KR20090003137A - Input device comprising resistive touch panel and calculating method of touch position thereof - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치에 관한 것으로, 특히 터치 패널로 인가되는 측정 신호의 지연 시간 차이를 이용하여 접촉 위치를 판단할 수 있는 입력 장치 및 이 장치의 접촉 위치 계산 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an input device having a resistive touch panel, and more particularly, to an input device capable of determining a contact position using a delay time difference of a measurement signal applied to a touch panel, and a method of calculating a contact position of the device. It is about.
개인용 컴퓨터, 휴대용 전송 장치, 그 밖의 정보 처리 장치 등은 다양한 입력 장치를 이용하여 기능을 수행한다. 최근, 이러한 입력장치로서 터치 패널을 구비하는 입력 장치가 많이 사용되고 있다.Personal computers, portable transmission devices, other information processing devices, and the like use various input devices to perform functions. Recently, many input devices including a touch panel have been used as such input devices.
일반적으로 터치 패널은 CRT, LCD, PDP, EL(electroluminescence) 등과 같은 디스플레이 장치의 표면에 설치되어 접촉에 의해 그 위치를 검출할 수 있는 장치로서, 컴퓨터나 휴대용 정보 단말기와 같은 영상표시장치의 화면에 설치되어 키보드나 마우스 없이도 손이나 펜으로 화면위에 정보를 입력할 수 있으며, ITO(인듐-주석의 복합 산화물) 필름을 이용하여 만들어질 수 있다.In general, the touch panel is installed on the surface of a display device such as a CRT, LCD, PDP, EL (electroluminescence) and the like to detect its position by contact. It can be installed on the screen using a hand or pen without a keyboard or mouse, and can be made using ITO (Indium-Tin Composite Oxide) film.
상기 터치 패널은 스페이서에 의해 격리되고 눌림에 의해 서로 접촉될 수 있 도록 배치된 두 개의 저항 성분의 시트 패드를 합쳐놓아 구성되는 저항막 방식(Resistive) 터치 패널 외에, 정전용량 방식(Capacitive), 초음파 방식, 광(적외선)센서 방식, 전자유도 방식 등이 있다.The touch panel is capacitive, ultrasonic, in addition to a resistive touch panel configured by combining two pads of resistive components arranged to be insulated by spacers and contacted with each other by pressing. Methods, light (infrared) sensor methods, and electromagnetic induction methods.
도 1은 종래에 많이 쓰이는 4-wire 방식의 저항막 방식 터치 패널을 구비하는 입력 장치의 구성을 나타내는 것으로서, 터치 패널(10), 제1 스위치(22), 제2 스위치(24), 제3 스위치(26), 전원(30) 및 전압 측정기(40)로 구성되어 있으며, 터치 패널(10)은 상부 시트 패드(11) 및 하부 시트 패드(12)로 구성되어 있다. 또한, 상부 시트 패드(11)는 제1 방향(예를 들면, x축 방향)으로 상기 상부 시트 패드(11)의 양단에 제1 및 제2 전극(111, 112)을 구비하고, 하부 시트 패드(12)는 제2 방향(예를 들면, y축 방향)으로 상기 하부 시트 패드(12)의 양단에 제3 및 제4 전극(121, 122)을 구비한다.1 illustrates a configuration of an input device including a conventional 4-wire resistive touch panel, and includes a
도 1에 나타낸 블록들 각각의 기능을 설명하면 다음과 같다.The function of each of the blocks shown in FIG. 1 is as follows.
터치 패널(10)은 접촉 위치에 따라 접촉 위치와 전극들(111, 112, 121, 122) 각각의 사이의 저항의 크기가 가변된다. 즉, 상부 시트 패드(11)의 임의의 접촉 위치에 접촉 물체(예를 들면, 손 또는 펜)가 접촉되면 상기 접촉 위치에서 상부 시트 패드(11)와 하부 시트 패드(12)가 통전되고, 따라서, 상부 시트 패드(11) 및 하부 시트 패드(12) 각각에서 상기 접촉 위치와 전압이 가해지는 전극들(111, 112, 121, 122) 각각의 사이의 저항의 크기는 상기 접촉 위치에 따라 결정된다.The
제1 및 제2 스위치들(21, 22)은 전원(30)과 상부 시트 패드(11) 및 하부 시트 패드(12)를 순차적으로 연결하고, 제3 스위치(23)는 전압 측정기(40)와 하부 시 트 패드(12) 및 상부 시트 패드(11)를 순차적으로 연결한다. 도시하지는 않았지만, 제1, 제2, 및 제3 스위치들(21, 22, 23)은 제어부(미도시)에 의해 제어되도록 구성될 수도 있다.The first and
도 2는 도 1에 나타낸 종래의 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치의 동작을 설명하기 위한 등가 회로도를 나타내는 것으로서, T는 접촉 위치를, R1A는 상부 시트 패드(11)의 제1 전극(111)과 접촉 위치(T) 사이의 등가 저항을, R1B는 상부 시트 패드(11)의 제2 전극(112)과 접촉 위치(T) 사이의 등가 저항을, R2A는 하부 시트 패드(12)의 제4 전극(122)과 접촉 위치(T) 사이의 등가 저항을, R2B는 하부 시트 패드(12)의 제3 전극(121)과 접촉 위치(T) 사이의 등가 저항을 각각 나타낸다.FIG. 2 is an equivalent circuit diagram for describing an operation of an input device having a conventional resistive touch panel shown in FIG. 1, where T is a contact position and R1A is a first electrode of the
도 1 및 도 2를 참고하여 종래의 입력 장치의 동작을 설명하면 다음과 같다.Referring to FIGS. 1 and 2, the operation of a conventional input device will be described.
먼저, y축 방향의 위치를 결정하기 위한 제1 전압(Vy)을 측정한다. 즉, 제1 스위치(21)는 전원(30)과 a를 연결하고, 제2 스위치(22)는 접지 전압과 a를 연결하고, 제3 스위치(23)는 전압 측정기(40)와 c를 연결한다. 따라서, 하부 시트 패드(12)의 제4 전극(122)에는 전원(30)의 전압이 인가되고, 하부 시트 패드(12)의 제3 전극(121)에는 접지 전압이 인가되고, 전압 측정기(40)는 접지 전압과 접촉 위치(T) 사이에 연결되어 제1 전압(Vy)의 크기를 측정한다. 전원(30)의 전압의 크기가 Vb라면, 제1 전압(Vy)의 크기는 아래와 같은 수식으로 결정된다.First, the first voltage Vy for determining the position in the y-axis direction is measured. That is, the
다음으로, x축 방향의 위치를 결정하기 위한 제2 전압(Vx)을 측정한다. 즉, 제1 스위치(21)는 전원(30)과 c를 연결하고, 제2 스위치(22)는 접지 전압과 c를 연결하고, 제3 스위치(23)는 전압 측정기(40)와 a를 연결한다. 따라서, 상부 시트 패드(11)의 제2 전극(112)에는 전원(30)의 전압이 인가되고, 상부 시트 패드(11)의 제1 전극(111)에는 접지 전압이 인가되고, 전압 측정기(40)는 접지 전압과 접촉 위치(T) 사이에 연결되어 제2 전압(Vx)을 측정한다. 전원(30)의 전압의 크기가 Vb라면, 제2 전압(Vx)의 크기는 아래와 같은 수식으로 결정된다.Next, the second voltage Vx for determining the position in the x-axis direction is measured. That is, the
제1 전압(Vy)은 하부 시트 패드(12)의 제3 전극(121)과 접촉 위치(T) 사이의 등가 저항(R2B)에 비례하며, 저항(R2B)은 하부 시트 패드(12)의 제3 전극(121)과 접촉 위치(T) 사이의 거리에 비례한다. 따라서, 제1 전압(Vy)은 하부 시트 패드(12)의 제3 전극(121)과 접촉 위치(T) 사이의 거리에 비례하며, 종래의 입력 장치는 전압 측정기(40)를 통해 측정된 제1 전압(Vy)의 크기를 아날로그-디지털 변환기(미도시, 이하 A/D 컨버터)를 이용하여 디지털로 변환하고, 변환된 디지털 값을 이용하여 접촉 위치의 y축 상의 위치를 파악하였다.The first voltage Vy is proportional to the equivalent resistance R2B between the
또한, 제2 전압(Vx)은 상부 시트 패드(11)의 제1 전극(111)과 접촉 위치(T) 사이의 등가 저항(R1A)에 비례하며, 저항(R1A)은 상부 시트 패드(11)의 제1 전극(111)과 접촉 위치(T) 사이의 거리에 비례한다. 따라서, 제2 전압(Vx)은 상부 시트 패드(11)의 제1 전극(111)과 접촉 위치(T) 사이의 거리에 비례하며, 종래의 입 력 장치는 전압 측정기(40)를 통해 측정된 제2 전압(Vx)의 크기를 A/D 컨버터를 이용하여 디지털로 변환하고, 변환된 디지털 값을 이용하여 접촉 위치의 x축 상의 위치를 파악하였다.In addition, the second voltage Vx is proportional to the equivalent resistance R1A between the
그런데, 종래의 입력 장치의 경우, 전원(30)으로부터 공급되는 전력이 저항들(R2A 및 R2B, 또는 R1A 및 R1B)을 통하여 소모되기 때문에 전력 소모가 많다는 문제점이 있었다. 또한, 접촉 위치를 파악하기 위해 A/D 컨버터가 필요하였으며, A/D 컨버터의 성능, 즉, A/D 컨버터의 해상도가 입력 장치가 파악할 수 있는 접촉 위치의 정밀도를 결정하게 된다. 즉, 종래의 입력 장치의 경우, 동작 속도를 높이기 위해서는 A/D 컨버터를 고속으로 동작시켜야 하고, 입력 장치의 정밀도를 높이기 위해서는 A/D 컨버터의 해상도를 높여야 하는데, 고 해상도의 A/D 컨버터를 고속으로 동작시키기 위해서는 많은 전력이 필요하며, 동작 속도를 높이기가 곤란하다는 문제점이 있었다. 또한, 종래의 입력 장치의 경우, 상술한 이유로 저전력으로 접촉 위치를 파악하는 데 많은 시간이 소요된다는 문제점도 있었다.However, in the conventional input device, since the power supplied from the
본 발명의 목적은 전력 소모를 최소화하고, 고속으로 동작할 수 있는 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치를 제공하는데 있다.An object of the present invention is to provide an input device having a resistive touch panel capable of operating at high speed and minimizing power consumption.
