KR20080090199A - Multi stacking package and method of manufacturing the same - Google Patents

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KR20080090199A KR1020070033425A KR20070033425A KR20080090199A KR 20080090199 A KR20080090199 A KR 20080090199A KR 1020070033425 A KR1020070033425 A KR 1020070033425A KR 20070033425 A KR20070033425 A KR 20070033425A KR 20080090199 A KR20080090199 A KR 20080090199A
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Abstract

A multi-stack package and a method for manufacturing the same are provided to improve the productivity in a manufacturing process by manufacturing the multi-stack package in which a plurality of semiconductor packages are physically and electrically connected to each other through sequential stack of packages having excellent equality. A multi-stack package includes a mounting board(105), a first package(110), a second package(120) and a molding member(150). First and second pad are provided on the mounting board. The first package is disposed on the mounting board. The first packages have a first die electrically connected to the first pad. The first package is a package judged as an excellent product. The second package is disposed on the first package. The second packages have a second die electrically connected to the second pad. The second package is a package judged as an excellent product. The molding member molds the first package and the second package on the mounting board as a whole.

Description

멀티 스택 패키지 및 이의 제조 방법{MULTI STACKING PACKAGE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME}MULTI STACKING PACKAGE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME}

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 멀티 스택 패키지를 설명하기 위한 단면도이다.1 is a cross-sectional view illustrating a multi-stack package according to an embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 다른 실시예에 따른 멀티 스택 패키지를 설명하기 위한 단면도이다.2 is a cross-sectional view illustrating a multi-stack package according to another embodiment of the present invention.

도 3 내지 도 6은 도 1에 도시한 멀티 스택 패키지의 제조 방법을 설명하기 위한 단면도들이다.3 to 6 are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing the multi-stack package shown in FIG. 1.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

100, 200:멀티 스택 패키지 105, 205:실장 보드100, 200: Multi-stack package 105, 205: Mounting board

110, 210:제1 패키지 111, 211: 제1 기판110, 210: First package 111, 211: First substrate

115, 215 : 제1 칩 117, 217: 제1 보호 부재115, 215: First chip 117, 217: First protective member

120, 220:제2 패키지 121, 221 : 제2 기판120, 220: 2nd package 121, 221: 2nd board | substrate

125, 225 : 제2 칩 127, 227 : 제2 보호 부재125, 225: second chip 127, 227: second protective member

122:제1 기판 124:제1 반도체 칩122: first substrate 124: first semiconductor chip

126:제1 도전볼 128:제1 보호 부재126: First conductive ball 128: First protective member

140:실딩 부재 150:몰딩 부재140: shielding member 150: molding member

본 발명은 멀티 스택 패키지 및 이의 제조 방법에 관한 것이다. 보다 구체적으로는, 반도체 패키지들이 물리적 및 전기적으로 연결되게 수직방향으로 적층된 멀티 스택 패키지 및 이의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a multi stack package and a method of manufacturing the same. More specifically, the present invention relates to a multi-stack package and a method of manufacturing the semiconductor packages vertically stacked to be physically and electrically connected.

일반적으로, 반도체 장치(semiconductor device)는 실리콘 기판(silicon substrate) 상에 집적 회로(integrated circuit)가 형성된 반도체 칩(semiconductor chip)을 제조하는 반도체 칩 제조 공정, 반도체 칩을 전기적으로 검사하여 소팅(sorting)하는 EDS(electrically die sorting) 공정 및 반도체 칩을 보호하기 위한 패키징 공정에 의하여 제조된다.In general, a semiconductor device is a semiconductor chip manufacturing process for manufacturing a semiconductor chip in which an integrated circuit is formed on a silicon substrate, and the semiconductor chip is electrically inspected and sorted. ) Is manufactured by an electrically die sorting (EDS) process and a packaging process to protect the semiconductor chip.

현재 반도체 장치는 고성능 및 고집적화를 목적으로 개발되고 있다. 고성능 및 고집적된 반도체 장치를 제조하기 위해서는, 패키징 기술의 뒷받침이 무엇보다 중요하다. 이는, 패키징 기술에 따라서, 반도체 장치의 크기, 열방출 능력, 전기적 수행 능력, 신뢰성, 가격 등이 크게 변하기 때문이다. Currently, semiconductor devices are being developed for the purpose of high performance and high integration. To manufacture high performance and highly integrated semiconductor devices, the backing of the packaging technology is of paramount importance. This is because the size, heat dissipation capability, electrical performance, reliability, price, and the like of the semiconductor device greatly change depending on the packaging technology.

패키징 기술은 에스아이피(single inline package, SIP), 디아이피(dual inline package, DIP), 큐에프피(quad flat package, QFP), 비지에이(ball grid array, BGA) 순으로 발전되어 왔다. 최근에는, 단위체적당 실장 효율을 높이기 위하여, 씨에스피(chip scale package, CSP), 엠씨피(multi chip package, MCP), 에스씨에스피(stacked CSP, SCSP), 더블유엘씨에스피(wafer level CSP, WLCSP) 등과 같은 패키징 기술도 개발되었다. 나아가 기판 상에 반도체 칩들이 제조된 상태에서 다이본딩, 몰딩, 트리밍, 마킹 등의 일련의 조립 공정을 수행한 다음, 상기 기판을 절단하여 바로 반도체 장치를 생산하는 더블유엘피(wafer level package, WLP)도 개발되었다.Packaging technologies have been developed in the order of single inline package (SIP), dual inline package (DIP), quad flat package (QFP), and ball grid array (BGA). Recently, in order to increase the mounting efficiency per unit volume, chip scale package (CSP), multi chip package (MCP), stacked CSP (SCSP), double level CSP (wafer level CSP, WLCSP) Packaging technologies have been developed. Furthermore, a wafer level package (WLP) that performs a series of assembly processes such as die bonding, molding, trimming, marking, etc. in a state in which semiconductor chips are manufactured on a substrate, and then cuts the substrate to produce a semiconductor device. Also developed.

