KR20080002354A - Plasma processing apparatus for display panel, and plasma processing method using the same - Google Patents

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KR20080002354A
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조항섭
김봉철
이승현
구교용
서현진
이정훈
권당
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엘지.필립스 엘시디 주식회사
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Abstract

A plasma processing apparatus is provided to effectively perform a surface treatment process by preventing an impure gas from being supplied from the outside in performing a surface treatment of a target caused by plasma discharge. A substrate is mounted on a plate(30). A chamber includes an external gas blocking part(70) for blocking an external gas so that the inside of the chamber maintains a uniform atmosphere when the substrate is loaded/unloaded. First and second electrodes(40,50) confront each other in the chamber. A voltage source applies a voltage to the first electrode. A ground part grounds the second electrode. A reaction gas supply part(10) supplies a reaction gas to the chamber. The external gas blocking part can inject nitrogen gas to a gate(101) of the chamber. A transfer apparatus can transfer the plate to the surface of the second electrode.

Description

디스플레이 패널용 플라즈마 처리 장치 및 이를 이용한 플라즈마 처리 방법{PLASMA PROCESSING APPARATUS FOR DISPLAY PANEL, AND PLASMA PROCESSING METHOD USING THE SAME}Plasma processing apparatus for display panel and plasma processing method using same {PLASMA PROCESSING APPARATUS FOR DISPLAY PANEL, AND PLASMA PROCESSING METHOD USING THE SAME}

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널용 플라즈마 처리 장치를 개략적으로 나타낸 도.1 is a schematic view showing a plasma processing apparatus for a display panel according to an embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 처리 방법을 단계적으로 나타낸 도.2 is a step-by-step view of a plasma processing method according to an embodiment of the present invention.

(도면의 주요부분에 대한 부호의 설명)(Explanation of symbols for the main parts of the drawing)

100: 챔버 10:반응가스 공급부100: chamber 10: reaction gas supply unit

20:필터부 30:플레이트20: filter part 30: plate

40:제1전극 50:제2전극40: first electrode 50: second electrode

60: 전압원 70:외부가스 차단부60: voltage source 70: external gas blocking unit

101: 게이트(Gate)101: Gate

본 발명은 디스플레이 패널용 플라즈마 처리 장치 및 이를 이용한 플라즈마 처리 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a plasma processing apparatus for a display panel and a plasma processing method using the same.

일반적으로 평판 표시장치는 LCD(Liquid Crystal Display Device), PDP(Plasma Display Panel), ELD(Electro Luminescent Display), 등이 있다. In general, a flat panel display device includes a liquid crystal display device (LCD), a plasma display panel (PDP), an electro luminescent display (ELD), and the like.

이 중, 액정 표시 장치(LCD)는, 화상을 표시하는 액정 패널과 액정 패널에 구동 신호를 인가하기 위한 구동부로 크게 구분될 수 있으며, 액정 패널은 일정 공간을 갖고 합착된 제 1, 제 2 유리 기판과, 제 1, 제 2 유리 기판 사이에 주입된 액정층으로 구성된다.Among these, a liquid crystal display (LCD) may be largely divided into a liquid crystal panel displaying an image and a driving unit for applying a driving signal to the liquid crystal panel, and the liquid crystal panel has a predetermined space and is bonded to the first and second glasses. It consists of a liquid crystal layer injected between the board | substrate and the 1st, 2nd glass substrate.

여기서, 제 1 유리 기판(TFT 어레이 기판)에는 일정 간격을 갖고 일 방향으로 배열되는 복수개의 게이트 라인과, 각 게이트 라인과 수직한 방향으로 일정한 간격으로 배열되는 복수개의 데이터 라인과, 각 게이트 라인과 데이터 라인이 교차되어 정의된 각 화소 영역에 매트릭스 형태로 형성되는 복수개의 화소 전극과 게이트 라인의 신호에 의해 스위칭되어 데이터 라인의 신호를 각 화소 전극에 전달하는 복수개의 박막 트랜지스터가 형성된다.The first glass substrate (TFT array substrate) may include a plurality of gate lines arranged in one direction at a predetermined interval, a plurality of data lines arranged at regular intervals in a direction perpendicular to the gate lines, and each gate line; A plurality of thin film transistors are formed in a plurality of pixel electrodes formed in a matrix form in the pixel region defined by crossing data lines and are switched by signals of gate lines to transfer signals of the data lines to each pixel electrode.

