KR20090093847A - 회전 기계의 이상 검출 시스템 및 회전 기계의 이상 검출 방법 - Google Patents

회전 기계의 이상 검출 시스템 및 회전 기계의 이상 검출 방법

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KR20090093847A
KR20090093847A KR1020090016173A KR20090016173A KR20090093847A KR 20090093847 A KR20090093847 A KR 20090093847A KR 1020090016173 A KR1020090016173 A KR 1020090016173A KR 20090016173 A KR20090016173 A KR 20090016173A KR 20090093847 A KR20090093847 A KR 20090093847A
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ground
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사메흐 라마단 살렘
쉐퍼드 살롱
마다부시 벤카타크리쉬나마 하리
권오문
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제너럴 일렉트릭 캄파니
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Abstract

본 발명의 실시예는 회전 기계(110)에서의 회전자(150) 자계 지락을 검출하기 위한 방법 및 시스템을 구비할 수 있다. 일 실시예에서, 이 시스템은 그 내부에 복수의 계자 권선(160)이 배치되는 회전 기계(110)의 회전자(150), 및 그 내부에 복수의 고정자 권선(170)이 배치되는 회전 기계(110)의 고정자(140)를 구비할 수 있으며, 상기 회전자(150)와 상기 고정자(140) 사이에는 에어 갭(120)이 존재한다. 상기 시스템은 상기 회전자(150)와 지면 사이에 적어도 일시적으로 연결되는 고-임피던스 접지 회로를 구비할 수 있다. 또한, 상기 시스템은 회전 기계(110)의 작동 중에 에어 갭(120)에 발생한 자속 밀도를 측정하기 위해 회전자(150)와 고정자(140) 사이에 적어도 일시적으로 설치되는 에어 갭 자속 탐침(130)을 구비할 수 있다. 마지막으로, 상기 시스템은 에어 갭 자속 탐침(130)의 출력을 수용하기 위해 에어 갭 자속 탐침(130)과 전기 통신되는 분석기(200)를 추가로 구비할 수 있다.

Description

회전 기계의 이상 검출 시스템 및 회전 기계의 이상 검출 방법{METHODS AND SYSTEMS FOR DETECTING ROTOR FIELD GROUND FAULTS IN ROTATING MACHINERY}
본 발명은 일반적으로 회전 기계에 관한 것이며, 보다 구체적으로는 회전 기계에서의 회전자 자계 지락(地絡: ground faults)을 검출하기 위한 방법 및 시스템에 관한 것이다.
기계 에너지를 전기 에너지로 변환하기 위한 발전기와 같은 회전 기계는 통상 회전자와 같은 회전 부품 및 고정자와 같은 고정 부품을 구비한다. 회전자 및 고정자에서의 자기장의 상호작용은 전력을 발생하는데 사용된다.
높은 교류(AC) 출력 파워는 종래에, 정류자로서 작동하는 고정자 내에서 발생한다. 회전자는 다중 계자 권선(field windings)을 구비하는 바, 종래의 발전기에서 이는 일반적으로 회전자 내의 전도성 와이어 또는 바아의 배치이다. 회전자 내의 계자 권선은 일반적으로, 회전자의 외주 둘레의 슬롯에 배치되는 전도성 코일 바아 또는 케이블(본 명세서에서는 일괄해서 코일 바아로 지칭함)의 환형 어레이이다. 코일 바아는 일반적으로 회전자의 길이를 따라서 종방향으로 연장되며, 회전자의 각 단부에서 엔드 턴(end turn)에 의해 연결된다. 절연체가 통상 회전자의 코일 바아 및/또는 엔드 턴을 분리시킨다. 여기 회로가 회전자의 코일 바아에 직류(DC)를 인가한다.
코일 바아 및/또는 엔드 턴을 분리시키는 절연체는 경우에 따라 파괴되어 코일 바아 또는 턴 사이에 단락을 초래할 수도 있다[본 명세서에서 단락 턴(shorted turn)으로도 지칭됨]. 이들 단락 턴은 정지 상태로 존재할 수 있거나, 또는 로드(load) 하의 회전자의 원심력의 결과로서 초래될 수 있다. 또한, 코일 부품들은 계자 권선을 고정자에 단조 접합(forge)시켜, 접지 상태(본 명세서에서 지락으로도 지칭됨)를 초래할 수도 있다. 이들 지락은 마찬가지로 정지 상태로 존재할 수도 있지만, 통상은 로드 하의 회전자의 원심력에 의해 초래된다.
단락 턴 및 지락은 결국 턴에서의 전력 소모를 변화시키며, 이는 다시 회전자의 불균일한 가열, 및 열에 의해 유도되는 뒤틀림 및 진동을 초래할 수도 있다. 따라서, 단락 턴 및 지락에 의해 초래되는 고비용 정비 위험은 정확하고 특수한 검출을 촉구한다.
