KR20090125497A - 플라즈마 디스플레이 장치 및 그의 구동 방법 - Google Patents

플라즈마 디스플레이 장치 및 그의 구동 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명의 플라즈마 디스플레이 장치의 구동 방법은 프레임을 구성하는 서브필드들의 가중치에 따라 서스테인 신호의 개수를 할당하는 단계, 상기 서브필드들을 조합하여 상기 조합된 서브필드들로 이루어진 프레임 동안 상기 플라즈마 디스플레이 장치가 방출하는 휘도를 측정하는 단계, 측정된 상기 플라즈마 디스플레이 장치의 최고 휘도에 따라 상기 서브필드들의 조합별 휘도를 정규화하여 기준 정규화 계조를 계산하는 단계 및 상기 기준 정규화 계조들 사이의 중간 계조를 계산하는 단계를 포함한다.
Figure P1020080051639
정규화, 계조, 중간 계조

Description

플라즈마 디스플레이 장치 및 그의 구동 방법{Plasma Display Apparatus and Method for Driving thereof}
본 발명은 플라즈마 디스플레이 장치 및 플라즈마 디스플레이 장치의 구동 방법에 관한 것이다.
일반적인 플라즈마 디스플레이 장치는 화상을 표시하는 플라즈마 디스플레이 패널과 플라즈마 디스플레이 패널에 구동 신호를 공급하는 구동부를 포함한다.
플라즈마 디스플레이 패널은 격벽으로 둘러싸인 방전 공간을 포함하며, 방전 공간 안에 방전 가스가 채워져 있다. 구동부는 방전 공간에 구동 신호를 공급함으로써 플라즈마 디스플레이 패널이 화상을 표시하는데 필요한 방전이 일어나도록 한다.
구동부는 리셋 기간, 어드레스 기간 및 서스테인 기간 동안 플라즈마 디스플레이 패널에 구동 신호를 공급한다. 구동부는 리셋 기간에 방전 공간의 벽전하 상태를 초기화하기 위한 리셋 신호를 공급하고, 어드레스 기간에 빛을 방출할 방전 공간을 선택하기 위한 스캔 신호 및 데이터 신호를 공급한다.
이후 구동부는 선택된 방전 공간으로부터 빛을 방출시키기 위한 서스테인 신 호를 공급한다. 서스테인 신호가 공급되면 어드레스 기간 동안 선택된 방전 공간으로부터 빛이 방출됨으로써 플라즈마 디스플레이 패널에 화상이 표시된다.
구동부가 어드레스 기간에 데이터 신호를 공급하기 위하여 외부에서 입력된 영상 신호는 이미지 프로세싱을 통하여 플라즈마 디스플레이 장치가 해당 영상을 표시하기에 적절하도록 변환되어야 한다.
본 발명은 간단한 이미지 프로세싱을 수행하기 위한 플라즈마 디스프레이 장치 및 플라즈마 디스플레이 장치의 구동 방법을 제공하기 위한 것이다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 발명의 플라즈마 디스플레이 장치의 구동 방법은 프레임을 구성하는 서브필드들의 가중치에 따라 서스테인 신호의 개수를 할당하는 단계, 상기 서브필드들을 조합하여 상기 조합된 서브필드들로 이루어진 프레임 동안 상기 플라즈마 디스플레이 장치가 방출하는 휘도를 측정하는 단계, 측정된 상기 플라즈마 디스플레이 장치의 최고 휘도에 따라 상기 서브필드들의 조합별 휘도를 정규화하여 기준 정규화 계조를 계산하는 단계 및 상기 기준 정규화 계조들 사이의 중간 계조를 계산하는 단계를 포함한다.
