KR20080041842A - Lcd and detection method thereof - Google Patents
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Abstract
Description
도 1은 일반적인 액정표시장치에 형성되는 픽셀의 등가 회로도.1 is an equivalent circuit diagram of a pixel formed in a general liquid crystal display device.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 구성도.2 is a block diagram of a liquid crystal display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 3은 도 2에 도시된 쇼트 검사기의 구성도.3 is a block diagram of the short tester shown in FIG.
도 4는 도 3에 도시된 비교부의 회로도.4 is a circuit diagram of a comparison unit shown in FIG. 3.
도 5는 도 3에 도시된 표시부의 회로도.5 is a circuit diagram of a display unit illustrated in FIG. 3.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 검사 방법에 대한 흐름도.6 is a flowchart illustrating a test method of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Main Parts of Drawings>
100: 액정표시장치 110: 액정표시패널100: liquid crystal display device 110: liquid crystal display panel
120: 데이터 구동부 130: 게이트 구동부120: data driver 130: gate driver
140: 감마기준전압 발생부 150: 공통전압 발생부140: gamma reference voltage generator 150: common voltage generator
160: 스토리지전압 발생부 170: 게이트구동전압 발생부160: storage voltage generator 170: gate driving voltage generator
180: 타이밍 컨트롤러 190: 쇼트 검사기180: timing controller 190: short checker
191: 비교부 192: 쇼트 판별부191: comparison unit 192: short discrimination unit
193: 표시부 191-1: 비교기193: display unit 191-1: comparator
본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 각 픽셀의 공통전극에 접속된 공통전압라인과 각 픽셀의 스토리지 커패시터에 접속된 스토리지라인의 쇼트(Short) 여부를 자동으로 검사할 수 있는 액정표시장치 및 그의 검사 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display, and more particularly, to a liquid crystal display capable of automatically checking whether a common voltage line connected to a common electrode of each pixel and a storage line connected to a storage capacitor of each pixel are short. It is about the inspection method.
액정표시장치는 비디오신호에 따라 액정셀들의 광투과율을 조절하여 화상을 표시하며, 그리고 액정셀마다 스위칭소자가 형성된 액티브 매트릭스(Active Matrix) 타입의 액정표시장치는 스위칭소자의 능동적인 제어가 가능하기 때문에 동영상 구현에 유리하다. 이러한 액티브 매트릭스 타입의 액정표시장치에 사용되는 스위칭소자로는 도 1과 같이 주로 박막트랜지스터(Thin Film Transistor; 이하 "TFT"라 한다)가 이용되고 있다.A liquid crystal display device displays an image by adjusting light transmittance of liquid crystal cells according to a video signal, and an active matrix type liquid crystal display device in which a switching element is formed for each liquid crystal cell enables active control of the switching element. This is advantageous for video implementation. As the switching element used in the active matrix liquid crystal display device, a thin film transistor (hereinafter referred to as TFT) is mainly used as shown in FIG. 1.
도 1을 참조하면, 액티브 매트릭스 타입의 액정표시장치는, 디지털 입력 데이터를 감마기준전압을 기준으로 아날로그 데이터 전압으로 변환하여 데이터라인(DL)에 공급함과 동시에 스캔펄스를 게이트라인(GL)에 공급하여 액정셀(Clc)을 충전시킨다.Referring to FIG. 1, an active matrix type liquid crystal display converts digital input data into an analog data voltage based on a gamma reference voltage and supplies it to the data line DL and simultaneously supplies scan pulses to the gate line GL. The liquid crystal cell Clc is charged.
TFT의 게이트전극은 게이트라인(GL)에 접속되고, 소스전극은 데이터라인(DL)에 접속되며, 그리고 TFT의 드레인전극은 액정셀(Clc)의 화소전극과 스토리지 캐패 시터(Cst)의 일측 전극에 접속되며, 스토리지 캐패시터(Cst)의 타측 전극에는 스토리지라인(Lcst)이 접속된다. 여기서, 스토리지전압(Vcst)이 스토리지라인(Lcst)을 통해 스토리지 캐패시터(Cst)의 타측 전극에 공급된다.The gate electrode of the TFT is connected to the gate line GL, the source electrode is connected to the data line DL, and the drain electrode of the TFT is a pixel electrode of the liquid crystal cell Clc and one electrode of the storage capacitor Cst. The storage line Lcst is connected to the other electrode of the storage capacitor Cst. Here, the storage voltage Vcst is supplied to the other electrode of the storage capacitor Cst through the storage line Lcst.