오늘날의 회전 기계 고장 검출 시스템은 단락 턴을 검출 및 탐지하기 위해 에어 갭 자속 탐침(flux probe)을 사용할 수 있다. 에어 갭 자속 탐침은 자계 회전자 내의 각 슬롯이 에어 갭 자속 탐침과 연관된 서치 코일(search coil)을 지나갈 때의 반경방향 및 접선방향 자속의 변경 속도를 감지한다. 에어 갭 자속 탐침의 서치 코일은 통상 회전자의 표면에 근접하여 배치되며, 회전자는 코일을 통과하고, 자속 누설은 코일 내에 전압을 유도한다. 이들 전압은 비정형 자속 특징을 식별하기 위해 감시될 수 있다. 그러나, 아직까지 어떤 시스템도, 유사하게 회전자 내의 지락을 검출 및 탐지하고 탐지된 지락을 단락 턴과 식별하기 위해 에어 갭 자속 탐침을 활용하고 있지 않다.
따라서, 회전 기계에서의 회전자 자계 지락을 검출할 수 있는 시스템 및 방법이 요구되고 있다.
또한, 회전 기계에서의 회전자 자계 지락을 탐지할 수 있는 시스템 및 방법도 요구되고 있다.
본 발명의 실시예는 전술한 과제의 일부 또는 전부를 해결할 수 있다.
본 발명의 하나의 예시적인 실시예에 따르면, 회전 기계에서의 이상을 검출하기 위한 시스템이 제공된다. 이 시스템은 그 내부에 복수의 계자 권선이 배치되는 회전 기계의 회전자를 구비할 수 있다. 상기 시스템은 그 내부에 복수의 고정자 권선이 배치되는 회전 기계의 고정자를 추가로 구비할 수 있다. 회전자와 고정자 사이에는 에어 갭이 존재한다. 상기 시스템은 회전자와 지면 사이에 적어도 일시적으로 연결되는 고-임피던스 접지 회로를 구비할 수 있다. 또한, 상기 시스템은 회전 기계의 작동 중에 에어 갭에 발생한 자속 밀도를 측정하기 위해 회전자와 고정자 사이에 적어도 일시적으로 설치되는 에어 갭 자속 탐침을 구비할 수 있다. 최종적으로, 상기 시스템은 에어 갭 자속 탐침의 출력을 수용하기 위해 에어 갭 자속 탐침과 전기 통신되는 분석기(analyzer)를 추가로 구비할 수 있다.
본 발명의 다른 예시적인 실시예에 따르면, 회전 기계에서의 이상을 검출하기 위한 방법이 제공된다. 이 방법은 회전 기계의 회전자와 고정자 사이에 존재하는 에어 갭 내에 에어 갭 자속 탐침을 회전자에 근접하여 설치하는 단계와, 회전 기계를 적어도 부분적인 로드로 작동시키는 단계와, 전류의 적어도 일부를 회전자 내에 배치된 복수의 계자 권선 중 적어도 하나에 존재하는 지락으로 우회시킬 수 있는 고-임피던스 접지 회로를 회전자와 지면 사이에 적어도 일시적으로 설치하는 단계를 포함할 수 있다. 상기 방법은 고-임피던스 접지 회로가 회전자에 걸쳐서 일시적으로 설치되어 있는 동안 회전 기계에 의해 발생된 자속 밀도를 에어 갭 자속 탐침으로 측정하는 단계와, 에어 갭 자속 탐침의 출력을 분석하여 측정된 자속 밀도의 이상을 검출하는 단계를 추가로 포함할 수 있다.
본 발명의 또다른 예시적인 실시예에 따르면, 회전 기계에서의 이상을 검출하기 위한 방법이 제공된다. 이 방법은 복수의 계자 권선을 구비하는 회전자와 회전 기계의 고정자 사이에 설치된 에어 갭 자속 탐침으로부터 적어도 하나의 측정을 수신하는 단계를 포함할 수 있으며, 상기 적어도 하나의 측정은 회전자와 고정자 사이에 존재하는 자속 밀도와 연관되고, 상기 적어도 하나의 측정은 회전자와 지면 사이에 고-임피던스 접지 회로를 적어도 일시적으로 설치하는 동안 이루어진다. 상기 방법은 상기 적어도 하나의 측정을 적어도 하나의 기준(baseline) 측정과 비교함으로써 상기 적어도 하나의 측정을 분석하는 단계와, 회전자와 고정자 사이에 존재하는 자속 밀도에 이상이 존재함을 판정하는 단계를 추가로 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예 및 양태들은 첨부도면을 참조한 하기 설명으로부터 명백해질 것이다.
