KR20090093510A - Semiconductor memory apparatus for high speed data input/output - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 고속으로 동작할 수 있는 반도체 메모리 장치에 관한 것으로, 특히 고속으로 동작하는 반도체 메모리 장치에서 출력되는 다수의 데이터를 정렬하고 제어하는 데이터 출력 제어회로와 동작 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor memory device capable of operating at high speed, and more particularly, to a data output control circuit and an operation method for sorting and controlling a plurality of data output from a semiconductor memory device operating at high speed.
복수의 반도체 장치들로 구성된 시스템에서 반도체 메모리 장치는 데이터를 저장하기 위한 것이다. 데이터 처리 장치, 예를 들면, 중앙처리장치(CPU), 등에서 데이터를 요구하게 되면, 반도체 메모리 장치는 데이터를 요구하는 장치로부터 입력된 어드레스에 대응하는 데이터를 출력하거나, 그 어드레스에 대응하는 위치에 데이터 요구 장치로부터 제공되는 데이터를 저장한다.In a system composed of a plurality of semiconductor devices, the semiconductor memory device is for storing data. When data is requested from a data processing device such as a central processing unit (CPU), the semiconductor memory device outputs data corresponding to an address input from a device requesting data, or at a position corresponding to the address. Stores data provided from the data requesting device.
반도체 장치들로 구성된 시스템의 동작속도가 빨라지고 반도체 집적회로에 관한 기술이 발달하면서, 반도체 메모리 장치는 보다 빠른 속도로 데이터를 출력하거나 저장하도록 요구받아 왔다. 반도체 메모리 장치가 보다 빠른 속도로 안전하게 동작하기 위해서는 반도체 메모리 장치 내 여러 회로들이 고속으로 동작할 수 있어야함은 물론 여러 회로들 간 신호 혹은 데이터를 빠른 속도로 전달할 수 있어야 한다.BACKGROUND OF THE INVENTION As the operating speed of a system composed of semiconductor devices becomes faster and technology related to semiconductor integrated circuits develops, semiconductor memory devices have been required to output or store data at a higher speed. In order for a semiconductor memory device to operate safely at a higher speed, several circuits in the semiconductor memory device must be able to operate at a high speed, and also a signal or data can be transferred at a high speed.
반도체 메모리 장치의 동작을 빠르게 하기 위해서 내부에서 일어나는 다수의 내부 동작을 더 빠르게 실행시키거나 신호 및 데이터의 입출력 속도를 높일 수 있다. 일례로, 디디알(double data rate, DDR) 반도체 메모리 장치는 데이터의 출력을 더 빠르게 하기 위해 데이터를 시스템 클록의 라이징 에지뿐만 아니라 폴링 클록에도 동기화하여 출력하였다. 반도체 메모리 장치의 하나의 입출력 단으로부터 시스템 클록의 한 주기에 두 개의 데이터를 입출력할 수 있어 기존의 반도체 메모리 장치보다 데이터의 입출력 속도가 빨라졌으며, 현재는 더 빠른 동작을 위해 시스템 클록의 한 주기에 네 개의 데이터를 입출력할 수 있는 반도체 메모리 장치까지 제안되었다. In order to speed up the operation of the semiconductor memory device, a plurality of internal operations that occur internally may be executed faster, or speeds of input / output of signals and data may be increased. In an example, a double data rate (DDR) semiconductor memory device outputs data in synchronization with a falling clock as well as a rising edge of a system clock in order to output data faster. Since two data can be input and output at one cycle of the system clock from one input / output stage of the semiconductor memory device, the input / output speed of the data is faster than that of the conventional semiconductor memory device. A semiconductor memory device capable of inputting and outputting four data has been proposed.
데이터를 고속으로 출력하기 위해 디디알 반도체 메모리 장치부터 내부에서 프리페치(prefetch) 동작이 사용되었다. 여기서, 프리페치 동작이란 데이터 혹은 명령이 처리되기 전 데이터 혹은 명령을 고속으로 동작하는 저장수단으로 미리 가져 오는 것을 말한다. 예컨대, 디디알 반도체 메모리 장치(DDR SDRAM)는 한 번의 클럭 사이클마다 메모리 셀로부터 2비트의 데이터를 액세스하여 데이터 패드로 출력하는 동작을 채용하였는데, 이러한 동작을 2비트 프리페치 동작이라고 한다. 또한, 디디알2 반도체 메모리 장치(DDR2 SDRAM)는 한 번의 클럭 사이클마다 메모리 셀로부터 4비트의 데이터를 액세스하여 데이터 패드로 출력하는 방식인 4비트 프리페치 동작을 채용하였다. 마찬가지로, 디디알3 반도체 메모리 장치(DDR3 SDRAM)는 한 번의 클럭 사이클마다 메모리 셀로부터 8비트의 데이터를 액세스하여 데이트 패드로 출력하는 8비트 프리페치 동작을 채용하였다. 이렇듯 반도체 메모리 장치가 높은 주파수를 가진 클록 신호에 대응하여 고속 동작을 가능하게 하기 위해 데이터를 입출력 속도를 증가시켜야 했고, 이로 인해 한 번의 읽기(Read) 혹은 쓰기(Write) 명령에 의해 각 데이터 입출력 패드(DQ)로 최소 버스트 길이(Minimum Burst Length)에 해당하는 데이터를 한번에 읽거나 쓰는 동작 방식을 채용하였는데 이러한 방식을 N비트 프리페치(N bits Prefetch) 동작이라고 한다. 이때의 N은 최소 버스트 길이와 동일하다.In order to output data at high speed, a prefetch operation has been used internally from a digital semiconductor memory device. Here, the prefetch operation refers to bringing the data or command to the storage means for operating at high speed before the data or command is processed. For example, a DDR semiconductor memory device (DDR SDRAM) employs an operation of accessing two bits of data from a memory cell and outputting the data pad to a data pad every one clock cycle. This operation is referred to as a two-bit prefetch operation. In addition, the digital2 semiconductor memory device (DDR2 SDRAM) employs a 4-bit prefetch operation, a method of accessing 4-bit data from a memory cell and outputting the data to a data pad every one clock cycle. Similarly, the DRAM3 semiconductor memory device (DDR3 SDRAM) employs an 8-bit prefetch operation that accesses 8-bit data from a memory cell and outputs it to a data pad every one clock cycle. As such, the semiconductor memory device had to increase data input / output speed in order to enable high-speed operation in response to a clock signal having a high frequency. As a result, each data input / output pad may be executed by a single read or write command. An operation method of reading or writing data corresponding to the minimum burst length (DQ) at one time is adopted. This method is called an N bits prefetch operation. N at this time is equal to the minimum burst length.
전술한 바와 같이, 최근 제안된 반도체 메모리 장치는 시스템 클록의 한 주기에 네 개의 데이터를 입출력할 수 있도록 요구받고 있어, 이러한 데이터의 고속 입출력을 위해서 8비트 프리페치 동작을 채용한다. 단위셀로부터 하나의 읽기 명령에 대응하여 출력되는 8개의 데이터는 각각 해당하는 센스 앰프와 데이터 입출력 라인을 통해 병렬로 전달된다. 병렬로 전달된 데이터를 하나의 데이터 패드를 통해 출력하기 위해서 이를 직렬화시켜야 하는데, 이러한 동작을 제어하기 위해 반도체 메모리 장치는 다수의 데이터 입출력 패드 각각에 연결된 다수의 데이터 출력회로를 포함한다.As described above, the recently proposed semiconductor memory device is required to input and output four data in one cycle of the system clock, and employs an 8-bit prefetch operation for high-speed input and output of such data. Eight data outputs corresponding to one read command from a unit cell are transferred in parallel through a corresponding sense amplifier and a data input / output line. In order to output the data transferred in parallel through one data pad, it must be serialized. To control this operation, the semiconductor memory device includes a plurality of data output circuits connected to each of the plurality of data input / output pads.
도 1은 일반적인 반도체 메모리 장치의 데이터 출력회로를 설명하기 위한 블록도이다.1 is a block diagram illustrating a data output circuit of a general semiconductor memory device.
도시된 바와 같이, 데이터 출력회로는 단위셀에서 출력되어 병렬로 전달되는 4개의 데이터(D0, D2, D4, D6)를 선택 신호(SOSEB<2:1>)에 대응하여 차례로 통과시키기 위한 제 1 멀티플렉서(120), 단위셀에서 출력되어 병렬로 전달되는 다른 4개의 데이터(D1, D3, D5, D7)를 선택 신호(SOSEB<2:1>)에 대응하여 차례로 통과시키기 위한 제 2 멀티플렉서(140), 제 2 멀티플렉서(140)로부터 전달된 4개의 직렬화된 데이터(N2)를 지연고정클록(RCLK_DLL)에 대응하여 전달하기 위한 래치부(160), 및 제 1 멀티플렉서(120) 및 래치부(160)로부터 전달된 데이터(N1, N3)를 지연고정클록(RCLK_DLL)에 대응하여 차례로 전달하기 위한 제 3 멀티플렉서(180)를 포함한다.As shown in the drawing, the data output circuit is configured to first pass four data D0, D2, D4, and D6 that are output from the unit cell and transferred in parallel in response to the selection signal SOSEB <2: 1>. Multiplexer 120, second multiplexer 140 for sequentially passing the other four data (D1, D3, D5, D7) output from the unit cell in parallel to the selection signal (SOSEB <2: 1>) ), A latch unit 160 for transmitting the four serialized data N2 transmitted from the second multiplexer 140 in response to the delay lock clock RCLK_DLL, and the first multiplexer 120 and the latch unit 160. The third multiplexer 180 is configured to sequentially transfer the data N1 and N3 transmitted from the N-M3 to the delay lock clock RCLK_DLL.