액정셀(Clc)의 공통전극에는 공통전압라인(Lcom)이 접속되고, 이 공통전압라인(Lcom)을 통해 공통전압(Vcom)이 공통전극에 공급된다. The common voltage line Lcom is connected to the common electrode of the liquid crystal cell Clc, and the common voltage Vcom is supplied to the common electrode through the common voltage line Lcom.
스토리지 캐패시터(Cst)는 TFT가 턴-온될 때 데이터라인(DL)으로부터 인가되는 데이터전압을 충전하여 액정셀(Clc)의 전압을 일정하게 유지하는 역할을 한다. 그리고, 스토리지 캐패시터(Cst)에 충전된 전압은 스토리지라인(Lcst)를 통해 공급되는 스토리지전압(Vcst)에 의해 일정시간 동안 유지된다.The storage capacitor Cst charges a data voltage applied from the data line DL when the TFT is turned on, thereby maintaining a constant voltage of the liquid crystal cell Clc. The voltage charged in the storage capacitor Cst is maintained for a predetermined time by the storage voltage Vcst supplied through the storage line Lcst.
스캔펄스가 게이트라인(GL)에 인가되면 TFT는 턴-온(Turn-on)되어 소스전극과 드레인전극 사이의 채널을 형성하여 데이터라인(DL) 상의 전압을 액정셀(Clc)의 화소전극에 공급한다. 이때 액정셀(Clc)의 액정분자들은 화소전극과 공통전극 사이의 전계에 의하여 배열이 바뀌면서 입사광을 변조하게 된다.When the scan pulse is applied to the gate line GL, the TFT is turned on to form a channel between the source electrode and the drain electrode so that the voltage on the data line DL is applied to the pixel electrode of the liquid crystal cell Clc. Supply. At this time, the liquid crystal molecules of the liquid crystal cell Clc modulate the incident light by changing the arrangement by the electric field between the pixel electrode and the common electrode.
이와 같이 각 픽셀에는 공통전압(Vcom)과 스토리지전압(Vcst)이 공급되는데, 만일 스토리지라인(Lcst)과 공통전압라인(Lcom)이 쇼트되어 공통전극과 스토리지 커패시터(Cst)에 동일한 전압이 공급되면 정확한 계조 구현이 이루어지지 않는 문제점이 존재한다. As described above, the common voltage Vcom and the storage voltage Vcst are supplied to each pixel. If the storage line Lcst and the common voltage line Lcom are shorted, the same voltage is supplied to the common electrode and the storage capacitor Cst. There is a problem in that accurate gradation is not achieved.
이러한 문제점을 개선하기 위하여, 종래에는 사용자가 쇼트 검사장치를 이용하여 스토리지라인(Lcst)과 공통전압라인(Lcom)의 쇼트 여부를 수동으로 검사한 후, 쇼트 발생시 이를 수선하였다. 여기서, 쇼트 검사장치는 액정표시장치와 별도 로 제조된 제품이다.In order to improve this problem, the user conventionally checks whether the storage line Lcst and the common voltage line Lcom are short by using a short test apparatus, and repairs them when a short occurs. Here, the short inspection device is a product manufactured separately from the liquid crystal display device.
이렇게 쇼트 검사장치를 이용하여 수동으로 스토리지라인(Lcst)과 공통전압라인(Lcom)의 쇼트 여부를 검사함으로써, 사용자가 쇼트를 검사해야 하는 번거로움이 있을 뿐만 아니라 검사 시간이 많이 소요되었다. 그리고, 액정표시장치와 별도로 쇼트 검사장치를 구입함으로써, 많은 비용이 소모되었다.By manually inspecting whether the storage line Lcst and the common voltage line Lcom are short by using the short test device, the user is not only troublesome to check the short but also takes a lot of test time. In addition, by purchasing the short inspection device separately from the liquid crystal display device, a large cost is consumed.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 각 픽셀의 공통전극에 접속된 공통전압라인과 각 픽셀의 스토리지 커패시터에 접속된 스토리지라인의 쇼트 여부를 자동으로 검사할 수 있는 액정표시장치 및 그의 검사 방법을 제공하는 데 있다.The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to automatically check whether the common voltage line connected to the common electrode of each pixel and the storage line connected to the storage capacitor of each pixel are automatically checked. The present invention provides a liquid crystal display device and an inspection method thereof.