최근의 패키징 기술 중의 하나로서, 최근의 패키징 기술 중의 하나로서, 피아이피(package in package, PIP) 기술이 있다. 일반적인 피아이피 기술에 따르면, 실장 보드 상에 제1 다이를 실장한 후, 제1 다이를 포함하는 실장 보드 상에 양품 패키지를 적층한 후, 상기 양품 패키지를 실장 보드 상의 패드와 연결시킨다. 이후, 제1 다이 및 양품 패키지를 덮도록 상기 실장 보드 상에 몰딩 부재를 형성하여 반도체 패키지를 완성한다. 하지만, 상기 제1 다이에 불량이 발생할 경우, 전체 반도체 패키지에 불량이 발생할 수 있다. 따라서, 반도체 패키지의 제조 공정의 생산성이 감소한다. As one of the recent packaging technologies, one of the recent packaging technologies is a package in package (PIP) technology. According to a general PIP technology, after mounting a first die on a mounting board, laminating a good package on a mounting board including the first die, and connecting the good package with the pad on the mounting board. Thereafter, a molding member is formed on the mounting board to cover the first die and the good package, thereby completing the semiconductor package. However, when a failure occurs in the first die, a failure may occur in the entire semiconductor package. Therefore, the productivity of the manufacturing process of the semiconductor package is reduced.

본 발명은 전술한 종래 기술의 문제점들을 해소하고자 안출된 것으로서 본 발명의 일 목적은 생산 효율을 향상시킬 수 있는 멀티 스택 패키지를 제공하는 것이다. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems of the prior art, and an object of the present invention is to provide a multi-stack package capable of improving production efficiency.

또한, 본 발명의 다른 목적은 상기 멀티 스택 패키지의 제조 방법을 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a method for manufacturing the multi-stack package.

상술한 본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 일 관점에 따른 멀 티 스택 패키지는 제1 및 제2 패드들이 형성된 실장 보드, 상기 실장 보드 상에 배치되며, 상기 제1 패드와 전기적으로 연결된 제1 다이를 구비하고 양품으로 판정된 제1 패키지, 상기 제1 패키지 상에 역전되어 배치되며, 상기 제2 패드와 전기적으로 연결된 제2 다이를 구비하고, 양품으로 판정된 제2 패키지 및 상기 실장 보드 상에 상기 제1 패키지와 상기 제2 패키지를 전체적으로 몰딩하는 몰딩 부재를 포함한다.In order to achieve the above object of the present invention, a multi-stack package according to an aspect of the present invention is disposed on the mounting board on which the first and second pads are formed, and is electrically connected to the first pad. A first package having a first die and determined to be good, a second package disposed to be inverted on the first package and electrically connected to the second pad, the second package and being mounted as good And a molding member for molding the first package and the second package as a whole on a board.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 및 제2 다이들은 상기 제1 및 제2 패드들에 와이어 본딩으로 연결될 수 있다. 또한, 상기 몰딩 부재는 상기 실장 보드의 측면을 덮을 수 있다. 한편, 상기 제1 패키지는 볼-그리드-어레이(BGA) 또는 리드 프레임 방식일 수 있다. 또한, 상기 제2 패키지는 볼-그리드-어레이(BGA) 또는 리드 프레임 방식일 수 있다.In one embodiment of the present invention, the first and second dies may be connected by wire bonding to the first and second pads. In addition, the molding member may cover the side surface of the mounting board. The first package may be a ball grid array (BGA) or a lead frame method. In addition, the second package may be a ball-grid array (BGA) or a lead frame method.

상술한 본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 다른 관점에 멀티 스택 패키지의 제조 방법에 따르면, 제1 패드 및 제2 패드가 형성된 실장 보드 상에 상기 제1 패드와 전기적으로 연결된 제1 다이를 구비하고 양품으로 판정된 제1 패키지를 형성한 후, 상기 제1 패키지 상부에 상기 제2 패드와 전기적으로 연결된 제2 다이를 구비하고 양품으로 판정된 제2 패키지를 역전되어 적층한다. 이후, 상기 실장 보드 상에 몰딩 부재를 이용하여 상기 제1 패키지와 상기 제2 패키지를 전체적으로 몰딩한다.According to another aspect of the present invention, in order to achieve the above object of the present invention, a method for manufacturing a multi-stack package includes: a first die electrically connected to the first pad on a mounting board on which a first pad and a second pad are formed; After forming a first package determined to be good quality, and having a second die electrically connected to the second pad on the first package, the second package determined to be good is inverted and stacked. Thereafter, the first package and the second package are molded as a whole by using a molding member on the mounting board.

여기서, 상기 제1 패키지는 상기 실장 보드 상에 제1 다이를 와이어 본딩 방식으로 상기 제1 패드에 연결한 후, 상기 제1 다이를 봉지하고, 상기 제1 다이를 테스트함으로써, 상기 실장 보드 상에 형성된다.Here, after the first package is connected to the first pad by a wire bonding method on the mounting board, the first die is encapsulated and the first die is tested so that the first die is mounted on the mounting board. Is formed.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 제1 패키지와 상기 제2 패키지를 전체적으로 몰딩하는 단계는, 상기 실장 기판의 하면에 베이스 필름을 형성한 후, 상기 베이스 필름 상에 상기 제1 및 제2 패키지들을 덮는 몰딩 부재를 형성함으로써 수행될 수 있다.According to an embodiment of the present disclosure, the molding of the first package and the second package as a whole may include forming a base film on a bottom surface of the mounting substrate and then forming the first and second packages on the base film. It can be carried out by forming a molding member covering the teeth.

