제조 공정에도 동일하게 적용될 수 있다.7A to 7F illustrate a method of manufacturing a liquid crystal display device according to a first embodiment of the present invention. The data driving integrated circuits illustrated in FIGS. 7A to 7F may be applied to all of the data driving integrated circuits included in each data driving region described above. 7A to 7F limit the manufacturing process of the liquid crystal display device for eliminating contact defects between the bumps of the data driving integrated circuits and the data pattern lines, the present invention is not limited thereto. The same can be applied to the manufacturing process of the liquid crystal display device for eliminating contact defects between the and data lines.
도 6과 도 7a 내지 도 7f를 참조하여 이하의 액정표시장치의 제조 공정을 설 명한다.6 and 7A to 7F, a manufacturing process of the following liquid crystal display device will be described.
도 7a에 도시한 바와 같이, 제1 기판(111)은 기판(131) 상에 게이트 절연막(133), 데이터 패턴 라인들(147a, 147b), 콘택 전극들(141, 143) 및 보호막(139)을 형성하여 제조된다.As shown in FIG. 7A, the
보다 상세히 설명하면, 기판(131) 상에 도시하지 않았지만 게이트 메탈 물질로 이루어진 게이트 메탈 필름을 형성하고 게이트 메탈 필름을 패터닝하여 게이트 라인(121), 게이트 전극 및 게이트 패턴 전극을 형성한다. 게이트 라인은 표시 영역(125)에 형성된다. 표시 영역(125)에는 다수의 화소들이 매트릭스로 정의된다. 게이트 라인의 일측 끝단은 표시 영역(125)뿐만 아니라 비 표시 영역(129)에까지 연장되어 형성될 수 있다. 게이트 전극은 각 화소에 형성되고, 게이트 패턴 라인들(107)은 게이트 구동 집적회로들(105) 사이와 FPC(103)와 게이트 구동 집적회로(105) 사이에 형성된다. 게이트 라인(121)을 포함하는 기판(131)의 전 영역 상에 게이트 절연 물질을 이용하여 게이트 절연막(133)을 형성한다. In more detail, although not shown on the
게이트 절연막(133) 상에 반도체 물질을 형성하고 패터닝하여 반도체층을 형성한다. A semiconductor material is formed on the
반도체층을 포함하는 기판(131) 상에 데이터 메탈 물질로 이루어진 데이터 메탈 필름을 형성하고 데이터 메탈 필름을 패터닝하여 데이터 라인(123), 소스/드레인 전극 및 데이터 패턴 라인들(147a, 147b)을 형성한다. 데이터 라인(123)은 게이트 라인(121)에 교차하여 형성된다. 게이트 라인(121)과 데이터 라인(123)의 교차에 의해 화소가 표시 영역(125)에 정의될 수 있다. 데이터 라인(123)은 표시 영 역(125)뿐만 아니라 비 표시 영역(129)까지 연장되어 형성될 수 있다. 소스/드레인 전극은 게이트 전극에 대응하는 게이트 절연막(133) 상에 서로 이격되어 형성된다. 데이터 패턴 라인들(147a, 147b)은 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b) 사이와 FPC(103)와 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b) 사이에 형성된다. 데이터 메탈 물질은 게이트 메탈 물질과 동일하거나 다를 수 있다.A data metal film made of a data metal material is formed on the
게이트 전극, 게이트 절연막, 반도체층 및 소스/드레인 전극에 의해 박막 트랜지스터가 구성된다. 박막 트랜지스터는 각 화소를 정의하는 게이트 라인과 데이터 라인에 연결된다.The thin film transistor is composed of a gate electrode, a gate insulating film, a semiconductor layer, and a source / drain electrode. The thin film transistor is connected to a gate line and a data line defining each pixel.