본 발명의 목적은 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트 여부를 자동으로 검사함으로써, 사용자의 편의를 도모하고 검사 시간을 별도로 할애하지 않도록 하는 액정표시장치 및 그의 검사 방법을 제공하는 데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a liquid crystal display device and an inspection method thereof by automatically checking whether a common voltage line and a storage line are short, so as to facilitate the user's convenience and not to set aside inspection time.
본 발명의 목적은 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트 여부를 자체적으로 검사함으로써, 쇼트 검사장치의 구입에 소모되는 비용을 절감할 수 있도록 하는 액정표시장치 및 그의 검사 방법을 제공하는 데 있다.An object of the present invention is to provide a liquid crystal display device and an inspection method thereof that can reduce the cost of purchasing a short inspection device by inspecting whether the common voltage line and the storage line are short.
본 발명의 목적은 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트시 자동으로 쇼트 발생을 표시함으로써, 사용자가 쇼트 발생을 실시간으로 알 수 있도록 하는 액정표시장치 및 그이 검사 방법을 제공하는 데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a liquid crystal display and an inspection method thereof in which a short generation is automatically displayed when a common voltage line and a storage line are shorted, so that a user can recognize the short in real time.
이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 액정표시장치는, 스토리지전압을 스토리지라인을 통해 공급받는 스토리지 커패시터와 공통전압을 공통전압라인을 통해 공급받는 공통전극이 구비된 다수의 픽셀들이 형성된 액정표시패널; 및 상기 공통전압과 스토리지전압을 비교하여 상기 스토리지라인과 공통전압라인의 쇼트 여부를 검사하는 쇼트 검사기를 포함한다.According to an exemplary embodiment of the present invention, a liquid crystal display panel includes a storage capacitor configured to receive a storage voltage through a storage line and a plurality of pixels having a common electrode supplied through a common voltage line. ; And a short tester comparing the common voltage and the storage voltage to check whether the storage line and the common voltage line are short.
상기 쇼트 검사기는, 상기 스토리지전압과 공통전압의 크기를 비교하는 비교부; 상기 비교부의 비교결과를 이용하여 상기 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트 여부를 판별하는 쇼트 판별부; 및 상기 쇼트 판별부의 판별결과에 따라 상기 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트 여부를 표시하는 표시부를 포함한다.The short checker may include a comparator configured to compare the magnitudes of the storage voltage and the common voltage; A short determination unit determining whether the common voltage line and the storage line are short by using the comparison result of the comparison unit; And a display unit which displays whether the common voltage line and the storage line are shorted according to the determination result of the short discrimination unit.
본 발명의 액정표시장치는, 스토리지전압을 스토리지라인을 통해 공급받는 스토리지 커패시터와 공통전압을 공통전압라인을 통해 공급받는 공통전극이 구비된 다수의 픽셀들이 형성된 액정표시패널; 상기 스토리지전압과 공통전압의 크기를 비교하는 비교부; 상기 비교부의 비교결과를 이용하여 상기 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트 여부를 판별하는 쇼트 판별부; 및 상기 쇼트 판별부의 판별결과에 따라 상기 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트 여부를 표시하는 표시부를 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a liquid crystal display device comprising: a liquid crystal display panel including a plurality of pixels including a storage capacitor receiving a storage voltage through a storage line and a common electrode receiving a common voltage through a common voltage line; A comparison unit comparing the magnitudes of the storage voltage and the common voltage; A short determination unit determining whether the common voltage line and the storage line are short by using the comparison result of the comparison unit; And a display unit which displays whether the common voltage line and the storage line are shorted according to the determination result of the short discrimination unit.