본 발명의 일 실시예에 따른 멀티 스택 패키징의 제조 방법은 상기 실장 보드의 하면에 볼 그리드 어레이를 형성하는 단계를 더 포함할 수 있다.The method of manufacturing a multi-stack packaging according to an embodiment of the present invention may further include forming a ball grid array on a bottom surface of the mounting board.

본 발명에 따르면, 제1 다이를 패키징한 후 테스트를 수행하여 양품을 판정한 후 제2 패키지를 적층함으로써, 멀티 스택 패키지의 생산성이 개선될 수 있다.According to the present invention, the productivity of a multi-stack package can be improved by packaging a first die and then performing a test to determine good quality and then stacking a second package.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 칩 적층 패키지 및 그 제조 방법에 대해 상세히 설명한다. 본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 기하기 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다. Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail a chip stack package and a manufacturing method according to an embodiment of the present invention. As the inventive concept allows for various changes and numerous embodiments, particular embodiments will be illustrated in the drawings and described in detail in the text. However, this is not intended to limit the present invention to the specific disclosed form, it should be understood to include all modifications, equivalents, and substitutes included in the spirit and scope of the present invention. In describing the drawings, similar reference numerals are used for similar elements. In the accompanying drawings, the dimensions of the structures are shown in an enlarged scale than actual for clarity of the invention.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. Terms such as first and second may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, without departing from the scope of the present invention, the first component may be referred to as the second component, and similarly, the second component may also be referred to as the first component.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular example embodiments only and is not intended to be limiting of the present invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise. In this application, the terms "comprise" or "have" are intended to indicate that there is a feature, number, step, action, component, part, or combination thereof described in the specification, and one or more other features. It is to be understood that the present invention does not exclude the possibility of the presence or the addition of numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.

다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다. Unless defined otherwise, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art. Terms such as those defined in the commonly used dictionaries should be construed as having meanings consistent with the meanings in the context of the related art and shall not be construed in ideal or excessively formal meanings unless expressly defined in this application. Do not.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 멀티 스택 패키지를 설명하기 위한 단면도이다.1 is a cross-sectional view illustrating a multi-stack package according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 멀티 스택 패키지(100)는 실장 보드(105), 제1 패키지(110), 제2 패키지(120) 및 몰딩 부재(150)를 포함한다. Referring to FIG. 1, a multi-stack package 100 according to an embodiment of the present invention includes a mounting board 105, a first package 110, a second package 120, and a molding member 150.

실장 보드(105)는 일종의 인쇄 회로 기판일 수 있다. 실장 보드(105)는 제1 및 제2 패키지(110, 120)에 파워를 공급하고, 제1 및 제2 패키지(110, 120)로 신호를 입력하며, 또한, 제1 및 제2 패키지(110, 120)로부터 신호를 출력 받는다. 즉, 실장 보드(105)와 제1 및 제2 패키지(110, 120)는 전기적으로 연결된다.The mounting board 105 may be a kind of printed circuit board. The mounting board 105 supplies power to the first and second packages 110 and 120, inputs signals to the first and second packages 110 and 120, and also mounts the first and second packages 110. , 120 receives a signal. That is, the mounting board 105 and the first and second packages 110 and 120 are electrically connected.

실장 보드(105) 상에는 제1 패드(101) 및 제2 패드(103)가 형성된다. 제1 패드(101)를 통하여 실장 보드(105)는 제1 패키지(110)와 전기적으로 연결되고, 제2 패드(103)를 통하여 실장 보드(105)는 제2 패드(120)와 전기적으로 연결된다. The first pad 101 and the second pad 103 are formed on the mounting board 105. The mounting board 105 is electrically connected to the first package 110 through the first pad 101, and the mounting board 105 is electrically connected to the second pad 120 through the second pad 103. do.

제1 패키지(110)는 실장 보드(105) 상에 실장된다. 제1 패키지(110)는 소정의 기준으로 테스트되어 양품으로 판정된 노운 굿 패키지(known good package; KGP)를 포함한다. 단위 칩 단위가 아니라 패키지 단위로 실장 보드(105) 상에 배치됨으로써 칩 단위를 취급하는 동안 발생할 수 있는 불량이 억제될 수 있다. 나아가, 소정의 기준으로 패키지를 먼저 테스트하여 양품 패키지를 선별하여 양품 패키지를 실장 보드(105) 상에 실장함으로써 멀티 스택 패키지(100)의 생산성이 향상될 수 있다.The first package 110 is mounted on the mounting board 105. The first package 110 includes a known good package (KGP) that has been tested on a predetermined basis and determined to be good. By being disposed on the mounting board 105 in a package unit rather than a unit chip unit, defects that may occur during handling of the chip unit may be suppressed. In addition, the productivity of the multi-stack package 100 may be improved by first testing the package based on a predetermined criterion and selecting a good package to mount the good package on the mounting board 105.

제1 패키지(110)는 제1 기판(111), 제1 다이(115) 및 제1 보호 부재(117)를 포함한다.The first package 110 includes a first substrate 111, a first die 115, and a first protection member 117.

제1 기판(111)은 전체적으로 사각 형상을 갖는다. 제1 기판(111)에는 외부로부터 신호를 입력받거나, 외부로 신호를 출력하기 위한 제1 회로(미도시)들이 형성된다. 예를 들어, 제1 기판(111)은 인쇄 회로 기판(printed circuit board, PCB)일 수 있다.The first substrate 111 has a rectangular shape as a whole. First circuits (not shown) are formed on the first substrate 111 to receive signals from the outside or output signals to the outside. For example, the first substrate 111 may be a printed circuit board (PCB).