본 발명의 방법 및 시스템에 의하면 회전 기계에서의 회전자 자계 지락을 검출 및 탐지할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예와 함께 사용되는 회전 기계의 예시도.
도 2는 본 발명의 다양한 방법 실시예를 수행하기 위해 사용되는 시스템의 예시 블록선도.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 시스템을 도시하는 예시 블록선도.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 회전 기계에서의 회전자 자계 지락을 검출하기 위한 방법을 도시하는 예시 흐름도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
110 : 회전 기계 120 : 에어 갭
130 : 에어 갭 자속 탐침 140 : 고정자
150 : 회전자 160 : 계자 권선
170 : 고정자 권선 200 : 분석기
이제 본 발명의 실시예를, 일부 실시예가 도시된 첨부도면을 참조하여 보다 충분하게 설명할 것이다. 실제로, 본 발명은 여러가지 다른 형태로 실시될 수 있으며, 본 명세서에 기재된 실시예에 한정되는 것으로 간주되지 않아야 하며, 이들 실시예는 본 명세서가 적용가능한 법적 요건을 충족하기 위해 제공되는 것이다. 유사한 도면부호는 전체에 걸쳐서 유사한 구성요소를 지칭한다.
회전 기계에서의 자계 지락을 검출하기 위한 방법 및 시스템이 제공되고 기술된다. 이러한 제공된 방법 및 시스템의 실시예는 회전 기계의 회전자에서의 단락 턴과 지락을 식별할 수 있다. 이 방법 및 시스템의 실시예의 적어도 일부는 회전 기계의 회전자와 고정자 사이에서 회전자에 근접하여 설치되는 에어 갭 자속 탐침을 구비할 수 있다. 회전자에 걸쳐서 일시적 접지를 인가하기 위한 고-임피던스 접지 회로도 구비될 수 있다. 접지 회로의 고-임피던스 요소는, 전류가 회로 수단에 의해 생성된 일시적 접지부가 아닌, 존재할 경우 회전자 내의 지락으로 흐를 수 있게 한다. 따라서, 자속 밀도의 측정을 달성하는 동안 회전자에 걸쳐서 고-임피던스 접지를 일시적으로 구비함으로써, 에어 갭 자속 탐침은 에어 갭 자속 밀도에 대한 그 효과에 의해 지락에 의해 초래되는 회전자 내의 불균형을 (단락 턴에 의해 초래되는 불균형뿐 아니라) 검출할 수 있다. 다양한 단락 및 지락 조건 하에서 회전자에 의한 에어 갭 자속 탐침의 출력 분석은, 회전자의 하나 이상의 위치에서의 지락에 의해 초래되는 불균형이 회전자의 동일 위치 또는 다른 위치에서 단락 턴에 의해 초래되는 불균형과 식별될 수 있음을 나타낼 수 있다. 또한, 에어 갭 자속 탐침의 출력 분석은, 지락 및 단락 턴의 위치, 예를 들면 권선이 이루어지는 위치가 확인될 수 있음을 나타낼 수 있다. 실시되는 분석은, 지락이나 단락 턴이 전혀 없는 균형잡힌 경우의 회전자의 출력을, 자계 지락 또는 단락 턴을 검출할 때 에어 갭 자속 탐침으로부터 수신되는 출력과 비교하는 것을 포함할 수 있다. 상기 분석은 신호 분석 및/또는 신호 처리 작업을 추가로 포함할 수 있다. 예를 들어, 신호 처리기는 에어 갭 자속 탐침 출력 신호를 식별하기 위해 푸리에 변환 등과 같은 수학적 연산을 실시할 수 있다. 따라서, 본 명세서에 기재되는 시스템 및 방법의 실시예는 회전 기계에서의 자계 지락을 검출할 수 있다. 또한, 본 명세서에 기재되는 시스템 및 방법의 실시예는 회전자 내의 지락 위치를 확인할 수 있다. 또한, 상기 시스템 및 방법의 실시예는 단락 자계 턴을 검출 및 탐지할 수 있고, 검출된 단락 자계 턴을 회전자 내의 검출된 지락으로부터 식별할 수 있다.
본 발명의 실시예는, 회전자와 지면 사이에 고-임피던스 접지 회로가 적용되는 동안 에어 갭 자속 탐침에 의해 측정되는 회전 기계의 회전자와 고정자 사이의 에어 갭에서의 자속 밀도의 이상을 검출하는 것을 포함하지만 이것에 한정되지 않는 특정한 기술적 효과를 수행하거나 아니면 촉진할 수 있다. 자속 밀도의 이상 검출은 수정되어야 할 문제적 지락의 효과적이고 정확한 확인 및 탐지를 가능하게 하는 기술적 효과를 가질 수 있다. 또한, 회전자내 지락의 확인 및 탐지는 효과적인 부품 수리 또는 교체를 가능하게 함으로써, 회전 기계의 효과적인 작동을 향상시키는 추가적인 효과를 가질 수 있다.
