KR20080104285A - Plotting device and plotting method - Google Patents

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Abstract

According to beam trace information on a laser beam applied to a photosensitive material (12), a mask data creation unit (82) creates mask data for making the number of exposure points in each area of the photosensitive material (12) is identical or reducing a difference between the numbers of exposure points in the respective regions. Raster image data read out from an image data storage unit (76) is converted into mirror data by a mirror data creation unit (78). Next, the mirror data is converted into a frame data by a frame data creation unit (80). The frame data is subjected to a masking process by the mask data created by the mask data creation unit (82). An image is exposed/recorded on to the photosensitive material (12) by driving an exposure head (30). ® KIPO & WIPO 2009

Description

묘화 장치 및 묘화 방법{PLOTTING DEVICE AND PLOTTING METHOD}Writing device and drawing method {PLOTTING DEVICE AND PLOTTING METHOD}

본 발명은 복수개의 묘화 소자를 갖는 묘화 헤드를 묘화면의 주사 방향으로 상대 이동시키며, 상기 묘화 소자를 묘화 데이터에 따라 제어함으로써 묘화를 행하는 묘화 장치 및 묘화 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a drawing apparatus and a drawing method for performing a drawing by relatively moving a drawing head having a plurality of drawing elements in the scanning direction of a drawing screen, and controlling the drawing elements in accordance with drawing data.

종래부터 묘화 장치의 일례로서 디지털 마이크로 미러 디바이스(DMD) 등의 공간 광변조 소자를 이용하여 화상 데이터에 따라 변조된 광 빔으로 화상 노광을 행하는 노광 장치가 여러가지로 제안되어 있다. DMD는 제어 신호에 따라 반사면의 각도를 변화시키는 다수의 마이크로 미러를 실리콘 등의 반도체 기판 상에 이차원상으로 배열한 미러 디바이스이며, 이 DMD를 구비한 노광 헤드를 노광면을 따른 주사 방향으로 상대 이동시킴으로써 화상을 노광면에 신속하게 기록할 수 있다.Background Art Conventionally, as an example of a drawing apparatus, various exposure apparatuses which perform image exposure with a light beam modulated in accordance with image data using a spatial light modulator such as a digital micro mirror device (DMD) have been proposed. The DMD is a mirror device in which a plurality of micro mirrors for changing the angle of the reflecting surface in accordance with a control signal are arranged two-dimensionally on a semiconductor substrate such as silicon, and the exposure head having the DMD is disposed relative to the scanning direction along the exposure surface. By moving, the image can be quickly recorded on the exposure surface.

그러나, 단일의 노광 헤드를 이용하여 충분한 크기의 노광 면적을 커버하는 것은 곤란하다.However, it is difficult to cover an exposure area of sufficient size using a single exposure head.

그래서, 복수개의 노광 헤드를 주사 방향과 직교하는 방향으로 배열해서 구성한 노광 장치가 제안되어 있다(일본 특허 공개 2004-9595호 공보 참조). 그리고, 이 노광 장치에서는 주사 방향과 직교하는 방향에 대한 해상도를 향상시키기 위해 마이크로 미러가 격자상으로 배열된 각 DMD를 주사 방향에 대하여 경사지게 하여 배치하고 있다. 이 때, DMD의 연결 부분이 서로 보완되도록 인접하는 DMD에 의한 노광 범위가 중첩되도록 설정하고 있다.Therefore, an exposure apparatus in which a plurality of exposure heads are arranged in a direction orthogonal to the scanning direction is proposed (see Japanese Patent Laid-Open No. 2004-9595). In this exposure apparatus, in order to improve the resolution in the direction orthogonal to the scanning direction, the DMDs in which the micromirrors are arranged in a lattice form are inclined with respect to the scanning direction. At this time, it is set so that the exposure range by adjacent DMD may overlap so that the connection part of DMD may complement each other.

그러나, 노광 헤드간의 상대 위치나 상대 설치 각도의 미세 조정은 매우 어려워 이상적인 상대 위치 및 상대 설치 각도로부터 약간 어긋나는 일이 많고, 이들에 기인해서 노광 얼룩이 발생될 우려가 있다. 또한, DMD에 광 빔을 인도하는 광학계의 각종 수차, DMD 자체의 왜곡, 개개의 마이크로 미러의 위치 어긋남 등의 영향에 의해서도 노광 얼룩이 발생된다.However, fine adjustment of the relative position and relative installation angle between exposure heads is very difficult, and it is a little shifted from an ideal relative position and relative installation angle in many cases, and there exists a possibility that exposure unevenness may arise due to these. In addition, exposure unevenness is also generated by the effects of various aberrations of the optical system that guides the light beam to the DMD, distortion of the DMD itself, and positional shift of individual micromirrors.

이러한 문제는 노광 장치에 한정되는 것은 아니고, 예컨대, 잉크를 묘화면을 향해 토출해서 묘화를 행하는 잉크젯 기록 헤드를 구비한 프린터 등에 있어서도 생길 수 있다.Such a problem is not limited to the exposure apparatus, but may also occur in a printer or the like having, for example, an ink jet recording head which draws ink by drawing it toward a drawing screen.

본 발명의 목적은 묘화 헤드의 설정 상태, 묘화면에 대한 주사 상태 등에 기인하는 묘화 얼룩의 발생을 매우 용이하게 회피할 수 있음과 아울러, 화상을 고정밀도로 묘화할 수 있는 묘화 장치 및 묘화 방법을 제공하는 것에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a drawing apparatus and a drawing method capable of very easily avoiding generation of drawing spots resulting from a setting state of a drawing head, a scanning state of a drawing screen, etc., and capable of drawing images with high accuracy. It is in doing it.

본 발명의 묘화 장치 및 묘화 방법에 의하면, 묘화면을 복수개의 영역으로 분할하고, 각 영역에 묘화되는 묘화점의 수의 영역간에서의 차, 또는, 각 영역에 부여되는 묘화 에너지의 영역간에서의 차가 작아지도록 묘화 소자를 선택적으로 비묘화 상태로 하는 마스크 데이터를 설정함으로써 묘화 헤드의 경사 각도, 복수의 묘화 헤드간의 상대 위치 등의 설정 상태, 광학계의 각종 수차, 개개의 묘화 소자의 위치 어긋남, 주사 상태의 변동 등에 기인하는 묘화 얼룩의 발생을 매우 용이하게 회피하여 소망하는 화상을 고정밀도로 묘화할 수 있다.According to the drawing device and the drawing method of the present invention, the drawing screen is divided into a plurality of areas, and the difference between the areas of the number of drawing points to be written in each area, or the difference between the areas of the drawing energy applied to each area. By setting mask data for selectively rendering the drawing element so as to be small, setting states such as the inclination angle of the drawing head, the relative position between the plurality of drawing heads, various aberrations of the optical system, the positional shift of the individual drawing elements, and the scanning state It is possible to avoid the occurrence of the drawing spots due to the fluctuation of the ink very easily and to draw a desired image with high precision.

첨부한 도면과 협동하는 다음의 바람직한 실시형태예의 설명으로부터 상기의 목적 및 다른 목적, 특징 및 이점이 보다 명확해질 것이다.The foregoing and other objects, features, and advantages will become more apparent from the following description of the preferred embodiments, which cooperate with the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 묘화 장치의 일실시형태인 노광 장치의 외관을 나타내는 사시도이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a perspective view which shows the external appearance of the exposure apparatus which is one Embodiment of the drawing apparatus of this invention.

도 2는 도 1의 노광 장치의 스캐너의 구성을 나타내는 사시도이다.FIG. 2 is a perspective view illustrating a configuration of a scanner of the exposure apparatus of FIG. 1.

도 3A는 감광 재료의 노광면 상에 형성되는 노광 완료 영역을 나타내는 평면도이다. 도 3B는 각 노광 헤드에 의한 노광 영역의 배열을 나타내는 평면도이다.3A is a plan view showing an exposed-completed area formed on an exposed surface of a photosensitive material. 3B is a plan view showing the arrangement of the exposure areas by the respective exposure heads.

도 4는 도 1의 노광 장치의 노광 헤드의 개략적인 구성을 나타내는 사시도이다.4 is a perspective view illustrating a schematic configuration of an exposure head of the exposure apparatus of FIG. 1.

도 5A는 도 1의 노광 장치의 노광 헤드의 상세한 구성을 나타내는 상면도이다. 도 5B는 도 1의 노광 장치의 노광 헤드의 상세한 구성을 나타내는 측면도이다.5A is a top view illustrating a detailed configuration of an exposure head of the exposure apparatus of FIG. 1. 5B is a side view illustrating a detailed configuration of an exposure head of the exposure apparatus of FIG. 1.

도 6은 도 1의 노광 장치의 DMD의 구성을 나타내는 부분 확대도이다.FIG. 6 is a partially enlarged view illustrating a configuration of a DMD of the exposure apparatus of FIG. 1.

도 7A는 DMD의 온 상태의 동작을 설명하기 위한 사시도이다. 도 7B는 오프 상태의 동작을 설명하기 위한 사시도이다.7A is a perspective view for explaining the operation of the DMD in an on state. 7B is a perspective view for explaining the operation in the off state.

도 8은 파이버 어레이 광원의 구성을 나타내는 사시도이다.8 is a perspective view showing the configuration of a fiber array light source.

도 9는 파이버 어레이 광원의 레이저 출사부에 있어서의 발광점의 배열을 나타내는 정면도이다.Fig. 9 is a front view showing the arrangement of light emitting points in the laser emitting portion of the fiber array light source.

도 10은 도 1에 나타내는 노광 장치의 제어 회로 블록도이다.FIG. 10 is a control circuit block diagram of the exposure apparatus shown in FIG. 1.

도 11은 도 1에 나타내는 노광 장치에 있어서의 처리 플로우차트이다.FIG. 11 is a processing flowchart in the exposure apparatus shown in FIG. 1.

도 12는 1개의 DMD에 의한 노광 영역과 대응하는 슬릿의 위치 관계를 나타낸 상면도이다.Fig. 12 is a top view showing the positional relationship of the slits corresponding to the exposure regions by one DMD.

도 13은 노광면 상의 광점의 위치를 슬릿을 이용하여 측정하는 방법을 설명하기 위한 상면도이다.It is an upper side figure for demonstrating the method of measuring the position of the light spot on an exposure surface using a slit.

도 14는 DMD에 의한 직선상의 빔 궤적과, 감광 재료에 설정한 집계 영역의 관계 설명도이다.Fig. 14 is an explanatory diagram showing the relationship between a linear beam trajectory by DMD and an aggregation region set in the photosensitive material.

도 15는 도 14에 나타내는 관계로부터 구한 노광점 수 히스토그램의 설명도이다.It is explanatory drawing of the histogram of the number of exposure points calculated | required from the relationship shown in FIG.

도 16은 도 15에 나타내는 노광점 수 히스토그램을 균일화하기 위해 설정한 마스크 데이터의 설명도이다.FIG. 16 is an explanatory diagram of mask data set for uniformizing the histogram of the exposure point number shown in FIG. 15.

도 17은 도 15에 나타내는 노광점 수 히스토그램을 균일화하기 위해 설정한 마스크 데이터의 설명도이다.FIG. 17 is an explanatory diagram of mask data set for uniformizing the histogram of the exposure point number shown in FIG. 15. FIG.

도 18은 DMD에 의한 사행(蛇行) 상태의 빔 궤적과, 감광 재료에 설정한 집계 영역의 관계 설명도이다.Fig. 18 is an explanatory diagram illustrating the relationship between the beam trajectory in a meandering state by the DMD and the aggregation region set in the photosensitive material.

