KR20090031146A - Organic light emitting device - Google Patents

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KR20090031146A KR1020070097017A KR20070097017A KR20090031146A KR 20090031146 A KR20090031146 A KR 20090031146A KR 1020070097017 A KR1020070097017 A KR 1020070097017A KR 20070097017 A KR20070097017 A KR 20070097017A KR 20090031146 A KR20090031146 A KR 20090031146A
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Abstract

An organic light emitting device is provided to improve a driving voltage, light emitting efficiency, and luminance by adding dispersed inorganic material to a hole injection layer. An organic light emitting device comprises a substrate(100), a first electrode(110), organic functional layers(120), and a second electrode(130). The first electrode is positioned on the substrate. The organic functional layers are positioned on the first electrode, and include at least a light emitting layer(125). The second electrode is positioned on the organic functional layers. An organic functional layer adjacent to the second electrode among the organic functional layers includes dispersed inorganic material(128). The inorganic material includes metal compound. The metal compound is one or more selected in a group composed of LiQ, LiF, NaF, KF, RbF, CsF, FrF, BeF2, MgF2, CaF2, SrF2, BaF2, and RaF2.

Description

유기전계발광소자{Organic Light Emitting Device}Organic Light Emitting Device

본 발명은 유기전계발광소자에 관한 것으로, 보다 자세하게는 유기기능층에 무기물이 분산된 유기전계발광소자에 관한 것이다.The present invention relates to an organic electroluminescent device, and more particularly, to an organic electroluminescent device in which inorganic substances are dispersed in an organic functional layer.

최근, 표시장치(FPD: Flat Panel Display)는 멀티미디어의 발달과 함께 그 중요성이 증대되고 있다. 이에 부응하여 액정표시장치(Liquid Crystal Display : LCD), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel: PDP), 전계방출표시장치(Field Emission Display: FED), 유기전계발광소자(Organic Light Emitting Diode Display Device) 등과 같은 여러 가지의 디스플레이가 실용화되고 있다.Recently, the importance of the flat panel display (FPD) has increased with the development of multimedia. In response, Liquid Crystal Display (LCD), Plasma Display Panel (PDP), Field Emission Display (FED), Organic Light Emitting Diode Display Device, etc. The same various displays are put to practical use.

이들 중, 유기전계발광소자는 응답속도가 1ms 이하로서 고속의 응답속도를 가지며, 소비 전력이 낮고, 자체 발광이므로 시야각에 문제가 없어서, 차세대 표시장치로 주목받고 있다.Among them, the organic light emitting display device has a high response time with a response speed of 1 ms or less, low power consumption, and no self-emission, thus having no problem in viewing angle.

일반적인 유기전계발광소자는 기판, 상기 기판 상에 제 1 전극이 위치하고, 상기 제 1 전극 상에 적어도 발광층을 포함하는 유기막층이 위치한다. 상기 유기막 층 상에는 제 2 전극이 위치한다. 상기 유기막층은 정공주입층(HIL : Hole Injection Layer), 정공수송층(HTL : Hole Transportation Layer), 전자수송층(ETL : Electron Transportation Layer) 및 전자주입층(EIL : Electron Injection Layer)을 더 포함할 수 있다.In a typical organic light emitting display device, a substrate, a first electrode is positioned on the substrate, and an organic layer including at least a light emitting layer is disposed on the first electrode. The second electrode is positioned on the organic layer. The organic layer may further include a hole injection layer (HIL), a hole transportation layer (HTL), an electron transport layer (ETL) and an electron injection layer (EIL). have.

이러한 구조의 유기전계발광소자의 작동 원리는 다음과 같다. 제 1 전극과 제 2 전극 간에 전압을 인가하면, 제 1 전극으로부터 정공이 주입되어 정공주입층, 정공수송층을 통해 발광층 내로 주입되고, 제 2 전극으로부터 전자가 주입되어 전자주입층, 전자수송층을 통해 발광층 내로 주입된다. 발광층 내로 주입된 정공과 전자는 재결합하여 여기자(Exiton)를 형성하고 여기자가 바닥상태로 전이하면서 발생하는 에너지에 의해 발광하게 된다. The principle of operation of the organic light emitting device of this structure is as follows. When a voltage is applied between the first electrode and the second electrode, holes are injected from the first electrode and injected into the light emitting layer through the hole injection layer and the hole transport layer, and electrons are injected from the second electrode through the electron injection layer and the electron transport layer. It is injected into the light emitting layer. Holes and electrons injected into the emission layer recombine to form an exciton, and emit light by energy generated as the exciton transitions to the ground state.

유기전계발광소자의 높은 발광효율을 위해서는 발광층 내로 주입되는 정공과 전자의 밸런스가 잘 맞아야 한다. 이를 위해서 종래에는 제 1 전극과 발광층 사이에 정공주입층 또는 정공수송층을 형성하고, 발광층과 제 2 전극 사이에는 전자수송층 또는 전자주입층을 형성하여, 각 층간의 에너지 장벽을 낮추어 전자와 정공의 이동을 원활하게 하였다.For the high luminous efficiency of the organic light emitting device, the balance of holes and electrons injected into the light emitting layer should be well balanced. To this end, conventionally, a hole injection layer or a hole transport layer is formed between the first electrode and the light emitting layer, and an electron transport layer or an electron injection layer is formed between the light emitting layer and the second electrode to lower the energy barrier between the layers to move electrons and holes. Was made smooth.

그러나, 종래의 유기전계발광소자는 일반적으로 정공의 이동도가 전자의 이동도보다 10배 이상 빠르기 때문에 발광층 내로 주입되는 정공과 전자의 주입량이 달라지게 된다. 따라서, 유기전계발광소자의 발광효율이 저하되는 문제점이 있다.However, in the conventional organic light emitting device, since the hole mobility is 10 times faster than the electron mobility, the amount of holes and electrons injected into the light emitting layer is changed. Therefore, there is a problem that the luminous efficiency of the organic light emitting device is lowered.

따라서, 본 발명은 유기전계발광소자의 발광효율을 향상시킬 수 있는 유기전계발광소자를 제공한다.Accordingly, the present invention provides an organic light emitting device that can improve the luminous efficiency of the organic light emitting device.

상기한 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 일 실시 예에 따른 유기전계발광소자는 기판, 상기 기판 상에 위치하는 제 1 전극, 상기 제 1 전극 상에 위치하며, 적어도 발광층을 포함하는 유기기능층들, 상기 유기기능층들 상에 위치하는 제 2 전극 및 상기 유기기능층들 중 제 2 전극에 인접한 유기기능층은 무기물을 포함하며, 상기 무기물은 상기 유기기능층에 분산될 수 있다. In order to achieve the above object, an organic light emitting display device according to an embodiment of the present invention is a substrate, a first electrode positioned on the substrate, the organic functional layer positioned on the first electrode, at least including a light emitting layer For example, the second electrode positioned on the organic functional layers and the organic functional layer adjacent to the second electrode among the organic functional layers may include an inorganic material, and the inorganic material may be dispersed in the organic functional layer.

또한, 본 발명의 일 실시 예에 따른 유기전계발광소자는 기판, 상기 기판 상에 위치하는 제 1 전극, 상기 제 1 전극 상에 위치하며, 적어도 발광층을 포함하는 유기기능층들, 상기 유기기능층들 상에 위치하는 제 2 전극 및 상기 유기기능층들 중 제 1 전극에 인접한 유기기능층은 무기물을 포함하며, 상기 무기물은 상기 유기기능층에 분산될 수 있다.In addition, an organic light emitting display device according to an embodiment of the present invention is a substrate, a first electrode positioned on the substrate, the organic functional layers positioned on the first electrode, at least including a light emitting layer, the organic functional layer The second electrode positioned on the field and the organic functional layer adjacent to the first electrode of the organic functional layers may include an inorganic material, and the inorganic material may be dispersed in the organic functional layer.

본 발명의 유기전계발광소자는 유기전계발광소자의 발광효율을 향상시킬 수 있는 이점이 있다.The organic light emitting display device of the present invention has an advantage of improving the luminous efficiency of the organic light emitting display device.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 실시 예들을 상세하게 설명하도록 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

<실시예 1><Example 1>

도 1은 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 유기전계발광소자를 도시한 단면도이다.1 is a cross-sectional view illustrating an organic light emitting display device according to a first embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 유기전계발광소자는 제 1 기판(100), 제 1 기판(100)에 위치하는 제 1 전극(110)이 위치하고, 상기 제 1 전극(110) 상에 위치하는 정공주입층(121), 정공수송층(122), 발광층(125), 전자수송층(126), 전자주입층(127)으로 이루어진 유기기능층들(120)이 위치하고, 상기 유기기능층들(120) 상에 위치하는 제 2 전극(130)을 포함할 수 있다. 상기 제 2 전극(130)에 인접한 전자주입층(127)은 전자주입층(127) 내에 분산된 무기물(128)을 더 포함할 수 있다. Referring to FIG. 1, in the organic light emitting display device according to the first embodiment of the present invention, a first electrode 100, a first electrode 110 positioned on the first substrate 100, is positioned, and the first electrode ( The organic functional layers 120 including the hole injection layer 121, the hole transport layer 122, the light emitting layer 125, the electron transport layer 126, and the electron injection layer 127 positioned on the 110 are positioned. It may include a second electrode 130 positioned on the functional layers 120. The electron injection layer 127 adjacent to the second electrode 130 may further include an inorganic material 128 dispersed in the electron injection layer 127.

먼저, 제 1 기판(100) 상에 제 1 전극(110)이 위치한다. 제 1 기판(100)과 제 1 전극(110) 사이에는 반도체층, 게이트 전극, 소오스 전극 및 드레인 전극을 포함하는 적어도 하나 이상의 박막 트랜지스터를 포함할 수 있다.First, the first electrode 110 is positioned on the first substrate 100. At least one thin film transistor including a semiconductor layer, a gate electrode, a source electrode, and a drain electrode may be included between the first substrate 100 and the first electrode 110.

상기 제 1 기판(100)은 절연유리, 플라스틱 또는 도전성물질을 포함하는 물질로 이루어질 수 있다.The first substrate 100 may be made of a material including insulating glass, plastic, or a conductive material.

상기 제 1 전극(110)은 애노드일 수 있으며, 투명한 전극 또는 반사 전극일 수 있다. 상기 제 1 전극(110)이 투명한 전극인 경우에 상기 제 1 전극(110)은 ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide) 또는 ZnO(Zinc Oxide) 중 어느 하나일 수 있다. 또한, 상기 제 1 전극(110)이 반사 전극일 경우에 상기 제 1 전극(110)은 ITO, IZO 또는 ZnO 중 어느 하나로 이루어진 층 하부에 알루미늄(Al), 은(Ag) 또는 니켈(Ni) 중 어느 하나로 이루어진 반사층을 더 포함할 수 있고, 이와 더불어, ITO, IZO 또는 ZnO 중 어느 하나로 이루어진 두 개의 층 사이에 상기 반사층을 포함할 수 있다.The first electrode 110 may be an anode and may be a transparent electrode or a reflective electrode. When the first electrode 110 is a transparent electrode, the first electrode 110 may be any one of indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), or zinc oxide (ZnO). In addition, when the first electrode 110 is a reflective electrode, the first electrode 110 may be formed of aluminum (Al), silver (Ag), or nickel (Ni) under a layer made of any one of ITO, IZO, or ZnO. It may further include a reflective layer made of any one, and in addition, may include the reflective layer between two layers made of any one of ITO, IZO or ZnO.

상기 제 1 전극(110)은 스퍼터링법(Sputtering), 증발법(Evaporation), 기상증착법(Vapor Phase Deposition) 또는 전자빔증착법(Electron Beam Deposition)을 사용하여 형성할 수 있다.The first electrode 110 may be formed using a sputtering method, an evaporation method, a vapor phase deposition method, or an electron beam deposition method.

상기 제 1 전극(110) 상에 유기기능층들(120)이 위치한다. 상기 유기기능층들(120)은 적어도 발광층(125)을 포함할 수 있다. 이와 더불어 상기 유기기능층들(120)은 정공주입층(121), 정공수송층(122), 전자수송층(126) 및 전자주입층(127)으로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 이상을 더 포함할 수 있다.Organic functional layers 120 are positioned on the first electrode 110. The organic functional layers 120 may include at least the light emitting layer 125. In addition, the organic functional layers 120 may further include any one or more selected from the group consisting of a hole injection layer 121, a hole transport layer 122, an electron transport layer 126, and an electron injection layer 127. .