그리고, 제 2 유리 기판(칼라 필터 기판)에는, 화소 영역을 제외한 부분의 빛을 차단하기 위한 블랙 매트릭스층과, 칼라 색상을 표현하기 위한 R, G, B 칼라 필터층과 화상을 구현하기 위한 공통 전극이 형성된다.The second glass substrate (color filter substrate) includes a black matrix layer for blocking light in portions other than the pixel region, an R, G and B color filter layer for expressing color colors, and a common electrode for implementing an image. Is formed.

일반적인 액정 표시 장치의 구동 원리는 액정의 광학적 이방성과 분극 성질을 이용한다. 액정은 구조가 가늘고 길기 때문에 분자의 배열에 방향성을 갖고 있으며, 인위적으로 액정에 전기장을 인가하여 분자 배열의 방향을 제어할 수 있다.The driving principle of a general liquid crystal display device uses the optical anisotropy and polarization properties of the liquid crystal. Since the liquid crystal is thin and long in structure, the liquid crystal has directivity in the arrangement of molecules, and the direction of the arrangement of molecules can be controlled by artificially applying an electric field to the liquid crystal.

따라서, 액정의 분자 배열 방향을 임의로 조절하면, 액정의 분자 배열이 변 하게 되고, 광학적 이방성에 의하여 액정의 분자 배열 방향으로 빛이 굴절하여 화상 정보를 표현할 수 있다.Accordingly, if the molecular arrangement direction of the liquid crystal is arbitrarily adjusted, the molecular arrangement of the liquid crystal is changed, and light is refracted in the molecular arrangement direction of the liquid crystal due to optical anisotropy to express image information.

이러한 액정 표시 장치의 상, 하부 기판 상에 형성되는 구조물을 증착하거나 패터닝하는데 플라즈마 처리 장치(Apparatus for Processing Plasma)가 이용되고 있다. 여기서, 플라즈마(Plasma)란 이온(ion)이나 전자(electron), 라디칼(radical) 등으로 이루어진 이온화된 가스 상태를 의미하는데, 이러한 플라즈마는 매우 높은 온도나, 강한 전계 혹은 고주파 전자계(RF electromagnetic fields)에 의해 생성된다.The plasma processing apparatus (Apparatus for Processing Plasma) is used to deposit or pattern the structure formed on the upper substrate, the lower substrate of the liquid crystal display device. Here, the plasma refers to an ionized gas state composed of ions, electrons, radicals, and the like, which are very high temperature, strong electric fields, or high frequency electromagnetic fields. Is generated by

한편, 플라즈마 방전을 이용하여 기판을 표면 처리 할 때, 대기중의 산소나 기타 오염물질이 플라즈마 방전 영역으로 유입되어 반응가스와 함께 분해된다. On the other hand, when the substrate is surface-treated using plasma discharge, oxygen or other contaminants in the atmosphere enter the plasma discharge region and decompose together with the reaction gas.

이러한 산소나 기타 오염 물질은 플라즈마 상태에서 기판상에 흡착되거나 반응가스가 기판상에 흡착되는 것을 방해하여 실제로 표면처리 효과를 떨어뜨린다.Such oxygen or other contaminants may be adsorbed on the substrate in the plasma state or prevent the reaction gas from adsorbing on the substrate, thereby effectively decreasing the surface treatment effect.