본 발명의 플라즈마 디스플레이 장치는 역감마 보정된 영상 신호와, 기준 정규화 계조를 비교하여 영상 신호의 정수부 계조를 계산하는 제1 계산부, 역감마 보정된 영상 신호의 계조와 상기 기준 정규화 계조를 비교하여 상기 역감마 보정된 영상 신호의 계조에 해당하는 소수부 계조를 계산하는 제2 계산부 및 상기 제1 계 산부 및 상기 제2 계산부로부터 상기 정수부 계조와 상기소수부 계조를 입력받아 실제 계조를 계산하고 상기 소수부 계조에 대한 하프토닝을 수행하여 최종 계조를 출력하는 하프톤부를 포함하며,상기 기준 정규화 계조는 상기 서브필드들을 조합하여 상기 조합된 서브필드들로 이루어진 프레임 동안 상기 플라즈마 디스플레이 장치가 방출하는 휘도를 측정하고, 상기 측정된 플라즈마 디스플레이 장치의 최고 휘도에 따라 상기 서브필드들의 조합별 휘도를 정규화하여 된다.
본 발명의 플라즈마 디스플레이 장치 및 구동 방법은 패널 및 구동부의 특성에 따라 계조 표현을 할 수 있다.
기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치를 나타낸 것이다. 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동 신호를 나타낸 것이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치는 플라즈마 디스플레이 패널(100), 제1 구동부(110), 제2 구동부(120), 제3 구동부(130) 및 콘트롤러(140)를 포함한다.
플라즈마 디스플레이 패널(100)은 소정 간격만큼 거리를 두고 결합된 상부 패널(미도시)과 하부 패널(미도시)을 포함한다. 플라즈마 디스플레이 패널(100)의 상부 패널은 서로 나란한 제1 전극(Y1~Yn)과 제2 전극(Z1~Zn)을 포함하고, 플라즈마 디스플레이 패널(100)의 하부 패널은 제1 전극(Y1~Yn) 및 제2 전극(Z1~Zn)과 교차하는 하나 이상의 제3 전극(X1~Xm)을 포함한다. 플라즈마 디스플레이 패널(100)은 제1 전극(Y1~Yn) 및 제2 전극(Z1~Zn)과, 제3 전극(X1~Xm)이 교차하는 영역에 해당하는 방전 셀(C)을 포함한다.
제1 구동부(110)는 리셋 기간의 셋업 기간에 기준 전압부터 제1 전압(V1)까지 점진적으로 상승하는 셋업 신호를 제1 전극(Y1~Yn)에 공급한다. 기준 전압은 그라운드 전압(GND)일 수 있다. 셋업 신호의 공급에 따라 제1 전극(Y1~Yn) 상에는 충분한 벽전하가 형성된다.
셋업 신호의 공급 후 제1 구동부(110)는 제2 전압(V2)까지 점진적으로 하강하는 셋다운 신호를 제1 전극(Y1~Yn)에 공급한다. 이에 따라 제1 전극(Y1~Yn) 상에는 셋업 기간에 형성된 벽전하 중 일부가 소거되어 어드레스 방전이 일어나기에 적당한 벽전하가 형성된다.
어드레스 기간에 제1 구동부(110)는 스캔 전압(-Vy)까지 하강하는 스캔 신호를 제1 전극(Y1~Yn)에 공급하고, 제3 구동부(130)는 데이터 전압(Vd)까지 상승하는 데이터 신호를 제3 전극(X1~Xm)에 공급한다. 이에 따라 빛을 방출할 방전 셀을 선택하기 위한 어드레스 방전이 일어난다.
제2 구동부(120)는 어드레스 기간에 서스테인 바이어스 전압(Vbias)을 제2 전극(Z1~Zn)에 공급함으로써 제1 전극(Y1~Yn)과 제3 전극(X1~Xn) 사이의 어드레스 방전이 원활하게 이루어지도록 한다. 서스테인 바이어스 전압(Vbias)은 셋다운 기간과 어드레스 기간에 공급될 수도 있다.
서스테인 기간에 제1 구동부(110)와 제2 구동부(120)는 선택된 방전 셀로부터 빛을 방출시키기 위하여 제1 전극(Y1~Yn) 및 제2 전극(Z1~Zn)의 전압차가 서스테인 전압(Vs)이 되도록 하는 서스테인 신호를 공급한다.