구체적인 동작을 살펴보면, 먼저 지연고정클록(RCLK_DLL)의 라이징 에지 및 폴링 에지에 동기되어 전달될 데이터들을 분리하여 제 1 멀티플렉서(120) 및 제 2 멀티플렉서(140)로 전달한다. 여기서, 제 1 멀티플렉서(120)로 전달되는 4개의 데이터(D0, D2, D4, D6)는 지연고정클록(RCLK_DLL)의 라이징 에지에 동기되어 출력되고, 제 2 멀티플렉서(140)로 전달되는 4개의 데이터(D1, D3, D5, D7)는 지연고정클록(RCLK_DLL)의 폴링 에지에 동기되어 출력된다.Referring to a specific operation, first, data to be transmitted in synchronization with the rising edge and the falling edge of the delay locked clock RCLK_DLL are separated and transferred to the first multiplexer 120 and the second multiplexer 140. Here, four data D0, D2, D4, and D6 transmitted to the first multiplexer 120 are output in synchronization with the rising edge of the delay locked clock RCLK_DLL and transmitted to the second multiplexer 140. The data D1, D3, D5, and D7 are output in synchronization with the falling edge of the delay locked clock RCLK_DLL.
제 1 및 제 2 멀티플렉서(120, 140)로 각각 병렬로 전달된 4개의 데이터는 선택 신호(SOSEB<2:1>)에 대응하여 하나씩 순차적으로 출력되어 직렬화된다. 즉, 제 1 멀티플렉서(120)로 입력된 4개의 데이터는 D0, D2, D4, D6의 순서대로 정렬되어 출력되고, 제 2 멀티플렉서(140)로 입력된 데이터는 D1, D3, D5, D7의 순서대로 정렬되어 출력된다. 여기서, 선택 신호(SOSEB<2:1>)는 읽기 명령과 함께 입력되는 특정 어드레스 정보(예를 들어, A<2:1>)를 바탕으로 모드 레지스터 세트(Mode Register Set, MRS)에 저장된 카스 지연시간(CAS Latency, CL)과 버스트 타입(burst type)에 대응하여 생성된다. 즉, 선택 신호(SOSEB<2:1>)는 카스 지연시간(CL)에 대응하여 활성화 시점이 결정되고, 시작 어드레스가 0~7 중 어느 것인가와 버스트 타입이 연속 방식(Sequential Type) 및 인터리브 방식(Interleave Type) 중 어느 것인가에 따라 값이 결정된다. 도 1에 도시된 데이터 정렬은 읽기 명령에 대응하여 입력된 특정 어드레스 정보(A<2:1>, A<0>)가 모두 0(zero)인 경우를 가정한 것이다.Four data transmitted in parallel to the first and second multiplexers 120 and 140, respectively, are sequentially output and serialized one by one corresponding to the selection signal SOSEB <2: 1>. That is, four data inputted to the first multiplexer 120 are arranged and output in the order of D0, D2, D4, and D6, and data input to the second multiplexer 140 is the order of D1, D3, D5, and D7. The output is sorted as shown. Here, the selection signal SOSEB <2: 1> is a casing stored in a mode register set (MRS) based on specific address information (for example, A <2: 1>) input with a read command. It is generated corresponding to the delay time (CAS Latency, CL) and the burst type (burst type). That is, the activation time of the selection signal SOSEB <2: 1> is determined according to the cas delay time CL, and the start address is any one of 0 to 7 and the burst type is the sequential type and the interleaved method. The value is determined according to any of (Interleave Type). The data alignment shown in FIG. 1 assumes that all of the specific address information A <2: 1> and A <0> input corresponding to the read command are all zero.
제 2 멀티플렉서(140)를 통해 직렬화된 4개의 데이터(N2)를 인가받은 래치부(160)는 지연고정클록(RCLK_DLL)을 이용하여 위상을 0.5 tCK(시스템 클록의 반 주기)만큼 이동시킨 뒤 제 3 멀티플렉서(180)로 전달한다. 마지막으로, 제 3 멀티플렉서(180)는 지연고정클록(RCLK_DLL)의 라이징 에지에 대응하여 제 1 멀티플렉서(120)에서 전달된 데이터(N1)를 전달하고, 지연고정클록(RCLK_DLL)의 폴링 에지에 대응하여 래치부(160)에서 전달된 데이터(N3)를 전달한다. 결과적으로, 제 3 멀티플렉서(180)는 지연고정클록(RCLK_DLL)의 반복되는 라이징 에지 및 폴링 에지에 대응하여 D0, D1, D2, D3, D4, D5, D6, D7의 순서대로 데이터(MXOUT)가 출력된다.The latch unit 160 receiving the four data N2 serialized through the second multiplexer 140 shifts the phase by 0.5 tCK (half period of the system clock) by using the delay locked clock RCLK_DLL. 3 is passed to the multiplexer 180. Finally, the third multiplexer 180 transfers the data N1 transferred from the first multiplexer 120 in response to the rising edge of the delay locked clock RCLK_DLL and corresponds to the falling edge of the delay locked clock RCLK_DLL. To transfer the data N3 transferred from the latch unit 160. As a result, the third multiplexer 180 generates data MXOUT in the order of D0, D1, D2, D3, D4, D5, D6, and D7 in response to the repeated rising edge and the falling edge of the delay locked clock RCLK_DLL. Is output.
도 2는 도 1에 도시된 반도체 메모리 장치의 동작을 설명하기 위한 파형도이다.FIG. 2 is a waveform diagram illustrating an operation of the semiconductor memory device shown in FIG. 1.
도시된 바와 같이, 읽기 명령이 입력된 후 카스 지연시간(CAS Latency, CL)보다 0.5 tCK(외부 클록의 반 주기)만큼 앞선 시점부터 데이터(D0~D7)가 전달된다. 이후, 전달된 데이터(D0~D7)는 선택 신호(SOSEB<2:1>)에 대응하여 직렬화되어 카스 지연시간(CL)부터 외부로 출력된다. 따라서, 0.5 tCK 내에 데이터 출력회로 내 제 1 멀티플렉서(120) 및 제 2 멀티플렉서(140) 각각은 선택 신호(SOSEB<2:1>)를 사용하여 입력되는 4개의 데이터를 직렬화하여야 한다.As shown, after the read command is input, data D0 to D7 are transmitted from a time point that is 0.5 tCK (half cycle of the external clock) before the CAS delay time (CL). Thereafter, the transmitted data D0 to D7 are serialized in response to the selection signal SOSEB <2: 1> and output from the cas delay time CL to the outside. Therefore, each of the first multiplexer 120 and the second multiplexer 140 in the data output circuit within 0.5 tCK must serialize four data input using the selection signal SOSEB <2: 1>.
도시된 바와 같이, 다수의 데이터(D0~D7) 중 첫 번째로 출력되는 데이터(D0)를 정렬하는 것은 이후 출력되는 데이터를 정렬하는 시간보다 동작 마진이 적다. 전술한 바와 같이, 데이터 출력회로는 외부로 출력되기 0.5 tCK 전에 전달되는 데이터를 0.5 tCK 내 선택 신호(SOSEB<2:1>)를 사용하여 정렬하는 데, 이러한 동작은 동작 주파수가 높지 않은 경우에서는 크게 문제가 되지 않는다. 일 예로, 시스템 클록의 한 주기(1 tCK)가 1ns 인 경우 0.5 ns 내에 제 1 멀티플렉서(120) 및 제 2 멀티플렉서(140)가 각각 4 개의 데이터를 직렬화하여야 한다. 하지만, 반도체 메모리 장치는 더 높은 주파수를 가지는 시스템 클록에 대응하여 동작하길 요구받고 있고, 도 1에 도시된 제 1 멀티플렉서(120) 및 제 2 멀티플렉서(140)로 사용된 4:1 멀티플렉서(MUX)의 동작 마진을 고려할 때 0.5 ns 보다 더 짧은 시간 내에 데이터를 직렬화하는 것은 어렵다.As shown, sorting the data D0 output first among the plurality of data D0 to D7 has a lower operating margin than the time for sorting the data subsequently output. As described above, the data output circuit aligns data transmitted 0.5 tCK before being output to the outside using the selection signal SOSEB <2: 1> within 0.5 tCK. This operation is performed when the operating frequency is not high. It doesn't matter much. For example, when one cycle (1 tCK) of the system clock is 1 ns, the first multiplexer 120 and the second multiplexer 140 must serialize four data within 0.5 ns. However, the semiconductor memory device is required to operate in response to a system clock having a higher frequency, and the 4: 1 multiplexer (MUX) used as the first multiplexer 120 and the second multiplexer 140 shown in FIG. Given the operating margin of, it is difficult to serialize the data in less than 0.5 ns.
