KR20080100948A - Data output circuit of semiconductor device - Google Patents
Data output circuit of semiconductor device Download PDFInfo
- Publication number
- KR20080100948A KR20080100948A KR1020070047022A KR20070047022A KR20080100948A KR 20080100948 A KR20080100948 A KR 20080100948A KR 1020070047022 A KR1020070047022 A KR 1020070047022A KR 20070047022 A KR20070047022 A KR 20070047022A KR 20080100948 A KR20080100948 A KR 20080100948A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- driver
- signal
- data
- output
- control signal
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4096—Input/output [I/O] data management or control circuits, e.g. reading or writing circuits, I/O drivers or bit-line switches
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4093—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. data buffers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
- G11C7/1057—Data output buffers, e.g. comprising level conversion circuits, circuits for adapting load
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
- G11C7/1063—Control signal output circuits, e.g. status or busy flags, feedback command signals
Abstract
Description
도 1은 종래 기술에 따른 데이터 출력단의 블럭도.1 is a block diagram of a data output stage according to the prior art;
도 2는 종래 기술에 따른 데이터 출력단의 데이터 출력 버퍼 회로.2 is a data output buffer circuit of a data output stage according to the prior art;
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 데이터 출력단의 블럭도.3 is a block diagram of a data output stage in accordance with an embodiment of the present invention.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 데이터 출력단의 제어부.4 is a control unit of a data output terminal according to an embodiment of the present invention.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 데이터 출력단의 데이터 출력 버퍼 회로.5 is a data output buffer circuit at a data output stage according to an embodiment of the present invention;
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 데이터 출력 파형.6 is a data output waveform according to an embodiment of the present invention.
본 발명은 반도체 장치의 데이터 출력 회로에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 데이터의 출력 속도에 따라 구동력이 가변되는 데이터 출력 회로에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a data output circuit of a semiconductor device, and more particularly, to a data output circuit in which a driving force is varied according to the output speed of data.
일반적으로 반도체 장치는 주파수에 따라 모드 레지스터에서 설정되는 카스 레이턴시(CAS Latency, CL) 값이 변하여 DDR2 SDRAM의 경우, 고속 제품일 경우에 CL의 값을 5 이상으로 설정하고, 저속 제품일 경우에 CL의 값을 4 이하로 설정한 다.In general, the semiconductor device changes the CAS Latency (CL) value set in the mode register according to the frequency, and sets the CL value to 5 or higher in the case of a high-speed DDR2 SDRAM, and CL in the case of a low-speed product. Set the value to 4 or less.
여기에서 카스 레이턴시는 외부 클럭 신호에 동기되어 리드 명령(Read command)이 인가된 후, 데이터가 출력되는 시점까지 발생되는 외부 클럭 신호의 개수를 의미한다.The cas latency refers to the number of external clock signals generated until a data is output after a read command is applied in synchronization with the external clock signal.
따라서, 데이터의 입출력 속도가 빠를 때는 카스 레이턴시가 높게 설정되고, 데이터의 입출력 속도가 느릴 때는 카스 레이턴시가 낮게 설정된다. Therefore, when the input / output speed of data is high, the cascade latency is set high, and when the data input / output speed is slow, the cascade latency is set low.
도 1과 같이, 일반적으로 반도체 장치의 데이터 출력회로는 데이터 드라이버(미도시)에서 출력된 데이터 신호(D_Out)가 데이터 출력 버퍼(10)에 인가되고 데이터(DQ)가 출력되어 데이터 출력 핀(12)으로 인가된다. In general, as shown in FIG. 1, in the data output circuit of the semiconductor device, a data signal D_Out output from a data driver (not shown) is applied to the
도 2는 데이터 출력 버퍼(10)의 회로도를 나타내는 것으로서, 데이터 드라이버(미도시)에서 출력된 데이터 신호(D_Out)가 인가되는 프리 드라이버(Pre Driver)(100)와 프리 드라이버(100)에서 출력된 신호(Pre_Out P, Pre_Out N)가 인가되는 메인 드라이버(110)로 구성된다.FIG. 2 is a circuit diagram of the
이러한 메인 드라이버(110)는 제품의 공정단계에서 용량이 고정되는 것으로서, 구동력이 일정하기 때문에 데이터의 입출력 속도에 따라 데이터 밸리드 윈도우(Data Valid Window)불량이 발생할 수 있다. 이 불량은 리버젼(Revision)을 통해서만 해결할 수 있었다. The
즉, 상기 불량이 생기면, 불량 분석을 통해 확보된 데이터를 기준으로 제품의 특성에 맞는 구동력을 갖도록 데이터 출력 버퍼를 수정하는 등의 방법이 제시될 수 있다.That is, when the defect occurs, a method of modifying the data output buffer to have a driving force suitable for the characteristics of the product based on the data obtained through the defect analysis may be proposed.