콘트롤러(140)는 제1 구동부(110) 내지 제3 구동부(130)의 동작을 제어하고 외부에서 입력된 영상 신호를 제3 구동부(130)가 공급하는 데이터 신호에 맞도록 이미지 프로세싱을 수행한다.
도 3은 도 1에 도시된 콘트롤러(140)를 나타낸 것이다. 도 3에 도시된 바와 같이, 콘트롤러(140)는 역감마 보정부(141), 메모리부(142), 제1 계산부(143), 제2 계산부(144), 하프톤부(145), 및 서브필드 매핑부(146)를 포함한다.
역감마 보정부(141)는 외부에서 입력된 영상 신호에 대한 역감마 보정을 실행한다. 본 발명의 실시예에서는 역감마 보정부(141)에 의하여 역감마 보정이 실행되나 역감마 보정된 영상 신호가 직접 제1 계산부(143) 및 제2 계산부(145)에 공급될 수도 있다.
메모리부(142)는 기준 서브필드 코드 및 APL에 따른 기준 정규화 계조를 저장한다. 기준 정규화 계조는 이후 도면을 참조하여 설명된다. 도 4를 참조하여 본 발명의 실시예에서의 계조 표현 방법이 설명된다.
도 4에 도시된 바와 같이, 프레임을 구성하는 서브필드들의 가중치에 따라 서스테인 신호의 개수가 할당된다(S410).
서브필드들의 가중치에 따라 서스테인 신호가 할당된다. 예를 들어, 전체 서스테인 신호의 개수가 1023 개인 경우 서브필드 SF1에는 한 개의 서스테인 신호가 할당되고 서브필드 SF10에는 512 개의 서스테인 신호가 할당될 수 있다.
다음으로 도 4에 도시된 바와 같이, 하나의 프레임을 구성하는 서브필드들의 조합들 중 일부의서브필드 조합이 선택된다(S420). 즉, 기준 서브필드 코드의 개수는 프레임을 구성하는 전체 서브필드를 통하여 형성되는 조합의 개수보다 작다. 예를 들어, 도 5에 도시된 바와 같이 프레임이 10개의 서브필드들로 이루어진 경우 10개의 서브필드들을 통하여 형성되는 조합의 개수는 1024 개이며, 기준 서브필드 코드의 개수는 1024 개보다 작다.
전체 서브필드들의 조합들이 이용될 경우 서브필드 코드를 저장하기 위한 메모리 용량이 증가하고 계산량이 증가한다. 따라서 본 발명의 실시예에서는 전체 서브필드들의 조합들 중 일부만을 이용함으로써 서브필드 코드의 저장 용량과 계산량을 줄인다. 이 때 전체 서브필드들의 조합들 중 이용되는 일부의 조합은 임의로 선택될 수 있다.
이와 같이 전체 서브필드들의 조합들 중 일부만이 이용될 경우 각 기준 서브필드 코드 사이에서 제거되는 서브필드 조합의 개수는 같을 수 있다. 예를 들어, 기준 서브필드 코드 0과 1 사이에서 제거되는 서브필드 조합의 개수는 기준 서브필드 코드 1와 2 사이에서 제거되는 서브필드 조합의 개수 및 기준 서브필드 코드 2과 3 사이에서 제거되는 서브필드 조합의 개수와 같을 수 있다.
이와 같이 각 기준 서브필드 코드 사이에서 제거되는 서브필드 조합의 개수가 같을 경우 도 5와 같은 테이블의 형성이 용이하다.
도 4에 도시된 바와 같이, 선택된 서브필드의 조합으로 이루어진 프레임 동안 플라즈마 디스플레이 장치가 방출하는 휘도가 실측된다(S430).
