KR20080109788A - Laser irradiation device - Google Patents

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KR20080109788A
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도시오 이나미
준이치 시다
히데아키 구사마
나오유키 고바야시
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더 재팬 스틸 워크스 엘티디
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Abstract

Provided is a laser irradiation device, which can perform such a position control easily as to move a band-shaped irradiation area at a high speed in the long axis direction. A rotary polygon mirror (2) is rotated at a constant speed. A timing control circuit (8) outputs, on the basis of rotational phase information (Q) from an encoder (7), a trigger (G) at an output timing varying within a predetermined time range. A laser oscillator (1) outputs a laser beam (B1) in response to the trigger (G). The rotary polygon mirror (2) may be rotated once for a time period of mirror times as long as an average time interval, at which the laser oscillator (1) outputs the laser beam (B1) in pulses, so that the rotation can be easily executed. The timing control, in which the laser beam (B1) is outputted in pulses by the laser oscillator (1), is shorter than the average time interval, but can be easily executed, because of no moving part. Thus, the position of a band-shaped irradiation area (4) can be easily moved at a high speed within the predetermined range of the band-shaped irradiation area (4) in the long axis direction. ® KIPO & WIPO 2009

Description

레이저 조사 장치{LASER IRRADIATION DEVICE}Laser irradiation device {LASER IRRADIATION DEVICE}

본 발명은 레이저 조사 장치에 관한 것이며, 더욱 상세하게는 띠 형상 조사 영역을 장축 방향으로 고속으로 움직이는 위치 제어를 용이하게 행할 수 있는 레이저 조사 장치에 관한 것이다.TECHNICAL FIELD The present invention relates to a laser irradiation apparatus, and more particularly, to a laser irradiation apparatus capable of easily performing position control of moving a strip-shaped irradiation region at high speed in the major axis direction.

종래, 띠 형상 조사 영역을 가지는 광선 빔을 피처리기판에 조사(照射)할 때에, 띠 형상 조사 영역의 단축 방향으로 광선 빔을 주사(走査)적으로 이동하는 동시에 띠 형상 조사 영역의 장축 방향으로 띠 형상 조사 영역을 진동시키는 반도체 장치의 제조 방법이 알려져 있다(예를 들면, 특허문헌 1 참조).Conventionally, when irradiating a light beam having a band-shaped irradiation area to a substrate to be processed, the beam beam is scanned in a short axis direction of the band-shaped irradiation area while being in the long axis direction of the band-shaped irradiation area. The manufacturing method of the semiconductor device which vibrates a strip | belt-shaped irradiation area is known (for example, refer patent document 1).

특허문헌 1: 일본국 특허 공개 평04-10216호 공보Patent Document 1: Japanese Patent Application Laid-Open No. 04-10216

상기 종래 기술에서는, 띠 형상 조사 영역을 장축 방향으로 진동시키기 위해서, 피처리기판을 보호 유지하는 XY스테이지 또는 카본·히터를 움직이고 있다.In the above prior art, in order to vibrate the strip-shaped irradiation area in the major axis direction, the XY stage or the carbon heater holding and holding the substrate to be processed is moved.

그러나, XY스테이지 또는 카본·히터는 질량이 크기 때문에, 응답이 늦고, 고속으로 위치 제어하는 것이 어려운 문제점이 있다.However, since the XY stage or the carbon heater has a large mass, there is a problem that the response is slow and it is difficult to control the position at high speed.

그래서, 본 발명의 목적은, 띠 형상 조사 영역을 장축 방향으로 고속으로 움직이는 위치 제어를 용이하게 행할 수 있는 레이저 조사 장치를 제공하는 것에 있다.Then, the objective of this invention is providing the laser irradiation apparatus which can perform the position control which moves a strip | belt-shaped irradiation area | region at high speed in a long axis direction easily.