이와 같이 기판 표면 처리가 제대로 이루어지지 않으면, 특히, 잉크젯 기술을 이용한 액정 표시장치 제조 시 공정에 나쁜 영향을 미친다. If the substrate surface treatment is not properly performed as described above, in particular, the manufacturing process of the liquid crystal display device using the inkjet technology is adversely affected.

따라서, 본 발명은 기판의 표면처리가 효과적으로 이루어질 수 있는 디스플레이 패널용 플라즈마 처리 장치 및 이를 이용한 플라즈마 처리 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a plasma processing apparatus for a display panel and a plasma processing method using the same, which can effectively perform surface treatment of a substrate.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.Technical problems to be achieved by the present invention are not limited to the above-mentioned technical problems, and other technical problems not mentioned above will be clearly understood by those skilled in the art from the following description. Could be.

상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 디스플레이 패널용 플라즈마 처리 장치는 기판이 장착되는 플레이트, 상기 기판 유입 및 유출시 내부가 일정한 분위기를 유지하도록 외부 가스를 차단하는 외부 가스 차단부를 구비한 챔버, 챔버 내부에 서로 대향되어 형성된 제 1전극 및 제 2전극, 1전극에 전압을 인가하기 위한 전압원, 제 2전극을 접지시키는 접지부 및 방전 영역이 외부와 차단될 있는 닫힌 구조의 챔버와 게이트(Gate), 챔버에 반응가스를 공급하기 위한 반응 가스 공급부를 포함한다.Plasma processing apparatus for a display panel according to the present invention for achieving the technical problem is a chamber having a plate on which a substrate is mounted, an external gas blocking unit for blocking an external gas to maintain a constant atmosphere when the inlet and outlet of the substrate, A chamber and a gate having a closed structure in which the first electrode and the second electrode formed to face each other inside the chamber, a voltage source for applying a voltage to the first electrode, a ground part for grounding the second electrode, and a discharge area are blocked from the outside. ), A reactive gas supply unit for supplying a reactive gas to the chamber.

이 경우, 외부가스 차단부는 챔버의 게이트에 질소(N2)가스를 분사한다.In this case, the external gas blocking unit injects nitrogen (N 2) gas to the gate of the chamber.

챔버는 상압 상태를 유지하는 것이 바람직하다.The chamber is preferably kept at atmospheric pressure.

또한, 디스플레이 패널용 플라즈마 처리 장치는 제 2전극 상부에 플레이트를 이송시키기 위한 이송 장치를 더 포함할 수 있다. In addition, the plasma processing apparatus for the display panel may further include a transfer device for transferring the plate on the second electrode.

반응가스는 불소(F)를 포함하는 가스이고, 바람직하게는 CHF계, F2, NF3, CF4, SF6 중 적어도 어느 하나의 가스이다.The reaction gas is a gas containing fluorine (F), and preferably at least any one of CHF-based, F2, NF3, CF4, and SF6.

본 발명에 따른 디스플레이 패널의 플라즈마 처리 방법은 챔버 내부가 일정한 분위기를 유지하도록 기판 유입시 상기 기판 게이트에 질소(N2)가스를 분사하는 단계, 챔버 내부에서 플라즈마 방전가스를 공급하는 단계, 및 플라즈마 방전가스를 이용하여 상기 기판의 표면을 플라즈마 방전 처리하는 단계를 포함한다.Plasma processing method of the display panel according to the present invention comprises the steps of spraying nitrogen (N2) gas to the substrate gate when the substrate is introduced to maintain a constant atmosphere inside the chamber, supplying a plasma discharge gas inside the chamber, and plasma discharge Plasma-discharging the surface of the substrate using a gas.

기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.Specific details of other embodiments are included in the detailed description and the drawings. Advantages and features of the present invention and methods for achieving them will be apparent with reference to the embodiments described below in detail with the accompanying drawings. Like reference numerals refer to like elements throughout.