본 발명의 다른 목적은 상기 목적을 달성하기 위한 입력 장치의 접촉 위치 계산 방법을 제공하는데 있다.Another object of the present invention is to provide a method for calculating a contact position of an input device for achieving the above object.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치는 복수개의 전극들을 구비하고, 접촉 위치에 따라 상기 복수개의 전극들 각각과 상기 접촉 위치 사이의 저항의 크기 각각이 가변되는 터치 패널, 샘플링 클럭 신호를 출력하는 샘플링 클럭 신호 발생부, 상기 샘플링 클럭 신호를 상기 복수개의 전극들 중 일부의 전극들로 순차적으로 인가하는 제1 스위치, 상기 복수개의 전극들 중 적어도 하나와 연결되는 지연 노드의 신호를 지연시키는 지연 소자, 상기 지연 노드의 신호와 상기 샘플링 클럭 신호의 지연시간 차이들을 측정하여 출력하는 지연시간 측정부, 및 상기 지연시간 차이들을 입력하여 상기 접촉 위치의 좌표를 계산하는 좌표 계산부를 구비하는 것을 특징으로 한다.An input device including a resistive touch panel of the present invention for achieving the above object includes a plurality of electrodes, and the magnitude of the resistance between each of the plurality of electrodes and the contact position is variable according to a contact position. A touch panel, a sampling clock signal generator for outputting a sampling clock signal, a first switch for sequentially applying the sampling clock signal to some of the electrodes, and at least one of the electrodes A delay element for delaying a signal of the delayed node, a delay time measurement unit for measuring and outputting delay time differences between the signal of the delay node and the sampling clock signal, and calculating the coordinates of the contact position by inputting the delay time differences It characterized in that it comprises a coordinate calculation unit.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 상기 지연 소자는 상기 지연 노드와 접지 전압 사이에 연결되는 커패시터를 구비하고, 상기 지연 노드의 신호는 상기 샘플링 클럭 신호가 인가되는 전극과 상기 지연 노드와 연결되는 전극 사이의 상기 터치 패널의 저항의 크기 및 상기 커패시터의 커패시턴스에 의해 지연 되는 것을 특징으로 한다.The delay element of the input device of the present invention for achieving the above object comprises a capacitor connected between the delay node and the ground voltage, the signal of the delay node and the delay node and the electrode to which the sampling clock signal is applied; It is characterized in that the delay between the capacitance of the capacitor and the magnitude of the resistance of the touch panel between the connected electrodes.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 상기 지연시간 측정부의 제1 형태는 상기 지연 노드의 전압의 레벨을 검출하여 펄스 신호를 출력하는 지연펄스 출력부, 및 상기 펄스 신호와 상기 샘플링 클럭 신호를 입력하여 상기 펄스 신호와 상기 샘플링 클럭 신호의 지연시간 차이를 측정하여 상기 지연 노드의 신호와 상기 샘플링 클럭 신호의 지연 시간 차이로 출력하는 비교부를 구비하는 것을 특징으로 한다.A first aspect of the delay time measuring unit of the input device of the present invention for achieving the above object is a delay pulse output unit for detecting a level of the voltage of the delay node and outputting a pulse signal, and the pulse signal and the sampling clock signal It is characterized in that it comprises a comparison unit for measuring the delay time difference between the pulse signal and the sampling clock signal by inputting to output the delay time difference between the signal of the delay node and the sampling clock signal.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 상기 지연시간 측정부의 제2 형태는 상기 샘플링 클럭 신호가 상기 지연 노드를 통하여 상기 지연시간 측정부로 입력되는지 여부를 판단하고, 판단 결과에 따라 검출 신호를 출력하는 신호 검출부, 및 상기 검출 신호에 응답하여 상기 샘플링 클럭 신호의 펄스폭이 임계치에 도달할 때까지 제어 코드를 가변시키고, 상기 샘플링 클럭 신호의 펄스폭이 임계치에 도달한 때의 상기 제어 코드에 대응하는 지연시간 차이를 상기 지연 노드의 신호와 상기 샘플링 클럭 신호의 지연시간 차이를 출력하는 제어부를 구비하고, 상기 샘플링 클럭신호 발생부는 상기 제어 코드에 응답하여 출력하는 상기 샘플링 클럭 신호의 펄스폭을 가변시키는 것을 특징으로 한다.The second type of the delay time measuring unit of the input device of the present invention for achieving the above object determines whether the sampling clock signal is input to the delay time measuring unit through the delay node, and determines the detection signal according to the determination result. An output signal detection section and a control code in response to the detection signal until the pulse width of the sampling clock signal reaches a threshold, and the control code when the pulse width of the sampling clock signal reaches a threshold. And a control unit for outputting a corresponding delay time difference between the signal of the delay node and the sampling clock signal, wherein the sampling clock signal generation unit outputs a pulse width of the sampling clock signal output in response to the control code. It is characterized by varying.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 제1 형태의 상기 터치 패널은 제1 방향의 양단에 각각 배치되는 제1 및 제2 전극을 구비하는 제1 시트 패드, 및 상기 제1 방향과 직교하는 제2 방향의 양단에 각각 배치되는 제3 및 제4 전극을 구비하는 제2 시트 패드를 구비하는 것을 특징으로 한다.The touch panel of the first aspect of the input device of the present invention for achieving the above object comprises a first sheet pad having first and second electrodes disposed at both ends in a first direction, and perpendicular to the first direction. And a second sheet pad having third and fourth electrodes respectively disposed at both ends of the second direction.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 제1 형태의 상기 제1 스위치는 상기 샘플링 클럭 신호를 상기 제1 전극 및 상기 제3 전극에 순차적으로 인가하고, 상기 입력 장치는 상기 제1 스위치가 상기 샘플링 클럭 신호를 상기 제1 전극으로 인가할 때 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극을 상기 지연 노드와 순차적으로 연결하고, 상기 제1 스위치가 상기 샘플링 클럭 신호를 상기 제3 전극으로 인가할 때 상기 제1 전극과 상기 제2 전극을 상기 지연 노드와 순차적으로 연결하는 제2 스위치를 추가적으로 구비하는 것을 특징으로 한다.The first switch of the first aspect of the input device of the present invention for achieving the above object sequentially applies the sampling clock signal to the first electrode and the third electrode, the input device is When the sampling clock signal is applied to the first electrode, the third electrode and the fourth electrode are sequentially connected to the delay node, and the first switch applies the sampling clock signal to the third electrode. And a second switch that sequentially connects the first electrode and the second electrode with the delay node.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 제1 형태의 상기 제2 스위치는 상기 제1 스위치가 상기 샘플링 클럭 신호를 상기 제1 전극으로 인가할 때 상기 제2 전극을 상기 지연 노드와 추가적으로 연결하고, 상기 제1 스위치가 상기 샘플링 클럭 신호를 상기 제3 전극으로 인가할 때 상기 제4 전극을 상기 지연 노드와 추가적으로 연결하는 것을 특징으로 하고, 상기 제2 스위치는 터치되지 않은 경우에 상기 제2 전극 또는 상기 제4 전극을 상기 지연 노드와 추가적으로 연결하는 동작을 수행하는 것을 특징으로 한다.The second switch of the first form of the input device of the present invention for achieving the above object further connects the second electrode with the delay node when the first switch applies the sampling clock signal to the first electrode. And when the first switch applies the sampling clock signal to the third electrode, additionally connects the fourth electrode to the delay node, and wherein the second switch is not touched. And additionally connecting an electrode or the fourth electrode with the delay node.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 제1 형태의 상기 지연시간 측정부는 상기 제1 스위치가 상기 샘플링 클럭 신호를 상기 제1 전극으로 인가하고 상기 제2 스위치가 상기 제3 전극과 상기 지연 노드를 연결한 경우의 상기 지연시간 차이를 측정하여 제1 지연시간 차이로 상기 좌표 계산부로 출력하고, 상기 제1 스위치가 상기 샘플링 클럭 신호를 상기 제1 전극으로 인가하고 상기 제2 스위치가 상기 제 4전극과 상기 지연 노드를 연결한 경우의 상기 지연시간 차이를 측정 하여 제2 지연시간 차이로 상기 좌표 계산부로 출력하고, 상기 제1 스위치가 상기 샘플링 클럭 신호를 상기 제3 전극으로 인가하고 상기 제2 스위치가 상기 제1 전극과 상기 지연 노드를 연결한 경우의 상기 지연시간 차이를 측정하여 제3 지연시간 차이로 상기 좌표 계산부로 출력하고, 상기 제1 스위치가 상기 샘플링 클럭 신호를 상기 제3 전극으로 인가하고 상기 제2 스위치가 상기 제2 전극과 상기 지연 노드를 연결한 경우의 상기 지연시간 차이를 측정하여 제4 지연시간 차이로 상기 좌표 계산부로 출력하고, 상기 제1 스위치가 상기 샘플링 클럭 신호를 상기 제1 전극으로 인가하고 상기 제2 스위치가 상기 제2 전극과 상기 지연 노드를 연결한 경우의 상기 지연시간 차이를 측정하여 제5 지연시간 차이로 상기 좌표 계산부로 출력하고, 상기 제1 스위치가 상기 샘플링 클럭 신호를 상기 제3 전극으로 인가하고 상기 제2 스위치가 상기 제4 전극과 상기 지연 노드를 연결한 경우의 상기 지연시간 차이를 측정하여 제6 지연시간 차이로 상기 좌표 계산부로 출력하는 것을 특징으로 한다.The delay time measuring unit of the first aspect of the input device of the present invention for achieving the above object is the first switch to apply the sampling clock signal to the first electrode and the second switch is the third electrode and the delay The delay time difference when the node is connected is measured and output to the coordinate calculation unit as a first delay time difference, wherein the first switch applies the sampling clock signal to the first electrode, and the second switch is the first switch. The delay time difference between the four electrodes and the delay node is measured and output to the coordinate calculation unit as a second delay time difference, and the first switch applies the sampling clock signal to the third electrode. The coordinate calculating unit measures a difference in delay time when a switch connects the first electrode and the delay node to a third delay time difference. A fourth delay time difference by measuring the delay time difference when the first switch applies the sampling clock signal to the third electrode and the second switch connects the second electrode and the delay node. Outputs to the coordinate calculator, and measures the delay time when the first switch applies the sampling clock signal to the first electrode and the second switch connects the second electrode and the delay node. The delay when the fifth delay time is output to the coordinate calculation unit, and the first switch applies the sampling clock signal to the third electrode and the second switch connects the fourth electrode and the delay node. The time difference is measured and output to the coordinate calculation unit as a sixth delay time difference.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 제1 형태의 상기 지연시간 측정부는 접촉되지 않은 경우에 상기 제5 및 제6 지연시간 차이를 측정하여 출력하는 것을 특징으로 한다.The delay time measuring unit of the first aspect of the input device of the present invention for achieving the above object is characterized by measuring and outputting the difference between the fifth and sixth delay time.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 제1 형태의 상기 좌표 계산부는 상기 제1 내지 제6 지연시간 차이를 입력하여 상기 제1 내지 제4 전극들 각각과 상기 접촉위치 사이의 저항의 크기 각각을 계산하여 상기 접촉 위치의 좌표를 계산하는 것을 특징으로 한다.The coordinate calculation unit of the first form of the input device of the present invention for achieving the above object is inputted the difference of the first to sixth delay time to the magnitude of the resistance between each of the first to fourth electrodes and the contact position It is characterized by calculating the coordinates of the contact position by calculating each.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 제1 형태의 상기 좌표 계 산부는 상기 제1 지연시간 차이와 상기 제2 지연시간 차이의 차이값 및 상기 제3 지연시간 차이와 상기 제4 지연시간 차이의 차이값을 각각 계산하고, 상기 차이값들 각각을 상기 제5 지연시간 차이 및 상기 제6 지연시간 차이 각각으로 나누어 상기 저항의 크기 각각을 계산하는 것을 특징으로 한다.The coordinate calculation unit of the first aspect of the input device of the present invention for achieving the above object is a difference value between the first delay time difference and the second delay time difference, and the third delay time difference and the fourth delay time. The difference value of the difference is calculated, and each of the difference values is divided into the fifth delay time difference and the sixth delay time difference, and the respective sizes of the resistances are calculated.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 제1 형태의 상기 좌표 계산부는 상기 제1 내지 제4 지연시간 차이가 소정값 이상인 경우 접촉되지 않은 것으로 판단하는 것을 특징으로 한다.The coordinate calculation unit of the first aspect of the input device of the present invention for achieving the above object is characterized in that it is determined that the contact is not contacted when the first to fourth delay time difference is more than a predetermined value.