이와 같이 일부 서브필드 조합이 선택된 후 도 5와 같이 조합된 서브필드들로 이루어진 프레임 동안 플라즈마 디스플레이 장치가 방출하는 휘도가 실측되고, 실측된 휘도가 도 5기준 서브필드 코드에 매칭된다. 예를 들어, 기준 서브필드 코드 1의 서브필드 조합은 서브필드 SF1이 턴온되고 나머지 서브필드 SF2 내지 SF10는 턴오프되는 경우에 해당한다. 또한 기준 서브필드 코드 m-1의 서브필드 조합은 서브필드 SF1이 턴오프되고 나머지 서브필드 SF2 내지 SF10는 턴온되는 경우에 해당한다.
조합된 서브필드들로 이루어진 프레임 동안 플라즈마 디스플레이 장치에서 방출되는 휘도(Lum-0, Lum-1, ……, Lum-(m-1), Lum-m)가 측정되고, 측정된 휘도가 각 기준 서브필드 코드(N)에 매칭된다. 예를 들어, 기준 서브필드 코드 3 (N = 3)에 해당하는 서브필드들, 즉, 서브필드 SF1 및 SF2가 턴온되고 서브필드 SF3 내지 SF10는 턴오프되는 동안 플라즈마 디스플레이 장치에서 방출되는 휘도가 휘도 측정 장치(미도시)에 의하여 실측될 수 있다.
또한, 기준 서브필드 코드에 해당하는 서브필드들로 이루어진 복수 개의 프레임 동안 휘도가 측정될 수도 있다. 예를 들어, 기준 서브필드 코드 3 (N = 3)에 해당하는 서브필드들로 이루어진 a 개의 프레임들 동안 휘도가 측정된 후 측정된 휘도를 a로 나누어 하나의 프레임 동안 방출되는 휘도가 계산될 수도 있다.
이 때, 하나 이상의 프레임 동안 측정되는 휘도에는 각 서브필드의 서스테인 기간뿐만 아니라 리셋 기간 및 어드레스 기간에서 방출되는 휘도도 포함된다.
이와 같이 하나 이상의 프레임 동안 플라즈마 디스플레이 장치에서 방출되는 휘도가 측정되므로 플라즈마 디스플레이 패널의 특성이나 구동부의 특성에 따라 각 기준 서브필드 코드 별 휘도가 달라질 수 있다. 즉, 동일한 기준 서브필드 코드일지라도 플라즈마 디스플레이 패널의 특성이나 구동부의 특성에 따라 휘도가 달라질 수 있다. 따라서 본 발명의 실시예에서와 같이 각 기준 서브필드 코드 별 휘도가 실측됨으로써 플라즈마 디스플레이 패널의 특성이나 구동부의 특성에 따른 정교한 계조 표현이 가능해진다.
또한 위와 같은 이유로 기준 서브필드 코드에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 휘도 실측은 모델링을 이용한 휘도의 계산에 비하여 보다 정교한 계조 표현이 가능하다. 즉, 플라즈마 디스플레이 패널의 휘도 계산을 위한 모델링은 하나의 리셋 신호의 공급에 의한 휘도, 스캔 신호 및 어드레스 신호의 공급에 의한 휘도, 하나의 서스테인 신호의 공급에 의한 휘도가 플라즈마 디스플레이 패널이나 구동부의 특성에 대한 고려없이 적용된다.
예를 들어, 동일한 서브필드 조합에 대한 휘도를 계산하기 위하여 각 구동 신호의 표준화된 휘도가 적용될 경우 특성이 서로 다른 플라즈마 디스플레이 패널일지라도 동일한 휘도가 방출되는 것으로 계산될 수 있다.
한가지 예를 더 들자면 모델링을 통한 휘도 계산에서는 이미 휘도가 계산된 서스테인 신호가 n 회 공급되었을 때 패널의 휘도는 n 배 상승하는 것으로 계산되 나, 플라즈마 디스플레이 패널의 형광체가 방출할 수 있는 광량은 선형적으로 증가하지 않을 뿐만 아니라 특정 개수 이상의 서스테인 신호가 공급될 때 포화된다. 따라서 본 발명의 실시예서와 같이 패널의 휘도가 실측되면 보다 정확한 계조 표현이 가능해진다.
