KR20080039626A - Apparatus for testing performance of an ultrasound probe - Google Patents

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Abstract

A characteristic measuring apparatus of an ultrasound probe is provided to select an accurate contact position using a specimen support unit to measure accurate characteristics of the ultrasound probe. A characteristic measuring apparatus of an ultrasound probe comprises a characteristic measuring unit, a measuring pin, a measuring pin moving unit(220), a control unit, a base(211), and a support(212). The characteristic measuring unit transmits and receives a measuring signal to/from a specimen provided with a plurality of contact points connected to a plurality of converting elements, and measures characteristics of the ultrasound probe. The measuring pin connects the specimen to the characteristics measuring unit. The measuring pin moving unit moves the measuring pin for connection. The control unit controls movement of the measuring pin. The base includes a plurality of fixing units(211A). The support is fixed to the fixing units, and supports the specimen.

Description

초음파 프로브의 특성 측정 장치{Apparatus for testing performance of an ultrasound probe}Apparatus for testing performance of an ultrasound probe

도 1은 초음파 진단 시스템에서 일반적으로 사용되는 초음파 프로브를 개략적으로 보여주는 예시도.1 is an exemplary view schematically showing an ultrasonic probe generally used in an ultrasonic diagnostic system.

도 2는 본 발명에 따른 초음파 프로브의 특성 측정 장치의 구성을 개략적으로 보여주는 블록도.Figure 2 is a block diagram schematically showing the configuration of an apparatus for measuring characteristics of an ultrasonic probe according to the present invention.

도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 시료 지지부의 구조를 개략적으로 보여주는 예시도.Figure 3 is an exemplary view schematically showing the structure of a sample support according to an embodiment of the present invention.

도 4 및 도5는 본 발명에 따른 지지대를 베이스에 고정하는 방법을 보여주는 예시도.4 and 5 are exemplary views showing a method of fixing the support to the base according to the present invention.

도 6은 본 발명에 따른 지지대를 보여주는 예시도.6 is an exemplary view showing a support according to the present invention.

도 7은 도 3에 도시된 커넥터와 다른 크기의 커넥터가 지지대에 장착된 예를 보여주는 예시도.7 is an exemplary view showing an example in which a connector of a different size from the connector shown in FIG. 3 is mounted on a support.

도 8은 본 발명에 따른 측정핀의 예를 보여주는 예시도.8 is an exemplary view showing an example of a measuring pin according to the present invention.

도 9는 본 발명에 따른 측정핀 이동부의 예를 보여주는 예시도.9 is an exemplary view showing an example of a measuring pin moving unit according to the present invention.

도 10은 본 발명에 따른 연결부에 초음파 프로브의 특성을 측정하기 위해서 커넥터를 장착한 예를 보여주는 예시도.10 is an exemplary view showing an example in which a connector is mounted to measure characteristics of an ultrasonic probe in a connection part according to the present invention.

도 11은 본 발명의 다른 실시예에 따라 하나의 지지대를 이용하여 커넥터을 지지하는 예를 보여주는 예시도.11 is an exemplary view showing an example of supporting a connector using one support according to another embodiment of the present invention.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 ><Explanation of Signs of Major Parts of Drawings>

100: 프로브100: probe

210: 시료 지지부210: sample support

220: 측정핀220: measuring pin

230: 측정핀 이동부230: measuring pin moving part

240: 특성 측정부240: characteristic measurement unit

250: 제어부250: control unit

본 발명은 초음파 프로브 특성 측정 장치에 관한 것으로, 특히 다양한 크기의 초음파 프로브의 커넥터를 고정할 수 있는 초음파 프로브 특성 측정 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an ultrasonic probe characteristic measuring apparatus, and more particularly, to an ultrasonic probe characteristic measuring apparatus capable of fixing connectors of ultrasonic probes of various sizes.

초음파 진단 장치는 다양하게 응용되고 있는 중요한 진단 장치 중의 하나이다. 특히, 무침습 및 비파괴 특성을 갖는 초음파 진단 장치는 대상체 내부의 정보를 얻기 위한 의료 분야에 널리 이용되고 있다. 초음파 진단 장치는 외과 수술과 같은 인체 조직을 침습하는 관찰 기술의 필요 없이 고해상도의 인체 내부 조직의 영상을 실시간으로 의사에게 제공할 수 있으므로 의료분야에 매우 중요하게 사용되 고 있다. 근래의 고성능 초음파 진단 시스템은 대상체의 내부 형상(예를 들어, 환자의 내장 기관들)의 2차원 또는 3차원 진단 영상을 생성하는데 이용되고 있다.The ultrasonic diagnostic apparatus is one of important diagnostic apparatuses that have been applied in various applications. In particular, an ultrasound diagnostic apparatus having non-invasive and non-destructive characteristics is widely used in the medical field for obtaining information inside an object. Ultrasonic diagnostic devices are very important in the medical field because they can provide a high-resolution image of the internal tissue of a human body to a doctor in real time without the need for observation techniques that invade human tissues such as surgery. Modern high performance ultrasound diagnostic systems have been used to generate two-dimensional or three-dimensional diagnostic images of the internal shape of a subject (eg, internal organs of a patient).