도 1은 예시적인 회전 기계(110)의 1/4 단면도이다. 회전 기계(110)는 회전자(150) 및 고정자(140)를 구비한다. 회전자(150)는 복수의 계자 권선(160)을 구비할 수 있으며, 고정자는 복수의 고정자 권선(170)을 구비할 수 있다. 회전자(150)와 고정자(140)는 상호작용하여 그 사이에 자기장을 생성하며, 그로 인해 전력을 제공한다. 복수의 계자 권선(160)은, 통상 외부 DC 발전기에 의해 발생되어 계자 권선(160)에 공급되는 직류(DC) 자계 서플라이에 의해 여기되거나 회전자(150) 내에서 회전하는 브러쉬레스(brushless) 발전기-전기자 조립체 내에서 여기될 수 있다. 높은 교류(AC) 출력 파워는 종래에, 전기자로서 작동하는 고정자 권선(170) 내에서 발생된다.
고정자 권선(170)의 각각은 고정자(140) 내의 슬롯에 배치되는 복수의 상호 절연된 전도체 바아 또는 전도성 케이블로서 구성될 수 있다. 고정자 권선(170)의 전도체 바아 또는 케이블의 단부를 상호연결하기 위해 고정자(140)의 단부에는 엔드 턴이 제공될 수 있다. 회전자(150)는 종래에, 계자 권선(160)을 수용하는 슬롯 배치에 의해 형성되는 둘, 넷 또는 그 이상의 자극(pole)을 구비할 수 있다. 계자 권선(160) 또한, 고정자 권선(170)의 엔드 턴과 같이, 엔드 턴을 구비할 수 있다. 계자 권선(160)은 회전자(150) 상의 슬롯에 자극 축에 대해 대칭적으로 배치될 수 있으며, 회전자(150) 주위에 환형 어레이를 형성한다. 회전자(150)의 계자 권선(160)과 고정자(140)의 고정자 권선(170) 사이에는 환형 갭(120)이 존재한다.
도 1은 고정자(140)를 통해서 에어 갭(120) 내로 반경방향으로 연장되는 에어 갭 자속 탐침(130)을 도시한다. 에어 갭 자속 탐침(130)은 고정자(140) 내에 영구적으로 장착될 수 있거나, 또는 고정자(140)와 회전자(150) 사이의 에어 갭(120)에 일시적으로 삽입될 수 있다. 에어 갭 자속 탐침(130)은, 에어 갭 자속 탐침(130)의 감지 영역에 걸쳐서 회전자 운동, 및 특히 계자 권선(160)의 교호적 통과(alternating passage)를 나타낼 수 있는 계자 권선 슬롯 누설 자속을 감지할 수 있다. 통상적인 에어 갭 자속 탐침은 회전자(150)가 터닝함에 따라 자속 변화율에 비례하는 전압을 생성한다. 계자 권선(160)들 중 어느 하나의 소정 위치에 단락 턴 또는 자계 단락이 존재할 경우, 에어 갭에 발생되는 자계 자속 밀도의 이상은 에어 갭 자속 탐침 출력이 이러한 것을 나타내게 할 수 있다. 예를 들어, 자속 밀도 웨이브가 에어 갭 자속 탐침(130)을 지남에 따라 생성되는 전압을 에어 갭 자속 탐침(130)이 측정하는 동안, 자속 밀도는 크기가 약간 변할 수 있지만 고조파 함량(harmonic content)은 상이하고 특징적이다.
도 2는 전술한 방법의 적어도 특정 요소들을 수행하기 위해 사용될 수 있는 예시적인 분석기(200)를 기능 블록선도로서 도시하고 있다. 보다 구체적으로, 상기 분석기(200)는 에어 갭 자속 탐침(130)과 전기 통신할 수 있으며, 에어 갭 자속 탐침(130) 출력의 감시, 표시 및 분석을 수행할 수 있다. 분석기(200)는 예를 들면 자속 탐침 출력 분석 및 신호 처리 중 적어도 일부를 수행하는 소프트웨어와 같은 프로그래밍된 로직(programmed logic)(204)을 저장하는 메모리(202)를 구비할 수 있으며, 에어 갭 자속 탐침 출력, 응용 코드 소스 파일, 구성 파일, 데이터 사전, 배정 파일, 릴레이 래더(relay ladder) 로직 파일, 추출된 응용 코드, 발생된 응용 데이터 등과 같은 데이터(206)를 저장할 수 있다. 메모리(202)는 또한 운영 체제(208)를 구비할 수 있다. 프로세서(210)는 운영 체제(208)를 사용하여 프로그래밍된 로직(204)을 실행할 수 있으며, 이를 행하는데 있어서 데이터(206)를 사용할 수도 있다. 데이터 버스(212)는 메모리(202)와 프로세서(210) 사이를 통신시킬 수 있다. 사용자는 분석기(200)와 데이터를 주고받을 수 있는 키보드, 마우스, 콘트롤 패널 또는 임의의 기타 장치와 같은 사용자 인터페이스 장치(214)를 통해서 분석기(200)와 인터페이스 접속할 수 있다. 분석기(200)는 또한 I/O 인터페이스(216)를 통해서 제어 시스템, 센서 장치, 또는 기타 네트워크 상의 시스템과 같은 시스템 구성요소와 통신할 수 있다.