그러나 본 발명의 실시예서와 같이 기준 서브필드 코드의 서브필드 조합에 따라 플라즈마 디스플레이 패널의 휘도가 실측될 경우 패널또는 구동부의 특성에 따른 정확한 휘도를 구할 수 있다.
이상에서 설명된 바와 같이 본 발명의 실시예에서는 서브필드 조합이 선택된 후 선택된 조합에 대한 휘도가 실측된다. 즉, 하나의 프레임을 구성하는 전체 서브필드의 조합을 형성한 후 각 조합ㅎ에 대한 휘도를 측정하는 것에 비하여 효율적으로 도 5와 같은 테이블이 형성될 수 있다.
또한 도 6에 도시된 바와 같이 기준 서브필드 코드와 APL(Average Picture Level) 별 휘도가 측정될 수도 있다. 즉, 프레임의 APL 에 따라 공급되는 서스테인 신호의 개수가 달라지므로 프레임을 구성하는 서브필드에 할당되는 서스테인 신호의 개수 역시 달라진다. 이에 따라 특정 APL에서 각 기준 서브필드 코드의 서브필드들에 서스테인 신호가 할당되면, 한 프레임 동안 플라즈마 디스플레이 장치에서 방출되는 휘도(Lum-0, Lum-1, ……, Lum-(m-1), Lum-m)이 측정된다. 이와 같이 APL에 따른 휘도가 측정됨으로써 플라즈마 디스플레이 장치의 동작시 세밀한 계조 표현이 가능하다.
다음으로 도 4에 도시된 바와 같이, 측정된 플라즈마 디스플레이 장치의 최 고 휘도에 따라 서브필드들의 조합별 휘도가 정규화되어 기준 정규화 계조가 계산된다(S430). 즉, 도 6의 특정 APL에서 각 기준 서브필드 코드 별 휘도에 대한 정규화가 다음의 수학식1을 통하여 이루어진다.
NGL(x) = (Lum x / Lum m) × 최대 표현 계조수
NGL(x)는 특정 APL의 x 번째 기준 서브필드 코드에서의 기준 정규화 계조, Lum m는 특정 APL에서의 최대 휘도, 및 Lum x는 특정 APL에서의 x 번째 기준 서브필드 코드의 휘도이다.
이 때 최대 표현 계조수는 입력되는 계조 정보의 비트수에 따라 달라질 수 있다. 예를 들어 입력되는 계조 정보가 16 비트인 경우, 최대 표현 계조수는 216 이다. 또한 m 번째 기준 서브필드 코드의 경우 모든 서브필드가 턴온되므로 m 번째 기준 서브필드 코드에서 최대 휘도가 발생된다.
도 7은 수학식 1을 통하여 계산된 기준 정규화 계조를 나타낸 것이다. 기준 정규화 계조는 최대 표현 계조수에 의하여 계산되므로 최대 표현 계조수의 비트수와 기준 정규화 계조의 비트수는 서로 같다. 앞서 설명된 바와 같이 도 7의 기준 정규화 계조는 메모리부(142)에 저장될 수도 있고, 도 8과 같이 메모리부(142)가 아닌 계조 계산부(153)에 의하여 제공될 수도 있다.
이와 같이 기준 정규화 계조가 계산되면, 도 4에 도시된 바와 같이,기준 정규화 계조들 사이의 중간 계조가 계산된다(S440).
도 3의 제1 계산부(143)는 역감마 보정부(141)로부터 입력된 영상 신호와 메모리부(142)에 저장되거나 계조 계산부(153)로부터 제공된 기준 정규화 계조를 비교하여 영상 신호의 정수부 계조(GI)를 계산한다. 이 때, 제1 계산부(143)는 다음의 수학식 2를 통하여 정수부 계조(GI)를 계산한다.