또한, 도 1에 도시된 데이터 출력회로의 경우 외부로 출력되기 0.5 tCK 전이 아니라 그보다 더 빠른 시점(예를 들어, 카스 지연시간(CL)보다 1 tCK 혹은 2 tCK 이전)에 데이터(D0~D7)를 전달받게 되면, 카스 지연시간(CL)에 맞추어 데이터(D0~D7)를 정렬시켜 출력하는 것이 불가능하다. 따라서, 도 1에 도시된 데이터 출력회로를 사용하는 반도체 메모리 장치는 동작 주파수의 한계를 가질 수밖에 없고, 이러한 구조는 고속으로 동작하는 반도체 메모리 장치에 적용될 수 없다.In addition, in the case of the data output circuit shown in FIG. 1, the data D0 to D7 at a time earlier than 0.5 tCK before being output to the outside (for example, 1 tCK or 2 tCK earlier than the cas delay time CL). When it is received, it is impossible to align and output the data D0 to D7 according to the cas delay time CL. Therefore, the semiconductor memory device using the data output circuit shown in FIG. 1 has a limit of an operating frequency, and such a structure cannot be applied to a semiconductor memory device operating at high speed.
본 발명은 고속으로 동작하는 반도체 메모리 장치에 있어 출력되는 데이터를 안정적으로 정렬하여 동작의 신뢰성을 높이기 위한 것으로, 내부에서 전달되는 데이터를 정렬하기 위한 보다 긴 동작 마진을 확보함으로써 더 높은 주파수를 가지는 시스템 클록에 대응하여 데이터를 정렬시켜 출력할 수 있도록 하는 데 그 특징이 있다.The present invention is to improve the reliability of the operation by aligning the output data in the semiconductor memory device operating at a high speed, the system having a higher frequency by ensuring a longer operating margin for aligning the data transmitted therein Its characteristic is that data can be aligned and output in response to a clock.
본 발명은 병렬로 입력되는 8개의 데이터를 직렬화하여 4개의 연속되는 2개 데이터를 출력하기 위한 제 1 직렬화 수단, 제 1 직렬화 수단의 출력을 전달받아 2개의 연속되는 4개 데이터를 출력하기 위한 제 2 직렬화 수단, 및 제 2 직렬화 수단의 출력을 전달받아 직렬화된 8개의 데이터를 출력하기 위한 제 3 직렬화 수단을 구비하는 반도체 메모리 장치를 제공한다.The present invention provides a first serialization means for serializing eight data input in parallel to output four consecutive two data, and a second serial output means for receiving two outputs and outputting four consecutive data. A semiconductor memory device comprising a second serialization means and a third serialization means for receiving the output of the second serialization means and outputting eight serialized data.
또한, 본 발명은 병렬로 입력되는 8개의 데이터를 입력받아 직렬화된 8개의 데이터의 각 윈도우의 4배의 데이터 윈도우를 가지는 4개의 연속되는 2개 데이터를 출력하기 위한 제 1 직렬화 수단, 제 1 직렬화 수단의 출력을 전달받아 직렬화된 8개의 데이터의 각 윈도우의 2배의 데이터 윈도우를 가지는 2개의 연속되는 4개 데이터를 출력하기 위한 제 2 직렬화 수단, 및 제 2 직렬화 수단의 출력을 전달받아 직렬화된 8개의 데이터를 출력하기 위한 제 3 직렬화 수단을 구비하는 신호 전달 장치를 제공한다. In addition, the present invention provides a first serialization means for receiving four data input in parallel and outputting four consecutive two data having a data window four times as large as each window of the eight serialized data; Second serialization means for outputting two consecutive four data having a data window twice as large as each window of eight data serialized by receiving the output of the means, and serialized by receiving the output of the second serialization means A signal transmission device having third serialization means for outputting eight data is provided.
나아가, 본 발명은 읽기 명령에 대응하여 내부의 단위셀로부터 전달되어 병렬로 입력되는 8개의 데이터를 4개의 연속되는 2개 데이터로 출력하기 위한 제 1 직렬화 단계, 4개의 연속되는 2개 데이터를 2개의 연속되는 4개 데이터로 출력하기 위한 제 2 직렬화 단계, 및 2개의 연속되는 4개 데이터를 직렬화된 8개의 데이터로 출력하기 위한 제 3 직렬화 단계를 포함하는 반도체 메모리 장치의 동작 방법을 제공한다.Furthermore, the present invention provides a first serialization step for outputting eight data transmitted from an internal unit cell corresponding to a read command in parallel to four consecutive two data, and two consecutive four data. A second serialization step for outputting four consecutive data is provided, and a third serialization step for outputting two consecutive four data as serialized eight data is provided.
고속의 동작을 요구받는 반도체 메모리 장치는 시스템 클록에 대응하여 더 많은 데이터를 빠른 시간 내에 입출력할 수 있어야 하는데, 이를 위해 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 메모리 장치는 읽기 명령에 대응하는 데이터가 출력되는 시점보다 1.5 tCK만큼 이른 시간에 내부에서 병렬로 출력하고 입출력 패드를 통해 출력하기 위한 직렬화를 위한 충분한 동작 마진을 확보한다. 또한, 반도체 메모리 장치 내 데이터 출력회로는 1.5tCK의 동작 마진 내 병렬로 입력되는 데이터를 직렬화하고 읽기 명령이 인가된 후 카스 지연시간이 지난 시점에 데이터가 출력될 수 있도록 하는 다수의 멀티플렉서, 다수의 래치, 및 다수의 위상 이동부를 이용하여 단계적 직렬화 동작을 수행한다. 본 발명의 데이터 출력회로는 병렬로 입력되는 8개의 데이터를 먼저 연속적인 2개의 데이터로 구성된 4개의 병렬 데이터로 변환한 뒤, 4개의 병렬 데이터를 다시 연속적인 4개의 데이터로 구성된 2개의 병렬 데이터로 변환하고, 마지막으로 2개의 병렬 데이터를 연속적인 8개의 데이터로 구성된 하나의 직렬데이터로 변환한다. 이를 통해 데이터를 정렬하기 위한 충분한 동작 마진을 확보할 수 있어 더 높은 주파수를 가지는 시스템 클록에 대응하여 반도체 메모리 장치가 정렬된 데이터를 출력하는 것이 가능해졌다.A semiconductor memory device that is required to operate at a high speed should be able to input and output more data in a short time corresponding to a system clock. To this end, a semiconductor memory device according to an embodiment of the present invention outputs data corresponding to a read command. In order to output in parallel in time and output through the input / output pads at a time earlier than 1.5 tCK earlier than this point, sufficient operating margin for serialization is secured. In addition, the data output circuit in the semiconductor memory device has a plurality of multiplexers and a plurality of multiplexers for serializing the data input in parallel within an operating margin of 1.5 tCK and allowing the data to be output at a point after the cascade delay time after a read command is applied. A latch and a plurality of phase shifters are used to perform a stepwise serialization operation. The data output circuit of the present invention converts eight data inputted in parallel into four parallel data composed of two consecutive data first, and then converts the four parallel data into two parallel data composed of four consecutive data. Finally, two parallel data are converted into one serial data consisting of eight consecutive data. This ensures sufficient operating margin to align the data, which enables the semiconductor memory device to output aligned data in response to a system clock having a higher frequency.
본 발명은 반도체 메모리 장치의 내부에서 병렬로 출력된 데이터를 직렬화하기 위한 데이터 출력회로가 데이터 정렬을 위한 동작 마진을 충분히 확보할 수 있도록 하여 읽기 명령에 대응하는 데이터가 높은 주파수의 외부 클록에 대응하여 출력될 수 있어 반도체 메모리 장치의 고속 동작을 보장할 수 있는 장점이 있다.According to the present invention, a data output circuit for serializing data output in parallel in a semiconductor memory device can sufficiently secure an operating margin for data alignment so that data corresponding to a read command corresponds to an external clock having a high frequency. There is an advantage that can be output to ensure a high speed operation of the semiconductor memory device.
구체적으로, 본 발명의 실시예를 사용하는 반도체 메모리 장치는 5Gbps 이상의 고주파 클록에 대응하는 읽기 동작을 수행할 수도 있으며, 특히 동작 속도가 중요하게 여겨지는 그래픽 데이터용 반도체 메모리 장치 등에 사용될 경우 빠른 데이터 입출력 속도를 보장할 수 있어 제품 경쟁력을 높일 수 있다.Specifically, a semiconductor memory device using an embodiment of the present invention may perform a read operation corresponding to a high frequency clock of 5 Gbps or more, and in particular, when used in a semiconductor memory device for graphic data in which an operation speed is important, etc. Speed can be guaranteed to increase product competitiveness.
도 1은 일반적인 반도체 메모리 장치의 데이터 출력회로를 설명하기 위한 블록도이다.1 is a block diagram illustrating a data output circuit of a general semiconductor memory device.
도 2는 도 1에 도시된 반도체 메모리 장치의 동작을 설명하기 위한 파형도이다.FIG. 2 is a waveform diagram illustrating an operation of the semiconductor memory device shown in FIG. 1.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 다른 반도체 메모리 장치의 데이터 출력회로를 설명하기 위한 블록도이다.3 is a block diagram illustrating a data output circuit of a semiconductor memory device according to an embodiment of the present invention.
도 4는 도 3에 도시된 반도체 메모리 장치의 동작을 설명하기 위한 파형도이다.4 is a waveform diagram illustrating an operation of the semiconductor memory device shown in FIG. 3.
도 5는 도 3에 도시된 직렬화 제어부를 설명하기 위한 블록도이다.FIG. 5 is a block diagram illustrating the serialization controller shown in FIG. 3.