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 제1 형태는 상기 제1 스위치와 상기 샘플링 클럭신호 발생부 사이에 연결되는 제1 저항, 및 상기 제2 스위치와 상기 지연 노드 사이에 연결되는 제2 저항을 추가적으로 구비하는 것을 특징으로 하고, 상기 제1 저항 및 제2 저항은 상기 제1 시트 패드 및 상기 제2 시트 패드와 동일한 물질로 형성되는 것을 특징으로 한다.A first aspect of the input device of the present invention for achieving the above object is a first resistor connected between the first switch and the sampling clock signal generator, and a second connected between the second switch and the delay node. And a resistor, wherein the first resistor and the second resistor are formed of the same material as the first sheet pad and the second sheet pad.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 제2 형태의 상기 터치 패널은 테두리에 형성된 출력 전극을 구비하는 사각형 모양의 제1 시트 패드, 및 모서리 각각에 형성된 제1 내지 제4 전극을 구비하는 사각형 모양의 제2 시트 패드를 구비하고, 상기 출력 전극은 상기 지연 노드와 연결되는 것을 특징으로 한다.The touch panel of the second form of the input device of the present invention for achieving the above object comprises a first sheet pad of the rectangular shape having an output electrode formed on the edge, and the first to fourth electrodes formed on each corner The second sheet pad may have a quadrangular shape, and the output electrode may be connected to the delay node.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 제2 형태의 상기 제1 스위치는 상기 샘플링 클럭 신호를 상기 제1 내지 제4 전극들로 순차적으로 인가하는 것을 특징으로 한다.The first switch of the second form of the input device of the present invention for achieving the above object is characterized in that to sequentially apply the sampling clock signal to the first to fourth electrodes.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 제2 형태의 상기 지연시 간 측정부는 상기 제1 스위치가 상기 샘플링 클럭 신호를 상기 제1 전극으로 인가하는 경우의 상기 지연시간 차이를 측정하여 제1 지연시간 차이로 상기 좌표 계산부로 출력하고, 상기 제1 스위치가 상기 샘플링 클럭 신호를 상기 제2 전극으로 인가하는 경우의 상기 지연시간 차이를 측정하여 제2 지연시간 차이로 상기 좌표 계산부로 출력하고, 상기 제1 스위치가 상기 샘플링 클럭 신호를 상기 제3 전극으로 인가하는 경우의 상기 지연시간 차이를 측정하여 제3 지연시간 차이로 상기 좌표 계산부로 출력하고, 상기 제1 스위치가 상기 샘플링 클럭 신호를 상기 제4 전극으로 인가하는 경우의 상기 지연시간 차이를 측정하여 제4 지연시간 차이로 상기 좌표 계산부로 출력하는 것을 특징으로 한다.The delay time measuring unit of a second aspect of the input device of the present invention for achieving the above object measures the difference in delay time when the first switch applies the sampling clock signal to the first electrode and thus, Output the delay time difference to the coordinate calculation unit, measure the delay time difference when the first switch applies the sampling clock signal to the second electrode, and output the second delay time difference to the coordinate calculation unit; The first switch measures the delay time when the sampling clock signal is applied to the third electrode and outputs the difference to the coordinate calculator by a third delay time, and the first switch outputs the sampling clock signal to the coordinate calculator. Measuring the difference in the delay time when applied to the fourth electrode and outputs to the coordinate calculation unit as a fourth delay time difference And a gong.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 제2 형태의 상기 좌표 계산부는 상기 제1 내지 제4 지연시간 차이들을 입력하여 상기 제1 내지 제4 전극 각각과 상기 접촉 위치 사이의 저항의 크기 각각을 계산하여 상기 접촉 위치의 좌표를 계산하는 것을 특징으로 한다.The coordinate calculation unit of the second form of the input device of the present invention for achieving the above object is to input the first to fourth delay time differences to each of the magnitude of the resistance between each of the first to fourth electrodes and the contact position. It is characterized in that to calculate the coordinates of the contact position by calculating.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 제2 형태의 상기 좌표 계산부는 상기 제1 내지 제4 지연시간 차이들 각각의 차이값들을 계산하고, 계산된 상기 차이값들 각각을 서로 나누어 상기 저항의 크기 각각을 계산하는 것을 특징으로 한다.The coordinate calculation unit of a second form of the input device of the present invention for achieving the above object calculates difference values of each of the first to fourth delay time differences, and divides each of the calculated difference values by the resistance. It is characterized by calculating the size of each.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 제2 형태의 상기 좌표 계산부는 상기 제1 내지 제4 지연시간 차이가 소정값 이상인 경우에는 접촉되지 않은 것으로 판단하는 것을 특징으로 한다.The coordinate calculation unit of the second aspect of the input device of the present invention for achieving the above object is characterized in that it is determined that the contact is not contacted when the first to fourth delay time difference is more than a predetermined value.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 제2 형태는 상기 제1 스위치와 상기 샘플링 클럭신호 발생부 사이에 연결되는 제1 저항, 및 상기 출력 전극과 상기 지연 노드 사이에 연결되는 제2 저항을 추가적으로 구비하는 것을 특징으로 하고, 상기 제1 저항 및 상기 제2 저항은 상기 제1 시트 패드 및 상기 제2 시트 패드와 동일한 물질로 형성되는 것을 특징으로 한다.A second aspect of the input device of the present invention for achieving the above object is a first resistor connected between the first switch and the sampling clock signal generator, and a second resistor connected between the output electrode and the delay node. And the first resistor and the second resistor are formed of the same material as the first sheet pad and the second sheet pad.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 제3 형태의 상기 터치 패널은 제1 방향으로 신장되고, 상기 제1 방향과 직교하는 제2 방향으로 배치되고, 상기 복수개의 전극들 중 해당하는 전극들이 양단에 연결된 복수개의 제1 터치 패드들을 구비하는 제1 시트 패드, 및 상기 제2 방향으로 신장되고, 상기 제1 방향으로 배치되고, 상기 복수개의 전극들 중 해당하는 전극들이 양단에 연결된 복수개의 제2 터치 패드들을 구비하는 제2 시트 패드를 구비하는 것을 특징으로 한다.The touch panel of the third form of the input device of the present invention for achieving the above object is extended in a first direction, disposed in a second direction orthogonal to the first direction, and a corresponding electrode among the plurality of electrodes. Sheet pads having a plurality of first touch pads connected at both ends thereof, and a plurality of first electrodes extending in the second direction, disposed in the first direction, and corresponding ones of the plurality of electrodes connected at both ends thereof. And a second sheet pad having second touch pads.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 제3 형태의 상기 제1 스위치는 상기 복수개의 제1 터치 패드들의 일단과 연결된 전극들 및 상기 복수개의 제2 터치 패드들의 일단과 연결된 전극들에 순차적으로 상기 샘플링 클럭 신호를 인가하고, 상기 입력 장치는 상기 제1 스위치가 상기 복수개의 제1 터치 패드들 중 하나의 제1 터치 패드의 일단에 상기 샘플링 클럭 신호를 인가하는 경우에 상기 제2 터치 패드들 양단과 연결된 전극들을 순차적으로 상기 지연 노드와 연결하고, 상기 제1 스위치가 상기 복수개의 제2 터치 패드들 중 하나의 제2 터치 패드의 일단에 상기 샘플링 클럭 신호를 인가하는 경우에 상기 제1 터치 패드들 양단과 연결된 전극들을 순차적으로 상기 지연 노드와 연결하는 제2 스위치를 추가적으로 구비하 는 것을 특징으로 한다.The first switch of the third form of the input device of the present invention for achieving the above object is sequentially connected to the electrodes connected to one end of the plurality of first touch pads and the electrodes connected to one end of the plurality of second touch pads. The sampling clock signal, and the input device is configured to apply the second touch pad when the first switch applies the sampling clock signal to one end of one of the plurality of first touch pads. First and second electrodes connected to both ends of the plurality of second touch pads, and the first switch applies the sampling clock signal to one end of one of the plurality of second touch pads. And a second switch for sequentially connecting the electrodes connected to both ends of the touch pads with the delay node.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 제3 형태의 상기 지연시간 측정부는 상기 제1 스위치가 상기 복수개의 제1 또는 제2 터치 패드들 중 하나의 터치 패드의 일단과 연결된 전극으로 상기 샘플링 클럭 신호를 인가하고, 상기 제2 스위치가 상기 복수개의 제2 또는 제1 터치 패드들 중 하나의 터치 패드의 양단과 상기 지연 노드를 연결하는 각각의 경우에 대하여 상기 지연시간 차이들을 측정하고 출력하는 것을 특징으로 한다.The delay time measuring unit of the third form of the input device of the present invention for achieving the above object is the sampling of the first switch is an electrode connected to one end of one of the plurality of first or second touch pads; Applying a clock signal, and measuring and outputting the delay time differences for each case where the second switch connects both ends of one of the plurality of second or first touch pads and the delay node; It is characterized by.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 제3 형태의 상기 좌표 계산부는 상기 지연시간 차이들을 입력하여 상기 전극들 각각과 상기 접촉 위치 사이의 저항의 크기 각각을 계산하여 상기 접촉 위치의 좌표를 계산하는 것을 특징으로 한다.The coordinate calculation unit of the third form of the input device of the present invention for achieving the above object inputs the delay time differences to calculate the magnitude of the resistance between each of the electrodes and the contact position to determine the coordinates of the contact position. It is characterized by calculating.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 제3 형태는 상기 제1 스위치와 상기 샘플링 클럭신호 발생부 사이에 연결되는 제1 저항, 및 상기 제2 스위치와 상기 지연 노드 사이에 연결되는 제2 저항을 추가적으로 구비하는 것을 특징으로 하고, 상기 제1 저항 및 상기 제2 저항은 상기 제1 터치 패드들 및 상기 제2 터치 패드들과 동일한 물질로 형성되는 것을 특징으로 한다.A third aspect of the input device of the present invention for achieving the above object is a first resistor connected between the first switch and the sampling clock signal generator, and a second connected between the second switch and the delay node. The resistor may further include a resistor, and the first resistor and the second resistor may be formed of the same material as the first touch pads and the second touch pads.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치의 접촉 위치 계산 방법은 복수개의 전극들을 구비하고, 접촉 위치에 따라 상기 복수개의 전극들 각각과 상기 접촉 위치 사이의 저항의 크기 각각이 가변되는 터치 패널, 및 지연 노드의 신호를 지연시키는 지연 소자를 구비하는 입 력 장치의 접촉 위치 계산 방법에 있어서, 상기 복수개의 전극들 중 일부의 전극들에 순차적으로 샘플링 클럭 신호를 인가하는 샘플링 클럭 신호 인가 단계, 상기 복수개의 전극들 중 적어도 하나의 전극과 상기 지연 노드를 연결하는 지연 단계, 상기 지연 노드의 신호와 상기 샘플링 클럭 신호의 지연시간 차이들을 측정하는 지연시간 측정 단계, 및 상기 지연시간 차이를 입력하여 상기 복수개의 전극들 각각과 상기 접촉 위치 사이의 저항의 크기 각각을 계산하여 상기 접촉 위치의 좌표를 계산하는 좌표 계산 단계를 구비하는 것을 특징으로 한다.The contact position calculation method of the input device provided with the resistive touch panel of the present invention for achieving the above another object is provided with a plurality of electrodes, the contact position between each of the plurality of electrodes and the contact position A method of calculating a contact position of an input device having a touch panel having a variable magnitude of a resistance and a delay element for delaying a signal of a delay node, the sampling clock signal being sequentially applied to electrodes of some of the plurality of electrodes. Applying a sampling clock signal, a delay connecting at least one electrode of the plurality of electrodes and the delay node, and measuring a delay time of measuring delay time differences between the signal of the delay node and the sampling clock signal. And inputting the delay time difference between each of the plurality of electrodes and the contact position. And a coordinate calculation step of calculating the coordinates of the contact position by calculating each of the magnitudes of the resistances.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 접촉 위치 계산 방법의 상기 지연시간 측정 단계의 제1 형태는 상기 지연 노드의 전압의 레벨을 검출하여 펄스 신호를 출력하는 지연펄스 출력 단계, 및 상기 펄스 신호와 상기 샘플링 클럭 신호의 지연시간 차이를 측정하여 상기 지연 노드의 신호와 상기 샘플링 클럭 신호의 지연시간 차이로 출력하는 비교 단계를 구비하는 것을 특징으로 한다.A first aspect of the delay time measuring step of the contact position calculation method of the present invention for achieving the above another object is a delay pulse output step of detecting a level of the voltage of the delay node and outputting a pulse signal; And comparing the delay time difference between the sampling clock signal and outputting the difference between the delay node signal and the sampling clock signal.