KR20100036046A - Organic light emitting diodde desplay device - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 유기발광다이오드 표시소자에 관한 것이다. The present invention relates to an organic light emitting diode display device.
최근, 음극선관(Cathode Ray Tube)의 단점인 무게와 부피를 줄일 수 있는 각종 평판 표시장치들이 개발되고 있다. 이러한 평판 표시장치는 액정 표시장치(Liquid Crystal Display : 이하 "LCD"라 한다), 전계 방출 표시장치(Field Emission Display : FED), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel : 이하 "PDP"라 한다) 및 전계발광소자(Electroluminescence Device) 등이 있다. Recently, various flat panel displays have been developed to reduce weight and volume, which are disadvantages of cathode ray tubes. Such flat panel displays include liquid crystal displays (hereinafter referred to as "LCDs"), field emission displays (FEDs), plasma display panels (hereinafter referred to as "PDPs") and electric fields. Light emitting devices; and the like.
액티브 매트릭스 타입의 유기발광다이오드 표시소자(Active Matrix type Organic Light Emitting Diode display, AMOLED)는 박막트랜지스터(Thin Film Transistor 이하, "TFT"라 함)를 이용하여 유기발광다이오드소자(이하, "OLED"라 함)에 흐르는 전류를 제어하여 화상을 표시한다. 유기발광다이오드 표시소자의 구조는 다양한 방향으로 개발되고 있다. An active matrix type organic light emitting diode display (AMOLED) is an organic light emitting diode device (hereinafter referred to as "OLED") using a thin film transistor ("TFT"). Display the image by controlling the current flowing through the The structure of the organic light emitting diode display device has been developed in various directions.
유기발광광다이오드 표시소자는 외부 충격에 의해 상판과 하판이 접촉되는 부분이 파손될 수 있다. 상판과 하판이 접촉되는 부분이 상판과 하판을 전기적으로 연결하는 부분인 경우에, 그 부분의 파손으로 인하여 상판과 하판의 전류패스가 차단될 수 있다. 따라서, 유기발광다이오드 표시소자에서 외부 충격에 의해 상판과 하판의 전기적 접촉 부분이 파손되는 현상을 방지할 수 있는 방안이 요구되고 있다. In the organic light emitting diode display device, a portion where the upper plate and the lower plate contact each other may be damaged by an external impact. When the part where the upper plate and the lower plate are in contact is a portion that electrically connects the upper plate and the lower plate, current paths between the upper plate and the lower plate may be blocked due to breakage of the portion. Therefore, there is a demand for a method of preventing the electrical contact between the upper and lower plates from being damaged by an external impact in the organic light emitting diode display device.
따라서, 본 발명의 목적은 상기 종래 기술의 문제점들을 해결하고자 안출된 발명으로써 상판과 하판의 전기적 접촉 부분이 파손되는 현상을 방지할 수 있는 유기발광다이오드 표시소자를 제공하는데 있다. Accordingly, an object of the present invention is to provide an organic light emitting diode display device capable of preventing the electrical contact portion of the upper plate and the lower plate is broken as the invention devised to solve the problems of the prior art.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예에 따른 유기발광다이오드 표시소자는 애노드전극, 유기화합물층 및 캐소드전극을 포함한 유기발광다이오드소자 어레이와, 상기 캐소드전극에 의해 덮여진 콘택 스페이서를 포함한 상판; 및 상기 콘택스페이서 상에 형성된 캐소드전극과 전기적으로 접촉되는 다수의 TFT들을 포함한 TFT 어레이와, 10(gpa)~40(gpa)의 탄성계수를 가지는 유기물과 0.19(gpa)~0.5(gpa)의 탄성계수를 가지는 무기물 중 하나 이상을 포함하는 탄성층을 포함한 하판을 구비한다. In order to achieve the above object, an organic light emitting diode display device according to an embodiment of the present invention includes an organic light emitting diode device array including an anode electrode, an organic compound layer and a cathode electrode, and an upper plate including a contact spacer covered by the cathode electrode; And a TFT array including a plurality of TFTs in electrical contact with a cathode electrode formed on the contact spacer, an organic material having an elastic modulus of 10 (gpa) to 40 (gpa), and an elasticity of 0.19 (gpa) to 0.5 (gpa). And a bottom plate comprising an elastic layer comprising at least one of inorganics having a modulus.