도 6은 도 5에 도시된 직렬화 제어부의 동작을 설명하기 위한 파형도이다.FIG. 6 is a waveform diagram illustrating the operation of the serialization controller shown in FIG. 5.
도 7은 도 3에 도시된 제 1 위상 이동부를 설명하기 위한 회로도이다.FIG. 7 is a circuit diagram for describing the first phase shifter illustrated in FIG. 3.
도 8은 도 3에 도시된 제 1 멀티플렉서를 설명하기 위한 회로도이다.FIG. 8 is a circuit diagram illustrating the first multiplexer shown in FIG. 3.
도 9은 도 3에 도시된 제 5 위상 이동부를 설명하기 위한 회로도이다.FIG. 9 is a circuit diagram for describing a fifth phase shifter illustrated in FIG. 3.
이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 본 발명의 가장 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하기로 한다.DETAILED DESCRIPTION Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art may easily implement the technical idea of the present invention. do.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 다른 반도체 메모리 장치의 데이터 출력회로를 설명하기 위한 블록도이다.3 is a block diagram illustrating a data output circuit of a semiconductor memory device according to an embodiment of the present invention.
도시된 바와 같이, 데이터 출력회로는 병렬로 입력되는 8개의 데이터를 직렬화하여 4개의 연속되는 2개 데이터를 출력하기 위한 제 1 직렬화부(300A), 제 1 직렬화부(300A)의 출력을 전달받아 2개의 연속되는 4개 데이터를 출력하기 위한 제 2 직렬화부(300B), 및 제 2 직렬화부(300B)의 출력을 전달받아 직렬화된 8개의 데이터를 출력하기 위한 제 3 직렬화부(300C)를 포함한다. As shown, the data output circuit receives the outputs of the first serializer 300A and the first serializer 300A for serializing eight data input in parallel to output four consecutive two data. A second serializer 300B for outputting two consecutive four data, and a third serializer 300C for outputting eight serialized data by receiving the output of the second serializer 300B. do.
여기서, 제 1 직렬화부(300A)는 8개의 데이터(D0 ~ D7) 중 4개의 데이터(D4 ~ D7)를 상기 직렬화된 8개의 데이터의 각 데이터 윈도우(UI)의 4배(4UI)만큼 위상을 이동시키기 위한 제 1 및 제 2 위상 이동부(310A, 310B), 8개의 데이터 중 다른 4개의 데이터(D0 ~ D3)와 제 1 및 제 2 위상 이동부(310A, 310B)의 출력을 멀티플렉싱하여 4개의 연속되는 2개 데이터를 출력하기 위한 제 1 및 제 2 멀티플렉서(320A, 320B), 및 제 1 및 제 2 멀티플렉서(320A, 320B)의 출력을 래치하기 위한 제 1 및 제 2 래치부(330A, 330B)를 포함한다. Here, the first serialization unit 300A phases four data D4 to D7 of the eight data D0 to D7 by four times (4UI) of each data window UI of the eight serialized data. The first and second phase shifters 310A and 310B for moving, the other four data D0 to D3 among the eight data, and the outputs of the first and second phase shifters 310A and 310B are multiplexed to 4 First and second multiplexers 320A and 320B for outputting two consecutive data, and first and second latches 330A for latching outputs of the first and second multiplexers 320A and 320B. 330B).
구체적으로 살펴보면, 병렬로 전달되는 8개의 데이터(D0 ~ D7) 중 홀수번째 데이터(D0, D2, D4, D6)는 제 1 멀티플렉서(320A)에 의해 두 개씩 짝지어 직렬화된다. 이를 위해 먼저 제 1 위상 이동부(310A)는 홀수번째 데이터 중 두 개의 데이터(D4, D6)를 제 1 및 제 2 멀티플렉서(320A, 320B)에 의해 정렬되는 데이터의 윈도우(4UI)만큼 지연하여 위상을 이동시킨다. 마찬가지로, 짝수번째 데이터(D1, D3, D5, D7)에 대해서도 제 2 위상 이동부(310B)와 제 2 멀티플렉서(320B)를 이용하여 데이터를 직렬화하여 정렬한다. 제 1 및 제 2 멀티플렉서(320A, 320B)에 의해 두 개의 데이터씩 짝지어진 4개의 데이터는 제 1 및 제 2 래치부(330A, 330B)에 의해 각각 래치된다. 여기서, 제 1 직렬화부(300A) 내 제 1 및 제 2 래치부(330A, 330B)에서 출력되는 연속되는 2개의 데이터를 포함하는 4개의 데이터의 각 데이터 윈도우는 제 3 직렬화부(300C)에서 출력되는 직렬화된 8개의 데이터의 각 윈도우의 4배(4UI)이다.In detail, odd-numbered data D0, D2, D4, and D6 of eight data D0 to D7 transmitted in parallel are serially paired and serialized by the first multiplexer 320A. To this end, the first phase shifter 310A first delays two data D4 and D6 among odd-numbered data by a window 4UI of data aligned by the first and second multiplexers 320A and 320B. Move it. Similarly, even-numbered data D1, D3, D5, and D7 are serialized and aligned using the second phase shifter 310B and the second multiplexer 320B. Four data paired by two data by the first and second multiplexers 320A and 320B are latched by the first and second latch units 330A and 330B, respectively. Here, each data window of four data including two consecutive data output from the first and second latch units 330A and 330B in the first serializer 300A is output from the third serializer 300C. 4 times each window of 8 serialized data.
또한, 제 1 및 제 2 래치부(330A, 330B)로부터 출력되는 4개의 데이터를 전달받는 제 2 직렬화부(300B)는 4개의 데이터 중 2개의 데이터(D2-D6, D3-D7)를 직렬화된 8개의 데이터의 각 데이터 윈도우의 2배(2UI)만큼 위상을 이동시키기 위한 제 3 및 제 4 위상 이동부(340A, 340B), 4개의 데이터 중 다른 2개의 데이터(D0-D4, D1-D5)와 제 3 및 제 4 위상 이동부(340A, 340B)의 출력을 멀티플렉싱하여 2개의 연속되는 4개 데이터(D0-D2-D4-D6, D1-D3-D5-D7)를 출력하기 위한 제 3 및 제 4 멀티플렉서(350A, 350B), 및 제 3 및 제 4 멀티플렉서(350A, 350B)의 출력을 래치하기 위한 제 3 및 제 4 래치부(360A, 360B)를 포함한다.In addition, the second serializer 300B, which receives four data output from the first and second latch units 330A and 330B, serializes two data D2-D6 and D3-D7 of the four data. Third and fourth phase shifters 340A and 340B for shifting the phase by two times (2UI) of each data window of eight data, and two other data among the four data (D0-D4 and D1-D5) And a third for outputting two consecutive four data (D0-D2-D4-D6, D1-D3-D5-D7) by multiplexing the outputs of the third and fourth phase shifters 340A and 340B. And fourth and fourth latch portions 360A and 360B for latching the outputs of the fourth multiplexers 350A and 350B and the third and fourth multiplexers 350A and 350B.
구체적으로 살펴보면, 제 3 및 제 4 위상 이동부(340A, 340B)는 제 1 직렬화부(300A) 내 제 1 및 제 2 래치부(330A, 330B)로부터 출력된 4개의 데이터 중 2개의 데이터(D2-D6, D3-D7)를 데이터 클록(WCK, WCKB)을 1/2 분주율로 분주하여 생성된 분주 클록(WCK/2, WCKB/2)을 사용하여 지연한다. 여기서, 데이터 클록(WCK, WCKB)은 직렬화된 8개의 데이터가 출력되는 데 기준으로 사용되는 클록으로서 시스템 클록의 주파수보다 2배 높은 주파수를 가지며, 새롭게 제안된 반도체 메모리 장치는 데이터 클록(WCK, WCKB)의 한 주기 동안 두 개의 데이터를 출력한다. 즉, 직렬화된 8개의 데이터 각각의 데이터 윈도우(UI)는 데이터 클록(WCK, WCKB)의 주기의 절반에 해당한다. Specifically, the third and fourth phase shifters 340A and 340B may include two data D2 among the four data output from the first and second latch units 330A and 330B in the first serializer 300A. -D6, D3-D7) are delayed by using the divided clocks WCK / 2 and WCKB / 2 generated by dividing the data clocks WCK and WCKB at half frequency. Here, the data clocks WCK and WCKB are used as a reference for outputting the eight serialized data and have a frequency twice as high as that of the system clock. The newly proposed semiconductor memory device has a data clock WCK and WCKB. Output two data during one cycle of). That is, the data window UI of each of the eight serialized data corresponds to half of the period of the data clocks WCK and WCKB.