초음파 진단 장치는 초음파 신호를 송신 및 수신하기 위해서 일반적으로 압전(piezoelectric) 물질로 형성되는 변환 소자를 사용한다. 초음파 진단 장치는 음향 변환 소자를 전기적으로 자극하여 인체에 전해지는 초음파 신호를 생성하여 인체에 송신한다. 인체에 송신된 초음파 신호는 음향 임피던스가 불연속적인 인체 조직의 경계에서 반사되고, 인체 조직의 경계로부터 변환 소자에 전달되는 초음파 에코 신호는 전기적 신호로 변환된다. 변환된 전기적 신호를 증폭 및 신호 처리하여 조직에 대한 초음파 영상을 포함한 유용한 데이터를 생성한다. Ultrasonic diagnostic devices generally use a conversion element formed of a piezoelectric material for transmitting and receiving ultrasonic signals. The ultrasonic diagnostic apparatus electrically stimulates the acoustic transducer to generate an ultrasonic signal transmitted to the human body and transmit the ultrasonic signal to the human body. The ultrasonic signal transmitted to the human body is reflected at the boundary of the human tissue where the acoustic impedance is discontinuous, and the ultrasonic echo signal transmitted from the boundary of the human tissue to the conversion element is converted into an electrical signal. The converted electrical signal is amplified and signal processed to produce useful data including ultrasound images of the tissue.

초음파 영상의 해상도를 높이기 위해서 다수의 변환소자, 예를 들어, 128개 또는 192개 등의 변환 소자가 배열된 초음파 프로브가 사용되고 있다. 초음파 변환기 내에 다수의 변환소자인 경우, 각 변환 소자 별로 특성의 변화, 변환소자 간의 균일성 문제가 발생할 수 있으므로 각 변환 소자의 특성을 측정하여 개별적으로 변환소자들의 특성을 확인해야 할 필요가 있다. In order to increase the resolution of an ultrasound image, an ultrasonic probe in which a plurality of conversion elements, for example, 128 or 192 conversion elements are arranged, is used. In the case of a plurality of conversion elements in the ultrasonic transducer, there may be a problem of change in characteristics and uniformity between conversion elements for each conversion element, so it is necessary to check the characteristics of each conversion element by measuring the characteristics of each conversion element.

도 1은 초음파 진단 시스템에서 일반적으로 사용되는 초음파 프로브를 개략적으로 보여주는 예시도이다. 초음파 프로브(100)는 초음파를 송수신하기 위한 초음파 변환부(110), 케이블(120) 및 케이블(120)을 통하여 초음파 변환부(110)과 연결되며 초음파 프로브(100)를 초음파 진단 시스템의 본체(도시하지 않음)와 연결하기 위한 커넥터(connector, 130)를 포함한다. 초음파 프로브(100)는 송신 펄스 신호에 응답하여 초음파 신호를 생성하고 초음파 에코신호에 응답하여 전기적 수신신 호를 생성하기 위한 다수의 변환 소자(도시하지 않음)를 포함한다. 커넥터(130)는 다수의 연결핀(132)을 포함하며, 본체에서 생성된 신호는 연결핀(132)을 통하여 초음파 변환부(110)로 전송된다. 초음파 프로브(100)의 종류와 측정 대상에 따라서 커넥터(130)의 연결핀이 다양한 접점의 형태를 가질 수 있다. 커넥터(130)의 각 연결핀(132)은 각 변환 소자에 케이블(120)을 통하여 연결된다. 1 is an exemplary view schematically showing an ultrasound probe generally used in an ultrasound diagnostic system. The ultrasonic probe 100 is connected to the ultrasonic transducer 110 through an ultrasonic transducer 110, a cable 120, and a cable 120 for transmitting and receiving ultrasonic waves, and connects the ultrasonic probe 100 to the main body of the ultrasonic diagnostic system ( And a connector 130 for connecting with the device (not shown). The ultrasonic probe 100 includes a plurality of conversion elements (not shown) for generating an ultrasonic signal in response to the transmission pulse signal and for generating an electrical reception signal in response to the ultrasonic echo signal. The connector 130 includes a plurality of connection pins 132, and a signal generated in the main body is transmitted to the ultrasonic transducer 110 through the connection pins 132. The connection pins of the connector 130 may have various types of contacts depending on the type of the ultrasound probe 100 and the measurement target. Each connecting pin 132 of the connector 130 is connected to each conversion element via a cable 120.

초음파 변환부(110) 내 각 변환소자 특성은 커넥터(130)에 구비된 연결핀(132)을 통하여 송수신되는 신호를 통하여 측정한다. 신호생성장치(도시하지 않음)로부터 입력되는 신호를 연결핀(132)을 통해 변환 소자에 송신하고, 변환 소자로부터 입력되는 수신신호를 연결핀(132)을 통해 예컨대, 오실로스코프 등과 같은 신호 측정 장치에 전달하여 각 변환소자의 특성을 측정한다. The characteristics of each transducer element in the ultrasonic transducer 110 are measured through signals transmitted and received through the connection pins 132 provided in the connector 130. The signal input from the signal generator (not shown) is transmitted to the conversion element through the connection pin 132, and the received signal input from the conversion element is transmitted to the signal measurement device such as an oscilloscope through the connection pin 132. Transfer to measure the characteristics of each conversion element.

