KR20090068945A - Method and apparatus for inspecting edge-side of glass plate, and method for manufacturing flat display panel - Google Patents
Method and apparatus for inspecting edge-side of glass plate, and method for manufacturing flat display panel Download PDFInfo
- Publication number
- KR20090068945A KR20090068945A KR1020070136759A KR20070136759A KR20090068945A KR 20090068945 A KR20090068945 A KR 20090068945A KR 1020070136759 A KR1020070136759 A KR 1020070136759A KR 20070136759 A KR20070136759 A KR 20070136759A KR 20090068945 A KR20090068945 A KR 20090068945A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- laser beam
- glass substrate
- edge surface
- light
- light amount
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B33/00—Severing cooled glass
- C03B33/02—Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor
- C03B33/023—Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor the sheet or ribbon being in a horizontal position
- C03B33/033—Apparatus for opening score lines in glass sheets
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1303—Apparatus specially adapted to the manufacture of LCDs
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/133354—Arrangements for aligning or assembling substrates
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136254—Checking; Testing
Abstract
Description
본 발명은 간단한 구성을 통하여 유리기판의 에지면에 발생된 칩핑, 에지 결손 등의 흠집 및 비연마부 등의 결점에 대한 검출 정밀도를 높일 수 있는 유리기판의 에지면 검사방법 및 장치, 평판 디스플레이 패널의 제조방법에 관한 것이다.The present invention provides a method and apparatus for inspecting edges of glass substrates and flat panel displays, which can improve the detection accuracy of defects such as chipping, edge defects, and non-abrasive parts generated on the edges of glass substrates through a simple configuration. It relates to a manufacturing method.
일반적으로 평판 디스플레이 패널(FDP)은 사용되는 물질을 기준으로 하여 무기물을 사용하는 소자와 유기물을 사용하는 소자로 구분된다. 무기물을 사용하는 소자에는 형광체로 PL(Photo Luminescence)을 이용하는 플라즈마 디스플레이 패널(PDP, Plasma Display Panel)과 CE(Cathode Luminescence)를 이용한 전계방출 표시소자(FED, Field Emission Display) 등이 있고, 유기물을 사용하는 소자에는 액정표시소자(LCD, Liquid Crystal Display) 및 유기발광 표시소자(OLED, Organic Light Emitting Display) 등이 있다.In general, a flat panel display panel (FDP) is classified into a device using an inorganic material and a device using an organic material based on the material used. Devices using inorganic materials include plasma display panels (PDPs) using PL (photo luminescence) and field emission displays (FEDs) using CE (Cathode Luminescence), and organic materials. Examples of the device to be used include a liquid crystal display (LCD) and an organic light emitting display (OLED).
상기와 같은 평판 디스플레이 패널의 생산 과정에서는 먼저, 소정의 두께(약 0.5 내지 2.8mm)로 제조된 판유리를 생산하고자 하는 패널의 크기에 맞게 절단한 후 절단된 유리기판의 에지면에 생긴 미소한 요철이나 기복을 제거하기 위하여 연마가공함으로써 제품화시킨다. 그러나, 유리기판의 에지면을 연마한 후에도 칩핑, 에지 결손 또는 비연마부 등의 결점이 존재할 수 있다.In the production process of such a flat panel display panel, first, the plate glass manufactured to a predetermined thickness (about 0.5 to 2.8 mm) is cut to fit the size of the panel to be produced, and then minute unevenness is formed on the edge surface of the cut glass substrate. In order to remove the undulation, it is commercialized by grinding. However, even after polishing the edge surface of the glass substrate, defects such as chipping, edge defects or non-polishing portions may exist.
도 1은 일반적인 유리기판에 발생된 결점을 도시한 사시도로서, 유리기판(10)에 발생되는 결점에는 칩핑(11), 에지 결손(12) 또는 비연마부(13) 등이 있다.FIG. 1 is a perspective view illustrating a defect generated in a general glass substrate, and the defect generated in the
칩핑(11)과 에지 결손(12)은 그라인딩(grinding)과 같은 연마가공시 또는 외부 충격에 의해 에지면의 일부가 떨어져 나가면서 발생되는 결점으로서, 에지 결손(12)은 칩핑(11)에 비하여 상대적으로 크기가 큰 것을 말한다. 이와 반대로, 비연마부(13)는 그라인더(grinder)와 같은 연마기의 마모 등에 의하여 연마가 되지 않아 발생되는 결점이다.The
상기와 같은 결점들을 간과한 채로 평판 디스플레이 패널의 생산 과정을 계속 진행한다면, 유리기판의 이송이나 정렬시에 오차를 발생시킬 수 있고, 생산 과정 중에서 발생하는 파티클에 의해 유리기판뿐 아니라 생산 라인에 배치된 각종 장치에도 심각한 문제를 초래할 수 있다. 또한, 평판 디스플레이 장치로서 제작이 완료된 경우라도 외부의 조그만 충격에도 상기 결점을 중심으로 응력집중이 발생되어 패널이 쉽게 파손될 수 있다.If the manufacturing process of the flat panel display panel is continued while overlooking the above defects, an error may occur during the transfer or alignment of the glass substrate, and the particles generated during the production process may be disposed on the production line as well as the glass substrate. Various devices may cause serious problems. In addition, even when the fabrication of the flat panel display device is completed, stress concentration may be generated around the above-mentioned defects even in a small external shock, and thus the panel may be easily damaged.
따라서, 이러한 유리기판의 에지면을 검사하여 결점의 유무를 판단하고, 다 음 공정에서 불필요한 작업을 방지함으로써 생산 효율을 높이고, 고신뢰성 및 고품질을 유지할 수 있는 유리기판의 에지면을 검사할 수 있는 기술이 필요하다.Therefore, it is possible to inspect the edges of glass substrates that can inspect the edges of glass substrates to determine the presence of defects and to prevent unnecessary work in the following processes, thereby increasing the production efficiency and maintaining the high reliability and quality of the glass substrates. Skill is needed.