제 3 및 제 4 위상 이동부(340A, 340B) 각각은 주기가 직렬화된 8개의 데이터 각각의 데이터 윈도우(UI)의 4배가 되는 분주 클록(WCK/2, WCKB/2)을 사용하여 2개의 데이터(D2-D6, D3-D7) 각각의 위상을 직렬화된 8개의 데이터 각각의 데이터 윈도우(UI)의 2배만큼 지연한다. 이후, 제 3 및 제 4 멀티플렉서(350A, 350B) 각각은 제 1 및 제 2 래치부(330A, 330B)로부터 출력된 4개의 데이터 중 제 3 및 제 4 위상 이동부(340A, 340B)에 의해 위상이 지연된 두 개의 데이터(D2-D6, D3-D7)를 그렇지 않은 다른 두 개의 데이터(D0-D4, D1-D5)를 각각 정렬하여 2개의 연속되는 4개 데이터(D0-D2-D4-D6, D1-D3-D5-D7)를 출력한다. 마지막으로, 제 3 및 제 4 래치부(360A, 360B)는 제 3 및 제 4 멀티플렉서(350A, 350B)의 출력을 래치하고 제 3 직렬화부(300C)로 전달한다.Each of the third and fourth phase shifters 340A and 340B uses two divided clocks WCK / 2 and WCKB / 2, each of which is four times the data window UI of each of the eight serialized data periods. (D2-D6, D3-D7) Delay each phase by twice the data window UI of each of the eight serialized data. Thereafter, each of the third and fourth multiplexers 350A and 350B is phased by the third and fourth phase shifters 340A and 340B among the four data output from the first and second latch units 330A and 330B. The two delayed data (D2-D6, D3-D7) are aligned with the other two data (D0-D4, D1-D5), respectively, so that two consecutive four data (D0-D2-D4-D6, D1-D3-D5-D7) is output. Finally, the third and fourth latch units 360A and 360B latch and output the outputs of the third and fourth multiplexers 350A and 350B to the third serializer 300C.
마지막으로, 제 3 직렬화부(300C)는 2개의 연속되는 4개 데이터(D0-D2-D4-D6, D1-D3-D5-D7) 중 1개의 데이터(D1-D3-D5-D7)를 직렬화된 8개의 데이터의 각 데이터 윈도우(UI)만큼 위상을 이동시키기 위한 제 5 위상 이동부(370)와 2개의 연속되는 4개 데이터(D0-D2-D4-D6, D1-D3-D5-D7) 중 다른 하나(D0-D2-D4-D6)와 제 5 위상 이동부(370)의 출력을 멀티플렉싱하여 상기 직렬화된 8개의 연속되는 데이터(D0-D1-D2-D3-D4-D5-D6-D7)를 출력하기 위한 제 5 멀티플렉서(380)를 포함한다.Finally, the third serialization unit 300C serializes one data D1-D3-D5-D7 of two consecutive four data D0-D2-D4-D6 and D1-D3-D5-D7. A fifth phase shifter 370 for shifting the phase by each data window UI of the eight data data and two consecutive four data (D0-D2-D4-D6, D1-D3-D5-D7) The serialized eight consecutive data (D0-D1-D2-D3-D4-D5-D6-D7) by multiplexing the outputs of the other one (D0-D2-D4-D6) and the fifth phase shifter 370. A fifth multiplexer 380 for outputting
도 3을 참조하면, 데이터 출력회로는 읽기 명령에 대응하여 데이터 출력을 활성화하는 읽기 데이터 출력신호(RDOUTEN)와 데이터 출력의 기준이 되는 데이터 클록(WCK)의 분주 클록(WCK/2)에 대응하여 제 1 직렬화부(300A) 내 제 1 및 제 2 위상 이동부를 제어하기 위한 제 1 제어펄스(POUT_CL15P), 제 1 및 제 2 멀티플렉서(320A, 320B)를 제어하기 위한 제 2 제어펄스(POUT_CL15), 및 제 1 및 제 2 래치부(330A, 330B)를 제어하기 위한 데이터 전달 신호(DOFFB)를 출력하기 위한 직렬화 제어부(390)를 더 포함한다.Referring to FIG. 3, the data output circuit corresponds to a read data output signal RDOUTEN for activating data output in response to a read command and a divided clock WCK / 2 of the data clock WCK as a reference for the data output. A first control pulse POUT_CL15P for controlling the first and second phase shifters in the first serializer 300A, a second control pulse POUT_CL15 for controlling the first and second multiplexers 320A and 320B, And a serialization controller 390 for outputting a data transfer signal DOFFB for controlling the first and second latch units 330A and 330B.
도 4는 도 3에 도시된 반도체 메모리 장치의 동작을 설명하기 위한 파형도이다. 특히, 반도체 메모리 장치의 동작은 데이터 클록(WCK)과 분주 클록(WCK/2)을 기준으로 설명하였고, 도 4는 분주 클록(WCK/2)의 주파수가 시스템 클록의 주파수와 동일하며 시스템 클록의 한 주기(tCK) 동안 4개의 데이터를 출력하는 GDDR5 반도체 메모리 장치의 경우를 예로 들고 있다.4 is a waveform diagram illustrating an operation of the semiconductor memory device shown in FIG. 3. In particular, the operation of the semiconductor memory device has been described with reference to the data clock WCK and the divided clock WCK / 2, and FIG. 4 shows that the frequency of the divided clock WCK / 2 is the same as that of the system clock. An example is a GDDR5 semiconductor memory device that outputs four data in one cycle tCK.
도시된 바와 같이, 반도체 메모리 장치는 읽기 명령이 인가된 후 카스 지연시간(CL)이 지난 시점부터 직렬화된 8개의 연속되는 데이터(D0-D1-D2-D3-D4-D5-D6-D7)를 출력한다. 구체적으로 살펴보면, 반도체 메모리 장치는 카스 지연시간(CL)보다 4tCK(시스템 클록의 4주기)만큼 이른 시점에 읽기 명령에 대응하는 읽기 데이터 출력신호(RDOUTEN)가 활성화한다. 이후, 데이터 출력회로 내 직렬화 제어부(390)는 읽기 데이터 출력신호(RDOUTEN)에 대응하여 제 1 직렬화부(300A)를 제어하기 위한 다수의 신호를 생성한다. 아울러, 내부의 단위셀에서 출력된 다수의 데이터들(D0~D7)은 카스 지연시간(CL)보다 2.5 tCK만큼 이른 시점에 데이터 출력회로로 전달된다. As shown in the drawing, the semiconductor memory device stores eight serialized data (D0-D1-D2-D3-D4-D5-D6-D7) serialized from the time after the cas delay time CL after the read command is applied. Output Specifically, in the semiconductor memory device, the read data output signal RDOUTEN corresponding to the read command is activated at a time point earlier than the cas delay time CL by 4tCK (4 periods of the system clock). Thereafter, the serialization controller 390 in the data output circuit generates a plurality of signals for controlling the first serializer 300A in response to the read data output signal RDOUTEN. In addition, the plurality of data D0 to D7 output from the internal unit cell is transferred to the data output circuit at a time point that is 2.5 tCK earlier than the cas delay time CL.
다수의 데이터들(D0~D7)은 병렬로 데이터 출력회로로 전달된다. 데이터 출력회로는 병렬로 입력된 다수의 데이터들(D0~D7)을 직렬화하여 8개의 연속되는 데이터(D0-D1-D2-D3-D4-D5-D6-D7)를 출력한다. 먼저, 직렬화 제어부(390)는 읽기 데이터 출력신호(RDOUTEN)에 대응하여 카스 지연시간(CL)보다 1.5tCK만큼 이른 시점에 제 1 제어펄스(POUT_CL15P)를 활성화한다. 제 1 직렬화부(300A) 내 제 1 및 제 2 위상 이동부(310A, 310B)는 활성화된 제 1 제어펄스(POUT_CL15P)에 대응하여 다수의 데이터들(D0~D7) 중 4개의 데이터(D4~D7)를 1tCK(4UI)만큼 위상을 지연시킨다. The plurality of data D0 to D7 are transferred to the data output circuit in parallel. The data output circuit serializes a plurality of data D0 to D7 input in parallel and outputs eight consecutive data D0-D1-D2-D3-D4-D5-D6-D7. First, the serialization control unit 390 activates the first control pulse POUT_CL15P at a time point that is 1.5 tCK earlier than the cas delay time CL in response to the read data output signal RDOUTEN. The first and second phase shifters 310A and 310B in the first serialization unit 300A correspond to the activated first control pulses POUT_CL15P and the four data D4 to D7 of the plurality of data D0 to D7. D7) delays the phase by 1tCK (4UI).
또한, 직렬화 제어부(390)는 제 1 제어펄스(POUT_CL15P)와 같이 카스 지연시간(CL)보다 1.5tCK만큼 이른 시점에 제 2 제어펄스(POUT_CL15)를 논리 하이 레벨로 활성화한다. 이때, 제 2 제어펄스(POUT_CL15)의 반전 신호(POUT_CL15B)는 논리 로우 레벨이 된다. 제 2 제어펄스(POUT_CL15)와 제 2 제어펄스(POUT_CL15)의 반전 신호(POUT_CL15B)에 대응하여, 제 1 및 제 2 멀티플렉서(320A, 320B)는 병렬로 입력된 4개의 데이터(D0~D3)와 제 1 및 제 2 위상 이동부(310A, 310B)를 통해 위상이 이동된 다른 4개의 데이터(D4~D7)를 직렬화한다. 제 1 및 제 2 멀티플렉서(320A, 320B)를 통해 4개의 연속되는 2개 데이터(D0-D4, D2-D6, D1-D5, D3-D7)가 생성된 후, 제 1 및 제 2 래치부(330A, 330B)는 직렬화 제어부(390)에서 출력된 데이터 전달 신호(DOFFB)에 대응하여 4개의 데이터를 각각 제 2 직렬화부(300B)로 전달한다.In addition, the serialization control unit 390 activates the second control pulse POUT_CL15 to a logic high level at a time point that is 1.5 tCK earlier than the cas delay time CL, such as the first control pulse POUT_CL15P. At this time, the inversion signal POUT_CL15B of the second control pulse POUT_CL15 is at a logic low level. In response to the inverted signal POUT_CL15B of the second control pulse POUT_CL15 and the second control pulse POUT_CL15, the first and second multiplexers 320A and 320B are connected to four pieces of data D0 to D3 input in parallel. The other four data D4 to D7 whose phases are shifted through the first and second phase shifters 310A and 310B are serialized. After four consecutive two data D0-D4, D2-D6, D1-D5, and D3-D7 are generated through the first and second multiplexers 320A and 320B, the first and second latch units ( The 330A and 330B transfer four pieces of data to the second serializer 300B in response to the data transfer signal DOFFB output from the serialization controller 390.