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 접촉 위치 계산 방법의 상기 지연시간 측정 단계의 제2 형태는 상기 샘플링 클럭 신호가 상기 지연 노드를 통하여 상기 지연시간 측정부로 입력되는지 여부를 판단하고, 판단 결과에 따라 검출 신호를 출력하는 신호 검출 단계, 및 상기 검출 신호에 응답하여 상기 샘플링 클럭 신호의 펄스폭이 임계치에 도달할 때까지 제어 코드를 가변시키고, 상기 샘플링 클럭 신호의 펄스폭이 임계치에 도달한 때의 상기 제어 코드에 대응하는 지연시간 차이를 상기 지연 노드의 신호와 상기 샘플링 클럭 신호의 지연시간 차이를 출력하는 제어 단계를 구비하고, 상기 샘플링 클럭신호 발생 단계는 상기 제어 코드에 응답 하여 출력하는 상기 샘플링 클럭 신호의 펄스폭을 가변시키는 것을 특징으로 한다.The second form of the delay time measuring step of the contact position calculation method of the present invention for achieving the above another object is to determine whether the sampling clock signal is input to the delay time measuring unit through the delay node, A signal detecting step of outputting a detection signal according to the present invention; and varying a control code until the pulse width of the sampling clock signal reaches a threshold in response to the detection signal, and when the pulse width of the sampling clock signal reaches a threshold. And a control step of outputting a delay time difference corresponding to the control code of a delay time difference between the signal of the delay node and the sampling clock signal, wherein the sampling clock signal generation step outputs the response code in response to the control code. The pulse width of the sampling clock signal is varied.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 접촉 위치 계산 방법의 제1 형태는 상기 터치 패널이 제1 방향의 양단에 각각 배치되는 제1 및 제2 전극을 구비하는 제1 시트 패드, 및 상기 제1 방향과 직교하는 제2 방향의 양단에 각각 배치되는 제3 및 제4 전극을 구비하는 제2 시트 패드를 구비하는 경우에 상기 샘플링 클럭 신호 인가 단계는 상기 샘플링 클럭 신호를 상기 제1 전극 및 상기 제3 전극으로 순차적으로 인가하고, 상기 지연 단계는 상기 샘플링 클럭 신호가 상기 제1 전극으로 인가되는 경우에 상기 제3 및 제4 전극과 상기 지연 노드를 순차적으로 연결하고, 상기 샘플링 클럭 신호가 상기 제3 전극으로 인가되는 경우에 상기 제1 및 제2 전극과 상기 지연 노드를 순차적으로 연결하는 것을 특징으로 한다.A first aspect of the method for calculating a contact position of an input device of the present invention for achieving the above another object is a first sheet pad having a first electrode and a second electrode, the touch panel is disposed at both ends of the first direction, and In the case of having a second sheet pad having third and fourth electrodes disposed at both ends of a second direction perpendicular to the first direction, the applying of the sampling clock signal may include converting the sampling clock signal into the first electrode. And sequentially applying to the third electrode, and wherein the delaying step sequentially connects the third and fourth electrodes and the delay node when the sampling clock signal is applied to the first electrode, and the sampling clock signal. When is applied to the third electrode, it characterized in that the first and second electrodes and the delay node are sequentially connected.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 접촉 위치 계산 방법의 제1 형태의 상기 지연 단계는 상기 샘플링 클럭 신호가 상기 제1 전극으로 인가되는 경우 상기 제2 전극과 상기 지연 노드를 추가적으로 연결하고, 상기 샘플링 클럭 신호가 상기 제3 전극으로 인가되는 경우 상기 제4 전극과 상기 지연 노드를 추가적으로 연결하는 것을 특징으로 한다.The delaying step of the first form of the method for calculating the contact position of the input device of the present invention for achieving the another object further comprises connecting the second electrode and the delay node when the sampling clock signal is applied to the first electrode. When the sampling clock signal is applied to the third electrode, the fourth electrode and the delay node may be additionally connected.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 접촉 위치 계산 방법의 제1 형태의 상기 지연시간 측정 단계는 상기 샘플링 클럭 신호가 상기 제1 전극으로 인가되고 상기 제3 전극과 상기 지연 노드가 연결된 경우의 상기 지연시간 차이를 측정하여 제1 지연시간 차이로 출력하고, 상기 샘플링 클럭 신호가 상기 제1 전극으로 인가되고 상기 제 4전극과 상기 지연 노드가 연결된 경우의 상기 지연 시간 차이를 측정하여 제2 지연시간 차이로 출력하고, 상기 샘플링 클럭 신호가 상기 제3 전극으로 인가되고 상기 제1 전극과 상기 지연 노드가 연결된 경우의 상기 지연시간 차이를 측정하여 제3 지연시간 차이로 출력하고, 상기 샘플링 클럭 신호가 상기 제3 전극으로 인가되고 상기 제2 전극과 상기 지연 노드가 연결된 경우의 상기 지연시간 차이를 측정하여 제4 지연시간 차이로 출력하고, 상기 샘플링 클럭 신호가 상기 제1 전극으로 인가되고 상기 제2 전극과 상기 지연 노드가 연결된 경우의 상기 지연시간 차이를 측정하여 제5 지연시간 차이로 출력하고, 상기 샘플링 클럭 신호가 상기 제3 전극으로 인가되고 상기 제4 전극과 상기 지연 노드가 연결된 경우의 상기 지연시간 차이를 측정하여 제6 지연시간 차이로 출력하는 것을 특징으로 한다.The delay time measuring step of the first form of the contact position calculation method of the input device of the present invention for achieving the above another object is that the sampling clock signal is applied to the first electrode and the third electrode and the delay node is connected The delay time difference is measured and output as a first delay time difference, and the delay time difference is measured when the sampling clock signal is applied to the first electrode and the fourth electrode and the delay node are connected. 2 delay time difference, and the sampling clock signal is applied to the third electrode, the delay time difference when the first electrode and the delay node is measured and output as a third delay time difference, the sampling The difference in delay time when a clock signal is applied to the third electrode and the second electrode is connected to the delay node is measured. Outputting a fourth delay time difference, measuring the delay time difference when the sampling clock signal is applied to the first electrode and the second electrode is connected to the delay node, and outputs the fifth delay time difference, When the sampling clock signal is applied to the third electrode and the fourth electrode and the delay node is connected, the delay time difference is measured and output as a sixth delay time difference.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 접촉 위치 계산 방법의 제1 형태의 상기 좌표 계산 단계는 상기 제1 지연시간 차이와 상기 제2 지연시간 차이를 감산하여 제1 차이값을 계산하고, 상기 제3 지연시간 차이와 상기 제4 지연시간 차이를 감산하여 제2 차이값을 계산하는 차이값 계산 단계, 상기 제1 차이값과 상기 제5 지연시간 차이를 나누어 제1 비율값을 계산하고, 상기 제2 차이값과 상기 제6 지연시간 차이를 나누어 제2 비율값을 계산하는 비율값 계산 단계, 상기 제1 값과 상기 제2 값을 이용하여 상기 제1 내지 제4 전극들 각각과 상기 접촉 위치의 저항의 크기 각각을 계산하는 저항 크기 계산 단계, 및 상기 저항의 크기 각각을 이용하여 상기 접촉위치의 좌표를 계산하는 좌표값 계산 단계를 구비하는 것을 특징으로 한다.The coordinate calculation step of the first form of the method for calculating the contact position of the input device of the present invention for achieving the another object is to calculate a first difference value by subtracting the first delay time difference and the second delay time difference; A difference value calculating step of calculating a second difference value by subtracting the third delay time difference and the fourth delay time difference, calculating a first ratio value by dividing the first difference value and the fifth delay time difference; A ratio value calculating step of calculating a second ratio value by dividing the second difference value and the sixth delay time difference, each of the first to fourth electrodes and the first and fourth electrodes using the first value and the second value; And a resistance value calculation step of calculating each of the magnitudes of the resistances of the contact positions, and a coordinate value calculation step of calculating the coordinates of the contact position using each of the magnitudes of the resistances.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 접촉 위치 계산 방법의 제2 형태는 상기 터치 패널이 상기 지연 노드와 연결되고 테두리에 형성된 출력 전극을 구비하는 사각형의 제1 시트 패드, 및 모서리 각각에 형성된 제1 내지 제4 전극을 구비하는 사각형의 제2 시트 패드를 구비하는 경우에, 상기 샘플링 클럭 신호 인가 단계는 상기 샘플링 클럭 신호를 상기 제1 내지 제4 전극으로 순차적으로 인가하고, 상기 좌표 계산 단계는 상기 지연시간 차이들을 입력하여 상기 제1 내지 제4 전극과 상기 접촉 위치의 저항들의 크기를 계산하여 상기 접촉 위치의 좌표를 계산하는 것을 특징으로 한다.A second form of the method for calculating the contact position of the input device of the present invention for achieving the above another object is a rectangular first sheet pad having an output electrode formed on the edge of the touch panel connected to the delay node, and each corner In the case of having a rectangular second sheet pad having the first to fourth electrodes formed on the substrate, the sampling clock signal applying step sequentially applies the sampling clock signal to the first to fourth electrodes, wherein the coordinates The calculating step may include calculating the coordinates of the contact position by inputting the delay time differences to calculate magnitudes of the resistances of the first to fourth electrodes and the contact position.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 접촉 위치 계산 방법의 제2 형태의 상기 지연시간 측정 단계는 상기 샘플링 클럭 신호가 상기 제1 전극으로 인가되는 경우의 상기 지연시간 차이를 측정하여 제1 지연시간 차이로 출력하고, 상기 샘플링 클럭 신호가 상기 제2 전극으로 인가되는 경우의 상기 지연시간 차이를 측정하여 제2 지연시간 차이로 출력하고, 상기 샘플링 클럭 신호가 상기 제3 전극으로 인가되는 경우의 상기 지연시간 차이를 측정하여 제3 지연시간 차이로 출력하고, 상기 샘플링 클럭 신호가 상기 제4 전극으로 인가되는 경우의 상기 지연시간 차이를 측정하여 제4 지연시간 차이로 출력하는 것을 특징으로 한다.The delay time measuring step of the second aspect of the method for calculating the contact position of the input device of the present invention for achieving the above another object may be performed by measuring the delay time difference when the sampling clock signal is applied to the first electrode. Outputting the signal at one delay time, measuring the delay time difference when the sampling clock signal is applied to the second electrode, and outputting the second delay time difference, and applying the sampling clock signal to the third electrode. Measuring the delay time difference and outputting it as a third delay time difference, and measuring the delay time difference when the sampling clock signal is applied to the fourth electrode and outputting the fourth delay time difference. do.
상기 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명의 입력 장치의 접촉 위치 계산 방법의 제2 형태 상기 좌표 계산 단계는 상기 제1 내지 제4 지연시간 차이들 각각의 차이값들을 계산하는 차이값 계산 단계, 상기 차이값들 각각을 서로 나누어 상기 차이값들 각각의 비율값을 계산하는 비율값 계산 단계, 상기 비율값을 이용하여 상 기 제1 내지 제4 전극들 각각과 상기 접촉 위치 사이의 저항의 크기 각각을 계산하는 저항 크기 계산 단계, 및 상기 저항의 크기 각각을 이용하여 상기 접촉 위치의 좌표를 계산하는 좌표값 계산 단계를 구비하는 것을 특징으로 한다.A second form of the contact position calculation method of the input device of the present invention for achieving the above another object The coordinate calculation step is a difference value calculation step of calculating the difference values of each of the first to fourth delay time differences, the difference A ratio value calculating step of dividing each of the values by each other to calculate a ratio value of each of the difference values, and calculating the magnitude of the resistance between each of the first to fourth electrodes and the contact position using the ratio value. And a coordinate value calculation step of calculating a coordinate of the contact position using each of the resistance magnitudes.
따라서, 본 발명의 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치 및 이 장치의 접촉 위치 계산 방법은 전력 소모를 최소화함과 동시에 고속으로 동작할 수 있다.Therefore, the input device including the resistive touch panel and the method for calculating the contact position of the device can operate at high speed while minimizing power consumption.
이하, 첨부된 도면을 참고로 하여 본 발명의 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치 및 이 장치의 접촉 위치 계산 방법을 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, an input device including a resistive touch panel and a method of calculating a contact position of the device will be described with reference to the accompanying drawings.