데이터 패턴 라인들(147a, 147b)을 포함하는 기판(131) 상에 유기 물질이나 무기 물질을 이용하여 보호막(139)을 형성한다. 이어서, 보호막(139)을 패터닝하여 드레인 전극의 일부 영역이 노출된 드레인 콘택홀(미도시), 비표시 영역(129)으로 연장된 데이터 라인(123)의 끝단 영역이 노출된 데이터 콘택홀(미도시) 및 데이터 패턴 라인들(147a, 147b)의 일부 영역이 노출된 데이터 패턴 라인 콘택홀(149)을 형성한다. 아울러, 보호막(139)과 게이트 절연막(133)을 패터닝하여 비표시 영역(129)으로 연장된 게이트 라인(121)의 끝단 영역이 노출된 게이트 콘택홀(미도시)과 게이트 패턴 라인들(107)의 일부 영역이 노출된 게이트 패턴 콘택홀(미도시)을 형성한다.The
보호막(139) 상에 투명한 도전 물질, 예컨대 ITO 또는 IZO를 형성하고 패터닝하여 화소 전극(미도시), 게이트 콘택 전극(미도시) 및 데이터 콘택 전극(141, 143)을 형성한다. 화소 전극은 각 화소에 형성되고, 드레인 콘택홀을 통해 드레인 전극과 전기적으로 연결된다. 게이트 콘택 전극은 게이트 콘택홀을 통해 게이트 라인(121)과 전기적으로 연결되도록 형성된다. 또한 게이트 콘택 전극은 게이트 패턴 라인 콘택홀을 통해 게이트 패턴 라인들(107)과 전기적으로 연결되도록 형성된다. 데이터 콘택 전극(141, 143)은 데이터 콘택홀을 통해 데이터 라인(123)과 전기적으로 연결되도록 형성된다. 데이터 콘택 전극(141, 143)은 데이터 패턴 라인 콘택홀을 통해 데이터 패턴 라인들(147a, 147b)과 전기적으로 연결되도록 형성된다. A transparent conductive material such as ITO or IZO is formed and patterned on the
도 7b에 도시한 바와 같이, 제1 기판(111)의 비 표시 영역(129)에서 게이트 구동 집적회로들(105)과 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)이 위치될 영역들에 랜덤하게 분포된 도전볼들(152)을 포함하는 이방성 도전 필름들(150)이 위치된다. 즉, 이방성 도전 필름들(150)은 게이트 및 데이터 구동 집적회로들(105, 116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a 및 119b)의 하부에 위치될 수 있다. 이를 달리 설명하면, 게이트 라인(121)의 끝단 영역, 데이터 라인(123)의 끝단 영역, 게이트 패턴 라인(107)의 양단 영역들 그리고 데이터 패턴 라인들(147a, 147b)의 양단 영역들에 각각 이방성 도전 필름(150)이 배치될 수 있다. As shown in FIG. 7B, the gate driving
도 7c에 도시한 바와 같이, 게이트 구동 집적회로들(105)과 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)에 열이 공급되고 압력이 가해져, 게이트 구동 집적회로들(105)의 범프들이나 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)의 범프들(156)에 의해 도전 볼들(152)이 각각 게이트 라인들(121), 게이트 패턴 라인들(107), 데이터 라인들(123) 및 데이터 패턴 라인들(147a, 147b)에 연결된다. As shown in FIG. 7C, heat is applied and pressure is applied to the gate driving
즉, 게이트 구동 집적회로들(105)이나 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)의 가압에 의해 게이트 구동 집적회로들(105)이나 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)에 구비된 범프들(156)이 가압된다. 이에 따라 이방성 도전 필름(150)이 가압되는 한편 이방성 도전 필름(150)이 녹게 된다. 따라서, 이방성 도전 필름(150)이 게이트 콘택 전극들과 데이터 콘택 전극들(141, 143)에 전기적으로 연결된다. 특히, 이방성 도전 필름(150)에 포함된 도전볼들(152)이 게이트 콘택 전극들과 데이터 콘택 전극들(141, 143)에 전기적으로 연결된다. That is, the gate driving
본 발명에서는 게이트 구동 집적회로들(105)과 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)이 제1 기판(111)에 동시에 실장되는 것으로 설명하고 있지만, 본 발명은 이에 한정하지 않고 게이트 구동 집적회로들(105)과 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)이 제1 기판(111)에 순차적으로 실장될 수도 있다.In the present invention, the gate driving