제 1의 관점에서는, 본 발명은 레이저 빔(B1)을 펄스 출력하는 레이저 발진기(1)와, 상기 레이저 빔(B1)을 반사하는 반사기(2)와, 상기 레이저 빔(B1)이 입사(立射)하는 상기 반사기(2)의 반사면(2b)의 상기 레이저 빔(B1)에 대한 각도(θ) 또는 위치의 변화에 의해 반사 빔(B2)이 움직이는 방향을 장축 방향으로 하는 띠 형상 조사 영역(4)에 상기 반사 빔(B2)을 정형하여 반도체 기판(S)에 조사하는 광학계(3)와, 상기 반도체 기판(S)을 보호 유지하여 상기 띠 형상 조사 영역(4)의 단축 방향으로 이동할 수 있는 이동대(5)와, 상기 반사기(2)의 각도 또는 위치를 바꾸는 반사기 구동 수단(6)과, 띠 형상 조사 영역의 장축 방향의 소정 범위 내에서 띠 형상 조사 영역의 위치를 바꾸기 위해서 상기 레이저 발진기(1)로 레이저 빔(B1)을 펄스 출력하는 타이밍과 상기 반시기 구동 수단(6)으로 상기 반사기(2)의 각도 또는 위치를 바꾸는 타이밍의 조정을 행하는 타이밍 제어 수단(8)을 구비하는 것을 특징으로 하는 레이저 조사 장치(1)를 제공한다.In a first aspect, the present invention provides a laser oscillator 1 that pulses a laser beam B1, a reflector 2 that reflects the laser beam B1, and the laser beam B1 is incident. A strip-shaped irradiation area having the long axis direction in which the reflection beam B2 moves due to a change in the angle θ or the position of the reflection surface 2b of the reflector 2 to the laser beam B1. The optical system 3 for forming the reflective beam B2 at 4) and irradiating the semiconductor substrate S and the semiconductor substrate S may be protected and moved in the short axis direction of the band-shaped irradiation region 4. The movable table 5, the reflector drive means 6 for changing the angle or position of the reflector 2, and the laser to change the position of the strip-shaped irradiation area within a predetermined range of the major axis direction of the strip-shaped irradiation area. Timing of pulse output of the laser beam B1 to the oscillator 1 and the half-time driving number A stage 6 is provided with a timing control means 8 which adjusts the timing which changes the angle or position of the said reflector 2, The laser irradiation apparatus 1 characterized by the above-mentioned.

상기 제 1의 관점에 의한 레이저 조사 장치(100)에서는, 반사기(2)를 움직이지만, 종래 기술에 있어서의 XY스테이지에 상당하는 이동대(5) 또는 종래 기술에 있어서의 카본·히터에 상당하는 레이저 발진기(1)나 광학계(3)에 비해 반사기(2)의 질량이 작기 때문에, 고속으로 움직이는 위치 제어가 용이하다. 그리고 레이저 발진기(1)로 레이저 빔(B1)을 펄스 출력하는 타이밍과 반사기 구동 수단(6)으로 반사기(2)의 각도 또는 위치를 바꾸는 타이밍의 조정을 타이밍 제어 수단(8)으로 행함으로써, 띠 형상 조사 영역의 장축 방향의 소정 범위 내에서 띠 형상 조사 영역의 위치를 바꿀 수 있다.In the laser irradiation apparatus 100 according to the first aspect, the reflector 2 is moved, but the moving table 5 corresponding to the XY stage in the prior art or the carbon heater in the prior art corresponds. Since the mass of the reflector 2 is small compared with the laser oscillator 1 and the optical system 3, position control which moves at high speed is easy. Then, the timing control means 8 adjusts the timing at which the laser oscillator 1 pulses the laser beam B1 and the timing at which the angle or position of the reflector 2 is changed by the reflector drive means 6. The position of the strip | belt-shaped irradiation area | region can be changed within the predetermined range of the major axis direction of the shape irradiation area | region.