도 19는 도 18에 나타내는 관계로부터 구한 노광점 수 히스토그램의 설명도이다.FIG. 19 is an explanatory diagram of an exposure point number histogram obtained from the relationship shown in FIG. 18.

도 20은 도 18에 나타내는 관계로부터 구한 노광점 수 히스토그램의 설명도이다.20 is an explanatory diagram of an exposure point number histogram obtained from the relationship shown in FIG. 18.

도 21은 도 18에 나타내는 관계로부터 구한 노광점 수 히스토그램의 설명도 이다.21 is an explanatory diagram of an exposure point number histogram obtained from the relationship shown in FIG. 18.

도 22는 도 18에 나타내는 관계로부터 구한 노광점 수 히스토그램의 설명도이다.It is explanatory drawing of the histogram of the number of exposure points calculated | required from the relationship shown in FIG.

도 23은 도 19~도 22에 나타내는 노광점 수 히스토그램을 균일화하기 위해 설정한 마스크 데이터의 설명도이다.FIG. 23 is an explanatory diagram of mask data set in order to uniformize the histogram of the number of exposure points shown in FIGS. 19 to 22.

도 24는 도 19~도 22에 나타내는 노광점 수 히스토그램을 균일화하기 위해 설정한 마스크 데이터의 설명도이다.FIG. 24 is an explanatory diagram of mask data set for uniformizing the histogram of the number of exposure points shown in FIGS. 19 to 22.

도 25는 래스터 화상 데이터와 DMD를 구성하는 마이크로 미러의 관계 설명도이다.25 is an explanatory diagram illustrating the relationship between raster image data and micromirrors that constitute a DMD.

도 26은 미러 데이터의 설명도이다.26 is an explanatory diagram of mirror data.

도 27은 프레임 데이터의 설명도이다.27 is an explanatory diagram of frame data.

도 28은 프레임 데이터에 대한 마스킹 처리의 설명도이다.28 is an explanatory diagram of a masking process for frame data.

본 실시형태에 따른 노광 장치(10)는, 도 1에 나타내는 바와 같이, 시트 형상의 감광 재료(12)가 점착된 기판을 표면에 흡착해서 유지하는 평판 형상의 이동 스테이지(14)를 구비하고 있다. 4개의 다리부(16)에 지지된 두꺼운 판형상의 설치대(18)의 상면에는 스테이지 이동 방향을 따라 연장된 2개의 가이드(20)가 설치되어 있다. 이동 스테이지(14)는 그 길이방향이 스테이지 이동 방향을 향하도록 배치됨과 아울러, 가이드(20)에 의해 왕복 이동할 수 있게 지지되어 있다. 또한, 이 노광 장치(10)에는 이동 스테이지(14)를 가이드(20)를 따라 구동하는 스테이지 구동 장치(도시 생략)가 설치되어 있다.As shown in FIG. 1, the exposure apparatus 10 which concerns on this embodiment is equipped with the flat-shaped moving stage 14 which adsorb | sucks and hold | maintains the board | substrate with which the sheet-shaped photosensitive material 12 adhered to the surface. . Two guides 20 extending along the stage moving direction are provided on the upper surface of the thick plate-shaped mounting table 18 supported by the four leg portions 16. The movement stage 14 is arrange | positioned so that the longitudinal direction may face a stage movement direction, and is supported by the guide 20 so that reciprocation is possible. In addition, the exposure apparatus 10 is provided with a stage driving device (not shown) for driving the moving stage 14 along the guide 20.

설치대(18)의 중앙부에는 이동 스테이지(14)의 이동 경로를 걸치도록 문 형상의 게이트(22)가 설치되어 있다. 게이트(22)의 단부 각각은 설치대(18)의 양측면에 고정되어 있다. 이 게이트(22)를 사이에 두고 한쪽측에는 스캐너(24)가 설치되고, 다른쪽측에는 설치대(18)에 대한 감광 재료(12)의 위치를 검출하는 복수개(예컨대, 2개)의 CCD 카메라(26)가 설치되어 있다. 스캐너(24) 및 CCD 카메라(26)는 게이트(22)에 각각 부착되어 이동 스테이지(14)의 이동 경로의 상방에 고정 배치되어 있다. 또한, 스캐너(24) 및 CCD 카메라(26)는 후술하는 제어 회로에 접속되어 있다. 여기서, 설명을 위해 이동 스테이지(14)의 표면과 평행한 평면 내에, 도 1에 나타내는 바와 같이, 서로 직교하는 X방향 및 Y방향을 규정한다.The gate-shaped gate 22 is provided in the center part of the mounting stand 18 so that the movement path of the movement stage 14 may be covered. Each end of the gate 22 is fixed to both sides of the mounting table 18. A scanner 24 is provided on one side with the gate 22 interposed therebetween, and a plurality of (for example, two) CCD cameras 26 for detecting the position of the photosensitive material 12 with respect to the mounting table 18 on the other side. ) Is installed. The scanner 24 and the CCD camera 26 are attached to the gate 22, respectively, and are fixedly arranged above the movement path of the movement stage 14. In addition, the scanner 24 and the CCD camera 26 are connected to the control circuit mentioned later. Here, for the purpose of explanation, in the plane parallel to the surface of the moving stage 14, as shown in FIG. 1, the X direction and the Y direction orthogonal to each other are defined.

이동 스테이지(14)의 주사 방향을 따라 상류측(이하, 단지 「상류측」이라고 하는 경우가 있다.)의 끝 가장자리부에는 -X방향을 향해 개방되는 「<」형상으로 형성된 슬릿(28)이 동일한 간격으로 10개 형성되어 있다. 각 슬릿(28)은 상류측에 위치하는 슬릿(28a)과 하류측에 위치하는 슬릿(28b)으로 이루어져 있다. 슬릿(28a)과 슬릿(28b)은 서로 직교함과 아울러, X방향에 대해서 슬릿(28a)은 -45도, 슬릿(28b)은 +45도의 각도를 갖고 있다. 이동 스테이지(14) 내부의 각 슬릿(28)의 하방의 위치에는 각각 단일 셀형의 후술하는 광 검출기가 갖추어져 있다.A slit 28 formed in a "<" shape opening toward the -X direction is provided at the end edge portion of the upstream side (hereinafter may be referred to simply as "upstream side") along the scanning direction of the moving stage 14. Ten are formed at equal intervals. Each slit 28 is composed of a slit 28a located on the upstream side and a slit 28b located on the downstream side. The slits 28a and the slits 28b are perpendicular to each other, and the slits 28a have an angle of -45 degrees and the slits 28b have an angle of +45 degrees with respect to the X direction. In the position below each slit 28 in the movement stage 14, the single-cell type photodetector mentioned later is equipped, respectively.

스캐너(24)는, 도 2 및 도 3B에 나타내는 바와 같이, 2행 5열의 대략 매트릭스 형상으로 배열된 10개의 노광 헤드(30)를 구비하고 있다. 또한, 이하에 있어서, m행의 n열째에 배열된 개개의 노광 헤드(30)를 나타내는 경우에는 노광 헤드(30mn)로 표기한다.The scanner 24 is equipped with ten exposure heads 30 arranged in substantially matrix form of 2 rows 5 columns as shown to FIG. 2 and FIG. 3B. In addition, below, when showing the individual exposure head 30 arrange | positioned at the nth column of m rows, it expresses with the exposure head 30mn .

각 노광 헤드(30)는 후술하는 내부의 디지털 마이크로 미러 디바이스(DMD)(36)의 소자 열방향이 화살표 X방향과 소정의 설정 경사 각도(θ)를 이루도록 스캐너(24)에 부착되어 있다. 따라서, 각 노광 헤드(30)에 의한 노광 영역(32)은 주사 방향에 대해서 경사진 직사각형상의 영역이 된다. 이동 스테이지(14)의 이동에 따라 감광 재료(12)에는 노광 헤드(30)마다 띠형상의 노광 완료 영역(34)이 형성된다. 또한, 이하에 있어서 m행의 n열째에 배열된 개개의 노광 헤드(30)에 의한 노광 영역(32)을 나타내는 경우에는 노광 영역(32mn)으로 표기한다.Each exposure head 30 is attached to the scanner 24 so that the element column direction of the internal digital micromirror device (DMD) 36 which will be described later forms an arrow X direction and a predetermined set inclination angle θ. Therefore, the exposure area 32 by each exposure head 30 becomes a rectangular area inclined with respect to a scanning direction. As the movement stage 14 moves, a strip-shaped exposure completed area 34 is formed in the photosensitive material 12 for each of the exposure heads 30. In addition, below, when it shows the exposure area | region 32 by the individual exposure heads 30 arranged in the nth column of m rows, it expresses as exposure area | region 32mn .

또한, 도 3A 및 도 3B에 나타내는 바와 같이, 띠형상의 노광 완료 영역(34) 각각이 인접하는 노광 완료 영역(34)과 부분적으로 겹치도록 라인상으로 배열된 각 행의 노광 헤드(30) 각각은 그 배열 방향으로 소정 간격(노광 영역(32)의 긴 변의 자연수배, 본 실시형태에서는 2배) 어긋나게 하여 배치되어 있다. 이 때문에, 1행째의 노광 영역(3211)과 노광 영역(3212) 사이의 노광할 수 없는 부분은 2행째의 노광 영역(3221)에 의해 노광하는 것이 가능하다.3A and 3B, each of the exposure heads 30 in each row arranged in a line so that each of the stripe-shaped exposed areas 34 partially overlaps with the adjacent exposed areas 34, respectively. Are arranged so as to be shifted in the arrangement direction by a predetermined interval (natural arrangement of the long sides of the exposure area 32, twice in this embodiment). For this reason, can not be exposed between the parts of the first row of the exposure area (32 11) and the exposed area (32 12) can be exposed by exposure area (32 21) of the second row.

또한, 각 노광 헤드(30)의 중심 위치는 상기의 10개의 슬릿(28) 위치와 대략 일치시켜져 있다. 또한, 각 슬릿(28)의 크기는 대응하는 노광 헤드(30)에 의한 노광 영역(32)의 폭을 충분히 덮을 수 있는 크기로 되어 있다.In addition, the center position of each exposure head 30 is made to correspond substantially with the said 10 slit 28 positions. In addition, the size of each slit 28 is a size which can fully cover the width | variety of the exposure area | region 32 by the corresponding exposure head 30. As shown in FIG.

노광 헤드(30) 각각은, 도 4, 도 5A, 도 5B에 나타내는 바와 같이, 입사된 광을 화상 데이터에 따라 노광 영역(32)마다 변조하는 공간 광변조 소자로서, 미국 텍사스ㆍ인스트루먼트사제의 DMD(36)를 구비하고 있다. DMD(36)는 입력된 화상 데이터에 기초하여 각 마이크로 미러의 반사면의 각도가 제어된다.As shown in FIGS. 4, 5A, and 5B, each of the exposure heads 30 is a spatial light modulator for modulating the incident light for each of the exposure regions 32 in accordance with image data, and is a DMD manufactured by Texas Instruments Inc., USA. (36) is provided. The angle of the reflecting surface of each micromirror is controlled on the DMD 36 based on the input image data.