본 발명의 유기발광다이오드 표시소자는 하판의 TFT 어레이 내에 탄성계수가 비교적 높은 탄성층을 형성하여 상판과 하판의 전기적 접촉부분의 파손을 방지할 수 있고 신뢰성을 높일 수 있다. The organic light emitting diode display device of the present invention forms an elastic layer having a relatively high modulus of elasticity in the TFT array of the lower plate, thereby preventing breakage of the electrical contact between the upper plate and the lower plate, and improving reliability.
이하, 도 1 내지 도 3을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 설명하기로 한다. Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 3.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기발광다이오드 표시소자에서 한 셀의 단면 구조를 보여 준다. 이 유기발광다이오드 표시소자의 등가 회로도는 도 2와 실질적으로 동일하다. 도 1에서, 하판에 형성되는 스토리지 커패시터(CST)와 고전위 전원 공급패드 및 저전위 전원 공급패드는 생략되었다. 1 shows a cross-sectional structure of one cell in an organic light emitting diode display device according to a first embodiment of the present invention. The equivalent circuit diagram of this organic light emitting diode display element is substantially the same as that in FIG. In FIG. 1, the storage capacitor CST, the high potential power supply pad, and the low potential power supply pad formed on the lower plate are omitted.
도 1을 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기발광다이오드 표시소자는 패씨브 OLED 어레이가 형성된 상판, TFT 어레이가 형성된 하판을 구비한다. Referring to FIG. 1, an organic light emitting diode display according to a first exemplary embodiment of the present invention includes a top plate on which a passive OLED array is formed and a bottom plate on which a TFT array is formed.
패씨브 OLED 어레이는 보조전극(MBUS), 애노드전극(ANO), 버퍼층(BUF), 유기발광다이오드소자(OLED), 캐소드전극(CAT), 격벽(BAR), 콘택 스페이서(CSP)를 구비한다. 보조전극(MBUS)은 도전성이 높은 금속으로 상부 투명기판(SUBS1) 상에 형성된다. 애노드전극(ANO)은 보조전극(MBUS)을 덮도록 상부 투명기판(SUBS1) 상에 ITO(Indium Tin Oxide)로 형성된다. 애노드전극(ANO)에는 하판의 고전위 전원 패 드와 접속된 콘택 스페이서를 통해 고전위 전원전압(VDD)이 공급된다. 애노드전극(ANO) 상에는 SiNx로 이루어진 버퍼층(BUF)이 형성되고, 캐소드전극(CAT)은 알루미늄(Al)으로 유기발광다이오드소자(OLED)의 유기화합물층 상에 형성된다. 유기발광다이오드소자(OLED)는 전자주입층(Electron injection layer, EIL), 전자수송층(Electron transport layer, ETL), 발광층(Emission layer, EML), 정공수송층(Hole transport layer, HTL), 및 정공주입층(Hole injection layer, HIL)을 포함한다. 격벽(BAR)은 이웃한 발광셀들 사이에서 유기발광다이오드소자(OLED) 및 캐소드전극(CAT)을 분리시킨다. 콘택 스페이서(CSP)는 폴리이미드(Polyimide)나 포토레지스트(Photoresist)로 버퍼층(BUF) 상에 형성된다. 콘택 스페이서(CSP) 상에는 유기발광다이오드소자(OLED)의 유기화합물층과 캐소드전극(CAT)이 적층된다. The passive OLED array includes an auxiliary electrode MBUS, an anode electrode ANO, a buffer layer BUF, an organic light emitting diode device OLED, a cathode electrode CAT, a barrier BAR, and a contact spacer CSP. The auxiliary electrode MBUS is formed of a highly conductive metal on the upper transparent substrate SUBS1. The anode ANO is formed of indium tin oxide (ITO) on the upper transparent substrate SUBS1 to cover the auxiliary electrode MBUS. The anode electrode ANO is supplied with a high potential power voltage VDD through a contact spacer connected to a high potential power pad on a lower plate. A buffer layer BUF made of SiNx is formed on the anode ANO, and the cathode electrode CAT is formed on the organic compound layer of the organic light emitting diode OLED by aluminum. The organic light emitting diode device (OLED) is an electron injection layer (EIL), an electron transport layer (ETL), an emission layer (EML), a hole transport layer (HTL), and a hole injection Layer (Hole injection layer, HIL). The barrier BAR separates the organic light emitting diode OLED and the cathode electrode CAT between adjacent light emitting cells. The contact spacer CSP is formed on the buffer layer BUF by polyimide or photoresist. On the contact spacer CSP, an organic compound layer of the organic light emitting diode device OLED and a cathode electrode CAT are stacked.