종래 신호 측정 장치와 커넥터(130)는 계전기(Relay) 등의 소자로 전자기판(PCB: printed circuit board) 형태로 구현되었다. 따라서, 종래와 같이 변환자의 특성을 측정하기 위해 신호 측정 장치와 커넥터(130)를 서로 연결하기 위해서 PCB 형태의 연결 장치를 사용할 경우, PCB내 도선들 사이의 부유 용량(stray capacitance), 유도성(Inductance), 저항성(Resistance)에 의해서 신호가 왜곡되어 변환소자의 특성을 정확하게 측정하기 어려운 문제점이 있다. 또한 종래 신호 측정 장치와 커넥터(130)는 간단한 기구적 접속이 가능하였으나, 다양한 측정 시료의 측정이 어렵고 신호 측정 장치를 구성하는 구성품들이 일체형으로 되지 않아 관리가 불편하다. 그리고, 시료에 제공된 접점의 상대 위치가 고정되지 않아 사용이 매우 번거롭고 어려운 문제점이 있다.The conventional signal measuring device and the connector 130 are implemented in the form of a printed circuit board (PCB) as an element such as a relay. Therefore, when using a PCB-type connection device to connect the signal measuring device and the connector 130 to each other to measure the characteristics of the transducer as in the prior art, stray capacitance, inductive ( The signal is distorted due to inductance and resistance, making it difficult to accurately measure the characteristics of the conversion device. In addition, although the conventional signal measuring device and the connector 130 can be simply mechanically connected, it is difficult to measure a variety of measurement samples and is inconvenient to manage because the components constituting the signal measuring device are not integrated. In addition, the relative position of the contact provided in the sample is not fixed, so there is a problem that the use is very cumbersome and difficult.

따라서, 본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명은 초음파 프로브의 종류에 따라 초음파 프로브의 커넥터 또는 음향모듈을 다양하게 고정할 수 있는 시료 지지부를 이용하여 정확한 접점위치를 안정되게 선택하여 정확한 초음파 프로브의 특성을 직접 측정할 수 있는 초음파 프로브의 특성 측정 장치를 제공한다.Therefore, the present invention is to solve the above problems, the present invention by using a sample support that can secure a variety of connectors or acoustic modules of the ultrasonic probe according to the type of ultrasonic probe to stably select the correct contact position Provided is an apparatus for measuring the characteristics of an ultrasonic probe capable of directly measuring the characteristics of an accurate ultrasonic probe.

상기 목적을 달성하기 위해서, 본 발명에 따른 다수의 변환소자를 포함하는 초음파 프로브에서 변환소자의 특성을 측정하는 장치는, 상기 변환소자와 연결되는 다수의 접점이 제공되는 시료에 측정신호를 송수신하여 상기 초음파 프로브의 특성을 측정하기 위한 특성 측정부; 상기 시료와 상기 특성 측정부를 연결하기 위한 측정핀; 상기 연결을 위해 상기 측정핀을 이동하기 위한 측정핀 이동부; 상기 측정핀의 이동을 제어하기 위한 제어부; 다수의 고정수단을 포함하는 베이스; 및 상기 각 고정수단에 고정되며 상기 시료를 지지하는 지지대를 포함하되, 상기 지지대는 시료 장착 수단을 포함하며, 상기 지지대는 상기 시료의 크기와 모양에 따라 선택된 고정수단에 의해 고정되고, 상기 시료 장착수단에 시료가 장착된다.In order to achieve the above object, the device for measuring the characteristics of the conversion element in the ultrasonic probe including a plurality of conversion elements according to the present invention, by transmitting and receiving a measurement signal to a sample provided with a plurality of contacts connected to the conversion element A characteristic measuring unit for measuring a characteristic of the ultrasonic probe; A measuring pin for connecting the sample and the characteristic measuring unit; A measuring pin moving unit for moving the measuring pin for the connection; A control unit for controlling the movement of the measuring pin; A base comprising a plurality of fastening means; And a support fixed to each of the fixing means to support the sample, wherein the support includes a sample mounting means, and the support is fixed by the fixing means selected according to the size and shape of the sample. The sample is mounted to the means.

이하, 본 발명에 따른 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 자세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명에 따른 초음파 프로브의 변환소자 특성 측정 장치의 구성을 개략적으로 보여주는 블록도이다. 초음파 변환소자 특성 측정 장치(200)는 시료 지지부(210), 측정핀(220), 특성 측정부(230), 측정핀 이동부(240), 제어부(250) 를 포함한다. 시료 지지부(210)는 초음파 프로브(100) 등의 측정시료를 지지 한다. 또한, 시료 지지부(210)에는 다양한 종류의 초음파 프로브(100)의 초음파 변환소자와 연결된 접점이 제공되는 커넥터(connector), 음향 모듈(acoustic module) 등을 지지할 수 있다. 측정핀(220)은 시료와 특성 측정부(230)에 연결되어 측정신호를 송수신한다. 특성 측정부(230)는 측정된 결과를 그래픽, 텍스트 등으로 표시한다. 바람직하게, 특성 측정부(230)는 오실로스코프 등의 계측기와 분석 장치 등으로 구현된다. 제어부(250)은 개인용 컴퓨터 또는 독립 제어장치로 구현될 수 있으며, 시료 지지부(210)와 유선 또는 무선의 통신을 이용하여 시료 지지부(210)를 제어한다. 제어부(250)와 시료 지지부(210) 간의 통신은 USB (universal serial bus), 표준 직렬 통신, 블루투스(Blue Tooth), 지그비(Zigbee), IEEE1394들 중의 어느 하나 이상을 사용할 수 있다.Figure 2 is a block diagram schematically showing the configuration of the device for measuring the conversion element characteristics of the ultrasonic probe according to the present invention. The ultrasonic transducer element characteristic measuring apparatus 200 includes a sample supporter 210, a measuring pin 220, a characteristic measuring unit 230, a measuring pin moving unit 240, and a controller 250. The sample support unit 210 supports a sample such as the ultrasonic probe 100. In addition, the sample supporter 210 may support a connector, an acoustic module, and the like, which are provided with contacts connected to the ultrasonic transducers of various types of ultrasonic probes 100. The measuring pin 220 is connected to the sample and the characteristic measuring unit 230 to transmit and receive a measurement signal. The characteristic measurer 230 displays the measured result as a graphic or text. Preferably, the characteristic measuring unit 230 is implemented as a measuring instrument such as an oscilloscope, an analysis device, or the like. The controller 250 may be implemented as a personal computer or an independent control device, and controls the sample supporter 210 using wired or wireless communication with the sample supporter 210. Communication between the controller 250 and the sample supporter 210 may use any one or more of universal serial bus (USB), standard serial communication, Bluetooth (Blue Tooth), Zigbee, and IEEE1394.