도시된 실시예에서, 분석기(200)는 회전 기계 또는 그 제어 시스템에 대해 원격 설치할 수 있지만, 일부 예시적인 실시예에서는 회전 기계 또는 그 제어 시스템과 함께 설치되거나 심지어 통합될 수도 있음을 알아야 한다. 또한, 상기 분석기(200) 및 이것에 의해 실행되는 프로그래밍된 로직(204)은 소프트웨어, 하드웨어, 펌웨어 또는 그 임의의 조합을 구비할 수 있다. 또한, 다중 분석기(200)가 사용될 수 있으며, 따라서 본 명세서에 기재된 여러가지 특징들은 하나 이상의 상이한 분석기(200)에서 실행될 수 있음을 알아야 한다. 그러나, 간명함을 위해, 분석기(200)는 하나 이상의 컴퓨터 스테이션 및/또는 여러가지 기능에 관한 하나의 소프트웨어 애플리케이션일 수 있음을 알아야 한다.
도 3은 본 명세서에 기재된 바와 같이, 자계 지락을 검출 및 탐지하고 이를 단락 자계 턴과 식별하기 위한 시스템의 예시적 실시예의 기능 블록선도(300)를 나타낸다. 전술했듯이, 회전 기계(110)는 회전자(150) 및 고정자(140)를 구비한다. 회전 기계 구성요소, 예를 들어 회전자(150) 및 고정자(140)는 단지 예시적인 목적으로 대략적으로 도시되어 있으며, 도 1을 참조하여 설명했듯이 회전자는 계자 권선 및 슬롯을 구비하고 고정자는 고정자 권선 및 슬롯을 구비함을 알아야 한다. 회전자(150)와 고정자(140) 사이의 에어 갭에는 에어 갭 자속 탐침(130)이 배치된다. 에어 갭 자속 탐침(130)은 예를 들어, 서치 코일 또는 홀 탐침(Hall probe)일 수 있으며, 이 각각은 시간대 자속 밀도를 측정하기 위한 것이다. 에어 갭 자속 탐침(130)은 회전 기계에 일시적으로 부착되거나 영구적으로 설치될 수 있다.
에어 갭 자속 탐침(130)은 도 2를 참조하여 보다 충실하게 기술했듯이 분석기(200)와 전기적으로 통신되고 있다. 분석기(200)는 회전자(150) 내의 자계 지락을 검출하기 위한 방법의 요소들 중 적어도 일부를 수행할 수 있다. 예를 들어, 분석기(200)는 에어 갭 자속 탐침(130)의 출력을 악보 또는 그래프 형태로 표시하는 출력 모니터를 구비할 수 있다. 출력 표시는 실시간일 수 있거나, 또는 출력이 분석기(200)의 메모리에 저장되고, 측정후 검토 및/또는 표시될 수 있다. 예를 들어, 분석기(200)의 메모리는 배치(batch) 분석용 데이터를 컴파일하기 위해 에어 갭 자속 탐침(130)으로부터의 출력을 저장할 수 있다. 추가로, 분석기(200)는 에어 갭 자속 탐침(130)의 출력에 대해 신호 처리 분석을 수행하기 위한 하나 이상의 루틴을 저장할 수 있는 프로세서 및 프로그래밍 로직을 구비한다. 예를 들어, 분석기는 에어 갭 자속 탐침(130)의 출력에 대해, 출력의 추가적인 분석 및 기준 계산치와의 비교를 위해 푸리에 변환, 웨이블릿(wavelet) 분석, 라플라스 변환, 신경망 분석 등의 수행과 같은 수학 연산을 수행할 수 있다.