그러나 메인 드라이버의 용량이 고정되기 때문에, 상술한 종래 방법으로 데이터의 입출력 속도에 따라 능동적으로 대처가 이루어질 수 없었다.However, since the capacity of the main driver is fixed, the above-described conventional method cannot actively cope with the data input / output speed.
상술한 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은 데이터 출력 속도에 따라 데이터 출력을 위한 구동력을 능동적으로 조절함에 있다.An object of the present invention for solving the above problems is to actively adjust the driving force for data output in accordance with the data output speed.
본 발명에 따른 반도체 장치의 데이터 출력회로는 주파수 상태에 대응되는 제어신호를 출력하는 제어부; 및 데이터 신호가 입력되고, 상기 제어신호에 따라 구동력이 가변되며, 가변된 상기 구동력으로 상기 데이터 신호를 구동하여 데이터를 출력하는 데이터 출력 버퍼;를 구비함을 특징으로 한다.A data output circuit of a semiconductor device according to the present invention includes a control unit for outputting a control signal corresponding to a frequency state; And a data output buffer for inputting a data signal, varying a driving force according to the control signal, and outputting data by driving the data signal with the variable driving force.
이중, 상기 제어부는 동작속도 정보신호로써 상기 주파수 상태를 판단할 수 있다.The control unit may determine the frequency state as an operation speed information signal.
그리고, 상기 동작속도 정보신호는 카스 레이턴시 정보신호임이 바람직하다.Preferably, the operation speed information signal is a cas latency information signal.
또한, 상기 제어부는 두 개 이상의 상기 카스 레이턴시 정보를 논리 연산하여 상기 제어신호를 출력할 수 있다.The control unit may output the control signal by performing logical operation on two or more of the cascade latency information.
한편, 상기 데이터 출력 버퍼는, 상기 데이터 신호를 구동하여 프리 드라이버 신호를 출력하는 프리 드라이버; 및 상기 프리 드라이버 신호를 가변된 구동력으로 상기 데이터 신호를 출력하는 메인 드라이버;를 구비할 수 있다.On the other hand, the data output buffer, a pre-driver for driving the data signal to output a pre-driver signal; And a main driver configured to output the data signal to the pre-driver signal with a variable driving force.
이중, 상기 메인 드라이버는, 상기 프리 드라이버 신호를 구동하여 출력하는 제 1 드라이버; 및 상기 제어신호에 따라 상기 프리 드라이버 신호의 구동을 선택 적으로 수행하는 제 2 드라이버;를 포함하며, 상기 제 1 드라이버와 상기 제 2 드라이버는 공통된 출력 노드를 가짐이 바람직하다.The main driver may include: a first driver for driving and outputting the pre-driver signal; And a second driver for selectively driving the pre-driver signal according to the control signal, wherein the first driver and the second driver have a common output node.
그리고, 상기 제 1 드라이버는, 상기 프리 드라이버 신호에 응답하여 상기 출력노드를 전원전압 레벨로 풀업하는 제 1 풀업부; 및 상기 프리 드라이버 신호에 응답하여 상기 출력 노드를 접지전압 레벨로 풀다운하는 제 1 풀다운부;로 구성될 수 있다.The first driver may include: a first pull-up unit configured to pull up the output node to a power supply voltage level in response to the pre-driver signal; And a first pull-down unit which pulls down the output node to a ground voltage level in response to the pre-driver signal.
또한, 상기 제 2 드라이버는, 상기 프리 드라이버 신호에 응답하여 상기 전원전압을 공급하는 제 2 풀업부; 상기 프리 드라이버 신호에 응답하여 상기 접지전압을 공급하는 제 2 풀다운부; 및 상기 제어신호에 따라 상기 전원전압과 상기 접지전압을 선택적으로 상기 출력 노드로 전달하는 스위치부;가 직렬연결되어 구성될 수 있다.The second driver may further include a second pull-up unit configured to supply the power voltage in response to the pre-driver signal; A second pull-down unit supplying the ground voltage in response to the pre-driver signal; And a switch unit configured to selectively transfer the power supply voltage and the ground voltage to the output node according to the control signal.