도 4에 나타내는 바와 같이, DMD(36)의 광 입사측에는 광파이버의 출사단부(발광점)가 노광 영역(32)의 장변방향과 일치하는 방향을 따라 일렬로 배열된 레이저 출사부를 구비한 파이버 어레이 광원(38), 파이버 어레이 광원(38)으로부터 출사된 레이저 광을 보정해서 DMD(36) 상에 집광시키는 렌즈계(40), 이 렌즈계(40)를 투과한 레이저 광을 DMD(36)를 향해서 반사하는 미러(42)가 이 순서로 배치되어 있다. 또한, 도 4에서는 렌즈계(40)를 개략적으로 나타내고 있다.As shown in FIG. 4, the fiber array light source provided with the laser emission part arrange | positioned in the line in the light incident side of the DMD 36 along the direction which the exit end part (light emission point) of an optical fiber matches with the long side direction of the exposure area | region 32 (38), a lens system 40 for correcting laser light emitted from the fiber array light source 38 and condensing on the DMD 36, and reflecting the laser light transmitted through the lens system 40 toward the DMD 36; The mirrors 42 are arranged in this order. 4 schematically shows the lens system 40.

렌즈계(40)는, 도 5A, 도 5B에 상세하게 나타내는 바와 같이, 파이버 어레이 광원(38)으로부터 출사된 레이저 광을 평행 광화하는 1쌍의 조합 렌즈(44), 평행 광화된 레이저 광의 광량 분포가 균일해지도록 보정하는 1쌍의 조합 렌즈(46), 및 광량 분포가 보정된 레이저 광을 DMD(36) 상에 집광하는 집광 렌즈(48)로 구성되어 있다.As shown in detail in FIGS. 5A and 5B, the lens system 40 has a light amount distribution of a pair of combination lenses 44 for parallelizing the laser light emitted from the fiber array light source 38, and the parallelized laser light. It consists of a pair of combination lens 46 which correct | amends so that it may become uniform, and the condensing lens 48 which condenses the laser light with which light quantity distribution was corrected on DMD36.

또한, DMD(36)의 광반사측에는 DMD(36)에서 반사된 레이저 광을 감광 재료(12)의 노광면 상에 결상하는 렌즈계(50)가 배치되어 있다. 렌즈계(50)는 DMD(36)와 감광 재료(12)의 노광면이 공역의 관계가 되도록 배치된 2장의 렌즈(52 및 54)로 이루어진다.On the light reflection side of the DMD 36, a lens system 50 for imaging the laser light reflected by the DMD 36 on the exposure surface of the photosensitive material 12 is disposed. The lens system 50 is composed of two lenses 52 and 54 which are arranged such that the exposure surface of the DMD 36 and the photosensitive material 12 are in conjugated relationship.

본 실시형태에서는, 파이버 어레이 광원(38)으로부터 출사된 레이저 광은 실질적으로 5배로 확대된 후, DMD(36) 상의 각 마이크로 미러로부터의 광선이 상기 렌즈계(50)에 의해 약 5㎛로 스로틀되도록 설정되어 있다.In this embodiment, the laser light emitted from the fiber array light source 38 is substantially enlarged five times, so that light from each micromirror on the DMD 36 is throttled by the lens system 50 to about 5 mu m. It is set.

렌즈계(50)와 감광 재료(12) 사이에는 1쌍의 쐐기형 프리즘(53a,53b)이 배치되어 있다. 한쪽의 쐐기형 프리즘(53b)은 피에조 소자(55)에 의해 다른쪽의 쐐기형 프리즘(53a)에 대해서 레이저 광의 광축과 직교하는 방향으로 변위 가능하게 구성되어 있다. 쐐기형 프리즘(53a,53b)의 상대적인 위치 관계를 피에조 소자(55)에 의해 변경함으로써 레이저 광의 감광 재료(12)에 대한 초점 위치를 조정할 수 있다.A pair of wedge-shaped prisms 53a and 53b are disposed between the lens system 50 and the photosensitive material 12. One wedge-shaped prism 53b is configured to be displaceable by the piezoelectric element 55 in a direction orthogonal to the optical axis of the laser light with respect to the other wedge-shaped prism 53a. By changing the relative positional relationship of the wedge-shaped prisms 53a and 53b by means of the piezo element 55, the focal position of the laser light with respect to the photosensitive material 12 can be adjusted.

DMD(36)는, 도 6에 나타내는 바와 같이, SRAM셀(메모리 셀)(56) 상에 묘화 소자를 구성하는 다수의 마이크로 미러(58)가 격자상으로 배열되어 이루어지는 미러 디바이스이다. 각 마이크로 미러(58)는 지주에 지지되어 있고, 그 표면에는 알루미늄 등의 반사율이 높은 재료가 증착되어 있다. 또한, 본 실시형태에서는, 각 마이크로 미러(58)의 반사율은 90% 이상이며, 그 배열 피치는 세로방향, 가로방향 모두 13.7㎛이다. SRAM 셀(56)은 힌지 및 요크를 포함하는 지주를 통해서 통상의 반도체 메모리의 제조라인에서 제조되는 실리콘 게이트의 CMOS인 것이고, 전체는 모놀리식(일체형)으로 구성되어 있다.As shown in FIG. 6, the DMD 36 is a mirror device in which a plurality of micro mirrors 58 constituting a drawing element are arranged in a lattice form on an SRAM cell (memory cell) 56. Each micromirror 58 is supported by the support | pillar, and the material with high reflectivity, such as aluminum, is deposited on the surface. In addition, in this embodiment, the reflectance of each micromirror 58 is 90% or more, and the arrangement pitch is 13.7 micrometers in both a vertical direction and a horizontal direction. The SRAM cell 56 is a CMOS of a silicon gate fabricated in a conventional semiconductor memory manufacturing line through a strut including a hinge and a yoke, and the whole is monolithic (integrated).

DMD(36)의 SRAM셀(56)에 소망하는 이차원 패턴을 구성하는 각 점의 농도를 2진수로 표현한 화상 신호가 기록되면, 지주에 지지된 각 마이크로 미러(58)가 대각선을 중심으로 해서 DMD(36)가 배치된 기판측에 대하여 ±α도(예컨대, ±10도) 중 어느 하나로 경사진다. 도 7A는 마이크로 미러(58)가 온 상태인 +α도로 경사진 상태를 나타내고, 도 7B는 마이크로 미러(58)가 오프 상태인 -α도로 경사진 상태를 나타낸다. 따라서, 화상 데이터에 따라 DMD(36)의 각 픽셀에 있어서의 마이크로 미 러(58)의 경사를 도 6에 나타내는 바와 같이 제어함으로써 DMD(36)에 입사한 레이저 광(B)은 각각의 마이크로 미러(58)의 경사 방향으로 반사된다. 또한, 도 6에 DMD(36)의 일부를 확대하여 각 마이크로 미러(58)가 +α°또는 -α°로 제어되어 있는 상태의 일례를 나타낸다.When an image signal expressing the density of each point constituting the desired two-dimensional pattern in binary is recorded in the SRAM cell 56 of the DMD 36, each micromirror 58 supported on the post is centered on a diagonal line. It is inclined at any one of ± α degrees (for example, ± 10 degrees) with respect to the substrate side on which 36 is disposed. FIG. 7A shows a state inclined at + α degree in which the micromirror 58 is on, and FIG. 7B shows a state inclined at -α degree in which the micromirror 58 is in the off state. Therefore, by controlling the inclination of the micromirror 58 in each pixel of the DMD 36 in accordance with the image data as shown in FIG. 6, the laser light B incident on the DMD 36 is each micromirror. It is reflected in the inclination direction of 58. 6 shows an example of a state in which a part of the DMD 36 is enlarged and each micromirror 58 is controlled at + α degrees or -α degrees.

파이버 어레이 광원(38)은, 도 8에 나타내는 바와 같이, 복수개(예컨대, 14개)의 레이저 모듈(60)을 구비하고 있고, 각 레이저 모듈(60)에는 멀티 모드 광 파이버(62)의 일단이 결합되어 있다. 멀티 모드 광 파이버(62)의 타단에는 멀티 모드 광 파이버(62)보다 작은 클래드 지름을 갖는 멀티 모드 광 파이버(64)가 결합되어 있다. 도 9에 상세하게 나타내는 바와 같이, 멀티 모드 광 파이버(64)의 멀티 모드 광 파이버(62)와 반대측의 단부는 주사 방향과 직교하는 방향을 따라 7개 나열되고, 그것이 2열로 배열되어 레이저 출사부(66)가 구성되어 있다.As shown in FIG. 8, the fiber array light source 38 includes a plurality of (eg, 14) laser modules 60, and each laser module 60 has one end of the multi-mode optical fiber 62. Are combined. The other end of the multi-mode optical fiber 62 is coupled to a multi-mode optical fiber 64 having a clad diameter smaller than that of the multi-mode optical fiber 62. As shown in detail in FIG. 9, seven ends of the multi-mode optical fiber 64 opposite to the multi-mode optical fiber 62 are arranged along a direction orthogonal to the scanning direction, and they are arranged in two rows so that the laser output unit 66 is comprised.

멀티 모드 광 파이버(64)의 단부로 구성되는 레이저 출사부(66)는, 도 9에 나타내는 바와 같이, 표면이 평탄한 2장의 지지판(68)에 끼워넣어져 고정되어 있다. 또한, 멀티 모드 광 파이버(64)의 광 출사 단부면에는 그 보호를 위해서 유리 등의 투명한 보호판이 배치되는 것이 바람직하다. 멀티 모드 광 파이버(64)의 광 출사 단부면은 광밀도가 높기 때문에 집진되기 쉽고 열화되기 쉽지만, 상술한 바와 같은 보호판을 배치함으로써 끝면으로의 진애의 부착을 방지하고, 또한 열화를 지연시킬 수 있다.As shown in FIG. 9, the laser output part 66 comprised by the edge part of the multi-mode optical fiber 64 is inserted and fixed to two support plates 68 with a flat surface. In addition, it is preferable that a transparent protective plate such as glass is disposed on the light exit end surface of the multi-mode optical fiber 64 for protection thereof. Although the light exit end face of the multi-mode optical fiber 64 is high in light density, it is easy to be collected and deteriorated because of high light density, but by arranging the protective plate as described above, it is possible to prevent dust from adhering to the end face and delay the deterioration. .

도 10은 노광 장치(10)의 제어 회로(70)를 중심으로 한 요부 구성 블록도이다. CAD 장치(72)는 감광 재료(12)에 노광 기록하기 위한 이차원 화상을 벡터 데이 터로서 작성한다. 래스터 이미지 프로세서 서버(RIP 서버)(74)는 CAD 장치(72)로부터 공급된 벡터 데이터를 비트맵 데이터인 래스터 화상 데이터로 변환하고, 필요에 따라 압축해서 노광 장치(10)에 공급한다.FIG. 10 is a block diagram showing the main components of the exposure apparatus 10 centered on the control circuit 70. The CAD device 72 creates a two-dimensional image for exposing and recording the photosensitive material 12 as vector data. The raster image processor server (RIP server) 74 converts the vector data supplied from the CAD device 72 into raster image data which is bitmap data, compresses it as necessary, and supplies it to the exposure apparatus 10.