상기 정공주입층(121)은 상기 제 1 전극(110)으로부터 발광층(125)으로 정공의 주입을 원활하게 하는 역할을 할 수 있으며, CuPc(cupper phthalocyanine), PEDOT(poly(3,4)-ethylenedioxythiophene), PANI(polyaniline) 및 NPD(N,N-dinaphthyl-N,N'-diphenyl benzidine)로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나로 이루어질 수 있으나 이에 한정되지 않는다. The hole injection layer 121 may play a role of smoothly injecting holes from the first electrode 110 to the light emitting layer 125, and may include CuPc (cupper phthalocyanine) and PEDOT (poly (3,4) -ethylenedioxythiophene). ), PANI (polyaniline) and NPD (N, N-dinaphthyl-N, N'-diphenyl benzidine) may be made of any one selected from the group consisting of, but not limited to.

상기 정공주입층(121)은 발광층으로의 정공의 이동이 용이하도록 가전자대(valence band) 레벨이 -5.0 내지 -5.5eV일 수 있고, 전도대(conducting band) 레벨이 -1.8 내지 -2.8eV일 수 있다. The hole injection layer 121 may have a valence band level of -5.0 to -5.5 eV and a conducting band level of -1.8 to -2.8 eV to facilitate movement of holes to the light emitting layer. have.

상기 정공주입층(121)은 증발법 또는 스핀코팅법을 이용하여 형성할 수 있다. The hole injection layer 121 may be formed using an evaporation method or a spin coating method.

상기 정공주입층(121)의 두께는 5 내지 150nm일 수 있다. 여기서, 상기 정공주입층(121)의 두께가 5nm 이상이면, 정공 주입 특성이 저하되는 것을 방지할 수 있는 이점이 있고, 150nm 이하이면, 정공주입층(121)의 두께가 너무 두꺼워 정공의 이동을 향상시키기 위해 구동전압이 상승되는 것을 방지할 수 있는 이점이 있다.The hole injection layer 121 may have a thickness of about 5 nm to about 150 nm. Here, when the thickness of the hole injection layer 121 is 5 nm or more, there is an advantage that the hole injection characteristics can be prevented from being lowered. There is an advantage that can be prevented from increasing the driving voltage to improve.

상기 제 1 전극(110)과 상기 정공주입층(121) 사이에 버퍼층을 더 포함할 수 있다. 버퍼층은 전자친화도가 강한 수산기(-OH), 시안기(-CN) 또는 할로겐기를 포함하는 화합물을 포함할 수 있다. 예를 들면, 버퍼층은 하기의 화학식을 갖는 화합물을 포함할 수 있다.A buffer layer may be further included between the first electrode 110 and the hole injection layer 121. The buffer layer may include a compound including a hydroxyl group (-OH), a cyan group (-CN), or a halogen group having a strong electron affinity. For example, the buffer layer may include a compound having the following formula.

Figure 112007069071857-PAT00001
Figure 112007069071857-PAT00001

여기서 R1 내지 R6 중 어느 하나 이상은 수산기(-OH), 시안기(-CN) 또는 할로겐기일 수 있다.At least one of R1 to R6 may be a hydroxyl group (-OH), a cyan group (-CN) or a halogen group.

버퍼층은 계면을 안정화시키는 역할을 하는 한편, 전자친화력이 강한 물질을 포함하므로, 정공주입층(121)에 존재하는 전자를 버퍼층 내로 끌어당긴다. 이로써, 정공주입층(121)에는 상대적으로 많은 양의 정공이 생성되며, 이러한 정공들은 정공수송층으로 전달되고, 발광층은 충분한 양의 정공을 공급받게 된다. 따라서, 버퍼층은 계면을 안정화시키고, 정공주입층에 정공을 생성시킴으로써 구동 전압을 낮추는 효과가 있다.Since the buffer layer serves to stabilize the interface and includes a material having a strong electron affinity, the buffer layer attracts electrons present in the hole injection layer 121 into the buffer layer. Thus, a relatively large amount of holes are generated in the hole injection layer 121, these holes are transferred to the hole transport layer, the light emitting layer is supplied with a sufficient amount of holes. Therefore, the buffer layer has an effect of lowering the driving voltage by stabilizing the interface and generating holes in the hole injection layer.

버퍼층의 전도대 레벨과 가전자대 레벨의 차이는 ±5eV 이내일 수 있다. 여기서, 버퍼층의 전도대 레벨과 가전자대 레벨의 차이가 -0.5eV 이상이면, 제 1 전극으로부터 정공주입층으로 정공이 이동하지 못하는 홀 트랩핑(hole trapping)이 발생하는 것을 방지할 수 있다.The difference between the conduction band level and the valence band level of the buffer layer may be within ± 5 eV. Here, when the difference between the conduction band level and the valence band level of the buffer layer is -0.5 eV or more, hole trapping in which holes cannot move from the first electrode to the hole injection layer can be prevented from occurring.

버퍼층의 두께는 10 내지 100Å일 수 있다. 버퍼층의 두께가 10Å 이상이면 제 1 전극과 정공주입층 사이의 계면을 안정시킬 수 있으며, 버퍼층의 두께가 100Å이하이면 제 1 전극으로부터 정공주입층으로 정공이 쉽게 이동할 수 있다.The thickness of the buffer layer may be 10 to 100 kPa. If the thickness of the buffer layer is 10 GPa or more, the interface between the first electrode and the hole injection layer can be stabilized. If the thickness of the buffer layer is 100 GPa or less, holes can be easily moved from the first electrode to the hole injection layer.

상기 정공수송층(122)은 정공의 수송을 원활하게 하는 역할을 하며, NPD(N,N-dinaphthyl-N,N'-diphenyl benzidine), TPD(N,N'-bis-(3-methylphenyl)-N,N'-bis-(phenyl)-benzidine), s-TAD 및 MTDATA(4,4',4"-Tris(N-3-methylphenyl-N-phenyl-amino)-triphenylamine)로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나로 이루어질 수 있으나 이에 한정되지 않는다. The hole transport layer 122 serves to facilitate the transport of holes, NPD (N, N-dinaphthyl-N, N'-diphenyl benzidine), TPD (N, N'-bis- (3-methylphenyl)- N, N'-bis- (phenyl) -benzidine), s-TAD and MTDATA (4,4 ', 4 "-Tris (N-3-methylphenyl-N-phenyl-amino) -triphenylamine) It may be made of any one, but is not limited thereto.

상기 정공수송층(122)은 발광층으로의 정공의 이동이 용이하도록 가전자대 레벨이 -5.0 내지 -5.8eV일 수 있고, 전도대 레벨은 -1.8 내지 -3.0eV일 수 있다. The hole transport layer 122 may have a valence band level of -5.0 to -5.8 eV, and a conduction band level of -1.8 to -3.0 eV to facilitate movement of holes to the light emitting layer.

상기 정공수송층(122)은 증발법 또는 스핀코팅법을 이용하여 형성할 수 있다. The hole transport layer 122 may be formed using an evaporation method or a spin coating method.

상기 정공수송층(122)의 두께는 5 내지 150nm일 수 있다. 여기서, 상기 정공수송층(122)의 두께가 5nm 이상이면, 정공 수송 특성이 저하되는 것을 방지할 수 있는 이점이 있고, 150nm 이하이면, 정공수송층(122)의 두께가 너무 두꺼워 정공의 이동을 향상시키기 위해 구동전압이 상승되는 것을 방지할 수 있는 이점이 있다.The hole transport layer 122 may have a thickness of about 5 nm to about 150 nm. In this case, when the thickness of the hole transport layer 122 is 5 nm or more, there is an advantage of preventing the hole transporting property from being lowered. When the thickness of the hole transport layer 122 is less than or equal to 150 nm, the thickness of the hole transport layer 122 is too thick to improve the movement of holes. In order to prevent the driving voltage from rising, there is an advantage.

상기 발광층(125)은 적색, 녹색 및 청색을 발광하는 물질로 이루어질 수 있으며, 인광 또는 형광물질을 이용하여 형성할 수 있다.The emission layer 125 may be formed of a material emitting red, green, and blue, and may be formed using phosphorescent or fluorescent materials.

상기 발광층(125)이 적색인 경우, CBP(carbazole biphenyl) 또는 mCP(1,3-bis(carbazol-9-yl)를 포함하는 호스트 물질을 포함하며, PIQIr(acac)(bis(1-phenylisoquinoline)acetylacetonate iridium), PQIr(acac)(bis(1- phenylquinoline)acetylacetonate iridium), PQIr(tris(1-phenylquinoline)iridium) 및 PtOEP(octaethylporphyrin platinum)로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 이상을 포함하는 도펀트를 포함하는 인광물질로 이루어질 수 있고, 이와는 달리, PBD:Eu(DBM)3(Phen) 또는 Perylene을 포함하는 형광물질로 이루어질 수 있으나 이에 한정되지 않는다.When the light emitting layer 125 is red, it includes a host material including CBP (carbazole biphenyl) or mCP (1,3-bis (carbazol-9-yl), and PIQIr (acac) (bis (1-phenylisoquinoline) acetylacetonate iridium), PQIr (acac) (bis (1-phenylquinoline) acetylacetonate iridium), PQIr (tris (1-phenylquinoline) iridium) and PtOEP (octaethylporphyrin platinum) It may be made of a phosphor, and, alternatively, may be made of a phosphor including PBD: Eu (DBM) 3 (Phen) or perylene, but is not limited thereto.

이때, 상기 적색을 발광하는 발광층(125)의 경우에 호스트 물질의 가전자대 레벨은 -5.0 내지 -6.5eV일 수 있고, 전도대 레벨은 -2.0 내지 -3.5eV일 수 있다. 그리고, 도펀트 물질의 가전자대 레벨은 -4.0 내지 -6.0eV일 수 있고, 전도대 레벨은 -2.4 내지 -3.5eV일 수 있다. 호스트 물질의 전도대 레벨은 도펀트 물질의 전도대 레벨을 포함할 수 있다. In this case, in the case of the light emitting layer 125 emitting red, the valence band level of the host material may be -5.0 to -6.5 eV, and the conduction band level may be -2.0 to -3.5 eV. And, the valence band level of the dopant material may be -4.0 to -6.0 eV, and the conduction band level may be -2.4 to -3.5 eV. The conduction band level of the host material may comprise the conduction band level of the dopant material.

상기 발광층(125)이 녹색인 경우, CBP 또는 mCP를 포함하는 호스트 물질을 포함하며, Ir(ppy)3(fac tris(2-phenylpyridine)iridium)을 포함하는 도펀트 물질을 포함하는 인광물질로 이루어질 수 있고, 이와는 달리, Alq3(tris(8-hydroxyquinolino)aluminum)을 포함하는 형광물질로 이루어질 수 있으나 이에 한정되지 않는다.When the light emitting layer 125 is green, the light emitting layer 125 may include a host material including CBP or mCP, and may be formed of a phosphor including a dopant material including Ir (ppy) 3 (fac tris (2-phenylpyridine) iridium). And, alternatively, it may be made of a fluorescent material including Alq3 (tris (8-hydroxyquinolino) aluminum), but is not limited thereto.

이때, 상기 녹색을 발광하는 발광층(125)의 경우에 호스트 물질의 가전자대 레벨은 -5.0 내지 -6.5eV일 수 있고, 전도대 레벨은 -2.0 내지 -3.5eV일 수 있다. 그리고, 도펀트 물질의 가전자대 레벨은 -4.5 내지 -6.0eV일 수 있고, 전도대 레벨은 -2.0 내지 -3.5eV일 수 있다. 호스트 물질의 전도대 레벨은 도펀트 물질의 전도 대 레벨을 포함할 수 있다. In this case, in the case of the light emitting layer 125 emitting green, the valence band level of the host material may be -5.0 to -6.5 eV, and the conduction band level may be -2.0 to -3.5 eV. And, the valence band level of the dopant material may be -4.5 to -6.0 eV, and the conduction band level may be -2.0 to -3.5 eV. The conduction band level of the host material may comprise the conduction band level of the dopant material.

상기 발광층(125)이 청색인 경우, CBP 또는 mCP를 포함하는 호스트 물질을 포함하며, (4,6-F2ppy)2Irpic을 포함하는 도펀트 물질을 포함하는 인광물질로 이루어질 수 있고, 이와는 달리, spiro-DPVBi, spiro-6P, 디스틸벤젠(DSB), 디스트릴아릴렌(DSA), PFO계 고분자 및 PPV계 고분자로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나를 포함하는 형광물질로 이루어질 수 있으나 이에 한정되지 않는다.When the light emitting layer 125 is blue, the phosphor may include a host material including CBP or mCP and a dopant material including (4,6-F 2 ppy) 2 Irpic. , spiro-DPVBi, spiro-6P, distilbenzene (DSB), distriarylene (DSA), PFO-based polymer and PPV-based polymer may be composed of a fluorescent material including any one selected from the group consisting of, but not limited to Do not.