TFT 어레이는 서로 교차하는 다수의 데이터라인 및 다수의 게이트라인, 데이터라인들과 게이트라인들의 교차부에 형성된 스위치 TFT들(SWTFT), 스위치 TFT(SWTFT)에 접속되고 콘택패드 상/하부전극(CNTPU, CNTPL)을 통해 상판의 캐소드전극(CAT)에 접속되는 구동 TFT들(DRTFT), 및 구동 TFT(DRTFT)의 게이트전극(G2)과 저전위 전원공급원(VSS) 사이에 접속된 스토리지 커패시터(CST) 등을 포함한다. The TFT array is connected to a plurality of data lines and a plurality of gate lines crossing each other, switch TFTs (SWTFT) and switch TFTs (SWTFT) formed at the intersections of the data lines and the gate lines, and contact pad upper and lower electrodes (CNTPU). , The driving TFTs DRTFT connected to the cathode electrode CAT of the upper plate through the CNTPL, and the storage capacitor CST connected between the gate electrode G2 and the low potential power supply VSS of the driving TFT DRTFT. ), And the like.
게이트라인, TFT들(SWTFT, DRTFT)의 게이트전극들(G1, G2), 및 게이트라인과 연결된 게이트패드 하부전극(GPADL)은 게이트 금속패턴으로 형성된다. 게이트라인과 교차되는 데이터라인, TFT들(SWTFT, DRTFT)의 소스 및 드레인전극(S1, S2, D1, D2), 및 데이터라인과 연결된 데이터패드 하부전극(DPADL)은 데이터 금속패턴으로 형성된다. The gate line, the gate electrodes G1 and G2 of the TFTs SWTFT and DRTFT, and the gate pad lower electrode GPADL connected to the gate line are formed of a gate metal pattern. The data line crossing the gate line, the source and drain electrodes S1, S2, D1 and D2 of the TFTs SWTFT and DRTFT and the data pad lower electrode DPADL connected to the data line are formed of a data metal pattern.
게이트 금속패턴과 데이터 금속패턴 사이에는 탄성층(ELST), 게이트 절연막(GI), 및 액티브패턴(ACT1, ACT2)이 형성된다. 액티브패턴(ACT1, ACT2)은 반도체 물질을 포함하여 TFT들(SWTFT, DRTFT)의 채널을 형성한다. 게이트 절연막(GI)은 게이트 금속패턴과 데이터 금속패턴을 절연시킨다. 탄성층(ELST)은 상판과 하판이 실런트(sealant)로 합착된 상태에서 외부로부터 충격이 상판 또는 하판에 가해질 때 그 상판 또는 하판으로부터 전달되는 충격을 흡수하여 상판과 하판이 전기적으로 접촉되는 콘택 스페이서(CSP), 캐소드전극(CAT), 콘택전극들(CNTPL, CNTPU)의 파손을 예방한다. 데이터 금속패턴 상에는 패시베이션층(PAS1)이 형성된다. An elastic layer ELST, a gate insulating layer GI, and active patterns ACT1 and ACT2 are formed between the gate metal pattern and the data metal pattern. The active patterns ACT1 and ACT2 include a semiconductor material to form channels of the TFTs SWTFT and DRTFT. The gate insulating layer GI insulates the gate metal pattern from the data metal pattern. The elastic layer ELST absorbs the shock transmitted from the upper or lower plate when the impact is applied from the outside to the upper or lower plate while the upper plate and the lower plate are bonded with the sealant so that the upper plate and the lower plate are in electrical contact with each other. The breakdown of the CSP, the cathode electrode CAT, and the contact electrodes CNTPL and CNTPU is prevented. The passivation layer PAS1 is formed on the data metal pattern.