제 2 직렬화부(300B)로 전달된 4개의 데이터 중 2개의 데이터(D2-D6, D3-D7)는 제 3 및 제 4 위상 이동부(340A, 340B)로 입력되어 0.5tCK(2UI)만큼 지연된다. 이후, 제 3 및 제 4 멀티플렉서(350A, 350B)는 4개의 데이터, 즉 제 3 및 제 4 위상 이동부(340A, 340B)에 의해 지연된 2개의 데이터와 제 1 및 제 2 래치부(330A, 330B)에서 출력된 지연되지 않은 2개의 데이터를 전달받아 2개의 데이터로 직렬화한다. 직렬화된 2개의 데이터는 각각 제 3 및 제 4 래치부(360A, 360B)를 통해 제 3 직렬화부(300C)로 전달된다. 특히, 제 3 및 제 4 래치부(360A, 360B) 각각은 데이터 클록(WCK)의 폴링 에지에 대응하여 카스 지연시간(CL)의 0.25tCK이전에 데이터를 전달한다. 도 4를 참조하면, 제 3 및 제 4 멀티플렉서(350A, 350B)의 입력단(d0, d1, d2, d3)으로 전달된 4개의 데이터(D0-D4, D2-D6, D1-D5, D3-D7)와 제 3 및 제 4 멀티플렉서(350A, 350B)의 출력단(d4, d5)에서의 2개의 데이터(D0-D2-D4-D6, D1-D3-D5-D7)를 통해 제 2 직렬화부(300B)의 동작을 확인할 수 있다.Of the four data transmitted to the second serializer 300B, two data D2-D6 and D3-D7 are input to the third and fourth phase shifters 340A and 340B and delayed by 0.5 tCK (2UI). do. Thereafter, the third and fourth multiplexers 350A and 350B are divided into four pieces of data, namely, two data delayed by the third and fourth phase shifters 340A and 340B, and the first and second latch units 330A and 330B. Receives 2 undelayed data output from) and serializes it into 2 data. The two serialized data are transferred to the third serializer 300C through the third and fourth latch units 360A and 360B, respectively. In particular, each of the third and fourth latch units 360A and 360B transfers data before 0.25 tCK of the cas delay time CL corresponding to the falling edge of the data clock WCK. 4, four data (D0-D4, D2-D6, D1-D5, D3-D7) transmitted to the input terminals (d0, d1, d2, d3) of the third and fourth multiplexers (350A, 350B) ) And the second serializer 300B through two data (D0-D2-D4-D6, D1-D3-D5-D7) at the output terminals d4 and d5 of the third and fourth multiplexers 350A and 350B. ) You can check the operation.
제 4 래치부(360B)를 통해 제 3 직렬화부(300C)로 전달된 데이터(D1-D3-D5-D7)는 제 5 위상 이동부(370)에 대응하여 UI만큼 위상이 지연된다. 제 3 래치부(360A)를 통해 카스 지연시간(CL)보다 0.25tCK(데이터 클록(WCK)의 반 주기)만큼 이전에, 즉 데이터 클록(WCK)의 폴링 에지에 동기되어 제 5 멀티플렉서(380)에 전달되면, 전달되는 하나의 데이터(D0-D2-D4-D6, rdo)는 제 5 멀티플렉서(380)에 의해 데이터 클록(WCK)의 라이징 에지에 동기하여 출력되기 시작한다. 반면, 제 5 위상 이동부(370)를 통해 지연된 다른 하나의 데이터(D1-D3-D5-D7, fdo)는 데이터 클록(WCK)의 라이징 에지에 동기하여 제 5 멀티플렉서(380)로 전달된 후 제 5 멀티플렉서(390)에 의해 데이터 클록(WCK)의 폴링 에지에 동기하여 출력되기 시작한다. 전술한 과정을 통하여, 읽기 명령이 인가된 후 카스 지연시간(CL)이 지난 시점부터 병렬로 전달되었던 8개의 데이터(D0~D7)가 데이터 출력회로에 의해 직렬화되어 연속적으로 출력되는 직렬화된 8개의 데이터(D0-D1-D2-D3-D4-D5-D6-D7)로 출력된다.The data D1-D3-D5-D7 transmitted to the third serializer 300C through the fourth latch unit 360B is delayed in phase by the UI corresponding to the fifth phase shifter 370. The fifth multiplexer 380 through the third latch unit 360A is 0.25 tCK (half period of the data clock WCK) earlier than the cas delay time CL, that is, synchronized with the falling edge of the data clock WCK. When delivered to, one data D0-D2-D4-D6, rdo, which is delivered, starts to be output by the fifth multiplexer 380 in synchronization with the rising edge of the data clock WCK. On the other hand, after another data (D1-D3-D5-D7, fdo) delayed through the fifth phase shifter 370 is transferred to the fifth multiplexer 380 in synchronization with the rising edge of the data clock WCK. Output is started in synchronization with the falling edge of the data clock WCK by the fifth multiplexer 390. Through the above-described process, eight serialized data in which eight data D0 to D7, which have been transmitted in parallel since the cas delay time CL after the read command is applied, are serialized by the data output circuit and continuously output. Data is output as D0-D1-D2-D3-D4-D5-D6-D7.
도 5는 도 3에 도시된 직렬화 제어부(390)를 설명하기 위한 블록도이다.FIG. 5 is a block diagram illustrating the serialization controller 390 shown in FIG. 3.
도시된 바와 같이, 직렬화 제어부(390)는 읽기 데이터 출력신호(RDOUTEN)와 분주 클록(WCK/2)에 대응하여 제 1 제어펄스(POUT_CL15P), 제 2 제어펄스(POUT_CL15, POUT_CL15B), 및 상기 데이터 전달 신호를 출력하기 위한 다수의 플립플랍(391, 392, 393) 및 제 1 ~ 제 3 래치(396, 397, 398)를 포함한다. 특히, 제 1 래치(396)는 읽기 데이터 출력신호(RDOUTEN)에 대응하여 제 1 및 제 2 위상 이동부(310A, 310B)를 제어하기 위한 제 1 제어펄스(POUT_CL15P)를 출력하고, 제 2 래치(397)는 제 1 및 제 2 멀티플렉서(320A, 320B)를 제어하기 위한 데이터 클록(WCK)의 주기에 2배(1tCK)만큼의 활성화구간을 가지는 제 2 제어펄스(POUT_CL15, POUT_CL15B)를 출력한다. 마지막으로, 데이터 전달 신호(DOFFB)는 데이터 클록의 주기에 4배(2tCK)만큼의 활성화구간을 가지며, 제 3 래치(398)를 통해 출력된다.As shown, the serialization control unit 390 corresponds to the read data output signal RDOUTEN and the divided clock WCK / 2, and the first control pulse POUT_CL15P, the second control pulse POUT_CL15 and POUT_CL15B, and the data. A plurality of flip-flops 391, 392, 393 and first to third latches 396, 397, 398 for outputting a transmission signal are included. In particular, the first latch 396 outputs a first control pulse POUT_CL15P for controlling the first and second phase shifters 310A and 310B in response to the read data output signal RDOUTEN, and the second latch 396. 397 outputs second control pulses POUT_CL15 and POUT_CL15B having activation intervals of twice (1 tCK) in the period of the data clock WCK for controlling the first and second multiplexers 320A and 320B. . Finally, the data transfer signal DOFFB has an activation period of four times (2tCK) in the period of the data clock and is output through the third latch 398.
구체적으로 살펴보면, 읽기 명령이 인가된 이후 카스 지연시간(CL)보다 시스템 클록의 4주기만큼 이른 시점(CL-4)에 읽기 데이터 출력신호(RDOUTEN)가 논리 하이 레벨로 활성화되면, 다수의 플립플랍(391, 392, 393)은 분주 클록(WCK/2)에 대응하여 읽기 데이터 출력신호(RDOUTEN)를 위상 이동시킨다. 카스 지연시간(CL)보다 시스템 클록의 2주기만큼 이른 시점(CL-2)에 제 2 플립플랍(392)의 출력단(N2)은 논리 하이 레벨로 천이된다. 이때, 분주 클록(WCK/2)의 제 1 인버터(399_1)에 의해 반전된 시점(즉, 분주 클록(WCK/2)의 폴링 에지)에 논리곱 게이트(395)는 제 1 제어펄스(POUT_CL15P)를 활성화한다. 이때, 제 1 제어펄스(POUT_CL15P)는 데이터 클록(WCK)의 주기만큼 활성화 구간을 가진다.Specifically, if the read data output signal RDOUTEN is activated to a logic high level at a time point CL-4 that is four cycles earlier than the cas delay time CL after the read command is applied, a plurality of flip-flops are provided. 391, 392, and 393 phase shift the read data output signal RDOUTEN in response to the divided clock WCK / 2. The output terminal N2 of the second flip-flop 392 transitions to a logic high level at a time point CL-2 that is two cycles of the system clock earlier than the cas delay time CL. At this time, the AND gate 395 at the time inverted by the first inverter 399_1 of the divided clock WCK / 2 (that is, the falling edge of the divided clock WCK / 2) causes the AND gate 395 to generate a first control pulse POUT_CL15P. Activate. At this time, the first control pulse POUT_CL15P has an activation period for the period of the data clock WCK.