이때, 상기 청색을 발광하는 발광층(125)의 경우에 호스트 물질의 가전자대 레벨은 -5.0 내지 -6.5eV일 수 있고, 전도대 레벨은 -2.0 내지 -3.5eV일 수 있다. 그리고, 도펀트 물질의 가전자대 레벨은 -4.5 내지 -6.0eV일 수 있고, 전도대 레벨은 -2.0 내지 -3.5eV일 수 있다. 호스트 물질의 전도대 레벨은 도펀트 물질의 전도대 레벨을 포함할 수 있다. In this case, in the case of the light emitting layer 125 emitting blue light, the valence band level of the host material may be -5.0 to -6.5 eV, and the conduction band level may be -2.0 to -3.5 eV. And, the valence band level of the dopant material may be -4.5 to -6.0 eV, and the conduction band level may be -2.0 to -3.5 eV. The conduction band level of the host material may comprise the conduction band level of the dopant material.

상기 전자수송층(126)은 전자의 수송을 원활하게 하는 역할을 하며, Alq3(tris(8-hydroxyquinolino)aluminum), PBD, TAZ, spiro-PBD, BAlq 및 SAlq로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나로 이루어질 수 있으나 이에 한정되지 않는다. The electron transport layer 126 serves to facilitate the transport of electrons, and may be made of any one selected from the group consisting of Alq3 (tris (8-hydroxyquinolino) aluminum), PBD, TAZ, spiro-PBD, BAlq, and SAlq. It is not limited to this.

상기 전자수송층(126)은 발광층으로의 전자의 이동이 용이하도록 가전자대 레벨이 -5.0 내지 -6.5eV일 수 있고, 전도대 레벨은 -2.5 내지 -3.8eV일 수 있다. The electron transport layer 126 may have a valence band level of -5.0 to -6.5 eV, and a conduction band level of -2.5 to -3.8 eV to facilitate movement of electrons to the light emitting layer.

상기 전자수송층(126)은 증발법 또는 스핀코팅법을 이용하여 형성할 수 있다. The electron transport layer 126 may be formed using an evaporation method or a spin coating method.

상기 전자수송층(126)의 두께는 1 내지 50nm일 수 있다. 여기서, 상기 전자 수송층(126)의 두께가 1nm 이상이면, 전자 수송 특성이 저하되는 것을 방지할 수 있는 이점이 있고, 50nm 이하이면, 전자수송층(126)의 두께가 너무 두꺼워 전자의 이동을 향상시키기 위해 구동전압이 상승되는 것을 방지할 수 있는 이점이 있다.The electron transport layer 126 may have a thickness of about 1 nm to about 50 nm. Here, when the thickness of the electron transporting layer 126 is 1 nm or more, there is an advantage of preventing the electron transporting property from decreasing. When the thickness of the electron transporting layer 126 is 50 nm or less, the thickness of the electron transporting layer 126 is too thick to improve the movement of electrons. In order to prevent the driving voltage from rising, there is an advantage.

상기 전자주입층(127)은 전자의 주입을 원활하게 하는 역할을 하며, Alq3(tris(8-hydroxyquinolino)aluminum), PBD, TAZ, spiro-PBD, BAlq 또는 SAlq를 사용할 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The electron injection layer 127 serves to facilitate the injection of electrons, and may be Alq3 (tris (8-hydroxyquinolino) aluminum), PBD, TAZ, spiro-PBD, BAlq or SAlq, but is not limited thereto.

상기 전자주입층(127)은 무기물(128)을 더 포함할 수 있으며, 상기 무기물(128)은 금속화합물을 더 포함할 수 있다. 상기 금속화합물은 알칼리 금속 또는 알칼리 토금속을 포함할 수 있다. 상기 알칼리 금속 또는 알칼리 토금속을 포함하는 금속화합물은 LiF, NaF, KF, RbF, CsF, FrF, BeF2, MgF2, CaF2, SrF2, BaF2 및 RaF2로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 이상일 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The electron injection layer 127 may further include an inorganic material 128, and the inorganic material 128 may further include a metal compound. The metal compound may include an alkali metal or an alkaline earth metal. The metal compound containing the alkali metal or alkaline earth metal is LiF, NaF, KF, RbF, CsF, FrF, BeF 2 , MgF 2 , CaF 2 , SrF 2 , BaF 2 And RaF 2 may be any one or more selected from the group consisting of, but is not limited thereto.

상기 전자주입층(127)은 발광층으로의 전자의 이동이 용이하도록 가전자대 레벨이 -5.0 내지 -6.5eV일 수 있고, 전도대 레벨은 -2.5 내지 -3.5eV일 수 있다. 여기서, 상기 전자주입층(127)의 가전자대 최고 레벨은 상기 전자수송층(126)의 가전자대 최고 레벨보다 낮거나 같을 수 있고, 상기 전자주입층(127)의 전도대 최저 레벨은 상기 전자수송층(126)의 전도대 최저 레벨보다 낮거나 같을 수 있다. The electron injection layer 127 may have a valence band level of −5.0 to −6.5 eV, and a conduction band level of −2.5 to −3.5 eV to facilitate movement of electrons to the emission layer. Here, the highest valence band level of the electron injection layer 127 may be lower than or equal to the highest valence band level of the electron transport layer 126, and the lowest level of conduction band of the electron injection layer 127 is the electron transport layer 126. Can be lower than or equal to the lowest level of conduction band.

이와는 달리, 전자수송층(126)이 형성되지 않을 경우에는, 전자주입층(127)의 가전자대 최고 레벨은 발광층(125) 가전자대 최고 레벨보다 낮거나 같을 수 있고, 상기 전자주입층(127)의 전도대 최저 레벨은 발광층(125)의 전도대 최저 레벨 보다 낮거나 같을 수 있다.On the contrary, when the electron transport layer 126 is not formed, the valence band maximum level of the electron injection layer 127 may be lower than or equal to the peak level of the emission layer 125. The conduction band minimum level may be lower than or equal to the conduction band minimum level of the light emitting layer 125.

또한, 상기 전자주입층(127)의 가전자대 최고 레벨은 제 2 전극 즉, 캐소드 전극의 가전자대 최고 레벨보다 높거나 같을 수 있고, 전자주입층(127)의 전도대 최저 레벨은 캐소드 전극의 가전자대 최고 레벨보다 높을 수 있다. Further, the highest valence band of the electron injection layer 127 may be higher than or equal to the highest valence band of the second electrode, that is, the cathode electrode, and the lowest conductive band of the electron injection layer 127 is the valence band of the cathode electrode. It can be higher than the highest level.

상기 무기물(128)은 전도대 레벨 및 가전자대 레벨이 -2.0 내지 -4.0eV일 수 있다. The inorganic material 128 may have a conduction band level and a valence band level of -2.0 to -4.0 eV.

여기서, 상기 무기물(128)의 가전자대 최고 레벨은 상기 무기물을 포함하는 유기기능층의 가전자대 최고 레벨보다 높을 수 있다. 또한, 상기 무기물(128)의 가전자대 최고 레벨은 상기 유기기능층들 중 상기 무기물(128)을 포함하는 유기기능층을 제외한 나머지 유기기능층들의 가전자대 최고 레벨보다 높을 수 있다.Here, the highest valence band level of the inorganic material 128 may be higher than the highest valence band level of the organic functional layer including the inorganic material. In addition, the valence band maximum level of the inorganic material 128 may be higher than the valence band maximum level of the remaining organic functional layers except for the organic functional layer including the inorganic material 128 among the organic functional layers.

상기 전자주입층(127)의 두께는 1 내지 50nm일 수 있다. 여기서, 상기 전자주입층(127)의 두께가 1nm 이상이면, 전자 주입 특성이 저하되는 것을 방지할 수 있는 이점이 있고, 50nm 이하이면, 전자주입층의 두께가 너무 두꺼워 전자의 이동을 향상시키기 위해 구동전압이 상승되는 것을 방지할 수 있는 이점이 있다.The electron injection layer 127 may have a thickness of about 1 nm to about 50 nm. In this case, when the thickness of the electron injection layer 127 is 1 nm or more, there is an advantage that the electron injection characteristics may be prevented from being lowered. There is an advantage that the driving voltage can be prevented from rising.

여기서, 본 발명의 실시 예에서는 무기물을 포함하는 전자주입층(127)의 두께는 전자주입층(127) 외의 다른 유기기능층들 중 어느 하나, 즉 정공주입층(121), 정공수송층(122), 발광층(125) 또는 전자수송층(126)보다 얇을 수 있다.Here, in the embodiment of the present invention, the thickness of the electron injection layer 127 including an inorganic material may be any one of organic functional layers other than the electron injection layer 127, that is, the hole injection layer 121 and the hole transport layer 122. It may be thinner than the light emitting layer 125 or the electron transport layer 126.

즉, 제 1 전극(110)으로부터 주입되는 정공은 제 2 전극(130)으로부터 주입되는 전자보다 이동도가 10배 이상 빠르기 때문에 전자주입층(127)의 두께가 다른 층들에 비해 얇으면, 제 2 전극(130)으로부터 주입되는 전자가 전자주입층(127)의 두께가 얇기 때문에 빠르게 이동할 수 있어, 정공과 전하의 밸런스를 맞출 수 있게 된다. 따라서, 발광층(125)에서의 엑시톤(exiton) 형성을 균일하게 하여 발광효율을 향상시킬 수 있다. That is, since the hole injected from the first electrode 110 has a mobility 10 times faster than the electron injected from the second electrode 130, when the thickness of the electron injection layer 127 is thinner than other layers, the second Since the electron injected from the electrode 130 has a small thickness of the electron injection layer 127, the electrons can move quickly, so that the hole and the charge can be balanced. Therefore, the formation of excitons in the light emitting layer 125 may be uniform, thereby improving luminous efficiency.

상술한 바와 같이, 본 발명의 제 1 실시 예에서는 상기 전자주입층(127)에 무기물(128)을 포함할 수 있으며, 상기 무기물(128)은 상기 전자주입층(127)내에 분산되어 있을 수 있다.As described above, in the first embodiment of the present invention, the electron injection layer 127 may include an inorganic material 128, and the inorganic material 128 may be dispersed in the electron injection layer 127. .

상기 전자주입층(127)은 전자주입층을 이루는 유기물과 무기물을 공증착법으로 형성할 수 있다. 이때, 상기 유기물과 무기물의 혼합비율은 2:1 내지 10:1일 수 있다. 여기서, 유기물과 무기물의 혼합비율이 2:1 이상이면, 제 2 전극으로부터 발광층으로 주입되는 전자의 이동성을 향상시킬 수 있고, 유기물과 무기물의 혼합비율이 10:1 이하이면, 전자주입층 내에 무기물의 비율이 적어져 전자의 이동성이 향상되기 어려운 문제점을 방지할 수 있다. The electron injection layer 127 may form an organic material and an inorganic material constituting the electron injection layer by a co-deposition method. In this case, the mixing ratio of the organic material and the inorganic material may be 2: 1 to 10: 1. Here, when the mixing ratio of the organic material and the inorganic material is 2: 1 or more, the mobility of electrons injected into the light emitting layer from the second electrode can be improved, and when the mixing ratio of the organic material and the inorganic material is 10: 1 or less, the inorganic material in the electron injection layer Since the ratio of is reduced, it is possible to prevent the problem that the mobility of electrons is difficult to be improved.

상기 전자주입층(127) 내의 무기물(128)은 균일하게 분산되어 있을 수 있으며, 전자주입층(127) 내의 분산된 무기물(128)의 입자 사이의 간격은 5 내지 45Å일 수 있다. 여기서, 무기물(128)의 입자 사이의 간격은 5Å 이상이면, 전자가 이동하는 통로에 무기물이 배리어, 즉 절연막처럼 작용하여 전자의 이동을 방해하는 것을 방지할 수 있고, 무기물(128)의 입자 사이의 간격은 45Å 이하이면, 전자의 호핑이 어려워지는 것을 방지할 수 있는 이점이 있다.The inorganic material 128 in the electron injection layer 127 may be uniformly dispersed, and the spacing between the particles of the inorganic material 128 dispersed in the electron injection layer 127 may be 5 to 45 mm 3. Here, when the interval between the particles of the inorganic material 128 is 5 Å or more, it is possible to prevent the inorganic material from acting as a barrier, that is, an insulating film, in the passage through which the electrons move, to hinder the movement of the electrons, and between the particles of the inorganic material 128. If the interval of is 45 kHz or less, there is an advantage that the hopping of the electrons can be prevented from becoming difficult.

그리고, 무기물(128)을 포함하는 전자주입층(127)은 무기물(128)의 가전자대 레벨이 전자주입층(127)을 이루는 유기물의 전도대 레벨을 낮추는 역할을 할 수 있 다.In addition, the electron injection layer 127 including the inorganic material 128 may serve to lower the conduction band level of the organic material forming the electron injection layer 127 of the valence band level of the inorganic material 128.