도 3은 본 발명의 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치의 일실시예의 구성을 나타내는 것으로, 터치 패널(10), 제1 스위치(51), 제2 스위치(52), 샘플링 클럭신호 발생부(60), 지연시간 측정부(70), 좌표 계산부(80), 및 지연 소자(90)를 구비하여 구성되어 있으며, 터치 패널(10)은 상부 시트 패드(11) 및 하부 시트 패드(12)로 구성되어 있다. 또한, 상부 시트 패드(11)는 제1 방향(예를 들면, x축 방향)으로 상기 상부 시트 패드(11)의 양단에 제1 및 제2 전극(111, 112)을 구비하고, 하부 시트 패드(12)는 제2 방향(예를 들면, y축 방향)으로 상기 하부 시트 패드(12)의 양단에 제3 및 제4 전극(121, 122)을 구비한다. 또한, 지연 소자(90)는 지연 노드(A)와 접지 전압 사이에 연결된 커패시터(C)를 구비하여 구성될 수 있다.3 shows a configuration of an embodiment of an input device having a resistive touch panel according to the present invention, wherein the
또한, 도 3에서, Ra는 제1 스위치(51)와 샘플링 클럭신호 발생부(60) 사이에 연결된 제1 저항을, Rb는 제2 스위치(52)와 지연 노드(A) 사이에 연결된 제2 저항을 각각 나타낸다. 즉, 본 발명의 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치의 일실시예의 경우, 제1 저항(Ra) 및 제2 저항(Rb)을 추가적으로 구비하도록 구성될 수 있다.In addition, in FIG. 3, Ra represents a first resistor connected between the
도 3에 나타낸 블럭들 각각의 기능을 설명하면 다음과 같다.The function of each of the blocks shown in FIG. 3 is as follows.
터치 패널(10)의 기능은 도 1에서 설명한 것과 동일하다.The function of the
샘플링 클럭신호 발생부(60)는 샘플링 클럭 신호(clk)를 발생시켜 제1 스위치(51) 및 지연 시간 측정부(70)로 출력한다. 제1 스위치(51)는 샘플링 클럭신호 발생부(60)로부터 출력되는 샘플링 클럭 신호(clk)를 터치 패널(10)의 상부 시트 패드(11)의 제1 전극(111) 및 하부 시트 패드(12)의 제3 전극(121)에 순차적으로 인가한다. The sampling
제2 스위치(52)는 제1 스위치(51)가 샘플링 클럭 신호(clk)를 상부 시트 패드(11)의 제1 전극(111)으로 인가하는 경우, 하부 시트 패드(12)의 제3 전극(121)과 제4 전극(122)을 순차적으로 지연 노드(A)와 연결하고, 제1 스위치(51)가 샘플링 클럭 신호(clk)를 하부 시트 패드(12)의 제3 전극(121)으로 인가하는 경우, 상부 시트 패드(11)의 제1 전극(111)과 제2 전극(112)을 순차적으로 지연 노드(A)와 연결한다. The
또한, 제2 스위치(52)는 제1 스위치(51)가 샘플링 클럭 신호(clk)를 상부 시트 패드(11)의 제1 전극(111)으로 인가하는 경우 상부 시트 패드(11)의 제2 전극(112)과 지연 노드(A)를 추가적으로 연결하고, 제1 스위치(51)가 샘플링 클럭 신 호(clk)를 하부 시트 패드(12)의 제3 전극(121)으로 인가하는 경우 하부 시트 패드(12)의 제4 전극(122)과 지연 노드(A)를 추가적으로 연결하도록 구성될 수 있다. 상술한 제2 스위치(52)가 제2 전극(112) 또는 제4 전극(122)과 지연 노드(A)를 추가적으로 연결하는 동작은 터치 패널에 접촉 물체가 접촉되지 않은 경우에 수행되도록 구성될 수 있다.In addition, the
지연 소자(90)는 지연 노드(A)의 신호를 지연시킨다. 상술한 바와 같이, 지연 소자(90)는 지연 노드(A)와 접지 전압 사이에 연결된 커패시터(C)를 구비하여 구성될 수 있으며, 이 경우, 지연 노드(A)의 신호(clk_d)는 제1 스위치(51)에 의해 샘플링 클럭 신호가 인가되는 전극(즉, 제1 전극(111), 또는 제3 전극(121))과 제2 스위치(52)에 의해 지연 노드(A)와 연결되는 전극(즉, 제3 전극(121) 또는 제4 전극(122), 또는 제1 전극(111) 또는 제2 전극(112)) 사이의 저항의 크기와 상기 커패시터(C)의 커패시턴스에 의해 지연된다. 즉, 샘플링 클럭 신호(clk)에 대비한 지연 노드(A)의 신호(clk_d)의 지연 시간은 샘플링 클럭 신호가 인가되는 전극과 접촉 위치 사이의 저항의 크기와 상기 접촉 위치와 지연 노드(A)와 연결되는 전극 사이의 저항의 크기의 합과 상기 커패시터의 커패시턴스에 의해 결정된다.The
지연시간 측정부(70)는 샘플링 클럭신호 발생부(60)로부터 출력되는 샘플링 클럭 신호(clk)와 지연 노드(A)의 신호(clk_d)를 입력하여 샘플링 클럭 신호(clk)와 지연 노드(A)의 신호(clk_d)의 지연시간 차이를 측정하고, 상기 지연시간 차이(td)를 출력한다. 상술한 바와 같이, 지연 노드(A)의 신호(clk_d)는 샘플링 클럭신호 발생부(60)로부터 출력된 클력 신호(clk)가 제1 저항(Ra), 접촉 위치에 따라 가변되는 터치 패널의 저항, 제2 저항(Rb), 및 커패시터(C)에 의해 소정 시간 지연된 신호이다. 제1 저항(Ra)의 크기, 제2 저항(Rb)의 크기, 및 커패시터(C)의 커패시턴스는 고정된 값이므로, 지연 노드(A)의 신호(clk_d)의 지연 시간은 접촉 위치에 따라 가변되는 터치 패널의 저항에 의해 결정된다. The delay
좌표 계산부(80)는 지연시간 측정부(70)로부터 출력되는 지연시간 차이(Td)를 입력하여 접촉위치의 좌표를 계산하여 출력한다.The coordinate
상술한 바와 같이, 본 발명의 입력 장치는 제1 저항(Ra) 및 제2 저항(Rb)을 추가적으로 구비하도록 구성될 수 있다. 즉, 만일 접촉 물체가 터치 패널의 모서리 에 접촉되는 경우, 터치 패널의 저항의 크기, 즉, 제1 스위치(51)와 제2 스위치(52) 사이의 저항의 크기가 0이 되는 경우가 발생될 수 있으며, 이 경우, 샘플링 클럭 신호(clk)가 저항을 거치지 않고 직접적으로 지연 노드(A)로 인가되므로 입력 장치가 오동작을 일으킬 수 있다. 따라서, 본 발명의 입력 장치는 상술한 오동작을 방지하기 위해 제1 저항(Ra) 및 제2 저항(Rb)을 추가적으로 구비하도록 구성될 수 있다.As described above, the input device of the present invention may be configured to additionally include the first resistor Ra and the second resistor Rb. That is, if a contact object is in contact with the edge of the touch panel, the magnitude of the resistance of the touch panel, that is, the magnitude of the resistance between the
또한, 도시하지는 않았지만, 도 3에 나타낸 본 발명의 입력 장치는 상부 시트 패드(11)와 하부 시트 패드(12)는 서로 위치가 바뀌어 구성될 수도 있다.In addition, although not shown, in the input device of the present invention shown in FIG. 3, the
도 4는 도 3에 나타낸 본 발명의 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치의 일실시예의 동작을 설명하기 위한 등가 회로도를 나타낸 것으로서, T는 접촉 위치를, R1A는 상부 시트 패드(11)의 제1 전극(111)과 접촉 위치(T) 사이의 등가 저항을, R1B는 상부 시트 패드(11)의 제2 전극(112)과 접촉 위치(T) 사이의 등 가 저항을, R2A는 하부 시트 패드(12)의 제4 전극(122)과 접촉 위치(T) 사이의 등가 저항을, R2B는 하부 시트 패드(12)의 제3 전극(121)과 접촉 위치(T) 사이의 등가 저항을 각각 나타낸다.FIG. 4 is an equivalent circuit diagram illustrating an operation of an embodiment of an input device having a resistive touch panel of the present invention shown in FIG. 3, where T is a contact position and R1A is an
도 4에 나타낸 바와 같이, 지연시간 측정부(70)는 지연펄스 출력부(71) 및 비교부(72)로 구성될 수 있다. As shown in FIG. 4, the delay
지연펄스 출력부(71)는 지연 노드(A)의 신호(clk_d)를 입력하고, 지연 노드(A)의 신호(clk_d)의 레벨을 감지하여 펄스 신호(pclk_d)를 출력한다. 즉, 샘플링 클럭 신호(clk)와 펄스 신호(pclk_d)의 지연시간 차이는 샘플링 클럭 신호(clk)와 지연 노드(A)의 신호(clk_d) 사이의 지연시간 차이와 동일한 값을 가진다. 또한, 지연펄스 출력부(71)가 감지하는 지연 노드(A)의 신호(clk_d)의 레벨은 소정의 레벨로 고정되며, 이 경우, 상기 지연시간 차이는 저항의 크기(즉, 제1 저항(Ra), 제2 저항(Rb), 및 접촉 위치에 따라 가변되는 터치 패널의 저항의 합)와 커패시터(C)의 커패시턴스의 곱으로 표현될 수 있다.The delay
비교부(72)는 지연펄스 출력부(71)로부터 출력되는 펄스 신호(pclk_d) 및 샘플링 클럭신호 발생부(70)로부터 출력되는 샘플링 클럭 신호(clk)를 입력하고, 펄스 신호(pclk_d)와 샘플링 클럭 신호(clk)의 지연시간 차이(td)를 계산하여 계산된 지연시간 차이(td)를 출력한다.The
도 3 및 도 4를 참고하여 본 발명의 입력 장치의 일실시예의 동작을 설명하면 다음과 같다.Referring to Figures 3 and 4 will be described the operation of one embodiment of the input device of the present invention.
먼저, 제1 스위치(51)는 a와 연결되어 샘플링 클럭 신호(clk)가 제1 전 극(111)으로 인가되고, 제2 스위치(52)는 b 및 d와 순차적으로 연결되어 제3 전극(121) 및 제4 전극(122)이 지연 노드(A)와 순차적으로 연결된다. 각 경우에 대하여 샘플링 클럭 신호(clk)와 지연 노드(A)의 신호(clk_d)의 지연시간 차이들, 즉, 샘플링 클럭 신호(clk)와 펄스 신호(pclk_d)의 지연시간 차이들이 지연시간 측정부(70)에 의해 측정되고, 측정된 지연시간 차이(td)들은 좌표 계산부(80)로 출력된다. 다음으로, 제1 스위치(51)는 b와 연결되어 샘플링 클럭 신호(clk)가 제3 전극(121)으로 인가되고, 제2 스위치(52)는 a 및 c와 순차적으로 연결되어 제1 전극(111) 및 제2 전극(112)이 지연 노드(A)와 순차적으로 연결된다. 마찬가지로 각 경우에 대하여 샘플링 클럭 신호(clk)와 지연 노드(A)의 신호(clk_d)의 지연시간 차이들, 즉 샘플링 클럭 신호(clk)와 펄스 신호(pclk_d)의 지연시간 차이들이 지연시간 측정부(70)에 의해 측정되고, 측정된 지연시간 차이(td)들은 좌표 계산부(70)로 출력된다. 이상의 동작은 접촉 위치에 접촉 물체가 접촉된 상태에서 수행된다.First, the
다음으로, 제1 스위치(51)는 a와 연결되어 샘플링 클럭 신호(clk)가 제1 전극(111)으로 인가되고, 제2 스위치(52)는 c와 연결되어 제2 전극(112)이 지연 노드(A)와 연결되고, 다시 제1 스위치(51)는 b와 연결되어 샘플링 클럭 신호(clk)가 제3 전극(121)으로 인가되고, 제2 스위치(52)는 d와 연결되어 제4 전극(122)이 지연 노드(A)와 연결된다. 각 경우에 대하여 샘플링 클럭 신호(clk)와 지연 노드(A)의 신호(clk_d)의 지연시간 차이들, 즉, 샘플링 클럭 신호(clk)와 펄스 신호(pclk_d)의 지연시간 차이들이 지연시간 측정부(70)에 의해 측정되고, 측정된 지연시간 차이(td)들은 좌표 계산부(80)로 출력된다. 이 동작은 접촉 위치에 접촉 물 체가 접촉되지 않은 상태에서 수행될 수 있다.Next, the
또한, 상술한 동작은 순서가 바뀌어 수행되어도 무관하다.In addition, the above-described operation may be performed in a reversed order.