제1 다이(115)는 제1 기판(111) 상에 배치된다. 제1 다이(115)는 상기 제1 회로와 제1 패드(101)를 통하여 전기적으로 연결된다. 제1 다이(115)는 제1 기판(111) 상에는 복수로 배치될 수 있다. 또한, 제1 다이(115)는 제1 기판(111)의 상면 또는 하면에 배치될 수 있다.The first die 115 is disposed on the first substrate 111. The first die 115 is electrically connected to the first circuit through the first pad 101. The first die 115 may be disposed in plurality on the first substrate 111. In addition, the first die 115 may be disposed on an upper surface or a lower surface of the first substrate 111.

제1 기판(111) 상에는 제1 다이(115)를 둘러싸는 제1 보호 부재(117)가 형성된다. 제1 보호 부재(117)는 에폭시 수지로 이루어질 수 있다. 제1 보호 부재(117)는 외부로 노출되는 제1 다이(115)를 외부 충격으로부터 보호할 뿐만 아니라, 제1 기판(111)에 대한 제1 다이(115)의 위치를 고정한다.The first protection member 117 surrounding the first die 115 is formed on the first substrate 111. The first protective member 117 may be made of an epoxy resin. The first protection member 117 not only protects the first die 115 exposed to the outside from external impact but also fixes the position of the first die 115 with respect to the first substrate 111.

제1 와이어(131)는 제1 패키지(110)를 제1 패드(101)를 상호 연결시킨다. 따라서, 제1 패키지(110)는 실장 기판(105)과 전기적으로 연결된다. 제1 패키지(110)은 제1 와이어(131)를 통하여 신호를 입력받거나 외부로 신호를 출력한다.The first wire 131 interconnects the first package 110 to the first pad 101. Thus, the first package 110 is electrically connected to the mounting substrate 105. The first package 110 receives a signal through the first wire 131 or outputs a signal to the outside.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 제1 패키지(110)는 볼-그리드-어레이(ball gird array; BGA)방식일 수 있다. 본 발명의 다른 실시예에 있어서, 제1 패키지(110)는 리드 프레임 방식(lead frame) 방식일 수 있다.In one embodiment of the present invention, the first package 110 may be a ball-grid array (BGA). In another embodiment of the present invention, the first package 110 may be a lead frame method.

제2 패키지(120)는 제1 패키지(110) 상에 반전된 상태로 적층된다. 제1 패키지(110)의 제1 보호 부재(117)가 제2 패키지(120)의 제2 보호 부재(127)와 상호 마주보도록 배치된다. 따라서, 제2 기판(121)의 하면이 노출됨으로써, 제2 기판(121)의 하면에 형성된 도전 패턴(미도시)이 노출된다. 상기 노출된 도전 패턴은 와이어 본딩 방식으로 실장 보드(105)에 실장된다. 따라서, 제2 기판(121) 상에 제2 다이(125)의 실장 위치에 인접하여 별도의 도전 패턴을 형성할 경우와 비교할 때 본 발명에 다른 제2 기판(121)은 상대적으로 좁은 면적을 가질 수 있다. 결과적으로 제1 및 제2 패키지들(110, 120)을 포함하는 멀티 스택 패키지(100)의 소형화 구현이 가능하게 된다. 제2 패키지(120)는 소정의 기준으로 테스트되어 양품으로 판정된 노운 굿 패키지(known good package)에 해당할 수 있다. 따라서, 실장 보드(105) 상에 제2 패키지(120)를 실장하기 전, 제2 패키지(210)를 테스트한다. 이후, 양품으로 판정된 제2 패키지(120)를 실장 보드(205) 상에 실장함으로써, 멀티 스택 패키지 전체의 생산 효율이 증가할 수 있다.The second package 120 is stacked on the first package 110 in an inverted state. The first protective member 117 of the first package 110 is disposed to face the second protective member 127 of the second package 120. Therefore, the lower surface of the second substrate 121 is exposed to expose the conductive pattern (not shown) formed on the lower surface of the second substrate 121. The exposed conductive pattern is mounted on the mounting board 105 by wire bonding. Therefore, the second substrate 121 according to the present invention has a relatively narrow area as compared to the case where a separate conductive pattern is formed adjacent to the mounting position of the second die 125 on the second substrate 121. Can be. As a result, miniaturization of the multi-stack package 100 including the first and second packages 110 and 120 is possible. The second package 120 may correspond to a known good package that has been tested on a predetermined basis and determined to be good quality. Therefore, the second package 210 is tested before the second package 120 is mounted on the mounting board 105. Thereafter, by mounting the second package 120 that is determined to be good on the mounting board 205, the production efficiency of the entire multi-stack package may be increased.

제2 패키지(120)는 제2 기판(121), 제2 다이(125) 및 제2 보호 부재(127)를 포함한다. The second package 120 includes a second substrate 121, a second die 125, and a second protection member 127.

제2 기판(121)은 전체적으로 사각 형상을 갖는다. 제2 기판(121)에는 외부로부터 신호를 입력받거나, 외부로 신호를 출력하기 위한 제2 회로(미도시)들이 형성된다. 제2 기판(121)은 인쇄 회로 기판일 수 있다. 제2 기판(121)은 제1 기판(111)과 동일한 크기 및 동일한 열팽창 개수를 가질 수 있고, 서로 다른 크기를 가질 수 있다.The second substrate 121 has a rectangular shape as a whole. Second circuits (not shown) are formed on the second substrate 121 to receive signals from the outside or to output signals to the outside. The second substrate 121 may be a printed circuit board. The second substrate 121 may have the same size and the same number of thermal expansions as the first substrate 111 and may have different sizes.

제2 다이(125)는 제2 기판(121) 상에 배치된다. 제2 다이(125)는 상기 제2 회로와 전기적으로 연결된다. 제2 다이(125)는 제2 기판(121) 상에 복수로 배치될 수 있다. The second die 125 is disposed on the second substrate 121. The second die 125 is electrically connected to the second circuit. The second die 125 may be disposed in plurality on the second substrate 121.