따라서, 전자주입층(127) 내의 무기물(128)은 제 2 전극으로부터 발광층으로 주입되는 전자의 호핑(hopping)을 용이하게 하여, 발광층내로 주입되는 정공과 전자의 밸런스를 맞추어 발광효율을 향상시킬 수 있는 이점이 있다.Therefore, the inorganic material 128 in the electron injection layer 127 facilitates hopping of electrons injected from the second electrode to the light emitting layer, thereby improving the light emission efficiency by balancing holes and electrons injected into the light emitting layer. There is an advantage to that.

상기 제 2 전극(130)은 캐소드 전극일 수 있으며, 일함수가 낮은 마그네슘(Mg), 칼슘(Ca), 알루미늄(Al), 은(Ag) 또는 이들의 합금으로 이루어질 수 있다. 여기서, 제 2 전극(130)은 유기전계발광소자가 전면 또는 양면발광구조일 경우, 빛을 투과할 수 있을 정도로 얇은 두께로 형성할 수 있으며, 유기전계발광소자가 배면발광구조일 경우, 빛을 반사시킬 수 있을 정도로 두껍게 형성할 수 있다. The second electrode 130 may be a cathode electrode, and may be made of magnesium (Mg), calcium (Ca), aluminum (Al), silver (Ag), or an alloy thereof having a low work function. Here, the second electrode 130 may be formed to a thickness thin enough to transmit light when the organic light emitting device is a front or double-side light emitting structure, and when the organic light emitting device is a bottom light emitting structure, It can be formed thick enough to reflect.

본 발명의 제 1 실시 예에서는 발광층(125)과 제 2 전극(130) 사이에 전자수송층(126) 및 전자주입층(127)이 모두 형성된 구조를 예로 들어, 발광층(125), 전자수송층(126) 및 전자주입층(127) 중 제 2 전극(130)에 가장 인접한 전자주입층(127)에 무기물(128)이 분산된 유기전계발광소자를 설명하였다.In the first embodiment of the present invention, the electron transport layer 126 and the electron injection layer 127 are formed between the light emitting layer 125 and the second electrode 130 as an example, the light emitting layer 125, the electron transport layer 126 ) And the organic light emitting diode in which the inorganic material 128 is dispersed in the electron injection layer 127 closest to the second electrode 130 among the electron injection layer 127 has been described.

이와는 달리, 발광층과 제 2 전극 사이에 전자주입층이 개재되어 있지 않을 경우에, 제 2 전극과 인접한 유기기능층인 전자수송층에 무기물이 분산될 수 있다.On the contrary, when the electron injection layer is not interposed between the light emitting layer and the second electrode, the inorganic material may be dispersed in the electron transport layer, which is an organic functional layer adjacent to the second electrode.

도 2는 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 유기전계발광소자의 작용을 설명하기 위한 개념도이고, 좌우방향은 유기전계발광소자의 적층 방향의 위치를 나타내고 상하 방향은 각 층 재료의 전도대 및 가전자대의 에너지 레벨을 나타내고 있다.2 is a conceptual view illustrating the operation of the organic light emitting display device according to the first embodiment of the present invention, the left and right direction shows the position of the stacking direction of the organic light emitting device and the up and down direction is the conduction band and the valence band of each layer material. Energy level is indicated.

도 2를 참조하면, 제 1 전극(110), 발광층(125), 전자주입층(127) 및 제 2 전극(130)이 위치한다. 제 1 전극(110)에는 페르미준위(110a)가 도시되어 있고, 발광층(125)에는 전도대 최저 레벨(125a)과 가전자대 최고 레벨(125b)이 도시되어 있다. 그리고, 전자주입층(127)에는 전도대 최저 레벨(127a)과 가전자대 최고 레벨(127b)이 도시되어 있고, 제 2 전극(130a)의 페르미준위(130a)가 각각 나타나 있다.Referring to FIG. 2, the first electrode 110, the light emitting layer 125, the electron injection layer 127, and the second electrode 130 are positioned. The Fermi level 110a is shown in the first electrode 110, and the lowest level 125a of the conduction band and the highest level 125b of the valence band are shown in the light emitting layer 125. In the electron injection layer 127, the lowest level of conduction band 127a and the highest level of valence band 127b are shown, and the Fermi level 130a of the second electrode 130a is shown.

발광층(125)의 전도대 최저 레벨(125a)은 전자주입층(127)의 전도대 최저 레벨(127a)보다 높기 때문에 제 2 전극(130)에서 주입되는 전자가 발광층(125) 방향으로 이동하기 위해서는 에너지 밴드갭(125c)을 넘어야 한다. 또한, 전자주입층(127)의 가전자대 최고 레벨(127b)은 발광층(125)의 가전자대 최고 레벨(125b)보다 낮기 때문에 제 1 전극(110)에서 주입되는 정공이 전자주입층(127) 방향으로 이동하기 위해서는 에너지 밴드갭(127c)을 넘어야 한다. Since the conduction band minimum level 125a of the emission layer 125 is higher than the conduction band minimum level 127a of the electron injection layer 127, the electrons injected from the second electrode 130 move in the direction of the emission layer 125. It must cross the gap 125c. Also, since the valence band highest level 127b of the electron injection layer 127 is lower than the valence band maximum level 125b of the emission layer 125, holes injected from the first electrode 110 are directed toward the electron injection layer 127. In order to move to, the energy bandgap 127c must be exceeded.

본 발명의 일 실시 예에 따른 유기전계발광소자는 제 2 전극에 인접한 유기기능층 즉, 전자주입층(127)의 가전자대 최고 레벨(127b)보다 높은 가전자대 최고 레벨(128a)을 갖는 무기물을 포함시켜 전자의 이동이 용이하도록 한다. An organic light emitting display device according to an embodiment of the present invention is an inorganic material having a valence band peak level 128a higher than the valence band peak level 127b of the organic functional layer adjacent to the second electrode, that is, the electron injection layer 127. It is included to facilitate the movement of electrons.

즉, 전자주입층(127)의 가전자대 최고 레벨(127b)보다 높고, 전도대 최저 레벨(127a)보다 낮은 가전자대 최고 레벨(128a)을 갖는 무기물을 혼합함으로써, 무기물의 가전자대 최고 레벨(128a)이 전자주입층(127)의 높은 전도대 최저 레벨(127a)을 낮추어 전자의 호핑을 용이하게 할 수 있다.That is, by mixing the inorganic material having the valence band highest level 128a higher than the valence band highest level 127b of the electron injection layer 127 and lower than the conduction band minimum level 127a, the valence band maximum level 128a of the inorganic material is mixed. The high conduction band minimum level 127a of the electron injection layer 127 can be lowered to facilitate hopping of electrons.

그리고, 무기물의 가전자대 최고 레벨(128a)은 발광층(125)의 가전자대 최고 레벨(125b)보다 높고 전도대 최저 레벨(125a)보다 낮을 수 있다. 여기서, 무기물의 가전자대 최고 레벨(128a)은 발광층(125)의 호스트 물질의 전도대 최저 레벨보다 낮을 수 있고 가전자대 최고 레벨보다 높을 수 있다. 도한, 무기물의 가전자대 최고 레벨(128a)은 발광층(125)의 도펀트 물질의 전도대 최저 레벨보다 낮을 수 있고 가전자대 최고 레벨보다 높거나 같을 수 있다.In addition, the valence band highest level 128a of the inorganic material may be higher than the valence band maximum level 125b of the emission layer 125 and lower than the conduction band minimum level 125a. Here, the valence band highest level 128a of the inorganic material may be lower than the conduction band minimum level of the host material of the emission layer 125 and may be higher than the valence band maximum level. In addition, the valence band peak level 128a of the inorganic material may be lower than the conduction band minimum level of the dopant material of the light emitting layer 125 and may be higher than or equal to the valence band peak level.

또한, 도 2에 도시되지 않았지만, 발광층(125)과 전자주입층(127) 사이에 전자수송층이 개재될 경우에, 무기물의 가전자대 최고 레벨(128a)는 전자수송층의 가전자대 최고 레벨보다는 높고 전도대 최저 레벨보다는 낮을 수 있다.Also, although not shown in FIG. 2, when the electron transport layer is interposed between the light emitting layer 125 and the electron injection layer 127, the valence band peak level 128a of the inorganic material is higher than the valence band peak level of the electron transport layer and is a conduction band. It may be lower than the lowest level.

이하, 하기에서 설명하는 본 발명의 제 2 실시 예에서는 제 1 실시 예와는 달리, 제 1 전극에 가장 인접한 정공주입층(121)에 무기물(128)이 포함된 유기전계발광소자에 대해 설명한다. 그리고, 상기 제 1 실시 예와 중복되는 제 1 전극, 정공수송층, 발광층, 전자수송층 및 전자주입층의 설명은 생략한다.Hereinafter, in the second embodiment of the present invention described below, unlike the first embodiment, an organic light emitting diode in which the inorganic material 128 is included in the hole injection layer 121 closest to the first electrode will be described. . The description of the first electrode, the hole transport layer, the light emitting layer, the electron transport layer, and the electron injection layer, which overlap with the first embodiment, will be omitted.

도 3은 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 유기전계발광소자의 단면도이다.3 is a cross-sectional view of an organic light emitting display device according to a second embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 유기전계발광소자는 제 1 기판(100), 제 1 기판(100)에 위치하는 제 1 전극(110)이 위치하고, 상기 제 1 전극(110) 상에 위치하는 정공주입층(121), 정공수송층(122), 발광층(125), 전자수송층(126), 전자주입층(127)으로 이루어진 유기기능층들(120)이 위치하고, 상기 유기기능층들(120) 상에 위치하는 제 2 전극(130)을 포함할 수 있다. 상기 제 1 전극(110)에 인접한 정공주입층(121)은 분산된 무기물(128)을 더 포함할 수 있다.Referring to FIG. 3, in the organic light emitting display device according to the second embodiment of the present invention, a first electrode 100, a first electrode 110 positioned on the first substrate 100, is positioned, and the first electrode ( The organic functional layers 120 including the hole injection layer 121, the hole transport layer 122, the light emitting layer 125, the electron transport layer 126, and the electron injection layer 127 positioned on the 110 are positioned. It may include a second electrode 130 positioned on the functional layers 120. The hole injection layer 121 adjacent to the first electrode 110 may further include a dispersed inorganic material 128.

본 발명의 제 2 실시 예에 따른 유기전계발광소자의 정공주입층(121)은 CuPc(cupper phthalocyanine), PEDOT(poly(3,4)-ethylenedioxythiophene), PANI(polyaniline) 및 NPD(N,N-dinaphthyl-N,N'-diphenyl benzidine)로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나로 이루어질 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The hole injection layer 121 of the organic light emitting diode according to the second embodiment of the present invention is CuPc (cupper phthalocyanine), PEDOT (poly (3,4) -ethylenedioxythiophene), PANI (polyaniline) and NPD (N, N- dinaphthyl-N, N'-diphenyl benzidine) may be any one selected from the group consisting of, but is not limited thereto.

상기 정공주입층(121)은 무기물(128)을 더 포함할 수 있으며, 상기 무기물(128)은 금속화합물을 더 포함할 수 있다. 상기 금속화합물은 알칼리 금속 또는 알칼리 토금속을 포함할 수 있다. 상기 알칼리 금속 또는 알칼리 토금속을 포함하는 금속화합물은 LiF, NaF, KF, RbF, CsF, FrF, BeF2, MgF2, CaF2, SrF2, BaF2 및 RaF2로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 이상일 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The hole injection layer 121 may further include an inorganic material 128, and the inorganic material 128 may further include a metal compound. The metal compound may include an alkali metal or an alkaline earth metal. The metal compound containing the alkali metal or alkaline earth metal is LiF, NaF, KF, RbF, CsF, FrF, BeF 2 , MgF 2 , CaF 2 , SrF 2 , BaF 2 And RaF 2 may be any one or more selected from the group consisting of, but is not limited thereto.

상기 정공주입층(121)은 발광층으로의 정공의 이동이 용이하도록 가전자대 레벨이 5.0 내지 5.5eV일 수 있고, 전도대 레벨은 1.8 내지 2.8eV일 수 있다. 여기서, 상기 정공주입층(121)의 가전자대 최고 레벨은 정공수송층(122)의 가전자대 최고 레벨보다 높거나 같을 수 있고, 상기 정공주입층(121)의 전도대 최저 레벨은 정공수송층(122)의 전도대 최저 레벨보다 높거나 같을 수 있다. The hole injection layer 121 may have a valence band level of 5.0 to 5.5 eV, and a conduction band level of 1.8 to 2.8 eV to facilitate movement of holes to the emission layer. Here, the highest valence band level of the hole injection layer 121 may be higher than or equal to the highest valence band level of the hole transport layer 122, and the lowest level of conduction band of the hole injection layer 121 may be defined as that of the hole transport layer 122. It may be higher than or equal to the lowest level of the conduction band.