제어 회로(70)는 RIP 서버(74)로부터 공급된 래스터 화상 데이터를 기억하는 화상 데이터 기억부(76)와, 화상 데이터 기억부(76)로부터 판독한 래스터 화상 데이터로부터 DMD(36)를 구성하는 마이크로 미러(58)마다의 시계열 데이터인 미러 데이터를 작성하는 미러 데이터 작성부(78)와, 미러 데이터로부터 DMD(36)를 구성하는 마이크로 미러(58)의 배열을 따른 프레임 데이터를 작성하는 프레임 데이터 작성부(80)와, DMD(36)의 설정 상태, 감광 재료(12)의 반송 상태 등에 따라 DMD(36)를 구성하는 마이크로 미러(58)의 일부를 비구동 상태로 하기 위한 마스크 데이터를 작성하는 마스크 데이터 작성부(82)(묘화점 수 산출부)와, 마스크 데이터에 의해 마스킹된 프레임 데이터를 따라 DMD(36)를 구동하고, 감광 재료(12)에 소망하는 이차원 화상을 노광 기록하는 노광 헤드(30)를 구비한다.The control circuit 70 configures the DMD 36 from the image data storage unit 76 storing raster image data supplied from the RIP server 74 and the raster image data read from the image data storage unit 76. Frame data for creating frame data along the arrangement of the mirror data creating unit 78 for creating mirror data, which is time series data for each micromirror 58, and the micromirrors 58 constituting the DMD 36 from the mirror data. Create mask data for making a part of the micromirrors 58 constituting the DMD 36 into a non-driven state according to the creation unit 80 and the set state of the DMD 36, the conveyed state of the photosensitive material 12, and the like. Exposure which drives the DMD 36 along the mask data creation part 82 (drawing point number calculation part) to be made, and the frame data masked by the mask data, and exposes and writes the desired two-dimensional image to the photosensitive material 12. Sphere Head 30 Compared.

또한, 제어 회로(70)는 설치대(18)에 대한 DMD(36)의 각 마이크로 미러(58)의 배치 정보를 취득하는 미러 배치 정보 취득부(84)(묘화점 위치 산출부)와, 이동 스테이지(14)에 설치된 감광 재료(12)의 배치, 화살표 Y방향으로의 반송에 의해 생기는 감광 재료(12)의 사행 상태, 감광 재료(12)의 압축, 신장 등에 의한 변형 등을 얼라인먼트 정보로서 취득하는 얼라인먼트 정보 취득부(86)와, 미러 배치 정보 및 얼라인먼트 정보에 기초하여 감광 재료(12)에 각 노광점을 형성하는 레이저 광(B)에 의한 빔 궤적 정보를 작성하는 빔 궤적 정보 작성부(88)를 구비한다.The control circuit 70 also includes a mirror arrangement information acquisition unit 84 (drawing point position calculation unit) for acquiring arrangement information of each micromirror 58 of the DMD 36 with respect to the mounting table 18, and a moving stage. Acquiring the meandering state of the photosensitive material 12 caused by the arrangement of the photosensitive material 12 provided in the (14), the conveyance in the arrow Y direction, the deformation of the photosensitive material 12 by compression, stretching, and the like as alignment information. Beam trajectory information creating unit 88 for creating beam trajectory information by laser light B for forming each exposure point in photosensitive material 12 based on alignment information acquisition unit 86 and mirror arrangement information and alignment information. ).

또한, 미러 배치 정보는 이동 스테이지(14)에 형성된 슬릿(28)을 통과한 레이저 광(B)을 광 검출기(90)에 의해 검출하고, 그 때의 이동 스테이지(14)의 위치로부터 얻을 수 있다. 또한, 얼라인먼트 정보는 CCD 카메라(26)를 이용하여 감광 재료(12)를 촬상하거나, 또는, 감광 재료(12)가 점착되어 있는 기판에 형성된 얼라인먼트 마크를 촬상하는 것으로 얻어진다.In addition, the mirror arrangement information can be detected from the position of the movement stage 14 at that time by detecting the laser beam B passing through the slit 28 formed in the movement stage 14 by the photodetector 90. . In addition, alignment information is obtained by imaging the photosensitive material 12 using the CCD camera 26, or imaging the alignment mark formed in the board | substrate to which the photosensitive material 12 adhere | attached.

미러 데이터 작성부(78)는 빔 궤적 정보 작성부(88)에 의해 작성된 빔 궤적 정보를 따라 화상 데이터 기억부(76)에 기억된 화상 데이터로부터 미러 데이터를 작성한다.The mirror data creation unit 78 creates mirror data from the image data stored in the image data storage unit 76 along the beam trajectory information created by the beam trajectory information creation unit 88.

마스크 데이터 작성부(82)는 인코더(92)에 의해 검출한 감광 재료(12)의 주사 위치 정보를 주사 위치 정보 취득부(94)에 의해 취득하고, 그 주사 위치 정보와, 빔 궤적 정보 작성부(88)에 의해 작성된 빔 궤적 정보를 따라 마스크 데이터를 작성한다. 또한, 마스크 데이터 작성부(82)(묘화 에너지 산출부)는 DMD(36)를 구성하는 각 마이크로 미러(58)로부터의 레이저 광(B)의 광량을 광량 검출기(95)(묘화 에너지 취득부)에 의해 검출하고, 그 광량에 기초하여 마스크 데이터를 작성하는 것도 가능하다.The mask data generating unit 82 acquires the scanning position information of the photosensitive material 12 detected by the encoder 92 by the scanning position information obtaining unit 94, and the scanning position information and the beam trajectory information generating unit. Mask data is created in accordance with the beam trajectory information created by (88). In addition, the mask data creation unit 82 (drawing energy calculation unit) measures the light amount of the laser light B from each of the micromirrors 58 constituting the DMD 36 with a light amount detector 95 (drawing energy obtaining unit). Can be detected and mask data can be created based on the amount of light.

마스크 데이터 작성부(82)에 의해 작성된 마스크 데이터는 후술하는 영역마다의 마스크 데이터로서 마스크 데이터 기억부(96)에 기억된다. 또한, 마스크 데이터 기억부(96)에 기억된 마스크 데이터는 마스크 데이터 선택부(98)에 의해 주사 위치 정보 취득부(94)로부터의 주사 위치 정보에 따라 선택되고, 마스킹 처리부(99)에 공급된다. 마스킹 처리부(99)는 프레임 데이터 작성부(80)로부터 공급되 는 프레임 데이터에 대해서 마스크 데이터 선택부(98)로부터 공급되는 마스크 데이터에 의해 마스킹 처리를 행하고, 노광 헤드(30)에 공급한다.The mask data created by the mask data creating unit 82 is stored in the mask data storage unit 96 as mask data for each region described later. The mask data stored in the mask data storage unit 96 is selected by the mask data selection unit 98 in accordance with the scanning position information from the scanning position information acquisition unit 94 and supplied to the masking processing unit 99. . The masking processing unit 99 performs masking processing on the frame data supplied from the frame data creating unit 80 by the mask data supplied from the mask data selecting unit 98 and supplies the mask data to the exposure head 30.

본 실시형태의 노광 장치(10)는 기본적으로는 이상과 같이 구성되는 것이며, 이어서, 그 동작 및 작용 효과에 대해 도 11에 나타내는 플로우차트에 기초하여 설명한다.The exposure apparatus 10 of this embodiment is comprised as mentioned above fundamentally, Next, the operation | movement and an effect are demonstrated based on the flowchart shown in FIG.

우선, 감광 재료(12)가 점착된 기판을 이동 스테이지(14)의 소정 위치에 셋팅한다(스텝S1).First, the board | substrate with which the photosensitive material 12 was stuck is set to the predetermined position of the moving stage 14 (step S1).

다음으로, 이동 스테이지(14)를 도 1의 스캐너(24)측으로 이동시키면서 CCD 카메라(26)에 의해 감광 재료(12)를 촬상하고, 얼라인먼트 정보 취득부(86)에 의해 얼라인먼트 정보를 취득한다(스텝S2). 이 경우, 얼라인먼트 정보는 예컨대 감광 재료(12)의 에지 부분, 또는, 감광 재료(12)가 점착된 기판에 형성되어 있는 얼라인먼트 마크를 CCD 카메라(26)로 판독하고, 인코더(92)를 통해서 주사 위치 정보 취득부(94)에 의해 취득한 감광 재료(12)의 주사 위치에 대한 에지 부분 또는 얼라인먼트 마크의 위치 정보로서 구할 수 있다. 또한, 이 얼라인먼트 정보에는 감광 재료(12)를 반송하는 이동 스테이지(14)가 설치대(18)에 대해서 사행하여 이동하는 것에 의한 사행 정보도 포함된다.Next, the photosensitive material 12 is imaged by the CCD camera 26 while moving the moving stage 14 to the scanner 24 side in FIG. 1, and the alignment information acquisition unit 86 acquires the alignment information ( Step S2). In this case, alignment information reads the alignment mark formed in the edge part of the photosensitive material 12, or the board | substrate to which the photosensitive material 12 adhered, with the CCD camera 26, and scans through the encoder 92. It can obtain | require as position information of the edge part or alignment mark with respect to the scanning position of the photosensitive material 12 acquired by the positional information acquisition part 94. The alignment information also includes meandering information caused by the moving stage 14 carrying the photosensitive material 12 meandering relative to the mounting table 18.

이어서, 이동 스테이지(14)에 형성한 슬릿(28)을 스캐너(24)의 하부로 이동시킨 후, 각 노광 헤드(30)를 구성하는 DMD(36)를 제어하고, 각 DMD(36)의 마이크로 미러(58)를 통해서 레이저 광(B)을 슬릿(28)에 인도함으로써 각 마이크로 미러(58)의 설치대(18)에 대한 미러 배치 정보를 취득한다(스텝S3).Subsequently, after moving the slit 28 formed in the movement stage 14 to the lower part of the scanner 24, the DMD 36 which comprises each exposure head 30 is controlled, and the micro of each DMD 36 is carried out. By guiding the laser light B to the slit 28 through the mirror 58, mirror arrangement information for the mounting table 18 of each micromirror 58 is acquired (step S3).

도 12 및 도 13을 이용하여 슬릿(28) 및 광 검출기(90)에 의해 각 마이크로 미러(58)의 미러 배치 정보를 취득하는 방법을 구체적으로 설명한다. 또한, 이하의 설명에 있어서 노광 영역(32)에 있어서의 제 m 행, 제 n 열의 마이크로 미러(58)에 의한 광점을 P(m,n)로 표기하는 것으로 한다.A method of acquiring mirror arrangement information of each micromirror 58 by the slit 28 and the photodetector 90 will be described in detail with reference to FIGS. 12 and 13. In addition, in the following description, the light spot by the micromirror 58 of the mth row and the nth column in the exposure area 32 shall be described as P (m, n).

도 12는 2개의 DMD(36)의 노광 영역(3212 및 3221)과, 대응하는 슬릿(28)의 위치 관계를 나타낸 상면도이다. 이미 서술한 바와 같이, 슬릿(28)의 크기는 노광 영역(32)의 폭을 충분히 덮을 수 있는 크기로 되어 있다.FIG. 12 is a top view showing the positional relationship between the exposure areas 32 12 and 32 21 of the two DMDs 36 and the corresponding slits 28. As described above, the size of the slit 28 is a size that can sufficiently cover the width of the exposure area 32.

도 13은 일례로서, 노광 영역(3221)의 광점(P(256,512))의 위치를 검출할 때의 검출 방법을 설명한 상면도이다. 우선, 광점(P(256,512))을 점등시킨 상태에서 이동 스테이지(14)를 천천히 이동시켜 슬릿(28)을 Y축방향을 따라 상대 이동시키고, 광점(P(256,512))이 상류측의 슬릿(28a)과 하류측의 슬릿(28b) 사이에 오는 임의의 위치에 슬릿(28)을 위치시킨다. 이 때의 슬릿(28a)과 슬릿(28b)의 교점의 좌표를 (X0,Y0)으로 한다. 이 좌표(X0,Y0)의 값은 이동 스테이지(14)에 주어진 구동신호가 나타내는 상기의 위치까지의 이동 스테이지(14)의 이동 거리(예컨대, 인코더(92)를 통해서 주사 위치 정보 취득부(94)에 의해 취득할 수 있다.), 및, 이미 알고 있는 슬릿(28)의 X방향 위치로부터 결정되고, 기록된다.FIG. 13 is a top view illustrating a detection method when detecting the position of the light spots P (256, 512) of the exposure area 32 21 as an example. First, the moving stage 14 is moved slowly while the light spots P (256, 512) are turned on, and the slit 28 is relatively moved along the Y-axis direction, and the light spots P (256, 512) move upstream of the slit ( The slit 28 is positioned at an arbitrary position coming between 28a) and the downstream slit 28b. The coordinate of the intersection of the slit 28a and the slit 28b at this time is set to (X0, Y0). The value of these coordinates (X0, Y0) is the movement distance of the movement stage 14 to the above position indicated by the drive signal given to the movement stage 14 (for example, the scanning position information acquisition unit 94 through the encoder 92). ), And the X-direction position of the known slit 28 is recorded and recorded.