이하, 본 발명의 실시예(들)에 따른 디스플레이 패널용 플라즈마 처리 장치 및 플라즈마 처리방법에 대하여 첨부된 도면들을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a plasma processing apparatus and a plasma processing method for a display panel according to an embodiment (s) of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널용 플라즈마 처리 장치를 개략적으로 나타낸 도이다.1 is a view schematically showing a plasma processing apparatus for a display panel according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 디스플레이 패널용 플라즈마 처리 장치는 챔버(100), 반응가스 공급부(10), 필터부(20), 플레이트(30), 제1전극(40), 제2전극(50), 고주파(RF) 전압원(60), 외부가스 차단부(70)를 포함한다.Referring to FIG. 1, a plasma processing apparatus for a display panel includes a chamber 100, a reaction gas supply unit 10, a filter unit 20, a plate 30, a first electrode 40, a second electrode 50, High frequency (RF) voltage source 60, the external gas blocking unit 70 is included.

이러한 플라즈마 처리 장치는 기판이 인-라인(In-Line) 공정방식으로 진행될 수 있도록 이송장치(80)를 더 포함 할 수 있다. 이러한 이송장치는 모터를 이용한 이송방식이나 컨베이어 벨트를 이용한 이송방식이든 어떤 방식이든 상관없다.The plasma processing apparatus may further include a transfer device 80 so that the substrate may be processed in an in-line process. Such a conveying device may be any type of conveying method using a motor or a conveying method using a conveyor belt.

챔버(100)는 소정의 분위기에서 플라즈마 방전에 의해 기판(타겟물,A)이 표면처리 될 수 있는 공간을 포함하는 구조물로, 기판이 내부로 유입 및 유출될 수 있는 게이트(101)를 구비한다.The chamber 100 is a structure including a space in which a substrate (target object, A) can be surface-treated by plasma discharge in a predetermined atmosphere, and has a gate 101 through which a substrate can be introduced and discharged. .

또한, 챔버(100)는 플라즈마 방전 후 반응가스가 외부로 유출 되도록 반응가스 유출구(102)를 구비한다.In addition, the chamber 100 includes a reaction gas outlet 102 so that the reaction gas flows out after the plasma discharge.

반응가스 공급부(10)는 챔버 내에서 플라즈마 방전을 발생시켜 기판이 표면처리 될 수 있도록 소정의 반응가스를 공급한다. 이러한 소정의 반응가스는 기판 표면의 디펙트 사이트(Defect site)를 줄일 수 있는 불소(F)를 포함하는 가스들 예를 들어, CHF계, F2, NF3, CF4, SF6 와 같은 반응가스가 바람직하다.The reaction gas supply unit 10 supplies a predetermined reaction gas so that the substrate may be surface treated by generating a plasma discharge in the chamber. Such predetermined reaction gas is preferably a gas containing fluorine (F) which can reduce the defect site of the substrate surface, for example, a reaction gas such as CHF-based, F2, NF3, CF4, SF6. .

필터부(20)는 플라즈마 방전이 효율적으로 잘 이루어질 수 있도록 챔버(100)에 공급되는 반응가스를 필터링한다.The filter unit 20 filters the reaction gas supplied to the chamber 100 so that plasma discharge may be efficiently performed.

플레이트(30)는 표면처리 될 기판이 장착되는 곳으로, 이송장치(80) 상부에 안착되어 타겟이 되는 기판을 플라즈마 표면처리 후 다음 공정으로 이송 되는 동안 고정시키는 역할을 한다.The plate 30 is a place where the substrate to be surface treated is mounted, and serves to fix the substrate, which is mounted on the transfer apparatus 80, to be the target during the transfer to the next process after the plasma surface treatment.

제 1전극(40)과 제 2전극(50)은 챔버내에서 일정간격 이격되어 서로 대향되게 형성된다. 또한, 제 1전극(40)과 제 2전극(50)의 표면은 절연막(미도시)에 의해 코팅되고, 제 1전극과 제 2전극 중 어느 한 전극은 접지부에 접지된다. The first electrode 40 and the second electrode 50 are formed to face each other at regular intervals in the chamber. In addition, surfaces of the first electrode 40 and the second electrode 50 are coated by an insulating film (not shown), and any one of the first electrode and the second electrode is grounded to the ground portion.