도 2는 유리기판(10)에 대한 광반사 및 광흡수를 설명하기 위한 모식도로서, 광반사는 입사되는 입사광(I1)이 계면을 만날 경우 입사각(θ)과 같은 각도로 반사광(I2)이 반사되는 것을 말한다.FIG. 2 is a schematic diagram illustrating the light reflection and the light absorption of the
상기 광반사와는 반대로, 계면으로부터 반사된 반사광(I2)이 입사광(I1)보다 빛의 세기가 감소되는데, 이때 계면 내부로 입사광(I1)의 일부가 흡수되는 것을 광흡수라 한다.Contrary to the light reflection, the light intensity of the reflected light I2 reflected from the interface is lower than that of the incident light I1, and the absorption of part of the incident light I1 into the interface is called light absorption.
종래 유리기판의 에지면 검사방법 및 장치에는 LED와 같은 광원을 유리기판에 투과 또는 반사시켜 카메라로 촬상한 후 유리기판의 결점을 검출하는 방법 및 장치 등이 있다. 그러나, 상기와 같이 유리기판(10)의 에지면(15)으로부터 투과 또는 반사되는 반사광(I2)의 세기가 약해 유리기판(10)의 에지면(15)에 발생된 결점의 검출정밀도가 떨어지는 문제가 있고, LED 및 카메라의 설치를 위해 장치의 대형화 및 복잡화에 대한 문제가 있다.Background Art [0002] Conventional methods and devices for inspecting edges of glass substrates include methods and apparatuses for detecting defects in glass substrates after imaging with a camera by transmitting or reflecting a light source such as an LED onto a glass substrate. However, as described above, the intensity of the reflected light I2 transmitted or reflected from the
종래기술에 따른 유리기판의 에지면 검사방법 및 장치는, 광원으로 LED를 사용하여 유리기판으로부터 투과 또는 반사된 빛을 카메라로 촬영하는 방식을 사용함으로써, 장치가 대형화되는 문제점이 있다.The method and apparatus for inspecting edges of a glass substrate according to the prior art have a problem in that the apparatus is enlarged by using a method of photographing light transmitted or reflected from the glass substrate with a camera using an LED as a light source.
또한, 검출정밀도가 낮아 미세한 결점에 대해서 쉽게 판별할 수 없을 뿐만 아니라 고가의 장비 등을 사용해야 하는 문제점이 있다.In addition, the detection accuracy is low, there is a problem in that it is not easy to determine the fine defects, as well as using expensive equipment.
상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 본 발명의 목적은, 간단한 구성을 통하여 유리기판의 에지면에 발생된 칩핑, 에지 결손 등의 흠집 및 비연마부 등의 결점에 대한 검출 정밀도를 높일 수 있는 유리기판의 에지면 검사방법 및 장치, 평판 디스플레이 패널의 제조방법을 제공하는 데 있다.An object of the present invention devised to solve the above problems, glass that can increase the detection accuracy for defects such as scratches and non-abrasive parts such as chipping, edge defects, etc. generated on the edge surface of the glass substrate through a simple configuration The present invention provides a method and apparatus for inspecting an edge of a substrate and a method for manufacturing a flat panel display panel.
전술한 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 유리기판의 에지면 검사방법은, 이송된 유리기판을 지지하여 정렬시키는 유리기판 정렬단계와, 상기 유리기판의 에지면에 레이저빔을 조사하는 레이저빔 조사단계와, 상기 유리기판의 에지면으로부터 반사된 레이저빔을 포토센서로 수광하는 레이저빔 수광단계와, 수광된 상기 레이저빔의 광량을 검출하는 광량 검출단계를 포함하여 이루어진다.In order to achieve the above object, an edge surface inspection method of a glass substrate according to the present invention includes a glass substrate alignment step of supporting and aligning the transferred glass substrate, and laser beam irradiation for irradiating a laser beam to the edge surface of the glass substrate. And a laser beam receiving step of receiving the laser beam reflected from the edge surface of the glass substrate with a photosensor, and a light amount detecting step of detecting the light quantity of the received laser beam.
또한, 상기 광량 검출단계 이후에 수행되고, 검출된 상기 레이저빔의 광량이 기설정된 광량의 범위 이내인지를 판단하는 광량 판단단계와, 상기 광량이 기설정된 광량의 범위를 벗어나는 경우 외부에 경고하여 알리는 경고단계를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, a light amount determination step performed after the light amount detection step and determining whether the detected light amount of the laser beam is within a range of a predetermined light amount, and alerting the outside when the light amount is out of a range of a predetermined light amount. It further comprises a warning step.
또한, 상기 유리기판 정렬단계는, 상기 유리기판을 촬영하는 유리기판 촬영단계와, 촬영된 상기 유리기판의 정렬 정도를 측정하여 기설정된 정렬값의 범위내로 상기 유리기판이 정렬되도록 보정하는 유리기판 보정단계와, 보정된 상기 유리기판을 고정시키는 유리기판 고정단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.The glass substrate alignment step includes a glass substrate photographing step of photographing the glass substrate and a glass substrate correction step of measuring the degree of alignment of the photographed glass substrate and correcting the glass substrate to be aligned within a range of a preset alignment value. And a glass substrate fixing step of fixing the corrected glass substrate.
또한, 상기 레이저빔 조사단계는, 레이저빔을 발생 및 증폭시켜 레이저발광부로부터 레이저빔이 방출되는 레이저빔 방출단계와, 방출된 상기 레이저빔을 상기 유리기판의 에지면에 조사되도록 안내하는 에지면 안내단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.The laser beam irradiation step may include a laser beam emission step of generating and amplifying a laser beam to emit a laser beam from a laser light emitting unit, and an edge surface for guiding the emitted laser beam to the edge surface of the glass substrate. Characterized in that it comprises a guide step.
또한, 상기 레이저빔 수광단계는, 상기 유리기판의 에지면으로부터 반사된 레이저빔을 집광렌즈를 이용하여 집광하는 레이저빔 집광단계와, 상기 집광렌즈에 의해 집광된 레이저빔을 포토센서로 안내하는 포토센서 안내단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.The laser beam receiving step may include a laser beam condensing step of condensing a laser beam reflected from an edge surface of the glass substrate using a condenser lens, and a photo for guiding the laser beam condensed by the condenser lens to a photo sensor. It characterized in that it comprises a sensor guide step.