하지만, 도 7D에 도시한 바와 같이, 이방성 도전 필름(150)이 시간이 경과함에 따라 경화되고, 도전볼들(152) 및 이방성 도전 필름(150)과 게이트 콘택 전극들 및 데이터 콘택 전극들(141, 143) 사이 그리고 게이트 콘택 전극들 및 데이터 콘택 전극들(141, 143)과 게이트 라인들(121), 게이트 패턴 라인들(107), 데이터 라인들(123) 및 데이터 패턴 라인들(147a, 147b) 사이의 부착력이 매우 취약하다. 따라 서, 도전볼들(152) 및 이방성 도전 필름(150)이 게이트 콘택 전극들 및 데이터 콘택 전극들(141, 143)로부터 탈착되고, 게이트 콘택 전극들 및 데이터 콘택 전극들(141, 143)이 게이트 라인들(121), 게이트 패턴 라인들(107), 데이터 라인들(123) 및 데이터 패턴 라인들(147a, 147b)로부터 탈착된다. 콘택 불량이 게이트 구동 집적회로들(105)과 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a 및 119b)의 입력 터미널 영역들, 출력 터미널 영역들 및 신호 출력 터미널 영역들의 콘택 영역들에서 발생된다. 이러한 콘택 불량으로 인해, 콘택 영역 내의 콘택 저항이 증가하게 되어 궁극적으로는 블록 딤이나 블록 노이즈와 같은 불량이 발생하게 된다.However, as shown in FIG. 7D, the anisotropic
이러한 문제를 해결하기 위해, 도 7e에 도시한 바와 같이, 기판(131)의 하부 방향에서 기판(131) 내부의 콘택 영역으로 레이저 광(또는 레이저 빔)을 조사하여 콘택 영역 내의 이중층, 즉 게이트 라인들(121) 및 게이트 콘택 전극들, 게이트 패턴 라인들(107) 및 게이트 콘택 전극들, 데이터 라인들(123) 및 데이터 콘택 전극들(141, 143) 그리고 데이터 패턴 라인들(147a, 147b) 및 데이터 콘택 전극들(141, 143)을 용융시킨다. 이에 따라, 콘택층들(158)이 각 콘택 영역 내에 형성된다. 이와 동시에, 다수의 피크들(158a)이 레이저 광에 의해 각 콘택층(158)의 상부 면 상에 형성된다. 피크들(158a)은 각 도전볼들(152)에 접촉된다. 콘택층(158)은 콘택 영역 내의 이중층, 즉 게이트 라인들(121) 및 게이트 콘택 전극들, 게이트 패턴 라인들(107) 및 게이트 콘택 전극들, 데이터 라인들(123) 및 데이터 콘택 전극들(141, 143) 그리고 데이터 패턴 라인들(147a, 147b) 및 데이터 콘택 전극들(141, 143)을 융용시켜 형성된다.In order to solve this problem, as shown in FIG. 7E, a laser beam (or a laser beam) is irradiated to a contact region inside the
도 7f에 도시한 바와 같이, 레이저 광의 조사가 완료된 후, 시간이 경과함에 따라 도전볼들(152)에 접촉된 피크들(158a)은 서로 결합되기 위해 각 도전볼(152)의 면을 따라 흘러내린다. 게다가, 결합된 피크들(158b)과 콘택층(158)은 경화된다. 따라서, 도전볼들(152)은 콘택 영역 내의 콘택층(158), 구체적으로 결합된 피크들(158)에 강하게 부착되고 또한 연결된다. As shown in FIG. 7F, after the irradiation of the laser light is completed, as time passes, the
레이저 광을 방출하기 위한 레이저 소오스로서는 고체 레이저가 사용될 수 있다. 고체 레이저로는 Nd:YAG, 루비, KCl 또는 RbCl일 수 있다. 이 중에서, 바람직하게는 Nd:YAG로 이루어진 고체 레이저가 본 발명의 레이저 소오스로 사용될 수 있다. 본 발명의 레이저 광은 60mJ 내지 120mJ의 범위의 파워를 갖는 펄스 레이저 광이 사용될 수 있다. As the laser source for emitting the laser light, a solid laser can be used. Solid state lasers may be Nd: YAG, ruby, KCl or RbCl. Among them, preferably, a solid laser made of Nd: YAG can be used as the laser source of the present invention. As the laser light of the present invention, pulsed laser light having a power in the range of 60 mJ to 120 mJ may be used.