상기 시스템은 또한, 전류를 회전자를 통해서 자계 턴 내의 접지 위치로 우회시키기 위해, 회전자(150)와 지면 사이에 제거가능하게 적용되는 고-임피던스 접지 회로(210)를 구비할 수 있다. 고-임피던스 접지 회로(210)는 임의의 자계 회전자 지락을 검출하고자 할 때 회전자(150)와 지면 사이에 일시적으로 적용될 수 있으며, 검출하지 않을 때는 제거될 수 있다. 접지 회로(210)는 스위치 등에 의해 회전자에 제거가능하게 적용될 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예를 동작시킬 수 있는 예시적인 방법을 도시한다. 제공된 것은 그 일 실시예가 도 1 및 도 3을 참조하여 충실하게 설명되어 있는 회전 기계의 회전자 내에서의 자계 지락 검출을 도시하는 흐름도(400)이다.
블록 410에서는, 회전 기계의 회전자에 근접하여 배치되는 에어 갭 자속 탐침이 제공된다. 에어 갭 자속 탐침은 예를 들어, 회전 기계의 회전자와 고정자 사이의 에어 갭에서의 자속 밀도를 시간에 따라 측정하는 서치 코일 또는 홀 탐침일 수 있다.
블록 410에 이어지는 블록 420에서는, 회전 기계가 적어도 부분 로드로 작동할 수 있다. 그러나, 본 명세서에 기재된 이들 동일한 방법 및 시스템은 추가로 회전 기계가 로드 하에 있지 않을 때 자계 지락 및/또는 단락 자계 턴을 검출하기 위해 사용될 수 있음을 알 것이다.
블록 420에 이어지는 블록 430에서는, 자계 지락을 검출하기 위해 회전자에 걸쳐서 고-임피던스 접지 회로가 적용된다. 고-임피던스 접지 회로는 에어 갭 자속 탐침에 의한 측정이 이루어지는 기간 동안 회전자를 접지시킬 수 있다. 또한, 회전자가 보통 접지되지 않기 때문에 접지 회로는 고-임피던스 접지를 구비하며, 회전자 접지가 존재할 경우 전류는 흐르지 않을 것이다. 따라서, 고-임피던스 접지 회로를 구비함으로써, 전류는 지면으로 또는 낮은 임피던스를 갖는 접지로 우회될 것이다.
블록 430에 이어지는 블록 440에서는, 도 3을 참조하여 상세하게 앞서 둘다 설명된 분석기와 조합된 에어 갭 자속 탐침이 자속 탐침으로부터의 출력으로서 에어 갭 자속 밀도를 측정한다. 이는 블록 430에서와 같이 회전자에 걸쳐서 고-임피던스 접지 회로가 적용되는 동안 수행된다. 에어 갭 자속 탐침의 출력은 일반적으로 측정이 이루어지는 시간에 대한 에어 갭 자속 밀도일 것이다. 도 1을 참조하여 충실하게 설명되어 있는 회전자 내의 계자 권선 및 고정자 내의 고정자 권선의 구성과 회전 기계의 속성 때문에, 회전자 상의 특정 자계 턴(또는 코일)의 위치와 시간 사이에는 상관 관계가 있다. 보다 구체적으로, 자속 밀도는 권선 및 이후 슬롯의 교호적 통과의 결과 (진동 방식으로) 변화한다. 따라서, 자속 밀도를 시간 대비 플롯 도시(plotting)하면 각각의 권선에서 가변적인 자속 밀도가 도시되며, 플롯에 도시되는 최초의 변화는 스타팅 권선이며 (한 사이클 내에서) 최후의 변화는 엔딩 권선이다.
마지막으로, 블록 440에 이어지는 블록 450은 에어 갭 자속 탐침으로부터의 출력이 분석기에 의해 분석될 수 있음을 도시한다. 에어 갭 자속 탐침 출력에 대해 수행되는 분석에는 사용자에 의한 자속 탐침에 의해 발생되는 파형의 시각적 비교가 포함될 수 있거나, 또는 자계 지락, 단락된 자계 턴 및 그 각각의 계자 권선 상의 위치를 확인하기 위해 출력 내의 변동을 검출하기 위한 신호 처리가 포함될 수 있다. 예시적인 일 실시예에서, 측정 도중의 에어 갭 자속 탐침으로부터의 파형 출력은 단락된 자계 턴 또는 자계 지락을 갖지 않는 회전자에 대해 이루어진 기준 측정과 비교된다. 이 비교는, 두 개의 파형을 중첩시켜 차이를 확인하거나, 회전 기계의 모델에 관한 자속 밀도 라인을 플로팅하거나(예를 들면 자속 밀도 라인 플롯), 또는 회전 기계의 모델에 관한 자속 밀도의 변화를 음영처리(shading) 함으로써(예를 들면 자속 밀도 칼라 음영 플롯) 이루어지는 시각적인 비교일 수 있다. 대안적으로, 상기 비교는 필터에 대한 적어도 부분적인 입력으로서 기준 측정을 사용하여 분석기에 의해 수행되는 처리에 의해 예를 들면 필터링을 통해서 달성될 수 있다. 다른 예시적인 실시예에서는, 측정 중의 에어 갭 자속 탐침으로부터의 파형 출력에 대해 분석기에 의한 신호 처리 분석이 적용될 수 있다. 예를 들면, 출력을 기준 계산치와 비교하기 위해 푸리에 변환, 웨이블릿 분석, 라플라스 변환, 신경망 분석 등이 수행될 수 있다. 지락의 위치는 자속 밀도의 변화를 기준과 비교함으로써 확인될 수 있으며, 파형 출력의 시간 축을 따른 위치 또는 회전 기계의 모델에 관한 위치에 의해 확인될 수 있다.