이하, 도 3을 참조하여 본 발명의 일실시예에 따른 시료 지지부(210)의 구성을 설명한다. 시료 지지부(210)는 베이스(211) 및 시료 지지대(212)를 포함한다. 도 3은 시료 지지대(212)에 초음파 프로브의 커넥터가 장착된 예를 보여준다.Hereinafter, the configuration of the sample support part 210 according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 3. The sample supporter 210 includes a base 211 and a sample supporter 212. 3 shows an example in which the connector of the ultrasonic probe is mounted on the sample support 212.

베이스(211)는 소정의 크기 및 무게를 갖는 판(plate) 형태로 구현되며, 베이스(211) 윗면에는 다수의 제 1 고정수단(211A)이 구비된다. 제 1 고정수단(211A)은 소정의 깊이 또는 높이를 갖는 요철부, 나선 홈 등으로 구현될 수 있다. 다양한 크기의 시료를 용이하게 고정할 수 있도록 다수의 고정수단(211A)은 행렬 형태로 된다. 이하, 제 1 고정수단(211A)이 소정 깊이를 갖는 홀(hole)로 구현되는 것을 예로 들어 설명한다. 홀에는 나선 홈이 형성되어 있어 나사의 너트(nut) 역할을 할 수 있다. 도 3에 보이는 바와 같이 프로브 커넥터(C)의 양단부를 시료 지지대(212)가 지지한다. 본 발명에 실시예에 따라 도 3에 보이는 바와 같이 시료 지지대(212)는 일단부(212A)로부터 연장된 적어도 하나의 지지판(212B)과 각 지지판(212B)을 관통하는 연결홀(222C)을 가진다. 시료 지지대(212)의 연결홀(222C)은 베이스(221)의 제 1 고정수단(211A) 상에 고정되고, 연결홀(212C)과 제 1 고정수단(211A)에 나사 또는 핀 등으로 지지대(212)를 베이스(211A) 상에 고정시킬 수 있다. 시료 지지대(212)의 일단부(212A)에 다수의 지지판(212B)이 구비될 경우 시료 지지대(212)를 보다 견고하고 안정적으로 베이스(211)에 고정시킬 수 있다. 본 발명의 다른 실시예에 따라, 지지대(222)는 지지판(222B)을 구비하지 않을 수 있다. 이 경우, 도 4에 보이는 바와 같이 베이스(211) 상의 제 1 고정수단(211A) 내에 시료 지지대(212)의 일단부(212A)가 삽입되어 고정될 수도 있다. 바람직하게, 도 5에 보이는 바와 같이, 제 1 고정수단(211A)의 직경이 시료 지지대(212)의 직경보다 작고, 시료 지지대(212)의 일단부(212A)는 제 1 고정수단(211A)에 삽입될 수 있는 크기의 돌출부(212D)를 가질 수 있다. The base 211 is implemented in the form of a plate having a predetermined size and weight, and a plurality of first fixing means 211A is provided on an upper surface of the base 211. The first fixing means 211A may be implemented as an uneven portion, a spiral groove, or the like having a predetermined depth or height. The plurality of fixing means 211A are in the form of a matrix so that samples of various sizes can be easily fixed. Hereinafter, an example in which the first fixing means 211A is implemented as a hole having a predetermined depth will be described. The hole is formed with a spiral groove may serve as a nut of the screw. As shown in FIG. 3, the sample holder 212 supports both ends of the probe connector C. As shown in FIG. According to an embodiment of the present invention, as shown in FIG. 3, the sample support 212 has at least one support plate 212B extending from one end 212A and a connection hole 222C passing through each support plate 212B. . The connection hole 222C of the sample support 212 is fixed on the first fixing means 211A of the base 221, and is supported by a screw or pin to the connection hole 212C and the first fixing means 211A. 212 may be fixed on the base 211A. When a plurality of support plates 212B are provided at one end 212A of the sample support 212, the sample support 212 may be more firmly and stably fixed to the base 211. According to another embodiment of the present invention, the support 222 may not include the support plate 222B. In this case, as shown in FIG. 4, one end 212A of the sample support 212 may be inserted into and fixed in the first fixing means 211A on the base 211. Preferably, as shown in FIG. 5, the diameter of the first fixing means 211A is smaller than the diameter of the sample support 212, and one end 212A of the sample support 212 is connected to the first fixing means 211A. It may have a protrusion 212D of a size that can be inserted.

본 발명의 일실시예에 따라서 제 1 고정수단(211A)이 홀로 구현된 예를 설명하였지만, 다른 실시예에서는 제 1 고정수단(211A)는 소정의 높이를 갖는 돌출부로 구현될 수 있다. 이때, 지지대(212)의 연결홀(212C)에 돌출부를 삽입하여 지지대(212)를 베이스(211) 상에 고정할 수 있다.According to an embodiment of the present invention has been described an example in which the first fixing means 211A is implemented as a hole, in another embodiment, the first fixing means 211A may be implemented as a protrusion having a predetermined height. In this case, the protrusion 212 may be inserted into the connection hole 212C of the support 212 to fix the support 212 on the base 211.