이러한 제 1전극과 제 2전극은 다양한 형상으로 형성될 수 있지만 바람직하게는 바(bar) 형상으로 이루어 진다.The first electrode and the second electrode may be formed in various shapes, but preferably has a bar shape.

전압원(60)은 제1전극과 제 2전극 중 접지되지 않은 전극에 전압, 예를 들어 고주파 전압을 인가하여 챔버 내에서 플라즈마 방전을 일으키기 위한 소스이다.The voltage source 60 is a source for generating a plasma discharge in the chamber by applying a voltage, for example, a high frequency voltage, to an ungrounded electrode of the first electrode and the second electrode.

외부가스 차단부(70)는 기판의 표면처리 균일도를 높이기 위해 플라즈마 방전 시 챔버내가 일정한 분위기를 유지 할 수 있도록 한다. 즉, 대기중의 산소나 기타 불순 가스들에 의해 기판 표면이 오염되는 것을 방지하도록 하기 위해 기판이 챔버 내로 유입되거나 챔버 밖으로 유출될 때 챔버의 게이트부에 소정의 가스를 분 사할 수 있다. The external gas blocking unit 70 may maintain a constant atmosphere in the chamber during plasma discharge to increase the surface treatment uniformity of the substrate. That is, to prevent the substrate surface from being contaminated by oxygen or other impurities in the atmosphere, a predetermined gas may be injected into the gate portion of the chamber when the substrate is introduced into or out of the chamber.

또한, 외부가스 차단부(70)는 챔버의 도어(door)를 개방하여 기판을 챔버내로 유입시킨 후, 챔버를 닫은 후 소정의 가스를 분사할 수 있다. In addition, the external gas blocking unit 70 may inject a predetermined gas after opening the door of the chamber to introduce the substrate into the chamber and closing the chamber.

이때 소정의 가스는 질소(N2)임이 바람직하다.At this time, the predetermined gas is preferably nitrogen (N 2).

이와 같은 구조를 갖는 본 발명의 디스플레이 패널용 플라즈마 처리장치의 플라즈마 처리 방법을 도 1과 함께 도2를 참조하여 설명한다.The plasma processing method of the plasma processing apparatus for display panel of the present invention having such a structure will be described with reference to FIG.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 처리 방법을 단계적으로 나타낸 도이다.2 is a diagram illustrating a plasma processing method step by step according to an embodiment of the present invention.

도 1를 참조하여, 도 2의 디스플레이 패널에 플라즈마 처리 방법은 먼저, 플레이트(30)에 장착된 기판이 이송장치(80)에 의해 챔버의 게이트부(101)로 유입된다.(S1) 이때, 챔버 게이트부(101)에 외부의 불순 가스들이 챔버내로 유입되지 않도록 기판이 챔버의 게이트부로 유입시 에어 커튼 방식으로 질소(N2)가스를 분사하거나 기판이 챔버로 유입된 후 게이트를 클로즈 한 후 챔버 내부로 질소(N2)를 분사 한다.(S2)Referring to FIG. 1, in the plasma processing method of the display panel of FIG. 2, a substrate mounted on a plate 30 is first introduced into a gate portion 101 of a chamber by a transfer device 80 (S1). When the substrate flows into the chamber gate of the chamber so that external impurity gases do not flow into the chamber, the chamber gate 101 injects nitrogen (N2) gas in an air curtain manner or closes the gate after the substrate enters the chamber and then closes the chamber. Inject nitrogen (N2) inside (S2)

이후, 반응가스 공급부(10)로부터 필터(20)를 통해 챔버에 공급함과 동시에 제 1전극(40)에 전압, 예를 들어 고주파 전압을 인가하면 제 1전극(40)과 제 2전극(50) 사이에 공급되는 반응가스가 플라즈마 상태가 된다.(S3)Subsequently, when a voltage, for example, a high frequency voltage is applied to the first electrode 40 while simultaneously supplying the chamber through the filter 20 from the reaction gas supply unit 10, the first electrode 40 and the second electrode 50. The reaction gas supplied in between turns into a plasma state (S3).