본 발명의 예시적 실시예들에 따른 시스템, 방법, 장치, 및 컴퓨터 프로그램 제품의 블록 선도를 참조하였다. 블록 선도의 블록들 중 적어도 일부 및 블록 선도의 블록들의 조합은 각각 적어도 부분적으로 컴퓨터 프로그램 지령에 의해 실시될 수 있음을 알 것이다. 이들 컴퓨터 프로그램 지령은 기계를 제조하기 위해 범용 컴퓨터, 전용 컴퓨터, 전용 하드웨어-기반의 또는 기타 프로그래밍가능한 데이터 처리 장치에 탑재될 수 있으며, 따라서 컴퓨터 또는 기타 프로그래밍가능 데이터 처리 장치에서 실행되는 지령은 블록선도의 블록들 중 적어도 일부 또는 논의된 블록선도의 블록들의 조합의 기능을 실행하기 위한 수단을 생성한다.
이들 컴퓨터 프로그램 지령은 또한 컴퓨터 또는 기타 프로그래밍가능한 데이터 처리 장치를 특정 방식으로 기능하도록 지휘할 수 있는 컴퓨터-판독가능한 메모리에 저장될 수 있으며, 따라서 컴퓨터-판독가능한 메모리에 저장된 지령은 블록에서 특정되는 기능을 수행하는 지령 수단을 구비하는 제조 물품을 제조한다. 컴퓨터 프로그램 지령은 또한 컴퓨터 또는 기타 프로그래밍가능한 데이터 처리 장치에 탑재될 수 있는 바, 이는 상기 컴퓨터 또는 기타 프로그래밍가능한 데이터 처리 장치에서 일련의 연산 요소들이 수행되게 하여 컴퓨터 실행 프로세스가 생성되게 하며 따라서 컴퓨터 또는 기타 프로그래밍가능한 장치에서 실행되는 지령은 단수 또는 복수의 블록에서 특정된 기능을 수행하기 위한 요소들을 제공한다.
본 명세서에 기재된 시스템의 하나 이상의 구성요소 및 방법의 하나 이상의 요소는 컴퓨터의 운영 체제에서 돌아가는 응용 프로그램을 통해서 실시될 수 있다. 이들은 또한 휴대용 장치, 멀티프로세서 시스템, 마이크로프로세서 기반의 또는 프로그래밍가능한 가전 기기, 미니-컴퓨터, 메인프레임 컴퓨터 등을 포함하는 기타 컴퓨터 시스템 구성에 의해 실시될 수 있다.
본 명세서에 기재된 시스템 및 방법의 구성요소인 응용 프로그램으로는 특정 추상 데이터 형태를 실행하고 특정 임무 또는 작업을 수행하는 루틴, 프로그램, 콤포넌트, 데이터 구조 등이 포함될 수 있다. 분산 컴퓨팅 환경에서, 응용 프로그램은(전체적으로 또는 부분적으로) 로컬 메모리에 설치되거나 또는 다른 저장 장치에 설치될 수 있다. 추가적으로 또는 대안적으로, 응용 프로그램은(전체적으로 또는 부분적으로), 통신망을 통해서 링크된 원격 처리 장치에 의해 임무가 수행되는 환경이 가능하도록 원격 메모리에 설치되거나 또는 저장 장치에 설치될 수 있다.
이상의 설명이 속하는 본 명세서에 기재된 발명의 여러가지 수정예 및 기타 실시예는, 상기 설명 및 관련 도면에 나타난 내용 상의 이점을 안고 도출될 것이다. 따라서, 본 발명은 여러가지 형태로 구체화될 수 있으며 전술한 실시예에 한정되지 않음을 알아야 할 것이다. 따라서, 본 발명은 특정 실시예에 한정되지 않으며 여러 수정예 및 기타 실시예들은 청구범위의 범위에 포함되는 것으로 이해되어야 한다. 본 명세서에 사용된 특정 용어들은 포괄적이고 기술적인(descriptive) 의미로 사용된 것일 뿐이며 제한적인 의미로 사용된 것이 아님을 알아야 할 것이다.