한편, 본 발명에 따른 유리기판의 에지면 검사장치는, 이송된 유리기판을 지지하여 정렬시키는 스테이지와, 상기 유리기판의 에지면에 레이저빔을 조사하는 레이저빔 조사유니트와, 상기 유리기판의 에지면으로부터 반사된 레이저빔을 수광하는 레이저빔 수광유니트와, 상기 레이저빔 수광유니트로부터 신호를 받아 상기 레 이저빔의 광량을 검출하여 기설정된 광량의 범위 이내인지를 판단하는 제어부를 포함하여 이루어진다.On the other hand, the edge surface inspection apparatus of the glass substrate according to the present invention includes a stage for supporting and aligning the transferred glass substrate, a laser beam irradiation unit for irradiating a laser beam to the edge surface of the glass substrate, the edge of the glass substrate A laser beam receiving unit for receiving a laser beam reflected from the surface, and a control unit for receiving a signal from the laser beam receiving unit and detecting the amount of light of the laser beam to determine whether it is within a predetermined range of light amount.
또한, 상기 제어부에 의해 판단된 상기 광량이 기설정된 광량의 범위를 벗어나는 경우 외부에 경고하여 알리는 경고부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.The apparatus may further include a warning unit which warns and notifies the outside when the amount of light determined by the controller is outside the range of a preset amount of light.
또한, 상기 레이저빔 조사유니트는, 레이저빔을 발생 및 증폭시켜 조사하는 레이저발광부와, 상기 레이저발광부로부터 조사된 상기 레이저빔을 상기 유리기판의 에지면에 안내하는 제1 가이드수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the laser beam irradiation unit includes a laser light emitting unit for generating and amplifying a laser beam and a first guide means for guiding the laser beam irradiated from the laser light emitting unit to an edge surface of the glass substrate. It is characterized by.
또한, 상기 레이저빔 수광유니트는, 상기 유리기판의 에지면으로부터 반사된 레이저빔을 집광하는 집광렌즈와, 상기 집광렌즈로부터 집광된 레이저빔을 수광하는 포토센서를 포함하는 것을 특징으로 한다.The laser beam light receiving unit may include a condenser lens for condensing the laser beam reflected from the edge surface of the glass substrate, and a photosensor for receiving the laser beam condensed from the condenser lens.
또한, 상기 레이저빔 수광유니트는, 상기 집광렌즈로부터 집광된 레이저빔을 상기 포토센서로 안내하는 제2 가이드수단을 더 포함하는 것을 특징으로 한다.The laser beam receiving unit may further include second guide means for guiding the laser beam collected from the condenser lens to the photosensor.
한편, 본 발명에 따른 평판 디스플레이 패널의 제조방법은, 소정의 두께로 제조된 판유리를 생산하고자 하는 패널의 크기에 맞게 각각의 유리기판으로 절단한 후 상기 유리기판의 에지면을 연마하는 유리기판 제조단계와, 연마된 상기 유리기판의 에지면의 불량 여부를 검사하는 에지면 검사단계와, 양호로 판단된 상기 유리기판을 반조립하여 한 쌍의 상하판으로 합착한 후 가스 또는 액정을 주입하여 평판 디스플레이 패널을 완성하는 패널 제조단계를 포함하여 이루어진 평판 디스플레이 패널의 제조방법에 있어서, 상기 에지면 검사단계는, 이송된 유리기판을 지지하여 정렬시키는 유리기판 정렬단계와, 상기 유리기판의 에지면에 레이저빔을 조사하는 레이저빔 조사단계와, 상기 유리기판의 에지면으로부터 반사된 레이저빔을 포토센서로 수광하는 레이저빔 수광단계와, 상기 포토센서에 수광된 상기 레이저빔의 광량을 검출하는 광량 검출단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.On the other hand, in the manufacturing method of the flat panel display panel according to the present invention, the glass substrate is manufactured by cutting each glass substrate according to the size of the panel to produce a plate glass manufactured to a predetermined thickness after polishing the edge surface of the glass substrate A step, an edge test step of inspecting whether the polished glass substrate is defective or not, and the glass substrate judged to be good, half-assembled and bonded to a pair of upper and lower plates, and then injected with gas or liquid crystal In the method of manufacturing a flat panel display panel comprising a panel manufacturing step of completing a display panel, the edge surface inspection step, the glass substrate alignment step of supporting and aligning the transferred glass substrate, and the edge surface of the glass substrate A laser beam irradiation step of irradiating a laser beam, and receiving a laser beam reflected from an edge surface of the glass substrate with a photosensor The laser beam receiving step and the light amount detecting step for detecting the light amount of the laser beam received by the photosensor.
본 발명에 따른 유리기판의 에지면 검사방법 및 장치는, 유리기판의 에지면에 발생된 칩핑, 에지 결손 또는 비연마부 등의 결점을 레이저빔 및 포토센서를 이용하여 간단한 구성에 의해 검출할 수 있고, 검출정밀도를 높일 수 있다.According to the present invention, the method and apparatus for inspecting the edge surface of a glass substrate can detect defects such as chipping, edge defects or non-abrasive portion generated on the edge surface of the glass substrate by a simple configuration using a laser beam and a photo sensor. The detection accuracy can be improved.
또한, 제어부 및 경고부에 의하여 결점이 발생된 유리기판을 사용자가 쉽게 알 수 있어 생산효율의 향상과 함께 고신뢰성 및 고품질의 유리기판을 제공할 수 있다.In addition, the user can easily know the glass substrate is a defect generated by the control unit and the warning unit can provide a high reliability and high quality glass substrate with the improvement of production efficiency.
또한, 제1 및 제2 가이드수단을 통하여 레이저발광부 및 포토센서를 원하는 위치에 용이하게 설치할 수 있어 장치의 설치 및 접근성이 좋다.In addition, since the laser light emitting unit and the photosensor can be easily installed at a desired position through the first and second guide means, the installation and accessibility of the device are good.
한편, 본 발명에 따른 평판 디스플레이 패널의 제조방법은, 상기 유리기판의 에지면 검사방법을 통하여 결점의 검출 정밀도를 높일 수 있으므로 생산 과정에서 파티클의 발생을 원천적으로 방지하여 유리기판 및 각종 장비들을 보호할 수 있고, 완성된 패널의 품질을 향상시킬 수 있다.On the other hand, the manufacturing method of the flat panel display panel according to the present invention, it is possible to increase the detection accuracy of defects through the edge surface inspection method of the glass substrate to prevent the generation of particles in the production process to protect the glass substrate and various equipment Can improve the quality of the finished panel.