상기 비교부는, 반전 입력단으로 입력된 상기 스토리지전압과 비반전 입력단으로 입력된 상기 공통전압의 크기를 비교하여 비교결과를 출력단에 접속된 상기 쇼트 판별부로 출력하는 비교기를 포함한다.The comparator includes a comparator comparing the magnitude of the storage voltage input to the inverting input terminal and the common voltage input to the non-inverting input terminal and outputting a comparison result to the short discriminator connected to the output terminal.
상기 쇼트 판별부는 상기 비교기로부터 로우신호가 입력되면 상기 공통전압라인과 스토리지라인이 쇼트되지 않은 것으로 판단하여 정상신호를 상기 표시부로 출력하고, 상기 비교기로부터 하이신호가 입력되면 상기 공통전압라인과 스토리지라인이 쇼트된 것으로 판단하여 에러신호를 상기 표시부로 출력하는 것을 특징으로 한다.The short determiner determines that the common voltage line and the storage line are not shorted when the low signal is input from the comparator, and outputs a normal signal to the display unit. When the high signal is input from the comparator, the common voltage line and the storage line are determined. It is determined that the short circuit is detected and an error signal is output to the display unit.
상기 표시부는, 상기 쇼트 판별부로부터 상기 정상신호가 입력되면 오프 상태를 유지하고, 상기 쇼트 판별부로부터 상기 에러신호가 입력되면 발광하는 발광다이오드를 포함한다.The display unit includes a light emitting diode that maintains an off state when the normal signal is input from the short discriminator and emits light when the error signal is input from the short discriminator.
본 발명의 액정표시장치의 검사 방법은, 스토리지전압을 스토리지라인을 통해 공급받는 스토리지 커패시터와 공통전압을 공통전압라인을 통해 공급받는 공통전극이 구비된 다수의 픽셀들이 형성된 액정표시패널을 구비한 액정표시장치의 검사 방법에서, 상기 스토리지전압과 공통전압의 크기를 비교하는 단계; 상기 비교결과를 이용하여 상기 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트 여부를 판별하는 단계; 및 상기 쇼트 판별결과에 따라 상기 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트 여부를 표시하는 단계를 포함한다.An inspection method of a liquid crystal display according to an embodiment of the present invention includes a liquid crystal display panel having a liquid crystal display panel having a plurality of pixels including a storage capacitor receiving a storage voltage through a storage line and a common electrode receiving a common voltage through a common voltage line. A method of inspecting a display device, the method comprising: comparing a magnitude of the storage voltage and a common voltage; Determining whether the common voltage line and the storage line are short by using the comparison result; And displaying whether the common voltage line and the storage line are short based on the short determination result.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세하게 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail a preferred embodiment of the present invention.