이와는 달리, 정공수송층(122)이 형성되지 않을 경우에는, 정공주입층(121)의 가전자대 최고 레벨은 발광층(125) 가전자대 최고 레벨보다 높거나 같을 수 있고, 상기 정공주입층(121)의 전도대 최저 레벨은 발광층(125)의 전도대 최저 레벨보다 높거나 같을 수 있다.In contrast, when the hole transport layer 122 is not formed, the valence band highest level of the hole injection layer 121 may be higher than or equal to the highest level of the valence band of the emission layer 125, and the hole injection layer 121 may be formed. The conduction band minimum level may be higher than or equal to the conduction band minimum level of the light emitting layer 125.

또한, 상기 정공주입층(121)의 가전자대 최고 레벨은 제 1 전극 즉, 애노드 전극의 가전자대 최고 레벨보다 낮거나 같을 수 있고, 정공주입층(121)의 전도대 최저 레벨은 애노드 전극의 가전자대 최고 레벨보다 높을 수 있다. Also, the highest valence band of the hole injection layer 121 may be lower than or equal to the highest valence band of the first electrode, that is, the anode electrode, and the lowest conductive band of the hole injection layer 121 is the valence band of the anode electrode. It can be higher than the highest level.

상기 무기물(128)은 가전자대 레벨 및 전도대 레벨이 2.0 내지 4.0eV일 수 있다. The inorganic material 128 may have a valence band level and a conduction band level of 2.0 to 4.0 eV.

상기 정공주입층(121)의 두께는 1 내지 50nm일 수 있다. 여기서, 상기 정공주입층(121)의 두께가 1nm 이상이면, 정공 주입 특성이 저하되는 것을 방지할 수 있는 이점이 있고, 50nm 이하이면, 정공주입층의 두께가 너무 두꺼워 정공의 이동을 향상시키기 위해 구동전압이 상승되는 것을 방지할 수 있는 이점이 있다.The hole injection layer 121 may have a thickness of about 1 nm to about 50 nm. Here, when the thickness of the hole injection layer 121 is 1 nm or more, there is an advantage that the hole injection characteristics can be prevented from deteriorating. When the thickness of the hole injection layer is 50 nm or less, the thickness of the hole injection layer is too thick to improve the movement of holes. There is an advantage that the driving voltage can be prevented from rising.

여기서, 본 발명의 실시 예에서는 무기물을 포함하는 정공주입층(121)의 두께는 정공주입층(121) 외의 다른 유기기능층들 중 어느 하나, 즉 정공수송층(122), 발광층(125),전자수송층(126) 또는 전자주입층(127)보다 두꺼울 수 있다.Here, in the embodiment of the present invention, the thickness of the hole injection layer 121 including an inorganic material may be any one of organic functional layers other than the hole injection layer 121, that is, the hole transport layer 122, the light emitting layer 125, and the electron. It may be thicker than the transport layer 126 or the electron injection layer 127.

즉, 제 1 전극으로부터 주입되는 정공은 제 2 전극으로부터 주입되는 전자보다 이동도가 10배 이상 빠르기 때문에 정공주입층의 두께가 다른 층들에 비해 두꺼우면, 제 1 전극으로부터 주입되는 정공이 정공주입층의 두께가 두껍기 때문에 정공의 이동성을 저하시킬 수 있어, 정공과 전하의 밸런스를 맞출 수 있게 된다. 따라서, 발광층에서의 엑시톤(exiton) 형성을 균일하게 하여 발광효율을 향상시킬 수 있다. That is, since the hole injected from the first electrode has a mobility 10 times faster than the electron injected from the second electrode, when the thickness of the hole injection layer is thicker than other layers, the hole injected from the first electrode is the hole injection layer. Since the thickness of is large, the mobility of holes can be reduced, so that the balance between the holes and the charges can be balanced. Therefore, it is possible to improve the luminous efficiency by making excitons uniform in the light emitting layer.

상술한 바와 같이, 본 발명의 제 2 실시 예에서는 상기 정공주입층(121)에 무기물(128)을 더 포함할 수 있으며, 상기 무기물(128)은 정공주입층(121) 내에 분산되어 있을 수 있다. As described above, in the second embodiment of the present invention, the hole injection layer 121 may further include an inorganic material 128, and the inorganic material 128 may be dispersed in the hole injection layer 121. .

상기 정공주입층(121) 내의 분산된 무기물(128)의 입자 사이의 간격은 5 내지 45Å일 수 있다. 여기서, 무기물(128)의 입자 사이의 간격이 5Å 이상이면, 정공이 이동하는 통로에 무기물이 배리어, 즉 절연막처럼 작용하여 정공의 이동성이 너무 낮아지는 것을 방지할 수 있고, 무기물(128)의 입자 사이의 간격이 45Å 이하이면, 정공의 이동성이 너무 높아져 발광층에서 결합하는 정공과 전자의 밸런스를 맞추기 어려운 문제점을 방지할 수 있다.The interval between the particles of the inorganic material 128 dispersed in the hole injection layer 121 may be 5 to 45 kPa. Here, when the distance between the particles of the inorganic material 128 is 5 Å or more, it is possible to prevent the inorganic material from acting as a barrier, that is, an insulating film in the passage through which the holes move, so that the mobility of the holes is too low, and the particles of the inorganic material 128 If the spacing between the holes is 45 kPa or less, the mobility of the holes is so high that it is possible to prevent a problem that it is difficult to balance the holes and electrons bonded in the light emitting layer.

상기 정공주입층(121)은 정공주입층을 이루는 유기물과 무기물을 공증착법으로 형성할 수 있다. 이때, 상기 유기물과 무기물의 혼합비율은 2:1 내지 10:1일 수 있다. 여기서, 유기물과 무기물의 혼합비율이 2:1 이상이면, 제 1 전극으로부터 발광층으로 주입되는 정공의 이동성을 낮춰 발광층에서 결합하는 정공과 전자의 밸런스를 맞출 수 있고, 유기물과 무기물의 혼합비율이 10:1 이하이면, 정공주입층 내에 무기물의 비율이 작아지고 이에 따라 정공의 이동성을 낮추기 어려워 발광층에서 결합하는 정공과 전자의 밸런스를 맞추기 어려운 문제점을 방지할 수 있다. The hole injection layer 121 may form an organic material and an inorganic material constituting the hole injection layer by a co-deposition method. In this case, the mixing ratio of the organic material and the inorganic material may be 2: 1 to 10: 1. Here, when the mixing ratio of organic material and inorganic material is 2: 1 or more, the mobility of holes injected from the first electrode into the light emitting layer can be lowered to balance the holes and electrons bonded in the light emitting layer, and the mixing ratio of organic material and inorganic material is 10. When the ratio is less than or equal to 1, the ratio of the inorganic material in the hole injection layer is reduced, thereby making it difficult to lower the mobility of the holes, thereby preventing the problem of hardly balancing the holes and electrons bonded in the light emitting layer.

상기 무기물(128)의 가전자대 최고 레벨은 상기 무기물을 포함하는 유기기능층의 가전자대 최고 레벨보다 높을 수 있다. 또한, 상기 무기물(128)의 가전자대 최고 레벨은 상기 유기기능층들 중 상기 무기물(128)을 포함하는 유기기능층을 제외한 나머지 유기기능층들의 가전자대 최고 레벨보다 높을 수 있다.The valence band peak level of the inorganic material 128 may be higher than the valence band peak level of the organic functional layer including the inorganic material. In addition, the valence band maximum level of the inorganic material 128 may be higher than the valence band maximum level of the remaining organic functional layers except for the organic functional layer including the inorganic material 128 among the organic functional layers.

여기서, 무기물(128)을 포함하는 정공주입층(121)은 무기물(128)의 가전자대 레벨이 정공주입층(121)을 이루는 유기물의 가전자대 레벨을 낮추는 역할을 할 수 있다.Here, the hole injection layer 121 including the inorganic material 128 may serve to lower the valence band level of the organic material of the inorganic material 128 forming the hole injection layer 121.

따라서, 정공주입층(121) 내의 무기물(128)은 제 1 전극으로부터 발광층으로 주입되는 정공의 이동성을 줄여줌으로써, 발광층내로 주입되는 정공과 전자의 밸런스를 맞추어 발광효율을 향상시킬 수 있는 이점이 있다.Accordingly, the inorganic material 128 in the hole injection layer 121 may reduce the mobility of holes injected from the first electrode to the light emitting layer, thereby improving luminous efficiency by balancing holes and electrons injected into the light emitting layer. .

도 4는 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 유기전계발광소자의 작용을 설명하기 위한 개념도이고, 좌우방향은 유기전계발광소자의 적층 방향의 위치를 나타내고 상하 방향은 각 층 재료의 전도대 및 가전자대의 에너지 레벨을 나타내고 있다.4 is a conceptual diagram for explaining the operation of the organic light emitting display device according to the second embodiment of the present invention, the left and right direction shows the position of the stacking direction of the organic light emitting device and the up and down direction is the conduction band and valence band of each layer material Energy level is indicated.

도 4를 참조하면, 제 1 전극(110), 정공주입층(121), 발광층(125) 및 제 2 전극(130)이 위치한다. 제 1 전극(110)에는 페르미준위(110a)가 도시되어 있고, 정공주입층(121)에는 전도대 최저 레벨(121a)과 가전자대 최고 레벨(121b)가 도시되어 있다. 발광층(125)에는 전도대 최저 레벨(125a)과 가전자대 최고 레벨(125b)이 도시되어 있고, 제 2 전극(130a)의 페르미준위(130a)가 각각 나타나 있다.Referring to FIG. 4, the first electrode 110, the hole injection layer 121, the light emitting layer 125, and the second electrode 130 are positioned. The Fermi level 110a is illustrated in the first electrode 110, and the lowest level of conduction band 121a and the highest valence band 121b are illustrated in the hole injection layer 121. In the light emitting layer 125, the lowest level of conduction band 125a and the highest level of valence band 125b are shown, and the Fermi level 130a of the second electrode 130a is shown.

발광층(125)의 전도대 최저 레벨(125a)은 정공주입층(121)의 전도대 최저 레벨(121a)보다 낮기 때문에 제 2 전극(130)에서 주입되는 전자가 제 1 전극(110) 방향으로 이동하기 위해서는 에너지 밴드갭(121c)을 넘어야 한다. 또한, 정공주입층(121)의 가전자대 최고 레벨(121b)은 발광층(125)의 가전자대 최고 레벨(125b)보다 높기 때문에 제 1 전극(110)에서 주입되는 정공이 발광층(125) 방향으로 이동하기 위해서는 에너지 밴드갭(125c)을 넘어야 한다. Since the lowest conduction band level 125a of the emission layer 125 is lower than the lowest conduction band level 121a of the hole injection layer 121, electrons injected from the second electrode 130 move in the direction of the first electrode 110. The energy band gap 121c must be exceeded. In addition, since the highest valence band 121b of the hole injection layer 121 is higher than the highest valence band 125b of the emission layer 125, holes injected from the first electrode 110 move toward the emission layer 125. In order to do so, the energy bandgap 125c must be exceeded.

본 발명의 일 실시 예에 따른 유기전계발광소자는 제 1 전극에 인접한 유기기능층 즉, 정공주입층(121)의 가전자대 최고 레벨(121b)보다 높은 가전자대 최고 레벨(128a)을 갖는 무기물을 포함시켜 정공의 이동성을 줄여주도록 한다. An organic light emitting display device according to an embodiment of the present invention is an inorganic material having a valence band peak level 128a higher than the valence band peak level 121b of the organic functional layer adjacent to the first electrode, that is, the hole injection layer 121. To reduce hole mobility.

즉, 정공주입층(121)의 가전자대 최고 레벨(121b)보다 높고, 전도대 최저 레벨(121a)보다 낮은 가전자대 최고 레벨(128a)을 갖는 무기물을 혼합함으로써, 무기물의 가전자대 최고 레벨(128a)이 정공주입층(121)의 높은 전도대 최저 레벨(121a)을 낮추어 정공의 이동성을 줄일 수 있다.That is, by mixing the inorganic material having the valence band highest level 128a higher than the valence band highest level 121b of the hole injection layer 121 and lower than the conduction band minimum level 121a, the valence band maximum level 128a of the inorganic material is mixed. The high conduction band minimum level 121a of the hole injection layer 121 can be lowered to reduce the mobility of holes.