이하에서는 첨부된 도면을 참조로 본 발명에 따른 유리기판의 에지면 검사방법 및 장치의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail a preferred embodiment of the method and apparatus for testing the edge surface of the glass substrate according to the present invention.
도 3은 본 발명에 따른 유리기판의 에지면 검사방법의 제1 실시예를 도시한 블럭도이고, 도 4는 본 발명에 따른 유리기판의 에지면 검사방법의 제2 실시예를 도시한 블럭도이며, 도 5는 본 발명에 따른 유리기판의 에지면 검사방법의 제3 실시예를 도시한 블럭도이고, 도 6은 본 발명에 따른 유리기판의 에지면 검사장치의 제1 실시예를 도시한 구성도이며, 도 7은 본 발명에 따른 유리기판의 에지면 검사장치의 제2 실시예를 도시한 구성도이다.FIG. 3 is a block diagram showing a first embodiment of an edge inspection method of a glass substrate according to the present invention, and FIG. 4 is a block diagram showing a second embodiment of an edge inspection method of a glass substrate according to the present invention. 5 is a block diagram showing a third embodiment of the edge surface inspection method of the glass substrate according to the present invention, Figure 6 is a first embodiment of the edge surface inspection apparatus of the glass substrate according to the present invention. 7 is a configuration diagram showing a second embodiment of an edge surface inspection apparatus of a glass substrate according to the present invention.
본 발명에 따른 유리기판의 에지면 검사방법은, 도 3 내지 5에 도시된 바와 같이 유리기판 정렬단계(S101), 레이저빔 조사단계(S201), 레이저빔 수광단계(S301) 및 광량 검출단계(S410)을 포함하여 이루어지고, 광량 판단단계(S501) 및 경고단계(S601)을 더 포함할 수 있다. 또한, 상기 유리기판 정렬단계(S101)은 유리기판 촬영단계(S121), 유리기판 보정단계(S141) 및 유리기판 고정단계(S161)을 포함하여 이루어질 수 있고, 상기 레이저빔 조사단계(S201)은 레이저빔 방출단계(S221) 및 에지면 안내단계(S241)을 포함할 수 있으며, 상기 레이저빔 수광단계(S301)는 레이저빔 집광단계(S321) 및 포토센서 안내단계(S341)를 포함할 수 있다.According to the present invention, a method for inspecting an edge of a glass substrate includes a glass substrate alignment step (S101), a laser beam irradiation step (S201), a laser beam light receiving step (S301), and a light amount detecting step as illustrated in FIGS. 3 to 5. S410, and may further include a light amount determining step S501 and a warning step S601. In addition, the glass substrate alignment step (S101) may include a glass substrate photographing step (S121), a glass substrate correction step (S141) and a glass substrate fixing step (S161), the laser beam irradiation step (S201) The laser beam emitting step S221 and the edge surface guiding step S241 may be included, and the laser beam receiving step S301 may include a laser beam collecting step S321 and a photosensor guide step S341. .
한편, 본 발명에 따른 유리기판의 에지면 검사장치는, 도 6 및 7에 도시된 바와 같이 스테이지(100), 레이저빔 조사유니트(200), 레이저빔 수광유니트(300) 및 제어부(400)를 포함하여 이루어지고, 경고부(500)를 더 포함할 수 있다. 상기 레이저빔 조사유니트(200)는 레이저발광부(220) 및 제1 가이드수단(240)을 포함할 수 있고, 상기 레이저빔 수광유니트(300)는 집광렌즈(320), 포토센서(340) 및 제2 가이드수단(360)을 포함할 수 있다.On the other hand, the edge surface inspection apparatus of the glass substrate according to the present invention, the
정렬단계(S101)는 이송된 유리기판(10)을 지지하여 정렬한다. 이송된 상기 유리기판(10)은 대면적으로 제작된 판유리를 패널의 크기에 맞게 절단한 후 에지면(15)이 연마된 상태의 유리기판(10)을 말한다. 상기 유리기판(10)은 이송유니트(미도시)에 의하여 스테이지(100)로 이송된다. 유리기판(10)의 정렬방법은 스테이지(100)에 의해 수행되며, 도 4에 도시된 바와 같이 상기 정렬단계(S101)는 유리기판(10)을 촬영하는 촬영단계(S121)와, 촬영된 상기 유리기판(10)의 정렬 정도를 측정하여 기설정된 정렬값의 범위내로 상기 유리기판(10)이 정렬되도록 보정하는 보정단계(S141)와, 보정된 상기 유리기판(10)을 고정시키는 고정단계(S161)를 포함할 수 있다. 이 경우 스테이지(100)에는 상기 촬영단계(S111)를 수행하기 위하여 상기 유리기판(10)을 촬영하는 카메라와, 카메라로부터 촬영된 영상 신호를 처리하고, 상기 유리기판(10)의 정렬 정도를 측정하여 미리 설정된 정렬값의 범위 내인지를 판단하는 제어부와, 상기 제어부와 연결되어 유리기판(10)을 미리 설정된 정렬값의 범위 내로 정렬시키기 위해 스테이지를 구동시키는 구동부를 포함하여 구성될 수 있다. 여기서, 카메라에 의해 촬영되는 유리기판(10)에는 얼라인키가 표시될 수 있으며, 얼라인키를 통해 유리기판(10)의 정렬 정도를 측정하는 것이다. 측정된 유리기판(10)의 정렬값을 제어부에서 판단하여 구동부를 구동시켜 미리 설정된 정렬값의 범위 내, 즉 불량이 발생하지 않는 범위 내에서 상기 유리기판(10)이 정렬되도록 보정한 후 고정한다. 이로써, 상기 보정단계(S121) 및 고정단계(S131)가 수행되는 것이다.The alignment step S101 supports and aligns the transferred