이에 따라, 콘택 영역 내에 포함된 모든 도전볼들(152)이 콘택층들(158)에 접촉됨에 따라 콘택 저항이 현저히 줄어든다. 따라서, 게이트 구동 집적회로들(105)과 게이트 라인들(121)이나 게이트 패턴 라인들 사이 그리고 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)과 데이터 라인들(123)이나 데이터 패턴 라인들(147a, 147b) 사이에 신호의 가변 없이 원하는 파워 신호가 정확히 전달될 수 있다.Accordingly, as all
특히, 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)과 데이터 패턴 라인들(147a, 147b) 사이에 콘택 전항에 민감한 파워 신호(VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd), 감마 전압, 데이터 신호 및 제어 신호가 가변되 지 않게 됨에 따라, 블록 딤이나 노이즈가 발생되지 않게 된다. In particular, a power signal VDD, VDD_gnd, VCC, VCC_gnd that is sensitive to contact propagation between the data driver integrated
도 8a 내지 도 8e는 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정표시장치의 제조 방법을 도시한 도면이다. 8A to 8E illustrate a method of manufacturing a liquid crystal display according to a second exemplary embodiment of the present invention.
도 8a에 도시한 바와 같이, 제1 기판(도 6의 111)은 데이터 패턴 라인들(147a, 147b), 게이트 절연막(133), 보호막(139) 및 콘택 전극들(141, 143)이 기판(131) 상에 형성됨으로써 제조된다. As illustrated in FIG. 8A, the
구체적으로, 게이트 라인들(121), 게이트 전극들(미도시), 게이트 패턴 라인들(107) 및 데이터 패턴 라인들(147a, 147b)은 기판(131) 상에 게이트 메탈 물질로 이루어진 게이트 메탈 필름(미도시)을 형성하고 게이트 메탈 필름을 패터닝함으로써 제공된다. 게이트 라인들(121)은 표시 영역(125) 상에 형성된다. 다수의 화소들이 표시 영역(125) 상에 정의된다. 게이트 라인들(121)은 표시 영역(125)뿐만 아니라 비표시 영역(129)으로 연장되어 형성된다. 게이트 전극들은 각 화소 상에 형성되고, 게이트 패턴 라인들(107)은 게이트 구동 집적회로들(105) 사이 그리고 게이트 구동 집적회로들(105)과 FPC(103) 사이에 형성된다. 데이터 패턴 라인들(147a, 147b)은 데이터 구동 집적회로들(116a 및 116b, 117a 및 117b, 118a 및 118b, 119a 및 119b) 사이 그리고 데이터 구동 집적회로들(116a 및 116b, 117a 및 117b, 118a 및 118b, 119a 및 119b) 및 FPC(103) 사이에 형성된다.In detail, the gate lines 121, the gate electrodes (not shown), the gate pattern lines 107, and the
게이트 절연막(133)은 데이터 패턴 라인들(147a, 147b)을 포함하는 기판(131)의 전면 상에 게이 절연 물질로 형성된다.The
반도체층(미도시)은 게이트 절연막(133) 상에 반도체 물질을 형성하고 패터 닝하여 제공된다. 또한, 데이터 라인들(123) 및 소오스/드레인 전극들(미도시)은 반도체층을 포함하는 기판(131) 상에 데이터 메탈 물질로 이루어진 데이터 메탈 필름(미도시)를 형성하고 패터닝하여 제공된다. 소오스/드레인 전극들은 게이트 전극에 대응하는 게이트 절연막(133) 상에 소정 간격으로 서로 이격되어 형성된다. 데이터 메탈 물질은 게이트 메탈 물질과 동일하거나 상이할 수 있다. 데이터 라인들(123)은 게이트 라인들(121)을 교차하여 형성된다. 화소들은 표시 영역(125) 상에 서로 교차하는 게이트 라인들(121)과 데이터 라인들(123)에 의해 정의된다. 데이터 라인들(123)은 표시 영역(125)뿐만 아니라 비표시 영역(129)으로 연장되어 형성된다. The semiconductor layer (not shown) is provided by forming and patterning a semiconductor material on the