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 구성도이다.2 is a block diagram of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 2를 참조하면, 본 발명의 액정표시장치(100)는, 데이터라인들(DL1 내지 DLm)과 게이트라인들(GL1 내지 GLn)이 교차되며 그 교차부에 액정셀(Clc)을 구동하기 위한 박막트랜지스터(TFT : Thin Film Transistor)가 형성된 액정표시패널(110)과, 액정표시패널(110)의 데이터라인들(DL1 내지 DLm)에 데이터를 공급하기 위한 데이터 구동부(120)와, 액정표시패널(110)의 게이트라인들(GL1 내지 GLn)에 스캔펄스를 공급하기 위한 게이트 구동부(130)와, 감마기준전압을 발생하여 데이터 구동부(120)에 공급하기 위한 감마기준전압 발생부(140)와, 공통전압(Vcom)을 발생하여 액정표시패널(110)의 액정셀(Clc)의 공통전극에 공급하기 위한 공통전압 발생부(150)와, 스토리지전압(Vcst)을 발생하는 스토리지전압 발생부(160)와, 게이트 하이전압(VGH)과 게이트 로우전압(VGL)을 발생하여 게이트 구동부(130)에 공급하기 위한 게이트구동전압 발생부(170)와, 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130)를 제어하기 위한 타이밍 컨트롤러(180)와, 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)의 쇼트 여부를 검사하는 쇼트 검사기(190)를 구비한다.Referring to FIG. 2, in the liquid
그리고, 본 발명의 액정표시장치(100)는, 액정표시패널(110)에 광을 조사하기 위한 백라이트 어셈블리(미도시)와, 백라이트 어셈블리(150)에 교류 전압 및 전류를 인가하기 위한 인버터(미도시)를 구비한다.The liquid
액정표시패널(110)은 두 장의 유리기판 사이에 액정이 주입된다. 액정표시패널(110)의 하부 유리기판 상에는 데이터라인들(DL1 내지 DLm)과 게이트라인들(GL1 내지 GLn)이 직교된다. 데이터라인들(DL1 내지 DLm)과 게이트라인들(GL1 내지 GLn)의 교차부에는 TFT가 형성된다. TFT는 스캔펄스에 응답하여 데이터라인들(DL1 내지 DLm) 상의 데이터를 액정셀(Clc)에 공급하게 된다. TFT의 게이트전극 은 게이트라인(GL1 내지 GLn)에 접속되며, TFT의 소스전극은 데이터라인(DL1 내지 DLm)에 접속된다. 그리고 TFT의 드레인전극은 액정셀(Clc)의 화소전극과 스토리지 캐패시터(Cst)에 접속된다. In the liquid
TFT는 게이트라인(GL1 내지 GLn)을 경유하여 게이트단자에 공급되는 스캔펄스에 응답하여 턴-온된다. TFT의 턴-온시 데이터라인(DL1 내지 DLm) 상의 비디오 데이터는 액정셀(Clc)의 화소전극에 공급된다. The TFT is turned on in response to the scan pulse supplied to the gate terminal via the gate lines GL1 to GLn. When the TFT is turned on, video data on the data lines DL1 to DLm is supplied to the pixel electrode of the liquid crystal cell Clc.
데이터 구동부(120)는 타이밍 컨트롤러(180)로부터 공급되는 데이터구동 제어신호(DDC)에 응답하여 데이터를 데이터라인들(DL1 내지 DLm)에 공급한다. 여기서, 데이터 구동부(120)는 타이밍 컨트롤러(180)로부터 공급되는 디지털 비디오 데이터(RGB)를 샘플링하여 래치한 다음 감마기준전압 발생부(140)로부터 공급되는 감마기준전압을 기준으로 액정표시패널(110)의 액정셀(Clc)에서 계조를 표현할 수 있는 아날로그 데이터 전압으로 변환시켜 데이터라인들(DL1 내지 DLm)들에 공급한다.The
게이트 구동부(130)는 타이밍 컨트롤러(180)로부터 공급되는 게이트구동 제어신호(GDC)와 게이트쉬프트클럭(GSC)에 응답하여 스캔펄스 즉, 게이트펄스를 순차적으로 발생하여 게이트라인(GL1 내지 GLn)들에 공급한다. 이때, 게이트 구동부(130)는 게이트구동전압 발생부(170)로부터 공급되는 게이트 하이전압(VGH)과 게이트 로우전압(VGL)에 따라 각각 스캔펄스의 하이레벨전압과 로우레벨전압을 결정한다.The
감마기준전압 발생부(140)는 고전위 전원전압(VDD)을 공급받아 정극성 감마기준전압과 부극성 감마기준전압을 발생하여 데이터 구동부(120)로 출력한다.The gamma
공통전압 발생부(150)는 고전위 전원전압(VDD)을 공급받아 공통전압(Vcom)을 발생하여 액정표시패널(110)의 각 픽셀에 구비된 액정셀(Clc)들의 공통전극에 공급한다.The
스토리지전압 발생부(160)는 고전위 전원전압(VDD)를 인가받아 스토리지전압(Vcst)을 발생시켜, 이 스토리지전압(Vcst)을 스토리지라인(Lcst)을 통해 스토리지 커패시터(Cst)에 공급한다.The
게이트구동전압 발생부(170)는 고전위 전원전압(VDD)을 인가받아 게이트 하이전압(VGH)과 게이트 로우전압(VGL)을 발생시켜 게이트 구동부(130)에 공급한다. 여기서, 게이트구동전압 발생부(170)는 액정표시패널(110)의 각 픽셀에 구비된 TFT의 문턱전압 이상이 되는 게이트 하이전압(VGH)을 발생하고 TFT의 문턱전압 미만이 되는 게이트 로우전압(VGL)을 발생한다. 이렇게 발생된 게이트 하이전압(VGH)과 게이트 로우전압(VGL)은 각각 게이트 구동부(130)에 의해 발생되는 스캔펄스의 하이레베전압과 로우레벨전압을 결정하는데 이용된다.The gate driving
