KR20100003808A - 가역투자율 측정 장치 - Google Patents

가역투자율 측정 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20100003808A
KR20100003808A KR1020080063810A KR20080063810A KR20100003808A KR 20100003808 A KR20100003808 A KR 20100003808A KR 1020080063810 A KR1020080063810 A KR 1020080063810A KR 20080063810 A KR20080063810 A KR 20080063810A KR 20100003808 A KR20100003808 A KR 20100003808A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
magnetic field
coil
magnetic
applying
specimen
Prior art date
Application number
KR1020080063810A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101001616B1 (ko
Inventor
유권상
박수영
박종서
정인현
윤기봉
Original Assignee
한국표준과학연구원
중앙대학교 산학협력단
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 한국표준과학연구원, 중앙대학교 산학협력단 filed Critical 한국표준과학연구원
Priority to KR1020080063810A priority Critical patent/KR101001616B1/ko
Priority to US13/001,896 priority patent/US8626470B2/en
Priority to PCT/KR2009/003573 priority patent/WO2010002184A2/ko
Publication of KR20100003808A publication Critical patent/KR20100003808A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101001616B1 publication Critical patent/KR101001616B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/12Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
    • G01R33/1223Measuring permeability, i.e. permeameters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/20Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
    • G01R33/28Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
    • G01R33/32Excitation or detection systems, e.g. using radio frequency signals
    • G01R33/34Constructional details, e.g. resonators, specially adapted to MR

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Abstract

본 발명은 가역투자율 측정 장치에 관한 것으로, 기계적 물성을 평가하기 위해 사용되는 비파괴적인 방법 중의 하나로 자기적 특성을 측정하는 것으로서 시편에서 발생하는 자속변화를 측정하는 가역투자율 측정 장치에 관한 것이다.
본 발명의 가역투자율 측정 장치는 시편의 표면에서 유도되는 자기장변화를 자기 포텐시오미터(magnetic potentiometer)(20)와 자속계(fluxmeter)(50)를 사용하여 직접 측정함으로써 보다 정확하게 재료의 열화를 평가할 수 있는 효과가 있다.
자기적 특성, 물성측정, 비파괴평가, 자속변화, 기계적 물성, 자기 포텐시오미터, 가역투자율