이어서, 이동 스테이지(14)를 이동시키고, 슬릿(28)을 Y축을 따라 도 13에 있어서의 우측방향으로 상대 이동시킨다. 그리고, 도 13에 있어서 2점 쇄선으로 나타내는 바와 같이, 광점(P(256,512))의 광이 좌측의 슬릿(28b)을 통과하여 광 검출 기(90)에서 검출된 곳에서 이동 스테이지(14)를 정지시킨다. 이 때의 슬릿(28a)과 슬릿(28b)의 교점의 좌표를 (X0,Y1)로서 기록한다.Next, the moving stage 14 is moved, and the slit 28 is relatively moved along the Y axis in the right direction in FIG. 13. And as shown by the dashed-dotted line in FIG. 13, the movement stage 14 is moved in the place where the light of the light spot P (256,512) passed through the slit 28b on the left side, and was detected by the photodetector 90. FIG. Stop it. The coordinates of the intersections of the slit 28a and the slit 28b at this time are recorded as (X0, Y1).

이번에는 이동 스테이지(14)를 반대방향으로 이동시키고, 슬릿(28)을 Y축을 따라 도 13에 있어서의 좌측방향으로 상대 이동시킨다. 그리고, 도 13에 있어서 2점 쇄선으로 나타내는 바와 같이, 광점(P(256,512))의 광이 우측의 슬릿(28a)을 통과하여 광 검출기(90)에서 검출된 곳에서 이동 스테이지(14)를 정지시킨다. 이 때의 슬릿(28a)과 슬릿(28b)의 교점의 좌표를 (X0,Y2)로서 기록한다.This time, the moving stage 14 is moved in the opposite direction, and the slit 28 is relatively moved along the Y axis in the left direction in FIG. And as shown by the dashed-dotted line in FIG. 13, the movement stage 14 is stopped in the place where the light of the light spot P (256,512) passed through the slit 28a of the right side and was detected by the photodetector 90. FIG. Let's do it. The coordinates of the intersections of the slit 28a and the slit 28b at this time are recorded as (X0, Y2).

이상의 측정 결과로부터 광점(P(256,512))의 좌표(X,Y)를 X=X0+(Y1-Y2)/2, Y=(Y1+Y2)/2의 계산에 의해 결정한다. 모든 노광 헤드(30)를 구성하는 DMD(36)의 각 마이크로 미러(58)에 의해 형성되는 광점(P(m,n))의 좌표인 미러 배치 정보가 마찬가지로 해서 취득된다.From the above measurement results, the coordinates (X, Y) of the light spots P (256, 512) are determined by calculation of X = X0 + (Y1-Y2) / 2 and Y = (Y1 + Y2) / 2. The mirror arrangement information which is the coordinate of the light point P (m, n) formed by each micromirror 58 of the DMD 36 which comprises all the exposure heads 30 is acquired similarly.

이어서, 얼라인먼트 정보 취득부(86)에 의해 취득한 얼라인먼트 정보와, 미러 배치 정보 취득부(84)에 의해 취득한 미러 배치 정보에 기초하여 각 마이크로 미러(58)에 의해 형성되는 각 광점(P(m,n))이 감광 재료(12)를 주사해서 이차원 화상을 노광 기록할 때의 감광 재료(12)에 대한 빔 궤적 정보를 작성한다(스텝S4). 이 경우, 빔 궤적 정보는 얼라인먼트 정보로부터 얻어지는 감광 재료(12)의 이동 스테이지(14)에 대한 설치 위치의 편차, 설치대(18)에 대한 이동 스테이지(14)의 사행 상태, 감광 재료(12)의 신축에 의한 변형, 미러 배치 정보로부터 얻어지는 마이크로 미러(58)의 위치 어긋남 등의 정보가 포함된다.Next, each light spot P (m, formed by each micromirror 58 based on the alignment information acquired by the alignment information acquisition part 86, and the mirror arrangement information acquired by the mirror arrangement information acquisition part 84, n)) scans the photosensitive material 12 and creates beam trajectory information for the photosensitive material 12 at the time of exposing and recording the two-dimensional image (step S4). In this case, the beam trajectory information includes the deviation of the installation position with respect to the moving stage 14 of the photosensitive material 12 obtained from the alignment information, the meandering state of the moving stage 14 with respect to the mounting table 18, and the photosensitive material 12. Information such as deformation due to expansion and contraction, positional shift of the micromirror 58 obtained from the mirror arrangement information, and the like are included.

빔 궤적 정보가 작성된 후, 마스크 데이터의 작성에 앞서서 감광 재료(12)의 노광면을 복수개의 영역으로 분할하고, 노광점 수 히스토그램을 산출하기 위한 집계 영역을 설정한다(스텝S5).After the beam trajectory information is created, the exposure surface of the photosensitive material 12 is divided into a plurality of areas prior to the preparation of the mask data, and an aggregation area for calculating the exposure point number histogram is set (step S5).

도 14는 빔 궤적 정보가 이동 스테이지(14)의 사행 정보를 포함하고 있지 않고, 감광 재료(12)에 대한 각 마이크로 미러(58)의 빔 궤적(100)이 직선으로 설정된 경우를 나타낸다. 해칭으로 나타내는 각 집계 영역(A1~A10)은 감광 재료(12)의 주사 방향과 직교하는 방향으로 분할된 소정의 면적을 갖은 사각형상의 영역으로서 설정된다.FIG. 14 shows a case where the beam trajectory information does not include meander information of the moving stage 14, and the beam trajectory 100 of each micromirror 58 with respect to the photosensitive material 12 is set in a straight line. Each aggregation area A1-A10 shown by hatching is set as a rectangular area having a predetermined area divided in a direction orthogonal to the scanning direction of the photosensitive material 12.

마스크 데이터 작성부(82)는 빔 궤적 정보 작성부(88)에 의해 작성된 빔 궤적 정보에 기초하여 각 집계 영역(A1~A10)에 대응하는 빔 궤적(100) 상의 광점(P(m,n))의 수를 노광점 수 히스토그램으로서 산출한다(스텝S6). 또한, 각 집계 영역(A1~A10)에 플로팅(plotting)되는 광점(P(m,n))의 수는 빔 궤적(100)과, 마이크로 미러(58)로부터 감광 재료(12)로 인도되는 레이저 광(B)에 의한 화상의 기록속도와, 감광 재료(12)의 주사 방향에 대한 이동 속도에 의존한다.The mask data generator 82 is a light point P (m, n) on the beam trace 100 corresponding to each aggregation region A1 to A10 based on the beam trace information created by the beam trace information generator 88. ) Is calculated as an exposure point number histogram (step S6). In addition, the number of light spots P (m, n) plotted in each of the aggregation regions A1 to A10 is the laser beam guided from the beam trajectory 100 and the micromirror 58 to the photosensitive material 12. It depends on the recording speed of the image by the light B and the moving speed with respect to the scanning direction of the photosensitive material 12.

도 15는 산출된 각 집계 영역(A1~A10)의 노광점 수의 예를 게시한다. DMD-1 및 DMD-2에 의한 노광 영역이 중첩되어 있는 범위에서는 쌍방의 마이크로 미러(58)에 의한 빔 궤적(100)이 동일한 집계 영역(A1~A10)을 통과하기 때문에 노광점 수가 커진다.15 shows an example of the number of exposure points of each calculated area A1 to A10. In the range where the exposure area | region by DMD-1 and DMD-2 overlaps, since the beam trace 100 by both micro mirrors 58 passes through the same aggregation area | region A1-A10, the number of exposure points becomes large.

그래서, 각 집계 영역(A1~A10)에 있어서의 노광점 수가 동일하게 되도록, 또는, 각 집계 영역(A1~A10) 사이에서의 노광점 수의 차가 작아지도록 DMD-1 및 DMD-2를 구성하는 특정의 마이크로 미러(58)를 비묘화 상태로 설정하는 마스크 데이터 를 작성한다(스텝S7).Therefore, DMD-1 and DMD-2 are configured so that the number of exposure points in each aggregation area A1 to A10 is the same or the difference in the number of exposure points between each aggregation area A1 to A10 is small. Mask data for setting the specific micromirror 58 to the non-drawing state is created (step S7).

예컨대, 노광점 수를 동일하게 할 경우, 도 15에 나타내는 노광점 수 히스토그램에 있어서 노광점 수의 기준값을 3으로 하면, 집계 영역(A4)의 노광점 수를 1, 집계 영역(A5)의 노광점 수를 2, 집계 영역(A6)의 노광점 수를 3, 집계 영역(A7)의 노광점 수를 2만큼 줄이도록 비묘화 상태의 마이크로 미러(58)를 설정하면 좋다. 이 경우, 각 DMD-1 및 DMD-2를 구성하는 마이크로 미러(58)의 미러 번호(m1~m20)의 위치를 도 14에 나타내는 바와 같이 정의하면, 도 16 및 도 17에 나타내는 바와 같이, DMD-1 및 DMD-2의 비묘화 상태로 설정되는 마이크로 미러(58)가 「0」, 묘화 데이터를 따라서 구동되는 마이크로 미러(58)가 「1」이 되는 마스크 데이터(104A 및 106A)가 작성된다. 또한, 이들 마스크 데이터(104A 및 106A)에 의해 비묘화 상태로 설정되는 마이크로 미러(58)의 개념을 도 14에 ●로 예시한다.For example, when the number of exposure points is the same, when the reference value of the number of exposure points is 3 in the exposure point number histogram shown in FIG. 15, the exposure point number of the aggregation area A4 is 1 and the exposure of the aggregation area A5. The micromirror 58 in the non-drawing state may be set so that the number of points is 2, the number of exposure points of the aggregation area A6 is reduced by 2 and the number of exposure points of the aggregation area A7 is reduced by 2. In this case, if the position of the mirror number m1-m20 of the micromirror 58 which comprises each DMD-1 and DMD-2 is defined as shown in FIG. 14, DMD will show as shown in FIG. 16 and FIG. -1 and mask data 104A and 106A in which the micromirror 58 set to the non-drawing state of DMD-2 becomes "0" and the micromirror 58 driven along the drawing data becomes "1" is created. . In addition, the concept of the micromirror 58 set to the non-drawing state by these mask data 104A and 106A is illustrated by FIG.

한편, 도 18은 빔 궤적 정보가 이동 스테이지(14)의 사행 정보를 포함하고 있고, 감광 재료(12)에 대한 각 마이크로 미러(58)의 빔 궤적(102)이 사행하여 설정된 경우를 나타낸다. 이 경우, DMD-1과 DMD-2는 감광 재료(12)의 주사 방향에 대한 위치가 다르기 때문에, DMD-1이 감광 재료(12)를 주사하는 위치와 DMD-2가 감광 재료(12)를 주사하는 위치가 주사 방향과 다르게 된다.18 shows a case where the beam trajectory information includes meandering information of the moving stage 14, and the beam trajectory 102 of each micromirror 58 with respect to the photosensitive material 12 is meanderingly set. In this case, since the DMD-1 and the DMD-2 are different in the scanning direction of the photosensitive material 12, the position where the DMD-1 scans the photosensitive material 12 and the DMD-2 selects the photosensitive material 12. The scanning position is different from the scanning direction.