그리고, 무기물의 가전자대 최고 레벨(128a)은 발광층(125)의 가전자대 최고 레벨(125b)보다 높고 전도대 최저 레벨(125a)보다 낮을 수 있다. 여기서, 무기물의 가전자대 최고 레벨(128a)은 발광층(125)의 호스트 물질의 전도대 최저 레벨보다 낮을 수 있고 가전자대 최고 레벨보다 높을 수 있다. 도한, 무기물의 가전자대 최고 레벨(128a)은 발광층(125)의 도펀트 물질의 전도대 최저 레벨보다 낮을 수 있고 가전자대 최고 레벨보다 높거나 같을 수 있다.In addition, the valence band highest level 128a of the inorganic material may be higher than the valence band maximum level 125b of the emission layer 125 and lower than the conduction band minimum level 125a. Here, the valence band highest level 128a of the inorganic material may be lower than the conduction band minimum level of the host material of the emission layer 125 and may be higher than the valence band maximum level. In addition, the valence band peak level 128a of the inorganic material may be lower than the conduction band minimum level of the dopant material of the light emitting layer 125 and may be higher than or equal to the valence band peak level.

또한, 도 4에 도시되지 않았지만, 발광층(125)과 정공주입층(121) 사이에 정공수송층이 개재될 경우에, 무기물의 가전자대 최고 레벨(128a)는 정공수송층의 가전자대 최고 레벨보다는 높고 전도대 최저 레벨보다는 낮을 수 있다.In addition, although not shown in FIG. 4, when the hole transport layer is interposed between the light emitting layer 125 and the hole injection layer 121, the valence band maximum level 128a of the inorganic material is higher than the valence band maximum level of the hole transport layer and is conducted. It may be lower than the lowest level.

본 발명의 제 2 실시 예에서는 발광층(125)과 제 1 전극(110) 사이에 정공수송층(122) 및 정공주입층(121)이 모두 형성된 구조를 예로 들어, 발광층(125), 정공수송층(122) 및 정공주입층(121) 중 제 1 전극(110)에 가장 인접한 정공주입층(121)에 무기물(128)이 분산된 유기전계발광소자를 설명하였다.In the second exemplary embodiment of the present invention, the hole transport layer 122 and the hole injection layer 121 are formed between the light emitting layer 125 and the first electrode 110. For example, the light emitting layer 125 and the hole transport layer 122 may be used. ) And the organic light emitting diode in which the inorganic material 128 is dispersed in the hole injection layer 121 closest to the first electrode 110 of the hole injection layer 121 has been described.

이와는 달리, 발광층과 제 1 전극 사이에 정공주입층이 형성되어 있지 않은 경우에, 제 1 전극과 인접한 유기기능층인 전자수송층에 무기물을 분산될 수 있다.Alternatively, when the hole injection layer is not formed between the light emitting layer and the first electrode, the inorganic material may be dispersed in the electron transport layer, which is an organic functional layer adjacent to the first electrode.

이하, 전술한 실시 예들과는 달리 기판 상에 박막 트랜지스터를 포함하는 액티브 매트릭스형 유기전계발광소자에 관해 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, unlike the above-described embodiments, an active matrix organic light emitting diode including a thin film transistor on a substrate will be described.

도 5는 본 발명의 제 3 실시 예에 따른 유기전계발광소자의 단면도이다.5 is a cross-sectional view of an organic light emitting display device according to a third embodiment of the present invention.

도 5를 참조하면, 기판(200) 상에 버퍼층(205)이 위치한다. 버퍼층(205)은 기판(200)에서 유출되는 알칼리 이온 등과 같은 불순물로부터 후속 공정에서 형성되는 박막 트랜지스터를 보호하기 위해 형성하는 것으로, 실리콘 산화물(SiO2), 실리콘 질화물(SiNx) 등을 사용하여 선택적으로 형성할 수 있으나 이에 한정되지 않는다. Referring to FIG. 5, a buffer layer 205 is positioned on a substrate 200. The buffer layer 205 is formed to protect the thin film transistor formed in a subsequent process from impurities such as alkali ions flowing out of the substrate 200, and is selectively selected using silicon oxide (SiO 2 ), silicon nitride (SiNx), or the like. It may be formed as, but is not limited thereto.

버퍼층(205) 상에 반도체층(210)이 위치한다. 반도체층(210)은 비정질 실리콘 또는 이를 결정화한 다결정 실리콘을 포함할 수 있다. 여기서 도시하지는 않았지만, 반도체층(210)은 채널 영역, 소오스 영역 및 드레인 영역을 포함할 수 있으며, 소오스 영역 및 드레인 영역에는 P형 또는 N형 불순물이 도핑될 수 있다.The semiconductor layer 210 is positioned on the buffer layer 205. The semiconductor layer 210 may include amorphous silicon or polycrystalline silicon obtained by crystallizing the same. Although not illustrated, the semiconductor layer 210 may include a channel region, a source region, and a drain region, and the source region and the drain region may be doped with P-type or N-type impurities.

반도체층(210)을 포함하는 기판(200) 상에 게이트 절연막(215)이 위치한다. 게이트 절연막(215)은 실리콘 산화물(SiO2) 또는 실리콘 질화물(SiNx) 등을 사용하여 선택적으로 형성할 수 있다.The gate insulating layer 215 is positioned on the substrate 200 including the semiconductor layer 210. The gate insulating layer 215 may be selectively formed using silicon oxide (SiO 2 ), silicon nitride (SiNx), or the like.

반도체층(210)의 일정 영역, 즉 채널 영역에 대응되는 게이트 절연막(215) 상에 게이트 전극(220)이 위치한다. 게이트 전극(220)은 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(Al alloy), 티타늄(Ti), 은(Ag), 몰리브덴(Mo), 몰리브덴 합금(Mo alloy), 텅스텐(W), 텅스텐 실리사이드(WSi2) 중 어느 하나 이상을 포함할 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The gate electrode 220 is positioned on a gate insulating layer 215 corresponding to a predetermined region of the semiconductor layer 210, that is, a channel region. The gate electrode 220 includes aluminum (Al), aluminum alloy (Al alloy), titanium (Ti), silver (Ag), molybdenum (Mo), molybdenum alloy (Mo alloy), tungsten (W), tungsten silicide (WSi 2). ) May include any one or more of the above.

게이트 전극(220)을 포함한 기판(200) 상에 층간 절연막(225)이 위치한다. 층간 절연막(225)은 유기막 또는 무기막일 수 있으며, 이들의 복합막일 수도 있다. 있다. 층간 절연막(225)이 무기막인 경우 실리콘 산화물(SiO2), 실리콘 질화물(SiNx) 또는 SOG(silicate on glass)를 포함할 수 있으며, 유기막인 경우 아크릴계 수지, 폴리이미드계 수지 또는 벤조사이클로부텐(benzocyclobutene,BCB)계 수지를 포함할 수 있으나 이에 한정되지 않는다.An interlayer insulating layer 225 is disposed on the substrate 200 including the gate electrode 220. The interlayer insulating film 225 may be an organic film or an inorganic film, or may be a composite film thereof. have. When the interlayer insulating layer 225 is an inorganic layer, the interlayer insulating layer 225 may include silicon oxide (SiO 2 ), silicon nitride (SiNx), or SOG (silicate on glass). It may include (benzocyclobutene, BCB) resin, but is not limited thereto.

층간 절연막(225) 및 게이트 절연막(215)을 관통하여 반도체층(210)의 일부를 노출시키는 콘택홀들(230a, 230b)이 위치한다. Contact holes 230a and 230b may be disposed to penetrate the interlayer insulating layer 225 and the gate insulating layer 215 to expose a portion of the semiconductor layer 210.

콘택홀들(230a, 230b)을 포함하는 기판(200) 상에 콘택홀들(230a, 230b)을 통하여 반도체층(210)과 전기적으로 연결되는 소오스 전극(235a) 및 드레인 전극(235b)이 위치한다. 소오스 전극 및 드레인 전극(235a, 235b)은 배선 저항을 낮추기 위해 저저항 물질을 포함할 수 있으며, 몰리 텅스텐(MoW), 티타늄(Ti), 알루미늄(Al) 또는 알루미늄 합금(Al alloy)으로 이루어진 다층막일 수 있다. 이때, 다층막으로는 티타늄/알루미늄/티타늄(Ti/Al/Ti), 몰리브덴/알루미늄/몰리브덴(Mo/Al/Mo) 또는 몰리 텅스텐/알루미늄/몰리 텅스텐(MoW/Al/MoW)의 적층구조가 사용될 수 있다.The source electrode 235a and the drain electrode 235b electrically connected to the semiconductor layer 210 through the contact holes 230a and 230b are positioned on the substrate 200 including the contact holes 230a and 230b. do. The source and drain electrodes 235a and 235b may include a low resistance material to reduce wiring resistance, and may include a multilayer film made of molybdenum tungsten (MoW), titanium (Ti), aluminum (Al), or an aluminum alloy (Al alloy). Can be. In this case, a multilayer structure of titanium / aluminum / titanium (Ti / Al / Ti), molybdenum / aluminum / molybdenum (Mo / Al / Mo) or molybdenum tungsten / aluminum / molly tungsten (MoW / Al / MoW) may be used. Can be.

소오스 전극(235a) 및 드레인 전극(235b) 상에 평탄화막(240)이 위치한다. 상기 평탄화막(240)은 벤조사이클로부텐(benzocyclobutene, BCB)계 수지, 아크릴계 수지 또는 폴리이미드 수지 등의 유기물을 포함할 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The planarization layer 240 is positioned on the source electrode 235a and the drain electrode 235b. The planarization layer 240 may include organic materials such as benzocyclobutene (BCB) -based resin, acrylic resin, or polyimide resin, but is not limited thereto.

평탄화막(240)에 형성된 비어홀(245)을 통해 드레인 전극(235b)과 전기적으로 연결된 제 1 전극(250)이 위치한다. 제 1 전극(250)은 애노드일 수 있으며 ITO(Indium Tin Oxide) 또는 IZO(Indium Zinc Oxide)와 같은 투명도전층을 포함할 수 있다. 또는, 제 1 전극(250)은 ITO/Ag/ITO 또는 ITO/Ag와 같이 투명도전층 하부에 반사막을 더 포함하는 적층구조를 가질 수도 있다. The first electrode 250 is electrically connected to the drain electrode 235b through the via hole 245 formed in the planarization layer 240. The first electrode 250 may be an anode and may include a transparent conductive layer such as indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO). Alternatively, the first electrode 250 may have a stacked structure further including a reflective film under the transparent conductive layer, such as ITO / Ag / ITO or ITO / Ag.

제 1 전극(250)이 형성된 기판(200) 상에 제 1 전극(250)의 일부 영역을 노출시키는 뱅크층(255)이 위치한다. 뱅크층(250)은 벤조사이클로부텐(benzocyclobutene, BCB)계 수지, 아크릴계 수지 또는 폴리이미드 수지 등의 유기물을 포함할 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The bank layer 255 exposing a portion of the first electrode 250 is disposed on the substrate 200 on which the first electrode 250 is formed. The bank layer 250 may include an organic material such as benzocyclobutene (BCB) -based resin, acrylic resin, or polyimide resin, but is not limited thereto.

뱅크층(255)에 의해 노출된 제 1 전극(250) 상에 유기기능층(260)이 위치한다. 유기기능층(260)은 유기물로 이루어질 수 있으며, 유기기능층(260)은 적어도 발광층을 포함하며, 발광층의 상부 또는 하부에 전자주입층, 전자수송층, 정공수송층 또는 정공주입층을 더 포함할 수 있다.The organic functional layer 260 is positioned on the first electrode 250 exposed by the bank layer 255. The organic functional layer 260 may be formed of an organic material, and the organic functional layer 260 may include at least a light emitting layer, and may further include an electron injection layer, an electron transport layer, a hole transport layer, or a hole injection layer on or below the light emitting layer. have.

상기 유기기능층(260)의 구성은 전술한 제 1 실시 예와 같이, 전자주입층에 무기물을 포함할 수 있고, 이와는 달리, 제 2 실시 예와 같이, 정공주입층에 무기물을 포함할 수 있다. The organic functional layer 260 may include an inorganic material in the electron injection layer as in the first embodiment described above. Alternatively, the organic functional layer 260 may include an inorganic material in the hole injection layer as in the second embodiment. .

상기 유기기능층(260)에 대한 설명은 전술한 실시 예들과 설명하였기 때문에 여기서는 자세한 설명을 생략한다.Since the description of the organic functional layer 260 has been described with the above-described embodiments, a detailed description thereof will be omitted.

상기 유기기능층(260)을 포함하는 기판(200) 상에 제 2 전극(270)이 위치한다. 제 2 전극(270)은 유기기능층(260)에 전자를 공급하는 캐소드일 수 있으며, 마스네슘(Mg), 은(Ag), 칼슘(Ca), 알루미늄(Al) 또는 이들의 합금을 포함할 수 있다.The second electrode 270 is positioned on the substrate 200 including the organic functional layer 260. The second electrode 270 may be a cathode for supplying electrons to the organic functional layer 260, and may include magnesium (Mg), silver (Ag), calcium (Ca), aluminum (Al), or an alloy thereof. Can be.