그리고, 상기 스위치부는 반전된 상기 제어 신호가 입력되는 제 1 트랜지스터와 상기 제어신호가 인가되는 제 2 트랜지스터가 직렬로 연결되어 구성될 수 있다.The switch unit may include a first transistor in which the inverted control signal is input and a second transistor in which the control signal is applied are connected in series.
아울러, 상기 메인 드라이버는 복수 개의 상기 제 2 드라이버를 구비할 수 있다.In addition, the main driver may include a plurality of the second drivers.
이하, 본 발명에 따른 반도체 장치의 데이터 출력회로의 바람직한 실시예에 대하여 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a preferred embodiment of a data output circuit of a semiconductor device according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
본 발명은 주파수 상태에 대응되는 제어신호를 출력하는 제어부와 제어신호 에 따라 가변된 구동력으로 데이터 신호를 출력하는 데이터 출력 버퍼를 포함한다. The present invention includes a control unit for outputting a control signal corresponding to a frequency state and a data output buffer for outputting a data signal with a driving force varied according to the control signal.
도 3을 참조하면, 반도체 장치의 데이터 출력회로는 주파수에 따라 모드 레지스터에서 설정된 카스 레이턴시 정보가 입력되고 카스 레이턴시 정보에 따라 제어신호(S_S)를 출력하는 제어부(20)와, 제어신호(S_S)로써 데이터 신호(D_Out)를 구동하는 데이터 출력 버퍼(22), 및 데이터 출력 버퍼(22)에서 출력되는 데이터(DQ)가 출력되는 데이터 출력 핀(24)을 포함한다.Referring to FIG. 3, the data output circuit of the semiconductor device includes a
여기에서 데이터 신호(D_Out)는 데이터 드라이버(미도시)에서 출력된 것이다.The data signal D_Out is output from a data driver (not shown).
도 4를 참조하면, 제어부(20)는 카스 레이턴시 정보 CL 5 및 CL 6이 입력되는 노아 게이트(NOR1)와, 노아 게이트(NOR1)의 출력을 반전하는 인버터(IV1)를 구비한다.Referring to FIG. 4, the
본 발명에서 제어부(20)는 고속 동작 모드인 경우, 카스 레이턴시 정보로써 CL 5, CL 6이 인에이블 상태로 제공되며, 인에이블 상태의 카스 레이턴시 정보 CL 5 또는 CL 6이 제공되면 인에이블을 위한 제어신호(S_S)가 출력된다.In the present invention, when the high-speed operation mode, the
따라서, 카스 레이턴시 정보가 CL 5 또는 CL 6일 경우, 최소한 어느 하나가 하이 레벨을 갖는 입력에 의하여 노아 게이트(NOR1)의 출력은 로우 레벨이 되고, 인버터(IV1)에 의해 하이 레벨의 제어신호(S_S)가 출력된다. Therefore, when the cascade latency information is CL 5 or CL 6, the output of the NOR gate NOR1 is at a low level by an input having at least one of the high levels, and the inverter IV1 controls the high level control signal ( S_S) is output.
도 5를 참조하면, 데이터 출력 버퍼(22)는 데이터 신호(D_Out)가 인가되는 프리 드라이버(210)와, 프리 드라이버(210)의 출력(Pre_OutP, Pre_OutN)을 제어신호(S_S)로써 가변된 구동력으로 구동하여 데이터 신호(DQ)를 출력하는 메인 드라이 버(220)를 구비한다.Referring to FIG. 5, the
여기에서, 프리 드라이버(210)는 입력된 데이터 신호(D_Out)로써 구동되어 프리 드라이버 신호(Pre_OutP, Pre_OutN)를 출력하는 두 개의 드라이버를 포함한다.Here, the pre-driver 210 includes two drivers driven by the input data signal D_Out to output the pre-driver signals Pre_OutP and Pre_OutN.