좌표 계산부(80)는 입력된 지연시간 차이(td)를 이용하여 저항들(R1A, R1B, R2A, R2B)의 크기를 계산함으로써 접촉 위치(T)의 좌표를 계산한다.The coordinate
제1 스위치(51)가 a와 연결되고 제2 스위치(52)가 b와 연결된 경우의 샘플링 클럭 신호(clk)와 지연 노드(A)의 신호(clk_d)의 지연시간 차이(즉, 샘플링 클럭 신호(clk)와 펄스 신호(pclk_d)의 지연시간 차이)를 제1 지연시간 차이(t1)라 하고, 제1 스위치(51)가 a와 연결되고 제2 스위치(52)가 d와 연결된 경우의 샘플링 클럭 신호(clk)와 지연 노드(A)의 신호(clk_d)의 지연시간 차이(즉, 샘플링 클럭 신호(clk)와 펄스 신호(pclk_d)의 지연시간 차이)를 제2 지연시간 차이(t2)라 하고, 제1 스위치(51)가 b와 연결되고 제2 스위치(52)가 a와 연결된 경우의 샘플링 클럭 신호(clk)와 지연 노드(A)의 신호(clk_d)의 지연시간 차이(즉, 샘플링 클럭 신호(clk)와 펄스 신호(pclk_d)의 지연시간 차이)를 제3 지연시간 차이(t3)라 하고, 제1 스위치(51)가 b와 연결되고 제2 스위치(52)가 c와 연결된 경우의 샘플링 클럭 신호(clk)와 지연 노드(A)의 신호(clk_d)의 지연시간 차이(즉, 샘플링 클럭 신호(clk)와 펄스 신호(pclk_d)의 지연시간 차이)를 제4 지연시간 차이(t4)라 하고, 제1 스위치(51)가 a와 연결되고 제2 스위치(52)가 c와 연결된 경우의 샘플링 클럭 신호(clk)와 지연 노드(A)의 신호(clk_d)의 지연시간 차이(즉, 샘플링 클럭 신호(clk)와 펄스 신호(pclk_d)의 지연시간 차이)를 제5 지연시간 차이(t5)라 하고, 제1 스위치(51)가 b와 연결되고 제2 스위치(52)가 d와 연결된 경우의 샘플링 클럭 신호(clk)와 지연 노드(A)의 신호(clk_d)의 지연시간 차이(즉, 샘플링 클럭 신호(clk)와 펄스 신호(pclk_d)의 지연시간 차이)를 제6 지연시간 차이(t6)라 한다면, 지연시간 측정부(70)에서 측정하는 제1 내지 제6 지연시간 차이(t1~t6)는 아래와 같은 수식에 의해 결정될 수 있다. 수식에서 C는 커패시터(C)의 커패시턴스를, Ra, Rb, R1A, R1B, R2A, R2B 각각은 저항들 각각의 크기를 나타낸다.Difference in delay time between the sampling clock signal clk and the signal clk_d of the delay node A when the
좌표 계산부(80)는 상기 제1 내지 제6 지연시간 차이(t1~t6)를 입력하여 저항들(R1A, R1B, R2A, R2B)의 크기를 계산한다. 저항들(R1A, R1B, R2A, R2B)의 크기는 아래와 같은 수식에 의해 계산될 수 있다.The coordinate
즉, 좌표 계산부(80)는 먼저 제1 지연시간 차이(t1)와 제2 지연시간 차이(t2)를 감산하여 차이값(t1-t2)을 계산하고, 제3 지연시간 차이(t3)와 제4 지연시간 차이(t4)를 감산하여 차이값(t3-t4)을 계산한다. 차이값들((t1-t2), (t3-t4)) 각각은 아래의 수식으로 표현될 수 있다.That is, the coordinate
다음으로, 좌표 계산부(80)는 차이값(t1-t2)을 제5 지연시간 차이(t5)로 나누고, 차이값(t3-t4)을 제6 지연시간 차이(t6)로 나누어 비율값들((t1-t2)/t5, (t3-t4)/t6)을 계산한다. 비율값들을 계산함으로써 커패시터(C)의 커패시턴스를 제거할 수 있다. 비율값들((t1-t2)/t5, (t3-t4)/t6) 각각은 아래의 수식으로 표현될 수 있다.Next, the coordinate
다음으로, 좌표 계산부(80)는 상기 수식들을 연립하여 저항들(R1A, R1B, R2A, R2B) 각각의 크기를 계산한다. 상기 수식에서 제1 저항(Ra) 및 제2 저항(Rb)의 크기는 설계시 결정되는 값이고, 저항(R1A)과 저항(R1B)의 합(R1A+R1B)은 상부 시트 패드(11) 전체의 저항값으로서 설계시 결정되는 값이고, 저항(R2A)과 저항(R2B)의 합(R2A+R2B)은 하부 시트 패드(12)의 전체 저항값으로서 설계시 결정되는 값이다. 따라서, 상기 설계시 결정되는 값과 상기 수식들을 이용하면 저항들(R1A, R1B, R2A, R2B) 각각의 크기를 알 수 있다.Next, the coordinate
상술한 바와 같이, 저항(R1A)의 크기는 접촉 위치(T)와 상부 시트 패드(11)의 좌측 전극 사이의 거리에 비례하고, 저항(R2B)의 크기는 접촉 위치와 하부 시트 패드(12)의 하측 전극 사이의 거리에 비례한다. 따라서, 좌표 계산부(80)는 저항 들(R1A, R1B, R2A, R2B) 각각의 크기로부터 접촉 위치(T)의 좌표를 계산할 수 있다.As described above, the size of the resistor R1A is proportional to the distance between the contact position T and the left electrode of the
제1 저항(Ra), 제2 저항(Rb), 저항(R1A)과 저항(R1B)의 합, 및 저항(R2A)과 저항(R2B)의 합은 상술한 바와 같이 설계시 결정되는 값이지만, 공정상 또는 다른 이유로 약간의 오차가 발생할 수 있다. 따라서, 본 발명의 입력 장치는 상기 오차를 교정(calibration) 작업을 통해 보정하도록 구성될 수도 있다.The first resistor Ra, the second resistor Rb, the sum of the resistors R1A and R1B, and the sum of the resistors R2A and R2B are values determined at design time as described above. Some errors may occur for process or other reasons. Therefore, the input device of the present invention may be configured to correct the error through a calibration operation.
또한, 본 발명의 입력 장치는 제1 저항(Ra) 및 제2 저항(Rb)을 상부 시트 패드(11) 및 하부 시트 패드(12)와 동일한 ITO 필름을 이용하여 제작함으로써 온도에 따른 저항값의 변화가 상기 수식들에 의해 상쇄되도록 구성될 수도 있다.In addition, the input device of the present invention is produced by using the same ITO film as the first sheet (Ra) and the second sheet (Rb) of the
또한, 좌표 계산부(80)는 제1 내지 제4 지연시간 차이(t1~t4)가 소정의 값 이상일 경우에는 터치되지 않은 상태로 판단하도록 구성될 수 있다.In addition, the coordinate
또한, 상기에서는 설명의 편의상 지연펄스 출력부(71)가 추가 지연을 하지 않는 경우를 예를 들어 설명하였지만, 지연펄스 출력부(71)는 외부로부터 입력되는 제어 신호에 응답하여 상기 제어 신호에 대응하는 시간만큼 지연 노드(A)의 신호(clk_d)를 지연시켜 상기 펄스 신호(pclk_d)를 출력하도록 구성될 수 있다. 상기 제어 신호는 사용자에 의해 입력되도록 구성될 수도 있으며, 입력 장치의 제어부(미도시)로부터 입력되도록 구성될 수도 있다. 이 경우, 지연펄스 출력부(71)에서의 추가 지연 시간을 제어함으로써 터치 패널(10)과 그 아래에 위치한 디스플레이 장치(미도시) 사이의 기생 커패시턴스에 의한 추가 지연을 제거하거나, 추가적으로 수행될 수 있는 교정 작업의 결과를 보상할 수도 있다.In the above description, a case in which the delay
또한, 지연펄스 출력부(71)는 상기 감지 레벨도 외부로부터 입력되는 제어 신호에 응답하여 가변되거나, 히스테리시스(hysteresis) 특성을 가지도록 구성될 수도 있다. 이 경우, 즉, 감지 레벨을 제어하거나, 히스테리시스 특성을 가지도록 함으로써 지연 노드(A)에서 발생될 수 있는 노이즈의 영향을 최소화할 수 있다.In addition, the delay
도 5는 본 발명의 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치의 다른 실시예의 구성을 나타내는 것으로서, 터치 패널(13), 스위치(53), 샘플링 클럭신호 발생부(60), 지연시간 측정부(70), 좌표 계산부(81), 및 지연 소자(90)로 구성되어 있으며, 터치 패널(13)은 상부 시트 패드(14) 및 하부 시트 패드(15)로 구성되어 있다. 또한, 상부 시트 패드(14)는 지연 노드(A)와 연결되고 가장자리에 형성된 출력 전극(141)을 구비하고 있으며, 하부 시트 패드(15)는 모서리에 형성된 제1 내지 제4 전극들(151~154)을 구비하고 있다. 또한, 지연 소자(90)는 지연 노드(A)와 접지 전압 사이에 연결된 커패시터(C)를 구비하여 구성될 수 있다.FIG. 5 shows a configuration of another embodiment of an input device including a resistive touch panel according to the present invention, wherein the
도시하지는 않았지만, 도 5에 나타낸 본 발명의 입력 장치의 다른 실시예는 도 3에 나타낸 것과 유사하게, 제1 스위치(53)와 샘플링 클럭신호 발생부(60) 사이에 연결되는 제1 저항 및 출력 전극(141)과 지연 노드(A) 사이에 연결되는 제2 저항을 추가적으로 구비하도록 구성될 수 있다. 또한, 이 경우, 상기 제1 저항 및 제2 저항은 상부 시트 패드(11) 및 하부 시트 패드(12)와 동일한 물질로 형성될 수 있다.Although not shown, another embodiment of the input device of the present invention shown in FIG. 5 is similar to that shown in FIG. 3, and includes a first resistor and an output connected between the
도 5에 나타낸 블록들 각각의 기능을 설명하면 다음과 같다.The function of each of the blocks shown in FIG. 5 will be described below.
샘플링 클럭신호 발생부(60), 지연시간 측정부(70), 및 지연 소자(90)의 기 능은 도 3에서 설명한 것과 동일하다.The functions of the sampling
터치 패널(13)은 접촉 위치에 따라 접촉 위치와 전극들 사이의 저항의 크기 각각이 가변된다. 상부 시트 패드(14)는 접촉 위치에 따라 접촉 위치와 출력 전극(141) 사이의 저항의 크기가 가변되고, 하부 시트 패드(15)는 접촉 위치에 따라 접촉 위치와 제1 내지 제4 전극들(151~154) 각각의 사이의 저항의 크기 각각이 가변된다.The
스위치(53)는 샘플링 클럭신호 발생부(60)로부터 출력되는 샘플링 클럭 신호(clk)를 하부 시트 패드(15)의 제1 내지 제4 전극(151~154)으로 순차적으로 인가한다.The
좌표 계산부(81)는 지연시간 측정부(70)로부터 출력되는 지연시간 차이(td)를 입력하여 접촉 위치와 하부 시트 패드(15)의 제1 내지 제4 전극(151~154) 각각의 사이의 저항의 크기 각각을 계산함으로써 접촉 위치의 좌표를 계산한다.The coordinate
도 3에서 상술한 바와 같이, 상부 시트 패드(14)와 하부 시트 패드(15)의 위치는 서로 바뀔 수 있다.As described above in FIG. 3, the positions of the
도 6 내지 도 8은 도 5에 나타낸 본 발명의 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치의 다른 실시예의 동작을 설명하기 위한 도면으로서, 도 6은 상부 시트 패드(14)를, 도 7은 하부 시트 패드(15)를, 도 8은 등가회로도를 각각 나타내는 것이다. 도 6 및 도 7에서 T는 접촉 위치를 나타내고, 도 7에서 R1T는 접촉 위치(T)와 전극(151) 사이의 등가 저항을, R2T는 접촉 위치(T)와 전극(152) 사이의 등가 저항을, R3T는 접촉 위치(T)와 전극(153) 사이의 등가 저항을, R4T는 접촉 위 치와 전극(154) 사이의 등가 저항을 각각 나타내고, 도 8에서 Rs는 상부 시트 패드(14)에서 접촉 위치와 전극(141) 사이의 등가 저항을, RiT는 하부 시트 패드(15)에서의 네 개의 저항들(R1T~R4T) 중 하나를 각각 나타낸다. 6 to 8 are views for explaining the operation of another embodiment of the input device having the resistive touch panel of the present invention shown in FIG. 5, FIG. 6 is an
저항들(R1T~R2T) 각각의 크기는 접촉 위치와 네 개의 전극들(151~154) 중 대응하는 전극과의 거리에 비례하며, 저항(Rs)의 크기는 접촉 위치(T)에 따라 달라진다. 즉, 저항(Rs)의 크기는 접촉 위치(T)가 터치 패널(10)의 중앙일 때 가장 큰 값을 가지고, 접촉 위치(T)가 터치 패널(10)의 가장자리로 갈수록 작은 값을 가지게 된다. (저항(Rs)의 크기는 (좌측 가장자리에서 접촉 위치(T)까지의 거리/x축 방향의 전체 거리)를 p라 하고, (하측 가장자리에서 접촉 위치(T)까지의 거리/y축 방향의 전체 거리)를 q라 할 때, (p(1-p)× q(1-q))에 비례한다.)The size of each of the resistors R1T to R2T is proportional to the distance between the contact position and the corresponding one of the four
도 5 및 도 8에 나타낸 지연시간 측정부(70)는 도 4에서 나타낸 것과 동일하게 지연펄스 출력부 및 비교부로 구성될 수 있다.The delay
도 5 내지 도 8을 참고하여 본 발명의 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치의 다른 실시예의 동작을 설명하면 다음과 같다.An operation of another embodiment of an input device including a resistive touch panel according to the present invention will be described with reference to FIGS. 5 to 8 as follows.