제 2의 관점에서는, 본 발명은, 트리거(G)에 따라서 레이저 빔(B1)을 펄스 출력하는 레이저 발진기(1)와, 상기 레이저 빔(B1)을 반사하는 회전 다각형 미러(2)와, 상기 레이저 빔(B1)이 입사하는 상기 회전 다각형 미러(2)의 반사면(2b)에서의 상기 레이저 빔(B1)의 입사각(θ)의 변화에 의해 반사 빔(B2)이 흔들리는 방향을 장축 방향으로 하는 띠 형상 조사 영역(4)에 상기 반사 빔(B2)을 정형하여 반도체 기판(S)에 조사하는 광학계와, 상기 반도체 기판(S)을 보호 유지하여 상기 띠 형상 조사 영역(4)의 단축 방향으로 이동할 수 있는 이동대(5)와, 상기 회전 다각형 미러(2)를 일정 속도로 회전시키는 회전 구동 수단(6)과, 상기 회전 다각형 미러(2)의 회전 위상 정보(Q)를 출력하는 회전 위상 검출 수단(7)과, 상기 회전 위상 정보(Q)에 근거하여 상기 트리거(G)의 출력 타이밍을 소정의 시간 범위 내에서 변화시켜 상기 입사각(θ)을 소정 각도 범위 내에서 변화시키는 타이밍 제어 수단(8)을 구비하는 것을 특징으로 하는 레이저 조사 장치(100)를 제공한다.From a 2nd viewpoint, this invention is the laser oscillator 1 which pulses the laser beam B1 according to the trigger G, the rotating polygon mirror 2 which reflects the said laser beam B1, and the said The direction in which the reflection beam B2 is shaken by the change in the incident angle θ of the laser beam B1 at the reflection surface 2b of the rotating polygon mirror 2 on which the laser beam B1 is incident is in the long axis direction. An optical system for shaping the reflective beam B2 onto the strip irradiation region 4 to irradiate the semiconductor substrate S, and the semiconductor substrate S being protected and held in a short axis direction of the strip irradiation region 4. A movable table 5 capable of moving in a direction, a rotation driving means 6 for rotating the rotating polygon mirror 2 at a constant speed, and a rotation for outputting rotation phase information Q of the rotating polygon mirror 2. Output timing of the trigger G based on the phase detection means 7 and the rotational phase information Q Is changed within a predetermined time range, and provides a laser irradiation device (100), characterized in that it comprises a timing control means (8) for a predetermined angle of incidence to the (θ) varies within the angle range.

상기 제 2의 관점에 의한 레이저 조사 장치(100)에서는, 미러의 각도를 바꾸고 싶은 속도의 미러 수분(數分)의 1의 속도로, 또한 일정한 속도로 회전 다각형 미러(2)를 회전시키면 되기 때문에, 실시가 용이하다. 그리고, 레이저 발진기(1)로 레이저 빔(B1)을 펄스 출력하는 타이밍을 회전 다각형 미러(2)의 회전 위상에 맞춰서 바꾸기 위해 타이밍 조정도 실시가 용이하다. 따라서, 띠 형상 조사 영역의 장축 방향의 소정 범위 내에서 띠 형상 조사 영역의 위치를 고속으로 용이하게 바꿀 수 있다.In the laser irradiation apparatus 100 according to the second aspect, the rotating polygon mirror 2 should be rotated at a speed of 1 of the mirror moisture at a speed at which the angle of the mirror is to be changed and at a constant speed. It is easy to implement. And timing adjustment is also easy to change in order to change the timing which pulse-outputs the laser beam B1 with the laser oscillator 1 according to the rotational phase of the rotating polygon mirror 2. Therefore, the position of the strip-shaped irradiation area can be easily changed at high speed within a predetermined range in the major axis direction of the strip-shaped irradiation area.

본 발명의 레이저 조사 장치에 의하면, 띠 형상 조사 영역을 장축 방향으로 고속으로 움직이는 위치 제어를 용이하게 행할 수 있으므로, 띠 형상 조사 영역의 장축 방향의 레이저 빔의 강도의 변화(variation)나 피처리 기판의 미소한 요철(凹凸)에 기인하는 띠 형상 조사 영역의 길이 방향의 조사의 변화를 적절히 제어할 수 있다.According to the laser irradiation apparatus of the present invention, since the position control of moving the strip-shaped irradiation area at high speed in the major axis direction can be easily performed, the variation of the intensity of the laser beam in the major axis direction of the band-shaped irradiation area or the substrate to be processed is achieved. The change of irradiation of the longitudinal direction of the strip | belt-shaped irradiation area | region resulting from the minute unevenness | corrugation can be suitably controlled.

도 1은, 실시예 1에 관한 레이저 조사 장치의 구성 설명도이다.1 is a diagram for explaining the configuration of a laser irradiation apparatus according to a first embodiment.