제 2 플립플랍(392)의 출력단(N2)이 논리 하이 레벨로 천이된 후, 제 1 래치(396)는 분주 클록(WCK/2)의 폴링 에지에 대응하여 제 2 제어펄스(POUT_CL15)를 생성한다. 반면, 제 2 플립플랍(392)의 출력단(N2)을 반전한 제 2 인버터(399_2)의 출력을 전달받은 제 2 래치(397)는 분주 클록(WCK/2)의 폴링 에지에 대응하여 제 2 제어펄스(POUT_CL15)의 반전 신호(POUT_CL15B)를 생성한다. 여기서, 제 2 제어펄스(POUT_CL15) 및 제 2 제어펄스(POUT_CL15)의 반전 신호(POUT_CL15B)는 분주 클록(WCK/2)의 폴링 에지에 대응하여 동작하는 제 1 및 제 2 래치(396, 397)로 인해 1tCK(시스템 클록의 한 주기)만큼의 활성화 구간을 가질 수 있다.After the output terminal N2 of the second flip-flop 392 transitions to a logic high level, the first latch 396 generates a second control pulse POUT_CL15 in response to the falling edge of the divided clock WCK / 2. do. On the other hand, the second latch 397, which receives the output of the second inverter 399_2 inverting the output terminal N2 of the second flip-flop 392, corresponds to the falling edge of the divided clock WCK / 2. The inverted signal POUT_CL15B of the control pulse POUT_CL15 is generated. Here, the inverted signal POUT_CL15B of the second control pulse POUT_CL15 and the second control pulse POUT_CL15 may operate in response to the falling edge of the divided clock WCK / 2. Because of this, it may have an activation period of 1tCK (one cycle of the system clock).
제 2 제어펄스(POUT_CL15)의 활성화와 더불어, 데이터 전달 신호(DOFFB) 역시 분주 클록(WCK/2)의 폴링 에지에 대응하여 동작하는 제 3 래치(398)에 의해 생성된다. 하지만 제 3 래치(398)는 제 2 및 제 3 플립플랍(392, 393)의 출력을 논리합 게이트(394)를 통해 전달받음으로써 제 2 제어펄스(POUT_CL15)보다 두 배의 활성화 구간을 가지는 데이터 전달 신호(DOFFB)의 출력이 가능하다.In addition to activating the second control pulse POUT_CL15, the data transfer signal DOFFB is also generated by the third latch 398 that operates in response to the falling edge of the divided clock WCK / 2. However, the third latch 398 receives the outputs of the second and third flip-flops 392 and 393 through the OR gate 394, thereby transferring data having twice the activation period of the second control pulse POUT_CL15. Output of the signal DOFFB is possible.
도 6은 도 5에 도시된 직렬화 제어부(390)의 동작을 설명하기 위한 파형도이다.6 is a waveform diagram illustrating the operation of the serialization control unit 390 shown in FIG. 5.
도시된 바와 같이, 직렬화 제어부(390)는 읽기 데이터 출력신호(RDOUTEN)에 대응하여 분주 클록(WCK/2)을 기준으로 다수의 신호를 생성해내고 있다. 먼저, 읽기 데이터 출력신호(RDOUTEN)가 활성화되면 다수의 플립플랍(391, 392, 393)을 통해 분주 클록(WCK/2)의 주기만큼 위상을 지연시킨다.(다수의 플립플랍(391, 392, 393)의 출력단(N1, N2, N3) 참조) 이후, 분주 클록(WCK/2)의 폴링 에지에 대응하여 직렬화 제어부(390) 내 제 1 및 제 2 래치(396, 397)는 제 1 및 제 2 제어펄스(POUT_CL15P, POUT_CL15, POUT_CL15B)를 생성한다. 이와 더불어, 논리합(OR) 게이트(394)는 제 2 및 제 3 플립플랍(391, 392)의 출력에 논리합 연산을 수행하여 활성화 구간이 두 배인 출력 펄스를 출력단(n4)을 통해 제 3 래치(398)로 전달하고, 제 3 래치(398)는 분주 클록(WCK/2)의 폴링 에지에 대응하여 데이터 전달 신호(DOFFB)를 출력한다.As illustrated, the serialization control unit 390 generates a plurality of signals based on the divided clock WCK / 2 in response to the read data output signal RDOUTEN. First, when the read data output signal RDOUTEN is activated, the phase is delayed by the period of the divided clock WCK / 2 through the plurality of flip-flops 391, 392, and 393. After the output terminal (N1, N2, N3) of 393), the first and second latches 396, 397 in the serialization control unit 390 correspond to the falling edge of the divided clock WCK / 2. 2 Generate the control pulses (POUT_CL15P, POUT_CL15, POUT_CL15B). In addition, the OR gate 394 performs an OR operation on the outputs of the second and third flip-flops 391 and 392 to output an output pulse having the double activation interval through the output terminal n4 to the third latch ( 398, the third latch 398 outputs the data transfer signal DOFFB in response to the falling edge of the divided clock WCK / 2.
도 7은 도 3에 도시된 제 1 위상 이동부(310A)를 설명하기 위한 회로도이다.FIG. 7 is a circuit diagram illustrating the first phase shifter 310A shown in FIG. 3.
도시된 바와 같이, 제 1 위상 이동부(310A)는 병렬로 입력되는 복수의 데이터(D4, D6)를 각각 위상 이동시키기 위한 복수의 단위 래치부를 포함하며, 단위 래치부는 입력되는 데이터(d)를 반전하기 위한 제 3 인버터(321), 제 1 제어펄스(POUT_CL15P)에 대응하여 제 3 인버터(321)의 출력을 전달하기 위한 전송 게이트(314), 및 전송 게이트(314)의 출력을 래치하고 반전하여 출력하기 위한 인버터 래치(318)를 포함한다. 아울러, 단위 래치부는 전송 게이트(314)를 제어하기 위해 제 1 제어펄스(POUT_CL15P)를 반전하기 위한 제 4 인버터(316)를 추가로 포함한다. 도시되지 않았지만, 제 2 위상 이동부(310B)도 제 1 위상 이동부(310A)와 동일한 구성 요소를 포함하고 있다.As shown, the first phase shifting unit 310A includes a plurality of unit latches for phase shifting the plurality of data D4 and D6 respectively input in parallel, and the unit latch unit receives the input data d. Latch and invert the output of the third inverter 321 for inverting, the transfer gate 314 for delivering the output of the third inverter 321 in response to the first control pulse POUT_CL15P, and the transfer gate 314. Inverter latch 318 for outputting. In addition, the unit latch unit further includes a fourth inverter 316 for inverting the first control pulse POUT_CL15P to control the transfer gate 314. Although not shown, the second phase shifter 310B also includes the same components as the first phase shifter 310A.
도 8은 도 3에 도시된 제 1 래치부(330A)를 설명하기 위한 회로도이다.FIG. 8 is a circuit diagram for describing the first latch unit 330A shown in FIG. 3.
도시된 바와 같이, 제 1 래치부(330A)는 제 1 멀티플렉서(320A)로부터 출력된 복수의 연속되는 2개 데이터를 래치하기 위한 복수의 단위 래치부를 포함하며, 단위 래치부는 데이터 전달 신호(DOFFB)에 대응하여 데이터 각각을 반전하여 전달하기 위한 부정논리곱(NAND) 게이트(332), 부정논리곱 게이트(332)의 출력을 직렬화된 8개의 데이터의 각 데이터 윈도우의 4배만큼의 간격으로 전달하기 위한 전송 게이트(334), 및 전송 게이트(334)의 출력을 래치하고 반전하여 출력하기 위한 인버터 래치(336)를 포함한다. As shown, the first latch unit 330A includes a plurality of unit latch units for latching a plurality of two consecutive data output from the first multiplexer 320A, and the unit latch unit includes a data transfer signal DOFFB. NAND gates 332 and NOR gates 332 for inverting and transferring each of the data in correspondence with each other are delivered at intervals of four times the respective data windows of the eight serialized data. And a inverter latch 336 for latching, inverting and outputting the output of the transfer gate 334.
여기서, 부정논리곱 게이트(332)는 데이터 전달 신호(DOFFB)가 논리 하이 레벨일 경우 입력되는 데이터(d)를 반전하여 전송 게이트(334)로 전달하지만, 데이터 전달 신호(DOFFB)가 논리 로우 레벨일 경우 입력되는 데이터(d)의 레벨에 관계없이 논리 하이 레벨을 전송 게이트(334)로 전달한다. 또한, 인버터 래치(336)도 셋팅 신호(SETB)에 의해 리셋된다. 셋팅 신호(SETB)가 논리 로우 레벨로 활성화되면, 인버터 래치(336)는 전송 게이트(334)의 출력과 무관하게 논리 로우 레벨의 값을 입력받아 출력한다.Here, the negative logic gate 332 inverts the input data d to the transfer gate 334 when the data transfer signal DOFFB is at a logic high level, but the data transfer signal DOFFB is at a logic low level. In this case, the logic high level is transmitted to the transfer gate 334 regardless of the level of the input data d. In addition, the inverter latch 336 is also reset by the setting signal SETB. When the setting signal SETB is activated at a logic low level, the inverter latch 336 receives and outputs a logic low level value regardless of the output of the transmission gate 334.