점퍼 금속패턴(JUMP)은 스위치 TFT(SWTFT)의 드레인전극(D1)과 구동 TFT(DRTFT)의 게이트전극(G1)을 전기적으로 접속시킨다. 이를 위하여, 점퍼 금속패턴(JUMP)은 패시베이션층(PAS1)을 관통하여 스위치 TFT(SWTFT)의 드레인전극(D1)을 노출하는 제1 콘택홀을 통해 스위치 TFT(SWTFT)의 드레인전극(D1)에 접촉됨과 아울러, 패시베이션층(PAS1), 게이트 절연막(GI) 및 탄성층(ELST)을 관통하여 구동 TFT(DRTFT)의 게이트전극(G2)을 노출하는 제2 콘택홀을 통해 구동 TFT(DRTFT)의 게이트전극(G2)에 접촉된다. The jumper metal pattern JUMP electrically connects the drain electrode D1 of the switch TFT SWTFT and the gate electrode G1 of the driving TFT DRTFT. To this end, the jumper metal pattern JUMP passes through the passivation layer PAS1 to the drain electrode D1 of the switch TFT SWTFT through a first contact hole exposing the drain electrode D1 of the switch TFT SWTFT. And a second contact hole through the passivation layer PAS1, the gate insulating layer GI, and the elastic layer ELST to expose the gate electrode G2 of the driving TFT DRTFT. It contacts the gate electrode G2.
콘택패드 상부전극(CNTPU)은 상판의 캐소드전극(CAT)에 접촉되고, 그 아래에 형성된 콘택패드 하부전극(CNTPL)은 하판에 형서된 구동 TFT(DRTFT)의 드레인전극(D2)에 접촉된다. 이를 위하여, 콘택패드 하부전극(CNTPL)은 패시베이션층(PAS1)을 관통하여 구동 TFT(DRTFT)의 드레인전극(D2)을 노출하는 제3 콘택홀을 통해 구동 TFT(DRTFT)의 드레인전극(D2)에 접촉된다. The contact pad upper electrode CNTPU is in contact with the cathode electrode CAT of the upper plate, and the contact pad lower electrode CNTPL formed below is in contact with the drain electrode D2 of the driving TFT DRTFT formed on the lower plate. To this end, the contact pad lower electrode CNTPL passes through the passivation layer PAS1 and exposes the drain electrode D2 of the driving TFT DRTFT to expose the drain electrode D2 of the driving TFT DRTFT. Is in contact with.
게이트패드 상부전극(GPADU)은 패시베이션층(PAS1), 게이트 절연막(GI) 및 탄성층(ELST)을 관통하여 게이트패드 하부전극(GPADL)을 노출하는 제4 콘택홀을 통해 게이트패드 하부전극(GPADL)에 접촉된다. 데이터패드 상부전극(DPADU)은 패시베이션층(PAS1)을 관통하여 데이터패드 하부전극(DPADL)을 노출하는 제5 콘택홀을 통해 데이터패드 하부전극(DPADL)에 접촉된다. The gate pad upper electrode GPADU passes through the passivation layer PAS1, the gate insulating layer GI, and the elastic layer ELST to pass through the fourth contact hole exposing the gate pad lower electrode GPADL. ) The data pad upper electrode DPADU is in contact with the data pad lower electrode DPADL through a fifth contact hole penetrating the passivation layer PAS1 and exposing the data pad lower electrode DPADL.
탄성층(ELST)은 공정수와 공정비용이 현저히 추가되지 않고 외부 충격을 충분히 흡수할 수 있도록 500(Å)~1000(Å) 정도의 두께(t1)로 형성되며, 10(gpa)~40(gpa) 정도의 탄성계수를 가지는 유기물로 형성될 수 있다. 유기물의 은 폴리이미드(Polyimide) 등의 고분자 화합물을 포함할 수 있고 이에 한정되지 않고 상기 탄성계수를 만족하는 하나 이상의 유기물을 포함할 수 있다. The elastic layer (ELST) is formed with a thickness (t1) of about 500 (Å) to 1000 (Å) to sufficiently absorb external shocks without significantly adding process water and cost, and 10 (gpa) to 40 ( gpa) may be formed of an organic material having an elastic modulus. The organic material may include a polymer compound such as polyimide, and the like, but is not limited thereto and may include one or more organic materials satisfying the elastic modulus.