제2 기판(121) 상에는 제2 다이(125)를 둘러싸는 제2 보호 부재(127)가 형성된다. 제2 보호 부재(127)는 제2 다이(125)를 외부 충격으로부터 보호할 뿐만 아니라, 제2 기판(121)에 대한 제2 다이(125)의 위치를 고정한다. A second protective member 127 is formed on the second substrate 121 to surround the second die 125. The second protective member 127 not only protects the second die 125 from external impact, but also fixes the position of the second die 125 with respect to the second substrate 121.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 제2 패키지(120)는 볼-그리드-어레이(ball gird array; BGA)방식일 수 있다. 본 발명의 다른 실시예에 있어서, 제2 패키지(120)는 리드 프레임 방식(lead frame) 방식일 수 있다.In one embodiment of the present invention, the second package 120 may be a ball-grid array (BGA). In another embodiment of the present invention, the second package 120 may be a lead frame method.

본 실시예에서는, 제2 다이(125)가 제1 다이(115)와 상이한 형상을 갖지만, 이로써 본 발명이 제한되는 것은 아님을 밝혀둔다.In the present embodiment, the second die 125 has a different shape than the first die 115, but it is noted that the present invention is not limited thereto.

제2 와이어(133)는 제2 다이(125)를 제2 기판(121)을 상호 연결시킨다. 따라서 제2 패키지(110)는 제2 기판(121)과 전기적으로 연결된다. 제2 다이(125)는 제1 와이어(133)를 통하여 신호를 입력받거나 외부로 신호를 출력한다.The second wire 133 interconnects the second die 125 to the second substrate 121. Therefore, the second package 110 is electrically connected to the second substrate 121. The second die 125 receives a signal through the first wire 133 or outputs a signal to the outside.

제1 및 제2 패키지들(110,120)은 전기적으로 연결된다. 보다 자세하게는, 제1 패키지(110)는 제1 와이어(131)에 의하여 제1 패드(101)와 전기적으로 연결된다. 제2 패키지(120)는 제3 와이어(135)의 제2 패드(103)와 전기적으로 연된다. 이 결과, 제1 및 제2 패키지들(110,120)이 전기적으로 연결된다.The first and second packages 110 and 120 are electrically connected. In more detail, the first package 110 is electrically connected to the first pad 101 by the first wire 131. The second package 120 is electrically connected to the second pad 103 of the third wire 135. As a result, the first and second packages 110 and 120 are electrically connected.

제1 및 제2 패키지들(110,120) 신호를 서로 주고받으며 소정의 기능을 수행하게 된다. 제1 및 제2 패키지들(110,120)의 원활한 상호작용을 위해서는, 제1 및 제2 패키지들(110,120)이 물리적 및 전기적으로 견고하게 결합되어야 한다.The first and second packages 110 and 120 exchange signals with each other to perform a predetermined function. For smooth interaction of the first and second packages 110, 120, the first and second packages 110, 120 must be firmly coupled physically and electrically.

몰딩 부재(150)는 실장 보드(105) 상에 제1 및 제2 패키지들(110, 120)을 덮도록 배치된다. 몰딩 부재(150)는, 예를 들면, 에폭시 봉지재(epoxy molding compound)를 포함할 수 있다. 몰딩 부재(150)는 제1 및 제2 패키지들(110, 120)을 외부로부터의 물리적 또는 전기적 충격으로 보호하고, 제1 및 제2 패키지들(110, 120)을 실장 보드(105)에 고정시킨다.The molding member 150 is disposed to cover the first and second packages 110 and 120 on the mounting board 105. The molding member 150 may include, for example, an epoxy molding compound. The molding member 150 protects the first and second packages 110 and 120 from physical or electrical shock from the outside, and fixes the first and second packages 110 and 120 to the mounting board 105. Let's do it.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 멀티 스택 패키지(100)는 제1 및 제2 패키지(110, 120) 사이에 개재된 실딩 부재(140)를 더 포함할 수 있다. 실딩 부재(140)는 제1 및 제2 패키지들(110, 120)사이의 발생할 수 있는 전자파를 차단한다. 따라서, 제1 및 제2 패키지들(110, 120)사이의 간섭에 의한 오동작이 억제된다.In one embodiment of the present invention, the multi-stack package 100 may further include a shielding member 140 interposed between the first and second packages 110 and 120. The shielding member 140 blocks electromagnetic waves that may occur between the first and second packages 110 and 120. Thus, malfunction due to interference between the first and second packages 110 and 120 is suppressed.

본 실시예에서는, 두개의 패키지들(110,120)이 적층된 멀티 스택 패키지(100)에 대하여 설명하였다. 하지만, 당업자라면 셋 이상의 패키지들이 적층된 멀티 스택 패키지(100)에도 본 발명을 용이하게 적용할 수 있을 것이다.In the present embodiment, the multi-stack package 100 in which two packages 110 and 120 are stacked has been described. However, those skilled in the art will be able to easily apply the present invention to the multi-stack package 100 in which three or more packages are stacked.

본 발명에 따르면, 양품으로 판정된 제1 및 제2 패키지들(110, 120)을 실장 보드(105) 상에 적층함으로써 멀티 스택 패키지의 생산성이 개선될 수 있다. 또한, 제2 패키지(120)가 역전되어 제1 패키지(110) 상에 배치됨으로써 제2 기판(121)의 하면이 노출되고 노출된 제2 기판의 하면에 형성된 도전 패턴을 통하여 실장 보드(105)의 제2 패드(103)와 전기적으로 연결됨으로써, 제2 기판의 크기가 감소하여 전체적인 멀티 스택 패키지가 소형화 될 수 있다.According to the present invention, the productivity of the multi-stack package can be improved by stacking the first and second packages 110 and 120 determined as good on the mounting board 105. In addition, since the second package 120 is reversed and disposed on the first package 110, the bottom surface of the second substrate 121 is exposed and the mounting board 105 is formed through a conductive pattern formed on the bottom surface of the exposed second substrate. By being electrically connected to the second pad 103, the size of the second substrate may be reduced, thereby miniaturizing the overall multi-stack package.