타이밍 컨트롤러(180)는 시스템으로부터 공급되는 디지털 비디오 데이터(RGB)를 데이터 구동부(120)에 공급하고, 또한 클럭신호(CLK)에 따라 수평/수직 동기신호(H,V)를 이용하여 데이터 구동 제어신호(DDC)와 게이트 구동 제어신호(GDC)를 발생하여 각각 데이터 구동부(120)와 게이트 구동부(130)에 공급한다. 여기서, 데이터 구동 제어신호(DDC)는 소스쉬프트클럭(SSC), 소스스타트펄스(SSP), 극성제어신호(POL) 및 소스출력인에이블신호(SOE) 등을 포함하고, 게이트구동 제어신호(GDC)는 게이트스타트펄스(GSP) 및 게이트출력인에이블(GOE) 등을 포함한다.The
쇼트 검사기(190)는 공통전압 발생부(150)로부터 출력된 공통전압(Vcom)과 스토리지전압 발생부(160)로부터 출력된 스토리지전압(Vcst)를 비교하여 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)의 쇼트 여부를 검사한다. 검사결과 쇼트가 발생되면, 쇼트 검사기(190)는 점등하여 사용자에게 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)의 쇼트 발생을 알려준다. 검사결과 쇼트가 발생되지 않았으면, 쇼트 검사기(190)는 소등 상태를 유지한다.The
상기 백라이트 어셈블리는 액정표시패널(110)의 후면에 배치되며, 상기 인버터로부터 공급되는 교류 전압과 전류에 의해 발광되어 광을 액정표시패널(110)의 각 픽셀로 조사한다.The backlight assembly is disposed on the rear surface of the liquid
상기 인버터는 내부에 발생되는 구형파신호를 삼각파신호로 변화시킨 후 삼각파신호와 상기 시스템으로부터 공급되는 직류 전원전압(VCC)을 비교하여 비교결과에 비례하는 버스트디밍(Burst Dimming)신호를 발생한다. 이렇게 내부의 구형파신호에 따라 결정되는 버스트디밍신호가 발생되면, 상기 인버터 내에서 교류 전압과 전류의 발생을 제어하는 구동 IC(미도시)는 버스트디밍신호에 따라 상기 백라이트 어셈블리에 공급되는 교류 전압과 전류의 발생을 제어한다.The inverter converts a square wave signal generated therein into a triangular wave signal and compares the triangular wave signal with a DC power supply voltage VCC supplied from the system to generate a burst dimming signal proportional to the comparison result. When a burst dimming signal determined according to an internal square wave signal is generated, a driving IC (not shown) for controlling the generation of an AC voltage and a current in the inverter is connected to an AC voltage supplied to the backlight assembly according to a burst dimming signal. Control the generation of current.
도 3은 도 2에 도시된 쇼트 검사기의 구성도이다.3 is a block diagram of the short tester illustrated in FIG. 2.
도 3을 참조하면, 쇼트 검사기(190)는, 공통전압 발생부(150)로부터 출력된 공통전압(Vcom)과 스토리지전압 발생부(160)로부터 출력된 스토리지전압(Vcst)의 크기를 비교하는 비교부(191)와, 비교부(191)의 비교결과를 이용하여 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)의 쇼트를 판별하는 쇼트 판별부(192)와, 쇼트 판별 부(192)의 판별결과에 따라 소등 상태를 유지하거나 점등하는 표시부(193)를 구비한다.Referring to FIG. 3, the
비교부(191)는 공통전압 발생부(150)로부터 출력된 공통전압(Vcom)과 스토리지전압 발생부(160)로부터 출력된 스토리지전압(Vcst)의 크기를 비교하여 비교결과를 나타내는 하이신호나 로우신호를 출력한다. 비교결과 스토리지 전압(Vcst)과 공통전압(Vcom)의 크기가 다르면, 비교부(191)는 로우신호를 쇼트 판별부(192)로 출력한다. 비교결과 스토리지 전압(Vcst)과 공통전압(Vcom)의 크기가 같으면, 비교부(191)는 하이신호를 쇼트 판별부(192)로 출력한다.The
쇼트 판별부(192)는 비교부(191)로부터 로우신호가 입력되면 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)이 쇼트되지 않은 것으로 판단하여 정상신호 3.3V를 표시부(193)로 출력하고, 반대로 비교부(191)로부터 하이신호가 입력되면 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)이 쇼트된 것으로 판단하여 에러신호 0V를 표시부(193)로 출력한다.The
표시부(193)는 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)의 쇼트를 나타내는 에러신호 0V가 쇼트 판별부(192)로부터 입력되면 점등하여 사용자에게 쇼트 발생을 표시하여 준다. 반대로, 표시부(193)는 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)의 쇼트가 발생되지 않았음을 나타내는 정상신호 3.3V가 쇼트 판별부(192)로부터 입력되면 소등 상태를 유지한다.The
도 4는 도 3에 도시된 비교부의 회로도이다.4 is a circuit diagram of the comparator shown in FIG. 3.