레이저빔 조사단계(S201)는 상기 유리기판(10)의 에지면(15)에 레이저빔을 조사한다. 도 5에 나타낸 바와 같이, 레이저빔 조사단계(S201)는 레이저빔을 발생 및 증폭시켜 도 7에 도시된 레이저발광부(220)로부터 레이저빔이 방출되는 레이저빔 방출단계(S221)와, 방출된 상기 레이저빔을 상기 유리기판(10)의 에지면(15)에 조사되도록 안내하는 에지면 안내단계(S241)를 포함할 수 있다.In the laser beam irradiation step S201, the laser beam is irradiated onto the
상기 레이저빔 조사단계(S201)를 수행하기 위하여 도 6에 도시된 바와 같이 레이저빔 조사유니트(200)는 정렬된 상기 유리기판(10)의 에지면(15)에 레이저빔을 조사한다. 레이저빔 조사유니트(200)는 도 7에 도시된 바와 같이 레이저빔을 발생 및 증폭시켜 레이저빔을 조사하는 레이저발광부(320)와, 조사된 상기 레이저빔을 상기 유리기판(10)의 에지면(15)에 안내하는 제1 가이드수단(240)을 포함할 수 있다. 레이저발광부(320)는 유리기판(10)의 에지면(15)에 레이저빔을 조사할 수 있도록 설치될 수 있으면 족하므로 어떠한 위치라도 무방하다. 다만, 레이저발광부(220)가 유리기판(10)과 동일한 평면 상에 위치된 경우에는 제1 가이드수단(240)을 따로 구비할 필요없이 직접 유리기판(10)의 에지면(15)에 레이저빔을 조사할 수 있다. 그러나, 레이저발광부(220)가 도 7에 도시된 바와 같이 유리기판(10)에 대 하여 수직방향으로 설치된 경우에는 제1 가이드수단(240)을 경유해서 유리기판(10)의 에지면(15)에 레이저빔을 조사할 수 있다. 그에 따라, 검사 장치의 설치 및 접근성을 향상시킬 수 있다.In order to perform the laser beam irradiation step (S201), as shown in FIG. 6, the laser
에지면 안내단계(S241)는 제1 가이드수단(240)에 의해서 수행되고, 상기 제1 가이드수단(240)은 도 7에 도시된 바와 같이 조사된 상기 레이저빔을 반사하여 유리기판(10)의 에지면(15)에 안내하는 프리즘일 수 있다. 또한, 제1 가이드수단(240)은 반사유리나 반사거울일 수 있으며, 플렉서블한 광파이버일 수도 있다. 즉, 제1 가이드수단(240)은 레이저발광부(220)로부터 방출된 레이저빔을 안내하여 상기 유리기판(10)의 에지면(15)에 레이저빔이 조사될 수 있으면 어떠한 구성이라도 상관없다.Edge guide step (S241) is performed by the first guide means 240, the first guide means 240 reflects the laser beam irradiated as shown in Figure 7 of the
레이저빔 수광단계(S301)는 상기 유리기판(10)의 에지면(15)으로부터 반사된 레이저빔을 포토센서(340)로 수광한다. 도 5에 도시된 바와 같이, 레이저빔 수광단계(S301)는 상기 유리기판(10)의 에지면(15)으로부터 반사된 레이저빔을 도 7에 도시된 집광렌즈(320)를 이용하여 집광하는 레이저빔 집광단계와(S321), 상기 집광렌즈(320)에 의해 집광된 레이저빔을 포토센서(340)로 안내하는 포토센서 안내단계(S341)를 포함할 수 있다.In the laser beam receiving step S301, the laser beam reflected from the
상기 레이저빔 수광단계(S301)를 수행하기 위하여 도 6에 도시된 바와 같이, 레이저빔 수광유니트(200)는 상기 유리기판(10)의 에지면(15)으로부터 반사된 레이저빔을 수광한다. 레이저빔 수광유니트(200)는 도 7에 도시된 바와 같이, 상기 유리기판(10)의 에지면(15)으로부터 반사된 레이저빔을 집광하는 집광렌즈(320)와, 상기 집광렌즈(320)로부터 집광된 레이저빔을 수광하는 포토센서(340)을 포함할 수 있다. 집광렌즈(320)는 도 2에 도시된 광반사 조건에 따라 유리기판(10)의 에지면(15)에 조사되는 레이저빔의 입사각과 동일한 반사각을 원의 중심점으로 하여 설치된다. 집광렌즈(320)의 크기는 상기 유리기판(10)의 에지면(15)에 발생된 결점의 정도에 따라서 결정된다. 즉, 결점에 의해 입사되는 레이저빔이 난반사 또는 산란될 경우 집광렌즈(320)가 클수록 난반사되는 레이저빔을 보다 많이 집광할 수 있게 되는데, 아주 미세한 결점까지 불량으로 판단할 필요가 없으므로 결점의 정도에 대한 범위를 실험에 의해 미리 설정하여야 한다. 그에 따라, 집광렌즈(320)의 크기를 결정한 후 불량으로 판단될 정도의 결점이 있는 경우에는 상기 집광렌즈(320)에 집광되는 레이저빔이 아주 미소하게 될 것이다.In order to perform the laser beam receiving step S301, as shown in FIG. 6, the laser
포토센서(340)는 상기 집광렌즈(320)로부터 집광된 레이저빔을 수광할 수 있도록 설치될 수 있으면 족하므로 어떠한 위치라도 무방하다. 다만, 포토센서(340)가 집광렌즈(320)로부터 집광된 레이저빔이 방출되는 직선과 동일한 선상에 위치된 경우에는 제2 가이드수단(360)을 따로 구비할 필요없이 직접 집광렌즈(320)로부터 집광된 레이저빔을 집광할 수 있다. 그러나, 포토센서(220)가 도 7에 도시된 바와 같이 집광렌즈(320)로부터 방출되는 레이저빔에 대하여 수직방향으로 설치된 경우에는 제2 가이드수단(360)을 경유해서 레이저빔을 수광해야 한다.The
상기 제2 가이드수단(360)은 도 7에 도시된 바와 같이 집광렌즈(320)로부터 집광된 레이저빔을 상기 포토센서(340)로 안내하는 프리즘일 수 있으며, 제2 가이드수단(360)은 제1 가이드수단과(240)과 동일하므로 그 상세한 설명은 생략한다.As illustrated in FIG. 7, the second guide means 360 may be a prism for guiding the laser beam collected from the
광량 검출단계(S401)는 수광된 상기 레이저빔의 광량을 검출한다. 광량의 검출은 상기 포토센서(340)에 의해 수광된 레이저빔을 전류의 세기로 변화시켜 도 6에 도시된 제어부(400)로 전송하고, 전송된 신호에 근거하여 전류의 세기에 따른 레이저빔의 광량을 검출하게 되는 것이다. 도 2에 도시된 광흡수 조건에 따라 유리기판(10)의 에지면(15)으로부터 반사된 반사광(I2)은 입사광(I1)보다 광량이 떨어져 검출정밀도가 낮지만, 고에너지의 레이저빔을 사용함으로써 검출정밀도를 높일 수 있으며, 포토센서(340)는 광감도 및 응답성을 고려하여 실리콘 포토 트랜지스터를 사용할 수 있다.In the light amount detecting step S401, the light amount of the received laser beam is detected. The detection of the amount of light changes the laser beam received by the