도 3은 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기발광다이오드 표시소자에서 한 셀의 단면 구조를 보여 준다. 이 유기발광다이오드 표시소자의 등가 회로도는 도 2와 실질적으로 동일하다. 도 2에서, 하판에 형성되는 스토리지 커패시터(CST)와 고전위 전원 공급패드 및 저전위 전원 공급패드는 생략되었다. 3 illustrates a cross-sectional structure of one cell in the organic light emitting diode display device according to the second embodiment of the present invention. The equivalent circuit diagram of this organic light emitting diode display element is substantially the same as that in FIG. In FIG. 2, the storage capacitor CST, the high potential power supply pad, and the low potential power supply pad formed on the lower plate are omitted.
도 3을 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기발광다이오드 표시소자는 패씨브 OLED 어레이가 형성된 상판, TFT 어레이가 형성된 하판을 구비한다. 상판은 전술한 실시예와 실질적으로 동일하므로 그에 대한 상세한 설명을 생략하기로 한다. Referring to FIG. 3, the organic light emitting diode display according to the first embodiment of the present invention includes a top plate on which a passive OLED array is formed and a bottom plate on which a TFT array is formed. Since the top plate is substantially the same as the above-described embodiment, a detailed description thereof will be omitted.
TFT 어레이는 서로 교차하는 다수의 데이터라인 및 다수의 게이트라인, 데이터라인들과 게이트라인들의 교차부에 형성된 스위치 TFT들(SWTFT), 스위치 TFT(SWTFT)에 접속되고 콘택패드 상/하부전극(CNTPU, CNTPL)을 통해 상판의 캐소드전극(CAT)에 접속되는 구동 TFT들(DRTFT), 및 구동 TFT(DRTFT)의 게이트전극(G2)과 저전위 전원공급원(VSS) 사이에 접속된 스토리지 커패시터(CST) 등을 포함한다. The TFT array is connected to a plurality of data lines and a plurality of gate lines crossing each other, switch TFTs (SWTFT) and switch TFTs (SWTFT) formed at the intersections of the data lines and the gate lines, and contact pad upper and lower electrodes (CNTPU). , The driving TFTs DRTFT connected to the cathode electrode CAT of the upper plate through the CNTPL, and the storage capacitor CST connected between the gate electrode G2 and the low potential power supply VSS of the driving TFT DRTFT. ), And the like.
게이트라인, TFT들(SWTFT, DRTFT)의 게이트전극들(G1, G2), 및 게이트라인과 연결된 게이트패드 하부전극(GPADL)은 게이트 금속패턴으로 형성된다. 게이트라인과 교차되는 데이터라인, TFT들(SWTFT, DRTFT)의 소스 및 드레인전극(S1, S2, D1, D2), 및 데이터라인과 연결된 데이터패드 하부전극(DPADL)은 데이터 금속패턴으로 형성된다. The gate line, the gate electrodes G1 and G2 of the TFTs SWTFT and DRTFT, and the gate pad lower electrode GPADL connected to the gate line are formed of a gate metal pattern. The data line crossing the gate line, the source and drain electrodes S1, S2, D1 and D2 of the TFTs SWTFT and DRTFT and the data pad lower electrode DPADL connected to the data line are formed of a data metal pattern.
게이트 금속패턴과 데이터 금속패턴 사이에는 제1 및 제2 탄성층(ELST1, ELST2), 게이트 절연막(GI), 및 액티브패턴(ACT1, ACT2)이 형성된다. 액티브패턴(ACT1, ACT2)은 반도체 물질을 포함하여 TFT들(SWTFT, DRTFT)의 채널을 형성한다. 게이트 절연막(GI)은 게이트 금속패턴과 데이터 금속패턴을 절연시킨다. 제1 및 제2 탄성층(ELST1, ELST2)은 상판과 하판이 실런트(sealant)로 합착된 상태에서 외부로부터 충격이 상판 또는 하판에 가해질 때 그 상판 또는 하판으로부터 전달되는 충격을 흡수하여 상판과 하판이 전기적으로 접촉되는 콘택 스페이서(CSP), 캐소드전극(CAT), 콘택전극들(CNTPL, CNTPU)의 파손을 예방한다. 데이터 금속패턴 상에는 패시베이션층(PAS1)이 형성된다. The first and second elastic layers ELST1 and ELST2, the gate insulating layer GI, and the active patterns ACT1 and ACT2 are formed between the gate metal pattern and the data metal pattern. The active patterns ACT1 and ACT2 include a semiconductor material to form channels of the TFTs SWTFT and DRTFT. The gate insulating layer GI insulates the gate metal pattern from the data metal pattern. The first and second elastic layers ELST1 and ELST2 absorb the shock transmitted from the upper plate or the lower plate when the impact is applied to the upper plate or the lower plate from the outside while the upper plate and the lower plate are bonded with the sealant. The contact spacers CSP, the cathode electrodes CAT, and the contact electrodes CNTPL and CNTPU that are in electrical contact with each other are prevented. The passivation layer PAS1 is formed on the data metal pattern.