도 9은 도 3에 도시된 제 5 위상 이동부(370)를 설명하기 위한 회로도이다.FIG. 9 is a circuit diagram for describing the fifth phase shifter 370 illustrated in FIG. 3.
도시된 바와 같이, 제 5 위상 이동부(370)는 데이터 클록(WCK)에 대응하여 제 4 래치부(360B)에서 출력되는 데이터(d6)의 위상을 이동시키거나, 테스트 동작시 혹은 트레이닝 동작시 시스템 클록 혹은 데이터 클록(WCK)과 동기되지 않은 임의의 데이터를 출력한다.As illustrated, the fifth phase shifter 370 shifts the phase of the data d6 output from the fourth latch unit 360B in response to the data clock WCK, or during a test operation or a training operation. Outputs any data that is not synchronized with the system clock or data clock WCK.
구체적으로 살펴보면, 제 5 위상 이동부(370)는 데이터 클록(WCK)에 동기하여 데이터를 반전하기 위한 데이터 반전부(372), 테스트 동작시 혹은 상기 트레이닝 동작시 임의의 데이터를 출력하기 위한 비동기 데이터 생성부(374), 및 데이터 반전부(372) 및 비동기 데이터 생성부(374)의 출력을 래치하고 반전 신호를 출력하기 위한 인버터 래치(376)를 포함한다. 데이터 반전부(372)는 데이터 클록(WCK)의 라이징 에지에 동기하여 입력되는 데이터(d6)를 반전하여 전달하고, 인버터 래치(376)는 데이터 반전부(372)에서 전달된 데이터를 반전하여 제 5 멀티플렉서(380)로 출력한다. 제 5 위상 이동부(370)로부터 데이터 클록(WCK)의 라이징 에지에 동기되어 출력되기 시작하는 데이터를 입력받아 제 5 멀티플렉서(380)는 데이터 클록(WCK)의 폴링 에지에 대응하여 외부로 출력한다. Specifically, the fifth phase shifter 370 may include a data inversion unit 372 for inverting data in synchronization with the data clock WCK, and asynchronous data for outputting arbitrary data during a test operation or the training operation. A generator 374 and an inverter latch 376 for latching the output of the data inverting unit 372 and the asynchronous data generating unit 374 and outputting an inverted signal. The data inverting unit 372 inverts and transfers the data d6 input in synchronization with the rising edge of the data clock WCK, and the inverter latch 376 inverts the data transferred from the data inverting unit 372 to generate the first data inverted. Output to the multiplexer 380. The fifth multiplexer 380 receives data starting from the fifth phase shifter 370 in synchronization with the rising edge of the data clock WCK and outputs the data to the outside in response to the falling edge of the data clock WCK. .
반면, 내부에서 전달된 데이터를 출력하지 않는 테스트 동작 혹은 트레이닝 동작의 경우 비동기 가능 신호(async_en) 및 비동기 시작 신호(async_do)를 활성화시켜 제 5 위상 이동부(370)가 임의의 데이터를 출력할 수 있도록 한다. 이때, 데이터 클록(WCK)은 논리 로우 레벨로 비활성화시킨다.On the other hand, in the case of a test operation or a training operation that does not output the data transmitted internally, the fifth phase shifter 370 may output arbitrary data by activating the asynchronous enable signal async_en and the asynchronous start signal async_do. Make sure At this time, the data clock WCK is deactivated to a logic low level.
본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 메모리 장치의 동작 방법은 읽기 명령에 대응하여 내부의 단위셀로부터 전달되어 병렬로 입력되는 8개의 데이터를 4개의 연속되는 2개 데이터로 출력하기 위한 제 1 직렬화 단계, 4개의 연속되는 2개 데이터를 2개의 연속되는 4개 데이터로 출력하기 위한 제 2 직렬화 단계, 및 2개의 연속되는 4개 데이터를 직렬화된 8개의 데이터로 출력하기 위한 제 3 직렬화 단계를 포함한다. 여기서, 제 1 직렬화 단계에서 출력되는 연속되는 2개의 데이터의 각 데이터 윈도우는 직렬화된 8개의 데이터의 각 윈도우의 4배이고, 제 2 직렬화 단계에서 출력되는 연속되는 4개 데이터의 각 데이터 윈도우는 직렬화된 8개의 데이터의 각 윈도우의 2배이다.A method of operating a semiconductor memory device according to an embodiment of the present invention includes a first serialization step of outputting eight data, which are transmitted from an internal unit cell and input in parallel, as four consecutive two data in response to a read command. A second serialization step for outputting four consecutive two data as two consecutive four data, and a third serialization step for outputting two consecutive four data as eight serialized data; . Here, each data window of two consecutive data output in the first serialization step is four times each window of eight serialized data, and each data window of four consecutive data output in the second serialization step is serialized. It is twice the window of eight data.
구체적으로, 제 1 직렬화 단계는 8개의 데이터 중 4개의 데이터를 상기 직렬화된 8개의 데이터의 각 데이터 윈도우의 4배만큼 위상을 이동시키기 위한 단계, 8개의 데이터 중 다른 4개의 데이터와 상기 위상 이동된 4개의 데이터를 멀티플렉싱하여 4개의 연속되는 2개 데이터를 출력하기 위한 단계, 및 4개의 연속되는 2개 데이터를 래치하기 위한 단계를 포함한다. Specifically, the first serializing step includes shifting phases of four data of eight data by four times each data window of the serialized eight data, and shifting the phase data of the other four data of eight data. Multiplexing four data to output four consecutive two data, and latching four consecutive two data.
또한, 제 2 직렬화 단계는 4개의 연속되는 2개 데이터 중 2개의 데이터를 직렬화된 8개의 데이터의 각 데이터 윈도우의 2배만큼 위상을 이동시키기 위한 단계, 4개의 연속되는 2개 데이터 중 다른 2개의 데이터와 위상 이동된 데이터를 멀티플렉싱하여 상기 2개의 연속되는 4개의 데이터를 출력하기 위한 단계, 및 멀티플렉서의 출력을 래치하기 위한 단계를 포함한다. Also, the second serialization step is for shifting the phase of two data out of four consecutive two data by twice the data window of the eight data serialized, and the other two out of four consecutive two data. Multiplexing data and phase shifted data to output the two consecutive four data, and latching an output of the multiplexer.
마지막으로, 제 3 직렬화 단계는 2개의 연속되는 4개 데이터 중 1개의 데이터를 직렬화된 8개의 데이터의 각 데이터 윈도우만큼 위상을 이동시키기 위한 단계, 및 2개의 연속되는 4개 데이터 중 다른 하나와 위상 이동된 데이터를 멀티플렉싱하여 직렬화된 8개의 연속되는 데이터를 출력하기 위한 단계를 포함한다. 또한, 테스트 동작시 혹은 트레이닝 동작시, 제 3 직렬화 단계는 시스템 클록과 동기되지 않은 임의의 데이터를 외부로 출력하는 단계를 포함한다.Finally, the third serialization step is for shifting the phase of one of the two consecutive four data by each data window of the eight serialized data, and the phase with the other of the two consecutive four data. Multiplexing the shifted data to output the serialized eight consecutive data. In addition, during a test operation or a training operation, the third serialization step may include outputting externally any data that is not synchronized with the system clock.
전술한 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 메모리 장치 내 데이터 출력회로가 데이터의 출력 시점(즉, 읽기 명령이 인가된 후 카스 지연시간(CL)이 지난 시점)으로부터 1.5tCK이전에 병렬로 출력되는 다수의 데이터를 직렬화함으로써 높은 주파수의 시스템 클록 및 데이터 클록에 대응하는 데이터 출력이 가능해졌다. 특히, 빠른 데이터의 입출력이 중요하게 여겨지는 그래픽용 반도체 메모리 장치의 경우 높은 주파수의 시스템 클록에 대응하는 동작이 가능해짐에 따라 제품 경쟁력이 향상된다.As described above, the data output circuit in the semiconductor memory device according to an embodiment of the present invention is parallel to 1.5 tCK before the data output time (that is, the cas delay time CL after the read command is applied). By serializing a large number of data outputs, it is possible to output data corresponding to high frequency system clocks and data clocks. In particular, in the case of a graphics semiconductor memory device in which fast data input and output are considered important, the operation of a high frequency system clock becomes possible, thereby improving product competitiveness.
또한, 본 발명은 반도체 메모리 장치 내 데이터 출력회로를 일 예로 들어 설명하였으나, 다수의 병렬로 입력되는 데이터를 직렬화하여 출력하기 위한 통신 및 네트워크 장비에도 활용이 가능하다.In addition, the present invention has been described using the data output circuit in the semiconductor memory device as an example, but may be utilized in communication and network equipment for serializing and outputting data input in parallel.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경할 수 있다는 것이 본 발명이 속한 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.The present invention described above is not limited to the above-described embodiment and the accompanying drawings, and it is common in the art that various substitutions, modifications, and changes can be made without departing from the technical spirit of the present invention. It will be evident to those who have knowledge of.
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