스위치(53)는 샘플링 클럭 신호(clk)를 제1 내지 제4 전극들(151~154)로 순차적으로 인가하고, 지연시간 측정부(70)는 각 경우에 대하여 지연 노드(A)의 신호(clk_d)와 샘플링 클럭 신호(clk)의 지연시간 차이들을 측정하여 측정된 상기 지연시간 차이(td)들을 출력한다. 좌표 계산부는 상기 지연시간 차이(td)들을 입력하여 접촉 위치의 좌표(CV)를 계산하여 출력한다.The
도 8에 나타낸 바와 같이, 지연 노드(A)의 신호(clk_d)는 전극(151~154)과 접촉 위치 사이의 저항(RiT)과 접촉 위치(T)와 전극(141) 사이의 저항(Rs)의 합과 커패시터(C)의 커패시턴스에 의해 결정된다. 즉, 스위치(53)가 샘플링 클럭 신호(clk)를 제1 전극(151)으로 인가하는 경우의 지연시간 차이를 제1 지연시간 차이(t1')이라 하고, 스위치(53)가 샘플링 클럭 신호(clk)를 제2 전극(152)으로 인가하는 경우의 지연시간 차이를 제2 지연시간 차이(t2')이라 하고, 스위치(53)가 샘플링 클럭 신호(clk)를 제3 전극(153)으로 인가하는 경우의 지연시간 차이를 제3 지연시간 차이(t3')이라 하고, 스위치(53)가 샘플링 클럭 신호(clk)를 제4 전극(154)으로 인가하는 경우의 지연시간 차이를 제4 지연시간 차이(t4')이라 한다면, 지연시간 측정부(70)에서 측정되는 제1 내지 제4 지연시간 차이들(t1'~t4') 각각은 아래와 같은 수식에 의해 표현될 수 있다.As shown in FIG. 8, the signal clk_d of the delay node A includes the resistance RiT between the
상기 제1 내지 제4 지연시간 차이들(t1'~t4')은 좌표 계산부(81)로 입력된다.The first to fourth delay time differences t1 ′ to t4 ′ are input to the coordinate
좌표 계산부(81)는 상기 제1 내지 제4 지연시간 차이들(t1'~t4') 각각의 차이값를 계산하고, 계산된 상기 차이값을 서로 나누어 줌으로써 저항들(R1T~R4T)의 크기를 계산할 수 있다. 즉, 저항들(R1T~R4T)의 크기는 아래와 같은 수식에 의해 계산될 수 있다.The coordinate
즉, 먼저 좌표 계산부(81)는 입력된 제1 내지 제4 지연시간 차이들(t1'~t4') 각각을 감산하여 차이값들((t1'-t2'), (t1'-t3'), (t1'-t4'), (t2'-t3'), (t2'-t4'), (t3'-t4'))을 계산한다. 계산된 차이값들((t1'-t2'), (t1'-t3'), (t1'-t4'), (t2'-t3'), (t2'-t4'), (t3'-t4')) 각각은 아래의 수식으로 표현될 수 있다.That is, the coordinate
다음으로, 좌표 계산부(81)는 상기 차이값들((t1'-t3'), (t1'-t4'), (t2'-t3'), (t2'-t4'), (t3'-t4')) 각각을 차이값((t1'-t2'))으로 나누어 상기 차이값들 각각의 비율값들(((t1'-t3')/(t1'-t2')), ((t1'-t4')/(t1'-t2')), ((t2'-t3')/(t1'-t2')), ((t2'-t4')/(t1'-t2')), ((t3'-t4')/(t1'-t2')))을 계산한다. 즉, 좌표 계산부(81)는 상기 차이값들((t1'-t2'), (t1'-t3'), (t1'-t4'), (t2'-t3'), (t2'-t4'), (t3'-t4')) 각각을 서로 나누어 줌으로써 커패시트(C)의 커패시턴스 값을 제거할 수 있다. 상기 비율값들 각각은 아래와 같은 수식으로 표현될 수 있다.Next, the coordinate
다음으로, 좌표 계산부(81)는 상기 수식들을 연립하여 풀어 저항들(R1T~R4T) 각각의 크기를 계산하고, 저항들(R1T~R4T) 각각의 크기로부터 접촉 위치(T)의 좌표를 계산한다.Next, the coordinate
접촉 위치(T)의 좌표는 저항들(R1T~R4T) 중 3개의 크기만 계산하면 계산할 수 있다. 다만, 본 발명의 입력 장치의 다른 실시예는 저항들(R1T~R4T) 모두의 크기를 계산함으로써 저항의 크기를 가변시킬 수 있는 온도 등의 영향을 저항들(R1T~R4T)의 비로서 제거하도록 구성될 수도 있다.The coordinate of the contact position T can be calculated by calculating only three sizes of the resistors R1T to R4T. However, another embodiment of the input device of the present invention calculates the size of all of the resistors R1T to R4T to remove the effect of temperature or the like that can vary the size of the resistor as the ratio of the resistors R1T to R4T. It may be configured.
또한, 좌표 계산부(81)는 제1 내지 제4 지연시간 차이(t1'~t4')가 소정의 값 이상인 경우에는 터치되지 않은 것으로 판단하도록 구성될 수 있다.In addition, the coordinate
도 9는 본 발명의 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치의 또다른 실시예를 나타내는 것으로서, 터치 패널(16), 제1 스위치(57), 제2 스위치(58), 샘플링 클럭 신호 발생부(60), 지연시간 측정부(70), 및 좌표 계산부(82)로 구성되어 있으며, 터치 패널(16)은 상부 시트 패드(17) 및 하부 시트 패드(18)로 구성되어 있다.9 illustrates another embodiment of an input device including a resistive touch panel according to the present invention, wherein the
또한, 도 10 및 도 11은 도 9에 나타낸 본 발명의 입력 장치의 또다른 실시예의 터치 패널(16)의 상부 시트 패드(17) 및 하부 시트 패드(18)의 실시예를 각각 나타내는 것이다. 10 and 11 show embodiments of the
도 10 및 도 11에 나타낸 바와 같이 본 발명의 입력 장치의 또다른 실시예의 상부 시트 패드(17)는 x축 방향으로 신장되고, y축 방향으로 배치된 복수개의 제1 터치 패드들(Py1, Py2, ...)을 구비하고, 하부 시트 패드(18)는 y축 방향으로 신장되고, x축 방향으로 배치된 복수개의 제2 터치 패드들(Px1, Px2, ...)을 구비한다. 즉, 도 10에는 상부 시트 패드(17)가 12개의 제1 터치 패드들(Py1, Py2, ...)을 구비하는 경우를 예시하고, 도 11에는 하부 시트 패드(18)가 15개의 제2 터치 패드들(Px1, Px2, ...)을 구비하는 경우를 예시하였으나, 상부 시트 패드(17) 및 하부 시트 패드(18) 각각은 제1 터치 패드들 및 제2 터치 패드들 각각을 필요한 만큼 구비하도록 구성될 수 있다. 예를 들면, 예를 들면, 상부 시트 패드(17)는 하나의 제1 터치 패드만 구비하고, 하부 시트 패드(18)는 2개 또는 그 이상의 제2 터치 패드들을 구비하도록 구성될 수도 있다.As shown in FIGS. 10 and 11, the
도 9 내지 도 11을 참고하여 도 9에 나타낸 블록들 각각의 기능을 설명하면 다음과 같다.A function of each of the blocks shown in FIG. 9 will be described with reference to FIGS. 9 through 11.
샘플링 클럭신호 발생부(60) 및 지연시간 측정부(70)의 기능은 도 3에서 설명한 것과 동일하다. 또한, 지연시간 측정부(70)는 도 4에 나타낸 바와 같이 지연 펄스 출력부(71) 및 비교부(72)로 구성될 수 있다.The functions of the sampling
제1 스위치(57)는 샘플링 클럭 신호 발생부(60)로부터 출력되는 샘플링 클럭 신호(clk)를 상부 시트 패드(17)의 복수개의 좌측 전극들(<a1:an>) 및 하부 시트 패드(18)의 복수개의 하측 전극들(<b1:bm>)로 순차적으로 인가한다. 제2 스위치(58)는 제1 스위치(57)가 상부 시트 패드(17)의 복수개의 좌측 전극들(<a1:an>) 중 하나로 샘플링 클럭 신호(clk)를 인가하는 경우, 하부 시트 패드(18)의 복수개의 상측 전극들(<d1:dm>) 및 복수개의 하측 전극들(<b1:bm>)과 지연 노드(A)를 순차적으로 연결하고, 제1 스위치(58)가 하부 시트 패드(18)의 복수개의 하측 전극들(<b1:bm>) 중 하나로 샘플링 클럭 신호(clk)를 인가하는 경우, 상부 시트 패드(17)의 복수개의 좌측 전극들(<a1:an>) 및 복수개의 우측 전극들(<d1:dm>)과 지연 노드(A)를 순차적으로 연결한다.The
도 9 내지 도 11을 참고하여 본 발명의 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치의 또다른 실시예의 동작을 설명하면 다음과 같다.9 to 11, the operation of another embodiment of the input device including the resistive touch panel according to the present invention will be described.