도 2는 본 발명의 다른 실시예에 따른 멀티 스택 패키지를 설명하기 위한 단면도이다. 본 발명의 다른 실시예에 따른 멀티 스택 패키지는 도 1을 참조로 상술한 멀티 스택 패키지를 구성하는 부재들과 몰딩 부재를 제외하고 실질적으로 동일한 구성 부재를 포함하므로 동일한 부재에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.2 is a cross-sectional view illustrating a multi-stack package according to another embodiment of the present invention. Since the multi-stack package according to another embodiment of the present invention includes substantially the same members except the molding members and the members constituting the multi-stack package described above with reference to FIG. 1, detailed descriptions of the same members will be omitted. Shall be.

도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 멀티 스택 패키지(100)는, 실장 보드(105), 제1 패키지(110), 제2 패키지(120) 및 몰딩 부재(150)를 포함한다. Referring to FIG. 2, the multi-stack package 100 according to an embodiment of the present invention includes a mounting board 105, a first package 110, a second package 120, and a molding member 150. .

실장 보드(105)는 일종의 인쇄 회로 기판일 수 있다. 실장 보드(105)는 패키 지(100)에 파워를 공급하고, 멀티 스택 패키지(100)로 신호를 입력하며, 또한, 멀티 스택 패키지(100)로부터 신호를 출력 받는다. 즉, 실장 보드(101)와 제1 및 제2 패키지들(110, 120)은 전기적으로 연결된다.The mounting board 105 may be a kind of printed circuit board. The mounting board 105 supplies power to the package 100, inputs a signal to the multi stack package 100, and receives a signal from the multi stack package 100. That is, the mounting board 101 and the first and second packages 110 and 120 are electrically connected.

실장 보드(101)에는 제1 및 제2 패드들(103, 105)이 형성된다. 제1 및 제2 패드들(103, 105)과는 제1 및 제2 패키지들(110, 120)에 포함된 제1 및 제2 다이들(115, 125)과 상호 전기적으로 연결된다. 실장 보드(105)의 하면에는 복수의 도전볼들(160)이 형성될 수 있다. 도전볼들(160)을 통하여 멀티 스택 패키지(100)가 외부 소자와 전기적으로 연결될 수 있다.First and second pads 103 and 105 are formed on the mounting board 101. The first and second pads 103 and 105 are electrically connected to the first and second dies 115 and 125 included in the first and second packages 110 and 120. A plurality of conductive balls 160 may be formed on the bottom surface of the mounting board 105. The multi stack package 100 may be electrically connected to an external device through the conductive balls 160.

제1 패키지(110)는 제1 기판(111), 제1 다이(115) 및 제1 보호 부재(117)를 포함한다. 제2 패키지(120)는 제2 기판(121), 제2 다이(125) 및 제2 보호 부재(127)를 포함한다.The first package 110 includes a first substrate 111, a first die 115, and a first protection member 117. The second package 120 includes a second substrate 121, a second die 125, and a second protection member 127.

몰딩 부재(150)는 실장 보드(105) 상에 제1 및 제2 패키지들(110, 120)을 덮도록 배치된다. 또한, 몰딩 부재(150)는 실장 보드(105)의 측면까지 감싸도록 배치된다. 따라서, 몰딩 부재(150)몰딩 부재(150)는, 예를 들면, 에폭시 봉지재(epoxy molding compound)를 포함할 수 있다. 몰딩 부재(150)는 제1 및 제2 패키지들(110, 120), 특히 측부를 외부로부터의 물리적 또는 전기적 충격으로 보호하고, 제1 및 제2 패키지들(110, 120)을 실장 보드(105)에 고정시킨다.The molding member 150 is disposed to cover the first and second packages 110 and 120 on the mounting board 105. In addition, the molding member 150 is disposed to surround the side of the mounting board 105. Accordingly, the molding member 150 may include, for example, an epoxy molding compound. The molding member 150 protects the first and second packages 110 and 120, in particular the side part from a physical or electrical shock from the outside, and mounts the first and second packages 110 and 120 to the mounting board 105. ).

도 3 내지 도 6은, 본 발명의 일 실시예에 따라 도 1에 도시한 멀티 스택 패키지의 제조 방법을 설명하기 위한 단면도들이다.3 to 6 are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing the multi-stack package shown in FIG. 1 according to an embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 제1 패드(201) 및 제2 패드(203)가 형성된 실장 보드(205) 를 준비한다. 한편, 제1 기판(211) 상에 형성된 제1 다이(215)를 실장 보드(205) 상에 배치한다. 본 발명의 일 실시예에 있어서, 복수의 제1 다이(215)들이 실장 보드(205) 상에 실장될 수 있다. 따라서, 반도체 패키지의 생산 효율이 증대될 수 있다.Referring to FIG. 3, a mounting board 205 on which a first pad 201 and a second pad 203 are formed is prepared. Meanwhile, the first die 215 formed on the first substrate 211 is disposed on the mounting board 205. In one embodiment of the present invention, a plurality of first dies 215 may be mounted on the mounting board 205. Therefore, the production efficiency of the semiconductor package can be increased.