이하, 본 발명의 일 실시 예에 따른 유기전계발광소자에 따른 실험예를 개시한다. 다만, 하기의 실험예는 본 발명의 바람직한 일 실험 예일 뿐, 본 발명이 하기의 실험예에 의해 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, an experimental example according to an organic light emitting display device according to an embodiment of the present invention. However, the following experimental examples are only preferable experimental examples of the present invention, and the present invention is not limited by the following experimental examples.

<실험예 1>Experimental Example 1

기판 상에 제 1 전극으로 ITO(Indium tin oxide)를 130nm의 두께로 형성하였고 상기 제 1 전극 상에 정공주입층으로 NPD(4,4'-bis[N-(1-naphthyl)-N-phenyl-amino]biphenyl)을 40nm의 두께로 형성하고, 정공수송층으로는 NPD(4,4'-bis[N-(1-naphthyl)-N-phenyl-amino]biphenyl)를 30nm의 두께로 형성하였다. 상기 정공수송층 상에 호스트로 DPVBi(4,4'-bis(2,2'-diphenyl vinyl) -1,1'-biphenyl)에 도펀트로 페릴렌(Perylene)을 2wt%의 농도를 혼합하여 청색 발광층을 25nm의 두께로 형성하고, 전자수송층으로 Alq3(8-hydroxyquinoline aluminum)을 20nm의 두께로 형성하였다. 다음, Alq3(8-hydroxyquinoline aluminum)과 LiF를 4:1의 비율로 공증착하여 10nm의 두께의 전자주입층을 형성하였다. 이어, 제 2 전극으로 Al막을 두께 150nm로 형성하고, 상기 MgAg 막 상에 Al막을 1000Å의 두께로 형성하였다.Indium tin oxide (ITO) was formed as a first electrode on a substrate to a thickness of 130 nm, and NPD (4,4'-bis [N- (1-naphthyl) -N-phenyl was formed as a hole injection layer on the first electrode. -amino] biphenyl) was formed to a thickness of 40 nm, and NPD (4,4'-bis [N- (1-naphthyl) -N-phenyl-amino] biphenyl) was formed to a thickness of 30 nm as the hole transport layer. Blue light emitting layer by mixing a concentration of 2 wt% perylene (Perylene) with a dopant in DPVBi (4,4'-bis (2,2'-diphenyl vinyl) -1,1'-biphenyl) as a host on the hole transport layer Was formed to a thickness of 25nm, Alq 3 (8-hydroxyquinoline aluminum) was formed to a thickness of 20nm as the electron transport layer. Next, Alq 3 (8-hydroxyquinoline aluminum) and LiF were co-deposited at a ratio of 4: 1 to form an electron injection layer having a thickness of 10 nm. Subsequently, an Al film was formed to a thickness of 150 nm with a second electrode, and an Al film was formed to a thickness of 1000 kPa on the MgAg film.

<비교예 1>Comparative Example 1

전자주입층을 Alq3(8-hydroxyquinoline aluminum)로 형성한 것을 제외하고, 상기 실험예 1의 공정 조건과 동일하게 형성하였다. Except that the electron injection layer was formed of Alq 3 (8-hydroxyquinoline aluminum) was formed in the same manner as the process conditions of Experimental Example 1.

<실험예 2>Experimental Example 2

호스트인 CBP(carbazole biphenyl)에 도펀트인 PIQIr(acac)(bis(1-phenylisoquinoline)acetylacetonate iridium)을 2wt%의 농도를 혼합하여 적색 발광층을 25nm의 두께로 형성한 것을 제외하고, 상기 실험예 1의 공정 조건과 동일하게 형성하였다.Experimental Example 1 except that the red light emitting layer was formed to a thickness of 25 nm by mixing a concentration of 2 wt% of the host CBP (carbazole biphenyl) dopant PIQIr (acac) (bis (1-phenylisoquinoline) acetylacetonate iridium) It was formed in the same manner as the process conditions.

<비교예 2>Comparative Example 2

전자주입층을 Alq3(8-hydroxyquinoline aluminum)로 형성한 것을 제외하고, 상기 실험예 2의 공정 조건과 동일하게 형성하였다. Except that the electron injection layer was formed of Alq 3 (8-hydroxyquinoline aluminum) was formed under the same process conditions as in Experimental Example 2.

<실험예 3>Experimental Example 3

호스트인 CBP(carbazole biphenyl)에 도펀트인 Ir(ppy)3(fac tris(2- phenylpyridine)iridium)을 2wt%의 농도를 혼합하여 녹색 발광층을 25nm의 두께로 형성한 것을 제외하고, 상기 실험예 1의 공정 조건과 동일하게 형성하였다.Experimental Example 1 except that a green light emitting layer was formed to a thickness of 25 nm by mixing a concentration of 2 wt% of a dopant Ir (ppy) 3 (fac tris (2-phenylpyridine) iridium) with a host CBP (carbazole biphenyl). It formed similarly to process conditions of.

<비교예 3>Comparative Example 3

전자주입층을 Alq3(8-hydroxyquinoline aluminum)로 형성한 것을 제외하고, 상기 실험예 3의 공정 조건과 동일하게 형성하였다. Except that the electron injection layer was formed of Alq 3 (8-hydroxyquinoline aluminum) was formed under the same process conditions as in Experimental Example 3.

상기 실험예 1,2,3 및 비교예 1,2,3에 따라 제조된 유기전계발광소자의 구동 전압, 발광 효율 및 휘도를 측정하였고 그 결과는 표 1에 나타내었다.The driving voltage, luminous efficiency and luminance of the organic light emitting diodes manufactured according to Experimental Examples 1,2 and 3 and Comparative Examples 1,2 and 3 were measured, and the results are shown in Table 1.

실험예1Experimental Example 1 비교예1Comparative Example 1 실험예2Experimental Example 2 비교예2Comparative Example 2 실험예3Experimental Example 3 비교예3Comparative Example 3 구동전압(V)Driving voltage (V) 5.55.5 6.96.9 5.45.4 7.77.7 5.45.4 7.07.0 발광효율(cd/A)Luminous Efficiency (cd / A) 5.25.2 2.02.0 17.817.8 16.316.3 33.333.3 24.224.2 휘도(lm/w)Luminance (lm / w) 3.03.0 1.31.3 9.49.4 6.76.7 19.419.4 10.810.8

상기 표 1에서 나타난 바와 같이, 본 발명의 일 실시 예에 따른 유기전계발광소자는 전자주입층에 분산된 LiF, 즉 무기물(128)을 포함함으로써, 종래 유기물(128)로 이루어진 전자주입층을 구비한 유기전계발광소자에 비해, 구동전압, 발광효율 및 휘도가 더 향상됨을 알 수 있다.As shown in Table 1, the organic light emitting display device according to an embodiment of the present invention includes LiF, that is, inorganic material 128 dispersed in the electron injection layer, and includes an electron injection layer made of a conventional organic material 128. Compared to one organic light emitting device, it can be seen that the driving voltage, luminous efficiency and luminance are further improved.

즉, 전자주입층에 분산된 무기물을 포함함으로써, 전자의 운동성을 향상시켜줌으로써 정공과 전자의 전하 밸런스를 유지시켜 유기전계발광소자의 효율을 높일 수 있게 된다.That is, by including the inorganic material dispersed in the electron injection layer, it is possible to improve the efficiency of the organic electroluminescent device by maintaining the charge balance between the hole and the electron by improving the mobility of the electron.

이하, 전술한 실험예 1,2,3과는 달리, 하기에서는 제 1 전극과 발광층 사이에 개재된 유기기능층들 중 제 1 전극과 인접한 유기기능층인 정공주입층에 무기물을 포함하는 유기전계발광소자의 실험예들을 설명한다.Hereinafter, unlike Experimental Examples 1, 2 and 3 described above, an organic electric field including an inorganic material in a hole injection layer, which is an organic functional layer adjacent to the first electrode, among the organic functional layers interposed between the first electrode and the light emitting layer. Experimental examples of the light emitting device will be described.

<실험예 4>Experimental Example 4

기판 상에 제 1 전극으로 ITO(Indium tin oxide)를 130nm의 두께로 형성하였고 상기 제 1 전극 상에 정공주입층으로 NPD(4,4'-bis[N-(1-naphthyl)-N-phenyl-amino]biphenyl)와 LiF를 4:1의 비율로 공증착하여 40nm의 두께로 형성하고, 정공수송층으로는 NPD(4,4'-bis[N-(1-naphthyl)-N-phenyl-amino]biphenyl)를 30nm의 두께로 형성하였다. 상기 정공수송층 상에 호스트로 DPVBi(4,4'-bis(2,2'-diphenyl vinyl) -1,1'-biphenyl)에 도펀트로 페릴렌(Perylene)을 2wt%의 농도를 혼합하여 청색 발광층을 25nm의 두께로 형성하고, 전자수송층으로 Alq3(8-hydroxyquinoline aluminum)을 20nm의 두께로 형성하였다. 다음, Alq3(8-hydroxyquinoline aluminum)를 증착하여 10nm의 두께의 전자주입층을 형성하였다. 이어, 제 2 전극으로 Al막을 두께 150nm로 형성하고, 상기 MgAg 막 상에 Al막을 1000Å의 두께로 형성하였다.Indium tin oxide (ITO) was formed as a first electrode on a substrate to a thickness of 130 nm, and NPD (4,4'-bis [N- (1-naphthyl) -N-phenyl was formed as a hole injection layer on the first electrode. -amino] biphenyl) and LiF were co-deposited at a ratio of 4: 1 to form a thickness of 40 nm, and as the hole transport layer, NPD (4,4'-bis [N- (1-naphthyl) -N-phenyl-amino ] biphenyl) was formed to a thickness of 30 nm. Blue light emitting layer by mixing a concentration of 2 wt% perylene (Perylene) with a dopant in DPVBi (4,4'-bis (2,2'-diphenyl vinyl) -1,1'-biphenyl) as a host on the hole transport layer Was formed to a thickness of 25nm, Alq 3 (8-hydroxyquinoline aluminum) was formed to a thickness of 20nm as the electron transport layer. Next, Alq 3 (8-hydroxyquinoline aluminum) was deposited to form an electron injection layer having a thickness of 10 nm. Subsequently, an Al film was formed to a thickness of 150 nm with a second electrode, and an Al film was formed to a thickness of 1000 kPa on the MgAg film.

<비교예 4><Comparative Example 4>

정공주입층을 NPD(4,4'-bis[N-(1-naphthyl)-N-phenyl-amino]biphenyl)로 형성한 것을 제외하고, 상기 실험예 4의 공정 조건과 동일하게 형성하였다. The hole injection layer was formed in the same manner as in Experimental Example 4, except that the hole injection layer was formed of NPD (4,4'-bis [N- (1-naphthyl) -N-phenyl-amino] biphenyl).

<실험예 5>Experimental Example 5

호스트인 CBP(carbazole biphenyl)에 도펀트인 PIQIr(acac)(bis(1-phenylisoquinoline)acetylacetonate iridium)을 2wt%의 농도를 혼합하여 적색 발광층을 25nm의 두께로 형성한 것을 제외하고, 상기 실험예 4의 공정 조건과 동일하게 형성하였다.Experimental Example 4 except that a red light emitting layer was formed to a thickness of 25 nm by mixing a concentration of 2 wt% of the host CBP (carbazole biphenyl) dopant PIQIr (acac) (bis (1-phenylisoquinoline) acetylacetonate iridium) It was formed in the same manner as the process conditions.

<비교예 5>Comparative Example 5

정공주입층을 NPD(4,4'-bis[N-(1-naphthyl)-N-phenyl-amino]biphenyl)로 형성한 것을 제외하고, 상기 실험예 5의 공정 조건과 동일하게 형성하였다. The hole injection layer was formed in the same manner as in Experimental Example 5, except that the hole injection layer was formed of NPD (4,4'-bis [N- (1-naphthyl) -N-phenyl-amino] biphenyl).

<실험예 6>Experimental Example 6

호스트인 CBP(carbazole biphenyl)에 도펀트인 Ir(ppy)3(fac tris(2-phenylpyridine)iridium)을 2wt%의 농도를 혼합하여 녹색 발광층을 25nm의 두께로 형성한 것을 제외하고, 상기 실험예 5의 공정 조건과 동일하게 형성하였다.Experimental Example 5 except that the green light emitting layer was formed to a thickness of 25 nm by mixing a concentration of 2 wt% of the dopant Ir (ppy) 3 (fac tris (2-phenylpyridine) iridium) with the host CBP (carbazole biphenyl). It formed similarly to process conditions of.