게이트 전극, 게이트 절연막(133), 반도체층 및 소오스/드레인 전극들은 박막 트랜지스터(TFT)를 구성한다. 박막 트랜지스터(TFT)는 화소를 정의하는 게이트 라인(121)과 데이터 라인(123)에 연결된다.The gate electrode, the
보호막(139)은 데이터 라인들(123)을 포함하는 기판(131) 상에 유기 또는 무기 물질로 형성된다. 이어서, 보호막(139)이 패터닝되어, 드레인 전극이 부분적으로 노출된 드레인 콘택홀(미도시)과 비표시 영역(129)으로 연장된 데이터 라인들(123)의 끝단 영역이 부분적으로 노출된 데이터 콘택홀(미도시)가 형성된다. 게다가, 보호막(139)과 게이트 절연막(133)이 패터닝되어, 비표시 영역(129)으로 연장된 게이트 라인들(121)의 끝단 영역이 노출된 게이트 콘택홀(미도시), 게이트 패턴 라인들(105)이 부분적으로 노출된 게이트 패턴 라인 콘택홀(미도시) 및 데이터 패턴 라인들(147a, 147b)이 부분적으로 노출된 데이터 패턴 라인 콘택홀(161)이 형 성된다. The
보호막(139) 상에 투명한 도전 물질, 예컨대 ITO 또는 IZO를 형성하고 패터닝하여 화소 전극(미도시), 게이트 콘택 전극(미도시) 및 데이터 콘택 전극(141, 143)을 형성한다. 화소 전극은 각 화소에 형성되고, 드레인 콘택홀을 통해 드레인 전극과 전기적으로 연결된다. 게이트 콘택 전극은 게이트 콘택홀을 통해 게이트 라인(121)과 전기적으로 연결되도록 형성된다. 또한 게이트 콘택 전극은 게이트 패턴 라인 콘택홀을 통해 게이트 패턴 라인들(107)과 전기적으로 연결되도록 형성된다. 데이터 콘택 전극(141, 143)은 데이터 콘택홀을 통해 데이터 라인(123)과 전기적으로 연결되도록 형성된다. 데이터 콘택 전극(141, 143)은 데이터 패턴 라인 콘택홀(161)을 통해 데이터 패턴 라인들(147a, 147b)과 전기적으로 연결되도록 형성된다. A transparent conductive material such as ITO or IZO is formed and patterned on the
도 8b 내지 도 8e는 데이터 패턴 라인들(147a, 147b)을 제외하고 도 7b 내지 도 7f와 유사하다.8B-8E are similar to FIGS. 7B-7F except
도 8b에 도시한 바와 같이, 이방성 도전 필름들(150)이 제1 기판(111)의 비표시 영역(129) 상에 배치된다. 각 이방성 도전 필름(150)은 게이트 구동 집적회로들(105)과 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)이 위치될 영역들에 랜덤하게 분포된 도전볼들(152)을 포함한다. 즉, 이방성 도전 필름들(150)은 게이트 및 데이터 구동 집적회로들(105, 116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a 및 119b)의 하부에 위치될 수 있다. 이를 달리 설명하면, 게이트 라인(121)의 끝단 영역, 데이터 라인(123)의 끝단 영역, 게이트 패턴 라 인(107)의 양단 영역들 그리고 데이터 패턴 라인들(147a, 147b)의 양단 영역들에 각각 이방성 도전 필름(150)이 배치될 수 있다. 게이트 구동 집적회로들(105)과 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a 및 119b)는 그들의 범프들이 각 이방성 도전 필름(15)에 대응하도록 배치된다.As shown in FIG. 8B, anisotropic
이어서, 게이트 구동 집적회로들(105)과 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)에 열이 공급되고 압력이 가해져, 게이트 구동 집적회로들(105)의 범프들이나 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)의 범프들(156)에 의해 도전볼들(152)이 각각 게이트 라인들(121), 게이트 패턴 라인들(107), 데이터 라인들(123) 및 데이터 패턴 라인들(147a, 147b)에 연결된다. Subsequently, heat is applied and pressure is applied to the gate driving
즉, 게이트 구동 집적회로들(105)이나 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)의 가압에 의해 게이트 구동 집적회로들(105)이나 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)에 구비된 범프들(156)이 가압된다. 이에 따라 이방성 도전 필름(150)이 가압되는 한편 이방성 도전 필름(150)이 녹게 된다. 따라서, 이방성 도전 필름(150)이 게이트 콘택 전극들과 데이터 콘택 전극들(141, 143)에 전기적으로 연결된다. 특히, 이방성 도전 필름(150)에 포함된 도전볼들(152)이 게이트 콘택 전극들과 데이터 콘택 전극들(141, 143)에 전기적으로 연결된다. That is, the gate driving