이어서, 제1 다이(215)와 실장 보드(205)를 상호 전기적으로 연결시킨다. 예를 들면, 제1 다이(215)와 실장 보드(205)는 와이어 본딩 방식으로 연결된다. 이때, 제1 다이(215)는 제1 와이어(231)를 이용하여 실장 보드(205) 상에 형성된 제1 패드(201)와 상호 기계적/전기적으로 연결될 수 있다.Subsequently, the first die 215 and the mounting board 205 are electrically connected to each other. For example, the first die 215 and the mounting board 205 are connected by wire bonding. In this case, the first die 215 may be mechanically / electrically connected to the first pad 201 formed on the mounting board 205 using the first wire 231.

도 4를 참조하면, 제1 다이(215)를 덮도록 실장 보드(205) 상에 제1 보호 부재(217)를 형성한다. 결과적으로 제1 기판(211), 제1 다이(215) 및 제1 보호 부재(217)를 포함하는 제1 패키지(210)가 실장 보드(205) 상에 형성된다. 복수의 제1 다이(215)들이 실장 보드(205)상에 실장될 경우, 복수의 제1 패키지(210)들이 실장 보드(205) 상에 형성되고, 이후 제1 패키지(210)들이 개별화된다.Referring to FIG. 4, a first protective member 217 is formed on the mounting board 205 to cover the first die 215. As a result, a first package 210 including the first substrate 211, the first die 215, and the first protection member 217 is formed on the mounting board 205. When the plurality of first dies 215 are mounted on the mounting board 205, the plurality of first packages 210 are formed on the mounting board 205, and the first packages 210 are then individualized.

이어서, 제1 패키지(210)를 소정의 기준으로 테스트를 수행하여 양품 여부를 판정한다. 따라서 후속하는 제2 패키지(220)를 적층하기 전 제1 패키지(210)에 대한 테스트를 수행함으로써 멀티 스택 패키지(200)의 생산성이 개선될 수 있다.Subsequently, a test is performed on the first package 210 based on a predetermined criterion to determine whether the product is in good condition. Therefore, the productivity of the multi-stack package 200 may be improved by performing a test on the first package 210 before stacking the subsequent second package 220.

도 5를 참조하면, 제2 패키지(220)를 준비한다. 제2 패키지(220)는 제2 기판(221) 상에 제2 다이(225)를 접합하고, 제2 기판(221) 하부에 제2 다이(225)와 연결된 제2 도전볼들(미도시)을 형성하여 제조될 수 있다. 상기 제2 도전볼들은 실크스크린 등의 방법에 의하여 형성된 분말 형태의 솔더 페이스트로 제조될 수 있 다. Referring to FIG. 5, a second package 220 is prepared. The second package 220 bonds the second die 225 on the second substrate 221 and second conductive balls (not shown) connected to the second die 225 below the second substrate 221. It can be prepared by forming. The second conductive balls may be made of a powdered solder paste formed by a method such as silk screen.

한편, 제1 다이(215)와 제2 다이(125)는 실직적으로 동일한 형상을 가질 수 있다. 즉, 제1 패키지(210)와 제2 패키지(220)는 실질적으로 동일한 기능을 수행할 수 있다.Meanwhile, the first die 215 and the second die 125 may have substantially the same shape. That is, the first package 210 and the second package 220 may perform substantially the same function.

제2 패키지(220)를 제1 패키지(210) 상에 역전되게 배치한다. 즉, 제1 패키지(210)의 제1 보호 부재(217)의 상면과 제2 패키지(220)의 제2 보호 부재(227)의 상면이 상호 마주보도록 배치된다. 따라서 제2 패키지(220)의 제2 기판(221)의 하면이 노출되며, 상기 하면에 형성된 도전 패턴(미도시)이 실장 보드(205) 상에 형성된 제2 패드(203)와 전기적으로 연결된다. 예를 들면, 상기 도전 패턴은 제2 패드(203)와 와이어 본딩 방식으로 연결될 수 있다.The second package 220 is disposed inverted on the first package 210. That is, the top surface of the first protection member 217 of the first package 210 and the top surface of the second protection member 227 of the second package 220 face each other. Accordingly, the bottom surface of the second substrate 221 of the second package 220 is exposed, and a conductive pattern (not shown) formed on the bottom surface is electrically connected to the second pad 203 formed on the mounting board 205. . For example, the conductive pattern may be connected to the second pad 203 by wire bonding.

도 6을 참조하면, 제1 및 제2 패키지들(210, 220)을 덮는 몰딩 부재(250)를 실장 보드(205) 상에 형성한다. 보다 상세하게 설명하면, 제1 및 제2 패키지들(210, 220)이 복수의 쌍으로 형성된 실장 보드(205)의 하면에 테이프 필름(미도시)을 형성한다. 이후, 복수의 쌍으로 형성된 제1 및 제2 패키지들(210, 220)을 덮는 몰딩층(미도시)을 형성한다. 상기 테이프 필름을 실장 보드(205)로부터 제거한 후, 실장 보드의 하면에 도전볼들(260)을 형성한다. 이후, 제1 및 제2 패키지들(210, 220) 및 상기 몰딩층을 절단하여 제1 및 제2 패키지들(210, 220)을 덮는 몰딩 부재(250)를 실장 보드(205) 상에 형성한다. 결과적으로 제1 및 제2 패키지들(210, 220) 및 몰딩 부재(240)를 포함하는 멀티 스택킹 패키지(200)가 완성된다.Referring to FIG. 6, a molding member 250 covering the first and second packages 210 and 220 is formed on the mounting board 205. In more detail, a tape film (not shown) is formed on the bottom surface of the mounting board 205 in which the first and second packages 210 and 220 are formed in a plurality of pairs. Thereafter, a molding layer (not shown) covering the first and second packages 210 and 220 formed in a plurality of pairs is formed. After removing the tape film from the mounting board 205, conductive balls 260 are formed on the bottom surface of the mounting board. Thereafter, the first and second packages 210 and 220 and the molding layer are cut to form a molding member 250 covering the first and second packages 210 and 220 on the mounting board 205. . As a result, the multi stacking package 200 including the first and second packages 210 and 220 and the molding member 240 is completed.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 제1 및 제2 패키지들(210, 220) 사이에 실딩 부재(240)를 개재시킬 수 있다. 실딩 부재(240)는 제1 및 제2 패키지들(210, 220)사이의 발생할 수 있는 전자파를 차단한다. 따라서, 제1 및 제2 패키지들(210, 220)사이의 간섭에 의한 오동작이 억제된다.In one embodiment of the present invention, the shielding member 240 may be interposed between the first and second packages 210 and 220. The shielding member 240 blocks electromagnetic waves that may occur between the first and second packages 210 and 220. Therefore, malfunction due to interference between the first and second packages 210 and 220 is suppressed.