그래서, 감광 재료(12)의 노광면을 주사 방향의 복수개의 영역(A~D)으로 분할하고, 각 영역(A~D)에 있어서 주사 방향과 직교하는 방향으로 각각 집계 영역(A1~A10, B1~B10, C1~C10, D1~D10)을 설정하고(스텝S5), 각 집계 영역(A1~A10, B1~B10, C1~C10, D1~D10)에 대응하는 빔 궤적(102) 상의 광점(P(m,n))의 수를 노광 점 수 히스토그램으로서 산출한다(스텝S6).Therefore, the exposure surface of the photosensitive material 12 is divided into a plurality of regions A to D in the scanning direction, and the aggregation regions A1 to A10, respectively, in the directions orthogonal to the scanning direction in the respective regions A to D, respectively. Light points on beam trajectories 102 corresponding to the respective aggregation areas A1 to A10, B1 to B10, C1 to C10, and D1 to D10 are set by setting B1 to B10, C1 to C10, and D1 to D10. The number of (P (m, n)) is calculated as an exposure point number histogram (step S6).

도 19~도 22는 산출된 각 집계 영역(A1~A10, B1~B10, C1~C10, D1~D10)의 노광점 수의 예를 나타낸다. 이 경우, 노광점 수에는 감광 재료(12)의 반송 속도의 변동에 의한 영향이 포함된다.19-22 shows the example of the exposure point number of each calculated area | region A1-A10, B1-B10, C1-C10, and D1-D10. In this case, the exposure point number includes the influence of the variation in the conveyance speed of the photosensitive material 12.

그래서, 각 집계 영역(A1~A10, B1~B10, C1~C10, D1~D10)에 있어서의 노광점 수가 동일하게 되도록, 또는, 각 집계 영역(A1~A10, B1~B10, C1~C10, D1~D10) 사이에서의 노광점 수의 차가 작아지도록 DMD-1 및 DMD-2를 구성하는 특정의 마이크로 미러(58)를 비묘화 상태로 설정하는 마스크 데이터를 작성한다(스텝S7). 이 경우, 도 23 및 도 24에 나타내는 바와 같이, 각 영역(A~D)에 대해서 마스크 데이터(108A~108D 및 110A~110D)가 작성된다. 마스크 데이터(108A 및 110A)에 의해 비묘화 상태로 설정되는 마이크로 미러(58)의 개념을 도 18에 ●로 예시한다.Therefore, the number of exposure points in each aggregation area A1-A10, B1-B10, C1-C10, D1-D10 is the same, or each aggregation area A1-A10, B1-B10, C1-C10, The mask data which sets the specific micromirror 58 which comprises DMD-1 and DMD-2 to a non-drawing state is created so that the difference of the number of exposure points between D1-D10 may become small (step S7). In this case, as shown in FIG. 23 and FIG. 24, mask data 108A-108D and 110A-110D are created about each area | region A-D. 18 illustrates the concept of the micromirror 58 set to the non-drawing state by the mask data 108A and 110A.

또한, 사행하는 빔 궤적(102)을 벡터 데이터로서 작성하고, 이 벡터 데이터의 방향의 변화가 큰 부분에서는 주사 방향에 대한 영역의 분할 폭을 작게 설정하고, 벡터 데이터의 방향의 변화가 작은 부분에서는 주사 방향에 대한 영역의 분할 폭을 크게 설정함으로써 노광 장치(10)의 설정 상태에 따른 최적의 마스크 데이터를 작성할 수 있다. 또한, 감광 재료(12)의 반송 속도의 변화에 따라 주사 방향에 대한 영역의 분할 폭을 설정하도록 해도 좋다.Further, the beam trajectory 102 to be meandered is created as vector data, and in the part where the change in the direction of the vector data is large, the division width of the area with respect to the scanning direction is set small, and in the part where the change in the direction of the vector data is small By setting the division width of the area with respect to the scanning direction large, the optimal mask data according to the setting state of the exposure apparatus 10 can be created. In addition, the division width of the region with respect to the scanning direction may be set in accordance with the change of the conveyance speed of the photosensitive material 12.

이상과 같이 해서 작성된 마스크 데이터는 마스크 데이터 기억부(96)에 기억된다(스텝S8).The mask data created as described above is stored in the mask data storage unit 96 (step S8).

이상의 준비작업이 종료한 후, 이동 스테이지(14)를 CCD 카메라(26)측으로 이동시키고, 스캐너(24)에 의한 본 노광이 개시된다.After the above preparation work is finished, the moving stage 14 is moved to the CCD camera 26 side, and the main exposure by the scanner 24 is started.

이 경우, CAD 장치(72)는 감광 재료(12)에 노광 기록하는 이차원 화상을 벡터 데이터로서 작성하고, RIP 서버(74)에 공급한다. RIP 서버(74)는 공급된 벡터 데이터를 비트맵 데이터인 래스터 화상 데이터로 변환한다. 래스터 화상 데이터는 필요에 따라 압축되고, 노광 장치(10)의 제어 회로(70)에 송신되어 화상 데이터 기억부(76)에 기억된다.In this case, the CAD device 72 creates the two-dimensional image exposed and recorded on the photosensitive material 12 as vector data, and supplies it to the RIP server 74. The RIP server 74 converts the supplied vector data into raster image data which is bitmap data. The raster image data is compressed as necessary, transmitted to the control circuit 70 of the exposure apparatus 10, and stored in the image data storage unit 76.

또한, 도 25는 화상 데이터 기억부(76)에 기억되는 래스터 화상 데이터의 설명도이다. 동 도면에서는 설명을 이해하기 쉽게 하기 위해서 압축되어 있지 않은 상태의 래스터 화상 데이터를 나타내고 있다. 래스터 화상 데이터의 범위는 해칭을 한 범위이며, 그 범위에 숫자의 「2」의 화상이 포함되어 있다. 동그라미 숫자 1~8은 래스터 화상 데이터에 대한 DMD(36)를 구성하는 8장의 마이크로 미러(58)의 배치를 나타낸다. 화상 데이터 기억부(76)에는 어드레스 연속 방향이 화살표로 나타내는 각 마이크로 미러(58)의 주사 방향과 동일한 방향이 되는 상태에서 래스터 화상 데이터가 기억된다.25 is an explanatory diagram of raster image data stored in the image data storage unit 76. In the figure, raster image data in an uncompressed state is shown for ease of explanation. The range of raster image data is a hatching range, and the range includes the image of "2". Circular numbers 1 to 8 indicate the arrangement of eight micro mirrors 58 that constitute the DMD 36 with respect to the raster image data. The image data storage unit 76 stores raster image data in a state where the address continuation direction becomes the same direction as the scanning direction of each micromirror 58 indicated by the arrow.

그래서, 미러 데이터 작성부(78)는 화상 데이터 기억부(76)로부터 래스터 화상 데이터를 어드레스 연속 방향을 따라 판독하고(스텝S9), 빔 궤적 정보 작성부(88)로부터 공급되는 빔 궤적 정보를 따라서 래스터 화상 데이터를 노광하는 시계열적으로 트레이싱(tracing)해서 얻어지는 묘화 데이터를 미러 데이터로서 작성한다(스텝S10).Thus, the mirror data creation unit 78 reads raster image data from the image data storage unit 76 in the address continuous direction (step S9), and follows the beam trajectory information supplied from the beam trajectory information creation unit 88. Drawing data obtained by tracing in time series which exposes the raster image data is created as mirror data (step S10).

도 26은 감광 재료(12)가 사행하고 있지 않고, 각 마이크로 미러(58)에 의한 빔 궤적이 직선인 것으로 가정한 도 25에 나타내는 래스터 화상 데이터로부터 작성된 미러 데이터를 나타낸다. 이 경우, 프레임은 1개의 DMD(36)를 구성하는 각 마이크로 미러(58)에 대략 동시에 공급되는 미러 데이터의 세트를 나타낸다.FIG. 26 shows mirror data created from the raster image data shown in FIG. 25 on the assumption that the photosensitive material 12 does not meander and the beam trajectory by each micromirror 58 is a straight line. In this case, the frame represents a set of mirror data supplied substantially simultaneously to each micromirror 58 constituting one DMD 36.

실제의 계(系)에서는 감광 재료(12)의 이동 스테이지(14)에 대한 설치 위치의 편차, 이동 스테이지(14)의 이동에 따른 사행의 영향, 이동 스테이지(14)의 반송 속도의 얼룩 등의 영향을 고려해서 산출된 빔 궤적 정보, 예컨대, 도 18에 나타내는 빔 궤적(102)을 따라 해당하는 래스터 화상 데이터를 트레이싱함으로써 미러 데이터가 작성된다.In an actual system, the deviation of the installation position with respect to the movement stage 14 of the photosensitive material 12, the influence of meandering by the movement of the movement stage 14, the unevenness of the conveyance speed of the movement stage 14, etc. Mirror data is created by tracing the corresponding raster image data along the beam trajectory information calculated by considering the influence, for example, the beam trajectory 102 shown in FIG.

다음으로, 미러 데이터는 DMD(36)를 구성하는 각 마이크로 미러(58)에 공급되어 대략 동시에 노광 기록되는 프레임 데이터로 변환된다(스텝S11). 이 경우, 프레임 데이터는 예컨대 도 26 및 도 27에 나타내는 바와 같이, 미러 데이터의 행과 열을 전치(前置) 처리함으로써 용이하게 작성할 수 있다.Next, the mirror data is supplied to each of the micromirrors 58 constituting the DMD 36 and converted into frame data which is exposed and recorded at substantially the same time (step S11). In this case, the frame data can be easily created by, for example, preprocessing the rows and columns of the mirror data, as shown in FIGS. 26 and 27.

작성된 프레임 데이터는 마스킹 처리부(99)에 공급되고, 마스크 데이터 선택부(98)에 의해 선택된 마스크 데이터를 따라서 마스킹 처리가 이루어진다(스텝S12).The created frame data is supplied to the masking processing unit 99, and masking processing is performed in accordance with the mask data selected by the mask data selecting unit 98 (step S12).

도 28은 도 15에 나타내는 노광점 수 히스토그램에 기초하여 작성된 도 16에 나타내는 마스크 데이터(104A)를 이용하여, DMD-1의 프레임 데이터의 마스킹 처리를 행하는 경우의 설명도이다. 이 경우, 마스크 데이터(104A)와 프레임 데이터의 논리곱으로서 마스킹된 프레임 데이터가 작성된다. DMD-2의 프레임 데이터도 마찬가지로 하여 작성된다.FIG. 28: is explanatory drawing at the time of masking process of frame data of DMD-1 using the mask data 104A shown in FIG. 16 created based on the exposure point number histogram shown in FIG. In this case, masked frame data is created as a logical product of the mask data 104A and the frame data. Frame data of DMD-2 is similarly created.