메인 드라이버(220)는 프리 드라이버 신호(Pre_OutP)에 의하여 구동되는 제 1 드라이버(222)와 프리 드라이버 신호(Pre_OutN)와 제어신호(S_S)에 의하여 구동되는 제 2 드라이버(224)를 포함한다. The
여기에서, 제 2 드라이버(224)는 데이터(DQ) 출력 상태가 고속 또는 저속 여부에 따라 선택적으로 구동된다. Here, the
먼저, 프리 드라이버(210)는 메인 드라이버(220)의 풀업용 트랜지스터(P3, P4)에 대응하여, 전원전압(VDD)과 접지전압 사이에 데이터 신호(D_Out)가 노드(Nd1)를 통해 풀업용 트랜지스터(P1)와 풀다운용 트랜지스터(N1)의 게이트에 인가되어 풀업 또는 풀다운을 수행함으로써 프리 드라이버 신호(Pre_OutP)를 출력하는 구성을 갖는다. First, the pre-driver 210 corresponds to the pull-up transistors P3 and P4 of the
또한, 프리 드라이버(210)는 메인 드라이버(220)의 풀다운 트랜지스터(N3, N5)에 대응하여, 전원전압(VDD)과 접지전압 사이에 데이터 신호(D_Out)가 노드(Nd2)를 통해 풀업용 트랜지스터(P2)와 풀다운용 트랜지스터(N2)의 게이트에 인가되어 풀업 또는 풀다운을 수행함으로써 프리 드라이버 신호(Pre_OutN)를 출력하는 구성을 갖는다. In addition, the pre-driver 210 corresponds to the pull-down transistors N3 and N5 of the
한편, 메인 드라이버(220)의 제 1 드라이버(222)는 전원전압(VDD)과 접지전 압 사이에 프리 드라이버 신호(Pre_OutP)가 게이트에 인가되는 풀업용 트랜지스터(P3)와 프리 드라이버 신호(Pre_OutN)가 게이트에 인가되는 풀다운용 트랜지스터(N3)가 직렬연결된다.Meanwhile, the
그리고 제 1 드라이버(222)는 트랜지스터(P3, N3)의 공통 노드와 출력단 즉, 노드(Nd3) 사이에 저항(R1)이 연결된다.In the
제 2 드라이버(224)는 프리 드라이버 신호(Pre_OutP, Pre_Out)에 의해 각각 풀업 및 풀다운 구동하는 구동부(224a)와 이러한 구동부(224a) 출력을 스위칭하는 스위치부(224b)로 구성된다.The
구동부(224a)는 전원전압(VDD)과 접지전압 사이에 프리 드라이버 신호(Pre_OutP)가 게이트에 인가되는 풀업용 트랜지스터(P4)와 프리 드라이버 신호(Pre_OutN)가 게이트에 인가되는 풀다운용 트랜지스터(N5)를 구비한다.The
스위치부(224b)는 구동부(224a)의 풀업 및 풀다운용 트랜지스터(P4, N5) 사이에 PMOS 트랜지스터(P5)와 NMOS 트랜지스터(N4)가 직렬연결되어 구성되며, 제어신호(S_S)에 의해 스위칭이 조절된다. The
이중, PMOS 트랜지스터(P5)의 게이트에는 인버터(IV2)에 의해 반전된 제어신호(S_S)가 인가되고, NMOS 트랜지스터(N4)의 게이트에는 노드(Nd4)를 통해 제어신호(S_S)가 인가된다. The control signal S_S inverted by the inverter IV2 is applied to the gate of the PMOS transistor P5, and the control signal S_S is applied to the gate of the NMOS transistor N4 through the node Nd4.
따라서, 제어신호(S_S)에 따라 PMOS 트랜지스터(P5)와 NMOS 트랜지스터(N4)를 포함하는 스위치부(224b)가 턴온 되거나 턴오프 된다.Therefore, the
만약, 스위치부(224b)가 턴온되면, 프리 드라이버 신호(Pre_OutP, Pre_OutN) 로써 구동부(224a)의 출력이 노드(Nd3)를 통해 출력된다.If the
이때, 제 1 드라이버도 구동 상태이므로, 노드(Nd3)를 통한 데이터(DQ)는 제 2 드라이버에 의하여 구동력이 보강됨에 따라 출력된다. At this time, since the first driver is also in a driving state, the data DQ through the node Nd3 is output as the driving force is reinforced by the second driver.