도 2는, 실시예 1에 관한 타이밍 제어 회로의 동작을 도시하는 타이밍 챠트이다.2 is a timing chart showing the operation of the timing control circuit according to the first embodiment.

도 3은, 띠 형상 조사 영역의 장축 방향의 위치를 도시하는 상면도이다.3 is a top view illustrating a position in the major axis direction of the strip-shaped irradiation area.

※ 부호의 설명 ※※ Explanation of code ※

1…레이저 발진기One… Laser oscillator

2…회전 다각형 미러2… Rotating polygon mirror

3a…호모지나이저(homogenizer)3a... Homogenizer

3b…미러(mirror)3b... Mirror

3c…렌즈3c... lens

4…띠 형상 조사 영역4… Strip Shape Irradiation Area

5…이동대5... Mobile

6…모터6... motor

7…엔코더(encoder)7... Encoder

8…타이밍 제어 회로8… Timing control circuit

100…레이저 조사 장치100... Laser irradiation device

이하, 도면에 도시하는 실시의 형태에 의해 본 발명을 더욱 상세히 설명한다. 또한 이것에 의해 본 발명이 한정되는 것이 아니다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, this invention is demonstrated further in detail by embodiment shown to drawing. In addition, this invention is not limited by this.

(실시예 1)(Example 1)

도 1은, 실시예 1에 관한 레이저 조사 장치(100)를 도시하는 구성 설명도이다.FIG. 1: is a structural explanatory drawing which shows the laser irradiation apparatus 100 which concerns on Example 1. FIG.

이 레이저 조사 장치(100)는, 트리거(G)에 따라서 레이저 빔(B1)을 펄스 출력하는 레이저 발진기(1)와, 레이저 빔(B1)을 반사하는 회전 다각형 미러(2)와, 레이저 빔(B2)이 입사하는 회전 다각형 미러(2)의 반사면(2b)에서의 레이저 빔(B1)의 입사각(θ)의 변화에 의해 반사 빔(B2)이 흔들리는 방향을 장축 방향으로 하는 띠 형상 조사 영역(4)에 반사 빔(B2)을 정형하여 반도체 기판(S)에 조사하기 위한 호모지나이저(3a), 미러(3b) 및 렌즈(3c)와, 반도체 기판(S)을 보호 유지하여 띠 형상 조사 영역(4)의 단축 방향으로 이동할 수 있는 이동대(5)와, 회전 다각형 미러(2)를 일정 속도로 회전시키는 모터(6)와, 회전 다각형 미러(2)의 회전 위상 정보(Q)를 출력하는 엔코더(7)와, 회전 위상 정보(Q)에 근거하여 트리거(G)의 출력 타이밍을 소정의 시간 범위 내에서 변화시키는 타이밍 제어 회로(8)를 구비하고 있다.The laser irradiation apparatus 100 includes a laser oscillator 1 that pulses the laser beam B1 in response to the trigger G, a rotating polygon mirror 2 that reflects the laser beam B1, and a laser beam ( A strip-shaped irradiation area in which the reflection beam B2 is shaken in a long axis direction by a change in the incident angle θ of the laser beam B1 on the reflection surface 2b of the rotating polygon mirror 2 on which B2 is incident. The homogenizer 3a, the mirror 3b, the lens 3c, and the semiconductor substrate S for protecting the semiconductor substrate S by shaping the reflective beam B2 on the upper surface of the wafer 4 are band-shaped. Rotational stage 5 which can move in the short axis direction of the irradiation area 4, the motor 6 which rotates the rotating polygonal mirror 2 at a constant speed, and the rotational phase information Q of the rotating polygonal mirror 2 And timing for changing the output timing of the trigger (G) within a predetermined time range based on the encoder (7) for outputting the And a control circuit (8).