점퍼 금속패턴(JUMP)은 스위치 TFT(SWTFT)의 드레인전극(D1)과 구동 TFT(DRTFT)의 게이트전극(G1)을 전기적으로 접속시킨다. 이를 위하여, 점퍼 금속패턴(JUMP)은 패시베이션층(PAS1)을 관통하여 스위치 TFT(SWTFT)의 드레인전극(D1) 을 노출하는 제1 콘택홀을 통해 스위치 TFT(SWTFT)의 드레인전극(D1)에 접촉됨과 아울러, 패시베이션층(PAS1), 게이트 절연막(GI), 제1 탄성층(ELST1), 및 제2 탄성층(ELST2)을 관통하여 구동 TFT(DRTFT)의 게이트전극(G2)을 노출하는 제2 콘택홀을 통해 구동 TFT(DRTFT)의 게이트전극(G2)에 접촉된다. The jumper metal pattern JUMP electrically connects the drain electrode D1 of the switch TFT SWTFT and the gate electrode G1 of the driving TFT DRTFT. To this end, the jumper metal pattern JUMP passes through the passivation layer PAS1 to the drain electrode D1 of the switch TFT SWTFT through a first contact hole exposing the drain electrode D1 of the switch TFT SWTFT. The first contacting layer is formed through the passivation layer PAS1, the gate insulating layer GI, the first elastic layer ELST1, and the second elastic layer ELST2 to expose the gate electrode G2 of the driving TFT DRTFT. The gate electrode G2 of the driving TFT DRTFT is contacted through two contact holes.
콘택패드 상부전극(CNTPU)은 상판의 캐소드전극(CAT)에 접촉되고, 그 아래에 형성된 콘택패드 하부전극(CNTPL)은 하판에 형서된 구동 TFT(DRTFT)의 드레인전극(D2)에 접촉된다. 이를 위하여, 콘택패드 하부전극(CNTPL)은 패시베이션층(PAS1)을 관통하여 구동 TFT(DRTFT)의 드레인전극(D2)을 노출하는 제3 콘택홀을 통해 구동 TFT(DRTFT)의 드레인전극(D2)에 접촉된다. The contact pad upper electrode CNTPU is in contact with the cathode electrode CAT of the upper plate, and the contact pad lower electrode CNTPL formed below is in contact with the drain electrode D2 of the driving TFT DRTFT formed on the lower plate. To this end, the contact pad lower electrode CNTPL passes through the passivation layer PAS1 and exposes the drain electrode D2 of the driving TFT DRTFT to expose the drain electrode D2 of the driving TFT DRTFT. Is in contact with.
게이트패드 상부전극(GPADU)은 패시베이션층(PAS1), 게이트 절연막(GI), 제1 탄성층(ELST1), 및 제2 탄성층(ELST2)을 관통하여 게이트패드 하부전극(GPADL)을 노출하는 제4 콘택홀을 통해 게이트패드 하부전극(GPADL)에 접촉된다. 데이터패드 상부전극(DPADU)은 패시베이션층(PAS1)을 관통하여 데이터패드 하부전극(DPADL)을 노출하는 제5 콘택홀을 통해 데이터패드 하부전극(DPADL)에 접촉된다. The gate pad upper electrode GPADU passes through the passivation layer PAS1, the gate insulating layer GI, the first elastic layer ELST1, and the second elastic layer ELST2 to expose the gate pad lower electrode GPADL. 4 contacts the gate pad lower electrode GPADL through a contact hole. The data pad upper electrode DPADU is in contact with the data pad lower electrode DPADL through a fifth contact hole penetrating the passivation layer PAS1 and exposing the data pad lower electrode DPADL.