Description

가역투자율 측정 장치{Reversible Magnetic Permeability Measurement Apparatus}
본 발명은 가역투자율 측정 장치에 관한 것으로, 기계적 물성을 평가하기 위해 사용되는 비파괴적인 방법 중의 하나로 자기적 특성을 측정하는 것으로서 시편에서 발생하는 자속변화를 측정하는 가역투자율 측정 장치에 관한 것이다.
구조강이나 터빈로터 강 등의 기계적 물성은 자기적 특성과 관계되므로 비파괴적으로 자기적 특성을 측정하여 기계적 물성을 평가하게 된다.
이러한 자기적 특성을 측정하기 위한 자기적 특성 측정 장치에 사용되는 코일은 측정하려는 시편의 표면에 수직하게 코일을 놓아 시편에서 발생하는 자기선속 변화를 측정하는 서피스 타입(surface type) 프로브와 환봉이나 박편형태의 시편 주위에 코일을 감는 인서클링 타입(encircling type) 프로브로 크게 나누어진다. 전자는 Barkhausen noise(BN)나 고조파 측정에 사용되고 후자는 BN이나 고조파뿐만 아니라 자기이력곡선 측정에 사용되며, 비파괴적으로 운용 중인 재료의 자성 평가에는 전자가 유용하다.
가역투자율 측정 장치의 일예로는 본 발명자가 Journal of Magnetism and Magnetic Materials에 발표한 논문 “Nondestructive evaluation of aged 1Cr-1Mo-0.25V steel by harmonic analysis of induced voltage" (JMMM, Volume 231, 2001. 3)에 게재된 바 있다.
상기 논문에서는 인공열화된 1Cr-1Mo-0.25V 강의 기계적 물성인 비터스 경도, 항복강도 및 인장강도를 측정하고, 서피스 타입 프로브로 교류자기장의 제1차 고조파인 가역투자율을 비파괴적으로 측정하고 가역투자율 피크 간의 간격의 1/2인 보자력으로 기계적 특성을 유추할 수 있는 상관관계를 규명하였다.
상기 논문에서 사용한 서피스 타입 프로브로 가역투자율을 측정한 측정시스템을 도 1에 도시하였다.
페라이트 코어(Yoke)에 탐지코일(Pick up coil)을 권선한 후 교류섭동자기장 인가용 코일(AC driving coil)을 권선하며 직류자기장 인가용 코일(DC driving coil)을 권선하여 서피스 타입 프로브를 제작하고 직류는 입출력 신호획득 보드(I/O acquisition board)에서 발생한 파형을 전력증폭기로 전력 증폭하여 인가하고, 교류 자기장은 파형발생기(Function generator)에서 발생한 파형을 인가하였다. 탐지코일에 유도되는 가역투자율은 교류자기장의 주파수를 참조신호(reference signal)로 하여 위상잠금 증폭기(lock-in amplifier)를 이용하여 측정하며, 션트(shunt)와 위상잠금 증폭기로 읽은 값은 입출력 신호획득 보드(I/O acquisition board)의 입력 측을 통하여 측정한 후 컴퓨터에서 테이터 처리하게 된다.
상기와 같은 구조로 된 자기적 특성 측정 장치는 션트(shunt)에서 측정한 전압에서 전류를 구하여 하기 식(1)을 통하여 자기장 H를 간접적으로 계산하는 방식 을 취하게 된다.
Figure 112008047766237-PAT00001
(1)
(n: 단위 길이당 권선수, i는 션트에서 구한 전류, l은 평균자기행로)
상기 식(1)에서와 같이 자기장 H를 산출할 때 간접적인 계산방식을 통해 산출되게 되므로 가역투자율의 측정값이 정확하지 못하게 되며 재료의 열화 평가 또한 신뢰성이 떨어지게 되는 문제점이 있었다.
상기 구조로 된 자기적 특성 측정 장치를 이용하여 도 2에서와 같이 가역투자율 피크 간의 간격(Peak Interval of Reversible Magnetic Permeability: PIRMP)의 1/2인 보자력으로 기계적 특성을 유추할 수 있는 상관관계를 구하였다.
이때, 도 2의 그래프에서와 같이 가역투자율 피크 간의 간격(PIRMP)의 1/2인 보자력의 측정이 이루어지기는 하나, 그래프가 대칭을 이루지 않은 결과값을 가지게 되므로 정확한 기계적 특성을 유추할 수 없다는 단점이 있었다.