광량 판단단계(S501)는 상기 광량 검출단계(S401) 이후에 수행되고, 검출된 상기 레이저빔의 광량이 기설정된 광량의 범위 이내인지를 판단한다. 포토센서(340)로부터 제어부(400)로 전달된 신호에 근거하여 기설정된 광량에 따른 전류 세기의 범위를 정해놓는다. 즉, 유리기판(10)의 에지면(15)에 결점이 없거나 매우 미세한 경우에는 양호로 판단해야 한다. 이 경우 집광렌즈(320)에 집광되는 레이저빔이 많을 것이며, 집광렌즈(320)로부터 레이저빔을 수광하는 포토센서(340)에 광량이 높게 검출되므로 제어부(400)로 전달되는 전류의 세기 역시 높게 될 것이다. 그러나, 유리기판(10)의 에지면(15)에 발생된 결점을 불량으로 판단해야 될 경우 레이저빔이 유리기판(10)의 에지면(15)에 조사될 때 결점에 의해 난반사 또는 산란되어 집광렌즈(320)에 반사된 레이저빔이 적게 집광될 것이다. 그에 따라 포토센서(340)로 수광되는 레이저빔의 광량 역시 작아지고, 제어부(400)로 전달되는 전류의 세기 역시 작아지게 된다. 즉, 상기 광량 판단단계(S501)에서의 기설정된 광량의 범위는 상기 유리기판(10)의 에지면(15)에 발생된 결점의 정도에 따라 양호 또는 불량 중 양호로 판단되는 범위를 말하며, 이는 제어부(400)에 미리 설정된 전류 세기의 범위를 통하여 양호로 판단되는 범위 이내인지를 판단하는 것이다.The light amount determining step S501 is performed after the light amount detecting step S401, and determines whether the detected light amount of the laser beam is within a preset light amount range. Based on the signal transmitted from the photosensor 340 to the
경고단계(S601)는 상기 광량이 기설정된 광량의 범위를 벗어나는 경우 외부에 경고하여 알린다. 즉, 상기 광량 판단단계(S501)에서 판단된 광량의 범위가 불량으로 판단되는 경우에는 도 6에 도시된 경고부(500)를 통해 외부의 사용자에게 경고를 하게 되는 것이다. 경고부(500)는 경고음을 통하여 외부에 알리는 스피커 또는 부저일 수 있고, 경고등을 통하여 시각적으로 외부의 사용자에게 전달할 수도 있다. 이 경우, 사용자는 경고부(500)에 의해 불량으로 판단된 유리기판(10)의 에지면(15)을 관찰한 후 재연마를 통해 양호로 될 수 있는 경우에는 재연마를 실시하고, 결점을 극복할 수 없는 경우에는 상기 불량으로 판단된 유리기판(10)을 폐기해야 할 것이다.The warning step S601 warns the outside when the light amount is out of the range of the preset light amount. That is, when it is determined that the range of the light amount determined in the light amount determination step (S501) is bad, it is to warn the external user through the
한편, 도 8은 본 발명에 따른 평판 디스플레이 패널의 제조방법의 바람직한 실시예를 도시한 블럭도로서, 이하에서는 도 8을 참조로 본 발명에 따른 평판 디스플레이 패널의 제조방법의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.8 is a block diagram showing a preferred embodiment of a method for manufacturing a flat panel display panel according to the present invention. Hereinafter, a preferred embodiment of the method for manufacturing a flat panel display panel according to the present invention will be described in detail with reference to FIG. 8. do.
본 발명에 따른 평판 디스플레이 패널의 제조방법은, 도 8에 도시된 바와 같이 유리기판 제조단계(S11), 에지면 검사단계(S21) 및 패널 제조단계(S31)를 포함하여 이루어지고, 상기 에지면 검사단계(S21)는 유리기판 정렬단계(S101), 레이저 빔 조사단계(S201), 레이저빔 수광단계(S301) 및 광량 검출단계(S401)로 구성된다.The method for manufacturing a flat panel display panel according to the present invention includes a glass substrate manufacturing step (S11), an edge surface inspection step (S21) and a panel manufacturing step (S31), as shown in FIG. The inspection step S21 includes a glass substrate alignment step S101, a laser beam irradiation step S201, a laser beam receiving step S301, and a light amount detecting step S401.
유리기판 제조단계(S11)는 소정의 두께(약 0.5 내지 2.8mm)로 제조된 판유리를 생산하고자 하는 패널의 크기에 맞게 절단한 후 절단된 유리기판의 에지면에 생긴 미소한 요철이나 기복을 제거하기 위하여 연마가공한다. 유리기판의 에지면의 연마가공은 그라인더(grinder)와 같은 장비를 이용하여 이루어질 수 있다. 그러나, 유리기판의 에지면을 연마한 후에도 칩핑, 에지 결손 또는 비연마부 등의 결점이 존재할 수 있다. 상기와 같은 유리기판의 에지면에 존재하는 결점을 검사하기 위하여 에지면 검사단계(S21)를 수행하게 되는 것이다.Glass substrate manufacturing step (S11) is to cut the plate glass manufactured to a predetermined thickness (about 0.5 to 2.8mm) in accordance with the size of the panel to be produced to remove minute irregularities or undulations on the edge surface of the cut glass substrate It is polished to make it. Polishing of the edge surface of the glass substrate may be performed using equipment such as a grinder. However, even after polishing the edge surface of the glass substrate, defects such as chipping, edge defects or non-polishing portions may exist. In order to inspect the defects present in the edge surface of the glass substrate as described above, the edge surface inspection step (S21) is to be performed.