상기와 같은 본 발명에 따르면, 복수의 패키지들이 양품으로 판정한 후 양품 패키지를 순차적으로 적층함으로써 멀티 스택 패키지를 완성한다. 따라서, 멀티 스택 패키지의 제조 공정에서의 생산성이 개선될 수 있다.According to the present invention as described above, after the plurality of packages are determined to be good, the multi-package package is completed by sequentially stacking good packages. Thus, productivity in the manufacturing process of the multi-stack package can be improved.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although described above with reference to a preferred embodiment of the present invention, those skilled in the art will be variously modified and changed within the scope of the invention without departing from the spirit and scope of the invention described in the claims below I can understand that you can.

Claims (9)

제1 및 제2 패드들이 형성된 실장 보드;A mounting board on which first and second pads are formed; 상기 실장 보드 상에 배치되며, 상기 제1 패드와 전기적으로 연결된 제1 다이를 구비하고 양품으로 판정된 제1 패키지;A first package disposed on the mounting board, the first package having a first die electrically connected to the first pad and determined to be good; 상기 제1 패키지 상에 역전되어 배치되며, 상기 제2 패드와 전기적으로 연결된 제2 다이를 구비하고, 양품으로 판정된 제2 패키지; 및A second package reversely disposed on the first package, the second package having a second die electrically connected to the second pad, and determined to be good; And 상기 실장 보드 상에 상기 제1 패키지와 상기 제2 패키지를 전체적으로 몰딩하는 몰딩 부재를 포함하는 멀티 스택 패키지.And a molding member for molding the first package and the second package as a whole on the mounting board. 제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2 다이들은 상기 제1 및 제2 패드들에 와이어 본딩으로 연결된 것을 특징으로 하는 멀티 스택 패키지.The multi-stack package of claim 1 wherein the first and second dies are wire bonded to the first and second pads. 제1항에 있어서, 상기 몰딩 부재는 상기 실장 보드의 측면을 덮는 것을 특징으로 하는 멀티 스택 패키지.The multi-stack package of claim 1, wherein the molding member covers a side surface of the mounting board. 제1항에 있어서, 상기 제1 패키지는 볼-그리드-어레이(BGA) 또는 리드 프레임 방식인 것을 특징으로 하는 멀티 스택 패키지.The multi-stack package of claim 1, wherein the first package is a ball-grid-array (BGA) or lead frame method. 제1항에 있어서, 상기 제2 패키지는 볼-그리드-어레이(BGA) 또는 리드 프레 임 방식인 것을 특징으로 하는 멀티 스택 패키지.The multi-stack package of claim 1, wherein the second package is a ball-grid-array (BGA) or lead frame method. 제1 패드 및 제2 패드가 형성된 실장 보드 상에 상기 제1 패드와 전기적으로 연결된 제1 다이를 구비하고 양품으로 판정된 제1 패키지를 형성하는 단계;Forming a first package on the mounting board on which the first pad and the second pad are formed, the first package having a first die electrically connected to the first pad and determined to be good; 상기 제1 패키지 상부에 상기 제2 패드와 전기적으로 연결된 제2 다이를 구비하고 양품으로 판정된 제2 패키지를 역전되어 적층하는 단계; 및Inverting and stacking a second package, which is determined to be good, with a second die electrically connected to the second pad on the first package; And 상기 실장 보드 상에 몰딩 부재를 이용하여 상기 제1 패키지와 상기 제2 패키지를 전체적으로 몰딩하는 단계를 포함하는 멀티 스택 패키지의 제조 방법.Molding the first package and the second package as a whole using a molding member on the mounting board. 제6항에 있어서, 상기 제1 패키지를 형성하는 단계는,The method of claim 6, wherein the forming of the first package comprises: 상기 실장 보드 상에 제1 다이를 와이어 본딩 방식으로 상기 제1 패드에 연결하는 단계;Connecting a first die to the first pad on a mounting board by wire bonding; 상기 제1 다이를 봉지하는 단계; 및Encapsulating the first die; And 상기 제1 다이를 테스트하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 멀티 스택 패키지의 제조 방법.Testing the first die. 제6항에 있어서, 상기 제1 패키지와 상기 제2 패키지를 전체적으로 몰딩하는 단계는,The method of claim 6, wherein molding the first package and the second package as a whole, 상기 실장 기판의 하면에 베이스 필름을 형성하는 단계; 및Forming a base film on a bottom surface of the mounting substrate; And 상기 베이스 필름 상에 상기 제1 및 제2 패키지들을 덮는 몰딩 부재를 형성 하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 멀티 스택 패키지의 제조 방법.Forming a molding member covering the first and second packages on the base film. 제6항에 있어서, 상기 실장 보드의 하면에 볼 그리드 어레이를 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 멀티 스택 패키지의 제조 방법.The method of claim 6, further comprising forming a ball grid array on a bottom surface of the mounting board.
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