주파수에 따라 모드 레지스터에서 설정된 카스 레이턴시 값이 CL 5 또는 CL 6이 제공되면, 즉, 고속 동작 모드인 경우 제어부(20)는 노아 게이트(NOR1)와 인버터(IV1)를 통해 하이 레벨의 제어신호(S_S)를 출력한다. When the cas latency value set in the mode register is set to CL 5 or CL 6 according to the frequency, that is, in the high speed operation mode, the
하이 레벨의 제어신호(S_S)는 제 2 드라이버(224)의 스위치부(224b)에 인가되어 PMOS 트랜지스터(P5)와 NMOS 트랜지스터(N4)를 턴온 시킨다.The high level control signal S_S is applied to the
데이터 신호(D_Out)는 프리 드라이버(210)를 통해 프리 드라이버 신호(Pre_OutP, Pre_OutN)로 출력되며 제 1 드라이버(222)와 제 2 드라이버(224)에 인가된다. The data signal D_Out is output as the predriver signals Pre_OutP and Pre_OutN through the
제 1 드라이버(222)는 프리 드라이버 신호(Pre_OutP, Pre_OutN)에 의하여 구동되며, 제 2 드라이버(224)는 제 1 드라이버(222)의 구동력을 보완한다.The
반대로, 카스 레이턴시가 CL 5 또는 CL 6이 아닌 경우 즉, 저속 동작 모드인 경우 제어부(20)는 노아 게이트(NOR1)와 인버터(IV1)를 통해 로우 레벨의 제어신호(S_S)를 출력한다. On the contrary, when the cas latency is not CL 5 or CL 6, that is, in the low speed operation mode, the
로우 레벨의 제어신호(S_S)는 제 2 드라이버(224)의 스위치부(224b)에 인가되며, PMOS 트랜지스터(P5)와 NMOS 트랜지스터(N4)를 턴오프 시킨다.The low level control signal S_S is applied to the
데이터 신호(D_Out)는 프리 드라이버(210)를 통해 프리 드라이버 신호(Pre_OutP, Pre_OutN)로 출력되며, 제 1 드라이버(222)와 제 2 드라이버(224)에 인가된다. The data signal D_Out is output as the predriver signals Pre_OutP and Pre_OutN through the
제 1 드라이버(222)는 프리 드라이버 신호(Pre_OutP, Pre_OutN)에 의하여 구동되며, 제 2 드라이버(224)는 구동되지 않는다.The
따라서, 메인 드라이버(220)는 동작 모드에 따라 구동력이 가변되어 데이터 (DQ)를 출력하게 된다.Accordingly, the
이와 같이, 본 발명은 주파수 상태에 대응되는 제어신호에 의해 메인 드라이버(220)의 용량이 가변됨으로써, 고속 동작 모드인 경우에는 상대적으로 메인 드라이버의 구동력을 높이고, 저속 동작 모드인 경우에는 상대적으로 메인 드라이버의 구동력을 낮춘다.As described above, according to the present invention, the capacity of the
따라서, 데이터 입출력 속도가 빠른 경우에 발생할 수 있는 데이터 밸리드 윈도우(Data Valid Window) 불량을 방지하며, 데이터 입출력 속도가 느릴 경우에 발생할 수 있는 과도한 메인 드라이버의 동작에 따른 전력 소모 및 데이터 출력 파형의 오버슈트(Over Shoot)를 방지할 수 있다.Therefore, it prevents the data valid window defect that may occur when the data input / output speed is high, and the power consumption and data output waveforms caused by excessive main driver operation that may occur when the data input / output speed is slow. Overshoot can be prevented.
본 발명의 실시예에서는 카스 레이턴시가 CL 5 또는 CL 6 만을 사용하였지만, 주파수 상태에 대응되는 제어신호에 따른 동작속도 정보를 갖는 다른 신호를 이용할 수도 있다.In the embodiment of the present invention, the cas latency uses only CL 5 or CL 6, but other signals having operating speed information according to a control signal corresponding to the frequency state may be used.
한편, 도 6은 본 발명의 실시예에 따른 저속 모드의 데이터 파형(a)과 고속 모드의 데이터 파형(b)을 비교한 그래프이다.6 is a graph comparing the data waveform (a) of the low speed mode and the data waveform (b) of the high speed mode according to an embodiment of the present invention.