도 4를 참조하면, 비교부(191)는, 반전 입력단(-), 비반전 입력단(+) 및 출 력단을 갖는 비교기(191-1)와, 비교기(191-1)의 반전 입력단(-)에 접속된 저항(R1)과, 비교기(191-1)의 비반전 입력단(+)에 접속된 저항(R2)과, 비교기(191-1)의 비반전 입력단(+)과 출력단에 접속된 부궤환 저항(R3)을 구비한다.Referring to FIG. 4, the
비교기(191-1)는 반전 입력단(-)으로 입력된 스토리지 전압(Vcst)과 비반전 입력단(+)으로 입력된 공통전압(Vcom)의 크기를 비교하여 비교결과를 출력단을 통해 출력한다. 비교결과 스토리지 전압(Vcst)과 공통전압(Vcom)의 크기가 다르면, 비교기(191-1)는 로우신호를 출력단에 접속된 쇼트 판별부(192)로 출력한다. 비교결과 스토리지 전압(Vcst)과 공통전압(Vcom)의 크기가 같으면, 비교기(191-1)는 하이신호를 출력단을 통해 쇼트 판별부(192)로 출력한다.The comparator 191-1 compares the magnitude of the storage voltage Vcst input to the inverting input terminal (−) and the common voltage Vcom input to the non-inverting input terminal (+) and outputs a comparison result through the output terminal. As a result of the comparison, when the storage voltage Vcst and the common voltage Vcom are different in size, the comparator 191-1 outputs a low signal to the
도 5는 도 3에 도시된 표시부의 회로도이다.FIG. 5 is a circuit diagram of the display unit illustrated in FIG. 3.
도 5를 참조하면, 표시부(193)는, 애노드와 캐소드를 갖는 발광다이오드(LED)와, 발광다이오드(LED)의 캐소드와 쇼트 판별부(192)의 출력단 사이에 접속된 저항(R4)을 구비한다. 여기서, 발광다이오드(LED)의 애노드는 전원전압 3.3V를 공급하는 전원에 접속된다.Referring to FIG. 5, the
쇼트 판별부(192)로부터 출력된 정상신호 3.3V가 발광다이오드(LED)의 캐소드로 인가되면, 발광다이오드(LED)의 애노드와 캐소드에 모두 3.3V가 걸려 발광다이오드(LED)의 양측에 전위차가 발생되지 않으므로, 발광다이오드(LED)는 오프(OFF) 상태(소등 상태)를 유지한다.When the normal signal 3.3V output from the
쇼트 판별부(192)로부터 출력된 에러신호 0V가 발광다이오드(LED)의 캐소드로 인가되면, 발광다이오드(LED)의 애노드와 캐소드에 서로 다른 전압이 걸려 발광 다이오드(LED)의 양측에 전위차가 발생됨으로, 발광다이오드(LED)는 발광한다. 즉, 발광다이오드(LED)는 발광하여 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)의 쇼트를 표시하여 준다.When the error signal 0V output from the short determining
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 검사 방법에 대한 흐름도이다.6 is a flowchart illustrating a test method of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 6을 참조하면, 먼저 비교부(191)는 공통전압(Vcom)과 스토리지전압(Vcst)이 입력되면(S601), 스토리지 전압(Vcst)과 공통전압(Vcom)의 크기가 동일한 지를 비교한다(S602).Referring to FIG. 6, when the common voltage Vcom and the storage voltage Vcst are input (S601), the
비교결과 스토리지 전압(Vcst)과 공통전압(Vcom)의 크기가 다르면, 비교부(191)는 로우신호를 쇼트 판별부(192)로 출력한다(S603). 이어서 쇼트 판별부(192)는 로우신호가 입력됨에 따라 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)이 쇼트되지 않은 것으로 판단하여 정상신호를 표시부(193)로 출력하고(S604), 이 정상신호에 대한 응답으로 표시부(193)는 소등 상태를 유지한다(S605).As a result of the comparison, when the storage voltage Vcst and the common voltage Vcom are different in size, the
비교 과정(S602)에서의 비교결과 스토리지 전압(Vcst)과 공통전압(Vcom)의 크기가 같으면, 비교부(191)는 하이신호를 쇼트 판별부(192)로 출력한다(S606). 쇼트 판별부(192)는 하이신호가 입력됨에 따라 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)이 쇼트된 것으로 판단하여 에러신호를 표시부(193)로 출력하고(S607), 이 에러신호에 대한 응답으로 표시부(193)는 점등하여 사용자에게 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)의 쇼트 발생을 표시하여 준다(S608).As a result of the comparison in the comparison process S602, when the storage voltage Vcst and the common voltage Vcom have the same magnitude, the