또한, 도 18에 나타내는 바와 같이, 빔 궤적(102)이 사행하고 있는 경우, 또는, 감광 재료(12)의 반송 속도에 분균일이 있을 경우, 주사 위치 정보 취득부(94)에 의해 취득한 감광 재료(12)의 주사 위치 정보를 따라 각 영역(A~D)에 대응하는 마스크 데이터가 마스크 데이터 선택부(98)에 의해 마스크 데이터 기억부(96)로부터 선택되어 마스킹 처리부(99)에 공급되고, 프레임 데이터에 대한 마스킹 처리가 각 영역(A~D)에 따라 전환되어 행해진다.In addition, as shown in FIG. 18, the photosensitive material acquired by the scanning position information acquisition part 94 when the beam trajectory 102 meanders, or when there exists an unevenness in the conveyance speed of the photosensitive material 12. Moreover, as shown in FIG. Mask data corresponding to each of the areas A to D is selected from the mask data storage unit 96 by the mask data selection unit 98 and supplied to the masking processing unit 99 according to the scanning position information of (12), The masking process for the frame data is switched in accordance with the respective areas A to D.

마스킹 처리된 프레임 데이터가 노광 헤드(30)에 공급되면, 각 노광 헤드(30)를 구성하는 DMD(36)의 마이크로 미러(58)가 마스킹 처리된 프레임 데이터에 의해 온오프 제어되고, 레이저 광(B)이 감광 재료(12)에 조사되어 화상이 노광 기록된다(스텝S13).When the masked frame data is supplied to the exposure head 30, the micromirrors 58 of the DMD 36 constituting each of the exposure heads 30 are controlled on and off by the masked frame data, and the laser light ( B) is irradiated to the photosensitive material 12, and an image is exposed and recorded (step S13).

이상과 같이 하여 감광 재료(12)에 대해서 마스킹 처리된 프레임 데이터에 의한 노광 기록이 행해진다. 이 경우, 감광 재료(12)의 분할된 각 집계 영역(A1~A10)(도 14) 또는 각 집계 영역(A1~A10,B1~B10,C1~C10,D1~D10)(도 18)에 있어서의 노광점 수가 동일하게 되도록 설정되거나, 또는, 각 집계 영역(A1~A10) 사이 또는 각 집계 영역(A1~A10,B1~B10,C1~C10,D1~D10) 사이에서의 노광점 수의 차가 작아지도록 설정되어 있기 때문에, DMD(36)의 경사 각도의 편차, DMD(36)를 구성하는 마이크로 미러(58)의 설치 위치의 오차, 인접하는 DMD(36)끼리의 중첩 범위의 설정 오차 등에 기인하는 화상의 농도 얼룩의 발생이 회피된다.The exposure recording using the frame data masked on the photosensitive material 12 is performed as described above. In this case, in each divided area | region A1-A10 (FIG. 14) or each aggregation area | region A1-A10, B1-B10, C1-C10, D1-D10 (FIG. 18) of the photosensitive material 12 which were divided. Is set to be equal to the number of exposure points, or the difference in the number of exposure points between the respective aggregation areas A1 to A10 or between each of the aggregation areas A1 to A10, B1 to B10, C1 to C10, and D1 to D10. Since it is set to become small, it originates in the deviation of the inclination angle of the DMD 36, the error of the installation position of the micromirror 58 which comprises the DMD 36, the setting error of the overlapping range of adjacent DMD 36, etc. The occurrence of density unevenness in the image can be avoided.

또한, 상술한 실시형태에서는 예컨대 집계 영역(A1~A10)에 있어서의 노광점 수가 동일하게 되도록, 또는, 집계 영역(A1~A10) 사이에서의 노광점 수의 차가 작 아지도록 마스크 데이터를 작성하고 있지만, 노광량이 동일하거나, 또는, 노광량의 차가 작아지도록 마스크 데이터를 작성하도록 해도 좋다.In addition, in embodiment mentioned above, mask data is created so that the number of exposure points in aggregation area | regions A1-A10 may become the same, or the difference of the exposure point number between aggregation area | regions A1-A10 becomes small, for example. However, the mask data may be created so that the exposure amount is the same or the difference in the exposure amount is small.

예컨대, DMD(36)를 구성하는 각 마이크로 미러(58)로부터 감광 재료(12)에 인도되는 레이저 광(B)의 광량을 광량 검출기(95)에 의해 미리 검출해 두고, 각 집계 영역(A1~A10)에 인도되는 레이저 광(B)의 광량의 총합이 각 집계 영역(A1~A10) 사이에서 동일하게 되도록, 또는, 집계 영역(A1~A10) 사이에서의 상기 총합의 차가 작아지도록 비묘화 상태로 하는 마이크로 미러(58)를 설정하는 마스크 데이터를 작성하고, 이 마스크 데이터를 이용하여 프레임 데이터를 처리함으로써 노광 얼룩이 없는 화상을 감광 재료(12)에 기록할 수 있다.For example, the light amount detector 95 detects in advance the light amount of the laser light B guided from the micromirrors 58 constituting the DMD 36 to the photosensitive material 12, and the respective aggregation regions A1 to ... Non-imaging state so that the sum total of the light quantity of laser beam B guided to A10 may become the same between each aggregation area | region A1-A10, or so that the difference of the said sum total between aggregation area | regions A1-A10 may become small. Mask data for setting the micromirrors 58 to be set can be created, and the frame data is processed using the mask data to record an image without exposure unevenness in the photosensitive material 12.

또한, 상기 실시형태에서는 광 빔을 화소마다 변조하는 DMD를 화소 어레이로서 이용했지만, 이것에 한정되지 않고, DMD 이외의 액정 어레이 등의 광변조 소자나, 광원 어레이(예컨대, LD 어레이, 유기 EL 어레이 등)를 사용해도 좋다.Moreover, although the DMD which modulates the light beam for every pixel was used as said pixel embodiment in the said embodiment, it is not limited to this, Light modulation elements, such as liquid crystal arrays other than DMD, and a light source array (for example, LD array, organic EL array) Etc.) may be used.

또한, 상기 실시형태의 동작 형태는 노광 헤드를 항상 이동시키면서 연속적으로 노광을 행하는 형태이여도 좋고, 노광 헤드를 단계적으로 이동시키면서 각 이동 목적지의 위치에서 노광 헤드를 정지시켜 노광 동작을 행하는 형태이어도 된다.Moreover, the operation form of the said embodiment may be a form which continuously performs exposure, moving the exposure head all the time, and the form which performs an exposure operation by stopping an exposure head at the position of each moving destination, moving a exposure head step by step. .

또한, 본 발명은 노광 장치 및 노광 방법에 한정되는 것은 아니고, 예컨대, 잉크젯 프린터나 잉크젯 방식의 프린트 방법에도 적용가능하다.In addition, this invention is not limited to an exposure apparatus and an exposure method, For example, it is applicable also to the inkjet printer or the inkjet printing method.

이상, 본 발명의 실시형태에 대해서 상세하게 서술했지만, 이들 실시형태는 예시적인 것에 지나지 않고, 본 발명의 기술적 범위는 특허청구의 범위에 의해서만 정해져야 하는 것은 말할 필요도 없다.As mentioned above, although embodiment of this invention was described in detail, these embodiment is only an illustration and needless to say that the technical scope of this invention should be defined only by a claim.

Claims (14)