본 발명은 상기의 문제점을 해소하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 시편 표면에서 자기장을 직접 측정하여 보다 정확하게 재료의 열화를 평가할 수 있도록 하는 가역투자율 측정 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 가역투자율 측정 장치는 최외측에 감기며 직류자기장이 인가되는 직류자기장 인가용 코일(11)과, 상기 직류자기장 인가용 코일(11)의 내측에 감기며 인가된 직류자기장에 교류섭동자기장을 인가하는 코일(12)과, 상기 교류섭동자기장 인가용 코일(12) 내측에 감기며 유도된 가역투자율을 측정하는 탐지코일(13)과, 상기 코일들(11,12,13)이 감기며 시편(1)과 상기 코일들(11,12,13)을 이격시키는 페라이트 코어(14)로 이루어지는 서피스 타입 프로브(10); 상기 서피스 타입 프로브(10) 내측에 구비되며 상기 시편(1) 표면에서 유도되는 자기장을 감지하는 자기 포텐시오미터(20); 상기 교류섭동자기장 인가용 코일(12)로 교류자기장 파형을 인가시키는 교류파형발생기(30); 상기 교류파형발생기의 주파수를 참조신호로 하여 상기 탐지코일(12)에 유도되는 가역투자율을 측정하는 위상잠금 증폭기(40); 상기 자기 포텐시오미터(20)로부터 감지된 상기 시편(1) 표면에서 유도되는 자기장을 측정하는 자속계(fluxmeter)(50); 상기 직류자기장 인가용 코일(11)에 직류자기장 파형을 인가시키며, 상기 탐지코일(12)에 유도되는 시편의 가역투자율과 상기 자속계(50)에서 측정되는 시편(1)의 표면에서 유도되는 자기장이 입력되는 입출력 신회 획득 보드(I/O acquisition board)(60); 상기 입출력 신호획득 보드(60)로부터 인가된 파형으로 전력을 상기 직류자기장 인가용 코일(11)에 인가시키는 전력증폭기(70); 및 상기 입출력 신호획득 보드(60)에 입력된 상기 탐지코일(13)에 유도되는 시편의 가역투자율과 상기 자속계(50)에서 측정되는 상기 시편(1) 표면에서 유도되는 자기장을 직접 계산하는 마이크로 컴퓨터(80); 를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 자기 포텐시오미터(20)는 상기 페라이트 코어(14) 내측에 구비된 것을 특징으로 한다.
본 발명은 자기장 H를 산출할 때 간접적인 계산방식을 통해 산출되게 되므로 자기장의 측정값이 정확하지 못하게 되며 재료의 열화 평가 또한 신뢰성이 떨어지게 되는 문제점을 개선하여 자기 포텐시오미터(magnetic potentiometer)와 자속계(fluxmeter)를 사용하여 시편 표면에서 발생되는 자기장을 직접 측정함으로써 보다 정확하게 재료의 열화를 평가할 수 있는 효과가 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 가역투자율 측정 장치를 자세히 설명한다.
도 3은 본 발명에 의한 가역투자율 측정 장치를 나타낸 도면이고, 도 4는 본 발명에 의한 가역투자율 측정 장치를 이용하여 가역투자율을 측정한 그래프이다.
도시된 바와 같이 본 발명의 가역투자율 측정 장치는 직류자기장 인가용 코 일(11)과, 교류섭동자기장 인가용 코일(12)과, 탐지코일(13)과, 상기 코일들(11,12,13)이 감기는 페라이트 코어(14)로 이루어지는 서피스 타입 프로브(10); 상기 시편(1) 표면에서 유도되는 자기장을 감지하는 자기 포텐시오미터(20); 상기 교류섭동자기장 인가용 코일(12)로 교류자기장 파형을 인가시키는 교류파형발생기(30); 상기 교류섭동자기장 인가용 코일(12)에 유도되는 시편의 가역투자율을 측정하는 위상잠금 증폭기(40); 상기 시편(1) 표면에서 발생되는 자기장을 측정하는 자속계(fluxmeter)(50); 상기 교류섭동자기장 인가용 코일(12)에 유도되는 시편의 가역투자율과 상기 자속계(50)에서 측정되는 시편(1) 표면에서 유도되는 자기장이 입력되는 입출력 신호획득 보드(60); 전력을 상기 직류자기장 인가용 코일(11)에 인가시키는 전력증폭기(70); 및 상기 탐지코일(13)에 유도되는 시편의 가역투자율과 상기 자속계(50)에서 측정되는 상기 시편(1) 표면에서 유도되는 자기장을 직접 계산하는 마이크로 컴퓨터(80); 를 포함하여 이루어진다.
상기 서피스 타입 프로브(10)는 직류자기장 인가용 코일(11)과, 교류섭동자기장 인가용 코일(12)과, 탐지코일(13) 및 상기 코일들(11,12,13)이 감기는 페라이트 코어(14)로 이루어지며, 상기 페라이트 코어(14)의 내측으로부터 탐지코일(13)과 교류섭동자기장 인가용 코일(12) 및 직류자기장 인가용 코일(11)이 차례로 감긴다.