에지면 검사단계(S21)는 연마된 상기 유리기판의 에지면의 불량 여부를 검사한다. 보다 구체적으로 상기 에지면 검사단계(S21)는, 이송된 유리기판을 지지하여 정렬시키는 유리기판 정렬단계(S101)와, 상기 유리기판의 에지면에 레이저빔을 조사하는 레이저빔 조사단계(S201)와, 상기 유리기판의 에지면으로부터 반사된 레이저빔을 포토센서로 수광하는 레이저빔 수광단계(S301)와, 상기 포토센서에 수광된 상기 레이저빔의 광량을 검출하는 광량 검출단계(S401)를 포함하여 이루어진다.Edge test step (S21) is to check whether the edge of the polished glass substrate is defective. More specifically, the edge inspection step S21 includes a glass substrate alignment step S101 for supporting and aligning the transferred glass substrate, and a laser beam irradiation step S201 for irradiating a laser beam to the edge surface of the glass substrate. And a laser beam receiving step (S301) for receiving a laser beam reflected from the edge surface of the glass substrate with a photosensor, and a light amount detecting step (S401) for detecting the light amount of the laser beam received by the photosensor. It is done by
본 발명에 따른 평판 디스플레이 패널의 제조방법에 있어서, 상기 에지면 검사단계(S21)는 본 발명의 유리기판의 에지면 검사방법과 동일하므로 중복되는 설명은 생략하기로 한다.In the method of manufacturing a flat panel display panel according to the present invention, since the edge surface inspection step (S21) is the same as the edge surface inspection method of the glass substrate of the present invention, redundant description will be omitted.
패널 제조단계(S31)는 상기 에지면 검사단계(S21)를 통하여 양호로 판단된 상기 유리기판을 반조립하여 한 쌍의 상하판으로 합착한 후 가스 또는 액정을 주입하여 평판 디스플레이 패널을 완성한다.In the panel manufacturing step S31, the glass substrate judged to be good through the edge inspection step S21 is semi-assembled and bonded to a pair of upper and lower plates, and then gas or liquid crystal is injected to complete the flat panel display panel.
평판 디스플레이 패널(FDP)은 사용되는 물질을 기준으로 하여 무기물을 사용하는 소자와 유기물을 사용하는 소자로 구분된다. 무기물을 사용하는 소자에는 형광체로 PL(Photo Luminescence)을 이용하는 플라즈마 디스플레이 패널(PDP, Plasma Display Panel)과 CE(Cathode Luminescence)를 이용한 전계방출 표시소자(FED, Field Emission Display) 등이 있고, 유기물을 사용하는 소자에는 액정표시소자(LCD, Liquid Crystal Display) 및 유기발광 표시소자(OLED, Organic Light Emitting Display) 등이 있다. 따라서, 본 발명의 평판 디스플레이 패널의 제조방법에 있어서, 패널 제조단계(S31)는 유리기판을 사용하는 모든 평판 디스플레이 장치에 적용될 수 있는 것으로, 패널 제조단계(S31)의 상세한 설명은 상기 각각의 소자에 따라 다르게 적용될 수 있다. 그에 따른 상기 각각의 소자를 완성하기 위한 패널의 제조단계는 종래 기술로 구현 가능하므로 그 상세한 설명은 생략한다.A flat panel display panel (FDP) is classified into a device using an inorganic material and a device using an organic material based on the material used. Devices using inorganic materials include plasma display panels (PDPs) using PL (photo luminescence) and field emission displays (FEDs) using CE (Cathode Luminescence), and organic materials. Examples of the device to be used include a liquid crystal display (LCD) and an organic light emitting display (OLED). Therefore, in the manufacturing method of the flat panel display panel of the present invention, the panel manufacturing step (S31) can be applied to all flat panel display devices using a glass substrate, the detailed description of the panel manufacturing step (S31) is the respective elements It can be applied differently depending on. Accordingly, the manufacturing steps of the panel for completing the respective devices can be implemented in the prior art, so a detailed description thereof will be omitted.
앞에서 설명되고, 도면에 도시된 본 발명의 실시예는, 본 발명의 기술적 사상을 한정하는 것으로 해석되어서는 안 된다. 본 발명의 보호범위는 청구범위에 기재된 사항에 의하여만 제한되고, 본 발명의 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상을 다양한 형태로 개량 변경하는 것이 가능하다. 따라서 이러한 개량 및 변경은 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 것인 한 본 발명의 보호범위에 속하게 될 것이다.The embodiments of the present invention described above and illustrated in the drawings should not be construed as limiting the technical idea of the present invention. The protection scope of the present invention is limited only by the matters described in the claims, and those skilled in the art can change and change the technical idea of the present invention in various forms. Therefore, such improvements and modifications will fall within the protection scope of the present invention, as will be apparent to those skilled in the art.
도 1은 일반적인 유리기판에 발생된 결점을 도시한 사시도이고,1 is a perspective view showing a defect generated in a general glass substrate,
도 2는 유리기판에 대한 광반사 및 광흡수를 설명하기 위한 모식도이며,2 is a schematic diagram illustrating light reflection and light absorption of a glass substrate;
도 3은 본 발명에 따른 유리기판의 에지면 검사방법의 제1 실시예를 도시한 블럭도이고,3 is a block diagram showing a first embodiment of an edge inspection method of a glass substrate according to the present invention;
도 4는 본 발명에 따른 유리기판의 에지면 검사방법의 제2 실시예를 도시한 블럭도이며,Figure 4 is a block diagram showing a second embodiment of the method for inspecting the edge of the glass substrate according to the present invention,
도 5는 본 발명에 따른 유리기판의 에지면 검사방법의 제3 실시예를 도시한 블럭도이고,Figure 5 is a block diagram showing a third embodiment of the method for inspecting the edge of the glass substrate according to the present invention,
도 6은 본 발명에 따른 유리기판의 에지면 검사장치의 제1 실시예를 도시한 구성도이며,6 is a configuration diagram showing a first embodiment of the edge surface inspection apparatus of the glass substrate according to the present invention,
도 7은 본 발명에 따른 유리기판의 에지면 검사장치의 제2 실시예를 도시한 구성도이다.7 is a block diagram showing a second embodiment of the edge surface inspection apparatus of the glass substrate according to the present invention.