도 6에 보이는 바와 같이, 지지대(212)의 일측면에는 제 2 고정수단(212E) 및 시료 장착부(212F)가 구비된다. 시료 장착부(212F)는 시료(C)를 고정하기 위한 적어도 하나의 제 1 고정홀(212F_1)과 시료 장착부(212F)를 지지대(212)에 고정하기 위한 제 2 고정홀(212F_2)이 제공된다. 제 2 고정수단(212E)는 소정의 깊이를 갖는 홀로 구현될 수 있다. 시료 장착부(212F)의 제 2 고정홀(212F_2)을 제 2 고정수단(212E) 상에 정렬한 다음 핀 또는 나사를 제 2 고정홀(212F_2)를 관통하여 제 2 고정수단(212E)에 삽입함으로써 시료 장착부(212F)를 지지대(212)의 일측면에 고정시킬 수 있다. 본 발명에 따라 다수 개의 제 2 고정수단(212E)를 지지대(212)에 구비하여 시료 장착부(212F)의 위치를 조절할 수 있다.As shown in FIG. 6, one side of the support 212 is provided with a second fixing means 212E and a sample mounting part 212F. The sample mounting unit 212F is provided with at least one first fixing hole 212F_1 for fixing the sample C and a second fixing hole 212F_2 for fixing the sample mounting unit 212F to the support 212. The second fixing means 212E may be implemented as a hole having a predetermined depth. By aligning the second fixing hole 212F_2 of the sample mounting portion 212F on the second fixing means 212E, and then inserting a pin or screw through the second fixing hole 212F_2 into the second fixing means 212E. The sample mounting unit 212F may be fixed to one side of the support 212. According to the present invention, a plurality of second fixing means 212E may be provided on the support 212 to adjust the position of the sample mounting part 212F.

본 발명에 따라 지지대(212)가 고정되는 베이스(211) 상에서의 제 1 고정수단(211A)의 위치는 지지대(211)에 장착되는 시료(C)의 크기에 의해서 결정된다. 일예로, 도 3에 도시된 시료(C)의 크기(W1)보다 도 7에 도신된 시료(C)의 크기(W2)가 작으므로 커넥터의 크기에 맞게 지지대(212)가 고정되는 제 1 고정수단(211A)의 위치를 조정하여 커넥터를 장착할 수 있다. According to the present invention, the position of the first fixing means 211A on the base 211 on which the support 212 is fixed is determined by the size of the sample C mounted on the support 211. For example, since the size W2 of the sample C drawn in FIG. 7 is smaller than the size W1 of the sample C shown in FIG. 3, the first fixing unit 212 is fixed to the size of the connector. The connector can be mounted by adjusting the position of the means 211A.

도 8에 도시된 바와 같이, 측정핀(220)은 커넥터의 연결핀 또는 음향 모듈의 접점 등과 전기적으로 접촉하는 핀(220A)과 핀이 삽입되며 핀을 측정핀 이동부(230)에 물리적으로 고정시키기 위한 핀 지지부(220B)로 구성된다. 핀(220A)은 핀 지지부(220B)에 삽입되는 제 1 영역(220A_1)과 시료의 연결 접점 등과 전기적으로 접촉되는 제 2 영역(220A_2)으로 구성되며, 제 2 영역(220A_2)의 굵기는 제 1 영역(220A_1)의 굵기보다 작게 형성된다. 제 2 영역(220A_2)의 앞단(A)을 소정 이상의 물리적 힘이 측정핀(220)에 가해지면 절단될 수 있도록 형성하여 시료가 측정핀(220)에 의해서 손상되는 것을 줄일 수 있다. As shown in FIG. 8, the measuring pin 220 has a pin 220A and a pin in electrical contact with a connection pin of a connector or a contact of a sound module, and the pin is physically fixed to the measuring pin moving part 230. It consists of a pin support 220B. The pin 220A includes a first region 220A_1 inserted into the pin support 220B and a second region 220A_2 electrically in contact with a connection contact of a sample, and the thickness of the second region 220A_2 is first. It is formed smaller than the thickness of the region 220A_1. The front end A of the second region 220A_2 may be formed to be cut when a predetermined or more physical force is applied to the measuring pin 220, thereby reducing damage to the sample by the measuring pin 220.