이때, 반응가스는 상술한 바와 같이 불소(F)를 포함하는 가스이면 족하고, 전압은 기판의 표면처리 조건에 따라 세기 및 파형을 조절하여 제 1전극에 인가할 수 있다. At this time, the reaction gas is sufficient as long as the gas containing fluorine (F) as described above, the voltage can be applied to the first electrode by adjusting the intensity and waveform in accordance with the surface treatment conditions of the substrate.

또한, 챔버 내부는 진공에 가까운 저압(Low Pressure)상태를 유지함이 바람직하겠지만 제조장비의 비용이나 진공 펌핑을 위한 시간들로 인해 플라즈마 처리 공정이 길어짐을 고려하여 상압 상태를 갖도록 유지한다.In addition, the inside of the chamber may be maintained at a low pressure state close to vacuum, but at a normal pressure in consideration of the length of the plasma treatment process due to the cost of manufacturing equipment or the time for vacuum pumping.

이후, 반응가스는 기판에 대해 표면 처리하고, 표면 처리된 기판은 다음공정을 위하여 챔버의 게이트를 통해 유출된다.(S4) 이때 역시 챔버 게이트부에 외부의 불순 가스들이 챔버내로 유입되지 않도록 에어 커튼 방식으로 질소(N2)가스를 분사하거나 기판이 챔버 외부로 유출된 후 게이트를 클로즈 한 후 챔버 내부로 질소(N2)를 분사 한다.(S2)Subsequently, the reaction gas is surface-treated with respect to the substrate, and the surface-treated substrate is discharged through the gate of the chamber for the next process. Nitrogen (N2) gas is injected in a manner or after the substrate flows out of the chamber, the gate is closed and nitrogen (N2) is injected into the chamber.

또한, 플라즈마 방전 후 남은 방전 가스는 챔버의 방전가스 유출구(102)를 통해 외부로 배출된다.In addition, the discharge gas remaining after the plasma discharge is discharged to the outside through the discharge gas outlet 102 of the chamber.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다.Although embodiments of the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, those skilled in the art to which the present invention pertains may implement the present invention in other specific forms without changing the technical spirit or essential features thereof. I can understand that.

따라서, 이상에서 기술한 실시예들은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이므로, 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 하며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.Therefore, since the embodiments described above are provided to completely inform the scope of the invention to those skilled in the art, it should be understood that they are exemplary in all respects and not limited. The invention is only defined by the scope of the claims.

상기한 바와 같이 이루어진 본 발명에 따른 디스플레이 패널용 플라즈마 처 리 장치 및 플라즈마 처리 방법은 플라즈마 방전에 의한 타켓물의 표면처리시 외부로부터 불순 가스가 공급됨을 방지할 수 있으므로 표면처리가 효과적으로 이루어질 수 있는 효과가 있다.Plasma processing apparatus and plasma processing method for a display panel according to the present invention made as described above can prevent the impurity gas from being supplied from the outside during the surface treatment of the target object by the plasma discharge has the effect that the surface treatment can be made effectively have.