먼저, 제1 스위치(57)는 상부 시트 패드(17)의 복수개의 좌측 전극들(<a1:an>) 중 하나의 전극(<a1>)으로 샘플링 클럭 신호(clk)를 인가하고, 제2 스위치(58)는 하부 시트 패드(18)의 복수개의 상측 전극들(<d1:dm>) 및 복수개의 하측 전극들(<b1:bm>)과 지연 노드(A)를 순차적으로 연결한다. 또한, 지연시간 측정부(70)는 각각의 경우에 대하여 지연 시간차(td)를 측정하고, 측정된 지연 시간차(td)를 좌표 계산부(82)로 출력한다. 좌표 계산부(82)는 입력된 지연 시간차(td)를 이용하여 저항값들을 계산하고, 계산된 저항값들을 이용하여 접촉 위치의 좌표 를 계산한다. 지연 시간차(td)를 이용하여 저항값들을 계산하는 것 및 계산된 저항값들을 이용하여 접촉 위치의 좌표를 계산하는 것은 도 3 내지 도 4의 설명을 참고하면 쉽게 이해될 것이다. 상기 과정을 제1 스위치(57)가 상부 시트 패드(17)의 복수개의 좌측 전극들(<a1:an>) 중 마지막 전극(<an>)으로 샘플링 클럭 신호(clk)를 인가할 때까지 반복한다.First, the
다음으로, 제1 스위치(57)는 하부 시트 패드(18)의 복수개의 하측 전극들(<b1:bm>) 중 하나의 전극(<b1>)으로 샘플링 클럭 신호를 인가하고, 제2 스위치(58)는 상부 시트 패드의 복수개의 좌측 전극들(<a1:an>) 및 복수개의 우측 전극들(<c1:cn>)과 지연 노드(A)를 순차적으로 연결한다. 또한, 지연 시간 측정부(70)는 각각의 경우에 대하여 지연 시간차(td)를 측정하여 출력하고, 좌표 계산부(82)는 지연 시간차(td)를 이용하여 좌표를 계산한다. 이 과정을 제1 스위치(57)가 하부 시트 패드(18)의 복수개의 하측 전극들(<b1:bm>) 중 마지막 전극(<bm>)으로 샘플링 클럭 신호를 인가할 때까지 반복한다.Next, the
또한, 상술한 바와 같이, 좌표 계산부(82)는 지연시간 차이(td)가 소정의 값 이상인 경우에는 터치되지 않은 상태로 판단하도록 구성될 수 있다.In addition, as described above, the coordinate
즉, 도 9 내지 도 11에 나타낸 본 발명의 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치의 또다른 실시예는 상부 시트 패드(17) 및/또는 하부 시트 패드(18)가 복수개의 터치 패드들을 구비하도록 함으로써 터치 패널에 접촉 위치가 동시에 두 개 이상인 경우에도 감지할 수 있다. 예를 들면, 상부 시트 패드(17)는 하나의 터치 패드를 구비하고, 하부 시트 패드(18)는 두 개의 터치 패드를 구비하는 경우, 접촉 위치가 동시에 두 개인 경우까지 접촉 위치를 검출할 수 있으며, 상부 시트 패드(17) 및 하부 시트 패드(18)가 두 개씩의 터치 패드를 구비하는 경우에는 접촉 위치가 동시에 4개인 경우까지 접촉 위치를 검출할 수 있다.That is, in another embodiment of the input device including the resistive touch panel of the present invention illustrated in FIGS. 9 to 11, the
따라서, 본 발명의 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치는 소모 전력을 최소화할 수 있으며, 고속으로 접촉 위치를 검출하는 것이 가능하다. 또한, 필요에 따라 동시에 두 개 이상의 접촉 위치를 검출하는 것도 가능하다.Therefore, the input device including the resistive touch panel of the present invention can minimize power consumption and detect the contact position at high speed. It is also possible to detect two or more contact positions at the same time as needed.
도 12는 도 3, 도 5, 및 도 9에 나타낸 본 발명의 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치의 샘플링 클럭신호 발생부(60) 및 지연시간 측정부(70)의 다른 실시예를 나타내는 것이다.12 illustrates another embodiment of the sampling
도 12에 나타낸 블록들 각각의 기능을 설명하면 다음과 같다.The function of each of the blocks shown in FIG. 12 is as follows.
샘플링 클럭신호 발생부(65)는 지연시간 측정부(75)로부터 출력되는 제어 코드(code)에 응답하여 출력되는 샘플링 클럭 신호(clk)의 펄스폭을 가변시켜 출력한다.The sampling
지연시간 측정부(75)는 지연 노드(A)의 신호(clk_d)를 입력하여 상기 샘플링 클럭 신호(clk)가 지연 노드(A)를 통해 지연시간 측정부(75)로 전달되는지 여부를 판단하고, 판단 결과에 따라 상기 제어 코드(code)를 가변시켜며, 상기 제어 코드(code)에 대응하는 지연시간 차이(td)를 출력한다.The delay
지연시간 측정부(75)의 신호 검출부(76)는 지연 노드(A)의 신호(clk_d)를 입력하여 상기 샘플링 클럭 신호(clk)가 지연 노드(A)를 통해 전달되는지 여부를 판단하고, 판단 결과에 따라 검출 신호(det)를 출력한다.The
지연시간 측정부(75)의 제어부(77)는 상기 검출 신호(det)에 응답하여 지연 코드(code)를 가변시키고, 지연시간 차이(td)를 출력한다. 즉, 제어부(77)는 상기 샘플링 클럭 신호(clk)가 지연 노드(A)를 통해 전달되는 것(또는 전달되지 않는 것)을 나타내는 상기 검출 신호(det)가 입력될 때까지 지연 코드(code)를 가변시키고, 상기 샘플링 클럭 신호(clk)가 지연 노드(A)를 통해 전달되는 임계치에 대응하는 지연 코드(code)를 검출하여 상기 임계치에 대응하는 지연 코드(code)에 대응하는 지연시간 차이(td)를 출력하도록 구성될 수 있다.The
도 12에 나타낸 샘플링 클럭신호 발생부(65) 및 지연시간 측정부(75)의 다른 실시예를 이용하는 경우의 본 발명의 입력 장치의 동작을 설명하면 다음과 같다.The operation of the input device of the present invention in the case of using another embodiment of the sampling clock
상술한 바와 같이, 샘플링 클럭신호 발생부(65)는 제어 코드(code)에 응답하여 출력되는 샘플링 클럭 신호(clk)의 펄스폭을 가변시킨다. 즉, 샘플링 클럭 신호(clk)는 제어 코드(code)에 대응하는 펄스폭을 가진다.As described above, the sampling
상기 샘플링 클럭 신호(clk)는 터치 패널(10) 및 지연 노드(A)를 거쳐 지연시간 측정부(75)로 입력된다. 상기 샘플링 클럭 신호(clk)가 클럭 신호 형태로 지연시간 측정부(75)로 입력되는지 여부는 샘플링 클럭 신호(clk)의 펄스폭, 접촉 위치에 따라 가변되는 터치 패널(10)의 저항의 크기 및 지연소자(90)(예를 들면, 커패시터(C))의 커패시턴스에 의해 결정된다. 그런데, 이 중 지연소자(90)의 커패시턴스는 고정되어 있고, 터치 패널(10)의 저항의 크기도 접촉 위치에 따라 결정되므로, 결과적으로 샘플링 클럭 신호(clk)가 클럭 신호 형태로 지연시간 측정부(75)로 입력되는지 여부는 샘플링 클럭 신호(clk)의 펄스폭에 의해 결정된다.The sampling clock signal clk is input to the delay
즉, 샘플링 클럭 신호(clk)의 펄스폭이 임계값 이상이면 샘플링 클럭 신호(clk)는 클럭 신호 형태로 지연 노드(A)를 통해 지연시간 측정부(75)로 전달되지만, 임계값 이하이면 터치 패널(10)의 저항 및 지연 소자(90)에 의한 왜곡에 의해 클럭 신호 형태로 전달되지 않는다. 즉, 지연시간 측정부(75)의 신호 검출부(76)는 클럭 신호를 검출할 수 없게 된다. 또한, 상기 임계값은 접촉 위치에 따라 가변되는 터치 패널(10)의 저항의 크기에 대응하는 값이 되며, 또한, 이는 샘플링 클럭 신호(clk)와 지연 노드(A)의 신호(clk_d)의 지연시간의 차이에 대응하는 값이 된다.That is, if the pulse width of the sampling clock signal clk is greater than or equal to the threshold value, the sampling clock signal clk is transmitted to the delay
신호 검출부(76)는 샘플링 클럭 신호(clk)가 클럭 신호 형태로 지연 노드(A)를 통해 전달되는지 여부를 판단하여 그 결과에 따라 검출신호(det)를 출력한다.The
제어부(77)는 상기 검출신호(det)에 응답하여 제어 코드(code)를 가변시키면서 상기 임계값을 검출하고, 상기 임계값, 즉, 샘플링 클럭 신호(clk)의 펄스폭이 상기 임계값이 되게 하는 제어 코드(code)에 대응하는 지연시간 차이(td)를 출력한다. 제어부(77)는 샘플링 클럭 신호(clk)의 펄스폭이 최대값, 또는 일정한 값에서 서서히 감소하도록 제어 코드(code)를 가변시켜면서 상기 임계값을 검출하도록 구성될 수도 있고, 샘플링 클럭 신호(clk)의 펄스폭이 최소값, 또는 일정한 값에서 서서히 증가하도록 제어 코드(code)를 가변시켜면서 상기 임계값을 검출하도록 구성될 수도 있으며, 연속근사(Successive Approximation) 방식을 이용하여 상기 임계값을 검출하도록 구성될 수도 있다.The
이후, 접촉 위치의 좌표를 계산하는 동작은 도 3 내지 도 8의 설명과 동일한 방법으로 수행될 수 있다.Thereafter, the operation of calculating the coordinates of the contact position may be performed in the same manner as described with reference to FIGS. 3 to 8.
즉, 도 12에 나타낸 샘플링 클럭신호 발생부 및 지연시간 검출부의 다른 실시예를 이용하는 경우, 샘플링 클럭신호(clk)의 펄스폭을 가변시킴으로써 샘플링 클럭 신호(clk)와 지연 노드(A)의 지연시간 차이를 검출하고, 상기 지연시간 차이를 이용하여 접촉위치에 따라 가변되는 터치 패널(10)의 저항의 크기를 계산함으로써 접촉위치를 계산할 수 있다.That is, when using another embodiment of the sampling clock signal generator and the delay time detector shown in Fig. 12, the delay time of the sampling clock signal clk and the delay node A is varied by varying the pulse width of the sampling clock signal clk. The contact position can be calculated by detecting the difference and calculating the magnitude of the resistance of the
상기에서는 본 발명의 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although described above with reference to embodiments of the present invention, those skilled in the art can variously modify and change the present invention without departing from the spirit and scope of the invention described in the claims below. I can understand that.
도 1은 종래의 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치의 구성을 나타내는 도면이다.1 is a diagram illustrating a configuration of an input device including a conventional resistive touch panel.
도 2는 도 1에 나타낸 종래의 입력 장치의 동작을 설명하기 위한 등가 회로도이다.FIG. 2 is an equivalent circuit diagram for explaining the operation of the conventional input device shown in FIG.
도 3은 본 발명의 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치의 일실시예의 구성을 나타내는 도면이다.3 is a diagram illustrating a configuration of an embodiment of an input device including a resistive touch panel according to the present invention.
도 4는 도 3에 나타낸 본 발명의 입력 장치의 일실시예의 동작을 설명하기 위한 등가 회로도이다.FIG. 4 is an equivalent circuit diagram for explaining the operation of one embodiment of the input device of the present invention shown in FIG.
도 5는 본 발명의 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치의 다른 실시예의 구성을 나타내는 도면이다.5 is a diagram showing the configuration of another embodiment of an input device including the resistive touch panel of the present invention.
도 6 내지 도 8은 도 5에 나타낸 본 발명의 입력 장치의 다른 실시예의 동작을 설명하기 위한 도면으로서, 도 6은 상부 시트 패드를, 도 7은 하부 시트 패드를, 도 8은 등가 회로도를 각각 나타내는 것이다.6 to 8 are views for explaining the operation of another embodiment of the input device of the present invention shown in Figure 5, Figure 6 is an upper seat pad, Figure 7 is a lower seat pad, Figure 8 is an equivalent circuit diagram To indicate.
도 9는 본 발명의 저항막 방식의 터치 패널을 구비하는 입력 장치의 또다른 실시예의 구성을 나타내는 도면이다.9 is a view showing the configuration of another embodiment of an input device including a resistive touch panel of the present invention.
도 10 및 도 11 각각은 도 9에 나타낸 본 발명의 입력 장치의 또다른 실시예의 터치 패널의 상부 시트 패드 및 하부 시트 패드의 실시예를 각각 나타내는 것이다.10 and 11 each show an embodiment of the upper seat pad and the lower seat pad of the touch panel of another embodiment of the input device of the present invention shown in FIG.
도 12는 도 3, 도 5, 및 도 9에 나타낸 본 발명의 저항막 방식의 터치 패널 을 구비하는 입력 장치의 샘플링 클럭신호 발생부 및 지연시간 측정부의 다른 실시예를 나타내는 것이다.12 illustrates another embodiment of a sampling clock signal generation unit and a delay time measurement unit of an input device including the resistive touch panel of the present invention shown in FIGS. 3, 5, and 9.
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