핀(220A)을 핀 지지부(220B)에 삽입할 때 핀(220A)의 제 1 영역(220A_1)의 앞단(A)이 소정거리만큼 돌출되도록 함으로써 핀(220A)의 절단시 핀교체를 용이하게 할 수 있다. 핀(220A)의 제 2 영역(220A_2)의 앞단(B)은 연결핀 또는 접점과의 접촉시 접촉저항을 줄이기 위해서 백금(Pt) 등으로 도금처리된 것을 사용하는 것이 바람직하다. 제 1 영역(220A_1)을 측정용 핀(220)과 측정 접점 사이에 소정의 접촉 압력이 가해지도록 하여 핀(220)과 접점이 안정하게 접촉 되도록 하기 위해서 고탄력의 물질, 예를 들어 스프링 등으로 구성하는 것이 바람직하다. 이렇게 고탄력의 물질을 이용하여 접점의 위치가 유동적이더라도 측정핀(220)과 접점 간의 일정한 접촉 저항을 유지 하도록 하여 측정 오차를 줄일 수 있다. 측정핀(220)은 측정핀 이동부(230)에 물리적으로 고정되며 측정핀 이동부(230)의 움직임에 따라 소정의 위치로 이동된다. 측정핀 이동부(230)는 제어부(250)의 제어에 따라서 측정핀(220)을 3축(x, y, z)으로 이동시켜 시료 지지부(210)에 장착된 시료(C)에 제공되는 다수의 연결핀 또는 접점 중의 임의의 연결핀 또는 접점에 접촉할 수 있도록 한다. 측정핀(220)이 시료(C)의 임의의 연결핀 또는 접점에 접촉되면 특성 측정부(240)는 측정 신호를 송수신하여 초음파 프로브의 특성을 측정한다. When the pin 220A is inserted into the pin support 220B, the front end A of the first region 220A_1 of the pin 220A may protrude by a predetermined distance to facilitate pin replacement when the pin 220A is cut. Can be. The front end B of the second region 220A_2 of the fin 220A is preferably plated with platinum (Pt) or the like in order to reduce the contact resistance upon contact with the connecting pin or the contact. The first region 220A_1 is made of a material of high elasticity, for example, a spring, so that a predetermined contact pressure is applied between the measuring pin 220 and the measuring contact so that the contact with the pin 220 is made stable. It is desirable to. Thus, even if the position of the contact is fluid using a high elastic material to maintain a constant contact resistance between the measuring pin 220 and the contact can reduce the measurement error. The measuring pin 220 is physically fixed to the measuring pin moving part 230 and moved to a predetermined position according to the movement of the measuring pin moving part 230. The measuring pin moving unit 230 moves a plurality of measuring pins 220 in three axes (x, y, z) under the control of the controller 250 to provide the sample C mounted on the sample support unit 210. Make contact with any of the connecting pins or contacts of the connecting pin or contact. When the measuring pin 220 is in contact with any connection pin or contact of the sample (C), the characteristic measuring unit 240 transmits and receives a measurement signal to measure the characteristics of the ultrasonic probe.

본 발명에 따른 측정핀 이동부(230)는 측정핀을 3축 방향으로 이동 시킬 수 있는 임의의 이동 장치가 사용될 수 있다. 도 9는 본 발명의 측정핀 이동부의 일 예를 보여주는 예시도이다. 도 9를 참조하면, 측정핀 이동부(230)는 받침대(232), x축 방향으로 이동하는 제 1 이동 수단(234), y축 방향으로 이동하는 제 2 이동 수단(236) 및 z축 방향으로 이동하는 제 3 이동 수단(238)을 포함한다. Measuring pin moving unit 230 according to the present invention may be used any movement device that can move the measuring pin in the three-axis direction. 9 is an exemplary view showing an example of the measuring pin moving unit of the present invention. Referring to FIG. 9, the measuring pin moving unit 230 includes a pedestal 232, a first moving unit 234 moving in the x-axis direction, a second moving unit 236 moving in the y-axis direction, and a z-axis direction. Third moving means 238 to move to.

받침대(232)에는 제 1 이동 수단(234)을 x축 방향으로의 이동을 안내할 제 1 가이드 레일(guide rail, 232A)과 제어부(250)의 제어에 따라서 제 1 이동 수단(234)을 제 1 가이드 레일을 따라 이동시키기 위한 제 1 구동부(232B)가 구비된다. 본 발명에 따른 받침대(232)는 베이스(221) 상에 부착되어 고정된다. The pedestal 232 is provided with the first moving means 234 under the control of the first guide rail 232A and the control unit 250 to guide the movement of the first moving means 234 in the x-axis direction. The first driving unit 232B for moving along the one guide rail is provided. Pedestal 232 according to the present invention is attached and fixed on the base 221.

제 1 이동 수단(234)은 받침대(232)에 지지되며 y축 방향으로의 제 2 이동 수단(236)의 이동을 안내할 제 2 가이드 레일(234A)과 제어부(250)의 제어에 따라서 제 2 이동 수단(236)을 제 2 가이드 레일(234A)을 따라 이동시키기 위한 제 2 구동부(234B)가 구비된다. The first moving means 234 is supported by the pedestal 232 and according to the control of the second guide rail 234A and the controller 250 to guide the movement of the second moving means 236 in the y-axis direction. A second driver 234B is provided for moving the moving means 236 along the second guide rail 234A.

제 2 이동 수단(236)는 제 2 가이드 레일(234A)를 따라 이동하며 제 3 이동 수단(238)의 이동을 안내할 가이드부(236A)와 제 3 이동 수단(238)을 z축 방향으로 이동시키기 위한 제 3 구동부(236B)를 포함한다. The second moving means 236 moves along the second guide rail 234A and moves the guide portion 236A and the third moving means 238 to guide the movement of the third moving means 238 in the z-axis direction. And a third driver 236B to make it easy.

제 3 이동 수단(238)은 제 2 이동 수단(236)에 구비된 가이드부(236A)를 따라서 z축 방향으로 이동하는 로드(rod, 238)를 포함한다. 측정핀(220)은 로드(238)에 로드(238)의 축상으로 고정되며 측정핀(220)은 로드(238)가 제 3 구동부(236B)에 의해서 움직이는 방향과 동일하게 움직이도록 고정수단(238B)에 고정된다. 제 1, 2 및 3 구동부(232B, 234B, 236B)는 제어부(250)의 제어를 받아 구동하는 제어용 모터로 구현될 수 있다. The third movement means 238 includes a rod 238 that moves in the z-axis direction along the guide portion 236A provided in the second movement means 236. The measuring pin 220 is fixed to the rod 238 axially of the rod 238 and the measuring pin 220 is fixed to the rod 238 in the same direction as the moving direction by the third drive unit 236B. It is fixed to). The first, second, and third driving units 232B, 234B, and 236B may be implemented as control motors driven under the control of the controller 250.