NGL(x) ≤ GREYRE < NGL(x+1)
GREYRE는 역감마 보정부로부터 입력된 영상 신호의 계조, NGL(x)는 GREYRE보다 작거나 같은 기준 정규화 계조, 그리고 NGL(x+1)는 GREYRE보다 큰 기준 정규화 계조이다.
즉, 제1 계산부(143)는 역감마 보정부(141)로부터 영상 신호의 계조를 입력받아 도 7의 기준 정규화 계조들과 영상 신호의 계조를 비교하여 영상 신호의 계조보다 작거나 같은 기준 정규화 계조(NGL(x))와, 영상 신호의 계조보다 큰 기준 정규화 계조(NGL(x+1))를 선택한다. 그런 다음 제1 계산부(143)는 기준 정규화 계조(NGL(x))를 정수부 계조(GI)로 설정한다.
예를 들어, APL 0에서 역감마 보정부(141)로부터 입력된 16 비트 영상 신호(GREYRE)의 계조가 700 이라면, 영상 신호(GREYRE) 700은 NGL(2)(= 595)보다 크고 NGL(3)(= 827)보다 작으므로 영상 신호(GREYRE) 700의 정수부 계조(GI)는 NGL(2)(= 595)이다.
제2 계산부(144)는 역감마 보정부(141)로부터 입력된 영상 신호의 계조(GREYRE)와 기준 정규화 계조를 비교하여 영상 신호의 계조(GREYRE)에 해당하는 소수부 계조(GD)를 계산한다. 이 때, 제2 계산부(144)는 다음의 수학식 3를 통하여 소수부 계조(GD)를 계산한다.
GD = (GREYRE - NGL(x))/ (NGL(x+1) - NGL(x))
수학식 2에서와 마찬가지로 GREYRE는 역감마 보정부로부터 입력된 영상 신호의 계조, NGL(x)는 GREYRE보다 작거나 같은 기준 정규화 계조, 그리고 NGL(x+1)는 GREYRE보다 큰 기준 정규화 계조이다.
즉, 제2 계산부(144)는 역감마 보정부(141)로부터 영상 신호를 입력받아 도 7의 기준 정규화 계조들과 영상 신호의 계조를 비교하여 영상 신호의 계조보다 작거나 같은 기준 정규화 계조(NGL(x))와, 영상 신호의 계조보다 큰 기준 정규화 계조(NGL(x+1))를 선택한다. 그런 다음 제2 계산부(144)는 수학식 3을 통하여 소수부 계조(GI)를 계산한다.
예를 들어, APL 0에서 역감마 보정부(141)로부터 입력된 영상 신호의계조(GREYRE)가 700 이라면 영상 신호의 계조(GREYRE) 700은 NGL(2)(= 595)보다 크고 NGL(3)(= 827)보다 작으므로 제2 계산부(144)는 NGL(2) (= 595), NGL(3) (= 827) 및 수학식 3을 통하여 소수부 계조(GD)를 계산한다.
하프톤부(145)는 제1 계산부(143) 및 제2 계산부(144)로부터 정수부 계조(GI)와 소수부 계조(GD)를 입력받아 특정 APL에서 실제 계조를 계산하고 소수부 계조(GD)에 대한 하프토닝을 수행한다. 즉, 하프톤부(145)는 다음의 수학식 4를 통하여 특정 APL에서 실제 계조(GR)를 계산한다.
GR = GI + GD = NGL(x) + (GREYRE - NGL(x))/ (NGL(x+1) - NGL(x))
즉, 소수부 계조(GD)가 0이 아닐 경우 실제 계조(GR)는 인접한 두 개의 정수부 계조(GI) 사이에 존재하므로 도 9에 도시된 바와 같이 중간 서브필드 코드(IN)는 인접한 두 개의 정수부 계조(GI)인 NGL(x)와 NGL(x+1)의 기준 서브필드 코드들 사이에 위치한다. 따라서 소수부 계조(GD)가 0이 아닌 경우 실제 계조(GR)는 기준 정규화 계조들 사이의 중간 계조이다.