상기 직류자기장 인가용 코일(11)은 상기 페라이트 코어(14)의 최외측에 감기며 직류자기장이 인가된다. 이때 인가되는 직류자기장은 상기 입출력 신호획득 보드(I/O acquisition board)(60)로부터 직류자기장 파형이 인가되어 이 인가된 직 류자기장 파형으로 상기 전력증폭기(70)를 통하여 인가되게 된다.
상기 교류섭동자기장 인가용 코일(12)은 상기 직류자기장 인가용 코일(11)의 내측에 감기며 인가된 직류자기장에 교류섭동자기장을 유도시키는 역할을 한다.
상기 탐지코일(13)은 상기 교류섭동자기장 인가용 코일(12) 내측에 감기며 직류자기장 및 교류섭동자기장에 의해 유도되는 시편의 가역투자율을 상기 위상잠금 증폭기(40)에 의해 교류섭동자기장의 주파수를 참조신호로 하여 감지한다.
상기 페라이트 코어(14)는 상기 코일들(11,12,13)이 감기며 시편(1)과 상기 코일들(11,12,13)을 이격시키게 된다.
상기 자기 포텐시오미터(20)는 상기 서피스 타입 프로브(10) 내측에 구비되며 상기 시편(1) 표면에서 유도되는 자기장을 감지하는 역할을 한다. 이때, 상기 자기 포텐시오미터(20)는 상기 페라이트 코어(14)의 내측에는 구비되는 것이 바람직하다.
상기 교류파형발생기(Function generator)(30)는 상기 교류섭동자기장 인가용 코일(12)로 교류자기장 파형을 인가시키는 역할을 한다. 상기 직류자기장 인가용 코일(11)로부터 인가된 직류자기장은 상기 교류파형발생기(30)로부터 교류자기장을 인가시킴으로써 교류섭동자기장을 유도시킨다.
상기 위상잠금 증폭기(Lock-in Amplifier)는 교류자기장 파형의 주파수를 참조신호로 하여 상기 탐지코일(12)에 유도되는 시편의 가역투자율을 측정하는 역할을 한다.
상기 자속계(fluxmeter)(50)는 상기 자기 포텐시오미터(20)로부터 감지된 상 기 시편(1) 표면에서 유도되는 자기장을 직접 측정하는 역할을 한다. 이에 따라 본 발명은 시편 표면에서 발생되는 자기장 H를 산출할 때 시편 표면에서 발생되는 자기장을 직접 측정하지 않고 간접적인 계산방식을 통해 산출되게 되는 종래의 방식과는 달리 시편 표면에서 발생되는 자기장을 직접 측정하게 되므로 측정값이 정확하고 재료의 열화 평가 또한 신뢰성이 향상되는 장점이 있다.
상기 입출력 신호획득 보드(I/O acquisition board)(60)는 상기 직류자기장 인가용 코일(11)에 직류자기장 파형을 인가시키며, 상기 탐지코일(13)에 유도되는 가역투자율과 상기 자속계(50)에서 측정되는 시편(1) 표면에서 유도되는 가역투자율이 입력되게 된다.
상기 전력증폭기(70)는 상기 입출력 신호획득 보드(I/O acquisition board)(60)로부터 인가된 파형으로 전력을 상기 직류자기장 인가용 코일(11)에 인가시키는 역할을 한다.
상기 마이크로 컴퓨터(80)는 상기 입출력 신호획득 보드(I/O acquisition board)(60)에 입력된 상기 탐지코일(13)에 유도되는 가역투자율과 상기 자속계(50)에서 측정되는 상기 시편(1) 표면에서 유도되는 자기장을 직접 계산하게 된다.
도 4는 본 발명의 가역투자율 측정 장치를 이용하여 가역투자율을 측정한 그래프로서 직류자기장 변화에 따른 시편의 가역투자율을 측정한 것이다.
도시된 바와 같이, 그래프가 좌우 대칭(symmetry)을 이루는 결과값을 가지게 됨을 알 수 있다. 이와 같이 그래프가 좌우 대칭을 이루게 됨에 따라 가역투자율 피크 간의 간격(PIRMP)의 1/2인 보자력의 측정이 정확히 이루어질 수 있으며, 보다 정확한 기계적 특성을 유추할 수 있게 된다.
도 1은 종래의 가역투자율 측정 장치를 나타낸 도면.
도 2는 종래의 가역투자율 측정 장치를 이용하여 가역투자율을 측정한 그래프.
도 3은 본 발명에 의한 가역추자율 측정 장치를 나타낸 도면.
도 4는 본 발명에 의한 가역투자율 측정 장치를 이용하여 가역투자율을 측정한 그래프.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
1: 시편 10: 서피스 타입 프로브
11: 직류자기장 인가용 코일 12: 교류섭동자기장 인가용 코일
13: 탐지코일 14: 페라이트 코어
20: 자기 포텐시오미터 30: 교류파형발생기
40: 위상잠금 증폭기 50: 자속계
60: 입출력 신호획득 보드 70: 전력증폭기
80: 마이크로 컴퓨터