제1 및 제2 탄성층(ELST1, ELST2)은 공정수와 공정비용이 현저히 추가되지 않고 외부 충격을 충분히 흡수할 수 있어야 한다. 이를 위하여, 제1 및 제2 탄성층(ELST1, ELST2)을 합한 두께(t2)는 500(Å)~1000(Å) 정도가 바람직한다. 제1 탄성층(ELST1)은 유기물로 형성되고, 제2 탄성층(ELST2)은 무기물로 형성된다. 제1 탄성층(ELST1)에 적용 가능한 유기물은 폴리이미드(Polyimide) 등의 고분자 화합물을 포함할 수 있고 이에 한정되지 않고 10(gpa)~40(gpa) 정도의 탄성계수를 만족 하는 하나 이상의 유기물을 포함할 수 있다. 제2 탄성층(ELST2)에 적용 가능한 무기물의 예로는 몰리브덴(Mo) 등을 포함할 수 있고, 이에 한정되지 않고 0.19(gpa)~0.5(gpa) 정도의 탄성계수를 만족하는 어떠한 유기물로도 선택될 수 있다. 한편, 제2 탄성층(ELST2)이 전도성을 가지는 금속으로 형성되는 경우에 TFT 어레이에서 금속패턴들 간에 원치 않는 단락(short)을 일으킬 수 있다. 이러한 단락 문제를 예방하기 위하여, 제2 탄성층(ELST2)은 TFT 어레이 상에서 전면 형성되지 않고 부분적으로 패터닝될 수 있다. 예를 들어, 도 3에서 제2 탄성층(ELST2)은 점퍼 금속패턴(JUMP)과 게이트패드 상부전극(GPADU)과 접촉되지 않도록 그 금속패턴들 주변에 형성되지 않는다. The first and second elastic layers ELST1 and ELST2 should be capable of sufficiently absorbing external shocks without significantly adding process water and process costs. To this end, the thickness t2 of the first and second elastic layers ELST1 and ELST2 is preferably about 500 (mm) to about 1000 (mm). The first elastic layer ELST1 is formed of an organic material, and the second elastic layer ELST2 is formed of an inorganic material. The organic material applicable to the first elastic layer ELST1 may include a polymer compound such as polyimide, and the like, but is not limited thereto, and may include one or more organic materials satisfying an elastic modulus of about 10 (gpa) to about 40 (gpa). It may include. Examples of the inorganic material applicable to the second elastic layer ELST2 may include molybdenum (Mo) and the like, and the present invention is not limited thereto, and may be selected as any organic material satisfying an elastic modulus of about 0.19 (gpa) to 0.5 (gpa). Can be. On the other hand, when the second elastic layer ELST2 is formed of a conductive metal, an unwanted short may be generated between the metal patterns in the TFT array. In order to prevent such a short circuit problem, the second elastic layer ELST2 may be partially patterned without being formed entirely on the TFT array. For example, in FIG. 3, the second elastic layer ELST2 is not formed around the metal patterns so as not to contact the jumper metal pattern JUMP and the gate pad upper electrode GPADU.
상술한 바와 같이, 본 발명의 유기발광다이오드 표시소자는 TFT 어레이 내에 탄성계수가 비교적 높은 탄성층을 형성하여 상판과 하판이 합착된 상태에서 상판이나 하판을 통해 전달되는 충격이 탄성층에 의해 흡수될 수 있으므로 상판과 하판의 전기적 접촉부분의 파손을 방지할 수 있고 신뢰성을 높일 수 있다. As described above, the organic light emitting diode display device of the present invention forms an elastic layer having a relatively high modulus of elasticity in the TFT array so that an impact transmitted through the upper or lower plate in the state where the upper and lower plates are bonded is absorbed by the elastic layer. Therefore, it is possible to prevent breakage of the electrical contact between the upper and lower plates and to increase reliability.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위 내에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.Those skilled in the art will appreciate that various changes and modifications can be made without departing from the technical spirit of the present invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification but should be defined by the claims.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기발광다이오드 표시소자를 보여 주는 단면도이다. 1 is a cross-sectional view illustrating an organic light emitting diode display device according to a first embodiment of the present invention.
도 2는 도 1과 같은 유기발광 다이오드 표시소자의 한 셀을 보여 주는 등가 회로도이다. FIG. 2 is an equivalent circuit diagram illustrating one cell of the organic light emitting diode display device of FIG. 1.
도 3은 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기발광다이오드 표시소자를 보여 주는 단면도이다. 3 is a cross-sectional view illustrating an organic light emitting diode display device according to a second exemplary embodiment of the present invention.
Claims (6)
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2008
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