회전 다각형 미러(2)의 회전축(2a)은 연직 방향이고, 회전 다각형 미러(2)는 수평면 내에서 회전한다. 레이저 빔(B1) 및 반사 빔(B2)은 수평 방향이다. 한편, 반도체 기판(S)은 수평하게 놓여져 있다. 이 때문에, 호모지나이저(3a)로 장축 방향 및 단축 방향으로 강도를 균일화한 반사 빔(B1)의 방향을 미러(3b)에 의해 수평 방향에서 연직 방향으로 바꾸고 있다. 그리반달형 렌즈(3c)로 단축 방향에 대해 집광하여 반도체 기판(S)에 조사하고 있다.The rotation axis 2a of the rotation polygon mirror 2 is in the vertical direction, and the rotation polygon mirror 2 rotates in the horizontal plane. The laser beam B1 and the reflection beam B2 are in the horizontal direction. On the other hand, the semiconductor substrate S is laid horizontally. For this reason, the direction of the reflection beam B1 which equalized the intensity | strength in the long axis direction and the short axis direction with the homogenizer 3a is changed from the horizontal direction to the vertical direction by the mirror 3b. So that the light-converging lens for the short axis direction as bandalhyeong (3c) are irradiated to the semiconductor substrate (S).

도 2는, 타이밍 제어 회로(8)의 동작을 설명하는 타이밍 챠트이다.2 is a timing chart illustrating the operation of the timing control circuit 8.

타이밍 제어 회로(8)는, 회전 위상 정보(Q)에 근거하여, 입사각(θ)이 45°가 되는 타이밍을 나타내는 45°펄스(Q')를 생성한다.The timing control circuit 8 generates a 45 ° pulse Q 'indicating the timing at which the incident angle θ becomes 45 ° based on the rotational phase information Q. As shown in FIG.

이 45°펄스(Q')의 주기 τ는 회전 다각형 미러(2)의 1회전 시간을 회전 다각형 미러(2)의 미러 수로 나눈 값이 된다.The period τ of this 45 ° pulse Q 'is a value obtained by dividing one rotation time of the rotating polygon mirror 2 by the number of mirrors of the rotating polygon mirror 2.

또한, 주기 τ는 레이저 발진기(1)로 레이저 빔(B1)을 펄스 출력하는 평균 시간 간격에 상당한다. 또 레이저 발진기(1)가 레이저 빔(B1)을 펄스 출력하는 시 간, 즉 펄스 폭은 주기 τ보다 짧다.In addition, the period τ corresponds to an average time interval at which the laser oscillator 1 pulses the laser beam B1. The time when the laser oscillator 1 pulses the laser beam B1, that is, the pulse width is shorter than the period τ.

띠 형상 조사 영역(4)을 장축 방향으로 움직이고 싶은 위치의 수를 「M+1」로 할 때, 타이밍 제어 회로(8)는 0에서 M까지의 정수의 하나(m)를 랜덤으로 발생하고, 45°펄스(Q')보다「τ+(m-M/2)δ/(M/2)」경과시에 트리거(G)를 출력한다.When the number of positions where the band-shaped irradiation area 4 is to be moved in the major axis direction is "M + 1", the timing control circuit 8 randomly generates one of the integers m from 0 to M, The trigger G is output when "τ + (mM / 2) δ / (M / 2)" elapses from the 45 DEG pulse Q '.

시간 δ의 사이에 반사면(2b)이 회전하는 각도를 α로 할 때, 입사각(θ)은 「45°-(m-M/2)α/(M/2)」가 된다.When the angle at which the reflecting surface 2b is rotated between time δ is α, the incident angle θ becomes “45 °-(m-M / 2) α / (M / 2)”.

도 2는 M=8의 예이고, 45°펄스(Q')보다「τ+(m-4)δ/4」경과시에 트리거(G)를 출력하고, 입사각(θ)은 「45°-(m-4)α/4」가 된다.2 is an example of M = 8, and outputs the trigger G when "τ + (m-4) δ / 4" elapses from 45 ° pulse Q ', and the incident angle θ is "45 °- (m-4) α / 4 ".

도 3은, 띠 형상 조사 영역(4)의 장축 방향의 움직임을 도시하는 상면도이다.3 is a top view illustrating the movement in the major axis direction of the strip-shaped irradiation area 4.

(a) ~ (i)는, M=8로 한 경우의 m=0~m=8에 대응하고 있다.(a) to (i) correspond to m = 0 to m = 8 when M = 8.

띠 형상 조사 영역(4)은, 장축 방향 조사 범위(R) 내의 9개소의 위치에 랜덤으로 이동하게 된다.The strip | belt-shaped irradiation area | region 4 moves to 9 positions in the long-axis direction irradiation range R at random.