Claims (2)

  1. 최외측에 감기며 직류자기장이 인가되는 직류자기장 인가용 코일(11)과,
    상기 직류자기장 인가용 코일(11)의 내측에 감기며 인가된 직류자기장에 교류섭동자기장을 인가시키는 교류섭동자기장 인가용 코일(12)과,
    상기 교류섭동자기장 인가용 코일(12) 내측에 감기며 유도된 교류섭동자기장을 탐지하는 탐지코일(13)과,
    상기 코일들(11,12,13)이 감기며 시편(1)과 상기 코일들(11,12,13)을 이격시키는 페라이트 코어(14)로 이루어지는 서피스 타입 프로브(10);
    상기 서피스 타입 프로브(10) 내측에 구비되며 상기 시편(1) 표면에서 유도되는 자기장을 감지하는 자기 포텐시오미터(magnetic potentiometer)(20);
    상기 교류섭동자기장 인가용 코일(12)로 교류자기장 파형을 인가시키는 교류파형발생기(30);
    상기 인가되는 교류섭동자기장의 주파수를 참조신호로 하여 상기 탐지 코일(13)에 유도되는 가역투자율을 측정하는 위상잠금 증폭기(40);
    상기 자기 포텐시오미터(20)로부터 감지된 상기 시편(1) 표면에서 유도되는 자기장을 측정하는 자속계(fluxmeter)(50);
    상기 직류자기장 인가용 코일(11)에 직류자기장 파형을 인가시키며, 상기 교류섭동자기장 인가용 코일(12)에 교류자기장을 인가시키며 상기 자속계(50)에서 측정되는 시편(1) 표면에서 유도되는 자기장이 입력되는 입출력 신호획득 보드(I/O acquisition board)(60);
    상기 입출력 신호획득 보드(60)로부터 인가된 파형으로 전력을 상기 직류자기장 인가용 코일(11)에 인가시키는 전력증폭기(70);
    상기 입출력 신호획득 보드(60)에 입력된 상기 탐지코일(13)에 유도되는 가역투자율과 상기 자속계(50)에서 측정되는 상기 시편(1) 표면에서 발생되는 자기장을 직접 계산하는 마이크로 컴퓨터(80);
    를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 가역투자율 측정 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 자기 포텐시오미터(20)는 상기 페라이트 코어(14) 내측에 구비된 것을 특징으로 하는 가역투자율 측정 장치.
KR1020080063810A 2008-07-02 2008-07-02 가역투자율 측정 장치 KR101001616B1 (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080063810A KR101001616B1 (ko) 2008-07-02 2008-07-02 가역투자율 측정 장치
US13/001,896 US8626470B2 (en) 2008-07-02 2009-07-01 Reversible permeability measuring device
PCT/KR2009/003573 WO2010002184A2 (ko) 2008-07-02 2009-07-01 가역투자율 측정 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080063810A KR101001616B1 (ko) 2008-07-02 2008-07-02 가역투자율 측정 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20100003808A true KR20100003808A (ko) 2010-01-12
KR101001616B1 KR101001616B1 (ko) 2010-12-17

Family

ID=41466462

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020080063810A KR101001616B1 (ko) 2008-07-02 2008-07-02 가역투자율 측정 장치