Claims (10)

  1. 회전 기계(110)의 이상을 검출하기 위한 시스템에 있어서,
    그 내부에 복수의 계자 권선(160)이 배치되는 회전 기계(110)의 회전자(150)와,
    그 내부에 복수의 고정자 권선(170)이 배치되는 회전 기계(110)의 고정자(140)와,
    상기 회전자(150)와 상기 고정자(140) 사이에 존재하는 에어 갭(120)과,
    상기 회전자(150)와 지면 사이에 적어도 일시적으로 연결되는 고-임피던스 접지 회로와,
    회전 기계(110)의 작동 중에 에어 갭(120)에 발생한 자속 밀도를 측정하기 위해 회전자(150)와 고정자(140) 사이에 적어도 일시적으로 설치되는 에어 갭 자속 탐침(130)과,
    상기 에어 갭 자속 탐침(130)의 출력을 수용하기 위해 에어 갭 자속 탐침(130)과 전기 통신되는 분석기(200)를 포함하는 것을 특징으로 하는
    회전 기계의 이상 검출 시스템.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 회전 기계(110)는 터빈 발전기를 포함하는 것을 특징으로 하는
    회전 기계의 이상 검출 시스템.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 에어 갭 자속 탐침(130) 및 상기 분석기(200)는 측정된 자속 밀도의 이상을 검출하도록 작동가능하며, 상기 이상은 (a) 단락된 계자 권선(160) 또는 (b) 회전자(150) 내의 지락 중 적어도 하나를 나타내는 것을 특징으로 하는
    회전 기계의 이상 검출 시스템.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 에어 갭 자속 탐침(130) 및 상기 분석기(200)는 복수의 계자 권선(160) 중 특정 계자 권선(160)에서 발생하는 지락 또는 단락된 계자 권선(160) 중 적어도 하나를 탐지하도록 작동가능한 것을 특징으로 하는
    회전 기계의 이상 검출 시스템.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 분석기(200)는 (a) 측정된 자속 밀도를 시간 대비 플롯 도시하는 파형, (b) 회전 기계(110)의 그래픽 모델에 관한 입체적인 자속 밀도 라인 플롯, 또는 (c) 회전 기계(110)의 그래픽 모델에 관한 입체적인 자속 밀도 칼라 음영 플롯 중 적어도 하나를 표시하도록 작동가능한 것을 특징으로 하는
    회전 기계의 이상 검출 시스템.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 분석기(200)는 작동 중에 회전 기계(100)에 의해 발생된 측정된 자속 밀도를 지락이 없고 복수의 계자 권선(160) 중 어느 것에도 단락이 없는 상태에서 회전 기계(100)에 의해 발생된 기준 자속 밀도 측정치와 비교하도록 작동가능한 것을 특징으로 하는
    회전 기계의 이상 검출 시스템.
  7. 회전 기계(110)의 이상을 검출하기 위한 방법에 있어서,
    회전 기계(110)의 회전자(150)와 고정자(140) 사이에 존재하는 에어 갭(120)에 에어 갭 자속 탐침(130)을 회전자(150)에 근접하여 제공하는 단계와,
    상기 회전 기계(110)를 적어도 부분 로드로 작동시키는 단계와,
    전류의 적어도 일부를 회전자(150) 내에 배치된 복수의 계자 권선(160) 중 적어도 하나에 존재하는 지락으로 우회시킬 수 있는 고-임피던스 접지 회로를 상기 회전자(150)와 지면 사이에 적어도 일시적으로 설치하는 단계와,
    상기 고-임피던스 접지 회로가 회전자(150)에 걸쳐서 일시적으로 설치되어 있는 동안 상기 회전 기계(110)에 의해 발생된 자속 밀도를 에어 갭 자속 탐침(130)으로 측정하는 단계와,
    상기 에어 갭 자속 탐침(130)의 출력을 분석하여 측정된 자속 밀도의 이상을 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는
    회전 기계의 이상 검출 방법.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 회전 기계(110)는 터빈 발전기를 포함하는 것을 특징으로 하는
    회전 기계의 이상 검출 방법.
  9. 제 7 항에 있어서,
    (a) 단락된 계자 권선(160) 또는 (b) 회전자(150) 내의 지락 중 적어도 하나를 검출된 이상의 원인으로서 판정하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는
    회전 기계의 이상 검출 방법.
  10. 제 9 항에 있어서,
    복수의 계자 권선(160) 중 적어도 하나의 계자 권선(1609)에서 발생하는 지락 또는 단락된 계자 권선(160)을 탐지하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는
    회전 기계의 이상 검출 방법.
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