띠 형상 조사 영역(4)의 장축 방향의 길이를 L로 할 때, 띠 형상 조사 영역(4)을「(R-L)/2」만 움직이는 입사각(θ)의 변화분이 α에 상당한다.When the length in the major axis direction of the strip-shaped irradiation area 4 is set to L, the change in the incident angle θ that moves only the band (R-L) / 2 to the strip-shaped irradiation area 4 corresponds to α.

실시예 1의 레이저 조사 장치(100)에 의하면, 주기 τ의 미러 수배의 시간으로 회전 다각형 미러(2)를 1회전 시키면 되기 때문에, 실시가 용이하다. 또 레이저 발진기(1)로 레이저 빔(B1)을 펄스 출력하는 시간 간격은 최단 「τ-δ」가 되지만, 가동부분이 없어지기 때문에, 이것도 실시가 용이하다. 따라서, 띠 형상 조사 영역(4)의 장축 방향의 소정 범위(R) 내에서 띠 형상 조사 영역(4)의 위치를 고 속으로 움직일 수 있다.According to the laser irradiation apparatus 100 of Example 1, since the rotating polygon mirror 2 needs only to be rotated one time by the mirror multiple times of period (tau), implementation is easy. Moreover, although the time interval which pulse-outputs the laser beam B1 with the laser oscillator 1 becomes shortest "(tau)-(delta)", since a movable part disappears, this also is easy to implement. Therefore, the position of the strip | belt-shaped irradiation area | region 4 can be moved at high speed in the predetermined range R of the major axis direction of the strip | belt-shaped irradiation area | region 4 at high speed.

(실시예 2)(Example 2)

45°펄스(Q')보다 「τ-δ」경과후부터「τ+δ」경과 후까지의 시간 범위 내에서 랜덤으로 트리거(G)를 출력해도 된다.The trigger G may be randomly output within the time range from the elapse of "τ-δ" to the elapse of "τ + δ" after the 45 ° pulse Q '.

(실시예 3)(Example 3)

회전 다각형 미러(2) 대신에, 레이저 빔(B1)의 방향으로 왕복 진동하는 미러를 이용하여도 된다. 이 경우, 진동 위상에 맞춰서 트리거(G)의 출력 타이밍을 변화시킨다.Instead of the rotating polygon mirror 2, a mirror which reciprocates in the direction of the laser beam B1 may be used. In this case, the output timing of the trigger G is changed in accordance with the vibration phase.

(실시예 4)(Example 4)

회전 다각형 미러(2) 대신에, 소정 각도 범위에서 요동 진동하는 갈버노 미러(galvano-mirro)를 이용하여도 된다. 이 경우, 갈바노 미러의 요동 위상에 맞춰서 트리거(G)의 출력 타이밍을 변화시킨다.Instead of the rotating polygon mirror 2, a galvano-mirro oscillating in a predetermined angle range may be used. In this case, the output timing of the trigger G is changed in accordance with the rocking phase of the galvano mirror.

(실시예 5)(Example 5)

회전 다각형 미러(2) 대신에 갈바노 미러를 이용하고, 트리거(G)를 일정 주기로 출력하고, 트리거(G) 마다 갈바노 미러의 각도를 소정 각도 범위에서 랜덤으로 변화시켜도 된다.Instead of the rotating polygon mirror 2, a galvano mirror may be used, the trigger G may be output at regular intervals, and the angle of the galvano mirror may be changed randomly in a predetermined angle range for each trigger G.

본 발명의 레이저 조사 방법 및 레이저 조사 장치는, 예를 들면, 반도체층의 제작이나 활성화 처리에 이용할 수 있다.The laser irradiation method and the laser irradiation apparatus of the present invention can be used, for example, for fabrication or activation processing of a semiconductor layer.