실제 계조(GR)가 중간 서브필드 코드(IN)에 해당할 경우 중간 서브필드 코드(IN)는 소수부 계조(GD)를 포함하므로 하프톤부(145)는 제2 계산부(144)로부터 입력된 소수부 계조(GD)에 대하여 디더링 또는 오차 확산 중 적어도 하나를 수행하여 최종 계조(GF)로 변환시켜 출력한다. 이 때 최종 계조(GF)의 개수는 플라즈마 디스 플레이 패널(100)이 표시할 수 있는 계조수와 같다. 예를 들어, 플라즈마 디스플레이 패널(100)이 256 계조로 화상을 표시할 수 있다면 최종 계조(GF)의 개수는 256이다.
서브필드 매핑부(146)는 최종 계조(GF)에 따라 서브필드 매핑을 수행한다. 이 때 서브필드 매핑부(146)는 도 10에 도시된 최종 계조에 따른 서브필드 매핑 테이블를 이용하여 서브필드를 매핑한다. 앞서 설명된 바와 같이 최종 계조(GF)의 개수는 플라즈마 디스플레이 패널(100)이 표시할 수 있는 계조수와 같으므로, 도 10에 도시된 바와 같이, 최종 계조(GF)와 서브필드 매핑 코드가 동일할 수 있다. 따라서 별도의 계산없이 최종 계조(GF)를 해당 서브필드 코드로 직접 매핑할 수 있다. 서브필드 매핑 코드는 플라즈마 디스플레이 패널(100)이 표시할 수 있는 계조를 형성하기 위한 서브필드의 조합에 해당하는 코드이다.
서브필드 매핑이 완료되면 매핑된 서브필드 동안 최종 영상 신호가 제3 구동부(130)에 공급되고, 제3 구동부(130)는 최종 영상 신호에 해당하는 데이터 신호를 어드레스 기간에 플라즈마 디스플레이 패널(100)의 제3 전극(X1~Xm)에 공급한다. 이로써 광이 방출되는 방전 셀이 선택된다.
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그 러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 하고, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치를 나타낸 것이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동 신호를 나타낸 것이다.
도 3은 도 1의 콘트롤러를 나타낸 것이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 계조 표현 방법을 나타낸다.
도 5는 기준 서브필드 코드 별 휘도를 나타낸 것이다.
도 6는 기준 서브필드 코드 및 APL 별 휘도를 나타낸 것이다.
도 7은 특정 APL에서 각 기준 서브필드 코드 별 휘도에 대한 기준 정규화 계조를 나타낸 것이다.
도 8은 도 1의 콘트롤러의 다른 예를 나타낸 것이다.
도 9은 특정 APL에서 실제 계조별 휘도를 나타낸 것이다.
도 10는 최종 계조에 따른 서브필드 매핑 테이블을 나타낸 것이다.

Claims (13)

  1. 영상을 표시하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동 방법에 있어서,
    프레임을 구성하는 서브필드들의 가중치에 따라 서스테인 신호의 개수를 할당하는 단계;
    상기 서브필드들의 조합들 중 일부의 서브필드 조합을 선택하는 단계;
    상기 선택된 서브필드의 조합으로 이루어진 프레임 동안 상기 플라즈마 디스플레이 장치가 방출하는 휘도를 실측하는 단계;
    실측된 상기 플라즈마 디스플레이 장치의 최고 휘도에 따라 상기 서브필드들의 조합별 휘도를 정규화하여 기준 정규화 계조를 계산하는 단계; 및
    상기 기준 정규화 계조들 사이의 중간 계조를 계산하는 단계
    를 포함하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 중간 계조에 대한 하프토닝을 수행하여 최종 계조를 출력하는 단계를 더 포함하고, 상기 최종 계조는 서브필드 매핑 코드와 동일한 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 최종 계조의 개수는 상기 플라즈마 디스플레이 장치가 표시할 수 있는 계조수와 같은 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동 방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 조합된 서브필드들로 이루어진 복수의 프레임 동안 상기 플라즈마 디스플레이 장치가 방출하는 휘도를 측정한 후 측정된 휘도를 프레임 개수로 나누는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동 방법.