Claims (9)

기판이 장착되는 플레이트;A plate on which the substrate is mounted; 상기 기판 유입 및 유출시 내부가 일정한 분위기를 유지하도록 외부 가스를 차단하는 외부 가스 차단부를 구비한 챔버;A chamber having an external gas blocking unit to block the external gas so that the inside maintains a constant atmosphere upon inflow and outflow of the substrate; 상기 챔버 내부에 서로 대향되어 형성된 제 1전극 및 제 2전극;A first electrode and a second electrode formed to face each other inside the chamber; 상기 1전극에 전압을 인가하기 위한 전압원;A voltage source for applying a voltage to the one electrode; 상기 제 2전극을 접지시키는 접지부; 및A grounding part for grounding the second electrode; And 상기 챔버에 반응가스를 공급하기 위한 반응 가스 공급부Reaction gas supply unit for supplying a reaction gas to the chamber 를 포함하는 디스플레이 패널용 플라즈마 처리 장치.Plasma processing apparatus for a display panel comprising a. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 외부 가스 차단부는 상기 챔버의 게이트에 질소(N2)가스를 분사하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널용 플라즈마 처리 장치. And the external gas blocking unit injects nitrogen (N2) gas into the gate of the chamber. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 챔버는 상압 상태를 유지하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널용 플라즈마 처리 장치. And the chamber maintains an atmospheric pressure state. 제 1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 제 2전극 상부에 상기 플레이트를 이송시키기 위한 이송 장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널용 플라즈마 처리 장치. And a transfer device for transferring the plate over the second electrode. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 반응가스는 불소(F)를 포함하는 가스인 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널용 플라즈마 처리 장치.The reaction gas is a plasma processing apparatus for a display panel, characterized in that the gas containing fluorine (F). 챔버 내부가 일정한 분위기를 유지하도록 기판 유입시 상기 기판 게이트에 질소(N2)가스를 분사하는 단계;Injecting nitrogen (N2) gas into the substrate gate when the substrate is introduced to maintain a constant atmosphere inside the chamber; 상기 챔버 내부에서 플라즈마 방전가스를 공급하는 단계; 및Supplying a plasma discharge gas into the chamber; And 상기 플라즈마 방전가스를 이용하여 상기 기판의 표면을 플라즈마 방전 처리하는 단계;Plasma-discharging the surface of the substrate using the plasma discharge gas; 를 포함하는 디스플레이 패널의 플라즈마 처리 방법. Plasma processing method of a display panel comprising a. 챔버 내부에 기판을 유입한 후 상기 챔버의 게이트를 닫아 외부의 가스와 차단하는 단계;Closing the gate of the chamber and blocking the external gas after introducing the substrate into the chamber; 상기 챔버 내부가 일정한 분위기를 유지하도록 상기 챔버 내부로 질소(N2)Nitrogen (N2) into the chamber to maintain a constant atmosphere inside the chamber 가스를 분사하는 단계;상기 챔버 내부에서 플라즈마 방전가스를 공급하는 단계; 및 Injecting a gas; supplying a plasma discharge gas into the chamber; And 상기 플라즈마 방전가스를 이용하여 상기 기판의 표면을 플라즈마 방전 처리 하는 단계;Performing plasma discharge treatment on the surface of the substrate using the plasma discharge gas; 를 포함하는 디스플레이 패널의 플라즈마 처리 방법.Plasma processing method of a display panel comprising a. 제 6항 또는 제 7항에 있어서,The method according to claim 6 or 7, 상기 챔버 내부는 상압 상태를 유지하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 플라즈마 처리 방법. The inside of the chamber maintains a normal pressure state plasma processing method of a display panel. 제 6항 또는 제 7항에 있어서,The method according to claim 6 or 7, 상기 플라즈마 방전가스는 불소(F)를 포함하는 가스인 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 플라즈마 처리 방법.The plasma discharge gas is a plasma processing method of the display panel, characterized in that the gas containing fluorine (F).
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WO2013026834A1 (en) 2011-08-23 2013-02-28 Evonik Röhm Gmbh Continuous method for the production of light guide plates
KR20150077730A (en) * 2013-12-30 2015-07-08 주식회사 선익시스템 Plasma processing apparatus of oled substrate
CN109047179A (en) * 2018-08-31 2018-12-21 天能电池(芜湖)有限公司 Cream blows sheet devices more than battery grid

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