복수개의 묘화 소자(58)를 갖는 묘화 헤드(36)를 묘화면(12)의 주사 방향으로 상대 이동시키며, 상기 묘화 소자(58)를 묘화 데이터에 따라 제어함으로써 묘화를 행하는 묘화 장치(10)에 있어서:In the drawing apparatus 10 which draws by moving the drawing head 36 which has several drawing elements 58 to the scan direction of the drawing surface 12, and controls the drawing element 58 according to drawing data. In: 상기 묘화면(12)에 대한 상기 묘화 소자(58)에 의한 묘화점의 위치를 산출하는 묘화점 위치 산출부(84)와,A drawing point position calculation unit 84 for calculating a position of a drawing point by the drawing element 58 with respect to the drawing surface 12; 상기 묘화면(12)을 복수개의 영역으로 분할하고, 산출된 상기 묘화점의 위치에 기초하여 상기 각 영역에 포함되는 상기 묘화점의 묘화점 수를 산출하는 묘화점 수 산출부(82)와,A drawing point number calculating unit 82 for dividing the drawing screen 12 into a plurality of areas and calculating a drawing point number of the drawing points included in the respective areas based on the calculated positions of the drawing points; 상기 각 영역간에서의 상기 묘화점 수의 차를 소정 이하로 하기 위해서 비묘화 상태로 되는 상기 묘화 소자를 설정하는 마스크 데이터를 작성하는 마스크 데이터 작성부(82)를 구비하고;A mask data creating unit (82) for creating mask data for setting the drawing element to be in a non-drawing state in order to make the difference in the number of drawing points between the respective regions less than or equal to a predetermined value; 상기 마스크 데이터에 의해 비묘화 상태로 설정된 상기 묘화 소자(58)를 제외한 묘화 소자를 묘화 데이터에 따라 제어함으로써 묘화를 행하는 것을 특징으로 하는 묘화 장치.The drawing apparatus performs drawing by controlling drawing elements other than the drawing element (58) set to the non-drawing state by the said mask data according to drawing data. 제 1 항에 있어서, 상기 마스크 데이터 작성부(82)는 상기 묘화면(12)을 상기 주사 방향 및 상기 주사 방향과 직교하는 방향으로 분할한 상기 각 영역에 대해서 상기 마스크 데이터를 작성하는 것을 특징으로 하는 묘화 장치.The mask data creating unit 82 creates the mask data for each of the regions obtained by dividing the drawing screen 12 into the scanning direction and the direction orthogonal to the scanning direction. Drawing device. 제 2 항에 있어서, 상기 주사 방향으로 분할한 상기 각 영역의 상기 마스크 데이터를 기억하는 마스크 데이터 기억부(96)와,3. The mask data storage unit (96) according to claim 2, further comprising: a mask data storage portion (96) for storing the mask data of the respective regions divided in the scanning direction; 상기 묘화 소자(58)의 상기 주사 방향에 대한 주사 위치의 정보를 취득하는 주사 위치 정보 취득부(94)와,A scanning position information acquisition unit 94 for acquiring information of a scanning position of the drawing element 58 in the scanning direction; 취득한 상기 주사 위치의 정보에 따른 상기 마스크 데이터를 상기 마스크 데이터 기억부(96)로부터 선택하는 마스크 데이터 선택부(98)를 구비하고;A mask data selector (98) for selecting the mask data according to the obtained information of the scanning position from the mask data storage (96); 선택한 상기 마스크 데이터에 의해 상기 묘화 소자(58)의 일부를 비묘화 상태로 설정하는 것을 특징으로 하는 묘화 장치.And a part of the drawing element (58) is set to a non-drawing state by the selected mask data. 제 1 항에 있어서, 상기 주사 방향과 직교하는 방향으로 배열되고, 묘화 범위가 서로 중첩해서 설정되는 복수개의 상기 묘화 헤드(36)를 구비하고,The apparatus according to claim 1, further comprising: a plurality of said drawing heads 36 arranged in a direction orthogonal to said scanning direction, wherein drawing ranges are set to overlap each other, 상기 마스크 데이터 작성부(82)는 상기 묘화면을 상기 주사 방향과 직교하는 방향으로 분할한 상기 각 영역에 대해서 상기 마스크 데이터를 작성하는 것을 특징으로 하는 묘화 장치.And the mask data creating unit (82) creates the mask data for each of the regions obtained by dividing the drawing screen in a direction orthogonal to the scanning direction. 복수개의 묘화 소자(58)를 갖는 묘화 헤드(36)를 묘화면(12)의 주사 방향으로 상대 이동시키며, 상기 묘화 소자(58)를 묘화 데이터에 따라 제어함으로써 묘화를 행하는 묘화 장치(10)에 있어서:In the drawing apparatus 10 which draws by moving the drawing head 36 which has several drawing elements 58 to the scan direction of the drawing surface 12, and controls the drawing element 58 according to drawing data. In: 상기 각 묘화 소자(58)에 의해 상기 묘화면(12)에 부여되는 묘화 에너지를 취득하는 묘화 에너지 취득부(95)와,A drawing energy acquisition unit 95 for acquiring drawing energy applied to the drawing screen 12 by the drawing elements 58; 상기 묘화면(12)에 대한 상기 묘화 소자(58)에 의한 묘화점의 위치를 산출하는 묘화점 위치 산출부(84)와,A drawing point position calculation unit 84 for calculating a position of a drawing point by the drawing element 58 with respect to the drawing surface 12; 상기 묘화면(12)을 복수개의 영역으로 분할하고, 산출된 상기 묘화점의 위치와 취득한 상기 묘화점의 상기 묘화 에너지에 기초하여 상기 각 영역에 포함되는 상기 묘화점에 의해 부여되는 상기 묘화 에너지의 총합을 상기 각 영역마다 산출하는 묘화 에너지 산출부(82)와,The drawing screen 12 is divided into a plurality of areas, and based on the calculated position of the drawing point and the drawing energy of the obtained drawing point, the drawing energy imparted by the drawing points included in the respective areas. A drawing energy calculation unit 82 for calculating the total for each of the regions; 상기 각 영역간에서의 상기 묘화 에너지의 총합의 차를 작게 하기 위해 비묘화 상태로 되는 상기 묘화 소자(58)를 설정하는 마스크 데이터를 작성하는 마스크 데이터 작성부(82)를 구비하고;A mask data creation unit (82) for creating mask data for setting the drawing element (58) in a non-drawing state in order to reduce the difference in the total sum of the drawing energies between the respective areas; 상기 마스크 데이터에 의해 비묘화 상태로 설정된 상기 묘화 소자(58)를 제외한 묘화 소자(58)를 묘화 데이터에 따라 제어함으로써 묘화를 행하는 것을 특징으로 하는 묘화 장치.The drawing apparatus is performed by controlling the drawing elements (58) except the drawing elements (58) set to the non-drawing state by the mask data according to the drawing data. 제 5 항에 있어서, 상기 마스크 데이터 작성부(82)는 상기 묘화면(12)을 상기 주사 방향 및 상기 주사 방향과 직교하는 방향으로 분할한 상기 각 영역에 대해서 상기 마스크 데이터를 작성하는 것을 특징으로 하는 묘화 장치.The mask data preparation unit 82 generates the mask data for each of the regions obtained by dividing the drawing screen 12 into the scanning direction and the direction orthogonal to the scanning direction. Drawing device. 제 6 항에 있어서, 상기 주사 방향으로 분할한 상기 각 영역의 상기 마스크 데이터를 기억하는 마스크 데이터 기억부(96)와,The mask data storage unit 96 according to claim 6, further comprising: a mask data storage unit 96 for storing the mask data of the respective regions divided in the scanning direction; 상기 묘화 소자(58)의 상기 주사 방향에 대한 주사 위치의 정보를 취득하는 주사 위치 정보 취득부(94)와,A scanning position information acquisition unit 94 for acquiring information of a scanning position of the drawing element 58 in the scanning direction; 취득한 상기 주사 위치의 정보에 따른 상기 마스크 데이터를 상기 마스크 데이터 기억부(96)로부터 선택하는 마스크 데이터 선택부(98)를 구비하고;A mask data selector (98) for selecting the mask data according to the obtained information of the scanning position from the mask data storage (96); 선택한 상기 마스크 데이터에 의해 상기 묘화 소자(58)의 일부를 비묘화 상태로 설정하는 것을 특징으로 하는 묘화 장치.And a part of the drawing element (58) is set to a non-drawing state by the selected mask data. 제 5 항에 있어서, 상기 주사 방향과 직교하는 방향으로 배열되고, 묘화 범위가 서로 중첩해서 설정되는 복수개의 상기 묘화 헤드(36)를 구비하고,6. The drawing head according to claim 5, further comprising a plurality of said drawing heads 36 arranged in a direction orthogonal to said scanning direction, wherein drawing ranges are set to overlap each other, 상기 마스크 데이터 작성부(82)는 상기 묘화면을 상기 주사 방향과 직교하는 방향으로 분할한 상기 각 영역에 대해서 상기 마스크 데이터를 작성하는 것을 특징으로 하는 묘화 장치.And the mask data creating unit (82) creates the mask data for each of the regions obtained by dividing the drawing screen in a direction orthogonal to the scanning direction. 복수개의 묘화 소자(58)를 갖는 묘화 헤드(36)를 묘화면(12)의 주사 방향으로 상대 이동시키며, 상기 묘화 소자(58)를 묘화 데이터에 따라 제어함으로써 묘화를 행하는 묘화 방법에 있어서:In the drawing method in which the drawing head 36 having the plurality of drawing elements 58 is moved relatively in the scanning direction of the drawing screen 12, and the drawing elements 58 are controlled in accordance with the drawing data. 상기 묘화면(12)에 대한 상기 묘화 소자(58)에 의한 묘화점의 위치를 산출하는 스텝;Calculating a position of a drawing point by the drawing element (58) relative to the drawing surface (12); 상기 묘화면(12)을 복수개의 영역으로 분할하고, 산출된 상기 묘화점의 위치에 기초하여 상기 각 영역에 포함되는 상기 묘화점의 묘화점 수를 산출하는 스텝;Dividing the drawing screen (12) into a plurality of areas and calculating the number of drawing points of the drawing points included in the respective areas based on the calculated positions of the drawing points; 상기 각 영역간에서의 상기 묘화점 수의 차를 소정 이하로 하기 위해서 비묘화 상태로 되는 상기 묘화 소자(58)를 설정하는 마스크 데이터를 작성하는 스텝; 및Creating mask data for setting the drawing element (58) to be in a non-drawing state in order to make the difference in the number of drawing points between the respective regions less than or equal to a predetermined value; And 상기 마스크 데이터에 의해 비묘화 상태로 설정된 상기 묘화 소자(58)를 제외한 묘화 소자를 묘화 데이터에 따라 제어하는 스텝을 갖는 것을 특징으로 하는 묘화 방법.And a drawing element except for the drawing element (58) set to a non-drawing state by said mask data, in accordance with drawing data. 제 9 항에 있어서, 상기 묘화점의 위치는 상기 묘화 헤드(36)를 상기 주사 방향으로 상대 이동시켰을 때에 얻어지는 상기 각 영역에 있어서의 위치로서 산출하는 것을 특징으로 하는 묘화 방법.The writing method according to claim 9, wherein the position of the drawing point is calculated as a position in each of the areas obtained when the drawing head (36) is relatively moved in the scanning direction. 제 9 항에 있어서, 상기 묘화면(12)을 상기 주사 방향 및 상기 주사 방향과 직교하는 방향으로 분할한 상기 각 영역에 대한 상기 마스크 데이터를 작성하는 스텝;10. The method as claimed in claim 9, further comprising the steps of: creating the mask data for the respective areas obtained by dividing the drawing screen (12) in the scanning direction and in a direction orthogonal to the scanning direction; 상기 묘화 소자(58)의 상기 주사 방향에 대한 주사 위치의 정보를 취득하는 스텝;Acquiring information of a scan position in the scanning direction of the drawing element (58); 취득한 상기 주사 위치의 정보에 따른 상기 마스크 데이터를 선택하는 스텝; 및Selecting the mask data according to the acquired information of the scanning position; And 선택한 상기 마스크 데이터에 의해 상기 묘화 소자(58)의 일부를 비묘화 상태로 설정하고, 묘화 처리를 행하는 스텝을 갖는 것을 특징으로 하는 묘화 방법.And a step of setting a part of the drawing element (58) to a non-drawing state by the selected mask data and performing a drawing process. 복수개의 묘화 소자(58)를 갖는 묘화 헤드(36)를 묘화면의 주사 방향으로 상대 이동시키며, 상기 묘화 소자(58)를 묘화 데이터에 따라 제어함으로써 묘화를 행하는 묘화 방법에 있어서:In the drawing method in which the drawing head 36 having the plurality of drawing elements 58 is relatively moved in the scanning direction of the drawing screen, drawing is performed by controlling the drawing element 58 according to the drawing data. 상기 각 묘화 소자(58)에 의해 상기 묘화면(12)에 부여되는 묘화 에너지를 취득하는 스텝;Obtaining drawing energy imparted to the drawing screen (12) by the drawing elements (58); 상기 묘화면(12)에 대한 상기 묘화 소자(58)에 의한 묘화점의 위치를 산출하는 스텝;Calculating a position of a drawing point by the drawing element (58) relative to the drawing surface (12); 상기 묘화면(12)을 복수개의 영역으로 분할하고, 산출된 상기 묘화점의 위치와 취득한 상기 묘화점의 상기 묘화 에너지에 기초하여 상기 각 영역에 포함되는 상기 묘화점에 의해 부여되는 상기 묘화 에너지의 총합을 상기 각 영역마다 산출하는 스텝;The drawing screen 12 is divided into a plurality of areas, and based on the calculated position of the drawing point and the drawing energy of the obtained drawing point, the drawing energy imparted by the drawing points included in the respective areas. Calculating a total for each of the areas; 상기 각 영역간에서의 상기 묘화 에너지의 총합의 차를 소정 이하로 하기 위해서 비묘화 상태로 되는 상기 묘화 소자(58)를 설정하는 마스크 데이터를 작성하는 스텝; 및Creating mask data for setting the drawing element (58) to be in a non-drawing state in order to make the difference in the total sum of the drawing energies between the respective areas less than or equal to a predetermined value; And 상기 마스크 데이터에 의해 비묘화 상태로 설정된 상기 묘화 소자(58)를 제외한 묘화 소자(58)를 묘화 데이터에 따라 제어하는 스텝을 갖는 것을 특징으로 하는 묘화 방법.And a drawing element (58) except for the drawing element (58) set in the non-drawing state by the mask data, according to the drawing data. 제 12 항에 있어서, 상기 묘화점의 위치는 상기 묘화 헤드(36)를 상기 주사 방향으로 상대 이동시켰을 때에 얻어지는 상기 각 영역에 있어서의 위치로서 산출하는 것을 특징으로 하는 묘화 방법.13. The drawing method according to claim 12, wherein the position of the drawing point is calculated as a position in each of the areas obtained when the drawing head (36) is relatively moved in the scanning direction. 제 12 항에 있어서, 상기 묘화면(12)을 상기 주사 방향 및 상기 주사 방향과 직교하는 방향으로 분할한 상기 각 영역에 대한 상기 마스크 데이터를 작성하는 스텝;The method according to claim 12, further comprising the steps of: creating the mask data for each of the areas obtained by dividing the drawing screen (12) in the scanning direction and in a direction orthogonal to the scanning direction; 상기 묘화 소자(58)의 상기 주사 방향에 대한 주사 위치의 정보를 취득하는 스텝; 및Acquiring information of a scan position in the scanning direction of the drawing element (58); And 취득한 상기 주사 위치의 정보에 따른 상기 마스크 데이터를 선택하는 스텝;Selecting the mask data according to the acquired information of the scanning position; 선택한 상기 마스크 데이터에 의해 상기 묘화 소자(58)의 일부를 비묘화 상태로 설정하고, 묘화 처리를 행하는 스텝을 갖는 것을 특징으로 하는 묘화 방법.And a step of setting a part of the drawing element (58) to a non-drawing state by the selected mask data and performing a drawing process.
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