본 발명에서는 게이트 구동 집적회로들(105)과 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)이 제1 기판(111)에 동시에 실장되는 것으로 설명하고 있지만, 본 발명은 이에 한정하지 않고 게이트 구동 집적회로들(105)과 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b)이 제1 기판(111)에 순차적으로 실장될 수도 있다.In the present invention, the gate driving
하지만, 도 8c에 도시한 바와 같이, 이방성 도전 필름(150)이 시간이 경과함에 따라 경화되고, 도전볼들(152) 및 이방성 도전 필름(150)과 게이트 콘택 전극들 및 데이터 콘택 전극들(141, 143) 사이 그리고 게이트 콘택 전극들 및 데이터 콘택 전극들(141, 143)과 게이트 라인들(121), 게이트 패턴 라인들(107), 데이터 라인들(123) 및 데이터 패턴 라인들(147a, 147b) 사이의 부착력이 매우 취약하다. 따라서, 도전볼들(152) 및 이방성 도전 필름(150)이 게이트 콘택 전극들 및 데이터 콘택 전극들(141, 143)로부터 탈착되고, 게이트 콘택 전극들 및 데이터 콘택 전극들(141, 143)이 게이트 라인들(121), 게이트 패턴 라인들(107), 데이터 라인들(123) 및 데이터 패턴 라인들(147a, 147b)로부터 탈착된다. 콘택 불량이 게이트 구동 집적회로들(105)과 데이터 구동 집적회로들(116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a 및 119b)의 입력 터미널 영역들, 출력 터미널 영역들 및 신호 출력 터미널 영역들의 콘택 영역들에서 발생된다. 이러한 콘택 불량으로 인해, 콘택 영역 내의 콘택 저항이 증가하게 되어 궁극적으로는 블록 딤이나 블록 노이즈와 같은 불량이 발생하게 된다.However, as shown in FIG. 8C, the anisotropic
이러한 문제를 해결하기 위해, 도 8d에 도시한 바와 같이, 기판(131)의 하부 방향에서 기판(131) 내부의 콘택 영역으로 레이저 광(또는 레이저 빔)을 조사하여 콘택 영역 내의 이중층, 즉 게이트 라인들(121) 및 게이트 콘택 전극들, 게이트 패 턴 라인들(107) 및 게이트 콘택 전극들, 데이터 라인들(123) 및 데이터 콘택 전극들(141, 143) 그리고 데이터 패턴 라인들(147a, 147b) 및 데이터 콘택 전극들(141, 143)을 용융시킨다. 이에 따라, 콘택층들(158)이 각 콘택 영역 내에 형성된다. 이와 동시에, 다수의 피크들(158a)이 레이저 광에 의해 각 콘택층(158)의 상부 면 상에 형성된다. 피크들(158a)은 각 도전볼들(152)에 접촉된다. 콘택층(158)은 콘택 영역 내의 이중층, 즉 게이트 라인들(121) 및 게이트 콘택 전극들, 게이트 패턴 라인들(107) 및 게이트 콘택 전극들, 데이터 라인들(123) 및 데이터 콘택 전극들(141, 143) 그리고 데이터 패턴 라인들(147a, 147b) 및 데이터 콘택 전극들(141, 143)을 융용시켜 형성된다.In order to solve this problem, as shown in FIG. 8D, a laser beam (or a laser beam) is irradiated to a contact region inside the
도 8e에 도시한 바와 같이, 레이저 광의 조사가 완료된 후, 시간이 경과함에 따라 도전볼들(152)에 접촉된 피크들(158a)은 서로 결합되기 위해 각 도전볼(152)의 면을 따라 흘러내린다. 게다가, 결합된 피크들(158b)과 콘택층(158)은 경화된다. 따라서, 도전볼들(152)은 콘택 영역 내의 콘택층(158), 구체적으로 결합된 피크들(158)에 강하게 부착되고 또한 연결된다. As shown in FIG. 8E, after the irradiation of the laser light is completed, as time passes,