도 8은 본 발명에 따른 평판 디스플레이 패널의 제조방법의 바람직한 실시예를 도시한 블럭도이다.8 is a block diagram showing a preferred embodiment of a method of manufacturing a flat panel display panel according to the present invention.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
10 : 유리기판 15 : 에지면10: glass substrate 15: the ground
100 : 스테이지100: stage
200 : 레이저빔 조사유니트200: laser beam irradiation unit
220 : 레이저발광부 240 : 제1 가이드수단220: laser light emitting unit 240: first guide means
300 : 레이저빔 수광유니트300: laser beam light receiving unit
320 : 집광렌즈 340 : 포토센서320: condenser lens 340: photosensor
360 : 제2 가이드수단360: second guide means
400 : 제어부400: control unit
500 : 경고부500: warning unit
Claims (11)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070136759A KR20090068945A (en) | 2007-12-24 | 2007-12-24 | Method and apparatus for inspecting edge-side of glass plate, and method for manufacturing flat display panel |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070136759A KR20090068945A (en) | 2007-12-24 | 2007-12-24 | Method and apparatus for inspecting edge-side of glass plate, and method for manufacturing flat display panel |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090068945A true KR20090068945A (en) | 2009-06-29 |
Family
ID=40996267
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070136759A KR20090068945A (en) | 2007-12-24 | 2007-12-24 | Method and apparatus for inspecting edge-side of glass plate, and method for manufacturing flat display panel |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20090068945A (en) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101254607B1 (en) * | 2010-10-05 | 2013-04-15 | 주식회사 아이스피 | Cutting apparatus for silicon layer of glass panel |
CN103382081A (en) * | 2012-05-04 | 2013-11-06 | 三星康宁精密素材株式会社 | Glass substrate laser cutting device with real-time breaking detecting function and glass substrate breakage detecting method thereof |
WO2015056927A1 (en) * | 2013-10-14 | 2015-04-23 | 동우화인켐 주식회사 | Device for inspecting section of window substrate |
US11534859B2 (en) | 2018-11-28 | 2022-12-27 | Semes Co., Ltd. | Substrate treatment apparatus |
KR20230099834A (en) * | 2021-12-28 | 2023-07-05 | (주)퀀텀플라즈마 | Apparatus of inspecting cutting surface of glass substrate using scattered light |
-
2007
- 2007-12-24 KR KR1020070136759A patent/KR20090068945A/en not_active Application Discontinuation
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101254607B1 (en) * | 2010-10-05 | 2013-04-15 | 주식회사 아이스피 | Cutting apparatus for silicon layer of glass panel |
CN103382081A (en) * | 2012-05-04 | 2013-11-06 | 三星康宁精密素材株式会社 | Glass substrate laser cutting device with real-time breaking detecting function and glass substrate breakage detecting method thereof |
US8766135B2 (en) | 2012-05-04 | 2014-07-01 | Samsung Corning Precision Materials Co., Ltd. | Glass substrate laser cutting device with real-time breaking detecting function and glass substrate breakage detecting method thereof |
KR101407976B1 (en) * | 2012-05-04 | 2014-07-03 | 코닝정밀소재 주식회사 | Laser cutting equipment having the function of real time detecting a glass substrate breakage and the method for detecting a glass substrate breakage of the same |
CN103382081B (en) * | 2012-05-04 | 2015-10-28 | 康宁精密素材株式会社 | Glass substrate laser cutting device and glass substrate Safety check-up method thereof |
WO2015056927A1 (en) * | 2013-10-14 | 2015-04-23 | 동우화인켐 주식회사 | Device for inspecting section of window substrate |
US11534859B2 (en) | 2018-11-28 | 2022-12-27 | Semes Co., Ltd. | Substrate treatment apparatus |
KR20230099834A (en) * | 2021-12-28 | 2023-07-05 | (주)퀀텀플라즈마 | Apparatus of inspecting cutting surface of glass substrate using scattered light |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100584840B1 (en) | Chip scale marker and method of calibrating the marking position therewith | |
KR20090068945A (en) | Method and apparatus for inspecting edge-side of glass plate, and method for manufacturing flat display panel | |
CN101506962A (en) | Surface inspecting method and device | |
US20100118912A1 (en) | Quality control of the frit for oled sealing | |
JP5596925B2 (en) | Foreign object inspection apparatus and inspection method | |
JP2006105976A (en) | Foreign object detecting method in display panel manufacturing process | |
CN103154710A (en) | Device and method for detecting flaws in continuously produced float glass | |
JP2010149146A (en) | Laser processing apparatus | |
CN207301537U (en) | Color membrane substrates repair apparatus | |
KR20110136436A (en) | Align mark forming apparatus | |
KR101218971B1 (en) | Flat panel display inspection method and device thereof | |
JP2013140061A (en) | Method for detecting foreign substance on front and back sides of transparent flat substrate, and foreign substance inspection device using the method | |
WO2009131270A1 (en) | Substrate quality tester | |
TWI790311B (en) | Methods and apparatus for detecting surface defects on glass sheets | |
JP2004219119A (en) | Defect inspection method and device | |
JP4708292B2 (en) | Substrate inspection apparatus and substrate inspection method | |
KR101409217B1 (en) | Inspection apparatus and inspection method of attached substrate | |
TWI485392B (en) | Foreign body inspection device and inspection method | |
JP3227876U (en) | Cut surface inspection device for glass plate | |
JP4808162B2 (en) | Substrate inspection apparatus and substrate inspection method | |
JP4728830B2 (en) | Optical anisotropy parameter measuring method and measuring apparatus | |
JPH05273137A (en) | Surface flaw inspecting device | |
JP2004077261A (en) | Apparatus and method for inspecting foreign substances in liquid crystal panel | |
KR20130098113A (en) | Inspection apparatus and inspection method of attached substrate | |
KR20130125127A (en) | Defect inspection apparatus for liquid crystal display device and inspecting method thereof |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
WITN | Withdrawal due to no request for examination |