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8626470B2 (ko)
KR (1) KR101001616B1 (ko)
WO (1) WO2010002184A2 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8821219B2 (en) 2010-01-15 2014-09-02 Siltron Inc. Wafer unloading system and wafer processing equipment including the same
WO2023003325A1 (ko) * 2021-07-21 2023-01-26 한국과학기술원 자기 증분 투자율을 이용한 금속 3d 프린팅 부재 항복강도 계측 방법 및 이를 위한 계측 시스템

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104569876A (zh) * 2015-01-07 2015-04-29 南昌航空大学 一种利用高斯计评价铁磁材料去应力退火效果的方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NO162537C (no) 1986-02-17 1990-01-10 Dam Patent A S Fremgangsmaate og anordning for ikke-destruktiv materialproevning.
JPH04233483A (ja) 1990-12-28 1992-08-21 Aichi Steel Works Ltd 透磁率自動測定装置
JPH06308092A (ja) 1993-04-27 1994-11-04 Toshiba Corp 材料劣化検査装置
JP5050208B2 (ja) 2005-09-02 2012-10-17 国立大学法人東北大学 透磁率測定装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8821219B2 (en) 2010-01-15 2014-09-02 Siltron Inc. Wafer unloading system and wafer processing equipment including the same
WO2023003325A1 (ko) * 2021-07-21 2023-01-26 한국과학기술원 자기 증분 투자율을 이용한 금속 3d 프린팅 부재 항복강도 계측 방법 및 이를 위한 계측 시스템

Also Published As

Publication number Publication date
KR101001616B1 (ko) 2010-12-17
US20110112789A1 (en) 2011-05-12
US8626470B2 (en) 2014-01-07
WO2010002184A3 (ko) 2010-05-06
WO2010002184A2 (ko) 2010-01-07
WO2010002184A9 (ko) 2010-03-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100370238C (zh) 一种测量铁磁性材料内应力的装置
Kypris et al. Experimental verification of the linear relationship between stress and the reciprocal of the peak Barkhausen voltage in ASTM A36 steel
Loisos et al. Critical evaluation and limitations of localized flux density measurements in electrical steels
JP2766929B2 (ja) 非破壊検査装置
KR101001616B1 (ko) 가역투자율 측정 장치
Zhang et al. Identification of the ferromagnetic hysteresis simulation parameters using classic non-destructive testing equipment
Abdallh et al. Local magnetic measurements in magnetic circuits with highly non-uniform electromagnetic fields
CN103439405B (zh) 铁芯与铁氧体芯合成多功能电磁检测传感器及其检测方法
JP6352321B2 (ja) 複合共振法による非接触応力測定方法及びその測定装置
Schoenekess et al. Method to determine tensile stress alterations in prestressing steel strands by means of an eddy-current technique
Liu et al. Stress measurement of ferromagnetic materials using hybrid magnetic sensing
Singh et al. Thickness evaluation of aluminium plate using pulsed eddy current technique
JPH05281063A (ja) 鋼材の張力測定装置
KR20100108034A (ko) 강판의 강도 측정장치 및 측정방법
JPS59112257A (ja) 強磁性材料の非破壊検査方法及び装置
JP6659444B2 (ja) 磁気特性測定用プローブ、磁気特性測定システム、磁気特性測定方法及び劣化評価方法
RU2492459C1 (ru) Магнитоупругий датчик для определения механических напряжений в ферромагнитных материалах
RU117636U1 (ru) Устройство для определения механических напряжений
Sonoda et al. Measurement of fluctuations of magnetized loop in amorphous cores
CN113608154B (zh) 一种原位磁导率检测探头、设备和检测方法
JP2005315732A (ja) 強磁性体の変位測定装置
CN203414440U (zh) 铁芯与铁氧体芯合成多功能电磁检测传感器
CN117572309B (zh) 基于谐波相位偏转的磁粒子谱仪、定量方法和存储介质
Vértesy et al. Nondestructive material evaluation by novel electromagnetic methods
RU179750U1 (ru) Устройство для локального контроля содержания ферромагнитных фаз в аустенитных сталях

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
N231 Notification of change of applicant
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20131105

Year of fee payment: 4

LAPS Lapse due to unpaid annual fee