Claims (2)

레이저 빔(B1)을 펄스 출력하는 레이저 발진기(1)와, 상기 레이저 빔(B1)을 반사하는 반사기(2)와, 상기 레이저 빔(B1)이 입사하는 상기 반사기(2)의 반사면(2b)의 상기 레이저 빔(B1)에 대한 각도(θ) 또는 위치의 변화에 의해 반사 빔(B2)이 움직이는 방향을 장축 방향으로 하는 띠 형상 조사 영역(4)에 상기 반사 빔(B2)을 정형하여 반도체 기판(S)에 조사하는 광학계(3)와, 상기 반도체 기판(S)을 보호 유지하여 상기 띠 형상 조사 영역(4)의 단축 방향으로 이동할 수 있는 이동대(5)와, 상기 반사기(2)의 각도 또는 위치를 바꾸는 반사기 구동 수단(6)과, 띠 형상 조사 영역의 장축 방향의 소정 범위내에서 띠 형상 조사 영역의 위치를 바꾸기 위해서 상기 레이저 발진기(1)로 레이저 빔(B1)을 펄스 출력하는 타이밍과 상기 반사기 구동 수단(6)으로 상기 반사기(2)의 각도 또는 위치를 바꾸는 타이밍의 조정을 행하는 타이밍 제어 수단(8)을 구비하는 것을 특징으로 하는 레이저 조사 장치(1).A laser oscillator 1 that pulses a laser beam B1, a reflector 2 that reflects the laser beam B1, and a reflecting surface 2b of the reflector 2 on which the laser beam B1 is incident. The reflection beam B2 is shaped in the band-shaped irradiation area 4 having the long axis direction in which the reflection beam B2 moves due to a change in the angle θ or the position of the laser beam B1. An optical system 3 for irradiating the semiconductor substrate S, a movable table 5 which can protect the semiconductor substrate S and move in a short axis direction of the strip-shaped irradiation region 4, and the reflector 2 The laser beam B1 is pulsed by the laser oscillator 1 in order to change the position of the band-shaped irradiation area within a predetermined range of the long axis direction of the band-shaped irradiation area and the reflector driving means 6 for changing the angle or position of Timing to output and the angle of the reflector 2 to the reflector driving means 6 or The laser irradiation apparatus 1 characterized by including the timing control means 8 which adjusts the timing which changes a position. 트리거(G)에 따라서 레이저 빔(B1)을 펄스 출력하는 레이저 발진기(1)와, 상기 레이저 빔(B1)을 반사하는 회전 다각형 미러(2)와, 상기 레이저 빔(B1)이 입사하는 상기 회전 다각형 미러(2)와, 상기 레이저 빔(B1)의 입사각(θ)의 변화에 의해 반사 빔(B2)이 흔들리는 방향을 장축 방향으로 하는 띠 형상 조사 영역(4)에 상 기 반사 빔(B2)을 정형하여 반도체 기판(S)에 조사하는 광학계(3)와, 상기 반도체 기판(S)을 보호 유지하여 상기 띠 형상 조사 영역(4)의 단축 방향으로 이동할 수 있는 이동대(5)와, 상기 회전 다각형 미러(2)를 일정 속도로 회전시키는 회전 구동 수단(6)과, 상기 회전 다각형 미러(2)의 회전 위상 정보(Q)를 출력하는 회전 위상 검출 수단(7)과, 상기 회전 위상 정보(Q)에 근거하여 상기 트리거(G)의 출력 타이밍을 소정의 시간 범우 내에서 변화시켜서 상기 입사각(θ)을 소정 각도 범위 내에서 변화시키는 타이밍 제어 수단(8)을 구비하는 것을 특징으로 하는 레이저 조사 장치(100).The laser oscillator 1 which pulses the laser beam B1 according to the trigger G, the rotating polygon mirror 2 which reflects the laser beam B1, and the rotation in which the laser beam B1 is incident. The reflection beam B2 is applied to the polygonal mirror 2 and the strip-shaped irradiation area 4 having the long axis direction in which the reflection beam B2 is shaken due to the change in the incident angle θ of the laser beam B1. An optical system (3) for shaping and irradiating the semiconductor substrate (S), the movable table (5) capable of moving in the short axis direction of the strip-shaped irradiation region (4) by protecting and holding the semiconductor substrate (S), and Rotation drive means 6 for rotating the rotation polygon mirror 2 at a constant speed, rotation phase detection means 7 for outputting rotation phase information Q of the rotation polygon mirror 2, and the rotation phase information Based on (Q), the output timing of the trigger G is changed within a predetermined time range, and the The laser irradiation apparatus (100) characterized by including timing control means (8) which changes the incident angle (θ) within a predetermined angle range.
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