이상의 본 발명은 액정표시장치에 한정하여 설명하고 있지만, 본 발명은 이에 한정하지 않고 유기 발광 표시장치에도 적용될 수 있다. Although the present invention has been described with reference to a liquid crystal display device, the present invention is not limited thereto and may be applied to an organic light emitting display device.
도 1은 종래의 COG 방식의 액정표시장치를 도시한 평면도이다. 1 is a plan view illustrating a liquid crystal display of a conventional COG method.
도 2는 도 1의 데이터 구동 집적회로를 도시한 평면도이다. FIG. 2 is a plan view illustrating the data driving integrated circuit of FIG. 1.
도 3은 도 2에서 I-I' 라인을 따라 절단했을 때 데이터 구동 집적회로와 제1 기판에 대한 단면도이다.3 is a cross-sectional view of the data driving integrated circuit and the first substrate when taken along the line II ′ in FIG. 2.
도 4는 도 3에서의 콘택 불량을 보여주는 도면이다.4 is a view showing a contact failure in FIG.
도 5는 콘택 불량에 의한 파워 신호의 전압 마진의 가변을 도시한 도면이다.5 is a diagram illustrating a change in voltage margin of a power signal due to a poor contact.
도 6은 본 발명에 따른 COG 방식의 액정표시장치를 도시한 평면도이다.6 is a plan view showing a liquid crystal display of the COG method according to the present invention.
도 7a 내지 도 7f는 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정표시장치의 제조 방법을 도시한 도면이다.7A to 7F illustrate a method of manufacturing a liquid crystal display device according to a first embodiment of the present invention.
도 8a 내지 도 8e는 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정표시장치의 제조 방법을 도시한 도면이다.8A to 8E illustrate a method of manufacturing a liquid crystal display according to a second exemplary embodiment of the present invention.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
101: 액정 패널 103: FPC101: liquid crystal panel 103: FPC
105: 게이트 구동 집적회로 111: 제1 기판105: gate driving integrated circuit 111: first substrate
113: 제2 기판 116 내지 119: 데이터 구동 영역113:
116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b: 데이터 구동 집적회로116a, 116b, 117a, 117b, 118a, 118b, 119a, 119b: data driving integrated circuit
121: 게이트 라인 123: 데이터 라인121: gate line 123: data line
125: 표시 영역125: display area
126a, 126b, 127a, 127b, 128a, 128b, 129a, 129b: 서브 표시 영역126a, 126b, 127a, 127b, 128a, 128b, 129a, 129b: sub display area
129: 비 표시 영역 131: 기판129: non-display area 131: substrate
133: 게이트 절연막 139: 보호막133: gate insulating film 139: protective film
141, 143: 데이터 콘택 전극 147a, 147b: 데이터 패턴 라인141 and 143:
150: 이방성 도전 필름 152: 도전볼150: anisotropic conductive film 152: conductive ball
156: 범프156: bump
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