  5. 제1항에 있어서,
    특정 APL에서 상기 조합된 서브필드들로 이루어진 프레임 동안 상기 플라즈마 디스플레이 장치가 방출하는 휘도를 측정하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동 방법.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 기준 정규화 계조는 다음의 수학식에 의하여 계산되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동 방법.
    NGL(x) = (Lum x / Lum m) × 최대 표현 계조수
    NGL(x) : x 번째 서브필드 조합에서의 기준 정규화 계조, Lum m : 최대 휘도, Lum x : x 번째 서브필드 조합에서의 휘도.
  7. 제1항에 있어서,
    다음의 수학식을 통하여 실제 계조가 계산되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동 방법.
    GR = NGL(x) + (GREYRE - NGL(x))/ (NGL(x+1) - NGL(x))
    GR : 실제 계조, NGL(x) : x 번째 서브필드 조합에서의 기준 정규화 계조, NGL(x+1) : x+1 번째 서브필드 조합에서의 기준 정규화 계조, GREYRE : 영상 신호의 계조
  8. 서브필드들로 이루어진 프레임 동안 영상을 표시하는 플라즈마 디스플레이 장치에 있어서,
    역감마 보정된 영상 신호와, 기준 정규화 계조를 비교하여 영상 신호의 정수부 계조를 계산하는 제1 계산부;
    역감마 보정된 영상 신호의 계조와 상기 기준 정규화 계조를 비교하여 상기 역감마 보정된 영상 신호의 계조에 해당하는 소수부 계조를 계산하는 제2 계산부; 및
    상기 제1 계산부 및 상기 제2 계산부로부터 상기 정수부 계조와 상기소수부 계조를 입력받아 실제 계조를 계산하고 상기 소수부 계조에 대한 하프토닝을 수행하여 최종 계조를 출력하는 하프톤부를 포함하며,
    상기 기준 정규화 계조는
    상기 서브필드들의 조합 중 일부 서브필드 조합을 선택하여 상기 선택된 서브필드 조합으로 이루어진 프레임 동안 상기 플라즈마 디스플레이 장치가 방출하는 휘도를 실측하고, 상기 실측된 플라즈마 디스플레이 장치의 최고 휘도에 따라 상기 서브필드들의 조합별 휘도를 정규화하여 계산되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 기준 정규화 계조를 저장하는 메모리부 또는 상기 기준 정규화계조를 제공하는 계조 계산부를 더 포함하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 최종 계조는 서브필드 매핑 코드와 동일한 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 최종 계조의 개수는 상기 플라즈마 디스플레이 패널이 표시할 수 있는 계조수와 같은 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  12. 제8항에 있어서,
    상기 정규화 계조는
    상기 조합된 서브필드들로 이루어진 복수의 프레임 동안 상기 플라즈마 디스플레이 패널이 방출하는 휘도를 측정한 후 측정된 휘도를 프레임 개수로 나누고, 상기 측정된 플라즈마 디스플레이 장치의 최고 휘도에 따라 상기 서브필드들의 조합별 휘도를 정규화하여 계산되는 것는 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  13. 제8항에 있어서,
    상기 정규화 계조는
    특정 APL에서 상기 조합된 서브필드들로 이루어진 프레임 동안 상기 플라즈마 디스플레이 장치가 방출하는 휘도를 측정하고, 상기 측정된 플라즈마 디스플레이 장치의 최고 휘도에 따라 상기 서브필드들의 조합별 휘도를 정규화하여 계산되는 것는 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 장치.
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