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은, 각 픽셀의 공통전극에 접속된 공통전압라인과 각 픽셀의 스토리지 커패시터에 접속된 스토리지라인의 쇼트 여부를 자동으로 검사함으로써, 사용자의 편의를 도모하고 검사 시간을 별도로 할애하지 않도록 하고, 또한 쇼트 검사장치의 구입에 소모되는 비용을 절감할 수 있도록 한다. 그리고, 본 발명은 액정표시장치의 스토리지 라인의 쇼트시 자동으로 쇼트 발생을 표시함으로써, 사용자가 쇼트 발생을 실시간으로 알 수 있도록 한다.As described above, the present invention automatically checks whether the common voltage line connected to the common electrode of each pixel and the storage line connected to the storage capacitor of each pixel are shorted for the convenience of the user and separately for the inspection time. In addition, it is possible to reduce the cost of purchasing the short inspection device. In addition, the present invention automatically displays the occurrence of a short when the storage line of the liquid crystal display is short, so that the user can be aware of the short in real time.
본 발명의 기술사상은 상기 바람직한 실시예에 따라 구체적으로 기술되었으나, 상기한 실시예는 그 설명을 위한 것이며, 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 또한, 본 발명의 기술분야의 통상의 전문가라면 본 발명의 기술사상의 범위에서 다양한 실시예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.Although the technical spirit of the present invention has been described in detail according to the above-described preferred embodiment, it should be noted that the above-described embodiment is for the purpose of description and not of limitation. In addition, those skilled in the art will understand that various embodiments are possible within the scope of the technical idea of the present invention.
Claims (14)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020060109954A KR20080041842A (en) | 2006-11-08 | 2006-11-08 | Lcd and detection method thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020060109954A KR20080041842A (en) | 2006-11-08 | 2006-11-08 | Lcd and detection method thereof |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080041842A true KR20080041842A (en) | 2008-05-14 |
Family
ID=39648795
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---|---|---|---|
KR1020060109954A KR20080041842A (en) | 2006-11-08 | 2006-11-08 | Lcd and detection method thereof |
Country Status (1)
Country | Link |
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KR (1) | KR20080041842A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8415966B2 (en) | 2010-05-13 | 2013-04-09 | Samsung Display Co., Ltd. | Liquid crystal display device and inspection method thereof |
KR20160084963A (en) * | 2015-01-06 | 2016-07-15 | 삼성디스플레이 주식회사 | Liquid crystal dispaly |
US9449565B2 (en) | 2014-01-20 | 2016-09-20 | Samsung Display Co., Ltd. | Display device and driving method thereof |
-
2006
- 2006-11-08 KR KR1020060109954A patent/KR20080041842A/en not_active Application Discontinuation
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WITN | Withdrawal due to no request for examination |