<비교예 6>Comparative Example 6

정공주입층을 NPD(4,4'-bis[N-(1-naphthyl)-N-phenyl-amino]biphenyl)로 형성한 것을 제외하고, 상기 실험예 6의 공정 조건과 동일하게 형성하였다. The hole injection layer was formed under the same process conditions as in Experiment 6, except that the hole injection layer was formed of NPD (4,4'-bis [N- (1-naphthyl) -N-phenyl-amino] biphenyl).

상기 실험예 4,5,6 및 비교예 4,5,6에 따라 제조된 유기전계발광소자의 구동 전압, 발광 효율 및 휘도를 측정하였고 그 결과는 표 2에 나타내었다.The driving voltage, luminous efficiency and luminance of the organic light emitting diodes manufactured according to Experimental Examples 4,5,6 and Comparative Examples 4,5,6 were measured, and the results are shown in Table 2.

실험예4Experimental Example 4 비교예4Comparative Example 4 실험예5Experimental Example 5 비교예5Comparative Example 5 실험예6Experimental Example 6 비교예6Comparative Example 6 구동전압(V)Driving voltage (V) 5.45.4 7.17.1 5.55.5 7.87.8 5.55.5 7.27.2 발광효율(cd/A)Luminous Efficiency (cd / A) 5.05.0 2.12.1 16.516.5 15.815.8 31.031.0 22.122.1 휘도(lm/w)Luminance (lm / w) 2.92.9 1.41.4 8.98.9 6.16.1 20.420.4 12.812.8

상기 표 2에서 나타난 바와 같이, 본 발명의 일 실시 예에 따른 유기전계발광소자는 정공주입층에 분산된 LiF, 즉 무기물을 포함함으로써, 종래 유기물로 이루어진 정공주입층을 구비한 유기전계발광소자에 비해, 구동전압, 발광효율 및 휘도가 더 향상됨을 알 수 있다.As shown in Table 2, the organic light emitting display device according to an embodiment of the present invention includes LiF dispersed in the hole injection layer, that is, an inorganic material, to the organic light emitting device having a hole injection layer made of a conventional organic material In comparison, it can be seen that the driving voltage, luminous efficiency and luminance are further improved.

즉, 정공주입층에 분산된 무기물을 포함함으로써, 정공의 운동성을 줄여줌으로써 정공과 전자의 전하 밸런스를 유지시켜 유기전계발광소자의 발광효율을 높일 수 있게 된다.That is, by including the inorganic material dispersed in the hole injection layer, by reducing the mobility of the hole it is possible to maintain the charge balance between the hole and the electron to increase the luminous efficiency of the organic light emitting device.

상기와 같이, 본 발명의 일 실시 예에 따른 유기전계발광소자는 제 1 전극 및 제 2 전극 사이에 개재된 유기기능층들 중, 제 1 전극 또는 제 2 전극에 인접한 정공주입층 또는 전자주입층에 분산된 무기물을 포함함으로써, 유기전계발광소자의 구동전압, 발광효율 및 휘도를 향상시킬 수 있는 이점이 있다.As described above, the organic light emitting display device according to an embodiment of the present invention, a hole injection layer or an electron injection layer adjacent to the first electrode or the second electrode of the organic functional layer interposed between the first electrode and the second electrode By including the inorganic material dispersed in, there is an advantage that can improve the driving voltage, luminous efficiency and brightness of the organic light emitting device.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예를 설명하였지만, 상술한 본 발명의 기술적 구성은 본 발명이 속하는 기술 분야의 당업자가 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 한다. 아울러, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어진다. 또한, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.Although the embodiments of the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, the above-described technical configuration of the present invention may be embodied in other specific forms by those skilled in the art to which the present invention pertains without changing its technical spirit or essential features. It will be appreciated that it may be practiced. Therefore, the embodiments described above are to be understood as illustrative and not restrictive in all aspects. In addition, the scope of the present invention is shown by the claims below, rather than the above detailed description. Also, it is to be construed that all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalent concepts are included in the scope of the present invention.

도 1은 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 유기전계발광소자의 단면도.1 is a cross-sectional view of an organic light emitting display device according to a first embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 유기전계발광소자의 작용을 나타낸 개념도.2 is a conceptual view showing the operation of the organic light emitting display device according to the first embodiment of the present invention.

도 3은 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 유기전계발광소자의 단면도.3 is a cross-sectional view of an organic light emitting display device according to a second exemplary embodiment of the present invention.

도 4는 본 발명의 제 2 실시 예에 따른 유기전계발광소자의 작용을 나타낸 개념도.4 is a conceptual diagram showing the operation of the organic light emitting display device according to the second embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 제 3 실시 예에 따른 유기전계발광소자의 단면도.5 is a cross-sectional view of an organic light emitting display device according to a third exemplary embodiment of the present invention.

Claims (24)

기판;Board; 상기 기판 상에 위치하는 제 1 전극;A first electrode on the substrate; 상기 제 1 전극 상에 위치하며, 적어도 발광층을 포함하는 유기기능층들; Organic functional layers on the first electrode and including at least a light emitting layer; 상기 유기기능층들 상에 위치하는 제 2 전극; 및A second electrode on the organic functional layers; And 상기 유기기능층들 중 제 2 전극에 인접한 유기기능층은 무기물을 포함하며,Among the organic functional layers, the organic functional layer adjacent to the second electrode includes an inorganic material, 상기 무기물은 상기 유기기능층에 분산된 유기전계발광소자.The inorganic material is an organic light emitting device dispersed in the organic functional layer. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 무기물은 금속화합물을 포함하는 유기전계발광소자.The inorganic material is an organic electroluminescent device comprising a metal compound. 제 2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 금속화합물은 알칼리 금속 또는 알칼리 토금속을 포함하는 유기전계발광소자.The metal compound is an organic electroluminescent device comprising an alkali metal or alkaline earth metal. 제 3항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 알칼리 금속 또는 알칼리 토금속을 포함하는 금속화합물은 LiQ, LiF, NaF, KF, RbF, CsF, FrF, BeF2, MgF2, CaF2, SrF2, BaF2 및 RaF2로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 이상인 유기전계발광소자.The metal compound containing the alkali metal or alkaline earth metal is LiQ, LiF, NaF, KF, RbF, CsF, FrF, BeF 2 , MgF 2 , CaF 2 , SrF 2 , BaF 2 And RaF 2 The organic electroluminescent device which is at least one selected from the group consisting of. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 2 전극에 인접한 유기기능층은 전자주입층 또는 전자수송층인 유기전계발광소자.And an organic functional layer adjacent to the second electrode is an electron injection layer or an electron transport layer. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 1 전극과 상기 발광층 사이에 정공수송층 또는 정공주입층을 더 포함하는 유기전계발광소자.The organic light emitting device further comprises a hole transport layer or a hole injection layer between the first electrode and the light emitting layer. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 무기물을 포함하는 유기기능층의 두께는 상기 유기기능층들 중 상기 무기물을 포함하는 유기기능층을 제외한 나머지 유기기능층들 중 어느 하나보다 얇은 유기전계발광소자.The organic functional layer of the organic functional layer including the inorganic material is thinner than any one of the organic functional layers except for the organic functional layer containing the inorganic of the organic functional layers. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 무기물의 가전자대 최고 레벨은 상기 무기물을 포함하는 유기기능층의 가전자대 최고 레벨보다 높은 유기전계발광소자.The valence band highest level of the inorganic material is higher than the valence band maximum level of the organic functional layer including the inorganic material. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 무기물의 가전자대 최고 레벨은 상기 유기기능층들 중 상기 무기물을 포함하는 유기기능층을 제외한 나머지 유기기능층들의 가전자대 최고 레벨보다 높은 유기전계발광소자.The valence band highest level of the inorganic material is higher than the valence band highest level of the remaining organic functional layers except for the organic functional layer including the inorganic material among the organic functional layers. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 무기물의 가전자대 최고 레벨은 상기 발광층의 가전자대 최고 레벨보다 높고 상기 발광층의 전도대 최저 레벨보다 낮은 유기전계발광소자.The highest valence band level of the inorganic material is higher than the highest valence band level of the light emitting layer and lower than the lowest level of conduction band of the light emitting layer. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 기판 상에 반도체층, 게이트 전극, 소오스 전극 및 드레인 전극을 포함하는 박막 트랜지스터를 더 포함하는 유기전계발광소자.And a thin film transistor including a semiconductor layer, a gate electrode, a source electrode, and a drain electrode on the substrate. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 무기물의 입자 사이의 간격은 5 내지 45Å인 유기전계발광소자.An organic light emitting display device having an interval of 5 to 45 microns between the inorganic particles. 기판;Board; 상기 기판 상에 위치하는 제 1 전극;A first electrode on the substrate; 상기 제 1 전극 상에 위치하며, 적어도 발광층을 포함하는 유기기능층들; Organic functional layers on the first electrode and including at least a light emitting layer; 상기 유기기능층들 상에 위치하는 제 2 전극; 및 A second electrode on the organic functional layers; And 상기 유기기능층들 중 제 1 전극에 인접한 유기기능층은 무기물을 포함하며,The organic functional layer adjacent to the first electrode of the organic functional layers includes an inorganic material, 상기 무기물은 상기 유기기능층에 분산된 유기전계발광소자.The inorganic material is an organic light emitting device dispersed in the organic functional layer. 제 13항에 있어서,The method of claim 13, 상기 무기물은 금속화합물을 포함하는 유기전계발광소자.The inorganic material is an organic electroluminescent device comprising a metal compound. 제 14항에 있어서,The method of claim 14, 상기 금속화합물은 알칼리 금속 또는 알칼리 토금속을 포함하는 유기전계발광소자. The metal compound is an organic electroluminescent device comprising an alkali metal or alkaline earth metal. 제 15항에 있어서,The method of claim 15, 상기 알칼리 금속 또는 알칼리 토금속을 포함하는 금속화합물은 LiQ, LiF, NaF, KF, RbF, CsF, FrF, BeF2, MgF2, CaF2, SrF2, BaF2 및 RaF2로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 이상인 유기전계발광소자.The metal compound containing the alkali metal or alkaline earth metal is LiQ, LiF, NaF, KF, RbF, CsF, FrF, BeF 2 , MgF 2 , CaF 2 , SrF 2 , BaF 2 And RaF 2 The organic electroluminescent device which is at least one selected from the group consisting of. 제 13항에 있어서,The method of claim 13, 상기 제 1 전극에 인접한 유기기능층은 정공주입층 또는 정공수송층인 유기전계발광소자.And an organic functional layer adjacent to the first electrode is a hole injection layer or a hole transport layer. 제 13항에 있어서,The method of claim 13, 상기 제 2 전극과 상기 발광층 사이에 전자수송층 또는 전자주입층을 더 포함하는 유기전계발광소자.The organic light emitting device further comprises an electron transport layer or an electron injection layer between the second electrode and the light emitting layer. 제 13항에 있어서,The method of claim 13, 상기 무기물을 포함하는 유기기능층의 두께는 상기 유기기능층들 중 상기 무 기물을 포함하는 유기기능층을 제외한 나머지 유기기능층들 중 어느 하나보다 두꺼운 유기전계발광소자.The thickness of the organic functional layer containing the inorganic material is thicker than any one of the organic functional layers except for the organic functional layer containing the inorganic of the organic functional layer. 제 13항에 있어서,The method of claim 13, 상기 무기물의 가전자대 최고 레벨은 상기 무기물을 포함하는 유기기능층의 가전자대 최고 레벨보다 높은 유기전계발광소자.The valence band highest level of the inorganic material is higher than the valence band maximum level of the organic functional layer including the inorganic material. 제 13항에 있어서,The method of claim 13, 상기 무기물의 가전자대 최고 레벨은 상기 유기기능층들 중 상기 무기물을 제외한 나머지 유기기능층들의 가전자대 최고 레벨보다 높은 유기전계발광소자.The valence band highest level of the inorganic material is higher than the valence band maximum level of the remaining organic functional layers except for the inorganic material among the organic functional layers. 제 13항에 있어서,The method of claim 13, 상기 무기물의 가전자대 최고 레벨은 상기 발광층의 가전자대 최고 레벨보다 높고 상기 발광층의 전도대 최저 레벨보다 낮은 유기전계발광소자.The highest valence band level of the inorganic material is higher than the highest valence band level of the light emitting layer and lower than the lowest level of conduction band of the light emitting layer. 제 13항에 있어서,The method of claim 13, 상기 기판 상에 반도체층, 게이트 전극, 소오스 전극 및 드레인 전극을 포함하는 박막 트랜지스터를 더 포함하는 유기전계발광소자.And a thin film transistor including a semiconductor layer, a gate electrode, a source electrode, and a drain electrode on the substrate. 제 13항에 있어서,The method of claim 13, 상기 무기물의 입자 사이의 간격은 5 내지 45Å인 유기전계발광소자.An organic light emitting display device having an interval of 5 to 45 microns between the inorganic particles.
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