도 10은 본 발명에 따른 초음파 프로브의 특성측정 장치의 예를 보여주는 예시도이다. 시료 지지부(210)에는 시료로 초음파 프로브의 커넥터(C)가 장착된 예를 보여준다. 도 10에 보이는 바와 같이, 초음파 프로브의 커넥터(C) 크기에 맞게 지 지대(212)의 위치를 설정되어 베이스(211)에 고정되며, 지지대의 시료 장착부(212F)에 시료가 장착된다. 10 is an exemplary view showing an example of the characteristic measuring apparatus of the ultrasonic probe according to the present invention. The sample support 210 shows an example in which the connector C of the ultrasonic probe is mounted as a sample. As shown in FIG. 10, the position of the support 212 is set according to the size of the connector C of the ultrasonic probe and is fixed to the base 211, and the sample is mounted on the sample mounting portion 212F of the support.

한편, 베이스(211)는 측정핀 이동부(230)의 움직임 등에 의해서 발생할 수 있는 진동을 막기 위해서 소정의 무게를 갖는 금속판을 사용하는 것이 바람직하다. On the other hand, the base 211 preferably uses a metal plate having a predetermined weight in order to prevent vibration that may occur due to the movement of the measuring pin moving part 230.

도 11은 본 발명의 다른 실시예에 따른 시료 지지부(210)의 예를 보여주는 예시도이다. 도 11에 도시된 바와 같이, 지지대(212)에 장착되는 시료인 초음파 프로브의 커넥터 또는 음향모듈이 상대적으로 작을 경우 하나의 지지대를 이용할 수 있다. 11 is an exemplary view showing an example of a sample support 210 according to another embodiment of the present invention. As shown in FIG. 11, when a connector or an acoustic module of an ultrasonic probe, which is a sample mounted on the support 212, is relatively small, one support may be used.

본 발명의 일실시예에서는 하나의 시료를 시료 지지부(210)에 장착하는 예를 들어 설명하였지만, 베이스(211)에 다수개의 시료 지지대를 고정하여 다수개의 시료를 동시에 장착하여 측정할 수 있다. 또한, 시료 지지대에 다수의 시료 장착부를 구비하여 다수의 시료를 장착하여 측정할 수 있다.In one embodiment of the present invention has been described as an example of mounting one sample to the sample support 210, it can be measured by mounting a plurality of samples at the same time by fixing a plurality of sample support to the base 211. In addition, a plurality of sample mounting portions may be provided on the sample support to mount and measure a plurality of samples.

본 발명이 바람직한 실시예를 통해 설명되고 예시되었으나, 당업자라면 첨부한 청구 범위의 사상 및 범주를 벗어나지 않고 여러 가지 변형 및 변경이 이루어질 수 있음을 알 수 있을 것이다.While the present invention has been described and illustrated by way of preferred embodiments, those skilled in the art will recognize that various modifications and changes can be made without departing from the spirit and scope of the appended claims.

전술한 바와 같이, 초음파 프로브의 변환소자 특성을 측정하기 위하여 PCB 타입의 신호 선택장치를 이용하지 않고 직접 측정핀이 초음파 프로브의 커넥터 또는 음향모듈에 구비된 연결핀 또는 접점에 직접 접촉하도록 함으로써 PCB 타입의 연결 장치에서 발생할 수 있는 캐패시턴스 등에 의한 영향을 배제할 수 있으므로 보다 신뢰할 수 있는 초음파 프로브의 특성을 측정을 할 수 있다.As described above, in order to measure the conversion element characteristics of the ultrasonic probe, the direct measurement pin is directly contacted with the connection pin or contact provided in the connector or acoustic module of the ultrasonic probe without using a PCB type signal selection device. Since the influence of capacitance, etc., which may occur in the connecting device of the device can be excluded, the characteristics of the ultrasonic probe can be measured more reliably.

또한, 베이스에 제공된 다수의 고정수단들을 이용하여 측정시료를 지지하기 위한 지지대를 임의의 간격으로 고정할 수 있으므로 다양한 종류 형태와 크기의 커넥터를 지지대에 고정시켜 초음파 프로브의 특성을 측정할 수 있다.In addition, since the support for supporting the measurement sample can be fixed at any interval by using a plurality of fixing means provided on the base, connectors of various types and sizes can be fixed to the support to measure the characteristics of the ultrasonic probe.

Claims (10)