파형 (a)는 저속 모드에 해당하는 경우이고, 파형(b)는 고속 모드에 해당하는 경우이다. 파형(b)를 참조하면, 데이터 밸리드 윈도우가 개선됨을 알 수 있다.The waveform (a) corresponds to the low speed mode, and the waveform (b) corresponds to the high speed mode. Referring to waveform (b), it can be seen that the data valid window is improved.
본 발명에 따른 반도체 장치의 데이터 출력 회로는 주파수 상태에 따라 메인 드라이버의 용량을 가변함으로써, 데이터 출력 속도에 따라 구동력이 조절될 수 있다. In the data output circuit of the semiconductor device according to the present invention, the driving force can be adjusted according to the data output speed by varying the capacity of the main driver according to the frequency state.
또한, 본 발명은 데이터 출력 속도에 따라 구동력이 조절되어 데이터 출력 파형의 오버슈트 현상을 방지하고, 과도한 드라이버의 동작에 따른 전력 소모를 줄인다. In addition, the present invention, the driving force is adjusted according to the data output speed to prevent overshoot of the data output waveform, and reduces the power consumption due to excessive operation of the driver.
Claims (10)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070047022A KR20080100948A (en) | 2007-05-15 | 2007-05-15 | Data output circuit of semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070047022A KR20080100948A (en) | 2007-05-15 | 2007-05-15 | Data output circuit of semiconductor device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080100948A true KR20080100948A (en) | 2008-11-21 |
Family
ID=40287279
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070047022A KR20080100948A (en) | 2007-05-15 | 2007-05-15 | Data output circuit of semiconductor device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20080100948A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8102722B2 (en) | 2008-12-31 | 2012-01-24 | Hynix Semiconductor Inc. | Data output device for semiconductor memory apparatus |
US9673814B2 (en) | 2015-07-27 | 2017-06-06 | SK Hynix Inc. | Semiconductor devices and semiconductor systems including the same |
US9917589B2 (en) | 2016-02-02 | 2018-03-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Transmitter circuit and receiver circuit for operating under low voltage |
-
2007
- 2007-05-15 KR KR1020070047022A patent/KR20080100948A/en not_active Application Discontinuation
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8102722B2 (en) | 2008-12-31 | 2012-01-24 | Hynix Semiconductor Inc. | Data output device for semiconductor memory apparatus |
US9673814B2 (en) | 2015-07-27 | 2017-06-06 | SK Hynix Inc. | Semiconductor devices and semiconductor systems including the same |
US9917589B2 (en) | 2016-02-02 | 2018-03-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Transmitter circuit and receiver circuit for operating under low voltage |
US10523204B2 (en) | 2016-02-02 | 2019-12-31 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Transmitter circuit and receiver circuit for operating under low voltage |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8581620B2 (en) | Semiconductor device including data output circuit supporting pre-emphasis operation | |
US7944233B1 (en) | Data output circuit | |
KR101053542B1 (en) | Data strobe signal output driver | |
JP4987458B2 (en) | Data output circuit and method for semiconductor memory device | |
US8299831B2 (en) | Semiconductor device | |
US9722582B2 (en) | Semiconductor device with output driver pre-emphasis scheme | |
EP2214314A2 (en) | Level shifter having low duty cycle distorsion | |
KR100983512B1 (en) | Output circuit of a semiconductor circuit | |
KR20140146330A (en) | Driving device | |
US7868667B2 (en) | Output driving device | |
KR19990003172A (en) | Output buffer of semiconductor memory device | |
CN105099438B (en) | Semiconductor device with a plurality of transistors | |
KR20080100948A (en) | Data output circuit of semiconductor device | |
KR20110002304A (en) | Semiconductor device | |
KR100892643B1 (en) | Data Output Driver Circuit | |
US8811096B2 (en) | Output driver circuit and semiconductor storage device | |
KR100656471B1 (en) | Input buffer | |
JP2011135436A (en) | Semiconductor device | |
KR20030020124A (en) | Output driver circuit | |
KR20080100055A (en) | Output circuit for data of semiconductor device | |
KR20090097711A (en) | Buffering circuit of semiconductor memory apparatus | |
KR100500415B1 (en) | pre-driver circuit and data output circiut using the same | |
US20120039134A1 (en) | Data output circuit in a semiconductor memory apparatus | |
JP7361474B2 (en) | input circuit | |
KR100411023B1 (en) | Output circuit |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
WITN | Withdrawal due to no request for examination |