다수의 변환소자를 포함하는 초음파 프로브에서 상기 변환소자의 특성을 측정하는 장치로서,An apparatus for measuring the characteristics of the conversion element in an ultrasonic probe comprising a plurality of conversion elements, 상기 변환소자와 연결되는 다수의 접점이 제공되는 시료에 측정신호를 송수신하여 상기 초음파 프로브의 특성을 측정하기 위한 특성 측정부;A characteristic measuring unit for measuring a characteristic of the ultrasonic probe by transmitting and receiving a measurement signal to a sample provided with a plurality of contacts connected to the conversion element; 상기 시료와 상기 특성 측정부를 연결하기 위한 측정핀; A measuring pin for connecting the sample and the characteristic measuring unit; 상기 연결을 위해 상기 측정핀을 이동하기 위한 측정핀 이동부;A measuring pin moving unit for moving the measuring pin for the connection; 상기 측정핀의 이동을 제어하기 위한 제어부;A control unit for controlling the movement of the measuring pin; 다수의 고정수단을 포함하는 베이스; 및A base comprising a plurality of fastening means; And 상기 각 고정수단에 고정되며 상기 시료를 지지하는 지지대를 포함하되,It is fixed to each fixing means and includes a support for supporting the sample, 상기 지지대는 시료 장착 수단을 포함하며, 상기 지지대는 상기 시료의 크기와 모양에 따라 선택된 고정수단에 의해 고정되고, 상기 시료 장착수단에 시료가 장착되는 초음파 변환소자의 특성 측정 장치.The support includes a sample mounting means, the support is fixed by a fixing means selected in accordance with the size and shape of the sample, the apparatus for measuring the characteristics of the ultrasonic transducer element is mounted on the sample mounting means. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 고정수단은 소정의 깊이를 가지며 나선이 형성된 홀(hole)이며 인 초음파 변환소자의 특성 측정 장치.The fixing means is a characteristic measuring device of the ultrasonic transducer element having a predetermined depth and is a spiral hole (hole). 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 지지대는 일단부에서 연장된 적어도 하나의 지지판과 지지판을 관통하는 연결홀을 포함하는 초음파 변환소자의 특성 측정 장치.The support is at least one support plate extending from one end and the characteristic measuring device of the ultrasonic conversion element comprising a connecting hole through the support plate. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 지지대의 일면에 상기 커넥터 장착부의 위치를 조절하기 위한 다수의 조절수단을 포함하는 초음파 변환소자의 특성 측정 장치.Apparatus for measuring the characteristics of the ultrasonic transducer device comprising a plurality of adjusting means for adjusting the position of the connector mounting portion on one surface of the support. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 측정핀 이동부는The measuring pin moving unit 상기 베이스 상에 고정되며 제 1 방향으로 제 1 가이드 레일을 제공하는 받침대;A pedestal fixed on the base and providing a first guide rail in a first direction; 상기 제 1 가이드 레일을 따라 이동하며, 제 2 방향으로의 제 2 가이드 레일이 제공되는 제 1 이동부;A first moving part moving along the first guide rail and provided with a second guide rail in a second direction; 상기 제 2 방향으로 이동하며, 제 3 방향을 축으로 하는 가이드부를 포함하는 제 2 이동부; 및A second moving part moving in the second direction and including a guide part having an axis in a third direction; And 상기 가이드부 내에서 제 3 방향으로 이동하며, 상기 측정핀을 고정하기 위한 제 3 이동부A third moving part moving in the third direction in the guide part to fix the measuring pin; 를 포함하는 초음파 변환소자의 특성 측정 장치.Characteristic measuring apparatus of the ultrasonic conversion element comprising a. 제 5 항에 있어서,The method of claim 5, wherein 상기 측정핀은,The measuring pin, 상기 시료의 연결핀과 전기적으로 접촉하는 핀; 및A pin in electrical contact with the connection pin of the sample; And 상기 핀을 상기 측정핀 이동부에 고정하기 위한 핀 지지부를 포함하고,A pin support for fixing the pin to the measuring pin moving part; 상기 핀은 상기 핀 지지부에 삽입되는 제 1 영역과 상기 커넥터의 연결핀과 접촉하는 제 2 영역으로 구분되며, 상기 제 1 영역과 상기 제 2 영역 사이에 절단부가 형성되며 상기 핀을 상기 핀 지지부에 삽입시 상기 절단부가 소정길이만큼 돌출되는 초음파 변환소자의 특성 측정 장치.The pin is divided into a first region inserted into the pin support and a second region in contact with a connection pin of the connector, and a cut portion is formed between the first region and the second region, and the pin is connected to the pin support. Apparatus for measuring characteristics of an ultrasonic transducer in which the cutting portion protrudes by a predetermined length when inserted. 제 6 항에 있어서,The method of claim 6, 상기 측정핀은,The measuring pin, 상기 제 3 방향 이동부의 중심 축에 고정되는 초음파 변환소자의 특성 측정 장치.Characteristic measuring apparatus of the ultrasonic transducer element is fixed to the central axis of the third direction moving part. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제어부는 개인용 컴퓨터나 독립된 제어장치로 구현되며, 유선 또는 무선 통신수단을 이용하여 상기 측정핀 이동부를 제어하는 초음파 변환소자의 특성 측정 장치.The controller is implemented as a personal computer or an independent control device, characterized in that the measuring device of the ultrasonic conversion element for controlling the measuring pin moving unit using a wired or wireless communication means. 제 8 항에 있어서,The method of claim 8, 상기 통신 수단은 ,The communication means, USB(universal serial bus), 표준 직렬 통신, 블루투스(blue tooth), 지그비(zigbee), IEEE1394 중 한 개 이상을 포함하는 초음파 변환소자의 특성 측정 장치.Device for measuring characteristics of an ultrasonic transducer including at least one of universal serial bus (USB), standard serial communication, blue tooth, zigbee and IEEE1394. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 시료 지지대와 시료 장착부를,The sample holder and the sample holder, 다수개 고정하여 다수의 시료를 동시에 장착하고 측정하는 초음파 변환소자의 특성 측정 장치.Characteristic measuring device of the ultrasonic transducer to fix and mount a plurality of samples at the same time.
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KR100960039B1 (en) * 2009-12-09 2010-05-31 김정배 General purpose jig device for inspecting automobile components and base assembly of the same
CN108852410A (en) * 2018-05-17 2018-11-23 庄艳芳 A kind of Ultrasonography combined type checkout and diagnosis color ultrasound device and its application method

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100960039B1 (en) * 2009-12-09 2010-05-31 김정배 General purpose jig device for inspecting automobile components and base assembly of the same
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